WO2019216274A1 - 静電容量測定回路及び静電容量変位計 - Google Patents

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WO2019216274A1
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conductor
signal
electrode
amplifier
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慎吾 曽布川
啓太 村▲瀬▼
勇仁 上村
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株式会社エヌエフ回路設計ブロック
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Definitions

  • the present invention relates to a capacitance measuring circuit capable of measuring even a very small capacitance, and a capacitance displacement meter including the capacitance measuring circuit.
  • a displacement meter is used as one of means for measuring the distance between the object and the like.
  • Laser displacement meters, eddy current displacement meters, and electrostatic capacitance displacement meters are commonly used as the main non-contact displacement meters. First, the features of laser displacement meters, eddy current displacement meters, and electrostatic capacitance displacement meters are compared.
  • the laser displacement meter measures the distance to the object by irradiating the object with laser light and receiving the reflected light from the object.
  • various methods such as a triangulation method, a confocal method, a spectral interference method, a two-dimensional triangulation method, and a white interference method are used. Details are omitted here.
  • the object may be an object that can reflect the laser light, for example, an object having a small surface roughness, preferably an object having a mirror surface. It has the problem of being required. In addition, when the object is tilted from a predetermined state, there is a problem that the reflected light cannot be received. Furthermore, the laser displacement meter also has a problem that power consumption is large and expensive.
  • the laser displacement meter has an advantage that a long measurement distance of 1000 mm at maximum can be realized as an example. (See Non-Patent Document 1.)
  • An eddy current displacement meter generates a high frequency magnetic field by flowing a high frequency current of, for example, several MHz through a coil.
  • a high-frequency magnetic field When a high-frequency magnetic field is generated, an eddy current in a direction perpendicular to the passage of magnetic flux flows on the surface of the object due to electromagnetic induction of the object (metal) in the magnetic field. Since the magnitude of the eddy current changes depending on the distance between the coil and the object, the distance is measured by knowing the impedance change of the coil.
  • the eddy current displacement meter has the problem that the object needs to be a metal, and also has the problem that the sensitivity varies depending on the type of metal. In addition, since the magnitude of eddy current varies depending on the surface roughness, there is a problem that the sensitivity varies depending on the surface roughness.
  • the measurable distance of the eddy current displacement meter is a maximum of about 25 mm as an example. (See Non-Patent Document 3.)
  • the electrostatic capacity displacement meter knows the distance between the object and the object based on the capacitance between the object and the object. If the distance to the object is short, the capacitance is large, and if the distance to the object is long, the capacitance is small. Measuring the distance by the capacitance between the object and the object in this way is hereinafter referred to as “distance measurement”. A conventional capacitance displacement meter will be described in detail later.
  • a capacitance displacement meter can not only measure the distance to a grounded conductor, but also detect an object that affects the capacitance to the grounded conductor.
  • it has the great advantage of being able to detect objects that are not conductors. For example, when an object having a dielectric constant greater than that of air enters between the capacitance displacement meter and a grounded conductor, the capacitance increases, so the amount and thickness of the dielectric can be known. .
  • an object such as a human body (which often acts as an imperfectly grounded conductor) enters between the capacitance displacement meter and the grounded conductor, the capacitance decreases. The state of the object can be known.
  • object detection Such a method of detecting an object that affects the capacitance is hereinafter referred to as “object detection”.
  • capacitance displacement meters those that measure distance and those that detect objects, and those that use capacitance, are hereinafter referred to as “capacitance displacement meters”. Furthermore, the capacitance displacement meter has an advantage that it is not affected by the surface roughness of the object.
  • Table 1 summarizes the advantages and disadvantages of laser displacement meters, eddy current displacement meters, and capacitance displacement meters.
  • VG represents very good
  • G represents good
  • A represents average
  • P represents poor.
  • Examples of the capacitance displacement meter according to the prior art include the measurement principle shown in Patent Document 1 (FIG. 1 of Patent Document 1 and paragraphs 0008 to 0018) and the measurement principle of Non-Patent Document 5. .
  • the stray capacitance becomes a measurement error factor in the constant current method, it is extremely difficult to apply to a use in which the measurement capacitance is 1 pF or less as an example.
  • the capacitance between the electrode and the object cannot be separated from the stray capacitance, and the output current of the constant current AC source is shunted to the stray capacitance. (It becomes a factor.)
  • a guard electrode driven to the same potential as the center electrode by a buffer amplifier (the center electrode and the guard electrode are non-patent documents). No. 5) is used together to reduce the influence of the stray capacitance of the center electrode. Furthermore, since the guard electrode can adjust the electric field between the electrode and the object as shown in the measurement principle diagram of Non-Patent Document 5, the linearity of the relationship between the distance and the measurement voltage can also be improved.
  • the input capacitance (usually several pF or more) of the buffer amplifier of Non-Patent Document 5 and the operational amplifier of Patent Document 1 also operates in the same manner as the floating capacitance of the electrode, and this error factor is a guard electrode. Etc. cannot be excluded. Further, such input capacitance varies depending on the ambient temperature, the power supply voltage of the buffer amplifier and the operational amplifier, and the like. For this reason, even when a guard electrode or the like is used in combination, it is extremely difficult to apply to a use that greatly falls below the measurement capacitance of 1 pF. In addition, depending on the circuit configuration, the output capacity of the constant current AC source may also cause a measurement error.
  • the maximum measurement distance of 8 mm in Non-Patent Document 4 is realized by using a large detector (electrode) having a diameter of 40 mm.
  • the capacitance of a parallel plate having a diameter of 40 mm and an electrode distance of 8 mm is about 1.39 pF, which indicates that it is difficult to realize a measurement capacitance of 1 pF or less in a conventional capacitance displacement meter.
  • the first aspect of the present invention is a capacitance measuring circuit for measuring a capacitance formed between a first conductor and a second conductor to which an AC signal is input.
  • the capacitance measurement circuit may comprise an amplifier having an input and an output.
  • the capacitance measuring circuit includes a negative feedback unit that includes a feedback capacitor and applies negative feedback from the amplifier output to the amplifier input, and the amplifier input is connected to the second conductor and virtually grounded by the negative feedback unit, You may provide the signal detection means which outputs the alternating current signal of the amplitude which has a functional relationship with an electrostatic capacitance.
  • the capacitance measuring circuit may include a measuring unit connected to the output of the signal detecting unit and having a function of measuring at least the amplitude of the AC signal output of the signal detecting unit.
  • the signal detection means may further include a DC compensation circuit.
  • the DC compensation circuit includes an integrating circuit having an input connected to the output of the amplifier, and a feedback resistor connected to the output of the integrating circuit and the input of the amplifier, and the DC component and the low frequency component in the output of the amplifier are The amplifier may be dc stabilized by applying negative feedback to the input.
  • the DC compensation circuit may further include at least one low-pass filter.
  • the low pass filter may be placed between the output of the amplifier and the input of the integrating circuit or between at least one of the output of the integrating circuit and the feedback resistor.
  • the negative feedback unit may include a feedback resistor connected in parallel to the feedback capacitor, and an inter-terminal capacitor may be formed between the terminals of the feedback resistor.
  • the negative feedback unit may further include a cancel circuit or an attenuator connected in series with the feedback resistor.
  • the negative feedback unit may further include a first buffer amplifier between the feedback resistor and the cancel circuit or the attenuator.
  • the negative feedback unit may include a discharge switch connected in parallel with the feedback capacitor.
  • a noise removal circuit that is installed between the second conductor and the signal detection means and includes the first resonance circuit, the second resonance circuit, or the first resonance circuit and the second resonance circuit may be further provided.
  • the first resonance circuit may resonate with a frequency component of an AC signal input to the first conductor.
  • the second resonance circuit may resonate at a frequency component to be removed.
  • a shield may be further provided between the second conductor and the signal detection means, in the vicinity of the second conductor, or in at least one place near the first conductor.
  • the shield may be grounded.
  • the capacitance measuring circuit may include a shield installed between the second conductor and the signal detection means, in the vicinity of the second conductor, or in the vicinity of the first conductor.
  • the capacitance measurement circuit may include a second buffer amplifier including an input and an output. The input of the second buffer amplifier may be connected to the input of the signal detection means, the output of the second buffer amplifier may be connected to the shield, and the shield may be driven by the output of the second buffer amplifier.
  • the first conductor, the second conductor, or the first conductor and the second conductor may be configured by a printed circuit board.
  • the capacitance measuring circuit is provided between the first conductor and the second conductor, between the drive signal generating means for generating an AC signal input to the first conductor and the first conductor, and between the second conductor and the signal.
  • An inductor may be further provided between the detection means or between the drive signal generation means and the first conductor and between the second conductor and the signal detection means.
  • the capacitance and the inductor may form a resonance circuit, and the resonance circuit may resonate at the frequency of the AC signal input to the first conductor when the capacitance is a specific value.
  • the signal detection means may include an amplification circuit installed between the output of the amplifier and the measurement means.
  • the amplifier circuit may have an amplification factor in which the absolute value of the amplification factor at the frequency of the AC signal input to the first conductor is greater than one.
  • the feedback capacitance may include an attenuator, a third buffer amplifier, and a capacitive element.
  • the input side of the attenuator may be connected to the output side of the amplifier.
  • the input side of the third buffer amplifier may be connected to the output side of the attenuator.
  • One end of the capacitive element may be connected to the output side of the third buffer amplifier, and the other end of the capacitive element may be connected to the input side of the amplifier.
  • the signal detection means may operate so that the feedback capacitance is equivalent to the product of the capacitance of the capacitive element, the attenuation factor of the attenuator, and the gain of the third buffer amplifier.
  • the feedback capacitor may include an attenuator including a first resistor and a second resistor, and a capacitive element.
  • the input side of the attenuator may be connected to the output side of the amplifier, one end of the capacitive element may be connected to the output side of the attenuator, and the other end of the capacitive element may be connected to the input side of the amplifier.
  • the feedback capacitance is equivalent to the product of the capacitance of the capacitive element and the attenuation factor of the attenuator.
  • the signal detection means may operate so as to have the same capacity.
  • the amplifier may be composed of discrete elements.
  • the capacitance measuring circuit may include a reference capacitor connected in parallel to the first conductor and the second conductor.
  • the capacitance measuring circuit is disposed between the drive signal generating means for generating an AC signal input to the first conductor and the first conductor and the reference capacitor, and the drive signal generating means is connected to the first conductor or the first conductor.
  • a switch that is switchably connected to the reference capacitor may be provided.
  • Measurement means may include a filter on the input side.
  • the filter may attenuate frequency components other than the frequency to be measured by the measuring means.
  • the measuring means may comprise phase detection means.
  • the phase detection means may suppress the influence of frequency components other than the frequency to be measured by the measurement means.
  • the capacitance measuring circuit may include a plurality of drive signal generating means for outputting AC signals having different frequencies and generating AC signals input to the first conductor.
  • the first conductor may include a plurality of first conductors, and the plurality of first conductors may be connected one-to-one to a plurality of drive signal generating units corresponding to AC signals having different frequencies.
  • There may be one second conductor.
  • the signal detection unit or the measurement unit may measure a capacitance between each first conductor and the second conductor by separating a plurality of frequencies.
  • the second conductor may include a plurality of second conductors, and may be connected to signal detection means and measurement means that correspond one-to-one to the plurality of second conductors.
  • the signal detection unit or the measurement unit may measure the capacitance between one first conductor and a plurality of second conductors.
  • a switching means for switching the connection between two of the drive signal generating means for generating an AC signal input to the first conductor, the first conductor, the second conductor, the signal detecting means, and the measuring means. It's okay.
  • the first conductor may have two first conductors to which two AC signals whose phases are different from each other by 90 ° are input. There may be one second conductor.
  • the measurement unit may measure the capacitance between one second conductor and each first conductor by separating two AC signals by phase difference.
  • the first conductor may have two first conductors to which two AC signals whose phases are different from each other by 180 ° are input. There may be one second conductor. You may measure the position of a 2nd conductor based on the position where the output of the signal detection means to which the 2nd conductor is connected becomes the minimum, and each voltage in two 1st conductors.
  • the first conductor and the second conductor may form a first capacitance.
  • the first capacitance may be connected to the input of the signal detection means.
  • the measurement means may include a first phase detection means and an averaging means for converting the output of the first phase detection means into a direct current, and may output a direct current voltage.
  • the capacitance measurement circuit may further include a second capacitance and a second phase detection unit.
  • the DC voltage may be connected to the input of the signal detection means via the second phase detection means and the second capacitance. Either the first capacitance or the second capacitance may form a capacitance.
  • the DC voltage may be proportional to the first capacitance and inversely proportional to the second capacitance.
  • the AC signal input to the first conductor may be generated by a digital direct synthesis synthesizer.
  • the digital direct synthesis synthesizer may include a lookup table, and the lookup table may obtain signals having different phases.
  • the AC signal input to the first conductor may be generated by a digital direct synthesis synthesizer.
  • the digital direct synthesis synthesizer may obtain signals having a phase difference of 90 ° by a logical operation of the upper 2 bits of the output.
  • the measurement means may further include one or more comparison determination means and a threshold setting means corresponding to the comparison determination means. You may determine the result measured or calculated with the measurement means.
  • the measuring unit may further include a communication unit, and the measurement result measured by the measuring unit may be transmitted via the communication unit.
  • the measuring unit may further include a communication unit, and both or one of the result and the result determination result may be transmitted via the communication unit.
  • An approach or separation of an object that affects the capacitance may be detected by the capacitance.
  • At least a part of a circuit constituted by drive signal generating means for generating an AC signal input to the first conductor, the first conductor, the second conductor, the signal detecting means, and the measuring means is mounted on the integrated circuit. It's okay.
  • An AC signal is generated between the drive signal generating means for generating an AC signal input to the first conductor and the first conductor, between the second conductor and the signal detecting means, or input to the first conductor.
  • the drive signal generating means and the first conductor and the second conductor and the signal detecting means may be detachable.
  • the second aspect of the present invention is a capacitance displacement meter.
  • the capacitance displacement meter may include the capacitance measurement circuit described above.
  • the first conductor or the second conductor may be an object to be measured.
  • the first conductor and the second conductor may be different objects.
  • the measuring means may measure the distance between the first conductor and the second conductor.
  • the measuring means may obtain the relationship between the capacitance and the distance by approximating the relationship between the capacitance and the distance with a curve function and performing correction based on the curve function.
  • One or more of the first conductor and the second conductor may be movable.
  • the third aspect of the present invention is a capacitance displacement meter.
  • the capacitance displacement meter may include the capacitance measurement circuit described above.
  • the measuring means may detect the state of the object that affects the capacitance between the first conductor and the second conductor.
  • the capacitance displacement meter approximates the relationship between the capacitance and the state of the object that affects the capacitance with a curve function, and corrects it based on the curve function, thereby correcting the relationship between the capacitance and the state of the object. You may get
  • Any one or more of the first conductor, the second conductor, and the object affecting the capacitance may be movable.
  • capacitance measuring circuit According to the capacitance measurement circuit disclosed in the specification, drawings, or specification and drawings of the present application (hereinafter referred to as “present disclosure”), one or more of the following effects can be obtained.
  • capacitance measuring circuit of the present disclosure is hereinafter referred to as “capacitance measuring circuit”.
  • the “drive electrode” is an example of the first conductor.
  • the “detection electrode” is an example of a second conductor.
  • the drive electrode and the detection electrode of the capacitance measurement circuit of the present disclosure may have any shape and size as long as they are conductors, and the degree of freedom in electrode selection is high.
  • neither the drive electrode is affected by the stray capacitance, and the output capacitance of the drive signal generating means itself that generates an AC signal input to the drive electrode does not affect the measurement.
  • the drive signal generating means is a constant voltage output, it is not affected by stray capacitance or output capacitance. Even if it is not a constant voltage output, there is no effect if there is a means for knowing the amplitude of the AC signal at the drive electrode.
  • the capacitance measuring circuit can measure a much smaller capacitance than the capacitance displacement meter according to the prior art. As an example, a capacitance of 1 fF (0.001 pF) or less can be measured.
  • the capacitance measurement circuit further includes various methods for eliminating the influence of hum and ambient noise, it is easy to increase the sensitivity by using a large electrode.
  • the capacitance displacement meter according to the prior art has the feature that it can detect an object without being restricted by the object and the feature that it is not affected by the surface roughness of the object. A capacitance displacement meter can also enjoy this feature.
  • the conventional capacitance displacement meter has a short maximum measurement distance, so the electrode and the grounded object must be close to each other, and only small objects can be detected.
  • the distance between the drive electrode and the detection electrode can be increased, that is, a much larger measurement distance can be realized, so that object detection of a large object can be realized.
  • the height of a 2 liter PET bottle is a little over 300 mm, and the inner volume of each PET bottle can be detected even when a plurality of the PET bottles are packaged, which is particularly effective in final shipping inspection.
  • Such an inspection could not be realized by any of a laser displacement meter, an eddy current displacement meter, and a conventional capacitance displacement meter.
  • the example of the capacitance measurement of 1 fF (0.001 pF) or less and the example of the measurement distance of 1000 mm or more of the present disclosure are only examples confirmed at the time of filing, and are not limited to these.
  • the capacitance displacement meter When performing distance measurement and object detection at multiple points using a capacitance displacement meter according to the prior art, it is necessary to use as many electrodes and circuits as the number of multiple points.
  • the capacitance displacement meter according to the present disclosure also has an effect that a part of electrodes and circuits can be simplified by a plurality of frequencies, a phase difference in units of 90 °, and heterodyne detection means and switching.
  • the “drive electrode” is an example of a first conductor.
  • the “detection electrode” is an example of a second conductor.
  • the “driving signal generation means” is an example of an AC signal generation means that is input to the first conductor.
  • the first embodiment shows a basic configuration of a capacitance measuring circuit.
  • This capacity measurement circuit is an example of the capacity measurement circuit of the present disclosure.
  • FIG. 1 shows an example of a capacitance measuring circuit according to the first embodiment.
  • the first embodiment will be described in detail.
  • the drive signal generating means 201 generates an AC signal and applies this AC signal to the drive electrode 301.
  • the drive signal generator 201 is, for example, a signal generator.
  • the drive electrode 301 is connected to the output of the drive signal generator 201.
  • the detection electrode 401 forms an interelectrode capacitance Cx with the drive electrode 301.
  • the signal detection unit 501 is a signal detection circuit, for example, and includes an amplifier U having an input and an output, and a negative feedback unit 701 that includes a feedback capacitor Cf and applies negative feedback to the input from the output of the amplifier U.
  • the input of the amplifier U is virtually grounded by the operation of the amplifier U, and the detection electrode 401 is connected to the input of the amplifier U serving as a virtual ground point.
  • the signal detection unit 501 outputs an AC signal having an amplitude indicating the interelectrode capacitance Cx between the drive electrode 301 and the detection electrode 401.
  • the amplitude of the AC signal output from the signal detection unit 501 has a functional relationship with the capacitance between the drive electrode 301 and the detection electrode 401.
  • the measuring unit 601 is an AC voltage measuring circuit, for example, and is connected to the output of the signal detecting unit 501.
  • the measuring unit 601 measures the amplitude of the AC signal output from the signal detecting unit 501 and obtains information such as the interelectrode capacitance Cx between the drive electrode 301 and the detecting electrode 401.
  • interelectrode capacitance Cx refers to the capacitance itself generated between the drive electrode and the detection electrode, and also refers to the capacitance value, and is used without distinction of expression. Similarly, for other capacitors, resistors, voltages, etc., the substance and its value are used without distinction of expression.
  • the distance between the drive electrode 301 and the detection electrode 401 is abbreviated as an interelectrode distance.
  • an output signal having an amplitude substantially proportional to the interelectrode capacitance Cx is obtained from the signal detecting means 501.
  • the amplifier U included in the signal detection means 501 is an ideal amplifier and the interelectrode capacitance Cx and the feedback capacitance Cf are ideal elements, the interelectrode capacitance Cx and the amplitude of the output signal of the signal detection means 501 are perfectly proportional.
  • the drive electrode 301 and the detection electrode 401 are parallel plates, the interelectrode capacitance Cx and the interelectrode distance are the regions where the end effect is small (the dimension of the parallel plate electrodes is the distance between the parallel plate electrodes).
  • the measuring unit 601 obtains the interelectrode capacitance Cx based on the amplitude of the output signal of the signal detection unit 501, and obtains information such as the state of the object that affects the interelectrode distance and the interelectrode capacitance Cx based on the obtained capacitance. .
  • Some or all of the components of the capacitance measuring circuit 101 may be mounted on an IC (Integrated Circuit). Details of mounting on an IC will be described in the twentieth embodiment.
  • the AC signal generated by the drive signal generating means 201 is hereinafter abbreviated as “drive signal”.
  • the amplitude of the drive signal at the drive electrode 301 is hereinafter abbreviated as “drive signal amplitude”.
  • the frequency, waveform, and the like of the AC signal generated by the drive signal generating unit 201 are abbreviated as “drive signal frequency”, “drive signal waveform”, and the like.
  • the drive signal frequency can be arbitrarily selected, but the frequency band of the signal detection means 501, the frequency of ambient noise, the frequency characteristic of the dielectric constant of the object, the shape of the drive electrode 301 that hardly emits an AC signal as an electromagnetic wave, and the like are taken into consideration. It is preferable to select them. As an example, when the object has a frequency characteristic in which the dielectric constant of the object is not flat when performing object detection, high sensitivity can be obtained by selecting a frequency with a high dielectric constant.
  • the 90 ° phase difference will be described in the fifteenth embodiment.
  • the 180 ° phase difference will be described in the sixteenth embodiment.
  • Generation of a drive signal having a phase difference will be described in an eighteenth embodiment.
  • the drive signal amplitude can be measured with higher sensitivity as the amplitude is larger, but the drive signal is more likely to be emitted as an electromagnetic wave as the amplitude is larger, and the risk of electric shock is more likely to occur as the amplitude is larger. It is preferable to select in consideration of these.
  • the drive signal waveform can be arbitrarily selected.
  • Preferred examples other than the sine wave include a square wave, a trapezoidal wave, a square wave with a limited frequency band, and a waveform in which a plurality of frequency components are superimposed (hereinafter referred to as “frequency superimposed waveform”).
  • the square wave has a large effective value with respect to the peak voltage and is easy to generate.
  • a trapezoidal wave or a square wave with a limited frequency band is less affected by a transient state than a square wave.
  • the specific AC signal generation method of the drive signal generation means 201 can be arbitrarily selected, and various oscillation circuits can be considered as an example. If necessary, the frequency can be stabilized by using a PLL (phase lock loop). It is also possible to Furthermore, using a DDS (Direct Digital Synthesizer), it is easy to generate an accurate frequency and generate multiple superimposed signals with arbitrary waveforms and multiple alternating signals with phase differences. preferable. In addition, when a plurality of DDSs using the same clock are used, it is possible to obtain a drive signal having a plurality of frequencies such that no relative error occurs between a plurality of drive signal frequencies.
  • PLL phase lock loop
  • DDS Direct Digital Synthesizer
  • the output impedance of the drive signal is also arbitrary. If the output impedance is a constant voltage output that is sufficiently smaller than the impedance of the interelectrode capacitance Cx at the drive signal frequency, the output amplitude of the drive signal generating means 201 becomes the drive signal amplitude as it is. When the output impedance is higher, it is possible to know the accurate drive signal amplitude by providing means for measuring or calculating the drive signal amplitude in the drive electrode 301.
  • the output of the drive signal generating means 201 can be a transformer coupling or a capacitive coupling not shown.
  • the drive signal generating means 201 having a small amplitude can be boosted to a large amplitude, or the output impedance of a drive signal having a high output impedance can be lowered and used as a constant voltage in practice.
  • the output voltage of the drive signal generating means 201 has a direct current component, there is a risk of electric shock, etc., the direct current component can be removed by capacitive coupling.
  • the drive electrode 301 and the detection electrode 401 are made of a conductor. There is no need to use one of the dedicated electrodes with a special structure as in the prior art capacitive displacement meter.
  • the interelectrode capacitance Cx is increased, and highly sensitive capacitance measurement is possible. Therefore, it is desirable to increase the area as much as possible.
  • circular electrodes having the same area are illustrated, but the areas and shapes of the drive electrode 301 and the detection electrode 401 may be different as necessary.
  • the shapes of the drive electrode 301 and the detection electrode 401 are arbitrary, and examples of the shape include a circle, a rectangle, a rounded rectangle, and a polygon.
  • the interelectrode capacitance Cx may be different between the case where the flat opposing surfaces are parallel and the centers coincide with each other, and the other cases.
  • the influence on the interelectrode capacitance Cx due to the positional relationship between the drive electrode 301 and the detection electrode 401 can be reduced.
  • the surface state of the drive electrode 301 and the detection electrode 401 is also arbitrary.
  • the capacitance displacement meter using the capacitance measuring circuit 101 has a feature that it is not affected by the surface roughness of the electrode.
  • the drive electrode 301 and the detection electrode 401 may be composed of only a conductor, or may be subjected to a surface treatment such as plating or painting.
  • the output of the drive signal generation unit 201 is directly connected to the inverting input of the amplifier U of the signal detection unit 501. Will be.
  • the output impedance of the drive signal generator 201 is low, the input allowable voltage of the amplifier U of the signal detector 501 may be exceeded, which may cause a failure of the amplifier U.
  • a protection element (not shown) or an appropriate protection circuit may be added to the input of the amplifier U of the signal detection means 501.
  • an element for example, a resistor or a capacitor whose impedance at the drive signal frequency is sufficiently smaller than the impedance of the interelectrode capacitance Cx and sufficiently large enough to protect the input of the amplifier U May be used.
  • the interelectrode capacitance Cx can be increased and measurement with higher sensitivity can be performed.
  • the total thickness of the dielectrics needs to be less than or equal to the minimum distance that the drive electrode 301 and the detection electrode 401 can take.
  • the total thickness of the dielectric can be made larger than the minimum distance between the drive electrode 301 and the detection electrode 401 to provide an impact absorption effect.
  • object detection the same applies as described above between the electrode and the object.
  • the drive signal generating means 201 and the drive electrode 301, or the detection electrode 401 and the signal detection means 501 may be detachable by means such as a connector so that they can be easily removed when not in use.
  • the detection electrode 401 is affected by picking up ambient noise, it is possible to provide a shield on the opposite side of the detection electrode 401 from the drive electrode 301. Since the capacitance measuring circuit 101 is hardly affected by the stray capacitance between the detection electrode 401 and the ground, the capacitance between the detection electrode 401 and the shield hardly affects the measurement result.
  • the shield and the like will be described in more detail in a sixth embodiment described later.
  • the signal detection means 501 is composed of an amplifier U and a feedback capacitor Cf.
  • the “amplifier” may be an operational amplifier, for example, an amplifier for realizing an amplification function by adding an external component such as an operational amplifier IC.
  • the “amplifier circuit” refers to a circuit having an amplification function as a whole circuit by adding an external component to the amplifier.
  • the detection electrode 401 and one end of the feedback capacitor Cf are connected to the inverting input of the amplifier U, and the other end of the feedback capacitor Cf is connected to the output of the amplifier U.
  • the non-inverting input of the amplifier U is grounded.
  • the expression that the non-inverting input of the amplifier U is grounded indicates that the non-inverting input of the amplifier U is grounded in an AC manner, and the non-inverting input may have a DC voltage.
  • a DC voltage that is half the power supply voltage may be applied to the non-inverting input, for example.
  • the amplifier U is operated by a positive and negative power supply (not shown), and the non-inverting input of the amplifier U is directly connected to the reference potential. Yes.
  • the drive signal amplitude is Vin
  • the drive signal frequency is f
  • the output amplitude of the signal detection means 501 is Vout.
  • the impedance of the interelectrode capacitance Cx is 1 / (2 ⁇ ⁇ f ⁇ Cx)
  • the impedance of the feedback capacitance Cf is 1 / (2 ⁇ ⁇ f ⁇ Cf)
  • the amplifier U constitutes an inverting amplifier. From the input / output relationship when the amplifier U is an inverting amplifier, the input / output relationship when the amplifier U is an ideal amplifier is expressed by Equation 1.
  • the interelectrode capacitance Cx can be known from the output amplitude Vout of the signal detection means 501.
  • the interelectrode capacitance Cx is 1 pF if the output amplitude Vout of the signal detection means 501 is 1 Vrms, and the interelectrode capacitance Cx if the output amplitude Vout of the signal detection means is 0.1 Vrms. Is 0.1 pF, the interelectrode capacitance Cx can be known from the output amplitude Vout of the signal detection means.
  • the output amplitude Vout of the signal detection means 501 is proportional to the interelectrode capacitance Cx and inversely proportional to the feedback capacitance Cf.
  • a slight error occurs in this proportional / inverse proportional relationship, but it can be said that the output amplitude Vout and the interelectrode capacitance Cx are in a “functional relationship”. If this functional relationship can be known by calibration or the like, the interelectrode capacitance Cx can be more accurately known by correction. In the following, the discussion on accuracy will be omitted in principle, and the description will be made on the assumption that Equation 1 holds.
  • the inverting input of the amplifier U connected to the detection electrode 401 operates so as to have the same potential as the non-inverting input, a so-called virtual ground is obtained, so that the detection electrode 401 is kept at the ground potential. For this reason, the stray capacitance between the detection electrode 401 and the ground is not applied with a voltage such as a drive signal frequency or becomes a constant DC voltage, and therefore the influence of the stray capacitance is suppressed in the capacitance measuring circuit 101.
  • the open loop gain at the drive signal frequency is Av
  • the effect of stray capacitance can be reduced to 1 / Av.
  • the stray capacitance appears to be 1 / Av capacity of the actual capacitance.
  • the necessary stray capacitance can be reduced by appropriately selecting the drive signal frequency in consideration of the band of the amplifier U. If the amplifier U having a large open loop gain Av at the drive signal frequency can be used, the influence of stray capacitance can be reduced more effectively.
  • a low impedance voltage output is illustrated as an output of the signal detection means 501, but a high impedance current output or an output having an appropriate impedance may be used as necessary.
  • the measurement unit 601 is configured to know at least the output amplitude Vout of the signal detection unit 501.
  • the measuring means 601 may be, for example, a digital multimeter or an AC voltmeter having an AC voltage measuring function. This digital multimeter or AC voltmeter is connected to the output of the signal detection means 501 so that the measurement means 601 can know the output amplitude Vout of the signal detection means 501.
  • the measurement unit 601 may include an AC voltage measurement unit, and may convert the output of the signal detection unit 501 into a direct current so that the output amplitude Vout of the signal detection unit 501 is known from the DC voltage.
  • Examples of AC voltage measuring means include the following.
  • the output of the signal detection unit 501 is rectified, averaged, and converted to direct current (average value detection). (If the forward voltage (V F ) of the diode used as the rectifying means becomes a non-negligible error factor, a conventional ideal diode circuit can be used.) -Converts to direct current by RMS detection element or circuit such as thermal conversion method (RMS detection). • RMS value is converted by an analog arithmetic circuit and converted to DC (effective value detection).
  • a / D converter analog / digital converter
  • a low-pass filter or a band-pass filter can be inserted between the output of the signal detection unit 501 and the A / D converter as necessary.
  • the measuring unit 601 includes an output unit, and various measurement results such as the output amplitude Vout of the signal detection unit 501, the interelectrode capacitance Cx, the interelectrode distance and the state of the object, and information such as the results of the determination are appropriately input. Output.
  • the output means includes, but is not limited to, various types of information display, printing (including value printing and graph output), an alarm in the case of an abnormality or the like known by determination, contact output, and the like.
  • the measuring unit 601 may include a communication unit, and the communication unit may transmit the information to a necessary place. Details of such measuring means will also be described in a nineteenth embodiment to be described later.
  • the following improvements and modifications can be considered as an example. The details will be described in each embodiment.
  • measurement with higher sensitivity is performed by a circuit in which the feedback capacitance Cf is equivalently smaller.
  • a more sensitive measurement is performed by adding an amplifier circuit to the output of the signal detection means 501.
  • -A filter that attenuates frequency components other than the drive signal frequency is added between the signal detection unit 501 and the influence of noise and the like is reduced.
  • the influence of noise and the like is reduced by an AC voltage measuring method (phase detection means as an example) that is not easily affected by other than the drive signal frequency.
  • the capacitance measuring circuit 101 can know the interelectrode capacitance Cx from the output amplitude Vout of the signal detection means 501.
  • the interelectrode distance and the interelectrode capacitance Cx are in an inversely proportional relationship, so that the interelectrode distance can be known by knowing the interelectrode capacitance Cx.
  • the distance between the electrodes can be known from the interelectrode capacitance Cx if the relationship between the distance between the electrodes and the capacitance between the electrodes Cx is known in advance. Also in this case, since the interelectrode distance and the interelectrode capacitance Cx have a certain functional relationship, the interelectrode distance can be known by knowing the interelectrode capacitance Cx.
  • the capacitance measurement circuit 101 is applied so that one or both of the drive electrode 301 and the detection electrode 401 are the measurement object, the distance between the electrode and the measurement object or between the measurement objects can be measured. Capacitance displacement meter can be realized. In the case of distance measurement, it is necessary that the measurement object to be the drive electrode 301 or the detection electrode 401 is a conductor. However, if an electrode is attached to a non-conductive object, distance measurement can be performed.
  • the capacitance measuring circuit 101 it is possible to detect an object related to an object that affects the interelectrode capacitance Cx, and the object in this case may not be a conductor. For example, when an object having a dielectric constant larger than that of air enters between the drive electrode 301 and the detection electrode 401, the interelectrode capacitance Cx increases, so that the amount and thickness of the dielectric can be known depending on the degree of the increase. .
  • the interelectrode capacitance Cx When an electrically floating (insulated) conductor (such a conductor is hereinafter referred to as a “floating conductor”) enters between the drive electrode 301 and the detection electrode 401, the interelectrode capacitance Cx is Since it increases, the size and thickness of the floating conductor can be known according to the degree of the increase. On the other hand, when an object such as a grounded conductor enters or approaches between the drive electrode 301 and the detection electrode 401, the electric lines of force between the drive electrode 301 and the detection electrode 401 are blocked. Decrease. Therefore, the state of the object can be known from the degree of change of the interelectrode capacitance Cx, and the capacitance displacement meter capable of detecting the object can be realized by the capacitance measuring circuit 101.
