CN100385526C - 光盘装置及其跟踪控制方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种可确切地检测跟踪偏离而保证可靠性和安全性的状置。具有：从光检测器(1)的输出中检测跟踪误差信号的跟踪误差检测电路；检测跟踪误差信号的峰值和谷值的峰/谷检测电路；求出峰值和谷值的差的差分电路；以及比较器，对差分电路的输出和预先确定的规定的基准电压(VR)进行比较，根据比较结果输出跟踪偏离信号，其中，当差分电路的输出电平超过基准电压(VR)时，从比较器输出跟踪偏离信号，该跟踪偏离信号表示跟踪偏离了光束点的磁道。

Description

光盘装置及其跟踪控制方法
技术领域
本发明涉及一种光盘装置，特别涉及一种进行跟踪控制的控制技术。
背景技术
光盘装置对于作为光学信息存储介质的磁盘上的排列为同心圆状或者旋涡状的存储磁道，为了使从光拾波器照射的光束总是追踪目标磁道，以表示光束和磁道间的位置偏差的跟踪误差信号为基础，进行修正光束位置的跟踪伺服。
一直以来，跟踪偏离的检测一般采用检测表示光束和磁道间的位置偏差的跟踪误差信号的电平超过正或负的一定值的情况的方法。
图5是表示跟踪偏离检测电路的典型构成的一个示例的图。参照图5，该跟踪偏离检测电路具有：跟踪误差检测电路2，从光检测器1的二个输出109、110中检测跟踪误差并输出跟踪误差信号，其中光检测器1用于检测照射到未图示的光盘上的激光束的反射光；跟踪致动器4；跟踪伺服电路3，接收由跟踪误差检测电路2输出的跟踪误差信号，并控制跟踪致动器4；和比较器7，对跟踪误差检测电路2输出的跟踪误差信号的电压和基准电压VR进行比较，并且将比较器7的输出作为跟踪偏离信号。跟踪伺服电路3接收从跟踪误差检测电路2输出的跟踪误差信号，为了使光点和磁道之间的位置偏差变小而驱动跟踪致动器4，修正光的点位置。
从未图示的光拾波器照射光束时，其反射光的光强度相对磁道方向产生左右强度差，因此对该强度差通过光检测器1进行捕捉，上述光检测器1由分离为左右方向的至少二个光检测元件构成，从光检测器1的二个光检测元件(未图示)的输出109、110中，可以检测出光束相对于磁道中心的位置偏差信号，也就是跟踪误差信号101。即，跟踪误差检测电路2将和光检测器1的二个光检测元件(未图示)发出的左右分别和光强度对应的输出信号109、110的差信号作为跟踪误差信号101输出。例如4分割光传感器方式下，根据光检测器1的分割为四个的光检测元件输出P、Q、R、S(按逆时针方向具有输出Q、R、S、P的四个光检测元件，R和Q在左侧，S和P在右侧)，计算TE＝Q+R-(P+S)，并将TE作为跟踪误差信号101输出。这种情况下，在图中信号109为Q+R，信号110为P+S。
图5的跟踪致动器4的构成是将均没有图示的光拾波器的物镜相对于磁道向左右两侧运动，通过使物镜移动而移动光点。并且，在未图示的光拾波器中，例如将半导体激光的射出光用准直透镜准直，并通过偏向束分离器、45度反射镜、1/4波长板、物镜等，向光盘上聚焦，该反射光返回到偏向束分离器，并通过45度反射镜输入到光检测器1。
进行通常的动作时，通过跟踪伺服循环，实现磁道跟踪，但有时由于振动等引起的干扰、磁盘上的信号失落引起的跟踪误差信号混乱等，跟踪会偏离。并且我们清楚，当跟踪偏离后，信息的记录重放动作有可能对错误的磁道进行。
