AT146342B - Photoelektrischer Belichtungsmesser. - Google Patents

Description

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  Photoelektrischer Belichtungsmesser. 



   Gegenstand der Erfindung ist ein photoelektrischer Belichtungsmesser, der sich neben äusserst gedrängter Bauart und einfacher Konstruktion durch besondere Handlichkeit auszeichnet. 



   In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel des erfindungsgemässen photoelektrischen Belichtungmessers dargestellt, u. zw. zeigt Fig. 1 den Belichtungsmesser in einem   Aufrissschnitt,   während Fig. 2 eine zugehörige Untersicht darstellt. 



   Der Belichtungsmesser besteht aus einem langgestreckten Gehäuse   1,   in dessen Längsrichtung nebeneinander einerseits das Messinstrument 2 und anderseits die Photozelle 9 mit dem Widerstand 11 gelagert sind. Das Messinstrument ist beispielsweise als Drehspulinstrument ausgebildet und besteht aus einem ringförmigen Magnet 3 und einer Drehspule 4. Auf der Drehspule 4 ist ein Zeiger 5 befestigt, der nach einem Index 6 einstellbar ist. Durch Öffnungen 7 und 8 kann die Stellung des Zeigers 5 beobachtet werden. Vor der in der Längsrichtung des Gehäuses 1 neben dem Drehspulinstrument 2 gelagerten Photozelle 9 befindet sich eine Glasscheibe 10, während der elektrische Widerstand 11 zweckmässig hinter der Photozelle 9 angeordnet ist.

   Auf dem Widerstand 11 gleitet ein Schleifkontakt 12, der mit einer   Einstellscheibe 13,   die die Belichtungszeiten trägt, (Belichtungszeitenskala) in Verbindung steht. 



  Konzentrisch zu der Belichtungszeitenskala 13 ist eine weitere Scheibe 14 angeordnet, welche die Blendenwerte trägt. (Blendenskala). Eine weitere Scheibe 15 enthält die   Empfindlichkeit'-grade   des Aufnahmematerials   (Scheinergradskala).   Die Photozelle   9,   der Widerstand 11, die Blendenskala 14, die   Seileinergradskala   15 und die   Belichtungszeitenskala   13 sind konzentrisch zueinander angeordnet. Ein Fenster 16 dient dazu, den   gewünschten   Empfindlichkeitsgrad bei der Messung einzustellen. Die Ablesung des Zeigers 5 kann durch den ringförmigen Magnet 3 des als Drehspuleninstrument ausgebildeten Messinstrumentes hindurch erfolgen.

   Die Skalenscheibe 15 für die Filmempfindlichkeit   (Seheinergrad-   skala) ist gegenüber der Belichtungszeitenskala 13 fest angeordnet, während die Blendenskalenscheibe 14 gegenüber der feststehenden Scheinergradskala 15 einstellbar ist. 



   Die Wirkungsweise des Instrumentes ist folgende :
Auf der Scheibe 14, welche die Blendenwerte enthält, befindet sich das Fenster   16,   das als Index dient. Durch Einstellen dieses Index der Blendenscheibe 14 auf die Skala der   Empfindlichkeitswerte,   (Scheinergradskala   15)   und durch Drehen der Belichtungszeitenskala 13, welche mit dem Widerstand 11 über den Schleifkontakt 12 gekuppelt ist, wird der Zeiger 5 des Messinstrumentes auf die feststehende Marke 6 eingestellt. Damit ist die Einstellung des Instruments beendet und die Ablesung der eingestellten Belichtungszeit kann erfolgen. Die Anordnung der Skalen 13 und 14 ermöglicht es nun, ohne jede Umrechnung und ohne Zuhilfenahme einer Tabelle, sofort die richtige Belichtungszeit nach dem jeweilig eingestellten Blendenwert abzulesen. 



   Im Folgenden ist ein Beispiel wiedergegeben, wie die Messung der Belichtungszeiten bzw. deren Ablesung erfolgt. Ist der Zeiger 5 mit dem Index 6 durch Verdrehung der Belichtungszeitskala 13 zur Deckung gebracht, so würde das heissen, dass für eine Filmempfindlichkeit von   23  Scheiner   die Belichtungzeiten folgende sind :

   
 EMI1.1 
 
<tb> 
<tb> Blende <SEP> 32........................................ <SEP> 1 <SEP> Sekunde
<tb> Blende <SEP> 22....................................... <SEP> 1/2 <SEP> Sekunde
<tb> Blende <SEP>   <SEP> 1/"Sekunde <SEP> usw.
<tb> 
 

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 Findet ein anderes Filmmaterial als mit   230 Scheiner   Verwendung, so wird die Blendenskalascheibe 14 mit dem Index 16 (Ablesefenster) auf   die entsprechende Filmempfindlichkeit,   beispielsweise   170,     190   und   20  Scheiner   eingestellt. 



   PATENT-ANSPRÜCHE :
1. Photoelektrischer Belichtungsmesser, dadurch gekennzeichnet, dass derselbe ein langgestrecktes Gehäuse   (1)   aufweist, in dessen   Längsrichtung   nebeneinander einerseits das Messinstrument   (2)   und anderseits die Photozelle   (9)   mit dem Widerstand (11) gelagert sind.

Claims (1)

1. 2. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Photozelle (9), der Widerstand (11), die Blendenskala (14), die Scheinergradskala (15) und die Belichtung- zeitenskala (13) konzentrisch zueinander angeordnet sind.

   3. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Ablesung EMI2.1 Messinstrumentes hindurch erfolgt.

   4. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Skalenscheibe (15) für die Filmempfindlichkeit (Scheinergradskala) gegenüber der Belichtungszeitenskala (13) fest angeordnet ist.

   5. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Blendenskalenscheibe (14) gegenüber, der feststehenden mit Scheinergraden versehenen Scheibe (15) einstellbar ist.

   6. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Be- EMI2.2 EMI2.3