CN101064166A - 头位置控制方法、头位置控制装置及盘装置 - Google Patents

头位置控制方法、头位置控制装置及盘装置 Download PDF

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Abstract

本发明提供头位置控制方法、头位置控制装置及盘装置。该头位置控制装置控制头相对于盘的定位，在所述盘中后置码被分配给伺服帧。盘的伺服帧由记录在内侧区域中的没有后置码的伺服帧和记录在外侧区域中的具有后置码的伺服帧构成。该头位置控制装置读取伺服帧，根据该伺服帧来解调出当前位置，根据所解调出的位置来驱动致动器，并控制头的位置使其到达目标位置。尽管实现了高TPI，但使用考虑了数据格式的伺服帧占用比可以减少后置码的检查时间。

Description

头位置控制方法、头位置控制装置及盘装置
技术领域
本发明涉及头位置控制方法、头位置控制装置和盘装置，用于通过补偿诸如偏心(eccentricity)的周期性扰动来控制头的位置，更具体地，涉及头位置控制方法、头位置控制装置和盘装置，用于实现高密度轨道间距以及对检查过程进行优化。
背景技术
在旋转的记录盘上读/写数据的盘装置(诸如磁盘装置或光盘装置)中，将头精确地定位到目标轨道(即所谓的“跟随”)对于提高记录密度极为重要。
另一方面，对于旋转的记录盘，诸如偏心的周期性扰动以及其他非周期性扰动会降低定位精度，因此，为了实现高密度轨道间距，需要提高定位精度。
图16是盘的头位置与定位精度的关系图。如图16中的POS(定位)精度(TRO：总移出(total run out))和盘的半径方向的关系图中所示，由于介质的移动，在盘的外侧，POS精度通常较高，即TRO较高，而在内侧POS精度较低，即TRO较低。因此，已经提出了在盘平面上使内侧的轨道间距与外侧的轨道间距不同(例如，日本特开2002-237142号和特开2003-016745号)。
然而，如图16中临界TPI(每英寸轨道数)与沿盘的半径方向的位置的关系图中的虚线C所示，如果TPI减小(即，在外侧，轨道间距增大)，则轨道宽度增大。因此，头的位置由于振动而移动，并且在写期间无法将旧数据转换为新数据。换言之，两个数据可能存在于同一LBA(逻辑块地址)中。因此，如粗体线A2所示，设置了改变数据的TPI下限。
另一方面，如图16中的虚线C所示，如果在内侧TPI增加(即，轨道间距减小)，则轨道间隔减小，并且当将数据写到轨道上时，相邻轨道上的数据会受到影响(例如，相邻轨道上的数据被擦掉)。因此，如粗体线A1所示，基于ATI(相邻轨道影响)抗耐性设置了TPI上限。
如图16中的实线B所示，还存在必须满足的TPI，作为所有区域的平均值(称为平均所需TPI)，因此如图16中的虚线所示，难以根据POS精度确定TPI。
图16中的关系图中的TRO是RRO(可重复移出)(其是周期性扰动)和NRRO(不可重复移出)(其是非周期性扰动)之和。已提出了用于改善该RRO的后置码(post code)技术(例如，日本特开平03-263662号和特开60-117461号)。
如图18所示，磁盘100的扇区包括伺服帧101和数据区102。伺服帧101还包括前导码110、伺服标记(SM)112、帧码114、格雷码(graycode)116和脉冲信号118。帧码114和格雷码116构成轨道号，脉冲信号118是四相脉冲(A/B/C/D)信号或两相脉冲(偶/奇)信号，以通过头输出来识别轨道内的位置。
通过减少伺服帧101的脉冲区118来分配后置码120。在将磁盘100安装到装置上之后，磁盘100旋转，测量各扇区的偏心(RRO)，并将偏心校正量写入后置码120中。当盘装置在工作时，读取伺服帧101，对脉冲信号118和后置码120进行解调，使用后置码120的偏心校正量来校正从脉冲信号118获取的当前位置，计算包括偏心的当前位置，并控制头位置以抵消偏心。
