CN100437779C - 用于再现光记录介质的方法 - Google Patents

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Abstract

一种用于再现光记录介质的方法包括：确定所放置的用于再现光记录介质的光学读写装置的类型；根据光学读写装置的类型检测插入的记录介质的推挽信号或预制凹坑信号；以及通过使用从其中检测到推挽信号或预制凹坑信号的光学读写装置来再现光记录介质。

Description

用于再现光记录介质的方法
技术领域
本发明涉及用于再现光记录介质的方法，具体来讲涉及一种用于再现光记录介质的方法，其能够区分近场和远场光记录介质，并且可交换地对两种类型的光记录介质都进行再现。
背景技术
在光记录介质的当前领域中，正在开发各种技术和记录介质。当前光记录介质可以被分类为远场类型和近场类型。
现在将示意性地描述近场光记录介质和远场光记录介质。
图1是可以再现远场光记录介质的再现装置的光学读写头的方框图，其图示出可以再现DVD的光学读写头的结构。
所述光学读写头包括激光二极管101、准直透镜102、光束分离器103、物镜104、柱面透镜105和光电二极管106。
一般来讲，激光二极管101所产生的光是以椭圆形亮度分布来射出的。为了把光有效地集中到具有圆形入射表面的物镜104，通过使用波束成形棱镜等等，把所射出的光的亮度分布形成为圆形。
光束分离器103用于检测由光盘反射的光。
当通过光束分离器103的光经过λ/4波长板(未示出)的时候，线偏振的光被λ/4波长板(未示出)改变为圆偏振光，并且被入射到物镜104上。
入射到物镜104上的光被光盘107反射，并且再一次透射通过物镜104。这里，这种反射是在具有低折射率的空气和具有高折射率的光盘107之间进行的，以致光的相位被改变180°。在这种情况下，在再一次透射λ/4波长板(未示出)的同时，由λ/4波长板(未示出)形成为圆偏振光的光被改变为线偏振光，但是它的偏振方向被改变为垂直于初始偏振方向。因此，大多数光被光束分离器103反射并且被入射到光电二极管106上，借此检测光信号。
正在对用于增加光记录介质的记录容量的各种方法进行研究，并且正在与CD和DVD一起进行蓝光盘(BD)的开发。
为了增加光记录介质的记录容量，正在研究减少激光束的波长或者增加物镜的数值孔径(NA)的方法。
然而，就蓝光盘而论，减少波长的方法受到限制，并且在现有的远场方法中，增加物镜的数值孔径并不能对改善记录容量起到作用。
使用新近开发的固体浸没透镜(SIL)的近场类型因其显著地增加记录容量的可能性而受到关注，这是因为由具有折射率远高于1的介质制成的半球形的SIL被配置在物镜下，由此允许数值孔径基本上为远高于1的n*NA。
图2是可以对支持近场的光记录介质进行再现的光学读写头的视图。
与所述远场光记录介质不同，所述用于对近场光记录介质进行再现的光学读写头包括固体浸没透镜(SIL)202。
现在将示意性地描述所述使用SIL 202的光学读写头的原理。
参见图2，当激光被物镜201会聚到SIL 202的时候，在SIL 202内的底端以高折射率形成焦点，并且它的焦点光点直径与SIL 202的折射率成比例的缩小，因此获得小于衍射极限的光点尺寸。
一般来讲，光学系统包括两种类型的镜头。一种是在悬挂式头部的表面上装载的自由焦点镜头，其对应于相关技术的光学读写头中的物镜202。另一种是称作SIL 202的半球形透镜。SIL 202由诸如玻璃等等之类的具有高折射率(n)的材料制成，并被装载在悬挂式头部的底面上。此外，线圈被配置为围绕SIL 202。
当开发新类型的光记录介质再现装置的时候，与现有类型的可交换性应该被认为是重要的。如果该装置没有与市场中的现有类型的可交换性，用户可能不考虑该新类型的产品，并且该新类型产品可能难以进入市场。
此外，尽管开发出具有可交换性的再现装置，但在不同类型的光记录介质之间进行区分的技术仍可能成为一种问题。
具体来讲，在SIL的底端和光学读写头的光记录介质的表面之间的距离是数十毫微米。由于这个缘故，如果在再现装置操作时没有精确地识别出插入介质的类型，光学读写头或光记录介质可能被损坏。
为了避免这种损害，需要一种新的方法，用于在启动具有可交换性的再现装置的操作之前以非常简单的方式迅速地确定光记录介质的类型。
发明内容
因此，本发明面向一种用于再现光记录介质的方法，该方法基本上消除了由于相关技术的局限性和缺点造成的一个或多个问题。
本发明的一个目的是提供用于对再现装置的光记录介质进行再现的方法，该方法能够可交换地对在使用SIL的近场类型中使用的光记录介质和在远场类型中使用的光记录介质进行再现。
本发明的另一个目的是提供用于再现光记录介质的方法，该方法能够通过使用近场光学读写头装置安全地再现光记录介质。
本发明其它的优点、目的、和特征，部分是在随后的描述中阐述的，而部分则可由本领域中的普通技术人员在研究下文之后清楚，或者从本发明的实践中了解到。可以通过所撰写的说明书及其权利要求书以及附图中具体指出的结构来实现和获得本发明的目的和其它优点。
为了实现这些目的及其它优点并且根据本发明的目的，正如此处具体实现的和概括描述的，提供了用于再现光记录介质的方法，包括：通过使用近场光学读写装置读出插入的光记录介质的头部信息；和当头部信息是可识别的时候再现光记录介质，和当头部信息是不可识别的时候，将近场光学读写头装置改变为远场光学读写头装置并读取光记录介质的头部信息。
在本发明的另一方面，提供了用于再现光记录介质的方法，包括：确定被放置用于再现光记录介质的光学读写头装置的类型；根据光学读写头装置的类型检测所插入的光记录介质的推挽信号或预制凹坑信号；并且如果检测到推挽信号或预制凹坑信号，则通过光学读写头装置来再现光记录介质。
