CN101036186A - 光学记录介质、记录/再现方法和记录/再现设备 - Google Patents

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Abstract

一种能够根据最佳记录和/或再现条件快速记录数据的光学记录介质、记录和/或再现方法和记录和/或再现设备。参考信号区设置于每个记录层中，以便以最佳记录条件记录预定参考信号。参考信号信息区包括参考信号指示信息，该参考信号指示信息指示关于记录有参考信号的每个记录层的信息。在多层信息存储介质的情况下，通过仅在初始驱动器所使用的层中记录参考信号，能够在首次使用该盘时在最小的时间内写入数据。通过对记录参考信号的记录层进行标记，有效地执行对参考信号的管理。

Description

光学记录介质、记录/再现方法和记录/再现设备
                         技术领域
本发明的一方面涉及一种光学记录介质以及在光学记录介质上记录数据和/或从光学记录介质再现数据的方法和设备。
                         背景技术
光盘被广泛地用作以非接触方式记录和/或再现信息的光学拾取设备中的信息记录介质。根据信息记录容量，光盘可分为压缩盘(CD)和数字通用盘(DVD)。能够记录、删除和再现数据的光盘包括650MB CD-R、CD-RW、4.7GBDVD+RW等，再现专用光盘包括650MB CD、4.7GB DVD-ROM等。另外，记录容量超过15GB的高密度(HD)DVD或蓝光盘(BD)的开发已经完成，并且更高容量的盘(例如，超分辨率近场结构(超-REN)盘或其他使用近场结构的盘以及全息盘)也在开发之中。
在光盘(诸如CD或DVD)上记录数据和/或从光盘再现数据的光学记录和/或再现设备发出能够改变信息记录层的物理特性的相对较高能量的光束以在光盘上记录信息，并使用不改变信息记录层的物理特性的较低能量的光束以从光盘再现信息。也就是说，当记录时，激光二极管由相对较高的写功率来驱动以在记录信息的光盘上形成凹坑。将凹坑形成为预定长度被称为写策略(write strategy)。
当信息被记录在可记录光盘(诸如，CD-R/RW)上时，光盘记录和/或再现设备执行最佳功率控制(OPC)过程以确定适合光盘的写功率。为此，可记录光盘在盘的导入区中具有功率校准区以确定写功率。
现在将简单地解释根据传统技术的光学记录信息存储介质的一般结构。图1是表示根据传统技术的双层信息存储介质的示图，该双层信息存储介质包括使用反向轨道路径(OTP)方法记录数据的两个记录层。
该信息存储介质包括两个记录层L0和L1。记录层L0包括导入区10、数据区11和中间区12，并且记录层L1包括中间区13、数据区14和导出区15。信息通过使用反向轨道路径(OTP)方法被记录在图1中示出的信息存储介质上，所述反向轨道路径(OTP)方法是指从记录层L0的内圆周前进至记录层L0的外圆周并继续从记录层L1的外圆周前进至记录层L1的内圆周。
图2是表示根据传统技术的双层信息存储介质的示图，该双层信息存储介质包括使用并行轨道路径(PTP)方法记录数据的两个记录层。该信息存储介质包括两个记录层L0和L1。记录层L0包括导入区10、数据区11和中间区12。记录层L1包括中间区13、数据区14和导出区15。信息通过使用并行轨道路径(PTP)方法被记录在图2中示出的信息存储介质上，并且数据以相同的方向被记录在记录层L0和L1中。
图3是表示根据传统技术的信息存储介质的导入区的数据结构的盘结构的示图。参照图3，该信息存储介质包括：导入区20，设置在内圆周；导出区40，设置在外圆周；数据区30，设置在导入区20和导出区40之间并且其中记录用户数据。
导入区20包括：预记录区21，预记录区21中预先记录的信息不能改变；可记录区31，可记录区31中记录的信息可以被修改。预记录区21用作再现专用区并包括控制数据区22，控制数据区22中记录有盘类型和版本信息23、盘大小24、盘结构25、记录速度26、记录参数27等。可记录区31包括：缺陷管理区33、测试区34和驱动器/盘状态信息区35。缓冲器32设置在预记录区21和可记录区31之间。缺陷管理区(DMA)33是记录用于管理数据区30中发生的缺陷的缺陷管理信息的区域。驱动器/盘状态信息区35是记录驱动器或盘的状态信息的区域。
测试区34是执行测试记录以找到最佳写功率的区域。测试区34被称为功率校准区(PCA)。为了确定最佳记录和/或再现条件，应该在变化记录和/或再现条件的同时测量记录介质的特性，这个过程比较耗时。也就是说，最佳记录条件通过记录和/或再现设备以及记录介质的特性而被确定。同样，用于确定各种伺服操作的聚焦位置、最佳伺服条件(诸如，跟踪位置、增益等)和最佳再现信号处理条件(诸如，均衡特征和二进制化限幅电平)通过记录和/或再现设备以及记录介质的特性而被确定。
                         发明公开
                         技术问题
因此，每当记录和/或再现设备启动以便在置于其中的光学记录介质上记录数据时，在变化记录和/或再现条件(例如，再现处理信号条件，该再现处理信号条件包括脉冲条件和伺服条件)的同时执行测试记录。此时，将再现的信号与预定信号进行比较以便确定最佳记录和/或再现条件，并且基于最佳记录和/或再现条件执行记录信息的操作。因此，由于在盘上记录数据和/或从盘再现数据之前总是执行测试记录，所以等待时间较长。此外，当盘具有多个记录层时，应该在设置于每个层的测试区中找出每个层的最佳记录条件，从而等待时间变得更长，并且用户不得不等待相当长的时间。
