DE1031002B - Profilprojektor mit mehreren einstellbaren Vergroesserungsstufen zum Schleifen oder Pruefen von profilierten Werkstuecken und Gegenwerkstuecken, beispielsweise Schnittstempeln und Schnittplatten - Google Patents

Profilprojektor mit mehreren einstellbaren Vergroesserungsstufen zum Schleifen oder Pruefen von profilierten Werkstuecken und Gegenwerkstuecken, beispielsweise Schnittstempeln und Schnittplatten

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DE1031002B
DE1031002B DEL16324A DEL0016324A DE1031002B DE 1031002 B DE1031002 B DE 1031002B DE L16324 A DEL16324 A DE L16324A DE L0016324 A DEL0016324 A DE L0016324A DE 1031002 B DE1031002 B DE 1031002B
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DE
Germany
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profile
workpieces
grinding
magnification
profile projector
Prior art date
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Pending
Application number
DEL16324A
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English (en)
Inventor
Emil Mayer
Arnold Doerr
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ludw Loewe & Co AG
Original Assignee
Ludw Loewe & Co AG
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Publication date
Application filed by Ludw Loewe & Co AG filed Critical Ludw Loewe & Co AG
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/0016Technical microscopes, e.g. for inspection or measuring in industrial production processes

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)

Description

  • Profilprojektor mit mehreren einstellbaren Vergrößerungsstufen zum Schleifen oder Prüfen von profilierten Werkstücken und Gegenwerkstücken, beispielsweise Schnittstempeln und Schnittplatten Die Erfindung betrifft einen Profliprojektor mit mehreren einstellbaren Vergrößerungsstufen. z. 13. 25-oder SOfacheVergrößerung, zum Schleifen und Prüfen von profilierten Werkstücken oder Gegenwerkstücken z. B. Schnittstempeln und Schnittplatten.
  • Bisher hat man solche Profilprojektoren stets in Verl,indmlg mit einer mit jedem Profil genau übereinstimmenden Sollform verwendet, deren Umrißlinien auf einer Zeichnung aufgetragen sind. Die Vergrößerung der Zeichenvorlage entspricht dabei genau der optischen Vergrößerung des Profilprojektors.
  • Wenn es sich nun darum handelt, bei Profilen und Gegenprofilen, die nahezu kongruent sind, beispielsweise von Schnittplatten und -stempeln. die Luft zwischen beiden Profilen zu berücksichtigen, so entstehen bei der Anfertigung der Zeichenvorlagen erhebliche Schwierigkeiten. da diese nur um die entsprechend dem Vergrößerungsmaßstab zu beriicksichtigende Passungstoleranz abweichen. Durch die Anfertigung verschiedener Zeichenvorlagen, die für den Bearbeitungs- bzw. Prüfungsvorgang die Sollform darstellen, können Fehler entstehen, die auch in dem Umspannen der Zeichenvorlage begründet sein können.
  • Solche Fehler sind besonders dann störend, wenn sie innerhalb der Passungstoleranz zwischen Profil und Gegenprofil liegen. Außerdem ist der Mehraufwand an Zeichenarbeit nachteilig.
  • Das Ziel der Erfindung ist es, diese Nachteile zu vermeiden und das Bearbeiten und Prüfen solcher Profile zu vereinfachen, zu verbessern und zu verbilligen. Erreicht wird das nach der Erfindung dadurch, daß der Profilprojektor außer der Stufeneinstellung der Vergrößerung eine innerhalb von Feinpassungen auf diese geeichte Feinverstellung des Vergrößerungsverhältnisses aufweist und die negative bzw. positive Passung nach der für dieVergrößerungsstufe hergestellten, die Sollform aufweisende Zeichenvorlage nach dem um die Passung vergrößert bzw. verkleinert abgehildeten Werkstückprofil einstellbar ist. Da der Vergrößerungsmaßstab des Profilprojektors mit einer geringen