  • the classification of dielectric, floating conductor, and grounded conductor is an example, and such classification may not be uniquely applicable.
  • a human body has a large impedance for a conductor, but often acts like a grounded conductor in object detection.
  • the impedance of the grounding part for example, shoes
  • the drive electrode 301 and the detection electrode 401 are sufficiently large with respect to the human body, there is a possibility of acting like a floating conductor.
  • the human body since most of the human body is water and water is a dielectric, it may behave as a dielectric.
  • the capacitance measuring circuit 101 is applied to a capacitance displacement meter, a minute capacitance of, for example, 1 fF (0.001 pF) or less can be measured without being affected by stray capacitance in the detection electrode or the like. For this reason, the capacitance displacement meter using the capacitance measuring circuit 101 can realize the measurement of the distance between electrodes of, for example, 1000 mm or more.
  • the capacitance displacement meter using the capacitance measuring circuit 101 has both the effect of measuring a large distance and the advantage of the capacitance displacement meter that the object to be measured need not be a conductor in object detection. Yes. For this reason, the object detection of the big object which was not able to be detected with the conventional capacitance displacement meter is realizable.
  • the signal detection means of the first embodiment when a DC component is present at the input, the DC component is amplified by the open loop gain at the DC of the amplifier U being used. That is, due to a DC offset voltage, bias current, noise, etc., there is a possibility that the DC component of the output of the signal detection means becomes unstable or the output is saturated.
  • the second embodiment shows an example of suppressing indefinite DC component and saturation of output of the signal detection means.
  • FIG. 2 shows an example of a capacitance measuring circuit according to the second embodiment.
  • the same parts as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals. Description of the same parts as those in the first embodiment is omitted.
  • the capacitance measuring circuit 102 includes a signal detection unit 502 instead of the signal detection unit 501.
  • the signal detection unit 502 includes the amplifier U described above and a negative feedback unit 702.
  • the negative feedback unit 702 includes the above-described feedback capacitor Cf, and includes a discharge switch Sf connected in parallel to the feedback capacitor Cf. When the discharge switch Sf is turned on, the feedback capacitor Cf is discharged and the voltage between the terminals of the negative feedback unit 702 becomes zero. As a result, the output of the amplifier U included in the signal detection means 502 has the same potential as the inverting input.
  • the amplifier U since the amplifier U operates so that the inverting input and the non-inverting input have the same potential, the output of the amplifier U has the same potential as the reference potential to which the non-inverting input is connected.
  • the input DC component is suppressed from being amplified by the open loop gain at the DC of the amplifier U. That is, the DC component of the output of the signal detector 502 is prevented from becoming unstable or the output is saturated due to the DC offset voltage, bias current, noise, and the like.
  • timing for temporarily turning on the discharge switch Sf when the DC component of the output of the amplifier U exceeds a predetermined value, when the sum of the peak of the AC component and the DC component approaches the output saturation voltage of the amplifier U, For example, when the signal detection unit 502 is turned on (at power-on reset), there is a fixed timing or an arbitrary timing at which the output of the amplifier U is not saturated.
  • the discharge switch Sf is, for example, a semiconductor switch, a semiconductor relay, or a mechanical relay. Since the capacitance between terminals of a semiconductor switch, a semiconductor relay, or a mechanical relay is generally several pF or more, when the feedback capacitance Cf is not affected by the capacitance between terminals (for example, the feedback capacitance Cf is 10 pF or more). If available).
  • a high-frequency relay as a kind of mechanical relay.
  • the inter-terminal capacity is reduced by a special contact structure such as grounding the contact when it is off, and the isolation performance is greatly improved. If such a high frequency relay is used, there is a possibility that a feedback capacitance Cf having a smaller capacitance (1 pF as an example) can be employed.
  • the third embodiment shows another example of suppressing the DC component indefiniteness and output saturation of the output of the signal detection means.
  • 3A to 3C show examples of the capacitance measuring circuit, frequency characteristics, and output noise characteristics according to the third embodiment
  • FIGS. 4A to 4D show the capacitance measuring circuits according to the third embodiment.
  • This is a modification of the signal detection means.
  • the same parts as those in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals. The description of the same part as that of either the first embodiment or the second embodiment is omitted.
  • the capacitance measuring circuit 103 includes a signal detection unit 503 instead of the signal detection units 501 and 502.
  • the signal detection unit 503 includes the amplifier U described above and a negative feedback unit 703.
  • the negative feedback unit 703 includes the feedback capacitor Cf described above, and includes a feedback resistor Rf connected in parallel to the feedback capacitor Cf.
  • the feedback resistor Rf is an example of a first feedback resistor and is a resistor for discharging.
  • the impedance of the feedback resistor Rf is lower than the impedance of the feedback capacitor Cf, so the gain of the amplifier U is lowered. (See FIG. 3B. Note that the frequency corresponding to the time constant of the feedback capacitor Cf and the feedback resistor Rf is 1 / (2 ⁇ ⁇ Cf ⁇ Rf).) As a result, the DC component of the output of the signal detection means 503 is indefinite and Output saturation is suppressed.
  • the impedance of the feedback capacitor Cf is lower than the impedance of the feedback resistor Rf at a frequency higher than the frequency corresponding to the time constant of the feedback capacitor Cf and the feedback resistor Rf, the influence of the feedback resistor Rf decreases as the frequency increases. Then, it approaches Equation 1. That is, the frequency corresponding to the time constant formed by the feedback capacitor Cf and the feedback resistor Rf is preferably a frequency sufficiently lower than the drive signal frequency, for example, about 1/10.
  • the feedback resistor Rf generally has a large resistance value, for example, a resistance value of 100 M ⁇ . This is because the frequency corresponding to the time constant by the feedback capacitor Cf and the feedback resistor Rf is made lower than the drive signal frequency. Also, the larger the feedback resistance Rf, the smaller the noise of the signal detection means 503 caused by the feedback resistance Rf. The reason for this will be described with reference to FIG. 3C.
  • the thermal noise caused by the feedback resistor Rf appearing in the signal detection means 503 is greater than or equal to the frequency corresponding to the time constant of the feedback capacitor Cf and the feedback resistor Rf. Decreases in proportion to frequency. As an example, when a feedback resistor Rf ′ having a resistance value 100 times larger is used, the frequency corresponding to this time constant becomes 1/100. On the other hand, when the feedback resistor Rf is increased, the thermal noise generated in the feedback resistor Rf increases. As an example, when a feedback resistor Rf ′ having a resistance value 100 times larger is used, the thermal noise becomes ⁇ 100 times (10 times).
  • the thermal noise at the drive signal frequency is reduced to 1/10. That is, the larger the feedback resistance Rf, the smaller the noise of the signal detection means 503 caused by the feedback resistance Rf.
  • the gain of the amplifier U continuously decreases at a frequency lower than the frequency corresponding to the time constant of the feedback capacitor Cf and the feedback resistor Rf, so that the DC component of the output of the signal detection unit 503 is indefinite. And output saturation are suppressed, and it is possible to continuously measure the capacity.
  • the signal detection means 503 may further include a discharge switch Sf shown in FIG.
  • the discharge switch Sf when the signal detection unit 503 is turned on, the discharge switch Sf is turned on to discharge the feedback capacitor Cf, and after the discharge switch Sf is turned off, the signal detection unit 503 is stabilized in a DC manner by the effect of the feedback resistor Rf. be able to.
  • the actual resistance element used as the feedback resistor Rf has a terminal-to-terminal capacitor Cf ′ and is connected in parallel to the feedback resistor Rf and the feedback capacitor Cf.
  • the capacitance between the terminals of the chip resistor is about 0.1 pF, the capacitance can be used when the feedback capacitance Cf is not affected by this (for example, when the feedback capacitance Cf is 1 pF or more).
  • the inter-terminal capacitance Cf ′ of the actual resistance element has a lower Q value (quality factor) than that of the actual capacitance element, the variation in capacitance is large, and the capacitance value is not guaranteed. There is a possibility.
  • the signal detection means 503 may be, for example, the signal detection means 503-1, 503-2, 503-3, 503-4 shown in any of FIGS. 4A to 4D.
  • 4A to 4D show examples of signal detection means to which a circuit for canceling the influence of the inter-terminal capacitance of the feedback resistor Rf and improving the degree of freedom in selecting the feedback capacitance Cf is added.
  • the negative feedback unit 703-1 of the signal detection unit 503-1 illustrated in FIG. 4A includes a buffer amplifier B connected in series to the feedback resistor Rf and a cancel circuit.
  • the cancel circuit includes a resistor Rc and a capacitor Cc, and cancels the influence of the inter-terminal capacitance of the feedback resistor Rf, that is, the feedback capacitor Cf ′.
  • the buffer amplifier B is represented by a triangle symbol in FIG. 4A and is a gain 1 buffer amplifier.
  • the buffer amplifier B and the cancel circuit together with the feedback resistor Rf are connected in parallel to the feedback capacitor Cf.
  • a fixed capacitor element (not shown) having a capacity larger than the feedback capacitor Cf ′ (for example, 10 times the capacity) is connected in parallel, and these parallel capacitors are applied to Equation 2 as Cf ′.
  • the buffer amplifier B is omitted from the signal detection unit 503-1, and the signal detection unit 503-2 shown in FIG. The same effect as that of the signal detection means 503-1 in FIG. 4A can be obtained.
  • the negative feedback unit 703-3 of the signal detection unit 503-3 includes a buffer amplifier B connected in series to the feedback resistor Rf, and an attenuator.
  • the attenuator includes a resistor R1 and a resistor R2. In this case, the resistance value of the feedback resistor Rf can be reduced by the attenuation rate of the attenuator.
  • the negative feedback unit 703 is obtained by using a 100 M ⁇ resistor as the feedback resistor Rf. 3 operates as a time constant similar to the feedback resistor Rf of 1 G ⁇ .
  • the noise of the signal detection means 503-3 when using a 100 M ⁇ resistor is larger than when the feedback resistor Rf is 1 G ⁇ , and is equivalent to 100 M ⁇ actually used.
  • the parallel resistance value of the resistor R1 and the resistor R2 is set as the resistor Rc so as to satisfy the above-described formula 2.
  • the buffer amplifier B of the signal detection unit 503-3 is omitted, and the signal detection unit 503-4 of FIG. 4D is omitted. Also in the configuration, the same effect as that of the signal detection unit 503-3 in FIG. 4C can be obtained.
  • the attenuation rate of the attenuator by the resistor R1 and the resistor R2 may be reduced accordingly.
  • the attenuation factor of the attenuator may be increased by the gain.
  • the fourth embodiment shows another example of suppressing the DC component indefiniteness and output saturation of the output of the signal detection means.
  • FIG. 5A shows an example of a capacitance measurement circuit according to the fourth embodiment
  • FIG. 5B shows an example of a signal detection means of the capacitance measurement circuit. 5A, the same parts as those in FIGS. 1, 2, and 3A are denoted by the same reference numerals. Description of the same parts as those in any of the first to third embodiments is omitted.
  • the 5A includes a signal detection unit 504 instead of the signal detection units 501, 502, and 503.
  • the signal detection unit 504 includes a DC compensation circuit 904 connected to the input and output of the amplifier U, and suppresses indefinite DC component and output saturation of the output of the signal detection unit 504.
  • the DC compensation circuit 904 includes an integration circuit including an amplifier Ui, an integration capacitor Ci, and an integration resistor Ri, and a feedback resistor Rf ′ that is an example of a second feedback resistor.
  • the signal detection means 504 is stabilized in terms of DC by extracting the DC component and low-frequency component of the signal and applying negative feedback, and DC compensation of the signal detection means 504 is performed.
  • the feedback resistor Rf ′ connected between the output of the amplifier U in the signal detection means 504 and the inverting input (that is, in parallel with the feedback capacitor Cf) and connected to the output of the amplifier Ui of the integrator circuit. Is connected.
  • the time constant of the integration circuit determined by the integration capacitor Ci and the integration resistor Ri is preferably smaller than the time constant determined by the feedback resistor Rf ′ and the feedback capacitor Cf.
  • the amount of the open loop gain of the amplifier Ui is amplified and negative feedback is applied. The effect that the DC component can be canceled more accurately than in the third embodiment can be obtained.
  • the signal detection means 504 may be, for example, the signal detection means 504-1 shown in FIG. 5B.
  • 5B includes a direct current compensation circuit 904-1 connected to the input and output of the amplifier U.
  • the DC compensation circuit 904-1 includes the integration circuit and the feedback resistor Rf ′ described above, the first low-pass filter and the second low-pass filter, and noise and high-frequency components are electrodes of the feedback resistor Rf ′ (not shown). It is possible to reduce the return to the input of the amplifier U via the intermediate capacitance Cf ′.
  • the first low-pass filter is formed by the resistor R LPF1 and the capacitor C LPF1, and is installed between the output of the amplifier U and the input of the integrating circuit, and reduces noise and high frequency components that the amplifier Ui cannot sufficiently operate. .
  • the cutoff frequency of the first low-pass filter is sufficiently lower than the unity gain bandwidth of the amplifier Ui (for example, about 1/10), and a frequency corresponding to a time constant composed of the integration resistor Ri and the integration capacitor Ci. It is desirable to select a sufficiently higher value (for example, 10 times or more).
  • the second low-pass filter is formed by the resistor R LPF2 and the capacitor C LPF2, and is installed between the output of the integrating circuit and the feedback resistor Rf ′ to reduce noise and high frequency components that the amplifier U cannot sufficiently operate. . It is desirable to select the cutoff frequency of the second low-pass filter sufficiently lower than the unity gain bandwidth of the amplifier U (for example, about 1/10).
  • FIG. 5B shows an example in which both the first low-pass filter and the second low-pass filter are applied. However, either one may be used as necessary, and noise and high-frequency components are sufficiently small and have almost no influence. If there is no low-pass filter, there is no need.
  • FIG. 5B illustrates a primary low-pass filter based on resistance and capacitance, but is not limited thereto, and a higher-order low-pass filter, an LC filter, or the like can be freely selected.
  • the fifth embodiment shows an example in which noise from the surroundings is removed by an LC resonance circuit.
  • 6A, FIG. 6B, FIG. 8A, FIG. 8B, and FIG. 8C show an example of the capacitance measuring circuit according to the fifth embodiment
  • FIG. 7 shows a simulation example of the frequency characteristic of the output of the signal detection means. Show. 1, 2, 3 ⁇ / b> A, and 5 ⁇ / b> A are denoted by the same reference numerals. The description of the same parts as those in any of the first to fourth embodiments is omitted.
  • the signal detection means 505 may be any of the signal detection means already described in the first to fourth embodiments.
  • the capacity measurement circuit 105 in FIG. 6A includes a noise removal circuit 1005 installed between the detection electrode 401 and the signal detection means 505.
  • the noise removal circuit 1005 includes a parallel bandpass filter (P-BPF) (hereinafter referred to as “parallel BPF”) and a capacitor Cd, and is installed between the detection electrode 401 and the signal detection means 505.
  • P-BPF parallel bandpass filter
  • the parallel BPF is an example of a first resonance circuit and is a bandpass filter using a parallel resonance circuit.
  • the parallel resonance circuit includes, for example, a parallel resonance capacitor Cpp and a parallel resonance inductor Lpp. The resonance frequency of this parallel BPF is made to coincide with the drive signal frequency.
  • the impedance is high at the resonance frequency, and the impedance is infinite if the parallel resonance circuit is an ideal element. Therefore, the AC signal of the drive signal frequency generated by the drive signal generating means 201 is not attenuated.
  • the parallel BPF has a low impedance at a frequency other than the resonance frequency, and can attenuate, for example, a hum of a commercial power supply frequency, external noise due to electromagnetic waves, and the like, and operates as a bandpass filter.
  • the amplifier U included in the signal detection unit 505 is an ideal amplifier, the input of the signal detection unit 505 to which the detection electrode 401 is connected is completely virtually grounded and no voltage is generated. Does not operate as a bandpass filter. However, in the actual amplifier U, since a slight voltage is generated at the input of the signal detection means 505, the parallel BPF operates as a bandpass filter.
  • the parallel resonant inductor Lpp included in the parallel BPF has zero direct current impedance. Therefore, when the direct connection is made without the capacitor Cd shown in FIG. 6A, the direct current amplifier included in the signal detection unit 505 The inverting input of U is grounded. On the other hand, the non-inverting input of the amplifier U included in the signal detection means 505 is also grounded. In the actual amplifier U, the DC offset voltage is not always zero. Therefore, if both the inverting input and the non-inverting input are grounded, the DC offset voltage is amplified by the amount of the open loop gain at DC when there is no capacitance Cd.
  • the detection electrode 401 is enlarged in order to perform measurement with higher sensitivity, the influence of hum and external noise are more likely to occur. However, since these can be removed if parallel BPF is used, there is also an effect that the detection electrode 401 can be enlarged and more sensitive measurement can be performed.
  • the harmonic component is attenuated by this parallel resonance circuit when the drive signal waveform is other than a sine wave, for example, when a square wave that is easy to generate signals is used.
  • a sine wave (a waveform close to a sine wave when the Q value of the resonance circuit is low).
  • FIG. 6B shows an example in which a plurality of resonance circuits are connected in series in the parallel BPF in the noise removal circuit 1005-1.
  • the resonance frequencies of the parallel BPFs connected in series are matched with the plurality of frequencies to be used.
  • each of the plurality of drive signal frequencies is not attenuated, and other frequency components can be attenuated. Since an anti-resonance frequency occurs between the resonance frequencies of the parallel BPFs connected in series, it is attenuated with a particularly steep frequency characteristic.
  • the noise removal circuit 1005-1 includes a first parallel BPF having a parallel resonant capacitor Cpp of 4700 pF and a parallel resonant inductor Lpp of 100 ⁇ H, a first parallel BPF having a parallel resonant capacitor Cpp of 2200 pF, and a parallel resonant inductor Lpp of 100 ⁇ H.
  • the frequency of the output of the signal detection means 505 when two parallel BPFs, a third parallel BPF having a parallel resonant capacitor Cpp of 1000 pF and a parallel resonant inductor Lpp of 100 ⁇ H are connected in series.
  • An example of simulation of characteristics is shown in FIG.
  • the resonance frequency of the first parallel BPF is about 232 kHz
  • the resonance frequency of the second parallel BPF is about 339 kHz
  • the resonance frequency of the third parallel BPF is about 503 kHz.
  • the capacitance measuring circuit 105-2 of FIG. 8A includes a noise removing circuit 1005-2 instead of the noise removing circuit 1005.
  • the noise removal circuit 1005-2 includes a serial bandpass filter (S-BPF) (hereinafter referred to as “serial BPF”).
  • S-BPF serial bandpass filter
  • the series BPF is an example of a first resonance circuit, is a bandpass filter using a series resonance circuit, and is installed between the detection electrode 401 and the signal detection means 505.
  • the series resonance circuit includes, for example, a series resonance capacitor Csp and a series resonance inductor Lsp. The resonance frequency of this series resonance circuit is also matched with the drive signal frequency.
  • the series BPF since the impedance is low at the resonance frequency (impedance is zero if the series resonance circuit is an ideal element), the AC signal of the drive signal frequency generated by the drive signal generating means 201 is not attenuated. It is sent to the detection means 505.
  • the series BPF has high impedance at the resonance frequency, and therefore, for example, hum of the commercial power supply frequency, external noise due to electromagnetic waves, and the like are not easily transmitted to the signal detection unit 505. As a result, it operates as a bandpass filter for attenuating hum and external noise.
  • FIG. 8A a method of adding a parallel BPF between the detection electrode 401 and the serial BPF or between the serial BPF and the input of the signal detection means 505, or alternately providing a plurality of parallel BPFs and a plurality of serial BPFs, etc.
  • a higher-order bandpass filter can be obtained.
  • the capacitance measuring circuit 105-3 in FIG. 8B includes a noise removing circuit 1005-3 instead of the noise removing circuit 1005.
  • the noise removal circuit 1005-3 includes a series band elimination filter (S-BEF) (hereinafter referred to as “series BEF”).
  • S-BEF series band elimination filter
  • the series BEF is an example of a second resonance circuit, and is a band elimination filter (band elimination filter) based on the series resonance circuit, and is installed between the detection electrode 401 and the signal detection unit 505.
  • the series resonance circuit includes, for example, a series resonance capacitor Cse and a series resonance inductor Lse. The resonance frequency of this series resonance circuit is matched with the frequency of hum or external noise to be removed.
  • the impedance is low at the resonance frequency (impedance is zero if the series resonance circuit is an ideal element), so only the frequency component to be removed is attenuated. Only predetermined frequency components such as noise can be attenuated.
  • the impedance of the series BEF is high, so that the frequency component of the drive signal frequency is not attenuated and operates as a band elimination filter.
  • the capacitance measuring circuit 105-4 in FIG. 8C includes a noise removing circuit 1005-4 instead of the noise removing circuit 1005.
  • the noise removal circuit 1005-4 includes a parallel band elimination filter (P-BEF) (hereinafter referred to as “parallel BEF”).
  • the parallel BEF is an example of a second resonance circuit and is a band elimination filter based on the parallel resonance circuit, and is installed between the detection electrode 401 and the signal detection means 505.
  • the parallel resonance circuit includes, for example, a parallel resonance capacitor Cpe and a parallel resonance inductor Lpe. The resonance frequency of the parallel resonance circuit is matched with the frequency of the hum or external noise drive to be removed.
  • the impedance becomes high at the resonance frequency (impedance becomes infinite if the parallel resonance circuit is an ideal element), so that the frequency component to be removed is not easily transmitted to the signal detection means 505.
  • the impedance is low in the parallel BEF, so that the frequency component of the drive signal frequency is transmitted to the signal detection means 505 without being attenuated.
  • it operates as a band elimination filter for attenuating only hum and external noise.
  • the noise removal circuits 1005, 1005-1, and 1005-2 use a parallel BPF or a serial BPF that allows only the frequency component of the drive signal frequency to pass.
  • the series BEF or the parallel BEF shown in the noise removal circuits 1005-3 and 1005-4 can also be used.
  • the serial BEF or the parallel BEF can be used together. In this case, however, the resonance frequency and the pass / attenuation characteristics change due to mutual influences.
  • a parallel BPF and a serial BEF are used in parallel, two pass frequencies and one attenuation frequency appear between them. In this way, if a suitable design is performed by appropriately using a parallel BPF, a serial BPF, a serial BEF, or a parallel BEF, a desired pass / attenuation characteristic can be obtained, and thus illustration of further combinations is omitted.
  • the sixth embodiment shows an example in which a hum and external noise are prevented from being mixed by the shield, and further, an example in which the capacitance between the detection electrode and the grounded shield is used as the parallel resonant capacitor Cpp of the parallel BPF.
  • a printed board is used as a drive electrode, a detection electrode, and a shield electrode.
  • 9A and 9B show an example of a capacitance measuring circuit according to the sixth embodiment. 1, 2, 3 ⁇ / b> A, 5 ⁇ / b> A, and 5 ⁇ / b> B are denoted by the same reference numerals. Description of the same parts as those in any of the first to fifth embodiments is omitted.
  • the signal detection unit 506 may be any of the signal detection units described in the first to fourth embodiments.
  • the capacitance measuring circuit 106 in FIG. 9A includes a grounded shield electrode 1106 in the vicinity of the detection electrode 401 and is used for connection to the signal detection means 506, and the outer conductor is grounded.
  • a grounded shield electrode 1106 in the vicinity of the detection electrode 401 and is used for connection to the signal detection means 506, and the outer conductor is grounded.
  • the shielded wire 1206 By providing the shielded wire 1206, it is made difficult to receive the influence of hum and external noise.
  • Either one of the shield electrode 1106 and the shield wire 1206 can be used, or each can be independently grounded and used as shown in FIG. 9A, and is hereinafter collectively referred to as “shield”. To do.
  • the expression “ground” in the shield electrode 1106 and the shield wire 1206 indicates that it is grounded in an AC manner, and may have a DC voltage. (The same applies hereinafter.)
  • a parallel resonant inductor Lpp When a parallel resonant inductor Lpp is connected between the detection electrode 401 and the shield electrode 1106, a parallel resonant circuit is formed and operates as a parallel BPF.
  • the resonance frequency of this parallel BPF is made to coincide with the drive signal frequency.
  • the technology of the present disclosure has a feature that it is not affected by the stray capacitance between the detection electrode 401 and the ground. Since the capacitance between the detection electrode 401 and the shield electrode 1106 and the capacitance of the shield line 1206 can also be considered as a kind of stray capacitance, the sixth embodiment is not affected by the capacitance due to the shield. . Furthermore, by using this capacitance as a parallel BPF, the impedance is high at the drive signal frequency, so the influence of this capacitance is further reduced.
  • the buffer amplifier B is set so that the outer cover of the shield electrode 1106 and the shield line 1206 has the same potential as the input of the signal detection means 506-1.
  • the outer cover of the shield electrode 1106 and the shield wire 1206 is driven through the gap.
  • an active shield such a shield is referred to as an “active shield”.
  • the signal detection means 506-1 provided in the capacitance measuring circuit 106-1 includes a buffer amplifier B.
  • the input of the buffer amplifier B is connected to the input of the amplifier U, and the output of the buffer amplifier B is connected to the shield line 1206 and the shield electrode 1106.
  • the stray capacitance appears to be 1 / Av of the actual capacitance due to the function of the amplifier U.
  • the stray capacitance does not seem to be completely zero, but this is the case where the actual buffer amplifier B is used. However, the effect of the stray capacitance of the shield can be greatly reduced.
  • a parallel BPF as shown in FIG. 6A according to the fifth embodiment described above may be used. Any configuration that does not use the capacitance between the detection electrode 401 and the shield in the resonance circuit can be used in combination with the active shield.
  • the series connection of the resonance circuits of the parallel BPF as shown in FIG. 6B according to the fifth embodiment, the series BPF as shown in FIG. 8A, the series BEF as shown in FIG. 8B, and the parallel BEF as shown in FIG. Both can be used with active shield.
  • FIG. 10A to FIG. 10C show an example in which a printed board is used as the detection electrode and the shield electrode.
  • illustration of wiring patterns and the like is omitted.
  • the detection electrode 401 is provided as a conductor pattern on one surface of the printed circuit board 1306.
  • the shield electrode 1106 When the shield electrode 1106 is provided, it can be provided as a conductor pattern on a different surface from the detection electrode 401.
  • the conductor pattern of the shield electrode 1106 is made larger than the conductor pattern of the detection electrode 401 to completely cover the conductor pattern of the detection electrode 401. It is preferable to do so.
  • the capacitance generated between the detection electrode 401 and the shield electrode 1106 is determined by the area of the conductor pattern of the detection electrode 401 and the shield electrode 1106, the thickness of the insulator of the printed circuit board 1306, and the dielectric constant, and this is determined by the parallel resonant capacitor Cpp or It can be used as part of it.
  • the capacitance of the shield line 1206 can be used as the parallel resonant capacitor Cpp or a part thereof.
  • the parallel resonant inductor Lpp and the additional capacitive element can be mounted on the printed board 1306 as shown in FIGS. 10A to 10C, which can contribute to a reduction in mounting man-hours and miniaturization.
  • a printed circuit board 1306 can be used as the drive electrode 301.
  • hum and external noise may enter the drive electrode 301.
  • a shield electrode 1106 is provided on the surface opposite to the drive electrode 301 of the printed circuit board 1306. This can be prevented by grounding.
  • the connector 1406 is preferably a shielded connector or a coaxial connector as exemplified in FIGS. 10A to 10C.
  • the capacitance measurement circuit 105 in FIG. 6A, the capacitance measurement circuit 105-1 in FIG. 6B, the capacitance measurement circuit 105-2 in FIG. 8A, the capacitance measurement circuit 105-3 in FIG. 8B, and FIG. 8C according to the fifth embodiment described above. Also in the capacitance measuring circuit 105-4, a shield or an electrode using a printed circuit board 1306 can be employed.
  • the detection electrode 401 is realized by the printed circuit board 1306, the signal detection unit 506 and the like can be mounted on the printed circuit board 1306, and the measurement unit 601 and the like can be mounted on the printed circuit board 1306. Further, when the drive electrode 301 is realized by the printed circuit board 1306, the drive signal generating unit 201 and the like can be mounted on the printed circuit board 1306.
  • the seventh embodiment shows an example in which the resonance circuit detects that the interelectrode capacitance Cx is a specific value.
  • FIG. 11A to FIG. 12B show an example of a capacitance measuring circuit according to the seventh embodiment. 1, 2, 3 ⁇ / b> A, 5 ⁇ / b> A, and 5 ⁇ / b> B are denoted by the same reference numerals. The description of the same parts as those in any of the first to fourth embodiments is omitted.
  • the signal detection means 507 may be any of the signal detection means already described in the first to fourth embodiments.
  • 11A according to the seventh embodiment includes a parallel resonant inductor Lp ′ installed between the drive electrode 301 and the detection electrode 401.
  • the parallel resonant inductor Lp ′ is connected in parallel with the interelectrode capacitance Cx to constitute a parallel resonant circuit 1507.
  • the resonance frequency of the parallel resonance circuit 1507 also changes accordingly.
  • the drive signal frequency is constant.
  • the resonance frequency of the parallel resonance circuit 1507 changes and matches the drive signal frequency
  • the impedance of the parallel resonance circuit 1507 increases, and the alternating current from the drive electrode 301 to the detection electrode 401 hardly flows.
  • the resonance frequency of the parallel resonance circuit 1507 does not coincide with the drive signal frequency, the AC current from the drive electrode 301 to the detection electrode 401 is hardly affected.
  • the output amplitude Vout of the signal detection means 507 is proportional to the interelectrode capacitance Cx.
  • the parallel resonance circuit 1507 of the seventh embodiment when used, the alternating current from the drive electrode 301 to the detection electrode 401 when the resonance frequency becomes a specific interelectrode capacitance Cx that matches the drive signal frequency. It becomes difficult for current to flow. As a result, the output amplitude Vout of the signal detecting means 507 is lowered, so that a “dip” as shown in the graph of FIG. 11B occurs.
  • the horizontal axis represents the interelectrode capacitance Cx
  • the vertical axis represents the output amplitude Vout of the signal detection means 507.
  • the output of the signal detection means 507 A dip occurs in the amplitude Vout.
  • a specific distance or a specific object state that is, tuning.
  • a tablet is put in and out of a container disposed between the drive electrode 301 and the detection electrode 401 so that the output amplitude Vout of the signal detection means 507 is minimized. The tablets in the container can be adjusted to a specific number.
  • the capacitance measuring circuit 107-1 of FIG. 12A includes a series resonant inductor Ls ′ installed between the detection electrode 401 and the signal detection means 507. This series resonant inductor Ls ′ is connected in series with the interelectrode capacitance Cx to form a series resonant circuit 1607.
  • the resonance frequency of the series resonance circuit 1607 changes due to the change in the interelectrode capacitance Cx and matches the drive signal frequency
  • the impedance of the series resonance circuit 1607 is lowered, and the alternating current from the drive electrode 301 to the detection electrode 401 is reduced. It becomes easy to flow.
  • the resonance frequency of the series resonance circuit 1607 does not match the drive signal frequency, the AC current from the drive electrode 301 to the detection electrode 401 is hardly affected, and an AC current proportional to the interelectrode capacitance Cx flows.
  • the alternating current from the drive electrode 301 to the detection electrode 401 is only when the specific inter-electrode capacitance Cx such that the resonance frequency matches the drive signal frequency. Since the current easily flows and the output amplitude Vout of the signal detection means 507 increases, a “peak” as shown in the graph of FIG. 12B occurs. (In the graph of FIG. 12B as well, the interelectrode capacitance Cx is plotted on the horizontal axis and the output amplitude Vout of the signal detection means 507 is plotted on the vertical axis, as in the graph of FIG. 11B.)
  • the signal detection means 507. A peak occurs in the output amplitude Vout.
  • the output amplitude Vout of the signal detection means 507 is maximized by adjusting the distance between the object to be the drive electrode 301 and the object to be the detection electrode 401. By doing so, it becomes possible to adjust the interval between the objects to a specific distance.
  • a resistor (not shown) is provided at any one or more positions between the drive signal generating unit 201 and the drive electrode 301, between the detection electrode 401 and the series resonance inductor Ls ′, and between the series resonance inductor Ls ′ and the signal detection unit 507. If is connected, the effect of reducing the sharpness of the peak can be obtained. However, in this case, the relationship between the interelectrode capacitance Cx and the output amplitude Vout of the signal detection means 507 at a frequency away from the resonance frequency deviates from Equation 1 due to the effect of resistance, but it can be corrected.
  • the DC resistance of the series resonant inductor Ls ′ has the same effect as such a resistance.
  • FIG. 12A shows an example in which the series resonant inductor Ls ′ is provided between the detection electrode 401 and the signal detection means 507, but the same effect can be obtained even if it is provided between the drive signal generation means 201 and the drive electrode 301. Further, when an inductor is provided between the detection electrode 401 and the signal detection unit 507 and between the drive signal generation unit 201 and the drive electrode 301, the sum of the inductances operates as the inductance of the series resonance inductor Ls ′.
  • the parallel resonance circuit 1507 and series resonance circuit 1607 of the seventh embodiment can be used in combination with the fifth embodiment as appropriate. However, there are some combinations that cannot be used together, such as the series resonant circuit 1607 of the seventh embodiment and the series BPF of the fifth embodiment.
  • the eighth embodiment shows an example in which an amplifier composed of discrete elements is used as the amplifier U included in the signal detection means.
  • the eighth embodiment can be configured in the same manner as the first to seventh embodiments except that an amplifier configured by a discrete element is used as the amplifier U.
  • the illustration of the capacitance measuring circuit and the explanation other than the amplifier constituted by the discrete elements are omitted.
  • phase compensation such as a commercially available operational amplifier IC
  • an amplifier composed of discrete elements can be designed to achieve phase compensation that is optimal ("shallow") for the feedback capacitance Cf that is actually used, thereby achieving a broader amplifier bandwidth. it can.
  • the signal detection means of the eighth embodiment can also be applied to the signal detection means of other embodiments.
