AT163137B - Mikroskopobjektiv mit großem Arbeitsabstand - Google Patents

Mikroskopobjektiv mit großem Arbeitsabstand

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AT163137B
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sep
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Inventor
Paul Ing Ramsthaler
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Reichert Optische Werke Ag
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Description


   <Desc/Clms Page number 1> 
 



  Mikroskopobjektiv mit grossem Arbeitsabstand 
Die Erfindung bezieht sich auf ein Mikroskop- objektiv mit grossem Arbeitsabstand. Durch die
Erfindung soll einem Mangel abgeholfen werden, der darin liegt, dass insbesondere bei Werkstatts- und Messmikroskopen häufig an sich wünschens- werte oder notwendige Vergrösserungen nicht an- gewendet werden können, weil der Arbeitsabstand der üblichen Objektive gleicher Leistung zu kurz, eine entsprechende Annäherung des Objektivs an das Objekt aber infolge der besonderen Gestaltung des   zu untersuchenden Gegenstandes nichtmöglich   ist, z. B. bei Untersuchung von Verzahnungen,
Bohrungen, Hohlräumen und ähnlichem.

   Man kann zwar bei einer gegebenen Objektivbrenn- weite den Arbeitsabstand durch Verwendung eines einfachen (eingliedrigen) Objektivs auf einen
Höchstwert bringen, doch muss in diesem Falle aus optischen Korrektionsgründen die numerische
Apertur des Systems stark beschränkt werden.
Eine solche Beschränkung führt aber zu einer
Verminderung der Auflösung und der Lichtstärke des Mikroskops. 



   Es ist an sich bekannt, den Abstand zwischen
Objekt und erster Linsenfläche durch ein System von positiven und negativen optischen Gliedern zu vergrössern, z. B. bei Brückeschen Lupen. Die numerische Apertur solcher Systeme, die keine Mikroskopobjektive darstellen, ist jedoch gering. 



  Ausserdem ist ihre Bildgüte sehr ungenügend. 



   Bei dem Gegenstand der Erfindung handelt es sich um ein als ganzes System optisch korrigiertes Mikroskopobjektiv, das in Verbindung mit Okularen bekannter Bauart verwendet wird. 



   Erfindungsgemäss wird bei einer numerischen Apertur des Systems von wenigstens 0-12 und einer Eigenvergrösserung von mindestens 5 : 1 durch zweckmässige Wahl der Brechkräfte der Teilsysteme und des Abstandes zwischen dem positiven und dem negativen Teilsystem, der mindestens gleich der Brennweite sein soll, ein objektseitiger Hauptpunktabstand von mehr als ein Viertel der gesamten Brennweite erreicht. 



   Zu einer besonders vorteilhaften Ausführung des Erfindungsgegenstandes gelangt man, wenn zwei positive Teilsysteme vom gleichen Konstruktionstypus verwendet werden, wobei der Ausführungsmassstab der Teilsysteme verschieden sein kann. 
In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel der Erfindung dargestellt. Der Objektpunkt ist mit o, das erste positive Teilsystem mit   t1 >    das zweite mit   t2   und ein negatives Teilsystem mit   t3   bezeichnet. Die Bildebene trägt die Bezeichnung b, das Okular a. Wenn das System für Auflicht verwendet wird, kann ein spiegelndes Element s eingebaut werden. Die Linse k ist ein Kondensor. 



  Die Lichtquelle ist mit r bezeichnet. 



   Die Konstruktionsdaten eines Ausführungsbeispieles sind in der beigefügten Tabelle niedergelegt. Die Eigenvergrösserung des Objektivs beträgt 10 : 1, die Brennweite   13. 3 mm   und die numerischen Apertur 0-2. Die Radien sind mit   r1   bis   r 12 bezeichnet,   die Linsendicken mit   d1   bis   d7   und die Luftabstände mit   bis/6. Ausserdem   sind die Brechkräfte   n1   bis n7 und die v-Werte vl bis V7 angegeben. Der objektseitige Hauptpunkt   H1   liegt 11-2mm vor dem ersten Linsenscheitel und der Arbeitsabstand beträgt   25. 8 mm.   Zum Vergleich sei erwähnt, dass bei Objektiven normalen Bauart, gleicher Vergrösserung, ähnlicher Apertur und ähnlicher Brennweite der Arbeitsabstand unter 10 mm beträgt. 



   Daten des Ausführungsbeispiels : 
 EMI1.1 
 

 <Desc/Clms Page number 2> 

 
Der Korrektionszustand des hier erwähnten Systems ergibt sich aus folgender Tabelle : 
 EMI2.1 
 
<tb> 
<tb> num. <SEP> Ap. <SEP> D <SEP> #F
<tb> Aberr. <SEP> Sin. <SEP> Bed. <SEP> Aberr.
<tb> 



  0.2 <SEP> -0.91 <SEP> mm <SEP> -1.11% <SEP> +0.03 <SEP> mm
<tb> 0.17 <SEP> -0.305 <SEP> mm <SEP> -0.44% <SEP> +0.94 <SEP> mm
<tb> 0.14 <SEP> -1.215 <SEP> mm <SEP> -0.99% <SEP> -0.48 <SEP> mm
<tb> 0.10 <SEP> -1.41 <SEP> mm <SEP> -1.06% <SEP> -1.52 <SEP> mm
<tb> 0.0 <SEP> - <SEP> - <SEP> -1.09 <SEP> mm
<tb> 
 
In dieser sind links die numerische Apertur an-   geführt,   dann folgen die Längenaberrationen für die D-Linie des Spektrums und die Fehler gegen die Sinusbedingung. Es sei darauf aufmerksam gemacht, dass die Fehler gegen die Sinusbedingung ähnlich den Aberrationen verlaufen, auf die jeweilige Schnittweite bezogen also kleiner sind, als in der Tabelle zum Ausdruck kommt. An dritter Stelle sind in der Tabelle die Aberrationen für die   F-Linie   des Spektrums angegeben. 



   PATENTANSPRÜCHE :
1. Mikroskopobjektiv mit grossem Arbeitsabstand, bestehend aus positiven und negativen Teilsystemen, dadurch gekennzeichnet, dass bei einer numerischen Apertur des Systems von wenigstens 0-12 und einer Eigenvergrösserung von mindestens 5 : 1 durch zweckmässige Wahl der Brechkräfte der Teilsysteme und des Abstandes zwischen dem positiven und dem negativen Teilsystem, der mindestens gleich der Brennweite sein soll, ein objektseitiger Hauptpunktabstand von mehr als ein Viertel der gesamten Brennweite erreicht wird.

Claims (1)

  1. 2. Mikroskopobjektiv nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens zwei positive Teilsysteme vorhanden sind, zwischen denen paralleler oder angenähert paralleler Strahlengang besteht.
AT163137D 1946-02-08 1946-02-08 Mikroskopobjektiv mit großem Arbeitsabstand AT163137B (de)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3132200A (en) * 1961-06-05 1964-05-05 American Optical Corp Microscope optical system
EP4036518A1 (de) * 2021-01-28 2022-08-03 Klingelnberg GmbH Verfahren und vorrichtung zum messen einer verzahnung

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3132200A (en) * 1961-06-05 1964-05-05 American Optical Corp Microscope optical system
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