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Prüfeinrichtung für Aufzeichnungsträger, insbesondere Lochkarten
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selbsttätig geprüft werden, ohne dass es für die einzelnen Prüfvorgänge eines manuellen Eingriffs durch den
Bediener bedarf.
Zur Lösung dieser Aufgabe wird erfindungsgemäss vorgeschlagen, dass zur Prüfung einer Mehrzahl von aufeinanderfolgenden Linke-Nullen-bzw. Leerspalten-Stellen ein die vom Aufzeichnungsträger stellenweise abgetasteten Daten aufnehmendes Abtastregister und ein mittels Voreinstellung für
Linke-Nullen-Prüfung bzw. Leerspalten-Prüfung konditionierbares Prüfregister sowie eine Vergleicher- schaltung vorgesehen sind, wobei in Abhängigkeit vom Vergleichsergebnis bei Übereinstimmung ein den
Aufzeichnungsträger-Vorschub steuernder Schalter und bei Nicht-Übereinstimmung ein den Aufzeichnungsträger-Vorschub unterbrechender und das Prüfregister auf manuelle Prüfung umsteuernder
Schalter wirksam wird.
Durch die erfindungsgemässe Einrichtung wird erreicht, dass eine Mitbeteiligung des Bedieners einer
Prüfmaschine bei der Prüfung von aufeinanderfolgenden Linke-Nullen-bzw. Leerspalten-Stellen nicht mehr erforderlich ist. Wird in dem genannten Fall in jeder Spalte eine Null bzw. eine Leerspalte abgetastet, so rückt die Karte automatisch schrittweise bis zur nächsten manuell zu prüfenden Spalte vor. Wird jedoch beim Vergleichsvorgang zwischen dem Inhalt der beiden Register Nicht-Übereinstimmung festgestellt, indem beispielsweise in einem an sich leeren Feld eine Wertstelle abgetastet wird, so wird der Prüfvorgang augenblicklich unterbrochen, der Vorschub des Aufzeichnungsträgers zur nächsten Spalte verhindert und die Einrichtung selbsttätig zur Durchführung einer manuellen Wertstellenprüfung über die Tastatur vorbereitet.
Nach einer vorteilhaften Ausgestaltung der erfindungsgemässen Einrichtung ist zur Linke-Nullen-Prüfung im Prüfregister mittels des die Voreinstellung bewirkenden Schalters das dem Wert Null entsprechende Speicherelement wirksam, während zur Leerspalten-Prüfung mittels der die Voreinstellung bewirkenden Schalter alle Speicherelemente abgeschaltet sind. Somit befinden sich für einen automatischen Prüfvorgang im Prüfregister immer diejenigen Werte, die beim Vergleich mit dem richtig angetasteten Wert einer Spalte Übereinstimmung ergeben.
Eine weitere vorteilhafte Massnahme gemäss der Erfindung wird darin gesehen, dass ein bei Linke-Nullen- bzw. Leerspalten-Prüfung mittels des in beiden Fällen wirksamen Schalters betätigter, die Tastatur blockierender Schalter angeordnet ist ; dieser Schalter wird jedoch zurückgestellt, sobald eine Wertstelle manuell geprüft und die Einrichtung für weitere automatische Linke-Nullen- bzw.
Leerspalten-Prüfung eingestellt wird.
Bei einer weiteren besonders zweckmässigen Ausführungsform der erfindungsgemässen Einrichtung ist bei Feststellung einer Wertstelle im Abtastregister, d. h., wenn ein Wert =1= Null bzw. "nicht leer" festgestellt wird, ein durch den auf manuelle Prüfung umschaltenden Schalter gesteuerter weiterer Schalter zur Vorbereitung eines Stromkreises zur manuellen Prüfung vorgesehen und für die Dauer eines Wertstellen-Prüfvorganges wirksam.