  • the ninth embodiment shows an example in which high sensitivity is achieved by setting the feedback capacitance Cf of the amplifier of the signal detection means to an equivalent small capacitance.
  • FIG. 13A shows an example of a capacitance measuring circuit according to the ninth embodiment
  • FIG. 13B is a diagram showing an example of signal detection means of the capacitance measuring circuit. 1, 2, 3 ⁇ / b> A, 5 ⁇ / b> A, and 5 ⁇ / b> B are denoted by the same reference numerals. The description of the same parts as those in any of the first to fourth embodiments is omitted.
  • Equation 1 the smaller the feedback capacitance Cf of the amplifier U of the signal detection means 509, the higher the sensitivity. That is, a larger output amplitude Vout of the signal detection means 509 is obtained at a certain drive signal amplitude Vin.
  • an actual capacitive element that is generally available is, for example, up to a minimum of 0.1 pF, and the smaller the capacitance, the larger the relative error.
  • the error of the actual capacitive element of 0.1 pF has a large relative error of ⁇ 0.05 pF, that is, ⁇ 50%.
  • the same absolute error element of ⁇ 0.05 pF can be obtained if it is several pF or less. For example, if 1 pF can be used, a relative error as small as ⁇ 5% is sufficient if 5 pF is used.
  • the capacitance measuring circuit 109 of FIG. 13A includes a signal detection unit 509, and a series circuit of a resistor R3 and a resistor R4 is connected to the output of the amplifier U included in the signal detection unit 509.
  • the input of the buffer amplifier B having a gain of 1 is connected to the connection point between the resistors R3 and R4.
  • the output of the buffer amplifier B is connected to the input of the amplifier U included in the signal detection means 509 via a feedback capacitor Cf ′.
  • the circuit composed of the resistor R3, the resistor R4, the buffer amplifier B, and the feedback capacitor Cf ′ forms a negative feedback unit 709, and is connected to the amplifier U as a substitute for the feedback capacitor Cf in the signal detection means of the other embodiments.
  • a gain of a general buffer amplifier is slightly smaller than 1, but a buffer amplifier (non-inverting amplifier circuit) having a positive gain can be used as the buffer amplifier B.
  • the resistors R3 and R4 constitute an attenuator, and the output signal of the amplifier U included in the signal detection means 509 is attenuated by the attenuation factor of the attenuator and is given to the input of the buffer amplifier B.
  • the output of the buffer amplifier B is as shown in Equation 3 below.
  • the buffer amplifier B having a gain of 1 exists without the buffer amplifier B.
  • the operation is similar. That is, in such a case, the same effect can be obtained by the signal detection means 509-1 in FIG. 13B.
  • a similar effect can be obtained by decreasing the attenuation factor of the attenuator if the gain of the buffer amplifier B is smaller than 1, and increasing the attenuation factor of the attenuator if the gain is larger than 1.
  • the impedance of the feedback capacitance Cf ′ when the drive signal frequency is 318 kHz is about 200 k ⁇ . If the resistor R3 is 24 k ⁇ and the resistor R4 is 1 k ⁇ , the parallel resistance value of the resistors R3 and R4 is 0.96 k ⁇ , which is considered to be sufficiently smaller than about 200 k ⁇ .
  • an equivalent feedback capacitance Cf of 0.1 pF with a small relative error can be obtained by a feedback capacitor Cf ′ of 2.5 pF with a small relative error.
  • 13A and 13B exemplify the attenuator using the resistors R3 and R4, but the same effect can be obtained by using other attenuators such as an attenuator using a capacitor.
  • the signal detection means 501 to 501 of the capacitance measuring circuits 101 to 107 are used. It may be necessary to switch the sensitivity of 507 over a wide range. If the sensitivity is switched by switching the feedback capacitance Cf of the signal detection means 501 to 507, the stray capacitance of the switching circuit is affected, so it is often difficult to switch the feedback capacitor Cf having a small capacitance.
  • the ninth embodiment it is only necessary to switch at least one of the resistor R3 or the resistor R4, so that the sensitivity can be easily switched. Further, the ninth embodiment can be used for the small feedback capacitor Cf, and the capacitive element can be used for the larger feedback capacitor Cf.
  • the ninth embodiment is also effective in such a case.
  • the discharge switch Sf of the second embodiment may be connected to both ends of the feedback capacitor Cf ′.
  • the feedback capacitor Cf ′ having a larger capacity than the necessary feedback capacitor Cf can be used. You can avoid being restricted.
  • the tenth embodiment shows an example in which high sensitivity is achieved by adding an amplifier circuit for amplifying the output of the signal detection means.
  • FIG. 14 shows an example of a capacitance measuring circuit according to the tenth embodiment. 1, 2, 3 ⁇ / b> A, 5 ⁇ / b> A, and 5 ⁇ / b> B are denoted by the same reference numerals. The description of the same parts as those in any of the first to fourth embodiments is omitted.
  • the capacitance measuring circuit 110 includes a signal detection unit 510 including an amplifier circuit 1710.
  • the input of the amplification circuit 1710 is connected to the output of the amplifier U included in the signal detection means 510, and the output of the amplification circuit 1710 is connected to the measurement means 601. If the amplifier circuit 1710 is added, the capacitance measuring circuit 110 with higher sensitivity can be realized.
  • the amplification factor of the added amplifier circuit 1710 is A
  • the output amplitude of the amplifier U included in the signal detection unit 510 is Vout ′
  • the output amplitude of the signal detection unit 510 is Vout
  • Vout A ⁇ Vout ′.
  • an inverting amplifier circuit using an operational amplifier is shown as an example of the amplifier circuit 1710. Since the amplification factor A is a negative value ⁇ (resistance value R6 / resistance value R5) ⁇ , an amplifier circuit 1710 is added.
  • the output phase of the signal detection means 510 is inverted with respect to the case where the signal is not detected. However, since it is sufficient for the measuring means 601 to know the output amplitude of the signal detecting means 510 in principle, no problem occurs even if the phase is inverted. For example, when the phase detection means is used as in the thirteenth embodiment to be described later, the polarity of the output voltage of the phase detection means is inverted by phase inversion.
  • the amplifier circuit 1710 to be added may be an amplifier circuit that can amplify a necessary frequency component in the output signal of the amplifier U included in the signal detection means 510.
  • the amplifier circuit 1710 may be a non-inverting amplifier circuit using an operational amplifier or other circuit type amplifier Circuits are also widely applicable.
  • the added amplifier circuit 1710 is an amplifier circuit that can also amplify DC
  • the DC offset voltage is multiplied by an amplification factor A.
  • a large error may occur or the amplifier circuit 1710 may be saturated.
  • a capacitive element may be added to the input side of the amplifier circuit 1710 to be added for capacitive coupling.
  • the sensitivity can be switched by switching the amplification factor A of the amplifier circuit 1710 to be added. Therefore, the sensitivity can be easily switched by resistance switching or the like.
  • the tenth embodiment can be used in any combination with the other embodiments, and can be used in combination with the ninth embodiment, which also has the effect of increasing sensitivity. It is.
  • the eleventh embodiment shows an example in which the accuracy of capacitance measurement is improved by comparing with the reference capacitance Cr.
  • FIG. 15 shows an example of a capacitance measuring circuit according to the eleventh embodiment. 1, 2, 3 ⁇ / b> A, 5 ⁇ / b> A, and 5 ⁇ / b> B are denoted by the same reference numerals. The description of the same parts as those in any of the first to fourth embodiments is omitted.
  • the signal detection means 511 may be any of the signal detection means already described in the first to fourth embodiments.
  • the change-over switch SW is an example of the change-over means, and is provided after the drive signal generation means 201, and the drive signal is connected to a common contact of the change-over switch SW.
  • One contact of the changeover switch SW is connected to the drive electrode 301, and the other contact is connected to one terminal of the reference capacitor Cr. That is, the change-over switch SW is disposed between the drive signal generating unit 201, the drive electrode 301, and the reference capacitor Cr, and connects the drive signal generating unit 201 to the drive electrode 301 or the reference capacitor Cr so as to be switched. It is also possible to insert an attenuator AT between the other contact and the reference capacitor Cr.
  • the other terminal of the reference capacitor Cr is connected to the detection electrode 401 and the input of the signal detection means 511. That is, the reference capacitor Cr is connected between the other contact of the changeover switch SW and the input of the signal detection means.
  • the output amplitude Vout of the signal detection means 511 is the interelectrode capacitance Cx. Is proportional to When the output of the drive signal generator 201 is connected to the reference capacitor Cr by the changeover switch SW, the output amplitude Vout of the signal detector 511 is proportional to the reference capacitor Cr. When the attenuator AT is connected as described above, the output amplitude Vout of the signal detection unit 511 is proportional to (attenuation rate of the attenuator AT ⁇ reference capacitance Cr).
  • the drive signal amplitude Vin is 10 Vrms
  • the interelectrode capacitance Cx is 0.11 pF
  • the attenuation rate of the attenuator AT is 1/100
  • the reference capacitance Cr is 10 pF.
  • the amplifier circuit 1710 as in the tenth embodiment is not added, and the feedback capacitance Cf (not shown) is 1 pF.
  • the output amplitude Vout of the signal detector 511 is 1.1 Vrms according to Equation 1.
  • the output of the drive signal generating means 201 is connected to the reference capacitor Cr via the attenuator AT by the changeover switch SW, instead of the interelectrode capacitance Cx of Equation 1, (attenuation rate of the attenuator AT ⁇ Applying 0.1 pF (of the reference capacitance Cr) to Equation 1, the output amplitude Vout of the signal detection means 511 is 1.0 Vrms.
  • the output amplitude Vout of the signal detection means 511 changes accordingly.
  • the output amplitude Vout of the signal detection unit 511 is changed to 0.99 Vrms and 0.9 Vrms.
  • the 1.1 ratio of 1.1 Vrms to 1.0 Vrms and the ratio 1.1 of 0.99 Vrms to 0.9 Vrms are kept constant. Be drunk. That is, the interelectrode capacitance Cx can be accurately known on the basis of the attenuation factor of the attenuator AT and the output amplitude Vout of the signal detection means 511 when the reference capacitance Cr is selected.
  • the changeover switch SW is set. It is preferable to select the attenuation rate of the attenuator AT so that the difference in the output amplitude Vout of the signal detection means when switching is small.
  • the timing for switching the changeover switch SW to the reference capacity Cr side is arbitrary. For example, when used for distance measurement or object detection, it can be switched while the object is moving. It is also possible to switch at the timing when calibration based on the reference capacity is necessary.For example, it is possible to switch frequently after turning on the power until the circuit operation and the ambient temperature stabilize, and then the switching frequency can be lowered after the stabilization. is there. Moreover, you may switch regularly.
  • the eleventh embodiment can be used in any combination with other embodiments.
  • the seventh embodiment described above since there is a portion where the proportional relationship between the interelectrode capacitance Cx and the output amplitude Vout of the signal detection means is not established, it may be inappropriate to use in combination.
  • the twelfth embodiment shows an example in which the influence of noise or the like is reduced by providing a filter on the input side of the measuring means. This filter is provided in the measuring means, for example.
  • FIG. 16 shows an example of measuring means including a filter.
  • noise removal circuits 1005, 1005-1, 1005-2, 1005-3, 1005- including a resonance circuit between the detection electrode 401 and the signal detection means 505 are used.
  • An example in which the influence of noise or the like is reduced by providing 4 is shown in the fifth embodiment.
  • a similar effect is obtained by providing a filter on the input side of the measuring means.
  • the filter fc in FIG. 16 may be any filter as long as it can reduce the influence of noise and the like.
  • a parallel resonance circuit or series resonance circuit including an inductor and a capacitor, a CR filter including a resistor and a capacitor, an LR filter including a resistor and an inductor, various active filters, a mechanical filter, a crystal filter, and the like can be freely used. It is also possible to use a digital filter after A / D conversion. When an active filter is used, the filter circuit can have a gain and can also be used as the amplifier circuit 1710 of the tenth embodiment described above.
  • a band-pass filter that passes only the drive signal frequency and a band elimination filter (BEF) that removes a noise frequency are often useful.
  • BPF band-pass filter
  • BEF band elimination filter
  • a low-pass filter may be used.
  • LPF low-pass filter
  • HPF high-pass filter
  • combinations thereof can be selected as appropriate.
  • the necessary frequency component extracted by the filter fc is given to the AC amplitude measuring means AC that measures the AC amplitude by various methods described in the section of the measurement circuit of the first embodiment.
  • various methods shown in the measuring means section of the first embodiment can be used.
  • the AC amplitude information thus obtained can also be used for determination of the measurement result by the comparison / determination means described in the section of the measurement circuit of the first embodiment.
  • the twelfth embodiment can be freely combined with other embodiments.
  • the thirteenth embodiment shows an example in which phase detection means is used as measurement means. According to the phase detection means, only the drive signal frequency component can be extracted, and the phase can be known.
  • FIG. 17A to FIG. 17C show an example of the capacitance measuring circuit according to the thirteenth embodiment. 1, 2, 3 ⁇ / b> A, 5 ⁇ / b> A, and 5 ⁇ / b> B are denoted by the same reference numerals. The description of the same parts as those in any of the first to fourth embodiments is omitted.
  • the drive electrode 301, the detection electrode 401, and the signal detection means 501 have shown the same example as the above-mentioned 1st Embodiment (FIG. 1), other embodiment can also be used suitably.
  • the 17A includes a drive signal generation unit 213 and a measurement unit 613.
  • the drive signal generating means 213 outputs two signals having a 90 ° phase difference, for example, a sine signal (hereinafter referred to as “sin signal”) and a cosine signal (hereinafter referred to as “cos signal”).
  • sin signal a sine signal
  • cos signal a cosine signal
  • One signal is connected to the drive electrode 301 and also connected to the measuring means 613.
  • the other signal (a cosine signal as an example) is connected to the measuring means 613.
  • the measurement means 613 includes two phase detection means 1813-1 and 1813-2, and each phase detection means 1813-1 and 1813-2 has two inputs.
  • phase detectors 1813-1 and 1813-2 are, for example, phase detectors.
  • a 90 ° phase shift circuit may be used in the case of an analog signal.
  • a DDS digital direct synthesis synthesizer
  • Phase detectors 1813-1 and 1813-2 perform multiplication of two inputs.
  • An averaging means 1913-1 is connected to the output of the phase detection means 1813-1, and an averaging means 1913-2 is connected to the output of the phase detection means 1813-2.
  • phase detectors 1813-1 and 1813-2 perform multiplication of two inputs. According to the sum-of-products formula, the phase detection means 1813-1 in which the sin signal is given as a reference signal provides an output as shown in Equation 6.
  • sin ⁇ is an output of the signal detection means 501 and sin ⁇ is a reference signal.
  • the amplitudes of sin ⁇ and sin ⁇ are both 1.
  • the phase detection means extracts only the frequency component of the reference signal frequency and has an effect of removing frequency components other than the reference signal frequency (for example, hum and noise).
  • a filter as in the above twelfth embodiment is applied to the inputs of the phase detectors 1813-1 and 1813-2. You may prepare.
  • the DC voltage Y proportional to the sine component of the output signal of the signal detection means 501 is obtained at the output of the phase detection means-averaging means to which the sine signal is given as the reference signal, and the cosine signal is used as the reference signal.
  • a DC voltage X proportional to the cos component of the output signal of the signal detection means 501 is obtained at the output of the given phase detection means-averaging means.
  • an arithmetic means 2113-2 that performs the calculation of Expression 8 is installed between the averaging means 1913-2 and the DC voltage measuring means 2013-2 as necessary. Then, the obtained DC voltages X and Y can be given to the calculating means 2113-2 to obtain the output amplitude Vout of the signal detecting means 501.
  • an arithmetic unit 2113-1 that performs the calculation of Equation 9 is installed between the averaging unit 193-1 and the DC voltage measuring unit 2013-1, and the obtained DC voltages X and Y are calculated.
  • the phase with reference to the sin signal of the output of the drive signal generating means 213 can be obtained by giving it to the means 2113-1. Atan (Y, X) (9)
  • Atan (Y, X) in Expression 9 is a four-quadrant tangent function for obtaining the declination made on the positive side of the X axis with respect to the vector on the X, Y coordinate XY plane.
  • the DC voltage measuring means 2013-1 is connected to the output of the calculating means 21113-1, and the phase value based on the sin signal of the output of the drive signal generating means 213 can be obtained. Further, a DC voltage measuring means 2013-21 is connected to the output of the calculating means 2113-2, and the value of the output amplitude Vout of the signal detecting means 501 can be obtained.
  • the drive signal and phase on the cos signal side The detection means 1813-2, the averaging means 1913-2, and the calculation means 2113-1, 2113-2 are unnecessary, and a configuration like the capacity measurement circuit 113-1 in FIG. 17B can be adopted. That is, the averaging means 1913-1 is connected to the output of the phase detection means 1813-1, and the DC voltage measuring means 2013-1 is connected to the output of the averaging means 1913-1.
  • the averaging means 1913-1 and 1913-2 are realized in an analog manner, they are constituted by a low-pass filter or the like.
  • the DC voltage measuring means 2013-1 and 2013-2 may be analog means or A / D converted digital means.
  • various digital averaging means 1913-1 and 1913-2 and results thereof Appropriate means for knowing the digital value as the DC voltage value may be used as the DC voltage measuring means 2013-1, 2013-2.
  • both the output signal of the signal detection means 501 and the reference signal contain a direct current component, an error occurs in the direct current obtained by Expression 6 and Expression 7, and therefore the output of the signal detection means 501 and the input of the reference signal It is necessary to remove the DC component by an appropriate means such as capacitive coupling of at least one of the two.
  • the 17C includes a drive signal generation unit 201 and a measurement unit 613-2.
  • the interelectrode capacitance Cx can be known.
  • Such a configuration is referred to as heterodyne detection means.
  • the heterodyne detection unit is an example of a phase detection unit.
  • the specific means for realizing the filter fc for extracting the frequency fc and the AC signal measuring means AC are the same as those in the twelfth embodiment.
  • the frequency f of the drive signal generator 201 and the frequency fh of the reference signal generator 2213 it is preferable to select the frequency f of the drive signal generator 201 and the frequency fh of the reference signal generator 2213 so that the frequency fc is lower than f and fh.
  • the specific bandwidth value obtained by dividing the bandwidth by the center frequency
  • the narrower the bandwidth the narrower the bandwidth.
  • the frequency fc is selected to be low, a narrow bandwidth can be realized, so that the ability to remove unnecessary frequency components such as noise can be further improved.
  • the filter fc extracts and uses the alternating current of the frequency fc, and the direct current is attenuated. Therefore, the direct current component is present in both the output signal of the signal detection unit 501 and the reference signal. Even if it is included, it has the effect of not causing an error.
  • Phase detection means 1813-1, 1813-2, 2313, averaging means 1913-1, 1913-2, filter fc, AC amplitude measurement means AC, drive signal generation means 213, 201, and reference signal generator 2213 are analog Either a circuit or a digital circuit is possible, and an analog circuit and a digital circuit can be appropriately mixed.
  • phase detectors 1813-1, 1813-2, 2313 are realized by analog circuits, for example, the reference signal is a sine wave and an analog multiplier is used as the phase detectors 1813-1, 1813-2, 2313. Is possible.
  • the phase detection means 1813-1, 1813-2, and 2313 using analog circuits that make the reference signal given from the drive signal generation means 201 and 213 and the reference signal generator 2213 into a square wave and thereby switch the positive / negative of the gain are also available. Good.
  • the averaging means 1913-1 and 1913-2 are realized by analog circuits, a DC component is extracted using an appropriate low-pass filter, and the extracted DC component is supplied to the DC voltage measuring means 2013-1 and 2013-2. Give it.
  • the reference signals given from the drive signal generators 201 and 213 and the reference signal generator 2213 and the output signal of the signal detector 501 are A / What is necessary is just to implement
  • the anti-aliasing filter for A / D conversion may be provided with the function of the filter of the twelfth embodiment described above.
  • a DDS digital direct synthesis synthesizer
  • the drive signal generators 201 and 213 and the reference signal generator 2213 it is possible to obtain the reference signal as a digital signal, and it is easy to obtain signals having a 90 ° phase difference. It is.
  • the averaging means 1913-1 and 1913-2 are realized by a digital circuit, a DC component is extracted using an appropriate averaging method such as moving average, integration by digital calculation, or low pass filter by digital filter, The digital value may be known as a DC voltage.
  • the measurement result obtained in this way can also be used for determination of the measurement result by the comparison / determination means described in the section of the measurement circuit of the first embodiment.
  • the phase detectors 1813-1, 1813-2, and 2313 can also be used for measuring frequency characteristics of the interelectrode capacitance Cx.
  • the frequency characteristic of the relative dielectric constant can be measured.
  • the frequency characteristics of the interelectrode capacitance Cx may be measured by appropriately changing the drive signal frequency of the drive signal generating means 213 in the example of FIG. 17A and appropriately changing the drive signal frequency of the drive signal generating means 201 in the example of FIG. 17B.
  • the respective frequencies are appropriately changed while keeping the difference between the drive signal frequency of the drive signal generation means 201 and the reference signal frequency of the reference signal generator 2213 at the frequency fc. What is necessary is just to measure the frequency characteristic of the capacity
  • the thirteenth embodiment can be implemented by being freely combined with other embodiments.
  • the capacitance measuring circuits 113, 113-1, and 113-2 may include the signal detection means described in the first to fourth embodiments instead of the signal detection means 501. .
  • the fourteenth embodiment shows an example of measuring a plurality of points.
  • 18A to 23B show an example of a capacitance measuring circuit according to the fourteenth embodiment.
  • 1, 2, 3 ⁇ / b> A, 5 ⁇ / b> A, and 5 ⁇ / b> B are denoted by the same reference numerals.
  • the description of the same parts as those in any of the first to fourth embodiments, the twelfth embodiment, and the thirteenth embodiment is omitted.
  • the simplest is to use a plurality of sets of drive signal generation means, drive electrodes, detection electrodes, signal detection means, and measurement means. In the fourteenth embodiment, some of them are used. A simplified example is shown.
  • 18A and 18B show examples in which only one detection electrode and one signal detection means are required.
  • FIG. 19 only one drive signal generating means and one drive electrode are required.
  • 20A and 20B only one detection electrode and one signal detection means are required, and only one measurement means is required.
  • the switching means is used together.
  • 21 to 23B also use the switching means.
  • FIG. 21 only one drive signal generating means and one drive electrode are required, and only one measurement means is required.
  • FIG. 22 only a plurality of drive electrodes are used, and only one other is required.
  • FIG. 23A and FIG. 23B only a plurality of detection electrodes are used, and only one other is required.
  • the capacitance measuring circuit 114 in FIG. 18A and the capacitance measuring circuit 114-1 in FIG. 18B are provided with drive signal generating means 214-1,... 214-n, drive electrodes 314-1 ... 314-n, and detection electrodes 414. .
  • Each of the drive signal generating means 214-1... 214-n is the same as the drive signal generating means 201 described in the first embodiment, and each of the drive electrodes 314-1. This is the same as the drive electrode 301 described in the embodiment.
  • the drive signal generating means 214-1... 214 -n are connected to the drive electrodes 314-1.
  • the detection electrodes 414 form interelectrode capacitances Cx1... Cxn between the drive electrodes 314-1.
  • the capacitance measurement circuit 114 includes measurement means 614 including the filters fc1... Fcn and AC voltage measurement means AC1... ACn described in the twelfth embodiment.
  • Measureasuring means 614 including phase detecting means 1814-1... 1814 -n, averaging means 1914-1... 1914 -n and DC voltage measuring means DC 1... DCn already described in the thirteenth embodiment. -1.
  • the drive signal having the frequency f1 generated by the drive signal generating means 214-1 is applied to the first drive electrode 314-1, and the drive signal having the frequency f2 (not shown) is supplied to the second drive electrode (not shown).
  • the drive signal having the frequency fn is applied to the nth drive electrode 314-n.
  • n is an arbitrary natural number of 2 or more.
  • the frequencies f1 to fn are different from each other, and frequencies that are separated to the extent that they can be separated by the filters fc1... fcn and the phase detectors 1814-1 to 1814 -n are selected.
  • the interelectrode capacitance between the detection electrode 414 and the first drive electrode 314-1 is Cx1
  • the interelectrode capacitance between the detection electrode 414 and the nth drive electrode 314-n is Cxn.
  • the filter fc described in the twelfth embodiment is connected to the input of the measuring means 614.
  • An AC voltage measuring unit AC1 is connected to the output of the filter fc1 that extracts only the frequency f1
  • an AC voltage measuring unit AC2 (not shown) is connected to the filter fc2 that extracts only the frequency f2 (not shown).
  • the AC voltage measuring means ACn is connected to the filter fcn for extracting only the frequency fn.
  • Interelectrode capacitances Cx1... Cxn can be obtained by the filters fc1... Fcn and the AC voltage measuring means AC1.
  • a measuring unit using a plurality of AC voltage measuring units corresponding to each filter is exemplified. However, one (or a number smaller than n) AC voltage measuring units is used to measure n filters. The output may be switched. Further, one filter (or a number smaller than n) capable of switching the frequency to be extracted and AC voltage measuring means may be used.
  • phase detection unit 1813-1 described in the signal of the thirteenth embodiment is used, and n phase detection units 1814 are input to the measurement unit 614-1. -1... 1814-n, averaging means 1914-1... 1914-n and DC voltage measuring means DC1.
  • the phase detection means 1814-1 to 1814 -n are similar to the filters fc1 to fcn. The effect can be obtained.
  • DC voltages proportional to the capacities of Cx1... Cxn are obtained by averaging means 1914-1 to 1914 -n connected to the respective phase detection means 1814-1 to 1814-n. Can do.
  • averaging means and a plurality of DC voltage measurement means corresponding to each of the phase detection means is shown, but one (or a number smaller than n) DC voltage measurement means is shown. May be switched and used, or one (or a number smaller than n) averaging means and DC voltage measuring means may be switched and used.
  • a drive signal waveform having a frequency f is generated by the drive signal generating means 201 and applied to the drive electrode 314.
  • n is an arbitrary natural number of 2 or more.
  • Each of the filters fc1... Fcn and the phase detectors 1814-1 to 1814 -n extracts the frequency component of the frequency f.
  • the capacitance measuring circuit 114-2 includes a drive electrode 314, detection electrodes 414-1 ... 414-n, signal detection means 514, and measurement means 614-2.
  • the drive electrode 314 forms interelectrode capacitances Cx1... Cxn between the detection electrodes 414-1.
  • the signal detection means 514 includes a plurality of the signal detection means 501 described in the first embodiment, and the input of the signal detection means 501 is connected to the detection electrodes 414-1.
  • the measuring means 614-2 includes filters fc1... Fcn and AC voltage measuring means AC1... ACn. The filters fc1... Fcn and AC voltage measuring means AC1. Form a set of measuring means.
  • a set of a plurality of filters and AC voltage measuring means is connected to the outputs of the plurality of signal detecting means 501 on a one-to-one basis.
  • a set of phase detection means, averaging means and DC voltage measuring means may be used.
  • the interelectrode capacitance between the drive electrode 314 and the first detection electrode 414-1 is Cx1, and the signal detection means 514 to which the first detection electrode 414-1 is connected includes a feedback capacitance Cf1 and an amplifier U1.
  • the AC voltage measuring means AC1 is provided via a filter fc1 that extracts a frequency component of the frequency f. Thereafter, the configuration is the same up to the nth.
  • the capacitance measurement circuit 114-2 of FIG. 19 can reduce the number of drive signal generation means 214-1,... 214-n from n to 1, but the signal detection means 501 Since there is a difference that the included amplifiers U and feedback capacitors Cf are increased from 1 to n, it is possible to select a suitable one for actual use.
  • 20A to 23B show a modification in which the signal detection means and the measurement means are simplified by adding a signal source and a switching means.
  • 20A adds a signal source 2214 and a multiplier 2314 to configure the heterodyne detection means described in the thirteenth embodiment, thereby detecting the signal from the capacitance measurement circuit 114.
  • the modification which simplifies the means 501 and the measurement means 614 is shown.
  • the frequency f1 applied to the first drive electrode 314-1 Are extracted by the filter fc. If the amplitude of the frequency f1 thus selected is measured by the AC voltage measuring means AC in the measuring means 614-3, the interelectrode capacitance Cx1 between the first drive electrode 314-1 and the detection electrode 414 is known. Can do. By switching the signal source frequency fh, the nth interelectrode capacitance Cxn can be known in the same manner.
  • the frequencies from f1 ⁇ fh to fn ⁇ fh are selected so that the frequencies can be separated by a filter.
  • the frequency is selected so that f1 + fh ⁇ f2-fh does not occur.
  • the phase detection means 1814 has a function of attenuating other than the frequency of the reference signal, and operates as a kind of bandpass filter.
  • a waveform in which each frequency component from the drive signal frequency f1 to fn is superimposed is given from the signal detecting unit 501 to the measuring unit 614-4.
  • the phase detection means 1814 extracts only the component of the drive signal frequency f1 given from the first drive electrode 314-1. Therefore, a DC voltage proportional to the interelectrode capacitance Cx1 between the detection electrode 414 and the first drive electrode 314-1 is obtained at the output of the averaging means 1914.
  • the drive signal frequency changeover switch 2614 it is possible to know each of up to the n-th interelectrode capacitance Cxn.
  • FIG. 21 shows an example in which the drive signal generating unit 201, the drive electrode 314, and the measuring unit 614-5 are simplified by adding a changeover switch 2714 which is an example of a switching unit. .
  • a changeover switch 2714 which is an example of a switching unit.
  • the capacitance measurement circuit 114-5 a plurality of sets of detection electrodes and signal detection means are used, and a plurality of points are measured by switching with the changeover switch 2714 of the measurement means 614-5.
  • the capacitance measuring circuit 114-5 only one frequency is output by one drive signal generating means 201. Further, in the measuring means 614-5 of the capacity measuring circuit 114-5, only one set of the phase detecting means 1814 and the DC voltage measuring means DC is required. Similar to the capacitance measuring circuit 114-2, a plurality of sets of detection electrodes 414-1 ... 414-n and signal detection means 501 are used.
  • the phase detection means 1814 and the measurement means 614-5 using the DC voltage measurement means DC are exemplified, but the present invention is not limited to this.
  • the measuring unit 612 using the filter fc and the AC signal measuring unit AC shown in the twelfth embodiment may be used.
  • the capacitance measuring circuit 114-6 in FIG. 22 adds the changeover switch 2715, which is an example of a switching unit, to switch the driving electrode, thereby connecting the driving signal generating unit 201, the detecting electrode 414, the signal detecting unit 501, and the measuring unit 601.
  • the changeover switch 2715 which is an example of a switching unit, to switch the driving electrode, thereby connecting the driving signal generating unit 201, the detecting electrode 414, the signal detecting unit 501, and the measuring unit 601.
  • a simplified example is shown.
  • the capacitance measuring circuit 114-6 a plurality of drive electrodes are used, and a drive signal is given to any one of the drive electrodes by switching between the drive electrode and the drive signal generating means 201 with a changeover switch 2715.
  • the interelectrode capacitance Cxn can be known from the interelectrode capacitance Cx1.
  • FIGS. 56A and 56B A specific example of a capacitance displacement meter to which the capacitance measuring circuit 114-6 of FIG. 22 is applied is shown in a sixth embodiment described later and FIGS. 56A and 56B.
  • the capacitance measuring circuit 114-7 in FIG. 23A adds the changeover switch 2716, which is an example of a switching unit, to switch the detection electrode, thereby switching the drive signal generation unit 201, the drive electrode 314, the signal detection unit 501, and the measurement unit 601. A simplified example is shown.
  • the capacitance measuring circuit 114-7 a plurality of detection electrodes are used, and one of the detection electrodes and the signal detection unit 501 are connected by switching between the detection electrode and the signal detection unit 501 with the changeover switch 2716.
  • the interelectrode capacitance Cxn can be known from the interelectrode capacitance Cx1.
  • a capacity measurement circuit 114-8 in FIG. 23B shows a modification of the capacity measurement circuit 114-7 in FIG. 23A.
  • connecting one detection electrode and the signal detection means 501 is hereinafter abbreviated as “selection”.
  • the detection electrodes other than the selected detection electrode among the plurality of detection electrodes are in an electrically floating state.
  • the electrodes other than the selected detection electrode are grounded. This allows grounded electrodes other than the selected sensing electrode to be used to shape the lines of electric force. (This will be described as a guard electrode in the second embodiment described later.)
  • FIG. 23B only the detection electrode 414-1 is selected and connected to the signal detection means 501 by the changeover switch 2717-1.
  • the other detection electrodes 414-2 (not shown) to 414-n are connected (grounded) to a reference potential by a changeover switch 2717-2 (not shown) to 2717-n.
  • the changeover switch 2717-1 to the changeover switch 2717-n are similarly switched, and the detection electrodes 414-1 to 414-n are sequentially selected, whereby the first interelectrode capacitance Cx1 to the nth interelectrode capacitance Cxn are known. be able to.
  • FIGS. 57A, 57B and 58 of a sixth embodiment which will be described later.
  • the fifteenth embodiment shows an example of measuring two points by using drive signal generating means capable of generating two signals having a phase difference of 90 ° and two corresponding drive electrodes. Yes.
  • the fifteenth embodiment only one detection electrode, signal detection means, and measurement means are required.
  • FIG. 24 shows an example of a capacitance measuring circuit according to the fifteenth embodiment. 1, 2, 3 ⁇ / b> A, 5 ⁇ / b> A, and 5 ⁇ / b> B are denoted by the same reference numerals. Description of the same parts as those in any of the first to fourth embodiments and the thirteenth embodiment is omitted.
  • the sin signal and the cosine signal are illustrated as examples having a phase difference of 90 °. It is not limited to this as long as the two signals have a phase difference.
  • one drive signal (sin signal) generated by the drive signal generating means 201 is applied to one drive electrode 315-1, and the other drive signal (cos signal) is supplied to the other drive electrode 315-. Is given to 2.
  • the interelectrode capacitance between the detection electrode 415 and the sin signal side drive electrode 315-1 is Cxs, and the interelectrode capacitance between the cos signal side drive electrode 315-2 is Cxc.
