KR101871282B1 - 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 방법, 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 장치, 일련의 적층 세라믹 콘덴서의 제조 방법, 및 일련의 적층 세라믹 콘덴서 - Google Patents

적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 방법, 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 장치, 일련의 적층 세라믹 콘덴서의 제조 방법, 및 일련의 적층 세라믹 콘덴서 Download PDF

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Abstract

적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 방법은, 적층 세라믹 콘덴서를 자기 발생기(31) 앞 및 계측기(32) 앞을 통과시키는 공정과, 계측기(32) 앞을 적층 세라믹 콘덴서가 통과했을 때의 자속 밀도를 계측하는 공정과, 상기 자속 밀도를 계측하는 공정에서 계측된 자속 밀도에 기초한 판정 대상값과 적어도 하나의 역치의 대소관계를 판정함으로써, 제1 주면 및 제2 주면이 향하는 방향을 판별하는 자세 판별 공정을 포함한다. 상기 자세 판별 공정에서, 판정 대상값이 제1 역치보다 낮은 경우에 제2 주면이 계측기(32)와 마주 보고 있다고 판별한다.

Description

적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 방법, 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 장치, 일련의 적층 세라믹 콘덴서의 제조 방법, 및 일련의 적층 세라믹 콘덴서{METHOD FOR DETERMINING A POSTURE OF A MULTILAYER CERAMIC CAPACITOR, DEVICE FOR DETERMINING A POSTURE OF A MULTILAYER CERAMIC CAPACITOR, METHOD FOR PRODUCING A SERIES OF MULTILAYER CERAMIC CAPACITORS, AND A SERIES OF MULTILAYER CERAMIC CAPACITORS}
본 발명은 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 방법, 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 장치, 일련의 적층 세라믹 콘덴서의 제조 방법, 및 일련의 적층 세라믹 콘덴서에 관한 것이다.
적층된, 자성 재료를 함유하는 내부전극층과 유전체 세라믹층을 포함하는 적층 세라믹 콘덴서(이후, 콘덴서라고 칭하는 경우가 있음)에는, 기판에 실장될 때에 내부전극층이 실장면에 대하여 수직의 방향이 되는 방향과 평행의 방향이 되는 방향이 있다.
콘덴서의 외관으로부터 내부전극의 적층 방향을 분별하는 것은 어렵다. 특히, 콘덴서가 테이핑 포장된 후에는, 커버 필름을 통해 콘덴서의 외관을 보게 되기 때문에, 외관의 차이를 확인하기 어려워 내부전극의 적층 방향의 판별은 매우 곤란하다.
콘덴서의 방향 식별 방법을 개시한 선행 문헌으로서, 일본국 공개특허공보 평 7-115033호, 및 일본국 공개특허공보 2014-130912호가 있다.
일본국 공개특허공보 평 7-115033호에 기재된 콘덴서의 방향 식별 방법에서는, 콘덴서에 일정한 자기장을 걸어 콘덴서의 자화(磁化) 상태를 계측하여, 자화의 강도에 의해 내부전극층의 방향을 식별하고 있다.
일본국 공개특허공보 2014-130912호에 기재된 콘덴서의 방향 식별 방법에서는, 콘덴서를, 자기 발생기와 계측기 사이를 통과시켜, 적어도 콘덴서의 통과 시의 자속 밀도의 변화를 계측한다. 자속 밀도의 계측 결과에 기초하여 콘덴서에서의 내부전극층의 적층 방향을 식별하고 있다.
내부전극층의 적층 방향의 판별은, 콘덴서에서 적층 방향에 직교하는 주면과 적층 방향을 따라 연장되는 측면의 판별이라고 바꿔 말해도 된다. 주면에는, 제1 외층이 포함되는 제1 주면과 제2 외층이 포함되는 제2 주면이 있으며, 종래의 콘덴서에서는, 제1 주면과 제2 주면을 판별할 필요성은 없었다.
최근에, 제1 외층의 두께와 제2 외층의 두께를 다르게 한 콘덴서가 제조되는 경우가 있다. 이 콘덴서에서는, 기판에 실장되기 전에 제1 주면 및 제2 주면이 향하는 방향이 판별되어 있는 것이 바람직하다.
상기의 종래 기술의 방법에서는, 콘덴서의 제1 주면 및 제2 주면이 향하는 방향을 판별하는 것이 곤란했다.
본 발명의 주 목적은, 적층 세라믹 콘덴서의 제1 주면 및 제2 주면이 향하는 방향을 판별할 수 있는, 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 방법, 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 장치, 일련의 적층 세라믹 콘덴서의 제조 방법, 및 일련의 적층 세라믹 콘덴서를 제공하는 것에 있다.
본 발명에 기초하는 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 방법은 제1 주면을 포함하는 제1 외층과, 제1 외층보다 두껍고 제2 주면을 포함하는 제2 외층과, 제1 외층과 제2 외층 사이에서 교대로 적층된 복수의 유전체층과 복수의 내부전극층을 포함하는 적층 세라믹 콘덴서에서의 제1 주면 및 제2 주면이 향하는 방향을 판별하는, 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 방법이다. 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 방법은, 적층 세라믹 콘덴서를, 자기 발생기 앞 및 계측기 앞을 통과시키는 공정과, 계측기 앞을 적층 세라믹 콘덴서가 통과했을 때의 자속 밀도를 계측하는 공정과, 상기 자속 밀도를 계측하는 공정에서 계측된 자속 밀도에 기초한 판정 대상값과 적어도 하나의 역치의 대소관계를 판정함으로써, 제1 주면 및 제2 주면이 향하는 방향을 판별하는 자세 판별 공정을 포함한다. 상기 자세 판별 공정에서, 판정 대상값이 제1 역치보다 낮은 경우에 제2 주면이 계측기와 마주 보고 있다고 판별한다.
본 발명의 한 형태에서는, 상기 자세 판별 공정에서 판정 대상값이, 제1 역치보다 높은 제2 역치보다 낮으면서 제1 역치보다 높은 경우에, 제1 주면이 계측기와 마주 보고 있다고 판별한다.
본 발명의 한 형태에서는, 판정 대상값은 상기 자속 밀도를 계측하는 공정에서 계측된 자속 밀도의 누적값이다.
본 발명에 기초하는 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 장치는, 제1 주면을 포함하는 제1 외층과, 제1 외층보다 두껍고 제2 주면을 포함하는 제2 외층과, 제1 외층과 제2 외층 사이에서 교대로 적층된 복수의 유전체층과 복수의 내부전극층을 포함하는 적층 세라믹 콘덴서에서의 제1 주면 및 제2 주면이 향하는 방향을 판별하는, 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 장치이다. 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 장치는, 자기 발생기와, 자속 밀도를 계측하는 계측기와, 적층 세라믹 콘덴서를 반송하여 자기 발생기 앞 및 계측기 앞을 통과시키는 반송 기구와, 적층 세라믹 콘덴서가 계측기 앞을 통과했을 때에 계측기로 계측된 자속 밀도에 기초한 판정 대상값과 적어도 하나의 역치의 대소관계를 판정함으로써, 제1 주면 및 제2 주면이 향하는 방향을 판별하는 자세 판별부를 포함한다. 자세 판별부는, 판정 대상값이 제1 역치보다 낮은 경우에, 제2 주면이 계측기와 마주 보고 있다고 판별한다.
본 발명의 한 형태에서는, 자세 판별부는, 판정 대상값이 제1 역치보다 높은 제2 역치보다 낮으면서 제1 역치보다 높은 경우에, 제1 주면이 계측기와 마주 보고 있다고 판별한다.
본 발명의 한 형태에서는, 판정 대상값은 계측기로 계측된 자속 밀도의 누적값이다.
