WO2020262679A1 - 波長選択フィルタ、表示体、光学デバイス、および、波長選択フィルタの製造方法 - Google Patents

波長選択フィルタ、表示体、光学デバイス、および、波長選択フィルタの製造方法 Download PDF

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lattice
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layer
high refractive
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雅史 川下
ゆかり 小田
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    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith

Definitions

  • the embodiment of the present disclosure relates to a wavelength selection filter, a display body, an optical device, and a method for manufacturing a wavelength selection filter using a waveguide mode resonance phenomenon.
  • a wavelength selection filter using a waveguide mode resonance phenomenon has been proposed as a filter that selects light by utilizing an optical phenomenon caused by a fine structure of an object.
  • This wavelength selection filter has a sub-wavelength grating that is a diffraction grating with a period smaller than the wavelength of light.
  • the emission of diffracted light into the space where the incident light has advanced is suppressed, but it is specified due to the difference in refractive index between the part where the sub-wavelength lattice is located and the surroundings.
  • Light in the wavelength range of is propagated while being multiple-reflected, causing resonance and being strongly emitted as reflected light.
  • the color filter described in Patent Document 1 has a structure in which a plurality of convex portions forming a sub-wavelength lattice are arranged on a substrate.
  • the substrate and the convex portion are formed by forming the substrate from synthetic quartz and forming the convex portion from silicon. It is desirable to secure a large difference in refractive index from and to reduce the loss due to multiple reflection of light. For that purpose, it is necessary to use an SOQ (Silicon on Quartz) substrate in which single crystal Si is formed on a substrate made of synthetic quartz, which causes an increase in manufacturing cost.
  • SOQ Silicon on Quartz
  • the wavelength selection element described in Patent Document 2 has a waveguide layer formed of a material having a higher refractive index than the material constituting the substrate between the substrate and the convex portion constituting the sub-wavelength lattice. have. According to such a structure, even when the convex portion and the waveguide layer are formed of resin, the intensity of the reflected light is enhanced by propagating the multiple-reflected light into the waveguide layer. Further, since the nanoimprint method can be used as a method for forming the convex portion and the waveguide layer from the resin, it can be easily manufactured while reducing the material cost, and the manufacturing cost can also be reduced.
  • An object of the present disclosure is to provide a wavelength selection filter, a display body, an optical device, and a method for manufacturing the wavelength selection filter, which can enhance the wavelength selectivity.
  • the wavelength selection filter that solves the above-mentioned problems is a concavo-convex element that is a convex portion or a concave portion, and has a concavo-convex structure layer having a concavo-convex structure formed by a plurality of the concavo-convex elements arranged in a sub-wavelength period on the surface, and the uneven structure.
  • a high refractive index layer having a surface shape that follows the uneven structure, and a first high refractive index portion that is located at the bottom of the uneven structure and constitutes a sub-wavelength lattice, and the uneven structure.
  • the high refractive index layer including the second high refractive index portion of the second lattice located at the top of the high refractive index layer and the surface irregularities of the high refractive index layer located on the high refractive index layer were followed.
  • a low refractive index layer having a surface shape is provided, and the refractive index of the high refractive index layer is higher than the refractive index of each of the concave-convex structure layer and the low refractive index layer.
  • the waveguide mode resonance occurs in the lattice region including the first lattice high refractive index portion and the lattice region including the second lattice high refractive index portion.
  • the phenomenon occurs. Therefore, since the light enhanced in each of the two lattice regions is obtained as the reflected light, the intensity of the light extracted as the reflected light is enhanced as compared with the wavelength selection filter having only one lattice region.
  • the low refractive index layer having a surface shape that follows the unevenness of the surface of the high refractive index layer is provided, the reflection enhanced in each lattice region by adjusting the thickness and the refractive index of the low refractive index layer. It is possible to cancel light in a wavelength range different from that of light and prevent such light from being emitted together with the reflected light. Therefore, the wavelength selectivity of the wavelength selection filter is enhanced.
  • a display body that solves the above problems includes a display element, and the display element is composed of the wavelength selection filter. According to the above configuration, the wavelength selectivity in the display element is enhanced. Therefore, the sharpness and brightness of the colors visually recognized by the display body are enhanced, and as a result, the visibility of the image displayed by the display body is enhanced.
  • An optical device that solves the above problems is a filter layer having a plurality of filter regions composed of the wavelength selection filters, and a photoelectric conversion element arranged one by one for each filter region, and the transmitted light in the filter region.
  • the plurality of filter regions include a light receiving layer having the plurality of photoelectric conversion elements that receive the light, and the plurality of filter regions reflect light in different wavelength regions, and the lattice structures are arranged in different directions. Includes at least one of the plurality of filter regions.
  • a filter utilizing the waveguide mode resonance phenomenon has a narrow band wavelength selectivity determined by the refractive index of the material and the period of the lattice structure, and the wavelength selectivity has a wide absorption band due to the interaction between molecules. Higher than dye-based filters. Therefore, it is possible to improve the accuracy of light selection in the optical device by using the filter layer having the filter region.
  • a method for manufacturing a wavelength selection filter that solves the above problems is to form a concavo-convex structure layer having a concavo-convex structure having a plurality of convex or concave concavo-convex elements arranged in a sub-frequency period on the surface using a first low refractive index material.
  • a high refractive index material having a higher refractive index than the first low refractive index material
  • a sub-wavelength lattice is located at the bottom of the concave-convex structure of the concave-convex structure layer along the surface of the concave-convex structure layer.
  • a high refractive index layer including a high refractive index portion of the first lattice constituting the above and a high refractive index portion of the second lattice located at the top of the concave-convex structure to form a sub-frequency lattice, and to form the high refractive index
  • a wavelength selection filter having high wavelength selectivity does not require precise control of the film thickness of the layer in contact with the lattice region, as compared with the form in which the layer in contact with the lattice region is used as the waveguide layer. Can be manufactured. Therefore, such a wavelength selection filter can be easily manufactured.
  • the wavelength selectivity can be enhanced in the wavelength selection filter.
  • the figure explaining the operation of the display body which is an application example of the wavelength selection filter of 1st Embodiment.
  • the figure explaining the cross-sectional structure of the optical device of 5th Embodiment The figure explaining the operation of the optical device of 5th Embodiment.
  • the figure explaining another example of the cross-sectional structure of the optical device of 5th Embodiment It is a figure explaining an example of the structure of the filter region of 5th Embodiment, (a) explains the cross-sectional structure of a filter region, (b) explains the cross-sectional structure of a 1st lattice region. (C) describes the cross-sectional structure of the intermediate region, and (d) describes the cross-sectional structure of the second lattice region.
  • 19A, 19B, 19C, and 19D are simulation results for the wavelength selectivity of the filter region, and show a reflection simulation spectrum using strict coupling wave analysis.
  • the embodiments of the present disclosure are a group of embodiments based on a single invention unique from the background. Also, each aspect of the present disclosure is an aspect of a group of embodiments based on a single invention.
  • Each configuration of the present disclosure may have each aspect of the present disclosure.
  • Each feature of the present disclosure can be combined to form each configuration. Therefore, each feature of the present disclosure, each configuration of the present disclosure, each aspect of the present disclosure, and each embodiment of the present disclosure can be combined, and the combination has a synergistic function and is synergistic. Can exert a positive effect.
  • the wavelength selection filter has a function of extracting light in a specific wavelength range from the light incident on the wavelength selection filter.
  • the wavelength selection filter can have a function of extracting light by reflecting, transmitting, absorbing, scattering, or diffracting incident light, or a combination thereof.
  • the wavelength range to be selected by the wavelength selection filter can be light in the visible region.
  • the light in the visible region can be visible to the naked human eye. In the following, the wavelength of light in the visible region is 400 nm or more and 800 nm or less.
  • the wavelength selection filter 10 includes a base material 11, a first low refractive index region 12, a first lattice region 13, an intermediate region 14, a second lattice region 15, and a second low refractive index. It includes a rate region 16 and a top region 17. Each of these regions spreads in layers, and from a position close to the base material 11, the first low refractive index region 12, the first lattice region 13, the intermediate region 14, the second lattice region 15, and the second low refractive index region 16 and the top region 17 are arranged in this order.
  • the direction in which the areas are lined up is the first direction. That is, the first direction is the thickness direction of each region and the wavelength selection filter 10.
  • the side where the top region 17 is located with respect to the base material 11 is the front surface side of the wavelength selection filter 10, and the side where the base material 11 is located with respect to the top region 17 is the back surface side of the wavelength selection filter 10.
  • (B) in FIG. 1 describes a cross section orthogonal to the first direction in the first lattice region 13
  • (c) in FIG. 1 describes a cross section orthogonal to the first direction in the intermediate region 14.
  • FIG. 1D describes a cross section of the second lattice region 15 orthogonal to the first direction.
  • the form of the base material 11 can be plate-like, sheet-like, or film-like, and among the surfaces of the base material 11, the surface located on the surface side of the wavelength selection filter 10 is the surface of the base material 11.
  • the base material 11 can be a glass plate or a transparent polymer film.
  • An example of a glass plate is a synthetic quartz substrate.
  • the base film of the transparent polymer film can be polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, polypropylene, polyethylene, or polycarbonate.
  • the first low refractive index region 12 is in contact with the surface of the base material 11 and spreads uniformly along the surface of the base material 11.
  • the first lattice region 13 has a first lattice high refractive index portion 13a and a first lattice low refractive index portion 13b.
  • the first lattice high refractive index portion 13a and the first lattice low refractive index portion 13b are in a common direction. It extends in a strip along a second direction and alternates along a third direction orthogonal to the second direction. Each of the second direction and the third direction is orthogonal to the first direction.
  • the intermediate region 14 has an intermediate high refractive index portion 14a, a first intermediate low refractive index portion 14b, and a second intermediate low refractive index portion 14c. Each of these portions extends along the second direction when viewed from the direction along the first direction, and the first intermediate low refractive index portion 14b and the second intermediate low refractive index portion 14c have an intermediate high refractive index in between.
  • the portions 14a are alternately arranged along the third direction while sandwiching the portions 14a. That is, the first intermediate low refractive index portion 14b, the intermediate high refractive index portion 14a, the second intermediate low refractive index portion 14c, and the intermediate high refractive index portion 14a are repeatedly arranged in this order along the third direction.
  • the first intermediate low refractive index portion 14b is located on the first lattice low refractive index portion 13b.
  • the intermediate high refractive index portion 14a is located on the end portion of the first lattice high refractive index portion 13a in the width direction, and the second intermediate low refractive index portion 14c is located at the center of the first lattice high refractive index portion 13a in the width direction. Located on the department.
  • the second lattice region 15 has a second lattice high refractive index portion 15a and a second lattice low refractive index portion 15b.
  • the second lattice high refractive index portion 15a and the second lattice low refractive index portion 15b extend in a band shape along the second direction and are alternately arranged along the third direction. I'm out. That is, in the two lattice regions 13 and 15, the arrangement directions of the high refractive index portion and the low refractive index portion are the same.
  • the second lattice high refractive index portion 15a is located on the first intermediate low refractive index portion 14b and the intermediate high refractive index portion 14a, and the second lattice low refractive index portion 15b is located on the second intermediate low refractive index portion 14c. Located in.
  • the second low refractive index region 16 extends uniformly along the second grid region 15 on the opposite side of the intermediate region 14 with respect to the second grid region 15.
  • the top region 17 has a first top low refractive index portion 17a and a second top low refractive index portion 17b. When viewed from the direction along the first direction, the first top low refractive index portion 17a and the second top low refractive index portion 17b extend in a band shape along the second direction and are alternately arranged along the third direction. I'm out.
  • the first top low refractive index portion 17a is located on the second lattice high refractive index portion 15a with the second low refractive index region 16 interposed therebetween, and the second top low refractive index portion 17b is the second low refractive index region 16 It is located on the second lattice low refractive index portion 15b with the
  • the regions adjacent to each other along the first direction are continuous with each other in a part thereof.
  • the first low refractive index region 12 and the first lattice low refractive index portion 13b are continuous with each other, and further, the first lattice low refractive index portion 13b and the first intermediate low refractive index portion 14b are continuous with each other.
  • These can be made of the same material as each other.
  • the first lattice high refractive index portion 13a and the intermediate high refractive index portion 14a are continuous with each other, and further, the intermediate high refractive index portion 14a and the second lattice high refractive index portion 15a are continuous with each other. They can be made of the same material.
  • the second intermediate low refractive index portion 14c and the second lattice low refractive index portion 15b are continuous with each other
  • the second lattice low refractive index portion 15b and the second low refractive index region 16 are continuous with each other
  • the second 2 The low refractive index region 16 and the first top low refractive index portion 17a are continuous with each other, and these can be made of the same material.
  • the second top low refractive index portion 17b is filled with air.
  • the wavelength selection filter 10 is located along the surface of the base material 11, the concavo-convex structure layer 21 which is located on the base material 11 and has a concavo-convex structure composed of a plurality of convex portions 21a, and the concavo-convex structure layer 21. It can also be regarded as a structure including the arranged high refractive index layer 22 and the low refractive index layer 23 arranged along the surface of the high refractive index layer 22.
  • the plurality of convex portions 21a extend along the second direction and are lined up along the third direction.
  • the high refractive index layer 22 has a surface shape that follows the unevenness of the concave-convex structure layer 21, and the low refractive index layer 23 has a surface shape that follows the unevenness of the high refractive index layer 22.
  • the uneven structure layer 21 is composed of a first low refractive index region 12, a first lattice low refractive index portion 13b, and a first intermediate low refractive index portion 14b, and the convex portion 21a is composed of a first lattice low refractive index portion 13b. It is composed of a first intermediate low refractive index portion 14b.
  • the high refractive index layer 22 is composed of a first lattice high refractive index portion 13a, an intermediate high refractive index portion 14a, and a second lattice high refractive index portion 15a.
  • the first lattice high refractive index portion 13a is located between the plurality of convex portions 21a, that is, at the bottom of the concave-convex structure of the concave-convex structure layer 21.
  • the intermediate high refractive index portion 14a is an end portion of the first lattice high refractive index portion 13a and the second lattice high refractive index portion 15a that are in contact with the side surface of the convex portion 21a and are adjacent to each other when viewed from the direction along the first direction.
  • the second lattice high refractive index portion 15a covers the top surface of the convex portion 21a, that is, is located at the top of the concave-convex structure of the concave-convex structure layer 21.
  • the low refractive index layer 23 is composed of a second intermediate low refractive index portion 14c, a second lattice low refractive index portion 15b, a second low refractive index region 16, and a first top low refractive index portion 17a.
  • the second intermediate low refractive index portion 14c and the second lattice low refractive index portion 15b project from the second low refractive index region 16 toward the base material 11, and the base is formed from the second low refractive index region 16.
  • the first top low refractive index portion 17a has a shape protruding toward the side opposite to the material 11.
  • the surface of the low refractive index layer 23 has irregularities, and the second top low refractive index portion 17b corresponds to the concave portions.
  • the refractive index of the high refractive index layer 22 is larger than the refractive index of air and larger than the refractive index of each of the concave-convex structure layer 21 and the low refractive index layer 23. That is, the refractive indexes of the first lattice high refractive index portion 13a, the intermediate high refractive index portion 14a, and the second lattice high refractive index portion 15a are the first low refractive index region 12, the first lattice low refractive index portion 13b, respectively.
  • the refractive index of the concave-convex structure layer 21 and the low refractive index layer 23 is larger than the refractive index of air.
  • the refractive index difference between each of the concave-convex structure layer 21 and the low-refractive index layer 23 and the high-refractive index layer 22 is large, and the concave-convex structure layer 21 and the low refractive index layer 21 and low refractive index.
  • the difference in refractive index between each of these layers and the high refractive index layer 22 is larger than the difference in refractive index from the rate layer 23.
  • the refractive index of the low refractive index layer 23 adjacent to the air layer is preferably equal to or lower than the refractive index of the concave-convex structure layer 21.
  • the refractive index of the concave-convex structure layer 21 is different from the refractive index of the low refractive index layer 23.
  • the wavelength selection filter 10 has optical asymmetry, so that more light can be emitted to either the front surface side or the back surface side.
  • the difference in refractive index between the uneven structure layer 21 and the low refractive index layer 23 can be 0.01 or more and 0.3 or less. When the difference in refractive index is 0.01 or more, sufficient optical asymmetry occurs. When the difference in refractive index is 0.3 or less, the optical asymmetry does not become too large, so that the resonance of light in the lattice regions 13 and 15 is not disturbed.
  • each material of the concave-convex structure layer 21, the high refractive index layer 22, and the low refractive index layer 23 is a substance having no absorption wavelength in the visible region. That is, it can be a substance that is transparent to light in the visible region.
  • the low refractive index material (first low refractive index material) of the concave-convex structure layer 21 can be a polymer.
  • the polymer can be an ultraviolet curable resin, a thermoplastic resin, a thermosetting resin, or the like. Examples of these resins are acrylic resin, urethane resin, urethane acrylic resin, epoxy resin, polycarbonate resin, poreolefin resin, and polyester resin.
  • the uneven structure layer 21 may contain a filler having a nano-sized diameter.
  • the filler can be an inorganic filler.
  • the inorganic filler can be a silica filler, a metal filler, or a metal compound filler.
  • An example of a metal filler is a zirconium filler.
  • Examples of metal compound fillers are aluminum oxide fillers and titanium oxide fillers.
  • the uneven structure layer 21 can contain one type of these fillers alone or in combination of two or more types.
  • the refractive index of the concave-convex structure layer 21 can be adjusted, for example, by selecting the type of filler and its content.
  • the difference in the refractive index between the uneven structure layer 21 and the high refractive index layer 22 and the difference in the refractive index between the uneven structure layer 21 and the low refractive index layer 23 can be adjusted. If it is desired to reduce the refractive index of the filler to be contained, a filler having a porous structure or a filler having hollow particles can be used.
  • the low refractive index material (second low refractive index material) of the low refractive index layer 23 can be an inorganic compound.
  • the inorganic compound can be an oxide.
  • An example of an oxide is silicon oxide.
  • the inorganic compound may be a nitride or a fluoride.
  • An example of a nitride is calcium nitride.
  • An example of fluoride is magnesium fluoride.
  • the high refractive index material of the high refractive index layer 22 can be an inorganic compound. It is preferable that the inorganic compound is a metal compound because a high refractive index can be easily obtained.
  • metal compounds are titanium oxide, niobium oxide, tantalum oxide, zirconium oxide, zinc sulfide, indium tin oxide, and aluminum nitride.
  • the period of the lattice structure (first lattice structure) in the first lattice region 13, that is, the period of the arrangement of the first lattice high refractive index portion 13a is the first period P1, and the first period P1 is the visible region. It is smaller than the wavelength of light.
  • the period of the lattice structure (second lattice structure) in the second lattice region 15, that is, the period of the arrangement of the second lattice high refractive index portion 15a is the second period P2, and the second period P2 is It is smaller than the wavelength of light in the visible region. That is, the first period P1 and the second period P2 are sub-wavelength periods, and each of the first lattice region 13 and the second lattice region 15 includes a sub-wavelength lattice.
  • the average refractive index for each region is practically determined by the refractive index of the high refractive index portion and the low refractive index portion of the low refractive index portion according to the volume ratio of the high refractive index portion and the low refractive index portion in each region. It can be a value obtained by equalizing the refractive index.
  • the intermediate high refractive index portion 14a in the intermediate region 14 is larger than the ratio of the first lattice high refractive index portion 13a in the first lattice region 13 and the ratio of the second lattice high refractive index portion 15a in the second lattice region 15. The ratio of is small.
  • the average refractive index of the intermediate region 14 is smaller than the average refractive index of the first lattice region 13 and the average refractive index of the second lattice region 15. That is, the wavelength selection filter 10 has a structure in which sub-wavelength lattices located in each of the first lattice region 13 and the second lattice region 15 are embedded in a region having a low refractive index.
  • the sub-wavelength lattice of the second lattice region 15 When light is incident on the wavelength selection filter 10 from the surface side of the wavelength selection filter 10, the sub-wavelength lattice of the second lattice region 15 is embedded in the region having a low refractive index. Therefore, the surface of the second lattice region 15 The emission of diffracted light to the side is suppressed, and a waveguide mode resonance phenomenon occurs. That is, light in a specific wavelength region propagates while being multiple-reflected in the second lattice region 15 to cause resonance, and the light in this specific wavelength region is emitted as reflected light to the surface side of the wavelength selection filter 10.
  • the sub-wavelength lattice of the first lattice region 13 is embedded in the region having a low refractive index, so that the waveguide mode resonance phenomenon also occurs in the first lattice region 13. That is, light in a specific wavelength region propagates while being multiple-reflected in the first lattice region 13 to cause resonance, and the light in this specific wavelength region is emitted as reflected light to the surface side of the wavelength selection filter 10.
  • the light transmitted through the first lattice region 13 is transmitted through the first low refractive index region 12 and the base material 11 and exits to the back surface side of the wavelength selection filter 10.
  • the light in the wavelength region enhanced in the second lattice region 15 and the light in the wavelength region enhanced in the first lattice region 13 are emitted to the surface side of the wavelength selection filter 10.
  • the light transmitted through each region constituting the wavelength selection filter 10 is emitted to the back surface side of the wavelength selection filter 10 as transmitted light.
  • light in the wavelength range enhanced in each of the lattice regions 13 and 15 can be extracted as reflected light.
  • the intensity of the reflected light taken out is increased as compared with the form in which the lattice region is one. Further, as the transmitted light, light in a wavelength range different from the wavelength range enhanced in each of the lattice regions 13 and 15 can be extracted.
  • the light caused by reflection or interference in each region constituting the wavelength selection filter 10 is emitted. Can be ejected. Then, such light includes light in a wavelength range different from the wavelength range enhanced in each of the lattice regions 13 and 15 (non-target light).
  • the intensity of the asymmetric light emitted to the surface side of the wavelength selection filter 10 is high, the wavelength selectivity of the light extracted to the surface side of the wavelength selection filter 10 becomes low, and as a result, the light emitted to the surface side The vividness of the color is low.
  • the top region 17 of the wavelength selection filter 10 of the present embodiment light in a wavelength region different from the wavelength region enhanced in each of the grid regions 13 and 15 is emitted to the surface side of the wavelength selection filter 10. It has a function to suppress this.
  • the top region 17 is configured to cancel the asymmetric light. Specifically, the top region 17 reduces the intensity of the asymmetric light emitted to the front surface side by weakening the asymmetric light by interference and reflecting the asymmetric light to the back surface side.
  • the wavelength range of light canceled by the top region 17 can be adjusted by the thickness and average index of refraction of the top region 17, in other words, by the thickness and material of the low index layer 23. That is, the thickness and material of the low refractive index layer 23 are selected so that light other than the wavelength region enhanced in each of the lattice regions 13 and 15 can be suppressed from being emitted from the top region 17 to the surface side.
  • the surface of the low refractive index layer 23, which is the outermost surface of the wavelength selection filter 10 has irregularities, the surface of the wavelength selection filter 10 is compared with the form in which the outermost surface of the wavelength selection filter 10 is flat. Reflection can be suppressed. This also suppresses the emission of light in a wavelength range different from the light in the wavelength range enhanced in each of the lattice regions 13 and 15 onto the surface side of the wavelength selection filter 10, so that the surface of the wavelength selection filter 10 can be suppressed. The wavelength selectivity of the light extracted to the side is enhanced.
  • each of the lattice regions 13 and 15 is polarized in a specific direction depending on the arrangement direction of the sub-wavelength lattice.
  • Light is multiple-reflected to cause resonance and is emitted as reflected light. Therefore, according to the wavelength selection filter 10 of the first embodiment, the reflected light having enhanced wavelength selectivity can be extracted as the reflected light polarized in a specific direction.
  • the wavelength range of light that resonates in the first lattice region 13 and the wavelength range of light that resonates in the second lattice region 15 are set according to the wavelength range of light to be extracted. Just do it. For example, when it is desired to obtain high-intensity reflected light in a narrower region, that is, when it is desired to further improve the wavelength selectivity of the reflected light, the wavelength region of the light causing resonance in the first lattice region 13 and the second lattice It is preferable that the wavelength region of light causing resonance in region 15 is closer.
  • the light in the specific wavelength region when light in a specific wavelength region resonates in the second lattice region 15, when the difference in refractive index between the second lattice region 15 and the intermediate region 14 is small, the light in the specific wavelength region is described. A portion of the light leaks into the intermediate region 14 for each reflection within the second grid region 15. Even in such a case, if the wavelength regions of the light causing resonance in the first grid region 13 and the second grid region 15 are the same, the light in the specific wavelength region leaked to the intermediate region 14 is the first grid. It enters the region 13 and causes resonance, and is emitted as reflected light. Therefore, the wavelength selectivity of the reflected light emitted from the wavelength selection filter 10 is enhanced.
  • the average refractive index and the film thickness are multiplied in the first grid region 13 and the second grid region 15. It suffices to match the optical film thickness, which is a parameter expressed as a value. That is, the closer the optical film thickness of the first lattice region 13 and the second lattice region 15 is, the closer the wavelength regions of the light causing resonance in each of the first lattice region 13 and the second lattice region 15 become closer to each other. Increased selectivity.
  • the inventor of the present application has found a range of the ratio of the optical film thickness of the first lattice region 13 and the second lattice region 15 to obtain good wavelength selectivity for reflected light by simulation. This content will be described in detail below.
  • the volume ratio of the first lattice high refractive index portion 13a to the entire first lattice region 13 is the first lattice high refractive index portion with respect to the entire first lattice region 13 in a plan view from the direction along the first direction. It is equal to the area ratio of 13a.
  • the area ratio is the area ratio occupied by the first lattice high refractive index portion 13a in the cross section including the first lattice high refractive index portion 13a and orthogonal to the thickness direction thereof.
  • the area ratio of the first lattice high refractive index portion 13a in the cross section where the area of the first lattice high refractive index portion 13a is maximized becomes. Will be adopted.
  • the area ratio of the first lattice high refractive index portion 13a is R1
  • the area ratio of the first lattice low refractive index portion 13b in the cross section is represented by 1-R1.
  • the refractive index of the high refractive index layer 22 is n1 and the refractive index of the concave-convex structure layer 21 is n2 (n1> n2)
  • the optical film thickness OT1 (first parameter) of the first lattice region 13 is represented by the following equation (2) using the average refractive index NA1 and the thickness T1 of the first lattice region 13.
  • the second period P2 which is the period of the lattice structure, coincides with the first period P1 in the first lattice area 13.
  • the width of the second lattice high refractive index portion 15a in the second lattice region 15 is larger than the width of the first lattice low refractive index portion 13b in the first lattice region 13 when viewed from the direction along the first direction. ..
  • the width of the second lattice low refractive index portion 15b is smaller than the width of the first lattice high refractive index portion 13a.
  • the volume ratio of the second lattice high refractive index portion 15a to the entire second lattice region 15 is the second lattice high refractive index portion to the entire second lattice region 15 in a plan view from the direction along the first direction. It is equal to the area ratio of 15a.
  • the area ratio is the area ratio occupied by the second lattice high refractive index portion 15a in the cross section including the second lattice high refractive index portion 15a and orthogonal to the thickness direction thereof.
  • the area ratio of the second lattice high refractive index portion 15a in the cross section where the area of the second lattice high refractive index portion 15a is maximized becomes. Will be adopted.