  • the measuring means 615 includes a phase detection means 1815-1 to which a sin signal is given as a reference signal, a phase detection means 1815-2 to which a cos signal is given as a reference signal, and averaging means 1915-1, 1915- corresponding to each. 2 is included.
  • a DC voltage proportional to the interelectrode capacitance Cxs is obtained from the output of the averaging means 1915-1 connected to the phase detection means 1815-1 given the sin signal as a reference signal.
  • a DC voltage proportional to the interelectrode capacitance Cxc is obtained from the output of the averaging means 1915-2 connected to the phase detection means 1815-2 given the cos signal as a reference signal.
  • the capacitance measuring circuit 115 an example is shown in which two DC voltage measuring means DC1 and DC2 corresponding to each of the phase detection means 1815-1 and 1815-2 are shown. However, even if one DC voltage measuring means is switched and used. Good.
  • a signal having a phase difference of 90 ° is used. Since signals having a phase difference of 90 ° orthogonal to each other have a property of not affecting each other, two independent measurements are possible.
  • the relative permittivity may change (has frequency characteristics) when the frequency is different.
  • the frequency characteristics of the relative permittivity may cause an error.
  • the fifteenth embodiment has an advantage that the frequency characteristic of the relative permittivity does not become an error factor because only a single frequency is required by using the phase difference.
  • the advantage of the fifteenth embodiment due to the fact that only a single frequency is required can be obtained.
  • FIGS. 25A, 25B, 25C, and 26 show examples of detection electrode position detection using the capacitance measurement circuit of the present disclosure, for detecting a specific position.
  • An example in which object detection is performed is shown.
  • FIG. 25A, FIG. 25B, FIG. 25C and FIG. 26 the circles attached to the ends of the lead wires of the detection electrodes indicate points connected to signal detection means (not shown), and the measurement means The illustration is omitted.
  • the drive signal generator 5421 generates drive signals having a phase difference of 180 ° and applies them to the two drive electrodes 5422-1 and 5422-2, and the detection electrode 5423 is the two drive electrodes 5422.
  • -1, 5422-2 is movably provided.
  • One of the drive signals is 0 °, the voltage is V 0 , and the distance between the corresponding drive electrode 5422-1 and detection electrode 5423 is d 0 .
  • the other of the drive signals is 180 °, the voltage is V 180 , and the distance between the corresponding drive electrode 5422-2 and detection electrode 5423 is d 180 .
  • the detection electrode 5423 When the detection electrode 5423 is moved, when the voltages V 0 and V 180 are equal, the two drive signals cancel each other when the inter-electrode distances d 0 and d 180 are equal. As a result, the output amplitude Vout of the signal detection means of the capacitance measuring circuit is It becomes zero. That is, it can be known that the detection electrode 5423 has reached the center of the two drive electrodes 5422-1 and 5422-2.
  • the output amplitude Vout of the signal detection unit becomes zero as a result of the two drive signals canceling each other when Expression 10 is satisfied. That is, an arbitrary position between the two drive electrodes 5422-1 and 5422-2 can be known from the two drive signal voltages.
  • FIG. 25A illustrates one-dimensional position detection
  • FIG. 25B and FIG. 25C illustrate two-dimensional position detection.
  • two-dimensional position detection is realized by providing two sets of the one-dimensional position detection in FIG. 25A vertically and horizontally.
  • the drive signal frequency for vertical position detection is f1
  • the drive signal frequency for horizontal position detection is f2
  • the different frequencies are shown in FIGS. 18A, 18B, 20A, 20B, and 22 of the fourteenth embodiment. If such a method is applied, position detection in the vertical direction can be performed with f1, and position detection with f2 can be performed in the horizontal direction. If another set of one-dimensional position detection is added in the front-rear direction of FIG. 25B and a different frequency f3 is used, three-dimensional position detection can also be realized.
  • FIG. 25C also realizes two-dimensional position detection by providing two sets of one-dimensional position detection in FIG. 25A vertically and horizontally.
  • the vertical position detection is 0 ° and 180 °
  • the horizontal position detection is 90 ° and 270 °
  • the vertical and horizontal phases are 90 °.
  • two-dimensional position detection can be realized with one frequency.
  • the reason why the cylindrical detection electrode is illustrated in FIGS. 25B and 25C is to prevent directivity in both the vertical direction and the horizontal direction.
  • the drive electrode is not limited to a flat plate shape, and can be freely deformed according to the application, such as an electrode shape and electrode arrangement close to a cylinder, for example, by four arc drive electrodes of less than 90 °. Is possible.
  • 26 shows an example of knowing the position of the detection electrode in the X direction, the height of the detection electrode (position in the Z direction), and the parallelism with respect to the drive electrode.
  • two drive signals having a phase difference of 180 ° are respectively applied to a right triangle electrode 2601 and an electrode 2602 as shown in FIG.
  • the amplitudes of these two drive signals are assumed to be equal.
  • the elongated detection electrode is provided in parallel with the drive electrode surface in the height direction and is movable in the left-right direction in the figure.
  • the 180 ° component is large.
  • the 0 ° component is large.
  • the detection electrode is in the center, the 0 ° component and the 180 ° component cancel each other.
  • the output of the phase detection means becomes a negative value for the 180 ° component, and the 0 ° component Will be positive.
  • the output voltage of the phase detection means using the 0 ° drive signal as a reference signal is as shown by the solid line in the graph 2603 of FIG.
  • the drive signal of 0 ° When the detection electrode is not parallel to the drive electrode surface in the height direction, that is, when the detection electrode is inclined so as to be close to one electrode of the right-angled triangular electrode 2601 and the electrode 2602 and away from the other electrode, the drive signal of 0 °
  • the output voltage of the phase detection means using as a reference signal has an error with respect to the solid line of the graph 2603 in FIG. In order to prevent such an error from occurring, the following methods are further used in order to maintain the parallelism of the detection electrodes.
  • 90 ° and 270 ° drive signals having a phase difference of 90 ° with respect to the drive signals applied to the right triangle electrode 2601 and the electrode 2602 are respectively applied to the rectangular electrodes as shown in the figure.
  • the drive signals of 90 ° and 270 ° cancel each other.
  • the output voltage of the signal detecting means using the reference signal becomes zero. If the parallelism in the height direction is broken, the output voltage of the phase detection means using the 90 ° drive signal as a reference signal becomes a positive or negative value, so that the angle of the detection electrode is corrected so that this becomes zero.
  • the average value of the heights Z1 and Z2, that is, the average height of the detection electrodes is Z
  • the phase where the drive signal of 0 ° is a reference signal as shown in the graph 2603 of FIG.
  • the output voltage of the detection means changes.
  • the present invention is not limited to this.
  • the 90 ° / 270 ° side in FIG. 26 may be a drive signal having a 180 ° phase difference with a frequency different from 0 ° / 180 °.
  • the heights Z1 and Z2 can be known independently. If it is not necessary to know the inclination of the detection electrode, it is possible to omit one of the rectangular electrodes and the corresponding drive signal. Further, when it is not necessary to know the height of the detection electrode, it is possible to omit both of the rectangular electrodes and their drive signals.
  • the seventeenth embodiment shows an application example in which a DC voltage is obtained that is proportional to one capacitor and inversely proportional to the other capacitor.
  • FIG. 27 shows an example of a capacitance measuring circuit according to the seventeenth embodiment. 1, 2, 3 ⁇ / b> A, 5 ⁇ / b> A, and 5 ⁇ / b> B are denoted by the same reference numerals. The description of the same parts as those in any of the first to fourth embodiments is omitted.
  • the expression “functional relation” is used not only for the DC voltage proportional to the capacity, but also for the DC voltage that is inversely proportional to the capacity, as in the seventeenth embodiment. It is because it can also be obtained.
  • the drive signal generation means 216 generates a square wave with an amplitude of ⁇ V1 at the drive electrode, and is connected to the input of the signal detection means 501 via a capacitor C1 which is an example of a first capacitor. Further, the drive signal generating means 216 generates a switch switching signal synchronized with the square wave, and switches and drives the switch 2816 and the switch 3016.
  • phase detection means of the measurement means 616 of the seventeenth embodiment is an example of the first phase detection means, and illustrates such a phase detection means using an analog circuit.
  • the switch switching signal is used as a reference signal.
  • the triangle symbol “ ⁇ 1” in the phase detection means 1816 indicates an inverting amplifier circuit having a gain of 1. The output of the inverting amplifier is connected to one contact of the switch 2816 in the phase detection means 1816. Is given.
  • phase detection means 1816 is directly applied to the other contact of the switch 2816, a non-inverting amplifier circuit having a gain of 1 may be used as necessary. If an inverting amplifier circuit having a gain absolute value larger than 1 and a non-inverting amplifier circuit having the same absolute value gain are used, high sensitivity similar to that of the tenth embodiment described above can be realized.
  • the output of the phase detection means 1816 is connected to the input of the integrating circuit.
  • This integrating circuit is an example of an averaging means, and is composed of an amplifier Ui ′, an integrating resistor Ri ′, and an integrating capacitor Ci ′, and converts the output of the phase detecting means 1816 into direct current.
  • This DC voltage is V2.
  • This DC voltage V2 is connected to the input of DC voltage measuring means DC and the input of a circuit 2916 similar to the phase detecting means 1816.
  • This circuit 2916 is an example of the second phase detection means, and the DC voltage V2 is directly applied to one contact of the switch 3016 in the circuit 2916, and the DC voltage obtained by inverting the DC voltage V2 is applied to the other contact. -V2 is given.
  • This switch 3016 is switched and driven by the aforementioned switch switching signal. When the voltage of the drive electrode is + V1, the contact of the switch on the DC voltage ⁇ V2 side and the common contact are connected, and the voltage of the drive electrode is ⁇ V1. In some cases, the switch contacts and the common contacts on the DC voltage V2 side are connected. The common contact of this switch is connected to the input of the signal detection means 501 via a capacitor C2 which is an example of a second capacitor.
  • Equation 12 is obtained.
  • Equation 12 shows that the DC voltage V2 is proportional to the capacitance C1 and inversely proportional to the capacitance C2.
  • a capacitor element serving as a reference capacitor is used for C2 and C1 is operated as an interelectrode capacitance
  • a DC voltage V2 proportional to the interelectrode capacitance C1 can be obtained as in the above-described embodiment.
  • the eighteenth embodiment shows an example in which DDS is used as drive signal generating means. That is, this is an example in which drive signal generation means including DDS is used. 28A and 28B show an example of the DDS according to the eighteenth embodiment.
  • the DDS 3117 in FIG. 28A includes a phase accumulator, an LUT (lookup table), a D / A converter (D / A), and an LPF (low pass filter).
  • a phase accumulator consisting of an adder and a register (latch, DF / F) operates to increase the value by the frequency setting value (ie, the phase advances) for each clock, and outputs a frequency proportional to the frequency setting value.
  • the clock frequency is f CLK
  • the adder and the register are each binary n bits, and the frequency setting value is fset
  • the output frequency fout of the DDS 3117 is expressed by Equation 13 and is proportional to the frequency setting value fset. An output frequency fout having the frequency thus obtained is obtained.
  • n ′ bits (n ⁇ n ′) are converted into digital data corresponding to a sine wave by a 2 n ′ word LUT, and a D / A conversion is performed to obtain a sine wave.
  • the LUT is usually composed of a ROM (Read-Only Memory), but a RAM (Random-Access Memory) can also be used.
  • arbitrary waveform data other than a sine wave can be generated according to the data content of the LUT.
  • a waveform including a plurality of frequency components can be generated by storing waveform data including a plurality of frequency components of frequencies f1 to fn in the LUT.
  • the number of output bits of the LUT needs to be m bits or more, and if it is less than m bits, part of the resolution of the D / A converter is wasted.
  • FIG. 28A, FIG. 28B and FIG. 29A all illustrate a D / A converter incorporating such a register.
  • the output of the D / A converter is a staircase-like analog waveform and includes unnecessary frequency components. Therefore, unnecessary frequency components (spurious) are removed by the LPF to obtain a desired waveform.
  • spurious performance can be further improved by using a BPF (band pass filter).
  • DDS is a well-known technology, further detailed description of DDS is omitted.
  • FIG. 28B shows the DDS 3117-1, showing an example of a method for obtaining waveforms having different phases at the same frequency.
  • waveform data having different phases are obtained. . That is, sine wave (sin) data is stored in the 0 ° output side LUT, cosine wave (cos) data is stored in the 90 ° output side LUT, and the same DDS output is applied to the input of the LUT.
  • 180 ° having a 0 ° inversion waveform or 270 ° having a 90 ° inversion waveform may be used.
  • the inverted sine wave data can be stored in the LUT to obtain a 180 ° waveform, and the inverted cosine wave data can be used to obtain a 270 ° waveform.
  • the 180 ° waveform and the 270 ° waveform can be obtained by inverting the 0 ° waveform and the 90 ° waveform by the inverting amplifier.
  • phase difference data in units of 90 ° is stored in the LUT.
  • the LUT method is not limited to this, and by storing free phase difference data, any phase difference data can be stored. A waveform can be obtained.
  • the phase can be changed by a digital adder.
  • the phase setting value is added to the output of the phase accumulator to obtain a phase-shifted output whose phase is advanced by the phase setting value.
  • phase resolution at this time is 360 ° ⁇ 2 p.
  • a drive signal having a phase difference of 90 ° is used.
  • the sixteenth embodiment described above there are cases where 180 ° having a 0 ° inversion waveform or 270 ° having a 90 ° inversion waveform is used. If the phase difference is only a multiple of 90 °, an adder for obtaining waveforms having different phases can be simplified. This will be described below.
  • the output of the n-bit phase accumulator takes a value from 0 to 2 n -1.
  • 2 n-1 may be added to the output of the phase accumulator, which corresponds to adding 1 to the MSB, that is, inverting the MSB. In this case, since the bits other than the MSB do not change, the value can be used as it is.
  • 2 n ⁇ 2 may be added to the output of the phase accumulator, which corresponds to adding 1 to the value of the upper 2 bits of the phase accumulator.
  • 2 n ⁇ 2 may be subtracted from the output of the phase accumulator, which corresponds to subtracting 1 from the value of the upper 2 bits of the phase accumulator. In this case, since only the upper 2 bits do not change, the value can be used as it is.
  • the truth table in FIG. 29B shows the upper 2 bits including the MSB. For example, when the upper 2 bits of 0 ° are 00, it is 01 at 90 °, 10 at 180 °, and 11 at 270 °.
  • the exclusive OR (XOR) of the upper 2 bits of 0 ° is taken as the MSB of 90 °, and the logical negation of the second bit from the top of 0 ° ( NOT) and the second bit from the top of 90 °.
  • the MSB of 0 ° is inverted, and the second bit from the top may be used as it is.
  • the 90 ° MSB is inverted and the second bit from the top of 90 ° may be used as it is.
  • the logic symbol below the truth table in FIG. 29B illustrates such processing.
  • phase shift can be achieved with a simple logic circuit without using a multi-bit adder, thereby realizing DDS at a lower cost. can do.
  • the characteristics of the D / A converter and LPF of each phase and the timing of D / A conversion match, an accurate signal having a phase difference of 90 ° can be obtained.
  • the gain is switched between positive and negative by a square wave reference signal.
  • a square wave reference signal As the reference signal in this case, each MSB given to the LUT of each phase can be used.
  • the nineteenth embodiment shows a modification in which comparison determination means and threshold setting means are added to the measurement means, or communication means are added to the measurement means.
  • FIG. 30 shows an example of the measuring means according to the nineteenth embodiment.
  • the measurement means of the capacitance measurement circuit of the present disclosure can obtain various measurement results such as the output amplitude Vout of the signal detection means, the interelectrode capacitance Cx, the interelectrode distance, and the state of the object. Various determinations can be made by giving these various measurement results to the comparison determination means as required.
  • Such comparison / determination means may use an analog comparator for the voltage value, or may perform comparison / determination based on the digital value in the case of digital processing.
  • the threshold for the comparison determination unit is given to the comparison determination unit by the threshold setting unit.
  • a single comparison / determination means can determine whether the measurement result exceeds a certain value and is normal, if it is less than a certain value, abnormal (or abnormal if it exceeds a certain value, normal if it is less than a certain value) It is. If two comparison determination means are used, as an example, if it is within a certain range (for example, higher than the threshold value of the comparison determination means 1 and less than the threshold value of the comparison determination means 2), it is normal, and below that range (for example, comparison) Range determination such as abnormality 1 is possible if it is lower than the threshold value of determination means 1 and abnormality 2 is higher than that range (for example, higher than the threshold value of comparison determination means 2). If necessary, an arbitrary comparison determination such as a plurality of range determinations may be performed using more comparison determination means.
  • the rise time, fall time, time held below a certain value, time kept above a certain value, etc. can be similarly determined by the comparison judgment means.
  • the magnitude and ratio of these various times can be determined by the comparison determination means. An example of a specific application of such determination is shown in Example 4, which will be described later, and FIGS. 51A to 53B.
  • Information such as measurement results and determination results obtained by the comparison determination unit of the capacity measurement circuit of the present disclosure can be transmitted to a computer or the like through various types of communication, and data storage or appropriate information processing can be performed.
  • the present invention can be applied to so-called IoT (Internet of Things) that connects to the Internet by wired or wireless connection, transmits information to an appropriate destination (including a remote place), and performs appropriate information processing.
  • IoT Internet of Things
  • the measuring unit 618 shown in FIG. 30 is an example of a measuring unit that includes all of the comparison determination unit, the threshold setting unit, and the communication unit. Only the comparison determination means and the threshold setting means can be included, or only the communication means can be included, and neither can be included.
  • the capacitance measurement circuit of the present disclosure when used as a capacitance displacement meter that performs object detection, if it is used to detect the approach / detachment of an object between electrodes by a comparison determination unit, It can be used as a “proximity sensor”. Furthermore, in this case, if it is determined whether or not the measurement result exceeds the threshold value by the comparison determination means, it can also be used as a “proximity switch” for determining whether or not the measurement result is close to a certain degree.
  • the twentieth embodiment shows an example in which drive signal generation means, drive electrodes, detection electrodes, signal detection means, and measurement means are mounted on an IC.
  • FIG. 31A to FIG. 32 show an example of the capacitance measuring circuit according to the twentieth embodiment.
  • the drive signal generating unit the drive electrode, the detection electrode, the signal detection unit, and the measurement unit in the IC.
  • the IC includes a wide range of monolithic ICs, hybrid ICs and the like regardless of the form of the package.
  • the capacitance measurement circuit of the present disclosure by mounting all or part of an electric circuit such as a drive signal generation unit, a signal detection unit, and a measurement unit on an IC 3219, the capacitance measurement circuit of the present disclosure and the capacitance using the capacitance measurement circuit
  • the displacement meter can be provided in a smaller and cheaper manner.
  • an example is shown in which a plurality of drive signal generating means and drive electrodes are used in pairs, or a plurality of detection electrodes and signal detection means are used in pairs.
  • an IC 3219-1 as shown in FIG. 31B in which an electrode 3319 such as a drive electrode is integrated on the surface of an IC package having a drive signal generating means, or an IC having at least a signal detecting means.
  • the IC3219-1 in which the detection electrode is integrated on the surface of the package may be particularly effective.
  • the electrodes can be provided on the back surface of the IC package as necessary.
  • both the drive electrode and the detection electrode are provided on the surface of the IC package. It is also effective to make an IC together with an electric circuit.
  • parallel electrodes 3419 and concentric electrodes 3519 described in the fifth embodiment to be described later can be provided on the packages of the ICs 3219-2 and 3219-3 as shown in FIGS. 31C and 31D.
  • the circular electrodes are exemplified in the ICs 3219-1, 3219-2, and 3219-3, the shape and dimensions of the electrodes can be freely selected as necessary.
  • FIG. 32 shows an example in which the drive signal generating means by DDS is divided into two types of ICs.
  • the IC 1 includes frequency setting means, an adder, and a register to which a clock signal is supplied, and outputs the output of the phase accumulator by the adder and the register to the outside.
  • the output of IC1 and the value of the phase setting means are phase-shifted by being supplied to the adder, a waveform is generated via the LUT, D / A converter, and LPF, and further, the voltage required for the amplifier circuit is obtained. Amplified and applied to the drive electrode.
  • the IC package may be provided with electrodes as shown in FIG. 31B.
  • phase setting means may be phase selection means for selecting 0 ° / 90 ° / 180 ° / 270 °, and a circuit as shown below the table in FIG. 29B may be switched by the selector.
  • IC1 and two IC2s may be used.
  • four signals of 0 °, 90 °, 180 °, and 270 ° are required, one IC1 and four IC2 may be used.
  • the output of IC1 is a digital signal having a plurality of bit widths.
  • wiring can be simplified by performing parallel-serial conversion with the output of IC1 and serial-parallel conversion with the input of IC2.
  • the DDS of the drive signal generating means is divided into two types of ICs, and each IC becomes a part of the drive signal generating means.
  • the combination of the filter and the AC voltage measuring means is effective to use one IC.
  • an example in which a plurality of signal detection means 501 are used is also shown, so that the signal detection means 501 can be an IC. In this case, it would be more effective to use an IC having a detection electrode.
  • the twenty-first embodiment shows a capacitance displacement meter to which the capacitance measuring circuit as in the above-described embodiment is applied.
  • the main applications of the capacitance displacement meter can be broadly divided into distance measurement and object detection that knows the state of an object that affects capacitance.
  • Capacitance displacement meters 120, 120-1 and 120-2 include a drive electrode 320, a detection electrode 420, a signal detection unit 520, and a measurement unit 620.
  • the drive electrode 320 is the above-described drive electrode 301 or the object
  • the detection electrode 420 is the above-described detection electrode 401 or the object.
  • the combination of the signal detection unit 520 and the measurement unit 620 may be any of the combination of the signal detection unit and the measurement unit described in the first to twentieth embodiments.
  • the object is not a conductor, it is possible to measure the distance in the same manner by attaching (for example, attaching) an electrode to the object.
  • Capacitance displacement meters 120-3 and 120-4 illustrate a case where the capacitance displacement meters 120-3 and 120-4 are used for object detection. 1, 2, 3 ⁇ / b> A, 5 ⁇ / b> A, and 5 ⁇ / b> B are denoted by the same reference numerals. The description of the same parts as those in any of the first to fourth embodiments is omitted.
  • Capacitance displacement meters 120-3 and 120-4 include drive electrode 320, detection electrode 420, signal detection means 520, and measurement means 620.
  • the drive electrode 320 is the drive electrode 301 described above
  • the detection electrode 420 is the detection electrode 401 described above.
  • the combination of the signal detection unit 520 and the measurement unit 620 may be any of the combination of the signal detection unit and the measurement unit described in the first to twentieth embodiments.
  • the drive electrode 320 nor the detection electrode 420 When performing object detection, neither the drive electrode 320 nor the detection electrode 420 is used as an object, and the state of the object that affects the interelectrode capacitance Cx is known from the interelectrode capacitance Cx (FIG. 1).
  • the most typical example of object detection by the capacitance displacement meters 120-3 and 120-4 is when the state of an object between the drive electrode 320 and the detection electrode 420 is known as shown in FIG. 34A.
  • the interelectrode capacitance Cx varies depending on the amount of liquid in the container (usually having a relative dielectric constant greater than that of air), so the amount of liquid in the container is known from the interelectrode capacitance Cx. be able to.
  • the drive electrode 320 and the detection electrode 420 do not need to face each other as shown in FIG. 34A, but are adjacent to each other as shown in FIG. 34B, for example.
  • the direction and arrangement of the electrodes can be freely selected depending on the application. Specific examples of object detection will be described in the fourth to sixth embodiments described later.
  • FIG. 35 shows an example of a graph for explaining the distance measurement of the twenty-second embodiment, in which the horizontal axis is the interelectrode distance d and the vertical axis is the interelectrode capacitance Cx.
  • FIG. 35 exemplifies a case where a square parallel plate is used for the drive electrode and the detection electrode, and the area of the drive electrode and the detection electrode is 1.6 ⁇ 10 ⁇ 3 m 2 (40 mm ⁇ 40 mm), respectively.
  • the capacitance C [F] of the parallel plate capacitor based on the parallel plate model in air is defined as S [m 2 ] for the area of each parallel plate electrode, d [m] for the distance between the electrodes of the parallel plate electrode, and dielectric of air. Assuming that the rate is equal to the dielectric constant ⁇ 0 [F / m] of the vacuum, it can be expressed as Expression 14 and the capacitance C is inversely proportional to the distance d between the parallel plate electrodes.
  • Formula 14 is satisfied in a region where the end effect is negligible (when the dimension of the parallel plate electrode is sufficiently larger than the distance between the electrodes of the parallel plate).
  • the capacitance C becomes further smaller than Equation 14 due to the end effect.
  • the relationship between the capacitance of the parallel plate capacitor and the distance between the electrodes of the parallel plate in consideration of the end effect can be obtained.
  • An example of the relationship in the case of a sine wave with an amplitude of 20 Vp-p and a frequency of 1 MHz is shown in “Simulation” in FIG. 35, a high frequency electromagnetic field simulator SonnetLite manufactured by Sonnet Giken Co., Ltd. was used as the electromagnetic field simulator.
  • Measured values obtained by a capacitance displacement meter using the capacitance measuring circuit of the present disclosure are shown as “actually measured values” in FIG. Note that the amplitude and frequency of the measurement conditions in the actual measurement are the same as those in the electromagnetic field simulator.
  • the above-described embodiment is appropriately applied to the capacitance measuring circuit of the capacitance displacement meter used at the time of actual measurement. This measured value is obtained by interpolating the interelectrode capacitance Cx at an appropriate number of actually measured interelectrode distances.
  • the interelectrode distance Cx is several pF or more, that is, when the interelectrode distance d is several mm or less, the parallel plate model, the simulation, and the actual measurement value almost coincide with each other. Further, at the interelectrode distance d where the interelectrode capacitance Cx is less than several pF, the interelectrode capacitance Cx is smaller in the simulation and actual measurement values than in the parallel plate model due to the end effect.
  • the interelectrode capacitance Cx is smaller than the measured value in the simulation.
  • an actual measurement value as shown in FIG. 35 is obtained, and the relationship between the interelectrode capacitance and the interelectrode distance is approximated by a function.
  • a function for performing approximation various known functions such as a polynomial function and an exponential function can be used.
  • various known methods such as a least square method can be used. A description of these known functions and methods will be omitted.
  • Capacitance displacement that can be used to determine the distance between electrodes more accurately by applying the capacitance value actually measured by the capacitance measurement circuit in the capacitance displacement meter to the approximate function that was used during actual measurement. The total can be realized.
  • a graph 3601 in FIG. 36 shows an example of a graph of actual measurement values for explaining object detection according to the twenty-second embodiment.
  • the vertical axis represents the liquid level in the plastic bottle 3621, and the horizontal axis represents the electrode.
  • the water level of the liquid in the PET bottle 3621 also indicates the volume of the liquid.
  • FIG. 36 further shows the shape of the PET bottle 3621 of the device under test corresponding to the positional relationship between the drive electrode and the detection electrode and the water level of the liquid.
  • a circular drive electrode 321 with a diameter of 60 mm, a detection electrode 421 with a diameter of 30 mm, and a guard electrode with a diameter of 60 mm around the detection electrode 421 did.
  • drive signal amplitude: 20 Vp-p, drive signal frequency: 1 MHz, drive signal waveform: sine wave were used.
  • the PET bottle 3621 used as the DUT has a groove 3721 and a constriction 3821, and the electrode has the water level corresponding to each groove 3721 and the rated capacity of the PET bottle 3621.
  • the interstitial capacity Cx was measured.
  • the relationship between the state of the object of the measurement object and the interelectrode capacitance Cx is approximated by a function in advance based on the actual measurement value or the simulation value.
  • the actually measured interelectrode capacitance Cx is known in advance as shown in the example of FIG. 36 and approximated by a function.
  • the measured capacity is applied to this approximate function, it is possible to realize a capacitance displacement meter that can accurately know the capacity of the liquid in the container.
  • the electrode and the object to be measured can be moved.
  • “movement” includes a wide range of movements such as rotation.
  • a plurality of either drive electrodes or detection electrodes are provided to enable distance measurement and object detection at a plurality of locations.
  • one or more electrodes can be moved to sequentially measure distances and detect objects at multiple locations. Is possible. Furthermore, the above-described fourteenth embodiment can be used in combination, and effects such as measurement in a shorter time can be obtained.
  • the distance between the electrodes is measured using either the drive electrode or the detection electrode, or both as objects.
  • a specific example of distance measurement in which both electrodes can be moved is described in the first embodiment-2 (FIG. 38) described later, and a specific example of distance measurement in which one electrode is movable is described in the first embodiment described later.
  • -4 FIGGS. 40B and 40C
  • the second embodiment-2 FIGGS. 43A to 43D
  • the third embodiment-3 FIG. 46
  • the second example-2 (FIGS. 43A to 43D) and the third example-3 (FIG. 46) show examples in which the fourteenth embodiment is used together.
  • FIG. 60A a specific example of object detection for moving an electrode is moved to a sixth embodiment-5 (FIG. 60A) to be described later.
  • a specific example will be described later in a fourth example-1 (FIG. 48), a fourth example-4 (FIGS. 51A and 51B), a fourth example-5 (FIGS. 53A and 53B), a sixth example, This is shown in Example-4 (FIG. 59) and sixth example-5 (FIGS. 62A and 62B).
  • a minute capacity can be measured, so that a long distance measurement can be realized. For this reason, it can be widely applied not only to a measurement application using a capacitance displacement meter but also to a measurement application realized by a laser displacement meter, an eddy current displacement meter, or the like.
  • the capacitance displacement meter of the present disclosure it can be widely applied to uses such as object detection of an object that cannot be seen from outside the packing box or object detection at a long distance.
  • the first embodiment shows an example of a set of drive electrodes and detection electrodes among specific examples of distance measurement by a capacitance displacement meter.
  • FIG. 37 to 40C show specific examples of a pair of drive electrodes and detection electrodes used for distance measurement by a capacitance displacement meter.
  • the circles attached to the ends of the lead wires indicate the locations where the drive signal generation means or signal detection means of the present disclosure connects to the drive electrodes or detection electrodes shown in the respective drawings. Show. When one of the electrodes is connected to the drive signal generating means, that electrode becomes the drive electrode, and the other electrode becomes the detection electrode.
  • FIG. 37 illustrates a diaphragm vacuum gauge 5001.
  • a main body 5002 of the diaphragm vacuum gauge 5001 is hermetically separated into a measurement chamber 5004 and a reference chamber 5005 by a diaphragm 5003, and the reference chamber 5005 is kept in a vacuum.
  • the getter agent 5006 is for maintaining the degree of vacuum.
  • a fixed electrode 5007 is provided on the surface of the reference chamber 5005 facing the diaphragm 5003. When the measurement pressure applied to the measurement chamber 5004 is high, the diaphragm 5003 approaches the fixed electrode 5007 as shown by a broken line, and when the measurement pressure is low, the diaphragm 5003 moves away from the fixed electrode 5007 as shown by a solid line.
  • the capacity between the diaphragm 5003 and the fixed electrode 5007 changes almost in inverse proportion to the distance between the diaphragm 5003 and the fixed electrode 5007, so that the measurement pressure can be known from the capacity.
  • the correspondence between the diaphragm 5003 and the fixed electrode 5007, and the drive electrode and the detection electrode may be either.
  • the diaphragm 5003 (object) is the drive electrode
  • the fixed electrode 5007 is the detection electrode
  • the main body 5002 is grounded
  • the fixed electrode 5007 is provided at a position close to the main body 5002
  • a more preferable result will be obtained.
  • the detection electrode is virtually grounded by the signal detection means. For this reason, when the main body 5002 is grounded, the electric lines of force from the periphery of the diaphragm 5003 mainly spread on the side surface of the measurement chamber 5004, and the electric lines of force from the center of the diaphragm 5003 are mainly the opposing surface of the reference chamber 5005. It reaches the fixed electrode 5007 located at.
  • the central portion of the diaphragm 5003 is the portion that moves most greatly depending on the measurement pressure, high sensitivity can be achieved by connecting as described above.
  • the grounded main body 5002 operates as a shield, there is an advantage that it is not easily affected by ambient noise or the like.
  • the relationship between the capacitance between the diaphragm 5003 and the fixed electrode 5007 and the measurement pressure is measured in advance, and the relationship is approximated with an appropriate function. It is also possible to know the measured pressure.
  • FIG. 38 shows an example in which a test is performed on surface runout, surface unevenness, flatness, etc. (hereinafter referred to as “surface runout”) of a brake disc (hereinafter referred to as “disc”) 5021 of an automobile or the like.
  • the disk 5021 (object) is rotatable and can be a drive electrode or a detection electrode, and is installed horizontally, for example.
  • the moving electrode 5022 is disposed at a position slightly away from the disk 5021 and is movable in the diameter direction of the disk 5021 in parallel with the disk 5021.
  • the inter-electrode distance between the disk 5021 and the moving electrode 5022 is constant regardless of the position of the moving electrode 5022 even if the disk 5021 is rotated. If there is surface deflection or the like, the distance between the electrodes changes as the disk 5021 rotates, and the change in the distance can be known by a capacitance displacement meter. If the moving electrode 5022 is moved as indicated by the arrow in the figure, the difference in surface deflection or the like between the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of the disk 5021 can be known. In FIG. 38, the moving electrode 5022 on one surface of the disk 5021 is illustrated, but the moving electrode 5022 can be provided on the opposite surface, or the moving electrode 5022 can be provided on both surfaces.
  • the detection electrode can be made relatively small, and is not easily affected by hum or ambient noise.
  • the detection electrode if a shield electrode is provided on the surface opposite to the disk 5021, or if a shield wire is used for the wiring between the detection electrode and the signal detection means, the influence of hum and ambient noise can be reduced.
  • the disk 5021 is used as a detection electrode and the moving electrode 5022 is used as a drive electrode, there is an advantage that radiation waves radiated from the drive electrode can be suppressed because the drive electrode is small.
  • the drive electrode and the detection electrode can be appropriately selected in consideration of the shape of the object and the electrode.
