BR112012031279B1

BR112012031279B1 - Aparelho e método de medição de forma, e método de produção de uma chapa de vidro

Info

Publication number: BR112012031279B1
Application number: BR112012031279-0A
Authority: BR
Inventors: Kimiaki OHTO
Original assignee: AGC Inc.
Priority date: 2010-06-07
Filing date: 2011-06-06
Publication date: 2020-02-11
Also published as: EP2578990B1; US20130094714A1; BR112012031279A2; WO2011155447A1; EP2578990A4; CN102939512A; JP5817721B2; EP2578990A1; TW201144750A; KR20130113321A; JPWO2011155447A1; US9152844B2

Abstract

dispositivo de medição de forma, método de medição de forma, e método para fabricar chapa de vidro. a presente invenção refere-se a uma tecnologia capaz de medir formas tridimensionais com a aplicação de um método estereofônico, mesmo no caso em que um objeto apresenta uma superfície espelhada. um aparelho de medição de forma 1 é equipado com uma seção de especificação de posição padrão 20 (seção de especificação de posição padrão antes do movimento, seção de especificação de posição padrão depois do movimento), uma seção de cálculo de posição de captura de imagem 30 (seção de cálculo de posição de captura de imagem antes do movimento, seção de cálculo de captura de imagem depois do movimento), uma seção de especificação de área de pixel 40 (segunda seção de especificação de área de pixel), uma seção de cálculo de ângulo de inclinação 50 (entre a seção de cálculo de ângulo de inclinação antes do movimento, a seção de cálculo de ângulo de inclinação depois do movimento), uma seção de determinação de coordenada de direção de altura 60, e uma seção de saída 80.

Description

Relatório Descritivo da Patente de Invenção para APARELHO E MÉTODO DE MEDIÇÃO DE FORMA, E MÉTODO DE PRODUÇÃO DE UMA CHAPA DE VIDRO.

CAMPO TÉCNICO [001] A presente invenção refere-se a um aparelho de medição de forma, a um método de medição de forma, e a um método de produção de chapa de vidro. Mais particularmente, a presente invenção se refere a um aparelho de medição de forma e a um método de medição de forma para medir a forma tridimensional de um objeto usando um método estereofônico, e a um método de produção de chapa de vidro.

TÉCNICA ANTECEDENTE [002] Convencionalmente, como uma tecnologia para medir a forma tridimensional de um objeto, foi usada uma tecnologia (método estereofônico) na qual a imagem de um objeto é capturada em duas direções e as coordenadas espaciais de um determinado ponto no objeto são reconhecidas, conforme descrito em JP-A-2009-181492, por exemplo.

SUMÁRIO DA INVENÇÃO

PROBLEMA A SER SOLUCIONADO PELA INVENÇÃO [003] Contudo, no caso em que um objeto apresenta uma superfície espelhada, é difícil aplicar o método estereofônico convencional porque o mesmo ponto na superfície espelhada não pode ser reconhecido em duas direções. Consequentemente, o método estereofônico convencional apresenta um problema em que a forma tridimensional de um objeto apresentando uma superfície espelhada (por exemplo, vidro) não pode ser medida. A presente invenção foi criada levando em consideração estas circunstâncias, e provê uma tecnologia capaz de medir formas tridimensionais com a aplicação do método estereofônico, mesmo no caso em que um objeto

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2/42 apresenta uma superfície espelhada.

MEIOS PARA SOLUCIONAR O PROBLEMA [004] Para fins de solucionar o problema acima mencionado, um aparelho de medição de forma que serve como uma modalidade da presente invenção é equipado com uma seção de cálculo configurada para calcular um ângulo de inclinação em uma posição em uma superfície espelhada de um objeto a ser medido em um momento em que uma coordenada de direção de altura do objeto a ser medido é assumida como uma coordenada de direção de altura com base em uma imagem capturada que é obtida com a captura de uma imagem da superfície espelhada do objeto a ser medido, de modo que uma forma do mesmo seja medida, e na qual é capturada uma imagem refletida de um padrão disposto em uma periferia do objeto a ser medido, e para calcular um ângulo de inclinação na mesma posição, quando a coordenada de direção de altura for assumida como a mesma coordenada de direção de altura com base em outra imagem capturada obtida similarmente depois que o objeto a ser medido é movido por um grau predeterminado, e com uma seção de determinação configurada para comparar o ângulo de inclinação na posição antes e depois que o objeto a ser medido é movido pelo grau determinado, e para determinar a coordenada de direção de altura no momento de coincidência como a coordenada de direção de altura na posição do objeto a ser medido.

[005] Para fins de solucionar o problema acima mencionado, um aparelho de medição de forma que serve como outra modalidade da presente invenção é equipado com uma seção de cálculo configurada para calcular um ângulo de inclinação em uma posição em uma superfície espelhada de um objeto a ser medido em um momento em que uma coordenada de direção de altura do objeto a ser medido é assumida como uma coordenada de direção de altura, e um ângulo de

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3/42 inclinação em outra posição adjacente a uma posição com base em uma imagem capturada que é obtida com a captura de uma imagem da superfície espelhada do objeto a ser medido, de modo que uma forma do mesmo seja medida, e na qual é capturada uma imagem refletida de um padrão descrito em uma periferia do objeto a ser medido, e com uma seção de determinação para comparar o ângulo de inclinação em uma posição do objeto a ser medido com o ângulo de inclinação na outra posição do mesmo, e para determinar a coordenada de direção de altura no momento de coincidência como a coordenada de direção de altura em uma posição do objeto a ser medido.

[006] Para fins de solucionar o problema acima mencionado, um aparelho de medição de forma que serve como outra modalidade da presente invenção, para medir uma forma de um objeto a ser medido usando imagens capturadas que são capturadas antes e depois de um movimento do objeto a ser medido apresentando uma superfície espelhada por meio de um dispositivo de captura de imagem disposto em uma posição fixa, e capturadas com a reflexão de um padrão disposto na posição fixa na superfície espelhada do objeto a ser medido, inclui uma seção de especificação de posição padrão antes do movimento configurada para especificar uma posição padrão de captura de imagem antes do movimento que serve como uma posição em um padrão capturado por imagem em uma imagem capturada antes do movimento usada como a imagem capturada antes do movimento e no padrão capturado por imagem em uma primeira área de pixel predeterminada do dispositivo de captura de imagem, uma seção de cálculo de posição de captura de imagem antes do movimento configurada para assumir a coordenada de direção de altura do objeto a ser medido como uma coordenada de direção de altura, e para calcular uma posição de captura de imagem antes do

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4/42 movimento que serve como uma posição localizada na superfície espelhada do objeto a ser medido antes do movimento na qual a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura e capturada por imagem na primeira área de pixel de uma coordenada de direção de altura e a primeira área de pixel, uma seção de cálculo de ângulo de inclinação antes do movimento configurada para calcular um ângulo de inclinação antes do movimento que serve como o ângulo de inclinação na posição de captura de imagem antes do movimento no momento em que coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura da primeira área de pixel, a posição padrão de captura de imagem antes do movimento, e a posição de captura de imagem antes do movimento no momento em que a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura, uma seção de cálculo de posição de captura de imagem depois do movimento configurada para calcular uma posição de captura de imagem depois do movimento que serve como uma posição localizada na superfície espelhada do objeto a ser medido depois do movimento na qual a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura e correspondendo à posição de captura de imagem antes do movimento no momento em que a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura, uma segunda seção de especificação de área de pixel configurada para especificar uma segunda área de pixel na qual a posição de captura de imagem depois do movimento no momento em que a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura é capturada por imagem na área de pixel do dispositivo de captura de imagem e em uma imagem capturada depois do movimento que serve como a imagem capturada depois do movimento, uma seção de especificação de posição padrão

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5/42 depois do movimento configurada para especificar uma posição padrão de captura de imagem depois do movimento que serve como uma posição no padrão capturado por imagem na imagem capturada depois do movimento e no padrão capturado por imagem na segunda área de pixel, uma seção de cálculo de ângulo de inclinação depois do movimento configurada para calcular um ângulo de inclinação depois do movimento que serve como um ângulo de inclinação na posição de captura de imagem depois do movimento no momento em que a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura da posição de captura de imagem depois do movimento no momento em que a coordenada de direção de altura do objeto a ser medido é assumida como uma coordenada de direção de altura, a segunda área de pixel e a posição padrão de captura de imagem depois do movimento, e uma seção de determinação de coordenada de direção de altura configurada para comparar o ângulo de inclinação antes do movimento com o ângulo de inclinação depois do movimento no momento em que a coordenada de direção de altura do objeto a ser medido é assumida como uma coordenada de direção de altura, e para determinar a coordenada de direção de altura no momento de coincidência como a coordenada de direção de altura na posição de captura de imagem antes do movimento do objeto a ser medido.

[007] O aparelho de medição de forma acima mencionado pode ser adicionalmente equipado com uma seção de saída configurada para emitir informação de forma da superfície espelhada do objeto a ser medido com base na coordenada de direção de altura em cada posição de captura de imagem antes do movimento determinada pela seção de determinação de coordenada de direção de altura.

[008] Para fins de solucionar o problema acima mencionado, um aparelho de medição de forma que serve como outra modalidade da

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6/42 presente invenção, para medir uma forma de um objeto a ser medido usando imagens capturadas do objeto a ser medido apresentando uma superfície espelhada capturada por um dispositivo de captura de imagem disposto em uma posição fixa, e capturadas com a reflexão de um padrão disposto na posição fixa na superfície espelhada do objeto a ser medido, inclui uma primeira seção de especificação de posição padrão configurada para especificar uma primeira posição padrão de captura de imagem que serve como uma posição no padrão capturado por imagem na imagem capturada e no padrão capturado por imagem em uma primeira área de pixel predeterminada do dispositivo de captura de imagem, uma segunda seção de especificação de posição padrão configurada para especificar uma segunda posição padrão de captura de imagem que serve como uma posição no padrão capturado por imagem na imagem capturada e no padrão capturado por imagem em uma segunda área de pixel predeterminada do dispositivo de captura de imagem, uma primeira seção de cálculo de posição de captura de imagem configurada para assumir a coordenada de direção de altura do objeto a ser medido como uma coordenada de direção de altura, e para calcular uma primeira posição de captura de imagem que serve como uma posição localizada na superfície espelhada do objeto a ser medido na qual a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura e capturada por imagem na primeira área de pixel de uma coordenada de direção de altura e a primeira área de pixel, uma primeira seção de cálculo de ângulo de inclinação configurada para calcular um primeiro ângulo de inclinação que serve como o ângulo de inclinação na primeira posição de captura de imagem no momento em que a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura da primeira área de pixel, a primeira posição padrão de captura de imagem, e a primeira posição de captura de imagem no momento em

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7/42 que a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura, uma segunda seção de cálculo de posição de captura de imagem configurada para calcular uma segunda posição de captura de imagem que serve como uma posição localizada na superfície espelhada do objeto a ser medido na qual a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura e capturada por imagem na segunda área de pixel da segunda área de pixel, a primeira posição de captura de imagem no momento em que a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura, e o primeiro ângulo de inclinação, uma segunda seção de cálculo de ângulo de inclinação configurada para calcular um segundo ângulo de inclinação que serve como o ângulo de inclinação na segunda posição de captura de imagem no momento em que a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura da segunda área de pixel, a segunda posição padrão de captura de imagem, e a segunda posição de captura de imagem no momento em que a coordenada de direção de altura do objeto a ser medido é assumida como uma coordenada de direção de altura, e uma seção de determinação de coordenada de direção de altura configurada para comparar o primeiro ângulo de inclinação com o segundo ângulo de inclinação no momento em que a coordenada de direção de altura do objeto a ser medido é assumida como uma coordenada de direção de altura, e para determinar a coordenada de direção de altura no momento de coincidência como a coordenada de direção de altura na primeira posição de captura de imagem do objeto a ser medido.

