CN1906680A - 信息记录介质和信息记录装置及方法 - Google Patents

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Abstract

一种信息记录介质分别具有：第一记录层(L0层)，用于记录第一信息；以及一个或多个第二记录层(L1层等)，用于记录第二信息。第二记录层的每一层具有规定区(PCA1－1)，用于执行用于检测记录激光束的最佳记录功率的功率校准，其中所述记录激光束穿透比该记录层更接近第一记录层侧的各第二记录层中的其它记录层和第一记录层。在其它记录层和第一记录层中的面对区(TA)中，由于形成了压印凹坑，与在其它层和第一记录层上没有形成压印凹坑也没有执行记录的情况相比，使面对区的光透射率更接近于在其它层和第一记录层上没有形成压印凹坑但执行了记录的情况下的光透射率。

Description

信息记录介质和信息记录装置及方法
技术领域
本发明涉及一种诸如DVD这样的信息记录介质、诸如DVD记录器这样的信息记录装置、以及信息记录方法。
背景技术
例如，在诸如CD和DVD这样的信息记录介质中，已开发了多个记录层叠压或层压在相同衬底上的复层型或多层型或者双层型光盘等等。此后，在诸如CD记录器这样的用于将信息记录到这种双层型(即两层型)光盘上的信息记录装置中，按照可重写方法或通过利用加热等等进行不可逆变记录加热的不可逆变记录方法，通过使记录激光聚焦于L0层上，可将信息记录到从激光的发射侧或照射侧来看位于前面或最近侧的记录层中(必要时在该申请中称为“L0层”)。此外，按照可重写方法或通过利用加热等等进行不可逆变记录加热的不可逆变记录方法，通过使激光穿过L0层聚焦于L1层上等等，将信息记录到从激光的照射侧来看位于L0层的后面或最远侧的记录层中(在该申请中称为″L1层″)。
此外，在将数据信息记录到这类光盘等等的情况下，根据光盘的类型以及信息记录/重放装置的类型和记录速率等等，通过OPC(最佳功率控制)处理来设置最佳记录激光功率(必要时在该申请中称为“最佳记录功率”)。也就是说，对记录功率执行校准。通过此，可实现响应光盘的信息记录表面的特征变化的适当记录操作。例如，如果加载了光盘并且输入了写命令，那么随着顺序地改变光强，来将用于测试写入的数据记录到OPC区中，从而执行所谓的″测试写入处理″。特别地，公开了这样一种技术，其中为两个记录层的每一层提供OPC区，并且对两个层的每一层执行OPC处理。
此外，在两层型光盘的情况，关于对L1层中的最佳记录功率的检测，必需适当地对透过激光的L1层中的两种记录状态做出响应。这是因为通常如果L0层已被记录，那么L0层的透射到L1层的光透射率降低了，这使最佳记录功率的值增加了。另一方面，如果L0层未记录，那么L0层的透射到L1层的光透射率相对很高，这使最佳记录功率的值降低了。
此后，如在专利文献1等等中描述的，还公开了这样一种技术，其中如果在L1层中执行OPC处理，那么首先将数据信息记录到L0层中，并且此后，可在L1层中更加适当地执行OPC处理。
专利文献1：日本专利申请未决公开NO.2001-52337
发明内容
本发明所要解决的问题
然而，当在L1层中的上述OPC处理中检测到最佳记录功率时，存在这样的技术问题，即必需执行使透过激光的L0层处于记录状态这样的处理。
为了解决上述传统问题，因此本发明的目的是提供一种多层型信息记录介质、信息记录装置、以及信息记录方法，在该多层型信息记录介质上可有效地执行测试写入并且可将记录信息有效地记录到多个记录层的每一层中，该信息记录装置和信息记录方法可有效地将信息记录到该信息记录介质上。
解决该问题的方式
(信息记录介质)
本发明的上述目的可以通过这样一种信息记录介质来实现，该信息记录介质具有：第一记录层，该第一记录层将第一信息记录在其中，该第一信息是记录信息的至少一部分；以及一个或多个第二记录层，该第二记录层布置在第一记录层上，并且将第二信息记录在其中，该第二信息是记录信息的至少另一部分，其中每个第二记录层具有预定区，在该预定区中执行功率校准，对透射过第一记录层以及第二记录层的其他层的记录激光的最佳记录功率进行检测，从激光的照射侧来看，第一记录层、第二记录层的其他层、以及所述第二记录层的所述每一层以此顺序排列，并且在所述第二记录层的其他层以及第一记录层中与预定区面对的面对区中，通过形成压印(embossed)凹坑，与在(ii-1)未形成压印凹坑并且(ii-2)其他层和第一记录层是未记录的这样的情况之下的(ii)光透射率相比，可使面对区的光透射率更接近在(i-1)未形成压印凹坑并且(i-2)其他层和第一记录层已记录的这样的情况之下的(i)光透射率。
根据本发明的信息记录介质，第一记录层和一个或多个第二记录层叠压或层压在例如盘形衬底的一侧。该信息记录介质是两层型或多层型DVD或光盘等等。可将诸如音频、视频信息、或内容信息这样的记录信息记录到第一记录层中。可将诸如音频、视频信息、或内容信息这样的记录信息记录到每个第二记录层中。借助于这种结构，使用于记录或重放的激光按照这种顺序来照射衬底、第一记录层、第二记录层的其他层、以及第二记录层的每一层。更具体地说，如果每个第二记录层是从记录激光的照射方向开始数的第二层，那么不存在第二记录层的其他层。此外，如果每个第二记录层是第三层，那么存在第二记录层的一个其他层。如果每个第二记录层是第四层，那么存在第二记录层的两个其他层。