另外，当仅执行再现操作时，例如，甚至当一次写入盘(write-once disk)被最终化或者已无法对其执行记录操作时，也需要调整均衡频率、增益或者最佳聚焦以便执行最佳再现。因此，在这种情况下也应该找出最佳再现条件。
                         技术方案
本发明的一方面提供了一种光学记录介质以及记录和/或再现方法和设备，所述光学记录介质以及记录和/或再现方法和设备使得能够快速确定最佳记录和/或再现条件，以便使记录用户数据之前的等待时间最小化。
                         有益的效果
根据本发明的各方面，通过在光学信息存储介质的导入区和导出区中的至少一个区中的预定位置记录作为参考信号的信号，即使这样记录的盘被载入另一盘驱动器中，也不需要执行另外的OPC，通过使用该参考信号，能够快速设置最佳记录和/或再现条件。
此外，即使当仅执行对数据的再现时，通过使用记录在盘上的参考信号，也能够设置均衡器增益和频率调整或者最佳聚焦调整。
另外，在多层信息存储介质的情况下，不是在所有层中记录参考信号，而是通过仅在第一驱动器将要使用的层中记录参考信号，能够在首次使用该盘时在最少的时间内记录数据，并且通过对记录参考信号的记录层进行标记，能够有效地执行对参考信号的管理。
                         附图说明
图1是表示双层信息存储介质的示图，该双层信息存储介质包括使用反向轨道路径(OTP)方法记录数据的两个记录层；
图2是表示双层信息存储介质的示图，该双层信息存储介质包括使用并行轨道路径(PTP)方法记录数据的两个记录层；
图3是表示信息存储介质的导入区的数据结构的盘结构的示图；
图4是解释根据本发明一方面的确定信息存储介质的最佳记录和/或再现条件的方法的参考示图；
图5表示根据本发明实施例的单层信息存储介质；
图6表示根据本发明实施例的双层信息存储介质；
图7是根据本发明实施例的记录和/或再现设备的结构的方框图；
图8是由根据本发明实施例的记录和/或再现方法执行的操作的流程图；
图9表示根据本发明实施例的多层信息存储介质；
图10是表示这样的状态的示图，在该状态中，通过第一驱动器将参考信号记录在图9中示出的多层信息存储介质的参考记录层(L0)中；
图11是表示这样的状态的示图，在该状态中，通过第二驱动器将参考信号记录在图10中示出的多层信息存储介质的L1层中；
图12表示根据本发明实施例的一次写入多层信息存储介质；
图13是解释根据本发明实施例的第一驱动器在多层信息存储介质上写入参考信号并在参考信号信息区中写入参考信号指示信息的操作的流程图；
图14是解释在图13中示出的操作之后第二驱动器写入参考信号并更新参考信号信息区的操作的流程图。
                         最佳方式
本发明的一方面提供了一种光学记录介质以及记录和/或再现方法及设备，通过所述光学记录介质以及记录和/或再现方法及设备，管理根据最佳记录和/或再现条件的参考层，以便快速地在多层信息存储介质上记录数据。
根据本发明的一方面，提供了一种具有多个记录层的光学记录介质，该介质包括：参考信号区，设置于每个记录层中，以便以为了各记录层的最佳记录和/或再现操作而确定的最佳记录条件记录预定参考信号；参考信号信息区，其中记录有参考信号指示信息，该参考信号指示信息指示关于所述多个记录层之中记录有参考信号的一个或多个记录层的信息。
所述参考信号信息区可设置于所述多个记录层之中首先记录数据的记录层中。所述参考信号信息区可设置于作为参考层的记录层中。
此外，如果所述光学记录介质是一次写入介质，则用于更新记录在参考信号信息区中的参考信号指示信息的信息可被记录在参考信号信息区的未记录的空间中。所述参考信号信息区可设置于一个或多个记录层中。
根据本发明的另一方面，提供了一种在具有多个记录层的光学记录介质上记录数据的方法，该方法包括：在所述多个记录层之中将要记录数据的记录层中以为了最佳记录和/或再现操作而确定的最佳记录条件记录预定参考信号；在首先记录数据的记录层的参考信号信息区中记录参考信号指示信息，该参考信号指示信息指示关于记录参考信号的记录层的信息。
根据本发明的另一方面，提供了一种在具有多个记录层的光学记录介质上记录数据的方法，该方法包括：在所述多个记录层之中将要记录数据的记录层中以为了最佳记录和/或再现操作而确定的最佳记录条件记录预定参考信号；在作为参考层的记录层的参考信号信息区中记录参考信号指示信息，该参考信号指示信息指示关于记录参考信号的记录层的信息。
当所述光学记录介质是一次写入介质，该方法可还包括：将用于更新记录在参考信号信息区中的参考信号指示信息的信息记录在参考信号信息区的未记录的空间中。
根据本发明的另一方面，提供了一种从具有多个记录层的光学记录介质再现数据的方法，该方法包括：从以为了一个或多个记录层的最佳记录和/或再现操作而确定最佳记录条件记录预定参考信号的参考信号区读取参考信号指示信息，该参考信号指示信息指示关于记录参考信号的一个或多个记录层的信息；从参考信号指示信息确定记录参考信号的记录层。
