JPH03192534A - フォーカスエラー信号検出方法 - Google Patents
フォーカスエラー信号検出方法Info
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- JPH03192534A JPH03192534A JP33170789A JP33170789A JPH03192534A JP H03192534 A JPH03192534 A JP H03192534A JP 33170789 A JP33170789 A JP 33170789A JP 33170789 A JP33170789 A JP 33170789A JP H03192534 A JPH03192534 A JP H03192534A
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
分割光検出器を用いて光ディスクの反射光のスポットサ
イズを検出することにより、フォーカスエラー信号を検
出するフォーカスエラー信号検出方法に関し、 クロストークを低減することを目的とし、光源からの出
射光を光学系を介して光ディスクに集束し、該光ディス
クからの反射光のスポット・サイズを分割光検出器を用
いて検出し、該分割光検出器の出力信号を演算してフォ
ーカスエラー信号を得るフォーカスエラー信号検出方法
において、前記分割光検出器を、３個の短冊状の受光素
子を平行配置した３分ｊｆＱ光検出器Ｏ１にて構成し、
該３個の受光素子の常時出力の総和量信号を検出すると
共に、トラック横断命令を受けた時に、その直前の前記
総和量信号の値から前記トラック横断命令後の前記総和
量信号を減算した値に、予め設定した定数を乗算した補
正値を求め、前記フォーカスエラー信号から前記補正値
を減算した値を前記トラック横断中の補正フォーカスエ
ラー信号として取り出して構成する。
イズを検出することにより、フォーカスエラー信号を検
出するフォーカスエラー信号検出方法に関し、 クロストークを低減することを目的とし、光源からの出
射光を光学系を介して光ディスクに集束し、該光ディス
クからの反射光のスポット・サイズを分割光検出器を用
いて検出し、該分割光検出器の出力信号を演算してフォ
ーカスエラー信号を得るフォーカスエラー信号検出方法
において、前記分割光検出器を、３個の短冊状の受光素
子を平行配置した３分ｊｆＱ光検出器Ｏ１にて構成し、
該３個の受光素子の常時出力の総和量信号を検出すると
共に、トラック横断命令を受けた時に、その直前の前記
総和量信号の値から前記トラック横断命令後の前記総和
量信号を減算した値に、予め設定した定数を乗算した補
正値を求め、前記フォーカスエラー信号から前記補正値
を減算した値を前記トラック横断中の補正フォーカスエ
ラー信号として取り出して構成する。
本発明はフォーカスエラー信号（Ｆｏｃｕｓ Ｅｒｒｏ
ｒＳｉｇｎａｌ ；以下ＦＥＳと略称する）検出方法に
係り、特に分割光検出器を用いて光ディスクの反射光の
スポットサイズを検出することにより、ＦＥＳを検出す
るＦＥＳ検出方法に関する。
ｒＳｉｇｎａｌ ；以下ＦＥＳと略称する）検出方法に
係り、特に分割光検出器を用いて光ディスクの反射光の
スポットサイズを検出することにより、ＦＥＳを検出す
るＦＥＳ検出方法に関する。
追記型あるいは書替え可能性の光ディスクに対して情報
を記録・再生する光デイスク装置においては、対物レン
ズにより集束して光スポットを光デイスク上に形成する
。このとき、光スポットが光デイスク上の溝を横切って
も安定にＦＥＳを検出することが必要とされる。
を記録・再生する光デイスク装置においては、対物レン
ズにより集束して光スポットを光デイスク上に形成する
。このとき、光スポットが光デイスク上の溝を横切って
も安定にＦＥＳを検出することが必要とされる。
従来より光デイスク装置におけるＦＥＳの検出には、ス
ポット・サイズ・デイテクション法（以下ＳＳＤ法と略
称する）が用いられる。
ポット・サイズ・デイテクション法（以下ＳＳＤ法と略
称する）が用いられる。
第５図はＳＳＤ法によるＦＥＳ検出説明図を示す。この
ＳＳＤ法は、第５図（ａｌに示す如く、光ディスクから
対物レンズ（いずれも図示せず）を経た光を平凸レンズ
１で収束して３分割光検出器２（または３）に入射する
。
ＳＳＤ法は、第５図（ａｌに示す如く、光ディスクから
対物レンズ（いずれも図示せず）を経た光を平凸レンズ
１で収束して３分割光検出器２（または３）に入射する
。
３分割光検出器２は第５図（ｂ）〜（ｄ）に示す如く、
短冊状に３分割された受光素子２Ａ、 ２Ｂおよび２Ｃ
から構成されている。３分割光検出器３も同様に第５図
（ｅｌ〜（ｇｌに示す如く、３個の受光素子３Ａ、 ３
Ｂおよび３Ｃから構成されている。なお、３分割光検出
器２は光検出器３より平凸レンズ１側に位置するもので
、これらの一方のみが光デイスク装置に設けられる。即
ち、便宜上２つの３分割光検出器２゜３が同時に図示さ
れている。
短冊状に３分割された受光素子２Ａ、 ２Ｂおよび２Ｃ
から構成されている。３分割光検出器３も同様に第５図
（ｅｌ〜（ｇｌに示す如く、３個の受光素子３Ａ、 ３
Ｂおよび３Ｃから構成されている。なお、３分割光検出
器２は光検出器３より平凸レンズ１側に位置するもので
、これらの一方のみが光デイスク装置に設けられる。即
ち、便宜上２つの３分割光検出器２゜３が同時に図示さ
れている。
記録媒体である光ディスクが対物レンズの焦点位置を基
準にして対物レンズから遠ざかると、３分割光検出器２
．３の受光面の光スポットは第５図（ｂ）、 （ｅ）に
示す如く受光面積が大となり、近づくときは同図ｆｄ）
、 （ｇｌに示す如く受光面積が小となり、丁度焦点位
置にあるときは同図（ｃｌ、 （ｆ）に示す如くになる
。
準にして対物レンズから遠ざかると、３分割光検出器２
．３の受光面の光スポットは第５図（ｂ）、 （ｅ）に
示す如く受光面積が大となり、近づくときは同図ｆｄ）
、 （ｇｌに示す如く受光面積が小となり、丁度焦点位
置にあるときは同図（ｃｌ、 （ｆ）に示す如くになる
。
ＳＳＤ法では、このように光ディスクと対物レンズとの
間の相対距離に応じて３分割光検出器２または３の受光
面上の光スポットの面積が変化することを利用してＦＥ
Ｓを検出する。
間の相対距離に応じて３分割光検出器２または３の受光
面上の光スポットの面積が変化することを利用してＦＥ
Ｓを検出する。
例えば、３分割光検出器２の分割光検出器。
２Ｂおよび２Ｃの各出力信号の値をＡ、ＢおよびＣで表
すものとすると、（Ａ＋Ｃ）−Ｂなる演算式に基づいて
ＦＥＳを得る。あるいは、３分割光検出器３の分割受光
素子３Ａ、 ３Ｂおよび３Ｃの各出力信号の値をＡ、Ｂ
およびＣで表すものとすると、フォーカス感度を上げる
ためにゲイン比Ｇを用いて、Ｇｘ （Ａ＋Ｃ）−Ｂなる
演算式に基づいてＦＥＳを得る方法もある。この場合Ｇ
の値を決定するための光デイスク上のスポット位置は、
予め定めた位置、例えばトラッキングエラー信号が最大
になる位置あるいは分割受光素子の出力の総和、即ち総
和量信号が最大になる位置等において行う。
すものとすると、（Ａ＋Ｃ）−Ｂなる演算式に基づいて
ＦＥＳを得る。あるいは、３分割光検出器３の分割受光
素子３Ａ、 ３Ｂおよび３Ｃの各出力信号の値をＡ、Ｂ
およびＣで表すものとすると、フォーカス感度を上げる
ためにゲイン比Ｇを用いて、Ｇｘ （Ａ＋Ｃ）−Ｂなる
演算式に基づいてＦＥＳを得る方法もある。この場合Ｇ
の値を決定するための光デイスク上のスポット位置は、
予め定めた位置、例えばトラッキングエラー信号が最大
になる位置あるいは分割受光素子の出力の総和、即ち総
和量信号が最大になる位置等において行う。
前記演算式（Ａ＋Ｃ）−Ｂは、後者のＧ＝１の特別の場
合と見做せる。従って、このＦＥＳの値が零となるよう
に対物レンズの位置制御を行うことにより焦点位置を一
定に保持することができる。
合と見做せる。従って、このＦＥＳの値が零となるよう
に対物レンズの位置制御を行うことにより焦点位置を一
定に保持することができる。
ところで、光ディスクには製造段階でプリグループと呼
ばれる案内溝が予め形成されているものがあり、このプ
リグループを有する光ディスクに対しては、シーク時な
ど光スポットがプリグループを横断するときに反射光パ
ターンが変化するため、ＦＥＳが影響を受け、ＦＥＳが
変動する。この変動はクロストークと呼称されており、
フォーカス制御上はあってはならないものである。しか
し、ＳＳＤ法の場合は特にこの影響を受は易い欠点があ
る。
ばれる案内溝が予め形成されているものがあり、このプ
リグループを有する光ディスクに対しては、シーク時な
ど光スポットがプリグループを横断するときに反射光パ
ターンが変化するため、ＦＥＳが影響を受け、ＦＥＳが
変動する。この変動はクロストークと呼称されており、
フォーカス制御上はあってはならないものである。しか
し、ＳＳＤ法の場合は特にこの影響を受は易い欠点があ
る。
本発明は上記従来の欠点に鑑みてなされたもので、クロ
ストークを低減し得るＦＥＳ検出方法の提供を目的とす
る。
ストークを低減し得るＦＥＳ検出方法の提供を目的とす
る。
第１図は本発明の方法を適用した一実施例の回路図であ
る。光源からの出射光を光学系を介して光ディスクに集
束し、該光ディスクからの反射光のスポット・サイズを
分割光検出器１０を用いて検出し、該分割光検出器１０
の出力信号を演算してＦＥＳを得るＦＥＳ検出方法にお
いて、前記分割光検出器１０を３個の短冊状の受光素子
１０Ａ、１０Ｂ。
る。光源からの出射光を光学系を介して光ディスクに集
束し、該光ディスクからの反射光のスポット・サイズを
分割光検出器１０を用いて検出し、該分割光検出器１０
の出力信号を演算してＦＥＳを得るＦＥＳ検出方法にお
いて、前記分割光検出器１０を３個の短冊状の受光素子
１０Ａ、１０Ｂ。
１０Ｃを平行配置した３分割光検出器１０にて構成し、
該３個の受光素子１０Ａ、１０Ｂ、１０Ｃの常時出力の
総和量信号を検出すると共に、トラック横断命令を受け
た時に、その直前の前記総和量信号の値から前記トラッ
ク横断命令後の前記総和量信号を減算した値に、予め設
定した定数を乗算した補正値を求め、前記ＦＥＳから前
記補正値を減算した値を前記トラック横断中の補正ＦＥ
Ｓとして取り出す構成としたものである。
該３個の受光素子１０Ａ、１０Ｂ、１０Ｃの常時出力の
総和量信号を検出すると共に、トラック横断命令を受け
た時に、その直前の前記総和量信号の値から前記トラッ
ク横断命令後の前記総和量信号を減算した値に、予め設
定した定数を乗算した補正値を求め、前記ＦＥＳから前
記補正値を減算した値を前記トラック横断中の補正ＦＥ
Ｓとして取り出す構成としたものである。
本発明はＦＥＳのクロストークが、分割光検出器１０の
総和量信号に関連していることに着目したものである。
総和量信号に関連していることに着目したものである。
即ち、クロストークは第４図に１で示す如く、本来光ス
ポットが在るべき位Ｗ（トラック位置Ｏ）に在る時は零
であるが、このトラック位置からトラック横断方向にず
れるに従って単調に増加し、±１／２トラックずれた時
に最大となる。
ポットが在るべき位Ｗ（トラック位置Ｏ）に在る時は零
であるが、このトラック位置からトラック横断方向にず
れるに従って単調に増加し、±１／２トラックずれた時
に最大となる。
一方、総和量信号は第４図に■で示す如く、光スポット
がトラック位置Ｏに在る時は最大となり、このトラック
位置からトラック横断方向にずれるに従って単調に減少
し、±１／２トラックずれた時に最小となる。
がトラック位置Ｏに在る時は最大となり、このトラック
位置からトラック横断方向にずれるに従って単調に減少
し、±１／２トラックずれた時に最小となる。
従って、総和量信号を用いてクロストークを補正してや
れば、トラック横断時に全横断区間にわたってクロスト
ークを大きく低減することができる。
れば、トラック横断時に全横断区間にわたってクロスト
ークを大きく低減することができる。
以下本発明の実施例を図面によって詳述する。
第１図は本発明の方法を適用した一実施例の回路図であ
る。図において、１０は分割光検出器で光源から出射さ
れ、所定の光学系を経て対物レンズを通過して光ディス
ク（いずれも図示せず）に照射された光ビームがこの光
ディスクで反射され、その反射光が対物レンズ及び集束
レンズ（第４図の平凸レンズ１に相当）をそれぞれ通過
して分割光検出器１０に入射される。従って、この分割
光検出器１０の受光面の光スポットの面積は第４図（ｂ
）〜ｆｄ）または（ｅ）〜（幻に示したように、光ディ
スクと対物レンズとの相対距離に応じて変化する。
る。図において、１０は分割光検出器で光源から出射さ
れ、所定の光学系を経て対物レンズを通過して光ディス
ク（いずれも図示せず）に照射された光ビームがこの光
ディスクで反射され、その反射光が対物レンズ及び集束
レンズ（第４図の平凸レンズ１に相当）をそれぞれ通過
して分割光検出器１０に入射される。従って、この分割
光検出器１０の受光面の光スポットの面積は第４図（ｂ
）〜ｆｄ）または（ｅ）〜（幻に示したように、光ディ
スクと対物レンズとの相対距離に応じて変化する。
分割光検出器１０は、３個の短冊状の受光素子１０Ａ、
１０Ｂ、１０Ｃを平行配置（１０Ｃを中央位置に配置）
した３分割光検出器にて構成している。受光素子１０Ａ
〜１０Ｃは光電変換を行い、それぞれの受光面への入射
光の光強度に応じた電流を電流／電圧変換器１１Ａ〜Ｉ
ＩＣにそれぞれ供給する。
１０Ｂ、１０Ｃを平行配置（１０Ｃを中央位置に配置）
した３分割光検出器にて構成している。受光素子１０Ａ
〜１０Ｃは光電変換を行い、それぞれの受光面への入射
光の光強度に応じた電流を電流／電圧変換器１１Ａ〜Ｉ
ＩＣにそれぞれ供給する。
電流／電圧変換器１１Ａ及び〜ＩＩＢから取り出した電
圧ＡおよびＢは、抵抗Ｒ，，Ｒ２を介して加算されてか
ら演算増幅器１２の反転入力端子に供給されて所定の利
得で反転増幅される。この利得Ｇは演算増幅器１２の帰
還抵抗Ｒ４を調整することにより可変することができる
。これにより演算増幅器１２からは一〇、Ｘ（Ａ＋Ｂ）
で表される電圧が取り出される。
圧ＡおよびＢは、抵抗Ｒ，，Ｒ２を介して加算されてか
ら演算増幅器１２の反転入力端子に供給されて所定の利
得で反転増幅される。この利得Ｇは演算増幅器１２の帰
還抵抗Ｒ４を調整することにより可変することができる
。これにより演算増幅器１２からは一〇、Ｘ（Ａ＋Ｂ）
で表される電圧が取り出される。
一方、電流／電圧変換器１１Ｃから取り出された電圧゛
Ｃは抵抗Ｒ３を介して演算増幅器１３の反転入力端子に
供給されて所定の利得で反転増幅される。
Ｃは抵抗Ｒ３を介して演算増幅器１３の反転入力端子に
供給されて所定の利得で反転増幅される。
このときの利得は演算増幅器１３の帰還抵抗Ｒ５や上記
の抵抗Ｒ３により定まる。ここでは演算増幅器１３から
−Ｃで表される電圧が取り出される。
の抵抗Ｒ３により定まる。ここでは演算増幅器１３から
−Ｃで表される電圧が取り出される。
演算増幅器１２及び１３から取り出された各信号は、そ
れぞれ抵抗Ｒ６，Ｒ？、Ｒ８，Ｒ９及び演算増幅器１４
からなる差動増幅回路部により差動増幅され、演算増幅
器１４からＧＸ （Ａ＋Ｂ）−Ｃで表される値の信号が
取り出される。即ち、この信号は従来の演算式によるＦ
ＥＳであ、る。
れぞれ抵抗Ｒ６，Ｒ？、Ｒ８，Ｒ９及び演算増幅器１４
からなる差動増幅回路部により差動増幅され、演算増幅
器１４からＧＸ （Ａ＋Ｂ）−Ｃで表される値の信号が
取り出される。即ち、この信号は従来の演算式によるＦ
ＥＳであ、る。
抵抗Ｒ＋ｏ＋Ｒｚ＋Ｒ＋ｚは、電圧Ａ、Ｂ及びＣをそれ
ぞれ加算して演算増幅器１５の反転入力端子に供給する
。抵抗ＲＩ３は演算増幅器１５の利得が１となるように
設定する。ここで演算増幅器１５から−（Ａ＋Ｂ＋Ｃ）
で表される値の総和量信号が取り出される。この総和量
信号はシーク時には第４図の■にて説明したようにトラ
ック位置に対応して変動する。
ぞれ加算して演算増幅器１５の反転入力端子に供給する
。抵抗ＲＩ３は演算増幅器１５の利得が１となるように
設定する。ここで演算増幅器１５から−（Ａ＋Ｂ＋Ｃ）
で表される値の総和量信号が取り出される。この総和量
信号はシーク時には第４図の■にて説明したようにトラ
ック位置に対応して変動する。
この総和量信号はスイッチＳ、を介して演算増幅器１６
とコンデンサＣ１とからなるサンプルホルダー回路の反
転入力端子に供給される。このスイッチＳ、は図示しな
い外部回路からのスイッチ制御信号により駆動され、実
線側の接続線は常時、破線側の接続線はトラック横断命
令に対応するシーク時に接続される。
とコンデンサＣ１とからなるサンプルホルダー回路の反
転入力端子に供給される。このスイッチＳ、は図示しな
い外部回路からのスイッチ制御信号により駆動され、実
線側の接続線は常時、破線側の接続線はトラック横断命
令に対応するシーク時に接続される。
演算増幅器１６は利得１倍の正相増幅器として働いてい
るから常時は、スイッチＳ１を介して演算増幅器１５の
出力がそのまま演算増幅器１６から出力され、同時に演
算増幅器１５の出力の変動する値のピーク値がコンデン
サＣ＋に充電保持される。このコンデンサＣ１の容量は
最大シーク時間を保持できるものであればよい。スイッ
チＳ１がトラック横断命令に基づきシーク側に駆動され
ると、コンデンサＣ１に充電保持された演算増幅器１５
の出力−（Ａ＋Ｂ＋Ｃ）の値（トラック横断命令の直前
の値）−Ｘで表される値の信号が演算増幅器１６から出
力される。
るから常時は、スイッチＳ１を介して演算増幅器１５の
出力がそのまま演算増幅器１６から出力され、同時に演
算増幅器１５の出力の変動する値のピーク値がコンデン
サＣ＋に充電保持される。このコンデンサＣ１の容量は
最大シーク時間を保持できるものであればよい。スイッ
チＳ１がトラック横断命令に基づきシーク側に駆動され
ると、コンデンサＣ１に充電保持された演算増幅器１５
の出力−（Ａ＋Ｂ＋Ｃ）の値（トラック横断命令の直前
の値）−Ｘで表される値の信号が演算増幅器１６から出
力される。
演算増幅器１７は可変利得の増幅器であって、その利得
には帰還抵抗ＲＩ ’７の調整によって行う。演算増幅
器１７の＋側入力端子には抵抗ＲＩ４ とＲ１６を介し
て演算増幅器１５の出力−（Ａ＋Ｂ＋Ｃ）が供給され、
反転入力端子には演算増幅器１６の出力が抵抗ＲＩ５を
介して入力されている。また、演算増幅器１７の出力は
スイッチＳ１と連動するスイッチＳ２と抵抗ＲＩ８を介
して演算増幅器１８の反転入力端子に供給されている。
には帰還抵抗ＲＩ ’７の調整によって行う。演算増幅
器１７の＋側入力端子には抵抗ＲＩ４ とＲ１６を介し
て演算増幅器１５の出力−（Ａ＋Ｂ＋Ｃ）が供給され、
反転入力端子には演算増幅器１６の出力が抵抗ＲＩ５を
介して入力されている。また、演算増幅器１７の出力は
スイッチＳ１と連動するスイッチＳ２と抵抗ＲＩ８を介
して演算増幅器１８の反転入力端子に供給されている。
スイッチＳ２の実線と破線の接続線の意味はスイッチＳ
Ｉと同じで連動する。
Ｉと同じで連動する。
スイッチが通常側にあるときは、演算増幅器１７の出力
側はスイッチＳ２が開放され、かつ抵抗Ｒ１１１の一方
を接地側に接続しているため、演算増幅器１８は＋側入
力端子に供給される演算増幅器１４の出力であるＧＸ
（Ａ＋Ｂ）−Ｃの値がそのままＦＥＳ出力端子１９に出
力できるように帰還抵抗Ｒ２Ｉを設定する。
側はスイッチＳ２が開放され、かつ抵抗Ｒ１１１の一方
を接地側に接続しているため、演算増幅器１８は＋側入
力端子に供給される演算増幅器１４の出力であるＧＸ
（Ａ＋Ｂ）−Ｃの値がそのままＦＥＳ出力端子１９に出
力できるように帰還抵抗Ｒ２Ｉを設定する。
トラック横断命令によりスイッチＳ、、 Ｓ、がシーク
側に駆動された時には演算増幅器１７は、＋側入力端子
に供給されるー（Ａ＋Ｂ＋Ｃ）から反転入力端子に供給
されるーＸ（総和量信号の値）を減算した値に利得Ｋを
乗算した値ＫＸ （Ｘ−（Ａ＋Ｂ＋Ｃ））、即ちトラッ
ク横断命令を受けた時に、その直前の前記総和量信号の
値から前記トラック横断命令後の前記総和量信号を減算
した値に、予め設定した定数を乗算した補正値を出力す
る。
側に駆動された時には演算増幅器１７は、＋側入力端子
に供給されるー（Ａ＋Ｂ＋Ｃ）から反転入力端子に供給
されるーＸ（総和量信号の値）を減算した値に利得Ｋを
乗算した値ＫＸ （Ｘ−（Ａ＋Ｂ＋Ｃ））、即ちトラッ
ク横断命令を受けた時に、その直前の前記総和量信号の
値から前記トラック横断命令後の前記総和量信号を減算
した値に、予め設定した定数を乗算した補正値を出力す
る。
演算増幅器１８は＋側入力端子に供給される値ＧＸ （
Ａ＋Ｂ）−Ｃ１即ちＦＥＳから反転入力端子に入力され
る値、即ち補正値を減算しＦＥＳ出力端子１９に取り出
される。この出力Ｑｘ （Ａ＋Ｂ）−Ｃ−ＫＸ （Ｘ−
（Ａ＋Ｂ＋Ｃ））が零に近づくように抵抗Ｒ１を調整す
ることによりＫの値を決定し、トラック横断中の補正Ｆ
ＥＳをＦＥＳ出力端子１９に得ることができる。
Ａ＋Ｂ）−Ｃ１即ちＦＥＳから反転入力端子に入力され
る値、即ち補正値を減算しＦＥＳ出力端子１９に取り出
される。この出力Ｑｘ （Ａ＋Ｂ）−Ｃ−ＫＸ （Ｘ−
（Ａ＋Ｂ＋Ｃ））が零に近づくように抵抗Ｒ１を調整す
ることによりＫの値を決定し、トラック横断中の補正Ｆ
ＥＳをＦＥＳ出力端子１９に得ることができる。
第２図は本実施例と従来のクロストーク量を対比して示
す図であって、第４図と同様に横軸にはトラック位置を
、縦軸にはクロストークの相対値を％で示し、破線の特
性線は従来の方式ＦＥＳ＝ＧＸ （Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋
Ｄ）； Ｇ＝２．３９のクロストーク量、実線の特性線
は本発明の方式ＦＥＳ＝ＧＸ （Ａ十Ｂ）−Ｃ−ＫＸ
ＣＸ−（Ａ＋Ｂ＋Ｃ））、 Ｇ ＝２．３９ ； Ｋ
＝０．４５８のクロストーク量をそれぞれ示す。本発明
を実施することによりクロストークが減少していること
が分かる。
す図であって、第４図と同様に横軸にはトラック位置を
、縦軸にはクロストークの相対値を％で示し、破線の特
性線は従来の方式ＦＥＳ＝ＧＸ （Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋
Ｄ）； Ｇ＝２．３９のクロストーク量、実線の特性線
は本発明の方式ＦＥＳ＝ＧＸ （Ａ十Ｂ）−Ｃ−ＫＸ
ＣＸ−（Ａ＋Ｂ＋Ｃ））、 Ｇ ＝２．３９ ； Ｋ
＝０．４５８のクロストーク量をそれぞれ示す。本発明
を実施することによりクロストークが減少していること
が分かる。
第３図は本実施例と従来のシーク時の光量が変化した場
合のクロストーク量を対比して示す図であって、横軸に
はトラック位置、縦軸には総和量相対値とクロストーク
相対値を％で示す。図の左側は高レベルの光量でシーク
した場合を示し、右側は低レベルの光量でシークした場
合を示しているが、光量が変化すると基準値Ｘも変化す
るためクロストークの減少効果に変わりがないことが理
解できる。
合のクロストーク量を対比して示す図であって、横軸に
はトラック位置、縦軸には総和量相対値とクロストーク
相対値を％で示す。図の左側は高レベルの光量でシーク
した場合を示し、右側は低レベルの光量でシークした場
合を示しているが、光量が変化すると基準値Ｘも変化す
るためクロストークの減少効果に変わりがないことが理
解できる。
なお、受光素子１０Ｃは１個の受光素子で説明したが、
通常は同じ分割光検出器を用いてＦＥＳとトラッキング
エラー信号とを同時に検出するものであり、この場合ト
ラッキングエラー信号の検出には受光素子１０Ｃを中央
で２分割してその出力をＣａとｃｂに分けて取り出し、
ＣａとｃｂＯ差を利用する場合がある。従って、本発明
のＦＥＳ検出方法にこの４分割光検出器を用いる場合は
Ｃ＝Ｃａ＋Ｃｂとして利用できることはいうまでもない
。
通常は同じ分割光検出器を用いてＦＥＳとトラッキング
エラー信号とを同時に検出するものであり、この場合ト
ラッキングエラー信号の検出には受光素子１０Ｃを中央
で２分割してその出力をＣａとｃｂに分けて取り出し、
ＣａとｃｂＯ差を利用する場合がある。従って、本発明
のＦＥＳ検出方法にこの４分割光検出器を用いる場合は
Ｃ＝Ｃａ＋Ｃｂとして利用できることはいうまでもない
。
以上の説明から明らかなように本発明によれば、シーク
時にトラックの全範囲にわたってクロストークを低減す
ることができ、安定なフォーカスサーボができる効果が
ある。
時にトラックの全範囲にわたってクロストークを低減す
ることができ、安定なフォーカスサーボができる効果が
ある。
第３図は本実施例と従来のシーク時の光量が変化した場
合のクロストーク量を対比して示す図、第４図はクロス
トークと総和量信号との関係を示す図、 第５図はＳＳＤ法によるＦＥＳ検出説明図を示す。
合のクロストーク量を対比して示す図、第４図はクロス
トークと総和量信号との関係を示す図、 第５図はＳＳＤ法によるＦＥＳ検出説明図を示す。
第１図において、１０は分割光検出器（３分割光検出器
）■ＯＡと１０Ｂと１０Ｃは受光素子、ＩＩＡと１１Ｂ
とＩＩＣは電流／電圧変換器、１９はＦＥＳ出力端子を
それぞれ示す。
）■ＯＡと１０Ｂと１０Ｃは受光素子、ＩＩＡと１１Ｂ
とＩＩＣは電流／電圧変換器、１９はＦＥＳ出力端子を
それぞれ示す。
第１図は本発明の方法を適用した一実施例の回路図、
第２図は本実施例と従来のクロストーク量を対比して示
す図、 ４−’１ＪｆＰＩｔ状Ｊシｙｏストー７量ｔｔ ＃ Ｉ
ｆｌ、 ｔ ７ｉ７ｒ’Ｂ第７ｒ ’Ｂ ０．３７４
す図、 ４−’１ＪｆＰＩｔ状Ｊシｙｏストー７量ｔｔ ＃ Ｉ
ｆｌ、 ｔ ７ｉ７ｒ’Ｂ第７ｒ ’Ｂ ０．３７４
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 光源からの出射光を光学系を介して光ディスクに集束し
、該光ディスクからの反射光のスポット・サイズを分割
光検出器（１０）を用いて検出し、該分割光検出器の出
力信号を演算してフォーカスエラー信号を得るフォーカ
スエラー信号検出方法において、 前記分割光検出器を、３個の短冊状の受光素子（１０Ａ
、１０Ｂ、１０Ｃ）を平行配置した３分割光検出器（１
０）にて構成し、 該３個の受光素子の常時出力の総和量信号を検出すると
共に、 トラック横断命令を受けた時に、その直前の前記総和量
信号の値から前記トラック横断命令後の前記総和量信号
を減算した値に、予め設定した定数を乗算した補正値を
求め、 前記フォーカスエラー信号から前記補正値を減算した値
を前記トラック横断中の補正フォーカスエラー信号とす
ることを特徴とするフォーカスエラー信号検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33170789A JPH03192534A (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | フォーカスエラー信号検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33170789A JPH03192534A (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | フォーカスエラー信号検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03192534A true JPH03192534A (ja) | 1991-08-22 |
Family
ID=18246691
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33170789A Pending JPH03192534A (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | フォーカスエラー信号検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03192534A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005119667A1 (en) * | 2004-06-01 | 2005-12-15 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Radial to focus cross talk cancellation in optical storage systems. |
| KR100644592B1 (ko) * | 1999-12-01 | 2006-11-13 | 삼성전자주식회사 | 인접트랙에 의한 크로스톡이 저감된 재생신호 검출가능한광픽업장치 및 재생신호 검출방법 |
-
1989
- 1989-12-20 JP JP33170789A patent/JPH03192534A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100644592B1 (ko) * | 1999-12-01 | 2006-11-13 | 삼성전자주식회사 | 인접트랙에 의한 크로스톡이 저감된 재생신호 검출가능한광픽업장치 및 재생신호 검출방법 |
| WO2005119667A1 (en) * | 2004-06-01 | 2005-12-15 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Radial to focus cross talk cancellation in optical storage systems. |
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