[009] O aparelho de medição de forma acima mencionado pode ser adicionalmente equipado com uma seção de saída configurada para emitir informação de processamento de acordo com o que o objeto a ser medido é processador com base na coordenada de

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8/42 direção de altura em cada primeira posição de captura de imagem determinada pela seção de determinação de coordenada de direção de altura.

[0010] Para fins de solucionar o problema acima, um método de medição de forma que serve como outra modalidade da presente invenção, para medir uma forma de um objeto a ser medido usando imagens capturadas que são capturadas antes e depois de um movimento do objeto a ser medido apresentando uma superfície espelhada por meio de um dispositivo de captura de imagem disposto em uma posição fixa, e capturadas com a reflexão de um padrão disposto na posição fixa na superfície espelhada do objeto a ser medido, inclui: especificar uma posição padrão de captura de imagem antes do movimento que serve como uma posição no padrão capturado por imagem em uma imagem capturada antes do movimento usada como a imagem capturada antes do movimento e no padrão capturado por imagem em uma primeira área de pixel predeterminada do dispositivo de captura de imagem; assumir a coordenada de direção de altura do objeto a ser medido como uma coordenada de direção de altura, e calcular uma posição de captura de imagem antes do movimento que serve como uma posição localizada na superfície espelhada do objeto a ser medido antes do movimento na qual a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura e capturada por imagem na primeira área de pixel de uma coordenada de direção de altura e a primeira área de pixel; calcular um ângulo de inclinação antes do movimento que serve como um ângulo de inclinação na posição de captura de imagem antes do movimento no momento em que a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura da primeira área de pixel, a posição padrão de captura de imagem antes do movimento, e a posição de captura de imagem antes

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9/42 do movimento no momento em que a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura; calcular uma posição de captura de imagem depois do movimento que serve como uma posição localizada na superfície espelhada do objeto a ser medido depois do movimento na qual a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura e correspondendo à posição de captura de imagem antes do movimento no momento em que a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura; especificar uma segunda área de pixel na qual a posição de captura de imagem depois do movimento no momento em que a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura é capturada por imagem na área de pixel do coordenada de direção de altura e em uma imagem capturada depois do movimento que serve como a imagem capturada depois do movimento; especificar uma posição padrão de captura de imagem depois do movimento que serve como uma posição no padrão capturado por imagem na imagem capturada por imagem depois do movimento e no padrão capturado por imagem na segunda área de pixel; calcular um ângulo de inclinação depois do movimento que serve como um ângulo de inclinação na posição de captura de imagem depois do movimento no momento em que a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura da posição de captura de imagem depois do movimento no momento em que a coordenada de direção de altura do objeto a ser medido é assumida como uma coordenada de direção de altura, a segunda área de pixel, e a posição padrão de captura de imagem depois do movimento; e comparar o ângulo de inclinação antes do movimento com o ângulo de inclinação depois do movimento no momento em que a coordenada de direção de altura do objeto a ser medido é assumida como uma coordenada de direção de altura, e

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10/42 determinar a coordenada de direção de altura no momento de coincidência como a coordenada de direção de altura na posição de captura de imagem antes do movimento do objeto a ser medido.

[0011] Para fins de solucionar o problema acima mencionado, um método de medição de forma que serve como outra modalidade da presente invenção, para medir uma forma de um objeto a ser medido usando imagens capturadas do objeto a ser medido apresentando uma superfície espelhada capturada por meio de um dispositivo de captura de imagem disposto em uma posição fixa, e capturadas com a reflexão de um padrão disposto na posição fixa na superfície espelhada do objeto a ser medido, inclui: especificar uma primeira posição padrão de captura de imagem que serve como uma posição no padrão capturado por imagem na imagem captura e no padrão capturado por imagem em uma primeira área de pixel predeterminada do dispositivo de captura de imagem; especificar uma segunda posição padrão de captura de imagem que serve como uma posição no padrão capturado por imagem na imagem capturada e no padrão capturado por imagem em uma segunda área de pixel predeterminada do dispositivo de captura de imagem; assumir a coordenada de direção de altura do objeto a ser medido como uma coordenada de direção de altura, e calcular uma primeira posição de captura de imagem que serve como uma posição localizada na superfície espelhada do objeto a ser medido na qual a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura e capturada por imagem na primeira área de pixel de uma coordenada de direção de altura e a primeira área de pixel; calcular um primeiro ângulo de inclinação que serve como o ângulo de inclinação na primeira posição de captura de imagem no momento em que a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura da primeira área de pixel, a primeira posição

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11/42 padrão de captura de imagem, e a primeira posição de captura de imagem no momento em que a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura; calcular uma segunda posição de captura de imagem que serve como uma posição localizada na superfície espelhada do objeto a ser medido na qual a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura e capturada por imagem na segunda área de pixel da segunda área de pixel, a primeira posição de captura de imagem no momento em que a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura, e o primeiro ângulo de inclinação; calcular um segundo ângulo de inclinação que serve como o ângulo de inclinação na segunda posição de captura de imagem no momento em que a coordenada de direção de altura é assumida como uma coordenada de direção de altura da segunda área de pixel, a segunda posição padrão de captura de imagem, e a segunda posição de captura de imagem no momento em que a coordenada de direção de altura do objeto a ser medido é assumida como uma coordenada de direção de altura; e comparar o primeiro ângulo de inclinação com o segundo ângulo de inclinação no momento em que a coordenada de direção de altura do objeto a ser medido é assumida como uma coordenada de direção de altura, e determinar a coordenada de direção de altura no momento de coincidência como a coordenada de direção de altura na primeira posição de captura de imagem do objeto a ser medido.

[0012] Para fins de solucionar o problema acima mencionado, um método de produção de chapa de vidro inclui: fundir matérias-primas de vidro para obter vidro fundido; transformar o vidro fundido em uma fita de vidro na forma de chapa contínua; lentamente resfriar a fita de vidro enquanto da movimentação da fita de vidro; e cortar a fita de vidro, o método de produção adicionalmente incluindo: medir a

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12/42 coordenada de direção de altura da fita de vidro a partir da face de referência da mesma entre o resfriamento lento e o corte usando o aparelho de medição de forma acima mencionado, e controlar as condições de resfriamento lento no resfriamento lento com base na coordenada de direção de altura obtida na medição.

EFEITOS DA INVENÇÃO [0013] Com a presente invenção, formas tridimensionais podem ser medidas com a aplicação de um método estereofônico, mesmo no caso em que um objeto apresenta uma superfície espelhada. Além disso, com o uso do aparelho de medição de forma ou do método de medição de forma de acordo com a presente invenção, podem ser produzidos produtos de vidro com alta qualidade na forma, mais especificamente, chapas de vidro com menos risco de distorção ou semelhante.

BREVE DESCRIÇÃO DOS DESENHOS [0014] A figura 1 é um exemplo de um diagrama de bloco de função de um aparelho de medição de forma 1 de acordo com uma primeira modalidade da presente invenção;

[0015] a figura 2 é uma vista esquemática que ilustra a operação do aparelho de medição de forma 1;

[0016] a figura 3 é outra vista esquemática que ilustra a operação do aparelho de medição de forma 1;

[0017] a figura 4 é um fluxograma que mostra um exemplo da operação do aparelho de medição de forma 1;

[0018] a figura 5 é um exemplo de um diagrama de bloco de função de um aparelho de medição de forma 100 de acordo com uma segunda modalidade da presente invenção;

[0019] a figura 6 é uma vista esquemática que ilustra a operação do aparelho de medição de forma 100;

[0020] a figura 7 é outra vista esquemática que ilustra a operação

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13/42 do aparelho de medição de forma 100;

[0021] a figura 8 é um fluxograma que mostra um exemplo da operação do aparelho de medição de forma 100;

[0022] a figura 9 é um exemplo de saída com base na informação de forma criada usando os aparelhos de medição de forma 1 e 100;

[0023] a figura 10 é uma vista esquemática que ilustra a operação dos aparelhos de medição de forma 1 e 100;

[0024] a figura 11 é uma vista explicativa esquemática que mostra uma linha de produção de chapa de vidro na qual é aplicado o aparelho de medição de forma 1 ou o aparelho de medição de forma 100;

[0025] E a figura 12 é um fluxograma que mostra as etapas de um método de produção de chapa de vidro.

MODOS PARA SE EXECUTAR A INVENÇÃO

Primeira modalidade [0026] Uma primeira modalidade de acordo com a presente invenção será descrita abaixo com referência aos desenhos.

[0027] A figura 1 é um exemplo de um diagrama de bloco de função de um aparelho de medição de forma 1 de acordo com a primeira modalidade da presente invenção. Na figura 1, a superfície de um material de vidro 3 que serve como um objeto a ser medido (um objeto apresentando uma superfície espelhada) pelo aparelho de medição de forma 1 apresenta uma forma tridimensional formada de uma superfície curva. Um padrão 4 apresentando um padrão predeterminado (por exemplo, um padrão na forma de grade) é disposto acima do material de vidro 3, e o padrão deste padrão 4 é refletido e espelhado sobre a superfície acima mencionada do material de vidro 3.

[0028] O aparelho de medição de forma 1 de acordo com esta modalidade captura as imagens do padrão refletido na superfície do

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14/42 material de vidro 3 usando um dispositivo de captura de imagem 2 antes e depois que o material de vidro 3 é movido e calcula a coordenada (coordenada de direção de altura) na direção da altura (a direção z mostrada na figura 1) em um ponto de medição sobre a superfície do material de vidro 3 usando as duas imagens obtidas antes e depois do movimento. Além disso, o aparelho de medição de forma 1 cria tal informação de forma, conforme mostrado na figura 9 e representando a forma tridimensional da superfície do material de vidro 3 com base nas coordenadas calculadas em cada ponto de medição, emitindo então a informação. Como um método para mover o material de vidro 3, deve ser apenas usada a tecnologia convencional, isto é, um aparelho de condução geralmente usado, uma mesa sobre rodinhas, ou semelhante.

[0029] Antes que sejam descritas funções das respectivas seções do aparelho de medição de forma 1 mostrado na figura 1, o princípio de medir uma forma tridimensional usando o aparelho de medição de forma 1 será aqui descrito com referência às figuras 2 e 3.

[0030] Primeiramente, a imagem do padrão 4 refletida sobre a superfície do material de vidro 3 é capturada pelo dispositivo de captura de imagem 2, e é executada uma verificação para confirmar qual porção do padrão 4 está representada em uma posição predeterminada (uma área de pixel P0) dentro da imagem obtida. Por exemplo, no caso em que o padrão 4 é um padrão na forma de grade, uma posição dentro do padrão 4 pode ser especificada pela contagem do número de grades na imagem. É assumido que a posição de uma porção do padrão 4 representada na área de pixel P0 é X0 (vide a parte superior da figura 2).

