WO2023127316A1 - 部品選別装置 - Google Patents

部品選別装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2023127316A1
WO2023127316A1 PCT/JP2022/041502 JP2022041502W WO2023127316A1 WO 2023127316 A1 WO2023127316 A1 WO 2023127316A1 JP 2022041502 W JP2022041502 W JP 2022041502W WO 2023127316 A1 WO2023127316 A1 WO 2023127316A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
parts
sorting device
inspection
tubular member
case
Prior art date
Application number
PCT/JP2022/041502
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
大地 渡辺
太一 小久貫
良巳 山本
啓太 香川
Original Assignee
株式会社村田製作所
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社村田製作所 filed Critical 株式会社村田製作所
Priority to KR1020247014931A priority Critical patent/KR20240089335A/ko
Priority to CN202280071263.4A priority patent/CN118140135A/zh
Priority to JP2023570716A priority patent/JPWO2023127316A1/ja
Publication of WO2023127316A1 publication Critical patent/WO2023127316A1/ja

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/34—Sorting according to other particular properties
    • B07C5/342—Sorting according to other particular properties according to optical properties, e.g. colour
    • B07C5/3422—Sorting according to other particular properties according to optical properties, e.g. colour using video scanning devices, e.g. TV-cameras
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/34—Sorting according to other particular properties
    • B07C5/344—Sorting according to other particular properties according to electric or electromagnetic properties
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/36—Sorting apparatus characterised by the means used for distribution
    • B07C5/361—Processing or control devices therefor, e.g. escort memory
    • B07C5/362—Separating or distributor mechanisms
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G47/00—Article or material-handling devices associated with conveyors; Methods employing such devices
    • B65G47/74—Feeding, transfer, or discharging devices of particular kinds or types
    • B65G47/80—Turntables carrying articles or materials to be transferred, e.g. combined with ploughs or scrapers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85—Investigating moving fluids or granular solids
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G2201/00—Indexing codes relating to handling devices, e.g. conveyors, characterised by the type of product or load being conveyed or handled
    • B65G2201/02—Articles
    • B65G2201/0214—Articles of special size, shape or weigh
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8854—Grading and classifying of flaws
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/10—Scanning
    • G01N2201/104—Mechano-optical scan, i.e. object and beam moving
    • G01N2201/1042—X, Y scan, i.e. object moving in X, beam in Y