通过使用该后置码，图16中的POS精度(TRO)提高了RRO的量，并且如图17中的临界TPI和盘位置的关系图中的虚线C1所示，可以根据原始特性C来提高临界TPI，并且可实现高TPI。
发明内容
然而，作为用于提高POS精度的方法的后置码技术在装置制造商处的检查步骤中必须测量每个装置的盘的每个扇区的偏心，并将校正量写入每个扇区的后置码区域中。因此需要非常长的检查时间。例如，如果盘面上有10,000条轨道并且每条轨道中建立了20个扇区，则必须测量和写入200,000个后置码。因为TPI正在增加，所以不能再忽视该检查时间，并且当前需要在批量生产中进一步降低成本。
根据前面的考虑，本发明的目的是提供一种头位置控制方法、头位置控制装置和盘装置，用于在实现高TPI的同时减少后置码的检查时间。
本发明的另一目的是提供一种头位置控制方法、头位置控制装置和盘装置，用于即使在增加了轨道密度的情况下也可实现成本降低。
本发明的另一目的是提供一种头位置控制方法、头位置控制装置和盘装置，用于以考虑了数据格式的伺服帧占用比减少后置码的检查时间，同时实现高TPI。
本发明的盘装置具有：至少被分为内侧区域和外侧区域的盘，其中，没有后置码的伺服帧被记录在所述内侧区域中，而具有后置码的伺服帧被记录在所述外侧区域中；头，用于至少读取所述盘上的伺服帧和数据；致动器，用于沿所述盘的半径方向移动所述头；和控制单元，用于根据由所述头读取的所述伺服帧解调出当前位置，根据所解调的位置驱动所述致动器，并且控制所述头的位置使其到达目标位置。
本发明的头位置控制方法具有以下步骤：读取步骤，通过头在至少被分为内侧区域和外侧区域的盘上读取伺服帧和数据，其中，没有后置码的伺服帧被记录在所述内侧区域中，而具有后置码的伺服帧被记录在所述外侧区域中；解调步骤，根据由所述头读取的所述伺服帧解调出当前位置；以及控制步骤，驱动致动器使所述头沿着所述盘的半径方向移动，并且控制所述头的位置使其到达目标位置。
本发明的头位置控制装置具有：解调电路，用于根据由头从至少被分为内侧区域和外侧区域的盘读取的伺服帧来解调出当前位置，其中，没有后置码的伺服帧被记录在所述内侧区域中，而具有后置码的伺服帧被记录在所述外侧区域中；和控制电路，用于根据所述调制出的位置驱动致动器，以使所述头沿着所述盘的半径方向移动，并且控制所述头的位置使其到达目标位置。
在本发明中，优选地，所述控制单元使用所述后置码的校正值对所述伺服帧的脉冲信号的解调位置进行校正，并解调出所述头的当前位置。
此外，在本发明中，优选地，所述控制单元根据所述目标位置改变伺服门(gate)信号的长度，所述伺服门信号用于从所述头的读输出中提取所述伺服帧。
此外，在本发明中，优选地，所述控制单元判断所述目标位置是否在所述外侧区域中，并使得用于提取所述伺服帧的伺服门信号的长度长于在所述内侧的伺服门信号的长度。
此外，在本发明中，优选地，所述盘的没有所述后置码的伺服帧的长度与具有所述后置码的伺服帧的长度相同。
此外，在本发明中，优选地，将没有后置码的伺服帧的脉冲信号长度增加到与具有所述后置码的伺服帧的长度相同。
此外，在本发明中，优选地，在所述盘的所述内侧区域和所述外侧区域之间设置轨道滑移(slip)区。
此外，在本发明中，优选地，所述控制单元测量所述盘的各区域的定位精度，并确定所述内侧区域和所述外侧区域之间的边界。
此外，在本发明中，优选地，所述控制单元具有表，所述表用于存储所述外侧区域和所述内侧区域各自的伺服门长度。
此外，在本发明中，优选地，所述盘是磁盘，并且所述头是磁头。
在本发明中，盘的伺服帧具有在内侧区域中的没有后置码的伺服帧以及在外侧区域中的具有后置码的伺服帧，并且根据所述伺服帧解调出当前位置，根据所解调的位置驱动致动器，并控制头的位置使其到达目标位置。因此，使用考虑了数据格式的伺服帧占用比可以减少对后置码的检查时间，同时实现高TPI。
附图说明
图1是示出根据本发明实施例的盘装置的框图；
图2是示出图1中的盘的位置信号的图；
图3是示出根据本发明第一实施例的伺服帧的结构的图；
图4是示出图3中的伺服帧的图；
