DE1524406A1

DE1524406A1 - Pruefeinrichtung fuer Aufzeichnungstraeger,insbesondere Lochkarten

Info

Publication number: DE1524406A1
Application number: DE19661524406
Authority: DE
Inventors: Hendrickson Thomas Allen; Croll Donald Cole
Original assignee: International Business Machines Corp
Current assignee: International Business Machines Corp
Priority date: 1965-05-03
Filing date: 1966-06-04
Publication date: 1970-04-23
Also published as: GB1078594A; US3464265A; US3481195A; GB1081828A; SE319928B; NL149017B; FR1479804A; DE1524397A1; SE316035B; SE305559B; BE680165A; NL149306B; GB1079453A; CH439813A; US3348411A; NL6605608A; DE1524404A1; CH443735A; CH447674A; BE676862A

Description

Prüfeinrichtung für Aufzeiehnungsträgerj, insbesondere Lochkarten ~ -

Die Erfindung betrifft eine Prüfeinrichtung für maschinell abtastbare Aufzeichnungsträger, inebesondere Loohkarfctn, lur etlbattätigen Prüfung der im Aufzeichnungsträger enthaltenen Kennzeichnungen unter Steuerung durch eine spaltenweise synchron abtastbare Programmkarte und/oder über eine Tastatur.

Bei der Üblichen Prüfung der in einen Aufzeichnungsträger eingegebenen Daten auf ihre Richtigkeit werden die Daten manuell In die Prüfeinrichtung eingegeben und mit den auf dem Aufzeichnungsträger bereits befindlichen, gleichzeitig abgetasteten Daten verglichen. Bei derartigen Prüfeinrichtungen ist es aber auch bekannt» bestimmte Prüfvorgänge automatisch ablaufen zu lassen;

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dazu erhält die Einrichtung durch Betätigung einer bestimmten Steuertaste einen entsprechenden Befehl, und daraufhin wird z.B. unter der Steuerung einer Programmkarte der Inhalt einer zu prüfenden Karte ganz oder teilweise mit einer Musterkarte verglichen. Tritt an einer bestimmten Aufzeichnungsposition Nicht-Übereinstimmung auf, so wird der Vorschub der Karte und somit der PrüfVorgang unterbrochen.

^ Derartige automatischePrüfvorgänge entlasten nicht nur den Bediener der Einrichtung, sondern ermöglichen auch eine wesentlich höhere Arbeitsgeschwindigkeit. Denn bei der manuellen Bedienung der Einrichtung Über Tasten wird die mögliche Leistung nicht ausgenützt. Auf diesem Wege laut sich z.B. eine Prüfung der links der ersten Wertziffer eines Aufzeichnungsträger-Feldes befindlichen Nullen oder mehrerer aufeinanderfolgender Leerspalten automatisch durchführen.

Bei einer durch die USA-Patentschrift 2 841 98I bekannten Ein- * rlohtung wird eine soloho automatisch· Nullen-Prüfung..'mit Hilf· einer Dezimaltabulator-Anordnung erreicht. Stellt der Bediener der Prüfeinrichtung beispielsweise fest, daß ein Zehnspalten-Feld der zu prüfenden Karte nur sechsstellige Zahlen enthält, so wählt er eine entsprechende Dezimaltabuliertaste, bei deren Betätigung eine automatische Nullen-Prüfung in vier aufeinanderfolgenden Spalten eingeleitet wird.

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Das bei dieser Einrichtung angewendete Verfahren ist aber unbefriedigend-. -Der 'Bediener -muß -nämlich zunächst die zu erwartende Zahl der Nullen-Stellen durch Kopfrechnen ermitteln; dann kommt es darauf an, daß er die dem Ergebnis dieser Rechnung entsprechende Taste auswählt und richtig betätigt. Beide Vorgänge erfordern Zeit und sind außerdem nicht immer frei von Fehlern durchzuführen.

Weitere Maßnahmen zur Vereinfachung des PrüfVorganges sind durch die USA-Patentschriften 2 000 2OjJ und 2 6i5 33? bekannt. Während frühere Einrichtungen so ausgelegt" waren, daß bestimmte Kartenfelder, insbesondere Leerfelder, die nicht auf Richtigkeit der Daten zu prüfen waren, mit Hilfe von Leitkarten selbsttätig Übersprungen wurden, schafften diese Einrichtungen hier eine gewisse Verbesserung. Es war nämlich nicht gesichert, ob die übersprungenen Leerspalten auch tatsächlich frei von Kennzeichnungen waren. Deshalb hat man eine manuelle Leerspaltenprüfung vorgesehen, bei der für Jede Leerspalte eine Prüftaste betätigt werden mußte; anderenfall© wörde der Kartenvorschubunterbrochen.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Prüfeinrichtungen für maschinell abtastbare Aufzeichnungsträger so zu verbessern, daß entweder auf einen über eine Tastatur eingegebenen Befehl oder unter der Steuerung eines Programms, z.B. mittels einer Programmkarte, durch die Länge des zu prüfenden Feldes bestimmt wird, eine Mehrzahl von aufeinanderfolgenden Linke-Nullen- bzw.