  • a more preferable combination may be shown, but it is not limited to the illustrated combination.
  • FIG. 39 shows an example of measuring the distance between the deflection plates of CRT5041.
  • the broken line indicates the trajectory of the electron beam.
  • the electron beam emitted from the electron gun 5044 is deflected in the vertical direction by the voltage between the vertical deflection plates 5042, deflected in the horizontal direction by the voltage between the horizontal deflection plates 5043, and then reaches the phosphor screen 5045.
  • a horizontal axis is set as a time axis by applying a sawtooth wave to the horizontal deflection plate 5043, and an input voltage waveform is amplified and applied to the vertical deflection plate 5042 so that the vertical axis is input voltage. It can be an axis.
  • the voltage waveform of the X input can be amplified and applied to the horizontal deflection plate 5043, and the voltage waveform of the Y input can be amplified and applied to the vertical deflection plate 5042.
  • the shapes of the vertical deflection plate 5042 and the horizontal deflection plate 5043 are known values with small errors, but the error in the distance between the deflection plates due to assembly tends to be large. It becomes necessary to measure the distance between the plates.
  • the capacitance displacement meter Since the capacitance displacement meter according to the prior art needs to have one electrode as a dedicated electrode and the other as a grounded conductor, it cannot be applied to an application like this embodiment. The same applies to the following embodiments in which two or more objects are used as electrodes.
  • FIG. 40A to FIG. 40C show other specific application examples using a pair of drive electrodes and detection electrodes among specific examples of distance measurement by the capacitance displacement meter of the present disclosure.
  • FIG. 40A shows an example of measuring the distance between electrodes of a dry battery as an example of measuring the height of an object.
  • the dry battery 5061 is pressed against the positioning gauge 5062 and fixed, the lower electrode of the dry battery 5061 is used as a drive electrode, for example, and the electrode 5063 fixed at a position slightly away from the upper part of the dry battery 5061 is used as a detection electrode.
  • the distance is measured by measuring the capacity between the upper electrode of the dry battery 5061 and the electrode 5063. (It is assumed that the impedance between the upper and lower electrodes of the dry battery 5061 is sufficiently low.)
  • the drive electrode and the detection electrode may be reversed as described above, and the vertical direction of the dry battery 5061 may be reversed from the figure. . (If the dry battery 5061 is turned upside down, the capacity of the dry battery 5061 with respect to the flat electrode surface will be measured, so that a more preferable result may be obtained.) It is applicable to any object.
  • FIG. 40B shows an example of measuring the roundness of a bearing.
  • the shaft of a metallic bearing 5081 object
  • the other electrode 5082 is slightly outside the bearing 5081. It is fixed. If the bearing 5081 has complete roundness, the interelectrode capacitance does not change even if the bearing 5081 is rotated. If the capacitance between the electrodes changes with the rotation of the bearing 5081, the change in the distance between the electrodes can be known thereby, so that the roundness of the bearing 5081 can be known.
  • FIG. 40C shows an example of measuring the runout of the motor shaft.
  • the motor body 5102 that is electrically connected to the motor shaft 5101 is used as one electrode, and the other electrode 5103 is fixed slightly outside the motor shaft 5101. ing. If the interelectrode capacitance changes with the rotation of the motor shaft 5101, it is possible to know the change in the interelectrode distance, and as a result, the degree of core runout of the motor shaft 5101 can be known.
  • FIGS. 41A to 43D show that a specific example of distance measurement by the capacitance displacement meter according to the present disclosure uses two of the drive electrode and the detection electrode, and thus 2 A specific application example for measuring the distance of a location is shown.
  • FIG. 41A to FIG. 41D show an example in which the distance between the electrodes located between two conductors (both objects) and the distance between each conductor is measured.
  • 42A to 42C show an example in which the distance between each electrode between one conductor (object) and two electrodes is measured.
  • 43A to 43D show an example in which the perpendicularity measurement of a cylindrical metal part is performed.
  • FIG. 41A shows an example in which one of the two conductors is a drive electrode and the other is a detection electrode, which is a reference example included in the first embodiment, and is outside the scope of the second embodiment.
  • FIG. 41B shows the distance between an electrode located between two conductors and the distance between each conductor by the method using two drive signals having a phase difference of 90 ° shown in the fifteenth embodiment. Measuring. A sin signal is given to one conductor as a drive signal, and a cos signal is given to the other conductor as a drive signal.
  • each of the two conductors, electrodes It is possible to know the distance between the electrodes. As a result, the distance between the two conductors can be known by (distance between one conductor and electrode + distance between the other conductor and electrode + electrode thickness).
  • FIG. 41C shows an electrode located between two conductors and an inter-electrode distance between the conductors by the method using a plurality of (two) frequencies shown in FIGS. 18A and 18B of the fourteenth embodiment.
  • a drive signal having a frequency f1 is applied to one conductor and a drive signal having a frequency f2 is applied to the other conductor, and two drive electrodes are provided.
  • the distance between the two conductors and the electrode can be known.
  • the distance between the two conductors can be known by (distance between one conductor and electrode + distance between the other conductor and electrode + electrode thickness).
  • FIG. 41D shows an electrode positioned between two conductors and each of the fourteenth embodiment by the method shown in FIG. 19 and the method using the switching shown in FIGS. 21, 23A and 23B. The distance between the electrode and the conductor is measured.
  • FIG. 19 shows an example using filters fc1... Fcn and AC voltage measuring means AC1... ACn, but it is also possible to use phase detecting means, averaging means and DC voltage measuring means as measuring means. .
  • the two conductors 5121-1 and 5121-2 are connected in common and a drive signal is applied.
  • two conductors 5121-1 and 5121-2 are one drive electrode, and two detection electrodes 5122-1 and 5122-2 are provided between them.
  • One sensing electrode 5122-1 measures an interelectrode distance d1 with one conductor 5121-1
  • the other sensing electrode 5122-2 measures an interelectrode distance d2 with the other conductor 5121-2. If the thickness of the two detection electrodes 5122-1 and 5122-2 is d, the distance between the two conductors can be known by d1 + d + d2.
  • 41B to 41D show examples of measuring the distance between two conductors. However, by applying these, the thickness of one conductor can be measured as shown in FIGS. 42A to 42C. Is possible. By this method, for example, the thickness of a semiconductor silicon wafer can be measured.
  • one conductor 5141 object: detection electrode
  • two drive electrodes 5142- 2 are obtained by the method using two drive signals having a phase difference of 90 ° shown in the fifteenth embodiment.
  • the distance between the electrodes 1 and 512-2 is measured. If the distance between two fixed drive electrodes is d, the distance between the conductor and one detection electrode is d1, and the distance between the conductor and the other detection electrode is d2, the thickness of the conductor is , D-d1-d2. (The same applies to FIG. 42B.) (Refer also to FIG. 42C for the relationship between the distances d, d1, d2 and the thickness of the conductor. However, in FIG. 42C, the drive electrode and the detection electrode are opposite to those in FIGS. .)
  • one conductor 5141 and two drive electrodes 51142-1, 5142 are used by the method using a plurality of (two) frequencies shown in FIG. 18A and FIG. 18B of the fourteenth embodiment.
  • the thickness of the conductor 5141 is measured by measuring the distance between the electrodes 2.
  • the distance between one conductor 5161 and two detection electrodes 5162-1 and 5162-2 is measured by the method shown in FIG. 19 of the fourteenth embodiment, The thickness of the conductor 5161 is measured.
  • the method using two drive signals having a phase difference of 90 °, the method using plural (two) frequencies, and the method shown in FIG. 19 of the fourteenth embodiment described above are applied.
  • the distance between the electrodes of the vertical deflection plate 5042 and the horizontal deflection plate 5043 of the CRT 5041 as shown in FIG. 39 can be measured simultaneously.
  • FIGS. 43A to 43D A further example of performing two distance measurements simultaneously is shown in FIGS. 43A to 43D.
  • 43A to 43D are examples of inspecting the perpendicularity of a cylindrical metal part.
  • a method using two drive signals (sin signal and cos signal) having a phase difference of 90 ° is illustrated, but a plurality of (two) frequencies are set as in the method shown in FIGS. 41A to 42C.
  • a cylindrical metal part 5182 is placed on an accurate turntable 5181 having no runout, and two drive electrodes 5183-1 and 5183-2 are arranged in a vertical direction in the vicinity of the metal part 5182. It is fixed to the point.
  • the turntable 5181 is in contact with and electrically connected to the metal part 5182 and is integrated with the metal part 5182 to form a detection electrode.
  • the state in which the turntable 5181 rotates when the squareness of the metal part 5182 is not perfect (ie, there is an inclination) and the center of the metal part 5182 coincides with the center of the turntable 5181 (ie, there is no misalignment).
  • the metal part 5182 moves like a vertical solid line and a broken line of the metal part 5182 as shown in FIG. 43B.
  • the capacitance between the sin signal side drive electrode and the metal component 5182 is Csin, and the capacitance between the cos signal side drive electrode and the metal component 5182 is Ccos.
  • the rotation angle of the turntable 5181 is taken as the horizontal axis, and the sin signal side capacitance Csin and the cos signal side capacitance Ccos are taken along the vertical axis. And changes as shown in FIG. 43C.
  • the squareness of the metal part 5182 can be known from the difference in capacitance change between the capacitance Csin and the capacitance Ccos.
  • the method using two drive signals having a phase difference of 90 °, the method using a plurality (two) frequencies, and the method shown in FIG. 19 of the fourteenth embodiment described above are used. Although described as a specific example, it is not limited to these.
  • the capacitance displacement meter according to the application and required performance may be realized by appropriately using the heterodyne detection means and the switching means described in the fourteenth embodiment.
  • FIGS. 44 to 47 show specific examples in which distance measurement is performed at three or more locations in the distance measurement by the capacitance displacement meter of the present disclosure.
  • FIG. 44 shows an example in which the inclination angle and vertical position of the metal flat plate 5201 are measured
  • FIG. 45 shows an example in which stress strain of an automobile door is measured
  • FIG. 46 shows an example in which roundness is measured by the three-point method. .
  • the method using a plurality (two) frequencies shown in the fourteenth embodiment, the method shown in FIG. 19 of the fourteenth embodiment, and heterodyne detection means And switching means can be used as appropriate.
  • FIG. 44 shows an example in which the inclination angle and vertical position of the metal flat plate 5201 are measured by measuring distances at three locations.
  • One of the drive electrode and the detection electrode is a metal flat plate 5201 (object), and the other is an electrode A, B, or C.
  • Each of the electrodes A, B, and C measures an interelectrode distance from the metal flat plate 5201.
  • the distances between the electrodes A, B, and C and the metal flat plate 5201 are referred to as distances A, B, and C, respectively.
  • knowing the distance A and the distance B makes it possible to know the inclination ⁇ . For example, if distance A> distance B, it can be known that the object is inclined in the direction of the downward arrow ⁇ in FIG. Since the center distance between the electrode C and the electrode A and the electrode B is also known, knowing the distances A, B, and C makes it possible to know the slope ⁇ . For example, if the average value of distance A and distance B> distance C, it can be known that the inclination is in the direction of the upward arrow in FIG. If the average value of the distances A, B, and C is known, the vertical position Z can be known. For example, if the average values of the distances A, B, and C are smaller than the reference value, it can be known that the metal flat plate 5201 is rising in the direction of the arrow Z in FIG.
  • the inclination and the vertical position are known by measuring the distances at three locations.
  • the torsion of the metal flat plate 5201 can be known by measuring the distances at four locations, and the metal flat plate 5201 can be obtained by measuring a number of distances. You can know the flatness of the.
  • FIG. 45 shows an example in which the stress strain of the automobile door is measured by distance measurement of more than three points.
  • an automobile door 5221 object
  • a plurality of electrodes 5223 provided in the jig 5222 for performing electrode positioning is the other of the drive electrode and the detection electrode.
  • the distance between the electrodes 5223 and the automobile door 5221 is measured, and this is used as a reference value.
  • the distance between the electrodes 5223 increases with the electrode 5223 in the vicinity where the stress is applied as a center.
  • FIG. 46 shows an example in which the roundness is measured by a three-point method in a metal cylinder (or a metal cylinder).
  • one of the drive electrode and the detection electrode is a metal cylinder 5241 (object) itself installed so as to be rotatable, and the other is three electrodes 5242 arranged at a reference position around the metal cylinder 5241. It has become.
  • a method for allowing the metal cylinder 5241 to rotate and a method for connecting to one of the drive electrode and the detection electrode are not shown, for example, a turntable 5181 as shown in FIG. 43A may be used.
  • the roundness measurement by the three-point method is a method for measuring roundness by rotating the object to be measured and measuring the displacement of the object to be measured at three locations. Omitted.
  • FIG. 47 shows an example of measuring the squareness, parallelism, and size of a steel plate.
  • one of the drive electrode and the detection electrode is a square steel plate 5261 (object) itself, and the other is an electrode 5262-1, 5262-2, 5262-3, 5262-4, 5262 provided in the vicinity of the steel plate 5261. -5, 5262-6.
  • the position of the steel plate 5261 is determined by a positioning guide 5263.
  • the electrode-to-electrode distances measured with the electrodes 5262-1, 5262-2, 5262-3, 5262-4, 5262-5, and 5262-6 are the first distance, the second distance, and the third distance, respectively. The distance, the fourth distance, the fifth distance, and the sixth distance.
  • each of the first distance to the sixth distance is measured using a master steel plate having an accurate squareness and size.
  • the electrode positions may be adjusted so that the distances between the electrodes 5262-1, 5262-2, 5262-3, 5262-4, 5262-5, and 5262-6 are the same.
  • the sixth distance is measured from the first distance using the steel plate 5261 as the object.
  • the inclination of the steel plate side surface on the electrode 5262-1 and electrode 5262-2 side (relative value with respect to the master, the same applies hereinafter)
  • the inclination of the side surface of the steel plate on the side of the electrodes 5262-3 and 5262-4 can be known.
  • the lower size (lateral width in FIG. 47) of the steel plate 5261 can be known from the first distance and the third distance
  • the upper size of the steel plate 5261 is determined from the second distance and the fourth distance.
  • the size in the vicinity of the center of the steel plate 5261 can be estimated from (average value of the first distance and the second distance) and (average value of the third distance and the fourth distance).
  • the parallelism between the lower surface and the upper surface of the steel plate 5261 can be known.
  • the size near the left side of the steel plate 5261 (vertical width in FIG. 47) can be known from the fifth distance, and the size near the right side can be known from the sixth distance.
  • the average value of the fifth distance and the sixth distance thus, the size of the steel plate 5261 near the center in the left-right direction can also be estimated.
  • FIGS. 48 to 53B show specific examples in the case of using a pair of drive electrodes and detection electrodes in object detection by the capacitance displacement meter of the present disclosure.
  • the specific examples shown in these figures are merely representative examples, and even when a pair of drive electrodes and detection electrodes are used, the object detection by the capacitance displacement meter of the present disclosure can be applied to a wide range of applications. is there.
  • FIG. 48 shows an example of thickness measurement on a production line of a tape-like object (hereinafter referred to as “tape”) 5281 such as a tape or a belt.
  • the tape 5281 is fed in the direction of the arrow by a roller 5282, and a set 5283 of drive electrodes and detection electrodes is provided so as to sandwich the tape 5281 in a non-contact manner. Since the relative dielectric constant of the tape 5281 is larger than the relative dielectric constant of air, the interelectrode capacitance Cx is larger than that without the tape 5281. The thicker the tape 5281, the larger the interelectrode capacitance Cx.
  • the interelectrode capacitance Cx does not change even when the tape 5281 is moved in the vertical direction in the figure, so that the thickness of the tape 5281 can be known from the interelectrode capacitance Cx.
  • the thickness of the tape 5281 is normal (the interelectrode capacitance Cx is between the minimum value and the maximum value), the tape 5281 is too thick (the interelectrode capacitance Cx is greater than or equal to the maximum value), and the tape 5281 is too thin (the interelectrode capacitance Cx Is preferably less than the minimum value).
  • FIG. 48 shows an example in which the thickness of a narrow tape-like object is measured using a pair of drive electrodes and detection electrodes.
  • a set of drive electrodes and detection electrodes can be applied. For example, in a paper feed mechanism, when detecting that paper is being fed in a specific position at a specific position, a set of drive electrodes and detection electrodes can be applied.
  • FIG. 49 shows an example of measurement of the liquid injection amount into the liquid container.
  • a set 5302 of a drive electrode and a detection electrode is provided as shown.
  • the relative permittivity of the liquid container 5301 and the liquid put in the container is larger than the relative permittivity of air.
  • the interelectrode capacitance Cx is the smallest when the liquid container 5301 is not present between the electrodes, is a little larger when the empty liquid container 5301 is present, and is the largest when the maximum amount of liquid is filled.
  • the amount of liquid in the liquid container 5301 can be known from the interelectrode capacitance Cx.
  • the liquid container 5301 carried by the belt conveyor stops between the electrodes, it is possible to detect that the liquid container 5301 has stopped at a predetermined position by slightly increasing the interelectrode capacity. Further, when the nozzle 5303 descends from the top of the container and liquid injection starts, the interelectrode capacitance Cx increases as the liquid increases. When the interelectrode capacitance Cx corresponding to the predetermined liquid amount is reached, the liquid injection is terminated, the nozzle 5303 is raised, and the next liquid container 5301 is replaced.
  • the threshold value for determining the presence or absence of the liquid container 5301 it is possible to compare the threshold value for determining the presence or absence of the liquid container 5301 and the threshold value corresponding to a predetermined liquid amount.
  • the predetermined amount of liquid is determined by the amount of increase in the capacitance, with the capacitance when the liquid container 5301 is empty as a reference value. It is also possible to know that
  • FIG. 49 shows an example in which a pair of flat electrodes, that is, a set of drive electrodes and detection electrodes 5302 is provided on both side surfaces of the liquid container 5301.
  • a pair of flat electrodes that is, a set of drive electrodes and detection electrodes 5302 is provided on both side surfaces of the liquid container 5301.
  • electrodes that are curved along the liquid container 5301 a higher height can be obtained. Sensitivity can also be increased.
  • electrodes provided above and below the liquid container can be used.
  • the nozzle 5303 may be passed through a hole formed in the electrode on the inlet side of the container.
  • the inter-electrode capacitance at a plurality of frequencies is obtained by object detection using a pair of drive electrodes and detection electrodes, and based on this, frequency characteristics such as dielectric constant of the object are obtained. It is also possible to know.
  • the object is a mixture and the frequency characteristics of the dielectric constant change depending on the mixture ratio, by knowing the frequency characteristics at some characteristic frequencies, It is possible to determine the quality of the mixture.
  • the drive signal generating means 201 generates a drive signal including a plurality of frequency components.
  • a frequency superimposed waveform can be used as such a drive signal.
  • a waveform such as a square wave, a sawtooth wave, and a triangular wave containing a plurality of harmonic components can also be used, and can be easily generated by a commonly used technique. (Waveforms including more frequency components such as white noise and pink noise can be used, but since each frequency component is small, the SN ratio cannot be expected so much.)
  • the measuring means 620 is configured to be able to know each of a plurality of required frequencies.
  • the same configuration as the measurement unit 614 of FIG. 18A and the measurement unit 614-3 of FIG. 20A according to the fourteenth embodiment can be applied.
  • each frequency to be superimposed is appropriately selected, and the phase of each frequency component to be superimposed is adjusted, so that the peak voltage of the frequency superimposed waveform is minimized or reduced as much as necessary. That's fine.
  • each phase where the peak voltage is reduced can be obtained by calculation or simulation.
  • FIGS. 50A and 50B show a case where the phase of 3 kHz (thin solid line) is 180 ° when the phase of 1 kHz (dotted line) is 0 °.
  • the peak value of the superimposed waveform (thick solid line) in this case is twice the peak value of the 1 kHz sine wave or 3 kHz sine wave.
  • FIG. 50B shows a case where the phase of 3 kHz (thin solid line) is 0 ° when the phase of 1 kHz (dotted line) is 0 °.
  • the peak value of the superimposed waveform (thick solid line) in this case is about 1.54 times the sine wave of 1 kHz and 3 kHz. That is, in this case, the peak voltage can be reduced to less than 80% by selecting the phase of the frequency component to be superimposed.
  • the drive signal generation means 213 in FIG. 17A or the drive signal generation means 201 in FIG. 17B or FIG. 17C sequentially generates the frequencies to be measured (sweeps the frequency).
  • the measuring means 620 the measuring means 613 in FIG. 17A, the measuring means 613-1 in FIG. 17B, and the measuring means 613-2 in FIG. 17C are used. 17A to 17C refer to relevant portions in the description of the fourteenth embodiment, and further description thereof is omitted here.
  • FIG. 51A to FIG. 52B show an example in which an operation instruction for some device is performed by approaching and releasing a part of a human body (eg, a finger) between electrodes. It is an example used as a sensor.
  • FIG. 51A is a perspective view showing an example of the positional relationship between the electrode and the finger guard
  • FIG. 51B shows a front view showing an example of the positional relationship between the electrode and the finger guard, and also shows the approaching state and the separation state of the finger.
  • the finger guard has a function of restricting the moving range of the finger and preventing the finger from directly touching the electrode.
  • FIGS. 51A and 51B show examples of the output voltage of the capacitance displacement meter of the present disclosure when the finger is approached / separated in FIGS. 51A and 51B. Since the human body generally behaves like a grounded conductor with respect to the capacitance displacement meter of the present disclosure, the interelectrode capacitance decreases when the finger approaches the electrode, and the interelectrode capacitance decreases when the finger leaves the electrode. Return to the original.
  • FIG. 52A shows an example of a pattern that causes the finger to approach and separate in FIGS. 51A and 51B and an output voltage of the capacitance displacement meter of the present disclosure corresponding to each pattern.
  • FIG. 52B shows a combination of six patterns that cause the finger shown in FIG. 52A to approach and separate.
  • the upper left corner shows the output voltage when fast approach and fast separation occur in succession.
  • the upper left middle shows the output voltage when it stops in an approaching state after an early approach and then comes off early.
  • the upper right indicates the output voltage when slow approach and slow separation occur continuously, and the upper right end indicates the output voltage when the stop or slow separation occurs in the slow approach / approach state.
  • the lower left edge indicates the output voltage when fast approach and slow separation occur continuously, and the lower left middle indicates the output voltage when stop or slow separation occurs in the early approach / approach state.
  • the lower right indicates the output voltage when slow approach and early separation occur continuously, and the lower right end indicates the output voltage when the stop or early separation occurs in the slow approach / approach state. That is, it is illustrated that the eight patterns in FIG. 52B can be obtained by the combination of the six patterns in FIG. 52A.
  • the output voltage in the detached state is VH
  • the output voltage in the approaching state is VL.
  • a high level threshold voltage VthH and a low level threshold voltage VthL are set between VH and VL.
  • a voltage lower than VH by 10% of the voltage difference between VH and VL is set as the high level threshold voltage VthH
  • a voltage higher than VL by 10% of the voltage difference between VH and VL is set as the low level threshold voltage VthL.
  • the output voltage VH in the disengaged state is considered to be hardly affected by the thickness of the finger.
  • the output voltage VL in the approaching state is likely to vary depending on the thickness of the finger. In such a case, for example, by setting the output voltage at the lowest level in the approaching state to the output voltage VL in the approaching state, it is possible to absorb a difference such as the thickness of the finger.
  • the time for the output voltage to fall from the high level threshold voltage VthH to the low level threshold voltage VthL is the fall time tf
  • the time for which the output voltage is lower than the low level threshold voltage VthL is the stop time th
  • the output voltage is from the low level threshold voltage VthL.
  • the time to rise to the high level threshold voltage VthH is defined as the rise time tr.
  • the descent time tf is shorter than a predetermined descent time threshold, it can be determined that the “early approach” is determined, and if the descent time tf is equal to or greater than the descent time threshold, it can be determined that the “slow approach” is determined.
  • the stop time th is shorter than a predetermined stop time threshold, it is determined that the approach and stop have occurred continuously, and if the stop time th is equal to or greater than the stop time threshold, it can be determined that there has been an approach stop.
  • the rising time tr is shorter than a predetermined rising time threshold value, it can be determined that “early departure”, and if it is equal to or higher than the rising time threshold value, it can be determined that “late departure”.
  • the comparison determination means described in the nineteenth embodiment can be used.
  • a sequence of slow approach and late departure is a door lock
  • a sequence of early approach and early departure is an operation instruction for unlocking the door
  • a sequence of slow approach and early departure is an instruction to open a window
  • a sequence of slow departures can be used as an operation instruction to close the window.
  • the width of the finger guard in FIG. 51A is about 30 mm as an example, and the distance between the electrodes is further increased. For this reason, it is difficult to apply the capacitance displacement meter according to the prior art having a short measurement distance to such an application.
  • [Fourth embodiment-5] 53A and 53B show an example of a capacitance displacement meter that can know the moving direction of an object moving between electrodes.
  • FIG. 53A shows an example where the object moves from left to right and an example of the output voltage waveform of the capacitance displacement meter at that time.
  • FIG. 53B shows an example where the object moves from right to left and an example of the output voltage waveform of the capacitance displacement meter at that time.
  • 53A and 53B exemplify a state in which an automobile, which is an example of an object to be measured, travels on a road.
  • the illustrated automobile is a floating conductor, and the capacitance between the electrodes increases when the automobile enters between the electrodes.
  • the distance between the electrodes is short in the left direction of the figure, and the distance between the electrodes is long in the right direction.
  • the density of the electric lines of force is high where the distance between the electrodes is short, and the density of the lines of electric force is low where the distance between the electrodes is far.
  • the output voltage of the capacitance displacement meter rises / falls earlier, and when it is late, the output voltage of the capacitance displacement meter rises / falls later.
  • the vehicle can know the passing direction based on the magnitude between the rise time and the fall time of the output voltage of the capacitance displacement meter. Further, it is possible to know the passing speed of the automobile based on the sum of the rising time and the falling time.
  • Detects and controls the amount of liquid and powder in the tank and case, and the water level in the bath. -Know the air bubbles in tires, rubber and resin parts by the relative dielectric constant of the object. ⁇ Detect metal pieces adhering to film. -Know the state of the object by changing the shape of the object, such as a battery or electrolytic capacitor that swells when it deteriorates. -Know the thickness and relative dielectric constant of a copper-clad laminate whose capacitance is determined by the product of area, thickness and dielectric constant. -Know the inter-pattern capacity of the printed circuit board.
  • the capacitance measurement circuit of the present disclosure can also measure minute capacitances.
  • Detects intrusions of people and vehicles into museums and other prohibited areas. ⁇ Prevents entry into hazardous areas due to the operation of industrial robots. -Besides, it can be widely applied to the detection of the presence of objects and the proximity of objects.
  • FIGS. 54A to 55C show variations of electrode shapes and positional relationships in a pair of drive electrodes and detection electrodes for object detection by the capacitance displacement meter of the present disclosure.
  • FIGS. 48 and 49 according to the fourth embodiment show an example in which the drive electrode and the detection electrode are arranged to face each other.
  • FIGS. 54A to 54D according to the fifth embodiment show an example in which the drive electrode and the detection electrode are arranged in parallel.
  • 55A to 55C according to the fifth embodiment shows an example in which the drive electrode and the detection electrode are arranged concentrically.
  • FIG. 54A shows an example in which a circular drive electrode 5321 and a circular detection electrode 5322 are arranged side by side on the same plane (that is, arranged in parallel).
  • the shape and arrangement of the electrodes are examples, and can be freely selected according to the application. For example, a rectangular electrode may be used, and an arrangement with different heights or an inclined electrode may be used.
  • FIG. 54B shows an example in which a shield electrode 5323 is provided in the vicinity of the detection electrode 5322.
  • a shield electrode 5323 can be provided for the drive electrode 5321.
  • the shield electrode 5323 may have a size different from that of the detection electrode 5322 or the drive electrode 5321, but is preferably slightly larger.
  • a large common shield electrode 5323 can be provided in the vicinity of the detection electrode 5322 and the drive electrode 5321.
  • An electrode using a printed circuit board as described in the sixth embodiment is also suitable for an electrode arranged in parallel.
  • FIG. 54C illustrates only the electric lines of force on one surface among electric lines of force between the drive electrode 5321 and the detection electrode 5322 arranged in parallel.
  • FIG. 54D shows an example of lines of electric force when a grounded conductor 5324 approaches the drive electrode 5321 and the detection electrode 5322 arranged in parallel.
  • a part of the lines of electric force generated from the drive electrode 5321 reaches the grounded conductor 5324 and does not reach the detection electrode 5322, so the interelectrode capacitance Cx decreases.
  • object detection for detecting that a grounded conductor is approaching can be performed.
  • FIG. 55A shows an example of a donut-shaped drive electrode 5341 and a circular detection electrode 5342 located in a portion corresponding to the hole of the donut. Such a shape / arrangement of the electrodes is referred to as a concentric arrangement.
  • FIG. 55B shows an example in which a donut-shaped guard electrode 5343 is further provided between the drive electrode 5341 and the detection electrode 5342, and the electric lines of force in such a case are illustrated in FIG. 55C.
  • the guard electrode 5343 When the guard electrode 5343 is present, the electric lines of force generated from the drive electrode 5341 are close (low) to the surface on which the electrode is disposed, and reach the guard electrode 5343 and are generated far (high) from the surface on which the electrode is disposed. Only the lines of electric force that have reached the detection electrode 5342. For this reason, it can be expected to work as an electrode arrangement suitable for detecting an object farther from the electrode surface.
  • the shape and arrangement of the electrodes are free, and the ratio of the diameter of each electrode can be changed, the circle can be changed to a quadrangle, and guard electrodes can be added as appropriate.
  • An electrode using a printed circuit board as described in the sixth embodiment is also suitable for an electrode arranged concentrically. It is also possible to replace the drive electrode and the detection electrode.
  • the decrease in capacitance due to the proximity of a grounded conductor, or the increase in capacitance due to the proximity of an object having a dielectric constant higher than air or a floating conductor is the same as the parallel arrangement described above. Omitted.
  • Such parallel arrangement of electrodes or concentric arrangement of the electrodes can detect the proximity / detachment of an object (proximity switch or proximity sensor), detection of an increase in the dielectric constant of an adjacent object (for example, whether or not there is content, It is also suitable for quantity detection). In such a case, it is also particularly preferable to determine object detection by using an appropriate threshold.
  • the arrangement of the electrodes in such a case is not limited to the parallel arrangement or the concentric arrangement. Various other electrode arrangements capable of realizing the same function are also conceivable, and the parallel arrangement and the concentric arrangement are merely representative examples.
  • FIG. 56A and FIG. 56B show an example in which the internal volume inspection of each of the plurality of plastic bottles 5362 is performed in the state of being in the packing box 5361 as an example of performing the detection of a plurality of objects.
  • the plastic bottle 5362 (target object) in the state of being in the packing box 5361 cannot be seen from the outside, and the laser light cannot pass through, so the internal volume cannot be inspected by the laser displacement meter. Moreover, since such an object is not a metal, an eddy current displacement meter cannot be applied.
  • the height of the PET bottle 5362 is about 200 mm in height even for a 500 ml product, and over 300 mm for 1.5 and 2 liter products. For this reason, the content inspection of the PET bottle in the state of being in the packing box has been made possible by the capacitance displacement meter using the capacity measurement circuit of the present disclosure.
  • FIG. 56A is a top view of electrodes of a packing box 5361 including a plastic bottle 5362 in a packed state
  • FIG. 56B is a side view of the packing box 5361 and electrodes.
  • a plastic bottle 5362 in the packing box 5361 is indicated by a broken line.
  • a square driving electrode 5363 is provided in accordance with the illustrated plastic bottle 5362 having a square cross section is shown.
  • a detection electrode 5364 having a size larger than that of the packing box 5361 is provided below the packing box 5361 is illustrated.
  • the shapes and sizes of the drive electrode 5363 and the detection electrode 5364 are not limited to these.
  • FIG. 56A shows an example in which the drive electrode 5363 is switched using the method of FIG. 22 of the above-described fourteenth embodiment, but the present invention is not limited to this method.
  • Various methods for measuring the capacitance at a plurality of locations as shown in the fourteenth embodiment can be applied as appropriate, or can be applied in combination as appropriate.
  • FIG. 56B illustrates a case where the second bottle from the left among the PET bottles 5362 has a small content.
  • an example of electric lines of force from the drive electrode 5363 provided on the upper part of one of the PET bottles 5362 to the lower detection electrode 5364 is shown. Since most of the lines of electric force are directed from the drive electrode 5363 to the detection electrode 5364, the interelectrode capacitance Cx is determined predominantly by the internal capacity of the PET bottle 5362 immediately below the drive electrode 5363. Since some electric lines of force pass through the PET bottle 5362 around the drive electrode 5363, there is a possibility that some influence may occur when the contents of some or all of the surrounding PET bottles 5362 are extremely different.
  • the drive electrode 5363 on the upper part of the PET bottle 5362 is driven and measured, it can be known that the contents of the PET bottle 5362 are extremely different, so that the influence on the surroundings can be corrected by calculation. Is possible. Further, if it is detected that even one of the PET bottles 5362 in the packing box 5361 has an extremely different content, the inspection fails for each packing box 5361, and the PET bottle 5362 needs to be replaced. The influence of the surrounding conditions on the measurement results is not a big problem.
  • FIG. 57A and FIG. 57B show an example in which the contents of a plurality of milk packs 5382 are inspected while still in the packing box 5381 as an example of detecting a plurality of objects.
  • the internal capacity inspection of the milk pack 5382 (target object) in the packing box 5381 has been made possible by the capacitance displacement meter using the capacity measurement circuit of the present disclosure. (Even if it is not in the packing box 5381, the milk pack 5382 does not transmit the laser beam, so the laser displacement meter cannot be applied to the internal volume inspection.
  • the typical height of the 1 liter milk pack 5382 is as follows. 194 mm.)
  • FIGS. 57A and 57B show an example of switching drive electrodes, but the examples of FIGS. 57A and 57B show an example of switching detection electrodes.
  • FIG. 57A is an example of a top view for showing the arrangement of detection electrodes, and
  • FIG. 57B is an example of a side view.
  • a grounded guard electrode 5384 is provided around the packing box 5381.