  • the area ratio of the second lattice high refractive index portion 15a is R2
  • the area ratio of the second lattice low refractive index portion 15b in the cross section is represented by 1-R2.
  • the refractive index of the high refractive index layer 22 is n1
  • the refractive index of the low refractive index layer 23 is n3 (n1> n3)
  • NA2 NA1 ⁇ R2 + n3 ⁇ (1-R2) ⁇ ⁇ ⁇ (3)
  • the optical film thickness OT2 (second parameter) of the second lattice region 15 is represented by the following equation (4) using the average refractive index NA2 and the thickness T2 of the second lattice region 15.
  • the wavelength range of the light that causes resonance becomes closer.
  • the ratio may be larger than 2.0 or smaller than 0.5, for example.
  • the value of OT2 / OT1 is in the range of 0.5 or more and 2.0 or less, stable production of the wavelength selection filter 10 is possible, and the wavelength selection filter 10 can be easily put into practical use as an industrial product.
  • the wavelength selectivity of the wavelength selection filter 10 tends to decrease due to the influence of light in the wavelength region that resonates on the other side. That is, the selected wavelength range becomes wider, or noise is generated in the selected wavelength range.
  • the inventor of the present application needs to control the ratio (OT2 / OT1) of the optical film thickness OT2 of the second lattice region 15 to the optical film thickness OT1 of the first lattice region 13. I got the idea. Then, the inventor of the present application has found a range of the above ratios in which good wavelength selectivity can be obtained and suitability as an industrial product is good, such as stable production. That is, from the viewpoint of enhancing the suitability as an industrial product, the value of OT2 / OT1 is preferably 0.5 or more and 2.0 or less, and in order to obtain higher wavelength selectivity, the value of OT2 / OT1 is 0. It was confirmed that it is preferably 625 or more and 1.6 or less.
  • the material of each layer is selected so that the optical film thickness OT1 and the optical film thickness OT2 match, and the thicknesses T1 and T2 and the width of the convex portion 21a in the concave-convex structure layer 21 are set. Is preferable.
  • the area of the first lattice high refractive index portion 13a and the area ratio R2 of the second lattice high refractive index portion 15a close to each other the area of the first lattice low refractive index portion 13b in the first lattice region 13
  • the ratio is smaller than the area ratio of the first lattice high refractive index portion 13a
  • the area ratio of the second lattice high refractive index portion 15a in the second lattice region 15 is larger than the area ratio of the second lattice low refractive index portion 15b.
  • the width of the convex portion 21a may be set so as to be large. In this case, each of the area ratio R1 of the first lattice high refractive index portion 13a and the area ratio R2 of the second lattice high refractive index portion 15a is larger than 0.5, and R1 + R2 is larger than 1.
  • the average refractive index of each of the lattice regions 13 and 15 is higher than that of the form in which the area ratios R1 and R2 are 0.5 or less.
  • the difference between the average refractive index of the regions 13 and 15 and the average refractive index of each of the regions 12, 14 and 16 adjacent to the lattice regions 13 and 15 becomes large. As a result, the loss due to the multiple reflections generated in the lattice regions 13 and 15 is reduced, so that the intensity of the reflected light emitted from the lattice regions 13 and 15 is increased.
  • the width of the first intermediate low refractive index portion 14b coincides with the width of the first lattice low refractive index portion 13b when viewed from the direction along the first direction.
  • the area ratio of the intermediate high refractive index portion 14a to the entire intermediate region 14 in the plan view from the direction along the first direction is the above area ratio of the second lattice high refractive index portion 15a and the first lattice low refractive index. It is preferably equal to or less than the difference from the area ratio of the portion 13b. That is, when the area ratio of the intermediate high refractive index portion 14a is R3, it is preferable that R3 satisfies the following formula (5).
  • the area ratio is the area ratio occupied by the intermediate high refractive index portion 14a in the cross section including the intermediate high refractive index portion 14a and orthogonal to the thickness direction thereof.
  • the region where the second lattice high refractive index portion 15a is located coincides with the region where the first intermediate low refractive index portion 14b and the intermediate high refractive index portion 14a are located when viewed from the direction along the first direction, it is intermediate.
  • the area ratio R3 of the high refractive index portion 14a coincides with the right side and becomes R1 + R2-1.
  • the region where the second lattice high refractive index portion 15a is located is larger than the region where the first intermediate low refractive index portion 14b and the intermediate high refractive index portion 14a are located when viewed from the direction along the first direction.
  • the area ratio R3 is smaller than R1 + R2-1.
  • the average refractive index of the lattice regions 13 and 15 and the lattice regions 13 and 15 are set. It is desirable that the difference from the average refractive index of each of the sandwiched regions 12, 14 and 16 is large. Therefore, the smaller the average refractive index of the intermediate region 14, the more preferable, that is, the smaller the area ratio of the intermediate high refractive index portion 14a, the more preferable.
  • the width of the intermediate high refractive index portion 14a is suppressed to the extent that the width of the intermediate high refractive index portion 14a does not extend to the outside of the second lattice high refractive index portion 15a.
  • the area ratio of 14a does not become too large. Therefore, the intensity of the reflected light from the lattice regions 13 and 15 becomes good.
  • the difference between the average refractive index of the first lattice region 13 and the average refractive index of each of the first low refractive index region 12 and the intermediate region 14 is more than 0.1. Is also preferable.
  • the difference between the average refractive index of the second lattice region 15 and the average refractive index of each of the intermediate region 14 and the second low refractive index region 16 is preferably larger than 0.1.
  • the average refractive index of the intermediate region 14 is finely adjusted by adjusting the area ratio of the intermediate high refractive index portion 14a. It can be adjusted. Therefore, for example, it is possible to configure the intermediate region 14 so that light in a wavelength region different from the wavelength region to be extracted as reflected light or transmitted light is canceled by an action such as interference in the intermediate region 14. Further, the period of the arrangement of the first top low refractive index part 17a in the top region 17 also coincides with the first period P1 in the first lattice region 13.
  • a layer is formed on the surface of the base material 11 using a low refractive index material (first low refractive index material), and a concavo-convex structure is formed on the surface of the layer to form a concavo-convex structure.
  • Layer 21 can be formed.
  • the uneven structure layer 21 has a flat portion 21c extending along the base material 11 and a plurality of convex portions 21a protruding from the flat portion 21c, and also has a plurality of concave portions 21b which are portions located between the convex portions 21a. ..
  • the convex portion 21a and the concave portion 21b extend in a strip shape along the second direction.
  • the uneven structure can be formed by a known microfabrication method.
  • the microfabrication method can be a nanoimprint method or a dry etching method. Among them, the nanoimprint method is preferable because fine convex portions 21a and concave portions 21b can be easily formed.
  • the low refractive index material is an ultraviolet curable resin, and the concave-convex structure layer 21 can be formed (optical nanoimprint method).
  • the surface of the base material 11 is coated with an ultraviolet curable resin.
  • a glass mold which is an intaglio having inverted unevenness of unevenness composed of the convex portion 21a and the concave portion 21b to be formed, is pressed against the surface of the coating layer made of the ultraviolet curable resin, and the coating layer and the concave plate are pressed. Irradiate with ultraviolet rays. Subsequently, the cured ultraviolet curable resin is released from the intaglio.
  • the unevenness of the intaglio is transferred to the ultraviolet curable resin to form the convex portion 21a and the concave portion 21b, and the convex portion 21a and the concave portion 21b and the base material 11 are made of an ultraviolet curable resin.
  • a flat portion 21c is formed as a residual film.
  • the optical nanoimprint method using an ultraviolet curable resin is excellent in the shape forming accuracy of the concave-convex structure (dimensional accuracy of the period of the sub-wavelength lattice, transfer accuracy from the concave plate), the concave-convex structure layer 21 of the present disclosure. It is suitable as a forming method. However, in some cases (in some cases), a nanoimprint method using thermosetting or thermoplastic is suitable as a method for forming an uneven structure.
  • a high refractive index layer 22 made of a high refractive index material is formed on the surface of the concave-convex structure layer 21.
  • the high refractive index layer 22 can be formed by a known film forming technique.
  • An example of a known film forming technique is a physical vapor deposition method.
  • the physical vapor deposition method can be a vacuum deposition method or a sputtering method.
  • the thickness of the high refractive index layer 22 is smaller than the height of the convex portion 21a, and is set according to the desired thickness T1 and thickness T2.
  • the thickness of the high refractive index layer 22 can be 10 nm or more and 500 nm or less.
  • the high refractive index layer 22 is formed by the physical vapor deposition method, a layer is formed on the convex portion 21a of the concave-convex structure layer 21 so as to be wider than the convex portion 21a. That is, the width of the second lattice high refractive index portion 15a is formed larger than the width of the first lattice low refractive index portion 13b and the first intermediate low refractive index portion 14b, which are the convex portions 21a.
  • the width of the second lattice high refractive index portion 15a is expanded during the film formation, it becomes difficult for the particles of the vapor deposition material to adhere to the recess 21b, so that the thickness T1 of the first lattice high refractive index portion 13a There may be a gap between the thickness T2 of the second lattice high refractive index portion 15a and the thickness T2.
  • the optical film with respect to the optical film thickness OT1 is compensated for the deviation of the area ratio and the thickness caused by the expansion of the width of the second lattice high refractive index portion 15a.
  • the width of the convex portion 21a that is, the area ratio between the convex portion 21a and the concave portion 21b is set so that the ratio of the thickness OT2 is 0.5 or more and 2.0 or less, more preferably 0.625 or more and 1.6 or less. It is desirable to set.
  • the high refractive index layer 22 is formed by using the physical vapor phase growth method, the high refractive index material often adheres to the side surface of the convex portion 21a of the concave-convex structure layer 21, and the intermediate high refractive index portion 14a Formation is inevitable. Therefore, as described above, by controlling the width of the intermediate high refractive index portion 14a so that the above equation (5) is satisfied, the intensity of the reflected light from the lattice regions 13 and 15 can be obtained satisfactorily. it can.
  • the width of the intermediate high refractive index portion 14a can be controlled by the film forming method and the film forming conditions.
  • the parameters of the film forming conditions are the film forming speed, the shape of the target, the size of the target, the distance between the target and the target, and the like.
  • the film formation may be performed once, or may be performed a plurality of times.
  • the vacuum deposition method and the sputtering method differ in the angle dependence of the flying direction of particles. Therefore, the width of the intermediate high refractive index portion 14a can be changed by using either the vacuum vapor deposition method or the sputtering method, or by combining them.
  • the high refractive index layer 22 may be formed by the physical vapor deposition method and then etched to reduce the width of the intermediate high refractive index portion 14a.
  • a low refractive index layer 23 made of a low refractive index material (second low refractive index material) is formed on the surface of the high refractive index layer 22.
  • the low refractive index layer 23 can be formed by a known film forming technique.
  • An example of a known film forming technique is a physical vapor deposition method.
  • the physical vapor deposition method is a vacuum deposition method or a sputtering method.
  • the thickness of the low refractive index layer 23 can be 10 nm or more and 500 nm or less.
  • the wavelength selection filter 10 the light in the wavelength region enhanced in the first lattice region 13 and the light in the wavelength region enhanced in the second lattice region 15 are emitted to obtain the reflected light. Wavelength selectivity is enhanced. Therefore, the wavelength selection filter 10 does not require precise control of the film thickness of the layer in contact with the lattice region, as compared with the form in which the layer in contact with the lattice region is used as the waveguide layer.
  • the wavelength selection filter 10 is formed by using the nanoimprint method, it is possible to manufacture the wavelength selection filter 10 with improved wavelength selectivity without requiring precise control of the film thickness of the residual film. Therefore, the wavelength selection filter 10 can be easily manufactured, and can be manufactured more easily by using the nanoimprint method.
  • the wavelength selection filter 10 can be formed by a manufacturing method that combines an optical nanoimprint method, a vacuum deposition method, or the like. Therefore, it is suitable for manufacturing by the roll-to-roll method. Therefore, the structure of the wavelength selection filter 10 is also suitable for mass production.
  • the concave-convex structure layer 21 may be formed by the nanoimprint method using a thermosetting resin or a thermoplastic resin instead of the ultraviolet curable resin.
  • a thermosetting resin is used, the irradiation of ultraviolet rays may be changed to heating, and when a thermoplastic resin is used, the irradiation of ultraviolet rays may be changed to heating and cooling.
  • the wavelength selection filter 10 of the above embodiment may be changed as follows. As shown in FIG. 5, the wavelength selection filter 10 does not have to include the base material 11.
  • the uneven structure layer 21 is formed by forming the uneven structure on the surface of the plate-like body made of the low refractive index material.
  • a sheet made of a thermoplastic resin may be used to form an uneven structure on the surface of the sheet, or a substrate made of synthetic quartz may be used to form an uneven structure on the surface of the substrate.
  • a known technique such as a dry etching method may be used for forming the uneven structure on the synthetic quartz substrate.
  • the convex portion 21a may be directly formed on the surface of the base material 11. That is, the uneven structure layer 21 does not have to have a flat portion 21c continuous with the convex portion 21a.
  • the convex portion 21a and the base material 11 form the concave-convex structure layer 21, and the region of the base material 11 in contact with the convex portion 21a functions as the first low refractive index region 12.
  • Such a concavo-convex structure layer 21 can be formed by using, for example, photolithography.
  • the low refractive index layer 23 may be formed from a resin material by using various coating methods. However, since the low refractive index layer 23 is formed in a shape that follows the high refractive index layer 22, in other words, in order to preferably form irregularities on the surface of the low refractive index layer 23, the low refractive index layer 23 is inorganic. It is preferably composed of a compound and formed by a physical vapor phase growth method.
  • the wavelength selection filter 10 does not have the second low refractive index region 16, and the top region 17 may be located directly above the second lattice region 15.
  • the bottom of the recess on the surface of the low refractive index layer 23 is arranged at a position corresponding to the top of the high refractive index layer 22, that is, the top of the second lattice high refractive index portion 15a in the first direction. May be good.
  • a part or all of the second lattice low refractive index portion 15b may be continuous from the second top low refractive index portion 17b and filled with air. In this case, the bottom of the recess on the surface of the low refractive index layer 23 is located in the second lattice region 15.
  • a part of the second intermediate low refractive index portion 14c may be continuous from the second top low refractive index portion 17b and filled with air.
  • the bottom of the recess on the surface of the low refractive index layer 23 is located in the intermediate region 14.
  • the average refractive index of each region is a value obtained by equalizing the refractive indexes of the substances constituting each region, including air, according to the volume ratio of the portion occupied by each substance.
  • wavelength selection filter 10 A specific application example of the wavelength selection filter 10 described above will be described.
  • the wavelength selection filter 10 is applied to a filter or a display body used in a device that performs color conversion or color separation of light.
  • a mode in which the wavelength selection filter 10 is used as a display body will be described.
  • the display body may be used for the purpose of increasing the difficulty of counterfeiting the article, may be used for the purpose of enhancing the design of the article, or may be used for these purposes as well. If the purpose is to increase the difficulty of counterfeiting goods, the display body may be, for example, certification documents such as passports and driver's licenses, securities such as gift certificates and checks, and cards such as credit cards and cash cards. It can be attached to banknotes, etc. When the purpose is to enhance the design of the article, the display body may be, for example, a wearable accessory, an article carried by a user, an article to be stationary such as furniture or a home appliance, a wall, or the like. It can be attached to structures such as doors.
  • the display body 60 has a front surface 60F and a back surface 60R which is a surface opposite to the front surface 60F, and the display body 60 is the first display body 60 when viewed from a position facing the front surface 60F.
  • the display area 61A, the second display area 61B, and the third display area 61C are included.
  • the first display area 61A is an area in which a plurality of first pixels 62A are arranged
  • the second display area 61B is an area in which a plurality of second pixels 62B are arranged
  • the third display area 61C is an area in which a plurality of second pixels 62B are arranged.
  • This is an area in which a plurality of third pixels 62C are arranged.
  • the first display area 61A is composed of a set of a plurality of first pixels 62A
  • the second display area 61B is composed of a set of a plurality of second pixels 62B
  • the 61C is composed of a set of a plurality of third pixels 62C.
  • Each of the first display area 61A, the second display area 61B, and the third display area 61C may be a character, a symbol, a figure, a pattern, a pattern, or a combination of these areas alone or two or more of these areas.
  • a circular figure is represented by the first display area 61A
  • a triangular figure is represented by the second display area 61B
  • a background is represented by the third display area 61C.
  • the configuration of the wavelength selection filter 10 is applied to each of the first pixel 62A, the second pixel 62B, and the third pixel 62C.
  • the surface side of the wavelength selection filter 10 displays the pixels 62A, 62B, 62C so that the second direction and the third direction of the pixels 62A, 62B, 62C are along the surface 60F of the display body 60. It is arranged so as to be on the surface side of the body 60.
  • the wavelength ranges in which resonance occurs due to the waveguide mode resonance phenomenon are different from each other in the first pixel 62A, the second pixel 62B, and the third pixel 62C.
  • the wavelength range in which resonance occurs in each pixel 62A, 62B, 62C is a desired wavelength for each pixel 62A, 62B, 62C by adjusting the period of the sub-wavelength grids of the first grid region 13 and the second grid region 15. It is set in the area.
  • the wavelength range of the reflected light emitted from the first pixel 62A, the wavelength range of the reflected light emitted from the second pixel 62B, and the third pixel 62C The wavelength range of the light emitted from is different from each other. Further, when the incident light is received, the wavelength range of the transmitted light emitted from the first pixel 62A, the wavelength range of the transmitted light emitted from the second pixel 62B, and the transmitted light emitted from the third pixel 62C. Wavelength range is different from each other.
  • the hue color corresponding to the region is visually recognized, and the hue color corresponding to the wavelength region of the reflected light I4 is visually recognized in the third display region 61C. Since the wavelength range of the reflected light I2, the wavelength range of the reflected light I3, and the wavelength range of the reflected light I4 are different from each other, the first display area 61A, the second display area 61B, and the third display area 61C have different hues. Looks like the color of.
  • the first colors having different colors are the first.
  • An image composed of the display area 61A, the second display area 61B, and the third display area 61C is visually recognized.
  • the transmitted light I5 is emitted from the first pixel 62A to the back surface side of the display body 60, and the second The transmitted light I6 is emitted from the pixel 62B, and the transmitted light I7 is emitted from the third pixel 62C. Therefore, when the back surface 60R of the display body 60 is viewed from the back surface side, the hue color corresponding to the wavelength range of the transmitted light I5 is visually recognized in the first display area 61A, and the wavelength of the transmitted light I6 is displayed in the second display area 61B.
  • the hue color corresponding to the region is visually recognized, and the hue color corresponding to the wavelength region of the transmitted light I7 is visually recognized in the third display region 61C. Since the wavelength range of the transmitted light I5, the wavelength range of the transmitted light I6, and the wavelength range of the transmitted light I7 are different from each other, the first display area 61A, the second display area 61B, and the third display area 61C have different hues. Looks like the color of.
  • the first display of different colors is also performed.
  • An image composed of the area 61A, the second display area 61B, and the third display area 61C is visually recognized.
  • the first display area 61A is obtained when the display body 60 is viewed from the front surface side and when the display body 60 is viewed from the back surface side.
  • the hue of the color visually recognized is different.
  • the color seen from the back surface side is a color corresponding to the complementary color of the color seen from the front surface side.
  • the hue of the color visually recognized in the second display area 61B is different, and the display body 60 is visually recognized in the third display area 61C.
  • the hue of the color to be produced is also different.
  • the wavelength selection filter 10 of the first embodiment has enhanced wavelength selectivity, the wavelength selection filter 10 is applied to the pixels 62A, 62B, and 62C to display each display area.
  • the sharpness and brightness of the colors visually recognized by 61A, 61B, and 61C are enhanced. Therefore, the visibility of the image formed by the display body 60 is enhanced.
  • a flexible base material 11 such as a resin film can be used, it is possible to realize a display body 60 having a high degree of freedom in shape deformation. It is possible.
  • the base material 11, the first low refractive index region 12, the first lattice region 13, the intermediate region 14, the second lattice region 15, and the second low Each of the refractive index region 16 and the top region 17 is continuous. That is, the first pixel 62A, the second pixel 62B, and the third pixel 62C have a common base material 11, a concavo-convex structure layer 21 that is mutually continuous between these pixels, and each other between these pixels. It has a continuous high refractive index layer 22 and a low refractive index layer 23 that are continuous with each other between these pixels.
  • the concavo-convex structure layer 21 in each of the first pixel 62A, the second pixel 62B, and the third pixel 62C uses, for example, the nanoimprint method to change the concavo-convex cycle at the portion corresponding to each pixel 62A, 62B, 62C. It can be formed at the same time by using a glass mold. Further, the high refractive index layer 22 and the low refractive index layer 23 can also form the portions corresponding to the pixels 62A, 62B, 62C at the same time. Therefore, the pixels 62A, 62B, and 62C that exhibit different colors can be easily formed.
  • the number of display areas included in the display body 60 that is, the number of display areas in which pixels to which the configuration of the wavelength selection filter 10 is applied are arranged and exhibit colors having different hues from each other is not particularly limited, and the number of display areas is not particularly limited. The number may be one or four or more. Further, the display body 60 may have a region having a structure different from that of the wavelength selection filter 10, for example, a region having a structure in which only a flat layer made of a low refractive index material is laminated on the base material 11. Good.
  • the display area may include a display element to which the configuration of the wavelength selection filter 10 is applied, and the display element is not limited to a pixel, which is the minimum unit of repetition for forming a raster image, and a vector image. It may be a region connecting anchors for forming.
  • each lattice region 13 can be adjusted by adjusting the thickness and the refractive index of the low refractive index layer 23. Light in a wavelength range different from the reflected light enhanced in 15 is canceled, and it is possible to suppress that such light is emitted together with the reflected light. Therefore, the wavelength selectivity of the wavelength selection filter 10 is enhanced.
  • the concave-convex structure layer 21 can be made of a polymer.
  • the concave-convex structure layer 21 can be composed of any one of an ultraviolet curable resin, a thermosetting resin, and a thermoplastic resin.
  • the low refractive index layer 23 can be made of an inorganic compound.
  • a method for manufacturing the uneven structure layer 21 for example, a method suitable for forming fine unevenness such as nanoimprint can be adopted.
  • the low refractive index layer 23 can be formed into a film by, for example, a physical vapor deposition method.
  • the uneven structure layer 21 and the low refractive index layer 23 can be suitably formed by properly using the low refractive index material.
  • the ratio of the optical film thickness OT2 of the second lattice region 15 to the optical film thickness OT1 of the first lattice region 13 is 0.5 or more and 2.0 or less, more preferably 0.625 or more and 1.6 or less.
  • the width of the intermediate high refractive index portion 14a in the intermediate region 14 can be suppressed to be small by satisfying R3 ⁇ R1 + R2-1, so that the average refraction of the intermediate region 14 is suppressed. It is possible to prevent the rate from becoming excessively large. Therefore, since the difference in the average refractive index between the lattice regions 13 and 15 and the adjacent regions thereof is satisfactorily secured, the intensity of the reflected light from the lattice regions 13 and 15 obtained by the waveguide mode resonance phenomenon becomes good. ..
  • the width of the intermediate high refractive index portion 14a can be suppressed to be small by expanding the second lattice high refractive index portion 15a to the outside of the intermediate high refractive index portion 14a.
  • the intensity of the reflected light from each of the lattice regions 13 and 15 becomes good.
  • the wavelength selection filter 10 is formed by the step of forming the above. According to such a manufacturing method, the wavelength selectivity of the wavelength selection filter 10 is enhanced without requiring precise control of the film thickness of the layer in contact with the sub-wavelength lattice, so that the wavelength selection filter 10 can be easily manufactured. ..
  • the concave-convex structure layer 21 is formed by using the nanoimprint method. Therefore, the concavo-convex structure layer 21 having fine concavities and convexities can be preferably and easily formed. Further, in the method of forming the low refractive index layer 23 by using the physical vapor deposition method, the low refractive index layer 23 having a surface shape that follows the unevenness of the surface of the high refractive index layer 22 is preferably formed. Can be done.
  • the second lattice high refractive index portion 15a extends to the outside of the intermediate high refractive index portion 14a when viewed from the direction along the first direction.
  • the high refractive index layer 22 is formed. According to such a manufacturing method, although the method of forming the intermediate high refractive index portion 14a on the side surface of the convex portion 21a is adopted, the width of the intermediate high refractive index portion 14a can be suppressed to a small size, so that the lattice regions 13 and 15 can be used. The intensity of the reflected light of is improved.
  • the wavelength selection filter 30 of the second embodiment has the first low refractive index region 12, the first lattice region 13, the intermediate region 14, and the second lattice region 15 described in the first embodiment. It includes two resonance structure portions 31, which are structures including a second low refractive index region 16 and a top region 17. However, the second top low refractive index portion 17b in the top region 17 is filled with a low refractive index material.
  • the first resonance structure portion 31A and the second resonance structure portion 31B which are the two resonance structure portions 31, are adjacent to each other in the first direction, and the two resonance structure portions 31A and 31B are sandwiched between the two base materials 11. It has been.
  • the wavelength selection filter 30 of the second embodiment has a structure in which the two wavelength selection filters 10 of the first embodiment are joined so that the top regions 17 face each other. That is, the wavelength selection filter 30 of the second embodiment has four sub-wavelength grids arranged with a gap in the first direction, and these sub-wavelength grids have a structure embedded in a low refractive index material. There is.
  • the wavelength selection filter 30 has two pairs of lattice structures (lattice pairs) having the same arrangement direction and arrangement period, and these lattice structures are surrounded by a low refractive index material.
  • the two grid pairs are aligned in the first direction.
  • the side of the other base material 11 with respect to one base material 11 is the front surface side of the wavelength selection filter 30, and the side of one base material 11 with respect to the other base material 11 is the back surface side of the wavelength selection filter 30.
  • the extending directions of the high refractive index portions 13a and 15a and the low refractive index portions 13b and 15b which are the lattice elements in the first resonance structure portion 31A, and the lattice elements in the second resonance structure portion 31B.
  • the extending directions of the high refractive index portions 13a and 15a of the lattice and the low refractive index portions 13b and 15b of the lattice coincide with each other.
  • the arrangement direction of the sub-wavelength lattice included in the first resonance structure portion 31A and the arrangement direction of the sub-wavelength lattice included in the second resonance structure portion 31B are the same.
  • each low refractive index portion and high refractive index portion in the intermediate region 14 and the top region 17 of each resonance structure portion 31 also extend in the same direction as the lattice element.
  • the boundary low refractive index region 18 is located.
  • the boundary low refractive index region 18 is the second top low refractive index portion 17b in the top region 17 of the first resonance structure portion 31A and the second top low refractive index portion 17b in the top region 17 of the second resonance structure portion 31B.
  • the boundary low refractive index region 18 and the second top low refractive index portion 17b of each resonance structure portion 31 are made of the same material as each other.
  • the structural period Pk which is the period of the arrangement of the convex portions 21a in the first resonance structure portion 31A
  • the structural period Pk which is the period of the arrangement of the convex portions 21a in the second resonance structure portion 31B
  • the structural period Pk coincides with the first period P1 in the first lattice region 13.