并且，如果对跟踪偏离置之不理，则有可能出现跟踪伺服失控。并且当跟踪偏离、跟踪伺服失控时，由于跟踪致动器4的加热(过电流)等，在光盘装置的电源断开的情况下，到再次接通光盘装置的电源为止，仍需要相当长的待机时间。
因此，当跟踪偏离时，需要迅速地停止记录重放动作，并进行向原磁道的回归动作。为了进行这样的控制，需要迅速且精确地检测出跟踪偏离。
但是如图5所示，在检测跟踪误差信号的电平超过一定值(基准电压VR)的构成中，由于和跟踪误差信号重叠的噪声、磁道混乱等，即使实际上没有发生跟踪偏离，也会被误测出跟踪偏离，从而使正常的动作产生不必要的中断。
因此，为了抑制这种噪声及混乱，采用了使跟踪误差信号通过低通滤波器的方法。将从图5的跟踪误差检测电路2输出的跟踪误差信号101输入到未图示的低通滤波器，对平滑化的电压和基准电压VR用比较器7进行比较，当低通滤波器的输出电压大于基准电压VR时，判定跟踪偏离。这种情况下，由于通过低通滤波器，所以高频的噪声及混乱被抑制，但同时跟踪误差信号101的高频成分也被抑制。其结果是，当例如由于跟踪偏离而使光束高速覆盖多个磁道时，高速变动的跟踪误差信号被抑制，从而无法正确地检测出跟踪偏离。
由于以上原因，无法附加可切实抑制与跟踪误差信号重叠的噪声及混乱的低通滤波器。
因此，存在无法完全避免由于噪声及混乱等引起的跟踪偏离的误测的问题。
并且，公知的还有如下构成：如图6所示，将跟踪误差信号用整流电路8进行整流，之后在通过低通滤波器9后，和基准电压VR进行比较，从而检测出跟踪偏离(例如参照专利文献1)。
专利文献1：特开昭63-291223号公报(第3-4页、第1图)
对图6所示的现有的电路构成的问题点进行说明。图7是表示图6所示的跟踪偏离检测电路的动作波形的一个示例的图(并且图7是根据本发明人的研究结果制作的)。在图7中，波形A表示跟踪误差检测电路2的输出信号101的电压波形，波形F表示整流电路8的输出信号106的电压波形，波形G表示低通滤波器9的输出信号107的电压波形，波形H表示比较器7的输出信号108的电压波形。图7中如波形A所示，当跟踪误差信号101中含有负的DC偏移成分时，被整流电路8整流，而通过低通滤波器9的信号波形G有时会低于基准电压VR。在这种状态中，即使实际上已经发生了跟踪偏离，在跟踪偏离检测电路中也无法正确地检测出跟踪偏离。也就是说，由于跟踪误差信号101的负的DC偏移成分，波形A的峰值在整流、平滑化后变得小于基准电压VR，在比较器7中，和波形A的峰值对应的跟踪偏离检测信号108(波形H)变为低电平。
总结如上所述的现有的跟踪偏离检测电路的问题点如下。
(A)对跟踪误差信号直接进行电压比较的构成(参照图5)中，由于和跟踪误差信号重叠的噪声及磁道混乱，虽然实际上没有发生跟踪偏离，有时也会误测出跟踪偏离。
(B)并且，将跟踪误差信号通过低通滤波器并用比较器进行比较的构成中，由于跟踪误差信号自身的高频成分也被抑制，所以通过跟踪偏离，光束以高速覆盖多个磁道时，高速变动的跟踪误差信号被抑制，无法正确地检测出跟踪偏离。
(C)进一步，将整流过的跟踪误差信号通过低通滤波器并和基准电压比较而检测出跟踪偏离的构成中(参照图6)，当跟踪误差信号中附加了例如负的偏移时，即使发生了跟踪偏离，被整流并通过了低通滤波器的信号变得小于基准电压，从而无法正确检测出跟踪偏离。
发明内容
因此，本发明正是基于上述问题而产生的，其主要目的在于提供一种可正确检测出跟踪偏离的装置及跟踪控制方法。
本申请所公开的发明为了实现上述目的，提供一种概要如下的装置：求出跟踪伺服控制下的跟踪误差信号的峰值和谷值的差信号，比较上述差信号的电平和基准电压，检测出跟踪偏离。
