WO2023182156A1 - 半導体発光装置、基台、半田付き基台、及び、半導体発光装置の製造方法 - Google Patents

半導体発光装置、基台、半田付き基台、及び、半導体発光装置の製造方法 Download PDF

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WO2023182156A1
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WO
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solder
semiconductor laser
laser bar
block
emitting device
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PCT/JP2023/010363
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啓希 四郎園
茂生 林
靖利 川口
靖夫 馬場
哲 瀬戸口
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ヌヴォトンテクノロジージャパン株式会社
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    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
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    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/0233Mounting configuration of laser chips
    • H01S5/0234Up-side down mountings, e.g. Flip-chip, epi-side down mountings or junction down mountings
    • HELECTRICITY
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    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/0235Method for mounting laser chips
    • H01S5/02355Fixing laser chips on mounts
    • H01S5/0237Fixing laser chips on mounts by soldering

Definitions

  • the present disclosure relates to a semiconductor light emitting device including a semiconductor laser bar, a base to which the semiconductor laser bar etc. are bonded, a soldered base to which the semiconductor laser bar etc. is bonded, and a method for manufacturing a semiconductor light emitting device including the semiconductor laser bar.
  • Semiconductor laser elements are used as light sources in products in a variety of fields, both consumer and industrial.
  • semiconductor laser elements are used as light sources for image display devices such as displays and projectors, light sources for automobile headlamps, or light sources for industrial equipment such as laser processing equipment.
  • semiconductor laser elements used as light sources for projectors or laser processing equipment are required to have a high optical output of much more than 1 watt.
  • the optical density at the front end face where the laser light is emitted will become too high, and there is a risk that COD (Catastrophic Optical Damage) will occur on the front end face.
  • COD Catastrophic Optical Damage
  • This type of semiconductor laser device is configured, for example, as a long semiconductor laser bar having a plurality of gain regions corresponding to a plurality of emitters (for example, Patent Document 1).
  • the semiconductor laser bar is installed on an installation member such as a heat sink or a cooling device via a base such as a submount. Thereby, stress on the semiconductor laser bar due to the difference in thermal expansion between the semiconductor laser bar and the installation member can be reduced.
  • the semiconductor laser bar is bonded to a base such as a submount using solder.
  • a semiconductor laser bar is joined to a base using a junction down method.
  • the semiconductor laser bar is placed on a soldered base, and the soldered base is heated while pressing the semiconductor laser bar to melt the solder and join the semiconductor laser bar and the base with solder.
  • solder that has melted and become liquid due to heating is pressed by the semiconductor laser bar, so the liquid solder may spill out from a predetermined position on the base. Specifically, solder may protrude from between the semiconductor laser bar and the base.
  • solder when molten solder is pressed down by the semiconductor laser bar, it may flow in the lateral direction of the semiconductor laser bar and protrude from the front end surface of the semiconductor laser bar. If the solder protrudes from the front end face (light emitting end face) of the semiconductor laser bar, the solder may ride on the front end face and obstruct the optical path. Therefore, in order to prevent solder from adhering to the front end face of the semiconductor laser bar, it is conceivable to arrange the semiconductor laser bar on the base with the front end face slightly protruding from the base.
  • the front end face and the rear end face on the opposite side form a dielectric reflective film constituting the resonator, so even if the solder protrudes, there is no risk of shorting the pn junction and causing leakage.
  • the solder pressed down by the semiconductor laser bar may flow in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar and protrude from the side surface of the semiconductor laser bar. Since a coating is usually not formed on the longitudinal side surfaces of the semiconductor laser bar, if solder protrudes from the side surface of the semiconductor laser bar, there is a risk that the solder will adhere to the side surface and short-circuit the pn junction of the semiconductor laser bar. Therefore, in order to prevent solder from adhering to the longitudinal sides of the semiconductor laser bar, an inactive region in which no gain region exists is provided at each end of the semiconductor laser bar in the longitudinal direction. A technique that does not form solder is known.
  • the length of the non-active region must be made considerably long.
  • the length of the semiconductor laser bar in the longitudinal direction becomes long, and the overall size of the semiconductor light emitting device including the semiconductor laser bar mounted on the base becomes large.
  • the solder will protrude from the side surface of the semiconductor laser bar, and there is a risk that the solder will eventually adhere to the side surface of the semiconductor laser bar and short-circuit the pn junction.
  • the present disclosure is intended to solve such problems, and provides a semiconductor light emitting device, a base, and a semiconductor light emitting device that can suppress liquid solder from protruding from the longitudinal sides of a semiconductor laser bar when bonding the semiconductor laser bar to the base.
  • the purpose of the present invention is to provide a soldered base and a method for manufacturing a semiconductor light emitting device.
  • one embodiment of a semiconductor light emitting device includes: a base having a wiring member; an edge-emitting type semiconductor laser bar having a plurality of gain regions arranged along the longitudinal direction; solder disposed between the wiring member and the semiconductor laser bar, and the semiconductor laser bar has a front end surface that is an end surface that emits light, and a rear end surface that is an end surface that is opposite to the front end surface. , and a side surface that is an end surface in the longitudinal direction, the semiconductor laser bar is connected to the base in a junction-down manner, and a surface of the wiring member on the semiconductor laser bar side is an interface with the solder.
  • connection region and a block region having a contact angle with the solder larger than 90 degrees are included, the connection region is located inside the side surface in the longitudinal direction when viewed from above, and at least a part of the block region is , in a top view, the block area is located between the connection area and the side surface, an inner portion of the block area in the longitudinal direction is located inside the side surface, and the solder is applied from the rear end surface in the top view. It has a rear side extending portion that extends outward, and does not extend outward from the side surface.
  • one aspect of the base according to the present disclosure is a rectangular parallelepiped base having a wiring member, wherein the upper surface of the wiring member includes a connection area and a block area, and the block area is The block region is located outside the connection region in the longitudinal direction, the connection region has a contact angle with the solder smaller than 90 degrees, and the block region has a contact angle with the solder larger than 90 degrees.
  • one aspect of the base with solder includes a rectangular parallelepiped base having a wiring member, and solder disposed on the upper surface of the wiring member, and the upper surface of the wiring member is connected to the solder. a connection region having a contact angle with the solder smaller than 90 degrees, and a block region having a contact angle with the solder larger than 90 degrees, the block region being the connection region in the longitudinal direction when viewed from above. located on both sides of
  • one aspect of the method for manufacturing a semiconductor light emitting device includes a first step of preparing a base having a wiring member, a second step of disposing solder on the wiring member, and a step of disposing a solder on the solder. a third step of arranging an edge-emitting type semiconductor laser bar with a junction down, heating the semiconductor laser bar while pressing it to melt the solder, and joining the semiconductor laser bar to the base with the solder;
  • the semiconductor laser bar has a plurality of gain regions arranged along the longitudinal direction, and the semiconductor laser bar has a front end surface that is an end surface that emits light, and an end surface that is opposite to the front end surface.
  • the wiring member has a rear end surface and a side surface that is the end surface in the longitudinal direction
  • the wiring member in the first step, is formed by sequentially forming a first connection member and a block member, and the wiring member is formed on the upper surface of the wiring member.
  • the solder is placed on the connection area, and in the third step, the solder extends outward from the rear end surface and does not extend outward from the side surface.
  • Another aspect of the method for manufacturing a semiconductor light emitting device includes a first step of preparing a base having a wiring member, a second step of disposing solder on the wiring member, and a second step of preparing a base having a wiring member.
  • the semiconductor laser bar has a plurality of gain regions arranged along the longitudinal direction, and the semiconductor laser bar has a front end face that is an end face that emits light, and an end face opposite to the front end face.
  • the wiring member is formed by sequentially forming a block member and a second connection member, and
  • the upper surface includes a connection region having a contact angle with the solder smaller than 90 degrees, and block regions located on both outer sides of the connection region in the longitudinal direction and having a contact angle with the solder larger than 90 degrees.
  • the solder is disposed on the connection region; in the third step, the solder extends outward from the rear end surface, and does not extend outward from the side surface; At least a portion of the second connecting member and the solder are integrated with each other via a composition transition region.
  • the present disclosure it is possible to suppress the solder from protruding from the side surfaces of the semiconductor laser bar in the longitudinal direction, so it is possible to suppress the occurrence of leaks on the side surfaces of the semiconductor laser bar.
  • FIG. 1 is a top view of the semiconductor light emitting device according to the first embodiment.
  • FIG. 2 is a front view of the semiconductor light emitting device according to the first embodiment.
  • 3A is a cross-sectional view of the semiconductor light emitting device according to the first embodiment taken along line IIIA-IIIA in FIG. 1.
  • FIG. 3B is a cross-sectional view of the semiconductor light emitting device according to the first embodiment taken along line IIIB-IIIB in FIG. 1.
  • FIG. 3C is a cross-sectional view of the semiconductor light emitting device according to the first embodiment taken along line IIIC-IIIC in FIG. 1.
  • FIG. 4 is a diagram showing the configuration of the base according to the first embodiment before the semiconductor laser bar is bonded.
  • FIG. 5 is an enlarged cross-sectional view of the semiconductor light emitting device according to the first embodiment.
  • FIG. 6 is a diagram showing the configuration of the soldered base according to the first embodiment.
  • FIG. 7 is a diagram for explaining a method for manufacturing a soldered base according to the first embodiment.
  • FIG. 8 is a diagram for explaining a method for mounting a semiconductor laser bar on a soldered base according to the first embodiment.
  • FIG. 9 is a diagram for explaining an application example when mounting a semiconductor laser bar on a soldered base according to the first embodiment.
  • FIG. 10A is a top view of a semiconductor light emitting device according to Modification 1 of Embodiment 1.
  • FIG. 10A is a top view of a semiconductor light emitting device according to Modification 1 of Embodiment 1.
  • FIG. 10B is a cross-sectional view of the semiconductor light emitting device according to Modification 1 of Embodiment 1 taken along line XB-XB in FIG. 10A.
  • FIG. 10C is a cross-sectional view of the semiconductor light emitting device according to Modification 1 of Embodiment 1 taken along line XC-XC in FIG. 10A.
  • FIG. 10D is a cross-sectional view of the semiconductor light emitting device according to Modification 1 of Embodiment 1 taken along line XD-XD in FIG. 10A.
  • FIG. 11 is a sectional view showing another example of the semiconductor light emitting device according to Modification 1 of Embodiment 1.
  • FIG. 10B is a cross-sectional view of the semiconductor light emitting device according to Modification 1 of Embodiment 1 taken along line XB-XB in FIG. 10A.
  • FIG. 10C is a cross-sectional view of the semiconductor light emitting device according to Modification 1 of Embodiment 1 taken along line
  • FIG. 12 is a diagram showing the configuration of a base for mounting a semiconductor light emitting device and a semiconductor laser bar according to a second modification of the first embodiment.
  • FIG. 13 is a diagram showing the configuration of a soldered base according to a second modification of the first embodiment.
  • FIG. 14 is a diagram showing the configuration of a semiconductor light emitting device, a base for mounting a semiconductor laser bar, and a semiconductor laser bar according to Modification 3 of Embodiment 1.
  • FIG. 15 is a diagram showing the configuration of a base for mounting a semiconductor light emitting device and a semiconductor laser bar according to a fourth modification of the first embodiment.
  • FIG. 16 is a cross-sectional view of a semiconductor light emitting device according to a fifth modification of the first embodiment.
  • FIG. 17 is a cross-sectional view of another semiconductor light emitting device according to the fifth modification of the first embodiment.
  • FIG. 18 is a top view of the semiconductor light emitting device according to the second embodiment.
  • FIG. 19 is a front view of a semiconductor light emitting device according to a second implementation form.
  • FIG. 20A is a cross-sectional view of the semiconductor light emitting device according to the second embodiment taken along line XXA-XXA in FIG. 18.
  • FIG. 20B is a cross-sectional view of the semiconductor light emitting device according to the second embodiment taken along line XXB-XXB in FIG. 18.
  • FIG. 20C is a cross-sectional view of the semiconductor light emitting device according to the second embodiment taken along line XXC-XXC in FIG. 18.
  • FIG. 20A is a cross-sectional view of the semiconductor light emitting device according to the second embodiment taken along line XXA-XXA in FIG. 18.
  • FIG. 20B is a cross-sectional
  • FIG. 21 is a diagram showing the configuration of the base according to the second embodiment before the semiconductor laser bar is bonded.
  • FIG. 22 is an enlarged cross-sectional view of the semiconductor light emitting device according to the second embodiment.
  • FIG. 23 is a diagram showing the configuration of a soldered base according to the second embodiment.
  • FIG. 24 is a diagram for explaining a method for manufacturing a soldered base according to the second embodiment.
  • FIG. 25 is a diagram for explaining a method for mounting a semiconductor laser bar on a soldered base according to the second embodiment.
  • FIG. 26A is a top view of a semiconductor light emitting device according to Modification 1 of Embodiment 2.
  • FIG. 26B is a cross-sectional view of the semiconductor light emitting device according to Modification 1 of Embodiment 2 taken along line XXVIB-XXVIB in FIG. 26A.
  • FIG. 26C is a cross-sectional view of the semiconductor light emitting device according to Modification 1 of Embodiment 2 taken along line XXVIC-XXVIC in FIG. 26A.
  • FIG. 26D is a cross-sectional view of the semiconductor light emitting device according to Modification 1 of Embodiment 2 taken along line XXVID-XXVID in FIG. 26A.
  • FIG. 27 is a diagram showing the configuration of a base for mounting a semiconductor light emitting device and a semiconductor laser bar according to a second modification of the second embodiment.
  • FIG. 27 is a diagram showing the configuration of a base for mounting a semiconductor light emitting device and a semiconductor laser bar according to a second modification of the second embodiment.
  • FIG. 28 is a top view of the semiconductor light emitting device according to the third embodiment.
  • FIG. 29 is a front view of the semiconductor light emitting device according to the third mounting form.
  • FIG. 30A is a cross-sectional view of the semiconductor light emitting device according to the third embodiment taken along the line XXXA-XXXA in FIG. 28.
  • FIG. 30B is a cross-sectional view of the semiconductor light emitting device according to the third embodiment taken along line XXXB-XXXB in FIG. 28.
  • FIG. 30C is a cross-sectional view of the semiconductor light emitting device according to the third embodiment taken along line XXXC-XXXC in FIG. 28.
  • FIG. 31 is a diagram showing the configuration of the base according to the third embodiment before the semiconductor laser bar is bonded.
  • FIG. 32 is an enlarged cross-sectional view of the semiconductor light emitting device according to the third embodiment.
  • FIG. 33 is a diagram showing the configuration of a soldered base according to the third embodiment.
  • FIG. 34 is a diagram for explaining a method for manufacturing a soldered base according to the third embodiment.
  • FIG. 35 is a diagram for explaining a method for mounting a semiconductor laser bar on a soldered base according to the third embodiment.
  • FIG. 36A is a top view of a semiconductor light emitting device according to a modification of the third embodiment.
  • FIG. 36B is a cross-sectional view of a semiconductor light emitting device according to a modification of the third embodiment taken along line XXXVIB-XXXVIB in FIG. 36A.
  • FIG. 36C is a cross-sectional view of a semiconductor light emitting device according to a modification of the third embodiment taken along line XXXVIC-XXXVIC in FIG. 36A.
  • FIG. 36D is a cross-sectional view of a semiconductor light emitting device according to a modification of the third embodiment taken along the line XXXVID-XXXVID in FIG. 36A.
  • FIG. 37 is an enlarged sectional view of a semiconductor light emitting device according to a modification of the third embodiment.
  • FIG. 38 is a top view of a semiconductor light emitting device according to Modification 1.
  • FIG. 39 is a cross-sectional view of a semiconductor light emitting device according to Modification 1.
  • FIG. 40 is a top view of the base according to Modification 1.
  • FIG. 41 is a top view of a soldered base and a top view of a semiconductor light emitting device according to Modification 2.
  • FIG. 42 is a top view of a soldered base and a top view of a semiconductor light emitting device according to Modification 3.
  • FIG. 43 is a cross-sectional view of a semiconductor light emitting device according to Modification Example 4.
  • each figure is a schematic diagram and is not necessarily strictly illustrated. Therefore, the scales, angles, etc. in each figure do not necessarily match, and the angles may not be shown accurately.
  • substantially the same configurations are denoted by the same reference numerals, and overlapping explanations will be omitted or simplified.
  • the terms “upper” and “lower” do not refer to the upper direction (vertically upward) or the lower direction (vertically downward) in absolute spatial recognition, but are based on the stacking order in the stacked structure. Used as a term defined by the relative positional relationship. Additionally, the terms “above” and “below” are used not only when two components are spaced apart and there is another component between them; This also applies when they are placed in contact with each other.
  • FIG. 1 is a top view of a semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment.
  • FIG. 2 is a front view of the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment.
  • 3A, FIG. 3B, and FIG. 3C are cross-sectional views of the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment taken along the IIIA-IIIA line, the IIIB-IIIB line, and the IIIC-IIIC line in FIG. 1, respectively.
  • the semiconductor light emitting device 1 includes a base 2 having a wiring member 10, a semiconductor laser bar 3, and solder 4.
  • the base 2 and the semiconductor laser bar 3 are bonded together via solder 4.
  • the solder 4 is interposed between the base 2 and the semiconductor laser bar 3. That is, the solder 4 is placed on the base 2, and the semiconductor laser bar 3 is placed on the solder 4.
  • the solder 4 is placed on the wiring member 10 of the base 2. Therefore, the solder 4 is placed between the wiring member 10 and the semiconductor laser bar 3.
  • the solder 4 is an example of a joining member for joining the base 2 and the semiconductor laser bar 3.
  • the solder 4 joins the wiring member 10 of the base 2 and the semiconductor laser bar 3. Thereby, the wiring member 10 and the semiconductor laser bar 3 are electrically connected.
  • the solder 4 is, for example, AuSn-based or SnAuCu-based lead-free solder, but is not limited to this.
  • the solder 4 may be lead solder using lead (Pb).
  • the solder 4 may be high temperature solder or low temperature solder.
  • the solder 4 is AuSn solder.
  • AuSn eutectic solder was used as the solder 4 as the solder 4.
  • the semiconductor laser bar 3 is an example of a long semiconductor laser element that emits laser light.
  • the semiconductor laser bar 3 is an edge-emitting type semiconductor laser element having a plurality of gain regions arranged along the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3.
  • the semiconductor laser bar 3 is a semiconductor laser element with a multi-emitter structure having a plurality of emitters corresponding to a plurality of gain regions, and emits a plurality of laser beams.
  • the semiconductor laser bar 3 includes a substrate and a semiconductor stacked structure formed on the substrate.
  • the semiconductor laser bar 3 is a GaN-based semiconductor laser, a GaAs-based semiconductor laser, or the like.
  • the semiconductor laser bar 3 is a GaN-based semiconductor laser, and includes a GaN substrate as a growth substrate and a semiconductor stacked structure made of a nitride semiconductor material formed on the GaN substrate.
  • the semiconductor stacked structure includes an n-type semiconductor layer formed on a GaN substrate, an active layer formed on the n-type semiconductor layer, and a p-type semiconductor formed on the active layer. and a layer. The active layer formed between the n-type semiconductor layer and the p-type semiconductor layer becomes a pn junction.
  • the p-type semiconductor layer has, for example, a plurality of ridge portions 3a as a plurality of optical waveguides.
  • the plurality of ridge portions 3a (optical waveguides) correspond to the plurality of gain regions.
  • the plurality of ridge portions 3a are formed in parallel and extend in a direction perpendicular to the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3.
  • the upper surface of the p-type semiconductor layer is covered with an insulating film 3b made of SiN, SiO2, etc., except for the top surface of the ridge portion 3a. That is, the insulating film 3b has an opening above the ridge portion 3a.
  • a p-side electrode is formed on the p-type semiconductor layer, and an n-side electrode is formed on the back surface of the GaN substrate (the surface opposite to the surface on which the semiconductor stacked structure is formed). .
  • the p-side electrode is formed, for example, on the ridge portion 3a.
  • the semiconductor laser bar 3 has a pad electrode 5.
  • Pad electrode 5 is formed on the p-side electrode of semiconductor laser bar 3 .
  • the pad electrode 5 is formed in a long shape so as to straddle all the ridge portions 3a.
  • Pad electrode 5 is made of a metal material.
  • the pad electrode 5 may be composed of a single metal layer or a plurality of metal layers.
  • the pad electrode 5 has a three-layer structure in which a Ti layer, a Pt layer, and an Au layer are stacked in this order in the direction away from the p-side electrode.
  • the semiconductor laser bar 3 has a front end surface S1 that is an end surface that emits laser light, a rear end surface S2 that is an end surface opposite to the front end surface S1, and an end surface in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3. It has a certain pair of side surfaces S3.
  • the optical waveguide of the semiconductor laser bar 3 has a front end face S1 and a rear end face S2 as resonator reflecting mirrors. Therefore, the front end surface S1 and the rear end surface S2 become resonator end surfaces.
  • the semiconductor laser bar 3 is connected to the base 2 by a junction-down method (face-down method). That is, the semiconductor laser bar 3 is arranged and mounted on the base 2 so that the surface on the pad electrode 5 side (the surface on the p-side electrode side) faces the base 2.
  • the semiconductor laser bar 3 is mounted on the base 2 with the front end surface S1 slightly protruding from the front end surface of the base 2.
  • the solder 4 which is melted by heating and becomes liquid, flows in the short direction of the semiconductor laser bar 3 and protrudes from between the base 2 and the semiconductor laser bar 3. Even if this happens, the liquid solder 4 will remain on the surface of the protruding portion of the semiconductor laser bar 3 on the base 2 side.
  • the base 2 is a submount on which the semiconductor laser bar 3 is mounted.
  • the base 2 is a rectangular parallelepiped as a whole.
  • the base 2 has a rectangular flat plate shape.
  • the base 2 includes a wiring member 10 and a support 20.
  • the support body 20 constitutes the main body of the base 2.
  • the support body 20 is an insulator, and is made of a highly thermally conductive material such as AlN, SiC, or diamond. Thereby, the heat generated by the semiconductor laser bar 3 can be efficiently radiated by the support body 20.
  • the support body 20 functions as a heat sink.
  • the shape of the support body 20 is a rectangular parallelepiped, for example, a rectangular flat plate shape. Therefore, the upper surface of the support body 20 is a rectangular plane.
  • the wiring member 10 is formed above the support body 20. Specifically, the wiring member 10 is formed on the upper surface of the support body 20. At least a portion of the wiring member 10 is connected to the solder 4. That is, the solder 4 is interposed between the wiring member 10 and the semiconductor laser bar 3.
  • the wiring member 10 has a wiring main body 11 and a block member 12.
  • the wiring member 10 is configured by forming the wiring main body 11 and the block member 12 in this order.
  • the wiring main body 11 may be composed of a single conductive layer or a plurality of conductive layers.
  • the wiring main body 11 is composed of a plurality of metal layers.
  • the wiring main body 11 includes a first metal layer 11a, a second metal layer 11b formed on the first metal layer 11a, and a third metal layer formed on the second metal layer 11b. It has a three-layer structure with 11c.
  • the first metal layer 11a is, for example, a Ti layer made of Ti or an Au layer made of Au. As an example, the thickness of the first metal layer 11a is 0.5 ⁇ m.
  • the first metal layer 11a functions, for example, as an adhesion layer formed to improve adhesion between the support body 20 and the wiring main body 11. Therefore, the first metal layer 11a is preferably made of a metal material that has excellent adhesion to the support body 20.
  • the first metal layer 11a is the lowest layer of the wiring body 11.
  • the second metal layer 11b is, for example, a Pt layer made of Pt. As an example, the thickness of the second metal layer 11b is 0.2 ⁇ m.
  • the second metal layer 11b functions as a barrier layer to suppress diffusion of unnecessary metal. In this embodiment, the second metal layer 11b suppresses the diffusion of Sn contained in the solder 4.
  • the second metal layer 11b is an intermediate layer of the wiring main body 11, and is arranged between the first metal layer 11a and the third metal layer 11c.
  • the third metal layer 11c is, for example, an Au layer made of Au. As an example, the thickness of the third metal layer 11c is 1.0 ⁇ m.
  • the third metal layer 11c is the uppermost layer of the wiring body 11. As shown in FIG. 3A, in this embodiment, the third metal layer 11c is not present in the lower part of the solder 4 in the wiring main body 11.
  • FIG. 4 is a diagram showing the configuration of the base 200 before the semiconductor laser bar 3 is bonded.
  • (a) is a top view of the base 200
  • (b) is a cross-sectional view taken along line bb in (a).
  • the first metal layer 11a, the second metal layer 11b, and the third metal layer 11c are, for example, plated films formed by a plating method, but are not limited thereto.
  • the first metal layer 11a, the second metal layer 11b, and the third metal layer 11c may be formed by a method other than a plating method such as a vapor deposition method.
  • the wiring main body 11 has a three-layer structure of Ti/Pt/Au or Au/Pt/Au from the support body 20 side, but the structure is not limited to this.
  • the wiring main body 11 may have a five-layer structure of Ti/Pt/Au/Pt/Au from the support body 20 side.
  • the wiring main body 211 is separated into a first wiring main body 111 and a second wiring main body 112.
  • the first wiring main body 111 and the second wiring main body 112 are wiring members connected to the front surface electrode and the back surface electrode of the semiconductor laser bar 3. Further, the first wiring main body 111 and the second wiring main body 112 are arranged so that they can be easily connected to the power supply section by wire bonding or the like.
  • the power supply units are arranged so that they can be formed in the left and right direction when viewed from above.
  • the first wiring main body 111 and the second wiring main body 112 may be arranged side by side on the rear end surface S2 side (upper side in top view).
  • the wiring body 11 in the base 2 shown in FIG. 1 has the same shape as the wiring body 211 in the base 200. That is, the wiring main body 11 is composed of a first wiring main body 111 and a second wiring main body 112 that are separated from each other.
  • the semiconductor laser bar 3 is placed on the first wiring main body 111. Therefore, as shown in FIG. 3A, the semiconductor laser bar 3 and the first wiring main body 111 are joined by the solder 4. Further, as shown in FIG. 1, the second wiring main body 112 and the semiconductor laser bar 3 are connected by a gold wire 6, which is an example of a wiring wire. Wire bonding is performed so as to correspond to the gain region (ridge portion) of the semiconductor laser bar 3. That is, corresponding to the gain regions arranged in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3, the gold wires 6 are also arranged in parallel to the longitudinal direction. By performing wire bonding in this manner, it becomes possible to emit light uniformly in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3.
  • the gold wire 6 is preferably placed between adjacent gain regions. This can reduce the occurrence of defects due to stress during wire bonding.
  • a plurality of gold wires 6 are wire-bonded to span the second wiring main body 112 and the semiconductor laser bar 3, but the present invention is not limited to this.
  • the number of gold wires 6 may be one or two, as long as uniform light emission can be obtained in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3.
  • a wiring wire made of a material other than gold may be used instead of the gold wire 6, a wiring wire made of a material other than gold may be used.
  • Power is supplied to the first wiring main body 111 and the second wiring main body 112.
  • the power supply wire 7a is wire-bonded to the first wiring body 111
  • the power supply wire 7b is wire-bonded to the second wiring body 112.
  • the power supplied to the power supply wire 7a is supplied to the pad electrode 5 (p-side electrode) of the semiconductor laser bar 3 via the first wiring main body 111 and the solder 4.
  • the power supplied to the power supply wire 7b is supplied to the n-side electrode of the semiconductor laser bar 3 via the second wiring main body 112 and the gold wire 6.
  • the second wiring main body 112 is arranged along the semiconductor laser bar 3 on the rear end surface S2 side and spaced apart from the first wiring main body 111.
  • the second wiring main body 112 is L-shaped along the rear side and longitudinal end of the base 200.
  • a plurality of power supply wires are wire-bonded, but a single thick wire may be used, or a metal wiring member that is difficult to deform may be soldered.
  • the block member 12 is placed on the wiring main body 11. Specifically, the block member 12 is placed on the third metal layer 11c of the wiring main body 11.
  • a pair of block members 12 are formed so as to face each other in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 .
  • the pair of block members 12 are formed at positions overlapping the pair of ends in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 .
  • Solder 4 exists between a pair of block members 12.
  • the pair of block members 12 are both arranged on the first wiring main body 111.
  • Each block member 12 is formed from one end of the first wiring main body 111 to the other end in the width direction.
  • each block member 12 has a rectangular shape when viewed from above.
  • the top view shape of the block member 12 is a rectangle with a length of 1.25 mm and a width of 0.3 mm.
  • the thickness of the block member 12 is, for example, 0.2 ⁇ m.
  • the block member 12 is made of a conductive layer.
  • block member 12 is a metal layer.
  • the block member 12 is a Pt layer made of Pt.
  • the block member 12, which is a Pt layer is formed on the upper surface of the wiring body 11 by, for example, a vapor deposition method.
  • the method for forming the block member 12 is not limited to the vapor deposition method.
  • the block member 12 may be a metal block, and the block member 12, which is a metal block, may be bonded to the wiring main body 11 with a conductive adhesive or an insulating adhesive.
  • power supply wires 7a and 7b are arranged at a distance from each other on the outer side of the block member 12 in the longitudinal direction.
  • both the wiring main body 11 and the block member 12 have conductivity, but the present invention is not limited to this.
  • the block member 12 may be made of an insulating material.
  • the block member 12 may be a silicon oxide film made of silicon oxide (SiO x ) or a nickel oxide film made of nickel oxide (NiO x ).
  • the surface of the wiring member 10 on the semiconductor laser bar 3 side includes a connection region 10a (connection portion) and a block region 10b (block portion). That is, the upper surface of the wiring member 10 includes a connection area 10a and a block area 10b.