[0031] Neste momento, o feixe de luz emitido da posição X0 do padrão 4 é refletido pela superfície do material de vidro 3, sendo formada a imagem da área de pixel P0 dentro da imagem capturada;

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15/42 contudo, uma vez que a forma da superfície do material de vidro 3 é desconhecida, o verdadeiro ponto de reflexão sobre o material de vidro 3 não é exclusivamente determinado (o ponto de reflexão é localizado em algum lugar na linha reta Lo orientada na direção da área de pixel P0, conforme visto a partir do dispositivo de captura de imagem 2). A figura 2 mostra os candidatos A0(1), A0(2), e A0(3) dos três pontos de reflexão apresentando diferentes alturas (os valores de coordenada na direção z medidos a partir da face de referência M mostrada na figura). É assumido que as alturas dos pontos de reflexão Ao(1), Ao(2), e Ao(3) são Hi, H2 e H3 (Hi<H2<H3), respectivamente. Uma coordenada na direção de altura é adiante simplesmente referida como uma altura em alguns casos.

[0032] No caso em que o ponto de reflexão Ao(1) apresentando a altura H1 é assumido como o ponto de reflexão, é suposto que o plano tangente (assumido) da superfície do material de vidro 3 neste ponto de reflexão Ao(1) apresenta um ângulo de inclinação Θο(1) que é igual àquele de uma superfície de reflexão S1 por meio da qual o feixe de luz emitido da posição X0 do padrão 4 e incidente sobre o ponto de reflexão Ao(1) é refletido para a área de pixel Po do dispositivo de captura de imagem 2. No caso em que o ponto de reflexão Ao(2) ou Ao(3) é assumido como o ponto de reflexão, o plano tangente (assumido) da superfície do material de vidro 3 em cada destes pontos de reflexão apresenta um ângulo de inclinação Θο(2) ou Θο(3) que é igual àquele de uma superfície de reflexão S2 ou S3, respectivamente, correspondendo ao mesmo.

[0033] Neste momento, como o ponto de reflexão é mais alto (isto é, Ao(2) é mais alto do que Ao(1), e Ao(3) é adicionalmente mais alto do que Ao(2)), o ângulo incidente do feixe de luz emitido da posição Xo do padrão 4 e incidente sobre cada das superfícies de reflexão S1, S2 , e S3 se torna menor; consequentemente, uma relação de

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16/42 θο(1)<θο(2)<θο(3) é estabelecida (aqui é assumido que o ângulo de inclinação é definido como um ângulo formado pela direção de menos do eixo x mostrada na figura e pela linha normal orientada para o lado superior de cada superfície de reflexão na figura). Esta relação é representada por uma curva Co no gráfico da figura 3. Desta forma, o ângulo de inclinação ^(n) serve como uma função da altura Hn do ponto de reflexão. Entretanto, conforme descrito acima, não pode ser exclusivamente determinado a que ponto nesta curva Co corresponde o verdadeiro ponto de reflexão.

[0034] A seguir, o material de vidro 3 é movido por uma distância

L, e, depois do movimento, a imagem do padrão do padrão 4 refletido sobre a superfície do material de vidro 3 é capturada novamente pelo dispositivo de captura de imagem 2 (vide a parte inferior da figura 2). Uma vez que o material de vidro 3 tenha sido movido, o ponto de reflexão assumido acima mencionado Ao(1) apresentando a altura Hi foi movido para uma posição AL(1) que está afastada da posição original do mesmo pela distância L enquanto a altura Hi é mantida. A distância L pode ser ajustada em qualquer valor, contanto que o valor esteja dentro da faixa de captura de imagem do dispositivo de captura de imagem 2.

[0035] Quando for assumido que a direção de captura de imagem (a direção na qual o dispositivo de captura de imagem 2 é orientado) do dispositivo de captura de imagem 2 é conhecida, a área de pixel PL(1) que captura a posição AL(1) dentro da imagem capturada depois do movimento do material de vidro 3 é conhecida da relação entre o material de vidro 3 e o dispositivo de captura de imagem 2. Depois, é executada uma verificação para confirmar que porção do padrão 4 está representada na área de pixel Pl(1) em uma maneira similar àquela executada antes do movimento do material de vidro 3. É assumido que a posição de uma porção do padrão 4 representada na

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17/42 área de pixel Pl(1 ) é Xl(1).

[0036] Neste momento, o feixe de luz emitido da posição Xl(1) do padrão 4 é refletida no ponto de reflexão Al(1) sobre a superfície do material de vidro 3 depois do movimento, sendo formada a imagem da área de pixel Pl(1) dentro da imagem capturada depois do movimento. É assumido que o ângulo de inclinação do plano tangente (a superfície de reflexão Sli para refletir o feixe de luz emitido a posição Xl(1) do padrão 4 e incidente sobre o ponto de reflexão Al(1) da área de pixel Pl(1) do dispositivo de captura de imagem 2) da superfície do material de vidro 3 no ponto de reflexão Al(1) é 0l(1).

[0037] Desta forma, mesmo depois do movimento do material de vidro 3, é estabelecida a relação entre a altura H1 e o ângulo de inclinação ©l(1) no ponto de reflexão Al(1). Relações são também estabelecidas similarmente entre a altura H2 e o ângulo de inclinação 0l(2) da superfície de reflexão Sl2 no ponto de reflexão Al(2) e entre a altura H3 e o ângulo de inclinação ©l(3) da superfície de reflexão Sl3 no ponto de reflexão Al(3).

[0038] Ainda não está determinado neste momento qual dos pontos de reflexão A0(1), A0(2), e A0(3) é o verdadeiro ponto de reflexão antes que o material de vidro 3 seja movido; contudo, se um dos pontos de reflexão for o ponto de reflexão verdadeiro, o ângulo de inclinação do plano tangente da superfície do material de vidro 3 no ponto de reflexão antes do movimento do material de vidro 3 deve ser igual àquele depois do movimento (porque o ponto de reflexão antes do movimento é fisicamente o mesmo que aquele depois do movimento). O gráfico da figura 3 mostra um estado no qual uma curva Cl representando a relação entre QL(n) e Hn depois do movimento do material de vidro 3 intersecta a curva C0 em um ponto. Consequentemente, no caso em que é encontrado H0 no qual ©L<n) = 00(n) é estabelecido, o ponto de reflexão A0(n) correspondendo ao

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18/42 mesmo é o verdadeiro ponto de reflexão, tendo sido obtidos o ângulo de inclinação ©ü(n) e a altura Hn no ponto de reflexão. Desta forma, os valores de coordenada tridimensional de um ponto A0(n) no material de vidro 3 são determinados para a área de pixel Po determinada.

[0039] A medição acima mencionada é executada em um ponto do material de vidro 3 correspondendo à área de pixel P0; contudo, os verdadeiros ângulos de inclinação ©0(n) e as verdadeiras alturas Hn em todos os pontos sobre a superfície do material de vidro 3, isto é, a forma tridimensional da superfície do material de vidro 3, podem ser obtidos com a execução de uma medição similar para todas as áreas de pixel nas quais é feita a captura de imagem.

[0040] A seguir, de volta à figura 1, serão descritas as funções das respectivas seções do aparelho de medição de forma 1 com base no princípio de medição acima mencionado.

[0041] O aparelho de medição de forma 1 é equipado com uma seção de especificação de posição padrão 20 (seção de especificação de posição padrão antes do movimento, seção de especificação de posição padrão depois do movimento), uma seção de seleção de candidato de ponto de reflexão 30 (seção de cálculo de posição de captura de imagem antes do movimento, seção de cálculo de posição de captura de imagem depois do movimento), uma seção de especificação de área de pixel 40 (segunda seção de especificação de área de pixel), uma seção de cálculo de ângulo de inclinação 50 (seção de cálculo de ângulo de inclinação antes do movimento, seção de cálculo de ângulo de inclinação depois do movimento), uma seção de determinação de coordenada de direção de altura 60, e uma seção de saída 80. Estas respectivas seções são realizadas depois que os programas predeterminados são lidos e executados por uma CPU.

[0042] A partir do dispositivo de captura de imagem 2, a seção de especificação de posição padrão 20 obtém uma imagem (adiante

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19/42 referida como uma imagem capturada antes do movimento) obtida com a captura da imagem do padrão do padrão 4 refletida sobre a superfície do material de vidro 3 antes do movimento do material de vidro 3. Depois, a seção de especificação de posição padrão 20 especifica que porção no padrão 4 é representada na área de pixel Po dentro da imagem capturada antes do movimento obtida (adiante, a porção especificada do padrão 4 é referida como uma posição padrão Xo). Mais especificamente, a seção de especificação de posição padrão 20 reconhece o padrão capturado por imagem na área de pixel Po na imagem capturada antes do movimento através do processamento de imagem e verifica a que porção do padrão 4 corresponde o padrão reconhecido (o padrão do padrão 4 é conhecido), especificando assim a posição padrão Xo no padrão 4 correspondendo ao padrão reconhecido.

[oo43] Além disso, similarmente, a partir do dispositivo de captura de imagem 2, a seção de especificação de posição padrão 2o obtém uma imagem (adiante referida como uma imagem capturada depois do movimento) obtida com a captura da imagem do padrão do padrão 4 refletida sobre a superfície do material de vidro 3 depois do movimento do material de vidro 3. Além disso, a seção de especificação de posição padrão 2o obtém informação representando as áreas de pixel Pl(1), Pl(2), e Pl(3), ... da seção de especificação de área de pixel 40. Depois, de maneira similar àquela descrita acima, a seção de especificação de posição padrão 2o especifica que porção no padrão 4 é representada em cada área de pixel (PL(n) dentro da imagem capturada depois do movimento (adiante, a porção especificada do padrão 4 é referida como uma posição padrão XL(n)).

[0044] Com base na área de pixel Po, a seção de seleção de candidato de ponto de reflexão 3o calcula os candidatos de ponto de reflexão Ao(1), Ao(2), Ao(3), ... nos quais o feixe de luz emitido da

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20/42 posição padrão Xo é refletido e dirigido para a área de pixel Po com relação às respectivas alturas no caso em que as alturas sobre a superfície do material de vidro 3 são assumidas como tendo valores diversos. Conforme mostrado na figura 2, estes candidatos de ponto de reflexão A0(n) podem ser obtidos como posições nas quais a linha reta L0 traçada do dispositivo de captura de imagem 2 para a área de pixel P0 passa através da superfície do material de vidro 3 apresentando as respectivas alturas assumidas.

[0045] Além disso, com base nos respectivos candidatos de ponto de reflexão A0(n), a seção de seleção de candidato de ponto de reflexão 30 calcula as posições Al(1), Al(2), Al(3), ... que servirão como os destinos de movimento dos respectivos candidatos de ponto de reflexão A0(n), quando o material de vidro (3) for movido pela distância L. Conforme mostrado na figura 2, estas respectivas posições AL(n) são os candidatos de ponto de reflexão nos quais os feixes de luz das posições padrões XL(n) são refletidos e dirigidos para as áreas de pixel PL(n) depois do movimento do material de vidro 3. Os candidatos de ponto de reflexão AL(n) podem ser obtidos com a movimentação dos candidatos de ponto de reflexão A0(n) antes do movimento do material de vidro 3 em paralelo pela distância L.

