DE2543563B2 - Vorrichtung zur visuellen Prüfung der Anpassung von Objektiven an die Kamera, insbesondere für die Einstellung des Abstandes der Objektivanlageebene zur Filmebene unter Verwendung der Autokollimation - Google Patents
Vorrichtung zur visuellen Prüfung der Anpassung von Objektiven an die Kamera, insbesondere für die Einstellung des Abstandes der Objektivanlageebene zur Filmebene unter Verwendung der AutokollimationInfo
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- DE2543563B2 DE2543563B2 DE19752543563 DE2543563A DE2543563B2 DE 2543563 B2 DE2543563 B2 DE 2543563B2 DE 19752543563 DE19752543563 DE 19752543563 DE 2543563 A DE2543563 A DE 2543563A DE 2543563 B2 DE2543563 B2 DE 2543563B2
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Description
meraobjektiv als Objekt aufgefaßt und der Projektionsentfernung entsprechend in der Bildebene des
Objektivs abgebildet. Befindet sich in der Bildebene ein Spiegel oder auch eine diffus reflektierende
Ebene, so erfolgt eine Rückabbildung über das Kameraobjektiv und das Autokollimationsobjektiv durch
den teildurchlässigen Spiegel des Autokollimationsfernrohres hindurch in die Okularbildebene des Autokollimationsfernrohres.
Der Beobachter sieht die Okularstrichplatte, was im Normalfall ein dünnes Fadenkreuz
in der Okularbildebene ist, und das Bild der feingeteilien Koliimator-Strichplatte zur gleichen Zeit
scharf abgebildet.
Bei der Prüfung bzw. Einstellung befindet sich die reflektierende Ebene in der Filmebene. Fallen Abbildungsebene
und Spiegel- bzw. Filmebene nicht zusammen, so sieht der Beobachter bei Scharfeinstellung
auf die Okularstrichplatte das Bild der feingeteilten Stichplatte unscharf. Der Abstand des Objektivs zur
Spiegel- bzw. Filmebene ist dann so zu verändern, daß das Bild der feingeteilten Strichplatte gleichzeitig mit
der Okularstrichplatte scharf erscheint.
Bei Benutzung von Autokollimationsfernrohren
mit Entfernungseinstellung kann die Prüfung auch für verschiedene Nahentfernungen erfolgen. Das bekannte
Verfahren weist jedoch zwei erhebliche Nachteile auf:
1. Die Auffassung der Schärfe ist von Beobachter zu Beobachter verschieden. Dereine Beobachter
bevorzugt die Einstellung auf beste Konturenschärfe, der andere Beobachter auf besten Kontrast,
der dritte Beobachter stellt ein auf die Mitte zwischen Kontrast und Konturenschärfe. Hinzu
kommt die unterschiedliche Bevorzugung bestimmter Farbsäume im Bild.
2. Die Einstellung auf Bildschärfe ist auf die Dauer außerordentlich anstrengend und ermüdend.
Der Prüfer läßt in seiner Leistung nach.
Zum selbsttätigen Fokussieren auf die in Mikroskopen zu betrachtende Objekte mittels eines unsichtbaren
Strahlenbündels, das bei Auswanderung der Objektebene aus der Fokusebene des Objektivs
fotoelektrisch eine Steuereinrichtung erregt, die die Objektebene in die Fokusebene zurückführt, ist nach
der DE-OS 2 102 922 ein Verfahren bekannt, bei dem in Anwendung dieses Verfahrens bei Mikroskopen
das zur Ausbildung einer Marke benutzte, unsichtbare Strahlenbündel in das Beleuchtungsstrahlenbündel
des Mikroskopes so eingespiegelt wird, daß das Bild der Marke nur in einer Hälfte des Querschnittes dieses
Strahlenbündels enthalten ist, wobei die zur Abbildung der Marke dienenden Strahlen zusammen mit
den Beleuchtungsstrahlen durch das Objektiv geführt und von dem Objekt in diejenige Hälfte des Abbildungsstrahlenbündels
zurückgespiegelt wird, in dem das Bild der Marke bisher nicht enthalten war und
von hier aus zur fotoelektrischen Einrichtung gelangt. In Verbindung mit dem Verfahren zum selbsttätigen
Scharfstellen von in optischen Geräten zu betrachtenden Objekten mittels eines unsichtbaren Strahlenbündels,
das bei Auswanderung der Objektebene aus der Fokusebene des Objektivs fotoelektrisch eine
Steuereinrichtung erregt, die die Objektebene in die Fokusebene zurückführt, ist auch eine Vorrichtung
bekanntgeworden, nach der die fotoelektrische Einrichtung fotoelektrische Empfänger in Differcnzschaltung
mit einer Dunkelmarke enthält, die in Größe und Form der abgebildeten Marke entspricht
und so angeordnet ist, daß bei Übereinstimmung der Fokusebene und Betrachtungsfläche das Markenbild
die Dunkelmarkt: bedeckt und keiner der fotoelektrischen Empfänger mehr Licht erhält, während bei Abweichungen
zwischen der Fokusebene und der Bttrachtungsfläche einer der Empfänger nach Maßgabe
der Auswanderung des Markenbildes aus der Nullage erregt wird. Dieses bekannte Verfahren und die hierfür
vorgesehene Vorrichtung sind ausschließlich für eine fotoelektrische Prüfung vorgesehen, ohne daß
hierbei zwei Strichmarken, die einen Symmetrieabgleich und die durch ihre gegensätzliche Auswanderung
bei Fehleinstellungen eine doppelte Genauigkeit ermöglichen, verwendet werden. Die Möglichkeit einer
visuellen Prüfung ist hierbei nicht möglich.
Ferner ist eine optische Vorrichtung zur Ermittlung der Niveauhöhe einer reflektierenden Fläche aus einer
gewissen Entfernung zur Gewährleistung einer großen Genauigkeit bekannt (DE-AS 1 207 103J. Diese Vorrichtung
zur Messung der Lage einer reflektierenden Fläche unveränderlicher Orientierung, insbesondere
des Niveaus der freien Oberfläche einer Flüssigkeit, enthält eine Lichtquelle und ein optisches System, das
ein Bild der Lichtquelle in der Ebene eines Schirmes erzeugt, der einen Spalt enthält, nachdem das von der
Lichtquelle ausgehende Strahlenbündel an der zu messenden Oberfläche reflektiert wurde, und außerdem
ein lichtempfindliches Element aufweist, das hinter dem Spalt angeordnet ist, wobei die Lichtquelle
aus zwei im wesentlichen gleichen lichtaussendenden Objekten besteht, die in einer vorbestimmten Frequenz
wechselweise Licht ausstrahlen, während der Spalt des Schirmes derart angeordnet ist, daß bei jeder
Abweichung der reflektierenden Fläche aus einer vorbestimmten
Lage eines der Bilder mehr oder weniger verdeckt wird, während darüber hinaus noch eine
durch das lichtempfindliche Element gespeiste Vorrichtung, die au:; die Frequenz der wechselweisen
Lichtausstrahlunj;, anspricht, zur Anzeige jeder Lagenänderung
der reflektierenden Fläche aus ihrer vorbestimmten Stellung dient. Diese bekannte Vorrichtung
ist in keiner Weise zur Prüfung oder Einstellung von Objektiven geeignet, da das abbildende
Lichtbündel unter einem relativ großen Winkel auf die spiegelnde Fläche fällt. Darüber hinaus ist diese
Vorrichtung nur für fotoelektrische und nicht auch für
visuelle Einstellungen geeignet.
Ferner ist ein Apparat zur objektiven Messung des Hauptpunktbrediwertes des Auges bekannt (DE-PS
350652). Dieser Apparat zur objektiven Messung des Hauptpunktbrechwertes des Auges durch Ermittlung
des Ortes eines Bildes des beleuchteten Augenhintergrundes nach dem Scheinerschen Prinzin mit Hilfe einer
in den Strahlengang geschalteten Zweilochblende, die reell in die Pupille des Auges abgebildet wird, besteht
darin, daß die durch die Zweilochblende ausgesonderten beiden Strahlenbüschelsysteme unabhängig
voneinander mittels geeigneter Spiegelsysteme einem gemeinsamen Beobachtungsokular derart zugeführt
werden, daß im Okulargesichtsfeld zwei getrennte Teilbilder entstehen und die Lage des Bildortes durch
Koinzidenz der beiden Teilbilder ermittelt werden kann.
Mit diesem bekannten Apparat wird zur Prüfung der Einstellung eines Auges das Scheinersche Prinzip
verwendet, bei dem durch Ausblendung zweier Teilbündel durch eine Zweilochblende vor der abbildenden
Optik bzw. vor dem Auge zwei Bilder desselben
Objektivs, d. h. des Augenhintergrundes, erzeugt werden, deren Zusammenfallen Einstellkriterium für
die Prüfoptik ist. Hierbei wird die Zweilochblende in der Augenpupille reell abgebildet. Die beiden Strahlenbündel
werden mittels eines Spiegelsystems so zusammengeführt, daß im Okulargesichtsfeld zwei getrennte
Teilbilder entstehen, deren Koinzidenz Einstellkriterium für die Prüf'optik ist. Mittels einer
entsprechenden Teilung auf der einstellbaren Prüfoptik kann direkt der Hauptpunktbrechwert des Auges
abgelesen werden. Zur besseren Einstellung kann auch der in das Auge projizierbare Lichtbalken zur
Koinzidenzeinstellung benutzt werden.
Auch mit diesem Apparat ist keine Ausbildung der Kollimatorstrichplatten derart vorgesehen, daß diese
einen Symmetrieabgleich ermöglichen.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine Vorrichtung zur visuellen Prüfung der Anpassung von Objektiven an
die Kamera, insbesondere für die Einstellung des Abstandes der Objektivanlageebene zur Filmebene unter
Verwendung der Autokollimation zu schaffen, die unmittelbar zur Prüfung der Objektivanpassung an die
Kamera geeignet ist, die klein und einfach in der Handhabung und mit der es möglich ist, mit der erforderlichen
großen Genauigkeit in einem großen Brennweitenbereich der Kameraobjektive zu arbeiten
und darüber hinaus eine sichere und weitgehend ermüdungsfreie visuelle Prüfung von Kameraobjektiven,
insbesondere von solchen Kameras, die in hoher Stückzahl produziert und zu niedrigen Preisen verkauft
werden, auch durch ungelernte Prüfpersonen ermöglicht.
Zur Lösung dieser Aufgabe wird eine Vorrichtung gemäß der eingangs beschriebenen Art vorgeschlagen,
die erfindungsgemäß in der Weise ausgebildet ist, daß zwei Kollimatoren mit zwei verschiedenen Kollimatorstrichplatten
verwendet werden, daß den Kollimatoren ein verschiebbarer Winkelspiegel in dem Zwischenraum
zugeordnet ist und daß die Kollimatorstrichplatten so ausgebildet sind, daß sie einen
Symmetrieabgleich ermöglichen.
Mit der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist es möglich, autokolümationsartig das Zusammenfallen
zweier Strichmarkenbilder als Kriterium für die richtige Einstellung des Objektivs, zur Filmebene zu verwenden,
wobei zusätzlich die Größe der Fehleinstellung des Kameraobjektivs zur Filmebene aus dem
Abstand der Strichmarkenbilder voneinander erkennbar und ausmeßbar ist, so daß schließlich die Beobachtung
der Strichmarkenbilder über ein Okular über den Fernsehschirm mit entsprechender Nachvergrößerung
erfolgen kann. Die autokollimationsartige Anordnung hat dabei den großen Vorteil der unmittelbaren
Prüfbarkeit der Anpassung des Kameraobjektivs an die Kamera und zusätzlich den der größeren
Meßsicherheit, da der Fehler sich gegenüber der einfachen Anordnung ohne Autokollimation in doppelter
Größe auswirkt. Gegenüber dem normalen Autokollimationsverfahren
ist es mit der Vorrichtung möglich, daß nicht mehr die Bildschärfe einer feingeteilten
Strichplatte Einstellkriterium ist, sondern die Position zweier Strichmarkcnbilder zueinander. Die
Position der Strichmarkcnbilder zueinander kann durch ein Okular beobachtet werden oder ohne Einbuße
an Genauigkeit auf einem Fcrnschschirm. Vor allem aber ist es möglich, diese Position der Strichmarkenbilder
zueinander relativ einfach fotoelektrisch /u erfassen. Damit wird das Prüfverfahren objektiv.
Die elektrischen Ausgangswerte können zusätzlich zur vollautomatischen Anpassung der Objektive
benutzt werden, da der registrierte Fehlabstand der Strichmarkenbilder das Maß der Fehlein-"'
stellung des Objektivs ist.
Bei der Anwendung der Vorrichtung ergeben sich noch folgende Vorteile: Es werden zwei geeignete
Strichplatten benutzt, die bei richtiger Einstellung exakt symmetrisch zueinander liegen. Erst dieser Sym-
i<> metrieabgleich und die Autokollimation ermöglichen
die Einstellung mit der jeweils geforderten Genauigkeit. Hinzu kommt, daß besonders bei der Einstellung
sehr kurzbrennweitiger Objektive der Symmetrieabgleich jeder anderen visuellen Einstellart weit überic-
> gen ist, da die durch Beugung bedingte relativ große Kantenunschärfe der Bilder praktisch ohne Einfluß
auf die Einstellgenauigkeit ist. Gerade die Einstellung bei sehr kurzen Brennweiten ist vor allem bei den Super
8-Filmkameras ein großes Problem, da die Zoom-Objektive fast ausschließlich bei der kürzesten
Brennweite abgestimmt werden. Der Symmetrieabgleich ermöglicht auch bei geringer Bildqualität zusätzlich
die Übertragung des Bildes auf den Fernsehschirm ohne meßtechnische Nachteile. Das ist
:> besonders vorteilhaft für die ermüdungsfreie Einstellung
in der Serienfertigung.
Die Art der Kombination von Kollimator und Fernrohr über den teildurchlässigen Spiegel läßt den
freien Austausch dieser selbständigen Gerätegruppe
κι zu, so daß mit relativ geringem Aufwand verschiedenartige
Kombinationen für die verschiedenen Anforderungen möglich sind. Dies ist vor allem für die vielseitigen
Anforderungen in kleinen Reparaturbetrieben wichtig. Die Vorrichtung gestattet ferner eine sehi
Γι schnelle und einfache Änderung des Bündelabstandes
über einen großen Abstandsbereich. Damit ist es möglich, Objektive mit den verschiedensten freier
Durchmessern zu prüfen oder bei einem Objektiv direkt in der Kamera die sphärische Aberration zu ermitteln
und damit die Qualität des Objektivs zu prüfen. Dies ist vor allem interessant bei Zoom-Objektiven
für Super 8-Filmkameras, bei denen zum großer Teil das Objektiv aus zwei Teilen besteht, die erst nacr
der Montage in der Kamera eine Einheit bilden.
Vorteilhafte Weiterbildungen des Gegenstande! der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche
In der Zeichnung ist die erfindungsgemäße Vorrichtung anhand von Ausführungsbeispielen dargestellt,
und zwar zeigt
->o Fig. 1 eine aus zwei Kollimatoren mit Strichplatter
und einem Fernrohr bestehende Vorrichtung zun Einstellen eines Kameraobjektivs, bei der die Spiegel
ebene bzw. die Filmebene mit der Abbildungsebene zusammenfällt, in einer schematischen An
Yi sieht,
Fig. 2 die Vorrichtung gemäß Fig. 1, jedoch in ei ner Darstellung, bei der die Spiegelebene bzw. di<
Filmebene mit der Abbildungsebene nicht zusam menfällt, in einer schematischen Ansicht,
μ ι Fig. 3 zwei Kollimatorstrichplatten mit Strichmar
kenkombinationen für einen Symmetrieabgleich in ei
ner Ansicht von vorn,
Fig. 4 das Bild der beiden Kollimatorstrichplattei gemäß Fig. 3 in abgestimmter Stellung cntsprechen<
h1; Fig. 1 in einer Ansicht von vorn,
Fig. 5 das Bild der beiden Kollimatorstrichplattei gemäß Fig. 3 in nicht abgestimmter Stellung cntsprc
clicnd Fig. 2 in einer Ansicht von vorn.