Definitions

  • the present invention relates to a parts sorting device.
  • Patent Literature 1 discloses an appearance inspection device as such a component sorting device.
  • the appearance inspection apparatus disclosed in Patent Document 1 includes a linear feeder (transport mechanism) that transports electronic components, a turntable (transport mechanism) that transports the electronic components transported by the linear feeder, and electronic components on the turntable.
  • An imaging device for imaging is provided, and an appearance inspection of the electronic parts is performed while the electronic parts are conveyed. As a result, non-defective products and defective products can be sorted out and discharged.
  • the visual inspection apparatus disclosed in Patent Document 1 electrifies the electronic components by conveying the electronic components with vibration in the linear feeder, and electrostatically attracts and conveys the electronic components with static electricity in the turntable.
  • the ejected non-defective electronic parts may be guided to the entrance of the case by a tubular member and housed in the case.
  • an air supply mechanism for supplying air may be provided upstream of the tubular member in order to increase the force for conveying the electronic components.
  • An object of the present invention is to provide a parts sorting device that suppresses deterioration in the accommodation of electronic parts in a case.
  • the parts sorting apparatus is a parts sorting apparatus that inspects parts while conveying them, selects non-defective parts, and stores them in a case.
  • the case is box-shaped and has only one entrance.
  • the component sorting apparatus includes a transport mechanism that transports the component, an imaging device that captures an image of the appearance of the component on the transport mechanism, or a measuring device that measures electrical characteristics of the component on the transport mechanism, and Appearance inspection of the component is performed based on the imaging result from the imaging device, or electrical characteristic inspection of the component is performed based on the measurement result from the measuring device, and the result of the visual inspection or the result of the electrical characteristic inspection is performed.
  • the discharging mechanism includes a tubular member that guides the non-defective parts discharged from the conveying mechanism to the entrance and exit of the case, and a tubular member arranged upstream of the tubular member for increasing the conveying force of the parts. It includes an air supply mechanism for supplying air, and an air discharge mechanism arranged downstream of the tubular member for discharging the air.
  • the present invention it is possible to suppress the deterioration of the accommodation capacity of the electronic components in the case of the component sorting device.
  • FIG. 1 is a schematic plan view of an example of a component sorting device according to an embodiment, viewed from above; FIG. It is the schematic plan view which looked at another example of the components sorting apparatus which concerns on this embodiment from upper direction. It is the schematic plan view which expanded the II part in the components sorting apparatus shown in FIG. 1A or FIG. 1B.
  • FIG. 1B is a schematic side view of the component sorting device shown in FIG. 1A as seen from the side, and is a schematic side view with an enlarged II portion.
  • FIG. 1C is a schematic side view of the parts sorting device shown in FIG. 1B as seen from the side, and is a schematic side view with an enlarged II portion.
  • FIG. 1B is a sectional view taken along line IV-IV in the component sorting device shown in FIG. 1A or 1B; It is a schematic perspective view of the external appearance of components. It is a schematic perspective view of the appearance of a case.
  • FIG. 1A is a schematic plan view of an example of a component sorting device according to this embodiment viewed from above
  • FIG. 1B is a schematic plan view of another example of a component sorting device according to this embodiment viewed from above.
  • FIG. 2 is a schematic plan view enlarging the II portion of the component sorting apparatus shown in FIG. 1A or 1B.
  • 3A is a schematic side view of the parts sorting apparatus shown in FIG. 1A as seen from the side, and is a schematic side view with an enlarged portion II
  • FIG. 3B is a side view of the parts sorting apparatus shown in FIG. 1B. It is a schematic side view, and is a schematic side view in which the II portion is enlarged.
  • FIG. 4 is a sectional view taken along line IV-IV in the parts sorting apparatus shown in FIG. 1A or 1B. 1A to 4 show an XY orthogonal coordinate system.
  • the component sorting device 1 shown in FIGS. 1A, 2, 3A, and 4 is a device that inspects a plurality of electronic components 3 while sequentially conveying them, selects non-defective components, and stores them in a case 5.
  • the parts sorting apparatus 1 includes a linear feeder 10, a turntable 20, a plurality of imaging devices 30, a measuring device 40, a first ejection mechanism 50, a second ejection mechanism 60, a first counter 71, a second A counter 72 and an inspection sorting controller 80 are provided.
  • the linear feeder 10 and the turntable 20 constitute the transport mechanism of the invention, and the first discharge mechanism 50 constitutes the discharge mechanism of the invention.
  • a configuration in which only one of the imaging device 30 and the measuring device 40 is provided may be used.
  • the electronic component 3 is a surface-mounted electronic component (also called a chip component) such as a multilayer ceramic capacitor. As shown in FIG. 5, for example, the electronic component 3 is arranged on each of two end surfaces of the laminated body 3a, which is formed by laminating a plurality of dielectric layers made of a ceramic material and one or more conductor layers, and the laminated body 3a. and two external electrodes 3b.
  • the laminate 3a ie, the electronic component 3 has a rectangular parallelepiped shape and includes two principal surfaces TS1 and TS2 facing each other in the lamination direction, two side surfaces WS1 and WS2 facing each other in the width direction intersecting the lamination direction, It has two end surfaces LS1 and LS2 that face each other in the length direction and intersect the width direction.
  • the case 5 is a box-shaped case, for example, as shown in FIG. 6, and accommodates a plurality of electronic components 3 therein.
  • the case 5 has only one doorway 5a that can be opened when the electronic component 3 is received and taken out, and can be closed when the electronic component 3 is accommodated.
  • the linear feeder 10 linearly conveys a plurality of electronic components 3 sequentially.
  • the linear feeder 10 may include a charging portion on the upstream side and an electrostatic attraction portion on the downstream side.
  • the linear feeder 10 is preferably made of a material such as SUS. Moreover, it is preferable that the linear feeder 10 is inclined with respect to the horizontal plane. As a result, in the charging portion on the upstream side of the linear feeder 10, the electronic component 3 can be charged by conveying the electronic component 3 by vibration.
  • an electrostatic chucking mechanism 12 is preferably provided below the electrostatic chucking portion on the downstream side of the linear feeder 10 .
  • the electronic component 3 can be electrostatically attracted and conveyed in the electrostatic attraction portion on the downstream side of the linear feeder 10 .
  • the linear feeder 10 does not have to be provided with the electrostatic adsorption mechanism 12 . That is, the linear feeder 10 may be the above-described charging portion in its entirety from the upstream side to the downstream side.
  • the turntable 20 sequentially rotates and conveys the plurality of electronic components 3 conveyed by the linear feeder 10 .
  • the turntable 20 has a guide mechanism 22 on the upstream side, and the guide mechanism 22 guides the electronic component 3 from the linear feeder 10 to the rotary transfer locus 21 .
  • the turntable 20 conveys the electronic component 3 along a rotational conveying locus 21 .
  • an electrostatic attraction mechanism 24 is preferably provided below the turntable 20 .
  • the electronic component 3 can be electrostatically attracted and conveyed.
  • the conveying speed of the turntable 20 is faster than the conveying speed of the linear feeder 10.
