WO2021017245A1 - 显示面板及其制备方法 - Google Patents

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Definitions

  • the invention relates to the field of display, in particular to a display panel and a preparation method thereof.
  • the current mainstream thin film encapsulation layer (TFE) structure is a five-layer structure of an inorganic layer and an organic layer.
  • the thin film encapsulation layer 500 is the entire TFE structure, which includes an inorganic layer 510 and an organic layer 520.
  • the inorganic layer 510 is usually prepared by vapor deposition (PECVD), and the organic layer 520 is prepared by inkjet printing technology (IJP). .
  • the organic layer 520 adopts organic ink (ink) such as epoxy resin or acrylic system for printing, leveling and curing to form a film.
  • organic ink such as epoxy resin or acrylic system for printing, leveling and curing to form a film.
  • the organic ink can be well leveled on the TFT substrate.
  • the purpose of the present invention is to solve the technical problems of uneven surface of the inorganic layer of the thin film encapsulation layer and easy peeling of the organic layer and inorganic layer of the thin film encapsulation layer in the existing display panel.
  • the present invention provides a display panel, including: a substrate; a thin film transistor provided on the surface of the substrate; a pixel layer provided on the surface of the thin film transistor away from the substrate; and a thin film
  • the encapsulation layer is provided on the surface of the pixel layer on the side away from the thin film transistor; wherein the thin film encapsulation layer includes: a first inorganic layer provided on the surface of the pixel layer on the side away from the thin film transistor; An organic layer is provided on the surface of the first inorganic layer away from the pixel layer; and a second organic layer is provided on the surface of the first organic layer away from the first inorganic layer.
  • the material of the first organic layer includes hexamethyldimethicone.
  • the material of the second organic layer includes the material of the second organic layer including epoxy resin and/or acrylic.
  • the display panel further includes a buffer layer disposed between the substrate and the thin film transistor.
  • the thin film transistor includes: an active layer disposed on the surface of the buffer layer far from the substrate; a first gate insulating layer disposed on the active layer and the buffer layer far from the substrate
  • the first gate layer is provided on the surface of the first gate insulating layer away from the buffer layer and opposite to the active layer
  • the second gate insulating layer is provided on the surface The first gate layer and the surface of the first gate insulating layer away from the buffer layer
  • the second gate layer is disposed on the second gate insulating layer away from the first gate insulating layer
  • the surface on one side is opposite to the first gate layer
  • the dielectric layer is provided on the second gate layer and the second gate insulating layer away from the first gate insulating layer
  • the source and drain layer is provided on the surface of the dielectric layer away from the second gate insulating layer, and passes through the dielectric layer, the second gate insulating layer and the first A gate insulating layer is electrically connected to the active layer; and a flat layer is provided on the active layer and the surface of
  • the pixel layer includes: an anode layer, which is provided on a surface of the flat layer on a side away from the dielectric layer, passes through the flat layer, and is electrically connected to the source and drain layers; and a pixel definition layer , Arranged on the anode layer and the surface of the flat layer on the side away from the dielectric layer; pixel layer through holes, penetrating the pixel defining layer, and arranged opposite to the anode layer; light emitting layer, arranged on Inside the pixel layer through hole and arranged on the surface of the anode layer on the side away from the flat layer; and the pixel electrode layer arranged on the pixel defining layer and the light emitting layer on the side away from the anode layer surface.
  • the thin film encapsulation layer further includes: a cover layer, which is provided on the surface of the pixel electrode layer away from the pixel definition layer; a lithium fluoride layer, which is provided on the cover layer away from the pixel electrode layer The surface of the side; spacers, projecting on the surface of the lithium fluoride layer away from the covering layer; and a second inorganic layer, provided on the side of the second organic layer away from the first organic layer s surface.
  • the present invention also provides a method for manufacturing a display panel, which includes the following steps: a substrate providing step, providing a substrate; a thin film transistor preparation step, a thin film transistor is prepared on the upper surface of the substrate; a pixel layer preparation step , A pixel layer is prepared on the upper surface of the thin film transistor; and a thin film encapsulation layer preparation step is to prepare a thin film encapsulation layer on the upper surface of the pixel layer; wherein the thin film encapsulation layer preparation step includes: first inorganic A layer preparation step, a first inorganic layer is prepared on the upper surface of the pixel layer; a first organic layer preparation step, a first organic layer is prepared on the upper surface of the first inorganic layer; and a second organic layer preparation step , Preparing a second organic layer on the upper surface of the first organic layer.