Fig. 6 eine weitere Ausführungsform der Vorrichtungzum
Einstellen eines Kameraobjektivs mit einem Kollimator bei mit der Spiegelebene bzw. Filmebene
zusammenfallender Abbildungsebene in einer schematischen Ansicht,
Fig. 7 die Vorrichtung gemäß Fig. 6, jedoch in einer
Stellung, bei der die Spiegelebene bzw. die Filmebene mit der Abbildungsebene nicht zusammenfällt
in einer schematischen Ansicht,
Fig. 8 positionsanzeigende Empfänger in abgestimmter Stellung entsprechend Fig. 1 oder 6 in einer
Ansicht von vorn,
Fig. 9 die beiden positionsanzeigenden Empfänger in nicht abgestimmter Stellung entsprechend Fig. 2
oder 7,
Fig. 10 einen in der Okularbildebene angeordneten fotoelektrischen Empfänger in abgestimmter Stellung
entsprechend Fig. 1 oder 6 und
Fig. 11 die beiden fotoelektrischen Empfänger in
nicht abgestimmter Stellung entsprechend Fig. 2 oder 7.
Bei der in Fig. 1 gezeigten Vorrichtung zum Einstellen eines Kameraobjektivs sind in einem Gehäuse
10 zwei Kollimatoren 20 und 30 angeordnet, die mit Strichplatten 21 und 31 mit entsprechend ausgebildeten
Testmarken ausgebildet sind. Die beiden Kollimatoren 20 und 30 sind in einem Abstand voneinander
angeordnet. Zwischen den beiden Kollimatoren 20 und 30 ist ein Winkelspiegel 40 angeordnet, der in
Pfeilrichtung X veränderbar ist.
Mit 200 ist ein im Bereich der von dem Winkelspiegel 40 reflektierenden Strahlen angeordnetes zu prüfendes
Kameraobjektiv bezeichnet. Diesem Kameraobjektiv 200 ist vorgeschaltet eine Strahlenteilerplatte
50 mit teildurchlässiger verspiegelter Fläche. Die hinter dem Kameraobjektiv 200 liegende Abbildungsebene
ist bei 51 angedeutet. Die Film- bzw. Spiegelebene ist mit 52 bezeichnet.
Das zu prüfende Kameraobjektiv 200 mit der dazu gehörenden Filmebene ist in einem Einschubgehäuse
1 angeordnet, das in das Gehäuse 10 einschiebbar ist (Fig. 1). Der Spiegel liegt auf der Filmebene
auf und ist Bestandteil des Prüfgerätes.
Im rechten Winkel zu der Strahlenteilerplatte 50 ist ein Fernrohr 60 angeordnet, dessen Fernrohrobjektiv
61 im Strahlengang der von der Strahlenteilerplatte 50 abgelenkten Strahlen liegt. Die Bildebene
des Fernrohrobjektivs ist bei 62 angedeutet und die Okularstrichplatte bei 63, die in der Bildebene 62 des
Fernrohrobjektivs 21 angeordnet ist.
Die Vorrichtung zum Einstellen eines Kameraobjektivs 200 wird wie folgt verwendet:
Von den beiden Kollimatoren 20 und 30 wird jeweils eine Testmarke 21 und 31 in das Unendliche
projiziert. Beide Kollimatoren 20 und 30 sind zueinander justiert, so daß ihre Zielachsen nach der Spiegelung
am Winkelspiegel 40 exakt parallel zueinander verlaufen.
Die ausgeblendeten Parallellichtbündel mit kleinem Bündeldurchmesser fellen auf den gegenüberliegenden
Seiten einer Objektivzone in das Kameraobjektiv 200. Vom Kameraobjektiv 200 werden die
beiden Testmarken der Strichplatten 21 und 31 in der Abbildungsebene 51, das ist im vorliegenden Fall die
Brennebene, abgebildet.
In dieser Abbildungsebcne 51 fallen beide Bilder der Testmarken der beiden Strichplatten 21 und 31
zusammen. Steht in der Abbildungscbenc 51 der
Planspiegel 52, so erfolgt eine Rückabbildung über das Kameraobjektiv 200. Nach Umlenkung der beiden
Strahlenbündel über die Strahlenteilerplatte 50 treten die Strahlerbündel in das Objektiv 61 des Fern-■■
> rohres 60. Es erfolgt somit eine zweite Abbildung der Testmarken in der Bildebene 62 des Fernrohrobjektivs
61, in der sich die Okularstrichplatte 63 befindet. Die Bilder der beiden Strichplatten 21 und 31 fallen
dann zusammen, wenn die Testmarken selbst gleich
ι« sind. Fallen die Abbildungsebene 51 des Objektivs
200 und die Spiegelebene 52 nicht zusammen, so haben die beiden an dem Spiegel 52 reflektierten Bündel
in der Abbildungsebene 51 einen Abstand d (Fig. 2) und in der Okularbildebene 62 des Fernrohres 60 ei-
i) nen anderen Abstand voneinander.