  • a drive electrode 5385 (not shown) having the same size as the outer shape of the guard electrode 5384 is provided below the packing box 5381.
  • FIG. 57B shows an example of the guard electrode 5384 and the drive electrode 5385, and an example of switching of the electrode 5383.
  • the switching of the electrode 5383 is exemplified by the method of FIG. 23B in the fourteenth embodiment described above.
  • 3 rows ⁇ 4 columns 12 selector switches are provided. Only one of the twelve changeover switches connects the electrode 5383 to the signal detection means, and the other electrode 5383 is connected to the ground.
  • the 12 electrodes 5383 and the guard electrode 5384 in the upper part of the packaging box are grounded entirely.
  • the drive electrode 5385 is a plate electrode having the same size as this, the drive electrode 5385 functions as a parallel plate capacitor as a whole. This is illustrated in the lines of electric force in FIG. 57B.
  • the electric lines of force in the peripheral portion try to swell outside the electrodes (end effect), but the electric lines of force are almost parallel in the portion where the milk pack 5382 is present. That is, the guard electrode 5384 shapes the electric lines of force so that the electric lines of force are parallel in the portion where the milk pack 5382 is present. As a result, even if the content of any milk pack 5382 is detected and measured, it is possible to be hardly affected by the content of the surrounding milk pack 5382.
  • the guard electrode 5384 As described above and switch the detection electrode.
  • the interelectrode capacitance of the changeover switch connected to the ground side becomes a stray capacitance with respect to the connection to the detection electrode.
  • the stray capacitance added to the detection electrode is not a problem.
  • the 12 electrodes 5383 and the guard electrode 5384 at the upper part of the packing box work in the same manner as one large electrode that is grounded on the entire surface, and the drive electrode 5385 is about the same size as this. It works like a parallel plate capacitor.
  • a method of switching the drive electrodes as shown in FIGS. 56A and 56B is selected, or the active shield shown in the sixth embodiment can be used. Is possible. In other words, it is possible to select which of the detection electrode and the drive electrode is switched according to the application.
  • FIG. 58 shows an example of inspecting the internal state of a cup ramen lid, an attached soup, noodles and the like as an example of detecting a plurality of objects.
  • the electrodes illustrated on the left side in FIG. 58 are drive electrodes, and the electrodes illustrated on the right side are a detection electrode 5802, a detection electrode 5803, a detection electrode 5804, a detection electrode 5805, a guard electrode 5801, and a guard electrode 5806.
  • the shape of the electrode can be freely selected, and it may be a flat plate electrode or an arc-shaped electrode surrounding the coupling frame.
  • Guard electrode 5801 and guard electrode 5806 are grounded.
  • the detection electrode 5802 is installed at the height of the lid of the cup ramen.
  • the detection electrode 5804 is installed at the height of the attached soup placed on the noodles, and the detection electrode 5803 is installed between the detection electrode 5802 and the detection electrode 5804.
  • the detection electrode 5805 is installed in a portion corresponding to noodles in the cup ramen container.
  • the electrode changeover switch connects any one of the detection electrode 5802, the detection electrode 5803, the detection electrode 5804, and the detection electrode 5805 to the signal detection means by the method of FIG. Is provided to be grounded. (In FIG. 58, the detection electrode 5804 is connected to the signal detection means, and the other detection electrodes are grounded.)
  • the cup ramen lid is a laminate of plastic and aluminum foil. Since plastic is a dielectric and aluminum foil is a floating conductor, both increase the capacitance between the electrodes. For this reason, when the detection electrode 5802 is connected to the signal detection means, when the lid is not attached or when the coupling frame is not placed between the electrodes, the capacitance between the electrodes is assumed to be smaller. Therefore, it is possible to detect the absence of the lid and the absence of the cup ramen. If appropriate thresholds are applied, it may be possible to distinguish between the absence of a lid and the absence of cup ramen.
  • the electrode 5803 When the electrode 5803 is connected to the signal detection means, if it is larger than the assumed interelectrode capacity, foreign matter (dielectric or floating conductor) is inserted between the soup or noodle and the lid. This can be detected. Conversely, when the capacity is smaller than the assumed interelectrode capacity, it is assumed that the cup ramen is not placed between the electrodes, and this can be detected.
  • the detection electrode 5805 When the detection electrode 5805 is connected to the signal detection means, it can be detected that the noodles (dielectric material) has a higher density than the prescribed amount when the capacitance is larger than the assumed interelectrode capacitance. On the contrary, when it is smaller than the assumed interelectrode capacity, it can be detected that the noodles (dielectric) is less than the prescribed amount and has a low density. When the interelectrode capacity is significantly small, it can be detected that noodles are not contained or that the cup noodles are not placed between the electrodes.
  • FIG. 58 shows an example in which the detection electrode 5082, the detection electrode 5083, the detection electrode 5084, and the detection electrode 5085 are switched by a switch.
  • the capacitance between the electrodes can be shortened. It is also possible to know the state of the cup ramen over time. In addition, it is possible to know the interelectrode capacitance at a plurality of locations by various methods shown in the fourteenth embodiment.
  • FIG. 59 shows an example in which the position of the object to be measured is estimated by using a plurality of electrodes.
  • the arrangement 5901 in FIG. 59 exemplifies, for example, a case where an object to be measured (a drink in a plastic bottle as an example) moves on the belt conveyor from left to right.
  • Each of A, B, C, and D in the arrangement 5901 in FIG. 59 is a proximity sensor or a proximity switch for detecting an object to be measured.
  • A, B, C, and D in the graph 5902 of FIG. 59 show examples of output voltages when the capacitance displacement meter of the present disclosure is used as a proximity sensor.
  • the measurement object is a dielectric, and when the measurement object enters between the electrodes, the capacitance between the electrodes increases and the output voltage of the capacitance displacement meter increases.
  • photoelectric sensors light-shielding type or reflective type
  • A, B, C, and D in the arrangement 5901 in FIG.
  • the output of the sensor A is turned on and off once, and it can be known that the sensor A has passed.
  • the output of the sensor B has not been turned on / off yet. In this state, it can be detected that the object to be measured is between the sensor A and the sensor B, but it is impossible to know where the object to be measured is between the sensor A and the sensor B.
  • A, B, C, and D in the arrangement 5901 in FIG. 59 are a drive electrode and a detection electrode of the capacitance displacement meter of the present disclosure, respectively.
  • the output voltage of the capacitance displacement meter corresponding to the electrode of A is the voltage of the up and down arrows shown in A of graph 5902 of FIG. (In FIG. 59 graph 5902, the voltage when the object to be measured is separated, that is, the flat portion of the voltage is the reference voltage. The same applies hereinafter.)
  • the output voltage of the capacitance displacement meter corresponding to the B electrode Is the voltage of the up and down arrows shown in B of graph 5902 in FIG.
  • the output voltages of C and D are both reference voltages.
  • the voltage of the up and down arrows in A is relatively large, and the voltage of the up and down arrows in B is relatively small. From this, it can be known that the object to be measured is located closer to A than B and away from C and D. As an example of this case, the position of the object to be measured can be estimated based on the ratio of the A voltage and the B voltage.
  • the output voltage of the capacitance displacement meter corresponding to each electrode can be A more accurate position of the object to be measured can be estimated.
  • FIG. 60A to FIG. 63B show an inspection of an automobile tire (hereinafter referred to as “tire”) 5401 as an example of detecting an object at a larger number of locations.
  • the inspection object is not limited to automobile tires.
  • the strength may be deteriorated, or the appearance may be impaired if the bubble portion appears outside due to wear. Since the relative permittivity of bubbles, that is, air is lower than the relative permittivity of rubber, the capacitance between the electrodes decreases in the portion containing the bubbles, so that the bubbles can be detected.
  • FIGS. 60A to 61B illustrate the configuration of the electrodes viewed from the cross-sectional direction of the tire
  • FIGS. 62A to 63B illustrate the configuration of the electrodes viewed from the side of the tire.
  • FIG. 60A shows an example in which a tire is inspected by a pair of drive electrodes and detection electrodes.
  • a drive electrode 5402 is provided on the entire inside of the tire 5401, and a small detection electrode 5403 is provided on the outside of the tire 5401.
  • the relationship between the drive electrode 5402 and the detection electrode 5403 is an example, and may be reversed. The same applies to the description of FIGS. 60A to 63B.
  • the electrode needs to be divided and placed inside the tire 5401 and then the electrodes are electrically connected, but this is not shown. (The same applies hereinafter.)
  • the outer electrode is movable outside the tire 5401 as indicated by the dotted line arrow in the figure. If necessary, the tire 5401 may be able to enter the groove portion.
  • the tire 5401 is rotated by a necessary amount, and the inspection is repeated in the same manner.
  • FIGS. 62A and 62B which will be described later, as an example.
  • FIG. 60A has an advantage that only a pair of drive electrodes and detection electrodes are required, but means for moving the outer electrode along the tire 5401 and means for rotating the tire 5401 are required, and the measurement time may be long. High nature.
  • FIG. 60A illustrates the case where the inner electrode of the tire 5401 is fixed, but the outer electrode and the inner electrode of the tire 5401 may be paired so that both electrodes can be moved. (Not shown)
  • FIG. 60B shows an example in which a tire is inspected by one drive electrode and a plurality of detection electrodes.
  • a drive electrode 5402 is provided on the entire inside of the tire 5401, and a plurality of detection electrodes 5403 that are appropriately divided are provided on the outside of the tire 5401. If each of the plurality of detection electrodes 5403 is provided with a signal detection unit and a measurement unit, the measurement time can be shortened, but the cost increases. Since the measurement time and cost can be selected by using the above-described fourteenth embodiment or a combination thereof, it may be appropriately selected according to the application.
  • the detection electrode 5403 is provided on the entire outer side of the tire 5401, and a plurality of drive electrodes 5402 that are appropriately divided are provided on the inner side of the tire 5401.
  • the detection electrode 5403 is provided on the entire outside of the tire 5401 as shown in the drawing, for example, the electrode is divided into three parts on the ground surface and both side surfaces and provided outside the tire, and the plurality of electrodes are electrically connected. This is not shown in the figure. (The same applies hereinafter) Selection of a plurality of electrodes and measurement time and cost is the same as in FIG.
  • FIG. 61B shows an example in which the electrode inside the tire of FIG. 60B is divided.
  • the electrodes inside the tire 5401 can be appropriately divided as described above. Further, it is possible to appropriately divide the electrode outside the tire 5401 as shown in FIG. 61A.
  • FIG. 62A and 62B show an example in which a tire is inspected by rotating the tire.
  • FIG. 62A shows an example in which the drive electrode 5402 is provided inside the tire 5401 and the detection electrode 5403 is provided outside, and can be applied to the examples of FIGS. 60A and 60B and the example of FIG. 61B.
  • FIG. 62B shows an example in which the drive electrode 5402 is provided outside the tire 5401 and the detection electrode 5403 is provided inside, and can be applied to FIG. 61A.
  • the guard electrode 5404 around the detection electrode 5403 shows an example in which electric lines of force from the drive electrode 5402 to the detection electrode 5403 are arranged in parallel. Is an element.
  • the electrodes are appropriately divided in the circumferential direction of the tire 5401 so that the measurement is parallelized and high-speed. It is also possible to make it easier.
  • 63A and 63B show an example in which the electrodes are divided so that the tire 5401 does not have to be rotated. When the tire 5401 is not rotated, measurement can be performed by bringing the electrode into contact with the tire 5401.

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Abstract

静電容量測定回路は、交流信号が入力される第1導電体と第2導電体との間に形成される静電容量を測定する。静電容量測定回路は、入力及び出力を有する増幅器と、帰還容量を含み増幅器の出力から増幅器の入力に負帰還をかける負帰還部を含み、増幅器の入力が第2導電体に接続されるとともに負帰還部により仮想接地され、静電容量と関数関係にある振幅の交流信号を出力する信号検知手段と、信号検知手段の出力に接続され、少なくとも信号検知手段の交流信号出力の振幅を測定する機能を有する測定手段とを備える。

Description

静電容量測定回路及び静電容量変位計
 この発明は、微小な静電容量まで測定可能な静電容量測定回路、及びこの静電容量測定回路を備える静電容量変位計に関するものである。
 対象物との間の距離などを測定する手段の一つとして、変位計が用いられている。主な非接触変位計として、レーザー変位計、渦電流変位計、静電容量変位計が慣用されているので、まずレーザー変位計、渦電流変位計、静電容量変位計の特徴を比較する。
 レーザー変位計は、レーザー光を対象物に照射し、対象物からの反射光を受光することによって対象物との距離を測定するものである。対象物との距離を測定する具体的な方法として、例えば三角測距式、共焦点式、分光干渉式、2次元三角測距式、白色干渉方式などの様々な方法が用いられているが、ここでは詳細を省略する。
 レーザー変位計は、対象物からの反射光を受光することが必要であるため、対象物がレーザー光を反射しうる物、例えば表面粗さが小さい物、望ましくは鏡面を有する物であることが要求されるという問題点を有している。また、対象物が既定の状態から傾くと、反射光を受光できなくなってしまうという問題点も有している。さらにレーザー変位計は、消費電力が大きく高価であるという問題点も有している。
 一方レーザー変位計は、一例として最大1000mmという長い測定距離を実現できるという長所を有している。(非特許文献1参照。)
 渦電流変位計は、例えば数MHzの高周波電流をコイルに流して高周波磁界を発生させる。高周波磁界が発生すると、磁界内の対象物(金属)の電磁誘導作用によって、対象物表面に磁束の通過と垂直方向の渦電流が流れる。渦電流の大きさはコイルと対象物との距離で変化するので、コイルのインピーダンス変化を知ることによって、距離を測定するものである。(非特許文献2参照。)
 渦電流変位計は、対象物が金属であることが必要であるという問題点を有している上、金属の種類によって感度が異なるという問題点を有している。また、表面粗さによって渦電流の大きさが異なるため、表面粗さによって感度が異なるという問題点も有している。
 渦電流変位計の測定可能距離は、一例として最大25mm程度である。(非特許文献3参照。)
 静電容量変位計は、対象物との間の静電容量によって対象物との間の距離を知るものである。対象物との距離が近ければ静電容量は大きく、対象物との距離が遠ければ静電容量は小さくなる。このように対象物との間の静電容量によって距離を測定することを、以下「距離測定」という。従来技術による静電容量変位計は後に詳述する。
 従来技術による静電容量変位計の最大の問題点は、一例として最大8mmという短い測定距離である。(非特許文献4参照。)
 一方、従来技術による静電容量変位計は、接地された導電体との間の距離を測定できるだけでなく、接地された導電体との間の静電容量に影響する物体を検知することができ、しかも導電体でない物体も検知できるという大きな長所を有している。例えば、空気よりも誘電率の大きい物体が静電容量変位計と接地された導電体との間に入ると、静電容量が増加するので、誘電体の量や厚さなどを知ることができる。また、一例として人体(不完全に接地された導電体としてふるまう場合が多い)のような物体が静電容量変位計と接地された導電体の間に入ると、静電容量が減少するので、当該物体の状態を知ることができる。このような、静電容量に影響する物体を検知する方法を、以下「物体検知」という。
 また、距離測定を行うものも物体検知を行うものも、静電容量によるものは、以下「静電容量変位計」という。さらに静電容量変位計は、対象物の表面粗さの影響を受けないという長所も有している。
 レーザー変位計、渦電流変位計、静電容量変位計の長所と短所をまとめると、表1のようになる。表1において、「VG」はvery good、「G」はgood、「A」はaverage、「P」はpoorを表す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
 従来技術による静電容量変位計の一例として、特許文献1に示されている計測原理(特許文献1の図1及び段落0008から段落0018)や、非特許文献5の測定原理の項が挙げられる。
 すなわち、電極を定電流交流源で駆動し、既知の値(空気の誘電率、定電流交流源の周波数と出力電流、電極面積)を勘案すると、電極と接地された対象物(導電体)間の距離を電極に発生する電圧によって知ることができる。(特許文献1の式1から式4や、非特許文献5の式。)
 このような従来技術による静電容量変位計の計測原理を、以下「定電流法」という。
 しかし定電流法では、浮遊容量が測定誤差要因となるため、一例として測定容量1pF以下となるような用途に適用することは極めて困難である。(定電流法では電極-対象物間の容量と浮遊容量を分離することができず、定電流交流源の出力電流が浮遊容量に分流してしまうため、特に測定容量が小さいときに大きな測定誤差要因となる。)
 このような浮遊容量の影響を低減するために、特許文献1の発明や非特許文献5では、バッファアンプによって中心電極と同電位に駆動されたガード電極(中心電極やガード電極は、非特許文献5の名称)を併用して、中心電極の浮遊容量の影響を低減しようとしている。ガード電極はさらに、非特許文献5の測定原理の図のように、電極-対象物間の電場を整えることができるので、距離と測定電圧の関係の直線性を改善することもできる。
 しかし、非特許文献5のバッファアンプや特許文献1の演算増幅器等の入力容量(通常数pF以上)も、電極の浮遊容量と同じように動作するため測定誤差要因となり、この誤差要因はガード電極等を用いても排除できない。またこのような入力容量は、周囲温度、バッファアンプや演算増幅器の電源電圧などによって変化してしまう。このため、ガード電極などを併用する場合であっても、測定容量1pFを大きく下回るような用途に適用することは極めて困難である。また回路構成によっては、定電流交流源の出力容量も同様に、測定誤差要因となる場合がある。
 例えば非特許文献4の最大測定距離8mmは、直径40mmという大型のディテクタ(電極)を用いることによって実現している。直径40mm、電極間距離8mmの平行平板における容量は約1.39pFであり、従来技術による静電容量変位計において測定容量1pF以下を実現することが困難であることを示している。
特開平9-280806号公報
"仕様比較表"、[online]、株式会社キーエンス、[平成31年2月28日検索]、インターネット<和文URL:https://www.keyence.co.jp/ss/measure/selection/spec_select/#2> 瀧本 孝治、"渦電流変位センサの原理と特徴 vol.1~原理と特徴(概要)~"、[online]、新川電機株式会社、[平成31年2月28日検索]、インターネット<和文URL:http://www.shinkawa.co.jp/magazine/vol.11_column_sst.html> "渦電流式非接触 変位・振動計 VCシリーズ"、[online]、新川電機株式会社、[平成31年2月28日検索]、インターネット<和文URL:https://www.shinkawaelectric.com/products/non_contact/vc.html><英文URL:https://www.shinkawaelectric.com/en/products/non_contact/vc.html> "静電容量式非接触変位計 VT-5200シリーズ"、[online]、株式会社 小野測器、[平成31年2月28日検索]、インターネット<最終更新日2016年9月2日、和文URL:https://www.onosokki.co.jp/HP-WK/products/keisoku/thickness/vt5200.html><Revised:2010年12月1日、英文URL:https://www.onosokki.co.jp/English/hp_e/products/keisoku/dimension/vt5200.html> "PS-IA 静電容量方式非接触変位計"、特に「測定原理」の項、[online]、ユニパルス株式会社、[平成31年2月28日検索]、インターネット<和文URL:http://www.unipulse.com/jp/products/PS-IA.html><英文URL:https://www.unipulse.tokyo/en/product/ps-ia/>
解決しようとする課題
 電極の選択の自由度が高く、小さい静電容量を測定するという課題があった。
一般的開示
 本発明の第1の側面は、交流信号が入力される第1導電体と第2導電体との間に形成される静電容量を測定するための静電容量測定回路である。静電容量測定回路は、入力及び出力を有する増幅器を備えてよい。静電容量測定回路は、帰還容量を含み増幅器の出力から増幅器の入力に負帰還をかける負帰還部を含み、増幅器の入力が第2導電体に接続されるとともに負帰還部により仮想接地され、静電容量と関数関係にある振幅の交流信号を出力する信号検知手段を備えてよい。静電容量測定回路は、信号検知手段の出力に接続され、少なくとも信号検知手段の交流信号出力の振幅を測定する機能を有する測定手段を備えてよい。
 信号検知手段は、さらに、直流補償回路を含んでよい。直流補償回路は、増幅器の出力に接続された入力を有する積分回路と、積分回路の出力及び増幅器の入力に接続する帰還抵抗を含み、増幅器の出力中の直流成分及び低周波成分を、増幅器の入力に負帰還をかけることによって増幅器を直流的に安定させてよい。
 直流補償回路は、さらに、少なくとも一つのローパスフィルタを含んでよい。該ローパスフィルタは、増幅器の出力と積分回路の入力の間、又は積分回路の出力と帰還抵抗の間の少なくとも一方の間に設置されてよい。
 負帰還部は、帰還容量に並列に接続される帰還抵抗を含み、該帰還抵抗の端子間に端子間容量が形成されてよい。
 負帰還部は、さらに、帰還抵抗に直列に接続されるキャンセル回路又は減衰器を含んでよい。
 負帰還部は、さらに、帰還抵抗とキャンセル回路又は減衰器の間に第1のバッファアンプを含んでよい。
 負帰還部は、帰還容量に並列に接続される放電スイッチを含んでよい。
 第2導電体と信号検知手段の間に設置され、第1の共振回路、第2の共振回路、又は第1の共振回路及び第2の共振回路を含むノイズ除去回路をさらに備えてよい。第1の共振回路は、第1導電体に入力される交流信号の周波数成分で共振してよい。第2の共振回路は、除去しようとする周波数成分で共振してよい。
 第2導電体と信号検知手段の間、第2導電体の近辺、又は第1導電体の近辺の少なくとも1か所に設置されるシールドをさらに備えてよい。シールドが接地されてよい。
 静電容量測定回路は、第2導電体と信号検知手段の間、第2導電体の近辺、又は第1導電体の近辺の少なくとも1か所に設置されるシールドを備えてよい。静電容量測定回路は、入力及び出力を含む第2のバッファアンプを備えてよい。第2のバッファアンプの入力が信号検知手段の入力に接続されるとともに、第2のバッファアンプの出力がシールドに接続され、第2のバッファアンプの出力によってシールドを駆動してよい。