  • a vapor deposition method is used to deposit hexamethyldimethylsilyl ether on the upper surface of the first inorganic layer to form a first organic layer.
  • the technical effect of the present invention is that a uniform first organic layer is formed on the surface of the first inorganic layer, an organic material is sprayed on the surface of the first organic layer, and the organic material is leveled to form a second organic layer.
  • the first organic layer is hexamethyl simethicone, which has good covering properties. Therefore, the organic material is more easily leveled on the surface of the first organic layer, and only a small amount of organic material is needed to achieve the first organic layer. Full coverage, compared with the prior art, can greatly reduce the thickness of the second organic layer, thereby reducing the thickness of the display panel.
  • hexamethyl dimethyl silyl ether can be used as a binder to enhance the adhesion between the first inorganic layer and the second organic layer, and prevent the first inorganic layer from the second organic layer.
  • the separation between the layers can further extend the service life of the display panel.
  • Figure 1 is a cross-sectional view of a display panel in the prior art
  • FIG. 2 is a cross-sectional view of a display panel according to an embodiment of the invention.
  • FIG. 4 is a flow chart of the steps of preparing the thin film encapsulation layer according to the embodiment of the present invention.
  • Substrate 100.
  • Buffer layer 300.
  • Thin film transistor 400. Pixel layer; 500. Thin film packaging layer;
  • this embodiment provides a display panel including a substrate 1, a buffer layer 2, a thin film transistor 3, a pixel layer 4 and a thin film packaging layer 5.
  • the buffer layer 2 is provided on the upper surface of the substrate 1.
  • the buffer layer 2 serves as a buffer.
  • the material of the buffer layer 2 is silicon dioxide SiO 2 or silicon nitride SiN x , which can be a single layer of SiO 2 film or silicon dioxide A multilayer stack of SiO 2 and silicon nitride SiN x , and the silicon dioxide SiO 2 film layer is arranged on the top layer.
  • the active layer 31 is provided on the upper surface of the buffer layer 2.
  • the material of the active layer 31 is an oxide semiconductor, such as indium gallium zinc oxide IGZO, with a thickness of 300 A to 500 A (angstroms). In this embodiment, the thickness of the active layer 31 is preferably 400 A (angstroms).
  • the first gate insulating layer 32 is provided on the upper surface of the active layer 31 and the buffer layer 2, and the first gate insulating layer 32 plays an insulating role to prevent short circuit problems in the thin film transistor 3.
  • the first gate insulating layer 32 may be a single-layer SiO 2 film layer or a multilayer stack of silicon dioxide SiO 2 and silicon nitride SiN x , and the silicon dioxide SiO 2 film layer is provided on the bottom layer.
  • the second gate insulating layer 34 is provided on the upper surfaces of the first gate insulating layer 32 and the first gate layer 33, and the second gate insulating layer 34 functions as an insulation to prevent short circuit problems in the thin film transistor 3.
  • the second gate insulating layer 34 may be a single-layer SiO 2 film layer or a multilayer stack of silicon dioxide SiO 2 and silicon nitride SiN x , and the silicon dioxide SiO 2 film layer is provided on the bottom layer.
  • the dielectric layer 36 is provided on the upper surfaces of the second gate layer 35 and the second gate insulating layer 34, and two or more dielectric layer vias are provided on the dielectric layer 36, and the dielectric layer vias pass through the dielectric layer.
  • the electrical layer 36 is disposed opposite to the active layer 31 to provide a channel for the subsequent source and drain layer 37.
  • the source-drain layer 37 is provided on the upper surface of the dielectric layer 36, and is provided in the dielectric layer via hole, and is electrically connected to the active layer 31 to form an electrical connection between the source-drain layer 37 and the active layer 31 .
  • the source and drain layer 37 is made of metal.
  • the anode layer 41 is provided on the upper surface of the flat layer 38 and is opposite to the source/drain layer 37.
  • the anode layer 41 passes through the flat layer through holes and is electrically connected to the source/drain layer 37, which can obtain electricity from the thin film transistor 3.
  • the signal provides an electrical signal for the light emission of the light-emitting layer 43.