每个第二记录层具有诸如OPC区这样的预定区，在该预定区中执行功率校准，对记录激光的最佳记录功率进行检测。
特别地，在本发明中，与预定区面对的面对区位于第一记录层和第二记录层的其他层中。在面对区中，通过形成压印凹坑可对记录激光的光透射率进行调节。如果在第一记录层和第二记录层的其他层中的面对区中未形成压印凹坑，那么需要这样的处理，即通过随后描述的信息记录装置使激光透射过的第一记录层和第二记录层的其他层中的面对区处于记录状态，以便对每个第二记录层的预定区的最佳记录功率进行适当地检测。
与此相反，根据本发明，例如在生产诸如光盘这样的信息记录介质时，通过在位于第一记录层和第二记录层的其他层中的面对区中形成压印凹坑，与在(ii-1)未形成压印凹坑并且(ii-2)第一记录层和第二记录层的其他层是未记录的这样的情况之下的(ii)光透射率相比，可使下述面对区的光透射率更接近在(i-1)未形成压印凹坑并且(i-2)第一记录层和第二记录层的其他层是已记录的这样的情况之下的(i)光透射率，在所述面对区中光透射到每个第二记录层的预定区。
顺便说一下，为了在第一记录层和第二记录层的其他层中形成面对区以便与在(ii-1)未形成压印凹坑并且(ii-2)第一记录层和第二记录层的其他层是未记录的这样的情况之下的(ii)光透射率相比，面对区的光透射率更接近在(i-1)未形成压印凹坑并且(i-2)第一记录层和第二记录层的其他层是已记录的这样的情况之下的(i)光透射率，如上所述，仅需独立地且特定地通过实验式地、经验式地、或理论上地形成压印凹坑或者通过模拟等等来获得期望的光透射率。
在本发明的信息记录介质的一个方面中，通过在面对区中形成压印凹坑，将面对区的光透射率设置成与在未形成压印凹坑并且其他层和第一记录层已记录这样的情况之下的光透射率相同。
根据这个方面，可完全省略下述记录操作，该记录操作用于将面对区的光透射率设置成与在其他层和第一记录层是已记录的这样的情况之下的光透射率相同(或相等)。在这里，在执行功率校准中，术语“相同”或“相等”不仅包括“完全相等”的含义，而且还包括等价于足以被认为相同的光透射率的含义。
在本发明的信息记录介质的另一方面中，预定区小于面对区。
根据这个方面，使每个第二记录层中的执行OPC处理的预定区小于第一记录层和第二记录层的其他层中的形成有压印凹坑的面对区，以便可确保两层型光盘中的各层之间的偏心距、激光的发散度等等的影响的裕度(margin)。因此，可更加适当地对每个第二记录层的最佳记录功率的值进行检测。
在本发明的信息记录介质的另一方面中，通过在面对区中形成压印凹坑来记录用于对记录信息进行加密或解密的加密信息。
根据这个方面，形成压印凹坑以对光透射率进行调节。此外，在记录型光盘上，通过在面对区中形成压印凹坑来记录诸如加密密钥这样的用于对用于版权保护的特定记录信息或CCI(复制控制信息)进行加密或解密的加密信息，这可更加有效地利用记录区。
在本发明的信息记录介质的另一方面中，通过在面对区中形成压印凹坑来记录用于对记录信息的记录操作与重放操作的至少一个进行控制的控制信息。
根据这个方面，形成压印凹坑以对光透射率进行调节。此外，在记录型光盘上，通过在面对区中形成压印凹坑来记录用于对记录信息的记录操作与重放操作的至少一个进行控制的控制信息，这可更加有效地利用记录区。
在本发明的信息记录介质的另一方面中，第一记录层与每个第二记录层的至少一层进一步具有用于将管理信息记录在其中的管理信息记录区，并且将用于标识是否在面对区中形成了压印凹坑的标识信息作为管理信息记录在该管理信息记录区中。
根据这个方面，在查找操作等等中，随后描述的信息记录装置读取诸如标志这样的标识信息，以便可更加快速且准确地实现适合于该信息记录介质的OPC处理。
在本发明的信息记录介质的另一方面中，每个其他层和第一记录层在与面对区不同的区域中具有第一预定区，在该第一预定区中对其他层和第一记录层执行功率校准。
根据这个方面，在位于每个第二记录层的预定区中通过压印凹坑来对每个第二记录层执行功率校准。另一方面，在位于第一记录层和第二记录层的其他层中的第一预定区中，对第一记录层和第二记录层的其他层执行功率校准。
更具体地说，将面对区和第一预定区构造成彼此在径向上移开而不重叠。因此，在预定区中执行测试写入时的激光透射过位于第一记录层和第二记录层的其他层中的面对区或未记录区，以便它不透射过第一预定区。因此，可防止这样的状况，即由于第一预定区的状态，也就是由于它是记录有还是未记录有测试写入信息而使每个第二记录层的预定区中的测试写入变得不准确。
例如，如果面对区与第一预定区重叠并且彼此相同，那么由于第一预定区的影响而使诸如光透射率这样的光学特性在面对区中变化。因此，通过该区域执行的预定区中的测试写入或多或少变得不准确。
在本发明的信息记录介质的另一方面中，每个第二记录层在与预定区不同的且与面对区不面对的区域中具有第二预定区，在该第二预定区中对每个第二记录层执行功率校准。
根据这个方面，每个第二记录层进一步具有第二预定区，以便利用透射过第一记录层和第二记录层的其他层中的处于未记录状态的部分的记录激光执行功率校准。因此，可根据第一记录层和第二记录层的其他层的记录状态来对最佳记录功率的值进行检测。
在本发明的信息记录介质的另一方面中，第一记录层和每个第二记录层的至少一层进一步具有用于将检测到的最佳记录功率的值记录在其中的管理区。