본 발명에 기초하는 일련의 적층 세라믹 콘덴서의 제조 방법은 제1 주면을 포함하는 제1 외층과, 제1 외층보다 두껍고 제2 주면을 포함하는 제2 외층과, 제1 외층과 제2 외층 사이에서 교대로 적층된 복수의 유전체층과 복수의 내부전극층을 포함하는 각각의 적층 세라믹 콘덴서가 복수개로 구성된 복수의 적층 세라믹 콘덴서를 포함하는 일련의 적층 세라믹 콘덴서의 제조 방법이다. 일련의 적층 세라믹 콘덴서의 제조 방법은 복수의 적층 세라믹 콘덴서를 제조하는 공정과, 복수의 적층 세라믹 콘덴서를, 자기 발생기 앞 및 계측기 앞을 통과시키는 공정과, 계측기 앞을 복수의 적층 세라믹 콘덴서의 각각이 통과했을 때의 자속 밀도를 계측하는 공정과, 상기 자속 밀도를 계측하는 공정에서 계측된 자속 밀도에 기초한 판정 대상값과 적어도 하나의 역치의 대소관계를 판정함으로써, 제1 주면 및 제2 주면이 향하는 방향을 판별하는 자세 판별 공정과, 상기 복수의 적층 세라믹 콘덴서의 각각의 제2 주면이 향하는 방향을 서로 맞추는 공정과, 복수의 적층 세라믹 콘덴서를 하나씩 동일한 자세로 테이프의 복수의 오목부에 수용하는 공정을 포함한다. 상기 자세 판별 공정에서, 판정 대상값이 제1 역치보다 낮은 경우에, 제2 주면이 계측기와 마주 보고 있다고 판별하며, 상기 판정 대상값은 상기 자속 밀도를 계측하는 공정에서 계측된 자속 밀도의 누적값이다.
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본 발명의 한 형태에서는, 일련의 적층 세라믹 콘덴서의 제조 방법은 상기 자속 밀도를 계측하는 공정 전에, 복수의 적층 세라믹 콘덴서 각각의 복수의 내부전극층 적층 방향을 서로 맞추는 공정을 더 포함한다.
본 발명의 한 형태에서는, 상기 복수의 적층 세라믹 콘덴서를 제조하는 공정에서, 제1 외층을 구성하는 유전체층과, 제2 외층을 구성하는 유전체층을 실질적으로 동일한 세라믹스 재료계로 형성한다.
본 발명의 한 형태에서는, 상기 복수의 적층 세라믹 콘덴서를 제조하는 공정에서, 복수의 제1 세라믹스 시트를 적층하여 제1 외층을 형성하고, 복수의 제2 세라믹스 시트를 적층하여 제2 외층을 형성한다. 복수의 제1 세라믹스 시트와 복수의 제2 세라믹스 시트는, 공통의 머더 세라믹 시트로부터 잘린다.
본 발명에 기초하는 일련의 적층 세라믹 콘덴서는 복수의 적층 세라믹 콘덴서와, 복수의 적층 세라믹 콘덴서를 하나씩 수용하는 복수의 오목부를 갖는 테이프를 포함한다. 복수의 적층 세라믹 콘덴서의 각각은 제1 주면을 포함하는 제1 외층과, 제1 외층보다 두껍고 제2 주면을 포함하는 제2 외층과, 제1 외층과 상기 제2 외층 사이에서 교대로 적층된 복수의 유전체층과 복수의 내부전극층을 포함한다. 복수의 오목부에 수용된 복수의 적층 세라믹 콘덴서의 각각의 제2 주면이 향하는 방향은 서로 맞추어져 있다.
본 발명의 한 형태에서는, 복수의 적층 세라믹 콘덴서의 각각이 자화되어 있다.
본 발명의 한 형태에서는, 복수의 적층 세라믹 콘덴서의 각각에서, 제2 외층의 두께와 제1 외층의 두께의 차가 30㎛ 이상이다.
본 발명의 한 형태에서는, 복수의 적층 세라믹 콘덴서의 각각에서, 제1 외층을 구성하는 유전체층과, 제2 외층을 구성하는 유전체층은 동일한 세라믹스 재료계이다.
본 발명의 한 형태에서는, 복수의 적층 세라믹 콘덴서의 각각에서, 제1 주면과 제2 주면의 검출되는 색의 분포가 일부 겹쳐 있다.
본 발명의 한 형태에서는, 복수의 적층 세라믹 콘덴서의 각각에서, 제1 외층을 구성하는 유전체층의 재료가 되는 제1 세라믹스 시트와, 제2 외층을 구성하는 유전체층의 재료가 되는 제2 세라믹스 시트는, 공통의 머더 세라믹 시트로부터 잘려 있다.
본 발명에 의하면, 적층 세라믹 콘덴서의 제1 주면 및 제2 주면이 향하는 방향을 판별할 수 있다.
이 발명의 상기 및 다른 목적, 특징, 국면 및 이점은, 첨부한 도면과 관련하여 이해되는 이 발명에 관한 다음의 상세한 설명으로부터 명백해질 것이다.
도 1은 본 발명의 실시형태 1에 따른 콘덴서의 외관을 나타내는 사시도이다.
도 2는 도 1의 콘덴서를 II-II선 화살표 방향에서 본 단면도이다.
도 3은 본 발명의 실시형태 1에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치의 구성을 나타내는 측면도이다.
도 4는 본 발명의 실시형태 1에 따른 일련의 콘덴서 구성을 나타내는 단면도이다.
도 5는 자기 발생기와 계측기 사이에, 콘덴서가 위치하고 있지 않은 상태에서의 자력선을 나타내는 단면도이다.
도 6은 자기 발생기와 계측기 사이에, 제1 주면이 자기 발생기를 마주 보고, 제2 주면이 계측기를 마주 보고 있는 제1 자세의 콘덴서가 위치하고 있는 상태에서의 자력선을 나타내는 단면도이다.
도 7은 자기 발생기와 계측기 사이에, 제2 주면이 자기 발생기를 마주 보고, 제1 주면이 계측기를 마주 보고 있는 제2 자세의 콘덴서가 위치하고 있는 상태에서의 자력선을 나타내는 단면도이다.
도 8은 자기 발생기와 계측기 사이에, 제1 측면이 자기 발생기를 마주 보고, 제2 측면이 계측기를 마주 보고 있는 제3 자세의 콘덴서가 위치하고 있는 상태에서의 자력선을 나타내는 단면도이다.
도 9는 자기 발생기와 계측기 사이에, 제2 측면이 자기 발생기를 마주 보고, 제1 측면이 계측기를 마주 보고 있는 제4 자세의 콘덴서가 위치하고 있는 상태에서의 자력선을 나타내는 단면도이다.
도 10은 제1 자세, 제2 자세, 제3 자세 및 제4 자세의 각각의 콘덴서가 계측기 앞을 통과했을 때의 자속 밀도의 경시 변화를 나타내는 그래프이다.
도 11은 제1 자세, 제2 자세, 제3 자세 및 제4 자세의 각각의 콘덴서가 계측기 앞을 통과했을 때의 자속 밀도의 누적값을 나타내는 그래프이다.
도 12는 실험예 1에서 샘플 1~3의 각각의 콘덴서가 계측기 앞을 통과했을 때의 자속 밀도의 누적값을 나타내는 그래프이다.
도 13은 자속 밀도의 최대값을 판정 대상값으로서 콘덴서의 자세를 판별 불가능할 정도로 제1 외층의 두께와 제2 외층의 두께의 차가 작은 경우의, 계측기에 의한 자속 밀도의 계측 결과를 나타내는 그래프이다.
도 14는 자속 밀도의 최대값을 판정 대상값으로서 콘덴서의 자세를 판별가능할 정도로 제1 외층의 두께와 제2 외층의 두께의 차가 큰 경우의, 계측기에 의한 자속 밀도의 계측 결과를 나타내는 그래프이다.
도 15는 본 발명의 실시형태 2에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치의 구성을 나타내는 평면도이다.
도 16은 본 발명의 실시형태 2에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치의 직선 반송 기구의 구성을 나타내는 평면도이다.
도 17은 본 발명의 실시형태 3에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치의 구성을 나타내는 평면도이다.