  • connection region 10a of the wiring member 10 is the interface between the wiring member 10 and the solder 4.
  • the connection region 10a is located inside the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 when viewed from above. Specifically, the connection region 10a is located between the pair of side surfaces S3 of the semiconductor laser bar 3.
  • connection region 10a is a part of the upper surface of the second metal layer 11b.
  • the connection region 10a is the surface of Pt.
  • the second metal layer 11b of the wiring main body 11 is connected to the solder 4.
  • the second metal layer 11b serves as a connection member (first connection member) that connects to the solder 4.
  • connection region 10c to which the solder 4 is to be connected is a part of the upper surface of the third metal layer 11c. That is, in the base 200, the connection area 10c is a solder placement area where the solder 4 is placed. In this case, the contact angle of the connection region 10c with respect to the solder 4 is smaller than 90 degrees. In other words, the contact angle of the connection region 10c with the liquid solder 4 is an acute angle smaller than 90 degrees.
  • the connection region 10c in the base 200 is the surface of Au.
  • the block member 12 is made of Pt, SiO x or NiO x
  • the block region 10b is the surface of Pt, SiO x or NiO x . Therefore, the difference in wettability between the connection region 10c and the block region 10b can be easily realized.
  • the pair of block members 12 formed on the third metal layer 11c are located above the second metal layer 11b (first connection member). That is, the upper surface of the second metal layer 11b is not only in contact with the solder 4 but also in contact with the third metal layer 11c. In this way, the upper surface of the second metal layer 11b includes a connection region 10a connected to the solder 4 and a region connected to the third metal layer 11c.
  • the solder 4 is formed between the pair of block members 12. Therefore, the second metal layer 11b (first connection member) connected to the solder 4 has a connection region 10a between the pair of block members 12 when viewed from above. That is, the connection region 10a is located between the pair of block members 12.
  • the block region 10b of the wiring member 10 is located outside the connection region 10a in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 when viewed from above. Further, at least a portion of the block region 10b is located between the connection region 10a and the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3.
  • the contact angle of the block region 10b with respect to the solder 4 is greater than 90 degrees.
  • the contact angle of the block region 10b with the liquid solder 4 is an obtuse angle larger than 90 degrees.
  • the block area 10b is the upper surface of the block member 12.
  • the block region 10b is the surface of Pt. Note that when the block member 12 is made of SiO x or NiO x , the block region 10b is the surface of SiO x or NiO x .
  • the wiring member 10 has a pair of block members 12, there is also a pair of block regions 10b.
  • One of the pair of block regions 10b is present on one side of the connection region 10a in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3.
  • the other of the pair of block regions 10b exists on the other side of the connection region 10a in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3. That is, a pair of block regions 10b exist on both sides of the connection region 10a in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3.
  • the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 is located above the block region 10b. That is, the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 overlaps the block region 10b when viewed from above. Specifically, one of the pair of side surfaces S3 of the semiconductor laser bar 3 is located above one of the pair of block regions 10b, and the other of the pair of side surfaces S3 of the semiconductor laser bar 3 is located above one of the pair of block regions 10b. located above the other.
  • the inner portion of the block region 10b in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 is located inside the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 when viewed from above. Specifically, the inner side surface of the block member 12 in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 is located inside the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3.
  • the opposing portions of the pair of block regions 10b are located between the pair of side surfaces S3 of the semiconductor laser bar 3. That is, both opposing side surfaces of the pair of block members 12 are located between the pair of side surfaces S3.
  • the outer portion of the block region 10b in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 is located on the outer side of the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 when viewed from above.
  • the outer side surface of the block member 12 in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 is located on the outer side than the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3.
  • each of the pair of block regions 10b extends outward toward the rear end surface S2 from a portion immediately below the semiconductor laser bar 3 when viewed from above. Furthermore, the end of each side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 on the rear end surface S2 side overlaps the block region 10b when viewed from above.
  • the pair of block regions 10b are arranged closer to one side in the lateral direction of the base 2 when viewed from above. That is, the pair of block regions 10b are unevenly distributed on one side of the base 2 in the lateral direction.
  • the pair of block regions 10b are located above the first wiring main body 111, and are arranged closer to the front end surface S1 side of the semiconductor laser bar 3 (the front side of the semiconductor light emitting device 1). .
  • the solder 4 interposed between the wiring member 10 and the semiconductor laser bar 3 is present between a pair of block regions 10b (block members 12), and is located along the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3. In the direction, it does not extend outward from the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3. That is, the solder 4 does not protrude outward from the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3.
  • the solder 4 interposed between the wiring member 10 and the semiconductor laser bar 3 extends from the rear end surface S2 of the semiconductor laser bar 3 in the short direction of the semiconductor laser bar 3. It protrudes outward.
  • the solder 4 has a rear side extending portion 4a extending outward from the rear end surface S2 of the semiconductor laser bar 3 when viewed from above.
  • the front end surface S1 and the rear end surface S2 of the semiconductor laser bar 3 are coated with a dielectric material such as SiOx, AlOx, or TiOx. These coatings have a contact angle of more than 90 degrees with respect to various solders. Therefore, the rear side extension portion 4a of the solder 4 protrudes outward from the rear end surface S2 of the semiconductor laser bar 3, but does not contact the rear end surface S2. Further, as shown in FIG. 1, the rear side extension portion 4a of the solder 4 is not in contact with the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 either.
  • a dielectric material such as SiOx, AlOx, or TiOx.
  • connection region 10a which is the interface between the solder 4 and the wiring member 10, has a connection region extension portion 10a1 extending outward from the rear end surface S2 of the semiconductor laser bar 3 when viewed from above.
  • connection region extension portion 10a1 extending outward from the rear end surface S2 of the semiconductor laser bar 3 when viewed from above.
  • the rear side extension portion 4a of the solder 4 is connected to the connection region extension portion 10a1 of the connection region 10a.
  • the height of the rear side extension portion 4a present in the connection area extension portion 10a1 is not constant. Specifically, as shown in FIG. 3B, the height of the rear side extension portion 4a increases and then decreases as it moves away from the semiconductor laser bar 3 in the lateral direction of the semiconductor laser bar 3.
  • the solder 4 interposed between the wiring member 10 and the semiconductor laser bar 3 exists between the pair of block members 12, and a part of the solder 4 rides on the upper surface of the block member 12. . Therefore, the solder 4 is interposed not only between the wiring main body 11 and the semiconductor laser bar 3 but also between the block member 12 and the semiconductor laser bar 3. Therefore, in the cross-sectional view shown in FIG. 3A, the width W1 of the interface between the solder 4 and the semiconductor laser bar 3 is larger than the width W2 of the interface between the solder 4 and the wiring member 10.
  • an inactive region in which no gain region exists is provided at each of both ends of the semiconductor laser bar 3 in the longitudinal direction.
  • This inactive region is formed of the same semiconductor laminated structure as the part from which the laser beam is emitted, but is insulated from the solder 4 by an insulating film, and no current flows therein. Therefore, no heat is generated from the inactive region, and there are few thermal problems even if there is no heat conductive member such as solder 4 between the non-active region and the base 200 directly below.
  • the length of this non-active region is shorter than that of the prior art.
  • the angle ⁇ 1 formed with the lower surface of the semiconductor laser bar 3 is less than 45 degrees.
  • angle ⁇ 2 formed by the lower surface of the semiconductor laser bar 3 and the straight line connecting the inner end of the lower surface of the block member 12 and the outer end of the gain region 3c closest to the block member 12 among the plurality of gain regions 3c is less than 45 degrees. It is.
  • FIG. 6 is a diagram showing the configuration of the soldered base 201 according to the first embodiment.
  • (a) is a top view of the soldered base 201
  • (b) is a cross-sectional view taken along line bb in (a).
  • the soldered base 201 has a configuration in which solder 4 is placed on the wiring member 210 of the base 200 shown in FIG.
  • the soldered base 201 includes a rectangular parallelepiped support 20 (base) having a wiring member 210 and solder 4 that is a solder layer disposed on the upper surface of the wiring member 210.
  • the solder 4 can be formed into a predetermined shape by vapor deposition, printing, or the like.
  • the wiring member 210 has a wiring main body 211 and a block member 12.
  • the wiring main body 211 has a three-layer structure including a first metal layer 11a, a second metal layer 11b, and a third metal layer 11c. Further, the wiring main body 211 is composed of a first wiring main body 111 and a second wiring main body 112 that are separated from each other, similar to the wiring main body 11 of the wiring member 10 in the semiconductor light emitting device 1 described above.
  • the upper surface of the wiring member 210 is the connection region 10c, which is the interface with the solder 4.
  • the connection region 10c is a part of the upper surface of the third metal layer 11c in the wiring main body 211. Since the third metal layer 11c is an Au layer, the connection region 10c in the soldered base 201 is the surface of Au. In this case, the contact angle of the connection region 10c with respect to the solder 4 is smaller than 90 degrees. In other words, the connection region 10c has high wettability with respect to the solder 4.
  • the block member 12 of the wiring member 210 is the same as the block member 12 of the wiring member 10 in the semiconductor light emitting device 1 described above. Also in the soldered base 201, the upper surface of the block member 12 is the block area 10b. Therefore, the contact angle of the block region 10b with the solder 4 is greater than 90 degrees. Thus, in the soldered base 201, the contact angle of the block region 10b with respect to the solder 4 is larger than the contact angle of the connection region 10c with the solder 4.
  • the block region 10b is located on both outer sides of the connection region 10c in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 when viewed from above. Since the soldered base 201 is provided with a pair of block members 12, there is also a pair of block regions 10b. Specifically, a pair of block regions 10b exist on both sides of the connection region 10c in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 when viewed from above.
  • the solder 4 is arranged closer to one side in the lateral direction of the base 200 when viewed from above. In other words, the solder 4 is unevenly distributed on one side of the base 2 in the lateral direction. In this embodiment, the solder 4 is located above the first wiring main body 111.
  • FIG. 7 is a diagram for explaining a method of manufacturing the soldered base 201 according to the first embodiment.
  • the left figure is a top view
  • the right figure is a sectional view.
  • a base 200 having a wiring member 210 is prepared.
  • a base 200 on which a wiring member 210 including a wiring main body 211 and a block member 12 is formed is manufactured.
  • the wiring member 210 is formed by sequentially forming the first connecting member to be connected to the solder 4 when the semiconductor laser bar 3 is mounted and the block member 12.
  • a wiring member 210 including a second metal layer 11b as a first connection member connected to solder 4 is formed.
  • the support 20 is prepared.
  • a rectangular parallelepiped support 20 made of AlN was prepared.
  • a wiring main body 211 consisting of a first metal layer 11a, a second metal layer 11b, and a third metal layer 11c is formed in a predetermined shape on the upper surface of the support 20.
  • an Au layer, a Pt layer, and an Au layer are formed by plating as the first metal layer 11a, the second metal layer 11b, and the third metal layer 11c, respectively.
  • the wiring main body 211 is separated into a first wiring main body 111 and a second wiring main body 112.
  • a pair of block members 12 are formed on the wiring main body 211. Specifically, a pair of block members 12 having a predetermined shape are formed on the third metal layer 11c of the wiring main body 211 so as to face each other with a predetermined interval.
  • each of the pair of block members 12 has a rectangular plate shape, and the top view shape is a rectangle that is elongated in the lateral direction of the semiconductor laser bar 3.
  • the pair of block members 12 are formed on the first wiring body 111 of the first wiring body 111 and the second wiring body 112 in the wiring body 211. Note that in this embodiment, a Pt layer is formed as the block member 12.
  • the base 200 on which the wiring member 210 composed of the wiring main body 211 and the block member 12 is formed can be manufactured.
  • solder 4 in a predetermined shape is placed on the upper surface of the wiring member 210 of the base 200. Specifically, the solder 4 is formed on the third metal layer 11c of the wiring main body 211.
  • the third metal layer 11c is the uppermost layer of the wiring body 211, and is the connection region 10c to which the solder 4 is connected. That is, the solder 4 is placed on the connection area 10c.
  • the solder 4 is formed between the pair of block members 12.
  • the solder 4 is sandwiched between the pair of block members 12.
  • the solder 4 has a rectangular plate shape, and its top view shape is a rectangle that is elongated in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3.
  • the solder 4, which is an AuSn layer (80% Au) is formed by a vapor deposition method. Further, the thickness of the solder 4 is made thicker than the thickness of the block member 12.
  • the soldered base 201 in which the solder 4 is formed on the upper surface of the wiring member 210 having the wiring main body 211 and the block member 12 is completed.
  • FIG. 8 is a diagram for explaining a method for mounting the semiconductor laser bar 3 on the soldered base 201.
  • the left figure is a top view
  • the right figure is a sectional view.
  • the semiconductor laser bar 3 is placed on the solder 4 of the soldered base 201 in a junction-down manner, and then, as shown in FIG. 8(b), Next, the semiconductor laser bar 3 is heated while being pressed down to melt the solder 4. Thereafter, the semiconductor laser bar 3 can be joined to the base 2 using the solder 4 by hardening the melted and liquid solder 4 .
  • the soldered base 201 is heated to 250°C, and then the semiconductor laser bar 3 is placed on the soldered base 201 with a junction down, and the heating temperature of the soldered base 201 is set to 320°C and held for 10 seconds. After that, the temperature drops.
  • the gold wire 6 and the power supply wires 7a and 7b are wire-bonded. Thereby, the semiconductor light emitting device 1 is completed.
  • block regions 10b with a contact angle of more than 90 degrees with respect to the solder 4 are present on both sides of the connection region 10a to which the solder 4 is connected.
  • the connection region 10a is sandwiched between a pair of block regions 10b that have low wettability with respect to the solder 4.
  • the liquid solder 4 repelled by the pair of block regions 10b is encouraged to spread in the lateral direction of the semiconductor laser bar 3 (the lateral direction of the base 2). That is, the flow direction of the liquid solder 4 can be changed from the direction toward the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 to the direction toward the rear end surface S2 of the semiconductor laser bar 3. In this way, the solder 4 flowing in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 can be released in the lateral direction of the semiconductor laser bar 3, so that the solder 4 can be prevented from protruding from the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3.
  • the solder 4 since the solder 4 is sandwiched between the pair of thick block members 12 having the block region 10b on the upper surface, the solder 4 flowing in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 has low wettability and is in a liquid state.
  • the thickness of the pair of block members 12 also physically restricts the movement of the liquid solder 4 in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3.
  • the liquid solder 4 can be dammed up by the inner side surfaces of each of the pair of block members 12 .
  • the pair of block members 12 also function as stoppers that stop the flow of liquid solder 4. Thereby, the solder 4 can be effectively prevented from protruding from the side surface S3 in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3.
  • the pair of block members 12 not only the top surface (block region 10b) but also the side surfaces have low wettability.
  • the solder 4 flowing in the lateral direction of the semiconductor laser bar 3 due to the pressure from the semiconductor laser bar 3 and the solder 4 released in the lateral direction of the semiconductor laser bar 3 by the pair of block regions 10b (block members 12) are It protrudes from the rear end surface S2 of the laser bar 3. Therefore, in the third step, a rear side extending portion 4a extending outward from the rear end surface S2 of the semiconductor laser bar 3 is formed in the solder 4.
  • the wettability of the lower surface of the solder 4 protruding from the rear end surface S2 of the semiconductor laser bar 3 is high.
  • the rear side extension portion 4a is formed in a partially raised state, and the distance is difficult to increase in the direction in which it protrudes.
  • the height of the rear side extension portion 4a increases and then decreases as it moves away from the semiconductor laser bar 3 in the lateral direction of the semiconductor laser bar 3.
  • the soldered base 201 on which the semiconductor laser bar 3 is placed on the solder 4 is heated with the heater 300, and then, as shown in FIG. 9(b).
  • the solder 4 existing in the area outside the rear end surface S2 of the semiconductor laser bar 3 is locally irradiated with a heating laser beam.
  • the temperature of the portion of the solder 4 near the rear end surface S2 of the semiconductor laser bar 3 (rear end portion) becomes higher than the temperature of the portion of the solder 4 near the front end surface S1 of the semiconductor laser bar 3 (front end portion).
  • the laser beam irradiation conditions for heating the rear end of the solder 4 are, for example, a CW laser beam with a wavelength of 808 nm, a laser beam output of 1 W/ cm2 , and an irradiation area.
  • the dimensions were 1 mm x 10 mm x 10 um, the irradiation time was 0.5 seconds, the effective absorption rate was 10%, and the assumed temperature difference was 20°C.
  • the solder 4 is placed in contact with the third metal layer 11c, which is the top layer of the wiring body 211 of the soldered base 201.
  • the third metal layer 11c is an Au layer
  • the solder 4 is an AnSn layer. Therefore, in the third step, when the solder base 201 is heated and the solder 4 is melted while pressing the semiconductor laser bar 3, the solder 4, which is an AuSn layer, melts into the third metal layer 11c, which is an Au layer. It will melt on the top.
  • the entire third metal layer 11c in the portion of the solder base 201 where the solder 4 is placed is the alloyed layer 11c1 of the AuSn layer.
  • the entire third metal layer 11c in the thickness direction of the portion where the solder 4 is placed is a part of the solder 4. Therefore, in the third step, the solder 4 is brought into a state in which the third metal layer 11c in the portion where the solder 4 is placed incorporates the alloyed layer 11c1, and is bonded to the second metal layer 11b. appear. As a result, the wiring main body 11 including the second metal layer 11b to which the solder 4 is connected is formed.
  • the semiconductor light emitting device 1 includes the base 2 having the wiring member 10, the semiconductor laser bar 3, and the solder 4 disposed between the wiring member 10 and the semiconductor laser bar 3. , is equipped with.
  • the surface of the wiring member 10 on the semiconductor laser bar 3 side includes a connection region 10a that is an interface with the solder 4, and a block region 10b having a contact angle of more than 90 degrees with the solder 4. is located inside the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 when viewed from above, and at least a portion of the block region 10b is located between the connection region 10a and the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 when viewed from above.
  • the inner portion of the block region 10b in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 is located inside the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3. That is, in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3, a block region 10b exists on the side of the connection region 10a, and the contact angle with the solder 4 is larger than 90 degrees.
  • the wiring member 10 is located above the wiring body 11 and the wiring body 11 including the second metal layer 11b as a first connection member to which the solder 4 is connected. At least a portion of the upper surface of the block member 12 is a block region 10b, and at least a portion of the upper surface of the second metal layer 11b, which is the first connection member, is a connection region 10a. .
  • the semiconductor light emitting device 1 having such a configuration can be manufactured using the base 200 including the wiring member 210. Specifically, by using a base 200 that includes a wiring member 210 that includes a connection region 10c whose contact angle with respect to the solder 4 is smaller than 90 degrees and a block region 10b whose contact angle with the solder 4 is larger than 90 degrees on its upper surface, The semiconductor laser bar 3 can be joined to the wiring member 210 via the solder 4.
  • the semiconductor laser bar 3 is joined to the wiring member 210 using a soldered base 201 on which solder 4 is formed in advance.
  • a soldering base 201 including a wiring member 210 including a connection region 10c and a block region 10b on the upper surface and solder 4 disposed in the connection region 10c of this wiring member 210 is used to solder the semiconductor laser bar 3. is bonded to the wiring member 210 via solder 4.
  • the solder 4 that has melted into a liquid state may cause the wiring member 210 of the base 200 or the soldered base 201 to be connected to the semiconductor laser bar 3. are joined.
  • a block region 10b (the upper surface of the block member 12 ) exists. That is, on the sides of the connection area 10a, there is a block area 10b that has low wettability with respect to the solder 4.
  • the solder 4 repelled by the block region 10b protrudes from the rear end surface S2 of the semiconductor laser bar 3.
  • a rear side extending portion 4a is formed in the rear portion of the solder 4.
  • solder 4 protrudes from the rear end surface S2 of the semiconductor laser bar 3 to form a rear side extension part 4a, the area where the solder 4 comes into contact with the outside air increases, so that the heat generated in the semiconductor laser bar 3 is transferred from the rear side. Heat can be dissipated efficiently.
  • the block regions 10b are present on both outer sides of the connection region 10a in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 in a top view. That is, in a top view, the connection region 10a to which the solder 4 is connected exists between the pair of block regions 10b. Specifically, the connection region 10a is located between a pair of block members 12 whose upper surfaces are the block regions 10b. Similarly, in the base 200 or the soldered base 201, the connection area 10c where the solder 4 is placed exists between the pair of block areas 10b (block members 12).
  • the pair of block regions 10b (block members 12) can be provided near both ends of the semiconductor laser bar 3 in the longitudinal direction, as regions where the solder 4 is not formed.
  • the liquid solder 4 that spreads from near the center of the solder 4 toward each of the pair of side surfaces S3 of the semiconductor laser bar 3 can be suppressed from affecting the spread near the ends of the solder 4. Therefore, spreading of the liquid solder 4 in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 can be further suppressed.
  • the effect is further enhanced by providing not one but a plurality of block regions 10b (block members 12) as in this embodiment.
  • the block region 10b extends outward from the portion immediately below the semiconductor laser bar 3 toward the rear end surface S2 side in a top view, and also extends from the side surface of the semiconductor laser bar 3.
  • the end portion of S3 on the rear end surface S2 side overlaps the block area when viewed from above.
  • the solder 4 that has been heated and melted into a liquid state becomes difficult to reach the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 even if it tries to spread in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3. Thereby, it is possible to effectively suppress the solder 4 protruding from the rear end surface S2 of the semiconductor laser bar 3 from going around to the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3.
  • the width W1 of the interface between the solder 4 and the semiconductor laser bar 3 is larger than the width W2 of the interface between the solder 4 and the wiring member 10. ing.
  • the semiconductor light emitting device 1 can be made smaller, and parts such as the semiconductor laser bar 3 can be easily handled.
  • the angle ⁇ 1 formed with the lower surface of the laser bar 3 is less than 45 degrees.
  • the angle ⁇ 2 between the lower surface of the semiconductor laser bar 3 and the lower surface of the semiconductor laser bar 3 is less than 45 degrees.
  • heat can be sufficiently radiated from the outermost gain region 3c.
  • the heat in the outermost gain region 3c can be radiated on a par with that of the other gain regions 3c.
  • FIG. 10A is a top view of a semiconductor light emitting device 1A according to Modification 1 of Embodiment 1.
  • 10B is a cross-sectional view taken along the line XB-XB in FIG. 10A
  • FIG. 10C is a cross-sectional view taken along the line XC-XC in FIG. 10A
  • FIG. 10D is a cross-sectional view taken along the line XD-XD in FIG. 10A. .
  • the solder 4 of the third metal layer 11c of the wiring member 210 is The lower portion was alloyed to become an alloyed layer 11c1.
  • the solder 4 that joins the semiconductor laser bar 3 and the base 2 was connected to the second metal layer 11b of the wiring body 11 of the wiring member 10. That is, in the first embodiment, the second metal layer 11b of the wiring body 11 is the connection member (first connection member) connected to the solder 4, and the connection area 10a is the interface between the solder 4 and the wiring member 10. was the upper surface of the second metal layer 11b.
  • the semiconductor light emitting device 1A according to this modification As shown in FIGS. A portion of the third metal layer 11c located below the solder 4 is not alloyed and remains. As a result, the solder 4, which is the AuSn layer that joins the semiconductor laser bar 3 and the base 2A, is connected to the third metal layer 11c in the wiring body 11A of the wiring member 10A. Therefore, in this modification, the solder 4 that joins the semiconductor laser bar 3 and the base 2A is connected to the third metal layer 11c in the wiring body 11A of the wiring member 10A.
  • the third metal layer 11c of the wiring main body 11A is the connection member (first connection member) connected to the solder 4, and the connection region 10a, which is the interface between the solder 4 and the wiring member 10A, is This is the upper surface of the third metal layer 11c of the wiring member 10A.
  • the connection region 10a is the surface of Au. If a solder that does not use Sn instead of AuSn is used as the solder 4, the third metal layer 11c will remain without being alloyed.
  • the block member 12 is a Pt layer, so the block region 10b is the surface of Pt.
  • the block region 10b is located on both outer sides of the connection region 10a in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3.
  • the semiconductor light emitting device 1A according to this modification and the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment are basically the same configuration.
  • the semiconductor light emitting device 1A according to this modification has the same effects as the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment.
  • the block region 10b can prevent the liquid solder 4 from protruding from the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3, so that the solder 4 adheres to the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 and the pn junction on the side surface S3 is short-circuited. This has the effect of suppressing the occurrence of leakage.
  • the third metal layer 11c present below the solder 4 is not alloyed at all, but the invention is not limited to this.
  • a part of the third metal layer 11c in the wiring body 11B of the wiring member 10B, which exists below the solder 4 becomes an alloyed layer 11c1. It's okay.
  • the heating time or lowering the heating temperature only the upper layer portion of the third metal layer 11c on the semiconductor laser bar 3 side in the thickness direction may become the alloyed layer 11c1.
  • the solder 4 that joins the semiconductor laser bar 3 and the base 2B is connected to the third metal layer 11c in the wiring body 11B of the wiring member 10B.
  • the connection region 10a which is the interface between the solder 4 and the wiring member 10B, is the interface between the solder 4 and the third metal layer 11c.
  • FIG. 12 is a diagram showing the configuration of a base 200C for mounting the semiconductor light emitting device 1C and the semiconductor laser bar 3 according to the second modification of the first embodiment.
  • (a) is a top view of a base 200C used when mounting the semiconductor laser bar 3
  • (b) is a top view of a semiconductor light emitting device 1C according to this modification
  • (c ) is a cross-sectional view taken along line cc in (b)
  • (d) is a cross-sectional view taken along line dd in (b).
  • the gold wire 6 and the power supply wires 7a and 7b are omitted.
  • the semiconductor light emitting device 1C includes a wiring main body 11 and a block member 12C, similar to the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment. It includes a base 2C having the configured wiring member 10C, a semiconductor laser bar 3, and solder 4 for joining the wiring member 10C and the semiconductor laser bar 3.
  • a base 200C according to this modification is configured of a wiring main body 11 and a pair of block members 12C, similarly to the base 200 according to the first embodiment.
  • the wiring member 210C includes a wiring member 210C and a support body 20 that supports the wiring member 210C.
  • the interval between the inner portions of the pair of block members 12 in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 was constant, but in the semiconductor light emitting device 1C according to the present modification, The distance between the inner portions of the pair of block members 12C in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 is not constant.
  • the distance between the inner portions of the pair of block members 12C in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 is larger from the front end surface S1 side of the semiconductor laser bar 3 to the rear end surface S2 side of the semiconductor laser bar 3. is getting bigger. Therefore, the distance between the inner parts of the pair of block regions 10b in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 is larger on the other side (opposite to the one side) on the rear end surface S2 side than on the one side on the front end surface S1 side. is getting bigger.
  • the semiconductor light emitting device 1C in this modification as shown in FIG. 12(b), the semiconductor The width of the connection region 10a in the longitudinal direction of the laser bar 3 is larger on the rear end surface S2 side than on the front end surface S1 side.
  • the width of the connection region 10c in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 is larger on the rear end surface S2 side than on the front end surface S1 side. It has become.
  • each block member 12C is a trapezoid
  • the pair of block members 12C are arranged so that the tapered portions (slanted portions) of the trapezoid face each other. Therefore, the distance between the inner portions of the pair of block members 12C (block region 10b) gradually increases from the front end surface S1 of the semiconductor laser bar 3 toward the rear end surface S2. Similarly, the widths of the connection regions 10a and 10c gradually increase from the front end surface S1 of the semiconductor laser bar 3 toward the rear end surface S2.
  • the semiconductor light emitting device 1C according to this modification and the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment are basically the same configuration.
  • the semiconductor light emitting device 1C and the base 200C according to this modification have the same effects as the semiconductor light emitting device 1 and the base 200 according to the first embodiment.
  • the block region 10b can prevent the liquid solder 4 from protruding from the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3, so that the solder 4 adheres to the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 and the pn junction on the side surface S3 is prevented. This has the effect of suppressing short circuits and leaks.
  • the distance between the inner portions of the pair of block members 12C (block area 10b) in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 is larger than the front end surface S1 side of the semiconductor laser bar 3.
  • the end face S2 side is larger.
  • the liquid solder 4 When the liquid solder 4 is pressed by the semiconductor laser bar 3 and spreads, a force is applied to the liquid solder 4 so that it is reflected by the block region 10b. At this time, if the distance between the inner portions of the pair of block regions 10b is not constant, the liquid solder 4 will be pushed to the side where the distance between the inner portions of the pair of block regions 10b is wider. In this modification, the interval between the inner portions of the pair of block regions 10b is larger on the rear end surface S2 side than on the front end surface S1 side of the semiconductor laser bar 3. Therefore, the liquid solder 4 that is pressed and spread by the semiconductor laser bar 3 is pushed and spread toward the rear end surface S2, where the distance between the inner portions of the pair of block regions 10b is wide.
  • the effect of changing the flow direction of the component liquid solder 4 proceeding toward the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 toward the rear end surface S2 of the semiconductor laser bar 3 can be promoted.
  • the component solder 4 flowing in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 can be more effectively released in the lateral direction of the semiconductor laser bar 3, so that the liquid solder 4 protrudes from the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3. This can be further suppressed.
  • the width of the connection regions 10a and 10c in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 is closer to the rear end surface S2 than the front end surface S1 of the semiconductor laser bar 3. is larger.
  • connection regions 10a and 10c satisfy the relationship of width on the front end surface S1 side ⁇ width on the rear end surface S2 side, as in the first embodiment, before the semiconductor laser bar 3 is arranged Even if the top view shape of the solder 4 is rectangular (that is, even if the longitudinal width of the solder 4 before melting is constant), as a result of the liquid solder 4 being blocked by the block area 10b, the connecting area
  • the longitudinal width of 10a can be made the same as the width of the inner portions of the pair of block regions 10b.