 第1導電体、第2導電体、又は第1導電体及び第2導電体をプリント基板によって構成してよい。
 静電容量測定回路は、第1導電体と第2導電体の間、第1導電体に入力される交流信号を発生する駆動信号発生手段と第1導電体の間、第2導電体と信号検知手段の間、又は駆動信号発生手段と第1導電体の間と第2導電体と信号検知手段の間の両方の間に設置されるインダクタをさらに備えてよい。静電容量とインダクタが共振回路を形成し、静電容量が特定の値であるときに共振回路が第1導電体に入力される交流信号の周波数で共振してよい。
 信号検知手段は、増幅器の出力と測定手段の間に設置される増幅回路を含んでよい。該増幅回路は、第1導電体に入力される交流信号の周波数における増幅率の絶対値が1より大きい増幅率を有してよい。
 帰還容量は、減衰器と、第3のバッファアンプと、容量素子を含んでよい。増幅器の出力側に減衰器の入力側が接続されてよい。減衰器の出力側に第3のバッファアンプの入力側が接続されてよい。第3のバッファアンプの出力側に容量素子の一端が接続され、容量素子の他端が増幅器の入力側に接続されてよい。記帰還容量が等価的に容量素子の容量と減衰器の減衰率と第3のバッファアンプの利得の積値と同じ容量を備えるように、信号検知手段が動作してよい。
 帰還容量は、第1の抵抗と第2の抵抗を含む減衰器と容量素子を含んでよい。増幅器の出力側に減衰器の入力側が接続され、減衰器の出力側に容量素子の一端が接続され、増幅器の入力側に容量素子の他端が接続されてよい。交流信号の周波数における、容量素子のインピーダンスが第1の抵抗と第2の抵抗の並列抵抗値に対して大きいとき、帰還容量が等価的に容量素子の容量と減衰器の減衰率の積値と同じ容量を備えるように、信号検知手段が動作してよい。
 増幅器は、ディスクリート素子で構成されてよい。
 静電容量測定回路は、第1導電体及び第2導電体に並列に接続された基準容量を備えてよい。静電容量測定回路は、第1導電体に入力される交流信号を発生する駆動信号発生手段と、第1導電体及び基準容量との間に配置され、駆動信号発生手段を第1導電体又は基準容量に切り替え可能に接続するスイッチを備えてよい。
 測定手段は、入力側にフィルタを備えてよい。フィルタは、測定手段で測定しようとする周波数以外の周波数成分を減衰させてよい。
 測定手段は位相検波手段を備えてよい。位相検波手段は、測定手段で測定しようとする周波数以外の周波数成分の影響を抑制してよい。
 静電容量測定回路は、各々異なる周波数の交流信号を出力し、第1導電体に入力される交流信号を発生する駆動信号発生手段を、複数備えてよい。第1導電体は、複数の第1導電体を含み、複数の第1導電体は、各々異なる周波数の交流信号に対応する複数の駆動信号発生手段に一対一で接続してよい。第2導電体は1つであってよい。信号検知手段又は測定手段は、複数の周波数を分離して、各第1導電体と第2導電体間の静電容量を測定してよい。
 第1導電体は1つであってよい。第2導電体は複数の第2導電体を有し、複数の第2導電体に一対一で対応する信号検知手段及び測定手段に接続されてよい。信号検知手段又は測定手段は、1つの第1導電体と、複数の第2導電体間の静電容量を各々測定してよい。
 第1導電体に入力される交流信号を生成する駆動信号発生手段、第1導電体、第2導電体、信号検知手段、及び測定手段のうちの2つの間の接続を切り替える切替手段をさらに備えてよい。
 第1導電体は、位相が90°異なる2つの交流信号が各々入力される2つの第1導電体を有してよい。第2導電体は1つであってよい。測定手段が2つの交流信号を位相差で分離することによって、1つの第2導電体と各第1導電体間の静電容量を測定してよい。
 第1導電体は、位相が180°異なる2つの交流信号が各々入力される2つの第1導電体を有してよい。第2導電体は1つであってよい。第2導電体が接続されている信号検知手段の出力が最小になる位置と2つの第1導電体における各々の電圧に基いて第2導電体の位置を測定してよい。
 第1導電体及び第2導電体は第1の静電容量を形成してよい。該第1の静電容量は、信号検知手段の入力に接続されてよい。測定手段は、第1の位相検波手段と、該第1の位相検波手段の出力を直流に変換する平均化手段を含み、直流電圧を出力してよい。静電容量測定回路は、さらに、第2の静電容量と、第2の位相検波手段とを備えてよい。直流電圧は、第2の位相検波手段及び第2の静電容量を介して信号検知手段の入力に接続されてよい。第1の静電容量及び第2の静電容量のいずれかが静電容量を形成してよい。直流電圧は、第1の静電容量に比例し、第2の静電容量に反比例してよい。
 第1導電体に入力される交流信号は、ディジタル直接合成シンセサイザにより発生されてよい。ディジタル直接合成シンセサイザはルックアップテーブルを含み、該ルックアップテーブルによって位相の異なる信号を得てよい。
 第1導電体に入力される交流信号は、ディジタル直接合成シンセサイザにより発生されてよい。ディジタル直接合成シンセサイザは、出力の上位2ビットの論理演算によって90°単位の位相の異なる信号を得てよい。
 測定手段は、さらに、1以上の比較判定手段と、比較判定手段に対応する閾値設定手段を含んでよい。測定手段で測定又は算出した結果の判定を行ってよい。
 測定手段はさらに通信手段を備え、測定手段で測定した測定結果を、通信手段を介して送信してよい。
 測定手段はさらに通信手段を備え、結果、結果の判定結果の、両方又は一方を、通信手段を介して送信してよい。
 静電容量によって、静電容量に影響する物体の接近又は離脱を検知してよい。
 第1導電体に入力される交流信号を発生する駆動信号発生手段、第1導電体、第2導電体、信号検知手段、及び測定手段により構成される回路の少なくとも一部を集積回路に実装してよい。
 第1導電体に入力される交流信号を発生する駆動信号発生手段と第1導電体の間、第2導電体と信号検知手段の間、又は第1導電体に入力される交流信号を発生する駆動信号発生手段と第1導電体の間及び第2導電体と信号検知手段の間を着脱可能としてよい。
 本発明の第2の側面は、静電容量変位計である。静電容量変位計は、上記の静電容量測定回路を備えてよい。第1導電体又は第2導電体は、測定の対象物であってよい。第1導電体及び第2導電体は、別の対象物であってよい。記測定手段は、第1導電体と第2導電体の間の距離を測定してよい。
 測定手段は、静電容量と距離の関係を曲線関数で近似し、曲線関数に基いて補正を行うことによって、静電容量と距離の関係を得てよい。
 第1導電体、第2導電体のいずれか一以上を移動可能としてよい。
 本発明の第3の側面は、静電容量変位計である。静電容量変位計は、上記の静電容量測定回路を備えてよい。測定手段は、第1導電体と第2導電体間の静電容量に影響する物体の状態を検知してよい。
 静電容量変位計は、静電容量と、静電容量に影響する物体の状態の関係を曲線関数で近似し、曲線関数に基いて補正を行うことによって、静電容量と物体の状態の関係を得てよい。
 第1導電体、第2導電体、又は静電容量に影響する物体のいずれか一以上を移動可能としてよい。
 本出願の明細書、図面、又は明細書及び図面に開示(以下、「本開示」という)の静電容量測定回路によれば、次のような効果の一以上が得られる。(本開示の静電容量測定回路を、以下、「容量測定回路」という。)
 本開示において「駆動電極」は、第1導電体の一例である。「検知電極」は第2導電体の一例である。本開示の容量測定回路の駆動電極や検知電極は、導電体であればどのような形状や大きさであってもよく、電極の選択の自由度が高い。
 検知電極が接続されている信号検知手段の増幅器の入力は仮想接地されるので、交流信号が発生しないため、検知電極対接地間の浮遊容量による影響が生じず、また増幅器の入力容量も同様に測定に影響しない。
 容量測定回路は、駆動電極も浮遊容量の影響を受けず、駆動電極に入力される交流信号を発生する駆動信号発生手段自体の出力容量も測定に影響しない。言い換えると、駆動信号発生手段が定電圧出力であれば浮遊容量や出力容量の影響を受けない。定電圧出力でなくても、駆動電極における交流信号の振幅を知る手段があれば影響は生じない。
 このため容量測定回路は、従来技術による静電容量変位計よりもはるかに微小な容量を測定可能となる。一例として、1fF(0.001pF)以下の容量を測定できる。
 また、大きな電極を使用すると、高感度になる一方、ハムや周囲雑音の影響を受けやすくなる。しかし容量測定回路はさらに、ハムや周囲雑音の影響を排除するための様々な手法が含まれているので、大きな電極を使用することによる高感度化も容易である。
 このような容量測定回路を静電容量変位計に適用すると、一例として1000mm以上の距離測定ができる。従来技術による静電容量変位計は測定距離が短いことが最大の欠点であった。しかしこのような容量測定回路を含む静電容量変位計によれば、このような欠点を大きく改善できる。
 一方、従来技術による静電容量変位計では、対象物の制限を受けない物体検知ができるという特長や、対象物の表面粗さの影響受けないという特長を有していたが、本開示の静電容量変位計でも同様にこの特長を享受可能である。
 従来技術による静電容量変位計では最大測定距離が短いため電極と接地された物体の間が近い必要があり、小さい物体の検知しか実現できなかった。しかし本開示の静電容量変位計では駆動電極と検知電極の距離を大きくすることができ、即ちはるかに大きな測定距離を実現できるため、大きい物体の物体検知を実現できる。
 具体的な一例として、複数の液体容器が梱包されて外から見えない状態であっても、各容器に充填されている液体の容量を検知するような用途がある。一例として、2リットルのペットボトルの高さは300mm強であり、これが複数梱包された状態のままでもペットボトル各々の内容量を検知可能なので、最終出荷検査において特に有効である。このような検査は、レーザー変位計、渦電流変位計、従来技術による静電容量変位計のいずれでも実現不可能であった。
 なお、本開示の1fF(0.001pF)以下の容量測定の例や1000mm以上の測定距離の例は、出願時点において確認されている一例にすぎず、これらに限定するものではない。
 従来技術による静電容量変位計によって複数点の距離測定や物体検知を行う場合は、電極や回路を複数点の数だけ用いる必要がある。これに対して本開示による静電容量変位計では、複数の周波数、90°単位の位相差、ヘテロダイン検波手段や切り替えによって、電極や回路の一部を簡素化できるという効果も有している。
第1の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第2の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第3の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第3の実施の形態に係る容量測定回路の増幅器Uの利得を示す図である。 第3の実施の形態に係る容量測定回路における雑音を示す図である。 容量測定回路の信号検知手段の一例を示す図である。 容量測定回路の信号検知手段の一例を示す図である。 容量測定回路の信号検知手段の一例を示す図である。 容量測定回路の信号検知手段の一例を示す図である。 第4の実施の形態に係る容量測定回路の一例の一例を示す図である。 第4の実施の形態に係る容量測定回路の信号検知手段の一例を示す図である。 第5の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第5の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 信号検知手段の出力の周波数特性のシミュレーション例を示す図である。 第5の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第5の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第5の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第6の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第6の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 プリント基板を用いた検知電極及びシールド電極の一例を示す図である。 プリント基板を用いた検知電極及びシールド電極の一例を示す図である。 プリント基板を用いた検知電極及びシールド電極の一例を示す図である。 第7の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第7の実施の形態に係る容量測定回路の信号検知手段の出力振幅を示すグラフである。 第7の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第7の実施の形態に係る容量測定回路の信号検知手段の出力振幅を示す図である。 第9の実施の形態に係る容量測定回路の一例の一例を示す図である。 第9の実施の形態に係る容量測定回路の信号検知手段の一例を示す図である。 第10の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第11の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第12の実施の形態に係るフィルタを含む測定手段の一例を示す図である。 第13の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第13の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第13の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第14の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第14の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第14の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第14の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第14の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第14の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第14の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第14の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第14の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第15の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第16の実施の形態に係る位置検知の例を示す図である。 第16の実施の形態に係る位置検知の例を示す図である。 第16の実施の形態に係る位置検知の例を示す図である。 第16の実施の形態に係る位置検知の例を示す図である。 第17の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第18の実施の形態に係るDDSの一例を示す図である。 第18の実施の形態に係るDDSの一例を示す図である。 第18の実施の形態に係るDDSの一例を示す図である。 第18の実施の形態に係るDDSの真理値表の一例を示す図である。 第19の実施の形態に係る測定手段の一例を示す図である。 第20の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第20の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第20の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第20の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第20の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示す図である。 第21の実施の形態に係る静電容量変位計を距離測定に用いる例を示す図である。 第21の実施の形態に係る静電容量変位計を距離測定に用いる例を示す図である。 第21の実施の形態に係る静電容量変位計を距離測定に用いる例を示す図である。 第21の実施の形態に係る静電容量変位計を物体検知に用いる場合の例を示す図である。 第21の実施の形態に係る静電容量変位計を物体検知に用いる場合の例を示す図である。 第22の実施の形態を説明するためのグラフの一例を示す図である。 第22の実施の形態を説明するためのグラフの一例を示す図である。 距離測定に使用する一組の駆動電極と検知電極の具体例を示す図である。 距離測定に使用する一組の駆動電極と検知電極の具体例を示す図である。 距離測定に使用する一組の駆動電極と検知電極の具体例を示す図である。 距離測定に使用する一組の駆動電極と検知電極の具体例を示す図である。 距離測定に使用する一組の駆動電極と検知電極の具体例を示す図である。 距離測定に使用する一組の駆動電極と検知電極の具体例を示す図である。 2つの導体の間の距離を測定する例を示す図である。 2つの導体の間の距離を測定する例を示す図である。 2つの導体の間の距離を測定する例を示す図である。 2つの導体の間の距離を測定する例を示す図である。 2つの導体の間の距離を測定する例を示す図である。 2つの導体の間の距離を測定する例を示す図である。 2つの導体の間の距離を測定する例を示す図である。 距離測定によって円筒状金属部品の直角度測定を行う例を示す図である。 距離測定によって円筒状金属部品の直角度測定を行う例を示す図である。 距離測定によって円筒状金属部品の直角度測定を行う例を示す図である。 距離測定によって円筒状金属部品の直角度測定を行う例を示す図である。 3箇所以上の距離測定を行う具体例を示す図である。 3箇所以上の距離測定を行う具体例を示す図である。 3箇所以上の距離測定を行う具体例を示す図である。 3箇所以上の距離測定を行う具体例を示す図である。 一組の駆動電極と検知電極を物体検知に使用する場合の具体例を示す図である。 一組の駆動電極と検知電極を物体検知に使用する場合の具体例を示す図である。 周波数重畳波形と位相の関係の例を示す図である。 周波数重畳波形と位相の関係の例を示す図である。 一組の駆動電極と検知電極を物体検知に使用する場合の具体例を示す図である。 一組の駆動電極と検知電極を物体検知に使用する場合の具体例を示す図である。 一組の駆動電極と検知電極を物体検知に使用する場合の具体例を示す図である。 一組の駆動電極と検知電極を物体検知に使用する場合の具体例を示す図である。 一組の駆動電極と検知電極を物体検知に使用する場合の具体例を示す図である。 一組の駆動電極と検知電極を物体検知に使用する場合の具体例を示す図である。 物体検知に使用する電極の形状や位置関係の変形例を示す図である。 物体検知に使用する電極の形状や位置関係の変形例を示す図である。 物体検知に使用する電極の形状や位置関係の変形例を示す図である。 物体検知に使用する電極の形状や位置関係の変形例を示す図である。 物体検知に使用する電極の形状や位置関係の変形例を示す図である。 物体検知に使用する電極の形状や位置関係の変形例を示す図である。 物体検知に使用する電極の形状や位置関係の変形例を示す図である。 複数の物体検知を行う例を示す図である。 複数の物体検知を行う例を示す図である。 複数の物体検知を行う例を示す図である。 複数の物体検知を行う例を示す図である。 複数の物体検知を行う例を示す図である。 複数の物体検知を行う例を示す図である。 複数の物体検知を行う例を示す図である。 複数の物体検知を行う例を示す図である。 複数の物体検知を行う例を示す図である。 複数の物体検知を行う例を示す図である。 複数の物体検知を行う例を示す図である。 複数の物体検知を行う例を示す図である。 複数の物体検知を行う例を示す図である。 複数の物体検知を行う例を示す図である。
 以下、図面を参照して実施の形態を説明する。実施の形態の説明において「駆動電極」は、第1導電体の一例である。「検知電極」は第2導電体の一例である。また、「駆動信号発生手段」は、第1導電体に入力される交流信号の発生手段の一例である。
 [第1の実施の形態]
 第1の実施の形態は、容量測定回路の基本的な構成を示している。この容量測定回路は、本開示の容量測定回路の一例である。図1は第1の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示している。以下、第1の実施の形態について、詳細に説明する。
 図1に示す容量測定回路は、駆動信号発生手段201と、駆動電極301と、検知電極401と、信号検知手段501と、測定手段601を含む。駆動信号発生手段201は交流信号を発生して、この交流信号を駆動電極301に印加している。この駆動信号発生手段201は、例えば信号発生器である。駆動電極301は、駆動信号発生手段201の出力に接続される。検知電極401は、駆動電極301との間に電極間容量Cxを形成する。信号検知手段501は、例えば信号検知回路であって、入力及び出力を有する増幅器Uと、帰還容量Cfを含み増幅器Uの出力から入力に負帰還をかける負帰還部701を含む。増幅器Uの入力は、増幅器Uの動作によって仮想接地され、仮想接地点となる増幅器Uの入力には検知電極401が接続されている。この信号検知手段501は、駆動電極301と検知電極401間の電極間容量Cxを示す振幅の交流信号を出力する。信号検知手段501が出力する交流信号の振幅は、駆動電極301と検知電極401間の容量と関数関係にある。測定手段601は、例えば交流電圧測定回路であって、信号検知手段501の出力に接続される。測定手段601は、信号検知手段501の出力の交流信号の振幅などを測定し、駆動電極301と検知電極401間の電極間容量Cxなどの情報を得る。
 以下で使用する電極間容量Cxという表現は、駆動電極と検知電極間に生じる静電容量そのものを指すと共に、その静電容量値も指すこととし、表現の区別なく使用する。他の容量、抵抗や電圧等についても同様に、実体とその値は表現の区別なく使用する。また、駆動電極301と検知電極401の間の距離を、電極間距離と略記する。
 容量測定回路101では、電極間容量Cxとほぼ比例する振幅の出力信号が信号検知手段501から得られる。(信号検知手段501に含まれる増幅器Uが理想アンプであり、電極間容量Cxや帰還容量Cfが理想素子であれば、電極間容量Cxと信号検知手段501の出力信号の振幅は、完全な比例関係となる。)一方、電極間容量Cxと電極間距離は、駆動電極301及び検知電極401が平行平板の場合、端効果が小さい領域(平行平板電極の寸法が、平行平板電極間の距離に比べて大きい場合)においては、ほぼ反比例の関係にある。よって、端効果が無視できる領域においては、測定誤差を考えなければ、電極間距離と信号検知手段501の出力信号の振幅は、平行平板の場合、反比例する。(端効果の影響等の詳細は、後述の第22の実施の形態で説明する。)
 測定手段601は、信号検知手段501の出力信号の振幅に基いて電極間容量Cxを得て、それに基いて、電極間距離や電極間容量Cxに影響する物体の状態などの情報を得ている。
 容量測定回路101の構成要素の一部又は全てはIC(Integrated Circuit:集積回路)に実装してもよい。ICへの実装については、第20の実施の形態で詳細を説明する。
 以下、容量測定回路101の各構成要素について説明する。
 〔第1の実施の形態-駆動信号発生手段〕
 駆動信号発生手段201で発生する交流信号のことを、以下「駆動信号」と略記する。駆動電極301における駆動信号の振幅を、以下「駆動信号振幅」と略記する。また駆動信号発生手段201で発生する交流信号の周波数、波形等を、以下「駆動信号周波数」、「駆動信号波形」等のように略記する。
 駆動信号周波数は任意に選択可能であるが、信号検知手段501の周波数帯域、周囲雑音の周波数、物体の誘電率の周波数特性や、交流信号を電磁波として放射しにくい駆動電極301の形状などを考慮して選択することが好ましい。一例として、物体検知を行う場合の対象物の誘電率が平坦でない周波数特性を有する場合、誘電率が高い周波数を選択すると、高い感度が得られる。
 また、位相差を持つ複数の駆動信号を用いることも可能である。90°位相差については、第15の実施の形態で説明する。また180°位相差については、第16の実施の形態で説明する。位相差を持つ駆動信号の発生については、第18の実施の形態で説明する。
 駆動信号振幅は、大振幅であるほど高感度の測定が可能となるが、大振幅であるほど駆動信号を電磁波として放射しやすくなり、また大振幅であるほど感電のおそれも生じやすくなるので、これらを考慮して選択することが好ましい。
 駆動信号波形も任意に選択可能である。正弦波以外の好適例として、方形波、台形波や周波数帯域を制限した方形波、複数の周波数成分を重畳した波形(以下、「周波数重畳波形」と称する。)などが挙げられる。方形波は、ピーク電圧に対する実効値が大きく、発生が容易である。台形波や周波数帯域を制限した方形波は、方形波よりも過渡状態の影響が小さい。
 駆動信号発生手段201の具体的な交流信号発生方法は任意に選択可能であり、一例として各種の発振回路などが考えられ、必要に応じて、PLL(位相ロックループ)を用いることによって周波数を安定化することも可能である。さらに、DDS(Direct Digital Synthesizer:ディジタル直接合成シンセサイザ)を用いれば、正確な周波数が得られ、任意波形による周波数成重畳波形や位相差を持つ複数の交流信号を発生することなども容易なので、特に好ましい。また、同一のクロックを用いる複数のDDSを用いれば、複数の駆動信号周波数間で相対誤差が生じないような複数の周波数の駆動信号を得ることもできる。
 駆動信号の出力インピーダンスも任意である。出力インピーダンスが、駆動信号周波数における電極間容量Cxのインピーダンスよりも十分に小さい定電圧出力であれば、駆動信号発生手段201の出力振幅がそのまま駆動信号振幅になる。より出力インピーダンスが高い場合は、駆動電極301において駆動信号振幅を測定又は算出する手段を設けることによって、正確な駆動信号振幅を知ることもできる。
 さらに、駆動信号発生手段201の出力を、図不示のトランス結合や容量結合にすることも可能である。トランス結合によれば、小振幅の駆動信号発生手段201を昇圧して大振幅にすることや、出力インピーダンスの高い駆動信号の出力インピーダンスを下げて実用上定電圧として使用することもできる。駆動信号発生手段201の出力電圧が直流成分を有することによって感電の恐れが生じる場合などは、容量結合とすることによって直流成分を除去することも可能である。
 〔第1の実施の形態-駆動電極、検知電極〕
 駆動電極301や検知電極401は、導電体で構成される。従来技術による静電容量変位計のように、一方を特殊な構造の専用の電極にするという必要はない。
 駆動電極301や検知電極401の面積が大きいほど電極間容量Cxが大きくなり、高感度の容量測定が可能となるので、可能な範囲で面積を大きくすることが望ましい。図1では同じ面積の円形の電極を例示しているが、必要に応じて駆動電極301と検知電極401の面積や形状を異ならせることも可能である。
 駆動電極301や検知電極401の形状は任意であり、形状の一例として円形、方形、角の丸い方形、多角形などが挙げられる。駆動電極301と検知電極401の両方が平坦の場合は、平坦な対向面が平行かつ中心が一致している場合と、その他の場合で、電極間容量Cxが異なる場合がある。一例として、駆動電極301と検知電極401の一方又は両方を球状にすると、駆動電極301と検知電極401の位置関係による電極間容量Cxへの影響を低減することが可能である。
 駆動電極301や検知電極401の表面状態も任意である。容量測定回路101を用いた静電容量変位計は、電極の表面粗さの影響を受けないという特長を有する。駆動電極301や検知電極401が導電体だけで構成されていてもよいし、例えばメッキや塗装等の表面処理がされていてもよい。
 表面処理されていない場合や表面処理が導電体の場合、駆動電極301と検知電極401が誤って接触すると、信号検知手段501の増幅器Uの反転入力に駆動信号発生手段201の出力が直接接続されることになる。このとき、駆動信号発生手段201の出力インピーダンスが低いと、信号検知手段501の増幅器Uの入力許容電圧を超えてしまい、増幅器Uの故障の原因となる可能性がある。これを防止するために、信号検知手段501の増幅器Uの入力に、図不示の保護素子や適切な保護回路を追加してもよい。保護素子の一例として、駆動信号周波数におけるインピーダンスが電極間容量Cxのインピーダンスよりも十分に小さく、かつ増幅器Uの入力を保護しうる程度に十分に大きいインピーダンスを有するような素子(例えば抵抗やコンデンサ)を用いればよい。
 距離測定の場合、駆動電極301や検知電極401の一方又は両方の、対向する表面に誘電体を追加すれば、電極間容量Cxを大きくでき、より高感度の測定を行うことが可能となる。ただしこの場合は原則として、誘電体の厚さの合計を駆動電極301と検知電極401の取りうる最小距離以下にすることが必要である。誘電体が弾性を有する場合は、誘電体の厚さの合計を駆動電極301と検知電極401の最小距離よりも大きめにして、衝撃吸収効果を持たせることもできる。物体検知の場合も、電極と物体の間について、上記と同様である。
 駆動信号発生手段201と駆動電極301の間や、検知電極401と信号検知手段501の間は、使用しないときなどに容易に外すことができるよう、コネクタ等の手段によって着脱可能としてもよい。
 検知電極401が周囲雑音を拾うことによって影響を受ける場合は、検知電極401の駆動電極301と反対側にシールドを設けることも可能である。容量測定回路101では、検知電極401と接地間の浮遊容量の影響をほとんど受けないので、検知電極401とシールド間の容量は測定結果にほとんど影響しない。シールド等については、後述の第6の実施の形態で、より詳細を説明する。
 〔第1の実施の形態-信号検知手段〕
 信号検知手段501は、増幅器Uと帰還容量Cfにより構成されている。
 なお以下の説明では、「増幅器」は、演算増幅器であってもよく、例えばオペアンプIC等のように、外付け部品を追加することによって増幅機能を実現するためのものを指す。また「増幅回路」とは、増幅器に外付け部品を追加することによって、回路全体として増幅機能を有するものを指す。
 増幅器Uの反転入力には、検知電極401と、帰還容量Cfの一端が接続されており、帰還容量Cfの他端は増幅器Uの出力に接続されている。増幅器Uの非反転入力は接地されている。
 増幅器Uの非反転入力が接地されているという表現は、増幅器Uの非反転入力が交流的に接地されていることを指しており、非反転入力が直流電圧を有していてもよい。(以下、同様。)一例として、増幅器が正負電源ではなく単一極性の電源で動作している場合、非反転入力には例えば電源電圧の半分の直流電圧を与えることがある。(図1の例では、増幅器Uは図不示の正負電源によって動作しており、増幅器Uの非反転入力が直接基準電位に接続されているので、交流的にも直流的にも接地されている。)
 駆動信号振幅をVin、駆動信号周波数をf、信号検知手段501の出力振幅をVoutとする。この場合、電極間容量Cxのインピーダンスは1/(2π・f・Cx)、帰還容量Cfのインピーダンスは1/(2π・f・Cf)となり、増幅器Uは反転増幅器を構成する。増幅器Uが反転増幅器のときの入出力の関係から、理想アンプの場合の入出力の関係は式1のようになる。
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 駆動信号振幅Vinと帰還容量Cfは既知の値なので、信号検知手段501の出力振幅Voutによって、電極間容量Cxを知ることができる。
 例えば駆動信号振幅Vinが1Vrms、帰還容量Cfが1pFのとき、信号検知手段501の出力振幅Voutが1Vrmsなら電極間容量Cxは1pF、信号検知手段の出力振幅Voutが0.1Vrmsなら電極間容量Cxは0.1pFのように、信号検知手段の出力振幅Voutによって、電極間容量Cxを知ることができる。
 増幅器Uがいわゆる理想アンプの場合は、信号検知手段501の出力振幅Voutは電極間容量Cxに比例し、帰還容量Cfに反比例する。現実の増幅器Uなどではこの比例・反比例関係に若干の誤差が生じるが、出力振幅Voutと電極間容量Cxとは「関数関係」にあるといえる。校正等によってこの関数関係を知ることができれば、補正によってより正確に電極間容量Cxを知ることができる。以降ではこのような正確性に関する議論は原則として省略し、式1が成立することを前提に説明する。
 検知電極401に接続されている増幅器Uの反転入力は、非反転入力と同電位になるように動作する結果、いわゆる仮想接地の状態になるので、検知電極401は接地電位に保たれる。このため、検知電極401と接地間の浮遊容量には駆動信号周波数等の電圧はかからない、あるいは一定の直流電圧になるので、容量測定回路101では、浮遊容量の影響が抑制される。
 現実の増幅器Uの場合は、駆動信号周波数における開ループ利得をAvとすると、浮遊容量の影響を1/Avにできる。(増幅器Uの働きによって、浮遊容量は実際の容量の1/Avの容量に見える。)すなわち、増幅器Uの帯域を考慮して駆動信号周波数を適宜選択することによって必要な浮遊容量の低減効果を得ることができ、駆動信号周波数における開ループ利得Avが大きい増幅器Uを用いることができれば浮遊容量の影響をより効果的に低減できる。
 ここでは信号検知手段501の出力として、低インピーダンスの電圧出力を例示しているが、必要に応じて高インピーダンスの電流出力や、適当なインピーダンスを有する出力とすることも可能である。
 信号検知手段501のさらなる改良・変形等は、後述の、第8の実施の形態から第11の実施の形態で説明する。
 〔第1の実施の形態-測定手段〕
 前述のように、信号検知手段501の出力振幅Voutは電極間容量Cxに比例するので、測定手段601は少なくとも信号検知手段501の出力振幅Voutを知ることができるように構成される。
 測定手段601は、例えば交流電圧測定機能を有するデジタルマルチメータ又は交流電圧計であってもよい。このデジタルマルチメータ又は交流電圧計が信号検知手段501の出力に接続されて、測定手段601は信号検知手段501の出力振幅Voutを知ることができる。
 測定手段601は、交流電圧測定手段を含み、信号検知手段501の出力を直流に変換して、信号検知手段501の出力振幅Voutをその直流電圧によって知るようにしてもよい。交流電圧測定手段として、下記のような例が挙げられる。
・信号検知手段501の出力を整流し平均化して直流に変換する(平均値検波)。(整流手段として用いるダイオードの順方向電圧(V)が、無視できない誤差要因になる場合は、慣用されている理想ダイオード回路を使用することもできる。)
・熱変換方式等の実効値検波素子や回路によって直流に変換する(実効値検波)。
・アナログ演算回路によって実効値変換を行い、直流に変換する(実効値検波)。
 信号検知手段501の出力を直流に変換する場合、信号検知手段501の出力に雑音が含まれていると一緒に直流電圧に変換されて誤差となる。したがって、後述の第12の実施の形態や第13の実施の形態のような方法によって駆動信号周波数だけを抽出することが望ましい。
 信号検知手段501の出力に、A/D変換器(アナログディジタル変換器)を接続して、各種のディジタル処理によって信号検知手段501の出力振幅Voutを知ることもできる。この場合、必要に応じて、信号検知手段501の出力とA/D変換器の間にローパスフィルタやバンドパスフィルタを挿入することも可能である。
 特にディジタル処理を併用する場合は、信号検知手段501の出力振幅Voutに基いて電極間容量CxをCPU(Central Processing Unit)によって算出することも容易である。さらに、電極間容量Cxに基いて、電極間距離や物体の状態などの様々なパラメータを測定結果として算出することもできる。
 比較判定手段と閾値設定手段を測定手段601に備えることによって各種の判定を行うことも可能であり、後述の第19の実施の形態で詳細を説明する。
 測定手段601は、出力手段を備え、信号検知手段501の出力振幅Vout、電極間容量Cx、電極間距離や物体の状態などの様々な測定結果、及び判定を行った結果などの情報を、適宜出力する。出力手段は、情報の各種の表示、印刷(値の印字やグラフ出力を含む)、判定によって知った異常等の際の警報や接点出力等を広く含み、これらには限定されない。また、測定手段601が通信手段を備え、この通信手段によって、必要なところにこれらの情報を伝達してもよい。このような測定手段の詳細も、後述の第19の実施の形態で説明する。
 測定手段601を含む組み合わせにおいてはさらに、一例として下記のような改良・変形が考えられるが、これらの詳細は各々の実施の形態で説明する。
・信号検知手段501において、帰還容量Cfを等価的により小さい容量とする回路によって、より高感度な測定を行う。(第9の実施の形態。)
・信号検知手段501の出力に、さらに増幅回路を追加することによって、より高感度な測定を行う。(第10の実施の形態。)
・駆動信号周波数以外の周波数成分を減衰するようなフィルタを、信号検知手段501との間に追加することによって、雑音等の影響を低減する。(第12の実施の形態。)
・駆動信号周波数以外の影響を受けにくい交流電圧測定方法(一例として位相検波手段)によって、雑音等の影響を低減する。(第13の実施の形態。)
・同時に複数点の距離測定や物体検知を行う。(第14の実施の形態。)
・90°の位相差を有する2つの駆動信号によって、同時に2点の距離測定や物体検知を行う。(第15の実施の形態。)
 〔第1の実施の形態-静電容量変位計への応用の概要〕
 容量測定回路101では前述のように、信号検知手段501の出力振幅Voutによって電極間容量Cxを知ることができる。平行平板の場合は、端効果が無視できる領域においては、電極間距離と電極間容量Cxは反比例の関係にあるので、電極間容量Cxを知ることによって電極間距離を知ることができる。端効果が無視できない場合や平行平板でない場合であっても、電極間距離と電極間容量Cxの関係を予め知っておけば、電極間容量Cxから電極間距離を知ることができる。この場合も、電極間距離と電極間容量Cxは、ある関数関係にあるので、電極間容量Cxを知ることによって電極間距離を知ることができる。
 駆動電極301と検知電極401のいずれか一方又は両方が測定対象物となるように容量測定回路101を適用すれば、電極と測定対象物の間又は測定対象物同士の間の距離測定が可能な静電容量変位計を実現できる。なお距離測定の場合には、駆動電極301や検知電極401となる測定対象物が導電体である必要がある。ただし、非導電体の対象物に電極を取り付ければ、距離測定を行うことも可能である。
 容量測定回路101を用いれば、電極間容量Cxに影響を及ぼす物体に係る物体検知も可能であり、この場合の物体は導電体でなくてもよい。例えば、空気よりも誘電率の大きい物体が駆動電極301と検知電極401間に入ると、電極間容量Cxが増加するので、その増加の程度によって誘電体の量や厚さなどを知ることができる。また、電気的に浮いた(絶縁された)導電体(このような導電体を、以下、「浮いた導電体」という)が駆動電極301と検知電極401間に入ると、電極間容量Cxが増加するので、その増加の程度によって浮いた導電体の大きさや厚さなどを知ることができる。一方、接地された導電体などの物体が駆動電極301と検知電極401間に入ったり近づいたりすると、駆動電極301と検知電極401間の電気力線を遮ることになるため、電極間容量Cxが減少する。よって、その電極間容量Cxの変化の程度によって物体の状態を知ることができ、容量測定回路101によって、物体検知が可能な静電容量変位計も実現できる。
 ここで、誘電体、浮いた導電体、及び接地された導電体という分類は一つの例であり、このような分類が一義に適用できない場合もある。例えば人体は、導電体というにはインピーダンスは大きめではあるが、物体検知においては接地された導電体のようにふるまう場合が多い。しかし、接地部(例えば靴)のインピーダンスが大きい場合や、駆動電極301や検知電極401が人体に対して十分な大きさの場合は、浮いた導電体のようにふるまう可能性がある。また人体の大部分は水であり、水は誘電体なので、誘電体としてふるまう可能性もある。
 容量測定回路101を静電容量変位計に適用すれば、検知電極等における浮遊容量の影響を受けず、例えば1fF(0.001pF)以下の微小な容量が測定可能である。このため、容量測定回路101を用いた静電容量変位計では、例えば1000mm以上の電極間距離の測定が実現可能である。
 また容量測定回路101を用いた静電容量変位計は、大きな距離の距離測定という効果と、物体検知では測定対象物が導電体でなくてもよいという静電容量変位計特有の長所を兼ね備えている。このため、従来の静電容量変位計では検知できなかった大きな物体の物体検知を実現できる。
 [第2の実施の形態]
 第1の実施の形態の信号検知手段では、入力に直流成分が存在すると、使用している増幅器Uの直流における開ループ利得だけ直流成分が増幅されることになる。即ち、直流オフセット電圧、バイアス電流、雑音等に起因して、信号検知手段の出力の直流成分が不定になったり、出力が飽和したりする可能性がある。
 第2の実施の形態は、信号検知手段の出力の直流成分の不定及び出力の飽和を抑制する例を示している。図2は、第2の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示している。図1と同一部分には同一の符号を付している。第1の実施の形態と同一部分の説明を省略する。
 第2の実施の形態に係る容量測定回路102は、信号検知手段501に代えて信号検知手段502を含む。この信号検知手段502は、既述の増幅器Uと、負帰還部702を含む。負帰還部702は、既述の帰還容量Cfを含み、帰還容量Cfに並列に接続される放電スイッチSfを含んでいる。放電スイッチSfがオンになると、帰還容量Cfが放電されて負帰還部702の端子間電圧はゼロになる。この結果、信号検知手段502に含まれる増幅器Uの出力は反転入力と同電位になる。一方、増幅器Uは反転入力と非反転入力が同電位になるように動作しているので、増幅器Uの出力は、非反転入力が接続されている基準電位と同電位になる。これにより、信号検知手段502の入力に直流成分が存在した場合であっても、増幅器Uの直流における開ループ利得により入力の直流成分が増幅されることが抑制される。即ち、直流オフセット電圧、バイアス電流、雑音等に起因して、信号検知手段502の出力の直流成分が不定になったり、出力が飽和したりすることが抑制される。
 放電スイッチSfを一時的にオンするタイミングの例として、増幅器Uの出力の直流成分が所定値を越えたとき、交流成分のピークと直流成分の和が増幅器Uの出力飽和電圧に近づいたとき、信号検知手段502の電源が投入されたとき(パワーオンリセット時)、増幅器Uの出力が飽和しないような一定のタイミングや任意のタイミング、などが挙げられる。