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Leerspalten-Stellen selbsttätig geprüft werden, ohne daß es für die einzelnen Prüfvorgänge eines manuellen Eingriffs durch den Bediener bedarf.

Zur Lösung dieser Aufgabe wird erfindungsgemäß vorgeschlagen, daß zur Prüfung einer Mehrzahl von aufeinanderfolgenden Linke-Nullen- bzw. Leerspalten-Stellen ein die vom Aufzeichnungsträger stellenweise abgetasteten Daten aufnehmendes Abtastregister und ' _ ein mittels Voreinstellung für Linke-Nullen-Prüfung bzw. Leerspalten-Prüfung kondltionierbares Prüfregister sowie eine Vergleicherschaltung vorgesehen sind, wobei in Abhängigkeit vom Vergleichsergebnis bei Übereinstimmung ein den Aufzeichnungsträgervorschub steuernder Schalter und bei Nicht-Ubereinstitnmung ein den Aufzeichnungsträger-Vorschub unterbrechender und das Prüfregister auf manuelle Prüfung u.msteuernder Schalter wirksam wird.

Durch die erfindungsgemäße Einrichtung wird erreicht, daß eine Mitbeteiligung des Bedieners einer Prüfmaschine bei der Prüfung von aufeinanderfolgenden Linke-Nullen-bzw. Leerspalten-Stellen nicht mehr erforderlich ist. Wird in dem genannten Fall in jeder Spalte eine Null bzw. eine Leerspalte abgetastet, so rückt die .Karte automatisch schrittweise bis zur nächsten manuell zu prüfenden Spalte vor. Wird jedoch beim Vergleichsvorgang zwischen dem Inhalt der beiden Register Nicht-Übereinstimmung festgestellt,

indem beispielsweise in einem an sich leeren Feld eine Wertstelle abgetastet wird, so wird der Prüfvorgang augenblicklich unter-

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broehen, der Vorschub des Aufzeichnungsträgers zur näohsten Spalte verhindert und die Einrichtung selbsttätig zur Durchführung einer manuellen Wertstellenprüfung über die Tastatur vorbereitet.

Nach einer vorteilhaften Ausgestaltung der erfindungsgemäßen Einrichtung ist zur Linke-Nullen-Prüfung im Prüfregister mittels des die Voreinstellung bewirkenden Schalters das dem Wert Null entsprechende Speicherelement wirksam, während zur Leerspalten-PrUfung mittels der die Voreinstellung bewirkenden Schalter alle Speicherelemente abgeschaltet sind. Somit befinden sich für einen automatischen PrüfVorgang im Prüfregister immer diejenigen Werte, die beim Vergleich mit dem richtig augetasteten Wert einer Spalte Übereinstimmung ergeben.

Sine weitere .Yorteiihftffce Maßnahme gemäß-.der Erfindung .wird

gesehen/ daß ein bei Linke-Nullen- bzw. Leerspalten-PrUfung mittels des in beiden Fällen wirksamen Schalters betätigter, die Tastatur blockierender Schalter angeordnet ist; dieser Schalter wird jedoch zurückgestellt, sobald eine Wertstelle manuell geprüft und die Einrichtung für weitere automatische Linke-Nullen- bzw. Leerspalten-PrUfung eingestellt wird. ·

Bei einer weiteren besonders zweckmäßigen AusfUhrungsform der erfindungsgemäßen Einrichtung ist bei Feststellung einer Wert-■ «'teile im Abtastregister, d.h., wenn ein Wert f Null bzw. "nicht leer" festgestellt wird, ein durch den auf manuelle Prüfung um-

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schaltenden Schalter gesteuerter weiterer Schalter zur Vorbereitung eines Stromkreises zur manuellen Prüfung vorgesehen und für die Dauer eines Wertstellen-PrüfVorganges wirksam.

Mit der erfindungsgemäßen Einrichtung ist eine sehr hohe, bei der beschriebenen automatischen Prüfung die niögliche Arbeitsgeschwindigkeit der mechanischen Teile voll ausnützende Leistung erreichbar. Außerdem arbeitet die erfindungsgemäße Einrichtung mit sehr hoher Sicherheit und vollständig verschleißfrei.

Die Erfindung wird im folgenden anhand der Zeichnungen in einem AusfUhrungsbeispiel erläutert. Es zeigen;

Fig. T die teilweise Vorderansicht einer Maschine zur Prüfung von Lochkarten,

Fig. 2 in schematischer Darstellung eine Draufsicht auf die Kartentransporteinrichtung einer in die Maschine gem. Fig. 1 eingebauten Prüfeinrichtung,

Fig. j> die schematische Darstellung einer optischen Abtast-■' einrichtung für Lochkarten, wie sie in der Kartenprüfeinrlchtung Verwendung findet und

Fig 4a - ein Schaltbild der Prüfeinrichtung.