  • the pixel defining layer 42 is provided on the upper surface of the flat layer 38 and the anode layer 41 to define the size of the light emitting layer.
  • the pixel definition layer 42 is provided with a pixel layer through hole, the pixel layer through hole penetrates the pixel definition layer 42 and is arranged opposite to the anode layer 41.
  • the light-emitting layer 43 is disposed in the through hole of the pixel layer and is disposed on the upper surface of the anode layer 41. After the thin film transistor 3 is turned on, the light emitting layer 43 receives an electric signal from the anode layer 41 and emits light.
  • the material of the light-emitting layer 43 may be an organic light-emitting material.
  • the pixel electrode layer 44 is provided on the upper surface of the pixel definition layer 42 and the light emitting layer 43.
  • the material of the pixel electrode layer 44 is indium tin oxide ITO, and a circuit is formed between the pixel electrode layer 44 and the light-emitting layer 4.
  • the first organic layer 55 is provided on the upper surface of the first inorganic layer 54, and the material of the first organic layer 55 is hexamethyldimethicone (HMDSO).
  • HMDSO hexamethyldimethicone
  • the second inorganic layer 57 is disposed on the upper surface of the second organic layer 56, and the material of the second inorganic layer 56 is at least one of silicon oxide, silicon nitride, aluminum oxide, or silicon oxynitride.
  • a buffer layer is prepared on the upper surface of the substrate 1.
  • the buffer layer serves as a buffer, and the material of the buffer layer is silicon dioxide SiO 2 or silicon nitride SiN x , which may be a single layer
  • the SiO 2 film layer or the multilayer stack of silicon dioxide SiO 2 and silicon nitride SiN x , and the silicon dioxide SiO 2 film layer is arranged on the top layer.