本发明的一个方面(侧面)所涉及的装置，对作为光学信息存储介质的磁盘上排列为同心圆状或旋涡状的记录磁道进行光束点的跟踪位置控制，从而进行信息的记录或重放，其具有：跟踪误差检测电路(2)，检测表示上述光束点相对于上述磁道的位置误差的、跟踪伺服控制下的跟踪误差信号；检测电路(5)，检测由上述跟踪误差检测电路输出的跟踪误差信号的峰值和谷值；差分电路(6)，求出来自上述检测电路的峰值信号和谷值信号的差；比较器(7)，比较上述差分电路的输出电平和预先确定的规定的基准电压(VR)，并根据比较结果输出跟踪偏离信号(105)，当上述差分电路的输出电平超过上述基准电压时，从比较器(7)输出表示上述光束点对记录磁道跟踪偏离的上述跟踪偏离信号。此外，括号内的参照标号用于使人们更加易于理解本发明，不应视为对本发明的限定。
在本发明中，还可以是如下的构成，具有：跟踪致动器(4)，对上述光束点相对于记录磁道的位置进行驱动控制；跟踪伺服电路(3)，根据从上述跟踪误差检测电路(2)输出的跟踪误差信号，控制上述跟踪致动器的驱动；还具有监视电路(11)，监视上述跟踪偏离信号，当上述跟踪偏离信号在规定的时间内持续处于激活状态时，停止上述跟踪伺服电路控制的上述跟踪致动器。
本发明的其他方面(侧面)所涉及的方法是，包括以下步骤：根据表示聚光到光盘上的光束点相对于磁道的位置误差的、跟踪伺服控制下的跟踪误差信号，求出上述跟踪误差信号的峰值和谷值的差的步骤；和比较上述峰值和谷值的差信号与预先确定的基准值，并根据比较结果检测跟踪偏离的步骤。
在本发明中，还包括下述步骤：当上述跟踪偏离持续预先确定的规定时间时，停止跟踪伺服控制的控制步骤。
根据本发明，可以避免由于和跟踪误差信号重叠的噪声及混乱所产生的跟踪偏离的误测，同时例如即使跟踪误差信号中含有偏置成分时，也可以正确地检测出跟踪偏离。
并且根据本发明，跟踪偏离如果持续规定的时间时，可以停止跟踪伺服控制，因此可以提高装置的安全性，提高装置使用寿命。
附图说明
图1是表示本发明的一个实施方式的构成的图。
图2是表示本发明的一个实施例的动作波形的一个示例的图。
图3是表示本发明的一个实施例的峰/谷差检测电路的构成的一个示例的图。
图4是表示本发明的其他实施例的构成的图。
图5是表示现有的跟踪偏离检测电路的构成的图。
图6是现有的跟踪偏离检测电路的构成的图。
图7是现有的跟踪偏离检测电路的动作波形的一个示例的图。
具体实施方式
以下对用于实施本发明的最佳方式进行如下说明。图1是表示本发明的一个实施方式中的跟踪偏离检测装置的构成的图。参照图1，本发明的一个实施方式和图5所示的构成不同，其求得跟踪误差信号101的峰值和谷值的差信号的峰/谷差检测电路10设置在比较器7的前级。
从光拾波器(未图示)向作为光学信息记录介质的磁盘(未图示)上的排列为同心圆状或者旋涡状的记录磁道照射光束时，其反射光的光强度相对磁道方向产生左右强度差，因此对该强度差通过光检测器1进行捕捉，可以检测出光束对磁道中心的位置偏差信号，也就是跟踪误差信号，上述光检测器1由分离为左右方向的至少二个光检测元件构成。
如上所述，在本实施方式中，跟踪误差检测电路2输出来自光检测器1的和左右各自的光强度对应的输出信号109、110的差信号，也就是跟踪误差信号101。如上所述，例如4分割光传感器方式下，根据光检测器1的分割为四个的光检测元件(未图示)中的左侧光检测元件的输出信号Q、R、和右侧的光检测元件的输出信号S和P，跟踪误差检测电路2运算Q+R-(P+S)，并输出跟踪误差信号101。这种情况下，在图1中信号109为Q+R，信号110为P+S。