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Gemäß Fig. 1 enthält die Maschine! in die die Prüfeinrichtung eingebaut ist, ein Kartenmagazin 1.6, aus dem die Karten einzeln entnommen und über eine Transportbahn 18 durch eine Prüfstation 20 und eine Abtaststation 22 einem Kartenablagefach 24 zugeführt werden. Der PrüfVorgang wird durch eine Tastatur 26 und durch eine Programmtrommel 28 gesteuert. Während des Durchlaufes einer Karte durch die Prüfstation 20,gilt die betreffende Karte als "Detailkarte", während sie beim Durchgang durch die Abtaststation 22 als "Hauptkarte" bezeichnet wird, aus der Daten abgetastet ^ und mit denjenigen der nächsten Detailkarte verglichen werden können. In der Prüfstation 20 sind*eine optische Abtasteinrichtung sowie eine bekannte Kerbungseinrichtung vorgesehen. Nach dem Betätigen einer Taste der Tastatur 26 wird diese blockiert, bis die Tasten durch einen Rückstellmagneten wieder freigegeben werden.

Die Haupt- und Detailkarten gelangen mittels der in Fig. 2 gezeigten Transporteinrichtung durch die verschiedenen Stationen. Diese besteht aus einem Paar mit Führungsrollen 31 Zusammenwirkenden Antriebsrollen >0, deren Drehung wahlweise durch ein mit einer als Anker eines Schaltmagneten 28 ausgebildeten Schaltklinke J6 zusammenwirkendes Schaltrad ^4 verhindert werden kann. Die Antriebsrollen j50 und das Schaltrad 24 sind durch ein Sternradgetriebe mit der Abtriebswelle einer Reibungskupplung 42 verbunden. Ein Antriebsrad 46 steht mit einem Sternrad 44 der Reibungskupplung 42 im Eingriff. Bei einer kurzzeitigen Erregung des Schalt-

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magneten J8 gibt die Schaltklinke }6 das Schaltrad j}^ frei, bis anschließend eine Feder 40 die Schaltklinke hinter den nächsten Zahn des Schaltrades j$4 zum Eingriff bringt. Durch diese Anordnung wird die Karte schrittweise« und zwar Spalte auf Spalte durch die Abtaststation und die PrUfstation bewegt.

Ein weiteres Sternrad 48 dient zum Antrieb einer Welle 50, auf der die Programmtrommel 28 lösbar befestigt ist. Zur synchronen Umdrehung mit der Programmtrommel 28 ist ebenfalls auf der Welle 50 ein Senderad 52 angeordnet. Auf der Programmtrommel 28 1st eine Programmkarte 54 aufgespannt, mit der eine SternradabfUhleinrichtung 56 zusammenwirkt, bestehend aus Je einem Sternrad für Jede Steuerlochreihe der Programmkarte 54. Gemäß Fig. 4o wird die SternradabfUhleinrichtung 56 durch einen Schalter 58 überwacht, mittels dessen die Sternräder In ihre wirksam© Stellung eingestellt und die erforderlichen elektrischen Verbindung fUr die Programmsteuerung hergeetellt werden können·

Das In Flg. J5 gezeigte optische Zeitgeber- und Abtastsystem enthält eine Lichtquelle 72, deren Lichtstrahlen durch optische Leitungen 73, 74 und 75 der PrUfstation 20, der Abtaststation 22 bzw. der Senderad 52 zugeführt werden. Wie aus Flg. } erkennbar« sind die Enden der optischen Leitungen 73 und 74 in Je 12 Stränge , unterteilt, die das Übertragene Licht Über Lichtleitungen 84 Phototransietoren VT12 bis VT9 der Prüfetation 20 bzw. RT12 - RT9 der Abtaststation 22 zuführen. Die Prüf- und Abtasttransistoren

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werden synchron mit dem Vorrücken der Karte entsprechend den jeweiligen Kartenspalten vom Kollektor zum Emitter angeschaltet* so daß das durch ein Kartenloch hindurchtretende Licht auf die Basis des Phototransistors gerichtet wird, um diesen leitend · zu machen.