图5是示出使用图3中的伺服帧时的特性图；
图6是示出图3中的实施例的框图；
图7是示出图6中的伺服门的图；
图8是示出图6中的MCU的处理的流程图；
图9是示出图1中的盘装置的测试步骤的流程图；
图10是示出图7中的后置码边界判定处理的流程图；
图11是示出图7中的后置码测量和写入处理的流程图；
图12是示出根据本发明第二实施例的盘的构造的图；
图13是示出图12中的伺服帧的图；
图14是示出使用图13中的伺服帧时的特性图；
图15是示出图12中的后置码测量和写入处理的流程图；
图16是定位精度和盘位置的关系图；
图17是使用传统后置码时的TPI特性图；以及
图18是示出传统后置码的图。
具体实施方式
现在将按照盘装置、第一实施例、伺服帧写入方法、第二实施例和其他实施例的顺序来描述本发明的实施例，但是本发明不限于这些实施例。
盘装置
图1是示出根据本发明实施例的盘装置的框图，图2是示出图1中的磁盘上的伺服帧的排列的图。
图1示出了作为盘装置的磁盘装置1。如图1所示，磁盘4(其为磁存储介质)被安装在主轴电动机(未示出)的旋转轴5上。主轴电动机使磁盘4旋转。致动器(VCM)3具有位于臂和悬置部3-1的末端的磁头2，并沿着磁盘4的半径方向移动磁头2。
致动器3包括音圈电动机(VCM)，VCM以所述旋转轴为中心旋转。在图1中，在磁盘装置上安装有一个或两个磁盘4，并且由同一致动器3同时驱动与各磁盘面相对应地安装的两个或四个磁头2。
磁头2具有读部件和写部件。磁头2包括：读部件，其包括堆叠在滑动件上的磁阻(MR)元件；和写部件，其包括堆叠在其上的写线圈。
读/写通道6对由磁头2读取的位置信号(模拟信号)进行解调，并解调数据信号，并且还控制磁头2的读和写。伺服控制器9驱动主轴电动机，并根据来自读/写通道6的当前位置与目标位置之间的误差来计算伺服控制的VCM驱动指令值，向音圈电动机(VCM)3提供驱动电流，并驱动VCM3。
微控制器(MCU)8执行与主机10的命令和数据通信，分析命令，并控制整个装置。由只读存储器(ROM)和随机存取存储器(RAM)组成的存储器8-1存储用于MCU8的处理的数据和参数，例如装置信息。
硬盘控制器(HDC)7基于伺服信号的扇区号判断在一条轨道中的位置，并记录/再现数据。HDC7具有用于缓冲的随机存取存储器(RAM)，并临时存储所读取的数据或所写入的数据。
如图2所示，在磁盘4上，将伺服帧(位置信号)16以相等的间隔、从外圆周到内圆周、沿周向布置在每条轨道上。每条轨道具有多个扇区，图2中的实线指示记录有各扇区的伺服信号16的位置。因此，数据区位于多个伺服帧16之间。
第一实施例
图3是示出根据本发明第一实施例的伺服帧的图，图4是描述其伺服帧的图，而图5是示出本发明的第一实施例的图。
如图3所示，在轨道格式TFM中，扇区由伺服帧16和数据区17的组合所构成，并且针对盘的一条轨道形成有多个扇区。在本实施例中，将内侧区域用伺服帧SI和外侧区域用伺服帧SO设置为伺服帧16。在图2中盘4的内侧区域4-2中，使用内侧区域用伺服帧SI，而在外侧区域4-1中，使用外侧区域用伺服帧SO。
现在将参照图4描述伺服帧SI和SO。伺服帧SI和SO包括前导码20、伺服标记(SM)21、帧码22、格雷码23和脉冲信号24。仅针对外侧区域用伺服帧SO设置后置码25。
图4示出了四相脉冲信号的示例，通过伺服标记21来识别伺服信息的开始，帧码22和格雷码23指示轨道号，并且通过偏移信息(伺服脉冲)24的PosA、PosB、PosC和PosD可检测出轨道中的位置。图4中的虚线示出了轨道中心，通过对伺服脉冲信号进行解调来检测从轨道中心移开的位置。
由磁头2读取图4中的伺服帧，使用轨道号和偏移信息PosA、PosB、PosC和PosD来检测磁头在盘上沿半径方向的位置。此外，在这里，基于索引信号Index，获取磁头沿周向的位置。
例如，将检测到索引信号时的扇区号设置为No.0，每次当检测到伺服信号时将该编号累加，从而获取了该轨道的每个扇区的扇区号。在记录和再现数据时，伺服信号的扇区号成为基准。在一条轨道中有一个索引信号。可设置扇区号来代替索引信号。