根据本发明的另一方面，提供了一种在具有多个记录层的光学记录介质上记录数据的设备，该设备包括：写单元，用于在介质上记录数据；控制单元，控制写单元以为了最佳记录和/或再现操作而确定的最佳记录条件在所述多个记录层之中将要记录数据的记录层中记录预定参考信号，并控制写单元在首先记录数据的记录层中记录参考信号指示信息，该参考信号指示信息指示关于记录参考信号的记录层的信息。
根据本发明的另一方面，提供了一种在具有多个记录层的光学记录介质上记录数据的设备，该设备包括：写单元，用于在介质上记录数据；控制单元，控制写单元以为了最佳记录和/或再现操作而确定的最佳记录条件在所述多个记录层中将要记录数据的记录层中记录预定参考信号，并控制写单元在作为参考记录层的记录层中记录参考信号指示信息，该参考信号指示信息指示关于记录参考信号的记录层的信息。
根据本发明的另一方面，提供了一种从具有多个记录层的光学记录介质再现数据的设备，该设备包括：读单元，用于从介质读取数据；控制单元，控制读单元从该介质读取参考信号指示信息，该参考信号信息指示关于记录参考信号的一个或多个记录层的信息，该介质具有以为了一个或多个记录层的最佳记录和/或再现操作而确定的最佳记录条件记录预定参考信号的参考信号区，并且该控制单元基于参考信号指示信息确定记录了参考信号的记录层。
                         本发明的方式
现在将对本发明的实施例进行详细的描述，本发明的示例表示在附图中，其中，相同的标号始终表示相同的部件。以下将参照附图来描述实施例以解释本发明。
参照图4，光盘50在导入区中包括测试区58和参考信号区56。
测试区58是盘驱动器进行测试的区域，以便获得用于最佳地在载入光盘上记录数据或再现数据的最佳记录和/或再现条件。参考信号区56是根据获得的最佳记录条件记录预定参考数据的区域。
如果首次使用的光盘50被载入盘驱动器41，则盘驱动器在载入光盘50的测试区58中写数据以测试记录条件并确定最佳记录和/或再现条件。然后，参考数据以确定的最佳记录条件被记录在设置在光盘50上的参考信号区56中。
如果具有以最佳记录条件记录在参考信号区56中的参考信号的光盘50被载入另一盘驱动器42，则另一盘驱动器42再现记录在参考信号区56中的参考信号，确定最佳记录和/或再现条件，并且以确定的最佳记录和/或再现条件在光盘50上写数据或再现记录在光盘50上的数据。
因此，只要首次载入光盘的盘驱动器执行包括OPC的过程，找出最佳记录和/或再现条件，并以最佳记录和/或再现条件在该光盘的参考信号区中写入参考信号，则在第一盘驱动器之后载入该光盘的盘驱动器就不需要为了确定最佳记录和/或再现条件而通过再次在测试区中写数据并再现该数据来进行测试，并且能够通过再现以最佳条件记录在参考信号区中的参考信号来确定最佳记录和/或再现条件，从而盘驱动器能够节省为了确定最佳记录和/或再现条件而花费的时间。
图5表示根据本发明实施例的单层信息存储介质。参照图5，信息存储介质50包括：导入区51、数据区52和导出区53。导入区51的可记录区54包括：参考信号区55、缺陷管理区56、参考信号信息区57、驱动器/盘状态信息区58和测试区59。
信息存储介质50的结构类似于图3中示出的传统盘的结构，但是其区别在于：导入区51的可记录区54中设置了参考信号区55和参考信号信息区57，参考信号区55中以通过记录和/或再现条件测试确定的最佳记录条件记录参考信号，参考信号信息区57中记录参考信号指示信息，该参考信号指示信息用于指示当记录介质具有双层或多层结构时记录参考信号的层。参考信号区55和参考信号信息区57也可以设置在导出区53或中间区中。
记录在参考信号区56中的参考信号包括用于设置均衡条件、伺服条件、二进制化条件和脉冲条件的信号。当单记录层光学记录介质50被首次载入盘驱动器中时，参考信号可以被记录在单记录层光学记录介质50上。参考信号可满足下述三个条件中的至少一个条件。第一，参考信号应该在通过最佳功率控制(OPC)确定的最佳记录条件下被记录在单记录层光学记录介质50上。第二，参考信号的幅度调制水平(amplitude modulation level)应该大于0.3。第三，参考信号应该具有小于7％的抖动水平(jitter level)。参考信号可被记录在满足上述三个条件之一的单记录层光学记录介质上。另外，第二或第三个条件能够通过适当地确定单记录层光学记录介质的最佳记录条件来满足。
这里，根据单记录层光学记录介质的规格，参考信号可具有与此处阐述的幅度调制水平和抖动水平不同的幅度调制水平和抖动水平。另外，参考信号可以以随机模式被记录在参考信号区55中。然而，为了特定的目的，例如为了测量调制参考信号的幅度的程度，参考信号也可以以唯一模式被记录在参考信号区中。
参考信号信息区57是用于记录参考信号指示信息的区域，该参考信号指示信息用于指示当介质具有多个层时记录参考信号的记录层。当信息存储介质具有多个层时，首次使用该多层信息存储介质的驱动器可测试所有层并记录参考信号；或者该第一驱动器可仅测试该驱动器希望使用的记录层并记录参考信号，由此减少用于记录用户数据的时间。
如果参考信号没有被记录在所述多个层中的每个层中，则需要指示记录参考信号的记录层。因此，在参考信号信息区57中记录用于指示记录参考信号的记录层的参考信号指示信息。在可重写的介质的情况下，由于能够在同一位置更新和记录参考信号指示信息，所以参考信号信息区可设置在固定区域。然而，在一次写入介质的情况下，不能在同一位置更新参考信号指示信息，根据参考信号指示信息的改变，记录区域需要连续增加，参考信号信息区可以是可扩展的区域。例如，参考信号信息区可以设置在所有记录层的预定区域中，例如，设置在导入区、中间区或导出区中。