Zur Abstimmung ist das Kameraobjektiv 200 so in seinem Abstand zur Film- bzw. Spiegelebene 52
veränderbar, bis beide Bilder für den Beobachter im Fernrohr 60 exakt zusammenfallen. Die durch Fehleinstellung
des Kameraobjektivs 200 bedingte Unscharfe der Testmarkenbilder in der Okularbildebene
des Fernrohres 60 ist wegen der großen Tiefenschärfe erst bei größerer Fehleinstellung bemerkbar und damit
praktisch ohne Bedeutung.
Für die Testmarken der Strichplatten 21 und 31 ist eine Anzahl von Kombinationen möglich, deren
Wahl vor allem auch abhängig ist von der Art der Beobachtung. Universell anwendbar und auch genauer
in der Einstellung sind Strichplattenkombina-
K) tionen, die einen Symmetrieabgleich ermöglichen, wie
dies in den Fig. 3 bis 5 gezeigt ist. Diese Strichplattenkombinationen können sowohl mit verschiedenfarbigem
Licht für die Okularbeobachtung als auch mit gleichfarbigem für die Schwarzweiß-Ubertragung auf
dem Fernsehschirm benutzt werden. Fig. 3 zeigt zwei Kollimatorstrichplatten mit unterschiedlicher Strichmarkenausbildung
und -anordnung, während Fig. 4 die abgestimmte Anordnung der Strichplatten zeigt,
bei der die Abbildungsebene 51 mit der Spiegel- bzw. Filmebene 52 zusammenfällt, während in Fig. 5 eine
Abstimmung nicht erfolgt ist; hier fallen die Abbildungsebene 51 mit der Spiegel- bzw. Filmebene 52
nicht miteinander zusammen, wie dies in Fig. 2 dargestellt ist.
> Die Genauigkeit bei der Anwendung der Vorrichtung
ist im wesentlichen abhängig von dem Verhältnis D: f. Hierbei ist D der Abstand der Lichtbündel und
/die Brennweite des Kameraobjektivs 200. Zur freien Wahl des Durchmessers D ist der Winkelspiegel 40
in Pfeilrichtung X verschiebbar (Fig. 1). Eine vereinfachte Ausführungsform der Vorrichtung zum Einstellen
von Kameraobjektiven ist in Fig. 6 dargestellt. Bei dieser Vorrichtung ist in einem Gerätegehäuse
100 nur ein Kollimator 120 angeordnet, der eine Strichplatte 121 aufweist, während die zweite Strichplatte
131 über eine Strahlenteilerplatte 140 in den Strahlengang eingespiegelt wird. Das Kollimatorobjektiv
ist bei 122 angedeutet. Diesem Kollimatorobjektiv 122 sind zwei Lochblenden 123 und 133 neben-
Mi einanderliegend nachgeschaltct, die in Richtung der
Pfeile Y und Yl verstellbar sind. Darüber hinaus sind den Lochbblenden 123 und 133 und den Strichplatten
121 und 131 Polarisationsfilter oder Farbfilter 125 und 135 zugeordnet. Das Kameraobjektiv ist ebenfalls
h5 mit 200 bezeichnet.
Zwischen dem Kollimatorobjektiv 122 und dem Kameraobjektiv 200 ist eine Strahlcnteilerplattc 150
angeordnet. Die Abbildungscbene hinter dem Käme-
ruobjektiv 200 ist bei 151 angedeutet. Die Spiegelebene bzw. Filmebene ist mit 152 bezeichnet.
In einem rechten Winkel zur Strahlenteilerplatte 150 ist entsprechend der in Fig. 1 gezeigten Ausführungsform
ein Fernrohr 60 angeordnet.
Wie aus Fig. 6 zu entnehmen ist, wird die zweite Strichplatte 131 über die Strahlenteilerplatte 140 in
den Strahlengang eingespiegelt. Die Trennung der beiden Strahlenbündel erfolgt über die beiden Lochblenden
123 und 133 vor dem Kollimatorobjektiv 122 und mit Hilfe der Polarisationsfilter 125 und 135 oder
Farbfilter, die in den Blenden 123 und 133 angeordnet sein können, und vor den Strichplatten 121 und 131.
Durch das Loch der Blende 123 wird nur das Strahlenbündel von der Strichplatte 121 durchgelassen und
durch das Loch der Blende 133 nur das Strahlenbündel von der Strichplatte 131. Die entsprechend ausgerichteten
Polarisationsfilter lassen nur den Lichtstrom durch, der zur zugehörigen Strichplatte gehört. Statt
der Polarisationsfilter können schmalbandige Farbfilter benutzt werden. Die Blendenanordnung kann so
gewählt werden, daß der Abstand D der Blenden stufenweise oder kontinuierlich einstellbar ist. Im übrigen
wird die in Fig. 6 gezeigte mit einem Kollimator arbeitende Vorrichtung in gleicher Weise zur Einstellung
von Kameraobjektiven entsprechend der Vorrichtungmitzwei Kollimatoren gemäß Fig. 1 verwendet.
Wie Fig. 6 zeigt, wird als Kollimator eine Ausführung mit zwei Strichplatten benutzt, wobei die eine
durch eine teildurchlässig verspiegelte Planplatte 140 in die Ebene und Position der anderen gespiegelt wird
und mit Hilfe von zwei Lochblenden 123 und 133 hinter dem Kollimatorobjektiv 122 und entsprechend
paarweise zueinander ausgerichteten Polarisationsfiltern oder paarweise gleichen schmalbandigen Indifferenzfiltern
hinter den Strichplatten 121 und 131 und hinter den Lochblenden 123 und 133 zwei zu je einer
Strichplatte gehörenden parallel verlaufenden Lichtbündel ausgeblendet werden. Diese im Abstand zueinander
verlaufenden Lichtbündel treten nach Passieren einer zum nachgeschalteten Fernrohrsystem 60
gehörenden Strahlenteilerplatte 150 auf zwei entgegengesetzten Seiten einer Objektivzone des zu prüfenden
Kameraobjektivs in dieses ein, aus dem sie nach Abbildung der Kollimatorstrichmarken 121 und
131 durch das Kameraobjektiv und nach Reflexion der Lichtbündel an einem zur Vorrichtung gehörenden
Planspiegel 151 und 152 in der Filmebene der Kamera wieder austreten, um nach Umlenkung durch
die dem nachgeschalteten Fernrohrsystem 60 zugeordnete Strahlenteilcrplatte 150 in dieses einzutreten.
Es können zwei gleiche Strichmarken oder auch zwei unterschiedliche Strichmarken verwendet werden,
deren Kombination am günstigsten so zu wählen ist, daß bei fehlerfreier Abstimmung Symmetrieabgleich
auftritt.
Die Vorrichtung nach Fig. 6 kann durch Fehlen der Strahlenteilcrplatte 140 und der zweiten Strichplatte
131 noch wesentlich vereinfacht werden. Eine derartige Vorrichtung ist dann in der Weise ausgebildet,
daß aus einem mit einer Strichmarke 121 in der Brennebene versehenen Kollimator 120 mit Hilfe
zweier Lochblenden 123 und 133 hinter dem KoIIimatorobjcktiv
122 zwei dünne Parallcllichtbündcl ausgeblendet werden. Diese im Abstand zueinander
verlaufenden LichthUndcl treten nach Passieren einer zum nachgeschalteten Fernrohrsystem 60 gehörenden
Strahlenteilerplatte 150 auf zwei entgegengesetzten Seiten einer Objektivzone des zu prüfenden Kameraobjektivs
200 in dieses ein, aus dem sie nach Abbildung der Kollimatorstrichplatte 121 durch das Kameraobjektiv
200 und nach Reflexion der Lichtbündel an einem zur Vorrichtung gehörenden Planspiegel 151
und 152 in der Filmebene der Kamera wieder austreten, um nach Umlenkung durch die dem nachgeschalteten
Fernrohrsystem 60 zugeordnete Strahlenteilerplatte 150 in dieses einzutreten. Die durch die beiden
Lichtbündel bewirkten Abbildungen der Strichmarke 121 im nachgeschalteten Fernrohrsystem 60 sind verschiedenfarbig,
wenn vor oder nach den Lochblenden 123 und 133 verschiedenfarbige Filter 125 und 135
gesetzt werden. Die Ausblendung der Bündel kann statt am Kollimator auch am Fernrohr erfolgen.
Bei den beiden Ausführungsformen der in Fig. 1 oder 6 gezeigten Vorrichtungen ist auch eine Fernsehübertragung
möglich. Hier wird lediglich hinter das Okular des Fernrohres 60 eine Fernsehkamera gesetzt,
die das Bild in der Okularbildebene auf den Fernsehschirm überträgt. Die durch die Fernsehübertragung
bedingte Minderung der Bildqualität wirkt sich nicht aus, da sie nicht wie beim üblichen Autokollimationsverfahren
Einstellkriterium ist. Wie bei dem normalen Autokollimationsverfahren ist bei beiden
Ausführungsarten auch die Prüfung der Objektivanpassung für verschiedene Entfernungen möglich,
wenn die Kollimatoren und Fernrohre eine entsprechende Einstellmöglichkeit aufweisen.
Auch eine fotoelektrische Abtastung ist möglich. Hierzu ist anstelle der Okularstrichplatte 63 ein positionsanzeigender
fotoelektrischer Empfänger 90 (Fig. 8 und 9) vorgesehen. Die Positionsabweichungen
beider Bilder, die nacheinander auf den Empfänger projiziert werden, ist das Maß für die Fehleinstellungdes
Objektivs. Das Objektiv ist richtig eingestellt, wenn die Positionsanzeige für beide Testmarkenbilder
gleich ist (Fig. 8). Jeder positionsanzeigende Empfänger 90 weist beispielsweise die Zellen A, B, C, D,
E, F, G, H, I, K, L, M, N, O und P auf. Die durch
die beiden Strichplatten 121 und 131 hindurchgehenden Strahlen beaufschlagen verschiedene Zellen, so
z. B. die Strahlen der Strichplatte 121, die Zellen F und G und die Strahlen der Strichplatte 131 die Zellen
H und /. Stimmen entsprechend Fig. 10 die Abbildungsebene 151 mit der Spiegel- bzw. Bildebene
152 nicht überein, so ergibt sich das in Fig. 9 gezeigte Bild. Beaufschlagen dagegen die Strahlenbündel der
beiden Strichplatten 121 und 131 gleiche Zellen des Empfängers90, dann werden entsprechend Fig. 8 die
Zellen G und H beaufschlagt, wodurch angezeigt ist, daß die Abbildungsebene 151 mit der Spiegel- bzw.
Bildebene 152 zusammenfällt (Fig. 6).
Anstelle des positionsanzeigenden fotoelektrischen Empfängers 90 können auch zwei fotoelektrische Elemente
95 und 96 benutzt werden (Fig. K) und 11), die so aneinandergestellt sind, daß das Bild der Tcstmarke
auf beide Zellen fällt. Das Objektiv 200 ist dann richtig eingestellt, wenn das Verhältnis der elektrischen
Ausgangswerte beider fotoelektrischer Empfänger bei der abwechselnden Abbildung der beiden
Strichmarkierungen gleich bleibt. Für die fotoelektrisehe Ausführung mit Fotoelementen sind gleichbleibende
Intensitätsverhältnisse für beide Teilbündel erforderlich. Dies ist bei dieser Ausführung gemäß
Fig. 6 automatisch gegeben, wenn statt der beiden
11 12
Strichplatten nur eine benutzt wird. Die Anordnung dert werden, daß die Testmarkenbilder bei dem abge-
entspricht im übrigen dann der in Fig. 6 gezeigten stimmten Objektiv nicht zusammenfallen, sondern
Vorrichtung. einen vorgegebenen Abstand voneinander haben. Die
Sowohl bei der visuellen als auch bei der fotoelek- Abweichung von diesem Abstand ist dann das Maß
frischen Methode können die Verfahren so abgeän- ■>
für die Fehleinstellung des Objektivs.
Hierzu 3 Blatt Zeichnungen
Claims (4)
1. Vorrichtung zur visuellen Prüfung der Anpassung von Objektiven an die Kamera, insbesondere
für die Einstellung des Abstandes der Objektivanlageebene zur Filmebene unter Verwendung
der Autokollimation und mit einem Kameraobjektiv als Prüfling und einer diesem nachgeschalteten
Filmebene mit einem Planspiegel unter Verwendung der Lagenänderung eines Lichtspaltes
bei von der Brennebene abweichender Prüfebene zur Prüfung des Einbaues des Objektivs in die Kamera,
und eines weiteren obtischen Systems, bestehend aus einem Fernrohr mit einem Fernrohrobjektiv,
einer Okularstrichplatte und einem Okular, dem zur Umlenkung der an dem Prüfling
wieder austretenden Strahlenbündel in das Fernrohrsystem eine Strahlenteilerplatte zugeordnet
ist, dadurch gekennzeichnet, daß zwei Kollimatoren (20,30) mit zwei verschiedenen Kollimatorstrichplatten
(21, 31) verwendet werden, daß den Kollimatoren (20, 30) ein verschiebbarer
Winkelspiegel (40) in dem Zwischenraum zugeordnet ist und daß die Kollimatorstrichplatten
(21,31) so ausgebildet sind, daß sie einen Symmetrieabgleich ermöglichen.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in einem Gerätegehäuse (100)
ein Kollimator (120) mit einer Strichplatte (121) und mit einer vor dem Kollimatorobjektiv (122)
im Strahlengang angeordneten Strahlenteilerplatte (140), über die die Testmarke einer weiteren
Strichplatte (131) einspiegelbar ist, und mit zwei dem Kollimatorobjektiv (122) nachgeordneten,
die beiden Strahlenbündel der Strichplatten (121, 133) einzeln durchlassenden Lochblenden
(123,133) angeordnet ist, deren Abstand voneinander stufenweise oder kontinuierlich veränderbar
ausgebildet ist, daß den Strichplatten (121, 131) und den Lochblenden (123, 133) paarweise
entsprechend zueinander ausgerichtete Polarisationsfilter (125, 135) oder paarweise gleiche Farbfilter
zugeordnet sind, daß dem Kollimator (120) das Kameraobjektiv (200) zur Abbildung der beiden
Testmarken der Strichplatten (121, 131) in der dem Kameraobjektiv (200) nachgeschalteten
Abbildungsebene (151) nachgeschaltet ist, und daß zwischen dem Kameraobjektiv (200) und dem
Kollimator (120) eine Strahlenteilerplatte (150) angeordnet ist, der in einem rechten Winkel zum
Hauptstrahlengang das Objektiv (61) eines Fernrohres (60) mit einer in der Bildebene (62) des
Fernrohrobjektivs (61) vorgesehenen Okularstrichplatte (63) zugeordnet ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß anstelle der Okularbetrachtung
ein fotoelektrischer Empfänger (90), bestehend aus nebeneinander angeordneten, gegeneinander
isolierten Zellen (A bis P) in der Betrachtungsebene vorgesehen ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß anstelle der Okularbetrachtung
zwei fotoelektrische Elemente (95, 96) in der Betrachtungsebene vorgesehen sind.
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur visuellen Prüfung der Anpassung von Objektiven an die Kamera,
insbesondere für die Einstellung des Abstandes der Objektivanlageebene zur FiJmebene unter Ver-"
> Wendung der Autokollimation und mit einem Kameraobjektiv als Prüfling und einer diesem nachgeschalteten
Filmebene mit einem Planspiegel unter Verwendung der Lagenänderung eines Lichtspaltes bei von
der Brennebene abweichender Prüfebene zur Prüfung
ι» des Einbaues des Objektivs in die Kamera und eines
weiteren optischen Systems, bestehend aus einem Fernrohr mit einem Fernrohrobjektiv, einer Okularstrichplatte
und einem Okular, dem zur Umlenkung der an dem Prüfling wieder austretenden Strahlen-
i) bündel in das Fernrohrsystem eine Strahlenteilerplatte
zugeordnet ist.
Unter der Anpassung eines Objektivs an die Kamera ist die Einstellung des richtigen Abstandes zur
Filmebene zu verstehen. Hierbei sind hohe Genauig-
-'(· keiten erforderlich, um die Abbildungsqualität des Objektivs voll ausnutzen zu können.
Zur Anpassung von Objektiven, die fest mit der Kamera verbunden sind, wird im Normalfall der Abstand
der Objektivanlageebene zur Filmebene einge-
2> stellt. Bei Wechselobjektiven wird die Einhaltung eines
vorgegebenen Anlagemaßes gefordert, um die freie Austauschbarkeit zu gewährleisten. Bei Zoom-Objektiven,
also bei Objektiven mit veränderlicher Brennweite, wird im Normalfall das Grundobjektiv
ίο zur Filmebene eingestellt und der Zoom-Vorsatz getrennt
justiert. Bei Fixfokus-Objektiven, also bei Objektiven ohne Entfernungseinstellung, erfolgt die
Einstellung entsprechend dem vorgegebenen endlichen Objektivabstand.
η Die erforderliche Genauigkeit der Einstellung liegt
in der Größenordnung von einigen tausendstel Millimetern. Zur Einstellung sind verschiedene optische
und optisch-elektronische Methoden bekannt.
Bei der visuellen optischen Methode wird das Objektiv zur Filmebene so eingestellt, daß eine geeignete feingeteilte Testfigur in dieser Ebene scharf abgebildet erscheint. Diese Testfigur wird in der Regel von einem Kollimator oder Autokollimationsfernrohr in die vorgegebene Entfernung projiziert, vom Kamera-
Bei der visuellen optischen Methode wird das Objektiv zur Filmebene so eingestellt, daß eine geeignete feingeteilte Testfigur in dieser Ebene scharf abgebildet erscheint. Diese Testfigur wird in der Regel von einem Kollimator oder Autokollimationsfernrohr in die vorgegebene Entfernung projiziert, vom Kamera-
4') objektiv als Objekt aufgefaßt und entsprechend ausgebildet.
Statt der feingeteilten Testfigur wird auch ein helles Fadenkreuz auf dunklem Grund benutzt,
bei dem jedoch die bei der Fehleinstellung auftretenden Farbsäume im Fadenkreuzbild zur Einstellung
-,ο benutzt werden.
Bei den optisch-elektronischen Methoden wird das Bild einer geeigneten Testfigur fotoelektrisch auf
Konturenschärfe und Kontrast abgetastet oder es werden Lichtstrommessungen in der Abbildungs-
Y, ebene oder in der Nähe der Abbildungsebene vorgenommen.
Außerdem ist in der Industrie das Autokollimationsverfahren bekannt, bei dem als Prüfgerät ein Autokollimationsfernrohr
benutzt wird. Dieses Verfah-
ho ren wird jedoch wegen seiner Einfachheit und seiner
Genauigkeit von den Reparaturwerkstätten bevorzugt. Das Autokollimationsverfahren ermöglicht vor
allem auch die unmittelbare Prüfung der Objektivanpassung an die Kamera, was mit den anderen bekann-
hr, ten Verfahren nicht ohne weiteres möglich ist.
Bei dem Autokollimationsverfahren wird eine feingeteilte Strichplatte vom Autokollimationsobjektiv
projiziert. Das Bild dieser Strichplatte wird vom Ka-
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19752543563 DE2543563C3 (de) | 1975-09-30 | 1975-09-30 | Vorrichtung zur visuellen Prüfung der Anpassung von Objektiven an die Kamera, insbesondere für die Einstellung des Abstandes der Objektivanlageebene zur Filmebene unter Verwendung der Autokollimation |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19752543563 DE2543563C3 (de) | 1975-09-30 | 1975-09-30 | Vorrichtung zur visuellen Prüfung der Anpassung von Objektiven an die Kamera, insbesondere für die Einstellung des Abstandes der Objektivanlageebene zur Filmebene unter Verwendung der Autokollimation |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2543563A1 DE2543563A1 (de) | 1977-03-31 |
DE2543563B2 true DE2543563B2 (de) | 1978-10-19 |
DE2543563C3 DE2543563C3 (de) | 1979-06-21 |
Family
ID=5957826
Family Applications (1)
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DE19752543563 Expired DE2543563C3 (de) | 1975-09-30 | 1975-09-30 | Vorrichtung zur visuellen Prüfung der Anpassung von Objektiven an die Kamera, insbesondere für die Einstellung des Abstandes der Objektivanlageebene zur Filmebene unter Verwendung der Autokollimation |
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CN106768872B (zh) * | 2016-11-17 | 2019-08-30 | 孝感华中精密仪器有限公司 | 一种自动焦距测量仪 |
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1975
- 1975-09-30 DE DE19752543563 patent/DE2543563C3/de not_active Expired
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DE2543563C3 (de) | 1979-06-21 |
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