  • an anode layer, a pixel defining layer, a light emitting layer and a pixel electrode layer are sequentially prepared on the upper surface of the thin film transistor layer to form a pixel layer, and the pixel layer can emit light.
  • a covering layer is prepared on the upper surface of the pixel electrode layer.
  • the first organic layer preparation step is to deposit a layer of organic material on the upper surface of the first inorganic layer by means of vapor deposition (PECVD), the organic material includes hexamethyl dimethyl silyl ether (HMDSO) to form a first Organic layer.
  • PECVD vapor deposition
  • HMDSO hexamethyl dimethyl silyl ether
  • a uniform first organic layer is formed on the surface of the first inorganic layer, an organic material is sprayed on the surface of the first organic layer, and the organic material is leveled to form a second organic layer.
  • the first organic layer is hexamethyl simethicone, which has good covering properties. Therefore, the organic material is more easily leveled on the surface of the first organic layer, and only a small amount of organic material is needed to achieve the first organic layer. Full coverage, compared with the prior art, can greatly reduce the thickness of the second organic layer, thereby reducing the thickness of the display panel.

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Abstract

一种显示面板及其制备方法，所述显示面板包括基板（1）、薄膜晶体管（3）、像素层（4）以及薄膜封装层（5）；其中，所述薄膜封装层（5）包括：第一无机层（54）、第一有机层（55）以及第二有机层（56）。所述显示面板的制备方法包括以下步骤：基板（1）提供步骤（S1）、薄膜晶体管（3）制备步骤（S3）、像素层（4）制备步骤（S4）以及薄膜封装层（5）制备步骤（S5）。

Description

显示面板及其制备方法 技术领域
本发明涉及显示领域，特别涉及一种显示面板及其制备方法。
 背景技术
当前主流的薄膜封装层（TFE）的结构是无机层与有机层叠层的5层结构。如图1所示，薄膜封装层500为整个TFE结构，其中包括无机层510及有机层520，通常采用气相沉积法（PECVD）制备无机层510，采用喷墨打印技术（IJP）制备有机层520。其中有机层520采用如环氧树脂或亚克力系的有机墨水（ink）进行打印流平固化成膜。为了防止目视可见的膜层表面不均匀现象的出现，要求有机墨水在TFT基板上能够很好的流平。
 技术问题
本发明的目的在于，解决现有的显示面板中，薄膜封装层的无机层表面不均匀、薄膜封装层的有机层与无机层易剥离的技术问题。
 技术解决方案
为实现上述目的，本发明提供一种显示面板，包括：基板；薄膜晶体管，设于所述基板一侧的表面；像素层，设于所述薄膜晶体管远离所述基板一侧的表面；以及薄膜封装层，设于所述像素层远离所述薄膜晶体管一侧的表面；其中，所述薄膜封装层包括：第一无机层，设于所述像素层远离所述薄膜晶体管一侧的表面；第一有机层，设于所述第一无机层远离所述像素层一侧的表面；以及第二有机层，设于所述第一有机层远离所述第一无机层一侧的表面。