Mit der erfindungsgemässen Einrichtung ist eine sehr hohe, bei der beschriebenen automatischen Prüfung die mögliche Arbeitsgeschwindigkeit der mechanischen Teile voll ausnützende Leistung erreichbar. Ausserdem arbeitet die erfindungsgemässe Einrichtung mit sehr hoher Sicherheit und vollständig verschleiss frei.
Die Erfindung wird im folgenden an Hand der Zeichnungen in einem Ausführungsbeispiel erläutert.
Es zeigen : Fig. l die teilweise Vorderansicht einer Maschine zur Prüfung von Lochkarten, Fig. 2 in schematischer Darstellung eine Draufsicht auf die Kartentransporteinrichtung einer in die Maschine gemäss Fig. l eingebauten Prüfeinrichtung, Fig. 3 die schematische Darstellung einer optischen Abtasteinrichtung für Lochkarten, wie sie in der Kartenprüfeinrichtung Verwendung findet und Fig. 4a bis 4c ein Schaltbild der Prüfeinrichtung.
Gemäss Fig. 1 enthält die Maschine, in die die Prüfeinrichtung eingebaut ist, ein Kartenmagazin --16--, aus dem die Karten einzeln entnommen und über eine Transportbahn--18--durch eine Prüfstation--20--und eine Abtaststation--22--einem Kartenablagefach--24--zugeführt werden. Der Prüfvorgang wird durch eine Tastatur--26--und durch eine Programmtrommel--28-- gesteuert.
Während des Durchlaufes einer Karte durch die Prüfstation--20--, gilt die betreffende Karte als "Detailkarte", während sie beim Durchgang durch die Abtaststation--22--als"Hauptkarte" bezeichnet wird, aus der Daten abgetastet und mit denjenigen der nächsten Detailkarte verglichen werden
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blockiert, bis die Tasten durch einen Rückstellmagneten wieder freigegeben werden.
Die Haupt- und Detailkarten gelangen mittels der in Fig. 2 gezeigten Transporteinrichtung durch die verschiedenen Stationen. Diese besteht aus einem Paar mit Führungsrollen --31-- zusammenwirkenden
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Schaltklinke-36-zusammenwirkendes Schaltrad-34-verhindertSchaltmagneten-38-- gibt die Schaltklinke --36-- das Schaltrad --34-- frei, bis anschliessend eine Feder--40--die Schaltklinke hinter den nächsten Zahn des Schaltrades--34-zum Eingriff bringt. Durch diese Anordnung wird die Karte schrittweise, u. zw.
Spalte auf Spalte durch die Abtaststation und die Prüfstation bewegt.
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--28-- lösbarSteuerlochreihe der Programmkarte-54--. Gemäss Fig. 4c wird die Sternradabfühleinrichtung --56-durch einen Schalter--58--überwacht, mittels dessen die Sternräder in ihre wirksame Stellung eingestellt und die erforderlichen elektrischen Verbindungen für die Programmsteuerung hergestellt werden können.
Das in Fig. 3 gezeigte optische Zeitgeber- und Abtastsystem enthält eine Lichtquelle-72--, deren Lichtstrahlen durch optische Leitungen-73, 74 und 75-- der Prüfstation --20--, der Abtaststation - bzw. dem Senderad-52-zugeführt werden. Wie aus Fig. 3 erkennbar, sind die Ende der optischen Leitungen--73 und 74--in je 12 Stränge unterteilt, die das übertragene Licht der Lichtleitungen--84-Phototransistoren VT12 bis VT9 der Prüfstation--20 bzw. RT12-RT9-- der Abtaststation --22-- zuführen.
Die Prüf- und Abtasttransistoren werden synchron mit dem Vorrücken der Karte entsprechend den jeweiligen Kartenspalten vom Kollektor zum Emitter angeschaltet, so dass das durch ein Kartenloch hindurchtretende Licht auf die Basis des Phototransistors gerichtet wird, um diesen leitend zu machen.