图6表示根据本发明实施例的双层信息存储介质。当信息存储介质具有多个记录层时，每个记录层的最佳记录和/或再现条件是不同的。因此，根据本发明一方面的双层信息存储介质在每个记录层中具有以最佳记录条件记录参考信号的参考信号区。
参照图6，该双层信息存储介质具有两个记录层L0和L1。记录层L0包括导入区60、数据区61和中间区62，并且记录层L1包括中间区65、数据区66和导出区67。导入区60包括测试区63-0和参考信号区64-0，导出区67包括测试区63-1和参考信号区64-1。如果具有两个记录层的信息存储介质被首次载入记录和/或再现设备，则该第一记录和/或再现设备在设置于记录层L0的导入区60中的测试区63-0中执行记录和/或再现测试，确定最佳记录和/或再现条件，并以确定的最佳记录条件在参考信号区64-0中记录预定参考信号。此外，该第一记录和/或再现设备在设置于记录层L1的导出区67中的测试区63-1中执行记录和/或再现测试，确定最佳记录和/或再现条件，并以确定的最佳记录条件在参考信号区64-1中记录预定参考信号。
如果以最佳记录条件在每个记录层的参考信号区中记录了适合于每个记录层的参考信号的信息存储介质被载入另一记录和/或再现设备，则该另一记录和/或再现设备从设置于每个记录层中的参考信号区再现参考信号，并确定适合于每个记录层的最佳记录和/或再现条件。
图7是根据本发明实施例的记录和/或再现设备的结构的方框图。参照图7，图7中示出的记录和/或再现设备包括主轴电机70、光学头71、激光驱动单元72、伺服控制单元73、放大单元74、均衡器75、二进制化电路76、数据解调单元77、数据调制单元78、脉冲控制单元79和控制单元5，并且该记录和/或再现设备作为用于设置记录和/或再现条件的设备还包括伺服条件设置单元1、均衡条件设置单元2、二进制化条件设置单元3和脉冲条件设置单元4。
主轴电机70旋转放置于记录和/或再现设备上的光盘50。控制单元5对记录和/或再现设备进行整体控制。数据调制单元78把将被记录的数据转换成记录信号。脉冲控制单元79根据由脉冲条件设置单元4设置的脉冲条件来控制激光脉冲。激光驱动单元72根据来自脉冲控制单元79的信号来驱动激光二极管。光学头71将激光束聚焦在光盘50上，以便将信息记录在光盘50上或者从光盘50所反射的光产生再现信号。
伺服控制单元73基于从放大单元74输出的信号根据伺服条件来控制光学头71的聚焦和跟踪。放大单元74放大从光学头71输出的再现信号。均衡器75修改从放大单元74输出的再现信号的频率特性。二进制化电路76将由均衡器75修改的信号转换成二进制信号。数据解调单元77对从二进制化电路76输出的数据进行解调。
伺服条件设置单元1在伺服控制单元73设置伺服条件。均衡条件设置单元2在均衡器75设置均衡条件。二进制化条件设置单元3在二进制化电路76设置二进制化限幅电平。脉冲条件设置单元4在记录信息时设置脉冲条件。
图8是根据本发明实施例的记录和/或再现方法的流程图。参照图8，在操作81中将光盘50载入驱动器。其后，主轴电机70使光盘50旋转。然后，光学头71将用于再现信息的激光束发射到光盘50。通过访问盘50的导入区，读出导入区中记录的盘50的识别信息和其他信息。为了读取识别信息和其他信息，由光学头71从盘50所反射的光束获得的再现信号被放大，并且该信号的频率特性被具有预设均衡条件的均衡器75修改。然后，设置为预定二进制化限幅电平的二进制化电路76对该信号进行二进制化。二进制化的信号被数据解调单元77解调，并随后被发送给控制单元5。伺服控制单元73根据预设伺服条件基于从放大单元74输出的信号来控制光学头71的聚焦和跟踪。通过这样的操作，记录在光盘50的导入区中的盘识别信息被发送给控制单元5。
然后，在操作82中，对设置在盘50上的参考信号区进行读操作。参考信号区是具有以最佳记录条件记录的参考信号的区域。以与访问导入区和读取识别信息相同的方式，访问参考信号区并读取参考信号。
根据伺服控制单元73的预设伺服条件，对盘50中的参考信号区进行访问，并且光学头71对聚焦或跟踪进行控制。由光学头71从盘50所反射的激光束获得的再现信号被放大单元74放大，并且频率特性被具有预设均衡条件的均衡器75修改。然后，预设了二进制化限幅电平的二进制化电路76对该再现信号进行二进制化。二进制化的信号被解调，并被提供给控制单元5。
然后，在操作83中，确定是否记录了参考信号。也就是说，控制单元5从提供的二进制化信号确定是否记录了参考信号。如果参考信号没有被记录，则在操作84中在设置于盘50的测试区中测试记录条件，并确定最佳记录和/或再现条件。
首先，根据预设条件或者由盘50的识别信息指定的条件，脉冲条件设置单元4在脉冲控制单元79设置脉冲条件，伺服条件设置单元1在伺服控制单元73设置伺服条件，均衡条件设置单元2在均衡器75设置均衡条件，二进制化条件设置单元3在二进制化电路76设置二进制化限幅电平。
然后，从控制单元5输出的用于预定记录测试的测试数据被调制单元78转换成记录信号，转换的记录信号又被脉冲控制单元79转换成满足设置的脉冲条件的激光驱动信号。激光驱动单元72根据激光驱动信号来驱动光学头71的激光二极管。用于聚焦和跟踪的光学头71由伺服控制单元73控制，聚焦从激光二极管发射的光，并在光盘的测试区中形成标记以记录信息。