  • the rotation speed of the turntable 20 is preferably 10000 rpm or more.
  • the electronic components 3 can be spaced apart, and the appearance inspection of the end surfaces of the electronic components 3 can be performed. It should be noted that it does not have to be 10,000 revolutions/minute or more, it may be 9,000 revolutions/minute or more, or it may be 8,000 revolutions/minute or more.
  • the size of the electronic component 3 is about 0.25 mm ⁇ 10% in the length direction and about 0.125 mm ⁇ 13% in the width direction and thickness direction.
  • the turntable 20 is made of a material such as glass or resin and has transparency. Thereby, the appearance inspection of the back side of the electronic component 3 becomes possible.
  • the imaging device 30 is, for example, a camera.
  • Six imaging devices 30 are provided along the rotary transfer locus 21 of the turntable 20 .
  • the six imaging devices 30 respectively image six outer surfaces of the electronic component 3 on the turntable 20, namely two main surfaces TS1 and TS2, two side surfaces WS1 and WS2 and two end surfaces LS1 and LS2.
  • the measuring device 40 includes, for example, a pair of probes for contacting external electrodes of the electronic component 3 and measures electrical characteristics of the electronic component 3 .
  • the measuring device 40 may be provided in the downstream electrostatic adsorption portion of the linear feeder 10 .
  • the measuring device 40 may be provided along the rotary transfer trajectory 21 of the turntable 20.
  • the linear feeder 10 may not be provided with the electrostatic adsorption mechanism 12 .
  • the measuring device 40 measures electrical properties of the electronic component 3 on the linear feeder 10 or on the turntable 20 . For example, if the electronic component 3 is a laminated ceramic capacitor, the measuring device 40 measures the capacitance of the electronic component 3 .
  • the electrostatic attraction portion or turntable 20 on the downstream side of the linear feeder 10 where electrical characteristics are measured by the measuring device 40 conveys the electronic component 3 while electrostatically attracting it. Thereby, it is possible to improve the measurement accuracy of the electrical characteristics.
  • the first discharge mechanism 50 discharges non-defective products from the turntable 20 selected by an inspection/selection controller 80, which will be described later, based on the results of visual inspection or electrical characteristic inspection. Housed in Case 5.
  • the method of discharging non-defective products by the first discharging mechanism 50 is not particularly limited, but examples thereof include air blowing, air suction, physical contact extrusion, and the like.
  • the first discharge mechanism 50 takes in the non-defective product from the turntable 20 by blowing air on the non-defective product on the turntable 20 according to a command from the inspection/selection controller 80.
  • the first discharge mechanism 50 includes a tubular member 52, an air supply mechanism 53, a funnel-shaped member 54, and an air discharge mechanism 55.
  • the tubular member 52 is a tubular member with a circular or polygonal cross section and extends from the turntable 20 to the entrance of the case 5 . Thereby, the tubular member 52 guides the non-defective electronic component 3 ejected from the turntable 20 to the entrance 5 a of the case 5 .
  • the tubular member 52 extends from the upstream side to the downstream side so that the position becomes gradually lower. Thereby, the electronic component 3 is guided to the case 5 by gravity.
  • the tubular member 52 has a portion that extends obliquely with respect to the vertical direction. In this case, the electronic component 3 rolls on the inner wall of the tubular member 52 and is guided to the case 5 . Further, the tubular member 52 has a portion extending along the vertical direction. In this case, the electronic component 3 is guided to the case 5 by free fall.
  • the air supply mechanism 53 is arranged on the upstream side of the tubular member 52 and supplies air for increasing the force for conveying the electronic components 3 .
  • the air supply mechanism 53 supplies air downward from the side surface of the tubular member 52 .
  • the funnel-shaped member 54 is a funnel-shaped member with a circular or polygonal cross section, and is arranged between the tubular member 52 and the entrance/exit of the case 5 .
  • the air discharge mechanism 55 is arranged in the funnel-shaped member 54 , in other words, arranged downstream of the tubular member 52 . Thereby, the air discharge mechanism 55 discharges air.
  • the air discharge mechanism 55 is an opening arranged on the upper surface of the funnel-shaped member 54 along the periphery of the tubular member 52 .
  • the opening is preferably smaller than the outer dimensions of the electronic component 3 .
  • the opening is provided with a mesh-like member having a mesh smaller than the outer dimensions of the electronic component 3 .
  • the air discharge mechanism 55 may have a suction mechanism such as vacuum suction.
  • the air discharge mechanism 55 sucks air from the top surface or side surface of the funnel-shaped member 54 .
  • the suction port of the suction mechanism is preferably smaller than the outer dimensions of the electronic component 3 .
  • the suction port of the suction mechanism is provided with a mesh-like member that is smaller than the outer dimensions of the electronic component 3 .
  • the second ejection mechanism 60 ejects the defective products selected by the inspection and selection controller 80 described later based on the result of the visual inspection or the result of the electrical property inspection from the turntable 20 and collects them in a collection box (not shown). .
  • the method for discharging defective products by the second discharging mechanism 60 may be the same as the method for discharging non-defective products by the first discharging mechanism 50 .
  • the second discharge mechanism 60 blows air onto the defective product on the turntable 20 according to the command from the inspection/selection controller 80, thereby removing the defective product from the turntable 20 to the inside. take in.
  • the second ejection mechanism 60 has a tubular member similar to the first ejection mechanism 50, and the tubular member guides the defective products ejected from the turntable 20 to the collection box (not shown).
  • the second ejection mechanism 60 is preferably provided upstream of the first ejection mechanism 50 .
  • the first counter 71 counts non-defective products ejected from the turntable 20 by the first ejecting mechanism 50 .
  • the first counter 71 is provided downstream of the first discharge mechanism 50 , that is, immediately before the case 5 . Thereby, the non-defective products housed in the case 5 can be accurately counted.
  • the first counter 71 may be further provided on the upstream side of the first ejection mechanism 50 . Thereby, it can be confirmed that the electronic component 3 remains in the first ejection mechanism 50 when the count numbers of the two first counters 71 are different.
  • Examples of the first counter 71 include, but are not limited to, a camera, an optical sensor, an eddy current sensor, and the like.
  • the eddy current sensor may be any known eddy current sensor or eddy current displacement sensor.
  • a high frequency signal is supplied from a resonance circuit to a sensor coil to generate a high frequency magnetic field from the sensor coil.
  • an eddy current is generated in the metal of the electronic component, changing the impedance of the sensor coil.
  • the voltage of the resonant circuit changes. By detecting this voltage change with a detection circuit, the passage of electronic parts can be counted.
  • the second counter 72 counts the defective products discharged from the turntable 20 by the second discharge mechanism 60 (not shown).
  • the second counter 72 may be similar to the first counter 71 .
  • the inspection and selection controller 80 controls the entire parts selection device 1 . Specifically, the inspection and selection controller 80 performs a visual inspection of the electronic component 3 based on the imaging result from the imaging device 30, and sorts out non-defective products and defective products based on the visual inspection result. Alternatively, or in addition, the inspection and selection controller 80 performs an electrical characteristic inspection (also referred to as verify) of the electronic component 3 based on the measurement results from the measuring device 40, and determines non-defective products and defective products based on the results of the electrical characteristic inspection. Sort out.