如图3和图4所示，仅针对外侧在脉冲信号24之后设置了后置码25。为了确认磁头的位置，如图2至图4所示，预先在磁盘4上记录伺服帧16。
如图3和图4所示，仅针对外侧区域4-1将后置码25写入伺服帧16。如图17所述，如果针对盘4的所有区域的伺服帧设置了后置码，则提高了临界TPI，但是在内侧提高得比所需要的多(大于TPI的上限)。
因此在本发明中，针对内侧区域4-2不设置后置码25。换言之，如图5所示，针对设置了后置码25的外侧区域4-1提高了临界TPI，但是没有设置后置码25的内侧区域4-2的临界TPI没有提高。
这意味着仅对需要提高临界TPI的外侧区域分配后置码。藉此，盘4的临界TPI的特性变得与图5中的实线C2相同，并且满足作为平均所需TPI的线B。因为，针对内侧区域4-2不设置后置码25，所以在制造商处的检查步骤中，可仅针对外侧区域4-1测量RRO并将偏心校正量写入后置码25。因此，可以显著减少后置码的检查时间。
藉此，如上所述，还提高了由临界TPI所指示的TPO特性，因此减少了检查时间，并可在提高生产率的同时提高定位精度。换言之，可以以低成本提供具有优异定位精度的盘装置。
此外，如图3所示，在没有设置后置码25的内侧区域中，可将数据区扩大后置码的量。因此，本发明还具有增加数据容量的效果。
图6是使用图1中的构造来实现图3中的实施例的框图，图7是示出其伺服门的图，而图8是示出图6中的MCU8的处理的流程图。
如图6所示，读/写通道6具有伺服门电路(SG)60、伺服解调电路62和数据解调电路64。伺服门电路60使用来自磁头(HD)2的所读取的信号通过伺服门信号获取伺服帧(SF)16，将其输出到伺服解调电路62，并将数据区的信号输出到数据解调电路64。
数据解调电路64执行已知的PR(部分响应)-4法和最大似然解码，以解调数据。另一方面，伺服解调电路62对由上述伺服门信号分离的伺服帧16进行解调，通过伺服标记识别出其是伺服帧，并根据帧码和格雷码解调出轨道号并且根据脉冲信号解调出轨道中的位置。
为了根据脉冲信号解调出轨道中的位置，例如在图4中的四相脉冲的情况下，根据四相脉冲PosA至PosD的输出电平来解调出两相的PosN和PosQ，并创建轨道中的位置信号。如果存在后置码，则数据解调电路64对后置码的偏心校正量进行解调，并校正上述位置信号。
将该位置信息(即当前位置)输出到伺服控制器9。伺服控制器9从稍后描述的MCU8接收目标位置，根据该目标位置与当前位置之间的位置误差，通过已知的伺服计算来计算致动器3的控制值(驱动值)，并驱动致动器3。对于该伺服控制器9，例如可以使用已知的伺服控制系统，诸如观测器(observer)控制系统或PID控制系统。
MCU8参考存储器8-1的表80并执行图8中的处理。换言之，MCU8从主机10(见图1)接收读/写命令(S10)。MCU8将包括在命令中的LBA(逻辑块地址)转换为柱面号(目标位置)，根据该柱面号确定数据区(在图2的情况下为外部或内侧区域)，并向伺服控制器9发出搜寻指令(S12)。表80存储有数据区的伺服门长度SG。MCU8参考根据所述表中的数据区的伺服门长度SG，并将其设置在伺服门电路60的SG设置寄存器(未示出)中(S14)。MCU8指示伺服控制器9和HDC7(图1)开始目标柱面的搜寻(S16)。
如图7所示，通过将伺服门长度设置在伺服门电路60的SG设置寄存器(未示出)中，伺服门电路60产生具有前导码20、伺服标记21、帧码22、格雷码23和脉冲信号24的长度的伺服门SGI，并在对内侧区域进行搜寻时获取伺服帧。在对外侧区域进行搜寻时，产生伺服门SGO，伺服门SGO具有前导码20、伺服标记21、帧码22、格雷码23、脉冲信号24和后置码25的长度，并且获取了外侧的伺服帧。
当像这样仅对外侧分配后置码时，可以通过在内侧与外侧之间改变伺服门长度而精确地提取出伺服帧。
伺服帧写入方法