作为测试而记录在盘50上的数据的再现信号被放大单元74放大，然后，该信号的频率特性被均衡器75修正。然后，控制单元5测量由二进制化电路76二进制化的信号的抖动值(该再现信号相对于参考时钟的位置变化)，并且该值被与预设的标准值比较。如果该抖动值满足所述标准值，则设置的条件被确定为最佳条件。然而，如果该抖动值不满足所述标准值，则脉冲条件、伺服条件、均衡条件和二进制化限幅电平连续改变，测试数据为了测试而被记录，并且记录的数据的抖动值被测量。
然后，在操作85中，以确定的最佳记录条件将参考信号记录在参考信号区中。条件设置单元4以这样确定的最佳记录条件来设置。也就是说，脉冲条件设置单元4在脉冲控制单元79根据最佳记录条件来设置脉冲条件，伺服条件设置单元1在伺服控制单元73根据最佳记录条件来设置伺服条件，均衡条件设置单元2在均衡器75根据最佳记录条件来设置均衡条件，二进制化条件设置单元3在二进制化电路76根据最佳记录条件来设置二进制化限幅电平。
从控制单元5输出的参考数据被调制单元78转换成记录信号，并且该记录信号被脉冲控制单元79转换成满足设置的脉冲条件的激光驱动信号。参考数据的记录模式可以是随机模式，当为了特殊目的记录数据时，例如为了测量调制程度，也可以记录特殊模式而非随机模式。
根据所述激光驱动信号，激光驱动单元72驱动设置在光学头71的激光二极管，并在光盘50的参考信号区中形成标记从而记录参考信号。
然后，在操作86中，以确定的最佳记录条件记录和/或再现用户数据。以与如上所述在参考信号区中记录参考信号相同的方式，以确定的最佳记录条件在光盘50的数据区中记录用户数据，以及以确定的最佳记录条件再现记录的数据。
在操作83中，如果在参考信号区中记录了参考信号，则在操作87中再现参考信号以确定最佳记录和/或再现条件。由于已经记录了用于找出最佳记录和/或再现条件的参考信号，所以仅通过再现记录在参考信号区中的参考信号就能确定最佳记录和/或再现条件。然后，在操作86中，以确定的最佳记录条件在盘50上记录用户数据和/或从盘50再现用户数据。
现在将解释在多层信息存储介质的情况下在使用该多层信息存储介质的第一驱动器中记录参考信号的方法。在这种方法中，已参照图6解释了这样的情况：当双层信息存储介质被首次载入驱动器时，在该第一驱动器对记录层L0和L1执行测试，并记录分别用于记录层L0和L1的参考信号。然而，在多层信息存储介质(包括双层介质)的情况下，当一个层具有足够的容量来记录所希望的数据时，记录用于所有层的参考信号并不是高效的方式。
也就是说，在多层信息存储介质被首次载入第一驱动器之后，为了记录用于该信息存储介质中所包括的所有层的参考信号，应该对所有层执行最佳功率控制(OPC)以找出最佳记录条件，然后，应该在所有记录层中记录参考信号。因此，即使当用户仅在一个记录层(例如，与拾取器最近的层0)上记录数据时，为了在所有记录层中记录参考信号，记录时间将随着记录层的数量而变长，并且OPC时间也将变长。
因此，当多层信息存储介质被首次载入驱动器时，可以仅在希望记录数据的记录层中测试并记录参考信号，并且用于指示记录该参考信号的记录层的参考信号指示信息被记录在将被首先使用的记录层或参考记录层中。参考记录层指的是作为多个记录层中的参考层的记录层，位于与信号记录层的入射表面相同的位置处的记录层被称为多个记录层中的参考记录层。通常，在首次使用一个信息存储介质的驱动器中首先使用这种参考记录层，在具有随机使用记录层的规则的驱动器中，除参考记录层以外的其他记录层也可以被首先使用。
参考信号指示信息可以仅被记录在首先使用的记录层(即，参考记录层)中。如果信息被记录在对于驱动器已知的任何一个位置，则关于参考信号被记录在哪个记录层的记录信息将是足够的。
另外，如果该参考信号指示信息被记录在所有其他记录层中，则在找出最佳记录条件并将其记录在参考记录层中之后，将会再现记录在其他记录层中的参考信号指示信息，因此，该再现将不具有任何意义。
现在将更详细地解释在这种多层信息存储介质中记录参考信号的方法。图9表示根据本发明实施例的可重写多层信息存储介质。参照图9，多层信息存储介质90包括4个层：L0、L1、L2、L3。
在层L0中，依次连续设置有导入区91-0、数据区92-0和外中间区930。在层L1中，连续设置有内中间区94-1、数据区92-1和外中间区93-1。在层L2中，连续设置有内中间区94-2、数据区92-2和外中间区93-2。在层L3中，连续设置有导出区95-3、数据区92-3和外中间区93-3。使用该介质的方向是相邻层的使用方向相反的反向轨道路径(OTP)，如箭头96所示。在相邻层的使用方向相同的并行轨道路径(PTP)中，可以同样应用该布置。
在层L0、L1、L2、L3之中的每个层中，分别设置有对应的参考信号区97-0、97-1、97-2和97-3，在这些参考信号区中，可通过测试找出最佳记录和/或再现条件并且可根据该条件记录参考信号。更具体地讲，参考信号区97-0设置在层L0的导入区91-0中，参考信号区97-1设置在层L1的内中间区94-1中，参考信号区97-2设置在层L2的内中间区94-2中，参考信号区97-3设置在层L3的导出区95-3中。
此外，在参考记录层L0的导入区91-0中，设置有参考信号信息区98。参考信号信息区98是记录这样的信息的区域，该信息指示多层信息存储介质的各层之中记录参考信号的层。在由第一驱动器将参考信号记录在参考记录层中并且指示该参考信号被记录在参考记录层中的参考信号指示信息被记录在参考信号信息区96中之后，如果由第二驱动器另外在另一层中记录了参考信号，则在参考信号信息区98中更新指示在参考记录层和所述另一层中记录了参考信号的参考信号指示信息。