  • an electrical characteristic inspection also referred to as verify
  • the inspection and selection controller 80 controls the discharge of non-defective products by the first discharge mechanism 50.
  • the inspection/selection controller 80 controls the transfer speed of the linear feeder 10, the transfer speed of the turntable 20 (or the rotation speed and the length or radius of the rotary transfer trajectory), the measurement device 40 in the linear feeder 10 or the turntable 20. Based on information such as the position and the position of the imaging device 30 on the turntable 20 , the timing for discharging non-defective products from the first discharge mechanism 50 is calculated, and the first discharge mechanism 50 is commanded.
  • the inspection and selection controller 80 controls ejection of defective products by the second ejection mechanism 60 .
  • the inspection/selection controller 80 controls the transfer speed of the linear feeder 10, the transfer speed of the turntable 20 (or the rotation speed and the length or radius of the rotary transfer trajectory), the measurement device 40 in the linear feeder 10 or the turntable 20. Based on information such as the position of the imaging device 30 on the turntable 20 , the timing for ejecting the defective product from the second ejecting mechanism 60 is calculated, and the second ejecting mechanism 60 is commanded.
  • the inspection selection controller 80 is composed of an arithmetic processor such as a DSP (Digital Signal Processor) or FPGA (Field-Programmable Gate Array). Various functions of the inspection and selection controller 80 are implemented by executing predetermined software (programs) stored in a storage unit, for example. Various functions of the inspection and selection controller 80 may be realized by cooperation of hardware and software, or may be realized only by hardware (electronic circuits).
  • arithmetic processor such as a DSP (Digital Signal Processor) or FPGA (Field-Programmable Gate Array).
  • Various functions of the inspection and selection controller 80 are implemented by executing predetermined software (programs) stored in a storage unit, for example.
  • Various functions of the inspection and selection controller 80 may be realized by cooperation of hardware and software, or may be realized only by hardware (electronic circuits).
  • the storage unit in the inspection and selection controller 80 is, for example, a rewritable memory such as EEPROM.
  • the storage unit stores predetermined software (programs) for executing various functions of the sorting controller.
  • the storage unit stores various setting values input from the outside, for example.
  • Various set values are the conveying speed of the linear feeder 10, the conveying speed of the turntable 20 (or the rotational speed and the length or radius of the rotational conveying locus), the position of the imaging device 30, the position of the measuring device 40, and the first discharge. It includes information about the position of the mechanism 50 and the position of the second ejection mechanism 60, good/bad criteria, and the like.
  • the six appearances of the linear feeder 10 and the turntable 20 (conveyance mechanism) for conveying the electronic components 3 and the electronic components 3 on the turntable 20 are displayed.
  • Six imaging devices 30 for respectively imaging, or a measuring device 40 for measuring the electrical characteristics of the electronic component 3 on the linear feeder 10 or on the turntable 20, and the appearance of the electronic component 3 based on the imaging results from the imaging device 30
  • an inspection and selection controller 80 for performing an inspection or performing an electrical characteristic inspection of the electronic component 3 based on the measurement result from the measuring device 40 and selecting a non-defective product based on the result of the appearance inspection or the result of the electrical characteristic inspection
  • a first discharge mechanism 50 for discharging non-defective products sorted by the sorting controller 80 from the turntable 20 and storing them in the case 5 is provided. Accordingly, it is possible to carry out the appearance inspection or the electrical characteristic inspection while transporting the plurality of electronic components 3 , select the non-defective products, and store them in the case
  • the ejected non-defective electronic component 3 may be guided to the entrance of the case 5 by the tubular member 52 and accommodated in the case 5 .
  • an air supply mechanism 53 that supplies air to the upstream side of the tubular member 52 in order to increase the carrying force of the electronic components 3 may be provided.
  • case 5 there is a case that is a box-shaped case and has only one entrance 5a.
  • the tubular member 52 having the air supply mechanism 53 described above air continues to be supplied toward the inlet/outlet 5a of the case 5, and there is no outlet for the air entering the case 5.
  • the electronic component 3 cannot be put into the inside 5. As a result, the storability of the electronic component 3 in the case 5 is reduced.
  • the first discharge mechanism 50 is arranged downstream of the tubular member 52 and has the air discharge mechanism 55 that discharges air. As a result, the air supplied from the air supply mechanism 53 can be discharged, and the deterioration of the housing performance of the electronic component 3 in the case 5 can be suppressed.
  • the air discharge mechanism 55 may be an opening.
  • the opening is preferably smaller than the outer dimensions of the electronic component 3 .
  • the opening is provided with a mesh-like member having a mesh smaller than the outer dimensions of the electronic component 3 .
  • the air discharge mechanism 55 may have a suction mechanism.
  • the suction port of the suction mechanism is preferably smaller than the outer dimensions of the electronic component 3 .
  • the suction port of the suction mechanism is larger than the outer dimensions of the electronic component 3 , it is preferable that the suction port of the suction mechanism is provided with a mesh-like member that is smaller than the outer dimensions of the electronic component 3 .
  • the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications and variations are possible.
  • the form provided with the second ejection mechanism 60 that ejects the defective product from the turntable 20 has been exemplified.
  • the present invention is not limited to this, and for example, a form without the second ejection mechanism 60 may be employed.
  • the parts sorting apparatus 1 may eject the defective products from the turntable 20 immediately after the image pickup by the image pickup device 30 and the appearance inspection. Further, the parts sorting apparatus 1 may discharge the defective products from the linear feeder 10 or the turntable 20 immediately after the measurement by the measuring device 40 and the electrical property inspection.
  • the defective product collection function may be arranged over the entire circumference of the turntable 20 and/or the entire lateral side of the linear feeder 10 .
  • the inspection and selection controller 80 has a function of performing visual inspection of electronic components based on the imaging result from the imaging device 30, as an example.
  • each imaging device 30 may have a visual inspection function.
  • each of the imaging devices 30 may have a function of ejecting defective products from the turntable 20 immediately after the appearance inspection, as in the modification described above.
  • the inspection and selection controller 80 has a function of inspecting the electrical characteristics of electronic components based on the measurement results from the measuring device 40, as an example.
  • each measuring device 40 may have the electrical property inspection function.
  • each of the measuring devices 40 may have the function of discharging defective products from the linear feeder 10 or the turntable 20 immediately after the electrical property inspection, as in the above modification.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Sorting Of Articles (AREA)
  • Specific Conveyance Elements (AREA)