Das ausgangsende des Bündels-75--ist in zwei Stränge unterteilt, durch die das übertragene Licht gegen die Innenseite des Senderades--52-und gegen Phototransistoren-Tl und T2-gerichtet wird. Das Senderad-52-ist an sich lichtundurchlässig ausgebildet, jedoch mit einer Anzahl kurzer Schlitze--88--und einem langen Schlitz--92--für die Steuerung des vom Phototransistor - empfangenen Lichtes ausgestattet, und weiterhin mit einem langen Schlitz-90-- zur
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-- T2-- empfangenenVorschubbewegung der Karte Takt- bzw. Steuerimpulse erzeugt werden. Durch die langen Schlitze --90 und 92--werden weitere Funktionen ausgelöst.
Die in den Fig. 4a, 4b und 4c dargestellten Arbeitsstromkreise der Einrichtung liegen zwischen der Spannungsleitung--A-und der Nulleitung-B--. Gemäss Fig. 4a ist je ein Register mit den Abtastrelais-R12 bis Round den Prüfrelais-V12 bis V9-vorgesehen. Die in die Register eingegebenen Daten werden jeweils miteinander verglichen, und bei übereinstimmung rückt die Karte weiter vor, während bei Nicht-Übereinstimmung ein weiteres Vorrücken der Karte verhindert und Nicht-Übereinstimmung angezeigt wird. Es liegt also bei der manuellen Prüfung ein Fehler vor oder während der Leerspalten-Prüfung oder der Linksnullen-Prüfung wurde eine Wertziffer angetroffen.
Die prüfrelais --V-- sind in Reihe mit den Kollektoren der Prüftransistoren--VT--angeordnet, deren Emitter gemeinsam über die Relaiskontakte--El und CL2--mit der Leitung-A--verbunden sind.
Es wird bemerkt, dass ein durch einen von den Detailkarten betätigten Kartenhebel erregbares Kartenhebel-Relais --CL-- vorgesehen ist, das bei Vorhandensein einer Detailkarte Kontakte-CL1 bis CL7-- schliesst. Parallel zu den Transistoren-VT--sind Haltekontakte--V12-1 bis V9-1-gelegt, die bei Erregung des zugehörigen Relais geschlossen werden. Der Sendekontakt-El--wird synchron mit der Bewegung der Karten durch die Prüfstation--20-geschlossen, und er ist jeweils geschlossen, wenn eine Spalte der Karte zur Abtastung ausgerichtet ist, wodurch eine Spannung über den Emitter und Kollektor jedes Transistors-VT-angelegt wird.
Das nun bei Abtastung eines Loches erregte Relais schliesst seinen Haltekontakt und dadurch eine Überbrückung des zugeordneten Transistors, wobei der Haltestromkreis der Prüfrelais vom Sendekontakt-El-abhängig wird. Bei darauffolgenden öffnen des Kontaktes --El-- fallen sodann die Prüfrelais ab.
In gleicher Weise sind die Abtastrelais-R--in Reihe mit den Kollektoren der Abtasttransistoren verbunden, deren Emitter gemeinsam über den Kontakt des Hauptkarten-Hebelrelais
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- MCL--und über die parallel geschalteten Kontakte eines Relais --VD-- oder eines Prüfrelais --AV-- mit dem Sendekontakt--El--verbunden sind. Die Abtastrelais steuern die zugeordneten Haaltekontakte --R9-1 bis R12-1--, die in der gleichen Weise wie die Prüfrelais-Haltekontakte angeordnet sind mit der Ausnahme, dass der vom Nullrelais --R-0-- gesteuerte Haltekontakt --RO-1-- in Reihe mit dem normalerweise geschlossenen Wertziffer-Relaiskontakt--SD1--geschaltet ist.
