Profilprufgerat.
Gegenstand vorliegender Erfindung ist ein Profilprüfgerät, das denselben Zweck hat, wie bekannte Messmikroskope, die vorzugsweise gebraucht werden zum Messen und Prüfen von Lehren, Werkzeugen und ändern mechanischen Teilen, und in der Fachwelt auch unter dem Namen"Profil-Messmikro- skop"bekannt sind.
Bekannt sind Messmikroskope mit zwischen Objektiv und Okular eingebauten, beweglichen oder festen Glasstrichplatten und MeBmikroskope zur Vergleichsmessung, welche eine Skala oder eine Profilplatte oder ein Originalstüek von der Grösse des zu prü- fenden Objektes mit diesem Prüfstück mass- stäblich übereinstimmend abbilden. Die Herstellung von Glasstrichplatten mit Sollprofil. sowie deren Einbau kann nur vom Spezia- listen vorgenommen werden.
Das erfindungsgemässe Profilprüfgerät ist dadurch gekennzeichnet, dass es ein Mikroskop und eine optische Projektionseinrichtung aufweist, welche gestatten, das Bild eines mikroskopisch zu prüfenden Objektes gleiehzeitig mit dem Bild eines gegenüber diesem Objekt vergrösserten Vergleichsmittels zu betrachten.
Das vergrösserte Vergleichsmittel kann eine vergrösserte Zeichnung (eine sog. Refe- renzzeichnung), eine vergrösserte Skala, ein vergrösserter Massstab, ein vergrössertes Modell usw. sein. Glasstriehplatten oder Profilplatten werden also nicht mehr notwendig.
In den weitaus meisten Fällen wird man eine vergrösserte Zeichnung verwenden. Diese Zeichnung lässt sieh jederzeit und ohne Schwierigkeiten auf geeignetem Material in jedem technischen Büro herstellen. Je nach der Grösse des zu prüfenden Objektes wählt man im Mikroskop eine passende Vergrösserung, zum Beispiel eine 10-, 20-, 30fache usw.
Die Referenzzeichnung wird dann vorzugsweise in dem Massstab der angewandten Ver grösserung, also zum Beispiel im Massstab @ 10 : 1, 20 : 1, 30 : 1 usw. angefertigt. Dies er möglicht eine grosse Genauigkeit in, der Herstellung der Referenzzeichnung. Die Pr feinrichtung ist zweckmässig so gebaut, dass das Vergleichsmittel vom Benutzer nach Be- lieben eingelegt und entfernt werden kann ; so kann ein und dasselbe Instrument für die ver schiedensten Profile und Vergrösserungen be- nützt werden.
Das Gerät kann f r Schwarz-Wei¯bilder oder andersfarbige Bilder ausgeführt sein.
Beiliegende Zeichnung zeigt in schema tischer Weise eine beispielsweise Ausfüh- rungssform des Erfindungsgegenstandes.
Das Mikroskop hat einen als bewegliehen Messtisch ausgebildeten Objektträger l mit an sich bekannten, sich kreuzenden Messspin- deln, auf welchem Tisch das zu prüfende Objekt 2 ruht. Die diaskopische Beleuchtung er- folgt durch eine Lichtquelle 3, deren Strahlen vom Kondensator 4 aufgenommen werden. durch eine veränderliche Blende 5 auf den Umlenkspiegel 6 gelangen, hierauf in das Kollimator-Objektiv 7 ein-und parallel aus diesem austreten und dann das Prüfobjekt 2 durchleuchten.
Von hier aus gelangen die Strahlen in das Mikroskop-Objektiv 8, werden im Prismen-oder Spiegelsystem 10 umgelenkt, durchsetzen das Okular 11 und bye- langen in das Auge 12. An Stelle einer Beobachtung durch Okular könnten die Bilder auch auf einen Bildschirm geworfen werden.