[0046] Com base nos respectivos pontos de reflexão AL(n) depois do movimento do material de vidro 3, a seção de especificação de área de pixel 40 específica as respectivas áreas de pixel PL(n) que capturam as posições dos candidatos de ponto de reflexão AL(n) dentre as áreas de pixel do dispositivo de captura de imagem 2. Conforme mostrado na figura 2, estas áreas de pixel PL(n) podem ser obtidas com base na relação posicional entre o dispositivo de captura de imagem 2 e o material de vidro 3 (a direção de captura de imagem do dispositivo de captura de imagem 2 é conhecida), isto é, sob uma condição em que as linhas retas que conectam o dispositivo de

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21/42 captura de imagem 2 aos respectivos candidatos de ponto de reflexão Ai_(n) são coincidentes com as linhas retas traçadas a partir do dispositivo de captura de imagem 2 para as áreas de pixel Pi_(n).

[0047] Com relação aos respectivos candidatos de ponto de reflexão Aü(n) antes do movimento do material de vidro 3, a seção de cálculo de ângulo de inclinação 50 obtém as superfícies de reflexão por meio das quais os feixes de luz emitidos da posição padrão X0 no padrão 4 e incidentes sobre os candidatos de ponto de reflexão Aü(n) são refletidos para a área de pixel P0 do dispositivo de captura de imagem 2 e calcula os ângulos de inclinação ec(n) das respectivas superfícies de reflexão. Conforme mostrado na figura 2, os ângulos de inclinação das superfícies de reflexão podem ser obtidos sob uma condição em que o ângulo (o ângulo incidente do feixe de luz incidente sobre cada candidato de ponto de reflexão A0(n)) formado entre a linha reta que conecta a posição padrão X0 a cada candidato de ponto de reflexão Aü(n) e a linha normal da superfície de reflexão é igual ao ângulo (o ângulo de reflexão do feixe de luz refletido do candidato de ponto de reflexão A0(n) formado entre a linha reta que conecta cada candidato de ponto de reflexão A0(n) à área de pixel P0 do dispositivo de captura de imagem 2 e a linha normal da superfície de reflexão.

[0048] Além disso, similarmente, com relação aos respectivos candidatos de ponto de reflexão Ai_(n) depois do movimento do material de vidro 3, a seção de cálculo de ângulo de inclinação 50 obtém as superfícies de reflexão por meio das quais os feixes de luz emitidos da posição padrão Xi_(n) respectivamente correspondendo às posições do padrão 4 e incidentes sobre os candidatos de ponto de reflexão Ai_(n) são refletidos nas áreas de pixel correspondentes Pt(n) do dispositivo de captura de imagem 2 e então calcula os ângulos de inclinação ©L<n) das respectivas superfícies de reflexão.

[0049] Com relação a cada altura assumida descrita acima (e o

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22/42 candidato de ponto de reflexão Ao(n) determinado dependendo da altura) do material de vidro 3, a seção de determinação de coordenada de direção de altura 60 compara ©0(n) obtido como o ângulo de inclinação antes do movimento do material de vidro 3 com ©L(n) obtido como o ângulo de inclinação depois do movimento do material de vidro 3. Depois, a seção de determinação de coordenada de direção de altura 60 determina o candidato de ponto de reflexão A0(n) e o valor assumido da altura no momento em que os valores tanto de ©0(n) quanto de ©L(n) são coincidentes entre si como o verdadeiro ponto de reflexão A0 do material de vidro 3 correspondendo à área de pixel P0 e à verdadeira altura do material de vidro 3 no ponto de reflexão A0. Na realidade, a rigor, ©0(n) e 0L(n) não se tornam coincidentes devido a erros de medição, etc. em alguns casos; consequentemente, pode ser possível obter a altura do material de vidro 3 de modo que o quadrado da diferença entre ©0(n) e 0L(n) não se torne mínimo (vide figura 10). Desta forma, são determinados os valores de coordenada tridimensional (a posição nas direções horizontais e a posição na direção da altura) de um ponto (o ponto de reflexão A0) no material de vidro 3 na direção, conforme visto a partir do dispositivo de captura de imagem 2 para a área de pixel P0.

[0050] A seção de saída 80 emite os valores de coordenada (a coordenada da posição na direção horizontal e a coordenada da posição na direção da altura) da posição no material de vidro 3 determinada pela seção de determinação de coordenada de direção de altura 60. Além disso, a seção de saída 80 cria e emite tal informação de forma, conforme mostrado na figura 9, e representando a forma da superfície do material de vidro 3 com base nos respectivos valores de coordenada obtidos com a execução de uma medição similar para inúmeros pontos no material de vidro 3.

[0051] A figura 4 é um fluxograma que mostra um exemplo da

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23/42 operação do aparelho de medição de forma 1. A operação do aparelho de medição de forma 1 será descrita abaixo usando o fluxograma mostrado na figura 4. O fluxograma será iniciado quando a seção de especificação de posição padrão 20 obtiver a imagem capturada antes do movimento do dispositivo de captura de imagem 2.

[0052] Na figura 4, a partir do padrão capturado por imagem na área de pixel P0 na imagem capturada antes do movimento, a seção de especificação de posição padrão 20 tendo obtido a imagem capturada antes do movimento especifica a posição padrão X0 no padrão 4 correspondendo ao padrão (na etapa S1).

[0053] A seguir, a seção de seleção de candidato de ponto de reflexão 30 calcula o candidato de ponto de reflexão Aü(n) por meio do ajuste de n = 1 (na etapa S2 e na etapa S3).

[0054] Em seguida, a seção de cálculo de ângulo de inclinação 50 obtém uma superfície de reflexão apresentando o candidato de ponto de reflexão A0(n) como o ponto de reflexão e calcula seu ângulo de inclinação ©0<n) (na etapa S4).

[0055] Depois, a seção de cálculo de ângulo de inclinação 50 julga se n se tornou um valor máximo predeterminado (se todos os candidatos de ponto de reflexão Aü(n) e os ângulos de inclinação ©0<n) foram calculados) (na etapa S5). No caso em que n não é o valor máximo (Não, na etapa S5), n é incrementado por 1 (na etapa S6), sendo repetido o processamento da etapa S3 para a etapa S5.

[0056] No caso em que n é o valor máximo (Sim, na etapa S5), a seção de especificação de posição padrão 20 obtém a imagem capturada depois do movimento do dispositivo de captura de imagem 2. Então, a partir dos três candidatos de ponto de reflexão A0(n) com o ajuste de m = 1, n = m, m +1, e m + 2, a seção de seleção de candidato de ponto de reflexão 30 calcula os três candidatos de ponto de reflexão correspondentes AL(n) depois do movimento do material de

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24/42 vidro 3 (na etapa S7 e na etapa S8). O processamento é, em seguida, executado para cada dos três pontos.

[0057] Em seguida, a seção de especificação de área de pixel 40 especifica a área de pixel PL(n) correspondendo ao candidato de ponto de reflexão AL(n) dente as áreas de pixel do dispositivo de captura de imagem 2 (na etapa S9).

[0058] Em seguida, a partir do padrão capturado por imagem na área de pixel PL(n) na imagem capturada depois do movimento, a seção de especificação de posição padrão 20 especifica a posição padrão XL(n) no padrão 4 correspondendo ao padrão (na etapa S10).

[0059] Em seguida, a seção de cálculo de ângulo de inclinação 50 obtém uma superfície de reflexão apresentando o candidato de ponto de reflexão AL(n) como o ponto de reflexão e calcula seu ângulo de inclinação ©L<n) (na etapa S11).

[0060] Em seguida, a seção de determinação de coordenada de direção de altura 60 obtém o quadrado da diferença entre o ângulo de inclinação ec(n) de cada dos três pontos e o ângulo de inclinação ©L(n) de cada dos três pontos correspondendo aos mesmos, os ângulos de inclinação tendo sido calculados, conforme descrito acima, e compara a diferença destes, e então julga se a diferença é um valor mínimo (na etapa S21). No caso em que o quadrado da diferença entre ec(n) e 0L(n) não é um valor mínimo (Não, na etapa S12), m é incrementado por 1 (na etapa S13); em outras palavras, o processamento da etapa S8 para a etapa S12 é repetido para os três pontos onde n foi incrementado por 1.

[0061] No caso em que o quadrado da diferença entre ec(n) e ©L(n) é um valor mínimo (Sim, na etapa S12), a seção de determinação de coordenada de direção de altura 60 determinará o candidato de ponto de reflexão Aü(n) correspondendo a ©0<n) no momento como o verdadeiro ponto de reflexão do material de vidro 3 na direção,

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25/42 conforme visto a partir do dispositivo de captura de imagem 2 para a área de pixel Po, e então determina o valor Hn assumido como a altura do candidato de ponto de reflexão A0(n) como a coordenada de direção de altura do verdadeiro ponto de reflexão A0 (na etapa S14). [0062] O fluxograma é assim completado.

[0063] Na pesquisa para a verdadeira coordenada de direção de altura, o processamento da mesma não é limitado àquele descrito acima, e nem sempre é necessário calcular todos os valores do valor mínimo ao valor máximo de n. Como um método para pesquisar este tipo de solução, podem ser usados vários tipos de algoritmos de velocidade conhecidos, conforme necessário.

Segunda modalidade [0064] A seguir, uma segunda modalidade de acordo com a presente invenção será descrita com referência aos desenhos.

[0065] A figura 5 é um exemplo de um diagrama de bloco de função de um aparelho de medição de forma 100 de acordo com a segunda modalidade da presente invenção. Na figura 5, a superfície de um material de vidro 3 que serve como um objeto a ser medido (um objeto apresentando uma superfície espelhada) por meio do aparelho de medição de forma 100 apresenta uma forma tridimensional formada de uma superfície curva. Um padrão 4 apresentando um padrão predeterminado (por exemplo, um padrão na forma de grade) é disposto acima do material de vidro 3, e o padrão deste padrão 4 é refletido e espelhado sobre a superfície acima mencionada do material de vidro 3.

[0066] O aparelho de medição de forma 100 de acordo com esta modalidade captura a imagem do padrão refletida sobre a superfície do material de vidro 3 usando um dispositivo de captura de imagem 2 e calcula a coordenada (coordenada de direção de altura) na direção da altura (a direção z mostrada na figura 5) em um ponto de medição

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26/42 sobre a superfície do material de vidro 3 em considerando os dois pontos dentro de uma imagem obtida com a captura de imagem. Além disso, o aparelho de medição de forma 100 cria tal informação de forma, conforme mostrado na figura 9 e representando a forma tridimensional da superfície do material de vidro 3 com base nas coordenadas calculadas em cada ponto de medição, emitindo então a informação.

[0067] Antes de serem descritas as funções das respectivas seções do aparelho de medição de forma 100 mostrado na figura 5, o princípio de medir uma forma tridimensional usando o aparelho de medição de forma 100 será aqui descrito com referência às figuras 6 e 7.

[0068] Primeiramente, a imagem do padrão do padrão 4 refletida sobre a superfície do material de vidro 3 é capturada pelo dispositivo de captura de imagem 2, e uma verificação é executada para confirmar que porção do padrão 4 é representada em um ponto predeterminado (uma área de pixel Pi) dentro da imagem obtida. Por exemplo, no caso em que o padrão 4 é um padrão na forma de grade, uma posição dentro do padrão 4 pode ser especificada pela contagem do número de grades na imagem. É assumido que a posição de uma porção do padrão 4 descrita na área de pixel P1 é X1.

