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Achsenwinkel-Messeinrichtung für Polarisationsmikroskope
Die Erfindung betrifft eine Zusatzeinrichtung für Polarisationsmikroskope zum Messen des Achsen- winkels bei zweiachsigen Kristallen.
Zur Identifizierung eines zweiachsigen Kristalles wird neben andern Konstanten auch der Achsen- winkel benötigt. Bisher war es üblich, mit Hilfe der Malard'schah Konstante, die für jedes Mikroskop und hiebei wieder für jedes Objektiv in Verbindung mit der Amici-Bertrandlinse und bei Verwendung eines Huygens-Okulars mit der Feldlinse bestimmt-wurde, die Messung durchzuführen.
Weiterhin sind zu dieser Messung Spezialokulare mit einer Mikrometerteilung notwendig, in denen die Zentraldistanz der Durchtrittspunkte der optischen Achsen in 'neervallen abgelesen wird. bofern für jede Objektiv-Okular-Kombinaüon die Mallard'sche Konstante auf mehr oder weniger komplizierte Art bestimmt wurde, kann mit bekannten Formeln der Achsenwinkel berechnet werden. Um diese Rechnung zu ersparen, sind Achsenwinkeldiagramme bekannt, die entsprechend den möglichen Objektiv-OkularKombinationen unterschiedlich sind. Mit diesen Diagrammen, den im Okular abgelesenen Intervallen und dem Brechungsindex des Kristalles kann der wirkliche Achsenwinkel 2 V über den scheinbaren Achsenwinkel 2 E ermittelt werden.
Diese Methode erfordert einen grossen Zeit- und Materialaufwand, ist unbequem und birgt eine Menge von Fehlermöglichkeiten in sich.
Zur Beseitigung eines Teiles dieser Mängel ist bereits vorgeschlagen worden, die Austrittspupille des Objektivs nach oberhalb oder zwischen 2 Linsen innerhalb des optischen Systems zu verlegen und in ihrer Ebene eine gewölbte, drehbare Strichplatte mit Gradeinteilung anzuordnen, so dass in der Zwischenbildebene des Mikroskops sowohl das konoskopische Interferenzbild als auch die Strichplatte abgebildet werden und dadurch der scheinbare Achsenwinkel 2 E direkt abgelesen werden kann.
Weiterhin wurde vorgeschlagen, an die Stelle der ortsunveränderlich angebrachten Strichplatte mittels Schieber oder Revolver entsprechend den verschiedenen Brechungsindices der zu untersuchenden Kristalle unterschiedlich geteilte Strichplatten in die Ebene der Austrittspupille des ObjeRtivs einzubringen, wodurch unter Umständen der wirkliche Achsenwinkel 2 V abgelesen werden kann.
Um ein einfacheres und schnelleres Ausmessen zu ermöglichen und die Zubehörteile in Form vieler Strichplatten einzusparen, ist gemäss derErfindung eine in der Fig. 1 näher erläuterte Einrichtung geschaffen worden, die in ein Spezialobjektiv in die Ebene seiner Austrittspupille eingeschoben wird und derart ausgebildet ist, dass die Strichplatte 1 mit Hilfe einer mehrgängigen Gewindespindel 22 durch eine Drehhung um 360 0 über den gesamten Durchmesser der Austrittspupille des Objektivs bewegt werden kann.
Von der Gewindespindel 2 wird ein verstellbarer. mit Winkelgrade versehener Teilring 3 mitgenommen, dessen Teilung in Abhängigkeit von der Gewindesteigung und einem bestimmten Brechungsindex eines Präparates berechnet wurde. Durch einen zweiten lellnng 4 kann der am Teilring ; abzulesende scheinbare Achsenwinkel durch jeden vorkommenden Brechungsindex dividiert werden, so dass das Ablesen des wirklichen Achsenwinkels 2 V am Teilring 3 direkt möglich ist.
Mit dieser Anordnung können ohne zusätzliche Verwendung von Konstanten, Tabellen, Diagrammen und Spezial-Okularen sämtliche Achsenwinkel ausgemessen werden, vorausgesetzt, dass beide Spuren der
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optischen Achsen im Gesichtsfeld des Mikroskopes erscheinen.
Bei zweiachsigen Kristallen, deren Schnitt senkrecht zu einer der optischen Achsen liegt, erscheint der Durchtrittspunkt der optischen Achse zentrisch mit oder ohne Interferenzringen und einem dunklen Balken. Der Durchtrittspunkt beschreibt beim Drehen des Drehtisches mit dem Objekt eine hyperbolische Kurve (Hauptisogyre). Die Grösse des Winkels zwischen beiden optischen Achsen lässt sich nach der Krümmung der Hauptisogyre bestimmen. Beträgt die Krümmung nahe 90 , ist ein kleiner Achsenwinkel vorhanden, und er nähert sich mit abnehmender Krümmung dem Betrage von 900.
Gemäss der Erfindung wird zur Bestimmung des Achsenwinkels die Höhe der Hauptisogyre benutzt, d. h., der lineare Abstand vom Durchtrittspunkt der optischen Achse, der mit dem Scheitelpunkt der Hauptisogyre identisch ist, bis zum Schnittpunkt der Kurve mit den Begrenzungsstrichen der angenommenen Normalbreite 6 ; Zu diesem Zweck ist unterhalb der verschiebbaren Strichplatte 1 (Fig. 2) eine feste Strichplatte 5 vorgesehen, auf der die Normalbreite 6 (Fig. 3) eingeätzt ist. Beide Teilungsringe 3 und 4 können bei dieser Messung gegen entsprechend andere ausgetauscht werden.
Die Achsenwinkel-Messeinrichtung ähnelt äusserlich einem Drehkompensator und wird unter 45 in das Spezialobjektiv eingeschoben, da die Messung in diagonaler Stellung des konoskopischen Achsenbildes vorgenommen wird.
PATENTANSPRÜCHE :
1. Achsenwinkel-Messeinrichtung für Polarisationsmikroskope unter Verwendung eines Spezialobjektives, bei dem die Austrittspupille oberhalb oder zwischen zwei Linsen innerhalb des optischen Systems liegt, dadurch gekennzeichnet, dass in die Ebene der Austrittspupille eine Einrichtung eingeschoben wird, die oberhalb einer fest angeordneten Strichplatte (5) eine durch eine mehrgängige Gewindespindel ver- schiebbare Strichplatte (1) derart bewegt, dass an einem Teilring (3) der scheinbare und an einem weiteren Teilring (4) durch entsprechende Einstellung des Brechungsindexes der wirkliche Achsenwinkel direkt abgelesen werden kann.