根据这个方面，每当随后所述的信息记录装置执行记录操作时，或者同时或者一前一后地，对第一记录层和每个第二记录层执行OPC处理。此后，将通过该OPC处理检测到的每个记录层的最佳记录功率的值记录到该管理区中。此后，通过读取记录在该管理区中的最佳记录功率的值，可实现更加准确且快速的记录操作。
顺便说一下，代替将最佳记录功率的值记录到信息记录介质的管理区中，可将其存储在诸如存储器这样的安装在信息记录装置中的存储装置中。
(信息记录装置)
在下文中，对信息记录装置进行讨论。
本发明的上述目的还可以通过一种用于将记录信息记录到根据本发明的信息记录介质上的信息记录装置来实现，该信息记录装置具有：写入设备，该写入设备通过使记录激光照射以便聚焦于第一记录层上来将作为记录信息的至少另一部分的测试写入信息写入到第一记录层中，并且通过使记录激光照射以便聚焦于每个第二记录层上来将测试写入信息写入到每个第二记录层中；以及测试写入控制设备，该测试写入控制设备用于对写入设备进行控制，以(I)通过面对区将用于对每个第二记录层的记录激光进行功率校准的测试写入信息测试写入到预定区中，并且(II)将用于对其他层和第一记录层的记录激光进行功率校准的测试写入信息测试写入到第一预定区中，该第一预定区位于与面对区不同的区域中。
根据本发明的信息记录装置，例如在包括CPU(中央处理单元)等等的测试写入控制设备的控制之下，包括光学拾取器等等的写入设备可对本发明的上述信息记录介质有效地执行至少两个记录层的OPC处理。
也就是说，例如在生产诸如光盘这样的信息记录介质时，通过在位于第一记录层和第二记录层的其他层中的面对区中形成压印凹坑，可将下述面对区的光透射率设置为与处于记录状态的面对区的光透射率基本相同或完全相同，在所述面对区中光透射到预定区。因此，在测试写入控制设备的控制之下，在写入设备对每个第二记录层执行OPC处理之前，必要时可省略使第一记录层和第二记录的其他层处于记录状态这样的记录操作。因此，根据本发明的信息记录装置，可更加快速且准确地对每个第二记录层的最佳记录功率的值进行检测。
顺便说一下，甚至本发明的信息记录装置可采用与本发明的上述信息记录介质相同的各个方面。
(信息记录方法)
在下文中，对信息记录方法进行讨论。
本发明的上述目的还可以通过一种下述信息记录装置中的信息记录方法来实现，所述信息记录装置具有用于对作为记录信息的至少另一部分的测试写入信息进行写入的写入设备，以便将记录信息记录到根据本发明的信息记录介质上，该信息记录方法具有：测试写入控制处理，该测试写入控制处理用于对写入设备进行控制，以(I)通过面对区将用于对每个第二记录层的记录激光进行功率校准的测试写入信息测试写入到预定区中，并且(II)将用于对其他层和第一记录层的记录激光进行功率校准的测试写入信息测试写入到第一预定区中，该第一预定区位于与面对区不同的区域中。
根据本发明的信息记录方法，如在本发明的上述信息记录装置的情况中那样，在测试写入控制设备的控制之下，在写入设备对每个第二记录层执行OPC处理之前，必要时可省略使第一记录层和第二记录的其他层处于记录状态的记录操作。因此，根据本发明的信息记录方法，可更加快速且准确地对每个第二记录层的最佳记录功率的值进行检测。
顺便说一下，甚至本发明的信息记录方法可采用与本发明的上述信息记录装置相同的各个方面。
从下述实施例中可更显而易见地得知本发明的这些效果及其他优点。
如上所说明的，根据本发明的信息记录介质，具有：第一记录层和第二记录层的其他层，该第一记录层和第二记录层的其他层具有由可对光透射率进行调节的压印凹坑形成的面对区；以及每个第二记录层，该每个第二记录层具有预定区。因此，可更加快速且准确地对每个第二记录层的最佳记录功率的值进行检测。此外，根据信息记录装置和方法，它们分别具有写入设备和测试写入控制设备以及测试写入控制处理。因此，可更加快速且准确地对每个第二记录层的最佳记录功率的值进行检测。
附图说明
图1给出了本发明的信息记录介质的第一实施例中的具有多个记录区的光盘的基本结构的基本平面图(图1(a))，并且给出了光盘的示意性剖面视图以及与该剖面视图相对应的光盘的径向上的记录区结构的示意性概念视图(图1(b))。
图2给出了第一实施例中的光盘的记录表面的局部放大透视图。
图3给出了放大了在第一实施例中的光盘的OPC处理中使用的OPC区的物理结构的示意性剖面视图。
图4给出了放大了在比较示例中的光盘的OPC处理中使用的OPC区的物理结构的示意性剖面视图。
图5给出了放大了在第二实施例中的光盘的OPC处理中使用的OPC区的物理结构的示意性剖面视图。
图6给出了放大了在第三实施例中的光盘的OPC处理中使用的OPC区的物理结构的示意性剖面视图。
图7给出了根据本发明的信息记录装置的实施例的信息记录/重放装置的基本结构的方框图。
图8给出了本发明的信息记录装置的实施例中由信息记录/重放装置执行的光盘的记录操作和OPC处理的流程图。
参考代码的说明
1中心孔，10轨道，11扇区，100光盘，101导入区，102数据区，103导出区，104中间区，106透明衬底，107第一记录层，108半透明反射膜，109摆动，205中间层，207第二记录层，208反射膜，300信息记录/重放装置，301主轴电机，310光学拾取器，311前置放大器，312RF检测器，315伺服电路，320LD驱动器，325摆动检测器，326LPP数据检测器，330包络检测器，340OPC模式产生器，345定时发生器，350数据收集器，360缓冲器，370DVD调制器，380数据ECC产生器，385缓冲器，390接口，400CPU，GT凹槽轨道，LT岸台轨道，LB激光，LP岸台预制凹坑，TA(TA0-1和TA0-2)透射区，PCA0(PCA1，PCA1-1，以及PCA1-2)OPC区