Abstract

電子部品のケースへの収容性の低下を抑制する部品選別装置を提供する。部品選別装置１は、部品を搬送する搬送機構１０，２０と、搬送機構２０上の部品の外観を撮像する撮像デバイス３０または搬送機構１０上の部品の電気特性を測定する測定デバイス４０と、撮像デバイス３０からの撮像結果に基づく部品の外観検査の結果、または、測定デバイス４０からの測定結果に基づく部品の電気特性検査の結果に基づいて良品を選別する検査選別コントローラ８０と、選別された良品を、搬送機構２０から排出してケースに収容する排出機構５０とを備える。排出機構５０は、搬送機構２０から排出された良品である部品を、ケースの出入口まで導く管状部材５２と、管状部材５２の上流側に配置され、部品の搬送力を増大するためのエアーを供給するエアー供給機構５３と、管状部材５２の下流側に配置され、エアーを排出するエアー排出機構５５とを含む。

Description

部品選別装置
　本発明は、部品選別装置に関する。
　積層セラミックコンデンサ等の表面実装型の電子部品（チップ部品ともいう。）の良品および不良品を選別する装置がある。特許文献１には、このような部品選別装置として外観検査装置が開示されている。特許文献１に開示の外観検査装置は、電子部品を搬送するリニアフィーダ（搬送機構）と、リニアフィーダによって搬送された電子部品を搬送するターンテーブル（搬送機構）と、ターンテーブル上の電子部品を撮像する撮像デバイスとを備え、電子部品を搬送しながら電子部品の外観検査を行う。これにより、良品および不良品を選別して排出することができる。
　また、特許文献１に開示の外観検査装置は、リニアフィーダにおいて、振動により電子部品を搬送することによって、電子部品を帯電させ、ターンテーブルにおいて、静電気により電子部品を静電吸着して搬送する。
特開２０１７－４４５７９号公報
　このような部品選別装置では、排出された良品である電子部品を、管状部材によってケースの入口まで導き、ケースに収容することがある。この場合、例えば電子部品が管状部材内に残留することを防止する目的で、電子部品の搬送力を増大するために、管状部材の上流側に、エアーを供給するエアー供給機構を設けることがある。
　また、ケースとして、箱状のケースであり、出入口を１つしか有さないケースがある。このようなケースと、上述したエアー供給機構を有する管状部材とを組み合わせると、ケースの出入口に向けてエアーが供給され続け、ケースに入ったエアーの出口がないため、ケース内に電子部品が入らなくなってしまう。その結果、電子部品のケースへの収容性が低下してしまう。
　本発明は、電子部品のケースへの収容性の低下を抑制する部品選別装置を提供することを目的とする。
　本発明に係る部品選別装置は、部品を搬送しながら検査し、良品を選別してケースに収容する部品選別装置である。前記ケースは、箱状であり、出入口を１つのみ有する。前記部品選別装置は、前記部品を搬送する搬送機構と、前記搬送機構上の前記部品の外観を撮像する撮像デバイス、または、前記搬送機構上の前記部品の電気特性を測定する測定デバイスと、前記撮像デバイスからの撮像結果に基づいて前記部品の外観検査を行い、または、前記測定デバイスからの測定結果に基づいて前記部品の電気特性検査を行い、前記外観検査の結果または前記電気特性検査の結果に基づいて良品を選別する検査選別コントローラと、前記検査選別コントローラによって選別された良品を、前記搬送機構から排出して前記ケースに収容する排出機構とを備える。前記排出機構は、前記搬送機構から排出された良品である前記部品を、前記ケースの前記出入口まで導く管状部材と、前記管状部材の上流側に配置され、前記部品の搬送力を増大するためのエアーを供給するエアー供給機構と、前記管状部材の下流側に配置され、前記エアーを排出するエアー排出機構とを含む。
　本発明によれば、部品選別装置における電子部品のケースへの収容性の低下を抑制することができる。
本実施形態に係る部品選別装置の一例を上方からみた概略平面図である。 本実施形態に係る部品選別装置の他の一例を上方からみた概略平面図である。 図１Ａまたは図１Ｂに示す部品選別装置におけるII部分を拡大した概略平面図である。 図１Ａに示す部品選別装置を側方からみた概略側面図であって、II部分を拡大した概略側面図である。 図１Ｂに示す部品選別装置を側方からみた概略側面図であって、II部分を拡大した概略側面図である。 図１Ａまたは図１Ｂに示す部品選別装置におけるIV-IV線断面図である。 部品の外観の概略斜視図である。 ケースの外観の概略斜視図である。
　以下、添付の図面を参照して本発明の実施形態の一例について説明する。なお、各図面において同一または相当の部分に対しては同一の符号を附すこととする。
　図１Ａは、本実施形態に係る部品選別装置の一例を上方からみた概略平面図であり、図１Ｂは、本実施形態に係る部品選別装置の他の一例を上方からみた概略平面図である。図２は、図１Ａまたは図１Ｂに示す部品選別装置におけるII部分を拡大した概略平面図である。図３Ａは、図１Ａに示す部品選別装置を側方からみた概略側面図であって、II部分を拡大した概略側面図であり、図３Ｂは、図１Ｂに示す部品選別装置を側方からみた概略側面図であって、II部分を拡大した概略側面図である。図４は、図１Ａまたは図１Ｂに示す部品選別装置におけるIV-IV線断面図である。なお、図１Ａ～図４には、ＸＹ直交座標系が示されている。
　図１Ａ、図２、図３Ａおよび図４に示す部品選別装置１は、複数の電子部品３を順次に搬送しながら検査し、良品を選別してケース５に収容する装置である。部品選別装置１は、リニアフィーダ１０と、ターンテーブル２０と、複数の撮像デバイス３０と、測定デバイス４０と、第１排出機構５０と、第２排出機構６０と、第１カウンタ７１と、第２カウンタ７２と、検査選別コントローラ８０とを備える。なお、リニアフィーダ１０およびターンテーブル２０が本発明の搬送機構を構成し、第１排出機構５０が本発明の排出機構を構成する。また、撮像デバイス３０および測定デバイス４０のいずれか一方のみを備える形態であってもよい。
　電子部品３は、積層セラミックコンデンサ等の表面実装型の電子部品（チップ部品ともいう。）である。電子部品３は、例えば図５に示すように、セラミック材料からなる複数の誘電体層と１または複数の導体層とが積層された積層体３ａと、積層体３aの２つの端面の各々に配置された２つの外部電極３ｂとを備える。積層体３ａ、すなわち電子部品３は、直方体形状であり、積層方向に相対する２つの主面ＴＳ１およびＴＳ２と、積層方向に交差する幅方向に相対する２つの側面ＷＳ１およびＷＳ２と、積層方向および幅方向に交差する長さ方向に相対する２つの端面ＬＳ１およびＬＳ２とを有する。
　ケース５は、例えば図６に示すように、箱状のケースであり、その内部に複数の電子部品３を収容する。ケース５は、電子部品３の受け入れおよび取り出しの際に開き、電子部品３の収容の際には閉じることが可能である出入口５ａを１つだけ有する。
　図１Ａ、図２および図３Ａに示すように、リニアフィーダ１０は、複数の電子部品３を順次に直線的に搬送する。リニアフィーダ１０は、上流側に帯電部分を含み、下流側に静電吸着部分を含んでいてもよい。
　リニアフィーダ１０は、ＳＵＳ等の材料からなると好ましい。また、リニアフィーダ１０は水平面に対して傾斜していると好ましい。これにより、リニアフィーダ１０の上流側の帯電部分において、振動によって電子部品３を搬送することにより、電子部品３を帯電させることができる。
　図１Ａおよび図３Ａに示すように、リニアフィーダ１０の下流側の静電吸着部分の下側には、静電吸着機構１２が設けられていると好ましい。これにより、リニアフィーダ１０の下流側の静電吸着部分において、電子部品３を静電吸着して搬送することができる。
　なお、図１Ｂおよび図３Ｂに示すように、リニアフィーダ１０には静電吸着機構１２が設けられていなくともよい。すなわち、リニアフィーダ１０は、上流側から下流側までの全体において、上述した帯電部分であってもよい。