  • the second lattice region with respect to the optical film thickness OT1 of the first lattice region 13 The ratio of the optical film thickness OT2 of 15 is preferably 0.5 or more and 2.0 or less, and more preferably 0.625 or more and 1.6 or less.
  • the optical film thickness OT2 to the optical film thickness OT1 varies in the four lattice regions 13 and 15. Is preferable because the wavelength range of the light that causes resonance in each of the lattice regions 13 and 15 becomes closer.
  • the wavelength region of light that causes resonance in the lattice regions 13 and 15 of the first resonance structure portion 31A and the second resonance structure portion 31B The wavelength ranges of light that resonate in the lattice regions 13 and 15 are different from each other.
  • the light in the wavelength region enhanced in the lattice regions 13 and 15 of the first resonance structure portion 31A and the lattice regions 13 and 15 of the second resonance structure portion 31B Reflected light including light in the enhanced wavelength range is emitted.
  • the top region 17 is the light due to reflection or interference on the back surface side of the top region 17, as in the first embodiment.
  • the thickness and material of the low refractive index layer 23 and the material of the boundary low refractive index region 18 are selected so that the top region 17 cancels the light other than the wavelength region enhanced in each of the lattice regions 13 and 15.
  • the wavelength selection filter 30 of the second embodiment has a plurality of resonance structure portions 31 having two lattice regions 13 and 15, the degree of freedom in adjusting the hue observed as reflected light or transmitted light is increased.
  • the wavelength selection filter 30 of the second embodiment may be applied to a filter used in an apparatus used for light color conversion or color separation, or may be applied to a display body 60. It may be applied to the display element provided in.
  • the colors visually recognized in the respective display areas 61A, 61B and 61C by surface reflection observation By increasing the sharpness and brightness, the visibility of the image is enhanced.
  • the display body 60 adjusts the hue of the image visually recognized in the front surface reflection observation and the back surface transmission observation.
  • the degree of freedom is increased.
  • the combination of the structural period Pk of the first resonance structure portion 31A and the structural period Pk of the second resonance structure portion 31B is different from each other.
  • two concave-convex structures 32 which are structures composed of the base material 11, the concave-convex structure layer 21, the high-refractive index layer 22, and the low-refractive index layer 23, are combined with the low-refractive index layer 23.
  • These concavo-convex structures 32 are joined by facing each other so as to face each other and filling the region between the two concavo-convex structures 32 with a low refractive index material (third low refractive index material) as shown in FIG. To do.
  • the wavelength selection filter 30 is formed.
  • the portion formed between the two concave-convex structures 32 by embedding with a low refractive index material is the embedding layer 24.
  • the embedded layer 24 has a low boundary between the second top low refractive index portion 17b in the top region 17 of the first resonance structure portion 31A and the second top low refractive index portion 17b in the top region 17 of the second resonance structure portion 31B. It is composed of a refractive index region 18.
  • the low refractive index material constituting the embedded layer 24 is a material having a lower refractive index than the high refractive index material constituting the high refractive index layer 22, and is an ultraviolet curable resin, a thermoplastic resin, a thermosetting resin, or the like. Resin material is preferably used.
  • the embedded layer 24 may be formed of the same material as the uneven structure layer 21. As a method for forming the embedded layer 24, various coating methods and the like may be used.
  • the first top low refractive index portions 17a may face each other, or the first top low refractive index portion 17a in one concave-convex structure 32 and the other
  • the second top low refractive index portion 17b of the concave-convex structure 32 may face each other.
  • the first top low refractive index portion 17a in one concave-convex structure 32 is a part of the first top low refractive index portion 17a and a part of the second top low refractive index portion 17b in the other concave-convex structure 32. You may face each other.
  • a wavelength selection filter 30 in which the two resonance structure portions 31A and 31B have the same structural period Pk can be formed. Further, for example, by joining two concave-convex structures 32 having different periods of the convex portions 21a, it is possible to form a wavelength selection filter 30 in which the two resonance structure portions 31A and 31B have structural periods Pk different from each other.
  • the two resonance structure portions 31A and 31B may be arranged with the top region 17 facing outward instead of being arranged so that the top regions 17 face each other. That is, the two concave-convex structures 32 may be joined by a low refractive index material so that the base materials 11 face each other.
  • the two resonance structure portions 31A and 31B may be arranged so that the top regions 17 of the resonance structure portions 31A and 31B are all facing the surface side. That is, the two concavo-convex structures 32 may be joined by a low refractive index material so that the top region 17 of one concavo-convex structure 32 and the base material 11 of the other concavo-convex structure 32 face each other. If the top region 17 is located on the outermost surface of the wavelength selection filter 30, the effect of suppressing surface reflection by the top region 17 can be obtained as in the first embodiment.
  • the wavelength selection filter 30 may include three or more resonance structure portions 31 arranged in the first direction.
  • the wavelength selection filter 30 includes a plurality of resonance structure portions 31, if the structural period Pk of these resonance structure portions 31 is the same, the larger the number of resonance structure portions 31, the higher the intensity of the reflected light.
  • the plurality of resonance structure portions 31 may include a plurality of resonance structure portions 31 having the same structural period Pk and a plurality of resonance structure portions 31 having different structural periods Pk. According to such a configuration, it is possible to finely adjust the color of the reflected light and the transmitted light emitted from the wavelength selection filter 30.
  • the base material 11 and the concave-convex structure layer 21 are formed of a material capable of peeling the base material 11 from the concave-convex structure layer 21, and the concave-convex structure 32.
  • the base material 11 may be peeled off at the time of laminating.
  • two concave-convex structures 32 are joined by a low refractive index material so that the top regions 17 face each other, and then one base material 11 is peeled off to expose the concave-convex structure layer 21 and the other concave-convex structure.
  • a wavelength selection filter 30 having 6 or more sub-wavelength lattices is formed by repeatedly joining the 32 with the low refractive index material.
  • the wavelength selection filter 30 includes a plurality of resonance structure portions 31 arranged in the first direction and the wavelength selection filter 10 includes four or more lattice regions 13 and 15, the wavelength selection of the wavelength selection filter 30 It is possible to further enhance the property and increase the degree of freedom in adjusting the wavelength range included in the reflected light and the transmitted light.
  • the ratio of the optical film thickness OT2 to the optical film thickness OT1 is the same in the first resonance structure portion 31A and the second resonance structure portion 31B, so that the optical film thickness varies in the four lattice regions 13 and 15. That is, the wavelength range of the light that causes resonance in each of the lattice regions 13 and 15 becomes closer. Therefore, the wavelength selectivity of the reflected light is further enhanced.
  • the wavelength selection filter 30 can expand the wavelength range included in the reflected light and narrow the wavelength range included in the transmitted light while increasing the intensity of the reflected light. Therefore, the degree of freedom in adjusting the hue observed as reflected light or transmitted light can be increased.
  • the wavelength selection filter 30 is formed by facing the two concave-convex structures 32 and filling the region between the two concave-convex structures 32 with a low refractive index material. According to this, the wavelength selection filter 30 including a plurality of resonance structure portions 31 can be easily formed.
  • a third embodiment of the wavelength selection filter, the display body, and the method for manufacturing the wavelength selection filter will be described with reference to FIG.
  • the arrangement directions of the sub-wavelength lattices in the two resonance structures are different from those in the second embodiment.
  • the differences between the third embodiment and the second embodiment will be mainly described, and the same reference numerals will be given to the same configurations as those of the second embodiment, and the description thereof will be omitted. Note that FIG.
  • FIG. 13 is a diagram showing a part of the wavelength selection filter, and in order to make the structure of the wavelength selection filter easier to understand, the concave-convex structure layer 21, the high refractive index layer 22, the low refractive index layer 23, and the embedded layer are shown. Each of the 24 is shown with dots having different densities.
  • the wavelength selection filter 40 of the third embodiment includes two resonance structure portions 31A and 31B adjacent to each other in the first direction, as in the second embodiment.
  • the lattice elements of the lattice regions 13 and 15 of the first resonance structure portion 31A that is, the extending directions of the lattice high refractive index portions 13a and 15a and the lattice low refractive index portions 13b and 15b.
  • the directions in which the lattice elements of the lattice regions 13 and 15 of the second resonance structure portion 31B extend are different from each other.
  • the arrangement direction of the sub-wavelength lattice included in the first resonance structure portion 31A and the arrangement direction of the sub-wavelength lattice included in the second resonance structure portion 31B are different from each other.
  • the structural period Pk which is the cycle of the arrangement of the convex portions 21a in the first resonance structure portion 31A
  • the structural period Pk which is the cycle of the arrangement of the convex portions 21a in the second resonance structure portion 31B
  • the optical film thickness of the second lattice region 15 with respect to the optical film thickness OT1 of the first lattice region 13 in each of the first resonance structure portion 31A and the second resonance structure portion 31B.
  • the ratio of OT2 is preferably 0.5 or more and 2.0 or less, and more preferably 0.625 or more and 1.6 or less. Further, it is preferable that the ratios of the first resonance structure portion 31A and the second resonance structure portion 31B are the same.
  • the lattice high refractive index portions 13a and 15a and the lattice low refractive index portions 13b and 15b of the first resonance structure portion 31A extend along the second direction and are arranged along the third direction.
  • the lattice high refractive index portions 13a and 15a and the lattice low refractive index portions 13b and 15b of the second resonance structure portion 31B extend along the third direction and are arranged along the second direction. That is, the extending direction of the lattice element included in the first resonance structure portion 31A and the extending direction of the lattice element included in the second resonance structure portion 31B are orthogonal to each other. In other words, the angle formed by the arrangement direction of the sub-wavelength grids of the first resonance structure portion 31A and the arrangement direction of the sub-wavelength lattices of the second resonance structure portion 31B is 90 °.
  • the sub-wavelength lattice is composed of lattice high refractive index portions 13a and 15a extending in a band shape in one direction
  • light polarized in a specific direction is multiplely reflected in each of the lattice regions 13 and 15. Then, it causes resonance and is emitted as reflected light.
  • the specific direction depends on the arrangement direction of the sub-wavelength lattice. Since the arrangement directions of the sub-wavelength lattices are different between the first resonance structure portion 31A and the second resonance structure portion 31B, the lattice regions 13 and 15 of the first resonance structure portion 31A and the lattice regions 13 of the second resonance structure portion 31B, In No.
  • the polarization directions of the multiple reflected light are different from each other. Therefore, according to the wavelength selection filter 40 of the third embodiment, the reflected light is efficiently emitted with respect to the incident light containing the polarizing components in various directions, so that the intensity of the reflected light is further increased.
  • the configuration of the wavelength selection filter 40 of the third embodiment may be applied to a filter used in an apparatus used for light color conversion or color separation, as in the application example shown in the first embodiment, or may be displayed. It may be applied to the display element included in the body 60.
  • the incident light on the display body 60 is often light containing polarization components in various directions, such as general lighting and sunlight. Therefore, when the wavelength selection filter 40 of the third embodiment is applied to the display body 60, the effect of efficiently emitting reflected light with respect to polarization can be obtained with high effect.
  • the wavelength selection filter 30 of the second embodiment is applied.
  • the two concave-convex structures 32 are opposed to each other so that the top regions 17 face each other, and the region between the two concave-convex structures 32 is lowered. It is formed by filling with a refractive index material (third low refractive index material).
  • these concave-convex structures 32 are orthogonal to each other so that the extending direction of the convex portion 21a in one concave-convex structure 32 and the extending direction of the convex portion 21a in the other concave-convex structure 32 are orthogonal to each other.
  • the two resonance structure portions 31A and 31B may be arranged with the top region 17 facing outward, and the top regions 17 of the resonance structure portions 31A and 31B are both arranged. It may be arranged so as to face the surface side.
  • the arrangement directions of the sub-wavelength lattices in the two resonance structure portions 31A and 31B are not limited to being orthogonal to each other, and may be different from each other.
  • the polarization responsiveness of the wavelength selection filter 40 can also be adjusted by setting the arrangement direction of the sub-wavelength lattice.
  • the wavelength selection filter 40 may include three or more resonance structure portions 31 arranged in the first direction, and the plurality of resonance structure portions 31 include resonance structure portions 31 in which the extending directions of the lattice elements are different from each other. I just need to be there.
  • Such a wavelength selection filter 40 includes an even number, that is, 2n (n is an integer of 3 or more) sub-wavelength grids, and is the 2m-1st sub-wavelength (m is an integer of 1 or more and n or less) from the front surface side or the back surface side.
  • the arrangement directions are the same, and the arrangement periods of the lattices are the same.
  • the polarization response of the wavelength selection filter 40 is set by setting the arrangement direction of the sub-wavelength lattice for each resonance structure unit 31 and setting the number of resonance structure units 31 having the same arrangement direction of the sub-wavelength lattice. You can also adjust the sex.
  • the plurality of resonance structure portions 31 may include resonance structure portions 31 having different arrangement periods of the sub-wavelength lattices.
  • the following advantages are obtained. Be done. (12) Since the extending direction of the lattice element of the first resonance structure portion 31A and the extending direction of the lattice element of the second resonance structure portion 31B are different from each other, the lattice regions 13, 15 and the first of the first resonance structure portion 31A In the lattice regions 13 and 15 of the two resonance structure portions 31B, among the light contained in the incident light, the light polarized in different directions resonates and is emitted from the respective resonance structure portions 31. Therefore, the reflected light is efficiently emitted with respect to the incident light containing the polarized light components in various directions, so that the intensity of the reflected light is further increased.
  • a fourth embodiment of the wavelength selection filter, the display body, and the method for manufacturing the wavelength selection filter will be described with reference to FIG.
  • the arrangement of the sub-wavelength lattice is different from that in the first embodiment.
  • the differences between the fourth embodiment and the first embodiment will be mainly described, and the same reference numerals will be given to the same configurations as those of the first embodiment, and the description thereof will be omitted.
  • the sub-wavelength lattice has a two-dimensional lattice-like arrangement.
  • the plurality of first lattice low refractive index portions 13b are arranged in a two-dimensional lattice pattern.
  • the type of the two-dimensional lattice is not particularly limited, and the first lattice low refractive index portion 13b may be located at the lattice points of the lattice formed by the intersection of two parallel line groups extending in different directions.
  • the two-dimensional lattice formed by the first lattice low refractive index unit 13b may be a square lattice or a hexagonal lattice.
  • the first period P1 which is the period of the lattice structure in the first lattice region 13, coincides with each other in each direction in which the two-dimensional lattice extends.
  • the first lattice high refractive index portion 13a fills the space between the plurality of first lattice low refractive index portions 13b, and constitutes one continuous high refractive index portion.
  • the shape of the first lattice low refractive index portion 13b is not particularly limited when viewed from the direction along the first direction. For example, if the first lattice low refractive index portion 13b is square, the average refraction of the first lattice region 13 It is easy to set the area ratio that defines the rate.
  • the plurality of first intermediate low refractive index portions 14b are arranged in a two-dimensional lattice pattern that coincides with the first lattice low refractive index portion 13b.
  • the size of the first intermediate low refractive index portion 14b coincides with that of the first lattice low refractive index portion 13b when viewed from the direction along the first direction.
  • the intermediate high refractive index portion 14a When viewed from the direction along the first direction, the intermediate high refractive index portion 14a has a frame shape and surrounds the first intermediate low refractive index portions 14b one by one.
  • the second intermediate low refractive index portion 14c fills the space between the intermediate high refractive index portions 14a adjacent to each other, and constitutes one continuous low refractive index portion.
  • the plurality of second lattice high refractive index portions 15a are arranged in a two-dimensional lattice pattern that coincides with the first lattice low refractive index portion 13b.
  • the second lattice low refractive index portion 15b fills the space between the plurality of second lattice high refractive index portions 15a, and constitutes one continuous low refractive index portion.
  • the second lattice high refractive index portions 15a scattered in the second lattice region 15 are more than the first lattice low refractive index portions 13b scattered in the first lattice region 13. Is also big.
  • the width of the second lattice high refractive index portion 15a is larger than the width of the first lattice low refractive index portion 13b in each of the second direction and the third direction. Therefore, the width of the second lattice low refractive index portion 15b is smaller than the width of the first lattice high refractive index portion 13a.
  • the second lattice high refractive index portion 15a has a shape similar to the shape of the first lattice low refractive index portion 13b when viewed from the direction along the first direction.
  • the plurality of first top low refractive index portions 17a are arranged in a two-dimensional lattice pattern that coincides with the first lattice low refractive index portion 13b.
  • the second top low refractive index portion 17b fills the space between the plurality of first top low refractive index portions 17a, and constitutes one continuous low refractive index portion.
  • the period of the arrangement of the first top low refractive index part 17a in the top region 17 coincides with the first period P1 in the first lattice region 13.
  • the waveguide mode resonance phenomenon occurs by the same principle as that of the first embodiment, and the light in the wavelength region enhanced in the first lattice region 13 and the light in the second lattice region 15 Light in the enhanced wavelength range is extracted as reflected light.
  • the optical film thickness OT1 of the first lattice region 13 is obtained by the formula (2) shown in the first embodiment
  • the optical film thickness OT2 of the second lattice region 15 is the first embodiment. It is obtained by the formula (4) shown by.
  • the ratio of the optical film thickness OT2 of the second lattice region 15 to the optical film thickness OT1 of the first lattice region 13 is 0.5 or more and 2.0 or less, more preferably 0.625 or more and 1.6 or less.
  • the wavelength selection filter 50 good wavelength selectivity for reflected light can be obtained.
  • the formula (5) shown in the first embodiment is satisfied for the area ratio R3 of the intermediate high refractive index portion 14a. If the formula (5) is satisfied, the width of the intermediate high refractive index portion 14a is suppressed to the extent that it does not extend to the outside of the second lattice high refractive index portion 15a, so that the area ratio of the intermediate high refractive index portion 14a Does not grow too large. Therefore, the intensity of the reflected light from the lattice regions 13 and 15 becomes good.
  • the lattice elements constituting the sub-wavelength lattice are arranged in a two-dimensional lattice as in the fourth embodiment, light polarized in different directions can be resonated in each direction in which the lattice elements are arranged. .. Therefore, as compared with the form in which the lattice elements are arranged along only one direction as in the first embodiment, the reflected light is efficiently emitted with respect to the incident light containing the polarizing components in various directions. To. Therefore, the intensity of the reflected light is further increased.
  • the number of polarization directions that can be resonated in the lattice region increases as compared with the case where the lattice elements are arranged in a square lattice pattern, so that the polarization components in various directions
  • the reflected light can be emitted more efficiently with respect to the incident light including.
  • the wavelength selection filter 50 of the fourth embodiment can be manufactured by changing the arrangement of the convex portions 21a in the manufacturing method of the wavelength selection filter 10 of the first embodiment.
  • the concave-convex structure layer 21 is formed by forming a concave-convex structure in which a plurality of convex portions 21a are arranged in a two-dimensional lattice pattern.
  • the plurality of convex portions 21a are separated from each other, and the concave portions 21b located between the convex portions 21a form one continuous concave portion.
  • the degree of freedom regarding the size and arrangement of the convex portions 21a is high. Therefore, when setting the area ratio between the convex portions 21a and the concave portions 21b. It is easy to make fine adjustments.
  • each modification of the wavelength selection filter 10 of the first embodiment can be applied to the wavelength selection filter 50 of the fourth embodiment. Further, the configuration of the wavelength selection filter 50 of the fourth embodiment may be applied to a filter used in an apparatus for converting light color or color separation, as in the application example shown in the first embodiment. , May be applied to the display element included in the display body 60.
  • the wavelength selection filter 50 of the fourth embodiment may be applied to the configurations of the second embodiment and the third embodiment. That is, a wavelength selection filter having four or more lattice regions may be configured by stacking a plurality of wavelength selection filters 50 along the first direction.
  • the directions in which the lattice elements constituting the sub-wavelength lattice are arranged in other words, the extending directions of the two-dimensional lattice may be the same or different.
  • the reflected light can be emitted corresponding to more directions with respect to polarized light.
  • the period of the lattice structure may differ depending on the direction in which the two-dimensional lattice extends. According to such a configuration, it is possible to adjust the responsiveness to the wavelength range included in the reflected light and the polarized light by making the wavelength range in which resonance occurs different depending on the direction in which the two-dimensional lattice extends.
  • the concave-convex structure of the concave-convex structure layer 21 may be composed of a plurality of concave portions separated from each other and a single convex portion continuous between these concave portions. That is, the concave-convex structure of the concave-convex structure layer 21 may be formed by arranging a plurality of concave-convex elements, which are convex portions or concave portions, in a two-dimensional lattice pattern while being separated from each other.
  • the following advantages can be obtained in addition to the advantages (1) to (6) of the first embodiment.
  • the intermediate region 14 of the wavelength selection filter does not have to have the intermediate high refractive index portion 14a. That is, the intermediate region 14 may be composed of a first intermediate low refractive index portion 14b and a second intermediate low refractive index portion 14c.
  • a wavelength selection filter having no intermediate high refractive index portion 14a that is, a wavelength selection filter having no film formation of the high refractive index layer 22 on the side surface of the convex portion 21a may be manufactured. It is possible.
  • a protective layer may be provided to cover the top region 17.
  • the protective layer is made of a low refractive index material such as resin, and the recesses of the low refractive index layer 23 are filled with the protective layer. That is, the second top low refractive index portion 17b is filled with the low refractive index material.
  • a fifth embodiment will be described with reference to FIGS. 15 to 22.
  • a fifth embodiment is an embodiment of an optical device including a wavelength selection filter.
  • the same components as those in the first to fourth embodiments are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.
  • An image sensor such as an image sensor decomposes incident light into three color components of red, green, and blue, and detects the intensity of the light of each color by the light receiving element. Then, the image sensor generates color image data based on the outputs from a large number of light receiving elements arranged along the light receiving surface.
  • a color filter having a region that transmits red light, a region that transmits green light, and a region that transmits blue light is used (see, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2019-68049). ..
  • each color region of the conventional color filter is configured to transmit a relatively large amount of light in a specific wavelength range by absorption by a dye such as a pigment, and the wavelength selectivity of such a filter is improved. Has its limits. Therefore, it is desired to develop a filter capable of selecting light with high accuracy by using a principle different from that of a filter using a dye.
  • a fifth embodiment aims to provide an optical device capable of improving the accuracy of light sorting.
  • the optical device is used in a photodetector that detects light extracted from incident light.
  • the wavelength range of the incident light is not particularly limited, but for example, the incident light is light in the visible region. In the following, the wavelength of light in the visible region is 400 nm or more and 800 nm or less.
  • the optical device 100 includes a filter layer 110 and a light receiving layer 120.
  • the filter layer 110 includes a plurality of filter regions 111 that transmit light in different wavelength regions.
  • the filter region 111 has a structure that causes a waveguide mode resonance phenomenon.
  • the filter region 111 selectively reflects light in a specific wavelength region of the incident light by the waveguide mode resonance phenomenon, and transmits light in a wavelength region other than the wavelength region of the reflected light.
  • FIG. 15 shows, as an example, the configuration of the filter layer 110 when the optical device 100 is used in a photodetector which is an image sensor that outputs color image data.
  • the filter layer 110 has a red reflection filter region 111R that reflects red light, a green reflection filter region 111G that reflects green light, and a blue reflection filter region 111B that reflects blue light. ..
  • red light is light having an intensity peak in a wavelength region of 600 nm or more and 700 nm or less
  • green light is light having an intensity peak in a wavelength region of 520 nm or more and 580 nm or less
  • blue light is light having an intensity peak in a wavelength region of 520 nm or more and 580 nm or less.
  • each filter area 111R, 111G, 111B is shown one by one, but the red reflection filter area 111R, the green reflection filter area 111G, and the blue reflection filter area 111B are repeatedly arranged in a predetermined arrangement. Has been done.
  • the filter regions 111 adjacent to each other may be in contact with each other, or a region for partitioning them may be provided between the filter regions 111 adjacent to each other.
  • the light receiving layer 120 includes a plurality of light receiving elements 121.
  • the light receiving element 121 is a photoelectric conversion element, and emits an electric output according to the intensity of light incident on the light receiving element 121.
  • the light receiving element 121 is embodied as a photodiode, for example.
  • the plurality of light receiving elements 121 have the same structure as each other, that is, have the same sensitivity and characteristics as each other.
  • the light receiving element 121 may have sensitivity in the wavelength range of the incident light to be detected.
  • the plurality of light receiving elements 121 are arranged one by one for each of the filter regions 111R, 111G, and 111B, that is, one light receiving element 121 is arranged below one filter region 111.
  • the photodetector includes, for example, an element for transferring or amplifying the electric charge of the light receiving element 121, a signal processing circuit, a wiring unit, and the like.
  • an element or the like may be formed on the same substrate as the light receiving element 121, or may be formed on a substrate different from the light receiving element 121 and laminated on the light receiving layer 120.
  • a wiring portion, a film or the like may be arranged between the filter layer 110 and the light receiving layer 120 for flattening, shielding, insulation and the like.
  • the incident light Io with respect to the optical device 100 is incident toward the filter layer 110.
  • the red reflection filter region 111R the light Ir in the red wavelength region is reflected, and among the incident light Io, the light I11 in the wavelength region other than the red wavelength region passes through the red reflection filter region 111R and the red reflection filter region 111R. Enter the light receiving element 121 below the 111R.
  • the green reflection filter region 111G the light Ig in the green wavelength region is reflected, and among the incident light Io, the light I12 in the wavelength region other than the green wavelength region passes through the green reflection filter region 111G and the green reflection filter region. Enter the light receiving element 121 below the 111G.
  • the light Ib in the blue wavelength region is reflected, and among the incident light Io, the light I13 in the wavelength region other than the blue wavelength region passes through the blue reflection filter region 111B and the blue reflection filter region. Enter the light receiving element 121 below 111B.
  • the wavelength range and intensity of the incident light Io are calculated. For example, when the incident light Io is blue light, the output of the light receiving element 121 below the red reflection filter region 111R and the output of the light receiving element 121 below the green reflection filter region 111G are about the same, and the blue reflection filter. The output of the light receiving element 121 below the region 111B is the lowest.
  • the output of each light receiving element 121 can be compared. It is possible to calculate the wavelength range of the incident light Io. Thereby, it is possible to detect the wavelength region of the incident light from one unit region facing the red reflection filter region 111R, the green reflection filter region 111G, and the blue reflection filter region 111B. Based on this, for example, the unit region Color can be specified.
  • the photodetector includes an arithmetic circuit that calculates the wavelength range of incident light by performing arithmetic operations based on the output from each light receiving element 121.
  • the optical device 100 may include a microlens array 130.
  • the microlens array 130 is located above the filter layer 110.
  • the microlens array 130 includes a plurality of microlenses 131.
  • the plurality of microlenses 131 are arranged one by one for each filter area 111R, 111G, 111B, that is, one microlens 131 is located above one filter area 111.
  • the microlens 131 collects the incident light toward the filter region 111 and the light receiving element 121. Since the microlens 131 is provided, more light enters the light receiving element 121, so that the sensitivity of light detection is increased.
  • the photodetector may be an image sensor such as a CCD image sensor or a CMOS image sensor, and is not limited to such an image sensor, and may be a device for obtaining a spectral spectrum of incident light.
  • the photodetector may be any device that calculates the wavelength range and intensity of the incident light by decomposing and detecting the incident light, and the use of the calculation result is not limited.