具体实施方式
在下文中，参考附图，对用于实现本发明的最佳模式逐个实施例地进行讨论。
(信息记录介质的第一实施例)
接下来，参考图1至图4，对本发明的信息记录介质的第一实施例中的光盘进行详细的说明。顺便说一下，为了方便说明，在图1和图2中，激光从上侧发射或照射到下侧。因此，L0层(第一记录层)位于上侧。另一方面，在图3至图6中，激光从下侧照射到上侧。因此，L0层(第一纪录层)位于下侧。
首先，参考图1，对本发明的信息记录介质的第一实施例中的光盘的基本结构进行讨论。图1(a)给出了本发明的信息记录介质的第一实施例中的具有多个记录区的光盘的基本结构的基本平面图，并且图1(b)给出了光盘的示意性剖面视图以及与该剖面视图相对应的光盘的径向上的记录区结构的示意性概念视图。
如图1(a)和图1(b)所示，光盘100具有直径大约为12cm的盘片主体上的记录表面，如DVD。在该记录表面上，以中心孔1为中心，光盘100具有：导入区101；数据区102；以及导出区103或中间区104。特别地，例如导入区101具有在其内执行OPC处理的OPC区PCA0或PCA1。此后，记录层等等叠压或层压在光盘100的透明衬底106上。此后，诸如凹槽轨道和岸台轨道这样的一个或多个轨道10以中心孔1为中心呈螺线形或者同心地交替排列。在该轨道10上，以ECC块11为单位对数据进行划分和记录。ECC块11是基于记录信息是误差可校正的预格式地址的数据管理单元。
顺便说一下，本发明不特别地局限于具有这三个区的光盘。例如，即使不存在导入区101、导出区103、或者中间区104，也可构造出下面说明的数据结构。此外，如随后描述的，可进一步对导入区101、导出区103、或者中间区104进行分段。
特别地，如图1(b)所示，该实施例中的光盘100具有这样的结构，即分别构成了随后所述的本发明中的第一记录层和第二记录层的一个示例的L0层和L1层层压在透明衬底106上。在对这种两层型光盘100进行记录/重放时，根据哪一个记录层具有从图1(b)中的上侧照射到下侧的激光LB的焦点位置，在L0层或L1层中执行记录/重放。此外，该实施例中的光盘100并不局限于两层单面型即双层型，而可以是两层双面型即双层双面型。此外，该实施例中的光盘100并不局限于上述具有两个记录层的光盘，而可以是具有三层或多层的多层型光盘。
顺便说一下，两层型光盘的记录/重放过程例如可以是两个记录层中的轨道路径方向相反这样的相反方法，或者可以是两个记录层中的轨道路径方向相同这样的平行方法。
接下来，参考图2，对第一实施例中的光盘的物理结构进行粗略地说明。更具体地说，将第一实施例中的光盘100构造为这样的两层型光盘，即在该两层型光盘中形成有分层结构的多个数据区102等等。图2给出了本发明的信息记录介质的第一实施例中的光盘的记录表面的局部放大透视图。
如图2所示，在第一实施例的光盘100中，构成了信息记录表面的相变型的或者通过加热等等的不可逆变记录型的第一记录层107(即L0层)层压在盘形透明衬底106的下侧，并且半透明反射膜108层压在其下侧。在作为第一记录层107的表面的信息记录表面上，交替形成了凹槽轨道GT和岸台轨道LT。顺便说一下，在对光盘100进行记录和重放时，如图2所示，例如激光LB通过透明衬底106照射在凹槽轨道GT上。例如，在记录时，通过使具有记录激光功率的激光LB照射，根据记录数据来对第一记录层107执行通过相变的写入或者通过加热的不可逆变记录。另一方面，在重放时，通过使具有比记录激光功率弱的重放激光功率的激光LB照射，读取记录在第一记录层107中的数据。
在第一实施例中，凹槽轨道GT以一定幅度和一定空间频率进行摆动。换句话说，凹槽轨道GT摆动，并且将摆动109的周期设置成预定值。在岸台轨道LT上，形成了被称为岸台预制凹坑LP并且用于表示预格式地址信息的地址凹坑。借助于这两个地址(即摆动109和岸台预制凹坑LP)，可获得诸如记录地址这样的在记录、记录时钟的产生、或者数据记录期间盘片旋转所必需的信息。顺便说一下，通过按照诸如调频和调相这样的预定调制方法对凹槽轨道GT的摆动109进行调制，也可预先记录预格式地址信息。
特别地，在第一实施例中，第二记录层207(即L1层)层压在半透明反射膜108的下侧，并且反射层208形成于其下侧。将第二记录层207构造成：以与第一记录层107基本相同的方式，通过使激光LB照射过透明衬底106、第一记录层107、以及半透明反射膜108来执行相变型的或者通过加热等等的不可逆变记录型的记录和重放。第二记录层207和反射膜208可以层压即涂敷并形成在下述透明衬底106上，在所述透明衬底106上形成有第一记录层107和半透明反射膜108等等。或者，在层压，即涂敷并形成在不同衬底上之后，可以将第二记录层207和反射膜208结合或粘贴到透明衬底106上。顺便说一下，根据生产方法，必要时在半透明反射膜108与第二记录层207之间提供由透明粘合剂等等形成的透明中间层205。
在对这种两层型光盘100进行记录/重放时，根据哪一个记录层具有激光LB的聚焦位置，即根据聚焦于哪一个层，来执行在第一记录层107或第二记录层207中的记录/重放。