　ターンテーブル２０は、リニアフィーダ１０によって搬送された複数の電子部品３を順次に回転搬送する。図１Ａおよび図２に示すように、ターンテーブル２０は、上流側にガイド機構２２を有し、ガイド機構２２によって、リニアフィーダ１０からの電子部品３を、回転搬送軌跡２１に導く。ターンテーブル２０は、回転搬送軌跡２１に沿って電子部品３を搬送する。
　図３Ａに示すように、ターンテーブル２０の下側には、静電吸着機構２４が設けられていると好ましい。これにより、電子部品３を静電吸着して搬送することができる。
　ターンテーブル２０の搬送速度は、リニアフィーダ１０の搬送速度よりも速い。ターンテーブル２０の回転速度は、１００００回転／分以上の回転数であると好ましい。これにより、図２および図３Ａに示すように、電子部品３の間隔を空けることができ、電子部品３の端面側の外観検査が可能となる。なお、１００００回転／分以上でなくてもよく、９０００回転／分以上でもよく、８０００回転／分以上でもよい。そのとき、電子部品３のサイズは、長さ方向寸法は０．２５ｍｍ±１０％であり、幅方向寸法および厚み方向寸法は０．１２５ｍｍ±１３％程度である。
　ターンテーブル２０は、ガラスまたは樹脂等の材料からなり、透明性を有する。これにより、電子部品３の裏面側の外観検査が可能となる。
　図１Ａに示すように、撮像デバイス３０は、例えばカメラである。ターンテーブル２０の回転搬送軌跡２１に沿って、６個の撮像デバイス３０が設けられている。６個の撮像デバイス３０は、ターンテーブル２０上の電子部品３の６個の外面、すなわち２つの主面ＴＳ１およびＴＳ２、２つの側面ＷＳ１およびＷＳ２および２つの端面ＬＳ１およびＬＳ２、をそれぞれ撮像する。
　測定デバイス４０は、例えば電子部品３の外部電極に接触するための一対のプローブを含み、電子部品３の電気特性を測定する。図１Ａに示すように、測定デバイス４０は、リニアフィーダ１０の下流側の静電吸着部分に設けられてもよい。或いは、図１Ｂに示すように、測定デバイス４０は、ターンテーブル２０の回転搬送軌跡２１に沿って設けられてもよい。この場合、上述したように、また図３Ｂに示すように、リニアフィーダ１０には静電吸着機構１２が設けられていなくともよい。測定デバイス４０は、リニアフィーダ１０上またはターンテーブル２０上の電子部品３の電気特性を測定する。例えば、電子部品３が積層セラミックコンデンサである場合、測定デバイス４０は電子部品３の容量を測定する。
　上述したように、測定デバイス４０による電気特性の測定が行われるリニアフィーダ１０の下流側の静電吸着部分またはターンテーブル２０は、電子部品３を静電吸着しながら搬送する。これにより、電気特性の測定精度を高めることが可能である。
　図１Ａおよび図４に示すように、第１排出機構５０は、後述する検査選別コントローラ８０によって外観検査の結果または電気特性検査の結果に基づいて選別された良品を、ターンテーブル２０から排出してケース５に収容する。第１排出機構５０による良品の排出方法は、特に限定されないが、エアー吹付、エアー吸引、物理的接触押出、等が挙げられる。例えば、第１排出機構５０は、良品が搬送されてきた場合、検査選別コントローラ８０からの指令に従って、ターンテーブル２０上の良品にエアーを吹き付けることにより、良品をターンテーブル２０から内部に取り込む。
　第１排出機構５０は、管状部材５２と、エアー供給機構５３と、漏斗状部材５４と、エアー排出機構５５とを備える。
　管状部材５２は、断面円形または断面多角形の管状の部材であり、ターンテーブル２０からケース５の出入口まで延在する。これにより、管状部材５２は、ターンテーブル２０から排出された良品である電子部品３を、ケース５の出入口５ａまで導く。
　管状部材５２は、上流側から下流側に向けて、次第に位置が低くなるように延在する。これにより、電子部品３は、重力によりケース５に導かれる。例えば、管状部材５２は、鉛直方向に対して傾斜して延在する部分を有する。この場合、電子部品３は管状部材５２の内壁を転がってケース５に導かれる。また、管状部材５２は、鉛直方向に沿って延在する部分を有する。この場合、電子部品３は自由落下してケース５に導かれる。
　エアー供給機構５３は、管状部材５２の上流側に配置され、電子部品３の搬送力を増大するためのエアーを供給する。例えば、エアー供給機構５３は、管状部材５２の側面から下方に向けてエアーを供給する。
　漏斗状部材５４は、断面円形または断面多角形の漏斗状の部材であり、管状部材５２とケース５の出入口との間に配置されている。
　エアー排出機構５５は、漏斗状部材５４に配置される、換言すれば管状部材５２の下流側に配置される。これにより、エアー排出機構５５は、エアーを排出する。
　例えば、エアー排出機構５５は、漏斗状部材５４の上面において管状部材５２の周縁に配置される開口である。開口は電子部品３の外形寸法よりも小さいと好ましい。或いは、開口が電子部品３の外形寸法よりも大きい場合、開口には、電子部品３の外形寸法よりも小さい網目のメッシュ状の部材が設けられていると好ましい。これにより、開口から電子部品３が排出されることを防止しつつ、エアーのみを排出することができる。
　或いは、エアー排出機構５５は、例えば真空吸引等の吸引機構を有していてもよい。この場合、例えば、エアー排出機構５５は、漏斗状部材５４の上面または側面からエアーを吸引する。吸引機構の吸引口は電子部品３の外形寸法よりも小さいと好ましい。或いは、吸引機構の吸引口が電子部品３の外形寸法よりも大きい場合、吸引機構の吸引口には、電子部品３の外形寸法よりも小さい網目のメッシュ状の部材が設けられていると好ましい。これにより、吸引機構の吸引口から電子部品３が排出されることを防止しつつ、エアーのみを排出することができる。
　第２排出機構６０は、後述する検査選別コントローラ８０によって外観検査の結果または電気特性検査の結果に基づいて選別された不良品を、ターンテーブル２０から排出して回収箱（図示省略）に回収する。第２排出機構６０による不良品の排出方法は、第１排出機構５０による良品の排出方法と同様であればよい。例えば、第２排出機構６０は、不良品が搬送されてきた場合、検査選別コントローラ８０からの指令に従って、ターンテーブル２０上の不良品にエアーを吹き付けることにより、不良品をターンテーブル２０から内部に取り込む。
　また、第２排出機構６０は、第１排出機構５０と同様に管状部材を有し、管状部材によって、ターンテーブル２０から排出された不良品を回収箱まで導く（図示省略）。第２排出機構６０は、第１排出機構５０の上流側に設けられていると好ましい。
　図１Ａおよび図４に示すように、第１カウンタ７１は、第１排出機構５０によってターンテーブル２０から排出された良品をカウントする。第１カウンタ７１は、第１排出機構５０の下流側、すなわちケース５の直前、に設けられる。これにより、ケース５に収容される良品を正確にカウントすることができる。
なお、第１カウンタ７１は、更に第１排出機構５０の上流側にも設けられてもよい。これにより、２つの第１カウンタ７１のカウント数が異なる場合に、第１排出機構５０内に電子部品３が残留することを確認することができる。
　第１カウンタ７１としては、特に限定されないが、カメラ、光センサ、渦電流センサ等が挙げられる。渦電流センサは、公知の渦電流センサ、渦電流式変位センサであればよい。例えば、共振回路からセンサコイルに高周波信号を供給し、センサコイルから高周波磁界を発生させる。この磁界内に金属を含む電子部品が近づくと、電子部品の金属に渦電流が発生し、センサコイルのインピーダンスが変化する。すると共振回路の電圧が変化する。この電圧変化を検波回路によって検出することによって、電子部品の通過をカウントすることができる。
　第２カウンタ７２は、第２排出機構６０によってターンテーブル２０から排出される不良品をカウントする（図示省略）。第２カウンタ７２は、第１カウンタ７１と同様であればよい。