图9是示出图1中的磁盘装置的测试步骤的流程图，图10是示出图9中的后置码边界判定处理的流程图，而图11是示出图9中的后置码写入处理的流程图。
现在将参照图9描述测试步骤。
(S20)使用用于写入伺服图案的专用装置(伺服轨道写入器)，将伺服图案(除了后置码之外的伺服帧)同时写入几十个磁盘介质。对于该专用装置，可使用通过模压来写入伺服图案的装置。
(S22)然后，将所需数量的其上写有该伺服图案的磁盘介质整合到图1的磁盘装置1中，并且安装致动器3和其他部件，以组装磁盘装置。
(S24)将与图1中的主机10相对应的测试装置连接到磁盘装置1，将测试程序从该测试装置下载到磁盘装置1。磁盘装置1执行该测试程序以进行测试。在该测试步骤中，执行了图10和图11中的后置码写入处理。
(S26)对于通过测试而被判定为无缺陷产品的装置1，从测试装置下载的发货出厂用程序，来替换该测试程序，并且装置1发货出厂。
现在将参照图10来描述后置码边界判定处理。
(S30)执行磁头2的裕度测试，确定各个区域的所需TPI(每英寸的轨道数)和所需的Pos精度。例如，对每个区域执行磁头2的ATI(相邻轨道影响)测试，确定使ATI抗耐性没有变成期望的限片(slice)或更小的TPI，并且根据该ATI抗耐性的限片来确定Pos精度。区域参数(数字)N被初始化为“0”(最外侧)。在图2中，仅示出了内侧区域和外侧区域，但是这些区域可被进一步分为例如10个区域。
(S32)判断N是否超过最大区域MaxZone。
(S34)如果N没有超过最大区域MaxZone，则测量该区域的Pos精度。例如，使用上述脉冲信号将磁头定位在该区域的代表性轨道上，并测量位置误差。如果测量出的Pos精度优于上述所需Pos精度，则将区域参数N增加至N+1，并且处理返回到S32。如果测量出的Pos精度没有所需Pos精度好，则处理前进至步骤S36。
(S36)如果在步骤S32中N超过最大区域，或者如果在步骤S34中测量出的Pos精度没有所需Pos精度好，则将区域N确定为后置码边界。在SG表80中，将区域N之前设置为具有后置码的SG长度(图7中的SGO)，而将区域N之后设置为没有后置码的SG长度(图7中的SGI)。
现在将参照图11描述后置码写入处理。
(S40)柱面号X被初始化为“0”。
(S42)判断柱面号X是否超过最大柱面MaxCyl。如果超过，则处理结束。
(S44)如果柱面号X没有超过最大柱面，那么判断具有该柱面号的柱面是否在上述分配了后置码的区域内。如果具有该柱面号X的柱面在分配了后置码的区域中，则测量该柱面(轨道)的各个扇区的RRO，并将RRO校正值写入后置码区域25。例如，通过脉冲信号来定位磁头，并在各个扇区测量位置误差多次，将其平均值写入作为RRO校正值。
(S46)然后验证柱面。换言之，通过脉冲信号或者通过脉冲信号和后置码来定位磁头，写入和读取数据，并且确认数据被正确地写入。
(S48)在该验证中，判断对于磁头的允许的位置移动是否验证成功，如果对允许的位置移动无法执行验证，则将该轨道号登记在存储器8-1中的轨道滑移表中。换言之，该轨道不是用于读/写数据的。将柱面号X增加至X+1，处理返回到步骤S42。
这样，根据Pos精度来判断后置码边界，将后置码区域与非后置码区域分离，并设置了伺服门长度。仅针对后置码区域中的轨道执行RRO测量，并将RRO校正值写入伺服帧作为后置码。
第二实施例
图12是示出根据本发明第二实施例的盘面的图，图13是示出根据本发明第二实施例的伺服帧的结构的图，而图14是示出本发明的第二实施例的图。
如图13所示，在轨道格式TFM中，伺服帧16和数据区17的组合构成一扇区，并且在盘的一条轨道中设置有多个扇区。在本实施例中，将内侧区域用伺服帧SI和外侧区域用伺服帧SO设置为伺服帧16。在图12中的内侧区域4-2中，使用内侧区域用伺服帧SI，而在外侧区域4-1中，使用外侧区域用伺服帧SO。
伺服帧SI和SO具有前导码20、伺服标记21、帧码22、格雷码23和脉冲信号24。仅针对外侧区域用伺服帧SO设置后置码25。通过增加脉冲信号24的长度，将内侧区域用伺服帧SI的长度设置成与外侧区域用伺服帧SO的长度相同。