跟踪误差信号101被输入到跟踪伺服电路3，为了根据跟踪误差信号101减小光束和磁道之间的位置偏差，驱动跟踪致动器4，修正光束的位置。
根据本实施例，通过这种跟踪伺服的循环，光束对磁道位置的变动进行极其高精度的追踪，从而可以将光束点和磁道之间的位置偏差，也就是跟踪误差抑制成很小。但是，由于振动等引起的干扰、由于磁盘上的信号失落引起的跟踪误差信号101的混乱等、及伺服动作异常等，跟踪有时会脱落，这种情况下，需要迅速地检测出跟踪偏离。在本实施例中，为了检测出涉及的跟踪偏离，采用了如下所述的构成。
如图1所示，在本实施方式中，跟踪误差信号101被输入到跟踪伺服电路3，并且被输入到峰/谷检测电路5。峰/谷检测电路5检测出跟踪误差信号101的峰值102和谷值103，峰值102和谷值103被输入到差分电路6(由差动电路构成)。
差分电路6差动输入跟踪误差信号101的峰值102(Vpeak)和谷值103(Vbottom)，输出该差分(Vpeak-Vbottom)。差分电路6的输出信号104被输入到比较器7。比较器7对差分电路6的输出信号104和跟踪偏离的阈值所对应的规定的基准电压VR进行比较，当输出信号104的电平超过基准电压VR时，输出跟踪偏离信号105。
根据本实施例，通过上述步骤所检测出来的跟踪偏离信号105可以正确地显示跟踪的偏离状态，通过使用该跟踪偏离信号105，可以迅速地对跟踪偏离进行回归处理等。
(实施例)
以下对图1所示的上述实施方式的动作的一个示例进行说明。图2是表示图1所示的上述实施方式下的各部分的信号波形的一个具体示例(实施例)的图。在图2中，波形A表示从跟踪误差检测电路2输出的跟踪误差信号101的波形。并且在波形A中，标号102和103所示的波形(虚线表示)是由峰/谷检测电路5输出的峰信号和谷信号。波形B表示峰/谷检测电路5输出的峰信号102(峰值)的波形。波形C表示峰/谷检测电路5输出的谷信号103(谷值)的波形。波形D表示跟踪误差信号的峰值和谷值的差信号104(差分电路6的输出信号)的波形。波形E表示从比较器7输出的跟踪偏离信号105的波形。
并且，峰信号102的波形B从跟踪误差信号101变为峰的时刻开始，由于峰值容量(ホ一ルダ)的泄漏特性等，以规定的时间常数下降。谷信号103的波形C从跟踪误差信号101变为谷的时刻开始，由于谷值容量的泄漏特性等，以规定的时间常数上升。也就是说，峰/谷检测电路5的峰/谷容量特性被设定为规定的时间常数，以反映跟踪误差信号101的过渡特性。这是因为通过峰/谷检测电路5可以切实地检测峰值/谷值的变化。当峰/谷检测电路5中的峰值/谷值的容量特性(时间常数)过长时，就无法切实地检测出峰值/谷值的变化。
在本实施例中，比较跟踪误差信号101的峰信号102(峰值)和谷信号103(谷值)的差信号的电平和基准电压VR，检测跟踪偏离，在检测电路5中求得跟踪误差信号的峰值和谷值的过程中，和对跟踪误差信号极性对称地重叠的噪声及混乱等被消除(同相成分被去除)。因此，可以避免与跟踪误差信号重叠的噪声及混乱等引起的错误的跟踪偏离检测。