接下来，参考图3和图4，对在第一实施例中的光盘100的OPC处理中使用的OPC区进行更加详细的说明。图3给出了在第一实施例中的光盘的OPC处理中使用的OPC区的物理结构的示意性剖面放大视图。图4给出了在比较示例中的光盘的OPC处理中使用的OPC区的物理结构的示意性剖面放大视图。
如图3所示，光盘100具有两个记录层，即L0层(即图1和图2中的与第一记录层107相对应的记录层)和L1层(即图1和图2中的与第二记录层207相对应的记录层)。顺便说一下，为了方便说明，与图1和图2相反，激光LB从下侧照射到上侧。
L0层具有由压印凹坑形成的透射区TA，其构成了本发明的″面对区″以及处于未记录状态的透射区TA0-2的一个示例。
另一方面，例如L1层具有位于导入区中的OPC区PCA1。此后，OPC区PCA1进一步具有OPC区PCA1-1和PCA1-2，其构成了本发明的″预定区″的一个示例。
具体地说，OPC区PCA1是对最佳记录功率进行检测(即对记录激光功率进行校准)的处理，即所谓的OPC处理使用的区域。特别地，该OPC区PCA1用于对L1层的最佳记录激光功率进行检测。更具体地说，在对OPC模式的测试写入完成之后，对测试写入的OPC模式进行重放，并且随后对重放的OPC模式进行采样，从而检测最佳记录激光功率。此外，将通过OPC获得的最佳记录激光功率的值存储到诸如随后描述的存储器这样的安装在信息记录装置侧的存储装置中，或将其记录到信息记录介质的管理信息记录区等等中。或者，可以在每次记录操作时执行OPC处理。
此后，通过随后描述的信息记录/重放装置的光学拾取器，使用于OPC处理的激光LB从未示出的衬底侧照射到L0层和L1层上，即从图3的下侧照射到上侧，并且对其焦距等进行控制。同时，对光盘100径向上的移动距离和方向进行控制。
特别地，在第一实施例的光盘100中，例如，在生产光盘时，在位于L0层中的透射区TA中形成了压印凹坑。因此，可将下述透射区TA的光透射率设置成与随后在图4中说明的比较示例中的处于记录状态的透射区TA0-1的光透射率基本相同或完全相同，在所述透射区TA内光透射到L1层的OPC区PCA1-1。或者，与在(ii-1)未形成压印凹坑并且(ii-2)L0层是未记录的这样的情况之下的(ii)光透射率相比，可使透射区TA的光透射率更接近在(i-1)未形成压印凹坑并且(i-2)L0层是已记录的这样的情况之下的(i)光透射率。
因此，在信息记录装置执行L1层的OPC处理之前，可省略使L0层处于记录状态这样的记录操作。通过此，可更加快速且准确地对L1层的最佳记录功率的值进行检测。
另一方面，由穿过L0层是未记录的透射区TA0-2的记录激光LB来对L1层的最佳记录功率的值进行检测，该最佳记录功率的值与L0层是未记录的这样的情况相对应。
此外，形成了压印凹坑以对光透射率进行调节。此外，在记录型光盘上，将用于对用于版权保护的特定记录信息或CCI(复制控制信息)等进行加密或解密的加密密钥记录在压印凹坑中，这可更加有效地利用记录区。
接下来，参考给出了比较示例的图4，对本发明的信息记录介质的第一实施例中的光盘的操作/效果进行研究。
如图4所示，在该比较示例中，例如L0层具有位于导入区中的处于记录状态的透射区TA0-1和处于未记录状态的透射区TA0-2。
另一方面，如在上述第一实施例中那样，例如L1层具有位于导入区中的OPC区PCA1。
如上所述，如果在与L1层的OPC区PCA1-1面对的L0层的透射区TA0-1中未形成压印凹坑，那么需要这样的处理，即通过随后描述的信息记录装置使激光透射过的L0层的透射区TA0-1处于记录状态，以便对L1层的OPC区PCA1-1的最佳记录功率进行适当地检测。
与此相反，根据本发明的信息记录介质的第一实施例中的光盘，如上所述，例如在生产光盘时在位于L0层中的透射区中形成压印凹坑，以便可省略使L0层处于记录状态这样的记录操作。因此，可更加快速且准确地对L1层的最佳记录功率的值进行检测。
(信息记录介质的第二实施例)
接下来，参考图5，对在第二实施例中的光盘的OPC处理中使用的OPC区进行更详细的讨论。图5给出了在第二实施例中的光盘的OPC处理中使用的OPC区的物理结构的示意性剖面放大视图。
信息记录介质的第二实施例中的基本结构和OPC处理与参考图1至图4说明的第一实施例基本相同。
特别地，在信息记录介质的第二实施例中，对第一实施例进行了进一步开发，并且使L1层中的执行OPC处理的OPC区PCA1-1小于L0层中的形成有压印凹坑的面对透射区TA，以便可确保两层型光盘中的各层之间的偏心距、激光的发散度等等的影响的裕度。因此，可更加适当地对L1层的最佳记录功率的值进行检测。
(信息记录介质的第三实施例)
接下来，对在第三实施例中的光盘的OPC处理中使用的OPC区进行更详细的讨论。图6给出了在第三实施例中的光盘的OPC处理中使用的OPC区的物理结构的示意性剖面放大视图。
信息记录介质的第三实施例中的基本结构和OPC处理与参考图1至图4说明的第一实施例基本相同。
特别地，在信息记录介质的第三实施例中，对第一实施例进行了进一步开发并且将位于L1层中的OPC区PCA1-1和PCA1-2以及位于L0层中的OPC区PCA0构造成在径向上彼此移开，而不重叠。因此，当在OPC区PCA1-1和PCA1-2中执行测试写入时的激光LB透射过位于L0层中的处于未记录状态的透射区TA或透射区TA0-2，以便它不透射过位于L0层中的OPC区PCA0。