도 18은 본 발명의 실시형태 3에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치의 회전 반송 기구의 구성을 나타내는 확대 평면도이다.
도 19는 본 발명의 실시형태 4에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치의 구성을 나타내는 측면도이다.
이하, 본 발명의 각 실시형태에 따른, 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 방법, 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 장치, 일련의 적층 세라믹 콘덴서의 제조 방법, 및 일련의 적층 세라믹 콘덴서에 대해 도면을 참조하여 설명한다. 이하의 실시형태의 설명에서는, 도면 중 동일 또는 상당 부분에는 동일 부호를 붙이고 그 설명은 반복하지 않는다.
(실시형태 1)
먼저, 본 발명의 실시형태 1에 따른 콘덴서의 구성에 대해 설명한다. 도 1은 본 발명의 실시형태 1에 따른 콘덴서의 외관을 나타내는 사시도이다. 도 2는 도 1의 콘덴서를 II-II선 화살표 방향에서 본 단면도이다.
도 1, 2에 나타내는 바와 같이, 콘덴서(1)는 세라믹 소체(10)를 포함하고 있다. 세라믹 소체(10)는 대략 직방체상이다. 구체적으로, 세라믹 소체(10)는 정사각 기둥상이다. 세라믹 소체(10)는 제1 및 제2 주면(10a, 10b)과, 제1 및 제2 측면(10c, 10d)과, 제1 및 제2 단면(10e, 10f)을 갖는다.
제1 및 제2 주면(10a, 10b)의 각각은, 길이 방향(L) 및 폭 방향(W)을 따라 연장되어 있다. 제1 주면(10a)과 제2 주면(10b)은 서로 평행하다. 제1 및 제2 측면(10c, 10d)의 각각은, 길이 방향(L) 및 높이 방향(H)을 따라 연장되어 있다. 제1 측면(10c)과 제2 측면(10d)은 서로 평행하다. 제1 및 제2 단면(10e, 10f)의 각각은 폭 방향(W) 및 높이 방향(H)을 따라 연장되어 있다. 제1 단면(10e)과 제2 단면(10f)은 서로 평행하다.
세라믹 소체(10)는 유전체 세라믹을 주성분으로 하는 재료에 의해 구성되어 있다. 유전체 세라믹의 구체예로는, 예를 들면 BaTiO3, CaTiO3, SrTiO3, 또는, CaZrO3 등을 들 수 있다. 세라믹 소체(10)에는, 예를 들면 Mn 화합물, Mg 화합물, Si 화합물, Co 화합물, Ni 화합물, 및 희토류 화합물 등의 적어도 하나의 부성분이 적절히 첨가되어 있어도 된다.
또한 "대략 직방체"에는, 각부(角部) 또는 능선부가 모따기된 직방체, 및 각부 또는 능선부가 둥근 직방체가 포함되는 것으로 한다.
도 2에 나타내는 바와 같이, 세라믹 소체(10)는 유전체층으로 이루어지고, 제1 주면(10a)을 포함하는 제1 외층(15a)과, 제1 외층(15a)보다 두꺼운 유전체층으로 이루어지며, 제2 주면(10b)을 포함하는 제2 외층(15b)과, 제1 외층(15a)과 제2 외층(15b) 사이에서 유전체층과 교대로 적층된 복수의 내부전극층(11, 12)을 포함한다. 즉, 제1 외층(15a)의 두께(T1)와, 제2 외층(15b)의 두께(T2)는, T1＜T2의 관계를 만족시킨다.
본 실시형태에서는, 복수의 콘덴서(1)의 각각에서, 제1 외층(15a)을 구성하는 유전체층과, 제2 외층(15b)을 구성하는 유전체층은, 실질적으로 동일한 세라믹스 재료계이다. 실질적으로 동일한 세라믹스 재료계란, 원료가 되는 세라믹스 재료의 조합 비율이 실질적으로 동일하며, 조합 비율 및 가공 공정의 편차에 의한 세라믹스 조성의 편차의 범위는, 실질적으로 동일한 세라믹스 재료계에 포함된다.
구체적으로, 복수의 콘덴서(1)의 각각에서, 제1 외층(15a)을 구성하는 유전체층의 재료가 되는 제1 세라믹스 시트와, 제2 외층(15b)을 구성하는 유전체층의 재료가 되는 제2 세라믹스 시트는, 공통의 머더 세라믹 시트로부터 잘려 있다. 즉, 제1 세라믹스 시트와 제2 세라믹스 시트는, 동일한 세라믹 원료 및 첨가제를 이용하여, 동일한 제조 방법에 의해 제작된 세라믹스 시트이다. 제2 세라믹스 시트를 제1 세라믹스 시트보다 많이 적층함으로써, 제2 외층(15b)을 제1 외층(15a)보다 두껍게 할 수 있고 적층 세라믹 콘덴서를 효율적으로 제조할 수 있다.
따라서 콘덴서(1)의 제1 주면(10a)과 제2 주면(10b)은, 색에 의한 판별이 곤란하다. 구체적으로, 복수의 콘덴서(1)의 각각에서, 제1 주면(10a)과 제2 주면(10b)의 광학 센서(예를 들면, 카메라)에 의해 검출되는 색의 분포가 적어도 일부 겹쳐 있다. 즉, 복수의 콘덴서(1)의 각각에서, 제1 주면(10a) 및 제2 주면(10b)을 카메라로 촬상하여 얻은 화상의 처리로써, 제1 주면(10a)과 제2 주면(10b)을 정확하게 판별하는 것이 곤란하다. 이러한 경우라도, 본 실시형태에 따른 콘덴서의 자세 판별 방법을 이용함으로써 제1 주면(10a)과 제2 주면(10b)을 판별하는 것이 가능해진다.
본 실시형태에 따른 콘덴서의 자세 판별 방법에서는, 제1 주면(10a)과 제2 주면(10b)의 색의 차이를 이용할 필요가 없으므로, 색의 차이를 마련하기 위해 제1 외층(15a)을 구성하는 유전체층의 세라믹스 재료계와 제2 외층(15b)을 구성하는 유전체층의 세라믹스 재료계를 다르게 할 필요가 없어, 세라믹스 재료계를 다르게 함으로써 콘덴서의 전기적 특성에 악영향이 생기는 것을 방지할 수 있다.
세라믹 소체(10)의 내부에서, 내부전극층(11)과 내부전극층(12)은, 높이 방향(H)을 따라 교대로 적층되어 있다. 복수의 내부전극층(11, 12)의 각각은 길이 방향(L) 및 폭 방향(W)으로 평행으로 마련되어 있다. 높이 방향(H)에서 이웃하는 내부전극층(11)과 내부전극층(12) 사이에는, 유전체층(15)이 배치되어 있다. 즉, 높이 방향(H)에서 이웃하는 내부전극층(11)과 내부전극층(12)은, 유전체층(15)을 사이에 두고 서로 대향하고 있다.
내부전극층(11)은 제1 단면(10e)으로 인출되어 있다. 제1 단면(10e)을 덮도록 외부전극(13)이 마련되어 있다. 외부전극(13)은 내부전극층(11)과 전기적으로 접속되어 있다. 내부전극층(12)은 제2 단면(10f)으로 인출되어 있다. 제2 단면(10f)을 덮도록 외부전극(14)이 마련되어 있다. 외부전극(14)은 내부전극층(12)과 전기적으로 접속되어 있다.
내부전극층(11, 12)은 Ni 등의 자성 재료에 의해 구성되어 있다. 외부전극(13, 14)은 예를 들면, Ni, Cu, Ag, Pd, Au, 또는 Ag-Pd 합금 등의 적당한 도전재료에 의해 구성되어 있다.
다음으로, 본 발명의 실시형태 1에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치의 구성에 대해 설명한다. 도 3은 본 발명의 실시형태 1에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치의 구성을 나타내는 측면도이다. 도 4는 본 발명의 실시형태 1에 따른 일련의 콘덴서 구성을 나타내는 단면도이다. 도 4에서는, 후술하는 자기 발생기(31)와 계측기(32) 사이를 통과하고 있는 부분인 일련의 콘덴서(2)를 나타내고 있다.