[0069] Neste momento, o feixe de luz emitido da posição Xi do padrão 4 é refletido pela superfície do material de vidro 3, sendo formada a imagem da área de pixel Pi dentro da imagem capturada; entretanto, uma vez que a forma de superfície do material de vidro 3 é desconhecida, o verdadeiro ponto de reflexão no material de vidro 3 não é exclusivamente determinado (o ponto de reflexão é localizado em algum lugar na linha reta L1 orientada na direção da área de pixel Pi, conforme visto a partir do dispositivo de captura de imagem 2). A figura 6 mostra os candidatos Ai(1), Ai(2), e Ai(3) ou três pontos de

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27/42 reflexão apresentando diferentes alturas (os valores de coordenada na direção z medidos a partir da face de referência M mostrada na figura). É assumido que as alturas dos pontos de reflexão Ai(1), Ai(2), e Ai(3) são Hi, H2, e H3 (Hi<H2<Hs), respectivamente.

[0070] No caso em que o ponto de reflexão Ai(1) apresentando a altura Hi é assumido como o ponto de reflexão, é suposto que o plano tangente (assumido) da superfície do material de vidro 3 neste ponto de reflexão Ai(1) apresenta um ângulo de inclinação θι(1) que é igual àquele de uma superfície de reflexão Si por meio da qual o feixe de luz emitido da posição Xi do padrão 4 e incidente sobre o ponto de reflexão Ai(1) é refletido na área de pixel Pi do dispositivo de captura de imagem 2. No caso em que o ponto de reflexão Ai(2) ou Ai(3) é assumido como o ponto de reflexão, o plano tangente (assumido) da superfície do material de vidro 3 em cada destes pontos de reflexão apresenta um ângulo de inclinação θι(2) ou θι(3) que é igual àquele de uma superfície de reflexão S2 ou S3, respectivamente correspondendo aos mesmos.

[0071] Neste momento, como o ponto de reflexão é mais alto (isto é, Ai(2) é mais alto do que Ai(1), e Ai(3) é adicionalmente mais alto do que Ai(2)), o ângulo incidente do feixe de luz emitido da posição Xi do padrão 4 e incidente sobre cada das superfícies de reflexão Si, S2, e S3 se torna menor; consequentemente, uma relação de θι(1)<θι(2)<θι(3) é estabelecida (aqui é assumido que o ângulo de inclinação é definido com um ângulo formado pela direção de menos do eixo x mostrado na figura e a linha normal orientada para o lado superior de cada superfície de reflexão na figura). Esta relação é representada por uma curva Ci no gráfico da figura 7. Desta forma, o ângulo de inclinação θι^) serve como uma função da altura Hn do ponto de reflexão. Entretanto, conforme descrito acima, não pode ser exclusivamente determinado a que ponto nesta curva Ci corresponde

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28/42 o verdadeiro ponto de reflexão. O método descrito até então é igual àquele da primeira modalidade.

[0072] Em seguida, dentro da mesma imagem descrita acima, é executada uma verificação em uma maneira similar àquela descrita acima para confirmar que porção do padrão 4 é representada em um ponto predeterminado (uma área de pixel P2) que não a área de pixel Pi. Entretanto, é assumido que as áreas de pixel Pi e P2 são áreas de pixel adjacentes entre si. Quando for assumido que a posição de uma porção do padrão 4 descrita na área de pixel P2 é X2, o ponto de reflexão no material de vidro 3 por meio do qual o feixe de luz emitido da posição X2 do padrão 4 é refletido para a área de pixel P2 do dispositivo de captura de imagem 2 ficará localizado em algum lugar na linha reta L2 orientada na direção da área de pixel P2, conforme visto a partir do dispositivo de captura de imagem 2 (não exclusivamente determinado), em uma maneira similar àquela descrita acima.

[0073] Nesta modalidade, é dada atenção aos pontos de interseção A2(1), A2(2), e A2(3), ... dos planos tangentes (assumidos) (as superfícies de reflexão Si, S2, S3, ...) que passam através dos candidatos de ponto de reflexão Ai(1), Ai(2), e Ai(3), ... descritos anteriormente e da linha reta L2. Uma vez que as áreas de pixel P1 e P2 são áreas adjacentes entre si, o ponto A1(n) e A2(n) correspondendo às mesmas são também adjacentes entre si (n = 1, 2, ...).

[0074] Aqui é suposto que a mudança na forma do material de vidro 3 é suficientemente suave. Portanto, pode ser considerado que os planos tangentes que respectivamente passam através dos dois pontos adjacentes entre si na superfície do material de vidro 3 são o mesmo plano. A condição de adjacentes entre si indica que a mudança na forma do material de vidro 3 apresenta uma faixa

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29/42 insignificantemente pequena, e dois pontos adjacentes entre si são arbitrariamente ajustados dentro desta faixa.

[0075] Consequentemente, uma vez que um ponto A1(k) nos candidatos de ponto de reflexão acima mencionados é um verdadeiro ponto de reflexão no material de vidro 3, um ponto A2(k) existente no plano tangente (a superfície de reflexão Sk) do material de vidro 3 que passa através deste ponto A1(k) também existe no material de vidro 3. Além disso, quando for considerada uma superfície de reflexão Sk' por meio da qual o feixe de luz da posição X2 do padrão 4 é refletido na área de pixel P2 do dispositivo de captura de imagem 2 com o uso deste ponto A2(k) como o ponto de reflexão, a superfície de reflexão (o plano tangente do material de vidro 3 no ponto A2(k) se tornará coincidente com o plano tangente (a superfície de reflexão Sk) do material de vidro 3 no ponto Ai(k), por meio do que é descoberto que o ângulo de inclinação 02(k) do mesmo deve ser igual ao ângulo de inclinação 01(k). A figura 6 mostra um estado em que o ponto Ai(2) é o verdadeiro ponto de reflexão no material de vidro 3.

[0076] Por outro lado, com relação ao ponto A1(j) (onde j #= k, e o ponto corresponde aos pontos Ai(1) e Ai(3) na figura 6)) que não é o verdadeiro ponto de reflexão no material de vidro 3, o ponto A2(j) existente no plano tangente (assumido) (a superfície de reflexão Sj) do material de vidro 3 que passa através deste ponto Ai(j) não é um ponto sobre o material de vidro 3, e neste ponto A2(j), o ângulo de inclinação 02(j) da superfície de reflexão por meio da qual o feixe de luz da posição X2 do padrão 4 é refletido na área de pixel P2 do dispositivo de captura de imagem 2 é diferente do ângulo de inclinação 0i(j).

[0077] Consequentemente, com relação aos pontos de interseção acima mencionados A2(1), A2(2), A2(3), ... dos planos tangentes (assumidos) (as superfícies de reflexão Si, S2, S3, ...) que passam através dos candidatos de ponto de reflexão Ai(1), Ai(2), Ai(3), ...

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30/42 correspondendo à área de pixel Pi e à linha reta L2 determinada pela área de pixel P2, no caso em que os ângulos de inclinação 02(i), 02(2), θ2(3), ... dos respectivos planos tangentes (assumidos) (superfícies de reflexão Si', S2', S3',...) são obtidos e é encontrado um candidato de ponto de reflexão Ai(k) no qual 02(k) = 0i(k) é estabelecido, o ponto de reflexão Ai(k) é o verdadeiro ponto de reflexão, tendo sido obtidos o ângulo de inclinação 0i(k) e a altura Hk no ponto de reflexão. Desta forma, os valores de coordenada tridimensional de um ponto Ai(k) no material de vidro 2 são determinados para a determinada área de pixel Pi.

[0078] Além da curva acima mencionada Ci, o gráfico da figura 7 mostra uma curva C2 que representa a relação entre a altura H'n de cada ponto de interseção A2(n) descrito acima e o ângulo de inclinação 02(n) do plano tangente em cada ponto de interseção A2(n). Neste gráfico, o ponto Ai(2) no qual o valor de 0i(n) é igual ao valor de 02(n) é o verdadeiro ponto de reflexão no material de vidro 3.

[0079] A medição acima mencionada é executada em um ponto no material de vidro 3 correspondendo à área de pixel Pi; contudo, os ângulos de inclinação 0i(n) e as verdadeiras alturas Hn são todos os pontos sobre a superfície do material de vidro 3, isto é, a forma tridimensional da superfície do material de vidro 3 pode ser obtida com a execução de uma medição similar para as três áreas de pixel nas quais é executada a captura de imagem.

[0080] Em seguida, de volta à figura 5, serão descritas as funções das respectivas seções do aparelho de medição de forma I00 com base no princípio de medição acima mencionado.

[008i] O aparelho de medição de forma I00 é equipado com uma seção de especificação de posição padrão i20, uma seção de seleção de candidato de ponto de reflexão i30, uma seção de cálculo de ângulo de inclinação i50, uma seção de determinação de coordenada

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31/42 de direção de altura 160, e uma seção de saída 80. Estas respectivas seções são realizadas depois de programas predeterminados serem lidos e executados por uma CPU.

[0082] A partir do dispositivo de captura de imagem 2, a seção de especificação de posição padrão 120 obtém uma imagem (adiante referida como uma imagem capturada) obtida com a captura da imagem do padrão do padrão 4 refletida sobre a superfície do material de vidro 3. Depois, a seção de especificação de posição padrão 120 especifica que porção no padrão 4 está representada na área de pixel P1 dentro da imagem capturada obtida (adiante, a porção especificada do padrão 4 é referida como uma posição padrão X1). Mais especificamente, a seção de especificação de posição padrão 120 reconhece o padrão capturado por imagem na área de pixel P1 na imagem capturada e verifica a qual porção do padrão 4 corresponde o padrão reconhecido (o padrão do padrão 4 é conhecido), especificando assim a posição padrão X1 no padrão 4 correspondendo ao padrão reconhecido.

[0083] Além disso, de modo similar, a seção de especificação de posição padrão 120 especifica que porção no padrão 4 está representada na área de pixel P2 (localizada adjacente à área de pixel Pi) dentro da imagem capturada (a mesma imagem) (adiante, a porção especificada do padrão 4 é referida como uma posição padrão X2).

[0084] Com base na área de pixel P1, a seção de seleção de candidato de ponto de reflexão 130 calcula os candidatos de ponto de reflexão Ai(1), Ai(2), Ai(3), ,,, nos quais o feixe de luz emitido da posição padrão X1 é refletido na área de pixel P1 com relação às respectivas alturas no caso em que as alturas na superfície do material de vidro 3 são assumidas como tendo valores diversos. Conforme mostrado na figura 6, estes candidatos de ponto de reflexão A1(n)

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32/42 podem ser obtidos como posições nas quais a linha reta Li traçada do dispositivo de captura de imagem 2 para a área de pixel Pi passa através da superfície do material de vidro 3 apresentando as respectivas alturas assumidas.

[0085] Além disso, a partir da seção de cálculo de ângulo de inclinação 150, a seção de seleção de candidato de ponto de reflexão 130 obtém os valores dos ângulos de inclinação θι(1), θι(2), θι(3), ...das respectivas superfícies de reflexão correspondendo aos candidatos de ponto de reflexão Ai(1), Ai(2), Ai(3), ...calculados conforme descrito acima. Depois, com base na área de pixel P2, no candidato de ponto de reflexão Ai(1), e no ângulo de inclinação θ1(1) da superfície de reflexão no candidato de ponto de reflexão Ai(1), a seção de seleção de candidato de ponto de reflexão 130 calcula o ponto de interseção Ai(1) da superfície de reflexão (o plano tangente do material de vidro 3) no candidato de ponto de reflexão A1(n) e a linha reta L2 da figura 6. Similarmente, a seção de seleção de candidato de ponto de reflexão 130 calcula os pontos de interseção A2(2), A2(3), ... da superfície de reflexão (o plano tangente do material de vidro 3) nos respectivos candidatos de ponto de reflexão Ai(2), Ai(3), ... e a linha reta L2 da figura 6.