因此，可防止这样的状况，即由于OPC区PCA0的状态，即它是记录有还是未记录有测试写入信息而使OPC区PCA1-1和PCA1-2中的测试写入变得不准确。如果没有以上述方式在径向上移开，那么诸如光透射率这样的光学特性根据已记录还是未记录而在OPC区PCA0中变化。因此，通过该区域执行的预定区中的测试写入或多或少变得不准确。
(信息记录装置的实施例)
接下来，参考图7和图8，对本发明的信息记录装置的实施例的结构和操作进行讨论。特别地，在该实施例中，本发明的信息记录装置应用于光盘的信息记录/重放装置。
(信息记录/重放装置)
接下来，参考图7，对本发明的信息记录装置的实施例中的信息记录/重放装置的基本结构进行讨论。图7给出了根据本发明的信息记录装置的实施例的信息记录/重放装置的基本结构的方框图。
如图7所示，该实施例中的信息记录/重放装置300具有：主轴电机301；光学拾取器310；前置放大器311；RF检测器312；伺服电路315；LD驱动器320；摆动检测器325；LPP数据检测器326；包络检测器330；OPC模式产生器340；定时发生器345；数据收集器350；缓冲器360；DVD调制器370；数据ECC产生器380；缓冲器385；接口390；以及CPU(中央处理单元)400。
在来自伺服电路315的主轴伺服等等之下，主轴电机301用于使光盘100以预定速度旋转。
光学拾取器310执行对光盘100的记录/重放，并且具有半导体激光器、各种透镜、致动器等等。更具体地说，光学拾取器310使激光照射光盘100，当重放时作为具有第一功率的读取光，并且当记录时作为具有第二功率的写入光，同时对其进行调制。将光学拾取器310构造成通过伺服电路315驱动的未示出的致动器、滑动器等等而在光盘100的径向等等上移位。
前置放大器311对光学拾取器310的输出信号(即激光LB的反射光)进行放大并且输出放大信号。具体地说，将作为读取信号的RF信号输出到RF检测器312和包络检测器330，并且将推挽信号输出到摆动检测器325和LPP数据检测器326。
将RF检测器312构造成对RF信号进行检测并执行解调等等，从而通过缓冲器385和接口390将重放数据输出到外部。此后，在与接口390相连的外部输出设备(例如诸如液晶显示器和等离子显示器这样的显示设备、扩音器等等)上，对预定内容进行重放并输出。
根据通过对光学拾取器310的光接收结果进行处理获得的跟踪误差信号以及聚焦误差信号等等，伺服电路315使光学拾取器310的物镜移位，从而执行诸如跟踪控制和聚焦控制这样的各种伺服处理。此外，将伺服电路315构造成根据从光盘100上的摆动凹槽轨道的摆动获得的摆动信号来对主轴电机301进行伺服控制。
在随后描述的OPC处理时，LD驱动器320对布置在光学拾取器310中的半导体激光器进行驱动，以便在随后描述的OPC模式的记录和重放处理中确定最佳记录功率。此后，在数据记录时，LD驱动器320利用OPC处理确定的最佳记录激光功率来驱动光学拾取器310的半导体激光器。在数据记录时，根据记录数据来对最佳记录功率进行调制。
顺便说一下，通过包括上述主轴电机301、光学拾取器310、伺服电路315、LD驱动器320等等来构造本发明的″写入设备″的一个特定示例。
将摆动检测器325构造成根据与下述前置放大器311的光需求相对应的输出信号来对用于表示摆动信号的推挽信号进行检测，并且将其输出到定时发生器345，其中所述前置放大器311是布置在光学拾取器310中的用于接收反射光束的检测器。
将LPP数据检测器326构造成根据与下述前置放大器311的光需求相对应的输出信号来对用于表示LPP信号的推挽信号进行检测，并对例如随后描述的预格式地址信息进行检测，其中所述前置放大器311是布置在光学拾取器310中的用于接收反射光束的检测器。此后，将LPP数据检测器326构造成将预格式地址信息输出到定时发生器345。
将包络检测器330构造成：在OPC处理中对OPC模式进行重放时，在CPU 400的控制之下，对作为前置放大器311的输出信号的RF信号的包络检测的最高值和最低值进行检测，以便确定最佳记录功率。包络检测器330例如可以包括A/D(模拟/数字)转换器等等。
将OPC模式产生器340构造成：在记录操作之前在OPC处理中对OPC模式进行记录时，根据来自定时发生器345的定时信号将用于表示OPC模式的信号输出到LD驱动器320。
在OPC处理中对OPC模式进行记录时，根据LPP数据检测器326输入的预格式地址信息，定时发生器345对基于预格式地址信息的管理单元(例如ADIP字)的绝对位置信息进行检测。同时，根据用于表示摆动信号的推挽信号的周期，定时发生器345对基于下述时隙单元的相对位置信息进行检测，其中所述时隙单元(例如与摆动信号的一个周期的自然数倍这样的长度相对应的时隙单元)小于预格式地址信息的管理单元。因此，不管OPC处理中的记录起始位置是否开始于预格式地址信息的管理单元的边界，即不管是否开始于每个ADIP字，定时发生器345可指定记录起始位置。此后，根据用于表示从摆动检测器325输出的摆动信号的推挽信号的周期，定时发生器345产生并输出用于写入OPC模式的定时信号。另一方面，如在记录中那样，在OPC处理中对OPC模式进行重放时，定时发生器345可指定重放起始位置。此后，根据用于表示从摆动检测器325输出的摆动信号的推挽信号的周期，定时发生器345产生并输出用于对重放的OPC模式进行采样的定时信号。