  • the wavelength range reflected by the filter region 111 may be set according to the application of the photodetector and the wavelength range of the incident light to be detected, and the number of filter regions 111 corresponding to the unit region is not limited.
  • the filter layer 110 may include two or more filter regions 111 having different reflection characteristics, that is, a plurality of filter regions 111 that reflect light in different wavelength regions.
  • the detailed configuration of the filter area 111 will be described below.
  • a wavelength selection filter of the first to fourth embodiments and modifications thereof is applied to the filter region 111.
  • the thickness direction of the filter region 111 is the first direction.
  • Light is incident on the filter region 111 from the surface side of the filter region 111, that is, the surface side of the wavelength selection filter.
  • the materials of the base material 11, the concave-convex structure layer 21, the high-refractive index layer 22, the low-refractive index layer 23, and the embedded layer 24 are the incidents to be detected from the materials exemplified in the first to fourth embodiments.
  • a material that does not absorb light in the wavelength range is used.
  • a filter using a waveguide mode resonance phenomenon has a narrow band wavelength selection determined by the refractive index of the material and the period of the lattice structure. Has sex. Therefore, the wavelength selectivity of the filter using the waveguide mode resonance phenomenon is higher than that of the filter using the dye. That is, it is possible to prevent the transmitted light from being mixed with light in a wavelength range other than the selection target. For example, light in a wavelength range other than red is mixed with the transmitted light of a filter that transmits red through a dye.
  • a filter utilizing the waveguide mode resonance phenomenon it is preferably suppressed that the light in the red wavelength region is mixed with the transmitted light in the filter region 111R that reflects the red light.
  • the filter region 111 utilizing the waveguide mode resonance phenomenon it is possible to improve the accuracy of light selection in the optical device 100, and as a result, the precision of wavelength detection by the photodetector is improved. ..
  • a filter using plasmon resonance can be mentioned, but a filter using the waveguide mode resonance phenomenon has a higher transmittance than a filter using plasmon resonance, so that it is an optical device.
  • the sensitivity of 100 is increased.
  • the surface unevenness of the low refractive index layer 23 is located on the outermost surface of the filter region 111, the surface reflection of the filter region 111 is caused as compared with the form in which the outermost surface of the filter region 111 is flat. It can be suppressed. Therefore, by injecting light from the surface of the low refractive index layer 23, the intensity of the light entering the filter region 111 increases, and by extension, the intensity of the light entering the light receiving element 121 increases. Therefore, the accuracy of detection by the photodetector is improved.
  • the wavelength regions of the reflected light and the transmitted light of the filter region 111 are the period of the sub-wavelength lattice, the thicknesses T1 and T2 of the lattice regions 13 and 15, the uneven structure layer 21, the high refractive index layer 22, and the low refractive index layer 23. It can be adjusted by the material of each layer of. Of these, if the form is such that the wavelength ranges of the reflected light and the transmitted light in the plurality of filter regions 111 are changed by changing only the period of the sub-wavelength lattice, the period is changed when the convex portion 21a is formed.
  • the filter region 111 can be collectively formed in the same manufacturing process.
  • the filter regions 111 adjacent to each other of the filter layer 110 include one common base material 11, a concavo-convex structure layer 21 that is continuous between these regions, and a high refractive index layer 22 that is continuous between these regions. It has a low refractive index layer 23 that is continuous with each other between these regions.
  • the concavo-convex structure layer 21 in the filter region 111 that reflects light in different wavelength regions is formed by, for example, using a nanoimprint method and using a glass mold in which the concavo-convex period is changed in the portion corresponding to each filter region 111. It can be formed at the same time. Further, the high refractive index layer 22 and the low refractive index layer 23 can also form a portion corresponding to each filter region 111 at the same time. Therefore, the filter layer 110 including the plurality of filter regions 111 can be easily formed.
  • the low refractive index may be flat.
  • FIG. 18 illustrates a filter region 111 having a structure in which a low refractive index layer 23 having a flat surface is applied to the wavelength selection filter 10 of the first embodiment.
  • the filter region 111 does not have a top region 17, that is, a region corresponding to the uneven portion of the surface of the low refractive index layer 23, and the surface of the second low refractive index region 16 is the outermost surface of the filter region 111.
  • the low refractive index layer 23 can be easily formed by forming the low refractive index layer 23 from a resin material by using various coating methods.
  • the resin material for example, the same material as the material of the uneven structure layer 21 is used.
  • the low refractive index layer 23 having a flat surface is formed.
  • the thickness of the low refractive index layer 23 is preferably 100 nm or more and 20 ⁇ m or less.
  • the concave-convex structure layer 21 is formed by using the thermoplastic resin, it is different from the thermoplastic resin in order to prevent the concave-convex structure layer 21 from being heated and deformed when the low refractive index layer 23 is formed. It is preferable to form the low refractive index layer 23 using the material.
  • the uneven structure layer 21 may be formed of a thermoplastic resin, and the low refractive index layer 23 may be formed of an ultraviolet curable resin.
  • the filter region 111 When the filter region 111 does not have the top region 17, the filter region 111 is such that light is incident on the second low refractive index region 16 from the side where the base material 11 is located, that is, the second low refractive index.
  • the region 16 may be arranged so as to face the light receiving element 121.
  • the ratio of the optical film thickness (OT2 / OT1) between the first lattice region 13 and the second lattice region 15 was carried out for the form in which the low refractive index layer 23 shown in FIG. 18 has a flat surface. The simulation results will be described.
  • 19A, 19B, 19C, and 19D show reflection simulation spectra calculated using a tightly coupled wave analysis (Rigorous Coupled-Wave Analysis: RCWA). The values of each parameter described below are rounded to the fourth decimal place.
  • the incident direction of the light is the direction from the second low refractive index region 16 toward the base material 11, and the incident angle is 0 °.
  • P1 is the period of the lattice structure in the first lattice region 13 (first period)
  • P2 is the period of the lattice structure in the second lattice area 15 (second period).
  • R1 is the area ratio of the first lattice high refractive index portion 13a in the first lattice region 13 as used in the formula (1) shown in the first embodiment
  • R2 is shown in the first embodiment.
  • T1 is the thickness of the first grid region 13
  • T2 is the thickness of the second grid region 15.
  • the value of OT2 / OT1 is preferably 0.5 or more and 2.0 or less. Then, in order to obtain higher wavelength selectivity, the value of OT2 / OT1 is preferably 0.625 or more and 1.6 or less.
  • OT2 / OT1 When the value of OT2 / OT1 is 1.0, that is, when the optical film thickness OT1 and the optical film thickness OT2 match, resonance occurs in the wavelength region of light that resonates in the first lattice region 13 and in the second lattice region 15. It matches the wavelength range of light, and wavelength selectivity is particularly enhanced.
  • the optical film thickness OT1 and the optical film thickness OT2 match, which is preferable.
  • FIG. 20 illustrates a filter region 111 having a structure in which the wavelength selection filter 30 of the second embodiment is not provided with the top region 17.
  • the resonance structure portion 31 included in the filter region 111 is a structure composed of a first low refractive index region 12, a first lattice region 13, an intermediate region 14, a second lattice region 15, and a second low refractive index region 16. is there.
  • the first resonance structure portion 31A and the second resonance structure portion 31B may share a low refractive index region at their boundary portions.
  • the second low refractive index region 16 included in the first resonance structure portion 31A and the second low refractive index region 16 included in the second resonance structure portion 31B are continuous, and these There are no region boundaries.
  • a structure composed of a base material 11, an uneven structure layer 21, and a high refractive index layer 22 is opposed to each other so that the high refractive index layers 22 face each other, and the region between the two structures is low. It is formed by joining these structures by filling them with a refractive index material. The portion formed between the two structures by embedding with a low refractive index material is the low refractive index layer 23.
  • various coating methods and the like may be used as a method for forming the low refractive index layer 23, various coating methods and the like may be used.
  • the two resonance structure portions 31A and 31B may be arranged with the second low refractive index region 16 facing outward instead of being arranged so that the second low refractive index regions 16 face each other. That is, the two structures may be joined by a low refractive index material so that the base materials 11 face each other.
  • the two resonance structure portions 31A and 31B may be arranged so that the second low refractive index region 16 of each resonance structure portion 31A and 31B faces in the same direction. That is, the two structures may be joined by a low refractive index material so that the high refractive index layer 22 of one structure and the base material 11 of the other structure face each other.
  • FIG. 21 illustrates a filter region 111 having a structure in which the wavelength selection filter 40 of the third embodiment is not provided with the top region 17.
  • the resonance structure portion 31 included in the filter region 111 is composed of the first low refractive index region 12, the first lattice region 13, the intermediate region 14, the second lattice region 15, and the second low refractive index region 16. It is a structure.
  • the first resonance structure portion 31A and the second resonance structure portion 31B may share a low refractive index region at their boundary portions.
  • the two resonance structure portions 31A and 31B may be arranged so that the second low refractive index regions 16 face each other, or the second low refractive index regions 16 may be arranged so as to face outward, or each resonance.
  • the second low refractive index region 16 of the structural portions 31A and 31B may be arranged so as to face in the same direction.
  • FIG. 22 illustrates a filter region 111 having a structure in which the wavelength selection filter 50 of the fourth embodiment is not provided with the top region 17.
  • the sub-wavelength grid has a two-dimensional grid-like array.
  • the plurality of convex portions 21a may not be separated from each other.
  • the convex portions 21a may be in contact with each other in a square corner portion in a plan view.
  • the recess 21b can be divided into a plurality of portions.
  • the polarization direction of the light that resonates in the lattice regions 13 and 15 depends on the arrangement direction of the sub-wavelength lattice.
  • the sub-wavelength grid has a one-dimensional grid-like array, and all the filter regions 111 include. It is preferable that the arrangement directions of the sub-wavelength grids are aligned.
  • the filter regions 111 are provided with sub-wavelength lattices in different arrangement directions as in the third embodiment, or the fourth As in the embodiment, it is preferable that the sub-wavelength grid has a two-dimensional grid-like arrangement.
  • the advantages listed below can be obtained. (14) Since the optical device 100 includes a filter layer 110 having a filter region 111 utilizing the waveguide mode resonance phenomenon, the accuracy of light selection in the optical device 100 can be improved.
  • the filter region 111 includes a base material 11, a concave-convex structure layer 21, a high refractive index layer 22, and a low refractive index layer 23. As described above, since the filter region 111 has a laminated structure of thin films, a structure in which the sub-wavelength lattice is surrounded by a low refractive index material is preferably realized, and the filter region 111 can be easily formed.
  • the filter region 111 includes a low refractive index layer 23 having irregularities on the surface, and the surface of the low refractive index layer 23 is the outermost surface of the filter region 111. According to this, it is possible to reduce the surface reflection, and the light in the wavelength range different from the reflected light enhanced in each of the lattice regions 13 and 15 is caused by the reflection and interference inside the filter region 111. Therefore, it is possible to suppress the emission together with the reflected light.
  • the sub-wavelength lattice has a one-dimensional lattice-like arrangement
  • light polarized in a specific direction depending on the arrangement direction is reflected from the lattice regions 13 and 15. Therefore, if the arrangement directions of the sub-wavelength lattices of the filter regions 111 are aligned, it is preferably used when targeting incident light having the same polarization directions, and the filter regions 111 have different sub-wavelength grids in the arrangement directions. If it is included, it is preferably used when targeting incident light containing polarization components in various directions.