본 발명의 실시형태 1에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치(3)는, 콘덴서(1)에서의 제1 주면(10a) 및 제2 주면(10b)이 향하는 방향을 판별한다. 도 3, 4에 나타내는 바와 같이, 자세 판별 장치(3)는 자기 발생기(31)와, 계측기(32)와, 반송 기구(35)와, 자세 판별부(36)를 포함한다. 자기 발생기(31)는 영구자석 또는 전자석으로 구성되어 있다.
반송 기구(35)는 자기 발생기(31) 앞 및 계측기(32) 앞을 통과하도록 콘덴서(1)를 반송한다. 본 실시형태에서는, 반송 기구(35)는 자기 발생기(31)와 계측기(32) 사이를, 일련의 콘덴서(2)를 통과시킴으로써 자기 발생기(31) 앞 및 계측기(32) 앞을, 콘덴서(1)를 통과시킨다.
구체적으로, 일련의 콘덴서(2)는 복수의 콘덴서(1)와, 복수의 콘덴서(1)를 하나씩 수용하는 복수의 오목부(21h)를 갖는 테이프(20)를 포함한다. 테이프(20)는 캐리어 테이프(21)와 커버 테이프(22)로 구성되어 있다. 캐리어 테이프(21)에 복수의 오목부(21h)가 마련되어 있다. 캐리어 테이프(21)에 커버 테이프(22)가 접합됨으로써, 복수의 오목부(21h)의 각각이 폐쇄된다.
반송 기구(35)는 일련의 콘덴서(2)를 반송하기 위한, 제1 롤(33) 및 제2 롤(34)을 갖는다. 제1 롤(33)에는, 일련의 콘덴서(2)가 미리 감겨 있고, 제1 롤(33)로부터 배출되어 자기 발생기(31)와 계측기(32) 사이를 통과한 일련의 콘덴서(2)가 제2 롤(34)에 감긴다.
계측기(32)는 자기 발생기(31)에서 발생한 자속의 밀도를 계측 가능하도록 배치되어 있다. 계측기(32)는 자기 발생기(31)로부터 발생한 자속의 밀도를 계측한다. 계측기(32)는, 적어도 콘덴서(1)가 계측기(32) 앞을 통과했을 때에 자속 밀도를 계측한다.
본 실시형태에서는, 계측기(32)는 10㎑ 이상 100㎑ 이하 정도의 간격으로 자속 밀도를 연속하여 계측하고, 콘덴서(1)가 계측기(32) 앞을 통과할 때의 자속 밀도의 경시 변화를 파악할 수 있다.
계측기(32)는 가우스미터(gauss meter) 또는 테슬라미터(tesla meter) 등의 자속 밀도계와 자기 프로브(magnetic probe)를 갖고 있다. 자기 프로브의 선단부에는, 예를 들면 지름이 0.76㎜인 홀 소자를 갖는 자기 센서가 내장되어 있다. 계측기(32)는 자속 밀도의 계측 결과를 자세 판별부(36)에 출력한다.
자세 판별부(36)는 계측기(32)에서 계측된 자속 밀도에 기초한 판정 대상값과 적어도 하나의 역치의 대소관계를 판정함으로써, 제1 주면(10a) 및 제2 주면(10b)이 향하는 방향을 판별한다. 자세 판별부(36)는 콘덴서(1)의 자세 판별을, 일련의 콘덴서(2)에서 서로 간격을 두고 일렬로 배치된 복수의 콘덴서(1)에 대하여 순서대로 실시한다.
여기서, 본 실시형태에 따른 콘덴서의 자세 판별 방법의 원리에 대해 설명한다. 도 5는 자기 발생기와 계측기 사이에, 콘덴서가 위치하고 있지 않은 상태에서의 자력선을 나타내는 단면도이다. 도 6은 자기 발생기와 계측기 사이에, 제1 주면이 자기 발생기를 마주 보고, 제2 주면이 계측기를 마주 보고 있는 제1 자세의 콘덴서가 위치하고 있는 상태에서의 자력선을 나타내는 단면도이다. 도 7은 자기 발생기와 계측기 사이에, 제2 주면이 자기 발생기를 마주 보고, 제1 주면이 계측기를 마주 보고 있는 제2 자세의 콘덴서가 위치하고 있는 상태에서의 자력선을 나타내는 단면도이다. 도 8은 자기 발생기와 계측기 사이에, 제1 측면이 자기 발생기를 마주 보고, 제2 측면이 계측기를 마주 보고 있는 제3 자세의 콘덴서가 위치하고 있는 상태에서의 자력선을 나타내는 단면도이다. 도 9는 자기 발생기와 계측기 사이에, 제2 측면이 자기 발생기를 마주 보고, 제1 측면이 계측기를 마주 보고 있는 제4 자세의 콘덴서가 위치하고 있는 상태에서의 자력선을 나타내는 단면도이다.
도 5에 나타내는 바와 같이, 자기 발생기(31)와 계측기(32) 사이에 콘덴서(1)가 위치하고 있지 않은 상태에서는, 계측기(32)를 통과하는 자력선(Lm)의 간격이 가장 넓어져, 바꿔 말하면 단위 면적당 자력선(Lm)의 개수가 적어져 자속 밀도는 낮아진다.
도 6~9에 나타내는 바와 같이, 자기 발생기(31)와 계측기(32) 사이에 콘덴서(1)가 위치하고 있는 상태에서는, 콘덴서(1)가 위치하고 있지 않은 상태보다 계측기(32)를 통과하는 자력선(Lm)의 간격이 좁아져 단위 면적당 자력선(Lm)의 개수가 많아진다.
제1 주면(10a)이 계측기(32)를 마주 보고 있는 제2 자세(1b)의 상태에서는, 제2 주면(10b)이 계측기(32)를 마주 보고 있는 제1 자세(1a)의 상태보다 계측기(32)를 통과하는 자력선(Lm)의 간격이 좁아져 단위 면적당 자력선(Lm)의 개수가 많아진다.
제1 또는 제2 측면(10c, 10d)이 계측기(32)를 마주 보고 있는 제3 또는 제4 자세(1c, 1d)의 상태에서는, 제1 주면(10a)이 계측기(32)를 마주 보고 있는 제2 자세(1b)의 상태보다 계측기(32)를 통과하는 자력선(Lm)의 간격이 좁아져 단위 면적당 자력선(Lm)의 개수가 많아진다.
도 10은 제1 자세, 제2 자세, 제3 자세 및 제4 자세의 각각의 콘덴서가 계측기 앞을 통과했을 때의 자속 밀도의 경시 변화를 나타내는 그래프이다. 도 10에서는 세로축에 자속 밀도, 가로축에 경과 시간을 나타내고 있다.
도 10에 나타내는 바와 같이, 계측기(32)에 의해 계측되는 자속 밀도의 최대값은, 제1 자세(1a)의 상태에서 가장 낮고, 다음으로 제2 자세(1b)의 상태에서 낮고, 제3 자세(1c)의 상태 및 제4 자세(1d)의 상태에서 가장 높다.
따라서 제1 자세(1a)의 상태에서의 자속 밀도의 최대값과, 제2 자세(1b)의 상태에서의 자속 밀도의 최대값 사이에 제1 역치를 설정하고, 계측기(32)에 의해 계측되는 자속 밀도의 최대값을 판정 대상값으로 함으로써, 콘덴서(1)가 제1 자세(1a)의 상태인지 여부의 판별을 실시하는 것이 가능해진다. 즉, 자속 밀도의 최대값이 제1 역치보다 낮은 경우에, 콘덴서(1)가 제1 자세(1a)의 상태라고 판별할 수 있다.