Plus-Minus-Abweichung von dem Vergrößerungsfaktor verstellt werden kann, lassen sich damit an dem Werkstück außerordentlich feine Passungstoleranzen bei der Bearbeitung berücksichtigen bzw. an bereits bearbeiteten Werkstücken nachprüfen. Da ein und dieselbe Zeichenvorlage als Sollform I>enutzt wird, werden die bisher möglichen Fehler, die aus Ungenauigkeiten zwischen beiden Zeichenvorlagen herrühren konnte+, vermieden. Zwei ähnliche Profile können somit durch einfache Verstellung des Vergrößerungsmaßstabes bearbeitet bzw. geprüft werden. Die Erfindung ist beispielsweise auch bei der Herstellung bzw. zum Prüfen von Lehren mit einer Gut- und einer Ausschuß seite anwendbar.
  • Bekannt ist es bei Gravier- und Kopiermaschinen, die mit einem Pantographengestänge versehen sind, dieses Gestänge zur Veränderung des tSbertragungsverhältnisses zu verstellen. Um bei einem Pantographen das Ubertragungsverhältnis zu ändern, ist es erforderlich, an dem Pantographengestänge gleichzeitig zwei Einstellungen vorzunehmen, die genau übereinstimmen müssen, damit einerseits das Pantographengestänge nicht klemmt, andererseits keine Profilverzerrungen auftreten. Solche Profilverzerrungen können aber bei Bearbeitung von Werkstück und Gegenwerkstück im Bereich der Passungstoleranz zu erheblichen Fehlern führen, so daß beide Einstellungen mit sehr großer Genauigkeit vorgenommen werden müssen.
  • Ganz abgesehen davon, daß es sich bei Einrichtungen dieser Art um solche handelt, die sich in ihrem Aufbau und ihrer Wirkungsweise ganz wesentlich von einem rein optischen Profilprojektor unterscheiden, sind derartige Einrichtungen also auch fiir Zwecke, denen die Erfindung dient, verständlicherweise völlig ungeeignet.
  • Bekannt ist es weiterhin, speziell auch schon bei Profilproj ektoren, MilkrometerfeineinstHllungen für Teile des optischen Ausbildungssystems zu verwenden. Das Gerät, bei dem schon eine solche Mikrometerfeineinstel lung anzutreffen ist, hat indessen ebenfalls wiederum hinsichtlich seines Aufbaues, seines Zweckes und der Art seiner Handhabung im übrigen nichts mit der Erfindung gemeinsam und stellt einen Projektionsapparat zur Erzeugung eines Schattenrißbildes eines Gegenstandes auf einem Schirm dar. Eine eine Sollform aufweisende Zeichenvorlage wird bei diesem vorbekannten Gerät oder Projektionsapparat nicht verwendet, vielmehr erhält dieser Apparat Mittel zur Erzeugung zweier Schattenrißbilder eines Gegenstandes auf einem Schirm, wobei eines bezüglich des anderen umgekehrt ist, und Mittel zur Erzeugung relativer Bewegungen der zwei Bilder, um z. B. die benachbarten Kanten der zwei Bilder in Gegenüberstellung zu bringen und die Genauigkeit eines Schraubengewindes prüfen zu können. In diesem Falle sind die Niiikrometereinstelllnittel lediglich dazu vorgesehen, die zwei Bilder übereinander zu bringen.
  • Wie der eingangs angegebene Erfindungsgedanke im einzelnen baulich beispielsweise verwirklicht werden kann und welche verschiedenen Möglichkeiten hierfür gegeben sind, geht aus der Zeichnung hervor. und zwar zeigt Fig. 1 eine Profilschleifmaschine mit Meßtrommel für die Feineinstellung des Vergrößerungsmaßstabes in Ansicht.
  • Fig. 2 einen Grundriß zur Maschine nadel Fig. 1, Fig. 3 die Verstellung des Linsensystems, Fig. 4 die Verstellung des Spiegels und Fig. 5 die Verstellung des Bildschirmes durch die Feineinstellung.
  • Die Erfindung ist an dem Beispiel einer Profilschleifmaschine erläutert, die in den Fig. 1 und 2 dargestellt ist. Darin bezeichnet 1 das Gestell, 2 den Schleifsupport und 3 den schwenkbaren Schleifkopf mit der Schleifscheibe 4. Der Werkstücksupport 5 nimmt das Werkstück auf. Seine Höheneinstellung erfolgt an dem Handrad6. Die Höheneinstellung dient zur Scharfeinstellung des P roj ektionsbildes, das durch das Aufnahmeobjektiv 7 auf den Bildschirm 8 projiziert wird. Die Projektionseinrichtung 9 ist zwischen zwei mit dem Gestell verbundenen Armen 10 aufgehängt und an ihrem freien Ende bei 11 unterstützt.
