AT147276B

AT147276B - Photoelektrischer Belichtungsmesser.

Info

Publication number: AT147276B
Authority: AT
Original assignee: Zeiss Ikon Ag
Priority date: 1934-06-29
Filing date: 1935-03-25
Publication date: 1936-10-10

Description

Photoelektrischer Belichtungsmesser.

Die Erfindung betrifft einen photoelektrischen Belichtungsmesser, der aus einer Sperrschichtzelle, einem Widerstand und einem Messinstrument besteht und bei dem die Einstellung der Belichtungzeit durch Betätigung der Belichtungszeitenskala bewirkt wird ; bei Verstellung derselben wird der elektrische Widerstand beeinflusst. Durch entsprechende Verstellung der Belichtungszeitenskala kann der Zeiger des Messinstrumentes auf eine feststehende Marke eingestellt werden. In dieser Stellung kann sodann die richtige Belichtungszeit auf der Skala abgelesen werden.

Gemäss der Erfindung sind nun die Sperrschichtzelle und der Widerstand von der Sperrschichtzelle aus gesehen derart neben dem Messinstrument angeordnet, dass deren Achsen parallel zueinander verlaufen. Dadurch erhält der Belichtungsmesser eine handliche Form und ausserdem wird die Bedienungsweise desselben wesentlich erleichtert. Die Beobachtung des Zeigers 6 erfolgt zweckmässig durch ein Schauloch, welches konzentrisch zum Magnet 9 des Drehspuleninstrumentes angeordnet ist. Zur Erleichterung der Ablesung dient eine Linse, die den Zeiger vergrössert. Auf der entgegengesetzten Seite der Linse befindet sich eine Mattscheibe. Die Anordnung von Zelle, Widerstand und Einstellskala erfolgt ebenfalls konzentrisch zueinander.

Vor der Sperrschichtzelle 8 befindet sich ausserdem zum Schutze derselben und zum Zwecke, dass nur das vom Aufnahmeobjekt kommende Licht auf die Photozelle trifft, eine Glasplatte 10 mit prismatisch ausgebildeten und konzentrisch angeordneten Ringen.

Die Wirkungsweise des Instrumentes ist folgende : Auf der Scheibe 1, welche die Blendenangaben enthält, befindet sich ein Index in Form eines Fensters 2. Durch Einstellung des Index der Blendenscheibe 1 auf die Skala der Empfindlichkeitswerte der Scheibe 3 und durch Drehung der Belichtungzeitenskala der Scheibe 4, welche mit dem Widerstand 5 gekuppelt ist, wird der Zeiger 6 des Messinstrumentes auf eine feststehende Marke 7 eingestellt. Damit ist die Einstellung des Instrumentes beendet und die Ablesung der eingestellten Belichtungszeit kann erfolgen. Die Anordnung der Skalen 1 und 4 ermöglicht es nun, ohne jede Umrechnung und ohne Zuhilfenahme einer Tabelle sofort die richtige Belichtungszeit abzulesen.

Im folgenden ist ein Beispiel wiedergegeben, wie die Messung der Belichtungszeiten bzw. deren Ablesung erfolgt. Ist der Zeiger 6 mit dem Index y durch Verdrehung des Belichtungszeitenringes 4 zur Deckung gebracht, so würde das heissen, dass für eine Filmempfindlichkeit von 23 Seheiner die Belichtungszeiten folgende sind :
Blende 44................ 4 Sekunden 32................ 2 22................ 1 usw.

Findet ein anderes Filmmaterial Verwendung, so wird die Blendenskala Scheibe 1 mit dem Index (Ablesefenster) auf die entsprechende Filmempfindlichkeit 14,17, 20 usw. eingestellt.

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Claims

PATENT-ANSPRÜCHE : 1. Photoelektrischer Belichtungsmesser, bestehend aus Sperrschichtzelle, Widerstand und Messinstrument, dadurch gekennzeichnet, dass die Sperrschichtzelle (8) und der Widerstand (5) von der Sperrschichtzelle aus gesehen derart neben dem Messinstrument (9) angeordnet sind, dass deren Achsen parallel zueinander verlaufen. <Desc/Clms Page number 2> EMI2.1 Beliehtungszeitenskala (4) konzentrisch zueinander angeordnet sind.

3. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Ableseeinrichtung für die Einstellung des Zeigers so angeordnet ist, dass sie durch den ringförmig ausgebildeten Magnet (9) des Messinstrumentes hindurch erfolgen kann.

4. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass zur Erleichterung der Ablesung der Zeigrstellung einerseits eine Linse, anderseits eine Mattscheibe vorgesehen sind.

5. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Skalenscheibe für die Pilmempfindlichkeit (3) gegenüber der Belichtungszeitenskala (4) fest angeordnet ist.

6. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Blendenskalascheibe (1) gegenüber der feststehenden mit Scheinergraden versehenen Scheibe einstellbar ist.

7. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Belichtungszeitenskala (4) mit einem Kontakt versehen ist, welcher auf den Widerstand (6) einwirkt.

8. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass vor der Photozelle (8) eine mit prismatischen Ringen, die konzentrisch zueinander angeordnet sind, versehene Glasplatte (10) gelagert ist. EMI2.2