进一步地，所述第一有机层的材质包括六甲基二甲硅醚。
进一步地，所述第一无机层的材质包括氧化硅、氮化硅、氧化铝或氮氧化硅中的至少一种。
进一步地，所述第二有机层的材质包括所述第二有机层的材质包括环氧树脂和/或亚克力。
进一步地，所述显示面板还包括缓冲层，设于所述基板与所述薄膜晶体管之间。
进一步地，所述薄膜晶体管包括：有源层，设于缓冲层远离所述基板一侧的表面；第一栅极绝缘层，设于所述有源层及所述缓冲层远离所述基板一侧的表面；第一栅极层，设于所述第一栅极绝缘层远离所述缓冲层一侧的表面，且与所述有源层相对设置；第二栅极绝缘层，设于所述第一栅极层及所述第一栅极绝缘层远离所述缓冲层一侧的表面；第二栅极层，设于所述第二栅极绝缘层远离所述第一栅极绝缘层一侧的表面，且与所述第一栅极层相对设置；介电层，设于所述第二栅极层及所述第二栅极绝缘层远离所述第一栅极绝缘层一侧的表面；源漏极层，设于所述介电层远离所述第二栅极绝缘层一侧的表面，且穿过所述介电层、所述第二栅极绝缘层及所述第一栅极绝缘层，电连接至所述有源层；以及平坦层，设于所述有源层及所述介电层远离所述第二栅极绝缘层一侧的表面。
进一步地，所述像素层包括：阳极层，设于所述平坦层远离所述介电层一侧的表面，且穿过所述平坦层，电连接至所述源漏极层；像素定义层，设于所述阳极层及所述平坦层远离所述介电层一侧的表面；像素层通孔，穿透所述像素定义层，且与所述阳极层相对设置；发光层，设于所述像素层通孔内，且设于所述阳极层远离所述平坦层一侧的表面；以及像素电极层，设于所述像素定义层及所述发光层远离所述阳极层一侧的表面。
进一步地，所述薄膜封装层还包括：覆盖层，设于所述像素电极层远离所述像素定义层一侧的表面；氟化锂层，设于所述覆盖层远离所述像素电极层一侧的表面；隔垫物，凸起于所述氟化锂层远离所述覆盖层一侧的表面；以及第二无机层，设于所述第二有机层远离所述第一有机层一侧的表面。
为实现上述目的，本发明还提供一种显示面板的制备方法，包括以下步骤：基板提供步骤，提供一基板；薄膜晶体管制备步骤，在所述基板上表面制备出一薄膜晶体管；像素层制备步骤，在所述薄膜晶体管上表面制备出一像素层；以及薄膜封装层制备步骤，在所述像素层的上表面制备出一薄膜封装层；其中，所述薄膜封装层制备步骤包括：第一无机层制备步骤，在所述像素层的上表面制备出第一无机层；第一有机层制备步骤，在所述第一无机层的上表面制备出第一有机层；以及第二有机层制备步骤，在所述第一有机层的上表面制备出第二有机层。
进一步地，在所述第一有机层制备步骤中，采用气相沉积法，在所述第一无机层的上表面沉积六甲基二甲硅醚，形成第一有机层。
 有益效果
本发明的技术效果在于，在第一无机层的表面形成一层均匀的第一有机层，在所述第一有机层表面喷涂有机材料，有机材料流平后形成第二有机层。所述第一有机层为六甲基二甲硅醚，具有良好的覆形性，因此，有机材料在第一有机层表面更易流平，仅需少量有机材料即可实现对第一有机层的全面覆盖，与现有技术相比，可以大幅度减少第二有机层的厚度，进而减少显示面板的厚度。同时，六甲基二甲硅醚可用作粘结剂，增强所述第一无机层及所述第二有机层之间的粘结力，防止所述第一无机层与所述第二有机层之间发生脱离，可进一步延长显示面板的使用寿命。
 附图说明
图1为现有技术中的显示面板的截面图；
图2为本发明实施例所述显示面板的截面图；
图3为本发明实施例所述显示面板的制备方法的流程图；
图4为本发明实施例所述薄膜封装层制备步骤的流程图。
部分组件标识如下：
100、基板；200、缓冲层；300、薄膜晶体管；400、像素层；500、薄膜封装层；
1、基板；2、缓冲层；3、薄膜晶体管；4、像素层；5、薄膜封装层；
31、有源层；32、第一栅极绝缘层；33、第一栅极层；34、第二栅极绝缘层；35、第二栅极层；36、介电层；37、源漏极层；38、平坦层；
41、阳极层；42、像素定义层；43、发光层；44、像素电极层；
51、覆盖层；52、氟化锂层；53、隔垫物；54、第一无机层；55、第一有机层；56、第二有机层；57、第二无机层。
 本发明的最佳实施方式
以下结合说明书附图详细说明本发明的优选实施例，以向本领域中的技术人员完整介绍本发明的技术内容，以举例证明本发明可以实施，使得本发明公开的技术内容更加清楚，使得本领域的技术人员更容易理解如何实施本发明。然而本发明可以通过许多不同形式的实施例来得以体现，本发明的保护范围并非仅限于文中提到的实施例，下文实施例的说明并非用来限制本发明的范围。