数据收集器350通常主要是存储器。例如，它具有外置RAM等等。将包络检测器330检测到的包络存储到数据收集器350中，并且根据此，执行CPU 400上的最佳记录激光功率的检测，即执行OPC处理。
将缓冲器360构造成将由DVD调制器370调制的记录数据存储在其中并且将其输出到LD驱动器320。
将DVD调制器370构造成对记录数据执行DVD调制并且将其输出到缓冲器360。作为DVD调制，例如可执行8/16调制。
数据ECC产生器380将用于纠错的码追加或添加到从接口390输入的记录数据上。具体地说，数据ECC产生器380将ECC码追加到每个预定块单元(例如ECC集群单元)中，并将其输出到DVD调制器370。
缓冲器385将从RF检测器312输出的重放数据存储在其中，并且通过接口390将其输出到外部输出设备。
接口390接收从外部输入设备输入的记录数据等等，并且将其输出到数据ECC产生器380。此外，可将它构造成将从RF检测器312输出的重放数据输出到诸如扩音器和显示器这样的外部输出设备。
CPU 400通过向诸如LD驱动器320和伺服电路315这样的每个设备发出指令，即通过输出系统命令，来对信息记录装置1进行总体控制，以便检测最佳记录功率。通常，将用于操作CPU 400的软件存储在内部或外部存储器中。
顺便说一下，通过包括CPU 400、包络检测器330、OPC模式产生器340、定时发生器345、LD驱动器320等等，来构造本发明的″测试写入控制设备″的一个特定示例。
此外，很显然的是，基本上借助于光学拾取器310、LD驱动器320、缓冲器360、DVD调制器370、数据ECC产生器380、以及其他构件，图7所示的信息记录/重放装置300还起到用于记录数据的信息记录装置的作用。此外，很显然的是，基本上借助于光学拾取器310、前置放大器311、RF检测器312、以及其他构件，它起到用于对数据进行重放的信息重放装置的作用。
(信息记录/重放装置执行的记录操作的流程)
接下来，参考图8，对信息记录/重放装置实施例中的光盘的记录操作和OPC处理进行详细地讨论。图8给出了本发明的信息记录装置的实施例中由信息记录/重放装置执行的光盘的记录操作和OPC处理的流程图。
在图8中，首先，如果加载了光盘100，那么光学拾取器352在CPU 400的控制之下执行搜索操作以获得与光盘100有关的记录处理所需的各种管理信息。根据该管理信息，在CPU 400的控制之下，根据来自外部输入设备等等的指令来判断是否通过数据输入/输出控制设备306开始了将数据记录到光盘100上的记录操作(步骤S101)。在这里，如果开始了将数据记录到光盘100上的记录操作(步骤S101：是)，那么进一步判断作为记录目标的记录层是否是L0层和L1层这两者(步骤S102)。在这里，如果作为记录目标的记录层是L0层和L1层这两者(步骤S102：是)，那么指定L0层和L1层中的执行OPC处理的OPC区中的地址信息(步骤S103)。
此后，判断是否在与L1层的OPC区PCA1面对的L0层的透射区TA或TA0-2中形成了压印凹坑(步骤S104)。在这里，如果在L0层的透射区TA或TA0-2中形成了压印凹坑(步骤S104：是)，那么通过透射过透射区TA的激光LB来对L0层中的OPC区PCA0执行OPC处理并且对L1层中的OPC区PCA1-1执行OPC处理(步骤S106)。特别地，在该示例中，如上所说明的，当信息记录介质对L1层的OPC区PCA1-1执行OPC处理时，可省略L0层的透射区TA中的预备记录操作。因此，可更加快速且准确地对L1层的最佳记录功率的值进行检测。
另一方面，如果在L0层的透射区TA或TA0-2中未形成压印凹坑(步骤S104：否)，那么在L0层的透射区TA0-2中执行记录操作(步骤S105)，从而形成记录状态，并且操作流程转到上述步骤S106。
此后，以在步骤S106中的OPC处理中检测到的最佳记录功率将数据记录到L0层和L1层中(步骤S107)。
另一方面，作为步骤S102中的判断结果，如果作为记录目标的记录层不是L0层和L1层(步骤S102：否)，那么进一步判断作为记录目标的记录层是否仅是L0层(步骤S108)。在这里，如果作为记录目标的记录层仅是L0层(步骤S108：是)，那么指定L0层中的执行OPC处理的OPC区中的地址信息(步骤S109)。
此后，对L0层的OPC区PCA0执行OPC处理(步骤S110)。
此后，以在步骤S110中的OPC处理中检测到的最佳记录功率将数据记录到L0层中(步骤S111)。
另一方面，作为步骤S108中的判断结果，如果作为记录目标的记录层不是仅L0层，即作为记录目标的记录层是仅L1层(步骤S108：否)，那么指定L1层中的执行OPC处理的OPC区中的地址信息(步骤S112)。
此后，判断在与L1层的OPC区面对的L0层的透射区中是否形成了压印凹坑(步骤S113)。在这里，如果在L0层的透射区中形成了压印凹坑(步骤S113：是)，那么对L1层执行OPC处理(步骤S115)。特别地，在该实施例中，如上所说明的，当信息记录介质对L1层执行OPC处理时，可省略L0层中的预备记录操作。因此，可更加快速且准确地对L1层的最佳记录功率的值进行检测。
另一方面，如果在L0层的透射区中未形成压印凹坑(步骤S113：否)，那么在L0层的透射区中执行记录操作(步骤S114)，从而形成记录状态，并且操作流程转到上述步骤S115。