또한 제2 자세(1b)의 상태에서의 자속 밀도의 최대값과, 제3 자세(1c)의 상태 및 제4 자세(1d)에서의 자속 밀도의 최대값 사이에 제1 역치보다 높은 제2 역치를 설정하고, 계측기(32)에 의해 계측되는 자속 밀도의 최대값을 판정 대상값으로 함으로써, 콘덴서(1)가 제2 자세(1b)의 상태인지 여부의 판별을 실시하는 것이 가능해진다. 즉, 자속 밀도의 최대값이 제2 역치보다 낮으면서 제1 역치보다 높은 경우에, 콘덴서(1)가 제2 자세(1b)의 상태라고 판별할 수 있다.
또한 자속 밀도의 최대값이 제2 역치보다 높은 경우는, 콘덴서(1)가 제3 자세(1c)의 상태 또는 제4 자세(1d)라고 판별할 수 있다.
도 11은 제1 자세, 제2 자세, 제3 자세 및 제4 자세의 각각의 콘덴서가 계측기 앞을 통과했을 때의 자속 밀도의 누적값을 나타내는 그래프이다. 도 11에서는, 세로축에 자속 밀도의 누적값, 가로축에 경과 시간을 나타내고 있다.
도 11에 나타내는 바와 같이, 계측기(32)에 의해 계측되는 자속 밀도의 누적값은 제1 자세(1a)의 상태에서 가장 낮고, 다음으로 제2 자세(1b)의 상태에서 낮고, 제3 자세(1c)의 상태 및 제4 자세(1d)의 상태에서 가장 높다. 자속 밀도의 누적값의 차는, 자속 밀도의 최대값의 차보다 크다.
제1 자세(1a)의 상태에서의 자속 밀도의 누적값과, 제2 자세(1b)의 상태에서의 자속 밀도의 누적값 사이에 제1 역치를 설정하고, 계측기(32)에 의해 계측되는 자속 밀도의 누적값을 판정 대상값으로 함으로써, 콘덴서(1)가 제1 자세(1a)의 상태인지 여부의 판별을 실시하는 것이 가능해진다. 즉, 자속 밀도의 누적값이 제1 역치보다 낮은 경우에, 콘덴서(1)가 제1 자세(1a)의 상태라고 판별할 수 있다.
또한 제2 자세(1b)의 상태에서의 자속 밀도의 누적값과, 제3 자세(1c)의 상태 및 제4 자세(1d)에서의 자속 밀도의 누적값 사이에 제1 역치보다 높은 제2 역치를 설정하고, 계측기(32)에 의해 계측되는 자속 밀도의 누적값을 판정 대상값으로 함으로써, 콘덴서(1)가 제2 자세(1b)의 상태인지 여부의 판별을 실시하는 것이 가능해진다. 즉, 자속 밀도의 누적값이 제2 역치보다 낮으면서 제1 역치보다 높은 경우에, 콘덴서(1)가 제2 자세(1b)의 상태라고 판별할 수 있다.
또한 자속 밀도의 누적값이 제2 역치보다 높은 경우는, 콘덴서(1)가 제3 자세(1c)의 상태 또는 제4 자세(1d)라고 판별할 수 있다.
자속 밀도의 누적값의 차는 자속 밀도의 최대값의 차보다 크기 때문에, 자속 밀도의 누적값을 판정 대상값으로 함으로써, 콘덴서(1)의 자세의 판별 정밀도를 향상시킬 수 있다.
예를 들면, 계측기(32)에 의해 자속 밀도를 계측할 때의 콘덴서(1)의 위치가 불규칙해짐으로써, 자속 밀도의 최대값이 불규칙하게 분포된 경우라도, 자속 밀도의 누적값을 판정 대상값으로 함으로써 콘덴서(1)의 자세를 안정적으로 판별할 수 있다.
특히, 내부전극층(11, 12)의 적층 장수가 적은 경우에는, 자속 밀도의 최대값을 판정 대상값으로 하는 것보다, 자속 밀도의 누적값을 판정 대상값으로서 콘덴서(1)의 자세를 판별하는 것이 바람직하다. 구체적으로, 내부전극층(11, 12)의 적층 장수가 100장 이하인 경우에, 자속 밀도의 누적값을 판정 대상값으로서 콘덴서(1)의 자세를 판별하는 것이 바람직하다.
이와 같이, 본 실시형태에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치(3)는 콘덴서(1)의 제1 주면(10a) 및 제2 주면(10b)이 향하는 방향을 판별할 수 있다. 그 결과, 자세가 가지런하지 않은 콘덴서(1)에 마킹을 실시하여 식별하거나, 또는 자세가 가지런하지 않은 콘덴서(1)를 제외할 수 있다.
여기서, 제1 외층(15a)의 두께와 제2 외층(15b)의 두께 차이의 크기가, 계측기(32)에 의해 계측되는 자속 밀도에 주는 영향을 검증한 실험예에 대해 설명한다.
(실험예 1)
먼저, 3종류의 콘덴서의 샘플 1~3을 제작했다. 샘플 1~3에 공통의 조건으로, 콘덴서의 외형의 길이 방향(L)의 치수를 1.15㎜, 폭 방향(W)의 치수를 0.65㎜, 제1 외층의 두께를 40㎛, 내부전극층의 적층 장수를 430장으로 했다. 제2 외층의 두께를, 샘플 1은 140㎛, 샘플 2는 240㎛, 샘플 3은 340㎛로 했다.
도 12는 실험예 1에서 샘플 1~3의 각각의 콘덴서가 계측기 앞을 통과했을 때의 자속 밀도의 누적값을 나타내는 그래프이다. 도 12에서는, 세로축에 자속 밀도의 누적값, 가로축에 경과 시간을 나타내고 있다.
도 12에서, 샘플 1이 제3 자세(1c)의 상태 및 제4 자세(1d)의 상태에서의 자속 밀도의 누적값을 실선 A, 샘플 1이 제2 자세(1b)의 상태에서의 자속 밀도의 누적값을 실선 B, 샘플 1이 제1 자세(1a)의 상태에서의 자속 밀도의 누적값을 실선 C, 샘플 2가 제1 자세(1a)의 상태에서의 자속 밀도의 누적값을 실선 D, 샘플 3이 제1 자세(1a)의 상태에서의 자속 밀도의 누적값을 실선 E로 나타내고 있다.
도 12에 나타내는 바와 같이, 제1 외층(15a)의 두께와 제2 외층(15b)의 두께의 차가 커짐에 따라, 제1 자세(1a)의 상태에서의 자속 밀도의 누적값과, 제2 자세(1b)의 상태에서의 자속 밀도의 누적값의 차가 커졌다. 따라서 제1 외층(15a)의 두께와 제2 외층(15b)의 두께의 차가 커짐에 따라, 콘덴서(1)의 자세의 판별 정밀도가 향상하는 것을 확인할 수 있었다.
다음으로, 제1 외층(15a)의 두께와 제2 외층(15b)의 두께 차이의 크기가, 계측기(32)에 의해 계측되는 자속 밀도의 최대값에 주는 영향을 검증한 실험예에 대해 설명한다.
(실험예 2)
도 13은 자속 밀도의 최대값을 판정 대상값으로서 콘덴서의 자세를 판별 불가능할 정도로 제1 외층의 두께와 제2 외층의 두께의 차가 작은 경우의, 계측기에 의한 자속 밀도의 계측 결과를 나타내는 그래프이다. 도 14는 자속 밀도의 최대값을 판정 대상값으로서 콘덴서의 자세를 판별가능할 정도로 제1 외층의 두께와 제2 외층의 두께의 차가 큰 경우의, 계측기에 의한 자속 밀도의 계측 결과를 나타내는 그래프이다. 도 13, 14에서는, 세로축에 계측 빈도를 나타내고 가로축에 자속 밀도의 최대값을 나타낸다.