Während der manuellen Prüfung werden die Daten mittels der Tastatur--26--in das Abtastrelais-Register eingeführt. Die Tastatur--26--ist über die Relaiskontakte --CL1 und MF-1-mit der Leitung--A--verbunden. Der Kontakt --MF-1-- wird vom manuellen Feldrelais--MF- (Fig. 4c) gesteuert, das in Reihe mit dem normalerweise geschlossenen Kontakt-LZ1--eines Linksnullen-Relais--LZ--liegt und sperrend wirkt zur Blockierung der Tastatur--26--und der Erregung der Abtastrelais--R--während einer Leerspalten- oder Linksnullen-Prüfung.
Entsprechend dem der Tastatur zugeordneten Code werden während der manuellen Prüfung bei der Betätigung einer Taste der Tastatur--26--eines oder einige der Relais--R--erregt und durch ihre Haltekontakte --R9-1 bis R12-1--erregt gehalten.
Im Prüfrelais-Register wird eine linke Null durch Erregung des Relais--VO--und eine Leerspalte dadurch dargestellt, dass keines der Relais--V--erregt ist. Entsprechend wird durch Erregung des Relais --R0-- oder durch das Fehlen der Erregung eines der Relais-R-eine Null oder eine Leerspalte im Abtastrelais-Register dargestellt. Da jedoch während der Leerspalten- oder der Linksnullen-Prüfung weder die Abtasttransistoren--RT--noch die Tastatur --26-- benutzt werden können, dient ein
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geschlossener Kontakte-R12-2 bzw. R12-3, V12-2 bzw.
V12-3 usw.-, die in Gruppenschaltung angeordnet sind, so dass sie eine Prüfschaltung--VN--bilden, deren Funktion die Erregung der Gegenwicklung--BC--eines Prüfrelais--TR--und eines Relais--OK--ist, wenn die geprüften Daten übereinstimmen, und die bei Nicht-Übereinstimmung die Erregung verhindern. Die Prüfschaltung enthält zwölf in Reihe geschaltete Kontaktgruppen, die den Kartenreihen--12 bis 9--entsprechen. In jeder Gruppe sind die normalerweise offenen Kontakte der Abtast- und Prüfrelais in Reihe angeordnet und zu den ebenfalls in Reihe liegenden normalerweise geschlossenen Kontakten parallel geschaltet.
Die Kontakte--R12-2 und V12-2-- z.B. liegen hintereinander und parallel zu den in Reihe liegenden Kontakten--R12-3 und V12-3-- ; diese Gruppe ist in Reihe mit den übrigen Gruppen verbunden. Für den Stromdurchgang durch die Prüfschaltung müssen daher die jede der Kontaktgruppen steuernden Relais --V und R--in gleichem Zustand also erregt oder abgeschaltet sein. Das Prüfrelais--TR--hat eine Prüfspule--TC--, die entgegengesetzt zur Gegenwicklung--BC--gewickelt ist, so dass bei der Erregung beider Wicklungen ihre Wirkung aufgehoben wird, um die Erregung des Prüfrelais--TR-zu verhindern.
Ist aber nur die Prüfwicklung --TC-- erregt, so spricht das Prüfrelais--TR--an. Die Prüfwicklung --TC-- des Prüfrelais --TR-- liegt parallel zur Reihenschaltung der Prüfschaltung --VN-- und des Kontaktes--TR1--und ebenso parallel zur Gegenwicklung--BC-und zum Relais --0K--, jedoch sind alle diese Relais in Reihe mit dem Kontakt eines Verzögerungsrelais-D-- verbunden, durch das die Prüfschaltung gesteuert wird. Die Prüfschaltung dient zum Vergleich der beiden Relaisregister. Das Relais OK--steuert den parallel zur Prüfschaltung--VN--liegenden Kontakt --0K1--.