  • the shape of the solder 4 in top view is not a rectangle in which the width on the front end surface S1 side and the width on the rear end surface S2 side are the same, but a trapezoid in which the width on the rear end surface S2 side is larger than the width on the front end surface S1 side. It's good to do that.
  • FIG. 14 is a diagram showing the configuration of a semiconductor light emitting device 1D, a base 200D for mounting a semiconductor laser bar 3D, and a semiconductor laser bar 3D according to a third modification of the first embodiment.
  • (a) is a top view of the semiconductor light emitting device 1D according to the present modification
  • (b) is a cross-sectional view taken along the bb line of (a)
  • (c) is a top view of the semiconductor light emitting device 1D according to the present modification.
  • (d) is a top view when the semiconductor laser bar 3D based on this modification is seen from the pad electrode 5 side (p-side electrode side). Note that in the semiconductor light emitting device 1D shown in FIG. 14, the gold wire 6 and the power supply wires 7a and 7b are omitted.
  • the semiconductor light emitting device 1D according to this modification is composed of a wiring main body 11 and a block member 12, similarly to the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment.
  • the semiconductor laser bar 3D includes a base 2 having a wiring member 10, a semiconductor laser bar 3D, and solder 4 for joining the wiring member 10 and the semiconductor laser bar 3D.
  • the base 200 according to this modification has the same configuration as the base 200 according to the first embodiment.
  • the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment and the semiconductor light emitting device 1D according to this modification differ in the configuration of the semiconductor laser bar 3D.
  • the semiconductor laser bar 3D according to this modification has the base 2 and the semiconductor laser bar 3 according to the first embodiment described above.
  • a pair of laser-side block members 8 are provided on opposing sides.
  • a pair of laser-side block members 8 are provided at both outer ends of the pad electrode 5 in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3D. Specifically, one of the pair of laser-side block members 8 is laminated on one of both ends of the pad electrode 5, and the other of the pair of laser-side block members 8 is laminated on the other of both ends of the pad electrode 5. Laminated.
  • each of the pair of laser-side block members 8 has a contact angle with respect to the solder 4 larger than 90 degrees, and has low wettability with respect to the liquid solder 4 similarly to the block region 10b. That is, in the semiconductor light emitting device 1D in this modification, if the block area 10b is the first block area, the surface of the laser-side block member 8 is the second block area. Furthermore, if the block member 12 is the first block member, the laser-side block member 8 is the second block member. As an example, the laser side block member 8 is a Pt layer.
  • the laser side block member 8 may be composed of a single layer or a plurality of layers.
  • the contact angle of the surface of the laser-side block member 8 can be made larger than 90 degrees.
  • the laser-side block member 8 may be a part of the pad electrode 5.
  • the semiconductor light emitting device 1D according to this modification and the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment are basically the same configuration.
  • the semiconductor light emitting device 1D according to this modification has the same effects as the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment.
  • the liquid solder 4 can be repelled by the block region 10b, so that it is possible to suppress the liquid solder 4 from protruding from the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3.
  • the semiconductor laser bar 3D is further provided with a pair of laser side block members 8 having a surface whose contact angle with the solder 4 is larger than 90 degrees.
  • the liquid solder 4 can be repelled not only by the block member 12 (block region 10b) but also by the pair of laser-side block members 8. Thereby, it is possible to further suppress the liquid solder 4 from protruding from the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3. Therefore, it is possible to further suppress the occurrence of leakage due to the solder 4 adhering to the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 and the pn junction on the side surface S3 being short-circuited.
  • the distance between the inner ends of the pair of laser-side block members 8 is preferably larger on the rear end surface S2 side than on the front end surface S1 side of the semiconductor laser bar 3.
  • the solder 4 flowing in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 can be effectively released in the lateral direction of the semiconductor laser bar 3, so that the liquid solder 4 can be further prevented from protruding from the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3. It can be suppressed.
  • FIG. 15 is a diagram showing the configuration of a base 200E for mounting a semiconductor light emitting device 1E and a semiconductor laser bar 3 according to a fourth modification of the first embodiment.
  • (a) is a top view of a base 200E according to this modification
  • (b) is a top view of a semiconductor light emitting device 1E according to this modification
  • (c) is a top view of a base 200E according to this modification.
  • FIG. 2 is a front view of a semiconductor light emitting device 1E according to an example. Note that in the semiconductor light emitting device 1E shown in FIG. 15, the gold wire 6 and the power supply wires 7a and 7b are omitted.
  • the semiconductor light emitting device 1E according to this modification like the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment, includes a wiring main body 11 and a block member 12E. It includes a base 2E having the configured wiring member 10E, a semiconductor laser bar 3, and solder 4 for joining the wiring member 10E and the semiconductor laser bar 3.
  • the base 200E according to this modification is composed of the wiring main body 11 and a pair of block members 12E, similarly to the base 200 according to the first embodiment.
  • the wiring member 210E includes a wiring member 210E, and a support body 20 that supports the wiring member 210E.
  • the pair of block members 12 are not connected, and each of the pair of block members 12 is separated and formed into an island shape.
  • a pair of block members 12E are connected by a connecting portion 12a.
  • the connecting portion 12a connects the portions of the pair of block members 12E on the front end surface S1 side. Therefore, in this modification, the block region 10b includes a front-side block region 10b1, which is the upper surface of the connecting portion 12a, closer to the front end surface S1 than the connection region 10a when viewed from above.
  • the connecting portion 12a is made of the same material as the block member 12E, and has the same thickness as the block member 12E. Therefore, the front side block region 10b1, which is the upper surface of the connecting portion 12a, has low wettability with respect to the solder 4.
  • the semiconductor light emitting device 1E according to this modification and the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment described above have basically the same configuration.
  • the semiconductor light emitting device 1E according to this modification has the same effects as the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment.
  • the block region 10b can prevent the liquid solder 4 from protruding from the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3, so that the solder 4 adheres to the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 and the pn junction on the side surface S3 is short-circuited. This has the effect of suppressing the occurrence of leakage.
  • the block region 10b includes a front side block region 10b1 closer to the front end surface S1 than the connection region 10a.
  • the liquid solder 4 can be effectively released to the rear end surface S2 side of the semiconductor laser bar 3, so that the liquid solder 4 can be further suppressed from protruding from the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3.
  • the block area 10b includes the front side block area 10b1, it is possible to suppress the solder 4 from protruding from the front end surface S1, so that the laser beam emitted from the semiconductor laser bar 3 is prevented by the solder 4 protruding from the front end surface S1. It is also possible to prevent this from happening.
  • FIG. 16 is a cross-sectional view of a semiconductor light emitting device 1F according to a fifth modification of the first embodiment. Note that in FIG. 16, the ridge portion 3a and the insulating film 3b of the semiconductor laser bar 3 are omitted.
  • a semiconductor light emitting device 1F is a base having a wiring member 10 composed of a wiring main body 11 and a block member 12, similar to the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment. It includes a stand 2, a semiconductor laser bar 3, and solder 4 for joining the wiring member 10 and the semiconductor laser bar 3.
  • the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment and the semiconductor light emitting device 1F according to this modification have different shapes of the semiconductor laser bar 3. Specifically, in the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment, no warpage occurred in the semiconductor laser bar 3, whereas in the semiconductor light emitting device 1F according to this modification, the semiconductor laser bar 3 did not warp. is occurring.
  • the elongated semiconductor laser bar 3 is likely to warp in the longitudinal direction.
  • the semiconductor laser bar 3 made of a nitride semiconductor material such as a GaN-based semiconductor material has greater warpage than the semiconductor laser bar made of a GaAs-based semiconductor material.
  • the liquid solder 4 may be applied to the semiconductor laser bar. It tends to protrude from the side surface S3 of 3.
  • the wiring member 210 since the wiring member 210 includes the block region 10b with low wettability to the solder 4, the liquid solder 4 does not protrude from the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3. can be suppressed.
  • the liquid solder 4 can be removed from the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 without causing major damage to the semiconductor laser bar 3. can be prevented from protruding.
  • the amount of warpage (maximum difference in height between the ends and the center) of the semiconductor laser bar 3 is about 18 ⁇ m.
  • the amount of warpage of the semiconductor laser bar 3 before pressing is 18 ⁇ m.
  • the semiconductor laser bar 3 is warped so that the pad electrode 5 side is concave (in other words, it is convex upward), but as in the semiconductor light emitting device 1F shown in FIG. It may be curved so that the 5th side is convex (that is, convex downward).
  • the amount of warpage of the semiconductor laser bar 3 is equivalent to the amount of warpage of the semiconductor laser bar 3 in FIG.
  • FIG. 18 is a top view of a semiconductor light emitting device 1G according to the second embodiment.
  • FIG. 19 is a front view of a semiconductor light emitting device 1G according to a second implementation form.
  • 20A, FIG. 20B, and FIG. 20C are cross-sectional views of the semiconductor light emitting device 1G according to the second embodiment taken along the XXA-XXA line, the XXB-XXB line, and the XXC-XXC line in FIG. 18, respectively.
  • a semiconductor light emitting device 1G has a wiring member composed of a wiring main body 11 and a block member 12G, similar to the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment. It includes a base 2G having a power of 10G, a semiconductor laser bar 3, and solder 4 for joining the wiring member 10G and the semiconductor laser bar 3.
  • a pair of block members 12 were provided on the wiring main body 11.
  • the pair of block members 12 includes a second metal layer 11b laminated on a second metal layer 11b, which is a connection member (first connection member) to which solder 4 is connected among the plurality of metal layers constituting the wiring main body 11. 3 was provided on the metal layer 11c.
  • the wiring main body 11 and the pair of block members 12G are provided on the same surface. Specifically, the wiring main body 11 and the pair of block members 12G are both provided on the upper surface of the support body 20. Therefore, the first wiring main body 111 connects the solder 4 and the connection area of the power supply wire 7a in a manner that bypasses the block member 12G. Furthermore, in a desirable configuration in which the area of the base 2G is minimized, the second wiring main body 112 does not exist in a portion along the semiconductor laser bar 3 in the vicinity of the block member 12G where the first wiring main body 111 detours. It may take a configuration. In this case, the gold wire 6 bridging the second wiring main body 112 and the semiconductor laser bar 3 has a configuration in which some of the gold wires 6 are not parallel to each other.
  • connection member (first connection member) to which the solder 4 is connected among the plurality of metal layers constituting the wiring main body 11 is the second metal layer 11b. At least a portion of the upper surface of the second metal layer 11b of the wiring member 10G forms a connection region 10a, which is an interface between the solder 4 and the wiring member 10G. Also in this embodiment, the pair of block members 12G are located on both outer sides of the connection region 10a in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3, and at least a part of the upper surface of the pair of block members 12G is This is region 10b.
  • the wiring body 11 and the block member 12G are arranged on the same plane, and the height of the wiring body 11 is lower than the height of the block member 12G. That is, the height of the block member 12G is higher than the height of the wiring main body 11. Further, the height position of the connection region 10a, which is the upper surface of the second metal layer 11b in the wiring main body 11, is lower than the height position of the block region 10b, which is the upper surface of the block member 12G.
  • the semiconductor light emitting device 1G according to this embodiment and the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment described above have basically the same configuration.
  • FIG. 21 is a diagram showing the configuration of the base 200G before the semiconductor laser bar 3 is joined.
  • (a) is a top view of the base 200G
  • (b) is a cross-sectional view taken along line bb in (a).
  • the base 200G includes a wiring member 210G composed of a wiring main body 11 and a pair of block members 12G, similar to the base 200 according to the first embodiment. , and a support body 20 that supports the wiring member 210G.
  • the angle ⁇ 1 formed by the straight line connecting the inner end) and the lower surface of the semiconductor laser bar 3 is less than 45 degrees.
  • the angle ⁇ 2 between the lower surface of the semiconductor laser bar 3 and the straight line connecting the inner end of the lower surface of the block member 12G and the outer end of the gain region 3c closest to the block member 12G among the plurality of gain regions 3c is also determined in the above embodiment. Similar to form 1, the angle is less than 45 degrees. Thereby, the same effects as in the first embodiment described above can be achieved.
  • FIG. 23 is a diagram showing the configuration of a soldered base 201G according to the second embodiment.
  • (a) is a top view of the soldered base 201G
  • (b) is a sectional view taken along line bb in (a).
  • a soldered base 201G has a configuration in which solder 4 is placed on a base 200G shown in FIG. 21.
  • the soldered base 201G is arranged on a rectangular parallelepiped support 20 (base) on which a wiring member 210G composed of a wiring main body 211 and a block member 12G is formed, and on the upper surface of the wiring member 210G. and solder 4.
  • the upper surface of the wiring member 210G is a connection region 10c that is an interface with the solder 4.
  • the wiring main body 211 of the wiring member 210G and the pair of block members 12G are provided on the same surface.
  • FIG. 24 is a diagram for explaining a method of manufacturing a soldered base 201G according to the second embodiment.
  • the left figure is a top view
  • the right figure is a sectional view.
  • a base 200G having a wiring member 210G is prepared. Specifically, a base 200G on which a wiring member 210G including a wiring main body 211 and a block member 12G is formed is manufactured. Similar to the first embodiment, in this first step, the wiring member 210G is formed by sequentially forming the first connecting member to be connected to the solder 4 when the semiconductor laser bar 3 is mounted and the block member 12G. . In this embodiment as well, a wiring member 210G including the second metal layer 11b as a first connection member connected to the solder 4 is formed.
  • the support 20 is prepared.
  • a wiring main body 211 consisting of a first metal layer 11a, a second metal layer 11b, and a third metal layer 11c is formed in a predetermined shape on the upper surface of the support 20.
  • a pair of openings 211a for forming a pair of block members 12G are formed in the wiring main body 211.
  • a pair of block members 12G are formed on the upper surface of the support body 20. That is, the pair of block members 12G are formed on the same surface as the wiring main body 211.
  • the block member 12G which is a Pt layer, is formed in each of the pair of openings 211a formed in the wiring main body 211.
  • the base 200G on which the wiring member 210G composed of the wiring main body 211 and the block member 12G is formed can be manufactured.
  • solder 4 in a predetermined shape is placed on the upper surface of the wiring member 210G of the base 200G.
  • the solder 4 is formed on the third metal layer 11c (connection region 10c) of the wiring main body 211.
  • the solder 4 has a rectangular plate shape, and the top view shape is a rectangle that is elongated in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3.
  • the solder 4, which is an AuSn layer (80% Au) is formed by a vapor deposition method.
  • FIG. 25 is a diagram for explaining a method for mounting the semiconductor laser bar 3 on the soldered base 201G.
  • the left figure is a top view
  • the right figure is a sectional view.
  • the semiconductor laser bar 3 is placed on the solder 4 of the soldered base 201G in a junction-down manner, and then, As shown in FIG. 25(b), the semiconductor laser bar 3 is heated while being pressed down to melt the solder 4. Thereafter, the solder 4 that has melted into a liquid state is cured, so that the semiconductor laser bar 3 can be joined to the base 2G using the solder 4.
  • the soldered base 201G is heated to 250° C., and then the semiconductor laser bar 3 is placed on the soldered base 201G with a junction down, and the heating temperature of the soldered base 201G is The temperature was kept at 320°C for 10 seconds, and then the temperature was lowered. Thereafter, as shown in FIG. 25(c), the gold wire 6 and the power supply wires 7a and 7b are wire-bonded. Thereby, the semiconductor light emitting device 1G is completed.
  • the melted and liquid solder 4 is pressed by the semiconductor laser bar 3, so the liquid solder 4 is removed from the semiconductor laser bar 3.
  • the pressure causes the semiconductor laser bar 3 and the wiring member 210G to be spread apart.
  • the liquid solder 4 that spreads in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 can be repelled by the block region 10b, so that the solder 4 can be prevented from protruding from the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3.
  • the height position of the connection area 10c to which the solder 4 is connected is lower than the height position of the block area 10b. That is, the height position of the block area 10b is higher than the height position of the connection area 10c.
  • the thickness of the pair of block members 12G is thicker than the thickness of the wiring main body 211.
  • the liquid solder 4 can be dammed up by the inner side surfaces of each of the pair of block members 12G, and the resistance force when the liquid solder 4 tries to spread in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 increases. Thereby, it is possible to suppress the liquid solder 4 from spreading in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3, so that it is possible to further suppress the solder 4 from protruding from the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3.
  • a laser beam for heating is locally applied to the rear end of the solder 4 while heating the soldered base 201G with a heater or the like. It may be irradiated. Further, in this embodiment as well, in the third step, the third metal layer 11c located below the solder 4 becomes the alloyed layer 11c1, so that the bonding strength between the wiring member 10G and the solder 4 can be improved. .
  • the semiconductor light emitting device 1G like the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment, includes a base 2G having a wiring member 10G, a semiconductor laser bar 3, and a wiring member. 10G and a solder 4 disposed between the semiconductor laser bar 3 and the semiconductor laser bar 3.
  • the surface of the wiring member 10G on the semiconductor laser bar 3 side includes a connection region 10a that is an interface with the solder 4, and a block region 10b whose contact angle with the solder 4 is larger than 90 degrees.
  • the block region 10b is located inside the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 when viewed from above, and at least a portion of the block region 10b is located between the connection region 10a and the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 when viewed from above.
  • the inner portion of the block region 10b in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 is located inside the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3.
  • the wiring member 10G includes a wiring body 11 including a second metal layer 11b as a first connection member to which the solder 4 is connected, and a wiring member 10G on the same surface as the wiring body 11. At least a part of the upper surface of the block member 12G is the block area 10b, and at least a part of the upper surface of the second metal layer 11b, which is the first connection member, is the connection area 10a. It is.
  • the material of the block member 12G is not limited to a conductive material.
  • the material of the block member 12G may be an insulating material such as SiOx or NiOx.
  • a semiconductor light emitting device 1G having such a configuration can be manufactured using a base 200G including a wiring member 210G.
  • the semiconductor laser bar 3 is joined to the wiring member 210G via the solder 4 using the soldered base 201G in which the solder 4 is previously formed on the base 200G.
  • the solder 4 that has melted and become liquid causes the wiring member 210G of the base 200G or the soldered base 201G to be connected to the semiconductor laser bar 3. are joined.
  • the contact angle with respect to the solder 4 is larger than 90 degrees on the side of the connection region 10a to which the solder 4 is connected.
  • a block region 10b (upper surface of the block member 12G) exists.
  • the melted and liquid solder 4 is repelled by the block region 10b, which has low wettability to the solder 4, so that it is possible to suppress the liquid solder 4 from spreading in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3. Therefore, it is possible to suppress the liquid solder 4 from protruding outward from the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3, thereby preventing the solder 4 from adhering to the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 and short-circuiting the pn junction on the side surface S3 and causing leakage. It can be suppressed.
  • FIG. 26A is a top view of a semiconductor light emitting device 1H according to Modification 1 of Embodiment 2.
  • 26B is a cross-sectional view taken along the line XXVIB-XXVIB in FIG. 26A
  • FIG. 26C is a cross-sectional view taken along the line XXVIC-XXVIC in FIG. 26A
  • FIG. 26D is a cross-sectional view taken along the line XXVID-XXVID in FIG. 26A. .
  • the solder 4 of the third metal layer 11c of the wiring member 210G is The lower portion was alloyed to become an alloyed layer 11c1.
  • the solder 4 that joins the semiconductor laser bar 3 and the base 2G was connected to the second metal layer 11b in the wiring body 11 of the wiring member 10G. That is, in the second embodiment, the second metal layer 11b of the wiring main body 11 is the connection member (first connection member) connected to the solder 4, and the connection area 10a is the interface between the solder 4 and the wiring member 10G. was the upper surface of the second metal layer 11b.
  • the semiconductor light emitting device 1H according to this modification As shown in FIGS. 26A to 26D, when the wiring member 10H and the semiconductor laser bar 3 are joined by the solder 4, the third metal layer 11c of the wiring member 10H The portion located below the solder 4 is not alloyed and remains. As a result, the solder 4, which is the AuSn layer that joins the semiconductor laser bar 3 and the base 2H, is connected to the third metal layer 11c in the wiring body 11H of the wiring member 10H. Therefore, in this modification, the solder 4 that joins the semiconductor laser bar 3 and the base 2H is connected to the third metal layer 11c in the wiring body 11H of the wiring member 10H.
  • the third metal layer 11c of the wiring main body 11H is the connection member (first connection member) connected to the solder 4, and the connection region 10a, which is the interface between the solder 4 and the wiring member 10H, is This is the upper surface of the third metal layer 11c of the wiring member 10H.
  • the connection region 10a is the surface of Au.
  • the block member 12H is a Pt layer, so the block region 10b is the surface of Pt.
  • the block region 10b is located on both outer sides of the connection region 10a in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3.
  • the semiconductor light emitting device 1H according to this modification and the semiconductor light emitting device 1G according to the second embodiment are basically the same configuration.
  • the semiconductor light emitting device 1H according to this modification has the same effects as the semiconductor light emitting device 1G according to the second embodiment.
  • the block region 10b can prevent the liquid solder 4 from protruding from the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3, so that the solder 4 adheres to the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 and the pn junction on the side surface S3 is short-circuited. This has the effect of suppressing the occurrence of leakage.
  • the third metal layer 11c present below the solder 4 is not alloyed at all, but the invention is not limited to this.
  • a part of the third metal layer 11c in the wiring main body 11H of the wiring member 10H, which exists below the solder 4 may be the alloyed layer 11c1.
  • FIG. 27 is a diagram showing the configuration of a base 200I for mounting a semiconductor light emitting device 1I and a semiconductor laser bar 3 according to a second modification of the second embodiment.
  • (a) is a top view of a base 200I used when mounting the semiconductor laser bar 3
  • (b) is a top view of a semiconductor light emitting device 1I according to this modification
  • (c ) is a cross-sectional view taken along line cc in (b)
  • (d) is a cross-sectional view taken along line dd in (b). Note that in the semiconductor light emitting device 1I shown in FIG. 27, the gold wire 6 and the power supply wires 7a and 7b are omitted.
  • the semiconductor light emitting device 1I As shown in FIGS. 27(b) to 27(c), the semiconductor light emitting device 1I according to this modification, like the semiconductor light emitting device 1G according to the second embodiment, has a wiring main body 11 and a block member 12I. It includes a base 2I having a wiring member 10I configured, a semiconductor laser bar 3, and solder 4 for joining the wiring member 10I and the semiconductor laser bar 3.
  • the base 200I according to this modification is composed of the wiring main body 11 and a pair of block members 12I, similarly to the base 200G according to the second embodiment.
  • the wiring member 210I is provided with a wiring member 210I, and a support body 20 that supports the wiring member 210I.
  • the distance between the inner portions of the pair of block members 12G in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 was constant, but in the semiconductor light emitting device 1I according to the present modification, The distance between the inner portions of the pair of block members 12I in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 is not constant.
  • the distance between the inner portions of the pair of block members 12I in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 is larger from the front end surface S1 side of the semiconductor laser bar 3 to the rear end surface S2 side of the semiconductor laser bar 3. is getting bigger. Therefore, the distance between the inner parts of the pair of block regions 10b in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 is larger on the other side (opposite to the one side) on the rear end surface S2 side than on the one side on the front end surface S1 side. is getting bigger.
  • the semiconductor light emitting device 1I in this modification as shown in FIG. 27(b), the semiconductor The width of the connection region 10a in the longitudinal direction of the laser bar 3 is larger on the rear end surface S2 side than on the front end surface S1 side.
  • the width of the connection region 10c in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 is larger on the rear end surface S2 side than on the front end surface S1 side. It has become.
  • each block member 12I is a trapezoid, and the pair of block members 12I are arranged such that the tapered portions (slanted portions) of the trapezoid face each other. Therefore, the distance between the inner portions of the pair of block members 12I (block region 10b) gradually increases from the front end surface S1 of the semiconductor laser bar 3 toward the rear end surface S2. Similarly, the widths of the connection regions 10a and 10c gradually increase from the front end surface S1 of the semiconductor laser bar 3 toward the rear end surface S2.
  • the semiconductor light emitting device 1I according to this modification and the semiconductor light emitting device 1G according to the second embodiment are basically the same configuration.
  • the semiconductor light emitting device 1I and the base 200I according to this modification have the same effects as the semiconductor light emitting device 1G and the base 200G according to the second embodiment.
  • the block region 10b can prevent the liquid solder 4 from protruding from the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3, so that the solder 4 adheres to the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 and the pn junction on the side surface S3 is prevented. This has the effect of suppressing short circuits and leaks.
  • the distance between the inner portions of the pair of block members 12I (block region 10b) in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 is larger than the front end surface S1 side of the semiconductor laser bar 3.
  • the end face S2 side is larger.
  • the liquid solder 4 that is pressed and spread by the semiconductor laser bar 3 is pushed and spread toward the rear end surface S2 side where the distance between the inner portions of the pair of block regions 10b is wide.
  • the effect of changing the flow direction of the liquid solder 4 proceeding toward the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 toward the rear end surface S2 of the semiconductor laser bar 3 can be promoted.
  • the solder 4 flowing in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 can be more effectively released in the lateral direction of the semiconductor laser bar 3, thereby preventing the liquid solder 4 from protruding from the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3. This can be further suppressed.
  • FIG. 28 is a top view of a semiconductor light emitting device 1J according to the third embodiment.
  • FIG. 29 is a front view of a semiconductor light emitting device 1J according to the third mounting form.
  • 30A, FIG. 30B, and FIG. 30C are cross-sectional views of the semiconductor light emitting device 1J according to the third embodiment taken along the XXXA-XXXA line, the XXXB-XXXB line, and the XXXC-XXXC line in FIG. 28, respectively.
  • the semiconductor light emitting device 1J according to the third embodiment has a wiring made of a wiring main body 11J and a block member 12J, similar to the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment. It includes a base 2J having a member 10J, a semiconductor laser bar 3, and solder 4 for joining the wiring member 10J and the semiconductor laser bar 3.
  • a pair of block members 12 is provided on the wiring main body 11, and the block region 10b is the upper surface of the block member 12.
  • the pair of block members 12 were provided on the third metal layer 11c, which is the uppermost layer among the plurality of metal layers constituting the wiring main body 11.
  • the upper surface of the second metal layer 11b which is the connection member (first connection member) to which the solder 4 is connected, is the connection region 10a, and the connection region 10a is connected to the pair of block regions 10b ( It was located between the block members 12).
  • connection region 10a and the block region 10b to which the solder 4 is connected are included in the upper surface of the block member 12J of the wiring member 10J.
  • the block member 12J is a single layer of Pt layer
  • the wiring main body 11J is a single layer of Au layer. Therefore, the wiring member 10J has a two-layer structure including the wiring main body 11J and the block member 12J.
  • the block regions 10b having a contact angle of more than 90 degrees with respect to the solder 4 are located on both outer sides of the connection region 10a in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3.
  • the semiconductor light emitting device 1J according to this embodiment and the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment described above have basically the same configuration.
  • FIG. 31 is a diagram showing the configuration of the base 200J before the semiconductor laser bar 3 is bonded.
  • (a) is a top view of the base 200J
  • (b) is a cross-sectional view taken along line bb in (a).
  • a base 200J includes a wiring member 210J composed of a wiring main body 11J, a block member 12J, and a metal layer 13, and a support 20 that supports the wiring member 210J. Be prepared.
  • a straight line connecting the outer end of the lower surface of the semiconductor laser bar 3 and the outer end of the connection region 10a and the lower surface of the semiconductor laser bar 3 are connected to each other.
  • the angle ⁇ 1 formed by the two is less than 45 degrees.
  • angle ⁇ 2 formed by the lower surface of the semiconductor laser bar 3 and the straight line connecting the outer end of the connection region 10a and the outer end of the gain region 3c closest to the outer end of the connection region 10a among the plurality of gain regions 3c is 45 It's below 3 degrees.
  • heat can be sufficiently radiated from the outermost gain region 3c.
  • the heat in the outermost gain region 3c can be radiated on a par with that of the other gain regions 3c.
  • FIG. 33 is a diagram showing the configuration of a soldered base 201J according to the third embodiment.
  • (a) is a top view of the soldered base 201J
  • (b) is a cross-sectional view taken along line bb in (a).
  • a soldered base 201J has a configuration in which solder 4 is placed on a base 200J shown in FIG. 31.
  • the soldered base 201J includes a rectangular parallelepiped support 20 (base) on which a wiring member 210J composed of a wiring main body 11J, a block member 12J, and a metal layer 13 is formed, and a wiring member 210J. solder 4 disposed on the top surface.
  • the upper surface of wiring member 210J is connection region 10c, which is the interface with solder 4, and in this embodiment, is the upper surface of metal layer 13.
  • the block region 10b is located on both outer sides of the connection region 10c in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3.
  • FIG. 34 is a diagram for explaining a method for manufacturing a soldered base 201J according to the third embodiment.
  • the left figure is a top view
  • the right figure is a sectional view.
  • a base 200J having a wiring member 210J is prepared. Specifically, a base 200J on which a wiring member 210J including a wiring main body 11J and a block member 12J is formed is manufactured. In this first step, the wiring member 210J is formed by sequentially forming the wiring body 11J, the block member 12J, and the metal layer 13. In this embodiment, metal layer 13 is a connection member (second connection member) connected to solder 4.
  • the support 20 is prepared.
  • the wiring main body 11J is formed in a predetermined shape on the upper surface of the support body 20.
  • the wiring main body 11J is composed of a first wiring main body 111 and a second wiring main body 112.
  • a block member 12J is formed on the upper surface of the wiring main body 11J.
  • a metal layer 13 is formed on the upper surface of the block member 12J.
  • the wiring main body 11J is an Au layer
  • the block member 12J is a Pt layer
  • the metal layer 13 is an Au layer.
  • solder 4 in a predetermined shape is placed on the upper surface of the wiring member 210J of the base 200J. Specifically, the solder 4 is placed on the metal layer 13 (connection region 10c) of the wiring member 10J.
  • the solder 4 has a rectangular plate shape, and the top view shape is a rectangle that is elongated in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3.
  • solder 4 which is an AuSn layer (80% Au), was formed by vapor deposition.
  • FIG. 35 is a diagram for explaining a method for mounting the semiconductor laser bar 3 on the soldered base 201J.
  • the left figure is a top view
  • the right figure is a sectional view.
  • the semiconductor laser bar 3 is placed on the solder 4 of the soldered base 201J in a junction-down manner, and then, As shown in FIG. 35(b), the semiconductor laser bar 3 is heated while being pressed down to melt the solder 4. Thereafter, the solder 4 that has melted into a liquid state is cured, so that the semiconductor laser bar 3 can be joined to the base 2J using the solder 4. Thereafter, as shown in FIG. 35(c), the gold wire 6 and the power supply wires 7a and 7b are wire-bonded. Thereby, the semiconductor light emitting device 1J is completed.
  • the melted and liquid solder 4 is pressed by the semiconductor laser bar 3, so the liquid solder 4 is removed from the semiconductor laser bar 3.
  • the pressure causes the semiconductor laser bar 3 and the wiring member 10J to be spread apart, but in this embodiment, the contact angle with the solder 4 is less than 90 degrees on both outer sides of the connection area 10c to which the solder 4 is connected. Since the block area 10b is large, the solder 4 can be prevented from protruding from the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3.
  • the solder 4 is placed in contact with the metal layer 13, which is the uppermost layer of the wiring member 210J of the soldered base 201J.
  • the metal layer 13 is an Au layer
  • the solder 4 is an AnSn layer. Therefore, in the third step, when the solder base 201J is heated and the solder 4 is melted while pressing the semiconductor laser bar 3, the solder 4, which is an AuSn layer, is placed on the metal layer 13, which is an Au layer. It will melt. At this time, Sn, which is a compositional component of the solder 4, diffuses into the metal layer 13 and corrodes the Au of the metal layer 13, so as shown in FIG.
  • Au and Sn are alloyed and the metal layer 13 is an alloyed layer 11c1 of the AuSn layer, which is a composition transition region.
  • the entire metal layer 13 located below the solder 4 becomes the alloyed layer 11c1 of the AuSn layer.
  • the metal layer 13, which is a connecting member (second connecting member) to the solder 4 and the solder 4 are integrated via the composition transition region (alloyed layer 11c1). Therefore, the bonding strength between the wiring member 10J and the solder 4 in the semiconductor light emitting device 1J can be improved, so that the semiconductor laser bar 3 and the base 2J can be firmly bonded.
  • the metal layer 13 which is an Au layer
  • the alloyed layer 11c1 if the Au of the metal layer 13 is strongly bonded to the Pt of the block member 12J, which is a Pt layer, by vapor deposition or the like, the solder 4 will melt.
  • the alloyed layer 11c1 is completed, the shape of the bottom surface of the metal layer 13 (Au layer), which is a connection member with the solder 4, is maintained, so that the spread of the solder 4 is suppressed (so-called The solder 4 can be further prevented from spreading in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3.
  • a laser beam for heating is locally applied to the rear end of the solder 4 while heating the soldered base 201J with a heater or the like. It may be irradiated.
  • the semiconductor light emitting device 1J like the semiconductor light emitting device 1 according to the first embodiment, includes a base 2J having a wiring member 10J, a semiconductor laser bar 3, and a wiring member. 10J and a solder 4 disposed between the semiconductor laser bar 3 and the semiconductor laser bar 3.
  • the surface of the wiring member 10J on the side of the semiconductor laser bar 3 includes a connection region 10a that is an interface with the solder 4, and a block region 10b whose contact angle with the solder 4 is larger than 90 degrees.
  • the block region 10b is located inside the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 when viewed from above, and at least a portion of the block region 10b is located between the connection region 10a and the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 when viewed from above.
  • the inner portion of the block region 10b in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 is located inside the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3.
  • the wiring member 10J has a block member 12J, and the connection region 10a and the block region 10b are included in the upper surface of the block member 12J. .
  • a semiconductor light emitting device 1J having such a configuration can be manufactured using a base 200J including a wiring member 210J.
  • the semiconductor laser bar 3 is bonded to the wiring member 210J using the soldered base 201J on which the solder 4 is formed in advance on the base 200J.
  • the heated and liquid solder 4 causes the wiring member 210J of the base 200J or the soldered base 201J to be connected to the semiconductor laser bar 3. and are joined.
  • the contact angle with respect to the solder 4 is larger than 90 degrees on the side of the connection region 10a to which the solder 4 is connected.
  • a block area 10b (upper surface of the block member 12J) exists.
  • the liquid solder 4 is repelled by the block region 10b, which has low wettability to the solder 4, so that the liquid solder 4 is prevented from spreading in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3. It can be suppressed. Therefore, it is possible to suppress the liquid solder 4 from protruding outward from the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3, thereby preventing the solder 4 from adhering to the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 and short-circuiting the pn junction on the side surface S3 and causing leakage. It can be suppressed.
  • the wiring member 10J has the block member 12J, and the connection region 10a and the block region 10b are included in the upper surface of the block member 12J.
  • the metal layer 13, which is a connecting member is formed on the block member 12J, which has low wettability, by being firmly bonded by vapor deposition or the like.
  • FIG. 36A is a top view of a semiconductor light emitting device 1K according to a modification of the third embodiment.
  • 36B is a cross-sectional view taken along the XXXVIB-XXXVIB line in FIG. 36A
  • FIG. 36C is a cross-sectional view taken along the XXXVIC-XXXVIC line in FIG. 36A
  • FIG. 36D is a cross-sectional view taken along the XXVID-XXXVID line in FIG. 36A. .
  • the metal layer 13 of the wiring member 210J is alloyed and the alloyed layer 11c1 Became.
  • the solder 4 that joins the semiconductor laser bar 3 and the base 2J was connected to the block member 12J of the wiring member 10J. That is, in the third embodiment, the block member 12J is the connection member (second connection member) connected to the solder 4, and the connection region 10a, which is the interface between the solder 4 and the wiring member 10J, is the connection region 10a of the block member 12J. It was on the top.
  • the metal layer 13 of the wiring member 10K is made of an alloy. It has not changed and remains. That is, the wiring member 10K includes a wiring main body 11J, a block member 12J formed on the wiring main body 11J, and a metal layer 13 formed on the block member 12J. As a result, the solder 4, which is the AuSn layer that joins the semiconductor laser bar 3 and the base 2K, is connected to the metal layer 13 of the wiring member 10K.
  • the metal layer 13 of the wiring member 10K is the connection member (second connection member) connected to the solder 4, and the connection region 10a, which is the interface between the solder 4 and the wiring member 10K, is the wiring member This is the top surface of the 10K three-metal layer 13.
  • the connection region 10a is the surface of Au. If a solder that does not use Sn instead of AuSn is used as the solder 4, the third metal layer 11c will remain without being alloyed.
  • the block member 12J is a Pt layer, so the block region 10b is the surface of Pt.
  • the block region 10b is located on both outer sides of the connection region 10a in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3.
  • the semiconductor light emitting device 1K according to this modification and the semiconductor light emitting device 1J according to the third embodiment are basically the same configuration.
  • the semiconductor light emitting device 1K according to this modification has the same effects as the semiconductor light emitting device 1J according to the third embodiment.
  • the block region 10b can prevent the liquid solder 4 from protruding from the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3, so that the solder 4 adheres to the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3 and the pn junction on the side surface S3 is short-circuited. This has the effect of suppressing the occurrence of leakage.
  • the wiring member 10K includes a block member 12J and a metal layer 13 (second connection member) located on the block member 12J. At least a portion of the upper surface of the block member 12J is a connection region 10a, and at least a portion of the upper surface of the block member 12J is a block region 10b. positioned.
  • the metal layer 13, which is the second connecting member, is formed on the block member 12J, which has low wettability, and is firmly bonded by vapor deposition or the like.
  • the angle ⁇ 2 formed with the lower surface of the semiconductor laser bar 3 is less than 45 degrees.
  • heat can be sufficiently radiated from the outermost gain region 3c.
  • the heat in the outermost gain region 3c can be radiated on a par with that of the other gain regions 3c.
  • the metal layer 13 present below the solder 4 is not alloyed at all, but the invention is not limited to this.
  • a part of the metal layer 13 may be the alloyed layer 11c1.
  • the outer portion of the block member 12 (block region 10b) in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 is located outside the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3.
  • the semiconductor light emitting device 1L shown in FIG. 38 and FIG. may be located inside the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3.
  • the outer portion of the block member 12L (block region 10b) in the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 may be located inside the side surface S3 of the semiconductor laser bar 3.
  • FIG. 38 is a top view of a semiconductor light emitting device 1L according to Modification 1
  • FIG. 39 is a cross-sectional view of the semiconductor light emitting device 1L according to Modification 1
  • FIG. It is a top view of stand 200L.
  • the top view shape of the solder 4 formed on the solder base 201 is a rectangle with no notch formed therein, but the shape is not limited to this.
  • the top view shape of the solder 4M may be a rectangle in which a notch 4Ma is formed. That is, the solder 4M may include a portion where no solder is formed.
  • the cutout portion 4Ma When mounting the semiconductor laser bar 3, it is preferable to form the cutout portion 4Ma in a region where a large amount of solder 4M is crushed by the semiconductor laser bar 3, in other words, in a portion with a high element height such as a ridge portion.
  • the notch portion 4Ma extends in a long shape from the long side on the rear end surface S2 side of the semiconductor laser bar 3 toward the front end surface S1 so that the solder 4M flows toward the rear side. It is good if it is formed.
  • the semiconductor laser bar 3 has a shape in which the central part is curved upward, the amount of crushing becomes larger toward the ends of the semiconductor laser bar 3. It is preferable to form them near both ends of the .
  • the notch portion 4Ma may be formed at the central portion in the longitudinal direction. Further, it is preferable that the width of the notch portion 4Ma increases as the solder 4M advances toward the rear end surface S2.
  • a plurality of notches 4Ma of the solder 4N may be formed periodically along the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3.
  • a load is applied to the semiconductor laser bar 3 from other than the notch 4Ma of the solder 4N, so the notch 4Ma and the gain region of the semiconductor laser bar 3 are arranged so as to overlap. Good to have. Since the gain region in the semiconductor laser bar 3 is formed periodically, if the notch portion 4Ma has a periodicity that is an integral multiple of the period, the load will be reduced.
  • the semiconductor laser bar 3 By mounting the semiconductor laser bar 3 using the soldered base 201N having the configuration shown in FIG. 42, the rear side extension portion 4a formed on the solder 4N, like the semiconductor light emitting device 1N shown in FIG.
  • the semiconductor laser bar 3 has a concave portion recessed toward the rear end surface S2 near the side surface S3.
  • a plurality of recesses are periodically formed along the longitudinal direction of the semiconductor laser bar 3 when viewed from above. For example, an uneven portion having a wavy shape in plan view is formed at the rear end portion of the rear side extension portion 4a. Similarly, the effect is great if the recesses are also formed periodically.
  • the support body 20 of the base 2 of the semiconductor light emitting device 1 is an insulator, but the support body 20 is not limited to this.
  • the support 20O of the base 2O may be a conductor such as a metal block.
  • the wiring main body 11 formed on the upper surface of the support body 20O and the support body 20O are electrically connected.
  • the support 20O may be an anode electrode made of a plate-shaped copper block, and the cathode electrode 9b made of a plate-shaped copper block may be bonded to the n-side electrode of the semiconductor laser bar 3 via the gold bump 9a.
  • the gold bumps 9a are preferably placed at positions that do not overlap the gain regions 3c of the semiconductor laser bar 3.
  • the gold wire 6 and the power supply wires 7a and 7b are not required, and the semiconductor laser bar 3 can be sandwiched between a pair of copper blocks. heat can be effectively dissipated.
  • FIGS. 38 to 43 can also be applied to each modification of the first embodiment, the second and third embodiments, and each modification of the second and third embodiments.
  • embodiments 1 to 3 may be obtained by making various modifications that those skilled in the art can think of, or by arbitrarily combining the components and functions of each embodiment without departing from the spirit of the present disclosure. Implemented forms are also included in this disclosure.
  • the semiconductor light emitting device according to the present disclosure can be applied to light sources of various products.

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Abstract

半導体発光装置(1)は、配線部材(10)を有する基台(2)と、半導体レーザバー(3)と、配線部材(10)と半導体レーザバー(3)との間に配置された半田(4)と、を備え、配線部材(10)の半導体レーザバー(3)側の面には、半田(4)との界面である接続領域(10a)と、半田(4)に対する接触角が90度より大きいブロック領域(10b)とが含まれ、接続領域(10a)は、上面視において、長手方向における半導体レーザバー(3)の側面(S3)の内側に位置し、ブロック領域(10b)の少なくとも一部は、上面視において、接続領域(10a)と側面(S3)との間に位置し、長手方向におけるブロック領域(10b)の内側部分は、側面(S3)よりも内側に位置し、半田(4)は、上面視においてリア端面(S2)から外側に延伸するリア側延伸部(4a)を有し、かつ、一対の側面(S3)から外側には延伸していない。

Description

半導体発光装置、基台、半田付き基台、及び、半導体発光装置の製造方法
 本開示は、半導体レーザバーを備える半導体発光装置、半導体レーザバー等が接合される基台、半導体レーザバー等が接合される半田付き基台、及び、半導体レーザバーを備える半導体発光装置の製造方法に関する。
 半導体レーザ素子は、民生分野や産業分野を問わず、様々な分野の製品の光源に用いられている。例えば、半導体レーザ素子は、ディスプレイやプロジェクタ等の画像表示装置の光源、自動車のヘッドランプの光源、又は、レーザ加工装置等の産業機器の光源等に用いられている。
 中でも、プロジェクタ又はレーザ加工装置の光源に用いられる半導体レーザ素子については、光出力が1ワットを大きく超える高出力化が要求されている。この場合、1つのエミッタ(発光部)から高出力のレーザ光を出射させると、レーザ光が出射するフロント端面の光密度が高くなりすぎて、フロント端面にCOD(Catastrophic Optical Damage)が発生するおそれがある。
 そこで、1つの半導体レーザ素子から高出力でレーザ光を出射させるために、複数のエミッタを有するマルチエミッタ構造の半導体レーザ素子が提案されている。この種の半導体レーザ素子は、例えば、複数のエミッタに対応する複数の利得領域を有する長尺状の半導体レーザバーとして構成される(例えば、特許文献1)。
 半導体レーザバーは、サブマウント等の基台を介してヒートシンク又は冷却装置等の設置部材に設置される。これにより、半導体レーザバーと設置部材との間の熱膨張差による半導体レーザバーへの応力を低減することができる。
特開2005-158945号公報
 半導体レーザバーは、半田によってサブマウント等の基台に接合される。例えば、半導体レーザバーは、ジャンクションダウン方式により基台に接合される。半導体レーザバーを半田によって基台に接合する場合、基台に予め半田が形成された半田付き基台を用いて半導体レーザバーと基台とを接合することが考えられる。具体的には、半導体レーザバーを半田付き基台に載置して、半導体レーザバーを押さえ付けながら半田付き基台を加熱することで半田を溶融させて半導体レーザバーと基台とを半田で接合する。
 このとき、加熱により溶融して液状になった半田は、半導体レーザバーで押し付けられることになるので、液状の半田が基台の所定の位置からはみ出してしまうことがある。具体的には、半導体レーザバーと基台との間から半田がはみ出すことがある。
 例えば、溶融した半田は、半導体レーザバーで押さえ付けられることで、半導体レーザバーの短手方向に流動して半導体レーザバーのフロント端面からはみ出すことがある。半導体レーザバーのフロント端面(光出射端面)から半田がはみ出すと、半田がフロント端面に乗り上がって光路を妨害するおそれがある。そこで、半導体レーザバーのフロント端面に半田が付着しないようにするために、フロント端面が基台から少しはみ出すような状態で半導体レーザバーを基台に配置することが考えられる。これにより、溶融した半田が半導体レーザバーの短手方向に流動して基台と半導体レーザバーとの間からはみ出したとしても、半導体レーザバーのフロント端面に乗り上がって光路を妨害することを抑制することができる。なお、フロント端面及びその反対側のリア端面は、共振器を構成する誘電体反射膜を形成するので、半田がはみ出してもpn接合部分が短絡してリークが発生する恐れはない。
 また、半導体レーザバーで押さえ付けられた半田は、半導体レーザバーの長手方向に流動して半導体レーザバーの側面からはみ出すこともある。半導体レーザバーの長手方向の側面には通常被膜を形成しないので、半導体レーザバーの側面から半田がはみ出すと、その側面に半田が付着して半導体レーザバーのpn接合が短絡するおそれがある。そこで、半導体レーザバーの長手方向の側面に半田が付着しないようにするために、半導体レーザバーの長手方向の両端部の各々に、利得領域が存在しない非活性領域を設けて、その非活性領域には半田を形成しないという技術が知られている。
 しかしながら、半導体レーザバーの長手方向の両端部に非活性領域を形成して半導体レーザバーの側面から半田がはみ出すことを確実に防止しようとすると、非活性領域の長さをかなり長くしなければならない。この結果、半導体レーザバーの長手方向の長さが長くなってしまい、基台に実装された半導体レーザバーを備える半導体発光装置の全体サイズが大きくなってしまう。一方、非活性領域の長さを短くしすぎると、半導体レーザバーの側面から半田がはみ出してしまい、結局、半導体レーザバーの側面に半田が付着してpn接合が短絡するおそれがある。
 このように、非活性領域を長くすることなく、半導体レーザバーの長手方向の側面から半田がはみ出すことを抑制することは難しい。
 本開示は、このような課題を解決するものであり、半導体レーザバーを基台に接合する際に、液状の半田が半導体レーザバーの長手方向の側面からはみ出すことを抑制できる半導体発光装置、基台、半田付き基台及び半導体発光装置の製造方法等を提供することを目的とする。
 上記課題を解決するために、本開示に係る半導体発光装置の一態様は、配線部材を有する基台と、長手方向に沿って並べられた複数の利得領域を有する端面発光型の半導体レーザバーと、前記配線部材と前記半導体レーザバーとの間に配置された半田と、を備え、前記半導体レーザバーは、光を出射する端面であるフロント端面と、前記フロント端面とは反対側の端面であるリア端面と、前記長手方向の端面である側面とを有し、前記半導体レーザバーは、ジャンクションダウン方式で前記基台に接続され、前記配線部材の前記半導体レーザバー側の面には、前記半田との界面である接続領域と、前記半田に対する接触角が90度より大きいブロック領域とが含まれ、前記接続領域は、上面視において、前記長手方向における前記側面の内側に位置し、前記ブロック領域の少なくとも一部は、上面視において、前記接続領域と前記側面との間に位置し、前記長手方向における前記ブロック領域の内側部分は、前記側面よりも内側に位置し、前記半田は、上面視において前記リア端面から外側に延伸するリア側延伸部を有し、かつ、前記側面から外側には延伸していない。
 また、本開示に係る基台の一態様は、配線部材を有する直方体の基台であって、前記配線部材の上面には、接続領域とブロック領域とが含まれ、前記ブロック領域は、上面視において、前記長手方向における前記接続領域の外側に位置し、前記接続領域は、半田に対する接触角が90度より小さく、前記ブロック領域は、半田に対する接触角が90度より大きい。
 また、本開示に係る半田付き基台の一態様は、配線部材を有する直方体の基台と、前記配線部材の上面に配置された半田と、を有し、前記配線部材の上面は、前記半田との界面であって半田に対する接触角が90度より小さい接続領域と、半田に対する接触角が90度より大きいブロック領域とを含み、前記ブロック領域は、上面視において、前記長手方向における前記接続領域の両外側に位置する。
 また、本開示に係る半導体発光装置の製造方法の一態様は、配線部材を有する基台を準備する第1工程と、前記配線部材の上に半田を配置する第2工程と、前記半田の上に、端面発光型の半導体レーザバーをジャンクションダウンで配置し、前記半導体レーザバーを押さえ付けながら加熱して前記半田を溶融し、前記半田により前記半導体レーザバーを前記基台に接合する第3工程と、を含み、前記半導体レーザバーは、長手方向に沿って並べられた複数の利得領域を有し、前記半導体レーザバーは、光を出射する端面であるフロント端面と、前記フロント端面とは反対側の端面であるリア端面と、前記長手方向の端面である側面とを有し、前記第1工程では、第1接続部材とブロック部材とを順に形成することで前記配線部材を形成し、前記配線部材の上面には、前記半田に対する接触角が90度より小さい接続領域と、前記長手方向における前記接続領域の両外側に位置し且つ前記半田に対する接触角が90度より大きいブロック領域とが含まれており、前記第2工程において、前記半田は、前記接続領域上に配置され、前記第3工程において、前記半田は、前記リア端面から外側に延伸し、且つ、前記側面から外側には延伸しない。
 また、本開示に係る半導体発光装置の製造方法の他の一態様は、配線部材を有する基台を準備する第1工程と、前記配線部材の上に半田を配置する第2工程と、前記半田の上に、端面発光型の半導体レーザバーをジャンクションダウンで配置し、前記半導体レーザバーを押さえ付けながら加熱して前記半田を溶融し、前記半田により前記半導体レーザバーを前記基台に接合する第3工程と、を含み、前記半導体レーザバーは、長手方向に沿って並べられた複数の利得領域を有し、前記半導体レーザバーは、光を出射する端面であるフロント端面と、前記フロント端面とは反対側の端面であるリア端面と、前記長手方向の端面である側面とを有し、前記第1工程では、ブロック部材と第2接続部材とを順に形成することで前記配線部材を形成し、前記配線部材の上面には、前記半田に対する接触角が90度より小さい接続領域と、前記長手方向における前記接続領域の両外側に位置し且つ前記半田に対する接触角が90度より大きいブロック領域とが含まれており、前記第2工程において、前記半田は、前記接続領域上に配置され、前記第3工程において、前記半田は、前記リア端面から外側に延伸し、且つ、前記側面から外側には延伸せず、前記第2接続部材の少なくとも一部と前記半田とが組成遷移領域を介して一体化している。
 本開示によれば、半導体レーザバーの長手方向の側面から半田がはみ出すことを抑制できるので、半導体レーザバーの側面にリークが発生することを抑制できる。
図1は、実施の形態1に係る半導体発光装置の上面図である。 図2は、実装の形態1に係る半導体発光装置の正面図である。 図3Aは、図1のIIIA-IIIA線における実施の形態1に係る半導体発光装置の断面図である。 図3Bは、図1のIIIB-IIIB線における実施の形態1に係る半導体発光装置の断面図である。 図3Cは、図1のIIIC-IIIC線における実施の形態1に係る半導体発光装置の断面図である。 図4は、半導体レーザバーが接合される前の実施の形態1に係る基台の構成を示す図である。 図5は、実施の形態1に係る半導体発光装置の拡大断面図である。 図6は、実施の形態1に係る半田付き基台の構成を示す図である。 図7は、実施の形態1に係る半田付き基台を作製する方法を説明するための図である。 図8は、実施の形態1に係る半田付き基台に半導体レーザバーを実装する方法を説明するための図である。 図9は、実施の形態1に係る半田付き基台に半導体レーザバーを実装するときの応用例を説明するための図である。 図10Aは、実施の形態1の変形例1に係る半導体発光装置の上面図である。 図10Bは、図10AのXB-XB線における実施の形態1の変形例1に係る半導体発光装置の断面図である。 図10Cは、図10AのXC-XC線における実施の形態1の変形例1に係る半導体発光装置の断面図である。 図10Dは、図10AのXD-XD線における実施の形態1の変形例1に係る半導体発光装置の断面図である。 図11は、実施の形態1の変形例1に係る半導体発光装置の他の例を示す断面図である。 図12は、実施の形態1の変形例2に係る半導体発光装置及び半導体レーザバーを実装するための基台の構成を示す図である。 図13は、実施の形態1の変形例2に係る半田付き基台の構成を示す図である。 図14は、実施の形態1の変形例3に係る、半導体発光装置、半導体レーザバーを実装するための基台、及び、半導体レーザバーの構成を示す図である。 図15は、実施の形態1の変形例4に係る半導体発光装置及び半導体レーザバーを実装するための基台の構成を示す図である。 図16は、実施の形態1の変形例5に係る半導体発光装置の断面図である。 図17は、実施の形態1の変形例5に係る他の半導体発光装置の断面図である。 図18は、実施の形態2に係る半導体発光装置の上面図である。 図19は、実装の形態2に係る半導体発光装置の正面図である。 図20Aは、図18のXXA-XXA線における実施の形態2に係る半導体発光装置の断面図である。 図20Bは、図18のXXB-XXB線における実施の形態2に係る半導体発光装置の断面図である。 図20Cは、図18のXXC-XXC線における実施の形態2に係る半導体発光装置の断面図である。 図21は、半導体レーザバーが接合される前の実施の形態2に係る基台の構成を示す図である。 図22は、実施の形態2に係る半導体発光装置の拡大断面図である。 図23は、実施の形態2に係る半田付き基台の構成を示す図である。 図24は、実施の形態2に係る半田付き基台を作製する方法を説明するための図である。 図25は、実施の形態2に係る半田付き基台に半導体レーザバーを実装する方法を説明するための図である。 図26Aは、実施の形態2の変形例1に係る半導体発光装置の上面図である。 図26Bは、図26AのXXVIB-XXVIB線における実施の形態2の変形例1に係る半導体発光装置の断面図である。 図26Cは、図26AのXXVIC-XXVIC線における実施の形態2の変形例1に係る半導体発光装置の断面図である。 図26Dは、図26AのXXVID-XXVID線における実施の形態2の変形例1に係る半導体発光装置の断面図である。 図27は、実施の形態2の変形例2に係る半導体発光装置及び半導体レーザバーを実装するための基台の構成を示す図である。 図28は、実施の形態3に係る半導体発光装置の上面図である。 図29は、実装の形態3に係る半導体発光装置の正面図である。 図30Aは、図28のXXXA-XXXA線における実施の形態3に係る半導体発光装置の断面図である。 図30Bは、図28のXXXB-XXXB線における実施の形態3に係る半導体発光装置の断面図である。 図30Cは、図28のXXXC-XXXC線における実施の形態3に係る半導体発光装置の断面図である。 図31は、半導体レーザバーが接合される前の実施の形態3に係る基台の構成を示す図である。 図32は、実施の形態3に係る半導体発光装置の拡大断面図である。 図33は、実施の形態3に係る半田付き基台の構成を示す図である。 図34は、実施の形態3に係る半田付き基台を作製する方法を説明するための図である。 図35は、実施の形態3に係る半田付き基台に半導体レーザバーを実装する方法を説明するための図である。 図36Aは、実施の形態3の変形例に係る半導体発光装置の上面図である。 図36Bは、図36AのXXXVIB-XXXVIB線における実施の形態3の変形例に係る半導体発光装置の断面図である。 図36Cは、図36AのXXXVIC-XXXVIC線における実施の形態3の変形例に係る半導体発光装置の断面図である。 図36Dは、図36AのXXXVID-XXXVID線における実施の形態3の変形例に係る半導体発光装置の断面図である。 図37は、実施の形態3の変形例に係る半導体発光装置の拡大断面図である。 図38は、変形例1に係る半導体発光装置の上面図である。 図39は、変形例1に係る半導体発光装置の断面図である。 図40は、変形例1に係る基台の上面図である。 図41は、変形例2に係る半田付き基台の上面図及び半導体発光装置の上面図である。 図42は、変形例3に係る半田付き基台の上面図及び半導体発光装置の上面図である。 図43は、変形例4に係る半導体発光装置の断面図である。
 以下、本開示の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、いずれも本開示の一具体例を示すものである。したがって、以下の実施の形態で示される、数値、形状、材料、構成要素、構成要素の配置位置及び接続形態、並びに、ステップ(工程)及びステップの順序等は、一例であって本開示を限定する主旨ではない。よって、以下の実施の形態における構成要素のうち、本開示の最上位概念を示す独立請求項に記載されていない構成要素については、任意の構成要素として説明される。
 また、各図は、模式図であり、必ずしも厳密に図示されたものではない。したがって、各図において縮尺・角度等は必ずしも一致していないし、角度も正確に図示されていないことがある。各図において、実質的に同一の構成に対しては同一の符号を付しており、重複する説明は省略又は簡略化する。
 また、本明細書において、「上方」及び「下方」という用語は、絶対的な空間認識における上方向(鉛直上方)及び下方向(鉛直下方)を指すものではなく、積層構成における積層順を基に相対的な位置関係により規定される用語として用いる。また、「上方」及び「下方」という用語は、2つの構成要素が互いに間隔をあけて配置されて2つの構成要素の間に別の構成要素が存在する場合のみならず、2つの構成要素が互いに接する状態で配置される場合にも適用される。
 (実施の形態1)
 [半導体発光装置]
 まず、実施の形態1に係る半導体発光装置1の構成について、図1、図2、図3A、図3B及び図3Cを用いて説明する。図1は、実施の形態1に係る半導体発光装置1の上面図である。図2は、実装の形態1に係る半導体発光装置1の正面図である。図3A、図3B及び図3Cは、それぞれ、図1のIIIA-IIIA線、IIIB-IIIB線及びIIIC-IIIC線における実施の形態1に係る半導体発光装置1の断面図である。
 図1及び図2に示すように、半導体発光装置1は、配線部材10を有する基台2と、半導体レーザバー3と、半田4とを備える。基台2と半導体レーザバー3とは、半田4を介して接合されている。具体的には、半田4は、基台2と半導体レーザバー3との間に介在している。つまり、半田4は、基台2の上に配置され、半導体レーザバー3は、半田4の上に配置されている。具体的には、半田4は、基台2の配線部材10の上に配置されている。したがって、半田4は、配線部材10と半導体レーザバー3との間に配置されている。
 半田4は、基台2と半導体レーザバー3とを接合するための接合部材の一例である。本実施の形態において、半田4は、基台2の配線部材10と半導体レーザバー3とを接合している。これにより、配線部材10と半導体レーザバー3とが電気的に接続される。
 半田4は、例えば、AuSn系又はSnAuCu系の鉛フリー半田であるが、これに限るものではない。半田4は、鉛(Pb)を用いた鉛半田であってもよい。また、半田4は、高温半田であってもよいし、低温半田であってもよい。本実施の形態において、半田4は、AuSn半田である。具体的には、半田4として、AuSn共晶半田を用いた。
 半導体レーザバー3は、レーザ光を出射する長尺状の半導体レーザ素子の一例である。本実施の形態において、半導体レーザバー3は、半導体レーザバー3の長手方向に沿って並べられた複数の利得領域を有する端面発光型の半導体レーザ素子である。具体的には、半導体レーザバー3は、複数の利得領域に対応する複数のエミッタを有するマルチエミッタ構造の半導体レーザ素子であり、複数本のレーザ光を出射する。
 半導体レーザバー3は、基板と、基板の上に形成された半導体積層構造体とを有する。例えば、半導体レーザバー3は、GaN系半導体レーザ又はGaAs系半導体レーザ等である。本実施の形態において、半導体レーザバー3は、GaN系半導体レーザであり、成長基板であるGaN基板と、GaN基板の上に形成された窒化物半導体材料によって構成された半導体積層構造体とを備える。具体的には、半導体積層構造体は、GaN基板の上に形成されたn型半導体層と、n型半導体層の上に形成された活性層と、活性層の上に形成されたp型半導体層とを備える。n型半導体層とp型半導体層との間に形成された活性層は、pn接合部となる。
 図2に示すように、p型半導体層は、例えば、複数の光導波路として複数のリッジ部3aを有する。複数のリッジ部3a(光導波路)は、複数の利得領域に対応している。複数のリッジ部3aは、平行に形成されており、また、半導体レーザバー3の長手方向に直交する方向に延在している。p型半導体層の上面は、リッジ部3a上を除いて、SiN又はSiO2等からなる絶縁膜3bで覆われている。つまり、絶縁膜3bは、リッジ部3aの上方に開口部を有する。また、p型半導体層の上には、p側電極が形成され、GaN基板の裏面(半導体積層構造体が形成された面とは反対側の面)には、n側電極が形成されている。p側電極は、例えば、リッジ部3aの上に形成されている。
 また、半導体レーザバー3は、パッド電極5を有する。パッド電極5は、半導体レーザバー3のp側電極上に形成されている。パッド電極5は、全てのリッジ部3aをまたぐように長尺状に形成されている。パッド電極5は、金属材料によって構成されている。パッド電極5は、単一の金属層によって構成されていてもよいし、複数の金属層によって構成されていてもよい。一例として、パッド電極5は、p側電極から離れる方向に、Ti層、Pt層、Au層の順に積層された3層構造である。
 図1に示すように、半導体レーザバー3は、レーザ光を出射する端面であるフロント端面S1と、フロント端面S1とは反対側の端面であるリア端面S2と、半導体レーザバー3の長手方向の端面である一対の側面S3とを有する。半導体レーザバー3の光導波路は、フロント端面S1とリア端面S2とを共振器反射ミラーとしている。したがって、フロント端面S1及びリア端面S2は、共振器端面となる。
 半導体レーザバー3は、ジャンクションダウン方式(フェイスダウン方式)で基台2に接続されている。つまり、半導体レーザバー3は、パッド電極5側の面(p側電極側の面)が基台2に向くように配置されて基台2に実装されている。
 また、図1及び図3Bに示すように、本実施の形態において、半導体レーザバー3は、フロント端面S1が基台2の前端面から少しはみ出すような状態で基台2に実装されている。これにより、半導体レーザバー3を基台2に実装する際、加熱により溶融して液状になった半田4が半導体レーザバー3の短手方向に流動して基台2と半導体レーザバー3との間からはみ出したとしても、液状の半田4は、半導体レーザバー3の突出部分の基台2側の面にとどまることになる。したがって、液状の半田4がフロント端面S1に乗り上がって半導体レーザバー3のフロント端面S1に半田4が付着することを抑制できるので、半田4によるフロント端面S1でのレーザ光の光路妨害を防止できる。
 基台2は、半導体レーザバー3が実装されるサブマウントである。基台2は、全体として直方体である。一例として、基台2は、矩形の平板状である。図1~図3Cに示すように、基台2は、配線部材10と、支持体20とを有する。
 支持体20は、基台2の本体を構成している。支持体20は、絶縁体であり、例えば、AlN、SiC又はダイヤモンド等の高熱伝導材料によって構成されている。これにより、半導体レーザバー3で発生する熱を支持体20によって効率よく放熱させることができる。つまり、支持体20は、ヒートシンクとして機能する。支持体20の形状は、直方体であり、一例として、矩形の平板状である。したがって、支持体20の上面は、矩形の平面である。
 配線部材10は、支持体20の上方に形成されている。具体的には、配線部材10は、支持体20の上面に形成されている。配線部材10の少なくとも一部は、半田4に接続されている。つまり、半田4は、配線部材10と半導体レーザバー3との間に介在している。
 配線部材10は、配線本体11とブロック部材12とを有する。本実施の形態では、配線本体11とブロック部材12とをこの順に形成することで配線部材10が構成されている。
 配線本体11は、単一の導電層によって構成されていてもよいし、複数の導電層によって構成されていてもよい。本実施の形態において、配線本体11は、複数の金属層によって構成されている。具体的には、配線本体11は、第1金属層11aと、第1金属層11aの上に形成された第2金属層11bと、第2金属層11bの上に形成された第3金属層11cとの3層構造である。
 第1金属層11aは、例えば、TiからなるTi層又はAuからなるAu層である。一例として、第1金属層11aの厚さは、0.5μmである。第1金属層11aは、例えば、支持体20と配線本体11との密着性を向上させるために形成された密着層として機能する。したがって、第1金属層11aは、支持体20との密着性に優れた金属材料によって構成するとよい。第1金属層11aは、配線本体11の最下層である。
 第2金属層11bは、例えば、PtからなるPt層である。一例として、第2金属層11bの厚さは、0.2μmである。第2金属層11bは、不要な金属の拡散を抑制するためのバリア層として機能する。本実施の形態において、第2金属層11bは、半田4に含まれるSnが拡散することを抑制する。第2金属層11bは、配線本体11の中間層であり、第1金属層11aと第3金属層11cとの間に配置されている。
 第3金属層11cは、例えば、AuからなるAu層である。一例として、第3金属層11cの厚さは、1.0μmである。第3金属層11cは、配線本体11の最上層である。図3Aに示すように、本実施の形態では、配線本体11における半田4の下方部分に、第3金属層11cが存在していない。
 詳細は後述するが、これは、半導体レーザバー3を半田4で配線部材10に接合する際に、AuSnからなる半田4の組成成分であるSnがAu層である第3金属層11cに拡散してAuとSnとが合金化し、組成遷移領域としてAuSn層の合金化層11c1が形成され、第3金属層11cが半田4の一部となって半田4と一体化したからである。このため、半田4によって半導体レーザバー3と基台2とが接合された後では、第3金属層11cと半田4とが一体化した合金化層11c1を含む半田4は、配線本体11の第2金属層11bと接合しているように見える。
 一方、半導体レーザバー3が配線部材10に接合される前の基台2である基台200については、図4に示すように、配線部材210の配線本体211の第3金属層11cには組成遷移領域(合金化層11c1)が形成されておらず、配線部材210の配線本体211は、全領域において、第1金属層11aと第2金属層11bと第3金属層11cとの3層構造になっている。図4は、半導体レーザバー3が接合される前の基台200の構成を示す図である。図4において、(a)は、基台200の上面図であり、(b)は、(a)のb-b線における断面図である。
 基台2及び基台200において、第1金属層11a、第2金属層11b及び第3金属層11cは、例えば、めっき法によって形成されためっき膜であるが、これに限らない。例えば、第1金属層11a、第2金属層11b及び第3金属層11cは、蒸着法等のめっき法以外の方法によって形成されてもよい。また、本実施の形態において、配線本体11は、支持体20側からTi/Pt/Au又はAu/Pt/Auの3層構造になっているが、これに限らない。例えば、配線本体11は、支持体20側からTi/Pt/Au/Pt/Auの5層構造であってもよい。
 図4の(a)に示すように、基台200において、配線本体211は、第1配線本体111と第2配線本体112とに分離されている。第1配線本体111と第2配線本体112とは、半導体レーザバー3の表面電極と裏面電極とに接続される配線部材である。さらに第1配線本体111と第2配線本体112から電源供給部にワイヤボンディング等で容易に接続できるように、それぞれが配置される。例えば図4の(a)では、上面視で左右方向に電源供給部が形成できるように配置されている。もちろん、リア端面S2側(上面視で上側)に、第1配線本体111と第2配線本体112とが並んで配置されていても良い。
 図1に示す基台2における配線本体11は、基台200における配線本体211と同様の形状である。つまり、配線本体11は、互いに分離された第1配線本体111と第2配線本体112とによって構成されている。
 図1に示すように、半導体レーザバー3は、第1配線本体111の上に配置されている。したがって、図3Aに示すように、半導体レーザバー3と第1配線本体111とは半田4によって接合されている。また、図1に示すように、第2配線本体112と半導体レーザバー3とは、配線ワイヤの一例である金ワイヤ6によって接続されている。ワイヤボンディングは、半導体レーザバー3の利得領域(リッジ部)に対応するように行う。すなわち、半導体レーザバー3の長手方向に並ぶ利得領域に対応して、金ワイヤ6もその長手方向に平行に並べて配置される。このようにワイヤボンディングすることで、半導体レーザバー3の長手方向で均一に発光させることが可能となる。また、金ワイヤ6は、隣り合う利得領域の間に配置されているとよい。これにより、ワイヤボンディング時の応力による不良発生を低減できる。本実施の形態では、複数本の金ワイヤ6が第2配線本体112と半導体レーザバー3とを架張するようにワイヤボンディングされているが、これに限らない。例えば、金ワイヤ6は、半導体レーザバー3の長手方向で均一な発光が得られるのであれば、1本であってもよいし、2本であってもよい。なお、金ワイヤ6ではなく、金以外の材料によって構成された配線ワイヤを用いてもよい。
 第1配線本体111及び第2配線本体112には、電力が供給される。本実施の形態では、第1配線本体111には、給電ワイヤ7aがワイヤボンディングされており、第2配線本体112には、給電ワイヤ7bがワイヤボンディングされている。給電ワイヤ7aに供給された電力は、第1配線本体111及び半田4を介して半導体レーザバー3のパッド電極5(p側電極)に供給される。一方、給電ワイヤ7bに供給された電力は、第2配線本体112及び金ワイヤ6を介して半導体レーザバー3のn側電極に供給される。ここで、第2配線本体112は、金ワイヤ6の長さを短くするために、半導体レーザバー3に沿ってリア端面S2側に、かつ第1配線本体111と離間して配置される。一方、レーザ光の光路を考えると、フロント端面S1側には金ワイヤ6を配置することができないので、給電ワイヤ7aおよび7bは、基台200の長手方向端部付近に形成される。よって、第2配線本体112は、基台200のリア側と長手方向端部に沿うL字型をしている。本実施の形態では、複数本の給電ワイヤがワイヤボンディングされているが、太い1本のワイヤでもよいし、変形しにくい金属配線部材が半田付けされていてもよい。
 図2及び図3Aに示すように、ブロック部材12は、配線本体11の上に配置されている。具体的には、ブロック部材12は、配線本体11の第3金属層11cの上に配置されている。本実施の形態において、ブロック部材12は、半導体レーザバー3の長手方向において対向するように一対形成されている。一対のブロック部材12は、半導体レーザバー3の長手方向における一対の端部と重なる位置に形成されている。半田4は、一対のブロック部材12の間に存在している。
 一対のブロック部材12は、いずれも第1配線本体111の上に配置されている。各ブロック部材12は、第1配線本体111の幅方向の一方の端部から他方の端部にわたって形成されている。本実施の形態において、各ブロック部材12の上面視形状は、矩形状である。一例として、ブロック部材12の上面視形状は、縦1.25mmで、横0.3mmの長方形である。また、ブロック部材12の厚さは、例えば、0.2μmである。
 ブロック部材12は、導電層によって構成されている。本実施の形態において、ブロック部材12は、金属層である。具体的には、ブロック部材12は、PtからなるPt層である。Pt層であるブロック部材12は、例えば蒸着法によって配線本体11の上面に形成されている。ただし、ブロック部材12の形成方法は、蒸着法に限るものではない。また、ブロック部材12を金属ブロックとし、金属ブロックであるブロック部材12を導電性接着剤又は絶縁性接着剤で配線本体11に接合してもよい。また、ブロック部材12の長手方向の外側部分に離間して、給電ワイヤ7aおよび7bが配置されている。
 このように、本実施の形態において、配線本体11とブロック部材12とは、いずれも導電性を有するが、これに限らない。例えば、ブロック部材12は、絶縁材料によって構成されていてもよい。具体的には、ブロック部材12は、酸化シリコン(SiO)からなる酸化シリコン膜であってもよいし、酸化ニッケル(NiO)からなる酸化ニッケル膜であってもよい。
 図2~図3Cに示すように、配線部材10の半導体レーザバー3側の面には、接続領域10a(接続部)と、ブロック領域10b(ブロック部)とが含まれている。つまり、配線部材10の上面には、接続領域10aとブロック領域10bとが含まれている。
 配線部材10の接続領域10aは、配線部材10と半田4との界面である。接続領域10aは、上面視において、半導体レーザバー3の長手方向における半導体レーザバー3の側面S3の内側に位置している。具体的には、接続領域10aは、半導体レーザバー3の一対の側面S3の間に位置している。
 図3Aに示すように、半導体レーザバー3と配線部材10とが半田4で接合された後では、配線部材10における半田4との界面は、配線本体11の第2金属層11bと半田4との接続面になっている。つまり、接続領域10aは、第2金属層11bの上面の一部である。具体的には、第2金属層11bはPt層であるので、接続領域10aは、Ptの表面である。このように、本実施の形態では、配線本体11の第2金属層11bが半田4に接続されている。つまり、第2金属層11bは、半田4に接続する接続部材(第1接続部材)になっている。
 なお、半導体レーザバー3が配線部材10に接合される前の基台200については、図4に示すように、半田4が接続される領域に、配線部材210の配線本体211の第3金属層11cが存在している。このため、基台200において、半田4が接続される予定である接続領域10cは、第3金属層11cの上面の一部である。つまり、基台200において、接続領域10cは、半田4が配置される半田配置領域である。この場合、接続領域10cは、半田4に対する接触角が90度より小さくなっている。つまり、液状の半田4に対する接続領域10cの接触角は90度よりも小さい鋭角になっている。本実施の形態において、第3金属層11cはAu層であるので、基台200における接続領域10cは、Auの表面である。また、ブロック部材12は、Pt、SiO又はNiOによって構成されているので、ブロック領域10bは、Pt、SiO又はNiOの表面である。これにより、接続領域10cとブロック領域10bとの濡れ性の差を容易に実現することができる。
 図2及び図3Aに示すように、第3金属層11cの上に形成される一対のブロック部材12は、第2金属層11b(第1接続部材)の上方に位置している。つまり、第2金属層11bの上面は、半田4に接しているだけではなく、第3金属層11cにも接している。このように、第2金属層11bの上面には、半田4に接続される接続領域10aと第3金属層11cに接続される領域とが含まれている。
 また、上記のように、半田4は、一対のブロック部材12の間に形成されている。したがって、半田4に接続される第2金属層11b(第1接続部材)は、上面視において、一対のブロック部材12の間に接続領域10aを有している。つまり、接続領域10aは、一対のブロック部材12の間に位置している。
 配線部材10のブロック領域10bは、上面視において、半導体レーザバー3の長手方向における接続領域10aの外側に位置している。また、ブロック領域10bの少なくとも一部は、接続領域10aと半導体レーザバー3の側面S3との間に位置している。
 ブロック領域10bは、半田4に対する接触角が90度より大きい。つまり、液状の半田4に対するブロック領域10bの接触角は、90度よりも大きい鈍角になっている。本実施の形態において、ブロック領域10bは、ブロック部材12の上面である。上記のように、ブロック部材12は、Pt層であるので、ブロック領域10bは、Ptの表面である。なお、ブロック部材12がSiO又はNiOによって構成されている場合、ブロック領域10bは、SiO又はNiOの表面である。
 本実施の形態において、配線部材10は、一対のブロック部材12を有するので、ブロック領域10bも一対存在する。一対のブロック領域10bの一方は、半導体レーザバー3の長手方向において、接続領域10aの一方側に存在している。また、一対のブロック領域10bの他方は、半導体レーザバー3の長手方向において、接続領域10aの他方側に存在している。つまり、ブロック領域10bは、半導体レーザバー3の長手方向において、接続領域10aの両外側に一対存在している。
 半導体レーザバー3の側面S3は、ブロック領域10bの上方に位置している。つまり、半導体レーザバー3の側面S3は、上面視において、ブロック領域10bと重なっている。具体的には、半導体レーザバー3の一対の側面S3の一方は、一対のブロック領域10bの一方の上方に位置しており、半導体レーザバー3の一対の側面S3の他方は、一対のブロック領域10bの他方の上方に位置している。
 半導体レーザバー3の長手方向におけるブロック領域10bの内側部分は、上面視において、半導体レーザバー3の側面S3よりも内側に位置している。具体的には、半導体レーザバー3の長手方向におけるブロック部材12の内側の側面が、半導体レーザバー3の側面S3よりも内側に位置している。
 本実施の形態では、一対のブロック領域10bの対向部分が半導体レーザバー3の一対の側面S3の間に位置している。つまり、一対のブロック部材12の対向する両側面は、一対の側面S3の間に位置している。
 一方、半導体レーザバー3の長手方向におけるブロック領域10bの外側部分は、上面視において、半導体レーザバー3の側面S3よりも外側に位置している。具体的には、半導体レーザバー3の長手方向におけるブロック部材12の外側の側面が、半導体レーザバー3の側面S3よりも外側に位置している。
 また、図1及び図4に示すように、一対のブロック領域10bの各々は、上面視において、半導体レーザバー3の直下の部分からリア端面S2側の外方に延伸している。また、半導体レーザバー3の各側面S3におけるリア端面S2側の端部は、上面視において、ブロック領域10bに重なっている。
 一対のブロック領域10bは、上面視において、基台2の短手方向の一方側に寄せて配置されている。つまり、一対のブロック領域10bは、基台2の短手方向の片側に偏在している。本実施の形態において、一対のブロック領域10bは、第1配線本体111の上方に位置しており、半導体レーザバー3のフロント端面S1側(半導体発光装置1の前方側)に寄せて配置されている。
 図2及び図3Aに示すように、配線部材10と半導体レーザバー3との間に介在する半田4は、一対のブロック領域10b(ブロック部材12)の間に存在しており、半導体レーザバー3の長手方向においては、半導体レーザバー3の側面S3から外側には延伸していない。つまり、半田4は、半導体レーザバー3の側面S3から外側にははみ出していない。
 一方、図1、図3B及び図3Cに示すように、配線部材10と半導体レーザバー3との間に介在する半田4は、半導体レーザバー3の短手方向においては、半導体レーザバー3のリア端面S2から外側にはみだしている。具体的には、半田4は、上面視において半導体レーザバー3のリア端面S2から外側に延伸するリア側延伸部4aを有する。
 図示されていないが、半導体レーザバー3のフロント端面S1及びリア端面S2は、SiOxやAlOxやTiOxなどの誘電体からなる被膜が形成されている。これらの被膜は、各種半田に対する接触角が90度より大きい。よって、半田4のリア側延伸部4aは、半導体レーザバー3のリア端面S2から外側にはみだしているが、リア端面S2には接していない。また、図1に示すように、半田4のリア側延伸部4aは、半導体レーザバー3の側面S3にも接していない。
 図1に示すように、半田4と配線部材10との界面である接続領域10aは、上面視において、半導体レーザバー3のリア端面S2から外側に延伸する接続領域延伸部10a1を有する。図3Bに示すように、半田4のリア側延伸部4aは、接続領域10aの接続領域延伸部10a1と接続されている。
 本実施の形態において、接続領域延伸部10a1に存在するリア側延伸部4aの高さは、一定ではない。具体的には、図3Bに示すように、リア側延伸部4aの高さは、半導体レーザバー3の短手方向において、半導体レーザバー3から離れるにしたがって、いったん高くなった後に低くなっている。
 図3Aに示すように、配線部材10と半導体レーザバー3との間に介在する半田4は、一対のブロック部材12の間に存在するとともに、その一部がブロック部材12の上面に乗り上がっている。このため、半田4は、配線本体11と半導体レーザバー3との間だけではなく、ブロック部材12と半導体レーザバー3との間にも介在している。したがって、図3Aに示される断面視において、半田4と半導体レーザバー3との界面の幅W1は、半田4と配線部材10との界面の幅W2より大きくなっている。
 また、本実施の形態における半導体発光装置1では、半導体レーザバー3の長手方向の両端部の各々に、利得領域が存在しない非活性領域が設けられている。この非活性領域は、レーザ光は出射する部分と同じ半導体積層構造によって構成されているが、絶縁膜によって半田4とは絶縁されており、電流が流れない。このため、非活性領域からは発熱がなく、直下の基台200との間に半田4等の熱伝導部材がなくても熱的な問題は少ない。本実施の形態における半導体レーザバー3では、この非活性領域の長さが従来技術よりも短くなっている。
 この場合、本実施の形態における半導体発光装置1では、図5の断面視において、半導体レーザバー3の下面外端とブロック領域10bの内端(ブロック部材12の上面内端)とを結ぶ直線と、半導体レーザバー3の下面とのなす角θ1は、45度未満である。
 また、ブロック部材12の下面内端と複数の利得領域3cのうちブロック部材12に最も近い利得領域3cの外端とを結ぶ直線と、半導体レーザバー3の下面とのなす角θ2は、45度未満である。
 次に、実施の形態1に係る半導体発光装置1の製造方法について説明する。具体的には、半田4によって半導体レーザバー3と基台2の配線部材10とを接合する方法について説明する。
 本実施の形態では、支持体20に予め半田4が形成された半田付き基台201を用いて半導体レーザバー3を実装している。そこで、まず、半田付き基台201の構成について、図6を用いて説明する。図6は、実施の形態1に係る半田付き基台201の構成を示す図である。図6において、(a)は、半田付き基台201の上面図であり、(b)は、(a)のb-b線における断面図である。
 図6に示すように、半田付き基台201は、図4に示される基台200の配線部材210に半田4が配置された構成になっている。具体的には、半田付き基台201は、配線部材210を有する直方体の支持体20(基台)と、配線部材210の上面に配置された半田層である半田4とを備える。半田4は、蒸着又は印刷等によって所定形状に形成することができる。
 配線部材210は、配線本体211と、ブロック部材12とを有する。配線本体211は、第1金属層11aと第2金属層11bと第3金属層11cとの3層構造になっている。また、配線本体211は、上記の半導体発光装置1における配線部材10の配線本体11と同様に、互いに分離された第1配線本体111と第2配線本体112とによって構成されている。
 半田付き基台201において、配線部材210の上面は、半田4との界面である接続領域10cである。具体的には、接続領域10cは、配線本体211における第3金属層11cの上面の一部である。第3金属層11cはAu層であるので、半田付き基台201における接続領域10cは、Auの表面である。この場合、接続領域10cは、半田4に対する接触角が90度より小さくなっている。つまり、接続領域10cは、半田4に対する濡れ性が高くなっている。
 配線部材210のブロック部材12は、上記の半導体発光装置1における配線部材10のブロック部材12と同じである。半田付き基台201においても、ブロック部材12の上面がブロック領域10bになっている。したがって、ブロック領域10bの半田4に対する接触角は90度より大きい。このように、半田付き基台201では、ブロック領域10bの半田4に対する接触角が、接続領域10cの半田4に対する接触角よりも大きくなっている。
 ブロック領域10bは、上面視において、半導体レーザバー3の長手方向における接続領域10cの両外側に位置している。半田付き基台201には、一対のブロック部材12が設けられているので、ブロック領域10bも一対存在している。具体的には、ブロック領域10bは、上面視において、半導体レーザバー3の長手方向における接続領域10cの両外側に一対存在している。
 また、半田4は、上面視において、基台200の短手方向の一方側に寄せて配置されている。つまり、半田4は、基台2の短手方向の片側に偏在している。本実施の形態において、半田4は、第1配線本体111の上方に位置している。
 そして、図6に示される半田付き基台201を用いて半導体発光装置1を製造する際、まず、図7に示すようにして、半田付き基台201を作製する。図7は、実施の形態1に係る半田付き基台201を作製する方法を説明するための図である。なお、図7において、左図は、上面図であり、右図は、断面図である。
 まず、図7の(a)~(c)に示すように、第1工程として、配線部材210を有する基台200を準備する。本実施の形態では、配線本体211及びブロック部材12を含む配線部材210が形成された基台200を作製する。この第1工程では、半導体レーザバー3を実装したときに半田4に接続される第1接続部材とブロック部材12とを順に形成することで配線部材210を形成する。本実施の形態では、半田4に接続される第1接続部材として第2金属層11bが含まれる配線部材210を形成する。
 具体的には、まず、図7の(a)に示すように、支持体20を準備する。本実施の形態では、AlNからなる直方体の支持体20を準備した。
 次いで、図7の(b)に示すように、支持体20の上面に、第1金属層11aと第2金属層11bと第3金属層11cとからなる配線本体211を所定の形状で形成する。本実施の形態では、第1金属層11a、第2金属層11b及び第3金属層11cとして、それぞれ、Au層、Pt層及びAu層をめっき法により形成した。なお、配線本体211は、第1配線本体111と第2配線本体112とに分離されている。
 次いで、図7の(c)に示すように、配線本体211の上に、一対のブロック部材12を形成する。具体的には、配線本体211の第3金属層11cの上に、所定の間隔をあけて対向するようにして、所定形状の一対のブロック部材12を形成する。本実施の形態において、一対のブロック部材12の各々は、矩形板状であり、上面視形状が、半導体レーザバー3の短手方向に長尺をなす長方形である。また、一対のブロック部材12は、配線本体211における第1配線本体111及び第2配線本体112のうち第1配線本体111の上に形成されている。なお、本実施の形態では、ブロック部材12としてPt層を形成した。
 このようにして、配線本体211とブロック部材12とで構成された配線部材210が形成された基台200を作製することができる。
 次に、図7の(d)に示すように、第2工程として、基台200の配線部材210の上面に所定形状の半田4を配置する。具体的には、半田4は、配線本体211の第3金属層11cの上に形成されている。第3金属層11cは、配線本体211の最上層であり、半田4が接続される接続領域10cである。つまり、半田4は、接続領域10cの上に配置される。
 また、第2工程では、半田4は、一対のブロック部材12の間に形成されている。つまり、半田4は、一対のブロック部材12で挟まれることになる。本実施の形態において、半田4は、矩形板状であり、上面視形状が、半導体レーザバー3の長手方向に長尺をなす長方形である。本実施の形態では、AuSn層(Au80%)である半田4を蒸着法により形成した。また、半田4の厚さは、ブロック部材12の厚さよりも厚くしている。
 以上により、配線本体211及びブロック部材12を有する配線部材210の上面に半田4が形成された半田付き基台201が完成する。
 次に、図8に示すように、第3工程として、半田付き基台201に半導体レーザバー3を実装する。図8は、半田付き基台201に半導体レーザバー3を実装する方法を説明するための図である。なお、図8において、左図は、上面図であり、右図は、断面図である。
 第3工程では、まず、図8の(a)に示すように、半田付き基台201の半田4の上に半導体レーザバー3をジャンクションダウンで配置し、次いで、図8の(b)に示すように、半導体レーザバー3を押さえ付けながら加熱して半田4を溶融させる。その後、溶融して液状になった半田4が硬化することで、半田4によって半導体レーザバー3を基台2に接合することができる。一例として、半田付き基台201を250℃まで加熱し、その後、半田付き基台201に半導体レーザバー3をジャンクションダウンで配置し、半田付き基台201の加熱温度を320℃として10秒保持し、その後、降温する。その後、図8の(c)に示すように、金ワイヤ6と給電ワイヤ7a及び7bとをワイヤボンディングする。これにより、半導体発光装置1が完成する。
 この第3工程では、図8の(b)に示すように、溶融して液状になった半田4は、半導体レーザバー3で押し付けられることになる。このため、液状の半田4は、半導体レーザバー3からの押圧によって、半導体レーザバー3と配線部材210との間で押し広げられることになる。
 ここで、半田4が接触する接触面の濡れ性が低いと、液状の半田4は、広がりが阻害(ブロック)される。本実施の形態では、半田4が接続される接続領域10aの両外側には、半田4に対する接触角が90度より大きいブロック領域10bが存在している。つまり、接続領域10aは、半田4に対して濡れ性が低い一対のブロック領域10bで挟まれている。これにより、接続領域10aから半導体レーザバー3の長手方向に広がる液状の半田4をブロック領域10bではじくことができるので、液状の半田4が半導体レーザバー3の長手方向に広がることを抑制できる。この結果、一対のブロック領域10bによってはじかれた液状の半田4の広がりは、半導体レーザバー3の短手方向(基台2の短手方向)に向けて促されることになる。つまり、液状の半田4の流れの向きを半導体レーザバー3の側面S3に向かう方向から半導体レーザバー3のリア端面S2に向かう方向へと変えることができる。このようにして、半導体レーザバー3の長手方向に流動する半田4を半導体レーザバー3の短手方向に向けて逃がすことができるので、半導体レーザバー3の側面S3から半田4がはみ出すことを抑制できる。
 特に、本実施の形態では、ブロック領域10bを上面に有する厚みのある一対のブロック部材12によって半田4を挟んでいるので、半導体レーザバー3の長手方向に流動する半田4は、低い濡れ性で液状の半田4の広がりを規制しているだけではなく、一対のブロック部材12の厚みによっても、液状の半田4が半導体レーザバー3の長手方向に移動することを物理的に規制している。具体的には、一対のブロック部材12の各々の内側の側面によって液状の半田4をせき止めることができる。つまり、一対のブロック部材12は、液状の半田4の流れを止めるストッパとしても機能している。これにより、半導体レーザバー3の長手方向の側面S3から半田4がはみ出すことを効果的に抑制できる。なお、一対のブロック部材12では、上面(ブロック領域10b)だけではなく側面も濡れ性が低くなっている。
 一方、半導体レーザバー3からの押圧によって半導体レーザバー3の短手方向に流動する半田4及び一対のブロック領域10b(ブロック部材12)によって半導体レーザバー3の短手方向に逃がされた半田4は、半導体レーザバー3のリア端面S2からはみ出すことになる。したがって、第3工程において、半田4には、半導体レーザバー3のリア端面S2から外側に延伸したリア側延伸部4aが形成される。
 このとき、本実施の形態では、半導体レーザバー3のリア端面S2からはみ出した半田4の下面の濡れ性が高くなっている。このため、リア側延伸部4aは、一部が盛り上がった状態に形成され、はみ出す方向に向かって距離が伸びにくい。具体的には、リア側延伸部4aの高さは、半導体レーザバー3の短手方向において、半導体レーザバー3から離れるにしたがって、いったん高くなった後に低くなる。
 また、第3工程では、図9に示すように、半田付き基台201を加熱しながら半田4に加熱用のレーザ光を照射するとよい。具体的には、まず、図9の(a)に示すように、半田4の上に半導体レーザバー3が配置された半田付き基台201をヒータ300で加熱し、次いで、図9の(b)に示すように、半田付き基台201をヒータ300で加熱しながら、半導体レーザバー3のリア端面S2よりも外側の領域に存在する半田4に加熱用のレーザ光を局所的に照射する。これにより、半田4における半導体レーザバー3のリア端面S2側に近い部分(後端部)の温度が、半田4における半導体レーザバー3のフロント端面S1に近い部分(前端部)の温度よりも高くなる。
 そして、図9の(c)に示すように、加熱用のレーザ光を照射し続けると、半田4は後端部の温度が前端部の温度よりも高い状態が維持される。液状の半田4は、温度が高い方が高い流動性を有する。このため、加熱用のレーザ光により後端部が加熱された液状の半田4には、後方側に向かう流れが発生する。これにより、液状の半田4は、半導体レーザバー3のリア端面S2から後方側に一層はみ出しやすくなる。
 このように、半田付き基台201を加熱しながら半田4の後端部に加熱用のレーザ光を局所的に照射することで、半田4に、一部が盛り上がったリア側延伸部4aを容易に形成することができる。なお、半田4の後端部を加熱するときのレーザ光の照射条件は、一例として、レーザ光としては波長が808nmのCWレーザ光を用い、レーザ光の出力を1W/cmとし、照射領域を1mm×10mm×10umとし、照射時間を0.5秒とし、有効吸収率を10%とし、想定温度差を20℃とした。
 また、本実施の形態では、図8の(a)に示すように、半田付き基台201の配線本体211の最上層である第3金属層11cに半田4が接して配置されている。そして、第3金属層11cは、Au層であり、半田4は、AnSn層である。このため、第3工程において、半導体レーザバー3を押さえ付けながら半田付き基台201を加熱して半田4を溶融させたときに、AuSn層である半田4は、Au層である第3金属層11cの上で溶融することになる。このとき、半田4の組成成分であるSnが第3金属層11cに拡散して第3金属層11cのAuを侵食するので、図8の(b)に示すように、AuとSnとが合金化して第3金属層11cが組成遷移領域であるAuSn層の合金化層11c1になる。つまり、半田4の下方に位置する第3金属層11cがAuSn層の合金化層11c1になる。これにより、配線部材210の一部である第3金属層11cと半田4とが組成遷移領域(合金化層11c1)を介して一体化することになる。したがって、半導体発光装置1における配線部材10と半田4との接合強度を向上させることができるので、半導体レーザバー3と基台2とを強固に接合することができる。
 このとき、本実施の形態では、第3工程において、半田付き基台201における半田4が配置された部分の第3金属層11cの全体が、AuSn層の合金化層11c1になっている。つまり、半田4が配置された部分の第3金属層11cの厚み方向の全体が半田4の一部になっている。したがって、第3工程によって、半田4は、半田4が配置された部分の第3金属層11cが合金化した合金化層11c1を取り込んだ状態となり、第2金属層11bと接合しているように見える。これにより、半田4が接続された第2金属層11bを含む配線本体11が形成される。
 以上説明したように、本実施の形態に係る半導体発光装置1は、配線部材10を有する基台2と、半導体レーザバー3と、配線部材10と半導体レーザバー3との間に配置された半田4と、を備えている。そして、配線部材10の半導体レーザバー3側の面には、半田4との界面である接続領域10aと、半田4に対する接触角が90度より大きいブロック領域10bとが含まれており、接続領域10aは、上面視において、半導体レーザバー3の長手方向における半導体レーザバー3の側面S3の内側に位置しており、ブロック領域10bの少なくとも一部は、上面視において、接続領域10aと半導体レーザバー3の側面S3との間に位置し、半導体レーザバー3の長手方向におけるブロック領域10bの内側部分は、半導体レーザバー3の側面S3よりも内側に位置している。つまり、半導体レーザバー3の長手方向において、接続領域10aの側方に、半田4に対する接触角が90度より大きいブロック領域10bが存在している。
 具体的には、本実施の形態における半導体発光装置1において、配線部材10は、半田4が接続する第1接続部材として第2金属層11bを含む配線本体11と、配線本体11の上方に位置するブロック部材12とを有しており、ブロック部材12の上面の少なくとも一部がブロック領域10bであり、第1接続部材である第2金属層11bの上面の少なくとも一部が接続領域10aである。
 このような構成の半導体発光装置1は、配線部材210を備える基台200を用いて作製することができる。具体的には、半田4に対する接触角が90度より小さい接続領域10cと半田4に対する接触角が90度より大きいブロック領域10bとを上面に含む配線部材210を備える基台200を用いることで、半田4を介して半導体レーザバー3を配線部材210に接合することができる。
 本実施の形態では、基台200に予め半田4が形成された半田付き基台201を用いて、半導体レーザバー3を配線部材210に接合している。具体的には、接続領域10cとブロック領域10bとを上面に含む配線部材210とこの配線部材210の接続領域10cに配置された半田4とを備える半田付き基台201を用いて、半導体レーザバー3を半田4を介して配線部材210に接合している。
 そして、基台200又は半田付き基台201を用いて半導体レーザバー3を実装する際、溶融して液状になった半田4によって、基台200又は半田付き基台201の配線部材210と半導体レーザバー3とが接合される。
 このとき、本実施の形態では、半導体レーザバー3の長手方向において、半田4が接続される接続領域10aの側方に、半田4に対する接触角が90度より大きいブロック領域10b(ブロック部材12の上面)が存在している。つまり、接続領域10aの側方には、半田4に対して濡れ性が低いブロック領域10bが存在している。
 これにより、溶融して液状になった半田4が半導体レーザバー3で押さえ付けられて広がっていってブロック領域10bに到達したときに、液状の半田4は、半田4に対する濡れ性が低いブロック領域10bではじかれることになる。つまり、半導体レーザバー3の長手方向に広がる液状の半田4をブロック領域10bではじくことができる。これにより、液状の半田4が半導体レーザバー3の長手方向に広がることを抑制できる。したがって、半導体レーザバー3の側面S3から外側に液状の半田4がはみ出して延伸することを抑制できる。この結果、半導体レーザバー3の側面S3に半田4が付着することで側面S3のpn接合が短絡してリークが生じることを抑制できる。
 また、本実施の形態において、ブロック領域10bではじかれた半田4は、半導体レーザバー3のリア端面S2からはみ出すことになる。これにより、半田4の後方部分にリア側延伸部4aが形成されることになる。半導体レーザバー3のリア端面S2には、半田4に対して濡れ性の低い材料からなるリア端面コート膜が形成されている。このため、このリア側延伸部4aは、半導体レーザバー3の側面S3には接しない。したがって、半導体レーザバー3のリア端面S2からはみ出した半田4が側面S3に回り込んで側面S3のpn接合が短絡することを抑制できる。
 さらに、半導体レーザバー3のリア端面S2から半田4がはみ出してリア側延伸部4aが形成されることで、半田4が外気に触れる面積が大きくなるので、半導体レーザバー3で発生する熱を後方側から効率的に放熱させることができる。
 また、本実施の形態における半導体発光装置1において、ブロック領域10bは、上面視において、半導体レーザバー3の長手方向における接続領域10aの両外側の各々に存在している。つまり、上面視において、半田4が接続される接続領域10aは、一対のブロック領域10bの間に存在している。具体的には、接続領域10aは、上面がブロック領域10bである一対のブロック部材12の間に位置している。同様に、基台200又は半田付き基台201において、半田4が配置される接続領域10cは、一対のブロック領域10b(ブロック部材12)の間に存在している。
 この構成により、一対のブロック領域10b(ブロック部材12)が、半田4が形成されていない部位として、半導体レーザバー3の長手方向の両端部付近に存在させることができる。これにより、半田4の中央部付近から半導体レーザバー3の一対の側面S3の各々に向かって広がった液状の半田4が、半田4の端部付近の広がりに影響を及ぼすことを抑制できる。したがって、液状の半田4が半導体レーザバー3の長手方向に広がることを一層抑制することができる。特に、本実施の形態のように、ブロック領域10b(ブロック部材12)を1つではなく複数設けることで、その効果が一層大きくなる。
 また、本実施の形態における半導体発光装置1において、ブロック領域10bは、上面視で、半導体レーザバー3の直下の部分からリア端面S2側の外方に延伸しており、また、半導体レーザバー3の側面S3におけるリア端面S2側の端部は、上面視で、ブロック領域に重なっている。
 この構成により、加熱溶融して液状になった半田4は、半導体レーザバー3の長手方向に広がろうとしても、半導体レーザバー3の側面S3に到達しにくくなる。これにより、半導体レーザバー3のリア端面S2からはみ出した半田4が半導体レーザバー3の側面S3まで回り込むことを効果的に抑制することができる。
 また、本実施の形態における半導体発光装置1では、図3Aに示すように、半田4と半導体レーザバー3との界面の幅W1が、半田4と配線部材10との界面の幅W2よりも大きくなっている。
 この構成により、半導体レーザバー3にブロック部材12を設ける場合と比べて、半導体発光装置1を小型化できるとともに、半導体レーザバー3等の部品の取り扱いが容易になる。
 また、本実施の形態における半導体発光装置1では、図5に示すように、半導体レーザバー3の下面外端とブロック領域10bの内端(ブロック部材12の上面内端)とを結ぶ直線と、半導体レーザバー3の下面とのなす角θ1は、45度未満になっている。
 この構成により、基台200又は半田付き基台201を用いて半導体レーザバー3を実装する際に、加熱により溶融した半田4がブロック部材12からはみ出すことを抑制できる。
 また、本実施の形態における半導体発光装置1では、図5に示すように、ブロック部材12の下面内端と複数の利得領域のうちブロック部材12に最も近い利得領域3cの外端とを結ぶ直線と、半導体レーザバー3の下面とのなす角θ2は、45度未満になっている。
 この構成により、最も外側に位置する利得領域3cからの放熱を十分に行うことができる。つまり、最も外側に位置する利得領域3cの熱を、他の利得領域3cと遜色なく放熱させることができる。
 (実施の形態1の変形例1)
 次に、実施の形態1の変形例1について、図10A~図10Dを用いて説明する。図10Aは、実施の形態1の変形例1に係る半導体発光装置1Aの上面図である。図10Bは、図10AのXB-XB線における断面図であり、図10Cは、図10AのXC-XC線における断面図であり、図10Dは、図10AのXD-XD線における断面図である。
 上記実施の形態1に係る半導体発光装置1では、半田付き基台201における配線部材210と半導体レーザバー3とを半田4によって接合する際、配線部材210の第3金属層11cのうちの半田4の下方に位置する部分が合金化して合金化層11c1になった。この結果、半導体発光装置1では、半導体レーザバー3と基台2とを接合する半田4は、配線部材10の配線本体11における第2金属層11bに接続されていた。つまり、上記実施の形態1では、配線本体11の第2金属層11bが半田4に接続される接続部材(第1接続部材)であり、半田4と配線部材10との界面である接続領域10aは、第2金属層11bの上面であった。
 一方、本変形例に係る半導体発光装置1Aでは、図10A~図10Dに示すように、半田付き基台201における配線部材210と半導体レーザバー3とが半田4によって接合される際に、配線部材210の第3金属層11cのうちの半田4の下方に位置する部分が合金化しておらず、残っている。この結果、半導体レーザバー3と基台2Aとを接合するAuSn層である半田4は、配線部材10Aの配線本体11Aにおける第3金属層11cと接続されている。したがって、本変形例において、半導体レーザバー3と基台2Aとを接合する半田4は、配線部材10Aの配線本体11Aにおける第3金属層11cと接続されている。つまり、本変形例では、配線本体11Aの第3金属層11cが半田4に接続される接続部材(第1接続部材)であり、半田4と配線部材10Aとの界面である接続領域10aは、配線部材10Aの第3金属層11cの上面である。具体的には、第3金属層11cは、Au層であるので、接続領域10aは、Auの表面である。半田4としてAuSnではなくSnを使用しない半田を使った場合、第3金属層11cは合金化せずに残ることになる。
 本変形例でも、ブロック部材12は、Pt層であるので、ブロック領域10bは、Ptの表面である。これにより、接続領域10aとブロック領域10bとの濡れ性の差を容易に実現することができる。また、ブロック領域10bは、半導体レーザバー3の長手方向における接続領域10aの両外側に位置している。
 なお、上記以外の構成については、本変形例に係る半導体発光装置1Aと上記実施の形態1に係る半導体発光装置1とは、基本的には同様の構成である。
 したがって、本変形例に係る半導体発光装置1Aは、上記実施の形態1に係る半導体発光装置1と同様の効果を奏する。例えば、本変形例でも、ブロック領域10bによって半導体レーザバー3の側面S3から液状の半田4がはみ出すことを抑制できるので、半導体レーザバー3の側面S3に半田4が付着して側面S3のpn接合が短絡してリークが生じることを抑制できる等の効果を奏する。
 なお、本変形例における半導体発光装置1Aでは、半田4の下方に存在する第3金属層11cが全く合金化していないが、これに限らない。例えば、図11に示す半導体発光装置1Bのように、配線部材10Bの配線本体11Bにおける第3金属層11cのうち、半田4の下方に存在する部分の一部が、合金化層11c1になっていてもよい。具体的には、加熱時間を少なく、もしくは加熱温度を低くすることにより、第3金属層11cの厚み方向の半導体レーザバー3側の上層部のみが合金化層11c1になってもよい。図11に示す半導体発光装置1Bでも、半導体レーザバー3と基台2Bとを接合する半田4は、配線部材10Bの配線本体11Bにおける第3金属層11cと接続されている。つまり、半田4と配線部材10Bとの界面である接続領域10aは、半田4と第3金属層11cとの界面である。
 (実施の形態1の変形例2)
 次に、実施の形態1の変形例2について、図12を用いて説明する。図12は、実施の形態1の変形例2に係る半導体発光装置1C及び半導体レーザバー3を実装するための基台200Cの構成を示す図である。図12において、(a)は、半導体レーザバー3を実装する際に用いられる基台200Cの上面図であり、(b)は、本変形例に係る半導体発光装置1Cの上面図であり、(c)は、(b)のc-c線における断面図であり、(d)は、(b)のd-d線における断面図である。なお、図12に示す半導体発光装置1Cにおいて、金ワイヤ6、給電ワイヤ7a及び7bは、省略している。
 図12の(b)~(c)に示すように、本変形例に係る半導体発光装置1Cは、上記実施の形態1に係る半導体発光装置1と同様に、配線本体11とブロック部材12Cとで構成された配線部材10Cを有する基台2Cと、半導体レーザバー3と、配線部材10Cと半導体レーザバー3とを接合する半田4とを備えている。
 また、図12の(a)に示すように、本変形例に係る基台200Cは、上記実施の形態1に係る基台200と同様に、配線本体11と一対のブロック部材12Cとで構成された配線部材210Cと、配線部材210Cを支持する支持体20とを備える。
 上記実施の形態1に係る半導体発光装置1では、半導体レーザバー3の長手方向における一対のブロック部材12の内側部分の間隔は、一定になっていたが、本変形例に係る半導体発光装置1Cでは、半導体レーザバー3の長手方向における一対のブロック部材12Cの内側部分の間隔が一定になっていない。
 具体的には、図12に示すように、半導体レーザバー3の長手方向における一対のブロック部材12Cの内側部分の間隔は、半導体レーザバー3のフロント端面S1側より半導体レーザバー3のリア端面S2側の方が大きくなっている。このため、半導体レーザバー3の長手方向における一対のブロック領域10bの内側部分の間隔は、フロント端面S1側である一方側よりもリア端面S2側である他方側(一方側とは反対側)の方が大きくなっている。
 また、ブロック部材12C(ブロック領域10b)の内側部分の間隔がこのように変化することで、本変形例における半導体発光装置1Cでは、図12の(b)に示すように、上面視において、半導体レーザバー3の長手方向における接続領域10aの幅は、フロント端面S1側よりリア端面S2側の方が大きくなっている。同様に、本変形例における基台200Cでは、図12の(a)に示すように、半導体レーザバー3の長手方向における接続領域10cの幅は、フロント端面S1側よりリア端面S2側の方が大きくなっている。
 本変形例において、各ブロック部材12Cの上面視形状は台形であり、一対のブロック部材12Cは、台形のテーパ部分(傾斜部分)が互いに対向するように配置されている。したがって、一対のブロック部材12C(ブロック領域10b)の内側部分の間隔は、半導体レーザバー3のフロント端面S1からリア端面S2側に向かって漸次大きくなっている。同様に、接続領域10a及び10cの幅も、半導体レーザバー3のフロント端面S1からリア端面S2側に向かって漸次大きくなっている。
 なお、上記以外の構成については、本変形例に係る半導体発光装置1Cと上記実施の形態1に係る半導体発光装置1とは、基本的には同様の構成である。
 したがって、本変形例に係る半導体発光装置1C及び基台200Cは、上記実施の形態1に係る半導体発光装置1及び基台200と同様の効果を奏する。例えば、本変形例においても、ブロック領域10bによって半導体レーザバー3の側面S3から液状の半田4がはみ出すことを抑制できるので、半導体レーザバー3の側面S3に半田4が付着して側面S3のpn接合が短絡してリークが生じることを抑制できる等の効果を奏する。
 また、本変形例に係る半導体発光装置1C及び基台200Cでは、半導体レーザバー3の長手方向における一対のブロック部材12C(ブロック領域10b)の内側部分の間隔が半導体レーザバー3のフロント端面S1側よりリア端面S2側の方が大きくなっている。
 液状の半田4は、半導体レーザバー3で押さえ付けられて広がったときにブロック領域10bで反射するような力が加わる。このとき、一対のブロック領域10bの内側部分の間隔が一定でない場合には、液状の半田4は、一対のブロック領域10bの内側部分の間隔が広い方に押し広げられることになる。本変形例では、一対のブロック領域10bの内側部分の間隔は、半導体レーザバー3のフロント端面S1側よりリア端面S2側の方が大きくなっている。したがって、半導体レーザバー3で押さえ付けられて広がった液状の半田4は、一対のブロック領域10bの内側部分の間隔が広いリア端面S2側に向けて押し広げられることになる。つまり、半導体レーザバー3の側面S3に向かって進行する成分の液状の半田4の流れの向きを半導体レーザバー3のリア端面S2の方向へと変える効果を促進させることができる。これにより、半導体レーザバー3の長手方向に流動する成分の半田4をさらに効果的に半導体レーザバー3の短手方向に向けて逃がすことができるので、半導体レーザバー3の側面S3から液状の半田4がはみ出すことを一層抑制できる。