  • Die Meßtrommel 12 dient zur Feinverstellung des Vergrößerungsmaßstabes in den Größen der Passungstoleranz.
  • Bei einer Profilprüfmaschine kommt das die Schleifscheibe 4 tragende Schleifaggregat in Fortfall.
  • Das Aufnahmeobjektiv 7 projiziert das vergrößerte Bild des mittels einer Auflicht- oder Durchlichtlampe beleuchteten Werkstückes unter Verwendung eines Spiegelprismas 13, einer Linsenoptik 14 und eines Spiegels 15 auf den Bildschirm 8.
  • In den Fig. 3 bis 5 sind verschiedene Ausführungsformen der Feinverstellung des Vergrößerungsmaßstabes beispielsweise dargestellt. In der Fig. 3 verstellt die Meßtrommel 12 mit der Mikrometerteilung 12' über das Getriebe 16 die Linsenoptik 14, die zu diesem Zweck auf dem Schlitten 17 befestigt ist, der in Führungen 18 einer Halterungl9 in Richtung ihrer optischen Achse 20 geführt ist. Durch die Verschiebung der Linsenoptik 14 wird der Vergrößerungsmaßstab geändert. so daß das Werkstück um diesen Faktor vergrößert oder verkleinert auf dem Bildschirm erscheint.
  • In der Fig. 4 bewirkt die Meßtrommel 12 eine Verstellung des Spiegels 15 in die mit 15' bezeichnete gestrichelt dargestellte Stellung. Das Feineinstellgetriebe 16 verschiebt hierzu den in den Führungen 18 geführten Schlitten 17, an dem der Spiegel befestigt ist. Durch die Parallelverstellung des Spiegels wird der Vergrößerungsm aß stab geändert.
  • In der Fig. 5 bewirkt die Meßtrommel 12 eine Verstellung des Bildschirmes 8, der zu diesem Zweck an dem in Längsführungen 18 gleitenden Schlitten 17 befestigt ist und in dem Gehäuse des Projektors frei beweglich ist. Auch hierdurch wird eine Feinverstellungs des Vergrößerungsmaßstabes bewirkt.
  • Unabhängig von den vorbeschriebenen Feineinstellvorrichtungen kann der Vergrößerungsmaßstab, wie es an sich bekannt ist, auch in großen Stufen einstellbar sein, die ein Vielfaches des ursprünglichen Vergrößerungsmaßstabes betragen. Man kann heispielsweise mit einer 25- oder 50fachen Vergrößerung arbeiten und erhält bei einer doppelten Vergrößerung entsprechend feine Passungstoleranzen.
  • Geht man davon aus, daß die Grundeinstellung des Profilprojektors eine genaue UbereiIlstimmullg der eingestellten optischen Vergrößerung mit der Vergrößerung der Zeichenvorlage herstellt, so wird sich eine +-Abweichung des Vergrößerungsmaßstabes, lei der das projizierte Bild des VSerkstückes gegenüber der Grundvergrößerung etwas vergrößert erscheint, dahin auswirken, daß das nunmehr nach der gleichen Sollform bearbeitete oder geprüfte Werkstück um die eingestellte Passungstoleranz kleiner ist. Bei einer --Abweichung des Vergrößerungsmaßstabes, bei der das Werkstück gegenüber der ursprünglichen Vergrößerung etwas verkleinert erscheint, würde das nach der gleichen Sollform bearbeitete oder geprüfte Werkstück um die eingestellte Passungstoleranz größer sein.
  • PATENTANSPR t}CHE: 1. Profilprojektor mit mehreren einstellbaren Vergrößerungsstufen, z. B. 25- oder 50fache Vergrößerung, zum Schleifen oder Prüfen von profilierten Werkstücken und Gegenwerkstücken, z. B.
  • Schnittstempel und Schnittplatten, dadurch gekennzeichnet, daß der Profilprojektor außer der Stufeneinstellung der Vergrößerung eine innerhalb von Feinpassungen auf diese geeichte Feinverstellung des Vergrößerungsverhältnisses aufweist und die negative bzw. positive Passung nach der für die Vergrößerungsstufe hergestellten, die 5 ollform aufweisenden Zeichenvorlage nach dem um die Passung vergrößert bzw. verkleinert abgebildeten Werkstückprofil einstellbar ist.