由于上述原因，如果参考信号信息区98仅设置在参考记录层L0中，则这样就足够了。另外，当首次使用该盘的驱动器首先使用其他层时，参考记录层可以是除L0以外的记录层。
图10中表示这样的状态：在具有参照图9所描述的结构并且未被使用过的多层信息存储介质被载入第一驱动器以便使用之后，参考信号被记录。
图10是表示这样的状态的示图，在该状态中，通过第一驱动器将参考信号记录在图9中示出的多层信息存储介质90的参考记录层L0中。当未被使用过的多层信息存储介质被载入第一驱动器时，第一驱动器仅测试将要记录数据的记录层(L0、L1、L2或L3)，并确定最佳记录和/或再现条件。然后，根据确定的条件，第一驱动器将参考信号记录在参考信号区(97-0、97-1、97-2或97-3)中。参照图10，例如，如果第一驱动器确定在记录层L0中记录数据，则第一驱动器在设置于导入区91-0的测试区(未示出)中进行测试，确定最佳记录和/或再现条件，并根据确定的条件将参考信号记录在参考信号区97-0中。然后，用于指示参考信号被记录在记录层L0中的参考信号指示信息(‘L0’被记录在该导入区的参考信号信息区98中。
然后，第一驱动器在记录层L0的数据区92-0中执行数据记录操作。在该数据记录操作完成之后，第一驱动器对层L1、L2和L3执行测试以找出最佳记录和/或再现条件，然后根据这些条件将参考信号记录在各记录层的参考信号区97-1、97-2和97-3中。此外，可以在参考信号信息区98中更新用于指示参考信号被记录在记录层L0、L1、L2和L3中的信息。
图11中表示这样的状态：在完成由第一驱动器执行的数据记录操作之后，当多层信息存储介质90被载入第二驱动器时，由第二驱动器记录参考信号。
图11表示这样的状态，在该状态中，通过第二驱动器将参考信号记录在图10中示出的多层信息存储介质90的层L1中。当处于如图10中所示状态的多层信息存储介质被载入第二驱动器时，第二驱动器从参考记录层L0的导入区97-0的参考信号信息区98确认参考信号仅被记录在层L0中。如果层L0的数据区92-0具有能够记录数据的未使用的区域，则以参照记录在参考信号区97-0中的参考信号确定的记录条件将数据记录在数据区92-0中。然而，如果在数据区92-0中没有用于记录数据的空间，则第二驱动器在层L1中执行测试以便使用层L1，并且以确定的最佳记录和/或再现条件在设置于内中间区94-1的参考信号区97-1中记录参考信号。
然后，为了指示现在在层L0和L1中记录了参考信号，记录在参考信号信息区98中的参考信号指示信息被更新以包括‘L0’和‘L1’。
同时，在可重写的介质的情况下，能够很多次在同一位置更新数据。然而，在一次写入介质的情况下，由于无法在同一位置更新数据，所以参考信号信息区可设置于多个位置。
图12表示根据本发明实施例的一次写入多层信息存储介质。参照图12，该一次写入多层信息存储介质包括4个层L0、L1、L2和L3。
在层L0中，依次连续设置有导入区101-0、数据区102-0和外中间区103-0。在层L1中，连续设置有内中间区104-1、数据区102-1和外中间区103-1。在层L2中，连续设置有内中间区104-2、数据区102-2和外中间区103-2。在层L3中，连续设置有导出区105-3、数据区102-3和外中间区103-3。
在层L0、L1、L2、L3之中的每个层中，分别设置有：参考信号区107-0、107-1、107-2和107-3，在这些参考信号区中，可通过测试找出最佳记录和/或再现条件并且可根据该条件记录参考信号；参考信号信息区108-0、108-1、108-2和108-3，在这些参考信号信息区中，能够记录用于指示参考信号被记录在哪个层的参考信号指示信息。也就是说，参考信号区107-0和参考信号信息区108-0设置在层L0的导入区101-0中，参考信号区107-1和参考信号信息区108-1设置在层L1的内中间区104-1中，参考信号区107-2和参考信号信息区108-2设置在层L2的内中间区104-2中，参考信号区107-3和参考信号信息区108-3设置在层L3的导出区105-3中。
与可重写的介质不同，在一次写入记录介质中，记录在参考信号信息区中的参考信号指示信息不是在同一位置被更新，而是在下一位置被更新，并且随着参考信号指示信息的变化，记录参考信号指示信息所需的区域根据记录参考信号信息的次数而增加。因此，在如图12中所示的一次写入介质的情况下，参考信号信息区可设置于多个位置或设置于所有记录层中。
图13是解释根据本发明的第一驱动器在多层信息存储介质上写入参考信号并在参考信号信息区中写入参考信号指示信息的操作的流程图。在操作131中，未使用过的多层信息存储介质被载入第一驱动器。第一驱动器的控制单元在操作132中仅测试将要记录数据的层(参考记录层L0)，并在操作133中控制读/写单元以便以确定的最佳记录条件在L0的参考信号区中记录参考信号。
然后，在操作134中，第一驱动器的控制单元控制读/写单元，以便在设置于该介质的导入区的参考信号信息区中记录参考信号指示信息，该参考信号指示信息用于指示参考信号被记录在参考记录层L0中。然后，在操作135中，第一驱动器的读/写单元以确定的最佳记录条件在L0的数据区中记录数据。