 また、本変形例に係る半導体発光装置1C及び基台200Cでは、上面視において、半導体レーザバー3の長手方向における接続領域10a及び10cの幅が、半導体レーザバー3のフロント端面S1側よりリア端面S2側の方が大きくなっている。
 この構成により、接続領域10a及び10cの両外側に存在するブロック領域10bの長手方向の幅を、フロント端面S1側の幅<リア端面S2側の幅の関係を満たすように容易に実現することができる。
 なお、接続領域10a及び10cの幅を、フロント端面S1側の幅<リア端面S2側の幅の関係を満たすようにすることで、上記実施の形態1のように、半導体レーザバー3を配置する前の半田4の上面視形状が長方形であっても(つまり、溶融前の半田4の長手方向の幅が一定であっても)、液状の半田4がブロック領域10bでブロックされた結果、接続領域10aの長手方向の幅を一対のブロック領域10bの内側部分の幅と同じにすることができる。
 ただし、基台200に予め半田4を形成する場合、図13に示される半田付き基台201Cのように、半導体レーザバー3の長手方向における半田4の幅を、フロント端面S1側の幅<リア端面S2側の幅の関係を満たすようにするとよい。例えば、半田4の上面視形状を、フロント端面S1側の幅とリア端面S2側の幅とが同じである長方形ではなく、リア端面S2側の幅がフロント端面S1側の幅よりも大きい台形にするとよい。
 これにより、溶融して液状になった半田4が半導体レーザバー3によって押さえ付けられたときに、半導体レーザバー3の長手方向に流動する半田4を半導体レーザバー3の短手方向に向けてより効果的に逃がすことができる。したがって、半導体レーザバー3の側面S3から半田4がはみ出すことを一層抑制できる。
 (実施の形態1の変形例3)
 次に、実施の形態1の変形例3について、図14を用いて説明する。図14は、実施の形態1の変形例3に係る、半導体発光装置1D、半導体レーザバー3Dを実装するための基台200D、及び、半導体レーザバー3Dの構成を示す図である。図14において、(a)は、本変形例に係る半導体発光装置1Dの上面図であり、(b)は、(a)のb-b線における断面図であり、(c)は、本変形例における基台200の上面図であり、(d)は、本変形例に係る半導体レーザバー3Dをパッド電極5側(p側電極側)から見たときの平面図である。なお、図14に示す半導体発光装置1Dにおいて、金ワイヤ6、給電ワイヤ7a及び7bは、省略している。
 図14の(a)及び(b)に示すように、本変形例に係る半導体発光装置1Dは、上記実施の形態1に係る半導体発光装置1と同様に、配線本体11及びブロック部材12で構成された配線部材10を有する基台2と、半導体レーザバー3Dと、配線部材10と半導体レーザバー3Dとを接合する半田4とを備えている。なお、図14の(c)に示すように、本変形例に係る基台200は、上記実施の形態1に係る基台200と同じ構成である。
 上記実施の形態1に係る半導体発光装置1と本変形例に係る半導体発光装置1Dとは、半導体レーザバー3Dの構成が異なる。具体的には、図14の(b)及び(d)に示すように、本変形例に係る半導体レーザバー3Dは、上記実施の形態1に係る半導体レーザバー3に対して、さらに、基台2と対向する側に、一対のレーザ側ブロック部材8を備えている。
 一対のレーザ側ブロック部材8は、半導体レーザバー3Dの長手方向におけるパッド電極5の外側両端部に設けられている。具体的には、一対のレーザ側ブロック部材8の一方は、パッド電極5の両端部の一方に積層されており、一対のレーザ側ブロック部材8の他方は、パッド電極5の両端部の他方に積層されている。
 一対のレーザ側ブロック部材8の各々の表面は、半田4に対する接触角が90度より大きくなっており、ブロック領域10bと同様に、液状の半田4に対する濡れ性が低い。つまり、本変形例における半導体発光装置1Dは、ブロック領域10bを第1ブロック領域とすると、レーザ側ブロック部材8の表面は、第2ブロック領域となる。また、ブロック部材12を第1ブロック部材とすると、レーザ側ブロック部材8は、第2ブロック部材である。一例として、レーザ側ブロック部材8は、Pt層である。
 レーザ側ブロック部材8は、単一層で構成されていてもよいし、複数層で構成されていてもよい。レーザ側ブロック部材8が複数層で構成されている場合、レーザ側ブロック部材8の最上層をPt層とすることで、レーザ側ブロック部材8の表面の接触角を90度より大きくすることができる。また、レーザ側ブロック部材8は、パッド電極5の一部であってもよい。
 なお、上記以外の構成については、本変形例に係る半導体発光装置1Dと上記実施の形態1に係る半導体発光装置1とは、基本的には同様の構成である。
 したがって、本変形例に係る半導体発光装置1Dは、上記実施の形態1に係る半導体発光装置1と同様の効果を奏する。例えば、本変形例においても、ブロック領域10bによって液状の半田4をはじくことができるので、半導体レーザバー3の側面S3から液状の半田4がはみ出すことを抑制できる等の効果を奏する。
 また、本変形例に係る半導体発光装置1Dでは、さらに、半導体レーザバー3Dに、半田4に対する接触角が90度より大きい表面を有する一対のレーザ側ブロック部材8が設けられている。
 この構成により、ブロック部材12(ブロック領域10b)だけではなく、一対のレーザ側ブロック部材8によっても液状の半田4をはじくことができる。これにより、半導体レーザバー3の側面S3から液状の半田4がはみ出すことを一層抑制できる。したがって、半導体レーザバー3の側面S3に半田4が付着して側面S3のpn接合が短絡してリークが生じることをさらに抑制できる。
 また、図示しないが、一対のレーザ側ブロック部材8の内端間の間隔は、半導体レーザバー3のフロント端面S1側よりリア端面S2側の方が大きくなっているとよい。これにより、半導体レーザバー3の長手方向に流動する半田4を効果的に半導体レーザバー3の短手方向に向けて逃がすことができるので、半導体レーザバー3の側面S3から液状の半田4がはみ出すことをさらに抑制できる。
 なお、本変形例は、以下の実施の形態2、3にも適用することができる。
 (実施の形態1の変形例4)
 次に、実施の形態1の変形例4について、図15を用いて説明する。図15は、実施の形態1の変形例4に係る半導体発光装置1E及び半導体レーザバー3を実装するための基台200Eの構成を示す図である。図15において、(a)は、本変形例に係る基台200Eの上面図であり、(b)は、本変形例に係る半導体発光装置1Eの上面図であり、(c)は、本変形例に係る半導体発光装置1Eの正面図である。なお、図15に示す半導体発光装置1Eにおいて、金ワイヤ6、給電ワイヤ7a及び7bは、省略している。
 図15の(b)及び(c)に示すように、本変形例に係る半導体発光装置1Eは、上記実施の形態1に係る半導体発光装置1と同様に、配線本体11とブロック部材12Eとで構成された配線部材10Eを有する基台2Eと、半導体レーザバー3と、配線部材10Eと半導体レーザバー3とを接合する半田4とを備えている。
 また、図15の(a)に示すように、本変形例に係る基台200Eは、上記実施の形態1に係る基台200と同様に、配線本体11と一対のブロック部材12Eとで構成された配線部材210Eと、配線部材210Eを支持する支持体20とを備える。
 上記実施の形態1に係る半導体発光装置1及び基台200では、一対のブロック部材12は連結されておらず、一対のブロック部材12の各々は分離されて島状に形成されていたが、本変形例に係る半導体発光装置1E及び基台200Eでは、図15に示すように、一対のブロック部材12Eは、連結部12aによって連結されている。
 具体的には、連結部12aは、一対のブロック部材12Eにおけるフロント端面S1側の部分を連結している。このため、本変形例では、上面視において、ブロック領域10bは、接続領域10aよりもフロント端面S1側に、連結部12aの上面であるフロント側ブロック領域10b1を含んでいる。連結部12aは、ブロック部材12Eと同じ材料で構成されており、また、ブロック部材12Eと同じ厚さである。したがって、連結部12aの上面であるフロント側ブロック領域10b1は、半田4に対する濡れ性が低くなっている。
 なお、上記以外の構成については、本変形例に係る半導体発光装置1Eと上記実施の形態1に係る半導体発光装置1とは、基本的には同様の構成である。
 したがって、本変形例に係る半導体発光装置1Eは、上記実施の形態1に係る半導体発光装置1と同様の効果を奏する。例えば、本変形例でも、ブロック領域10bによって半導体レーザバー3の側面S3から液状の半田4がはみ出すことを抑制できるので、半導体レーザバー3の側面S3に半田4が付着して側面S3のpn接合が短絡してリークが生じることを抑制できる等の効果を奏する。
 また、本変形例における半導体発光装置1Eでは、ブロック領域10bは、接続領域10aよりもフロント端面S1側に、フロント側ブロック領域10b1を含んでいる。
 この構成により、液状の半田4を半導体レーザバー3のリア端面S2側に効果的に逃がすことができるので、半導体レーザバー3の側面S3から液状の半田4がはみ出すことを一層抑制できる。しかも、ブロック領域10bがフロント側ブロック領域10b1を含んでいることで、フロント端面S1から半田4がはみ出すことを抑制できるので、フロント端面S1からはみ出した半田4によって半導体レーザバー3から出射するレーザ光がけられてしまうことを抑制することもできる。
 なお、本変形例は、以下の実施の形態2、3にも適用することができる。
 (実施の形態1の変形例5)
 次に、実施の形態1の変形例5について、図16を用いて説明する。図16は、実施の形態1の変形例5に係る半導体発光装置1Fの断面図である。なお、図16では、半導体レーザバー3のリッジ部3a及び絶縁膜3bは省略している。
 図16に示すように、本変形例に係る半導体発光装置1Fは、上記実施の形態1に係る半導体発光装置1と同様に、配線本体11及びブロック部材12で構成された配線部材10を有する基台2と、半導体レーザバー3と、配線部材10と半導体レーザバー3とを接合する半田4とを備えている。
 上記実施の形態1に係る半導体発光装置1と本変形例に係る半導体発光装置1Fとは、半導体レーザバー3の形態が異なる。具体的には、上記実施の形態1に係る半導体発光装置1では、半導体レーザバー3に反りが発生していなかったのに対して、本変形例に係る半導体発光装置1Fでは、半導体レーザバー3に反りが発生している。
 長尺状の半導体レーザバー3は、長手方向に反りが発生しやすい。特に、本変形例のように、GaN系半導体材料等の窒化物半導体材料によって構成された半導体レーザバー3は、GaAs系半導体材料によって構成された半導体レーザバーと比べて、反りが大きくなる。
 このため、窒化物半導体材料によって構成された半導体レーザバー3の反りを押さえようとすると、より大きな力を半導体レーザバー3にかけることになり、半導体レーザバー3にダメージを与えてしまう。
 一方、基台200又は半田付き基台201を用いて半導体レーザバー3を配線部材210に接続する際、半導体レーザバー3の反りを押さえようとして半導体レーザバー3を強く押し込むと、液状の半田4が半導体レーザバー3の側面S3からはみ出しやすくなってしまう。
 この点、本変形例に係る半導体発光装置1Fでは、配線部材210に、半田4に対する濡れ性が低いブロック領域10bが存在しているので、半導体レーザバー3の側面S3から液状の半田4がはみ出すことを抑制できる。
 そこで、図16に示すように、本変形例に係る半導体発光装置1Fでは、半導体レーザバー3を基台2に実装する際に半導体レーザバー3を押さえ付ける力を弱くして、半導体レーザバー3に多少の反りを残した状態で反りを矯正して、半導体レーザバー3と配線部材10とを半田4で接合している。
 これにより、長手方向の反りが大きくなりやすい窒化物半導体材料によって構成された半導体レーザバー3を用いたとしても、半導体レーザバー3に大きなダメージを与えることなく、半導体レーザバー3の側面S3から液状の半田4がはみ出すことを抑制することができる。
 一例として、共振器長が0.9mmで、長手方向の長さ(バー長)が10mmで、基板厚さが100μmのGaN系の半導体レーザバー3を用いた場合、反りを矯正しなかったときの半導体レーザバー3の反り量(端部と中央部との高さの最大差)は、18μm程度である。つまり、押圧前の半導体レーザバー3の反り量は18μmである。この場合、押圧後の反り量が9μm程度となるように半導体レーザバー3に押圧を付与して反りを矯正するとよい。
 なお、図16では、半導体レーザバー3は、パッド電極5側が凹となるように(つまり上に凸となるように)反っていたが、図17に示される半導体発光装置1Fのように、パッド電極5側が凸となるように(つまり下に凸となるように)反っていてもよい。図16において、半導体レーザバー3の反り量は、図17における半導体レーザバー3の反り量と同等である。
 また、本変形例は、以下の実施の形態2、3にも適用することができる。
 (実施の形態2)
 次に、実施の形態2に係る半導体発光装置1Gの構成について、図18、図19、図20A、図20B及び図20Cを用いて説明する。図18は、実施の形態2に係る半導体発光装置1Gの上面図である。図19は、実装の形態2に係る半導体発光装置1Gの正面図である。図20A、図20B及び図20Cは、それぞれ、図18のXXA-XXA線、XXB-XXB線及びXXC-XXC線における実施の形態2に係る半導体発光装置1Gの断面図である。
 図18~図20Cに示すように、実施の形態2に係る半導体発光装置1Gは、上記実施の形態1に係る半導体発光装置1と同様に、配線本体11及びブロック部材12Gで構成された配線部材10Gを有する基台2Gと、半導体レーザバー3と、配線部材10Gと半導体レーザバー3とを接合する半田4とを備えている。
 上記実施の形態1に係る半導体発光装置1では、配線本体11の上に一対のブロック部材12が設けられていた。具体的には、一対のブロック部材12は、配線本体11を構成する複数の金属層のうち半田4が接続される接続部材(第1接続部材)である第2金属層11bに積層された第3金属層11cの上に設けられていた。
 これに対して、本実施の形態に係る半導体発光装置1Gでは、配線本体11と一対のブロック部材12Gとは、同一面に設けられている。具体的には、配線本体11と一対のブロック部材12Gとは、いずれも支持体20の上面に設けられている。このため、第1配線本体111は、ブロック部材12Gを迂回する形で、半田4と給電ワイヤ7aとの接続領域とをつないでいる。また、基台2Gの面積をできるだけ少なくする望ましい構成においては、第2配線本体112は、第1配線本体111が迂回する方のブロック部材12G近傍においては、半導体レーザバー3に沿った部分に存在しない構成をとることがある。この場合、第2配線本体112と半導体レーザバー3とを架橋する金ワイヤ6は一部平行ではない構成をとる。
 また、本実施の形態では、上記実施の形態1と同様に、配線本体11を構成する複数の金属層のうち半田4が接続される接続部材(第1接続部材)は第2金属層11bであり、配線部材10Gの第2金属層11bの上面の少なくとも一部が、半田4と配線部材10Gとの界面である接続領域10aになっている。そして、本実施の形態でも、一対のブロック部材12Gは、半導体レーザバー3の長手方向における接続領域10aの両外側に位置しており、また、一対のブロック部材12Gの上面の少なくとも一部が、ブロック領域10bである。
 図20Aに示すように、半導体発光装置1Gでは、同一平面に配置された配線本体11とブロック部材12Gとについて、配線本体11の高さが、ブロック部材12Gの高さよりも低くなっている。つまり、ブロック部材12Gの高さは、配線本体11の高さよりも高くなっている。また、配線本体11における第2金属層11bの上面である接続領域10aの高さ位置は、ブロック部材12Gの上面であるブロック領域10bの高さ位置より低い。
 なお、上記以外の構成については、本実施の形態に係る半導体発光装置1Gと上記実施の形態1に係る半導体発光装置1とは、基本的には同様の構成である。
 また、本実施の形態では、上記実施の形態1と同様に、半導体レーザバー3を半田4で配線部材10Gに接合する際に、半田4に接触する第3金属層11cが合金化層11c1となって半田4と一体化して配線本体11における半田4の下方部分に第3金属層11cが存在していないが、図21に示すように、半導体レーザバー3が配線部材10Gに接合される前の基台200Gについては、半田4が接続される領域に、配線部材210Gの配線本体211の第3金属層11cが存在している。図21は、半導体レーザバー3が接合される前の基台200Gの構成を示す図である。図21において、(a)は、基台200Gの上面図であり、(b)は、(a)のb-b線における断面図である。
 図21に示すように、本実施の形態に係る基台200Gは、上記実施の形態1に係る基台200と同様に、配線本体11と一対のブロック部材12Gとで構成された配線部材210Gと、配線部材210Gを支持する支持体20とを備える。
 また、図22に示すように、本実施の形態における半導体発光装置1Gにおいても、上記実施の形態1と同様に、半導体レーザバー3の下面外端とブロック領域10bの内端(ブロック部材12Gの上面内端)とを結ぶ直線と、半導体レーザバー3の下面とのなす角θ1は、45度未満になっている。さらに、ブロック部材12Gの下面内端と複数の利得領域3cのうちブロック部材12Gに最も近い利得領域3cの外端とを結ぶ直線と、半導体レーザバー3の下面とのなす角θ2も、上記実施の形態1と同様に、45度未満になっている。これにより、上記実施の形態1と同様の効果を奏する。
 次に、実施の形態2に係る半導体発光装置1Gの製造方法について説明する。具体的には、半田4によって半導体レーザバー3と基台2Gの配線部材10Gとを接合する方法について説明する。
 本実施の形態でも、図23に示すように、支持体20に予め半田4が形成された半田付き基台201Gを用いて半導体レーザバー3を実装している。図23は、実施の形態2に係る半田付き基台201Gの構成を示す図である。図23において、(a)は、半田付き基台201Gの上面図であり、(b)は、(a)のb-b線における断面図である。
 図23に示すように、本実施の形態に係る半田付き基台201Gは、図21に示される基台200Gに半田4が配置された構成になっている。具体的には、半田付き基台201Gは、配線本体211とブロック部材12Gとで構成された配線部材210Gが形成された直方体の支持体20(基台)と、配線部材210Gの上面に配置された半田4とを備える。配線部材210Gの上面は、半田4との界面である接続領域10cである。配線部材210Gの配線本体211と一対のブロック部材12Gとは、同一面に設けられている。
 そして、図23に示される半田付き基台201Gを用いて半導体発光装置1Gを製造する際、まず、図24に示すようにして、半田付き基台201Gを作製する。図24は、実施の形態2に係る半田付き基台201Gを作製する方法を説明するための図である。なお、図24において、左図は、上面図であり、右図は、断面図である。
 まず、図24の(a)~(c)に示すように、第1工程として、配線部材210Gを有する基台200Gを準備する。具体的には、配線本体211及びブロック部材12Gを含む配線部材210Gが形成された基台200Gを作製する。上記実施の形態1と同様に、この第1工程では、半導体レーザバー3を実装したときに半田4に接続される第1接続部材とブロック部材12Gとを順に形成することで配線部材210Gを形成する。本実施の形態でも、半田4に接続される第1接続部材として第2金属層11bが含まれる配線部材210Gを形成する。
 具体的には、まず、図24の(a)に示すように、支持体20を準備する。次いで、図24の(b)に示すように、支持体20の上面に、第1金属層11aと第2金属層11bと第3金属層11cとからなる配線本体211を所定の形状で形成する。このとき、配線本体211には、一対のブロック部材12Gを形成するための一対の開口部211aを形成する。次いで、図24の(c)に示すように、支持体20の上面に、一対のブロック部材12Gを形成する。つまり、一対のブロック部材12Gを、配線本体211と同一面に形成する。具体的には、配線本体211に形成された一対の開口部211aの各々に、Pt層であるブロック部材12Gを形成する。このようにして、配線本体211とブロック部材12Gとで構成された配線部材210Gが形成された基台200Gを作製することができる。
 次に、図24の(d)に示すように、第2工程として、基台200Gの配線部材210Gの上面に所定形状の半田4を配置する。具体的には、半田4は、配線本体211の第3金属層11c(接続領域10c)の上に形成されている。一例として、半田4は、矩形板状であり、上面視形状が、半導体レーザバー3の長手方向に長尺をなす長方形である。本実施の形態では、AuSn層(Au80%)である半田4を蒸着法により形成した。以上により、配線本体211の上面に半田4が形成された半田付き基台201Gが完成する。
 次に、図25に示すように、第3工程として、半田付き基台201Gに半導体レーザバー3を実装する。図25は、半田付き基台201Gに半導体レーザバー3を実装する方法を説明するための図である。なお、図25において、左図は、上面図であり、右図は、断面図である。
 第3工程では、上記実施の形態1と同様に、まず、図25の(a)に示すように、半田付き基台201Gの半田4の上に半導体レーザバー3をジャンクションダウンで配置し、次いで、図25の(b)に示すように、半導体レーザバー3を押さえ付けながら加熱して半田4を溶融させる。その後、溶融して液状になった半田4が硬化することで、半田4によって半導体レーザバー3を基台2Gに接合することができる。一例として、上記実施の形態1と同様に、半田付き基台201Gを250℃まで加熱し、その後、半田付き基台201Gに半導体レーザバー3をジャンクションダウンで配置し、半田付き基台201Gの加熱温度を320℃として10秒保持し、その後、降温する。その後、図25の(c)に示すように、金ワイヤ6と給電ワイヤ7a及び7bとをワイヤボンディングする。これにより、半導体発光装置1Gが完成する。
 この第3工程では、図25の(b)に示すように、溶融して液状になった半田4は、半導体レーザバー3で押し付けられることになるので、液状の半田4は、半導体レーザバー3からの押圧によって半導体レーザバー3と配線部材210Gとの間で押し広げられることになる。このとき、本実施の形態では、上記実施の形態1と同様に、半田4が接続される接続領域10cの両外側に、半田4に対する接触角が90度より大きいブロック領域10bが存在している。これにより、半導体レーザバー3の長手方向に広がる液状の半田4をブロック領域10bではじくことができるので、半導体レーザバー3の側面S3から半田4がはみ出すことを抑制できる。
 特に、本実施の形態では、半田4が接続される接続領域10cの高さ位置がブロック領域10bの高さ位置より低くなっている。つまり、ブロック領域10bの高さ位置は、接続領域10cの高さ位置よりも高くなっている。具体的には、一対のブロック部材12Gの厚みが配線本体211の厚みよりも厚くなっている。
 この構成により、一対のブロック部材12Gの各々の内側の側面によって液状の半田4をせき止めることができ、液状の半田4が半導体レーザバー3の長手方向に広がろうとするときの抵抗力が増加する。これにより、液状の半田4が半導体レーザバー3の長手方向に広がることを抑制できるので、半導体レーザバー3の側面S3から半田4がはみ出すことを一層抑制できる。
 なお、本実施の形態でも、上記実施の形態1と同様に、第3工程において、半田付き基台201Gをヒータ等で加熱しながら半田4の後端部に局所的に加熱用のレーザ光を照射してもよい。また、本実施の形態でも、第3工程において、半田4の下方に位置する第3金属層11cが合金化層11c1になるので、配線部材10Gと半田4との接合強度を向上させることができる。
 以上説明したように、本実施の形態に係る半導体発光装置1Gは、上記実施の形態1に係る半導体発光装置1と同様に、配線部材10Gを有する基台2Gと、半導体レーザバー3と、配線部材10Gと半導体レーザバー3との間に配置された半田4と、を備えている。そして、配線部材10Gの半導体レーザバー3側の面には、半田4との界面である接続領域10aと、半田4に対する接触角が90度より大きいブロック領域10bとが含まれており、接続領域10aは、上面視において、半導体レーザバー3の長手方向における半導体レーザバー3の側面S3の内側に位置しており、ブロック領域10bの少なくとも一部は、上面視において、接続領域10aと半導体レーザバー3の側面S3との間に位置し、半導体レーザバー3の長手方向におけるブロック領域10bの内側部分は、半導体レーザバー3の側面S3よりも内側に位置している。
 具体的には、本実施の形態における半導体発光装置1Gにおいて、配線部材10Gは、半田4が接続する第1接続部材として第2金属層11bを含む配線本体11と、配線本体11と同一面に設けられたブロック部材12Gとを有しており、ブロック部材12Gの上面の少なくとも一部がブロック領域10bであり、第1接続部材である第2金属層11bの上面の少なくとも一部が接続領域10aである。
 ここで、ブロック部材12Gの材料としてPtを用いているが、ブロック部材12Gの材料は導電性材料に限らない。ブロック部材12Gの材料は、SiOxやNiOx等の絶縁性材料であってもよい。
 このような構成の半導体発光装置1Gは、配線部材210Gを備える基台200Gを用いて作製することができる。本実施の形態では、上記のように、基台200Gに予め半田4が形成された半田付き基台201Gを用いて、半導体レーザバー3を半田4を介して配線部材210Gに接合している。
 そして、基台200G又は半田付き基台201Gを用いて半導体レーザバー3を実装する際、溶融して液状になった半田4によって、基台200G又は半田付き基台201Gの配線部材210Gと半導体レーザバー3とが接合される。
 このとき、本実施の形態では、上記実施の形態1と同様に、半導体レーザバー3の長手方向において、半田4が接続される接続領域10aの側方に、半田4に対する接触角が90度より大きいブロック領域10b(ブロック部材12Gの上面)が存在している。
 これにより、溶融して液状になった半田4は、半田4に対する濡れ性が低いブロック領域10bではじかれることになるので、液状の半田4が半導体レーザバー3の長手方向に広がることを抑制できる。したがって、半導体レーザバー3の側面S3から外側に液状の半田4がはみ出すことを抑制できるので、半導体レーザバー3の側面S3に半田4が付着して側面S3のpn接合が短絡してリークが生じることを抑制できる。
 (実施の形態2の変形例1)
 次に、実施の形態2の変形例1について、図26A~図26Dを用いて説明する。図26Aは、実施の形態2の変形例1に係る半導体発光装置1Hの上面図である。図26Bは、図26AのXXVIB-XXVIB線における断面図であり、図26Cは、図26AのXXVIC-XXVIC線における断面図であり、図26Dは、図26AのXXVID-XXVID線における断面図である。
 上記実施の形態2に係る半導体発光装置1Gでは、半田付き基台201Gにおける配線部材210Gと半導体レーザバー3とを半田4によって接合する際、配線部材210Gの第3金属層11cのうちの半田4の下方に位置する部分が合金化して合金化層11c1になった。この結果、半導体発光装置1Gでは、半導体レーザバー3と基台2Gとを接合する半田4は、配線部材10Gの配線本体11における第2金属層11bに接続されていた。つまり、上記実施の形態2では、配線本体11の第2金属層11bが半田4に接続される接続部材(第1接続部材)であり、半田4と配線部材10Gとの界面である接続領域10aは、第2金属層11bの上面であった。
 一方、本変形例に係る半導体発光装置1Hでは、図26A~図26Dに示すように、配線部材10Hと半導体レーザバー3とが半田4によって接合される際に、配線部材10Hの第3金属層11cのうちの半田4の下方に位置する部分が合金化しておらず、残っている。この結果、半導体レーザバー3と基台2Hとを接合するAuSn層である半田4は、配線部材10Hの配線本体11Hにおける第3金属層11cと接続されている。したがって、本変形例において、半導体レーザバー3と基台2Hとを接合する半田4は、配線部材10Hの配線本体11Hにおける第3金属層11cと接続されている。つまり、本変形例では、配線本体11Hの第3金属層11cが半田4に接続される接続部材(第1接続部材)であり、半田4と配線部材10Hとの界面である接続領域10aは、配線部材10Hの第3金属層11cの上面である。具体的には、第3金属層11cは、Au層であるので、接続領域10aは、Auの表面である。
 本変形例でも、ブロック部材12Hは、Pt層であるので、ブロック領域10bは、Ptの表面である。これにより、接続領域10aとブロック領域10bとの濡れ性の差を容易に実現することができる。また、ブロック領域10bは、半導体レーザバー3の長手方向における接続領域10aの両外側に位置している。
 なお、上記以外の構成については、本変形例に係る半導体発光装置1Hと上記実施の形態2に係る半導体発光装置1Gとは、基本的には同様の構成である。
 したがって、本変形例に係る半導体発光装置1Hは、上記実施の形態2に係る半導体発光装置1Gと同様の効果を奏する。例えば、本変形例でも、ブロック領域10bによって半導体レーザバー3の側面S3から液状の半田4がはみ出すことを抑制できるので、半導体レーザバー3の側面S3に半田4が付着して側面S3のpn接合が短絡してリークが生じることを抑制できる等の効果を奏する。
 なお、本変形例における半導体発光装置1Hでは、半田4の下方に存在する第3金属層11cが全く合金化していないが、これに限らない。例えば、配線部材10Hの配線本体11Hにおける第3金属層11cのうち、半田4の下方に存在する部分の一部が、合金化層11c1になっていてもよい。
 (実施の形態2の変形例2)
 次に、実施の形態2の変形例2について、図27を用いて説明する。図27は、実施の形態2の変形例2に係る半導体発光装置1I及び半導体レーザバー3を実装するための基台200Iの構成を示す図である。図27において、(a)は、半導体レーザバー3を実装する際に用いられる基台200Iの上面図であり、(b)は、本変形例に係る半導体発光装置1Iの上面図であり、(c)は、(b)のc-c線における断面図であり、(d)は、(b)のd-d線における断面図である。なお、図27に示す半導体発光装置1Iにおいて、金ワイヤ6、給電ワイヤ7a及び7bは、省略している。
 図27の(b)~(c)に示すように、本変形例に係る半導体発光装置1Iは、上記実施の形態2に係る半導体発光装置1Gと同様に、配線本体11とブロック部材12Iとで構成された配線部材10Iを有する基台2Iと、半導体レーザバー3と、配線部材10Iと半導体レーザバー3とを接合する半田4とを備えている。
 また、図27の(a)に示すように、本変形例に係る基台200Iは、上記実施の形態2に係る基台200Gと同様に、配線本体11と一対のブロック部材12Iとで構成された配線部材210Iと、配線部材210Iを支持する支持体20とを備える。
 上記実施の形態2に係る半導体発光装置1Gでは、半導体レーザバー3の長手方向における一対のブロック部材12Gの内側部分の間隔は、一定になっていたが、本変形例に係る半導体発光装置1Iでは、半導体レーザバー3の長手方向における一対のブロック部材12Iの内側部分の間隔が一定になっていない。
 具体的には、図27に示すように、半導体レーザバー3の長手方向における一対のブロック部材12Iの内側部分の間隔は、半導体レーザバー3のフロント端面S1側より半導体レーザバー3のリア端面S2側の方が大きくなっている。このため、半導体レーザバー3の長手方向における一対のブロック領域10bの内側部分の間隔は、フロント端面S1側である一方側よりもリア端面S2側である他方側(一方側とは反対側)の方が大きくなっている。
 また、ブロック部材12I(ブロック領域10b)の内側部分の間隔がこのように変化することで、本変形例における半導体発光装置1Iでは、図27の(b)に示すように、上面視において、半導体レーザバー3の長手方向における接続領域10aの幅は、フロント端面S1側よりリア端面S2側の方が大きくなっている。同様に、本変形例における基台200Iでは、図27の(a)に示すように、半導体レーザバー3の長手方向における接続領域10cの幅は、フロント端面S1側よりリア端面S2側の方が大きくなっている。
 本変形例において、各ブロック部材12Iの上面視形状は台形であり、一対のブロック部材12Iは、台形のテーパ部分(傾斜部分)が互いに対向するように配置されている。したがって、一対のブロック部材12I(ブロック領域10b)の内側部分の間隔は、半導体レーザバー3のフロント端面S1からリア端面S2側に向かって漸次大きくなっている。同様に、接続領域10a及び10cの幅も、半導体レーザバー3のフロント端面S1からリア端面S2側に向かって漸次大きくなっている。
 なお、上記以外の構成については、本変形例に係る半導体発光装置1Iと上記実施の形態2に係る半導体発光装置1Gとは、基本的には同様の構成である。
 したがって、本変形例に係る半導体発光装置1I及び基台200Iは、上記実施の形態2に係る半導体発光装置1G及び基台200Gと同様の効果を奏する。例えば、本変形例においても、ブロック領域10bによって半導体レーザバー3の側面S3から液状の半田4がはみ出すことを抑制できるので、半導体レーザバー3の側面S3に半田4が付着して側面S3のpn接合が短絡してリークが生じることを抑制できる等の効果を奏する。
 また、本変形例に係る半導体発光装置1I及び基台200Iでは、半導体レーザバー3の長手方向における一対のブロック部材12I(ブロック領域10b)の内側部分の間隔が半導体レーザバー3のフロント端面S1側よりリア端面S2側の方が大きくなっている。
 この構成により、半導体レーザバー3で押さえ付けられて広がった液状の半田4は、一対のブロック領域10bの内側部分の間隔が広いリア端面S2側に向けて押し広げられることになる。つまり、半導体レーザバー3の側面S3に向かって進行する液状の半田4の流れの向きを半導体レーザバー3のリア端面S2の方向へと変える効果を促進させることができる。これにより、半導体レーザバー3の長手方向に流動する半田4をさらに効果的に半導体レーザバー3の短手方向に向けて逃がすことができるので、半導体レーザバー3の側面S3から液状の半田4がはみ出すことを一層抑制できる。
 (実施の形態3)
 次に、実施の形態3に係る半導体発光装置1Jの構成について、図28、図29、図30A、図30B及び図30Cを用いて説明する。図28は、実施の形態3に係る半導体発光装置1Jの上面図である。図29は、実装の形態3に係る半導体発光装置1Jの正面図である。図30A、図30B及び図30Cは、それぞれ、図28のXXXA-XXXA線、XXXB-XXXB線及びXXXC-XXXC線における実施の形態3に係る半導体発光装置1Jの断面図である。
 図28~図30Cに示すように、実施の形態3に係る半導体発光装置1Jは、上記実施の形態1に係る半導体発光装置1と同様に、配線本体11Jとブロック部材12Jとで構成された配線部材10Jを有する基台2Jと、半導体レーザバー3と、配線部材10Jと半導体レーザバー3とを接合する半田4とを備えている。
 上記実施の形態1に係る半導体発光装置1では、配線本体11の上に一対のブロック部材12が設けられており、ブロック領域10bがブロック部材12の上面であった。具体的には、一対のブロック部材12は、配線本体11を構成する複数の金属層のうちの最上層の第3金属層11cの上に設けられていた。また、上記実施の形態1では、半田4が接続される接続部材(第1接続部材)である第2金属層11bの上面が接続領域10aであり、接続領域10aは、一対のブロック領域10b(ブロック部材12)の間に位置していた。