Das Ausgangsende des Bündels 75 ist in zwei Stränge unterteilt, durch die das übertragene Licht gegen die Innenseite des Senderades 52 und gegen Phototransistoren T1 und T2 gerichtet wird. Das Senderad 52 ist an sich lichtundurchlässig ausgebildet, jedoch Q mit einer Anzahl kurzer Schlitze 88 und einem langen Schlitz 92 für die Steuerung des vom Phototransistor T1 empfangenen Lichtes *' ausgestattet, und weiterhin mit einem langen Schlitz 90 zur Steuerung des vom Phototransistor T2 empfangenen Lichtes aus der • Leitung 75« Die. gahl der Schlitze 88 entspricht der Anzahl der Kartenepal ten # §ρd.a/ß synchron mit der Vorsghutobewegung öer Karte Takt- bzw. Steuerimpulse erzeugt werden. Durch die langen Schlitze 90 und 92 werden weitere Funktionen ausgelöst.

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Die in den Figuren 4a, 4b und 4c dargestellten Arbeitsstromkreise der Einrichtung liegen zwischen der Spannungsleitung A und der NullleitungB. Gemäß Fig. 4a ist je ein Register mit den Abtastrelais R1 2 - R9 und den Prüfrelais V12 - V9 vorgesehen. Die in die Register eingegebenen Daten werden jeweils miteinander ver·» glichen, und bei Übereinstimmung rückt die Karte weiter vor, während bei Nicht-Übereinstimmung ein weiteres Vorrücken der Karte verhindert und Nicht-Übereinstimmung angezeigt wird. Es

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SADORiGfNAL

liegt also bei der manuellen PrUfung ein Fehler vor oder während der Leerspalten-Prüfung oder der Linksnullen-Prüfung wurde eine Wertziffer angetroffen. Die Prüfrelais V sind in Reihe mit den Kollektoren der PrUftransistoren VT angeordnet, deren Emitter gemeinsam über die Relaiskontakte E1 und CL2 mit der Leitung A verbunden sind. Es wird bemerkt, daß ein durch einen von den Detailkarten betätigten Kartenhebel erregbares Kartenhebel-Relais CL vorgesehen ist, das bei Vorhandensein einer Detailkarte Kontakte CL1 - CL7 schließt. Parallel zu den Transistoren VT sind Haltekon-

™ . takte V12-1 - V9-1 gelegt, die bei Erregung des zugehörigen Relais "* geschlossen werden. Der Sendekontakt E1 wird synchron mit der Bewegung der Karten durch die Prüfstation 20 geschlossen, und er ist jeweils geschlossen, wenn eine Spalte der Karte zur Abtastung ausgerichtet ist, wodurch eine Spannung über den Emitter und Kollektor jedes Transistors VT angelegt wird. Das nun bei Abtastung eines Loches erregte Relais schließt seinen Haltekontakt und dadurch eine überbrückung des zugeordneten Transistors, wobei der Haltestromkreis der Prüfrelais vom Sendekontakt E1 abhängig wird. Beim darauffolgenden öffnen des Kontaktes E1 fallen sodann die Prüfrelais ab.

In gleicher Weise sind die Abtastrelais R in Reihe mit den Kollektoren der Abtasttransistoren RT verbunden, deren Emitter gemeinsam über den Kontakt des Hauptkarten-Hebelrelais MCL und über die parallel geschalteten Kontakte eines Relais VD oder eines PrUfrelais AV mit dem Sendekontakt E1 verbunden sind. Die Abtastrelais steuern die zugeordneten Haitekontakte R9-1- - R12-1, die in der

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gleichen Weise wie die PrUfrelai3-Haltekontakte angeordnet sind mit der Ausnahme, daß der vom Nullrelais R-O gesteuerte Haltekontakt RO-V in Reihe mit dem normalerweise geschlossenen Wertzlffer-Relaiskontakt SD1 geschaltet ist.

Während der manuellen Prüfung werden die Daten mittels der Tastatur 26 in das Abtastrelais-Register eingeführt. Die Tastatur 26 ist Über die Relaiskontakte CLi und MF-1 mit der Leitung A verbunden. Der Kontakt MF-1 wird vom manuellen Feldrelais MF (Fig. 4c) gesteuert, das in Reihe mit dem normalerweise geschlossenen Kontakt ™ LZ1 eines Linksnullen-Relais LZ liegt und sperrend wirkt zur Blokkierung der Tastatur 26 und der Erregung der Abtastrelais R während einer Lecrspalten- oder Linksnullen-Prüfung. Entsprechend dem der Tastatur zugeordneten Code werden während der manuellen Prüfung bei der Betätigung einer Taste der Tastatur 26 eines oder einige der Relais R erregt und durch ihre Haltekontakte R9-1 - R12-1 erregt gehalten. ."'-"■■"

Im PrUfrelais-Register wird eine linke Null durch Erregung des Λ Relais VO und eine Leerspalte dadurch dargestellt« daß keines der Relais V erregt ist. Entsprechend wird durch Erregung des Relais RO oder durch das Fehlen der Erregung eines der Relais R eine Null oder eine Leerspalte im Abtastrelais-Register dargestellt. Da Jedoch während der Leerspalten-oder der Linksnullen-PrUfurig weder die Abtasttransistoren RT noch die Tastatur 26 benutzt werden können, dient ein besonderer Stromkreis für die

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Erregung des Abtastrelais EO, der vom Kartenhebel-Relaiskontakt CL2 über die Kontakte LZ2, BC1 und SD2 verläuft. Der Kontakt LZ2 ist während der Linksnullenprüfung geschlossen und bewirkt die Erregung des Relais RO so lange, bis eine Wertziffer festgestellt wird, worauf die Kontakte SD2 und SP1 geöffnet werden und das Relais RO abfällt. Der Kontakt BCI wird während der Leerspalten-Prüfung betätigt, um die Erregung des Relais RO zu verhindern, weil während dieser Prüfung auch der Kontakt LZ2 geschlossen ist.