当增加内侧区域用伺服帧SI的脉冲信号24的长度时，即，如果该区域增大，则对所读取的脉冲信号24取平均，并且解调位置的精度提高。例如，如果轨道宽度为100nm，磁盘的大约为8nm的磁粒子的缺陷会影响解调精度。在利用与脉冲信号成比例的区域对位置进行解调时，该影响特别显著。
因此，对于没有分配后置码的内侧，Pos精度也提高了。由此，盘4的临界TPI特性变得与图14中的实线C3相同，并充分满足作为平均所需TPI的线B。因为在内侧区域4-2中没有设置后置码25，所以在制造商处的检查步骤中，可仅针对外侧区域4-1测量RRO并将偏心量写入后置码25中。因此，可以显著减少后置码的检查时间。
这样，如上所述，提高了由临界TPI所指示的TPO特性，因此减少了检查时间，并可在提高生产率的同时提高定位精度。换言之，可以以低成本提供具有优异定位精度的盘装置。
此外，如图13所示，没有设置后置码25的内侧区域具有与外侧区域相同的伺服帧长度，因此，可省略使伺服门可变的操作。
如图12所示，在内侧区域4-2与外侧区域4-1之间创建边界区域4-3，作为滑移区域。换言之，因为内侧区域的脉冲长度与外侧区域的脉冲长度不同，所以如果磁头位于内侧区域4-2与外侧区域4-1之间的边界上，则在相邻轨道之间，脉冲信号的解调精度变得不同，并且无法稳定地对磁头进行定位。因此，创建边界区域4-3作为滑移区域，以防止不稳定的定位。
现在将参照图15描述根据第二实施例的后置码写入处理。在图15中，用相同的标号指示与图11中的步骤相同的步骤，并省略对其的描述。
在图15中，如果在步骤S42中判断出柱面号X没有超过最大柱面MaxCyl，那么判断具有该柱面号X的柱面是否在上述后置码边界区域4-3中。如果具有该柱面号X的柱面在后置码边界区域4-3中，则将该柱面号X登记在轨道滑移表中，而如果具有柱面号X的柱面不在后置码边界区域4-3中，则处理前进到S44(S50)。
这样，根据Pos精度来判断后置码边界，将后置码区域与非后置码区域分离，仅针对后置码区域中的轨道执行RRO测量，并将RRO校正值写入伺服帧作为后置码。
其他实施例
在以上实施例中，使用磁盘装置的示例来描述盘装置，但是本发明可以应用于其他盘装置，诸如光盘装置。此外，描述了在所有装置中执行后置码边界判定处理，但是可以在许多装置中的代表装置中判定后置码边界，并可将结果用于其他装置。此外，在以上实施例中的各个区域中TPI是不同的，但是本发明还可应用于TPI对于每个区域都相同的情况。
使用这些实施例描述了本发明，但是在本发明的基本特征的范围内，可以以各种方式修改本发明，这些变型不应被排除在本发明的范围之外。
读取这样的盘的伺服帧，在该盘中将没有后置码的伺服帧记录在内侧区域中并将具有后置码的伺服帧记录在外侧区域中，根据该伺服帧解调出当前位置，根据解调出的位置驱动致动器，并控制头的位置使其到达目标位置。因此，虽然实现了高TPI，但是使用考虑了数据格式的伺服帧占用比而可以减少后置码的检查时间。
本申请基于并要求于2006年4月27日提交的在先日本专利申请第2006-123605号的优先权，在此通过引用并入其全部内容。

Claims (20)

1、一种盘装置，该盘装置包括：
至少被分为内侧区域和外侧区域的盘，其中，没有后置码的伺服帧被记录在所述内侧区域中，而具有后置码的伺服帧被记录在所述外侧区域中；
头，用于至少读取所述盘上的伺服帧和数据；
致动器，用于沿所述盘的半径方向移动所述头；和
控制单元，用于根据由所述头读取的所述伺服帧来解调出当前位置，根据所解调出的位置驱动所述致动器，并且控制所述头的位置使其到达目标位置。
2、根据权利要求1所述的盘装置，其中，所述控制单元使用所述后置码的校正值对根据所述伺服帧的脉冲信号而获得的解调位置进行校正，以解调出所述头的当前位置。
3、根据权利要求1所述的盘装置，其中，所述控制单元根据所述目标位置改变伺服门信号的长度，所述伺服门信号用于从所述头的读取输出中提取所述伺服帧。