并且，在本实施例中，在求得跟踪误差信号101的峰值和谷值的差信号的过程中，DC偏移成分被消除。因此，即使跟踪误差信号101中含有负的DC偏移成分时，也可以正确地检测出跟踪偏离。跟踪误差信号101在图2和图7中是相同的波形，但在本实施例中，如图2所示，波形D(输入到比较器7的差信号104)在时刻t0之后，大于基准电压VR，波形E(跟踪偏离信号105)在时刻t0之后变为高电平。另一方面，在图7所示的例子中，波形H(跟踪偏离信号108)在时刻t0之后也不会立刻变为高电平，在暂时变为低电平后，成为高电平和低电平反复的脉冲波形，从而不是可表示跟踪偏离的固定高电平。
图3表示作为本发明的一个实施例的图1的峰/谷差检测电路10的构成的一个示例的图。参照图3，峰/谷差检测电路10由峰/谷检测电路5、和具有差动放大电路(运算放大器)33的差分电路(减法电路)6构成。
其中，峰值检测电路具有：差动放大电路31，非反转输入端子(+)和输入端子30连接，反转输入端子(-)和节点NP(输出了输入信号VIN的峰的容量值的节点)连接；二极管D1，其阳极和差动放大电路31的输出连接；电容C1，其一端和二极管D1的阴极连接；源极跟随器构成的NMOS晶体管M1，二极管D1的阴极和电容C1的一端的连接点的栅极连接，将电容C1的端子电压输出到源极；和电阻R1，其一端与晶体管M1的源极连接。
并且，谷值检测电路具有：差动放大电路32，非反转输入端子(+)和输入端子30连接，反转输入端子(-)和节点NB(输出了输入信号VIN的谷的容量值的节点)连接；二极管D2，其阴极和差动放大电路32的输出连接；电容C2，其一端和二极管D2的阳极连接；源极跟随器构成的PMOS晶体管M2，二极管D2的阳极和电容C2的一端的连接点与栅极连接，将电容C2的端子电压输出到源极；和电阻R2，其一端与晶体管M2的源极连接。差动放大电路31、32的高位侧电源电压和低位侧电源电压为VA、VB。晶体管M1的漏极和高位侧电源VA连接，晶体管M2的漏极和低位侧电源VB连接，电容C1和电容C2的另一端彼此连接，电阻R1和R2的另一端彼此连接，电容C1和电容C2的连接点和电位Vx连接。将电源电压VA、VB设为例如+5V、-5V这样的值相等极性相反的正负的电源电压时，Vx变为接地电位GND。并且，跟踪误差信号101在VA和VB的范围内即可，当跟踪误差信号101不为负时，也可将VB作为接地电位。和电容C1、C2并联连接的开关SW1、SW2是复位用的开关，在初始化时，使电容C1、C2的端子电压复位。电容C1中保持输入端子30的电压峰值，输出到节点NP，电容C2中保持输入端子30的电压的谷值，输出到节点NB。
差分电路6由使用了差动放大电路(运算放大器)33的减法电路构成。即，差动放大电路33的反转输入端子(-)通过电阻R3连接到节点NB，非反转输入端子(+)通过电阻R4连接到节点NA，输出端子34和反转输入端子(-)之间连接反馈电阻R5，非反转输入端子(+)通过电阻R6接地。将节点NP、NB的电压分别设为VPeak、VBottom，电阻R3、R4、R5、R6的电阻设为同一值R时，输出端子34的输出电压VOUT为：
VOUT＝-(VBottom-VPeak)
   ＝VPeak-VBottom
此外，图3所示的峰/谷差检测电路10的构成自身是已知的，但在本实施例中，为了使峰值、谷值的容量特性变为图2所示的信号波形102、103(参照波形A的虚线)、与跟踪误差信号101的变动和过渡特性对应，设定有电容C1、C2的容量值和其泄漏特性。这是因为，峰值、谷值的容量特性跨越跟踪误差信号101的多个周期而保持一定值时，无法正确检测出跟踪误差。此外，电容C1、C2的容量值、容量特性等当然也可以是可变的。