Das Verzögerungsrelais--D--wird durch ein Reihenfolge-Steuerrelais--SS--gesteuert (Fig. 4c), dessen Kontakt --SS1-- im Stromkreis über die Erregungs- und Haltewicklung des Verzögerungsrelais--D--liegt. Eine Drosselspule--107--liegt in Reihe mit dem Verzögerungsrelais --D--, und ein Widerstand --106-- und ein Kondensator--108--sind parallel zum Relais --D-- geschaltet, um nach dem Abfallen des Relais--SS--eine Zeitverzögerung zu bewirken. Dadurch wird gesichert, dass die Kontakte der Prüfschaltung--VN--ohne Prellwirkung zur Zeit des Schliessens des Verzögerungsrelaiskontaktes geschlossen werden, wodurch ein Prüfimpuls zur Prüfschaltung gelangt.
Wie aus Fig. 4b ersichtlich, ist der Kontakt des Verzögerungsrelais--D--über den Sendekontakt --E2-- und den Kontakt --CL3-- mit der Leitung--A--verbunden.
Das Reihenfolge-Startrelais--SS--bewirkt, dass zuerst geprüft und dann die Karte weiter
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transportiert wird, wenn Übereinstimmung festgestellt ist.
Während der manuellen Prüfung bzw. des Vergleichens wird das Relais--SS--durch einen Stromkreis erregt, der den Kontakt --MF2-- und einen Kontakt eines Jedes-Schriftzeichen-Relais enthält. Wie bereits erläutert, ist der Kontakt--MF2--während der manuellen Vergleichsvorgänge geschlossen. Das Jedes-Schriftzeichen-Relais ist so geschaltet, dass es erregt bleibt, solange keines der Abtastrelais erregt ist. Daher bleibt das Jedes- Schriftzeichen-Relais während der manuellen Prüfvorgänge bis zum Drücken einer Taste erregt, und das Startrelais-SS-ist während dieser Zeit stromlos. Bei Betätigung einer Taste wird eines der Abtastrelais erregt und somit das Jedes-Schriftzeichen-Relais abgeschaltet ; dadurch wird das Reihenfolge-Startrelais--SS-erregt und bleibt dies durch die Kontakte --SS2 und SD3--.
Während der Linksnullen- und Leerspalten-Prüfung wird das Reihenfolge-Startrelais - durch einen Stromkreis über die Kontakte-SD4 und LZ3-- erregt, so dass, weil diese Kontakte bis zur Feststellung einer Wertziffer geschlossen sind, die Steuerung des Relais-SS-auf den Sendekontakt--E2--übertragen wird.
Aus den Fig. 3 und 4b ist ersichtlich, dass der Phototransistor--T1-im Ansprechen auf die durch das Senderad--52--bewirkte taktweise Belichtung als Schalter wirksam ist, solange sich das Senderad dreht, wodurch ein Sender-Abtastrelais --127-- gesteuert wird, das seinerseits das Senderelais-E--
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--88-- der Transistor --T1-- leitend- -E2--, wodurch das Relais-OK--abfällt und der Schaltmagnet--38--stromlos sowie die Schaltklinke --36-- in den nächsten Zahn gelangt. Der Kontakt-OK3- (Fig. 4b) wird auch zur Freigabe der Tastatur --26-- verwendet und ist deshalb in Reihe mit einem Relais-133verbunden, das den Tastaturrückstellmagneten steuert.
Der prüfrelaiskontakt --TR2-- (Fig.4c) macht die Erregung des Prüfrelais-TR-als Steuerfunktion wirksam. Während des manuellen Vergleichs wird beim Schliessen des Kontaktes - TR2-das Fehlerfeststellrelais erregt zur Anzeige, dass ein Fehler festgestellt wurde und ein entsprechender Vorgang zur Fehlerbeseitigung notwendig ist, bevor der weitere Vorschub der Detailkarte ausgelöst wird. Während der Linksnullen- und Leerspalten- Prüfungen steuert der Kontakt--TR2-
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-130--,- SD und LZ-zu verhindern.