在本发明的再一方面，提供了用于再现光记录介质的方法，包括：通过使用近场光学读写装置检测光记录介质的头部信息；并且当没有检测到头部信息的时候，确定光记录介质为不可再现的，并且当检测到头部信息的时候，再现所述光记录介质。
将应理解的是，本发明上述的一般描述和其后的详细说明两者都是示例性的和解释性的，并且意图是为如权利要求书所述的本发明提供进一步的解释。
附图说明
附图被包括在内以提供对于本发明的进一步的理解，它们被并入并构成本申请的一部分；附图图示出本发明的实施例并与描述内容一起用于解释本发明的原理。在附图中：
图1是可以再现远场光记录介质的再现装置的光学读写头的方框图；
图2是可以再现近场光记录介质的光学读写头的视图；
图3和4举例说明用于近场类型的光盘和用于远场类型的光盘；
图5和6举例说明一种方法，其中包括相连的物镜和固体浸没透镜的近场光学读写装置再现用于近场类型的光盘和用于远场类型的光盘；
图7和8举例说明一种方法，其中远场光学读写装置再现用于近场类型的光盘和用于远场类型的光盘；
图9是根据本发明的实施例用于再现光记录介质的方法的视图；和
图10是根据本发明的实施例用于再现光记录介质的方法的视图。
具体实施方式
现在将详细参考本发明的最佳实施例，附图中图示出了这些实施例的范例。
图3和4举例说明用于近场类型的光盘和用于远场类型的光盘。
如图3中所示，用于近场类型的光盘310具有凹坑(ROM)/凹槽结构(-R，RW)301等等。如图4中所示，用于远场类型的光盘320具有在其中间层处的凹坑/凹槽结构302，以及在那之上的具有一定厚度的覆盖层303。
因此，当近场光学读写单元处理用于远场类型的光盘320的时候，在光学读写单元和光盘320的覆盖层303之间发生冲突。同时，当远场光学读写单元处理用于近场类型的光盘310的时候，即使再现本身是可能的，但可能无法通过球面像差等等获得期望的信号。
因此，在具有可交换性的再现装置内部对一种类型的光盘进行适当的光学读写头读取是很重要的。在为此描述方法之前，现在将描述分别支持远场类型和近场类型的光学读写单元的光盘识别方法。
图5和6举例说明一种方法，其中具有相连的物镜301和固体浸没透镜302的近场光学读写装置对用于近场类型的光盘和用于远场类型的光盘再现。
参见图5和6，近场光学读写头沿轨道的垂直方向扫描光盘的表面，并且校验是否生成推挽信号(左右光电二极管的差信号)，由此确定光盘的类型。在用于近场类型的光盘310的情况中，由于在它在表面上的凹坑/凹槽结构，推挽信号是在跨轨(track-crossing)扫描期间生成的。然而，在用于远场类型的光盘320的情况中，由于覆盖层，它的表面是平坦的，因而无法获得推挽信号。
图7和8举例说明一种方法，其中远场光学读写装置对用于近场类型的光盘和用于远场类型的光盘进行再现。
远场光学读写单元对光盘的头部部分上的预制凹坑(pre-pit)部分进行再现，由此确定光盘的类型。在用于近场类型的光盘310的情况中，尽管存在预制凹坑，但它的长度在用于远场类型的光盘的预制凹坑长度的大约1/2～1/4范围之内，其低于衍射极限，由此超出远场光学读写单元的分辩率。此外，因为用于近场类型的光盘310没有覆盖层，因此产生了高球面像差，并且因此不可能再现图像。在用于远场类型的光盘320的情况中，预制凹坑被再现，由此确定光盘320的信息。
图9举例说明根据本发明的实施例的再现光记录介质的方法。
首先，根据当前拾波器的模式提取头部信息(S901)。
如果头部信息是可识别的，对光盘执行光学记录/再现。如果头部信息是不可识别的，则根据光记录介质的类型改变光学读写头(S902)、(S903)和(S904)。
在下文中，现在将描述确定光记录介质的类型和据此再现光记录介质的操作(S901)和(S902)的更详细的实施例。
图10举例说明根据本发明的实施例的用于再现光记录介质的方法。
参见图10，检验当前光学读写装置的模式(S911)。即，确定被设置为再现光盘的光学读写装置是采用远场类型还是采用近场类型，并且光学读写装置读取预定信号以便从光盘中得到头部信息。
可以通过检验SIL是否被放置在光轴上来确定光学读写装置是采用远场类型还是采用近场类型。例如，可以机械地或电子地检验是否移动SIL。可以根据SIL的位置获知光学读写装置的模式。
首先，当光学读写装置被设置为近场光学读写头的时候，光学读写装置从光盘中读取推挽信号(S912)。这里，当检测到推挽信号时，开始再现光记录介质(S914)(S904)。
如果没有检测到推挽信号，则再一次检验光盘的类型(S916)。即，将光学读写装置改变为远场光学读写头，然后读取预制凹坑信号(S913)。
当光学读写装置被设置为远场光学读写头的时候，光学读写装置从光盘中读取预制凹坑信号(S913)。这里，如果检测到预制凹坑信号，则开始再现光记录介质(S915)(S904)。
如果没有检测到预制凹坑信号，则再一次检验光盘的类型(S916)。即，将光学读写装置改变为近场光学读写头，然后读取推挽信号(S912)。
尽管该实施例被配置为允许光学读写装置以近场类型和远场类型再现光盘，但本发明可以有效地用于可能仅以近场类型进行再现的光学读写装置。
例如，当SIL被置于光轴上，并且其检测的结果是没有检测到推挽信号的时候，则确定无法再现光盘。
因此，可以防止在用近场类型光学读写装置对以远场类型再现的光盘进行再现的处理中，对光学装置造成损害。
在本发明中，将以近场类型再现的光盘与以远场类型再现的光盘区分开，从而可交换地采用近场类型和远场类型的光学读写头可以根据光盘的类型迅速且安全地再现光盘。
对于那些本领域中的技术人员清楚的是，可以在本发明中进行各种修改和变动。因而其意图是，本发明覆盖这一发明的修改和变型，只要它们归入所附的权利要求书和它们的等效物的范围之内。