도 13에 나타내는 바와 같이, 제1 외층(15a)의 두께와 제2 외층(15b)의 두께의 차가 작은 경우, 계측기에 의해 계측되는, 제1 자세(1a)의 상태에서의 자속 밀도의 최대값군과, 제2 자세(1b)의 상태에서의 자속 밀도의 최대값군 사이에 명확한 경계가 없어, 제1 자세(1a)의 상태와 제2 자세(1b)의 상태를 판별할 수 없다.
도 14에 나타내는 바와 같이, 제1 외층(15a)의 두께와 제2 외층(15b)의 두께의 차가 충분히 큰 경우, 계측기에 의해 계측되는, 제1 자세(1a)의 상태에서의 자속 밀도의 최대값군과, 제2 자세(1b)의 상태에서의 자속 밀도의 최대값군은 간격(D)을 두고 명확히 떨어져 있어, 제1 자세(1a)의 상태와 제2 자세(1b)의 상태를 판별할 수 있다.
실험예 2에서는, 제1 외층(15a)의 두께와 제2 외층(15b)의 두께의 차를 변경하여, 5종류의 콘덴서인 샘플 4~8을 제작했다. 샘플 4~8에 공통의 조건으로, 콘덴서의 외형의 길이 방향(L)의 치수를 1.15㎜, 폭 방향(W)의 치수를 0.65㎜, 제1 외층의 두께를 40㎛, 내부전극층의 적층 장수를 430장으로 했다.
제1 외층(15a)의 두께와 제2 외층(15b)의 두께의 차를, 샘플 4는 5㎛, 샘플 5는 20㎛, 샘플 6은 30㎛, 샘플 7은 60㎛, 샘플 8은 100㎛로 했다.
계측기(32)에 의해 계측된, 제1 자세(1a)의 상태에서의 자속 밀도의 최대값군과, 제2 자세(1b)의 상태에서의 자속 밀도의 최대값군의 차는, 샘플 4는 0.29mT, 샘플 5는 0.37mT, 샘플 6은 0.43mT, 샘플 7은 0.60mT, 샘플 8은 0.82mT였다.
제1 자세(1a)의 상태에서의 자속 밀도의 최대값군과, 제2 자세(1b)의 상태에서의 자속 밀도의 최대값군을 판별하기 위해서는, 반복 정밀도(±0.1mT)에 동등한 마진을 더하여 0.4mT의 차가 필요하다. 그렇다면 실험예 2의 결과로부터, 제1 외층(15a)의 두께와 제2 외층(15b)의 두께의 차는, 30㎛ 이상 필요한 것을 확인할 수 있었다.
또한 제1 외층(15a)의 두께와 제2 외층(15b)의 두께의 차가 180㎛ 이상인 경우, 콘덴서의 제조 공정에서의 세라믹의 소성 시에 제1 외층(15a) 및 제2 외층(15b)의 열수축 밸런스가 무너져 구조결함(크랙)이 생길 가능성이 있는 것을 알 수 있었다.
따라서 구조결함(크랙)의 발생을 억제하면서, 콘덴서(1)의 자세를 판별 가능하게 하기 위해서는, 제1 외층(15a)의 두께와 제2 외층(15b)의 두께의 차가, 30㎛ 이상 180㎛ 미만인 것이 바람직하다.
또한 다양한 평가의 결과, 유전체층에 티탄산바륨이 포함되는 콘덴서에서, 제1 외층(15a)의 두께와 제2 외층(15b)의 두께의 차가 30㎛ 이상에서 자세의 판별이 가능해지는 것은, 적어도 이하의 조건을 만족하는 경우이다. 외형의 길이 방향(L)의 치수가 1.0㎜ 이상이면서, 폭 방향(W)의 치수가 0.5㎜ 이상인 콘덴서가 0.1㎌ 이상의 정전용량을 갖고 있다. 또는, 외형의 길이 방향(L)의 치수가 0.6㎜ 이상 1.0㎜ 미만이면서, 폭 방향(W)의 치수가 0.3㎜ 이상 0.5㎜ 미만인 콘덴서가 1㎌ 이상의 정전용량을 갖고 있다.
(실시형태 2)
이하, 본 발명의 실시형태 2에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치의 구성에 대해 설명한다. 본 실시형태에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치는, 테이프로 포장되기 전의 콘덴서(1)의 자세를 판별하는 점이, 주로 실시형태 1에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치(3)와 다르기 때문에, 실시형태 1에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치(3)와 동일한 구성에 대해서는, 동일한 참조 부호를 붙이고 그 설명을 반복하지 않는다.
도 15는 본 발명의 실시형태 2에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치의 구성을 나타내는 평면도이다. 도 16은 본 발명의 실시형태 2에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치의 직선 반송 기구의 구성을 나타내는 평면도이다.
도 15, 16에 나타내는 바와 같이, 본 발명의 실시형태 2에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치는 직선 반송 기구(51)와, 회전 반송 기구(52)와, 자기 발생기(31)와, 계측기(32)와, 자세 판별부(40)를 포함한다.
직선 반송 기구(51)에는, 볼 공급장치(ball feeder)(50)가 접속되어 있다. 볼 공급장치(50)에는 복수의 콘덴서(1)가 수용되어 있다. 볼 공급장치(50)가 진동함으로써 직선 반송 기구(51)에 콘덴서(1)가 순차 공급된다.
직선 반송 기구(51)는 회전 반송 기구(52)에 접속되어 있다. 직선 반송 기구(51)는 콘덴서(1)를 진동에 의해 회전 반송 기구(52)로 반송한다. 직선 반송 기구(51)의 반송 경로에는, 반송 경로의 폭이 넓은 폭 확대부(51a)와, 서로 대향한 2개의 개구부(51b, 51c)가 마련되어 있다.
폭 확대부(51a)를 사이에 두도록, 폭 확대부(51a)의 양쪽에 하나씩 자기 발생기(70)가 배치되어 있다. 2개의 자기 발생기(70)는 서로 간에 자력을 작용시킴으로써, 콘덴서(1)의 적층 방향을 맞추는 기능을 갖는다. 적층 방향이 다른 콘덴서(1)는 폭 확대부(51a)를 통과할 때에, 자기 발생기(70)가 발생하는 자력에 의해 도 16 중 화살표로 나타내는 바와 같이 길이 방향(L)을 회전축 방향으로 하여 회전한다. 그 결과, 폭 확대부(51a)를 통과한 콘덴서(1)의 적층 방향이 맞추어진다.
또한 콘덴서(1)의 적층 방향을 맞추는 방법은, 자력을 이용하는 방법에 한정되지 않고, 예를 들면 콘덴서(1)의 폭 방향(W)의 치수와 높이 방향(H)의 치수의 차이를 이용하여 콘덴서(1)의 적층 방향을 맞춰도 된다.
직선 반송 기구(51)의 반송 경로인, 폭 확대부(51a)와 2개의 개구부(51b, 51c) 사이에서, 반송 경로를 서로 사이에 두도록 자기 발생기(31)와 계측기(32)가 배치되어 있다. 직선 반송 기구(51)는 자기 발생기(31) 앞을 통과하도록 콘덴서(1)를 반송한다. 계측기(32)는 자속 밀도의 계측 결과를 자세 판별부(40)에 출력한다.
자세 판별부(40)는 개구부(51b)의 외측에 배치되어, 개구부(51c)를 향해 공기를 내뿜을 수 있도록 구성되어 있다. 자세 판별부(40)는 자세가 다른 콘덴서(1)가 앞을 통과할 때에, 그 콘덴서(1)에 공기를 내뿜어 개구부(51c)로부터 반송 경로 밖으로 배출한다. 이로써, 회전 반송 기구(52)로 반송된 콘덴서(1)는 동일한 자세로 맞추어져 있다. 구체적으로, 복수의 콘덴서(1)의 각각은, 제2 주면(10b)이 연직방향 아래쪽의 자세로 맞추어져 있다.