图14是解释在图13中示出的操作之后第二驱动器写入参考信号并更新参考信号信息区的操作的流程图。在操作141中，仅在参考记录层中记录参考信号的多层信息存储介质被载入第二驱动器。在操作142中，第二驱动器的控制单元参照记录层L0的参考信号区的参考信号来确定再现条件，并控制读/写单元以便以确定的再现条件读取参考信号信息区中的参考信号指示信息。
在操作143中，第二驱动器的控制单元确认这样的参考信号指示信息，即参考信号仅被记录在作为参考记录层的L0层中。然后，在操作144中，控制单元确认在参考记录层的数据区中是否存在未记录的区域。如果根据控制单元的该确认结果在参考记录层中存在未记录的区域，则在操作145中读/写单元以参照参考信号确定的记录条件在所述未记录的区域中记录数据。
如果根据控制单元的确认结果在参考记录层中不存在未记录的区域，则在操作146中对于下一记录层(L1)执行写入和/或再现条件测试，以便使用记录层(L1)。在操作147中，控制单元控制读/写单元以便以确定的最佳记录条件在参考信号区中记录参考信号。
此外，在操作148中，控制单元控制读/写单元，以便在参考信号信息区中更新用于指示参考信号被记录在参考记录层L0和L1中的参考信号指示信息。此时，在一次写入介质的情况下，参考信号指示信息被记录在参考信号区中与记录第一参考信号指示信息的位置相邻的位置。
此外，如果在设置于L0的所有参考信号信息区中记录了数据并且没有更多的用于记录数据的空间，则在设置于紧接着要使用的记录层(例如，记录层L1)的导入区中的参考信号信息区中记录更新的参考信号指示信息。然后，在操作149中，控制单元控制读/写单元，以便以确定的最佳记录条件在记录层L1的数据区中记录数据。
虽然已表示和描述了本发明的一些实施例，但本领域技术人员应该理解，在不脱离由权利要求及其等同物限定其范围的本发明的原理和精神的情况下，可以对这些实施例进行修改。

Claims (42)

1、一种具有多个记录层的光学记录介质，包括：
参考信号区，设置于所述多个记录层中的每个记录层中，用于以为了各记录层的最佳记录和/或再现操作而确定的最佳记录条件记录预定参考信号；
参考信号信息区，其中记录有参考信号指示信息，该参考信号指示信息指示关于所述多个记录层之中记录有参考信号的至少一个记录层的信息。
2、如权利要求1所述的记录介质，其中，所述参考信号信息区设置于所述多个记录层之中首先记录数据的记录层中。
3、如权利要求1所述的记录介质，其中，所述参考信号信息区设置于作为参考层的记录层中。
4、如权利要求1所述的记录介质，其中，如果所述光学记录介质是一次写入介质，则用于更新记录在参考信号信息区中的参考信号指示信息的信息被记录在参考信号信息区的未记录的空间中。
5、如权利要求4所述的记录介质，其中，所述参考信号信息区设置于至少一个记录层中。
6、一种在具有多个记录层的光学记录介质上记录数据的方法，该方法包括：
在所述多个记录层之中将要记录数据的记录层中，以为了最佳记录和/或再现操作而确定的最佳记录条件记录预定参考信号；
在首先记录数据的记录层的参考信号信息区中记录参考信号指示信息，该参考信号指示信息指示关于记录参考信号的记录层的信息。
7、一种在具有多个记录层的光学记录介质上记录数据的方法，该方法包括：
在所述多个记录层之中将要记录数据的记录层中，以为了最佳记录和/或再现操作而确定的最佳记录条件记录预定参考信号；
在作为参考层的记录层的参考信号信息区中记录参考信号指示信息，该参考信号指示信息指示关于记录参考信号的记录层的信息。
8、如权利要求6所述的方法，其中，如果所述光学记录介质是一次写入介质，则该方法还包括：将用于更新记录在参考信号信息区中的参考信号指示信息的信息记录在参考信号信息区的未记录的空间中。
9、如权利要求8所述的方法，其中，如果在首先记录数据的记录层中没有空间来记录参考信号指示信息，则该方法还包括：在另一记录层的参考信号信息区中记录参考信号指示信息。
10、一种从具有多个记录层的光学记录介质再现数据的方法，该方法包括：
从光学记录介质的至少一个层读取参考信号指示信息，该参考信号指示信息指示关于以最佳记录条件记录参考信号的每个记录层的信息；
从参考信号指示信息确定记录参考信号的记录层。
11、如权利要求10所述的方法，其中，读取参考信号指示信息的步骤包括：从将要首先记录数据的记录层之一读取参考信号指示信息。
12、如权利要求10所述的方法，其中，读取参考信号指示信息的步骤包括：从所述多个记录层之中的参考记录层读取参考信号指示信息。
13、如权利要求10所述的方法，其中，如果所述光学记录介质是一次写入介质，则读取参考信号指示信息的步骤包括：从所述多个记录层之中最后记录参考信号指示信息的记录层读取参考信号指示信息。
14、一种在具有多个记录层的光学记录介质上记录数据的设备，该设备包括：
写单元，用于在介质上记录数据；
控制单元，控制写单元以为了最佳记录和/或再现操作而确定的最佳记录条件在所述多个记录层中的一个记录层中记录预定参考信号，并控制写单元记录参考信号指示信息，该参考信号指示信息指示关于所述多个记录层之中记录参考信号的所述一个记录层的信息，其中，所述多个记录层之中的所述一个记录层是将要被记录的第一个层。
15、一种在具有多个记录层的光学记录介质上记录数据的设备，该设备包括：
写单元，用于在介质上记录数据；
控制单元，控制写单元以最佳记录条件在所述多个记录层中的参考记录层中记录预定参考信号，并控制写单元记录参考信号指示信息，该参考信号指示信息指示关于该参考记录层的信息。
16、如权利要求14所述的设备，其中，参考信号信息被记录在光学记录介质的参考信号信息区中，