此后，以在步骤S115中的OPC处理中检测到的最佳记录功率将数据记录到L1层中(步骤S116)。
此后，判断数据的记录操作是否结束(步骤S117)。在这里，如果数据的记录操作已结束(步骤S117：是)，那么完成信息记录装置执行的一系列记录操作。
另一方面，如果数据的记录操作未结束(步骤S117：否)，那么如上所述，判断作为目标记录的记录层是否是L0层和L1层这两者(步骤S102)。
另一方面，作为步骤S101的判断结果，如果将数据记录到光盘100上的操作未开始(步骤S101：否)，那么例如等待用于开始该记录操作等的命令。
在该实施例中，说明了诸如两层型DVD-R或DVD-R/W这样的一次写入型或可重写型光盘作为信息记录介质的一个特定示例，并且说明了用于光盘的信息记录/重放装置作为信息记录装置的一个特定示例。然而，本发明还可应用于诸如三层型和四层型这样的复层型光盘以及用于光盘的信息记录/重放装置。此外，本发明还可应用于诸如蓝光盘片这样的大容量记录介质以及用于记录介质的信息/重放装置。
本发明并不局限于上述实施例，并且如果希望的话，在不脱离从权利要求和整个说明书中读出的本发明的本质或精神的情况下，可对其做出各种变化。均涉及这种变化的信息记录介质、信息记录装置、以及信息记录方法也属于本发明的技术范围之内。
工业适用性
本发明中的信息记录介质、信息记录装置、以及信息记录方法可应用于诸如DVD和CD这样的高密度光盘，并且还可应用于诸如DVD记录器这样的信息记录装置。

Claims (11)

1.一种信息记录介质，包括：
第一记录层，该第一记录层将第一信息记录在其中，该第一信息是记录信息的至少一部分；以及
一个或多个第二记录层，这些第二记录层布置在所述第一记录层上，并且将第二信息记录在其中，该第二信息是记录信息的至少另一部分，其中
所述第二记录层的每一层具有预定区，在该预定区中执行功率校准，对透射过所述第一记录层以及所述第二记录层的其他层的记录激光的最佳记录功率进行检测，从激光的照射侧来看，所述第一记录层、所述第二记录层的其他层、以及所述第二记录层的所述每一层以此顺序排列，并且
在所述第二记录层的其他层以及所述第一记录层中与预定区面对的面对区中，通过形成压印凹坑，与在(ii-1)未形成压印凹坑并且(ii-2)其他层和所述第一记录层是未记录的这样的情况之下的(ii)光透射率相比，使面对区的光透射率更接近在(i-1)未形成压印凹坑并且(i-2)其他层和所述第一记录层已记录的这样的情况之下的(i)光透射率。
2.根据权利要求1的信息记录介质，其中通过在面对区中形成压印凹坑，将面对区的光透射率设置成与在未形成压印凹坑并且其他层和所述第一记录层已记录这样的情况之下的光透射率相同。
3.根据权利要求1的信息记录介质，其中预定区小于面对区。
4.根据权利要求1的信息记录介质，其中通过在面对区中形成压印凹坑来记录用于对记录信息进行加密或解密的加密信息。
5.根据权利要求1的信息记录介质，其中通过在面对区中形成压印凹坑来记录用于对记录信息的记录操作与重放操作的至少一个进行控制的控制信息。
6.根据权利要求1的信息记录介质，其中
所述第一记录层与所述第二记录层的每一层的至少一层进一步具有用于将管理信息记录在其中的管理信息记录区，并且
将用于标识是否在面对区中形成了压印凹坑的标识信息作为管理信息记录在管理信息记录区中。
7.根据权利要求1的信息记录介质，其中每个其他层和所述第一记录层在与面对区不同的区域中具有第一预定区，在该第一预定区中对其他层和所述第一记录层执行功率校准。
8.根据权利要求1的信息记录介质，其中所述第二记录层的每一层在与预定区不同的且与面对区不面对的区域中具有第二预定区，在该第二预定区中对所述第二记录层的每一层执行功率校准。
9.根据权利要求1的信息记录介质，其中
所述第一记录层和所述第二记录层的每一层的至少一层进一步具有用于将检测到的最佳记录功率的值记录在其中的管理区。
10.一种信息记录装置，用于将记录信息记录到根据权利要求1的所述信息记录介质上，
所述信息记录装置包括：
写入设备，该写入设备通过使记录激光照射以便聚焦于所述第一记录层上来将作为记录信息的至少另一部分的测试写入信息写入到所述第一记录层中，并且通过使记录激光照射以便聚焦于所述第二记录层的每一层上来将测试写入信息写入到所述第二记录层的每一层中；以及
测试写入控制设备，该测试写入控制设备用于对所述写入设备进行控制，以(I)通过面对区将用于对所述第二记录层的每一层的记录激光进行功率校准的测试写入信息测试写入到预定区中，并且(II)将用于对其他层和所述第一记录层的记录激光进行功率校准的测试写入信息测试写入到第一预定区中，该第一预定区位于与面对区不同的区域中。
11.一种信息记录装置中的信息记录方法，所述信息记录装置包括写入设备，用于对作为记录信息的至少另一部分的测试写入信息进行写入，以便将记录信息记录到根据权利要求1的所述信息记录介质上，
所述信息记录方法包括：
测试写入控制处理，该测试写入控制处理用于对所述写入设备进行控制，以(I)通过面对区将用于对所述第二记录层的每一层的记录激光进行功率校准的测试写入信息测试写入到预定区中，并且(II)将用于对其他层和所述第一记录层的记录激光进行功率校准的测试写入信息测试写入到第一预定区中，该第一预定区位于与面对区不同的区域中。
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