또한 개구부(51c)로부터 배출된 콘덴서(1)를 볼 공급장치(50)에 다시 투입해도 되고, 길이 방향(L)을 회전축 방향으로 하여 180도 회전시켜 동일한 자세로 맞추고 나서, 직선 반송 기구(51)의 반송 경로로 되돌려도 된다. 또한 콘덴서(1)를 배출하는 방법은, 콘덴서(1)로 공기를 내뿜는 방법에 한정되지 않으며, 중력 또는 자력을 이용하는 방법이어도 되고, 픽업 기구를 이용하는 방법이어도 된다.
회전 반송 기구(52)는 콘덴서(1)가 캐리어 테이프(21)의 오목부(21h)에 수용되도록 콘덴서(1)를 반송한다. 회전 반송 기구(52)는 중심축(C)을 중심으로 하여 회전하는 원판형상의 반송 테이블(54)을 갖는다.
구체적으로, 원형의 로터(rotor)인 반송 테이블(54)은, 중심축(C)을 중심으로 하여 시계 방향으로 회전한다. 반송 테이블(54)은 복수의 수용부(54a)를 포함하고 있다. 복수의 수용부(54a)는, 반송 테이블(54)의 바깥둘레를 따라 서로 간격을 두고 일렬로 마련되어 있다.
직선 반송 기구(51)와 회전 반송 기구(52)의 접속 부분이 되는 반송 테이블(54)의 포지션(P1)에서, 직선 반송 기구(51)로부터 수용부(54a)로 콘덴서(1)가 들어간다. 수용부(54a)로 들어간 콘덴서(1)는, 반송 테이블(54)이 회전함으로써 중심축(C)을 중심으로 하여 둘레방향을 따라 반송된다.
콘덴서(1)는 포지션(P1)으로부터, 회전 반송 기구(52)와 캐리어 테이프(21)의 반송 경로의 접속 부분이 되는 반송 테이블(54)의 포지션(P3)까지 반송된다. 포지션(P3)에서, 회전 반송 기구(52)로부터 캐리어 테이프(21)의 오목부(21h)에 콘덴서(1)가 삽입된다.
캐리어 테이프(21)의 오목부(21h)에 수용된 콘덴서(1)에서는, 오목부(21h)의 바닥과 제2 주면(10b)이 마주 보고 있다. 이와 같이, 복수의 콘덴서(1)가 하나씩 동일한 자세로 캐리어 테이프(21)의 복수의 오목부(21h)에 수용된다. 그 결과, 복수의 오목부(21h)에 수용된 복수의 콘덴서(1)의 각각의 제2 주면(10b)이 향하는 방향은 서로 맞추어진다. 또한 본 실시형태에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치에서, 자세가 판별된 복수의 콘덴서(1)의 각각은 자화되어 있다. 이 경우, 복수의 콘덴서(1)의 각각으로부터 발생하는 자속이 서로 동일한 방향을 향하므로, 오목부(21h) 내에 수용되어 있는 콘덴서(1)의 자세가 바뀌기 어려워지는 것을 기대할 수 있다.
또한 콘덴서(1)가 자화되어 있는지의 여부를 판정하기 위해서는, 먼저 처음에 콘덴서(1)로부터 발생하는 자속의 밀도를 계측하고, 그 콘덴서(1)를 탈(脫)자기로 소자(消磁)한 후에 다시 자속 밀도를 계측하여, 1회째에 계측된 자속 밀도와 2회째에 계측된 자속 밀도를 비교한다. 2회의 자속 밀도의 계측 결과에 유의차가 있는 경우에는, 콘덴서(1)가 자화되어 있었다고 판정한다.
본 실시형태에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치에서도, 콘덴서(1)의 제1 주면(10a) 및 제2 주면(10b)이 향하는 방향을 판별할 수 있다.
또한 본 실시형태에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치에서는, 콘덴서(1)의 적층 방향을 맞추기 위한 자기 발생기(70)를 포함하고 있지만, 반드시 자기 발생기(70)를 포함하지 않아도 된다. 단, 콘덴서의 자세 판별 장치가 자기 발생기(70)를 포함하고 있는 쪽이, 효율적으로 복수의 콘덴서(1)의 각각의 자세를 맞출 수 있다.
(실시형태 3)
이하, 본 발명의 실시형태 3에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치의 구성에 대해 설명한다. 본 실시형태에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치는, 회전 반송 기구(52)에 자기 발생기(31)와 계측기(32)가 마련되어 있는 점이, 주로 실시형태 2에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치와 다르기 때문에, 실시형태 2에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치와 동일한 구성에 대해서는, 동일한 참조 부호를 붙이고 그 설명을 반복하지 않는다.
도 17은 본 발명의 실시형태 3에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치의 구성을 나타내는 평면도이다. 도 18은 본 발명의 실시형태 3에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치의 회전 반송 기구의 구성을 나타내는 확대 평면도이다.
도 17, 18에 나타내는 바와 같이, 본 발명의 실시형태 3에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치는 직선 반송 기구(51)와, 회전 반송 기구(52)와, 자기 발생기(31)와, 계측기(32)와, 자세 판별부(40)를 포함한다. 본 실시형태에서는, 직선 반송 기구(51)는 회전 반송 기구(52)에 콘덴서(1)를 반송하는 기능만 갖고 있다.
회전 반송 기구(52)의 반송 경로에서, 포지션(P1)과 포지션(P3) 사이에 위치하는 포지션(P2)에는, 자세 판별 기구(55)가 마련되어 있다. 자세 판별 기구(55)는 자기 발생기(31)와 계측기(32)를 포함하고 있다. 회전 반송 기구(52)의 반송 경로를 서로 사이에 두도록 자기 발생기(31)와 계측기(32)가 배치되어 있다. 자기 발생기(31)는 반송 테이블(54)의 위쪽에 위치하고, 계측기(32)는 반송 테이블(54)의 아래쪽에 위치하고 있다.
회전 반송 기구(52)는 자기 발생기(31) 앞을 통과하도록 콘덴서(1)를 반송한다. 반송 테이블(54)은 일정한 간격을 두고 회전운동과 정지를 반복하는, 이른바 간헐동작을 한다. 계측기(32)는 자속 밀도의 계측 결과를 자세 판별부(40)에 출력한다.
자세 판별부(40)는 회전 반송 기구(52)의 반송 경로에서 자세 판별 기구(55)보다 하류 측에 위치하고, 반송 테이블(54)의 정지 시의 수용부(54a)에 대하여 반송 테이블(54)의 안쪽둘레 측에서 인접하고 있다. 자세 판별부(40)에 인접하는 수용부(54a)에 대하여 반송 테이블(54)의 바깥둘레 측에, 이 수용부(54a)의 개구와 대향하는 배출부(52c)가 마련되어 있다. 자세 판별부(40)는 배출부(52c)를 향해 공기를 내뿜을 수 있도록 구성되어 있다. 자세 판별부(40)는 자세가 다른 콘덴서(1)가 앞을 통과할 때에, 그 콘덴서(1)에 공기를 내뿜어 배출부(52c)로부터 반송 경로 밖으로 배출한다. 이로써, 반송 테이블(54)의 포지션(P3)으로 반송된 콘덴서(1)는 동일한 자세로 맞추어져 있다. 구체적으로, 복수의 콘덴서(1)의 각각은 제2 주면(10b)이 연직방향 아래쪽의 자세로 맞추어져 있다.
본 실시형태에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치에서도, 콘덴서(1)의 제1 주면(10a) 및 제2 주면(10b)이 향하는 방향을 판별할 수 있다.
(실시형태 4)
이하, 본 발명의 실시형태 4에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치의 구성에 대해 설명한다. 본 실시형태에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치는, 마운터의 이동 경로에 자기 발생기(31)와 계측기(32)가 마련되어 있는 점이, 주로 실시형태 1에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치와 다르기 때문에, 실시형태 1에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치와 동일한 구성에 대해서는, 동일한 참조 부호를 붙이고 그 설명을 반복하지 않는다.
도 19는 본 발명의 실시형태 4에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치의 구성을 나타내는 측면도이다.