Claims (8)

1.一种用于再现光记录介质的方法，包括：
通过使用近场光学读写装置读出插入的光记录介质的头部信息；和
当头部信息是可识别的时候，再现光记录介质，并且当头部信息是不可识别的时候，将近场光学读写装置改变为远场光学读写装置并读取光记录介质的头部信息。
2.一种用于再现光记录介质的方法，包括：
确定所放置的用于再现光记录介质的光学读写装置的类型；
根据光学读写装置的类型，检测插入的光记录介质的推挽信号或预制凹坑信号；和
如果检测到推挽信号或预制凹坑信号，则通过利用光学读写装置来再现光记录介质。
3.根据权利要求2所述的方法，其中当光学读写装置是近场光学读写装置的时候，检测光记录介质的推挽信号。
4.根据权利要求2所述的方法，其中当光学读写装置是远场光学读写装置的时候，检测光记录介质的预制凹坑信号。
5.根据权利要求2所述的方法，其中当未检测到推挽信号或预制凹坑信号的时候，改变光学读写装置。
6.根据权利要求2所述的方法，其中光学读写装置的类型是根据固体浸没透镜SIL的位置来确定的。
7.一种用于再现光记录介质的方法，包括：
通过使用近场光学读写装置检测光记录介质的头部信息；和
当头部信息没有被检测到的时候，确定光记录介质为不可再现的，以及当头部信息被检测到的时候再现光记录介质。
8.根据权利要求7所述的方法，其中头部信息检测推挽信号。
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