Die mit dem Mikroskop kombinierte Projektionseinrichtung hat als Träger eine Glasplatte 13, auf welche das vergrösserte Ver gleichsmittel, zum Beispiel eine vergrösserte Referenzzeichnung 16 aus geeignetem transparentem Taterial, gelegt und mit einer eine rasche Auswechslung ermöglichenden Vor- richtung flach angepresst wird. Die Glasplatte 13 kann beweglich, zum Beispiel drehbar, sein.
Die Zeichnung 16, die also sehr ri, eh ausgewechselt ; werden kann, wird von den Lichtquellen 14 tdurchleuehtet. Die Anord- nung der Liehtquellen könnte auch so ge- troffen sein, daB ein auf undurchsichtigem Material dargestelltes Vergleichsmittel beleuchtet werden kann. Zwecks Erzielung einer gleichmässig durchleuchteten Fläche werden lichtdurehlässige, diffus wirkende Mittel, zum Beispiel eine Mattscheibe 15, zwischen die Lichtquellen 14 und die Platte e 13 eingeschaltet. Die Lichtstrahlen werden vom Spiegel 17 umgelenkt und gelangen nach dem Durehtritt durch eine Blende 18 in das Objektiv 19.
Dieses Objektiv 19 ist vorzugsweise ortsfest montiert und muss beim Vergr¯¯erungswechsel des Mikroskopes weder ausgewechselt werden, noch muss man seinen Projektionsabstand verändern, denn der Ver grosserungswechsel erfolgt durch Auswechs- lung des Objektives 8 und gleichzeitig durch Änderung des Massstabes des Vergleichsmit- tels. Das Objelitiv 19 könnte aber auch auswechselbar sein und durch ein solches mit anderem Abbildungsma¯stab ersetzt werden.
Die VereinigungderBildstrahlen von Mikroskop und Projektionssystem erfolgt durch das teildurehlässige Spiegel-oder Prismensystem 10@ und im Okular sind sowohl das Objektbild als auch das Bild der Referenzzeichnung gleichzeitig sichtbar.
Im OkularkanneinebeweglieheStrich- platte 22 eingebaut, sein, welche zu Sondermessungen, zum Beispiel zum Messen von Winkeln@ dient. Die Ablesung der letzteren kann innen oder aussen an einer Kreisteilung erfolgen, Ïhnlich wie dies bei bekannten Pro filmessmikroskopen der Fall ist.
Damit nun die beiden Bilder mögliehst kontrastreich erscheinen, schaltet man in die Strahleng'änge der beiden Systeme geeignete Farbfilter ein, so dass verschiedenfarbige Bilder entstehen. Hierzu eignen sieh besonders Komplementärfarben.
So bringt man zum Beispiel in den Strahlengang des Mikroskopes den roten Filter 2U und in den Strahlengang der Projektionseinrichtung den grünen Filter 21. Es entsteht so ein Bild der Referenzzeich- nib 16 in roter Farbe und dasjenige des Objektes 2 in grüner Farbe auf hellem Grunde, so da¯ nach Zurdeckungbringung der beiden Bilder selbst die kleinsten Abwei- chungen kontrastreich abstechen, wÏhrend die sieh deckenden Teile im hellen Okularfeld schwarz erscheinen. Zudem unterscheiden sieh Objektbild und Vergleichsmittelbild immer eindeutig durch ihre voneinander verschiede- nen Farben.
Selbstverständlich können die Filter weggelassen oder vorübergehend aus dem Strahlengang ausgeschaltet werden. Damit entstehen Schwarz-Weissbilder.
Die Scharfeinstellung g erfolgt im gezeig- ten Beispiel durch die Bewegung des Mess- tisches 1.
Zwecks Änderung der Vergrösserung könn- ten Objektive und Kondensoren auch auf be wegliehen Trägern angeordnet werden. Der Messtisch kann durch einen gewöhnlichen Ob jektträger ersetzt werden.