如果所述光学记录介质是一次写入介质，则控制单元还控制写单元将用于更新参考信号指示信息的信息记录在参考信号信息区的未记录的空间中。
17、如权利要求14所述的设备，其中，如果在参考记录层中没有空间来记录参考信号指示信息，则控制单元控制写单元在所述多个记录层中的另一记录层中记录参考信号指示信息。
18、一种从具有多个记录层的光学记录介质再现数据的设备，该设备包括：
读单元，用于从介质读取数据；
控制单元，控制读单元从记录介质读取参考信号指示信息，该参考信号信息指示关于以为了一个或多个记录层的最佳记录和/或再现操作而确定的最佳记录条件在参考信号区中记录参考信号的每个记录层的信息，并且该控制单元从参考信号指示信息确定记录了参考信号的记录层。
19、如权利要求18所述的设备，其中，所述控制单元还控制读单元从所述多个记录层之中将要首先记录数据的记录层读取参考信号指示信息。
20、如权利要求18所述的设备，其中，所述控制单元还控制读单元从所述多个记录层之中的参考记录层读取参考信号指示信息。
21、如权利要求18所述的设备，其中，所述控制单元还控制读单元从所述多个记录层之中最后记录了更新的参考信号指示信息的记录层读取参考信号指示信息。
22、一种光学记录介质，包括：
多个记录层；
测试区；
参考信号区，基于通过使用最佳功率控制在测试区中执行的测试记录而确定的条件来记录参考数据；
参考信号信息区，用于指示参考数据的位置。
23、如权利要求22所述的光学记录介质，其中，所述参考数据包括记录和/或再现设备可使用的设置数据。
24、如权利要求23所述的光学记录介质，其中，所述设置数据包括：用于设置均衡条件的数据、用于设置伺服条件的数据、用于设置二进制化条件的数据或用于设置脉冲条件的数据。
25、如权利要求22所述的光学记录介质，其中，每个层包括：测试区、参考信号区和参考信号信息区。
26、一种用于记录和再现具有多个记录层的光学记录介质上的数据的设备，该设备包括：
激光驱动单元，用于向记录介质写数据以及从记录介质上的记录数据读取数据；
控制单元，控制写单元通过使用最佳功率控制在一个记录层的测试区中执行测试记录以确定最佳记录或再现条件，控制写单元通过使用确定的最佳条件在所述一个记录层的参考信号区中记录参考数据，并控制写单元在参考信号信息区中记录用于指示参考数据的位置的参考信号信息。
27、如权利要求26所述的设备，其中，所述参考数据包括记录和再现设备可使用的设置数据。
28、如权利要求27所述的设备，其中，所述设置数据包括：用于设置均衡条件的数据、用于设置伺服条件的数据、用于设置二进制化条件的数据或用于设置脉冲条件的数据。
29、如权利要求26所述的设备，其中，每个层包括：测试区、参考信号区和参考信号信息区。
30、如权利要求26所述的设备，其中，参考信号区和参考信号信息区位于同一层。
31、如权利要求27所述的设备，其中，所述设置数据可由另一记录设备、另一再现设备或另一记录和再现设备使用。
32、一种光学记录介质，包括：
多个记录层；
参考信号区，用于以通过使用最佳功率控制确定的最佳记录条件记录参考信号；
参考信号信息区，用于指示关于参考信号的信息。
33、如权利要求6所述的方法，其中，如果所述光学记录介质是一次写入介质并且参考信号信息将要被更新，则该方法还包括：在另一位置记录更新的参考信号信息。
34、如权利要求33所述的方法，其中，所述另一位置是与先前记录参考信号信息的位置相邻的另一位置。
35、如权利要求10所述的方法，还包括：使用参考信号为随后的记录和/或再现操作设置参数。
36、如权利要求35所述的方法，其中，随后的记录操作使用同一记录和/或再现设备来执行。
37、如权利要求35所述的方法，其中，随后的记录和/或再现操作使用不同的记录和/或再现设备来执行。
38、如权利要求36所述的方法，还包括：使用参考信号来设置均衡器增益、频率调整或最佳聚焦调整。
39、如权利要求6所述的方法，其中，当记录介质首次被第一设备用来记录时，第一设备仅在所述多个记录层之中该第一设备记录数据的记录层中记录参考信号和参考信号信息。
40、如权利要求39所述的方法，其中，当第一设备已在所述多个记录层之中的所选记录层中记录参考信号和参考信号信息并且该记录介质随后被载入第二设备时，第二设备根据由第一设备记录的参考信号和参考信号信息在所述多个记录层之中具有由第一设备记录的参考信号的记录层中执行记录和/或再现。
41、如权利要求39所述的方法，其中，当第一设备未在所述多个记录层之中所选的一个记录层中记录参考信号并且该记录介质随后被用于第二设备以记录数据时，该方法还包括：
在所述多个记录层之中第二设备将要记录数据的所选的一个记录层中，以为了最佳记录和/或再现操作而确定的最佳记录条件记录参考信号；
更新由第一设备记录的参考信号信息以指示数据已被记录在先前未记录的层中。
42、如权利要求39所述的方法，其中，当第一设备未在所述多个记录层之中所选的一个记录层中记录参考信号并且该记录介质随后被用于第二设备以记录数据时，该方法还包括：
在所述多个记录层之中第二设备将要记录数据的所选的一个记录层中，以为了最佳记录和/或再现操作而确定的最佳记录条件记录参考信号；
在所述多个记录层之中的所述所选的一个记录层中记录参考信号信息，以指示数据已被记录在所述多个记录层之中的所述所选的一个记录层中。
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