도 19에 나타내는 바와 같이, 본 발명의 실시형태 4에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치는, 반송 기구인 마운터(60)와, 자기 발생기(31)와, 계측기(32)와, 도시하지 않는 자세 판별부를 포함한다.
마운터(60)는 흡착 노즐을 포함하고, 캐리어 테이프(21)의 오목부에 수용되어 있는 콘덴서(1)를 하나씩 흡착 노즐에 의해 취출하고 실장 기판(61) 상에 반송한다. 마운터(60)는 자기 발생기(31) 앞을 통과하도록 콘덴서(1)를 반송한다. 콘덴서(1)는 자기 발생기(31)와 계측기(32) 사이를 통과한다.
본 실시형태에 따른 콘덴서의 자세 판별 장치에서도, 콘덴서(1)의 제1 주면(10a) 및 제2 주면(10b)이 향하는 방향을 판별할 수 있다. 그 결과, 자세가 맞추어져 있지 않은 콘덴서(1)를 제외할 수 있다. 본 발명의 실시의 형태에 대해 설명했지만, 이번에 개시된 실시형태는 모든 점에서 예시로서 제한적인 것이 아니라고 생각되어야 한다. 본 발명의 범위는 청구범위로써 나타내고, 청구범위와 균등한 의미 및 범위 내에서의 모든 변경이 포함되는 것이 의도된다.

Claims (18)

  1. 제1 주면을 포함하는 제1 외층과,
    상기 제1 외층보다 두껍고 제2 주면을 포함하는 제2 외층과,
    상기 제1 외층과 상기 제2 외층 사이에서 교대로 적층된 복수의 유전체층과 복수의 내부전극층을 포함하는 적층 세라믹 콘덴서에서의 상기 제1 주면 및 상기 제2 주면이 향하는 방향을 판별하는, 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 방법으로서,
    상기 적층 세라믹 콘덴서를, 자기 발생기 앞 및 계측기 앞을 통과시키는 공정과,
    상기 계측기 앞을 상기 적층 세라믹 콘덴서가 통과했을 때의 자속 밀도를 계측하는 공정과,
    상기 자속 밀도를 계측하는 공정에서 계측된 상기 자속 밀도에 기초한 판정 대상값과 적어도 하나의 역치의 대소관계를 판정함으로써, 상기 제1 주면 및 상기 제2 주면이 향하는 방향을 판별하는 자세 판별 공정을 포함하고,
    상기 자세 판별 공정에서, 상기 판정 대상값이 제1 역치보다 낮은 경우에, 상기 제2 주면이 상기 계측기와 마주 보고 있다고 판별하며,
    상기 판정 대상값은 상기 자속 밀도를 계측하는 공정에서 계측된 상기 자속 밀도의 누적값인 것을 특징으로 하는 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 자세 판별 공정에서, 상기 판정 대상값이 상기 제1 역치보다 높은 제2 역치보다 낮으면서 상기 제1 역치보다 높은 경우에, 상기 제1 주면이 상기 계측기와 마주 보고 있다고 판별하는 것을 특징으로 하는 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 방법.
  3. 삭제
  4. 제1 주면을 포함하는 제1 외층과,
    상기 제1 외층보다 두껍고 제2 주면을 포함하는 제2 외층과,
    상기 제1 외층과 상기 제2 외층 사이에서 교대로 적층된 복수의 유전체층과 복수의 내부전극층을 포함하는 적층 세라믹 콘덴서에서의 상기 제1 주면 및 상기 제2 주면이 향하는 방향을 판별하는, 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 장치로서,
    자기 발생기와,
    자속 밀도를 계측하는 계측기와,
    상기 적층 세라믹 콘덴서를 반송하여 상기 자기 발생기 앞 및 상기 계측기 앞을 통과시키는 반송 기구와,
    상기 적층 세라믹 콘덴서가 상기 계측기 앞을 통과했을 때에 상기 계측기로 계측된 자속 밀도에 기초한 판정 대상값과 적어도 하나의 역치의 대소관계를 판정함으로써, 상기 제1 주면 및 상기 제2 주면이 향하는 방향을 판별하는 자세 판별부를 포함하고,
    상기 자세 판별부는, 상기 판정 대상값이 제1 역치보다 낮은 경우에 상기 제2 주면이 상기 계측기와 마주 보고 있다고 판별하며,
    상기 판정 대상값은 상기 계측기로 계측된 상기 자속 밀도의 누적값인 것을 특징으로 하는 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 자세 판별부는, 상기 판정 대상값이 상기 제1 역치보다 높은 제2 역치보다 낮으면서 상기 제1 역치보다 높은 경우에, 상기 제1 주면이 상기 계측기와 마주 보고 있다고 판별하는 것을 특징으로 하는 적층 세라믹 콘덴서의 자세 판별 장치.
  6. 삭제
  7. 제1 주면을 포함하는 제1 외층과,
    상기 제1 외층보다 두껍고 제2 주면을 포함하는 제2 외층과,
    상기 제1 외층과 상기 제2 외층 사이에서 교대로 적층된 복수의 유전체층과 복수의 내부전극층을 포함하는 각각의 적층 세라믹 콘덴서가 복수개로 구성된 복수의 적층 세라믹 콘덴서를 포함하는 일련의 적층 세라믹 콘덴서의 제조 방법으로서,
    상기 복수의 적층 세라믹 콘덴서를 제조하는 공정과,
    상기 복수의 적층 세라믹 콘덴서를, 자기 발생기 앞 및 계측기 앞을 통과시키는 공정과,
    상기 계측기 앞을 상기 복수의 적층 세라믹 콘덴서의 각각이 통과했을 때의 자속 밀도를 계측하는 공정과,
    상기 자속 밀도를 계측하는 공정에서 계측된 상기 자속 밀도에 기초한 판정 대상값과 적어도 하나의 역치의 대소관계를 판정함으로써, 상기 제1 주면 및 상기 제2 주면이 향하는 방향을 판별하는 자세 판별 공정과,
    상기 복수의 적층 세라믹 콘덴서의 각각의 상기 제2 주면이 향하는 방향을 서로 맞추는 공정과,
    상기 복수의 적층 세라믹 콘덴서를 하나씩 동일한 자세로 테이프의 복수의오목부에 수용하는 공정을 포함하고,
    상기 자세 판별 공정에서, 상기 판정 대상값이 제1 역치보다 낮은 경우에, 상기 제2 주면이 상기 계측기와 마주 보고 있다고 판별하며,
    상기 판정 대상값은 상기 자속 밀도를 계측하는 공정에서 계측된 상기 자속 밀도의 누적값인 것을 특징으로 하는 일련의 적층 세라믹 콘덴서의 제조 방법.
  8. 삭제
  9. 삭제
  10. 제7항에 있어서,
    상기 자속 밀도를 계측하는 공정 전에, 상기 복수의 적층 세라믹 콘덴서의 각각의 상기 복수의 내부전극층의 적층 방향을 서로 맞추는 공정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 일련의 적층 세라믹 콘덴서의 제조 방법.
  11. 제7항에 있어서,
    상기 복수의 적층 세라믹 콘덴서를 제조하는 공정에서 상기 제1 외층을 구성하는 유전체층과, 상기 제2 외층을 구성하는 유전체층을 실질적으로 동일한 세라믹스 재료계로 형성하는 것을 특징으로 하는 일련의 적층 세라믹 콘덴서의 제조 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 복수의 적층 세라믹 콘덴서를 제조하는 공정에서, 복수의 제1 세라믹스 시트를 적층하여 상기 제1 외층을 형성하고, 복수의 제2 세라믹스 시트를 적층하여 상기 제2 외층을 형성하며,
    상기 복수의 제1 세라믹스 시트와 상기 복수의 제2 세라믹스 시트는, 공통의 머더 세라믹 시트로부터 잘리는 것을 특징으로 하는 일련의 적층 세라믹 콘덴서의 제조 방법.
  13. 삭제
  14. 삭제
  15. 삭제
  16. 삭제
  17. 삭제
  18. 삭제
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