[0086] Com relação aos respectivos candidatos de ponto de reflexão A1(n), a seção de cálculo de ângulo de inclinação 150 obtém as superfícies de reflexão por meio das quais os feixes de luz emitidos da posição padrão Xi sobre o padrão 4 e incidentes sobre os candidatos de ponto de reflexão Ai(n) são refletidos na área de pixel P1 do dispositivo de captura de imagem 2 e calcula os ângulos de inclinação θi(n) das respectivas superfícies de reflexão. Conforme mostrado na figura 6, os ângulos de inclinação das superfícies de reflexão podem ser obtidos sob uma condição em que o ângulo (o ângulo incidente do feixe de luz incidente sobre cada candidato de

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33/42 ponto de reflexão Ai(n)) formado entre a linha reta que conecta a posição padrão Xi a cada candidato de ponto de reflexão A1(n) e a linha normal da superfície de reflexão é igual ao ângulo (o ângulo de reflexão do feixe de luz refletido do candidato de ponto de reflexão A1(n) formado entre a linha reta que conecta cada candidato de ponto de reflexão A1(n) à área de pixel P1 do dispositivo de captura de imagem 2 e a linha normal da superfície de reflexão.

[0087] Além disso, de modo similar, com relação aos pontos A2(n) que respectivamente correspondem aos candidatos de ponto de reflexão A1(n), a seção de cálculo de ângulo de inclinação 150 obtém as superfícies de reflexão por meio das quais os feixes de luz emitidos da posição padrão X2 sobre o padrão 4 e incidentes sobre os pontos A2(n) são refletidos na área de pixel P2 do dispositivo de captura de imagem 2 e então calcula os ângulos de inclinação ©2<n) das superfícies de reflexão.

[0088] A seção de determinação de coordenada de direção de altura 160 compara o ângulo de inclinação ©1<n) da superfície de reflexão em cada candidato de ponto de reflexão A1(n) com o ângulo de inclinação ©2<n) da superfície de reflexão no candidato de ponto de reflexão A2(n) correspondendo ao candidato de ponto de reflexão A1(n). Depois, a seção de determinação de coordenada de direção de altura 160 determina o candidato de ponto de reflexão A1(n) no momento em que os valores tanto de ©1(n) quanto de ©2<n) são coincidentes entre si como o verdadeiro ponto de reflexão A1 do material de vidro 3 na direção da linha reta L1. Na realidade, a rigor, 01(n) e 02(n) não se tornam coincidentes devido a erros de medição, etc. em alguns casos; consequentemente, pode ser possível determinar o verdadeiro ponto de reflexão A1 de modo que o quadrado da diferença entre 01<n) e 02(n) se torne mínimo. Desta forma, são determinados os valores de coordenada tridimensional (as posições na

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34/42 direção horizontal e a posição na direção da altura) de um ponto (o ponto de reflexão Ai) no material de vidro 3 na direção, conforme visto a partir do dispositivo de captura de imagem 2 para a área de pixel Pi. [0089] A seção de saída 180 emite os valores de coordenada (as coordenadas da posição na direção horizontal e a coordenada da posição na direção da altura) da posição no material de vidro 3 determinada pela seção de determinação de coordenada de direção de altura 160. Adicionalmente, a seção de saída 180 cria e emite tal informação de forma, conforme mostrado na figura 9 e representando a forma de superfície do material de vidro 3 com base nos respectivos valores de coordenada obtidos com a execução de uma medição similar para inúmeros pontos no material de vidro 3.

[0090] A figura 8 é um fluxograma que mostra um exemplo da operação do aparelho de medição de forma 100. A operação do aparelho de medição de forma 100 será descrita abaixo usando o fluxograma mostrado na figura 8. O fluxograma será iniciado quando a seção de especificação de posição padrão 120 obtiver a imagem capturada do dispositivo de captura de imagem 2.

[0091] Na figura 8, a partir dos padrões capturados por imagem na área de pixel P1 e na área de pixel P2 na imagem capturada, a seção de especificação de posição padrão 120 tendo obtido a imagem capturada especifica a posição padrão X1 e a posição padrão X2 no padrão 4 correspondendo a estes padrões (na etapa S21).

[0092] Em seguida, a seção de seleção de candidato de ponto de reflexão 130 calcula os três candidatos de ponto de reflexão A1(n) com o ajuste de m = 1, n = m, m + 1, m + 2 (na etapa S22 e na etapa S23). [0093] Depois, a seção de cálculo de ângulo de inclinação 150 obtém uma superfície de reflexão apresentando o candidato de ponto de reflexão A1(n) como o ponto de reflexão e calcula seu ângulo de inclinação p1(n) para cada dos três pontos (na etapa S24).

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35/42 [0094] Em seguida, com base na área de pixel P2, no candidato de ponto de reflexão A1(n), e no ângulo de inclinação ©1<n) da superfície de reflexão no candidato de ponto de reflexão A1(n), a seção de seleção de candidato de ponto de reflexão 130 calcula o ponto de interseção A2(n) da superfície de reflexão (o plano tangente do material de vidro 3) no candidato de ponto de reflexão A1(n) e na linha reta L2 da figura 6 para cada dos três pontos (na etapa S25).

[0095] Depois, a seção de cálculo de ângulo de inclinação 150 obtém uma superfície de reflexão apresentando o ponto de interseção A2(n) como o ponto de reflexão e calcula seu ângulo de inclinação 02(n) para cada dos três pontos (na etapa S26).

[0096] Depois, a seção de determinação de coordenada de direção de altura 160 obtém o quadrado da diferença entre o ângulo de inclinação ©1(n) de cada dos três pontos e o ângulo de inclinação 02(n) de cada dos três pontos correspondendo ao mesmo, os ângulos de inclinação tendo sido calculados conforme descrito acima, e compara a diferença destes, e então julga se a diferença é um valor mínimo (na etapa S27). No caso em que o quadrado da diferença entre 01(n) e 02(n) não é um valor mínimo (Não, na etapa S27), m é incrementado por 1 (na etapa S28); em outras palavras, o processamento da etapa S23 para a etapa S27 é repetido para os três pontos onde n foi incrementado por 1.

[0097] No caso em que o quadrado da diferença entre 01(n) e 02(n) é um valor mínimo (Sim, na etapa S27), a seção de determinação de coordenada de direção de altura 160 determina o candidato de ponto de reflexão A1(n) correspondendo a 01(n) no momento como o verdadeiro ponto de reflexão do material de vidro 3 na direção, conforme visto a partir do dispositivo de captura de imagem 2 para a área de pixel P1, e determina então o valor Hn assumido como a altura do candidatos de ponto de reflexão A1(n) como a coordenada de

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36/42 direção de altura do verdadeiro ponto de reflexão Ai (na etapas S29). [0098] O fluxograma é assim completado.

[0099] Na pesquisa para a coordenada de direção de altura, o processamento da mesma não é limitado àquele descrito acima, e nem sempre é necessário calcular todos os valores do valor mínimo ao valor máximo de n. Como um método para pesquisar este tipo de solução, vários tipos de algoritmos de velocidade conhecidos podem ser usados, conforme necessário.

Terceira modalidade [00100] Um exemplo de aplicação do aparelho de medição de forma i ou do aparelho de medição de forma i00 com relação a uma linha de produção de chapa de vidro será descrito abaixo. A figura 11 é uma vista explicativa esquemática que mostra uma linha de produção de chapa de vidro na qual é aplicado o aparelho de medição de forma 1 ou aparelho de medição de forma 100. O método de produção de chapa de vidro na linha de produção mostrada na figura 11 apresenta a etapa de fundir matérias-primas de vidro para obter vidro fundido, a etapa de transformar o vidro fundido em uma fita de vidro na forma de chapa contínua, a etapa de lentamente resfriar a fita de vidro enquanto da movimentação da fita de vidro, e a etapa de cortar a fita de vidro, o método de produção adicionalmente apresentando a etapa de medir a coordenada de direção de altura da fita de vidro a partir da face de referência da mesma entre a etapa de resfriamento lento e a etapa de corte usando o aparelho de medição de forma de acordo com a presente invenção e a etapa de controlar as condições de resfriamento lento na etapa de resfriamento lento com base na coordenada de direção de altura obtida na etapa de medição. A figura 12 mostra as etapas do método de produção de chapa de vidro.

[00101] Mais especificamente, na etapa de produzir a chapa de

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37/42 vidro, no caso em que é feito um julgamento de que a distorção da fita de vidro é grande de acordo com os resultados dos dados de altura obtidos pelo método de medição de acordo com a presente invenção, as condições de resfriamento lento na etapa de resfriamento lento, tais como a velocidade de resfriamento e a temperatura de resfriamento, são alteradas levando em consideração o tamanho e a localização da distorção. Consequentemente, a forma defeituosa devido à distorção ou a ruptura devido à distorção pode ser impedida, podendo ser eventualmente produzidas chapas de vidro em uma alta produção.

[00102] Vários tipos de métodos, tais como métodos float', rollout', down-draw, e de fusão, são disponíveis na etapa de formação, e qualquer destes métodos ou outro método pode ser usado apropriadamente na presente invenção. No exemplo da figura 11, é assumido como um exemplo e descrito um caso em que é usado o método float.

[00103] A etapa de fusão (em S1 da figura 12), um lote formado com a preparação e a mistura de matérias-primas, tais como areia de sílica, calcário, e carbonato de sódio, de acordo com a composição de um produto de vidro é despejado em um forno de fusão, aquecido e fundido em uma temperatura de aproximadamente 1400°C ou mais dependendo do tipo de vidro para obter o vidro fundido. Por exemplo, o lote é despejado no forno de fusão através de uma extremidade do forno de fusão, e a chama obtida com a queima de óleo pesado ou a chama obtida com a mistura de gás natural com ar e com a queima da mistura é soprada para o lote de modo que o lote seja aquecido em uma temperatura de aproximadamente 1550°C ou mais e fundido para se obter o vidro fundido. Além disso, o vidro fundido pode ser obtido com o uso de um forno de fusão elétrico.

[00104] Na etapa de formação (em S2 da figura 12), o vidro fundido obtido na etapa de fusão é introduzido a partir da seção à jusante 201

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38/42 do forno de fusão em um banho de estanho fundido 203, o vidro fundido sendo flutuado sobre o estanho fundido 202 e movido na direção de transporte mostrada na figura, por meio do que é formada uma fita de vidro na forma de chapa contínua 204 (correspondendo ao material de vidro 3). Neste momento, para fins de formar a fita de vidro na forma de chapa 204 apresentando uma espessura predeterminada, rolos giratórios (rolos superiores 205) pressionam ambas as porções laterais da fita de vidro 204 para estender a fita de vidro 204 para fora na direção da largura da mesma (uma direção perpendicular à direção de transporte).