 これに対して、本実施の形態に係る半導体発光装置1Jでは、半田4が接続される接続領域10aとブロック領域10bとは、配線部材10Jのブロック部材12Jの上面に含まれている。一例として、ブロック部材12Jは、Pt層の単一層であり、配線本体11Jは、Au層の単一層である。したがって、配線部材10Jは、配線本体11Jとブロック部材12Jとの2層構造である。半田4に対する接触角が90度より大きいブロック領域10bは、半導体レーザバー3の長手方向における接続領域10aの両外側に位置している。
 なお、上記以外の構成については、本実施の形態に係る半導体発光装置1Jと上記実施の形態1に係る半導体発光装置1とは、基本的には同様の構成である。
 また、本実施の形態では、上記実施の形態1と同様に、半導体レーザバー3を半田4で配線部材10Jに接合する際に、半田4に接触する金属層が合金化層11c1となって半田4と一体化してその金属層が存在していないが、図31に示すように、半導体レーザバー3が配線部材10Jに接合される前の基台200Jについては、半田4が接続される領域に、配線部材210Jの一部として、ブロック部材12Jの上に金属層13が存在している。図31は、半導体レーザバー3が接合される前の基台200Jの構成を示す図である。図31において、(a)は、基台200Jの上面図であり、(b)は、(a)のb-b線における断面図である。
 図31に示すように、本実施の形態に係る基台200Jは、配線本体11Jとブロック部材12Jと金属層13とで構成された配線部材210Jと、配線部材210Jを支持する支持体20とを備える。
 また、図32に示すように、本実施の形態における半導体発光装置1Jでは、断面視において、半導体レーザバー3の下面外端と接続領域10aの外端とを結ぶ直線と、半導体レーザバー3の下面とのなす角θ1は、45度未満になっている。
 この構成により、基台200J又は半田付き基台201Jを用いて半導体レーザバー3を実装する際に、加熱により溶融した半田4がブロック領域10bからはみ出すことを抑制できる。
 また、接続領域10aの外端と複数の利得領域3cのうち接続領域10aの外端に最も近い利得領域3cの外端とを結ぶ直線と、半導体レーザバー3の下面とのなす角θ2は、45度未満になっている。
 この構成により、最も外側に位置する利得領域3cからの放熱を十分に行うことができる。つまり、最も外側に位置する利得領域3cの熱を、他の利得領域3cと遜色なく放熱させることができる。
 次に、実施の形態3に係る半導体発光装置1Jの製造方法について説明する。具体的には、半田4によって半導体レーザバー3と基台2Jの配線部材10Jとを接合する方法について説明する。
 本実施の形態でも、図33に示すように、支持体20に予め半田4が形成された半田付き基台201Jを用いて半導体レーザバー3を実装している。図33は、実施の形態3に係る半田付き基台201Jの構成を示す図である。図33において、(a)は、半田付き基台201Jの上面図であり、(b)は、(a)のb-b線における断面図である。
 図33に示すように、本実施の形態に係る半田付き基台201Jは、図31に示される基台200Jに半田4が配置された構成になっている。具体的には、半田付き基台201Jは、配線本体11Jとブロック部材12Jと金属層13とで構成された配線部材210Jが形成された直方体の支持体20(基台)と、配線部材210Jの上面に配置された半田4とを備える。配線部材210Jの上面は、半田4との界面である接続領域10cであり、本実施の形態では、金属層13の上面である。ブロック領域10bは、半導体レーザバー3の長手方向における接続領域10cの両外側に位置している。
 そして、図33に示される半田付き基台201Jを用いて半導体発光装置1Jを製造する際、まず、図34に示すようにして、半田付き基台201Jを作製する。図34は、実施の形態3に係る半田付き基台201Jを作製する方法を説明するための図である。なお、図34において、左図は、上面図であり、右図は、断面図である。
 まず、図34の(a)~(c)に示すように、第1工程として、配線部材210Jを有する基台200Jを準備する。具体的には、配線本体11J及びブロック部材12Jを含む配線部材210Jが形成された基台200Jを作製する。この第1工程では、配線本体11Jとブロック部材12Jと金属層13とを順に形成することで配線部材210Jを形成する。本実施の形態において、金属層13は、半田4に接続される接続部材(第2接続部材)である。
 具体的には、まず、図34の(a)に示すように、支持体20を準備する。次いで、図34の(b)に示すように、支持体20の上面に配線本体11Jを所定の形状で形成する。配線本体11Jは、第1配線本体111と第2配線本体112とで構成されている。次いで、図34の(c)に示すように、配線本体11Jの上面にブロック部材12Jを形成する。次いで、図34の(d)に示すように、ブロック部材12Jの上面に金属層13を形成する。このようにして、配線本体11J、ブロック部材12J及び金属層13を含む配線部材210Jが形成された基台200Jを作製することができる。なお、一例として、配線本体11JはAu層であり、ブロック部材12JはPt層であり、金属層13はAu層である。
 次に、図34の(e)に示すように、第2工程として、基台200Jの配線部材210Jの上面に所定形状の半田4を配置する。具体的には、半田4は、配線部材10Jの金属層13(接続領域10c)の上に配置される。ここで、金属層13と半田4とは同じマスクを用いて蒸着法で形成することにより、平面視で同じサイズにすることができる。一例として、半田4は、矩形板状であり、上面視形状が、半導体レーザバー3の長手方向に長尺をなす長方形である。また、AuSn層(Au80%)である半田4を蒸着法により形成した。以上により、半田4が形成された半田付き基台201Jが完成する。
 次に、図35に示すように、第3工程として、半田付き基台201Jに半導体レーザバー3を実装する。図35は、半田付き基台201Jに半導体レーザバー3を実装する方法を説明するための図である。なお、図35において、左図は、上面図であり、右図は、断面図である。
 第3工程では、上記実施の形態1と同様に、まず、図35の(a)に示すように、半田付き基台201Jの半田4の上に半導体レーザバー3をジャンクションダウンで配置し、次いで、図35の(b)に示すように、半導体レーザバー3を押さえ付けながら加熱して半田4を溶融させる。その後、溶融して液状になった半田4が硬化することで、半田4によって半導体レーザバー3を基台2Jに接合することができる。その後、図35の(c)に示すように、金ワイヤ6と給電ワイヤ7a及び7bとをワイヤボンディングする。これにより、半導体発光装置1Jが完成する。
 この第3工程では、図35の(b)に示すように、溶融して液状になった半田4は、半導体レーザバー3で押し付けられることになるので、液状の半田4は、半導体レーザバー3からの押圧によって半導体レーザバー3と配線部材10Jとの間で押し広げられることになるが、本実施の形態では、半田4が接続される接続領域10cの両外側が、半田4に対する接触角が90度より大きいブロック領域10bであるので、半導体レーザバー3の側面S3から半田4がはみ出すことを抑制できる。
 また、本実施の形態では、図35の(a)に示すように、半田付き基台201Jの配線部材210Jの最上層である金属層13に半田4が接して配置されている。そして、金属層13は、Au層であり、半田4は、AnSn層である。このため、第3工程において、半導体レーザバー3を押さえ付けながら半田付き基台201Jを加熱して半田4を溶融させたときに、AuSn層である半田4は、Au層である金属層13の上で溶融することになる。このとき、半田4の組成成分であるSnが金属層13に拡散して金属層13のAuを侵食するので、図35の(b)に示すように、AuとSnとが合金化して金属層13が組成遷移領域であるAuSn層の合金化層11c1になる。つまり、半田4の下方に位置する金属層13の全体がAuSn層の合金化層11c1になる。これにより、半田4との接続部材(第2接続部材)である金属層13と半田4とが組成遷移領域(合金化層11c1)を介して一体化することになる。したがって、半導体発光装置1Jにおける配線部材10Jと半田4との接合強度を向上させることができるので、半導体レーザバー3と基台2Jとを強固に接合することができる。
 特にAu層である金属層13が合金化層11c1になる際、金属層13のAuが蒸着等によってPt層であるブロック部材12JのPtと強固に結合している場合には、半田4が溶けながら合金化するので、合金化層11c1が完成した時に、半田4との接続部材である金属層13(Au層)の底面の形状が維持されるので、半田4の広がりが抑制される(いわゆるピン止め効果)が発揮し、半田4が半導体レーザバー3の長手方向に広がることを一層抑制できる。
 なお、本実施の形態でも、上記実施の形態1と同様に、第3工程において、半田付き基台201Jをヒータ等で加熱しながら半田4の後端部に局所的に加熱用のレーザ光を照射してもよい。
 以上説明したように、本実施の形態に係る半導体発光装置1Jは、上記実施の形態1に係る半導体発光装置1と同様に、配線部材10Jを有する基台2Jと、半導体レーザバー3と、配線部材10Jと半導体レーザバー3との間に配置された半田4と、を備えている。そして、配線部材10Jの半導体レーザバー3側の面には、半田4との界面である接続領域10aと、半田4に対する接触角が90度より大きいブロック領域10bとが含まれており、接続領域10aは、上面視において、半導体レーザバー3の長手方向における半導体レーザバー3の側面S3の内側に位置しており、ブロック領域10bの少なくとも一部は、上面視において、接続領域10aと半導体レーザバー3の側面S3との間に位置し、半導体レーザバー3の長手方向におけるブロック領域10bの内側部分は、半導体レーザバー3の側面S3よりも内側に位置している。
 具体的には、本実施の形態における半導体発光装置1Jにおいて、配線部材10Jは、ブロック部材12Jを有しており、接続領域10aとブロック領域10bとは、ブロック部材12Jの上面に含まれている。
 このような構成の半導体発光装置1Jは、配線部材210Jを備える基台200Jを用いて作製することができる。本実施の形態では、上記のように、基台200Jに予め半田4が形成された半田付き基台201Jを用いて、半導体レーザバー3を配線部材210Jに接合している。
 そして、基台200J又は半田付き基台201Jを用いて半導体レーザバー3を実装する際、加熱して液状になった半田4によって、基台200J又は半田付き基台201Jの配線部材210Jと半導体レーザバー3とが接合する。
 このとき、本実施の形態では、上記実施の形態1と同様に、半導体レーザバー3の長手方向において、半田4が接続される接続領域10aの側方に、半田4に対する接触角が90度より大きいブロック領域10b(ブロック部材12Jの上面)が存在している。
 これにより、半導体レーザバー3を実装する際、液状の半田4は、半田4に対する濡れ性が低いブロック領域10bではじかれることになるので、液状の半田4が半導体レーザバー3の長手方向に広がることを抑制できる。したがって、半導体レーザバー3の側面S3から外側に液状の半田4がはみ出すことを抑制できるので、半導体レーザバー3の側面S3に半田4が付着して側面S3のpn接合が短絡してリークが生じることを抑制できる。
 また、本実施の形態における半導体発光装置1Jでは、配線部材10Jがブロック部材12Jを有しており、接続領域10aとブロック領域10bとは、ブロック部材12Jの上面に含まれている。具体的には、本実施の形態では、濡れ性が低いブロック部材12J上に、蒸着等により強固に結合した接続部材である金属層13が形成されている。
 この構成により、いわゆるピン止め効果が発揮されるので、溶融したときの半田4の広がりを効果的に抑制することができる。
 (実施の形態3の変形例)
 次に、実施の形態3の変形例について、図36A~図36Dを用いて説明する。図36Aは、実施の形態3の変形例に係る半導体発光装置1Kの上面図である。図36Bは、図36AのXXXVIB-XXXVIB線における断面図であり、図36Cは、図36AのXXXVIC-XXXVIC線における断面図であり、図36Dは、図36AのXXXVID-XXXVID線における断面図である。
 上記実施の形態3に係る半導体発光装置1Jでは、半田付き基台201Jにおける配線部材210Jと半導体レーザバー3とを半田4によって接合する際、配線部材210Jの金属層13が合金化して合金化層11c1になった。この結果、半導体発光装置1Jでは、半導体レーザバー3と基台2Jとを接合する半田4は、配線部材10Jのブロック部材12Jに接続されていた。つまり、上記実施の形態3では、ブロック部材12Jが半田4に接続される接続部材(第2接続部材)であり、半田4と配線部材10Jとの界面である接続領域10aは、ブロック部材12Jの上面であった。
 一方、本変形例に係る半導体発光装置1Kでは、図36A~図36Dに示すように、配線部材10Kと半導体レーザバー3とが半田4によって接合される際に、配線部材10Kの金属層13が合金化しておらず、残っている。つまり、配線部材10Kは、配線本体11Jと、配線本体11Jの上に形成されたブロック部材12Jと、ブロック部材12Jの上に形成された金属層13とを有する。この結果、半導体レーザバー3と基台2Kとを接合するAuSn層である半田4は、配線部材10Kの金属層13と接続されている。つまり、本変形例では、配線部材10Kの金属層13が半田4に接続される接続部材(第2接続部材)であり、半田4と配線部材10Kとの界面である接続領域10aは、配線部材10Kの3金属層13の上面である。具体的には、金属層13は、Au層であるので、接続領域10aは、Auの表面である。半田4としてAuSnではなくSnを使用しない半田を使った場合、第3金属層11cは合金化せずに残ることになる。
 本変形例でも、ブロック部材12Jは、Pt層であるので、ブロック領域10bは、Ptの表面である。これにより、接続領域10aとブロック領域10bとの濡れ性の差を容易に実現することができる。また、ブロック領域10bは、半導体レーザバー3の長手方向における接続領域10aの両外側に位置している。
 なお、上記以外の構成については、本変形例に係る半導体発光装置1Kと上記実施の形態3に係る半導体発光装置1Jとは、基本的には同様の構成である。
 したがって、本変形例に係る半導体発光装置1Kは、上記実施の形態3に係る半導体発光装置1Jと同様の効果を奏する。例えば、本変形例でも、ブロック領域10bによって半導体レーザバー3の側面S3から液状の半田4がはみ出すことを抑制できるので、半導体レーザバー3の側面S3に半田4が付着して側面S3のpn接合が短絡してリークが生じることを抑制できる等の効果を奏する。
 また、本変形例に係る半導体発光装置1Kにおいて、配線部材10Kは、ブロック部材12Jと、ブロック部材12Jの上に位置する金属層13(第2接続部材)とを有しており、金属層13の上面の少なくとも一部が、接続領域10aであり、ブロック部材12Jの上面の少なくとも一部が、ブロック領域10bであり、ブロック領域10bは、半導体レーザバー3の長手方向における接続領域10aの両外側に位置している。
 具体的には、本実施の形態では、濡れ性が低いブロック部材12J上に、蒸着等により強固に結合した第2接続部材である金属層13が形成されている。
 この構成により、いわゆるピン止め効果が発揮されるので、溶融したときの半田4の広がりを効果的に抑制することができる。
 また、図37に示すように、本変形例における半導体発光装置1Kでは、断面視において、半導体レーザバー3の下面外端と接続領域10aの外端とを結ぶ直線と、半導体レーザバー3の下面とのなす角θ1は、45度未満になっている。
 この構成により、加熱により溶融した半田4がブロック領域10bからはみ出すことを抑制できる。
 また、ブロック領域10bの内端(本変形例では接続領域10aの外端でもある)と複数の利得領域3cのうち接続領域10aの外端に最も近い利得領域3cの外端とを結ぶ直線と、半導体レーザバー3の下面とのなす角θ2は、45度未満になっている。
 この構成により、最も外側に位置する利得領域3cからの放熱を十分に行うことができる。つまり、最も外側に位置する利得領域3cの熱を、他の利得領域3cと遜色なく放熱させることができる。
 なお、本変形例における半導体発光装置1Kでは、半田4の下方に存在する金属層13が全く合金化していないが、これに限らない。例えば、金属層13の一部が合金化層11c1になっていてもよい。
 (変形例)
 以上、本開示に係る半導体発光装置等について、実施の形態1~3に基づいて説明したが、本開示は、上記の実施の形態1~3に限定されるものではない。
 例えば、上記実施の形態1に係る半導体発光装置1及び基台200において、半導体レーザバー3の長手方向におけるブロック部材12(ブロック領域10b)の外側部分は、半導体レーザバー3の側面S3よりも外側に位置していたが、これに限らない。具体的には、図38及び図39に示される半導体発光装置1Lのように、基台2Lの配線部材10Lにおけるブロック部材12L(ブロック領域10b)については、半導体レーザバー3の長手方向の外側部分が、半導体レーザバー3の側面S3よりも内側に位置していてもよい。同様に、図40に示される基台200Lのように、半導体レーザバー3の長手方向におけるブロック部材12L(ブロック領域10b)の外側部分は、半導体レーザバー3の側面S3よりも内側に位置していてもよい。なお、図38は、変形例1に係る半導体発光装置1Lの上面図であり、図39は、変形例1に係る半導体発光装置1Lの断面図であり、図40は、変形例1に係る基台200Lの上面図である。
 また、上記実施の形態1において、半田付き基台201に形成された半田4の上面視形状は、切り欠き部が形成されていない長方形であったが、これに限らない。
 例えば、図41に示される半田付き基台201Mのように、半田4Mの上面視形状は、切り欠き部4Maが形成された長方形であってもよい。つまり、半田4Mには、半田が形成されていない部位が存在していてもよい。半導体レーザバー3を実装するときに、半導体レーザバー3により押しつぶされる半田4Mの多い領域に、言い換えるとリッジ部などの素子高さの高い部分に切り欠き部4Maを形成するとよい。また、切り欠き部4Maは、リア側に向かって半田4Mの流れが発生するように、半導体レーザバー3のリア端面S2側の長辺からフロント端面S1に向かって長尺状に延在するように形成されているとよい。また、半導体レーザバー3が中央部が上に反った形状を有している場合、半導体レーザバー3の端部ほど押しつぶす量が大きくなるため、切り欠き部4Maは、半田4Mの半導体レーザバー3の長手方向の両端部の各々近傍に形成するとよい。逆に半導体レーザバー3が中央部が下に反った形状を有している場合、切り欠き部4Maは長手方向の中央部に形成するとよい。また、切り欠き部4Maは、半田4Mがリア端面S2側の方向に進むにしたがって幅が大きくなっているとよい。図41に示される構成の半田付き基台201Mを用いて半導体レーザバー3を実装することで、溶融して液状になった半田4Mが半導体レーザバー3のリア端面S2側に向けて流動しやすくなる。これにより、図41に示される半導体発光装置1Mのように、半田4Mの後端部に、半導体レーザバー3のリア端面S2から外側に延伸したリア側延伸部4aを容易に形成することができる。
 また、図42に示される半田付き基台201Nのように、半田4Nの切り欠き部4Maは、半導体レーザバー3の長手方向に沿って周期的に複数形成されているとよい。特に、半導体レーザバー3を実装するときに、半導体レーザバー3には半田4Nの切り欠き部4Ma以外からの荷重がかかるため、切り欠き部4Maと半導体レーザバー3の利得領域とが重なるように配置されているとよい。半導体レーザバー3における利得領域は周期的に形成されているので、切り欠き部4Maはその周期の整数倍の周期性を持っていると、荷重の負荷が小さくなる。
 図42に示される構成の半田付き基台201Nを用いて半導体レーザバー3を実装することで、図42に示される半導体発光装置1Nのように、半田4Nに形成されるリア側延伸部4aは、上面視において、半導体レーザバー3の側面S3近傍でリア端面S2側に向かって凹む凹部を有することになる。具体的には、この凹部は、上面視において、半導体レーザバー3の長手方向に沿って周期的に複数形成される。例えば、リア側延伸部4aの後端部に、平面視形状が波型の凹凸部が形成される。また、同様に、この凹部も周期的に形成されていると効果が大きい。
 また、上記実施の形態1において、半導体発光装置1の基台2の支持体20は、絶縁体であったが、これに限らない。例えば、図43に示される半導体発光装置1Oのように、基台2Oの支持体20Oは、金属ブロック等の導電体であってもよい。これにより、支持体20Oの上面に形成された配線本体11と支持体20Oとが電気的に接続される。この場合、支持体20Oをプレート状の銅ブロックからなるアノード電極とし、さらにプレート状の銅ブロックからなるカソード電極9bを金バンプ9aを介して半導体レーザバー3のn側電極に接合してもよい。このとき、半導体レーザバー3には銅ブロックを実装する時の荷重がかかるため、金バンプ9aは、半導体レーザバー3の利得領域3cと重ならない位置に配置されているとよい。図43に示される半導体発光装置1Oの構成にすることで、金ワイヤ6、給電ワイヤ7a及び7bが不要になるとともに、半導体レーザバー3を一対の銅ブロックで挟むことができるので半導体レーザバー3で発生する熱を効果的に放熱させることができる。
 なお、図38~図43の構成は、実施の形態1の各変形例、実施の形態2、3及び実施の形態2、3の各変形例にも適用することができる。
 その他、上記実施の形態1~3に対して当業者が思い付く各種変形を施して得られる形態や、本開示の趣旨を逸脱しない範囲で各実施の形態における構成要素及び機能を任意に組み合わせることで実現される形態も本開示に含まれる。
 本開示に係る半導体発光装置は、様々な製品の光源に適用することができる。
 1、1A、1B、1C、1D、1E、1F、1G、1H、1I、1J、1K、1L、1M、1N、1O 半導体発光装置
 2、2A、2B、2C、2E、2G、2H、2I、2J、2K、2L、2O 基台
 3、3D 半導体レーザバー
 3a リッジ部
 3b 絶縁膜
 3c 利得領域
 4、4M、4N 半田
 4a リア側延伸部
 4Ma 切り欠き部
 5 パッド電極
 6 金ワイヤ
 7a、7b 給電ワイヤ
 8 レーザ側ブロック部材
 9a 金バンプ
 9b カソード電極
 10、10A、10B、10C、10E、10G、10H、10I、10J、10K、10L 配線部材
 10a、10c 接続領域
 10a1 接続領域延伸部
 10b ブロック領域
 10b1 フロント側ブロック領域
 11、11A、11B、11H、11J 配線本体
 11a 第1金属層
 11b 第2金属層
 11c 第3金属層
 11c1 合金化層
 12、12C、12E、12G、12H、12I、12J、12L ブロック部材
 12a 連結部
 13 金属層
 20、20O 支持体
 111 第1配線本体
 112 第2配線本体
 200、200C、200E、200G、200I、200J、200L 基台
 201、201C、201G、201J、201M、201N 半田付き基台
 210、210C、210E、210G、210I、210J 配線部材
 211 配線本体
 211a 開口部
 300 ヒータ
 S1 フロント端面
 S2 リア端面
 S3 側面

Claims (31)

  1.  配線部材を有する基台と、
     長手方向に沿って並べられた複数の利得領域を有する端面発光型の半導体レーザバーと、
     前記配線部材と前記半導体レーザバーとの間に配置された半田と、を備え、
     前記半導体レーザバーは、光を出射する端面であるフロント端面と、前記フロント端面とは反対側の端面であるリア端面と、前記長手方向の端面である側面とを有し、
     前記半導体レーザバーは、ジャンクションダウン方式で前記基台に接続され、
     前記配線部材の前記半導体レーザバー側の面には、前記半田との界面である接続領域と、前記半田に対する接触角が90度より大きいブロック領域とが含まれ、
     前記接続領域は、上面視において、前記長手方向における前記側面の内側に位置し、
     前記ブロック領域の少なくとも一部は、上面視において、前記接続領域と前記側面との間に位置し、
     前記長手方向における前記ブロック領域の内側部分は、前記側面よりも内側に位置し、
     前記半田は、上面視において前記リア端面から外側に延伸するリア側延伸部を有し、かつ、前記側面から外側には延伸していない、
     半導体発光装置。
  2.  前記配線部材は、第1接続部材と、前記第1接続部材の上方に位置する一対のブロック部材とを有し、
     前記一対のブロック部材の各々の上面の少なくとも一部が、前記ブロック領域であり、
     前記第1接続部材は、上面視において、前記一対のブロック部材の間に前記接続領域を有する、
     請求項1に記載の半導体発光装置。
  3.  前記配線部材は、同一面に設けられた第1接続部材と一対のブロック部材とを有し、
     前記第1接続部材の上面の少なくとも一部が、前記接続領域であり、
     前記一対のブロック部材は、前記長手方向における前記接続領域の一方の外側と他方の外側とに位置し、
     前記一対のブロック部材の上面の少なくとも一部が、前記ブロック領域である、
     請求項1に記載の半導体発光装置。
  4.  前記配線部材は、ブロック部材を有し、
     前記接続領域と前記ブロック領域とは、前記ブロック部材の上面に含まれている、
     請求項1に記載の半導体発光装置。
  5.  前記配線部材は、ブロック部材と、前記ブロック部材の上に位置する第2接続部材とを有し、
     前記第2接続部材の上面の少なくとも一部が、前記接続領域であり、
     前記ブロック部材の上面の少なくとも一部が、前記ブロック領域であり、
     前記ブロック領域は、前記長手方向における前記接続領域の両外側に位置している、
     請求項1に記載の半導体発光装置。
  6.  前記接続領域の高さ位置は、前記ブロック領域の高さ位置より低い、
     請求項3に記載の半導体発光装置。
  7.  断面視において、前記半田と前記半導体レーザバーとの界面の幅は、前記半田と前記配線部材との界面の幅より大きい、
     請求項1~6のいずれか1項に記載の半導体発光装置。
  8.  断面視において、前記ブロック部材の下面内端と前記複数の利得領域のうち前記ブロック部材に最も近い利得領域の外端とを結ぶ直線と、前記半導体レーザバーの下面とのなす角は、45度未満である、
     請求項2又は3に記載の半導体発光装置。
  9.  断面視において、前記接続領域の外端と前記複数の利得領域のうち前記接続領域の外端に最も近い利得領域の外端とを結ぶ直線と、前記半導体レーザバーの下面とのなす角は、45度未満である、
     請求項4に記載の半導体発光装置。
  10.  断面視において、前記ブロック領域の内端と前記複数の利得領域のうち前記ブロック領域に最も近い利得領域の外端とを結ぶ直線と、前記半導体レーザバーの下面とのなす角は、45度未満である、
     請求項5に記載の半導体発光装置。
  11.  前記半導体レーザバーの下面外端と前記ブロック領域の内端とを結ぶ直線と、前記半導体レーザバーの下面とのなす角は、45度未満である、
     請求項2~5のいずれか1項に記載の半導体発光装置。
  12.  前記上面視において、前記接続領域は、前記半導体レーザバーの前記リア端面から外側に延伸する接続領域延伸部を有し、
     前記半田の前記リア側延伸部は、前記接続領域延伸部と接続されており、
     前記半導体レーザバーの短手方向において、前記半田の前記リア側延伸部の高さは、前記半導体レーザバーから離れるにしたがって、いったん高くなった後に低くなっている、
     請求項1~11のいずれか1項に記載の半導体発光装置。
  13.  前記長手方向における前記一対のブロック部材の内側部分の間隔は、前記フロント端面側より前記リア端面側の方が大きい、
     請求項2又は3に記載の半導体発光装置。
  14.  上面視において、前記長手方向における前記接続領域の幅は、前記フロント端面側より前記リア端面側の方が大きい、
     請求項1~13のいずれか1項に記載の半導体発光装置。
  15.  上面視において、前記ブロック領域は、前記半導体レーザバーの直下の部分から前記リア端面側の外方に延伸し、前記半導体レーザバーの前記側面における前記リア端面側の端部は、前記ブロック領域に重なっている、
     請求項1~14のいずれか1項に記載の半導体発光装置。
  16.  上面視において、前記半田の前記リア側延伸部は、前記半導体レーザバーの前記側面近傍で前記リア端面側に向かって凹む凹部を有する、
     請求項1~15のいずれか1項に記載の半導体発光装置。
  17.  上面視において、前記凹部は、前記長手方向に沿って周期的に複数形成されている、
     請求項16に記載の半導体発光装置。
  18.  さらに、前記半導体レーザバーは、前記基台側に、電極パッドと、前記長手方向における前記電極パッドの外側両端部に設けられた一対のレーザ側ブロック部材とを有し、
     前記一対のレーザ側ブロック部材の各々の表面は、前記半田に対する接触角が90度より大きい、
     請求項1~17のいずれか1項に記載の半導体発光装置。
  19.  上面視において、前記一対のレーザ側ブロック部材の内端間の間隔は、前記フロント端面側より前記リア端面側の方が大きい、
     請求項18に記載の半導体発光装置。
  20.  上面視において、前記ブロック領域は、前記接続領域よりも前記フロント端面側に、フロント側ブロック領域を含む、
     請求項1~19のいずれか1項に記載の半導体発光装置。
  21.  前記半田は、AuSnからなり、
     前記ブロック領域は、Pt、SiO又はNiOの表面であり、
     前記接続領域は、Auの表面である、
     請求項2又は3に記載の半導体発光装置。
  22.  前記半田は、AuSnからなり、
     前記ブロック領域は、Ptの表面であり、
     前記接続領域は、Auの表面である、
     請求項4又は5に記載の半導体発光装置。
  23.  前記接続領域の近傍において、前記配線部材の少なくとも一部と前記半田とが組成遷移領域を介して一体化している、
     請求項2又は3に記載の半導体発光装置。
  24.  前記半導体レーザバーは、窒化物半導体材料によって構成されており、
     前記半導体レーザバーは、前記長手方向に反っている、
     請求項1~23のいずれか1項に記載の半導体発光装置。
  25.  配線部材を有する直方体の基台であって、
     前記配線部材の上面には、接続領域とブロック領域とが含まれ、
     前記ブロック領域は、上面視において、長手方向における前記接続領域の外側に位置し、
     前記接続領域は、半田に対する接触角が90度より小さく、
     前記ブロック領域は、半田に対する接触角が90度より大きい、
     基台。
  26.  前記ブロック領域は、前記長手方向における前記接続領域の両外側に一対存在し、
     一対の前記ブロック領域は、上面視において、前記基台の短手方向の一方側に寄せて配置されており、
     前記長手方向における一対の前記ブロック領域の内側部分の間隔は、前記一方側よりも前記一方側とは反対側の方が大きい、
     請求項25に記載の基台。
  27.  配線部材を有する直方体の基台と、
     前記配線部材の上面に配置された半田と、を有し、
     前記配線部材の上面は、前記半田との界面であって半田に対する接触角が90度より小さい接続領域と、半田に対する接触角が90度より大きいブロック領域とを含み、
     前記ブロック領域は、上面視において、長手方向における前記接続領域の両外側に位置する、
     半田付き基台。
  28.  前記ブロック領域は、上面視において、前記長手方向における前記接続領域の両外側に一対存在し、
     前記半田は、上面視において、前記基台の短手方向の一方側に寄せて配置されており、
     前記長手方向における一対の前記ブロック領域の内側部分の間隔は、前記一方側から遠ざかるにしたがって広くなっている、
     請求項27に記載の半田付き基台。
  29.  配線部材を有する基台を準備する第1工程と、
     前記配線部材の上に半田を配置する第2工程と、
     前記半田の上に、端面発光型の半導体レーザバーをジャンクションダウンで配置し、前記半導体レーザバーを押さえ付けながら加熱して前記半田を溶融し、前記半田により前記半導体レーザバーを前記基台に接合する第3工程と、を含み、
     前記半導体レーザバーは、長手方向に沿って並べられた複数の利得領域を有し、
     前記半導体レーザバーは、光を出射する端面であるフロント端面と、前記フロント端面とは反対側の端面であるリア端面と、前記長手方向の端面である側面とを有し、
     前記第1工程では、第1接続部材とブロック部材とを順に形成することで前記配線部材を形成し、
     前記配線部材の上面には、前記半田に対する接触角が90度より小さい接続領域と、前記長手方向における前記接続領域の両外側に位置し且つ前記半田に対する接触角が90度より大きいブロック領域とが含まれており、
     前記第2工程において、前記半田は、前記接続領域上に配置され、
     前記第3工程において、前記半田は、前記リア端面から外側に延伸し、且つ、前記側面から外側には延伸しない、
     半導体発光装置の製造方法。
  30.  配線部材を有する基台を準備する第1工程と、
     前記配線部材の上に半田を配置する第2工程と、
     前記半田の上に、端面発光型の半導体レーザバーをジャンクションダウンで配置し、前記半導体レーザバーを押さえ付けながら加熱して前記半田を溶融し、前記半田により前記半導体レーザバーを前記基台に接合する第3工程と、を含み、
     前記半導体レーザバーは、長手方向に沿って並べられた複数の利得領域を有し、
     前記半導体レーザバーは、光を出射する端面であるフロント端面と、前記フロント端面とは反対側の端面であるリア端面と、前記長手方向の端面である側面とを有し、
     前記第1工程では、ブロック部材と第2接続部材とを順に形成することで前記配線部材を形成し、
     前記配線部材の上面には、前記半田に対する接触角が90度より小さい接続領域と、前記長手方向における前記接続領域の両外側に位置し且つ前記半田に対する接触角が90度より大きいブロック領域とが含まれており、
     前記第2工程において、前記半田は、前記接続領域上に配置され、
     前記第3工程において、前記半田は、前記リア端面から外側に延伸し、且つ、前記側面から外側には延伸せず、
     前記第2接続部材の少なくとも一部と前記半田とが組成遷移領域を介して一体化している、
     半導体発光装置の製造方法。
  31.  前記第3工程では、前記基台を加熱しながら、前記半導体レーザバーの前記リア端面よりも外側の領域に存在する前記半田に加熱用のレーザ光を照射し、
     前記第3工程において、前記半田の前記リア端面に近い部分の温度は、前記半田の前記フロント端面に近い部分の温度よりも高い、
     請求項29又は30に記載の半導体発光装置の製造方法。
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