图3所示的电路构成是本发明中使用一个例子，只要可以检测出峰/谷差，当然也可以用其他任意的构成。在上述实施例中，峰/谷差检测电路10用模拟电路构成，当然也可以转换为数字信号并作为数字电路。对图1的峰/谷差检测电路用数字电路构成的示例作为第二实施例进行如下说明。
图4是表示本发明的第二实施例的构成的图。在本实施例中，将图1所示的模拟构成的峰/谷差检测电路10设计为数字构成的峰/谷差检测电路10A，并且具有监视跟踪偏离的监视电路11。
参照图4，在本发明的第二实施例中，峰/谷差检测电路10A具有：模拟数字转换电路51，将从跟踪误差检测电路2输出的跟踪误差信号101以规定的时钟周期采样，并转换为数字信号；峰/谷检测电路52，具有将来自模拟数字转换电路51的数字信号(多位宽的数字信号)按规定期间的采样数存储的缓冲器，从存储在缓冲器内的数字信号串中检测出峰值(MAX)102D和谷值(MIN)103D，并更新相对于上次采样的峰值(MAX)和谷值(MIN)；和计算峰值102D和谷值103D的差分的减法运算器61，其中，减法运算器61的输出信号(数字信号)104D被输入到比较器71(幅值比较器)，比较其值和基准值Ref的大小，当减法运算器61的输出信号104D大于基准值Ref时，将跟踪偏离信号105设为高电平。
跟踪偏离监视电路11具有计数器(监视计时器)，当输入的跟踪偏离信号105为激活状态(例如高电平)时，变为可计数，对输入的时钟进行计数，当跟踪偏离信号105为非激活状态(低电平)时，计数值被复位，设定为不可计数，当跟踪偏离信号105持续预先确定的规定时间(例如数100ms的命令)为高电平时，该计数器溢出，溢出信号作为控制信号111被输出。
或者，也可以使跟踪偏离监视电路11用模拟电路构成。具有：充电泵电路，例如跟踪偏离信号105在低电平期间，放电、复位，跟踪偏离信号105在高电平期间，用额定电流对电容充电；和比较器，比较充电泵电路的输出电压和规定的阈值电压，将比较结果作为控制信号111输出，其中，当跟踪偏离信号105的高电平期间持续(例如数100ms的命令)，充电泵的输出电压超过规定的阈值电压时，控制信号111被激活，不激活跟踪伺服电路3的控制。当跟踪伺服电路3不激活时，跟踪伺服电路3的输出也变为不激活状态，跟踪致动器4不进行光束点的位置控制。
根据本实施例，通过具有跟踪偏离监视电路11，在跟踪偏离连续发生时，仍可以防止跟踪致动器4的发生加热等。
以下对上述本实施例的效果进行说明。
按照本实施例，根据跟踪误差信号的峰值和谷值的差而检测跟踪偏离这样的构成，可以不受跟踪误差信号的DC偏移的影响，从而正常地检测出跟踪偏离。
并且根据本实施例，通过跟踪偏离持续规定的时间时停止跟踪伺服控制的构成，可以提高装置的安全性，延长使用寿命。即，当发生由于跟踪致动器4的加热等引起的故障时，其还原需要较长时间，在此期间，无法使用光盘装置(当需要交换配件时，不可使用时间更长)。与之相比，如果根据本发明，跟踪偏离引起的跟踪致动器加热等问题可以防忠于未然。
以上对本发明的上述实施例进行了说明，但本发明并不仅限于上述实施列的构成，在本发明的范围内的本领域技术人员可获得的各种变形、修正也包括在本发明内。

Claims (12)

1.一种光盘装置，其特征在于，具有：
输入表示聚光到光盘上的光束点相对于磁道的位置误差的、跟踪伺服控制下的跟踪误差信号，并求得所述跟踪误差信号的峰值和谷值的差的电路；和
比较所述峰值和谷值的差信号与预先确定的基准值，并根据比较结果检测跟踪偏离的电路。