Die Leerspalten-Prüfung wird entweder durch Betätigung einer Leerspaltentaste der Tastatur --26-- oder automatisch unter der Programmsteuerung eingeleitet, wozu z. B. ein"Eins"-Loch in der ersten Spalte eines Feldes dient und aufeinanderfolgende"ZwölP'-Löcher zur Begrenzung des Leerspaltenfeldes benutzt werden. Der Programmsteuerung ist ein Programmschalter zugeordnet. Wird die Leerspaltentaste zur Einleitung einer Leerspalten-Prüfung betätigt, so kann der Vorgang ohne Programmsteuerung fortschreiten, wobei der Programmschalter sich in seiner Aus-Stellung befindet ; in diesem Fall werden Leerspalten geprüft, bis eine Wertziffer festgestellt wird.
Sodann kehrt die Einrichtung automatisch zur manuellen Prüfung zurück, um die Wertziffer zu prüfen bzw. - bei der Umstellung des Programmschalters in die Ein-Stellung - die Leerspaltenprüfung fortzusetzen, bis entweder eine Wertziffer oder das Ende eines durch die"Zwölf-Löcher in der Programmkarte bestimmten Feldes erreicht wird.
Bei der Betätigung der Leerspaltentaste (Fig. 4c) wird das Relais-BC-über den Kontakt - -SD6-- erregt, das seinen Kontakt-BC2--schliesst und dadurch einen Haltestromkreis über den Kontakt--SD5--und-abhängig von der Stellung des Programmschalters - entweder über den Kontakt
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-STW12-- oder über--LZ-- die Erregung des Linksnullen-Relais-RO--. Die Erregung des Relais--LZ--erfolgt über den bei der Erregung des Relais--BC-ebenfalls geschlossenen Kontakt-BC3-- (Fig. 4c).
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(Fig. 4a)Reihenfolge-Startrelais--SS--erregt wird ;
der Kontakt--LZ4-- (Fig. 4c) wird geschlossen und errichtet einen primären Haltestromkreis, der über den gleichen Weg wie der Haltestromkreis für das Relais --BC-- verläuft. Der Kontakt--LZ5-- (Fig. 4c) wird geöffnet und verhindert das Erregen des Fehlerfeststellrelais, falls das Prüfrelais-TR--infolge einer Nicht-Übereinstimmung zwischen den Registern-erregt sein sollte ; schliesslich wird auch der Kontakt--LZ6-geschlossen und bereitet einen Stromkreis für die Erregung des Relais--SD--im Ansprechen auf das Schliessen des Kontaktes - -TR2-- vor.
Die Erregung des Reihenfolge-Startrelais-SS-leitet die beschriebene Folge von Abläufen ein.
Somit spricht beim Abfallen des Verzögerungsrelais das Relais--OK--an, wenn die Register übereinstimmen, und die Karte rückt zur nächsten Spalte vor ; oder aber, wenn die Register nicht übereinstimmen, spricht es das Prüfrelais--TR--an. Enthält die erste Spalte eine Wertziffer, so würde eines der Prüfrelais--V--ansprechen, so dass beim Abfallen des Verzögerungsrelais das Relais--TR--
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errichtet dieser einen Haltestromkreis über den Sendekontakt--E5--und den Kontakt--CL5--, so dass beim folgenden Vorschub der Karte und dem sich daraus ergebenden Abfallen des Senderelais --E-- der Kontakt --E5-- geöffnet und das Relais-SD-wieder stromlos wird.
Dieses öffnet seinen Kontakt-SD5-und die Relais-BC und LZ-werden nun über die Diode --130-- und den geschlossenen Relaiskontakt-TR2-erregt gehalten.