本发明所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是附图中的方向，本文所使用的方向用语是用来解释和说明本发明，而不是用来限定本发明的保护范围。
在附图中，结构相同的部件以相同数字标号表示，各处结构或功能相似的组件以相似数字标号表示。此外，为了便于理解和描述，附图所示的每一组件的尺寸和厚度是任意示出的，本发明并没有限定每个组件的尺寸和厚度。
当某些组件，被描述为“在”另一组件“上”时，所述组件可以直接置于所述另一组件上；也可以存在一中间组件，所述组件置于所述中间组件上，且所述中间组件置于另一组件上。当一个组件被描述为“安装至”或“连接至”另一组件时，二者可以理解为直接“安装”或“连接”，或者一个组件通过一中间组件“安装至”或“连接至”另一个组件。
如图2所示，本实施例提供一种显示面板，包括基板1、缓冲层2、薄膜晶体管3、像素层4及薄膜封装层5。
基板1为柔性基板，具有阻隔水氧作用，基板1可具有较好的抗冲击能力，可以有效保护显示面板。基板1的材质包括玻璃、二氧化硅、聚乙烯、聚丙烯、聚苯乙烯、聚乳酸、聚对苯二甲酸乙二醇酯、聚酰亚胺或聚氨酯中的一种或多种。
缓冲层2设于基板1的上表面，缓冲层2起到缓冲作用，缓冲层2的材质为二氧化硅SiO 2或者硅的氮化物SiN x，可为单层SiO 2膜层或者二氧化硅SiO 2、硅的氮化物SiN x的多层堆叠，且二氧化硅SiO 2膜层设于顶层。
薄膜晶体管3设于缓冲层2的上表面，用以控制像素的电子转化，且为显示面板提供电路支持。薄膜晶体管3包括有源层31、第一栅极绝缘层32、第一栅极层33、第二栅极绝缘层34、第二栅极层35、介电层36、源漏极层37及平坦层。
有源层31设于缓冲层2的上表面。有源层31的材质为氧化物半导体，例如铟镓锌氧化物IGZO，厚度为300A~500A（埃），在本实施例中，有源层31的厚度优选为400A（埃）。
第一栅极绝缘层32设于有源层31及缓冲层2的上表面，第一栅极绝缘层32起到绝缘作用，防止薄膜晶体管3内部发生短路问题。第一栅极绝缘层32可为单层SiO 2膜层或者二氧化硅SiO 2、硅的氮化物SiN x的多层堆叠，且二氧化硅SiO 2膜层设于底层。
第一栅极层33设于第一栅极绝缘层32的上表面，且与有源层31相对设置。设于第一栅极层33正下方的有源层保留半导体特性。第一栅极层33的材质为金属，如铜Cu或钼Mo。
第二栅极绝缘层34设于第一栅极绝缘层32及第一栅极层33的上表面，第二栅极绝缘层34起到绝缘作用，防止薄膜晶体管3内部发生短路问题。第二栅极绝缘层34可为单层SiO 2膜层或者二氧化硅SiO 2、硅的氮化物SiN x的多层堆叠，且二氧化硅SiO 2膜层设于底层。
第二栅极层35设于第二栅极绝缘层34的上表面，且与第一栅极层33相对设置。第二栅极层35材质为金属，如铜（Cu）或钼（Mo）。
介电层36设于第二栅极层35及第二栅极绝缘层34的上表面，介电层36上设有两个以上介电层过孔，所述介电层过孔穿过介电层36，且与有源层31相对设置，为后续源漏极层37提供通道。
源漏极层37设于介电层36的上表面，且设于所述介电层过孔内，电连接至有源层31，形成源漏极层37与有源层31的电性连接。源漏极层37的材质为金属。
平坦层38设于源漏极层37及介电层36的上表面，平坦层38起到保护下面各膜层的作用。平坦层38上设有平坦层过孔，所述平坦层过孔穿过平坦层38，且与源漏极层37相对设置，为后续像素层提供电连接的通道。
像素层4设于薄膜晶体管层3的上表面，可用以发光。像素层4包括阳极层41、像素定义层42、发光层43及像素电极层44。
阳极层41设于平坦层38的上表面，且与源漏极层37相对设置，阳极层41穿过所述平坦层通孔，电连接至源漏极层37，可从薄膜晶体管3获得电信号，为发光层43的发光提供电信号。
像素定义层42设于平坦层38及阳极层41的上表面，用以定义发光层的大小。像素定义层42上设有像素层通孔，所述像素层通孔穿透像素定义层42，与阳极层41相对设置。
发光层43设于所述像素层通孔内，且设于阳极层41的上表面。薄膜晶体管3打开后，发光层43从阳极层41接收电信号后发光。发光层43的材质可为有机发光材料。
像素电极层44设于像素定义层42及发光层43的上表面。像素电极层44的材质为氧化铟锡ITO，像素电极层44与发光层4之间形成电路导通。
薄膜封装层5设于像素层4的上表面，用以阻隔水氧，起到保护像素层4及薄膜晶体管3的作用。薄膜封装层5的厚度范围为100nm～10μm，薄膜封装层5包括覆盖层51、氟化锂层52、隔垫物53、第一无机层54、第一有机层55、第二有机层56及第二无机层57。
覆盖层51，设于像素电极层44的上表面。氟化锂层52设于覆盖层51的上表面。隔垫物53凸起于氟化锂层52的上表面，起到支撑作用。