[00105] Na etapa de resfriamento lento (em S3 da figura 12), a fita de vidro 204 formada descrita acima é retirada do banho de estanho derretido 203 usando rolos de remoção 208, e a fita de vidro 204 é movida na direção de transporte mostrada na figura dentro de um forno de resfriamento lento 210 usando rolos de metal 209, por meio do que a fita de vidro 204 é lentamente resfriada e então adicionalmente resfriada continuamente quase na temperatura comum no processo entre a transferência do forno de resfriamento lento 210 e a etapa de corte. O forno de resfriamento lento 210 é equipado com dispositivos para suprir uma quantidade de calor controlada usando um gás de combustão ou um aquecedor elétrico para executar o resfriamento lento em locais necessários no forno. A temperatura da fita de vidro 204 no estágio em que a fita de vidro sai do forno de resfriamento lento 210 é igual ou menor do que o ponto de tensão do vidro da fita de vidro 204; geralmente, a fita de vidro é resfriada em 150 a 250° dependendo do tipo de vidro. A etapa de resfriamento lento é executada pare remover a tensão residual dentro da fita de vidro 204 para diminuir a temperatura da fita de vidro 204. Na etapa de resfriamento lento, a fita de vidro 204 passa através de uma seção de medição 211 (correspondendo ao aparelho de medição de forma 1 ou

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39/42 ao aparelho de medição de forma 100) e é então transferida para uma seção de corte de fita de vidro 212. A fita de vidro 204 tendo sido resfriada quase na temperatura comum é cortada na seção de corte de fita de vidro 212 (na etapa de corte, S6 da figura 12). A temperatura da fita de vidro na seção de corte de fita de vidro 212 está geralmente na faixa da temperatura ambiente no local em 50°C.

[00106] A posição de captura de imagem (isto é, a posição da seção de medição 211) da fita de vidro 204 na etapa de medição (S4 da figura 12) é a posição na qual a temperatura da fita de vidro 204 é igual ou menor do que o ponto de tensão do vidro. Geralmente, a seção de medição 211 é preferivelmente provida em uma posição à jusante na direção de transferência da saída de fita de vidro do forno de resfriamento lento 210, e adicionalmente provida preferivelmente em uma posição onde a temperatura da fita de vidro 204 é igual ou menor do que 200°C. Além disso, a seção de medição 211 pode ser provida imediatamente antes da seção de corte; contudo, no caso em que os dados obtidos da etapa de medição são refletidos para a etapa de corte, a seção de medição 211 é preferivelmente provida em uma posição a 30 cm ou mais ou especialmente a 1 metro ou mais longe da posição de corte dependendo da velocidade de movimento da fita de vidro 204.

[00107] Na etapa de controle (S5 da figura 12), o meio de controle (não mostrado) para calcular as condições de resfriamento lento dentro do forno de resfriamento lento 210 é usado com base na coordenada de direção de altura obtida na etapa de medição. Com o uso deste meio de controle, as condições do gás de combustão ou do aquecedor elétrico provido dentro do forno de resfriamento lento 210 são mudadas dependendo dos comandos de condição de resfriamento lento de distribuídos para o forno de resfriamento lento 210. Consequentemente, a quantidade de energia parcialmente fornecida à

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40/42 fita de vidro 204 ou a velocidade de suprimento de energia é alterada, por meio do que o controle pode ser executado para suprimir a deformação, tal como distorção.

[00108] Conforme descrito acima, com cada modalidade, mesmo no caso em que um objeto apresenta uma superfície espelhada, a forma do material de vidro pode ser medida com a aplicação do método estereofônico. Além disso, as chapas de vidro com alta qualidade na forma podem ser produzidas com a utilização dos resultados da medição da forma.

[00109] Os vários processos acima mencionados que se refere ao aparelho de medição de forma 1 (ou ao aparelho de medição de forma 100) podem ser executados por meio da gravação de programas para executar os respectivos processos do aparelho de medição de forma 1 (ou do aparelho de medição de forma 100) em um meio de gravação legível por computador e em fazendo com que um sistema de computador leia e execute os programas gravados no meio de gravação. O sistema de computador pode incluir um OS ou hardware, tais como dispositivos periféricos. Ademais, o sistema de computador também inclui um ambiente para prover home pages (ou um ambiente para representação visual) no caso em que é usado o sistema WWW. Além disso, o meio de gravação legível por computador é um disco flexível; um disco magnetoóptico, uma memória não volátil gravável, tal como uma ROM ou uma memória flash; um meio portátil, tal como um CD-ROM, um disco rígido construído no sistema de computador, etc.

[00110] Além disso, o meio de gravação legível por computador inclui um meio que retém os programas por certo tempo, tal como uma memória volátil (por exemplo, uma DRAM (Memória de Acesso Aleatório Dinâmica)) dentro de um sistema de computador que serve como um servidor ou um cliente no caso em que programas são

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41/42 transmitidos via uma rede, tal como a Internet, ou via linhas de comunicação, tais como linhas telefônicas. Além disso, os programas acima mencionados podem ser transmitidos de um sistema de computador no qual os programas são armazenados em um dispositivo de armazenamento ou semelhante em outro sistema de computador via um meio de transmissão ou uma onda de transmissão no meio de transmissão. O meio de transmissão para transmitir os programas é um meio apresentando uma função de transmitir informação, incluindo uma rede (rede de comunicação), tal como a Internet, e linhas de comunicação (fios de comunicação), tais como linhas telefônicas. E mais, os programas acima mencionados podem ser programas para realizar parte da função acima mencionada. Além disso, os programas podem ser aqueles capazes de realizar a função acima mencionada com a combinação com programas já tendo sido armazenados no sistema de computador, isto é, nos arquivos de diferença assim chamados (programas de diferença).

[00111] Embora as modalidades da presente invenção tenham sido descritas em detalhes com referência aos desenhos, as configurações específicas da presente invenção não são limitadas a estas modalidades, mas a invenção inclui também desenhos dentro de uma faixa que não se afasta da essência da invenção.

[00112] Embora o presente pedido tenha sido descrito em detalhes com referência às modalidades específicas do mesmo, se tornará óbvio àqueles versados na técnica que várias mudanças e modificações poderão ser feitas sem se afastar do espírito e escopo da presente invenção.

[00113] O presente pedido se baseia no Pedido de Patente Japonês (JAP No. 2010-130387) depositado em 7 de junho de 2010, os conteúdos do qual sendo aqui incorporados por referência.

LISTAGEM DE REFERÊNCIA

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42/42 aparelho de medição de forma dispositivo de captura de imagem material de vidro padrão seção de especificação de posição padrão seção de seleção de candidato de ponto de reflexão seção de especificação de área de pixel seção de cálculo de ângulo de inclinação seção de determinação de coordenada de direção de altura seção de saída aparelho de medição de forma seção de especificação de posição padrão seção de seleção de candidato de ponto de reflexão seção de cálculo de ângulo de inclinação seção de determinação de coordenada de direção de altura seção de saída

Claims

REIVINDICAÇÕES

1. Aparelho de medição de forma para medir uma forma de um objeto a ser medido usando imagens capturadas capturadas antes e depois de um movimento do objeto a ser medido com uma superfície espelhada por um dispositivo de captura de imagem disposto em uma posição fixa e capturado refletindo uma padrão disposto em uma posição fixa na superfície espelhada do objeto a ser medido, caracterizado pelo fato de que compreende:

um dispositivo de captura de imagem configurado para capturar uma imagem de uma superfície espelhada de um objeto a ser medido; e um processador compreendendo:

uma seção de especificação de posição do padrão antes do movimento configurada para especificar uma posição de padrão de captura de imagem antes do movimento que serve como uma posição em um padrão que é capturado por imagem em uma imagem capturada antes do movimento usada como imagem capturada antes do movimento e no padrão que é capturado pela imagem em uma primeira área de pixel predeterminada do dispositivo de captura de imagem;

uma seção de cálculo de posição de captura de imagem antes do movimento configurada para:

assumir a coordenada de direção da altura do objeto a ser medida como uma primeira coordenada de direção da altura; e calcular uma posição de captura de imagem antes do movimento que serve como uma posição localizada na superfície espelhada do objeto a ser medida antes do movimento no qual a coordenada de direção da altura é assumida como a primeira coordenada da direção da altura e capturada na imagem na primeira

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2/12 área de pixel, com base na primeira coordenada de direção da altura e na primeira área de pixel;

uma seção de cálculo do ângulo de inclinação antes do movimento configurada para calcular um ângulo de inclinação antes do movimento que serve como ângulo de inclinação na posição de captura da imagem antes do movimento no momento em que a coordenada de direção da altura é assumida como a primeira coordenada de direção da altura, com base no primeira área de pixel, a posição do padrão de captura da imagem antes do movimento, e a posição de captura da imagem antes do movimento no momento em que a coordenada de direção da altura é assumida como a primeira coordenada da direção da altura;

uma seção de cálculo de posição de captura de imagem após o movimento configurada para calcular uma posição de captura de imagem após o movimento que serve como uma posição localizada na superfície espelhada do objeto a ser medida após o movimento no qual a coordenada de direção de altura é assumida como a primeira direção de altura coordenada e correspondente à imagem antes do movimento capturar a posição no momento em que a coordenada da direção da altura é assumida como a primeira coordenada da direção da altura;

uma segunda seção de especificação de área de pixel configurada para especificar uma segunda área de pixel na qual a posição de captura de imagem após o movimento no momento em que a coordenada de direção da altura é assumida como a primeira coordenada de direção da altura é capturada na área de pixel do dispositivo de captura de imagem e em uma imagem capturada após o movimento, servindo como a imagem capturada após o movimento;

uma seção de especificação de posição de padrão após o movimento configurada para especificar uma posição de padrão de

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3/12 captura de imagem após o movimento que serve como uma posição no padrão capturado pela imagem na imagem capturada após o movimento e no padrão capturado na imagem no segundo área de pixel;

uma seção de cálculo do ângulo de inclinação após o movimento configurada para calcular um ângulo de inclinação após o movimento que serve como um ângulo de inclinação na posição de captura da imagem após o movimento no momento em que a coordenada de direção da altura é assumida como a primeira coordenada de direção da altura, com base no posição de captura de imagem após o movimento no momento em que a coordenada de direção da altura do objeto a ser medido é assumida como primeira coordenada de direção da altura, a segunda área de pixel e a posição do padrão de captura de imagem após o movimento; e uma seção de determinação de coordenadas de direção da altura configurada para:

comparar o ângulo de inclinação antes do movimento com o ângulo de inclinação após o movimento no momento em que a coordenada de direção da altura do objeto a ser medido é assumida como a primeira coordenada de direção da altura; e determinar que a coordenada da direção da altura quando o ângulo de inclinação antes do movimento é igual ao ângulo de inclinação após o movimento é uma coordenada real da direção da altura na posição de captura da imagem antes do movimento do objeto a ser medido.

2. Aparelho de medição de forma de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que o processador compreende ainda uma seção de saída configurada para emitir informações de forma da superfície espelhada do objeto a ser medido com base na coordenada de direção de altura real determinada em

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4/12 uma pluralidade de posições de captura de imagem antes do movimento.

3. Método de produção de chapa de vidro, caracterizado pelo fato de que compreende: fusão de matérias-primas de vidro para obter vidro fundido; formar o vidro fundido em uma fita de vidro contínua em forma de chapa; resfriar a fita de vidro enquanto move a fita de vidro; e cortar a fita de vidro, o método de produção compreendendo ainda:

medir a coordenada de direção da altura da fita de vidro a partir de uma face de referência entre o resfriamento e o corte usando o aparelho de medição de forma como definido na reivindicação 1, e controlar as condições de resfriamento no resfriamento com base na coordenada de direção da altura obtida na medição.