  • the sub-wavelength lattice has a two-dimensional lattice-like arrangement
  • light polarized in different directions for each arrangement direction is reflected from the lattice regions 13 and 15. Therefore, it is preferably used when targeting incident light containing polarization components in various directions.
  • the filter region 111 includes a plurality of lattice pairs composed of two layers of sub-wavelength lattices having the same period and arrangement direction, improvement of wavelength selectivity, adjustment of polarization responsiveness, reflected light, and It is possible to adjust the wavelength range of transmitted light.
  • the sub-wavelength lattice has a one-dimensional lattice-like arrangement and the plurality of lattice pairs include a plurality of lattice pairs in which the arrangement directions of the sub-wavelength lattices are different from each other, each lattice pair is polarized in a different direction.
  • the emitted light is emitted as reflected light. Therefore, it is preferably used when targeting incident light containing polarization components in various directions.
  • the filter layer 110 includes a red reflection filter region 111R, a green reflection filter region 111G, and a blue reflection filter region 111B, light detection by an image sensor or the like that targets incident light in the visible region
  • An optical device 100 suitable for the device is realized.
  • the sub-wavelength lattice has a one-dimensional lattice-like arrangement
  • light polarized in a specific direction depending on the arrangement direction is reflected from the lattice regions 13 and 15, and is incident by the light detection device. It is also possible to calculate the polarization direction of light. That is, the polarization component contained in the incident light can be obtained by comparing the outputs of the light receiving elements 121 corresponding to the filter regions 111 having different arrangement directions of the sub-wavelength lattices.
  • the filter layer 110 of the optical device 100 may include at least one of a plurality of filter regions 111 that reflect light in different wavelength regions and a plurality of filter regions 111 in which the arrangement directions of the sub-wavelength lattices are different from each other.
  • the light detection device may be a device that detects at least one of the wavelength range and the polarization direction of the incident light.
  • the means for solving the above problems include the following items as technical ideas derived from the fifth embodiment and its modifications.
  • a filter layer having a plurality of filter regions that selectively reflect light It is provided with one photoelectric conversion element arranged for each filter region, and a light receiving layer having a plurality of the photoelectric conversion elements that receive the transmitted light in the filter region.
  • the filter region has a structure in which a lattice structure having a sub-wavelength period made of a high refractive index material is surrounded by a low refractive index material.
  • the plurality of filter regions are an optical device including at least one of the plurality of filter regions that reflect light in different wavelength regions and the plurality of filter regions in which the arrangement directions of the lattice structures are different from each other.
  • the filter area is An uneven structure layer having an uneven structure on the surface, which is an uneven element that is a convex portion or a concave portion and is composed of a plurality of the uneven elements arranged in a sub-wavelength period.
  • a first lattice high-refractive index that is located on the uneven structure and has a surface shape that follows the uneven structure, and is located at the bottom of the uneven structure to form the first lattice structure.
  • the optical device according to item 1 further comprising a portion and a high refractive index layer including a second lattice high refractive index portion located at the top of the concave-convex structure to form the second lattice structure.
  • the filter area is The optical device according to item 2, further comprising a low refractive index layer located on the high refractive index layer and having a surface shape that follows the unevenness of the surface of the high refractive index layer.
  • the two-layered lattice structure having the same period and arrangement direction as each other is a lattice pair.
  • the lattice structure has a one-dimensional lattice-like array.
  • a physical entity can be a structure.
  • the structure can have a specific function.
  • the combination of structures having a specific function can exhibit a synergistic effect by the combination of each function of each structure.

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Abstract

光学デバイスは、サブ波長周期で並ぶ複数の凸部が構成する凹凸構造を表面に有する凹凸構造層と、凹凸構造上に位置して当該凹凸構造に追従した表面形状を有する高屈折率層と、高屈折率層上に位置して当該高屈折率層の表面の凹凸に追従した表面形状を有する低屈折率層とを備える。高屈折率層は、凹凸構造の底部に位置してサブ波長格子を構成する第1格子高屈折率部、および、凹凸構造の頂部に位置してサブ波長格子を構成する第2格子高屈折率部を含む。高屈折率層の屈折率は、凹凸構造層および低屈折率層の各々の屈折率よりも高い。

Description

波長選択フィルタ、表示体、光学デバイス、および、波長選択フィルタの製造方法
 本開示の実施形態は、導波モード共鳴現象を利用した波長選択フィルタ、表示体、光学デバイス、および、波長選択フィルタの製造方法に関する。
 物体の微細な構造に起因した光学現象を利用して光を選別するフィルタとして、導波モード共鳴現象を利用した波長選択フィルタが提案されている。この波長選択フィルタは、光の波長よりも小さい周期の回折格子であるサブ波長格子を有する。当該サブ波長格子に光が入射すると、入射光が進んできた空間への回折光の射出が抑えられる一方で、サブ波長格子が位置する部分と周囲との屈折率差等に起因して、特定の波長域の光が、多重反射しながら伝播することにより共鳴を起こし、反射光として強く射出される。
 例えば、特許文献1に記載のカラーフィルタは、基板上にサブ波長格子を構成する複数の凸部が配置された構造を有する。しかしながら、こうした構造において、取り出される光の強度を高めるためには、特許文献1に記載のように、基板を合成石英から形成し、かつ、凸部をシリコンから形成することにより、基板と凸部との屈折率差を大きく確保して、光の多重反射による損失を小さくすることが望ましい。そのためには、合成石英からなる基板上に単結晶のSiが形成されたSOQ(Silicon on Quartz)基板を用いる必要があるため、製造コストの増大が生じる。
 これに対し、特許文献2に記載の波長選択素子は、基板と、サブ波長格子を構成する凸部との間に、基板を構成する材料よりも屈折率の高い材料から構成された導波層を有している。こうした構造によれば、凸部と導波層とが樹脂から形成されている場合でも、多重反射する光を導波層内に伝播させることにより、反射光の強度が高められる。また、凸部と導波層とを樹脂から形成する方法として、ナノインプリント法を用いることが可能であるため、材料費を低減しつつ簡便に製造が可能であり、製造コストの削減もできる。
特許第5023324号明細書 特開2009-25558号公報
 ところで、導波モード共鳴現象を利用した波長選択フィルタの波長選択性を高めるためには、導波モード共鳴現象による反射光の強度を高めることのみならず、導波モード共鳴現象による反射光とは異なる波長域の光が当該反射光とともに射出されることを抑えることが望ましい。こうした観点においては、導波モード共鳴現象を利用した波長選択フィルタにおいて波長選択性を高めるための構造には、なお改善の余地がある。
 本開示の実施形態は、波長選択性を高めることのできる波長選択フィルタ、表示体、光学デバイス、および、波長選択フィルタの製造方法を提供することを目的とする。
 上記課題を解決する波長選択フィルタは、凸部または凹部である凹凸要素であって、サブ波長周期で並ぶ複数の前記凹凸要素が構成する凹凸構造を表面に有する凹凸構造層と、前記凹凸構造上に位置して当該凹凸構造に追従した表面形状を有する高屈折率層であって、前記凹凸構造の底部に位置してサブ波長格子を構成する第1格子高屈折率部、および、前記凹凸構造の頂部に位置してサブ波長格子を構成する第2格子高屈折率部を含む前記高屈折率層と、前記高屈折率層上に位置して当該高屈折率層の表面の凹凸に追従した表面形状を有する低屈折率層と、を備え、前記高屈折率層の屈折率は、前記凹凸構造層および前記低屈折率層の各々の屈折率よりも高い。
 上記構成によれば、厚さ方向と直交する断面に沿う領域のうち、第1格子高屈折率部を含む格子領域と、第2格子高屈折率部を含む格子領域とにおいて、導波モード共鳴現象が起こる。したがって、2つの格子領域の各々で強められた光が反射光として得られるため、1つの格子領域のみを有する波長選択フィルタと比較して、反射光として取り出される光の強度が高められる。また、高屈折率層の表面の凹凸に追従した表面形状を有する低屈折率層が設けられているため、低屈折率層の厚さおよび屈折率の調整により、各格子領域で強められた反射光とは異なる波長域の光を打ち消して、こうした光が上記反射光とともに射出されることを抑えることができる。したがって、波長選択フィルタの波長選択性が高められる。
 上記課題を解決する表示体は、表示要素を備え、前記表示要素は、上記波長選択フィルタから構成されている。
 上記構成によれば、表示要素における波長選択性が高められる。したがって、表示体に視認される色の鮮明さや明るさが高められ、その結果、表示体が示す像の視認性が高められる。
 上記課題を解決する光学デバイスは、上記波長選択フィルタからなる複数のフィルタ領域を有するフィルタ層と、各フィルタ領域に対して1つずつ配置された光電変換素子であって、前記フィルタ領域の透過光を受ける複数の前記光電変換素子を有する受光層と、を備え、前記複数のフィルタ領域は、互いに異なる波長域の光を反射する複数の前記フィルタ領域、および、前記格子構造の配列方向が互いに異なる複数の前記フィルタ領域の少なくとも一方を含む。
 上記構成によれば、互いに異なる特性を有するフィルタ領域の透過光の強度を、光電変換素子の出力に基づき比較することで、入射光の特性、すなわち、波長域や偏光方向の検出が可能である。導波モード共鳴現象を利用したフィルタは、材料の屈折率や格子構造の周期等によって定まる狭帯域の波長選択性を有し、その波長選択性は、分子間の相互作用によって幅広い吸収帯を有する色素を利用したフィルタよりも高い。したがって、上記フィルタ領域を有するフィルタ層の利用により、光学デバイスにおける光の選別の精度を高めることが可能である。
 上記課題を解決する波長選択フィルタの製造方法は、サブ波長周期で並ぶ複数の凸部または凹部である凹凸要素を表面に有する凹凸構造層を、第1低屈折率材料を用いて形成することと、前記第1低屈折率材料よりも高い屈折率を有する高屈折率材料を用いて、前記凹凸構造層の表面に沿って、当該凹凸構造層が有する凹凸構造の底部に位置してサブ波長格子を構成する第1格子高屈折率部と、前記凹凸構造の頂部に位置してサブ波長格子を構成する第2格子高屈折率部とを含む高屈折率層を形成することと、前記高屈折率材料よりも低い屈折率を有する第2低屈折率材料を用いて、前記高屈折率層の表面に沿って、当該高屈折率層の表面の凹凸に追従した表面形状を有する低屈折率層を形成することと、を含む。
 上記製法によれば、格子領域に接する層を導波層として利用する形態と比較して、格子領域に接する層の精密な膜厚の制御を要さずに、波長選択性の高い波長選択フィルタを製造することができる。したがって、こうした波長選択フィルタを容易に製造することができる。
 本開示の実施形態によれば、波長選択フィルタにおいて、波長選択性を高めることができる。
第1実施形態の波長選択フィルタの構造を説明する図であって、(a)は、波長選択フィルタの断面構造を説明し、(b)は、第1格子領域の断面構造を説明し、(c)は、中間領域の断面構造を説明し、(d)は、第2格子領域の断面構造を説明する。 第1実施形態の波長選択フィルタの製造方法について、凹凸構造層の形成工程を説明する図。 第1実施形態の波長選択フィルタの製造方法について、高屈折率層の形成工程を説明する図。 第1実施形態の波長選択フィルタの製造方法について、低屈折率層の形成工程を説明する図。 第1実施形態の波長選択フィルタにおける変形例の断面構造を説明する図。 第1実施形態の波長選択フィルタにおける変形例の断面構造を説明する図。 第1実施形態の波長選択フィルタの適用例である表示体の平面構造を説明する図。 第1実施形態の波長選択フィルタの適用例である表示体の作用を説明する図。 第2実施形態の波長選択フィルタの断面構造の一実例を説明する図。 第2実施形態の波長選択フィルタの断面構造の一実例を説明する図。 第2実施形態の波長選択フィルタの製造方法について、凹凸構造体が向かい合わされた状態を説明する図。 第2実施形態の波長選択フィルタの製造方法について、埋込層の形成工程を説明する図。 第3実施形態の波長選択フィルタの斜視構造を説明する図。 第4実施形態の波長選択フィルタの構造を説明する図であって、(a)は、波長選択フィルタの断面構造を説明し、(b)は、第1格子領域の断面構造を説明し、(c)は、中間領域の断面構造を説明し、(d)は、第2格子領域の断面構造を説明する。 第5実施形態の光学デバイスの断面構造を説明する図。 第5実施形態の光学デバイスの作用を説明する図。 第5実施形態の光学デバイスの断面構造の他の実例を説明する図。 第5実施形態のフィルタ領域の構造の一実例を説明する図であって、(a)は、フィルタ領域の断面構造を説明し、(b)は、第1格子領域の断面構造を説明し、(c)は、中間領域の断面構造を説明し、(d)は、第2格子領域の断面構造を説明する。 図19A,図19B,図19C,図19Dは、フィルタ領域の波長選択性についてのシミュレーション結果であって、厳密結合波解析を用いた反射シミュレーションスペクトルを示す。 第5実施形態のフィルタ領域における断面構造の一実例を説明する図。 第5実施形態のフィルタ領域における斜視構造の一実例を説明する図。 第5実施形態のフィルタ領域の構造の一実例を説明する図であって、(a)は、フィルタ領域の断面構造を説明し、(b)は、第1格子領域の断面構造を説明し、(c)は、中間領域の断面構造を説明し、(d)は、第2格子領域の断面構造を説明する。
 本開示の実施形態は、背景からの独自の単一の発明を元とする一群の実施形態である。また、本開示の各側面は、単一の発明を元とした一群の実施形態の側面である。本開示の各構成は、本開示の各側面を有しうる。本開示の各特徴(feature)は組合せ可能であり、各構成をなせる。したがって、本開示の各特徴(feature)、本開示の各構成、本開示の各側面、本開示の各実施形態は、組合せることが可能であり、その組合せは相乗的機能を有し、相乗的な効果を発揮しうる。
 (第1実施形態)
 図1~図8を参照して、波長選択フィルタ、表示体、および、波長選択フィルタの製造方法の第1実施形態を説明する。波長選択フィルタは、波長選択フィルタに入射した光のなかから特定の波長域の光を取り出す機能を有する。波長選択フィルタは、入射した光の反射、透過、吸収、散乱、回折、のいずれか、または、その組み合わせにより光を取り出す機能を有することができる。波長選択フィルタの選択対象の波長域は、可視領域の光とできる。可視領域の光は、人間の肉眼で視認可能な光とできる。以下において、可視領域の光の波長は、400nm以上800nm以下である。
 [波長選択フィルタの全体構成]
 図1中の(a)が示すように、波長選択フィルタ10は、基材11、第1低屈折率領域12、第1格子領域13、中間領域14、第2格子領域15、第2低屈折率領域16、および、頂部領域17を備えている。これらの各領域は、層状に広がっており、基材11に近い位置から、第1低屈折率領域12、第1格子領域13、中間領域14、第2格子領域15、第2低屈折率領域16、および、頂部領域17がこの順に並んでいる。各領域の並ぶ方向が第1方向である。すなわち、第1方向は、各領域および波長選択フィルタ10の厚さ方向である。また、基材11に対して頂部領域17の位置する側が波長選択フィルタ10の表面側であり、頂部領域17に対して基材11の位置する側が、波長選択フィルタ10の裏面側である。図1中の(b)は、第1格子領域13における第1方向と直交する断面を説明し、図1中の(c)は、中間領域14における第1方向と直交する断面を説明し、図1中の(d)は、第2格子領域15における第1方向と直交する断面を説明する。
 基材11の形態は、板状、シート状、または、フィルム状とでき、基材11が有する面のうち、波長選択フィルタ10の表面側に位置する面が基材11の表面である。波長選択フィルタ10の選択対象が可視領域の光である場合には、基材11は、ガラス板や透明なポリマーフィルムとできる。ガラス板の実例は、合成石英基板である。透明なポリマーフィルムのベースフィルムは、ポリエチレンテレフタラート、ポリエチレンナフタレート、ポリプロピレン、ポリエチレン、ポリカーボネートとできる。
 第1低屈折率領域12は、基材11の表面に接し、基材11の表面に沿って一様に広がっている。第1格子領域13は、第1格子高屈折率部13aと第1格子低屈折率部13bとを有する。基材11の表面と対向する位置から見て、すなわち、第1方向に沿った方向から見て、第1格子高屈折率部13aと第1格子低屈折率部13bとは、共通の方向である第2方向に沿って帯状に延び、第2方向と直交する第3方向に沿って交互に並んでいる。第2方向と第3方向との各々は、第1方向に直交する。
 中間領域14は、中間高屈折率部14aと第1中間低屈折率部14bと第2中間低屈折率部14cとを有する。これらの各部は、第1方向に沿った方向から見て、第2方向に沿って延び、第1中間低屈折率部14bと第2中間低屈折率部14cとは、その間に中間高屈折率部14aを挟みつつ、第3方向に沿って交互に並んでいる。すなわち、第3方向に沿って、第1中間低屈折率部14b、中間高屈折率部14a、第2中間低屈折率部14c、中間高屈折率部14aが、この順に繰り返し並んでいる。第1中間低屈折率部14bは、第1格子低屈折率部13b上に位置する。中間高屈折率部14aは、第1格子高屈折率部13aの幅方向における端部上に位置し、第2中間低屈折率部14cは、第1格子高屈折率部13aの幅方向における中央部上に位置する。
 第2格子領域15は、第2格子高屈折率部15aと第2格子低屈折率部15bとを有する。第1方向に沿った方向から見て、第2格子高屈折率部15aと第2格子低屈折率部15bとは、第2方向に沿って帯状に延び、第3方向に沿って交互に並んでいる。すなわち、2つの格子領域13,15において、高屈折率部および低屈折率部の配列方向は一致している。第2格子高屈折率部15aは、第1中間低屈折率部14b上および中間高屈折率部14a上に位置し、第2格子低屈折率部15bは、第2中間低屈折率部14c上に位置する。
 第2低屈折率領域16は、第2格子領域15に対して中間領域14とは反対側で第2格子領域15に沿って一様に広がっている。頂部領域17は、第1頂部低屈折率部17aと第2頂部低屈折率部17bとを有する。第1方向に沿った方向から見て、第1頂部低屈折率部17aと第2頂部低屈折率部17bとは、第2方向に沿って帯状に延び、第3方向に沿って交互に並んでいる。第1頂部低屈折率部17aは、第2低屈折率領域16を挟んで第2格子高屈折率部15a上に位置し、第2頂部低屈折率部17bは、第2低屈折率領域16を挟んで第2格子低屈折率部15b上に位置する。
 波長選択フィルタ10を構成する上記の各領域において、第1方向に沿って互いに隣接する領域は、その一部において互いに連続している。具体的には、第1低屈折率領域12と第1格子低屈折率部13bとは互いに連続し、さらに、第1格子低屈折率部13bと第1中間低屈折率部14bとは互いに連続しており、これらは互いに同一の材料とできる。また、第1格子高屈折率部13aと中間高屈折率部14aとは互いに連続し、さらに、中間高屈折率部14aと第2格子高屈折率部15aとは互いに連続しており、これらは互いに同一の材料とできる。また、第2中間低屈折率部14cと第2格子低屈折率部15bとは互いに連続し、第2格子低屈折率部15bと第2低屈折率領域16とは互いに連続し、さらに、第2低屈折率領域16と第1頂部低屈折率部17aとは互いに連続しており、これらは互いに同一の材料とできる。また、第2頂部低屈折率部17bは空気で充填されている。
 すなわち、波長選択フィルタ10は、基材11と、基材11上に位置し、複数の凸部21aが構成する凹凸構造を表面に有する凹凸構造層21と、凹凸構造層21の表面に沿って配置された高屈折率層22と、高屈折率層22の表面に沿って配置された低屈折率層23とを備える構造体であるとも捉えられる。複数の凸部21aは、第2方向に沿って延び、第3方向に沿って並ぶ。高屈折率層22は、凹凸構造層21の凹凸に追従した表面形状を有し、低屈折率層23は、高屈折率層22の凹凸に追従した表面形状を有する。
 凹凸構造層21は、第1低屈折率領域12と第1格子低屈折率部13bと第1中間低屈折率部14bとから構成され、凸部21aは、第1格子低屈折率部13bと第1中間低屈折率部14bとから構成される。
 高屈折率層22は、第1格子高屈折率部13aと中間高屈折率部14aと第2格子高屈折率部15aとから構成される。第1格子高屈折率部13aは、複数の凸部21aの間、すなわち、凹凸構造層21が有する凹凸構造の底部に位置する。中間高屈折率部14aは、凸部21aの側面に接し、第1方向に沿った方向から見て互いに隣り合う第1格子高屈折率部13aと第2格子高屈折率部15aとの端部間を繋ぐように、中間領域14の厚さ方向に延びている。第2格子高屈折率部15aは、凸部21aの頂面を覆い、すなわち、凹凸構造層21が有する凹凸構造の頂部に位置する。
 低屈折率層23は、第2中間低屈折率部14cと第2格子低屈折率部15bと第2低屈折率領域16と第1頂部低屈折率部17aとから構成される。低屈折率層23は、第2低屈折率領域16から基材11に向けて第2中間低屈折率部14cおよび第2格子低屈折率部15bが突出し、第2低屈折率領域16から基材11とは反対側に向けて第1頂部低屈折率部17aが突出した形状を有する。低屈折率層23の表面は凹凸を有し、その凹部に第2頂部低屈折率部17bが対応する。
 高屈折率層22の屈折率は、空気の屈折率よりも大きく、かつ、凹凸構造層21および低屈折率層23の各々の屈折率よりも大きい。すなわち、第1格子高屈折率部13a、中間高屈折率部14a、第2格子高屈折率部15aの各々の屈折率は、第1低屈折率領域12、第1格子低屈折率部13b、第1中間低屈折率部14b、第2中間低屈折率部14c、第2格子低屈折率部15b、第2低屈折率領域16、第1頂部低屈折率部17a、第2頂部低屈折率部17bの各々の屈折率よりも大きい。
 凹凸構造層21および低屈折率層23の屈折率は、空気の屈折率よりも大きい。導波モード共鳴現象を好適に生じさせるためには、凹凸構造層21および低屈折率層23の各々と高屈折率層22との屈折率差が大きいことが好ましく、凹凸構造層21と低屈折率層23との屈折率差よりも、これらの各層と高屈折率層22との屈折率差の方が大きいことが好ましい。また、空気層と隣接する低屈折率層23の屈折率は、凹凸構造層21の屈折率以下であることが好ましい。
 さらに、凹凸構造層21の屈折率は、低屈折率層23の屈折率とは異なることが好ましい。これにより、波長選択フィルタ10に光学的な非対称性が生じるため、表面側と裏面側との一方により多くの光を射出できる。凹凸構造層21と低屈折率層23との屈折率差は、0.01以上0.3以下とできる。屈折率差が0.01以上であれば、光学的な非対称性が十分に生じる。屈折率差が0.3以下であれば、光学的な非対称性が大きくなりすぎないため、格子領域13,15での光の共鳴に乱れが生じることが抑えられる。
 波長選択フィルタ10の選択対象が可視領域の光である場合、凹凸構造層21、高屈折率層22、および、低屈折率層23の各々の材料は、可視領域に吸収波長を有さない物質、すなわち、可視領域の光に対して透明な物質とできる。具体的には、凹凸構造層21の低屈折率材料(第1低屈折率材料)は、ポリマーとできる。ポリマーは、紫外線硬化性樹脂、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂等とできる。これらの樹脂の実例は、アクリル樹脂、ウレタン樹脂、ウレタンアクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポレオレフィン樹脂、ポリエステル樹脂である。
 凹凸構造層21は、ナノサイズの径を有するフィラーを含有していてもよい。フィラーは、無機フィラーとできる。無機フィラーは、シリカフィラー、金属のフィラー、金属化合物のフィラーとできる。金属のフィラーの実例は、ジルコニウムのフィラーである。金属化合物のフィラーの実例は、酸化アルミニウムのフィラー、酸化チタンのフィラーである。凹凸構造層21は、これらのフィラーの1種類を単独で、または複数種類を混合して、含有することができる。フィラーの種類とその含有量の選択によって、例えば、凹凸構造層21の屈折率を調整することが可能である。これにより、凹凸構造層21と高屈折率層22との屈折率差や、凹凸構造層21と低屈折率層23との屈折率差を調整することができる。なお、含有させるフィラーの屈折率を下げたい場合には、ポーラス構造を有するフィラーや、中空の粒子であるフィラーを用いることができる。
 低屈折率層23の低屈折率材料(第2低屈折率材料)は、無機化合物とできる。無機化合物は、酸化物とできる。酸化物の実例は、酸化ケイ素である。また、無機化合物は、窒化物、フッ化物としてもよい。窒化物の実例は、窒化カルシウムである。フッ化物の実例は、フッ化マグネシウムである。
 高屈折率層22の高屈折率材料は、無機化合物とできる。無機化合物が金属化合物であると、高い屈折率を得やすいため好ましい。金属化合物の実例は、酸化チタン、酸化ニオブ、酸化タンタル、酸化ジルコニウム、硫化亜鉛、酸化インジウムスズ、窒化アルミニウムである。
 [波長選択フィルタの作用]
 第1格子領域13における格子構造(第1の格子構造)の周期、すなわち、第1格子高屈折率部13aの配列の周期が、第1周期P1であり、第1周期P1は、可視領域の光の波長よりも小さい。同様に、第2格子領域15における格子構造(第2の格子構造)の周期、すなわち、第2格子高屈折率部15aの配列の周期が、第2周期P2であり、第2周期P2は、可視領域の光の波長よりも小さい。すなわち、第1周期P1および第2周期P2はサブ波長周期であり、第1格子領域13および第2格子領域15の各々はサブ波長格子を含む。
 波長選択フィルタ10において、領域ごとの平均屈折率は、実用上、各領域における高屈折率部と低屈折率部との体積比率に応じて、高屈折率部の屈折率と低屈折率部の屈折率とを均した値とできる。第1格子領域13における第1格子高屈折率部13aの割合、および、第2格子領域15における第2格子高屈折率部15aの割合の各々よりも、中間領域14における中間高屈折率部14aの割合は小さい。したがって、中間領域14の平均屈折率は、第1格子領域13の平均屈折率、および、第2格子領域15の平均屈折率の各々よりも小さい。すなわち、波長選択フィルタ10は、第1格子領域13および第2格子領域15の各々に位置するサブ波長格子が、低屈折率の領域に埋め込まれた構造を有している。
 上記波長選択フィルタ10の表面側から波長選択フィルタ10に光が入射すると、第2格子領域15のサブ波長格子が低屈折率の領域に埋め込まれていることから、第2格子領域15では、表面側への回折光の射出が抑えられ、導波モード共鳴現象が発生する。すなわち、特定の波長域の光が第2格子領域15を多重反射しつつ伝播して共鳴を起こし、この特定の波長域の光が、波長選択フィルタ10の表面側に反射光として射出される。
 第2格子領域15を透過し、さらに中間領域14を透過した光は、第1格子領域13に入る。第1格子領域13に光が入射すると、第1格子領域13のサブ波長格子が低屈折率の領域に埋め込まれていることから、第1格子領域13でも、導波モード共鳴現象が発生する。すなわち、特定の波長域の光が第1格子領域13を多重反射しつつ伝播して共鳴を起こし、この特定の波長域の光が、波長選択フィルタ10の表面側に反射光として射出される。
 第1格子領域13を透過した光は、第1低屈折率領域12および基材11を透過して、波長選択フィルタ10の裏面側に出る。
 結果として、波長選択フィルタ10の表面側には、第2格子領域15で強められた波長域の光と、第1格子領域13で強められた波長域の光とが射出される。そして、波長選択フィルタ10を構成する各領域を透過した光が、透過光として波長選択フィルタ10の裏面側に射出される。以上のように、波長選択フィルタ10によれば、反射光として、各格子領域13,15で強められた波長域の光を取り出すことができる。したがって、格子領域が1つである形態と比較して、取り出される反射光の強度が高められる。また、透過光として、各格子領域13,15で強められた波長域とは異なる波長域の光を取り出すことができる。
 ここで、波長選択フィルタ10の表面側には、各格子領域13,15で強められた波長域の光に加えて、波長選択フィルタ10を構成する各領域での反射や干渉に起因した光が射出され得る。そして、こうした光には、各格子領域13,15で強められた波長域とは異なる波長域の光(非対象光)が含まれる。波長選択フィルタ10の表面側に射出される非対象光の強度が大きいと、波長選択フィルタ10の表面側に取り出される光の波長選択性が低くなり、その結果、表面側に射出される光の色の鮮やかさが低くなる。
 これに対し、本実施形態の波長選択フィルタ10における頂部領域17は、各格子領域13,15で強められた波長域とは異なる波長域の光が、波長選択フィルタ10の表面側に射出されることを抑える機能を有する。言い換えれば、頂部領域17は、非対象光を打ち消すように構成されている。具体的には、頂部領域17は、非対象光を干渉によって弱めることや、非対象光を裏面側に反射することによって、表面側に射出される非対象光の強度を低くする。頂部領域17によって打ち消される光の波長域は、頂部領域17の厚さおよび平均屈折率によって調整可能であり、言い換えれば、低屈折率層23の厚さおよび材料によって調整できる。すなわち、各格子領域13,15で強められた波長域以外の光が頂部領域17から表面側に射出されることを抑えられるように、低屈折率層23の厚さおよび材料が選択される。
 また、波長選択フィルタ10の最表面である低屈折率層23の表面が凹凸を有しているため、波長選択フィルタ10の最表面が平坦である形態と比較して、波長選択フィルタ10の表面反射を抑えることができる。これによっても、波長選択フィルタ10の表面側に、各格子領域13,15で強められた波長域の光とは異なる波長域の光が射出されることが抑えられるため、波長選択フィルタ10の表面側に取り出される光の波長選択性が高められる。
 サブ波長格子が、1つの方向に帯状に延びる格子高屈折率部13a,15aから構成されている場合、各格子領域13,15では、サブ波長格子の配列方向に依存する特定の方向へ偏光した光が、多重反射して共鳴を起こし、反射光として射出される。したがって、第1実施形態の波長選択フィルタ10によれば、特定の方向へ偏光した反射光として、波長選択性が高められた反射光を取り出すことができる。
 [波長選択フィルタの詳細構成]
 上述の波長選択フィルタ10において、第1格子領域13で共鳴を起こす光の波長域と、第2格子領域15で共鳴を起こす光の波長域とは、取り出したい光の波長域に応じて設定されればよい。例えば、より狭域で高い強度の反射光を得たい場合、すなわち、反射光の波長選択性をより高めたい場合には、第1格子領域13で共鳴を起こす光の波長域と、第2格子領域15で共鳴を起こす光の波長域とが近いほど好ましい。
 例えば、第2格子領域15で特定の波長域の光が共鳴を起こしたとき、第2格子領域15と中間領域14との屈折率の差が小さい場合等には、上記特定の波長域の光の一部が、第2格子領域15内での反射ごとに、中間領域14に漏れ出る。こうした場合にも、第1格子領域13と第2格子領域15とで共鳴を起こす光の波長域が一致していれば、中間領域14に漏れ出た上記特定の波長域の光が第1格子領域13に入って共鳴を起こし、反射光として射出される。したがって、波長選択フィルタ10から射出される反射光の波長選択性が高められる。
 第1格子領域13と第2格子領域15とで共鳴を起こす光の波長域を一致させるためには、第1格子領域13と第2格子領域15とで、平均屈折率と膜厚とを乗じた値として表されるパラメータである光学膜厚を一致させればよい。つまり、第1格子領域13と第2格子領域15との光学膜厚が近いほど、第1格子領域13と第2格子領域15との各々で共鳴を起こす光の波長域が互いに近くなり、波長選択性が高められる。本願の発明者は、シミュレーションによって、反射光についての良好な波長選択性を得られる第1格子領域13と第2格子領域15との光学膜厚の比の範囲を見出した。以下、この内容について詳細に説明する。
 第1格子領域13の全体に対する第1格子高屈折率部13aの体積比率は、第1方向に沿った方向から見た平面視での第1格子領域13の全体に対する第1格子高屈折率部13aの面積比率に等しい。当該面積比率は、言い換えれば、第1格子高屈折率部13aを含みその厚さ方向と直交する断面にて第1格子高屈折率部13aが占める面積比率である。断面の位置によって第1格子高屈折率部13aの面積が変化する場合には、第1格子高屈折率部13aの面積が最大となる断面での第1格子高屈折率部13aの面積比率が採用される。
 第1格子高屈折率部13aの上記面積比率をR1とするとき、上記断面における第1格子低屈折率部13bの面積比率は1-R1で表される。
 高屈折率層22の屈折率をn1、凹凸構造層21の屈折率をn2とするとき(n1>n2)、第1格子領域13の平均屈折率NA1は、下記式(1)によって表される。
 NA1=n1×R1+n2×(1-R1) ・・・(1)
 そして、第1格子領域13の光学膜厚OT1(第1パラメータ)は、第1格子領域13の平均屈折率NA1および厚さT1を用いて、下記式(2)によって表される。
 OT1=T1×NA1
    =T1×{n1×R1+n2×(1-R1)} ・・・(2)
 第2格子領域15において、格子構造の周期である第2周期P2は、第1格子領域13における第1周期P1と一致している。
 ただし、第1方向に沿った方向から見て、第2格子領域15における第2格子高屈折率部15aの幅は、第1格子領域13における第1格子低屈折率部13bの幅よりも大きい。そして、第2格子低屈折率部15bの幅は、第1格子高屈折率部13aの幅よりも小さい。
 第2格子領域15の全体に対する第2格子高屈折率部15aの体積比率は、第1方向に沿った方向から見た平面視での第2格子領域15の全体に対する第2格子高屈折率部15aの面積比率に等しい。当該面積比率は、言い換えれば、第2格子高屈折率部15aを含みその厚さ方向と直交する断面にて第2格子高屈折率部15aが占める面積比率である。断面の位置によって第2格子高屈折率部15aの面積が変化する場合には、第2格子高屈折率部15aの面積が最大となる断面での第2格子高屈折率部15aの面積比率が採用される。
 第2格子高屈折率部15aの上記面積比率をR2とするとき、上記断面における第2格子低屈折率部15bの面積比率は1-R2で表される。
 高屈折率層22の屈折率をn1、低屈折率層23の屈折率をn3とするとき(n1>n3)、第2格子領域15の平均屈折率NA2は、下記式(3)によって表される。
 NA2=n1×R2+n3×(1-R2) ・・・(3)
 そして、第2格子領域15の光学膜厚OT2(第2パラメータ)は、第2格子領域15の平均屈折率NA2および厚さT2を用いて、下記式(4)によって表される。
 OT2=T2×NA2
    =T2×{n1×R2+n3×(1-R2)} ・・・(4)
 第1格子領域13の光学膜厚OT1に対する第2格子領域15の光学膜厚OT2の比(OT2/OT1)が1に近いほど、第1格子領域13と第2格子領域15とのそれぞれにおいて共鳴を起こす光の波長域が近くなる。一方で、上記比が1から離れるにつれ、第1格子領域13と第2格子領域15とで共鳴を起こす光の波長域が異なるようになる。第1格子領域13と第2格子領域15とで意図的に共鳴する光の波長域を変える場合は、上記比は例えば2.0より大きい、あるいは0.5より小さくてもよい。また、OT2/OT1の値が0.5以上2.0以下の範囲であると、波長選択フィルタ10の安定した生産が可能であり、波長選択フィルタ10を工業製品として実用化しやすい。
 しかしながら、第1格子領域13と第2格子領域15とで共鳴する光の波長域が異なっていると、第1格子領域13および第2格子領域15の一方において所望の波長域の光を共鳴させた場合に、他方において共鳴する波長域の光の影響により、波長選択フィルタ10の波長選択性が低下しやすい。すなわち、選択される波長域が広くなったり、選択される波長域にノイズが発生したりする。
 本願の発明者は、高い波長選択性を得るためには、第1格子領域13の光学膜厚OT1に対する第2格子領域15の光学膜厚OT2の比(OT2/OT1)の制御が重要であるという着想を得た。そして、本願の発明者は、良好な波長選択性が得られるとともに、安定した生産が可能であること等の工業製品としての適性が良好となる上記比の範囲を見出した。すなわち、工業製品としての適性を高める観点では、OT2/OT1の値は0.5以上2.0以下であることが好ましく、より高い波長選択性を得るためには、OT2/OT1の値は0.625以上1.6以下であることが好ましいことが確認された。
 OT2/OT1の値が1.0、すなわち、光学膜厚OT1と光学膜厚OT2とが一致すると、第1格子領域13で共鳴を起こす光の波長域と、第2格子領域15で共鳴を起こす光の波長域とが一致し、波長選択性が特に高められる。したがって、光学膜厚OT1と光学膜厚OT2とが一致するように、各層の材料が選択されるとともに、厚さT1,T2、および、凹凸構造層21における凸部21aの幅が設定されていることが好ましい。凹凸構造層21の材料と低屈折率層23の材料との屈折率差が小さいほど、光学膜厚OT1に対する光学膜厚OT2の比を1.0に近づけることが容易である。
 例えば、第1格子高屈折率部13aの面積比率R1と第2格子高屈折率部15aの面積比率R2とを近づけるために、第1格子領域13にて第1格子低屈折率部13bの面積比率が第1格子高屈折率部13aの面積比率よりも小さくなり、第2格子領域15にて第2格子高屈折率部15aの面積比率が第2格子低屈折率部15bの面積比率よりも大きくなるように、凸部21aの幅を設定してもよい。この場合、第1格子高屈折率部13aの面積比率R1と第2格子高屈折率部15aの面積比率R2との各々は、0.5よりも大きく、R1+R2は1よりも大きくなる。
 面積比率R1,R2が0.5よりも大きいことにより、面積比率R1,R2が0.5以下である形態と比較して、各格子領域13,15の平均屈折率が高くなるため、各格子領域13,15の平均屈折率と、当該格子領域13,15に隣接する各領域12,14,16の平均屈折率との差が大きくなる。その結果、各格子領域13,15にて生じる多重反射での損失が小さくなるため、格子領域13,15から射出される反射光の強度が高められる。
 中間領域14における第1中間低屈折率部14bの配列の周期である第3周期P3は、第1格子領域13における第1周期P1と一致している。第1方向に沿った方向から見て、第1中間低屈折率部14bの幅は、第1格子低屈折率部13bの幅と一致する。
 第1方向に沿った方向から見た平面視での中間領域14の全体に対する中間高屈折率部14aの面積比率は、第2格子高屈折率部15aの上記面積比率と第1格子低屈折率部13bの上記面積比率との差以下であることが好ましい。すなわち、上記中間高屈折率部14aの面積比率をR3とするとき、R3は、下記式(5)を満たすことが好ましい。なお、当該面積比率は、言い換えれば、中間高屈折率部14aを含みその厚さ方向と直交する断面にて中間高屈折率部14aが占める面積比率である。断面の位置によって中間高屈折率部14aの面積が変化する場合には、中間高屈折率部14aの面積が最大となる断面での中間高屈折率部14aの面積比率が採用される。
 R3≦R2-(1-R1)=R1+R2-1 ・・・(5)
 第1方向に沿った方向から見て、第2格子高屈折率部15aが位置する領域が、第1中間低屈折率部14bおよび中間高屈折率部14aが位置する領域と一致するとき、中間高屈折率部14aの上記面積比率R3は、右辺と一致し、R1+R2-1となる。そして、第1方向に沿った方向から見て、第2格子高屈折率部15aが位置する領域が、第1中間低屈折率部14bおよび中間高屈折率部14aが位置する領域よりも大きいとき、言い換えれば、中間高屈折率部14aが第2格子高屈折率部15aの外縁よりも内側の領域に位置するとき、上記面積比率R3は、R1+R2-1よりも小さくなる。
 上述のように、導波モード共鳴現象によって各格子領域13,15から射出される反射光の強度を高めるためには、各格子領域13,15の平均屈折率と、当該格子領域13,15を挟む各領域12,14,16の平均屈折率との差が大きいことが望ましい。したがって、中間領域14の平均屈折率は小さいほど好ましく、すなわち、中間高屈折率部14aの面積比率が小さいほど好ましい。上記式(5)が満たされている構成であれば、中間高屈折率部14aの幅が、第2格子高屈折率部15aよりも外側まで広がらない程度に抑えられるため、中間高屈折率部14aの面積比率が大きくなりすぎない。したがって、各格子領域13,15からの反射光の強度が良好になる。
 上記反射光の強度を高めるためには、第1格子領域13の平均屈折率と、第1低屈折率領域12および中間領域14の各々の平均屈折率との差は、いずれも0.1よりも大きいことが好ましい。同様に、第2格子領域15の平均屈折率と、中間領域14および第2低屈折率領域16の各々の平均屈折率との差は、いずれも0.1よりも大きいことが好ましい。
 なお、上記式(5)が満たされる範囲内で中間領域14が中間高屈折率部14aを有することにより、中間高屈折率部14aの面積比率の調整によって、中間領域14の平均屈折率の微調整が可能である。したがって、例えば、中間領域14における干渉等の作用によって、反射光や透過光として取り出したい波長域とは異なる波長域の光が打ち消されるように、中間領域14を構成することも可能である。
 また、頂部領域17における第1頂部低屈折率部17aの配列の周期も、第1格子領域13における第1周期P1と一致する。
 [波長選択フィルタの製造方法]
 図2~図4を参照して、波長選択フィルタ10の製造方法について説明する。
 図2が示すように、まず、低屈折率材料(第1低屈折率材料)を用いて基材11の表面に層を形成し、この層の表面に凹凸構造を形成することによって、凹凸構造層21を形成できる。凹凸構造層21は、基材11に沿って広がる平坦部21cと、平坦部21cから突き出た複数の凸部21aとを有するとともに、凸部21a間に位置する部分である複数の凹部21bを有する。凸部21aおよび凹部21bは、第2方向に沿って帯状に延びる。
 凹凸構造は、公知の微細加工法により形成できる。微細加工法は、ナノインプリント法やドライエッチング法とできる。なかでも、ナノインプリント法は、微細な凸部21aおよび凹部21bを簡便に形成できるため好ましい。
 低屈折率材料を紫外線硬化性樹脂とし、凹凸構造層21を形成することができる(光ナノインプリント法)。この場合、まず、基材11の表面に、紫外線硬化性樹脂を塗工する。次いで、この紫外線硬化性樹脂からなる塗工層の表面に、形成対象の凸部21aおよび凹部21bからなる凹凸の反転された凹凸を有する凹版であるガラスモールドを押し当て、塗工層および凹版に紫外線を照射する。続いて、硬化した紫外線硬化性樹脂を凹版から離型する。これによって、凹版の有する凹凸が紫外線硬化性樹脂に転写されて凸部21aおよび凹部21bが形成されるとともに、凸部21aおよび凹部21bと基材11との間には、紫外線硬化性樹脂からなる残膜として、平坦部21cが形成される。
 なお、紫外線硬化性樹脂を用いた光ナノインプリント法は凹凸構造の形状の形成精度(サブ波長格子の周期の寸法精度、凹版からの転写精度)に優れているため、本開示の凹凸構造層21の形成手法として好適である。ただし、場合によっては(in some cases)、凹凸構造の形成手法として、熱硬化や熱可塑でのナノインプリント法が適している。
 次に、図3が示すように、凹凸構造層21の表面に、高屈折率材料からなる高屈折率層22を形成する。高屈折率層22は、公知の成膜技術で形成できる。公知の成膜技術の実例は、物理気相成長法である。物理気相成長法は、真空蒸着法やスパッタリング法とできる。高屈折率層22の厚さは、凸部21aの高さよりも小さく、所望の厚さT1および厚さT2に応じて設定される。高屈折率層22の厚さは、10nm以上500nm以下とできる。
 物理気相成長法で高屈折率層22を形成する場合、凹凸構造層21の凸部21a上には、凸部21aよりも広がって層が形成される。すなわち、第2格子高屈折率部15aの幅が、凸部21aである第1格子低屈折率部13bおよび第1中間低屈折率部14bの幅よりも大きく形成される。したがって、物理気相成長法が採用される場合に、凹凸構造層21の表面における凸部21aと凹部21bとの面積比率を1対1に設定したとしても、第1格子高屈折率部13aの面積比率と第2格子高屈折率部15aの面積比率との間にはずれが生じてしまう。
 また、成膜中に第2格子高屈折率部15aの幅が拡大していくと、凹部21b上に蒸着材料の粒子が付着し難くなるため、第1格子高屈折率部13aの厚さT1と第2格子高屈折率部15aの厚さT2との間にずれが生じる場合がある。
 波長選択フィルタ10の波長選択性を高めるためには、こうした第2格子高屈折率部15aの幅の拡大に起因した面積比率や厚さのずれを補填しつつ、上記光学膜厚OT1に対する光学膜厚OT2の比が、0.5以上2.0以下、より好ましくは0.625以上1.6以下となるように、凸部21aの幅、すなわち、凸部21aと凹部21bとの面積比率を設定することが望ましい。
 また、物理気相成長法を用いて高屈折率層22を形成する場合、凹凸構造層21の凸部21aの側面にも高屈折率材料が付着する場合が多く、中間高屈折率部14aの形成は避け難い。そこで、上述のように、上記式(5)が満たされるように、中間高屈折率部14aの幅を制御することで、各格子領域13,15からの反射光の強度を良好に得ることができる。
 中間高屈折率部14aの幅は、成膜方法や成膜の条件によって制御することが可能である。成膜の条件のパラメータは、成膜スピード、ターゲットの形状、ターゲットのサイズ、ターゲットと対象との距離等である。成膜は一回でもよいが、複数回行ってもよい。例えば、真空蒸着法とスパッタリング法とでは、粒子の飛来方向についての角度依存性が異なる。そのため、真空蒸着法とスパッタリング法とのいずれの方法を用いるか、またはそれらを組み合わせることによって、中間高屈折率部14aの幅を変えることができる。また、高屈折率層22を物理気相成長法により形成した後にエッチングを行い、中間高屈折率部14aの幅を縮小させてもよい。
 次に、図4が示すように、高屈折率層22の表面に、低屈折率材料(第2低屈折率材料)からなる低屈折率層23を形成する。低屈折率層23は、公知の成膜技術で形成できる。公知の成膜技術の実例は、物理気相成長法である。物理気相成長法は、真空蒸着法やスパッタリング法である。低屈折率層23の厚さは、10nm以上500nm以下とできる。
 上述のように、波長選択フィルタ10では、第1格子領域13で強められた波長域の光と、第2格子領域15で強められた波長域の光とが射出されることにより、反射光の波長選択性が高められる。そのため、波長選択フィルタ10は、格子領域に接する層を導波層として用いる形態と比較して、格子領域に接する層の精密な膜厚の制御を要さない。ナノインプリント法を用いて波長選択フィルタ10を形成する場合には、残膜の膜厚の精密な制御を要さずに、波長選択性の高められた波長選択フィルタ10を製造することができる。したがって、波長選択フィルタ10の製造は容易であり、また、ナノインプリント法を用いれば、より容易に製造できる。
 また、波長選択フィルタ10は、光ナノインプリント法と真空蒸着法等とを組み合わせた製造方法によって形成可能である。そのため、ロール・トゥ・ロール法による製造に適している。したがって、波長選択フィルタ10の構造は、大量生産にも適している。
 なお、上述の製造方法において、紫外線硬化性樹脂に代えて熱硬化性樹脂や熱可塑性樹脂を用いて、ナノインプリント法により凹凸構造層21を形成してもよい。熱硬化性樹脂を用いる場合、紫外線の照射を加熱に変更すればよく、熱可塑性樹脂を用いる場合、紫外線の照射を、加熱および冷却に変更すればよい。
 [変形例]
 上記実施形態の波長選択フィルタ10は以下のように変更してもよい。
 図5が示すように、波長選択フィルタ10は、基材11を備えていなくてもよい。この場合、低屈折率材料からなる板状体の表面に凹凸構造を形成することによって、凹凸構造層21を形成する。例えば、熱可塑性樹脂からなるシートを用いて、当該シートの表面に凹凸構造を形成してもよいし、合成石英からなる基板を用いて、当該基板の表面に凹凸構造を形成してもよい。合成石英基板に対する凹凸構造の形成には、ドライエッチング法等の公知の技術が用いられればよい。
 また、図6が示すように、基材11の表面に凸部21aが直接に形成されていてもよい。すなわち、凹凸構造層21は、凸部21aに連続する平坦部21cを有さなくてもよい。この場合、凸部21aと基材11とが凹凸構造層21を構成し、基材11のなかで凸部21aに接する領域が、第1低屈折率領域12として機能する。こうした凹凸構造層21は、例えば、フォトリソグラフィの利用によって形成できる。
 また、低屈折率層23は、各種の塗布法を用いて、樹脂材料から形成されてもよい。ただし、低屈折率層23を高屈折率層22に追従した形状に形成するため、言い換えれば、低屈折率層23の表面に好適に凹凸を形成するためには、低屈折率層23は無機化合物から構成されて、物理気相成長法によって形成されることが好ましい。
 また、波長選択フィルタ10は、第2低屈折率領域16を有さず、第2格子領域15の直上に頂部領域17が位置してもよい。言い換えれば、低屈折率層23の表面の凹部の底部が、第1方向において、高屈折率層22の頂部、すなわち、第2格子高屈折率部15aの頂部と一致する位置に配置されていてもよい。さらには、第2格子低屈折率部15bの一部もしくは全部は、第2頂部低屈折率部17bから連続し、空気が充填されていてもよい。この場合、低屈折率層23の表面の凹部の底部は、第2格子領域15に位置する。さらには、第2中間低屈折率部14cの一部は、第2頂部低屈折率部17bから連続し、空気が充填されていてもよい。この場合、低屈折率層23の表面の凹部の底部は、中間領域14に位置する。各領域の平均屈折率は、空気も含めて、各領域を構成する物質の屈折率を、各物質の占める部分の体積比率に応じて均した値となる。
 [波長選択フィルタの適用例]
 上述した波長選択フィルタ10の具体的な適用例について説明する。波長選択フィルタ10は、光の色の変換や色分解を行う装置に用いられるフィルタや、表示体に適用される。以下、波長選択フィルタ10を表示体に用いる形態について説明する。
 表示体は、物品の偽造の困難性を高める目的で用いられてもよいし、物品の意匠性を高める目的で用いられてもよいし、これらの目的を兼ねて用いられてもよい。物品の偽造の困難性を高めることが目的である場合、表示体は、例えば、パスポートや免許証等の認証書類、商品券や小切手等の有価証券類、クレジットカードやキャッシュカード等のカード類、紙幣等に貼り付けられる。また、物品の意匠性を高めることが目的である場合、表示体は、例えば、身に着けられる装飾品や、使用者に携帯される物品、家具や家電等のように据え置かれる物品、壁や扉等の構造物等に取り付けられる。
 図7が示すように、表示体60は、表面60Fと、表面60Fとは反対側の面である裏面60Rとを有し、表面60Fと対向する位置から見て、表示体60は、第1表示領域61Aと第2表示領域61Bと第3表示領域61Cとを含んでいる。第1表示領域61Aは、複数の第1画素62Aが配置されている領域であり、第2表示領域61Bは、複数の第2画素62Bが配置されている領域であり、第3表示領域61Cは、複数の第3画素62Cが配置されている領域である。換言すれば、第1表示領域61Aは、複数の第1画素62Aの集合から構成されており、第2表示領域61Bは、複数の第2画素62Bの集合から構成されており、第3表示領域61Cは、複数の第3画素62Cの集合から構成されている。
 第1表示領域61Aと第2表示領域61Bと第3表示領域61Cとの各々は、これらの領域単独、もしくは、これらの領域の2以上の組み合わせによって、文字、記号、図形、模様、絵柄、これらの背景等を表現する。一例として、図7に示す構成では、第1表示領域61Aによって円形の図形が表現され、第2表示領域61Bによって三角形の図形が表現され、第3表示領域61Cによって背景が表現されている。
 第1画素62Aと、第2画素62Bと、第3画素62Cとの各々には、波長選択フィルタ10の構成が適用されている。これらの画素62A,62B,62Cは、各画素62A,62B,62Cの第2方向と第3方向とが表示体60の表面60Fに沿った方向になるように、波長選択フィルタ10の表面側が表示体60の表面側となる向きに配置されている。
 第1画素62Aと、第2画素62Bと、第3画素62Cとにおいて、導波モード共鳴現象による共鳴が起こる波長域は互いに異なる。各画素62A,62B,62Cにおける共鳴が起こる波長域は、画素62A,62B,62Cごとに、第1格子領域13および第2格子領域15が有するサブ波長格子の周期の調整等によって、所望の波長域に設定されている。したがって、複数の波長の光を含む入射光を受けたとき、第1画素62Aから射出される反射光の波長域と、第2画素62Bから射出される反射光の波長域と、第3画素62Cから射出される光の波長域とは、互いに異なる。また、上記入射光を受けたとき、第1画素62Aから射出される透過光の波長域と、第2画素62Bから射出される透過光の波長域と、第3画素62Cから射出される透過光の波長域とは、互いに異なる。
 すなわち、図8が示すように、表示体60の外側から表示体60の表面60Fに向けて入射光I1が照射されているとき、表示体60の表面側には、第1画素62Aから反射光I2が射出され、第2画素62Bから反射光I3が射出され、第3画素62Cから反射光I4が射出される。したがって、表面側から表示体60の表面60Fを見ると、第1表示領域61Aには反射光I2の波長域に応じた色相の色が視認され、第2表示領域61Bには反射光I3の波長域に応じた色相の色が視認され、第3表示領域61Cには反射光I4の波長域に応じた色相の色が視認される。反射光I2の波長域と、反射光I3の波長域と、反射光I4の波長域とは互いに異なるため、第1表示領域61Aと第2表示領域61Bと第3表示領域61Cとは互いに異なる色相の色に見える。
 その結果、表示体60の外側から表面60Fに向けて入射光I1が照射されている状態で、表示体60の表面側から表面60Fを観察する表面反射観察によれば、互いに異なる色の第1表示領域61Aと第2表示領域61Bと第3表示領域61Cとから構成される像が視認される。
 また、表示体60の外側から表示体60の表面60Fに向けて入射光I1が照射されているとき、表示体60の裏面側には、第1画素62Aから透過光I5が射出され、第2画素62Bから透過光I6が射出され、第3画素62Cから透過光I7が射出される。したがって、裏面側から表示体60の裏面60Rを見ると、第1表示領域61Aには透過光I5の波長域に応じた色相の色が視認され、第2表示領域61Bには透過光I6の波長域に応じた色相の色が視認され、第3表示領域61Cには透過光I7の波長域に応じた色相の色が視認される。透過光I5の波長域と、透過光I6の波長域と、透過光I7の波長域とは互いに異なるため、第1表示領域61Aと第2表示領域61Bと第3表示領域61Cとは互いに異なる色相の色に見える。
 その結果、表示体60の外側から表面60Fに向けて入射光I1が照射されている状態で、表示体60の裏面側から裏面60Rを観察する裏面透過観察によっても、互いに異なる色の第1表示領域61Aと第2表示領域61Bと第3表示領域61Cとから構成される像が視認される。
 さらに、反射光I2の波長域と透過光I5の波長域とは異なるため、表面側から表示体60を見たときと、裏面側から表示体60を見たときとで、第1表示領域61Aに視認される色の色相は異なる。裏面側から見える色は、表面側から見える色の補色に相当する色である。同様に、表面側から表示体60を見たときと、裏面側から表示体60を見たときとで、第2表示領域61Bに視認される色の色相は異なり、第3表示領域61Cに視認される色の色相も異なる。
 したがって、表面反射観察と裏面透過観察とで、表示体60には互いに異なる色彩の像が視認される。それゆえ、表示体60を備える物品にて、偽造の困難性や意匠性がより高められる。また、表示体60の表裏の識別も容易である。
 そして、上述のように、第1実施形態の波長選択フィルタ10においては波長選択性が高められているため、波長選択フィルタ10が各画素62A,62B,62Cに適用されることによって、各表示領域61A,61B,61Cに視認される色の鮮明さや明るさが高められる。それゆえ、表示体60が形成する像の視認性が高められる。また、第1実施形態の波長選択フィルタ10では、樹脂フィルムのように可撓性のある基材11を用いることが可能であるため、形状の変形についての自由度が高い表示体60の実現も可能である。
 第1画素62Aと第2画素62Bと第3画素62Cとの間で、基材11、第1低屈折率領域12、第1格子領域13、中間領域14、第2格子領域15、第2低屈折率領域16、頂部領域17の各々は連続している。すなわち、第1画素62Aと第2画素62Bと第3画素62Cとは、共通した1つの基材11と、これらの画素間で相互に連続した凹凸構造層21と、これらの画素間で相互に連続した高屈折率層22と、これらの画素間で相互に連続した低屈折率層23とを有している。
 第1画素62Aと第2画素62Bと第3画素62Cとの各々における凹凸構造層21は、例えば、ナノインプリント法を利用して、各画素62A,62B,62Cに対応する部分で凹凸の周期を変えたガラスモールドを用いることによって、同時に形成することができる。また、高屈折率層22および低屈折率層23も、各画素62A,62B,62Cに対応する部分を同時に形成することができる。したがって、互いに異なる色を呈する画素62A,62B,62Cを容易に形成することができる。
 なお、表示体60が含む表示領域の数、すなわち、波長選択フィルタ10の構成が適用された画素が配置されて、互いに異なる色相の色を呈する表示領域の数は特に限定されず、表示領域の数は、1つであってもよいし、4つ以上であってもよい。また、表示体60は、波長選択フィルタ10とは異なる構造を有する領域、例えば、基材11に低屈折率材料からなる平坦な層のみが積層された構造を有する領域等を有していてもよい。
 さらに、表示領域には、波長選択フィルタ10の構成が適用された表示要素が含まれればよく、表示要素は、ラスタ画像を形成するための繰返しの最小単位である画素に限らず、ベクタ画像を形成するためのアンカを結んだ領域であってもよい。
 以上、第1実施形態によれば、以下に列挙する利点が得られる。
 (1)第1格子領域13と第2格子領域15とにおいて、導波モード共鳴現象が起こり、2つの格子領域13,15の各々で強められた光が反射光として得られるため、1つの格子領域のみを有する波長選択フィルタと比較して、反射光として取り出される光の強度が高められる。また、高屈折率層22の表面の凹凸に追従した表面形状を有する低屈折率層23が設けられているため、低屈折率層23の厚さおよび屈折率の調整により、各格子領域13,15で強められた反射光とは異なる波長域の光が打ち消されて、こうした光が上記反射光とともに射出されることを抑えることができる。したがって、波長選択フィルタ10の波長選択性が高められる。
 (2)凹凸構造層21は、ポリマーで構成できる。凹凸構造層21は、紫外線硬化性樹脂、熱硬化性樹脂、および、熱可塑性樹脂のいずれかから構成できる。低屈折率層23は、無機化合物で構成できる。これにより、凹凸構造層21の製造方法として、例えば、ナノインプリント等の微細な凹凸の形成に適した方法の採用が可能である。低屈折率層23を無機化合物で構成することにより、低屈折率層23を、例えば、物理気相成長法によって成膜することができる。これにより、低屈折率層23を下層の凹凸に沿った形状に形成することに適した製造方法を採用することが可能である。このように、低屈折率材料の使い分けによって、凹凸構造層21と低屈折率層23とを好適に形成できる。
 (3)第1格子領域13の光学膜厚OT1に対する第2格子領域15の光学膜厚OT2の比が、0.5以上2.0以下、より好ましくは0.625以上1.6以下であることにより、2つの格子領域13,15の各々で強められた近しい波長域の光が反射光として得られる。それゆえ、波長選択性がより高められる。
 (4)中間領域14における中間高屈折率部14aの面積比率R3について、R3≦R1+R2-1が満たされることにより、中間高屈折率部14aの幅が小さく抑えられるため、中間領域14の平均屈折率が過度に大きくなることが抑えられる。したがって、格子領域13,15とその隣接領域との平均屈折率の差が良好に確保されるため、導波モード共鳴現象によって得られる各格子領域13,15からの反射光の強度が良好になる。
 また、第1方向に沿った方向から見て、第2格子高屈折率部15aが中間高屈折率部14aの外側まで広がることにより、中間高屈折率部14aの幅が小さく抑えられるため、上記と同様に、各格子領域13,15からの反射光の強度が良好になる。
 (5)低屈折率材料からなる凹凸構造層21を形成する工程と、凹凸構造層21の表面に高屈折率層22を形成する工程と、高屈折率層22の表面に低屈折率層23を形成する工程とによって、上記波長選択フィルタ10が形成される。こうした製法によれば、サブ波長格子に接する層の精密な膜厚の制御を要さずに、波長選択フィルタ10の波長選択性が高められるため、波長選択フィルタ10を容易に製造することができる。
 (6)低屈折率材料として樹脂を用い、樹脂からなる塗工層に凹版を押し付けて樹脂の硬化によって凹凸構造層21を形成する製法では、ナノインプリント法を用いて凹凸構造層21の形成が行われるため、微細な凹凸を有する凹凸構造層21を好適に、かつ、簡便に形成することができる。また、物理気相成長法を用いて低屈折率層23を形成する方法であれば、高屈折率層22の表面の凹凸に追従した表面形状を有する低屈折率層23を好適に形成することができる。
 また、高屈折率層22の形成に物理気相成長法を用いる場合において、第1方向に沿った方向から見て第2格子高屈折率部15aが中間高屈折率部14aの外側まで広がるように、高屈折率層22を形成する。こうした製法によれば、凸部21aの側面に中間高屈折率部14aが形成される方法を採用しながらも、中間高屈折率部14aの幅が小さく抑えられるため、各格子領域13,15からの反射光の強度が良好になる。
 (第2実施形態)
 図9~図12を参照して、波長選択フィルタ、表示体、および、波長選択フィルタの製造方法の第2実施形態を説明する。以下では、第2実施形態と第1実施形態との相違点を中心に説明し、第1実施形態と同様の構成については同じ符号を付してその説明を省略する。
 [波長選択フィルタの構成]
 図9および図10を参照して、第2実施形態の波長選択フィルタの構成について説明する。図9が示すように、第2実施形態の波長選択フィルタ30は、第1実施形態にて説明した第1低屈折率領域12、第1格子領域13、中間領域14、第2格子領域15、第2低屈折率領域16、および、頂部領域17からなる構造体である共鳴構造部31を、2つ備えている。ただし、頂部領域17における第2頂部低屈折率部17bは、低屈折率材料で充填されている。
 2つの共鳴構造部31である第1共鳴構造部31Aと第2共鳴構造部31Bとは、第1方向に隣り合っており、2つの共鳴構造部31A,31Bは、2つの基材11で挟まれている。換言すれば、第2実施形態の波長選択フィルタ30は、第1実施形態の2つの波長選択フィルタ10が、頂部領域17同士が向かい合うように接合された構造を有する。すなわち、第2実施形態の波長選択フィルタ30は、第1方向に間をあけて並ぶ4つのサブ波長格子を有し、これらのサブ波長格子が低屈折率材料に埋め込まれた構造を有している。言い換えれば、波長選択フィルタ30は、配列方向および配列周期が同一である格子構造の対(格子対)を2つ有しており、これらの格子構造は低屈折率材料に囲まれている。2つの格子対は、第1方向に並んでいる。なお、一方の基材11に対する他方の基材11の側が波長選択フィルタ30の表面側であり、他方の基材11に対する一方の基材11の側が波長選択フィルタ30の裏面側である。
 波長選択フィルタ30において、第1共鳴構造部31Aにおける格子要素である格子高屈折率部13a,15aおよび格子低屈折率部13b,15bの延びる方向と、第2共鳴構造部31Bにおける格子要素である格子高屈折率部13a,15aおよび格子低屈折率部13b,15bの延びる方向とは、一致している。言い換えれば、第1共鳴構造部31Aが有するサブ波長格子の配列方向と、第2共鳴構造部31Bが有するサブ波長格子の配列方向とは、一致している。また、各共鳴構造部31の中間領域14および頂部領域17における各低屈折率部および高屈折率部も、格子要素と同一の方向に延びている。
 第1共鳴構造部31Aと第2共鳴構造部31Bとの間には、第1共鳴構造部31Aの頂部領域17と第2共鳴構造部31Bの頂部領域17とに沿って一様に広がる境界低屈折率領域18が位置する。境界低屈折率領域18は、第1共鳴構造部31Aの頂部領域17における第2頂部低屈折率部17b、および、第2共鳴構造部31Bの頂部領域17における第2頂部低屈折率部17bの各々と連続しており、境界低屈折率領域18と各共鳴構造部31の第2頂部低屈折率部17bとは、互いに同一の材料から構成される。
 第1共鳴構造部31Aにおける凸部21aの配列の周期である構造周期Pkと、第2共鳴構造部31Bにおける凸部21aの配列の周期である構造周期Pkとは、図9が示すように同一であってもよいし、図10が示すように互いに異なっていてもよい。構造周期Pkは、第1格子領域13における第1周期P1と一致する。
 第1共鳴構造部31Aと第2共鳴構造部31Bとの各々において、波長選択性を高めるためには、第1実施形態と同様に、第1格子領域13の光学膜厚OT1に対する第2格子領域15の光学膜厚OT2の比は、0.5以上2.0以下であることが好ましく、0.625以上1.6以下であることがより好ましい。
 [波長選択フィルタの作用]
 2つの共鳴構造部31A,31Bが同一の構造周期Pkを有する場合、波長選択フィルタ30が有する4つの格子領域13,15において、共鳴を起こす光の波長域のばらつきが小さくなる。4つの格子領域13,15の各々で強められた波長域の反射光が波長選択フィルタ30の表面側に射出されることにより、第1実施形態の波長選択フィルタ10と比較して、反射光における特定の範囲の波長域の強度がより大きくなり、反射光の波長選択性がより高められる。このとき、第1共鳴構造部31Aと第2共鳴構造部31Bとで、光学膜厚OT1に対する光学膜厚OT2の比が一致していれば、4つの格子領域13,15における光学膜厚のばらつきが小さくなり、各格子領域13,15で共鳴を起こす光の波長域がより近くなるため好ましい。
 一方、2つの共鳴構造部31A,31Bが互いに異なる構造周期Pkを有する場合、第1共鳴構造部31Aの格子領域13,15にて共鳴を起こす光の波長域と、第2共鳴構造部31Bの格子領域13,15にて共鳴を起こす光の波長域とは、互いに異なる。その結果、波長選択フィルタ30の表面側には、第1共鳴構造部31Aの格子領域13,15にて強められた波長域の光と、第2共鳴構造部31Bの格子領域13,15にて強められた波長域の光とを含む反射光が射出される。
 2つの共鳴構造部31A,31Bの構造周期Pkが同一であるか否かに関わらず、第1実施形態と同様に、頂部領域17は、頂部領域17よりも裏面側での反射や干渉による光のうち、取り出したい波長域の光とは異なる波長域の光(非対象光)を打ち消すことで非対象光が波長選択フィルタ30の表面側に射出されることを抑える。すなわち、各格子領域13,15で強められた波長域以外の光を頂部領域17が打ち消すように、低屈折率層23の厚さおよび材料と、境界低屈折率領域18の材料とが選択される。
 また、波長選択フィルタ30の裏面側には、波長選択フィルタ30への入射光のうち、各領域を透過した光が射出される。第2実施形態の波長選択フィルタ30は、2つの格子領域13,15を備える共鳴構造部31を複数有するため、反射光や透過光として観察される色相の調整の自由度が高められる。
 [波長選択フィルタの適用例]
 第2実施形態の波長選択フィルタ30は、第1実施形態で示した適用例と同様に、光の色の変換や色分解を行う装置に用いられるフィルタに適用されてもよいし、表示体60が備える表示要素に適用されてもよい。
 例えば、2つの共鳴構造部31A,31Bが同一の構造周期Pkを有する構成が適用された場合、表示体60においては、表面反射観察にて各表示領域61A,61B,61Cに視認される色の鮮明さや明るさが高められることにより、像の視認性が高められる。
 また例えば、2つの共鳴構造部31A,31Bが互いに異なる構造周期Pkを有する構成が適用された場合、表示体60においては、表面反射観察と裏面透過観察とにおいて視認される像の色相の調整の自由度が高められる。具体的には、第1画素62Aと第2画素62Bと第3画素62Cとにおいて、第1共鳴構造部31Aの構造周期Pkと、第2共鳴構造部31Bの構造周期Pkとの組み合わせを互いに異ならせることで、上記色相の調整が可能である。
 [波長選択フィルタの製造方法]
 図11および図12を参照して、第2実施形態の波長選択フィルタ30の製造方法について説明する。まず、第2実施形態の波長選択フィルタ30の製造に際しては、第1実施形態と同様に、基材11上に凹凸構造層21と高屈折率層22と低屈折率層23とが順に形成される。
 続いて、図11が示すように、基材11と凹凸構造層21と高屈折率層22と低屈折率層23とからなる構造体である2つの凹凸構造体32を、低屈折率層23同士が向かい合うように対向させ、図12が示すように、2つの凹凸構造体32の間の領域を低屈折率材料(第3低屈折率材料)で埋めることによってこれらの凹凸構造体32を接合する。これにより、波長選択フィルタ30が形成される。
 図12が示すように、低屈折率材料による埋め込みによって、2つの凹凸構造体32の間に形成される部分が埋込層24である。埋込層24は、第1共鳴構造部31Aの頂部領域17における第2頂部低屈折率部17bと、第2共鳴構造部31Bの頂部領域17における第2頂部低屈折率部17bと、境界低屈折率領域18とから構成される。
 埋込層24を構成する低屈折率材料は、高屈折率層22を構成する高屈折率材料よりも屈折率の低い材料であって、紫外線硬化性樹脂、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂等の樹脂材料が用いられることが好ましい。例えば、埋込層24は、凹凸構造層21と同一の材料から形成されればよい。埋込層24の形成方法としては、各種の塗布法等が用いられればよい。
 なお、2つの凹凸構造体32を対向させた状態において、第1頂部低屈折率部17a同士が向かい合ってもよいし、一方の凹凸構造体32における第1頂部低屈折率部17aと、他方の凹凸構造体32における第2頂部低屈折率部17bとが向かい合ってもよい。あるいは、一方の凹凸構造体32における第1頂部低屈折率部17aは、他方の凹凸構造体32における第1頂部低屈折率部17aの一部および第2頂部低屈折率部17bの一部と向かい合っていてもよい。
 例えば、凸部21aの周期が同一である2つの凹凸構造体32を接合することによって、2つの共鳴構造部31A,31Bが同一の構造周期Pkを有する波長選択フィルタ30が形成できる。また例えば、凸部21aの周期が互いに異なる2つの凹凸構造体32を接合することによって、2つの共鳴構造部31A,31Bが互いに異なる構造周期Pkを有する波長選択フィルタ30が形成できる。
 なお、2つの共鳴構造部31A,31Bは、頂部領域17同士が向かい合うように配置されることに代えて、頂部領域17を外側に向けて配置されてもよい。すなわち、2つの凹凸構造体32は、基材11同士が向かい合うように低屈折率材料によって接合されていてもよい。
 また、2つの共鳴構造部31A,31Bは、各共鳴構造部31A,31Bの頂部領域17が、いずれも表面側を向くように配置されてもよい。すなわち、2つの凹凸構造体32は、一方の凹凸構造体32の頂部領域17と、他方の凹凸構造体32の基材11とが向かい合うように低屈折率材料によって接合されていてもよい。
 頂部領域17が波長選択フィルタ30の最表面に位置していれば、頂部領域17によって表面反射を抑える効果が、第1実施形態と同様に得られる。
 また、波長選択フィルタ30は、第1方向に並ぶ3以上の共鳴構造部31を備えていてもよい。波長選択フィルタ30が複数の共鳴構造部31を備える形態において、これらの共鳴構造部31における構造周期Pkが同一であれば、共鳴構造部31の数が多いほど、反射光の強度は高められる。また、複数の共鳴構造部31に、構造周期Pkが同一である複数の共鳴構造部31と、構造周期Pkが互いに異なる複数の共鳴構造部31とが含まれてもよい。こうした構成によれば、波長選択フィルタ30から出射される反射光や透過光の色の細かな調整も可能となる。
 3以上の共鳴構造部31を備える波長選択フィルタ30の製造に際しては、基材11と凹凸構造層21とが、凹凸構造層21から基材11を剥離可能な材料から形成され、凹凸構造体32の積層に際して基材11が剥離されてもよい。例えば、2つの凹凸構造体32が、頂部領域17同士が向かい合うように低屈折率材料によって接合されたのち、一方の基材11が剥離され、露出された凹凸構造層21と他の凹凸構造体32とがさらに低屈折率材料を挟んで接合されることが繰り返されることによって、6以上のサブ波長格子を有する波長選択フィルタ30が形成される。
 以上、第2実施形態によれば、第1実施形態の(1)~(6)の利点に加えて、下記の利点が得られる。
 (7)波長選択フィルタ30が、第1方向に並ぶ複数の共鳴構造部31を備えることにより、波長選択フィルタ10が4つ以上の格子領域13,15を備えるため、波長選択フィルタ30の波長選択性をさらに高めることや、反射光と透過光とに含まれる波長域の調整の自由度を高めることが可能である。
 (8)複数の共鳴構造部31における構造周期Pkが等しいことにより、各共鳴構造部31の格子領域13,15で共鳴を起こす光の波長域のばらつきが小さくなる。したがって、反射光の波長選択性がより高められる。
 (9)第1共鳴構造部31Aと第2共鳴構造部31Bとで、光学膜厚OT1に対する光学膜厚OT2の比が一致することにより、4つの格子領域13,15において、光学膜厚のばらつきが小さくなり、すなわち、各格子領域13,15において共鳴を起こす光の波長域がより近くなる。したがって、反射光の波長選択性がより高められる。
 (10)第1共鳴構造部31Aの構造周期Pkと、第2共鳴構造部31Bの構造周期Pkとが互いに異なることにより、第1共鳴構造部31Aの各格子領域13,15にて共鳴を起こす光の波長域と、第2共鳴構造部31Bの各格子領域13,15にて共鳴を起こす光の波長域とは、互いに異なる。したがって、波長選択フィルタ30にて、反射光の強度を高めつつ反射光に含まれる波長域を拡げること、および、透過光に含まれる波長域を狭めることが可能である。それゆえ、反射光や透過光として観察される色相の調整の自由度を高めることができる。
 (11)波長選択フィルタ30は、2つの凹凸構造体32を向かい合わせ、2つの凹凸構造体32の間の領域を低屈折率材料で埋めることによって形成される。これによれば、複数の共鳴構造部31を備える波長選択フィルタ30を容易に形成することができる。
 (第3実施形態)
 図13を参照して、波長選択フィルタ、表示体、および、波長選択フィルタの製造方法の第3実施形態を説明する。第3実施形態は、第2実施形態と比較して、2つの共鳴構造部におけるサブ波長格子の配列方向が異なる。以下では、第3実施形態と第2実施形態との相違点を中心に説明し、第2実施形態と同様の構成については同じ符号を付してその説明を省略する。なお、図13は、波長選択フィルタの一部分を示す図であり、波長選択フィルタの構造を理解しやすくするために、凹凸構造層21、高屈折率層22、低屈折率層23、埋込層24の各々に、互いに異なる濃度のドットを付して示している。
 [波長選択フィルタの構成]
 図13が示すように、第3実施形態の波長選択フィルタ40は、第2実施形態と同様に、第1方向に隣り合う2つの共鳴構造部31A,31Bを備えている。ただし、第3実施形態においては、第1共鳴構造部31Aの格子領域13,15が有する格子要素、すなわち、格子高屈折率部13a,15aおよび格子低屈折率部13b,15bの延びる方向と、第2共鳴構造部31Bの格子領域13,15が有する格子要素の延びる方向とは互いに異なる。言い換えれば、第1共鳴構造部31Aが有するサブ波長格子の配列方向と、第2共鳴構造部31Bが有するサブ波長格子の配列方向とが互いに異なっている。
 第1共鳴構造部31Aにおける凸部21aの配列の周期である構造周期Pkと、第2共鳴構造部31Bにおける凸部21aの配列の周期である構造周期Pkとは、同一である。反射光の波長選択性を高めるためには、第1共鳴構造部31Aと第2共鳴構造部31Bとの各々において、第1格子領域13の光学膜厚OT1に対する第2格子領域15の光学膜厚OT2の比は、0.5以上2.0以下であることが好ましく、0.625以上1.6以下であることがより好ましい。さらに、第1共鳴構造部31Aと第2共鳴構造部31Bとで、上記比は一致していることが好ましい。
 第1共鳴構造部31Aの格子高屈折率部13a,15aおよび格子低屈折率部13b,15bは、第2方向に沿って延び、第3方向に沿って並ぶ。一方、第2共鳴構造部31Bの格子高屈折率部13a,15aおよび格子低屈折率部13b,15bは、第3方向に沿って延び、第2方向に沿って並ぶ。すなわち、第1共鳴構造部31Aが有する格子要素の延びる方向と、第2共鳴構造部31Bが有する格子要素の延びる方向とは直交している。換言すれば、第1共鳴構造部31Aが有するサブ波長格子の配列方向と、第2共鳴構造部31Bが有するサブ波長格子の配列方向とのなす角は90°である。
 [波長選択フィルタの作用]
 上述のように、サブ波長格子が、1つの方向に帯状に延びる格子高屈折率部13a,15aから構成されている場合、各格子領域13,15では、特定の方向へ偏光した光が多重反射して共鳴を起こし、反射光として射出される。上記特定の方向は、サブ波長格子の配列方向に依存する。第1共鳴構造部31Aと第2共鳴構造部31Bとでサブ波長格子の配列方向が異なることにより、第1共鳴構造部31Aの格子領域13,15と第2共鳴構造部31Bの格子領域13,15とでは、多重反射する光の偏光方向は互いに異なる。したがって、第3実施形態の波長選択フィルタ40によれば、様々な方向への偏光成分を含む入射光に対して、効率的に反射光が出射されるため、反射光の強度がより高められる。
 第3実施形態の波長選択フィルタ40の構成は、第1実施形態で示した適用例と同様に、光の色の変換や色分解を行う装置に用いられるフィルタに適用されてもよいし、表示体60が備える表示要素に適用されてもよい。表示体60への入射光は、一般的な照明や太陽光のように、様々な方向への偏光成分を含む光である場合が多い。したがって、表示体60に第3実施形態の波長選択フィルタ40が適用されると、偏光に関して効率的に反射光が出射される効果を高く得られる。一方、偏光方向の揃った入射光を対象とする場合には、第2実施形態の波長選択フィルタ30が適用されることが好ましい。
 [波長選択フィルタの製造方法]
 第3実施形態の波長選択フィルタ40は、第2実施形態と同様に、2つの凹凸構造体32を、頂部領域17同士が向かい合うように対向させ、2つの凹凸構造体32の間の領域を低屈折率材料(第3低屈折率材料)で埋めることによって形成される。ここで、第3実施形態では、一方の凹凸構造体32における凸部21aの延びる方向と、他方の凹凸構造体32における凸部21aの延びる方向とが直交するように、これらの凹凸構造体32を向かい合わせて低屈折率材料により接合する。
 なお、第2実施形態と同様に、2つの共鳴構造部31A,31Bは、頂部領域17を外側に向けて配置されてもよいし、各共鳴構造部31A,31Bの頂部領域17が、いずれも表面側を向くように配置されてもよい。
 また、2つの共鳴構造部31A,31Bにおけるサブ波長格子の配列方向は、直交していることに限らず、互いに異なっていればよい。サブ波長格子の配列方向の設定によって、波長選択フィルタ40の偏光応答性を調整することもできる。
 また、波長選択フィルタ40は、第1方向に並ぶ3以上の共鳴構造部31を備えていてもよく、複数の共鳴構造部31に、格子要素の延びる方向が互いに異なる共鳴構造部31が含まれていればよい。こうした波長選択フィルタ40は、偶数、すなわち2n(nは3以上の整数)個のサブ波長格子を備え、表面側もしくは裏面側から2m-1番目(mは1以上n以下の整数)のサブ波長格子と2m番目のサブ波長格子とにおいて、配列方向は互いに同一であり、格子の配列周期は互いに同一である。
 こうした構成によれば、共鳴構造部31ごとのサブ波長格子の配列方向の設定や、サブ波長格子の配列方向が同一である共鳴構造部31の数の設定等によって、波長選択フィルタ40の偏光応答性を調整することもできる。なお、複数の共鳴構造部31には、サブ波長格子の配列周期が互いに異なる共鳴構造部31が含まれていてもよい。
 以上、第3実施形態によれば、第1実施形態の(1)~(6)、第2実施形態の(7)~(9),(11)の利点に加えて、下記の利点が得られる。
 (12)第1共鳴構造部31Aの格子要素の延びる方向と、第2共鳴構造部31Bの格子要素の延びる方向とが、互いに異なるため、第1共鳴構造部31Aの格子領域13,15と第2共鳴構造部31Bの格子領域13,15とでは、入射光に含まれる光のうち、互いに異なる方向へ偏光した光が共鳴を起こして、それぞれの共鳴構造部31から射出される。したがって、様々な方向への偏光成分を含む入射光に対して、効率的に反射光が出射されるため、反射光の強度がより高められる。
 (第4実施形態)
 図14を参照して、波長選択フィルタ、表示体、および、波長選択フィルタの製造方法の第4実施形態を説明する。第4実施形態は、第1実施形態と比較して、サブ波長格子の配列が異なる。以下では、第4実施形態と第1実施形態との相違点を中心に説明し、第1実施形態と同様の構成については同じ符号を付してその説明を省略する。
 図14における(a)~(d)が示すように、第4実施形態の波長選択フィルタ50において、サブ波長格子は、二次元格子状の配列を有する。
 詳細には、図14中の(b)が示すように、第1格子領域13において、複数の第1格子低屈折率部13bは、二次元格子状に配置されている。二次元格子の種類は特に限定されず、互いに異なる方向に延びる2つの平行線群が交差することによって構成される格子の格子点に第1格子低屈折率部13bが位置していればよい。例えば、第1格子低屈折率部13bが構成する二次元格子は、正方格子であってもよいし、六方格子であってもよい。第1格子領域13における格子構造の周期である第1周期P1は、二次元格子が延びる各方向において一致している。第1格子高屈折率部13aは、複数の第1格子低屈折率部13bの間を埋めており、連続する1つの高屈折率部を構成している。
 第1方向に沿った方向から見て、第1格子低屈折率部13bの形状は特に限定されないが、例えば第1格子低屈折率部13bが正方形であると、第1格子領域13の平均屈折率を規定する面積比率の設定が容易である。
 図14中の(c)が示すように、中間領域14において、複数の第1中間低屈折率部14bは、第1格子低屈折率部13bと一致した二次元格子状に配置されている。中間領域14における第1中間低屈折率部14bの配列の周期である第3周期P3は、第1格子領域13における第1周期P1と一致している。第1方向に沿った方向から見て、第1中間低屈折率部14bの大きさは、第1格子低屈折率部13bと一致する。
 第1方向に沿った方向から見て、中間高屈折率部14aは枠形状を有し、第1中間低屈折率部14bを1つずつ取り囲んでいる。第2中間低屈折率部14cは、互いに隣接する中間高屈折率部14aの間を埋めており、連続する1つの低屈折率部を構成している。
 図14中の(d)が示すように、第2格子領域15において、複数の第2格子高屈折率部15aは、第1格子低屈折率部13bと一致した二次元格子状に配置されている。第2格子低屈折率部15bは、複数の第2格子高屈折率部15aの間を埋めており、連続する1つの低屈折率部を構成している。第2格子領域15における格子構造の周期である第2周期P2は、第1格子領域13における第1周期P1と一致している。
 ただし、第1方向に沿った方向から見て、第2格子領域15において点在する第2格子高屈折率部15aは、第1格子領域13において点在する第1格子低屈折率部13bよりも大きい。言い換えれば、第2方向および第3方向の各々において、第2格子高屈折率部15aの幅は、第1格子低屈折率部13bの幅よりも大きい。したがって、第2格子低屈折率部15bの幅は、第1格子高屈折率部13aの幅よりも小さい。第1方向に沿った方向から見て、第2格子高屈折率部15aは、第1格子低屈折率部13bの形状に準じた形状を有する。
 また、頂部領域17においても、複数の第1頂部低屈折率部17aは、第1格子低屈折率部13bと一致した二次元格子状に配置されている。そして、第2頂部低屈折率部17bは、複数の第1頂部低屈折率部17aの間を埋めており、連続する1つの低屈折率部を構成している。頂部領域17における第1頂部低屈折率部17aの配列の周期は、第1格子領域13における第1周期P1と一致している。
 第4実施形態の波長選択フィルタ50においても、第1実施形態と同様の原理によって導波モード共鳴現象が起こり、第1格子領域13で強められた波長域の光と、第2格子領域15で強められた波長域の光とが、反射光として取り出される。第4実施形態においても、第1格子領域13の光学膜厚OT1は、第1実施形態で示した式(2)によって求められ、第2格子領域15の光学膜厚OT2は、第1実施形態で示した式(4)によって求められる。そして、第1格子領域13の光学膜厚OT1に対する第2格子領域15の光学膜厚OT2の比が、0.5以上2.0以下、より好ましくは0.625以上1.6以下であれば、波長選択フィルタ50において、反射光についての良好な波長選択性が得られる。
 また、第4実施形態においても、中間高屈折率部14aの面積比率R3について、第1実施形態で示した式(5)が満たされることが好ましい。式(5)が満たされていれば、中間高屈折率部14aの幅が、第2格子高屈折率部15aよりも外側まで広がらない程度に抑えられるため、中間高屈折率部14aの面積比率が大きくなりすぎない。したがって、各格子領域13,15からの反射光の強度が良好になる。
 第4実施形態のように、サブ波長格子を構成する格子要素が二次元格子状に並んでいれば、互いに異なる方向へ偏光している光を格子要素が並ぶ方向ごとにそれぞれ共鳴させることができる。したがって、第1実施形態のように、格子要素が1つの方向のみに沿って並ぶ形態と比較して、様々な方向への偏光成分を含む入射光に対して、効率的に反射光が出射される。そのため、反射光の強度がより高められる。
 特に、格子要素が六方格子状に並んでいれば、格子要素が正方格子状に並ぶ場合と比較して、格子領域にて共鳴可能な偏光の方向が多くなるため、様々な方向への偏光成分を含む入射光に対して、より効率的に反射光を出射することができる。
 第4実施形態の波長選択フィルタ50は、第1実施形態の波長選択フィルタ10の製造方法において、凸部21aの配列を変更することによって製造できる。具体的には、複数の凸部21aが二次元格子状に配置された凹凸構造を形成することによって、凹凸構造層21を形成する。複数の凸部21aは互いに離間しており、凸部21a間に位置する凹部21bは連続する1つの凹部を構成している。第4実施形態のように、凸部21aが二次元格子状に並んでいると、凸部21aの大きさや配置についての自由度が高いため、凸部21aと凹部21bとの面積比率の設定に際しての細かな調整が容易である。
 第4実施形態の波長選択フィルタ50には、第1実施形態の波長選択フィルタ10の各変形例の構成が適用できる。また、第4実施形態の波長選択フィルタ50の構成は、第1実施形態で示した適用例と同様に、光の色の変換や色分解を行う装置に用いられるフィルタに適用されてもよいし、表示体60が備える表示要素に適用されてもよい。
 また、第2実施形態および第3実施形態の構成に第4実施形態の波長選択フィルタ50を適用してもよい。すなわち、複数の波長選択フィルタ50を第1方向に沿って積層することによって、4つ以上の格子領域を有する波長選択フィルタを構成してもよい。このとき、2以上の共鳴構造部31において、サブ波長格子を構成する格子要素が並ぶ方向、言い換えれば、二次元格子の延びる方向は、一致していてもよいし、異なっていてもよい。2つの共鳴構造部31における二次元格子の延びる方向が異なる場合、偏光に関し、より多くの方向に対応して反射光を射出することができる。
 なお、各格子領域13,15において、格子構造の周期は、二次元格子が延びる方向によって異なっていてもよい。こうした構成によれば、二次元格子が延びる方向によって共鳴を起こす波長域を異ならせて、反射光に含まれる波長域や偏光に対する応答性を調整することが可能である。
 また、凹凸構造層21の凹凸構造は、互いに離間した複数の凹部と、これらの凹部の間で連続している単一の凸部とから構成されてもよい。すなわち、凹凸構造層21の凹凸構造は、凸部もしくは凹部である複数の凹凸要素が互いに離間しつつ二次元格子状に並ぶことにより形成されていればよい。
 以上、第4実施形態によれば、第1実施形態の(1)~(6)の利点に加えて、下記の利点が得られる。
 (13)サブ波長格子を構成する格子要素が二次元格子状に並ぶため、様々な方向への偏光成分を含む入射光に対して、効率的に反射光が出射される。そのため、反射光の強度がより高められる。
 (第1~第4実施形態の変形例)
 第1~第4実施形態は、以下のように変更して実施することが可能である。
 ・上記各実施形態において、波長選択フィルタの中間領域14は、中間高屈折率部14aを有していなくてもよい。すなわち、中間領域14は、第1中間低屈折率部14bと第2中間低屈折率部14cとから構成されていてもよい。高屈折率層22の製造条件によっては、中間高屈折率部14aを有さない波長選択フィルタ、すなわち、凸部21aの側面への高屈折率層22の成膜がない波長選択フィルタの製造が可能である。
 ・頂部領域17が最表面に位置する形態において、頂部領域17を覆う保護層が設けられてもよい。この場合、保護層は樹脂等の低屈折率材料から構成され、低屈折率層23の凹部は保護層によって埋められる。すなわち、第2頂部低屈折率部17bは、低屈折率材料によって充填される。
 (第5実施形態)
 図15~図22を参照して、第5実施形態を説明する。第5実施形態は、波長選択フィルタを備える光学デバイスの実施形態である。なお、第1~第4実施形態と同様の構成については同じ符号を付してその説明を省略する。
 イメージセンサ等の撮像素子は、赤、緑、青の三色の成分に入射光を分解し、各色の光の強度を受光素子によって検出する。そして、撮像素子は、受光面に沿って配列された多数の受光素子からの出力に基づき、カラーの画像データを生成する。こうした入射光の分解には、赤色光を透過する領域と、緑色光を透過する領域と、青色光を透過する領域とを有するカラーフィルタが用いられる(例えば、特開2019-68049号公報参照)。
 近年、精細な色再現が可能なセンサの需要が高まるなかで、透過光における他の色の波長域の光の混入が少ないフィルタ、すなわち、波長選択性の高いフィルタが望まれている。しかしながら、従来のカラーフィルタが有する各色の領域は、顔料等の色素での吸収によって特定の波長域の光を相対的に多く透過するように構成されており、こうしたフィルタでの波長選択性の向上には限界がある。したがって、色素を用いたフィルタとは異なる原理を利用して、高い精度で光を選別できるフィルタの開発が望まれている。
 なお、こうした課題は、カラーの画像データを生成する撮像素子に限らず、入射光から取り出した光を検出する装置に備えられるフィルタにおいて共通する。
 第5実施形態は、光の選別の精度を高めることのできる光学デバイスを提供することを目的とする。
 以下、第5実施形態の光学デバイスについて説明する。光学デバイスは、入射光から取り出した光を検出する光検出装置に用いられる。入射光の波長域は特に限定されないが、例えば、入射光は可視領域の光である。以下において、可視領域の光の波長は、400nm以上800nm以下である。
 [光学デバイスの構成]
 図15が示すように、光学デバイス100は、フィルタ層110と、受光層120とを備えている。フィルタ層110は、互いに異なる波長域の光を透過する複数のフィルタ領域111を備えている。フィルタ領域111は、導波モード共鳴現象を生じさせる構造を有している。フィルタ領域111は、導波モード共鳴現象によって、入射光のうちの特定の波長域の光を選択的に反射し、当該反射光の波長域を除く波長域の光を透過する。