Gemäß Fig. 4b steuert jedes der Abtast- und Prüfrelais einen Satz nonr.alerweise offener bzw. geschlossener Kontakte RI2-2 bzw. R12-J5, V12-2 bzw. VI2-3 usw., die in Gruppenschaltung angeordnet sind, so daß sie eine Prüfschaltung VN bilden, deren Funktion die Erregung der Gegenwicklung BC eines Prüfrelais TR.und eines-Relais OK ist, wenn die geprüften Daten übereinstimmen, und die bei Nicht-Übereinstimmung, öle Erregung verhindern. Die Prüfschaltung enthält zwölf in Reihe geschalteter Kontaktgruppen, die den Kartenreihen 12 "9 entsprechen. In jeder Gruppe sind die normalerweise offenen Kontakte der Abtast- und Prüfrelais in Reihe angeordnet und zu den ebenfalls in Reihe liegenden normalerweise geschlossenen Kontakten parallel geschaltet« Die Kontakte R12-2 und V12-2 z.B. liegen hintereinander und parallel zu den in Reihe liegenden Kontakten R12«-3 und V12-3; diese Gruppe ist in Reihe ßiit den übrigen Gruppen verbunden. Für den Stromdurchgang durch die Prüfschaltung müssen daher die jede der Kontaktgruppen steuernden Relais V und R in gleichem Zustand also erregt oder abgeschaltet sein. Das

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Prüfrelais TR hat eine Prüfspule TC, die entgegengesetzt zur Gegenwicklu$g BC gewickelt 1st, so daß bei der Erregung beider Wicklungen ihre Wirkung aufgehoben wird, um die Erregung des Prüfrelais TR zu verhindern. Ist aber nur die Prüfwicklung TC erregt, so spricht das Prüfrelais TR an. Die Prüfwicklung TC des Prüfrelais TR liegt parallel zur Reihenschaltung der Prüfschaltung VN und des Kontaktes TR1 und ebenso parallel zur Gegenwicklung BC und zum Relais OK, jedoch sind alle diese Relais in Reihe mit dem Kontakt eines Verzögerungsrelais D verbunden, durch das die Prüfschaltung gesteuert wird. Die Prüfschaltung dient zum Vergleich der beiden Relaisregister. Das Relais OK steuert den parallel zur Prüfschaltung VN liegenden Kontakt 0K1. .

Das Verzögerungsrelais β wird durch ein Reihenfolge-Steuerrelais SS gesteuert (Fig. 4c), dessen Kontakt SSI im Stromkreis über ■ 'diö Erregungs- und Haltewioklung des Verzögerungsrelais D liegt. Eine Drosselspule 107 liegt in Reihe mit dem Verzögerungsrelais D,und ein Widerstand 106 und ein Kondensator 108 sind parallel zum Relais D geschaltet, um nach dem Abfallen des Relais SS eine Zeitverzögerung zu bewirken. Dadurch wird gesichert, daß die Kontakte der Prüfschaltung VN ohne Prellwirkung zur Zelt des Schlleßens des Verzögerungsrelaiskontaktes geschlossen werden, wodurch ein Prüfimpuls zur Prüfschaltung gelangt. Wie aus Fig. 4b ersichtlich, ist der Kontakt des Verzögerungsrelais D über den Sendekontakt E2 und den Kontakt CL^ mit der LeitungA verbunden.

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Das Relheni"olge-Startrelai3 SS bewirkt, daß zuerst geprüft und dann öle Karte weiter transportiert wird, wenn Übereinstimmung festgestellt ist.