4、根据权利要求3所述的盘装置，其中，所述控制单元判断所述目标位置是否在所述外侧区域中，并使用于提取所述伺服帧的伺服门信号的长度大于位于所述内侧的伺服门信号的长度。
5、根据权利要求1所述的盘装置，其中，所述盘的没有所述后置码的所述伺服帧的长度与具有所述后置码的所述伺服帧的长度相同。
6、根据权利要求5所述的盘装置，其中，将没有所述后置码的所述伺服帧的脉冲信号长度增加成与具有所述后置码的所述伺服帧的长度相同。
7、根据权利要求6所述的盘装置，其中，在所述盘的所述内侧区域与所述外侧区域之间设置有轨道滑移区。
8、根据权利要求1所述的盘装置，其中，所述控制单元测量所述盘的各区域的定位精度，并确定所述内侧区域与所述外侧区域之间的边界。
9、根据权利要求3所述的盘装置，其中，所述控制单元具有表，所述表用于存储所述外侧区域和所述内侧区域各自的伺服门长度。
10、根据权利要求1所述的盘装置，其中，所述盘包括磁盘，并且所述头包括磁头。
11、一种头位置控制方法，该头位置控制方法包括以下步骤：
读取步骤，通过头在至少被分为内侧区域和外侧区域的盘上读取伺服帧和数据，其中，没有后置码的伺服帧被记录在所述内侧区域中，而具有后置码的伺服帧被记录在所述外侧区域中；
解调步骤，根据由所述头读取的所述伺服帧来解调出当前位置；以及
驱动和控制步骤，驱动致动器使所述头沿着所述盘的半径方向移动，并且控制所述头的位置使其到达目标位置。
12、根据权利要求11所述的头位置控制方法，其中，所述解调步骤还包括以下步骤：使用所述后置码的校正值对根据所述伺服帧的脉冲信号而获得的解调位置进行校正，以解调出所述头的当前位置。
13、根据权利要求11所述的头位置控制方法，该方法还包括改变步骤：根据所述目标位置改变伺服门信号的长度，所述伺服门信号用于从所述头的读取输出中提取所述伺服帧。
14、根据权利要求13所述的头位置控制方法，其中，所述改变步骤还包括以下步骤：
判断所述目标位置是否在所述外侧区域中的步骤；以及
当判断出所述目标位置在所述外侧区域中时，使用于提取所述伺服帧的伺服门信号的长度大于位于所述内侧的伺服门的长度的步骤。
15、根据权利要求11所述的头位置控制方法，其中，所述读取步骤还包括以下步骤：从这样的盘读取所述伺服帧，在所述盘中，所述盘的没有所述后置码的所述伺服帧的长度与具有所述后置码的所述伺服帧的长度相同。
16、一种头位置控制装置，该头位置控制装置包括：
解调电路，用于根据由头从至少被分为内侧区域和外侧区域的盘读取的伺服帧来解调出当前位置，其中，没有后置码的伺服帧被记录在所述内侧区域中，而具有后置码的伺服帧记录在所述外侧区域中；和
控制电路，用于根据所述解调出的位置来驱动致动器，以使所述头沿着所述盘的半径方向移动，并且控制所述头的位置使其到达目标位置。
17、根据权利要求16所述的头位置控制装置，其中，所述解调电路使用所述后置码的校正值对根据所述伺服帧的脉冲信号而获得的解调位置进行校正，以解调出所述头的当前位置。
18、根据权利要求16所述的头位置控制装置，其中，所述解调电路根据所述目标位置改变伺服门信号的长度，所述伺服门信号用于从所述头的读取输出中提取所述伺服帧。
19、根据权利要求18所述的头位置控制装置，其中，所述解调电路判断所述目标位置是否在所述外侧区域中，并使用于提取所述伺服帧的伺服门信号的长度大于位于所述内侧的伺服门的长度。
20、根据权利要求16所述的头位置控制装置，其中，所述解调电路从这样的盘提取所述伺服帧，在所述盘中，所述盘的没有所述后置码的所述伺服帧的长度与具有所述后置码的所述伺服帧的长度相同。
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WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

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