　検査選別コントローラ８０は、部品選別装置１全体を制御する。具体的には、検査選別コントローラ８０は、撮像デバイス３０からの撮像結果に基づいて電子部品３の外観検査を行い、外観検査の結果に基づいて良品および不良品を選別する。或いは、または、更に、検査選別コントローラ８０は、測定デバイス４０からの測定結果に基づいて電子部品３の電気特性検査（ベリファイともいう）を行い、電気特性検査の結果に基づいて良品および不良品を選別する。
　また、検査選別コントローラ８０は、第１排出機構５０による良品の排出を制御する。例えば、検査選別コントローラ８０は、リニアフィーダ１０の搬送速度、ターンテーブル２０の搬送速度（或いは、回転速度、および、回転搬送軌跡長さまたは半径）、リニアフィーダ１０またはターンテーブル２０における測定デバイス４０の位置、ターンテーブル２０における撮像デバイス３０の位置等の情報から、良品を第１排出機構５０から排出するタイミングを算出して、第１排出機構５０に指令する。
　また、検査選別コントローラ８０は、第２排出機構６０による不良品の排出を制御する。例えば、検査選別コントローラ８０は、リニアフィーダ１０の搬送速度、ターンテーブル２０の搬送速度（或いは、回転速度、および、回転搬送軌跡長さまたは半径）、リニアフィーダ１０またはターンテーブル２０における測定デバイス４０の位置、ターンテーブル２０における撮像デバイス３０の位置等の情報から、不良品を第２排出機構６０から排出するタイミングを算出して、第２排出機構６０に指令する。
　検査選別コントローラ８０は、例えば、ＤＳＰ（Digital Signal Processor）、ＦＰＧＡ（Field-Programmable Gate Array）等の演算プロセッサで構成される。検査選別コントローラ８０の各種機能は、例えば記憶部に格納された所定のソフトウェア（プログラム）を実行することで実現される。検査選別コントローラ８０の各種機能は、ハードウェアとソフトウェアとの協働で実現されてもよいし、ハードウェア（電子回路）のみで実現されてもよい。
　検査選別コントローラ８０における記憶部は、例えばＥＥＰＲＯＭ等の書き換え可能なメモリである。記憶部は、選別コントローラの各種機能を実行するための所定のソフトウェア（プログラム）を格納する。また、記憶部は、例えば外部から入力された各種設定値を格納する。各種設定値は、リニアフィーダ１０の搬送速度、ターンテーブル２０の搬送速度（或いは、回転速度、および、回転搬送軌跡長さまたは半径）、撮像デバイス３０の位置、測定デバイス４０の位置、第１排出機構５０の位置、および第２排出機構６０の位置に関する情報、および良品／不良品の判定基準、等を含む。
　以上説明したように、本実施形態の部品選別装置１によれば、電子部品３を搬送するリニアフィーダ１０およびターンテーブル２０（搬送機構）と、ターンテーブル２０上の電子部品３の６つの外観をそれぞれ撮像する６つの撮像デバイス３０、または、リニアフィーダ１０上またはターンテーブル２０上の電子部品３の電気特性を測定する測定デバイス４０と、撮像デバイス３０からの撮像結果に基づいて電子部品３の外観検査を行い、または、測定デバイス４０からの測定結果に基づいて電子部品３の電気特性検査を行い、外観検査の結果または電気特性検査の結果に基づいて良品を選別する検査選別コントローラ８０と、検査選別コントローラ８０によって選別された良品を、ターンテーブル２０から排出してケース５に収容する第１排出機構５０とを備える。これにより、複数の電子部品３を搬送しながら外観検査または電気特性検査を行い、良品を選別してケース５に収容することができる。
　ここで、このような部品選別装置では、排出された良品である電子部品３を、管状部材５２によってケース５の入口まで導き、ケース５に収容することがある。この場合、例えば電子部品３が管状部材５２内に残留することを防止する目的で、電子部品３の搬送力を増大するために、管状部材５２の上流側に、エアーを供給するエアー供給機構５３を設けることがある。
　また、ケース５として、箱状のケースであり、出入口５ａを１つしか有さないケースがある。このようなケース５と、上述したエアー供給機構５３を有する管状部材５２とを組み合わせると、ケース５の出入口５ａに向けてエアーが供給され続け、ケース５に入ったエアーの出口がないため、ケース５内に電子部品３が入らなくなってしまう。その結果、電子部品３のケース５への収容性が低下してしまう。
　この点に関し、本実施形態の部品選別装置１によれば、第１排出機構５０は、管状部材５２の下流側に配置され、エアーを排出するエアー排出機構５５を有する。これにより、エアー供給機構５３から供給されるエアーを排出することができ、電子部品３のケース５への収容性の低下を抑制することができる。
　また、本実施形態の部品選別装置１によれば、エアー排出機構５５は開口であってもよい。開口は電子部品３の外形寸法よりも小さいと好ましい。或いは、開口が電子部品３の外形寸法よりも大きい場合、開口には、電子部品３の外形寸法よりも小さい網目のメッシュ状の部材が設けられていると好ましい。これにより、開口から電子部品３が排出されることを防止しつつ、エアーのみを排出することができる。
　また、本実施形態の部品選別装置１によれば、エアー排出機構５５は吸引機構を有していてもよい。吸引機構の吸引口は電子部品３の外形寸法よりも小さいと好ましい。或いは、吸引機構の吸引口が電子部品３の外形寸法よりも大きい場合、吸引機構の吸引口には、電子部品３の外形寸法よりも小さい網目のメッシュ状の部材が設けられていると好ましい。これにより、吸引機構の吸引口から電子部品３が排出されることを防止しつつ、エアーのみを排出することができる。
　以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上述した実施形態に限定されることなく、種々の変更および変形が可能である。上述した実施形態では、不良品をターンテーブル２０から排出する第２排出機構６０を備える形態について例示した。しかし、本発明はこれに限定されず、例えば第２排出機構６０を備えない形態であってもよい。この場合、部品選別装置１は、撮像デバイス３０による撮像および外観検査後、直ちに不良品をターンテーブル２０から排出してもよい。また、部品選別装置１は、測定デバイス４０による測定および電気特性検査後、直ちに不良品をリニアフィーダ１０またはターンテーブル２０から排出してもよい。この場合、ターンテーブル２０の外周全体、および／または、リニアフィーダ１０の側方全体に、不良品回収機能を配置してもよい。
　また、上述した実施形態では、検査選別コントローラ８０が撮像デバイス３０からの撮像結果に基づいて電子部品の外観検査を行う機能を有する形態について例示した。しかし、本発明はこれに限定されず、撮像デバイス３０の各々が外観検査機能を有してもよい。また、撮像デバイス３０の各々が、上述の変形例のように、外観検査後に直ちに不良品をターンテーブル２０から排出する機能を有してもよい。
　また、上述した実施形態では、検査選別コントローラ８０が測定デバイス４０からの測定結果に基づいて電子部品の電気特性検査を行う機能を有する形態について例示した。しかし、本発明はこれに限定されず、測定デバイス４０の各々が電気特性検査機能を有してもよい。また、測定デバイス４０の各々が、上述の変形例のように、電気特性検査後に直ちに不良品をリニアフィーダ１０またはターンテーブル２０から排出する機能を有してもよい。
　１　部品選別装置
　３　電子部品
　５　ケース
　５ａ　出入口
　１０　リニアフィーダ（搬送機構）
　１２　静電吸着機構
　２０　ターンテーブル（搬送機構）
　２１　回転搬送軌跡
　２２　ガイド機構
　２４　静電吸着機構
　３０　撮像デバイス
　４０　測定デバイス
　５０　第１排出機構（排出機構）
　５２　管状部材
　５３　エアー供給機構
　５４　漏斗状部材
　５５　エアー排出機構
　６０　第２排出機構
　７１　第１カウンタ
　７２　第２カウンタ
　８０　検査選別コントローラ