4. Método de produção de chapas de vidro, caracterizado pelo fato de que compreende: fusão de matérias-primas de vidro para obter vidro fundido; formar o vidro fundido em uma fita de vidro contínua em forma de chapa; resfriar a fita de vidro enquanto move a fita de vidro; e cortar a fita de vidro, o método de produção compreendendo ainda:

medir a coordenada de direção da altura da fita de vidro a partir de uma face de referência, usando o aparelho de medição de forma como definido na reivindicação 1.
5. Aparelho de medição de forma para medir uma forma de um objeto a ser medido usando imagens capturadas do objeto a ser medido com uma superfície espelhada capturada por um dispositivo de captura de imagem disposto em uma posição fixa e capturado refletindo um padrão disposto em um posição fixa na superfície espelhada do objeto a ser medido, caracterizado pelo fato de que compreende:

um dispositivo de captura de imagem configurado para

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5/12 capturar uma imagem de uma superfície espelhada de um objeto a ser medido; e um processador compreendendo:

uma primeira seção de especificação de posição do padrão configurada para especificar uma primeira posição de captura de imagem servindo como uma posição no padrão capturado pela imagem na imagem capturada e no padrão capturado na imagem em uma área de primeiro pixel predeterminada do dispositivo de captura de imagem;

uma segunda seção de especificação de posição do padrão configurada para especificar uma segunda posição de captura de imagem servindo como uma posição no padrão capturado pela imagem na imagem capturada e no padrão capturado na imagem em uma segunda área de pixel predeterminada do dispositivo de captura de imagem;

uma primeira seção de cálculo de posição de captura de imagem configurada para:

assumir a coordenada de direção da altura do objeto a ser medida como uma primeira coordenada de direção da altura; e calcular uma primeira posição de captura de imagem que serve como uma posição localizada na superfície espelhada do objeto a ser medido na qual a coordenada de direção da altura é assumida como a primeira coordenada de direção da altura e capturada na primeira área de pixel, com base na primeira altura coordenada de direção e a primeira área de pixel;

uma primeira seção de cálculo do ângulo de inclinação configurada para calcular um primeiro ângulo de inclinação que serve como ângulo de inclinação na primeira posição de captura de imagem no momento em que a coordenada de direção da altura é assumida como a primeira coordenada de direção da altura, com base na

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6/12 primeira área de pixel, a primeira posição do padrão de captura de imagem e a primeira posição de captura de imagem no momento em que a coordenada da direção da altura é assumida como a primeira coordenada da direção da altura;

uma segunda seção de cálculo de posição de captura de imagem configurada para calcular uma segunda posição de captura de imagem servindo como uma posição localizada na superfície espelhada do objeto a ser medido na qual a coordenada de direção da altura é assumida como a primeira coordenada de direção da altura e capturada na imagem no segunda área de pixel, com base na segunda área de pixel, a primeira posição de captura de imagem no momento em que a coordenada de direção da altura é assumida como a primeira coordenada de direção da altura e o primeiro ângulo de inclinação;

uma segunda seção de cálculo do ângulo de inclinação configurada para calcular um segundo ângulo de inclinação que serve como o ângulo de inclinação na segunda posição de captura de imagem no momento em que a coordenada de direção da altura é assumida como a primeira coordenada da direção da altura, com base na segunda área de pixel, a segunda posição do padrão de captura de imagem e a segunda posição de captura de imagem no momento em que a coordenada de direção da altura do objeto a ser medido é assumida como a primeira coordenada de direção da altura; e uma seção de determinação de coordenadas de direção da altura configurada para:

comparar o primeiro ângulo de inclinação com o segundo ângulo de inclinação no momento em que a coordenada de direção da altura do objeto a ser medido é assumida como a primeira coordenada de direção da altura; e determinar que a coordenada da direção da altura quando o

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7/12 primeiro ângulo de inclinação é igual ao segundo ângulo de inclinação é uma coordenada real da direção da altura na primeira posição de captura da imagem do objeto a ser medido.

6. Aparelho de medição de forma de acordo com a reivindicação 5, caracterizado pelo fato de que o processador compreende ainda uma seção de saída configurada para enviar informações de processamento de acordo com as quais o objeto a ser medido é processado com base na coordenada de direção de altura real determinada em uma pluralidade de posições da primeira captura de imagem.

7. Método de produção de chapa de vidro, caracterizado pelo fato de que compreende: fusão de matérias-primas de vidro para obter vidro fundido; formar o vidro fundido em uma fita de vidro contínua em forma de chapa; resfriar a fita de vidro enquanto move a fita de vidro; e cortar a fita de vidro, o método de produção compreendendo ainda:

medir a coordenada de direção da altura da fita de vidro a partir de uma face de referência entre o resfriamento e o corte usando o aparelho de medição de forma como definido na reivindicação 5, e controlar as condições de resfriamento no resfriamento com base na coordenada de direção da altura obtida na medição.
8. Método de produção de chapa de vidro, caracterizado pelo fato de que compreende: fusão de matérias-primas de vidro para obter vidro fundido; formar o vidro fundido em uma fita de vidro contínua em forma de chapa; resfriar a fita de vidro enquanto move a fita de vidro; e cortar a fita de vidro, o método de produção compreendendo ainda:

medir a coordenada de direção da altura da fita de vidro a partir de uma face de referência, usando o aparelho de medição de forma como definido na reivindicação 5.

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9. Método de medição de forma para medir uma forma de um objeto a ser medido usando imagens capturadas capturadas antes e depois de um movimento do objeto a ser medido com uma superfície espelhada por um dispositivo de captura de imagem disposto em uma posição fixa e capturado refletindo uma padrão disposto em uma posição fixa na superfície espelhada do objeto a ser medido, caracterizado pelo fato de que compreende:

capturar uma imagem de uma superfície espelhada de um objeto a ser medido usando um dispositivo de captura de imagem; e usar um processador para:

especificar uma posição de padrão de captura de imagem antes do movimento que serve como uma posição no padrão capturado pela imagem em uma imagem capturada antes do movimento usada como a imagem capturada antes do movimento e no padrão capturado na imagem em uma área do primeiro pixel predeterminado do dispositivo de captura de imagem;

assumir a coordenada de direção da altura do objeto a ser medido como uma primeira coordenada de direção da altura e calcular uma posição de captura de imagem antes do movimento que serve como uma posição localizada na superfície espelhada do objeto a ser medida antes do movimento no qual a direção da altura a coordenada é assumida como a primeira coordenada de direção da altura e capturada pela imagem na primeira área de pixel, com base na primeira coordenada de direção da altura e na primeira área de pixel;

calcular um ângulo de inclinação antes do movimento que serve como o ângulo de inclinação na posição de captura de imagem antes do movimento no momento em que a coordenada de direção da altura é assumida como a primeira coordenada da direção da altura, com base na primeira área de pixel, a captura de imagem antes do movimento posição do padrão e posição de captura da imagem antes

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9/12 do movimento no momento em que a coordenada da direção da altura é assumida como a primeira coordenada da direção da altura;

calcular uma posição de captura de imagem após o movimento servindo como uma posição localizada na superfície espelhada do objeto a ser medida após o movimento no qual a coordenada de direção da altura é assumida como a primeira coordenada da direção da altura e correspondente à posição de captura da imagem antes do movimento no momento em que a coordenada da direção da altura é assumida como a primeira coordenada da direção da altura;

especificar uma segunda área de pixel na qual a posição de captura de imagem após o movimento no momento em que a coordenada de direção da altura é assumida como a primeira coordenada de direção da altura é imagem capturada na área de pixel do dispositivo de captura de imagem e em uma imagem capturada após o movimento servindo como a imagem capturada após o movimento;

especificar uma posição de padrão de captura de imagem após o movimento, servindo como uma posição no padrão capturado pela imagem na imagem capturada após o movimento e no padrão capturado na imagem na segunda área de pixel;

calcular um ângulo de inclinação após o movimento que serve como ângulo de inclinação na posição de captura de imagem após o movimento no momento em que a coordenada de direção da altura é assumida como a primeira coordenada da direção da altura, com base na posição de captura da imagem após o movimento no momento em que a coordenada de direção da altura do objeto a ser medido é assumida como a primeira coordenada da direção da altura, a segunda área de pixel e a posição do padrão de captura de imagem após o movimento; e

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10/12 comparar o ângulo de inclinação antes do movimento com o ângulo de inclinação após o movimento no momento em que a coordenada da direção da altura do objeto a ser medido for assumida como a primeira coordenada da direção da altura, e determinar que a coordenada da direção da altura for coordenada quando o ângulo da inclinação de antes do movimento ângulo for igual ao ângulo de inclinação após o movimento é uma coordenada real da direção da altura na posição de captura da imagem antes do movimento do objeto a ser medido.

10. Método de medição de forma para medir a forma de um objeto a ser medido usando imagens capturadas do objeto a ser medido com uma superfície espelhada capturada por um dispositivo de captura de imagem disposto em uma posição fixa e capturado refletindo um padrão disposto em uma posição fixa posição na superfície espelhada do objeto a ser medido, caracterizado pelo fato de que compreende:

capturar uma imagem de uma superfície espelhada de um objeto a ser medido usando um dispositivo de captura de imagem; e usar um processador para:

especificar uma posição de padrão de captura de primeira imagem servindo como uma posição no padrão capturado por imagem na imagem capturada e no padrão capturado em uma área predeterminada do primeiro pixel do dispositivo de captura de imagem;

especificar uma segunda posição de padrão de captura de imagem servindo como uma posição no padrão capturado pela imagem na imagem capturada e no padrão capturado na imagem em uma segunda área de pixel predeterminada do dispositivo de captura de imagem;

assumir a coordenada de direção da altura do objeto a ser medido como uma primeira coordenada de direção da altura e calcular

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11/12 uma primeira posição de captura de imagem servindo como uma posição localizada na superfície espelhada do objeto a ser medido na qual a coordenada de direção da altura é assumida como a primeira coordenada de direção da altura e capturada pela imagem na primeira área de pixel, com base na primeira coordenada de direção da altura e na primeira área de pixel;

calcular um primeiro ângulo de inclinação que serve como o ângulo de inclinação na primeira posição de captura de imagem no momento em que a coordenada de direção da altura é assumida como a primeira coordenada de direção da altura, com base na primeira área de pixel, na primeira posição do padrão de captura de imagem e na primeira posição de captura de imagem no momento em que a coordenada da direção da altura é assumida como a primeira coordenada da direção da altura;

calcular uma segunda posição de captura de imagem que serve como uma posição localizada na superfície espelhada do objeto a ser medido na qual a coordenada de direção da altura é assumida como a primeira coordenada de direção da altura e capturada na imagem na segunda área de pixel, com base na área do segundo pixel, a primeira posição de captura de imagem no momento em que a coordenada de direção da altura é assumida como a primeira coordenada de direção da altura e o primeiro ângulo de inclinação;

calcular um segundo ângulo de inclinação que serve como o ângulo de inclinação na segunda posição de captura de imagem no momento em que a coordenada de direção da altura é assumida como a primeira coordenada de direção da altura, com base na segunda área de pixel, na segunda posição de captura de imagem e na segunda posição de captura de imagem no momento em que a coordenada de direção da altura do objeto a ser medido é assumida como a primeira coordenada de direção da altura; e

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12/12 comparar o primeiro ângulo de inclinação com o segundo ângulo de inclinação no momento em que a coordenada da direção da altura do objeto a ser medido é assumida como a primeira coordenada da direção da altura e determinar que a coordenada da direção da altura quando o primeiro ângulo de inclinação é igual ao segundo ângulo de inclinação é uma coordenada de direção de altura real na primeira posição de captura de imagem do objeto a ser medido.