 図15は、一例として、光学デバイス100が、カラーの画像データを出力するイメージセンサである光検出装置に用いられる場合のフィルタ層110の構成を示している。図15においては、フィルタ層110は、赤色光を反射する赤反射フィルタ領域111Rと、緑色光を反射する緑反射フィルタ領域111Gと、青色光を反射する青反射フィルタ領域111Bとを有している。本実施形態においては、赤色光は、600nm以上700nm以下の波長域に強度ピークを有する光であり、緑色光は、520nm以上580nm以下の波長域に強度ピークを有する光であり、青色光は、400nm以上500nm以下の波長域に強度ピークを有する光である。
 図15においては、各フィルタ領域111R,111G,111Bを1つずつ示しているが、赤反射フィルタ領域111Rと、緑反射フィルタ領域111Gと、青反射フィルタ領域111Bとは、所定の並びで繰り返し配列されている。なお、互いに隣接するフィルタ領域111は接していてもよいし、互いに隣接するフィルタ領域111の間にこれらを区画する領域が設けられていてもよい。
 受光層120は、複数の受光素子121を備えている。受光素子121は、光電変換素子であり、受光素子121に入射した光の強度に応じた電気的な出力を発する。受光素子121は、例えば、フォトダイオードに具体化される。複数の受光素子121は、互いに同一の構造を有し、すなわち、互いに同一の感度および特性を有する。受光素子121は、検出対象とする入射光の波長域に感度を有していればよい。複数の受光素子121は、各フィルタ領域111R,111G,111Bに対して1つずつ、すなわち、1つのフィルタ領域111の下方に1つの受光素子121が配置されるように配列されている。
 光検出装置は、フィルタ層110および受光層120に加えて、例えば、受光素子121の電荷の転送あるいは増幅のための素子、信号処理回路、配線部等を備えている。こうした素子等は、受光素子121と同一の基板に形成されていてもよいし、受光素子121とは異なる基板に形成されて受光層120に積層されていてもよい。また、フィルタ層110と受光層120との間には、配線部や、平坦化、遮蔽、絶縁等のため膜等が配置されていてもよい。
 図16が示すように、光学デバイス100に対する入射光Ioは、フィルタ層110に向けて入射する。赤反射フィルタ領域111Rでは、赤色の波長域の光Irが反射され、入射光Ioのなかで赤色の波長域を除く波長域の光I11が赤反射フィルタ領域111Rを透過して、赤反射フィルタ領域111Rの下方の受光素子121に入る。緑反射フィルタ領域111Gでは、緑色の波長域の光Igが反射され、入射光Ioのなかで緑色の波長域を除く波長域の光I12が緑反射フィルタ領域111Gを透過して、緑反射フィルタ領域111Gの下方の受光素子121に入る。青反射フィルタ領域111Bでは、青色の波長域の光Ibが反射され、入射光Ioのなかで青色の波長域を除く波長域の光I13が青反射フィルタ領域111Bを透過して、青反射フィルタ領域111Bの下方の受光素子121に入る。
 赤反射フィルタ領域111Rの下方の受光素子121の出力と、緑反射フィルタ領域111Gの下方の受光素子121の出力と、青反射フィルタ領域111Bの下方の受光素子121の出力とを総合することによって、入射光Ioの波長域および強度が算出される。例えば、入射光Ioが青色光である場合、赤反射フィルタ領域111Rの下方の受光素子121の出力と、緑反射フィルタ領域111Gの下方の受光素子121の出力とは同程度であり、青反射フィルタ領域111Bの下方の受光素子121の出力が最も低くなる。このように、入射光Ioは、相対的に出力が低い受光素子121に対応するフィルタ領域111で反射される波長域の光を相対的に多く含むため、各受光素子121の出力の比較によって、入射光Ioの波長域の算出が可能である。これにより、赤反射フィルタ領域111Rと緑反射フィルタ領域111Gと青反射フィルタ領域111Bとに対向する1つの単位領域からの入射光の波長域の検出が可能であり、これに基づき、例えば、単位領域の色が規定できる。光検出装置は、各受光素子121からの出力に基づく演算を行って入射光の波長域を算出する演算回路を備えている。
 図17が示すように、光学デバイス100は、マイクロレンズアレイ130を備えていてもよい。マイクロレンズアレイ130は、フィルタ層110の上方に位置する。マイクロレンズアレイ130は、複数のマイクロレンズ131を備えている。複数のマイクロレンズ131は、各フィルタ領域111R,111G,111Bに対して1つずつ、すなわち、1つのフィルタ領域111の上方に1つのマイクロレンズ131が位置するように配置されている。マイクロレンズ131は、入射光をフィルタ領域111および受光素子121に向けて集光させる。マイクロレンズ131が設けられていることにより、より多くの光が受光素子121に入るため、光の検出の感度が高められる。
 光検出装置は、CCDイメージセンサやCMOSイメージセンサ等のイメージセンサであってもよいし、こうしたイメージセンサに限らず、入射光の分光スペクトルを得るための装置であってもよい。要は、光検出装置は、入射光を分解して検出することにより、入射光の波長域および強度を算出する装置であればよく、その算出結果の用途は限定されない。フィルタ領域111が反射する波長域は、光検出装置の用途や検出対象とする入射光の波長域に応じて設定されていればよく、単位領域に対応するフィルタ領域111の数も限定されない。フィルタ層110は、反射特性の異なる2以上のフィルタ領域111、すなわち、互いに異なる波長域の光を反射する複数のフィルタ領域111を備えていればよい。
 [フィルタ領域の構成]
 以下、フィルタ領域111の詳細な構成を説明する。フィルタ領域111には、第1~第4実施形態およびその変形例の波長選択フィルタが適用される。フィルタ領域111の厚さ方向が、第1方向である。フィルタ領域111の表面側、すなわち、波長選択フィルタの表面側からフィルタ領域111に光が入射する。
 基材11、凹凸構造層21、高屈折率層22、低屈折率層23、埋込層24の材料には、第1~第4実施形態で例示した材料のなかから、検出対象とする入射光の波長域に対して吸収の無い材料が用いられる。
 色素を利用したフィルタが、分子間の相互作用によって幅広い吸収帯を有することに対し、導波モード共鳴現象を利用したフィルタは、材料の屈折率や格子構造の周期等によって定まる狭帯域の波長選択性を有する。したがって、導波モード共鳴現象を利用したフィルタの波長選択性は、色素を利用したフィルタよりも高い。すなわち、透過光に選択対象以外の波長域の光が混ざることが抑えられる。例えば、色素を利用して赤色を透過するフィルタの透過光には、赤色以外の色の波長域の光が少なからず混ざってしまう。これに対し、導波モード共鳴現象を利用したフィルタであれば、赤色光を反射するフィルタ領域111Rの透過光に、赤色の波長域の光が混ざることが好適に抑えられている。
 したがって、導波モード共鳴現象を利用したフィルタ領域111を用いることによって、光学デバイス100における光の選別の精度を高めることが可能であり、その結果、光検出装置による波長検出の精密さが高められる。
 また、構造色を利用した他のフィルタとして、プラズモン共鳴を利用したフィルタが挙げられるが、導波モード共鳴現象を利用したフィルタは、プラズモン共鳴を利用したフィルタよりも透過率が高いため、光学デバイス100の感度が高められる。
 また、導波モード共鳴現象には、フィルタ領域111に対して直交する方向からの光が作用する。そのため、対象のフィルタ領域111に隣接するフィルタ領域111に対向する位置からの斜めの光が上記対象のフィルタ領域111に作用することが抑えられる結果、光検出装置による波長検出の精確さが高められる。
 また、フィルタ領域111の最表面に、低屈折率層23の表面の凹凸が位置する形態であれば、フィルタ領域111の最表面が平坦である形態と比較して、フィルタ領域111の表面反射を抑えることができる。したがって、低屈折率層23の表面から光を入射させることにより、フィルタ領域111に入る光の強度が大きくなり、ひいては、受光素子121に入る光の強度が大きくなる。したがって、光検出装置による検出の精度が高められる。
 フィルタ領域111の反射光および透過光の波長域は、サブ波長格子の周期、格子領域13,15の厚さT1,T2、凹凸構造層21、高屈折率層22、および、低屈折率層23の各層の材料によって調整可能である。このうち、サブ波長格子の周期のみを変えることによって、複数のフィルタ領域111における反射光および透過光の波長域を変える形態であれば、凸部21aの形成時にその周期を変えることによって、複数のフィルタ領域111を同一の製造工程で一括して形成することができる。
 具体的には、フィルタ層110の互いに隣り合うフィルタ領域111において、基材11、第1低屈折率領域12、第1格子領域13、中間領域14、第2格子領域15、第2低屈折率領域16、頂部領域17の各々は連続している。すなわち、互いに隣り合うフィルタ領域111は、共通した1つの基材11と、これらの領域間で相互に連続した凹凸構造層21と、これらの領域間で相互に連続した高屈折率層22と、これらの領域間で相互に連続した低屈折率層23とを有している。
 互いに異なる波長域の光を反射するフィルタ領域111における凹凸構造層21は、例えば、ナノインプリント法を利用して、各フィルタ領域111に対応する部分で凹凸の周期を変えたガラスモールドを用いることによって、同時に形成することができる。また、高屈折率層22および低屈折率層23も、各フィルタ領域111に対応する部分を同時に形成することができる。したがって、複数のフィルタ領域111を備えるフィルタ層110を容易に形成することができる。
 なお、頂部領域17の機能、すなわち、各格子領域13,15で強められた波長域とは異なる波長域の光を打ち消す機能、および、表面反射を抑える機能が重視されない場合には、低屈折率層23の表面は平坦であってもよい。
 図18に、第1実施形態の波長選択フィルタ10に、平坦な表面を有する低屈折率層23が適用された構造を有するフィルタ領域111を例示する。この場合、フィルタ領域111は、頂部領域17、すなわち、低屈折率層23の表面の凹凸部分に対応する領域を有さず、第2低屈折率領域16の表面がフィルタ領域111の最外面となる。低屈折率層23の表面が平坦である場合、低屈折率層23を、各種の塗布法を用いて樹脂材料から形成することで、低屈折率層23を容易に形成することができる。樹脂材料としては、例えば、凹凸構造層21の材料と同一の材料が用いられる。
 例えば、低屈折率層23の形成のための低屈折率材料として紫外線硬化性樹脂を用いる場合、まず、高屈折率層22の表面に紫外線硬化性樹脂を塗工する。次いで、この紫外線硬化性樹脂からなる塗工層の表面に、紫外線を透過する材料で構成された平板を押し当て、塗工層に紫外線を照射する。続いて、硬化した紫外線硬化性樹脂を平板から離型する。これにより、平坦な表面を有する低屈折率層23が形成される。平坦な表面を有する低屈折率層23を樹脂材料から形成する場合、低屈折率層23の厚さは、100nm以上20μm以下であることが好ましい。
 なお、熱可塑性樹脂を用いて凹凸構造層21を形成した場合には、低屈折率層23の形成に際して、凹凸構造層21が加熱されて変形することを抑えるために、熱可塑性樹脂とは異なる材料を用いて低屈折率層23を形成することが好ましい。例えば、凹凸構造層21を熱可塑性樹脂から形成し、低屈折率層23を紫外線硬化性樹脂から形成してもよい。
 フィルタ領域111が頂部領域17を有さない場合、フィルタ領域111は、第2低屈折率領域16に対して基材11の位置する側から光が入射するように、すなわち、第2低屈折率領域16を受光素子121に向けて、配置されてもよい。
 ここで、図18に示した低屈折率層23が平坦な表面を有する形態を対象に、第1格子領域13と第2格子領域15との光学膜厚の比(OT2/OT1)について実施されたシミュレーション結果について説明する。
 図19A,図19B,図19C,図19Dは、厳密結合波解析(Rigorous Coupled-Wave Analysis:RCWA)を用いて計算した、反射シミュレーションスペクトルを示す。なお、以下に記載する各パラメータの値は、小数第4位を四捨五入している。
 シミュレーションにおいて、光の入射方向は、第2低屈折率領域16から基材11に向けた方向であり、入射角度は0°である。また、サブ波長格子の格子次数は1次、P1=P2=300nm、R1=0.537、R2=0.6である。T2=70nmであり、凹凸構造層21の凸部21aの側面に成膜される高屈折率材料の膜厚、すなわち、中間高屈折率部14aの第3方向に沿った幅は、14nmとした。
 なお、P1は、第1格子領域13における格子構造の周期(第1周期)であり、P2は、第2格子領域15における格子構造の周期(第2周期)である。R1は、第1実施形態で示した式(1)で用いた通り、第1格子領域13での第1格子高屈折率部13aの面積比率であり、R2は、第1実施形態で示した式(3)で用いた通り、第2格子領域15での第2格子高屈折率部15aの面積比率である。T1は、第1格子領域13の厚さであり、T2は、第2格子領域15の厚さである。
 図19Aは、T1=T2(OT2/OT1=0.895)の場合、図19Bは、T1=0.8×T2(OT2/OT1=1.119)の場合、図19Cは、T1=0.6×T2(OT2/OT1=1.491)の場合、図19Dは、T1=0.4×T2(OT2/OT1=2.237)の場合のスペクトルである。
 なお、計算に用いた各層の波長420nmにおける屈折率は、基材11が1.683、凹凸構造層21および低屈折率層23が1.504、高屈折率層22が2.620である。消衰係数は各層のすべての材料で0であるため、100-反射率=透過率となる。
 図19A~図19Dから、OT2/OT1の値が1から離れるにつれ、反射ピークが分裂することが確認され、ピーク反射率も減少する傾向を有することが判明した。これにより、OT2/OT1の値が1から離れることによって、波長選択性が低下する傾向があることが確認された。
 図19A~図19Cのスペクトルでは、いずれもピーク反射率は90%以上を示したが、OT2/OT1=2.237である図19Dのスペクトルでは、ピーク反射率は60%より小さい。すなわち、OT2/OT1が2を超えると、波長選択性が顕著に低下することが確認された。
 以上のことから、高い波長選択性を得るためには、OT2/OT1の値は0.5以上2.0以下であることが好ましい。そして、より高い波長選択性を得るためには、OT2/OT1の値は0.625以上1.6以下であることが好ましい。
 OT2/OT1の値が1.0、すなわち、光学膜厚OT1と光学膜厚OT2とが一致すると、第1格子領域13で共鳴を起こす光の波長域と、第2格子領域15で共鳴を起こす光の波長域とが一致し、波長選択性が特に高められる。例えば、第1格子領域13の厚さT1と第2格子領域15の厚さT2とが等しく、凹凸構造層21の屈折率n2と低屈折率層23の屈折率n3とが等しい場合には、第1格子高屈折率部13aの面積比率R1と第2格子高屈折率部15aの面積比率R2とが等しいと、光学膜厚OT1と光学膜厚OT2とが一致するため好ましい。
 図20に、第2実施形態の波長選択フィルタ30に、頂部領域17が設けられない形態が適用された構造を有するフィルタ領域111を例示する。当該フィルタ領域111が備える共鳴構造部31は、第1低屈折率領域12、第1格子領域13、中間領域14、第2格子領域15、および、第2低屈折率領域16からなる構造体である。第1共鳴構造部31Aと第2共鳴構造部31Bとは、これらの境界部分で、低屈折率領域を共有していてもよい。例えば、図20が示す例では、第1共鳴構造部31Aの備える第2低屈折率領域16と、第2共鳴構造部31Bの備える第2低屈折率領域16とは連続しており、これらの領域の境界は存在しない。
 上記フィルタ領域111は、基材11と凹凸構造層21と高屈折率層22とからなる構造体を、高屈折率層22同士が向かい合うように対向させ、2つの構造体の間の領域を低屈折率材料で埋めることによってこれらの構造体を接合することにより形成される。低屈折率材料による埋め込みによって、2つの構造体の間に形成される部分が低屈折率層23である。低屈折率層23の形成方法としては、各種の塗布法等が用いられればよい。
 なお、2つの共鳴構造部31A,31Bは、第2低屈折率領域16同士が向かい合うように配置されることに代えて、第2低屈折率領域16を外側に向けて配置されてもよい。すなわち、2つの上記構造体は、基材11同士が向かい合うように低屈折率材料によって接合されていてもよい。
 また、2つの共鳴構造部31A,31Bは、各共鳴構造部31A,31Bの第2低屈折率領域16が、同一の方向に向くように配置されてもよい。すなわち、2つの上記構造体は、一方の構造体の高屈折率層22と、他方の構造体の基材11とが向かい合うように低屈折率材料によって接合されていてもよい。
 図21に、第3実施形態の波長選択フィルタ40に、頂部領域17が設けられない形態が適用された構造を有するフィルタ領域111を例示する。当該構成においても、フィルタ領域111が備える共鳴構造部31は、第1低屈折率領域12、第1格子領域13、中間領域14、第2格子領域15、および、第2低屈折率領域16からなる構造体である。第1共鳴構造部31Aと第2共鳴構造部31Bとは、これらの境界部分で、低屈折率領域を共有していてもよい。2つの共鳴構造部31A,31Bは、第2低屈折率領域16同士が向かい合うように配置されてもよいし、第2低屈折率領域16を外側に向けて配置されてもよいし、各共鳴構造部31A,31Bの第2低屈折率領域16が、同一の方向に向くように配置されてもよい。
 図22に、第4実施形態の波長選択フィルタ50に、頂部領域17が設けられない形態が適用された構造を有するフィルタ領域111を例示する。当該フィルタ領域111において、サブ波長格子は、二次元格子状の配列を有する。なお、複数の凸部21aは、互いに離間していなくてもよく、例えば、平面視での正方形の角部等において、凸部21a同士が接していてもよい。この場合、凹部21bは、複数の部分に分割され得る。
 上述のように、格子領域13,15にて共鳴を起こす光の偏光方向は、サブ波長格子の配列方向に依存する。特定の方向へ偏光した入射光を対象とする場合には、第1実施形態や第2実施形態のように、サブ波長格子が一次元格子状の配列を有し、フィルタ領域111が備えるすべてのサブ波長格子の配列方向が揃っていることが好ましい。一方、様々な方向への偏光成分を含む入射光を対象とする場合には、第3実施形態のように、フィルタ領域111が、互いに異なる配列方向のサブ波長格子を備えること、あるいは、第4実施形態のように、サブ波長格子が二次元格子状の配列を有することが好ましい。
 以上、第5実施形態によれば、以下に列挙する利点が得られる。
 (14)光学デバイス100が、導波モード共鳴現象を利用したフィルタ領域111を有するフィルタ層110を備えるため、光学デバイス100における光の選別の精度を高めることができる。
 (15)フィルタ領域111が、基材11と、凹凸構造層21と、高屈折率層22と、低屈折率層23とを備える。このように、フィルタ領域111が薄膜の積層構造を有することから、サブ波長格子が低屈折率材料に囲まれた構造が好適に実現され、また、フィルタ領域111の形成が容易である。
 (16)フィルタ領域111が、表面に凹凸を有する低屈折率層23を備え、低屈折率層23の表面が、フィルタ領域111の最表面である。これによれば、表面反射を低減することが可能であるとともに、各格子領域13,15で強められた反射光とは異なる波長域の光が、フィルタ領域111の内部での反射や干渉に起因して当該反射光とともに射出されることを抑えることができる。
 (17)サブ波長格子が一次元格子状の配列を有する形態では、その配列方向に依存した特定の方向へ偏光した光が格子領域13,15から反射される。したがって、フィルタ領域111の有するサブ波長格子の配列方向が揃っていれば、偏光方向の揃った入射光を対象とする場合に好適に用いられ、フィルタ領域111が配列方向の互いに異なるサブ波長格子を含んでいれば、様々な方向への偏光成分を含む入射光を対象とする場合に好適に用いられる。
 (18)サブ波長格子が二次元格子状の配列を有する形態では、配列方向ごとに異なる方向へ偏光している光が格子領域13,15から反射される。したがって、様々な方向への偏光成分を含む入射光を対象とする場合に好適に用いられる。
 (19)フィルタ領域111が、互いに同一の周期および配列方向を有する二層のサブ波長格子からなる格子対を複数備える形態であれば、波長選択性の向上、偏光応答性の調整、反射光および透過光の波長域の調整等が可能である。例えば、サブ波長格子が一次元格子状の配列を有し、複数の格子対に、サブ波長格子の配列方向が互いに異なる複数の格子対が含まれていれば、格子対ごとに異なる方向へ偏光した光が反射光として射出される。したがって、様々な方向への偏光成分を含む入射光を対象とする場合に好適に用いられる。
 (20)フィルタ層110が、赤反射フィルタ領域111Rと、緑反射フィルタ領域111Gと、青反射フィルタ領域111Bとを含む構成であれば、可視領域の入射光を対象とするイメージセンサ等の光検出装置に適した光学デバイス100が実現される。
 (第5実施形態の変形例)
 サブ波長格子が一次元格子状の配列を有する形態では、その配列方向に依存した特定の方向へ偏光した光が格子領域13,15から反射されることを利用すれば、光検出装置によって、入射光の偏光方向を算出することも可能である。すなわち、サブ波長格子の配列方向が異なるフィルタ領域111に対応する受光素子121の出力を比較することで、入射光に含まれる偏光成分を求めることができる。光学デバイス100のフィルタ層110は、互いに異なる波長域の光を反射する複数のフィルタ領域111、および、サブ波長格子の配列方向が互いに異なる複数のフィルタ領域111の少なくとも一方を含んでいればよく、光検出装置は、入射光の波長域と偏光方向との少なくとも一方を検出する装置であればよい。
 (付記)
 上記課題を解決するための手段には、第5実施形態およびその変形例から導き出される技術的思想として以下の項目が含まれる。
 [項目1]
 選択的に光を反射する複数のフィルタ領域を有するフィルタ層と、
 各フィルタ領域に対して1つずつ配置された光電変換素子であって、前記フィルタ領域の透過光を受ける複数の前記光電変換素子を有する受光層と、を備え、
 前記フィルタ領域は、高屈折率材料からなるサブ波長周期の格子構造が低屈折率材料に囲まれた構造を有し、
 前記複数のフィルタ領域は、互いに異なる波長域の光を反射する複数の前記フィルタ領域、および、前記格子構造の配列方向が互いに異なる複数の前記フィルタ領域の少なくとも一方を含む
 光学デバイス。
 [項目2]
 前記フィルタ領域は、
 凸部または凹部である凹凸要素であって、サブ波長周期で並ぶ複数の前記凹凸要素が構成する凹凸構造を表面に有する凹凸構造層と、
 前記凹凸構造上に位置して当該凹凸構造に追従した表面形状を有する高屈折率層であって、前記凹凸構造の底部に位置して第1の前記格子構造を形成する第1格子高屈折率部、および、前記凹凸構造の頂部に位置して第2の前記格子構造を形成する第2格子高屈折率部を含む前記高屈折率層と、を備える
 項目1に記載の光学デバイス。
 [項目3]
 前記フィルタ領域は、
 前記高屈折率層上に位置して当該高屈折率層の表面の凹凸に追従した表面形状を有する低屈折率層を備える
 項目2に記載の光学デバイス。
 [項目4]
 前記格子構造は、一次元格子状の配列を有する
 項目1~3のいずれか一項に記載の光学デバイス。
 [項目5]
 前記格子構造は、二次元格子状の配列を有する
 項目1~3のいずれか一項に記載の光学デバイス。
 [項目6]
 互いに同一の周期および配列方向を有する二層の前記格子構造が格子対であり、
 前記フィルタ領域は、前記フィルタ層の厚さ方向に沿って並ぶ複数の前記格子対を備える
 項目1~3のいずれか一項に記載の光学デバイス。
 [項目7]
 前記格子構造は、一次元格子状の配列を有し、
 前記複数の格子対には、前記格子構造の配列方向が互いに異なる複数の前記格子対が含まれる
 項目6に記載の光学デバイス。
 [項目8]
 前記複数のフィルタ領域は、赤色光を反射する前記フィルタ領域と、緑色光を反射する前記フィルタ領域と、青色光を反射する前記フィルタ領域とを含む
 項目1~7のいずれか一項に記載の光学デバイス。
 以上、本発明を実施するための最良の形態について、添付図面を参照しながら説明したが、本開示の範囲は、図示され記載された実施形態に限定されるものではなく、本発明が目的とするものと均等な効果をもたらす全ての実施形態をも含むことができる。さらに、本開示の範囲は、請求項により画される発明の特徴(feature)に限定されるものではなく、全ての開示されたそれぞれの特徴(feature)、その特徴(feature)のあらゆる組み合わせも含む。
 本開示で用いられる「部分」、「要素」、「画素」、「セル」、「セグメント」「単位」「表示体」、「物品」という用語は、物理的存在である。物理的存在は、物質的形態または、物質に囲まれた空間的形態を指すことができる。物理的存在は、構造体とできる。構造体は、特定の機能を有するものとできる。特定の機能を有した構造体の組合せは、各構造体の各機能の組合せにより相乗的効果を発現できる。
 本開示および特に添付の請求の範囲内で使用される用語(例えば、添付の請求の範囲の本文)は、一般的に、「オープンな」用語として意図される(例えば、「有する」という用語は、「少なくとも有する」と解釈すべきであり、「含む」という用語は「含むがそれに限定されない」などと解釈されるべきである)。
 また、用語、構成、特徴(feature)、側面、実施形態を解釈する場合、必要に応じて図面を参照すべきである。図面により、直接的かつ一義的に導き出せる事項は、テキストと同等に、補正の根拠となるべきである。
 さらに、特定の数の導入された請求項の記載が意図される場合、そのような意図は、請求項に明示的に記載され、そのような記載がない場合、そのような意図は存在しない。例えば、理解を助けるために、以下の添付の請求の範囲は、「少なくとも1つ」および「1つまたは複数」の導入句の使用を含み、請求の列挙を導入することができる。しかしながら、そのような語句の使用は、不定冠詞「a」または「an」によるクレーム記載の導入が、そのようなクレームを含む特定のクレームを、そのような記載を1つだけ含む実施形態に限定することを意味すると解釈されるべきではない。「1つ以上」または「少なくとも1つ」の冒頭の語句および「a」または「an」などの不定冠詞(例えば、「a」および/または「an」)は、少なくとも「少なくとも」を意味すると解釈されるべきである(「1つ」または「1つ以上」)。請求項の記述を導入するために使用される明確な記事の使用についても同様である。

Claims (13)

  1.  凸部または凹部である凹凸要素であって、サブ波長周期で並ぶ複数の前記凹凸要素が構成する凹凸構造を表面に有する凹凸構造層と、
     前記凹凸構造上に位置して当該凹凸構造に追従した表面形状を有する高屈折率層であって、前記凹凸構造の底部に位置してサブ波長格子を構成する第1格子高屈折率部、および、前記凹凸構造の頂部に位置してサブ波長格子を構成する第2格子高屈折率部を含む前記高屈折率層と、
     前記高屈折率層上に位置して当該高屈折率層の表面の凹凸に追従した表面形状を有する低屈折率層と、を備え、
     前記高屈折率層の屈折率は、前記凹凸構造層および前記低屈折率層の各々の屈折率よりも高い
     波長選択フィルタ。
  2.  前記凹凸構造層、前記高屈折率層、および、前記低屈折率層の各々は、可視領域の光に対して透明な材料から構成されており、
     前記凹凸構造層は、紫外線硬化性樹脂、熱硬化性樹脂、および、熱可塑性樹脂のいずれかを含み、
     前記低屈折率層は、無機化合物を含む
     請求項1に記載の波長選択フィルタ。
  3.  前記第1格子高屈折率部の厚さをT1、前記第2格子高屈折率部の厚さをT2、
     前記高屈折率層の屈折率をn1、前記凹凸構造層の屈折率をn2、前記低屈折率層の屈折率をn3、
     前記第1格子高屈折率部を含みその厚さ方向と直交する断面にて当該第1格子高屈折率部が占める面積比率をR1、前記第2格子高屈折率部を含みその厚さ方向と直交する断面にて当該第2格子高屈折率部が占める面積比率をR2、とするとき、
     n1>n2、n1>n3、かつ、R1+R2>1であって、
     T1×{n1×R1+n2×(1-R1)}の値が第1パラメータであり、T2×{n1×R2+n3×(1-R2)}の値が第2パラメータであり、前記第1パラメータに対する前記第2パラメータの比が、0.5以上2.0以下である
     請求項1または2に記載の波長選択フィルタ。
  4.  前記高屈折率層は、前記第1格子高屈折率部と前記第2格子高屈折率部との間で前記凹凸要素の側面に沿って延びる中間高屈折率部を含み、
     前記中間高屈折率部を含みその厚さ方向と直交する断面にて当該中間高屈折率部が占める面積比率をR3とするとき、R3≦R1+R2-1が満たされる
     請求項3に記載の波長選択フィルタ。
  5.  前記凹凸構造層、前記高屈折率層、および、前記低屈折率層を有する部分が共鳴構造部であり、
     前記波長選択フィルタは、前記共鳴構造部の厚さ方向に沿って並ぶ複数の前記共鳴構造部を備える
     請求項1~4のいずれか一項に記載の波長選択フィルタ。
  6.  前記複数の共鳴構造部には、第1共鳴構造部と第2共鳴構造部とが含まれ、前記第1共鳴構造部が有する前記凹凸要素の配列の周期と、前記第2共鳴構造部が有する前記凹凸要素の配列の周期とは、一致している
     請求項5に記載の波長選択フィルタ。
  7.  前記複数の共鳴構造部には、第1共鳴構造部と第2共鳴構造部とが含まれ、前記第1共鳴構造部が有する前記凹凸要素の配列の周期と、前記第2共鳴構造部が有する前記凹凸要素の配列の周期とは、互いに異なる
     請求項5に記載の波長選択フィルタ。
  8.  前記複数の共鳴構造部には、第1共鳴構造部と第2共鳴構造部とが含まれ、前記第1共鳴構造部が有する前記凹凸要素の配列の方向と、前記第2共鳴構造部が有する前記凹凸要素の配列の方向とは、互いに異なる
     請求項5に記載の波長選択フィルタ。
  9.  表示要素を備える表示体であって、
     前記表示要素は、請求項1~8のいずれか一項に記載の波長選択フィルタから構成されている
     表示体。
  10.  請求項1~8のいずれか一項に記載の波長選択フィルタからなる複数のフィルタ領域を有するフィルタ層と、
     各フィルタ領域に対して1つずつ配置された光電変換素子であって、前記フィルタ領域の透過光を受ける複数の前記光電変換素子を有する受光層と、を備え、
     前記複数のフィルタ領域は、互いに異なる波長域の光を反射する複数の前記フィルタ領域、および、前記凹凸要素の配列方向が互いに異なる複数の前記フィルタ領域の少なくとも一方を含む
     光学デバイス。
  11.  サブ波長周期で並ぶ複数の凸部または凹部である凹凸要素を表面に有する凹凸構造層を、第1低屈折率材料を用いて形成することと、
     前記第1低屈折率材料よりも高い屈折率を有する高屈折率材料を用いて、前記凹凸構造層の表面に沿って、当該凹凸構造層が有する凹凸構造の底部に位置してサブ波長格子を構成する第1格子高屈折率部と、前記凹凸構造の頂部に位置してサブ波長格子を構成する第2格子高屈折率部とを含む高屈折率層を形成することと、
     前記高屈折率材料よりも低い屈折率を有する第2低屈折率材料を用いて、前記高屈折率層の表面に沿って、当該高屈折率層の表面の凹凸に追従した表面形状を有する低屈折率層を形成することと、を含む
     波長選択フィルタの製造方法。
  12.  前記凹凸構造層を形成することは、前記第1低屈折率材料である樹脂を含む塗工層に凹版を押し付け、前記樹脂を硬化させた後に前記凹版を離型して前記凹版の有する凹凸を前記樹脂に転写することにより、前記凹凸構造層を形成することを含み、
     前記高屈折率層を形成することは、前記高屈折率層が、前記第1格子高屈折率部と前記第2格子高屈折率部との間で前記凹凸要素の側面に沿って延びる中間高屈折率部を含み、前記高屈折率層の厚さ方向に沿った方向から見て、前記第2格子高屈折率部が前記中間高屈折率部の外側まで広がるように、物理気相成長法を用いて前記高屈折率層を形成することを含み、
     前記低屈折率層を形成することは、物理気相成長法を用いて前記低屈折率層を形成することを含む
     請求項11に記載の波長選択フィルタの製造方法。
  13.  前記凹凸構造層、前記高屈折率層、および、前記低屈折率層を有する構造体が凹凸構造体であり、
     2つの前記凹凸構造体を、前記低屈折率層同士が向かい合うように対向させ、2つの前記凹凸構造体の間の領域を、前記高屈折率材料よりも低い屈折率を有する第3低屈折率材料で埋めることによって、埋込層を形成することをさらに含む
     請求項11または12に記載の波長選択フィルタの製造方法。
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