第一无机层54设于氟化锂层52及隔垫物53的上表面，且凸起于隔垫物53上方。第一无机层54的材质为氧化硅、氮化硅、氧化铝或氮氧化硅中的至少一种。
第一有机层55设于第一无机层54的上表面，第一有机层55的材质为六甲基二甲硅醚（HMDSO）。
第二有机层56设于第一有机层55的上表面，第二有机层56的材质为环氧树脂、聚乙烯、聚丙烯、聚苯乙烯、聚乳酸、聚对苯二甲酸乙二醇酯、聚酰亚胺、聚氨酯或亚克力中的至少一种。
第一有机层55的材质为六甲基二甲硅醚，具有良好的覆形性，因此，有机材料在第一有机层55表面更易流平，仅需少量有机材料即可实现对第一有机层55的全面覆盖，现有技术中薄膜封装层的厚度为200nm～20μm，在本实施例中，可达到100nm～10μm，可以大幅度减少第二有机层56的厚度，进而减少显示面板的厚度。
第二无机层57设于第二有机层56的上表面，第二无机层56的材质为氧化硅、氮化硅、氧化铝或氮氧化硅中的至少一种。
本实施例所述显示面板的技术效果在于，在第一无机层的表面形成一层均匀的第一有机层，在所述第一有机层表面喷涂有机材料，有机材料流平后形成第二有机层。所述第一有机层为六甲基二甲硅醚，具有良好的覆形性，因此，有机材料在第一有机层表面更易流平，仅需少量有机材料即可实现对第一有机层的全面覆盖，与现有技术相比，可以大幅度减少第二有机层的厚度，进而减少显示面板的厚度。同时，六甲基二甲硅醚可用作粘结剂，增强所述第一无机层及所述第二有机层之间的粘结力，防止所述第一无机层与所述第二有机层之间发生脱离，可进一步延长显示面板的使用寿命。
如图3所示，本实施例还提供一种显示面板的制备方法，包括步骤S1~S5。
S1基板提供步骤，提供一基板，所述基板为柔性基板，具有阻隔水氧作用，所述基板可具有较好的抗冲击能力，可以有效保护显示面板。
S2 缓冲层制备步骤，在基板1的上表面制备出缓冲层，所述缓冲层起到缓冲作用，所述缓冲层的材质为二氧化硅SiO 2或者硅的氮化物SiN x，可为单层SiO 2膜层或者二氧化硅SiO 2、硅的氮化物SiN x的多层堆叠，且二氧化硅SiO 2膜层设于顶层。
S3薄膜晶体管制备步骤，在所述缓冲层的上表面依次制备出有源层、第一栅极绝缘层、第一栅极层、第二栅极绝缘层、第二栅极层、介电层、源漏极层及平坦层，形成薄膜晶体管，所述薄膜晶体管用以控制像素的电子转化，且为显示面板提供电路支持。薄膜晶体管3包括。
S4 像素层制备步骤，在所述薄膜晶体管层的上表面依次制备出阳极层、像素定义层、发光层及像素电极层，形成像素层，所述像素层可用以发光。
S5 薄膜封装层制备步骤，在所述像素层的上表面制备出薄膜封装层，所述薄膜封装层用以阻隔水氧，起到保护所述像素层及所述薄膜晶体管的作用。
如图4所示，所述薄膜封装层制备步骤包括步骤S51~S57。
S51覆盖层制备步骤，在所述像素电极层的上表面制备出覆盖层。
S52氟化锂层制备步骤，在所述覆盖层的上表面制备出氟化锂层。
S53隔垫物设置步骤，在所述氟化锂层是上表面设置隔垫物，所述隔垫物凸起于氟化锂层52的上表面，起到支撑作用。
S54第一无机层制备步骤，利用气相沉积法（PECVD）在所述氟化锂层及所述隔垫物的上表面沉积一层无机材料，所述无机材料包括氧化硅、氮化硅、氧化铝或氮氧化硅中的至少一种，形成第一无机层。
S55第一有机层制备步骤，利用气相沉积法（PECVD）在所述第一无机层的上表面沉积一层有机材料，所述有机材料包括六甲基二甲硅醚（HMDSO），形成第一有机层。
S56第二有机层制备步骤，采用喷墨打印技术在所述第一有机层的上表面喷涂环氧树脂、聚乙烯、聚丙烯、聚苯乙烯、聚乳酸、聚对苯二甲酸乙二醇酯、聚酰亚胺、聚氨酯或亚克力中的至少一种有机材料，形成第二有机层。
在所述第一无机层的表面形成一层均匀的第一有机层，在所述第一有机层表面喷涂有机材料，有机材料流平后形成第二有机层。所述第一有机层为六甲基二甲硅醚，具有良好的覆形性，因此，有机材料在第一有机层表面更易流平，仅需少量有机材料即可实现对第一有机层的全面覆盖，与现有技术相比，可以大幅度减少第二有机层的厚度，进而减少显示面板的厚度。同时，六甲基二甲硅醚可用作粘结剂，增强所述第一无机层及所述第二有机层之间的粘结力，防止所述第一无机层与所述第二有机层之间发生脱离，可进一步延长显示面板的使用寿命。
S57第二无机层制备步骤，采用气相沉积法（PECVD）在所述第二有机层的上表面沉积一层无机材料，所述无机材料包括氧化硅、氮化硅、氧化铝或氮氧化硅中的至少一种，形成第二无机层。