Claims (1)

  1. 2. Profilprojektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Feintriebwerk eine geeichte Meßtrommel (12) besitzt, an welcher die Passungstoleranz eines Gegenstückes gegenüber einem mit der Sollform übereinstimmenden Werkstück unmittelbar einstellbar und ablesbar ist.
    3. Profilprojektor nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Feintriebwerk (16) den Spiegel (15) oder den Bildschirm (8) oder das Linsensystem (14) der Projektionsoptik verstellt.
    4. Profilprojektor nach den Ansprüchen 1 bis 3, gekennzeichnet durch die Anwendung auf Profilbearbeitungsmaschinen, insbesondere Profilschleifmaschinen. s. Profilprojektor nach den Ansprüchen 1 bis 3, gekennzeichnet durch die Anwendung auf Profilprüfinaschinen.
    In Betracht gezogene Druckschriften: USA.-Patentschrift Nr. 2 204 841; schweizerische Patentschriften Nr. 201 059, 237 983, 257 132; I. Schwidefsky: »Einführung in die Luft- und Erdbild-Messung«, 1936, S. 76, Abs. 3.
DEL16324A 1953-08-13 1953-08-13 Profilprojektor mit mehreren einstellbaren Vergroesserungsstufen zum Schleifen oder Pruefen von profilierten Werkstuecken und Gegenwerkstuecken, beispielsweise Schnittstempeln und Schnittplatten Pending DE1031002B (de)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1448407B1 (de) * 1962-10-05 1970-02-12 Feinmechanik Gmbh Optische Zusatzeinrichtung fuer Fraeswerkzeugschleifmaschinen

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH201059A (de) * 1936-10-08 1938-11-15 Ernest Spiers Werkzeugmaschine.
US2204841A (en) * 1936-03-28 1940-06-18 Deckel Friedrich Driving means for engraving and copying machines
CH237983A (de) * 1941-07-15 1945-06-15 Mechanisch Optische Erfindunge Profilprüfgerät.
CH257132A (de) * 1941-11-12 1948-09-30 Standard Telephon & Radio Ag Projektionsapparat.

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2204841A (en) * 1936-03-28 1940-06-18 Deckel Friedrich Driving means for engraving and copying machines
CH201059A (de) * 1936-10-08 1938-11-15 Ernest Spiers Werkzeugmaschine.
CH237983A (de) * 1941-07-15 1945-06-15 Mechanisch Optische Erfindunge Profilprüfgerät.
CH257132A (de) * 1941-11-12 1948-09-30 Standard Telephon & Radio Ag Projektionsapparat.

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1448407B1 (de) * 1962-10-05 1970-02-12 Feinmechanik Gmbh Optische Zusatzeinrichtung fuer Fraeswerkzeugschleifmaschinen

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