2.根据权利要求1所述的光盘装置，其中，所述跟踪误差信号，在对光学信息存储介质进行信息的记录或重放时被输入。
3.根据权利要求1所述的光盘装置，其中，具有：当所述跟踪偏离持续了预先确定的规定时间时，控制停止跟踪伺服控制的电路。
4.一种光盘装置，对作为光学信息存储介质的磁盘上所排列的磁道进行光束点的跟踪位置控制，从而进行信息的记录和/或重放，其特征在于，具有：
跟踪误差检测电路，检测表示所述光束点相对于所述磁道的位置误差的、跟踪伺服控制下的跟踪误差信号；
检测电路，输入由所述跟踪误差检测电路输出的跟踪误差信号，并检测所述跟踪误差信号的峰值和谷值；
差分电路，求出来自所述检测电路的峰值和谷值的差；和
比较器，比较所述差分电路的输出信号和预先确定的规定的基准电平，当所述差分电路的输出电平超过所述基准电平时，将跟踪偏离信号以激活状态输出。
5.根据权利要求4所述的光盘装置，其中，所述跟踪误差信号，在对光学信息存储介质进行信息的记录或重放时被检测出。
6.根据权利要求4所述的光盘装置，其中，
具有：
跟踪致动器，对所述光束点相对于所述磁道的位置进行驱动控制；和
跟踪伺服电路，输入从所述跟踪误差检测电路输出的所述跟踪误差信号，根据所述跟踪误差信号，控制所述跟踪致动器的驱动，
还具有监视电路，监视所述跟踪偏离信号，当检测到所述跟踪偏离信号在规定的时间内持续处于激活状态时，控制停止所述跟踪伺服电路控制的所述跟踪致动器。
7.一种光盘装置，对作为光学信息存储介质的磁盘上所排列的磁道进行光束点的跟踪位置控制，从而进行信息的记录和/或重放，其特征在于，具有：
跟踪误差检测电路，检测表示所述光束点相对于所述磁道的位置误差的、跟踪伺服控制下的跟踪误差信号；
模拟数字电路，对由所述跟踪误差检测电路输出的模拟时间连续的跟踪误差信号进行采样，并转换为数字信号输出；
峰/谷检测电路，在预先确定的规定期间内，检测和从所述模拟数字电路输出的数字信号的采样串相关的峰值和谷值并输出；
减法运算器，求出来自所述峰/谷检测电路的峰值和谷值的差；和
比较器，比较所述减法运算器的输出值和预先确定的规定的基准值，当所述减法运算器的输出超过所述基准值时，将跟踪偏离信号以激活状态输出。
8.根据权利要求7所述的光盘装置，其中，所述跟踪误差信号，在对光学信息存储介质进行信息的记录或重放时被检测出。
9.根据权利要求7所述的光盘装置，其中，
具有：
跟踪致动器，对所述光束点相对于所述磁道的位置进行驱动控制；和
跟踪伺服电路，输入从所述跟踪误差检测电路输出的所述跟踪误差信号，根据所述跟踪误差信号，控制所述跟踪致动器的驱动；
还具有监视电路，监视所述跟踪偏离信号，当检测到所述跟踪偏离信号在规定的时间内持续处于激活状态时，控制停止所述跟踪伺服电路控制的所述跟踪致动器。
10.一种光盘装置的跟踪控制方法，其特征在于，包括：
根据表示聚光到光盘上的光束点相对于磁道的位置误差的、跟踪伺服控制下的跟踪误差信号，求出所述跟踪误差信号的峰值和谷值的差的步骤；和
比较所述峰值和谷值的差信号与预先确定的基准值，并根据比较结果检测跟踪偏离的步骤。
11.根据权利要求10所述的光盘装置的跟踪控制方法，其中，所述跟踪误差信号，在对光学信息存储介质进行信息的记录或重放时被输入。
12.根据权利要求10所述的光盘装置的跟踪控制方法，其中，包括：当所述跟踪偏离持续了预先确定的规定时间时，控制停止跟踪伺服控制的步骤。
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