Während der manuellen Prüfung bzw. des Vergleichens wird das Relais SS durch einen Stromkreis erregt, der den Kontakt MK2 und einen Kontakt eines Jedes-Schriftzeichen-Relais enthält. Wie bereits erläutert, ist der Kontakt MF2 während der manuellen

^ Vergleichsvorgänge geschlossen. Das Jedes-Schriftzeichen-Relais ist so geschaltet, da3 es erregt bleibt, solange keines der Abtastrelais erregt^tst. Daher bleibt das Jedes-Schriftzeichen-Relais während der manuellen Prüi'vorgänge bis zum Drücken einer Taste erregt, und das Startrelais SS ist während dieser Zeit stromlos. Bei Betätigung einer Taste wird eines der Abtastrelais erregt und somit das Jedes-Schriftzeichen-Relais abgeschaltet; dadurch wird das Reihenfolge-Startrelais SS erregt und bleibt dies durch die Kontakte SS2 und SDJ. Während der Linksnullen- und Leerspalten-Prüfung wird das Reihenfolge-Startrelais SS

W durch einen Stromkreis über die Kontakte SD4 und LZjJ erregt, so daß, weil diese Kontakte bis zur Feststellung einer Wertziffer geschlossen sind, die Steuerung des Relais SS auf den Sendekontakt E|2 übertragen wird.

Aus den Fig. > und 4b 1st ersichtlich, dafl der Phototransistor T1 im Ansprechen auf die durch dae Senderad.52 bewirkten taktweise Belichtung als Schalter wirksam ist, solange sich das

Av.

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Senderad dreht, wodurch ein Sender-Abtastrelaia 127 gesteuert wird, das seinerseits das Senderelais E steuert, so daß beim Llchtdurchßang durch einen der Schlitze 88 der Transistor TI leitend und das Relais 127 erregt wird, und das Sender-Relais E zu erregen. Dieses wird dann synchron mit dem Kartenvorschub taktweise erregt, zur Steuerung des Reihenfolge-Startrelais SS und des Ablese- und des PrUfrelais. Der Relaiskontakt 0K2 (Fig. 4o) liegt im Stromkreis eines Relais 123, das beim Schließen des Kontaktes 0K2 erregt wird und seinerseits den Schaltmagneten 38 erregt_Λ der die Schaltklinke j56 vom Schaltrad 34 abhebt. Da das Relais OK durch den Senderkontakt £2 erregt gehalten wird, wird während des Vorschubes der Karte und bei der Drehung des Senderades 52 das Senderelais E stromlos und öffnet seinen Kontakt E2, wodurch das Relais OK abfällt und der Schaltmagnet 58 stromlos sowie die Schaltklinke 36 in den nächsten Zahn gelangt. Der Kontakt 0K3 (Fig. 4b) wird auch zur Peigabe der Tastatur 26 verwendet und ist deshalb in Reihe mit €i^sm Relais 133 verbunden, das den TastaturrUckstellmagneten

Der Prüfrelaiskontakt TR2 (Fig. 4c) macht die Erregung des PrUfrelais TR als Steuerfunktion wirksam. Während des manuellen Vergleichs wird beim Schließen des Kontaktes TR2 das Fehlerfeststellrelais erregt zur Anzeige, daß ein Fehler festgestellt wurde und ein entsprechender Vorgang zur Fehlerbeseitigung notwendig ist, bevor der weitere Vorschub der Detailkarte ausgelöst wird. Während der Llnksnullen- und Leerspalten-Prüfungen steuert der

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Kontakt TR2 auch ein Wertziffer-Relais SD und errichtet einen besonderen Haltestromkreis über eine Diode 1J50, um einen evtl. Relaisdurchgang infolge von Unstimmigkeiten der Taktzeiten der Relais SD und LZ zu verhindern.

Die Leerspalten-PrÜfung wird entweder durch Betätigung einer Leerspaltentaste der Tastatur 26 oder automatisch unter der Programmsteuerung eingeleitet, wozu z.B. ein "Eins"-Loch in der ersten Spalte eines Feldes dient und aufeinanderfolgende "Zwölf"-Löcher zur Begrenzung des Leerspaltenfeldes benutzt werden. Der Programmsteuerung.ist ein Programmschalter zugeordnet. Wird die Leerspaltentaste zur Einleitung einer Leerspalten-PrUfung betätigt, so kann der Vorgang ohne Programmsteuerung fortschreiten, wobei der Programmschalter sich in seiner Aus-Stellung befindet; in diesem Fall werden Leerspalten geprüft, bis eine Wertziffer festgestellt wird, Sodann kehrt die Einrichtung automatisch zur manuellen Prüfung zurück, um die Wertziffer zu prüfen bzw. - bei der Umstellung des Programmschaltere in die Ein-Stellung - die Leerspaltenprüfung fortzusetzen, bis entweder eine Wertziffer oder das Ende eines durch die "Zwölf"-

. Locher in der Programmkarte bestimmten Feldes erreicht Wird.

Bei der Betätigung der Leerspaltentaste (Fig. 4c) wird das Relais BC über den Kontakt SD6 erregt, das seinen Kontakt BC2 schließt und dadurch einen Haltestromkreis über den Kontakt SD5 und - abhängig von der Stellung des Programmschalters - entweder

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über don Kontakt STWi2" odor über den Programmschalter In der Aus-Stellung. Wenn das Relais BC anspricht, öffnet es seinen Kontakt BCT (Fig. 4a) und verhindert bei der darauffolgenden Erregung des Relais LZ die Erregung des Linksnullen-Relais RO. Die Erregung des Relais LZ erfolgt Über den bei der Erregung des Relais BC ebenfalls geschlossenen Kontakt BCj5 (Fig. 4c).