Claims (10)

  1. 　部品を搬送しながら検査し、良品を選別してケースに収容する部品選別装置であって、
    　前記ケースは、箱状であり、出入口を１つのみ有し、
    　前記部品選別装置は、
    　前記部品を搬送する搬送機構と、
    　前記搬送機構上の前記部品の外観を撮像する撮像デバイス、または、前記搬送機構上の前記部品の電気特性を測定する測定デバイスと、
    　前記撮像デバイスからの撮像結果に基づいて前記部品の外観検査を行い、または、前記測定デバイスからの測定結果に基づいて前記部品の電気特性検査を行い、前記外観検査の結果または前記電気特性検査の結果に基づいて良品を選別する検査選別コントローラと、
    　前記検査選別コントローラによって選別された良品を、前記搬送機構から排出して前記ケースに収容する排出機構と、
    を備え、
    　前記排出機構は、
    　前記搬送機構から排出された良品である前記部品を、前記ケースの前記出入口まで導く管状部材と、
    　前記管状部材の上流側に配置され、前記部品の搬送力を増大するためのエアーを供給するエアー供給機構と、
    　前記管状部材の下流側に配置され、前記エアーを排出するエアー排出機構と、
    を含む、部品選別装置。
  2. 　前記エアー排出機構は開口を有する、請求項１に記載の部品選別装置。
  3. 　前記開口は、前記部品の外形寸法よりも小さい、請求項２に記載の部品選別装置。
  4. 　前記エアー排出機構は、前記開口に配置され、前記部品の外形寸法よりも小さい網目のメッシュ状の部材を有する、請求項２に記載の部品選別装置。
  5. 　前記エアー排出機構は吸引機構を有する、請求項１に記載の部品選別装置。
  6. 　前記吸引機構の吸引口は、前記部品の外形寸法よりも小さい、請求項５に記載の部品選別装置。
  7. 　前記エアー排出機構は、前記吸引機構の吸引口に配置され、前記部品の外形寸法よりも小さい網目のメッシュ状の部材を有する、請求項５に記載の部品選別装置。
  8. 　前記管状部材は、上流側から下流側に向けて、次第に位置が低くなるように延在する、請求項１～７のいずれか１項に記載の部品選別装置。
  9. 　前記管状部材は、鉛直方向に対して傾斜して延在する部分を有する、請求項８に記載の部品選別装置。
  10. 　前記管状部材は、鉛直方向に沿って延在する部分を有する、請求項８に記載の部品選別装置。
PCT/JP2022/041502 2021-12-27 2022-11-08 部品選別装置 WO2023127316A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020247014931A KR20240089335A (ko) 2021-12-27 2022-11-08 부품 선별 장치
CN202280071263.4A CN118140135A (zh) 2021-12-27 2022-11-08 部件筛选装置
JP2023570716A JPWO2023127316A1 (ja) 2021-12-27 2022-11-08

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2021-211966 2021-12-27
JP2021211966 2021-12-27

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2023127316A1 true WO2023127316A1 (ja) 2023-07-06

Family

ID=86998719

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2022/041502 WO2023127316A1 (ja) 2021-12-27 2022-11-08 部品選別装置

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JPWO2023127316A1 (ja)
KR (1) KR20240089335A (ja)
CN (1) CN118140135A (ja)
TW (1) TW202336428A (ja)
WO (1) WO2023127316A1 (ja)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62146818A (ja) * 1985-12-18 1987-06-30 Nec Corp テ−ピング部品の移送方法
JPH0295581U (ja) * 1989-01-12 1990-07-30
JP2003177150A (ja) * 2001-12-11 2003-06-27 Murata Mfg Co Ltd 電子部品の搬送排出装置
JP2007246214A (ja) * 2006-03-15 2007-09-27 Hamamura Yuatsu Kk 外観検査装置
JP2010275097A (ja) * 2009-06-01 2010-12-09 Murata Mfg Co Ltd チップ部品搬送装置
KR20150116212A (ko) * 2014-04-07 2015-10-15 나승옥 워크 배출장치

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6529170B2 (ja) 2015-08-26 2019-06-12 株式会社 東京ウエルズ ワークの外観検査装置およびワークの外観検査方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62146818A (ja) * 1985-12-18 1987-06-30 Nec Corp テ−ピング部品の移送方法
JPH0295581U (ja) * 1989-01-12 1990-07-30
JP2003177150A (ja) * 2001-12-11 2003-06-27 Murata Mfg Co Ltd 電子部品の搬送排出装置
JP2007246214A (ja) * 2006-03-15 2007-09-27 Hamamura Yuatsu Kk 外観検査装置
JP2010275097A (ja) * 2009-06-01 2010-12-09 Murata Mfg Co Ltd チップ部品搬送装置
KR20150116212A (ko) * 2014-04-07 2015-10-15 나승옥 워크 배출장치

Also Published As

Publication number Publication date
CN118140135A (zh) 2024-06-04
TW202336428A (zh) 2023-09-16
JPWO2023127316A1 (ja) 2023-07-06
KR20240089335A (ko) 2024-06-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN201156073Y (zh) 视觉定位式smd晶片检测装置
KR101660474B1 (ko) 연속 테이핑 전자부품의 제조장치, 연속 테이핑 전자부품의 제조방법, 전자부품의 반송장치, 전자부품의 반송방법 및 연속 테이핑 전자부품
US9387993B2 (en) Conveyor apparatus
JP6009167B2 (ja) ワークの外観検査装置およびワークの外観検査方法
JP2011133458A (ja) ワークの外観検査装置およびワークの外観検査方法
TWI640787B (zh) 晶片電子零件檢查分選裝置
KR101840691B1 (ko) 전자 부품 반송 장치 및 테이핑 전자 부품 어레이의 제조 방법
US7390158B2 (en) Handling device for electronic chip components and handling method for electronic chip components
JP6241439B2 (ja) 積層セラミックコンデンサの方向識別方法、積層セラミックコンデンサの方向識別装置及び積層セラミックコンデンサの製造方法
WO2023127316A1 (ja) 部品選別装置
KR20180069729A (ko) 전자부품의 반송 정렬 장치 및 전자부품의 반송 정렬 방법
WO2023127315A1 (ja) 部品選別装置
TW201138997A (en) Apparatus for characteristic inspection and classification of chip-type electronic component
JP2014152021A (ja) ワーク搬送装置
US9714921B2 (en) Method of identifying direction of multilayer ceramic capacitor, apparatus identifying direction of multilayer ceramic capacitor, and method of manufacturing multilayer ceramic capacitor
JP2024008004A (ja) 部品選別装置
KR101713088B1 (ko) 적층 세라믹 콘덴서의 방향 식별 방법, 적층 세라믹 콘덴서의 방향 식별 장치 및 적층 세라믹 콘덴서의 제조 방법
WO2023233840A1 (ja) 部品検査装置
JP7347386B2 (ja) 静電誘導吸着式搬送体および静電誘導吸着式搬送装置
KR101871282B1 (ko) 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 방법, 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 장치, 일련의 적층 세라믹 콘덴서의 제조 방법, 및 일련의 적층 세라믹 콘덴서
JP2024017625A (ja) 部品選別装置
JP7205846B2 (ja) 搬送装置、搬送方法、及び外観検査装置
JP2020203236A (ja) 電子部品計数装置

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 22915548

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2023570716

Country of ref document: JP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 202280071263.4

Country of ref document: CN

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20247014931

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE