JPS5873024A - 光学式情報処理装置 - Google Patents
光学式情報処理装置Info
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- JPS5873024A JPS5873024A JP56172400A JP17240081A JPS5873024A JP S5873024 A JPS5873024 A JP S5873024A JP 56172400 A JP56172400 A JP 56172400A JP 17240081 A JP17240081 A JP 17240081A JP S5873024 A JPS5873024 A JP S5873024A
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- Japan
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- detector
- detectors
- light
- output
- focus
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/13—Optical detectors therefor
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は微小°スポット状に絞った光を照射してディス
ク上の記録媒体に情報を記録しまた記録された情報を再
生する光学装置に関し、特に記録媒体上での微小スポッ
ト光の大きさが記録再生動作に対し常に最適径に保持さ
れるように焦点制御を行ないまた読取動作においてディ
スクの情報が記録されたトラック上に常に正確な微小ス
ポット光を照射するようにトラッキング制御を行なう光
学式情報処理装置に関するものである。
ク上の記録媒体に情報を記録しまた記録された情報を再
生する光学装置に関し、特に記録媒体上での微小スポッ
ト光の大きさが記録再生動作に対し常に最適径に保持さ
れるように焦点制御を行ないまた読取動作においてディ
スクの情報が記録されたトラック上に常に正確な微小ス
ポット光を照射するようにトラッキング制御を行なう光
学式情報処理装置に関するものである。
ディスクに記録された情報を光学的に再生する手段とし
てはＶＬＰ等のようなビデオディスクがよく知られてい
る。ビデオディスクでは、直径約１μｍ程度に絞ったス
ポット光を焦点制御、トラッキング制御等の制御を行な
いながらあらかじめ記録された情報トラック上に照射し
、トラックＬを正しく追跡することによって情報が再生
される。
てはＶＬＰ等のようなビデオディスクがよく知られてい
る。ビデオディスクでは、直径約１μｍ程度に絞ったス
ポット光を焦点制御、トラッキング制御等の制御を行な
いながらあらかじめ記録された情報トラック上に照射し
、トラックＬを正しく追跡することによって情報が再生
される。
しかしながら、ビデオディスクのディスク板は読取動作
において高速で回転駆動されるため、回転時の面振れあ
るいは外部振動等によってスポット光照射点の位置が絶
えず変動する。従って、情報を正確に読取るためにはこ
のディスク板の位置変動に追従してスポット光の焦点制
御及びトラッキング制御を確実に行なうことが要求され
、ディスク被及び情報トラックの位置検出機構及びスポ
ット光照射系の駆動制御機構が必要となる。
において高速で回転駆動されるため、回転時の面振れあ
るいは外部振動等によってスポット光照射点の位置が絶
えず変動する。従って、情報を正確に読取るためにはこ
のディスク板の位置変動に追従してスポット光の焦点制
御及びトラッキング制御を確実に行なうことが要求され
、ディスク被及び情報トラックの位置検出機構及びスポ
ット光照射系の駆動制御機構が必要となる。
本発明は、上述の焦点制御とトラッキング制御を簡単な
光゛学系で行なうことのできるピックアップ装置に焦点
位置検出機構とトラック位置検出機構を備えた新規有用
な光学式情報処理装置を提供することを目的とするもの
である。
光゛学系で行なうことのできるピックアップ装置に焦点
位置検出機構とトラック位置検出機構を備えた新規有用
な光学式情報処理装置を提供することを目的とするもの
である。
以下、本発明を実施例に従って図面を参照しながら詳説
する。
する。
第１図は本発明を用いたピックアップ装置の−“ｔぐ実
施例を示す構成図である。
施例を示す構成図である。
・が−１、
半導体レーザ１から放射されたレーザ光はその偏光面が
紙面と平行になるように設定されているため、偏光膜を
有するビームスプリッタ−２に入射した場合、偏光膜の
有する特性によってビームスプリッタ−２をほぼ完全に
透過しコリメートレンズ８に入射する。コリメートレン
ズ３によって平行にされた光策はλ／４板４を通過する
ことにより円偏光に変換された後、対物レンズ５に入射
される。対物レンズ５を出射した光束は集光されて対物
レンズ５の焦点位置に配置されたディスク６面上に微小
な光スポットを形成する。ディスク６面から反射された
光束は入射時の光束に対し逆回りの円偏光になって再び
対物レンズ５に入射され、合焦状態で平行光束となりλ
／４′板４に入射する。
紙面と平行になるように設定されているため、偏光膜を
有するビームスプリッタ−２に入射した場合、偏光膜の
有する特性によってビームスプリッタ−２をほぼ完全に
透過しコリメートレンズ８に入射する。コリメートレン
ズ３によって平行にされた光策はλ／４板４を通過する
ことにより円偏光に変換された後、対物レンズ５に入射
される。対物レンズ５を出射した光束は集光されて対物
レンズ５の焦点位置に配置されたディスク６面上に微小
な光スポットを形成する。ディスク６面から反射された
光束は入射時の光束に対し逆回りの円偏光になって再び
対物レンズ５に入射され、合焦状態で平行光束となりλ
／４′板４に入射する。
λ／’４板４を出射した光束は入射時の光束に対し直線
偏光の向きが９０°変換され、再びコリメートレンズ８
を通過した後偏光膜を有するビームスプリッタ−２に入
射され、ビームスプリッタ−２でほぼ完全に反射し検出
器８に入射される。
偏光の向きが９０°変換され、再びコリメートレンズ８
を通過した後偏光膜を有するビームスプリッタ−２に入
射され、ビームスプリッタ−２でほぼ完全に反射し検出
器８に入射される。
第２図は本発明を用いたピックアップ装置の他の実施例
を示す構成図である。
を示す構成図である。
本実施例に於いては、半導体レーザ１から放射されたレ
ーザ光はまずコリメートレンズ３に入射し、平行光にさ
れた後ビームスプリッタ−２に入射し、その後同様にλ
／４板４．対物レンズ５を透過した後ディスク６に集光
される。ディスク６面から反射された光束は同様にして
対物レンズ５゜λ／４板４を透過後ビームスプリッタ−
２でほぼ完全に反射されてカップリングレンズ７に入射
する。カップリングレンズ７を透過したレーザ光は検出
器８上に所定のビーム径で入射する。
ーザ光はまずコリメートレンズ３に入射し、平行光にさ
れた後ビームスプリッタ−２に入射し、その後同様にλ
／４板４．対物レンズ５を透過した後ディスク６に集光
される。ディスク６面から反射された光束は同様にして
対物レンズ５゜λ／４板４を透過後ビームスプリッタ−
２でほぼ完全に反射されてカップリングレンズ７に入射
する。カップリングレンズ７を透過したレーザ光は検出
器８上に所定のビーム径で入射する。
第８図は上記実施例で用いた検出器８の主として受光面
の形状を示す構成図である。
の形状を示す構成図である。
この検出器８の受光面は両側に大きな受光面をもつ２組
の分割検出器８−ａｌ、８−ａ２と８−ｂ＋。
の分割検出器８−ａｌ、８−ａ２と８−ｂ＋。
８−ｂ２と中央部に両側の検出器より小さな受光面をも
つ１組の分割検出器８−ｃｌ、８−ｃ２からなっており
、各組の検出器の分割部が一直線状になるように近接し
て配置されている。検出器８は第１図ではコリメートレ
ンズ８の光軸上に、第２図ではカップリングレンズ７の
光軸上に検出器中心が一致するように光軸に垂直に設置
されており、コリメートレンズ３あるいはカップリング
レンズ７からの検出器８までの間隔は検出器８の大きさ
とコリメートレンズ３あるいはカップリングレンズ７の
焦点距離及び口径で定まる所定の位置に設定されている
。 ゛ 次に第４図に従って焦点制御を行うための合焦。
つ１組の分割検出器８−ｃｌ、８−ｃ２からなっており
、各組の検出器の分割部が一直線状になるように近接し
て配置されている。検出器８は第１図ではコリメートレ
ンズ８の光軸上に、第２図ではカップリングレンズ７の
光軸上に検出器中心が一致するように光軸に垂直に設置
されており、コリメートレンズ３あるいはカップリング
レンズ７からの検出器８までの間隔は検出器８の大きさ
とコリメートレンズ３あるいはカップリングレンズ７の
焦点距離及び口径で定まる所定の位置に設定されている
。 ゛ 次に第４図に従って焦点制御を行うための合焦。
非合焦状態を検出する原理について説明する。尚、第４
図では蜘解を容易にするために光ディスク６から反射し
て検出器８に入射するまでを図示し、対物レンズ５とコ
リメートレンズ８あるいはカップリングレンズ７を１個
の対物レンズ９で代用している。対物レンズ９とディス
ク６との各位置での検出器上に照射される光スポット１
０τａ、１０ ｂ。
図では蜘解を容易にするために光ディスク６から反射し
て検出器８に入射するまでを図示し、対物レンズ５とコ
リメートレンズ８あるいはカップリングレンズ７を１個
の対物レンズ９で代用している。対物レンズ９とディス
ク６との各位置での検出器上に照射される光スポット１
０τａ、１０ ｂ。
１０−ｃ 、 １０−ｂ’の形状も合せて図示する。
まず第４図（ｂ）に示すように合焦位置ではディスク６
から反射してきた光束は検出器８上に光スポラ）１０−
ｂの形状で照射され、この時中央の１組の分割検出器８
−ｃの出力と両側の２組の分割検用型８−ａ、８−ｂの
出力の和が相等しくなるように検出器８が設定されてい
る。従って中央の１組の分割検出器８−ｃの出力と両側
の２組の分割検出器８−ａ、８−ｂの出力の和との差 Ｖｐ＝（Ｖ（８−ａ）＋Ｖ（ｇ−ｂ）） Ｖ（８−ｃ
）は零になる。ここで、■（８−ａ）＋”（ｓ−ｂ）＋
”（８−ｃ ）は各組の分割検出器からの出力値を表わ
す。
から反射してきた光束は検出器８上に光スポラ）１０−
ｂの形状で照射され、この時中央の１組の分割検出器８
−ｃの出力と両側の２組の分割検用型８−ａ、８−ｂの
出力の和が相等しくなるように検出器８が設定されてい
る。従って中央の１組の分割検出器８−ｃの出力と両側
の２組の分割検出器８−ａ、８−ｂの出力の和との差 Ｖｐ＝（Ｖ（８−ａ）＋Ｖ（ｇ−ｂ）） Ｖ（８−ｃ
）は零になる。ここで、■（８−ａ）＋”（ｓ−ｂ）＋
”（８−ｃ ）は各組の分割検出器からの出力値を表わ
す。
しかしながら第４図（、］）に示す如くディスク６が合
焦状態からずれて対物レンズ９から遠ざかるにつれ検出
器８上の光スポット１０−ａは小さくなり、このため両
側の２組の分割検出器８−ａ、８−ｂへの入射光量は少
なくなり、一方中央の１組の分割検出器８−ｃへの入射
光量は増加する。このため、中央の１組の分割検出器８
−ｃの出力と両側の２組の分割検出器８−ａ、８−ｂの
出力の和とに差動出力差ＶＦ＝（Ｖ（ｓ−ａ）＋Ｖ（ｓ
−ｂ））−Ｖ（８−ｃ）＜。
焦状態からずれて対物レンズ９から遠ざかるにつれ検出
器８上の光スポット１０−ａは小さくなり、このため両
側の２組の分割検出器８−ａ、８−ｂへの入射光量は少
なくなり、一方中央の１組の分割検出器８−ｃへの入射
光量は増加する。このため、中央の１組の分割検出器８
−ｃの出力と両側の２組の分割検出器８−ａ、８−ｂの
出力の和とに差動出力差ＶＦ＝（Ｖ（ｓ−ａ）＋Ｖ（ｓ
−ｂ））−Ｖ（８−ｃ）＜。
が表われる。
逆に第４図（Ｃ）に示すようにディスク６が合焦状態か
らずれて対物レンズ６に接近すると結像位置は後方に移
行し、検出器８上での光スポ、、）１０−Ｃは大きくな
る。このため両側の２組の分割検出器８−ａ、８−ｂへ
の入射光量は増大し、中央の１組の分割検出器８−ｃへ
の入射光量は減少する。この結果、中央の１組の分割検
出器８−ｃの出力と両側の２組の分割検出器８−ａ、８
−ｂの出力の和との出力差に第４図（ａ＞の場合と逆符
号の出力差が現われる。
らずれて対物レンズ６に接近すると結像位置は後方に移
行し、検出器８上での光スポ、、）１０−Ｃは大きくな
る。このため両側の２組の分割検出器８−ａ、８−ｂへ
の入射光量は増大し、中央の１組の分割検出器８−ｃへ
の入射光量は減少する。この結果、中央の１組の分割検
出器８−ｃの出力と両側の２組の分割検出器８−ａ、８
−ｂの出力の和との出力差に第４図（ａ＞の場合と逆符
号の出力差が現われる。
このようにして、中央の１組の分割検出器８−ｃからの
出力と両側の２組の分割検出器８−ａ、８−ｂからの出
力との出力差ｖＦから、ディスク６の合焦位置を境とし
ディスク６位置により互いに逆符号の信号が検出される
ことになる。
出力と両側の２組の分割検出器８−ａ、８−ｂからの出
力との出力差ｖＦから、ディスク６の合焦位置を境とし
ディスク６位置により互いに逆符号の信号が検出される
ことになる。
しかしながら第４図（ａ）に示す位置よりも更にディス
ク６が対物レンズ９から遠ざかった場合には検出器８前
方で結像した後検出器８に照射するため検出器８上の光
スポットは次第に大きくなる。
ク６が対物レンズ９から遠ざかった場合には検出器８前
方で結像した後検出器８に照射するため検出器８上の光
スポットは次第に大きくなる。
このため中央の１組の分割検出器８−ｃからの出力と両
側の２組の分割検出器８−ａ、８−ｂからの出力との出
力差ｖＦは第４図（ａ）のディスク６位置より更に対物
レンズ９から遠ざかるにつれて第４図（ｂ）から第４図
（ｃ）に示すディスク位置に対応する出力差ｖＦ と同
じ符号の出力差ｖＦが得られる。第５図は対物レンズ９
にディスク６を密着させ対物レンズ９からディスク６を
漸次離間せしめる際に」１記３組の検出器より得られる
出力差ｖＦの変化を示す信号波形図である。図中の（ａ
）（ｂ）（ｃ）（ｄ）は各々第４図（ａ）（ｂ）（ｃ）
（ｄ）に対応する信号である。このように３組の検出器
の差動出力ＶＦ ＝ （Ｖ（８−ａ）＋Ｖ（ｓ−ｂ）
） −Ｖ（８−ｃ）が零になるディスク６位置は第４
図（ｂ）の合焦点位置と第４図（ｄ）の捩合焦点位置の
２箇所存在するが、例えばディスク６を対物レンズ９か
ら次第に離間せしめることによって出力差Ｖｐが正符号
から負符号に変化する位置が合焦状態で負符号から正符
号に変化する位置が擬合焦状態となり、両者を区別する
ことができる。また、ディスク６を対物レンズ９に接近
させていた場合は上記と逆になることは明らかであり、
差動出力Ｖｐ′−Ｖ（８ｃ）−’［Ｖ（ｓ−ａ）＋Ｖ（
８−ｂ））を得ることにより同様にディスク６位置を検
知することができる。
側の２組の分割検出器８−ａ、８−ｂからの出力との出
力差ｖＦは第４図（ａ）のディスク６位置より更に対物
レンズ９から遠ざかるにつれて第４図（ｂ）から第４図
（ｃ）に示すディスク位置に対応する出力差ｖＦ と同
じ符号の出力差ｖＦが得られる。第５図は対物レンズ９
にディスク６を密着させ対物レンズ９からディスク６を
漸次離間せしめる際に」１記３組の検出器より得られる
出力差ｖＦの変化を示す信号波形図である。図中の（ａ
）（ｂ）（ｃ）（ｄ）は各々第４図（ａ）（ｂ）（ｃ）
（ｄ）に対応する信号である。このように３組の検出器
の差動出力ＶＦ ＝ （Ｖ（８−ａ）＋Ｖ（ｓ−ｂ）
） −Ｖ（８−ｃ）が零になるディスク６位置は第４
図（ｂ）の合焦点位置と第４図（ｄ）の捩合焦点位置の
２箇所存在するが、例えばディスク６を対物レンズ９か
ら次第に離間せしめることによって出力差Ｖｐが正符号
から負符号に変化する位置が合焦状態で負符号から正符
号に変化する位置が擬合焦状態となり、両者を区別する
ことができる。また、ディスク６を対物レンズ９に接近
させていた場合は上記と逆になることは明らかであり、
差動出力Ｖｐ′−Ｖ（８ｃ）−’［Ｖ（ｓ−ａ）＋Ｖ（
８−ｂ））を得ることにより同様にディスク６位置を検
知することができる。
以上の如く、３組の検出器の差動出力ｖＦの変化を検出
することにより合焦状態と非合焦状態の識別を行なうこ
とができ、またディスク６の合焦位置を境とする。互い
に逆符号の信号を検出することにより合焦位置と擬合焦
位置の識別を行なうことができる。差動出力ｖＦはディ
スク位置検出信号として光学系の駆動機構に帰還され、
光学系は集光スポット婆合焦状態でディスク６面へ照射
するように制御駆動される。
することにより合焦状態と非合焦状態の識別を行なうこ
とができ、またディスク６の合焦位置を境とする。互い
に逆符号の信号を検出することにより合焦位置と擬合焦
位置の識別を行なうことができる。差動出力ｖＦはディ
スク位置検出信号として光学系の駆動機構に帰還され、
光学系は集光スポット婆合焦状態でディスク６面へ照射
するように制御駆動される。
次に第６図に従ってトラッキング制御を行うためのトラ
ック位置を検出する原理について説明する。第６図はデ
ィスク６面のトラックに情報として記録されたピッ）１
１と集光スポット１３の各位置関係とそれに対応する検
出器８への入射光スポット１０．ピット像１２を模式図
として示している。
ック位置を検出する原理について説明する。第６図はデ
ィスク６面のトラックに情報として記録されたピッ）１
１と集光スポット１３の各位置関係とそれに対応する検
出器８への入射光スポット１０．ピット像１２を模式図
として示している。
まず第６図（ｂ）に示す如く、ピット１１中心と集光ス
ポット１３中心が正確に合致してトラック上に光照射さ
れているときには、検出器上の入射光スポット１０−ｂ
の中央部にピット像１２が形成される。このため検出器
８の中央線で上下２分割された上半分の３個の分割検出
器８−ａｌ 、８−ｂｌ 。
ポット１３中心が正確に合致してトラック上に光照射さ
れているときには、検出器上の入射光スポット１０−ｂ
の中央部にピット像１２が形成される。このため検出器
８の中央線で上下２分割された上半分の３個の分割検出
器８−ａｌ 、８−ｂｌ 。
８−ｃｌの和の出力と下半分の８個の分割検出器８−ａ
２ ＋８−ｂ２ ＋８−ｃ２の和の出力は相等しくなる
ため図中の上半分の分割検出器８ ａｌ、８ ＋）
ｌ＋８−ｃｌの和に対応する出力と下半分の分割検出器
８−ａ２，８−ｂ２，８−Ｃ２の和に対応する出力の差
ｖＴは零になる。
２ ＋８−ｂ２ ＋８−ｃ２の和の出力は相等しくなる
ため図中の上半分の分割検出器８ ａｌ、８ ＋）
ｌ＋８−ｃｌの和に対応する出力と下半分の分割検出器
８−ａ２，８−ｂ２，８−Ｃ２の和に対応する出力の差
ｖＴは零になる。
次に第６図（ａ）に示す如くピット１１中心が集光スポ
ット１３中心からずれ、図中では下方に移動した場合、
検出器上の入射光スポット１０−ｂの上方にピット像１
２が形成される。このため検出器８の図中の上半分の８
個の分割検出器８−ａｌ、８−ｂｌ、８−ｃ’Ｈの和の
出力は下半分の８個の分割検出器８−ａ ２ 、８−ｂ
２ 、８−Ｃ２の和の出方より小さくなるため上半分
の分割検出器８−ａｌ 、８−ｂｌ、８−ｃＨの和に対
応する出力と下半分の分割検出器８−ａ２゜８−ｂ２，
８−Ｃ２の和に対応する出力の差■Ｔが差動出力として
発生する。
ット１３中心からずれ、図中では下方に移動した場合、
検出器上の入射光スポット１０−ｂの上方にピット像１
２が形成される。このため検出器８の図中の上半分の８
個の分割検出器８−ａｌ、８−ｂｌ、８−ｃ’Ｈの和の
出力は下半分の８個の分割検出器８−ａ ２ 、８−ｂ
２ 、８−Ｃ２の和の出方より小さくなるため上半分
の分割検出器８−ａｌ 、８−ｂｌ、８−ｃＨの和に対
応する出力と下半分の分割検出器８−ａ２゜８−ｂ２，
８−Ｃ２の和に対応する出力の差■Ｔが差動出力として
発生する。
一方、第６図（ｃ）に示す如くピット１１中心が集光ス
ポット１３中心からずれて、図中では上方に移動した場
合には第６図（ａ）とは逆の結果になり検出器上の入射
光スポット１０−ｂの下方にピット像１２が形成される
。このため、検出器８の図中上半分の８個の分割検出器
８−ａＨ，８−ｂｌ 、８−ｃｌの和の出力は下半分の
３個の分割検出器８−ａ２，８−ｂ２，８−ｃ２の和の
出力より大きくなるため、上半分の分割検出器８ ａ
ｔ ＋８ Ｊ 、８−ｃｌの和に対応する出力と下半
分の分割検出器８ ａ２ ＋ ８ ｂ２ ＋ ８
’−ｃ２の和に対応する出力の差ｖＴが第６図（ａ）
とは逆符号の差動出力として現われる。
ポット１３中心からずれて、図中では上方に移動した場
合には第６図（ａ）とは逆の結果になり検出器上の入射
光スポット１０−ｂの下方にピット像１２が形成される
。このため、検出器８の図中上半分の８個の分割検出器
８−ａＨ，８−ｂｌ 、８−ｃｌの和の出力は下半分の
３個の分割検出器８−ａ２，８−ｂ２，８−ｃ２の和の
出力より大きくなるため、上半分の分割検出器８ ａ
ｔ ＋８ Ｊ 、８−ｃｌの和に対応する出力と下半
分の分割検出器８ ａ２ ＋ ８ ｂ２ ＋ ８
’−ｃ２の和に対応する出力の差ｖＴが第６図（ａ）
とは逆符号の差動出力として現われる。
即ち、第６図（ａ）のようにピット１１中心が集光スポ
ット１３中心より下方に位置した場合と第６図（ｃ）の
ように上方に位置した場合とでは第６図（ｂ）のように
ピッｌ−１中心と集光スポット１８中心が合致した状態
を境にして分割検出器８−ａｌ、８−ｂｌ、８−ｃｌの
和の出力に対応する出力と分割検出器８ ａ２＋８
ｂ２．ｇ Ｃ２の和の出力に対応する出力は反転す
るため上記２組に対応する和の出力の差動増幅を行なう
ことによってピット位置即ちトラック位置に対応した互
いに逆符号の信号が検出されることになる。
ット１３中心より下方に位置した場合と第６図（ｃ）の
ように上方に位置した場合とでは第６図（ｂ）のように
ピッｌ−１中心と集光スポット１８中心が合致した状態
を境にして分割検出器８−ａｌ、８−ｂｌ、８−ｃｌの
和の出力に対応する出力と分割検出器８ ａ２＋８
ｂ２．ｇ Ｃ２の和の出力に対応する出力は反転す
るため上記２組に対応する和の出力の差動増幅を行なう
ことによってピット位置即ちトラック位置に対応した互
いに逆符号の信号が検出されることになる。
第７図は集光スポット１３がピット列を横切った場合の
和信号即ち各分割検出器の和の出力とトラック誤差信号
即ちＶｒ＝（Ｖ（８−ａｔ） 十ｖ（８−ｂ＋ ）”’
（８−ｃｌ））−（Ｖ（８，２）＋Ｖ（８−ｂ２）＋ｖ
（８−ｃｐＱ） （Ｄ信号ヲー例ヲ示す波形図である。
和信号即ち各分割検出器の和の出力とトラック誤差信号
即ちＶｒ＝（Ｖ（８−ａｔ） 十ｖ（８−ｂ＋ ）”’
（８−ｃｌ））−（Ｖ（８，２）＋Ｖ（８−ｂ２）＋ｖ
（８−ｃｐＱ） （Ｄ信号ヲー例ヲ示す波形図である。
ここでトラック誤差信号が零となる位置が和信号の最少
値になる時と、和信号の最大値になる時の２箇所存在す
るが和信号が最大値となる時はピットとピットの中間位
置に集光スポ’ｙ ） １ Ｂが在る時であり、和信号
が最少値となる時は集光スポット１３がピット中心に合
致した時である。更にトラック誤差信号に示したように
上述の２つの場合は信号の変化の様子すなわち図中では
信号が負から正に変化する所が合トラック状態になって
いることから識別することができる。
値になる時と、和信号の最大値になる時の２箇所存在す
るが和信号が最大値となる時はピットとピットの中間位
置に集光スポ’ｙ ） １ Ｂが在る時であり、和信号
が最少値となる時は集光スポット１３がピット中心に合
致した時である。更にトラック誤差信号に示したように
上述の２つの場合は信号の変化の様子すなわち図中では
信号が負から正に変化する所が合トラック状態になって
いることから識別することができる。
このようにして得られたディスク位置検出信号とトラッ
ク位置検出信号を各々の駆動系に於ける制御用コイルに
帰還して光学系の光照射点を移動させ焦点制御、トラッ
キング制御を行なうことによりディスク６が振動した場
合でも常に合焦状態でトラック上に正確に集光スポット
を照射することができ、安定した情報再生動作が確立さ
れる。
ク位置検出信号を各々の駆動系に於ける制御用コイルに
帰還して光学系の光照射点を移動させ焦点制御、トラッ
キング制御を行なうことによりディスク６が振動した場
合でも常に合焦状態でトラック上に正確に集光スポット
を照射することができ、安定した情報再生動作が確立さ
れる。
さらに第６図で示したようにトラック位置を検出するに
は図中上半分の３個の分割検出器の和の出力と、下半分
の８個の分割検出器の和の出力の差の出力値を検出する
だけでなく、少なくとも上下各一対の分割検出器の出力
の差の出力、例えば第８図に示すように、中央部の上下
の分割検出器の差の出力あるいは第９図に示すように両
側の上下の分割検出器の差の出力を検出することによっ
て同様の原理によりトラック位置を検出することができ
る。
は図中上半分の３個の分割検出器の和の出力と、下半分
の８個の分割検出器の和の出力の差の出力値を検出する
だけでなく、少なくとも上下各一対の分割検出器の出力
の差の出力、例えば第８図に示すように、中央部の上下
の分割検出器の差の出力あるいは第９図に示すように両
側の上下の分割検出器の差の出力を検出することによっ
て同様の原理によりトラック位置を検出することができ
る。
以上詳述したように複数の分割検出器よりなる検出器系
を用いることによって焦点制御とトラッキング制御を簡
単な光学系で行なうことのできる焦点制御機構及びトラ
ック制御機構を備えたピックアップ装置の光学系を構成
することができ、情報読取を確実に実行し得る光学式情
報処理装置が得られる。
を用いることによって焦点制御とトラッキング制御を簡
単な光学系で行なうことのできる焦点制御機構及びトラ
ック制御機構を備えたピックアップ装置の光学系を構成
することができ、情報読取を確実に実行し得る光学式情
報処理装置が得られる。
第１図及び第２図はそれぞれ本発明のディスク位置検出
系を有するピックアップ装置の実施例を示す構成図であ
る。 第３図は第１図及び第２図のピックアップ装置で用いた
検出器の１実施例を示す説明図である。 第４図は焦点誤差検出機構の原理を説明する説明図であ
る。 第５図ばディスク位置検出信号すなわち焦点誤差信号の
１例を示す波形図である。 第６図はトラック誤差検出機構の原理を説明する説明図
である。 第７図はトラック位置検出信号すなわちトラック誤差信
号の１例を示す波形図である。 第８図及び第９図は本発明の他の実施例を示す検出器の
説明図である。 １・・・半導体レーザ素子、２・・・偏光ビームスプリ
ッタ、３・・・コリメートレンズ、４・・・λ／４板、
５・・・対物レンズ、６・・・ディスク、７・・・カッ
プリングレンズ、８・・・検出器、９・・・対物レンズ
、１０−ａ。 １０−ｂ’、４０−ｃ 、 １０−ｄ・＝入射スポット
光、１１・’・ピット、１２・・・ピット像、１３・・
・集光スポット。 代理人 弁理士 福 士 愛 彦 第１図 第２図 ＜’ｃ＞
第３図 １ 第η図
系を有するピックアップ装置の実施例を示す構成図であ
る。 第３図は第１図及び第２図のピックアップ装置で用いた
検出器の１実施例を示す説明図である。 第４図は焦点誤差検出機構の原理を説明する説明図であ
る。 第５図ばディスク位置検出信号すなわち焦点誤差信号の
１例を示す波形図である。 第６図はトラック誤差検出機構の原理を説明する説明図
である。 第７図はトラック位置検出信号すなわちトラック誤差信
号の１例を示す波形図である。 第８図及び第９図は本発明の他の実施例を示す検出器の
説明図である。 １・・・半導体レーザ素子、２・・・偏光ビームスプリ
ッタ、３・・・コリメートレンズ、４・・・λ／４板、
５・・・対物レンズ、６・・・ディスク、７・・・カッ
プリングレンズ、８・・・検出器、９・・・対物レンズ
、１０−ａ。 １０−ｂ’、４０−ｃ 、 １０−ｄ・＝入射スポット
光、１１・’・ピット、１２・・・ピット像、１３・・
・集光スポット。 代理人 弁理士 福 士 愛 彦 第１図 第２図 ＜’ｃ＞
第３図 １ 第η図
Claims (1)
- １ ディスク面上の記録トラックに微小スポット光を照
射して光学的に記録情報の再生を実行する光学式情報処
理装置において、前記ディスク面に前記微小スポット光
の合焦位置を配置し、前記ディスク面からの反射光が検
出光学系に結像される結像位置の前方あるいは後方に少
なくとも三分割されかつ一列に近接して配置され、両側
の検出器の受光面積が中央部の受光面積に比べて充分大
きく中央部の検出器の配列方向と垂直方向の寸法が両側
の検出器に比べて短かく設定された光検出器を設け、両
側の光検出器の出力の和と中央部の光検出器の出力との
出力差を前記微小スポット光の焦点位置検出信号として
検出するとともに少なくとも１個の光検出器を受光面積
が相等しくなるように検出器配列方向と垂直方向に分割
し、その差動出力をトラック位置検出信りとして検出す
ることにより前記焦点位置検出信号及びトラック位置検
出信号に基いて前記微小スポット光の焦点制御及びトラ
ック制御を実行するようにしたことを特徴とする光学式
情報処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56172400A JPS5873024A (ja) | 1981-10-27 | 1981-10-27 | 光学式情報処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56172400A JPS5873024A (ja) | 1981-10-27 | 1981-10-27 | 光学式情報処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5873024A true JPS5873024A (ja) | 1983-05-02 |
| JPH0311007B2 JPH0311007B2 (ja) | 1991-02-15 |
Family
ID=15941236
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56172400A Granted JPS5873024A (ja) | 1981-10-27 | 1981-10-27 | 光学式情報処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5873024A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL8600380A (nl) * | 1985-03-11 | 1986-10-01 | Hitachi Ltd | Inrichting voor het detecteren van scherpstellingsfouten en een optische schijf-inrichting waarin deze wordt gebruikt. |
| JPH05210858A (ja) * | 1991-10-29 | 1993-08-20 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | サーボ・クロストークを減少させるための収差補償を備えた光学式データ記憶システム |
| JPH0836762A (ja) * | 1995-03-17 | 1996-02-06 | Hitachi Ltd | 光ディスク装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53100203A (en) * | 1977-02-15 | 1978-09-01 | Mitsubishi Electric Corp | Optical reproducer |
| JPS53123103A (en) * | 1977-04-02 | 1978-10-27 | Mansei Kogyo Kk | Optical information reader |
-
1981
- 1981-10-27 JP JP56172400A patent/JPS5873024A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53100203A (en) * | 1977-02-15 | 1978-09-01 | Mitsubishi Electric Corp | Optical reproducer |
| JPS53123103A (en) * | 1977-04-02 | 1978-10-27 | Mansei Kogyo Kk | Optical information reader |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL8600380A (nl) * | 1985-03-11 | 1986-10-01 | Hitachi Ltd | Inrichting voor het detecteren van scherpstellingsfouten en een optische schijf-inrichting waarin deze wordt gebruikt. |
| JPH05210858A (ja) * | 1991-10-29 | 1993-08-20 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | サーボ・クロストークを減少させるための収差補償を備えた光学式データ記憶システム |
| JPH0836762A (ja) * | 1995-03-17 | 1996-02-06 | Hitachi Ltd | 光ディスク装置 |
| JP2685015B2 (ja) * | 1995-03-17 | 1997-12-03 | 株式会社日立製作所 | 光ディスク装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0311007B2 (ja) | 1991-02-15 |
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