ATE51166T1 - Vorrichtung zum pruefen und sortieren von elektronischen bauteilen. - Google Patents

Vorrichtung zum pruefen und sortieren von elektronischen bauteilen.

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ATE51166T1
ATE51166T1 AT87110137T AT87110137T ATE51166T1 AT E51166 T1 ATE51166 T1 AT E51166T1 AT 87110137 T AT87110137 T AT 87110137T AT 87110137 T AT87110137 T AT 87110137T AT E51166 T1 ATE51166 T1 AT E51166T1
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    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/34—Sorting according to other particular properties
    • B07C5/344—Sorting according to other particular properties according to electric or electromagnetic properties
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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    • B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
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Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4889242A (en) * 1985-06-04 1989-12-26 Multitest Elektronische Systeme Device for testing and sorting electronic components, more particularly integrated circuit chips
DE3531120C2 (de) * 1985-06-04 1994-02-03 Ekkehard Ueberreiter Einrichtung zum Prüfen und Sortieren von elektronischen Bauelementen, insbesondere integrierten Chips
DE3638431A1 (de) * 1986-11-11 1988-05-26 Multitest Elektronische Syst Einrichtung zum testen und sortieren von elektronischen bauelementen, insbesondere von dual-in-line-ic's
DE3638430A1 (de) * 1986-11-11 1988-05-19 Multitest Elektronische Syst Vorrichtung zum testen und sortieren von elektronischen bauelementen, insbesondere ic's
US4926118A (en) * 1988-02-22 1990-05-15 Sym-Tek Systems, Inc. Test station
DE3912589A1 (de) * 1989-04-17 1990-10-25 Ekkehard Ueberreiter Einrichtung zum testen von elektronischen bauelementen mit einer ladestation, einer teststation und eine entladestation fuer die bauelemente
US5184068A (en) * 1990-09-24 1993-02-02 Symtek Systems, Inc. Electronic device test handler
JP3224483B2 (ja) * 1994-12-05 2001-10-29 富士通株式会社 ライブラリ装置及びその装置による複写ディスク選別方法
JP3417528B2 (ja) * 1996-04-05 2003-06-16 株式会社アドバンテスト Ｉｃ試験装置
US5909657A (en) * 1996-06-04 1999-06-01 Advantest Corporation Semiconductor device testing apparatus
JP3344548B2 (ja) 1997-04-16 2002-11-11 株式会社アドバンテスト Ｉｃ試験装置
US5940466A (en) * 1997-10-29 1999-08-17 Micron Electronics, Inc. Apparatus for counting parts in a tray
US6112940A (en) * 1998-01-16 2000-09-05 Micron Electronics, Inc. Vertical magazine apparatus for integrated circuit device dispensing, receiving or storing
US6135291A (en) * 1998-01-16 2000-10-24 Micron Electronics, Inc. Vertical magazine method for integrated circuit device dispensing, receiving, storing, testing or binning
US5998751A (en) * 1998-02-20 1999-12-07 Micron Electronics, Inc. Sorting system for computer chips
US5996996A (en) * 1998-02-20 1999-12-07 Micron Electronics, Inc. Method of sorting computer chips
US6563070B2 (en) 1999-03-30 2003-05-13 Micron Technology, Inc. Enhanced grading and sorting of semiconductor devices using modular “plug-in” sort algorithms
KR100972502B1 (ko) * 2003-12-30 2010-07-26 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치의 등급표시 자동화 장치 및 이의 동작 방법
US9193525B2 (en) * 2014-03-12 2015-11-24 Asm Technology Singapore Pte Ltd Apparatus for handling electronic components

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US431699A (en) * 1890-07-08 Pneumatic dispatch-tube
US3032191A (en) * 1959-04-20 1962-05-01 Sylvania Electric Prod Testing and sorting apparatus
US3017025A (en) * 1960-04-26 1962-01-16 Western Electric Co Apparatus for distributing an article to one of several receiving locations
US3142382A (en) * 1962-03-12 1964-07-28 Motorola Inc Comprehensive testing system
US3573748A (en) * 1969-02-24 1971-04-06 Ibm Postal system
US3716786A (en) * 1970-10-02 1973-02-13 Cogar Corp Module tester and sorter for use in a module test system
US3664499A (en) * 1970-11-06 1972-05-23 Fairchild Camera Instr Co High speed automatic sequential tester-handler
US3727757A (en) * 1972-06-12 1973-04-17 C Boissicat Dip handling apparatus
US3896935A (en) * 1973-11-26 1975-07-29 Ramsey Eng Co Integrated circuit handler
US4170290A (en) * 1977-02-28 1979-10-09 Motorola, Inc. Lift and feed mechanism for high speed integrated circuit handler
US4230985A (en) * 1978-01-12 1980-10-28 Fairchild Camera And Instrument Corporation Fixturing system
US4234418A (en) * 1978-06-23 1980-11-18 Contrel Corporation Dip-handling apparatus
JPS5937785B2 (ja) * 1978-08-18 1984-09-12 松下電器産業株式会社 電子部品検査装置
DE2855913C2 (de) * 1978-12-23 1983-05-19 Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt Vorrichtung zum Sortieren von Bauelementen
JPS5677765A (en) * 1979-11-28 1981-06-26 Tokyo Seimitsu Co Ltd Measurement/selection device of semiconductor device
SU980027A1 (ru) * 1981-01-12 1982-12-07 Предприятие П/Я А-1178 Устройство автоматического контрол электронных систем
SU970386A1 (ru) * 1981-02-11 1982-10-30 Кировский Политехнический Институт Устройство дл разбраковки изделий на группы
US4478352A (en) * 1982-05-19 1984-10-23 Micro Component Technology, Inc. Integrated circuit component handler singulation apparatus

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DE3481687D1 (de) 1990-04-26
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DE3473573D1 (en) 1988-09-29
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DE3340183A1 (de) 1985-05-15
ATE36659T1 (de) 1988-09-15

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