Wird das Linksnullen-Relais LZ erregt, so öffnet es seinen Kon- takt LZ1 und das Feldrelais MF fällt ab, wodurch infolge des nun geöffneten Kontaktes MF1 (Fig. 4a) die Tastatur blockiert ist. Der Kontakt LZ2 wird zwar./geschlossen, da.aber der Kontakt BCt offen ist, bleibt dies ohne Wirkung. Der Kontakt LZJ5 (Fig.4b) wird geschlossen, wodurch das Reihenfoige-Startrelais SS erregt wird; der Kontakt LZ4 (Fig. 4c) wird geschlossen und errichtet einen primären Haltestromkreis, der über den gleichen Weg wie der Haltestromkreis für das Relais BC. verläuft. Der Kontakt LZ5 (Fig. 4c) wird geöffnet und verhindert das Erregen des Fehlerfeststellrelais, falls das Prüfrelais TR - infolge einer Nicht- * Übereinstimmung zwischen den Registern - erregt sein sollte; schließlich wird auch der Kontakt LZ6 geschlossen und bereitet einen Stromkreis für die Erregung des Relais SD im Ansprechen auf das Schließendes Kontaktes TR2 vor.

Die Erregung des Reihenfoise-Startrelais S3 leitet die beschriebene Folge von Abläufen ein. Somit spricht beim Abfallen des Verzögerungsrelais das Relais OK an, wenn die Register überein-»

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stimmen, und die Karte rückt.zur nächsten Spalte vor; oder aber, wenn die Register nicht übereinstimmen, es spricht das Prüfrelais TR an. Enthält die erste Spalte eine Wertziffer, so würde eines der Prüfrelais V ansprechen, so daß beim Abfallen des Verzögerungs· relais das Relais TR erregt wird und den Kontakt TR2 schlie2t, um das Wertziffer-Relais SD über den Kontakt LZ6 zu erregen. Wenn das Relais SD anspricht und seinen Kontakt SD8 schließt, errichtet dieser einen Haltestromkreis über den Senderkontakt E 5 und den Kontakt CI/j, so daß beim folgenden Vorschub der Karte und dem sich daraus ergebenden Abfallen des Senderelais E der Kontakt E5 geöffnet und das Relais SD wieder stromlos wird. Dieses öffnet seinen Kontakt SD5 und die Relais BC und LZ werden nun über die Diode 130 und den geschlossenen Relaiskontakt TR2 erregt gehalten.

Beim Abfallen des Relais SD werden auch die Kontakte SD} und geöfi'net, um den Haltestromkreis des Reihenfolge-Startrelais SS zu unterbrechen und das Verzögerungsrelais zu erregen. Infolge-P dessen fällt das Prüfrelais TR ab und öffnet den Kontakt TR2, so daß auch die Relais LZ und BC abfallen und einen manuellen PrüfVorgang zur Prüfung der Wertziffer erfordern, die die Leerspaltenprüfung unterbrochen hat. Wenn nun über die Tastatur die Wertziffer geprüft 1st und die Detailkarte vorgerückt wird, fällt das Senderelais E ab und öffnet den Kontakt Ε«?, worauf das Wertzid'er-Relais SD abfalltt Dadurch wird der Aüsgangszustand wieder hergestellt, so daß für den Falie, daß die geprüfte Wertziffer unrichtig ist, das Fehlerfestellrelais anspricht, da der Kontakt

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LZ5 zur Vorbereitung dieses Vorganges geschlossen ist.

Wird die Leerspalten-Prüfung vollständig durch die Programmtrommel 28 gesteuert, so ist der Programmschalter fj8 eingeschaltet und das Leerspalten-Relais BC wird über die Kontakte STWT, 1£> und 3DÖ erregt, um den Vorgang einzuleiten. Sobald die Programmkarte zur ersten Spalte eines Feldes vorgerückt wird, schließt sich der Punktionskontakt STWT kurz vor dem Ansprechen des Senderelais E, Λ so daß das Relais BC beim Schließen des Kontaktes E~J> erregt wird. Der vom "Zwölf"-Sternrad betätigte Kontakt STWT2 1st so angeordnet, daß er vor dem öffnen der Sternradkontakte beim Vorrücken der Karte zur nächsten Spalte geöffnet wird, und der Kontakt STV/12 bleibt geschlossen, bis das Ende des Feldes erreicht ist. Darauf rückt die Programmkarte aus der letzten Feldspalte vor, und der Kontakt STKT2. öffnet und die Relais BC und LZ fallen ab.