本实施例所述显示面板的制备方法的技术效果在于，在第一无机层的表面形成一层均匀的第一有机层，在所述第一有机层表面喷涂有机材料，有机材料流平后形成第二有机层。所述第一有机层为六甲基二甲硅醚，具有良好的覆形性，因此，有机材料在第一有机层表面更易流平，仅需少量有机材料即可实现对第一有机层的全面覆盖，与现有技术相比，可以大幅度减少第二有机层的厚度，进而减少显示面板的厚度。同时，六甲基二甲硅醚可用作粘结剂，增强所述第一无机层及所述第二有机层之间的粘结力，防止所述第一无机层与所述第二有机层之间发生脱离，可进一步延长显示面板的使用寿命。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

  1. 一种显示面板，其包括：
    基板；
    薄膜晶体管，设于所述基板一侧的表面；
    像素层，设于所述薄膜晶体管远离所述基板一侧的表面；以及
    薄膜封装层，设于所述像素层远离所述薄膜晶体管一侧的表面；
    其中，所述薄膜封装层包括：
    第一无机层，设于所述像素层远离所述薄膜晶体管一侧的表面；
    第一有机层，设于所述第一无机层远离所述像素层一侧的表面；以及
    第二有机层，设于所述第一有机层远离所述第一无机层一侧的表面。
  2. 如权利要求1所述的显示面板，其中，
    所述第一有机层的材质包括六甲基二甲硅醚。
  3. 如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，
    所述第一无机层的材质包括氧化硅、氮化硅、氧化铝或氮氧化硅中的至少一种。
  4. 如权利要求1所述的显示面板，其中，
    所述第二有机层的材质包括环氧树脂和/或亚克力。
  5. 如权利要求1所述的显示面板，其还包括
    缓冲层，设于所述基板与所述薄膜晶体管之间。
  6. 如权利要求1所述的显示面板，其中，
    所述薄膜晶体管包括：
    有源层，设于缓冲层远离所述基板一侧的表面；
    第一栅极绝缘层，设于所述有源层及所述缓冲层远离所述基板一侧的表面；
    第一栅极层，设于所述第一栅极绝缘层远离所述缓冲层一侧的表面，且与所述有源层相对设置；
    第二栅极绝缘层，设于所述第一栅极层及所述第一栅极绝缘层远离所述缓冲层一侧的表面；
    第二栅极层，设于所述第二栅极绝缘层远离所述第一栅极绝缘层一侧的表面，且与所述第一栅极层相对设置；
    介电层，设于所述第二栅极层及所述第二栅极绝缘层远离所述第一栅极绝缘层一侧的表面；
    源漏极层，设于所述介电层远离所述第二栅极绝缘层一侧的表面，且穿过所述介电层、所述第二栅极绝缘层及所述第一栅极绝缘层，电连接至所述有源层；以及
    平坦层，设于所述有源层及所述介电层远离所述第二栅极绝缘层一侧的表面。
  7. 如权利要求6所述的显示面板，其中，
    所述像素层包括：
    阳极层，设于所述平坦层远离所述介电层一侧的表面，且穿过所述平坦层，电连接至所述源漏极层；
    像素定义层，设于所述阳极层及所述平坦层远离所述介电层一侧的表面；
    像素层通孔，穿透所述像素定义层，且与所述阳极层相对设置；
    发光层，设于所述像素层通孔内，且设于所述阳极层远离所述平坦层一侧的表面；以及
    像素电极层，设于所述像素定义层及所述发光层远离所述阳极层一侧的表面。
  8. 如权利要求7所述的显示面板，其中，
    所述薄膜封装层还包括：
    覆盖层，设于所述像素电极层远离所述像素定义层一侧的表面；
    氟化锂层，设于所述覆盖层远离所述像素电极层一侧的表面；
    隔垫物，凸起于所述氟化锂层远离所述覆盖层一侧的表面；以及
    第二无机层，设于所述第二有机层远离所述第一有机层一侧的表面。
  9. 一种显示面板的制备方法，其包括以下步骤：
    基板提供步骤，提供一基板；
    薄膜晶体管制备步骤，在所述基板上表面制备出一薄膜晶体管；
    像素层制备步骤，在所述薄膜晶体管上表面制备出一像素层；以及
    薄膜封装层制备步骤，在所述像素层的上表面制备出一薄膜封装层；
    其中，所述薄膜封装层制备步骤包括：
    第一无机层制备步骤，在所述像素层的上表面制备出第一无机层；
    第一有机层制备步骤，在所述第一无机层的上表面制备出第一有机层；以及
    第二有机层制备步骤，在所述第一有机层的上表面制备出第二有机层。
  10. 如权利要求9所述的显示面板的制备方法，其中，
    在所述第一有机层制备步骤中，
    采用气相沉积法，在所述第一无机层的上表面沉积六甲基二甲硅醚，形成第一有机层。
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