Beim Abfallen des Relais--SD--werden auch die Kontakte--SD3 und SD4--geöffnet, um den Haltestromkreis des Reihenfolge-Startrelais--SS--zu unterbrechen und das Verzögerungsrelais zu erregen. Infolgedessen fällt das Prüfrelais--TR--ab und öffnet den Kontakt--TR2--, so dass auch die Relais-LZ und BC-abfallen und einen manuellen Prüfvorgang zur Prüfung der Wertziffer erfordern, die die Leerspalt prüfung unterbrochen hat.
Wenn nun über die Tastatur die Wertziffer geprüft ist und die Detailkarte vorgerückt wird, fällt das Senderelais-E-ab und öffnet den Kontakt --E5--, worauf das Wertziffer-Relais--SD--abfällt. Dadurch wird der Ausgangszustand wieder hergestellt, so dass für den Fall, dass die geprüfte Wertziffer unrichtig ist, das Fehlerfestellrelais anspricht, da der Kontakt-LZ5-zur Vorbereitung dieses Vorganges geschlossen ist.
Wird die Leerspalten-Prüfung vollständig durch die Programmtrommel--28--gesteuert, so ist der
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eines Feldes vorgerückt wird, schliesst sich der Funktionskontakt--STW1--kurz vor dem Ansprechen des Senderelais--E-, so dass das Relais-BC-beim Schliessen des Kontaktes-E3--erregt wird. Der vom"Zwölf-Sternrad betätigte Kontakt--STW12--ist so angeordnet, dass er vor dem öffnen der Sternradkontakte beim Vorrücken der Karte zur nächsten Spalte geöffnet wird, und der Kontakt --STW12-- bleibt geschlossen, bis das Ende des Feldes erreicht ist. Darauf rückt die Programmkarte aus der letzten Feldspalte vor, und der Kontakt-STW12-öffnet und die Relais-BC und LZ-fallen ab.
Wenn der Programmschalter --58-- eingeschaltet ist, wird auch die Linksnullen-Prüfung vollständig unter Programmsteuerung durchgeführt. Angenommen, ein"Zwei"-Loch in der Programmkarte dient zur Einleitung eines solchen Vorganges und die"Zwölf-Löcher werden zur Bestimmung des Linksnullen-Feldes benützt.
Schliessen sich die Kontakte-STW2 und E4--, so wird das Linksnullen-Relais-LZ--erregt. Die weiteren Vorgänge stimmen mit denjenigen an Hand der Leerspalten-Prüfung beschriebenen überein, jedoch mit der Ausnahme, dass jetzt die Erregung des Relais - und das Schliessen dessen Kontaktes-LZ2- (Fig. 4a) wegen des zu diesem Zeitpunkt abgeschalteten Relais--BC--die Erregung des Relais--RO--bewirkt, um im Abtastregister eine Null darzustellen. Zur Übereinstimmung beim Vergleich ist somit die Abtastung einer Null in der Prüfstation erforderlich, wodurch der Kartenvorschub ausgelöst wird, bis entweder eine Wertziffer oder das Ende des Feldes erreicht ist.
Tritt eine Wertziffer auf, so entsprechen die weiteren Vorgänge den vorher beschriebenen, und die Maschine stellt sich auf manuelle Prüfung von Wertziffern um. Hiezu ist die Rückstellung des Abtastrelais--RO--in den Normalzustand erforderlich, was deshalb eintritt, weil bei der Erregung des Relais--SD--dessen Kontakte--SD1 und SD2--geöffnet wurden.
Es ist zu bemerken, dass der in der vorhergehenden Beschreibung verwendete Ausdruck "Wertziffer" unterschiedliche Bedeutungen hat, je nachdem ob er in bezug auf eine Leerspalten-Prüfung oder eine Linksnullen-Prüfung angewendet wurde. Bei einer Leerspalten-Prüfung bedeutet er, dass in der betreffenden Spalte irgendein Kennzeichen abgetastet wurde ; bei der Linksnullen-Prüfung hingegen bedeutet er eine Ziffer anders als Null oder eine Leerspalte.