Wenn der Programmschalter 58 eingeschaltet ist, wird auch die

Linksnullen-Prüfung vollständig unter Programmsteuerung durchgeführt. Angenommen, ein "Zwei"-Loch in der Programmkarte dient zur Einleitung eines solchen Vorganges und die "Zwölf"-Lücher werden zur Bestimmung des Linksnullen-Feldes benützt. Schlle2en sich die Kontakte STW2 und E^,so v.ird das Linksnullen-Relais LZ erregt. Die weiteren Vorgänge stimmen mit denjenigen anhand eier Leerspalten-Prüfung beschriebenen übereln, Jedoch mit der Ausnahme, da3 _uetzt die Erregung des Relais LZ und das Schließen, dessen Kontaktes LZ2 (Fig. 4a) wegen des zu diesem Zeitpunkt abgeschalteten

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Relais DC die Erregung dee Relais RO bewirkt, um im Abtastregister eine Null darzustellen. Zur Übereinstimmung beim Vergleich ist somit die Abtastung einer Null in der Prüfstation erforderlich, wodurch der Kartenvorschub ausgelöst wird, bis entweder eine Wertziffer oder das Ende des Feldes erreicht ist. Tritt eine Wertziffer auf, so entsprechen di'e weiteren Vorgänge den vorher beschriebenen, und die Maschine stellt sich auf manuellen Prüfung

»von Wertziffern um. Hierzu ist die Rückstellung des Abtastrelais RO in den Normalzustand erforderlich, was deshalb eintritt, weil bei der Erregung des Relais SD dessen Kontakte SD1 und SD2 geöffnet wurden.

Eg ist zu bemerken, daß der in der vorhergehenden Beschreibung verwendete Ausdruck "Wertziffer" unterschiedliche Bedeutungen hat, je nachdem₍ ob er im Bezug auf eine Leerspalten-Prüfung oder eine L.in.ksnulien-Prüfung angewendet wurde. Bei einer Leerspaifcen-Prüfung bedeutet er, daß in der betreffenden Spalte irgendein w Kennzeichen abgetastet wurde; bei der Linksnullen-PrUfung hingegen bedeutet er eine Ziffer anders als Null oder eine Leerspalte.

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Claims

Patentansprüche

1. Prüfeinrichtung für maschinell abtastbare Aufzeichnungsträger« insbesondere Lochkarten« zur selbsttätigen Prüfung der im Aufzeichnungsträger enthaltenen Kennzeichnungen unter Steuerung durch eine spaltenweise synchron abtastbare Programmkarte und/ oder über eine Tastatur, dadurch gekennzeichnet, daß zur PrU- ^ fung einer Mehrzahl von aufeinanderfolgenden Linke-Nullen- bzw. Leerspalten-Stellen ein die vom Aufzeichnungsträger stellenweise abgetasteten Daten aufnehmendes Abtastregister (RT12 -RT9, RI2 - R9) und ein mittels Voreinstellung für Llnke-Nullen-PrUfung (LZ)bzw, Leerspalten-Prüfung (BC und LZ) konditionierbarea Prüfregister (VT12 - VT9, V12 - V9) sowie eine Vergleicherschaltung (VN) vorgesehen sind, wobei in Abhängigkeit vom Vergleichsergebnis bei Übereinstimmung ein den Aufzeichnungsträgervorschub(34 - 46) steuernder Schalter (OK) und bei ' Nicht-Übereinstimmung ein den Aufzeichnungsträger-Vorschub (>4 - 46) unterbrechender und das Prüfregister (VT12- VT9, V12 - V9) auf manuelle Prüfung umsteuernder Schalter (TR) wirksam wird.

2* Einrichtung naoh Anepruoh 1, daduroh gekennzeichnet, dafl zur Linke-Nullen-Prüfung im PrUfregieter (VT12 - VT9» V12 - V9) mittels des dlt Voreinstellung bewirkenden Schalters (LZ) daa

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™ ist.

dem Wert Null entsprechende Speicherelement (VO) wirksam ist und zur LeerBpalten-Prüfung mittels der die Voreinstellung bewirkenden Schalter (BC und LZ) alle Speicherelemente (V..) abgeschaltet sind.

Einrichtung nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, daß ein bei Linke-Nullen- bzw. Leerspalten-Prüfung mittels des in beiden Fällen wirksamen Schalters (LZ) betätigter, die Tastatur blockierender Schalter (MF, mit MFI) angeordnet

4. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß bei Feststellung einer Wertstelle (<f 0 bzw. + Leer) im Abtastregister (TR12 - TR9, R12 - R9) ein durch den auf manuelle Prüfung umschaltenden Schalter (TR) gesteuerter Schalter (ST) zur Vorbereitung eines Stromkreises zur manuellen Prüfung vorgesehen und für die Dauer eines WertstellenprUfvorganges wirksam ist.

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