 放電スイッチSfは、例えば半導体スイッチ、半導体リレー、機械的なリレーである。半導体スイッチ、半導体リレーや機械的リレーの端子間容量は一般的に数pF以上あるので、帰還容量Cfが端子間容量の影響を受けないような容量の場合(一例として帰還容量Cfが10pF以上の場合)に使用可能である。
 機械的なリレーの一種として、高周波リレーがある。高周波リレーでは、オフ時に接触子を接地するなどの特殊な接点構造によって端子間容量を低減し、アイソレーション性能を大幅に改善している。このような高周波リレーを用いれば、より小さい容量(一例として1pF)の帰還容量Cfを採用することができる可能性がある。
 [第3の実施の形態]
 第3の実施の形態は、信号検知手段の出力の直流成分不定及び出力飽和を抑制する別の例を示している。図3Aから図3Cは、第3の実施の形態に係る容量測定回路、周波数特性、出力雑音特性の一例を示しており、図4Aから図4Dは、第3の実施の形態に係る容量測定回路の信号検知手段の変形例である。図1及び図2と同一部分には同一の符号を付している。第1の実施の形態および第2の実施の形態の何れかと同一部分の説明を省略する。
 第3の実施の形態に係る容量測定回路103は、信号検知手段501、502に代えて信号検知手段503を備える。この信号検知手段503は、既述の増幅器Uと、負帰還部703を含む。負帰還部703は、図3Aに示すように、既述の帰還容量Cfを含み、帰還容量Cfに並列に接続される帰還抵抗Rfを含んでいる。この帰還抵抗Rfは、第1の帰還抵抗の一例であり、放電のための抵抗である。この帰還抵抗Rfを備えることにより、容量測定回路103は、信号検知手段503の出力の直流成分不定と出力飽和とを抑制している。
 帰還容量Cfと帰還抵抗Rfによる時定数に相当する周波数よりも低い周波数(直流を含む)では、帰還容量Cfのインピーダンスよりも帰還抵抗Rfのインピーダンスが低くなるため増幅器Uの利得が低下する。(図3B参照。なお、帰還容量Cfと帰還抵抗Rfによる時定数に相当する周波数は、1/(2π・Cf・Rf)である。)この結果、信号検知手段503の出力の直流成分不定及び出力飽和が抑制される。一方、帰還容量Cfと帰還抵抗Rfによる時定数に相当する周波数よりも高い周波数では、帰還容量Cfのインピーダンスが帰還抵抗Rfのインピーダンスよりも低くなるため、周波数が高いほど帰還抵抗Rfの影響が低下し、式1に近づく。即ち、帰還容量Cfと帰還抵抗Rfによる時定数に相当する周波数は、駆動信号周波数よりも十分に低い周波数、一例として、1/10程度の周波数にするのが好ましい。
 ここで、帰還抵抗Rfは一般的に、大きな抵抗値、一例として100MΩの抵抗値を有している。帰還容量Cfと帰還抵抗Rfによる時定数に相当する周波数を、駆動信号周波数よりも低くするためである。また帰還抵抗Rfが大きい方が、帰還抵抗Rfに起因する信号検知手段503の雑音を小さくできるためである。この理由を、図3Cを参照して説明する。
 帰還抵抗Rfには並列に帰還容量Cfが接続されているため、信号検知手段503に現れる帰還抵抗Rfに起因する熱雑音は、帰還容量Cfと帰還抵抗Rfによる時定数に相当する周波数以上において、周波数に比例して低下する。一例として100倍大きい抵抗値の帰還抵抗Rf'を使用すると、この時定数に相当する周波数は1/100になる。一方、帰還抵抗Rfを大きくすると、帰還抵抗Rfに生じる熱雑音は大きくなる。一例として100倍大きい抵抗値の帰還抵抗Rf'を使用すると、熱雑音は√100倍(10倍)になる。時定数に相当する周波数が1/100になり、熱雑音が10倍になる結果、駆動信号周波数における熱雑音は1/10に低減される。すなわち、帰還抵抗Rfが大きい方が、帰還抵抗Rfに起因する信号検知手段503の雑音を小さくできる。
 容量測定回路103によれば、帰還容量Cfと帰還抵抗Rfによる時定数に相当する周波数よりも低い周波数において、継続的に増幅器Uの利得が低下するので、信号検知手段503の出力の直流成分不定と出力飽和とを抑制され、連続して容量測定を行うことが可能になる。
 信号検知手段503は、さらに図2に示す放電スイッチSfを備えていてもよい。例えば、信号検知手段503の電源投入時に放電スイッチSfをオンして帰還容量Cfを放電し、放電スイッチSfがオフになった後は帰還抵抗Rfの効果によって信号検知手段503を直流的に安定させることができる。
 帰還抵抗Rfとして用いる実際の抵抗素子には、端子間容量Cf'が存在しており、帰還抵抗Rfや帰還容量Cfに並列に接続される。一例として、チップ抵抗の端子間容量は0.1pF程度あるので、帰還容量Cfがこの影響を受けないような容量の場合(一例として帰還容量Cfが1pF以上の場合)に使用可能である。また、実際の抵抗素子の端子間容量Cf'は、実際の容量素子よりもQ値(クオリティファクタ)が低く、容量のばらつきが大きく容量値も保証されないため、信号検知手段503の性能劣化の原因となる可能性がある。
 信号検知手段503は、例えば図4Aから図4Dのいずれかに示す信号検知手段503-1、503-2、503-3、503-4であってもよい。図4Aから図4Dは、帰還抵抗Rfの端子間容量による影響をキャンセルし、帰還容量Cfの選択の自由度を向上させるための回路が追加された信号検知手段の例を示している。
 図4Aに示す信号検知手段503-1の負帰還部703-1は、帰還抵抗Rfに直列に接続されるバッファアンプBと、キャンセル回路とを備える。キャンセル回路は、抵抗Rcと容量Ccを含み、帰還抵抗Rfの端子間容量、つまり帰還容量Cf'の影響をキャンセルする。バッファアンプBは、図4Aにおいて三角形の記号により表され、利得1のバッファアンプである。帰還抵抗RfとともにバッファアンプB及びキャンセル回路は、帰還容量Cfに並列に接続される。このとき、下記の式2のように抵抗Rc、容量Cc、帰還抵抗Rf及び帰還容量Cf'の値を選択することによって、帰還抵抗Rfの端子間容量の影響をキャンセルできる。
 Rc・Cc≒Rf・Cf' ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(2)
 実際に入手できる容量素子は、帰還容量Cf'よりも大容量である場合がほとんどであるので、Cc>Cf'かつRc<Rfになる場合が多い。帰還容量Cf'の容量値のばらつきを補償するために、抵抗Rcと容量Ccのいずれか一方、もしくはその値の一部を可変素子としてもよい。一般的には可変抵抗の方が安価で入手性もよいので、抵抗Rcに可変抵抗を用いるか、固定抵抗と可変抵抗を適宜併用することが好ましい。
 帰還容量Cf'に並列に、この帰還容量Cf'よりも大容量(一例として10倍の容量)の図不示の固定容量素子を並列接続し、これらの並列容量をCf'として式2に適用することもできる。固定容量素子を併用する方法によれば、実際の抵抗素子の端子間容量が実際の容量素子よりもQ値が低く、容量のばらつきが大きく、容量値が保証されない、という問題点を、さらに緩和又は解決できるという効果が得られる。
 帰還抵抗Rfの抵抗値が抵抗Rcの抵抗値よりも十分に大きいときは、信号検知手段503-1からバッファアンプBを省略し、図4Bに示す信号検知手段503-2のような構成としても、図4Aの信号検知手段503-1と同様の効果が得られる。
 入手性や部品コストの問題によって帰還抵抗Rfの抵抗値をより小さくする場合は、図4Cに示す信号検知手段503-3のような構成にすることが可能である。信号検知手段503-3の負帰還部703-3は、帰還抵抗Rfに直列に接続されるバッファアンプBと、減衰器(アッテネータ)とを備える。減衰器は、抵抗R1と抵抗R2を含む。この場合は、減衰器の減衰率の分、帰還抵抗Rfの抵抗値を小さくできる。例えば、抵抗R1が9kΩであり、抵抗R2が1kΩであり、減衰器の減衰率が20dB(1/10)である場合、帰還抵抗Rfとして100MΩの抵抗を使用することによって、負帰還部703-3が1GΩの帰還抵抗Rfと同様の時定数として動作する。ただし、100MΩの抵抗を使用するときの信号検知手段503-3の雑音は、帰還抵抗Rfが1GΩ時よりも大きくなり、実際に使用する100MΩ相当となる。
 図4Cの信号検知手段503-3においては、抵抗R1と抵抗R2の並列抵抗値を抵抗Rcとして、前述の式2を満たすようにする。
 帰還抵抗Rfの抵抗値が抵抗R1と抵抗R2の並列抵抗値よりも十分に大きいときは、信号検知手段503-3のバッファアンプBを省略し、図4Dの信号検知手段503-4のような構成としても、図4Cの信号検知手段503-3と同様の効果が得られる。
 図4Cにおいて、バッファアンプの利得が1よりも低い場合は、その分、抵抗R1と抵抗R2による減衰器の減衰率を下げて補償すればよい。バッファアンプの代わりに利得が1よりも大きい非反転増幅回路を使用する場合は、その利得の分だけ減衰器の減衰率を上げればよい。
 なお、図3Aの容量測定回路103において、信号検知手段503の増幅器Uの出力を図不示の別のバッファアンプの入力に接続することにより、増幅器Uの出力と帰還抵抗Rfの間に別のバッファアンプを挿入しても、図3Aの容量測定回路103と同様の効果が得られる。この別のバッファアンプの増幅率が1よりも小さい場合は、それに相当する分、帰還抵抗Rfの抵抗値を小さくすればよい。図4Aと図4Bにおいて増幅器Uの出力と抵抗Rcの間に図不示の別のバッファアンプを挿入しても、同様であり、図4Cと図4Dにおいて増幅器Uの出力と抵抗R1の間に、図不示の別のバッファアンプを挿入しても、同様である。
 [第4の実施の形態]
 第4の実施の形態は、信号検知手段の出力の直流成分不定及び出力飽和を抑制する別の例を示している。図5Aは、第4の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示しており、図5Bは、容量測定回路の信号検知手段の一例を示している。図5Aにおいて、図1、図2及び図3Aと同一部分には同一の符号を付している。第1の実施の形態から第3の実施の形態の何れかと同一部分の説明を省略する。
 図5Aに示す容量測定回路104は、信号検知手段501、502、503に代えて信号検知手段504を備える。この信号検知手段504は、増幅器Uの入力及び出力に接続された直流補償回路904を含み、信号検知手段504の出力の直流成分不定及び出力飽和を抑制する。直流補償回路904は、増幅器Ui、積分容量Ci及び積分抵抗Riからなる積分回路と、第2の帰還抵抗の一例である帰還抵抗Rf'とを含み、積分回路を用いて増幅器Uの出力信号中の直流成分及び低周波成分を抽出し、負帰還をかけることによって信号検知手段504を直流的に安定させ、信号検知手段504の直流補償を行う。
 図5Aでは、信号検知手段504中の増幅器Uの出力と反転入力の間に(即ち、帰還容量Cfと並列に)、積分回路、及び積分回路の増幅器Uiの出力に接続される帰還抵抗Rf'が接続されている。積分容量Ci、積分抵抗Riによって決まる積分回路の時定数は、帰還抵抗Rf'と帰還容量Cfによって決まる時定数よりも小さくすることが好ましい。
 直流や低周波数成分に対して、信号検知手段504中の増幅器Uの開ループ利得に加えて、増幅器Uiの開ループ利得の分、増幅されて負帰還がかかるので、直流補償回路904によれば第3の実施の形態よりも、直流成分をより正確にキャンセルすることができるという効果が得られる。
 信号検知手段504は、例えば図5Bに示す信号検知手段504-1であってもよい。図5Bの信号検知手段504-1は、増幅器Uの入力及び出力に接続された直流補償回路904-1を含む。直流補償回路904-1は、既述の積分回路及び帰還抵抗Rf'並びに第1のローパスフィルタ及び第2のローパスフィルタを含み、雑音や高周波数成分が、図不示の帰還抵抗Rf'の電極間容量Cf'を経由して増幅器Uの入力に戻ることを低減する。
 第1のローパスフィルタは、抵抗RLPF1と容量CLPF1により形成され、増幅器Uの出力と積分回路の入力の間に設置され、増幅器Uiが十分に動作できないような雑音や高周波数成分を低減する。第1のローパスフィルタのカットオフ周波数は、増幅器Uiのユニティゲイン帯域幅よりも十分に低く(一例として1/10程度に)、かつ、積分抵抗Riと積分容量Ciからなる時定数に相当する周波数よりも十分に高く(一例として10倍以上に)選択することが望ましい。
 第2のローパスフィルタは、抵抗RLPF2と容量CLPF2により形成され、積分回路の出力と帰還抵抗Rf'の間に設置され、増幅器Uが十分に動作できないような雑音や高周波数成分を低減する。第2のローパスフィルタのカットオフ周波数は、増幅器Uのユニティゲイン帯域幅よりも十分に低く(一例として1/10程度に)選択することが望ましい。
 図5Bは、第1のローパスフィルタと、第2のローパスフィルタの両方を適用する例を示しているが、必要に応じてどちらか一方でもよく、また雑音や高周波数成分が十分に小さくほとんど影響がない場合は、ローパスフィルタはなくてもよい。
 図5Bでは抵抗と容量による一次のローパスフィルタを例示しているが、これに限定するものではなく、より高次のローパスフィルタを用いたり、LCフィルタなどを用いたり、自由に選択可能である。
 [第5の実施の形態]
 第5の実施の形態は、LC共振回路によって周囲からのノイズを除去する例を示している。図6A、図6B、図8A、図8B及び図8Cは、第5の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示しており、図7は、信号検知手段の出力の周波数特性のシミュレーション例を示している。図1、図2、図3A及び図5Aと同一部分には同一の符号を付している。第1の実施の形態から第4の実施の形態の何れかと同一部分の説明を省略する。信号検知手段505は、第1の実施の形態から第4の実施の形態で既述した信号検知手段の何れであってもよい。
 図6Aの容量測定回路105は、検知電極401と信号検知手段505の間に設置されたノイズ除去回路1005を備えている。このノイズ除去回路1005は、並列バンドパスフィルタ(P-BPF)(以下、「並列BPF」という)と容量Cdを含んでおり、検知電極401と信号検知手段505の間に設置される。並列BPFは、第1の共振回路の一例であり、並列共振回路によるバンドパスフィルタである。並列共振回路は、例えば並列共振コンデンサCppと並列共振インダクタLppからなる。この並列BPFの共振周波数は、駆動信号周波数に一致させる。
 並列BPFにおいては、共振周波数ではインピーダンスが高くなり、理想素子による並列共振回路であればインピーダンスは無限大になるので、駆動信号発生手段201で発生した駆動信号周波数の交流信号は減衰しない。一方並列BPFでは、共振周波数以外の周波数においてインピーダンスが低くなり、例えば商用電源周波数のハムや、電磁波等による外来雑音等を減衰させることができ、バンドパスフィルタとして動作する。
 より詳細には、信号検知手段505に含まれる増幅器Uが理想アンプの場合は、検知電極401が接続されている信号検知手段505の入力は完全に仮想接地されて電圧が発生しないため、並列BPFはバンドパスフィルタとして動作しない。しかし現実の増幅器Uでは、信号検知手段505の入力にわずかな電圧が生じるため、並列BPFはバンドパスフィルタとして動作する。
 並列BPFに含まれている並列共振インダクタLppは、直流におけるインピーダンスはゼロになるため、図6Aに示されている容量Cdがなく直結されている場合、直流では、信号検知手段505に含まれる増幅器Uの反転入力が接地される。一方、信号検知手段505に含まれる増幅器Uの非反転入力も接地されている。現実の増幅器Uでは直流オフセット電圧がゼロとは限らないので、反転入力と非反転入力が共に接地されると、容量Cdがない場合は、直流オフセット電圧が直流における開ループ利得の分、増幅される。この結果、信号検知手段505に含まれる増幅器Uの出力に直流成分が生じたり、出力が飽和したりする可能性がある。図6Aに示されている容量Cdは、このようなことを防止するために追加しているものであり、電極間容量Cxよりも十分に大きな容量を選択する。なおこの容量は、第1の実施の形態の、駆動電極、検知電極の項で述べた保護素子の一種に含めて考えることもできる。
 より高感度の測定を行うために、検知電極401を大きくすると、その分、ハムの影響や外来雑音を受けやすくなる。しかし、並列BPFを用いればこれらを除去できるので、検知電極401を大きくしてより高感度の測定を行うことができるという効果もある。
 駆動信号発生手段201が定電圧出力でなければ、駆動信号波形が正弦波以外の場合、例えば信号発生が容易な方形波を用いた場合に、この並列共振回路によって高調波成分が減衰されるので、正弦波(共振回路のQ値が低い場合は正弦波に近い波形)として扱うこともできる。ただしこの場合は、正弦波の駆動信号電圧を測定又は算出することが望ましい。
 図6Bの容量測定回路105-1は、ノイズ除去回路1005-1中の並列BPFにおいて、複数の共振回路を直列接続する例を示している。一例として、後述する第14の実施の形態のように複数の駆動信号周波数を用いる場合には、直列接続した各並列BPFの共振周波数を、使用する複数の周波数各々に一致させる。これによって、複数の駆動信号周波数各々は減衰されず、それら以外の周波数成分を減衰させることができる。直列接続した並列BPFの共振周波数の間には反共振周波数が生じるため、特に急峻な周波数特性で減衰される。この一例として、ノイズ除去回路1005-1が、4700pFの並列共振コンデンサCppと100μHの並列共振インダクタLppを有する第1の並列BPFと、2200pFの並列共振コンデンサCppと100μHの並列共振インダクタLppを有する第2の並列BPFと、1000pFの並列共振コンデンサCppと100μHの並列共振インダクタLppを有する第3の並列BPFとを含み、この3つの並列BPFを直列接続した場合の、信号検知手段505の出力の周波数特性のシミュレーション例を、図7に示す。なお、第1の並列BPFの共振周波数は約232kHzであり、第2の並列BPFの共振周波数は約339kHzであり、第3の並列BPFの共振周波数は約503kHzである。
 第5の実施の形態に係る図8Aの容量測定回路105-2は、ノイズ除去回路1005に代えて、ノイズ除去回路1005-2を備える。このノイズ除去回路1005-2は、直列バンドパスフィルタ(S-BPF)(以下、「直列BPF」という)を含んでいる。直列BPFは、第1の共振回路の一例であり、直列共振回路によるバンドパスフィルタであり、検知電極401と信号検知手段505の間に設置される。直列共振回路は、例えば直列共振コンデンサCspと直列共振インダクタLspからなる。この直列共振回路の共振周波数も、駆動信号周波数に一致させる。
 直列BPFにおいては、共振周波数ではインピーダンスが低くなる(理想素子による直列共振回路であればインピーダンスはゼロになる)ので、駆動信号発生手段201で発生した駆動信号周波数の交流信号は減衰せずに信号検知手段505に送られる。一方、共振周波数以外の周波数においては、直列BPFでは共振周波数においてインピーダンスが高くなるので、例えば商用電源周波数のハムや、電磁波等による外来雑音等は信号検知手段505に伝わりにくくなる。この結果、ハムや外来雑音を減衰させるためのバンドパスフィルタとして動作する。
 直列BPFの効果や駆動信号波形に対する影響は前述の並列BPFと同様なので、説明を省略する。また複数の駆動信号周波数を使用する場合、複数の直列BPFを並列接続すれば、前述の並列BPFの直列接続と同様、使用する複数の周波数成分を通過させ、それ以外の周波数成分を減衰させることができる。直列BPFを使用する場合は、直列共振コンデンサCspが直流成分を通さないため、前述の容量Cdは不要である。
 図8Aにおいて、検知電極401と直列BPFの間や直列BPFと信号検知手段505の入力の間に並列BPFを追加したり、複数の並列BPFと複数の直列BPFを交互に備えたりする等の方法によって、より高次のバンドパスフィルタとすることも可能である。(信号検知手段505の入力の直前に並列BPFを備える場合は、前述の容量Cdが必要である。
 第5の実施の形態に係る図8Bの容量測定回路105-3は、ノイズ除去回路1005に代えて、ノイズ除去回路1005-3を備える。このノイズ除去回路1005-3は、直列バンドエリミネーションフィルタ(S-BEF)(以下、「直列BEF」という)を含んでいる。直列BEFは、第2の共振回路の一例であり、直列共振回路によるバンドエリミネーションフィルタ(帯域除去フィルタ)であり、検知電極401と信号検知手段505の間に設置される。直列共振回路は、例えば直列共振コンデンサCseと直列共振インダクタLseからなる。この直列共振回路の共振周波数は、除去したいハムや外来雑音の周波数に一致させる。
 直列BEFにおいては、共振周波数ではインピーダンスが低くなる(理想素子による直列共振回路であればインピーダンスはゼロになる)ので除去したい周波数成分だけが減衰し、例えば商用電源周波数のハムや、電磁波等による外来雑音のような所定の周波数成分だけを減衰させることができる。一方、共振周波数以外の周波数においては、直列BEFのインピーダンスが高くなるので、駆動信号周波数の周波数成分は減衰せず、バンドエリミネーションフィルタとして動作する。
 第5の実施の形態に係る図8Cの容量測定回路105-4は、ノイズ除去回路1005に代えて、ノイズ除去回路1005-4を備える。このノイズ除去回路1005-4は、並列バンドエリミネーションフィルタ(P-BEF)(以下、「並列BEF」という)を含んでいる。並列BEFは、第2の共振回路の一例であり、並列共振回路によるバンドエリミネーションフィルタであり、検知電極401と信号検知手段505の間に設置される。並列共振回路は、例えば並列共振コンデンサCpeと並列共振インダクタLpeからなる。この並列共振回路の共振周波数は、除去したいハムや外来雑音駆動の周波数に一致させる。
 並列BEFにおいては、共振周波数ではインピーダンスが高くなる(理想素子による並列共振回路であればインピーダンスは無限大になる)ので、除去したい周波数成分は信号検知手段505に伝わりにくくなる。一方、共振周波数以外の周波数においては、並列BEFではインピーダンスが低くなるので、駆動信号周波数の周波数成分は減衰せずに信号検知手段505に伝わる。この結果、ハムや外来雑音だけを減衰させるためのバンドエリミネーションフィルタとして動作する。
 直列BEFを並列接続したり、並列BEFを直列接続したりすることによって、複数の周波数成分を減衰させることも可能である。
 ノイズ除去回路1005、1005-1、1005-2では、駆動信号周波数の周波数成分のみを通過させる並列BPFや直列BPFを使用している。特定の周波数成分を減衰させるだけでよい場合は、ノイズ除去回路1005-3、1005-4に示した直列BEFや並列BEFを使用することもできる。
 また、並列BPFや直列BPFだけでは不要周波数成分を除去しきれない場合に、直列BEFや並列BEFを併用することもできる。ただしこの場合は、相互影響によって共振周波数や通過・減衰特性が変化する。一例として、並列BPFと直列BEFを並列に使用すると、2つの通過周波数とその間の一つの減衰周波数が現れる。このように、並列BPF、直列BPFや直列BEFや並列BEFを適宜併用して適切な設計を行えば、所望の通過・減衰特性を得ることができるので、これ以上の組み合わせの例示は省略する。
 [第6の実施の形態]
 第6の実施の形態は、シールドによってハムや外来雑音の混入を防止する例を示し、さらに、検知電極と接地されたシールドとの間の容量を並列BPFの並列共振コンデンサCppとして利用する例を示している。また第6の実施の形態では、駆動電極、検知電極やシールド電極として、プリント基板を用いる例を示している。図9Aおよび図9Bは、第6の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示している。図1、図2、図3A、図5A及び図5Bと同一部分には同一の符号を付している。第1の実施の形態から第5の実施の形態の何れかと同一部分の説明を省略する。信号検知手段506は、第1の実施の形態から第4の実施の形態で既述した信号検知手段の何れであってもよい。
 第6の実施の形態に係る図9Aの容量測定回路106は、接地したシールド電極1106を検知電極401の付近に備え、また信号検知手段506への接続に使用し、外被の導体が接地されたシールド線1206を備えることによって、ハムの影響や外来雑音を受けにくいようにしている。シールド電極1106とシールド線1206は、いずれか一方だけを使用したり、図9Aのように各々を独立して接地して使用したりすることも可能であり、以下総称して「シールド」と記載する。シールド電極1106やシールド線1206における接地という表現は、交流的に接地されていることを指しており、直流電圧を有していてもよい。(以下、同様。)
 検知電極401とシールド電極1106の間や、シールド線1206の芯線と外被の間には静電容量が存在している。並列BPFを用いる場合は、これらの容量を並列共振コンデンサCppの全部又は一部として利用することもできる。(図9Aでは、検知電極401とシールド電極1106の間の静電容量Cppのみを図示し、シールド線1206の芯線と外被の間の静電容量の図示は省略している。)この容量だけでは静電容量が不足する場合は、図不示の容量素子をさらに並列に接続することによって、所望の容量にすることもできる。検知電極401とシールド電極1106との間に並列共振インダクタLppを接続すると、並列共振回路が形成され、並列BPFとして動作する。この並列BPFの共振周波数は、駆動信号周波数に一致させる。
 本開示の技術では前述のように、検知電極401と接地の間の浮遊容量の影響を受けないという特長がある。検知電極401とシールド電極1106間の静電容量やシールド線1206の静電容量も、浮遊容量の一種と考えることができるので、第6の実施の形態ではシールドによる静電容量の影響を受けない。さらに、この静電容量を並列BPFとして利用することによって、駆動信号周波数において高いインピーダンスとなるため、この静電容量による影響はさらに低減される。
 第6の実施の形態に係る図9Bの容量測定回路106-1では、シールド電極1106やシールド線1206の外被が信号検知手段506-1の入力と同電位になるように、バッファアンプBを介してシールド電極1106やシールド線1206の外被を駆動している。このようなシールドを、以下、「アクティブシールド」と記載する。ここで、容量測定回路106-1に備えられる信号検知手段506-1は、バッファアンプBを含む。バッファアンプBの入力は増幅器Uの入力に接続され、バッファアンプBの出力はシールド線1206やシールド電極1106に接続される。
 第1の実施の形態でも述べた通り、増幅器Uの働きによって、浮遊容量は実際の容量の1/Avの容量に見える。しかしシールドによる浮遊容量が大きく、見かけ上の浮遊容量の影響が無視できないような場合は、アクティブシールドによって、シールドによる浮遊容量を打ち消すことができる。すなわち、シールドの電位を信号検知手段506-1の入力(=検知電極401)の電位と同電位になるように駆動することによって、電位差が生じなくなる結果、シールドによる浮遊容量が見かけ上ゼロになる。
 なお現実のバッファアンプBは、利得が1よりもわずかに小さく、また若干の遅延も生じるので、浮遊容量が見かけ上完全にはゼロにはならないが、現実のバッファアンプBを使用する場合であってもシールドの浮遊容量による影響を大幅に低減できる。
 なお、アクティブシールドを使用する場合は、図9Aのような、検知電極401とシールドの間の容量を並列BPFの並列共振容量Cppとして利用する方法は採用できない。この場合は、前述の第5の実施の形態に係る図6Aのような並列BPFを用いればよい。検知電極401とシールドの間の容量を共振回路に使用しない構成であれば、いずれもアクティブシールドと併用可能である。例えば、前述の第5の実施の形態に係る図6Bのような並列BPFの共振回路の直列接続、図8Aのような直列BPF、図8Bのような直列BEF、図8Cのような並列BEFは、いずれもアクティブシールドと併用可能である。
 検知電極401やシールド電極1106の、より具体的な実現方法の一例として、プリント基板を用いることができる。図10Aから図10Cは、検知電極とシールド電極としてプリント基板を用いる場合の一例を示している。なお図10Aから図10Cでは、配線パターン等の図示は省略している。
 検知電極401はプリント基板1306の一方の面の導体パターンとして設ける。シールド電極1106を設ける場合は、検知電極401とは異なる面の導体パターンとして設けることができる。より効果的なシールド効果を得るためには、図10Aから図10Cのように、シールド電極1106の導体パターンは検知電極401の導体パターンよりも大きくして、検知電極401の導体パターンを完全に覆うようにすることが好ましい。検知電極401とシールド電極1106の間に生じる静電容量は、検知電極401やシールド電極1106の導体パターンの面積、プリント基板1306の絶縁体の厚さや誘電率によって決まり、これを並列共振コンデンサCpp又はその一部として利用することができる。シールド線1206の容量も同様に、並列共振コンデンサCpp又はその一部として利用できる。
 なお、並列共振インダクタLppや追加する容量素子をこのプリント基板1306上に、図10Aから図10Cに示すように実装することも可能であり、実装工数の低減や小型化に寄与しうる。
 図10Aから図10Cの検知電極401と同様、駆動電極301としてプリント基板1306を用いることも可能である。駆動信号発生手段201の出力インピーダンスが高い場合は、ハムや外来雑音が駆動電極301に入ってくる可能性があるが、プリント基板1306の駆動電極301とは反対の面にシールド電極1106を設けて接地することによって、これを防止することも可能である。
 駆動電極301、検知電極401、又はシールド電極1106としてプリント基板1306を使用する場合、プリント基板1306上に設けたコネクタ1406を介してシールド線1206とプリント基板1306を接続することも容易である。このコネクタ1406は、シールドされたコネクタや、図10Aから図10Cに例示しているような同軸コネクタを用いることが好ましい。
 前述の第5の実施の形態に係る図6Aの容量測定回路105、図6Bの容量測定回路105-1、図8Aの容量測定回路105-2、図8Bの容量測定回路105-3及び図8Cの容量測定回路105-4においても、シールドや、プリント基板1306を用いた電極を採用することが可能である。
 プリント基板1306によって検知電極401を実現するときに、信号検知手段506などをプリント基板1306に実装することも可能であり、さらに測定手段601などをプリント基板1306に実装することも可能である。また、プリント基板1306によって駆動電極301を実現するときは、駆動信号発生手段201などもプリント基板1306に実装することが可能である。
 [第7の実施の形態]
 第7の実施の形態は、共振回路によって電極間容量Cxが特定の値であることを検知する例を示している。図11Aから図12Bは、第7の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示している。図1、図2、図3A、図5A及び図5Bと同一部分には同一の符号を付している。第1の実施の形態から第4の実施の形態の何れかと同一部分の説明を省略する。信号検知手段507は、第1の実施の形態から第4の実施の形態で既述した信号検知手段の何れであってもよい。
 第7の実施の形態に係る図11Aの容量測定回路107では、駆動電極301と検知電極401の間に設置された並列共振インダクタLp'を含んでいる。この並列共振インダクタLp'は電極間容量Cxと並列に接続されて、並列共振回路1507を構成している。
 電極間容量Cxは、距離測定の場合の電極間距離、又は物体検知の場合の、電極間容量Cxに影響を及ぼす物体の状態によって変化するため、並列共振回路1507の共振周波数もこれに従って変化する。一方、駆動信号周波数は一定である。
 並列共振回路1507の共振周波数が変化して駆動信号周波数と一致すると、並列共振回路1507のインピーダンスが高くなり、駆動電極301から検知電極401への交流電流が流れにくくなる。一方、並列共振回路1507の共振周波数が駆動信号周波数と一致しない場合は、駆動電極301から検知電極401への交流電流にはほとんど影響しない。
 前述の式1のように、信号検知手段507の出力振幅Voutは、電極間容量Cxに比例する。しかし第7の実施の形態の並列共振回路1507を用いた場合、その共振周波数が駆動信号周波数と一致するような特定の電極間容量Cxとなったときに駆動電極301から検知電極401への交流電流が流れにくくなる。この結果、信号検知手段507の出力振幅Voutが低下するので、図11Bのグラフに示すような"ディップ"が生じる。(図11Bでは、横軸に電極間容量Cx、縦軸に信号検知手段507の出力振幅Voutを取っている。)
 即ち、距離測定の場合において電極間距離が特定の距離になったとき、又は物体検知の場合において電極間容量Cxに影響を及ぼす物体が特定の状態になったときに、信号検知手段507の出力振幅Voutにディップが生じる。これを利用すれば、特定の距離や特定の物体の状態に合わせ込むこと、つまりチューニングが可能となる。静電容量変位計の物体検知に利用する場合の一例として、駆動電極301と検知電極401間に配置した容器に錠剤を出し入れして信号検知手段507の出力振幅Voutが最小になるようにすれば、容器中の錠剤を特定の数に合わせ込むことが可能となる。
 第7の実施の形態に係る図12Aの容量測定回路107-1では、検知電極401と信号検知手段507の間に設置された直列共振インダクタLs'を備える。この直列共振インダクタLs'は電極間容量Cxと直列に接続されて、直列共振回路1607を構成している。
 電極間容量Cxが変化することにより直列共振回路1607の共振周波数が変化して、駆動信号周波数と一致すると、直列共振回路1607のインピーダンスが低くなり、駆動電極301から検知電極401への交流電流が流れやすくなる。直列共振回路1607の共振周波数が駆動信号周波数と一致しない場合は、駆動電極301から検知電極401への交流電流にはほとんど影響せず、電極間容量Cxと比例した交流電流が流れる。
 第7の実施の形態の直列共振回路1607を用いた場合、その共振周波数が駆動信号周波数と一致するような特定の電極間容量Cxとなったときにだけ駆動電極301から検知電極401への交流電流が流れやすくなって信号検知手段507の出力振幅Voutが上昇するため、図12Bのグラフに示すような"ピーク"が生じる。(図12Bのグラフでも図11Bのグラフと同様、横軸に電極間容量Cx、縦軸に信号検知手段507の出力振幅Voutを取っている。)
 即ち、距離測定の場合における、電極間距離が特定の距離になったとき、又は物体検知の場合における、電極間容量Cxに影響を及ぼす物体が特定の状態になったとき、に信号検知手段507の出力振幅Voutにピークが生じる。これを利用すれば、特定の距離や特定の物体の状態に合わせ込むこと、つまりチューニングが可能となる。静電容量変位計の距離測定に利用する場合の一例として、駆動電極301となる対象物と検知電極401となる対象物間の距離を調整して信号検知手段507の出力振幅Voutが最大になるようにすれば、対象物の間隔を特定の距離に合わせ込むことが可能となる。
 なお、駆動信号発生手段201と駆動電極301の間、検知電極401と直列共振インダクタLs'の間、直列共振インダクタLs'と信号検知手段507の間のいずれか一箇所以上に図不示の抵抗を接続すると、ピークの鋭さを和らげる効果を得ることができる。ただしこの場合、共振周波数から離れた周波数における電極間容量Cxと信号検知手段507の出力振幅Voutの関係は、抵抗の影響によって式1からずれるが、補正を行うことは可能である。直列共振インダクタLs'の直流抵抗も、このような抵抗と同様の影響を有する。
 図12Aでは、検知電極401と信号検知手段507の間に直列共振インダクタLs'を設ける例を示したが、駆動信号発生手段201と駆動電極301の間に設けても同様の効果が得られる。また、検知電極401と信号検知手段507の間及び駆動信号発生手段201と駆動電極301の間の両方にインダクタを設けると、それらのインダクタンスの合計が直列共振インダクタLs'のインダクタンスとして動作する。
 第7の実施の形態の並列共振回路1507や直列共振回路1607は、前述の第5の実施の形態と、適宜組み合わせて併用できる。ただし、第7の実施の形態の直列共振回路1607と第5の実施の形態の直列BPFのように、一部併用できない組み合わせもある。
 [第8の実施の形態]
 第8の実施の形態は、信号検知手段に含まれる増幅器Uとして、ディスクリート素子で構成した増幅器を用いる例を示している。第8の実施の形態は、増幅器Uとして、ディスクリート素子で構成した増幅器を用いる以外は、第1の実施の形態から第7の実施の形態と同様に構成することができる。容量測定回路の図示及びディスクリート素子で構成した増幅器以外に関する説明を省略する。
 市販されている演算増幅器ICでは、さまざまな負帰還回路でも発振しないように十分に余裕のある("深い")位相補償が施されており、差動入力であるというような特徴を有している。
 市販されている演算増幅器ICのような深い位相補償を施すと、それによって帯域幅が狭くなる。しかしディスクリート素子で構成した増幅器によれば、実際に使用する帰還容量Cfに最適となるような("浅い")位相補償となるように設計可能であり、これによって増幅器の広帯域化を図ることができる。また、高速のディスクリート素子を用いたり、回路構成や動作点等の設計によって増幅器の広帯域化を図ったりすることもできる。広帯域な増幅器を用いることができれば、駆動信号周波数における増幅器の開ループ利得が大きくなるので、浮遊容量の影響をより確実に低減できる。
 ディスクリート素子で構成した増幅器の入力を、差動入力でない単入力の増幅器とすることによって低雑音化を図りSN比の高い増幅器を実現することも可能である。単入力の増幅器とすれば、入力段で発生する雑音は差動入力の場合の1/(√2)に低減できる。一方単入力の増幅器では、入力と出力間の直流電位が異なり、周囲温度や電源電圧によってその電位差が変化する場合がある。しかしこのような場合であっても、第4の実施の形態の直流補償回路904、904-1によって電位差の影響を補正することができる。
 以上の説明のように、ディスクリート素子で構成した適切な増幅器を用いれば、より広帯域や低雑音の、高性能な信号検知手段を実現できる。第8の実施の形態の信号検知手段は、他の実施の形態の信号検知手段にも適用可能である。
 [第9の実施の形態]
 第9の実施の形態は、信号検知手段の増幅器の帰還容量Cfを等価的小容量とすることによって、高感度化を図る例を示している。図13Aは、第9の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示し、図13Bは、容量測定回路の信号検知手段の一例を示す図である。図1、図2、図3A、図5A及び図5Bと同一部分には同一の符号を付している。第1の実施の形態から第4の実施の形態の何れかと同一部分の説明を省略する。
 式1からわかるように、信号検知手段509の増幅器Uの帰還容量Cfが小さいほど高感度となる。即ち、ある駆動信号振幅Vinのときに、より大きな信号検知手段509の出力振幅Voutが得られる。
 しかし、一般的に入手できる実際の容量素子は一例として最小0.1pFまでであり、さらに小容量であればあるほど相対誤差が大きいという問題を有している。0.1pFの実際の容量素子の誤差は、一例として±0.05pF、即ち±50%という大きな相対誤差を有している。一例として数pF以下であれば同じ±0.05pFの絶対誤差の素子を入手可能なので、例えば1pFを用いることができれば±5%、5pFなら±1%という小さな相対誤差で済む。
 第9の実施の形態では、より容量が大きく相対誤差の小さい容量素子を用いて、等価的に小容量の帰還容量Cfを実現することによって、より高感度な信号検知手段509を実現する例を示している。
 第9の実施の形態に係る図13Aの容量測定回路109は、信号検知手段509を備え、この信号検知手段509に含まれる増幅器Uの出力に抵抗R3と抵抗R4の直列回路が接続されており、抵抗R3と抵抗R4の接続点には利得が1のバッファアンプBの入力が接続されている。バッファアンプBの出力は、帰還容量Cf'を介して信号検知手段509に含まれる増幅器Uの入力に接続されている。
 抵抗R3、抵抗R4、バッファアンプBと帰還容量Cf'で構成される回路は、負帰還部709を形成し、他の実施の形態の信号検知手段における帰還容量Cfの代わりとして増幅器Uに接続されている。
 一般的なバッファアンプの利得は1よりもわずかに小さい程度だが、利得が正のバッファアンプ(非反転増幅回路)であれば、バッファアンプBとして利用可能である。
 抵抗R3と抵抗R4は減衰器を構成しており、信号検知手段509に含まれる増幅器Uの出力信号は減衰器の減衰率で減衰されてバッファアンプBの入力に与えられる。バッファアンプBの利得をAとすると、バッファアンプBの出力は下記の式3のようになる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
 このため、バッファアンプBの出力を経由する帰還容量Cf'による負帰還の量は、式3のように減衰される結果、等価的な帰還容量Cfは下記の式4のようになる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000004
 ここで、駆動信号周波数における帰還容量Cf'のインピーダンスが、抵抗R3と抵抗R4の並列抵抗値よりも十分に大きければ、バッファアンプBがなくても、利得1のバッファアンプBが存在するときと同様の動作となる。すなわちこのような場合は、図13Bの信号検知手段509-1によって同様の効果が得られる。バッファアンプBの利得が1よりも小さければその分減衰器の減衰率を減らし、利得が1よりも大きければその分減衰器の減衰率を増やすことによって、同様の効果を得ることができる。
 具体的な一例として、帰還容量Cf'が2.5pFの場合、駆動信号周波数が318kHzのときの帰還容量Cf'のインピーダンスは約200kΩになる。抵抗R3を24kΩ、抵抗R4を1kΩとすると、抵抗R3とR4の並列抵抗値は0.96kΩとなり、これを約200kΩよりも十分に小さいと見る。これらの値を式4に適用すると、相対誤差の小さい2.5pFの帰還容量Cf'によって、相対誤差の小さい等価的な0.1pFの帰還容量Cfを得ることができる。
 図13A及び図13Bでは、抵抗R3と抵抗R4による減衰器を例示しているが、例えば容量を用いた減衰器などの、他の方式による減衰器であっても同様の効果が得られる。
 容量測定回路101~107を静電容量変位計に適用する場合、多様な対象物、つまり多様な電極間容量Cxを適切に測定するためには、容量測定回路101~107の信号検知手段501~507の感度を広範囲に切り替える必要が生じる場合がある。信号検知手段501~507の帰還容量Cfを切り替えることによって感度を切り替えようとすると、その切り替え回路の浮遊容量が影響するので、特に小容量の帰還容量Cfの切り替えは困難な場合が多い。これに対して第9の実施の形態によれば、抵抗R3又は抵抗R4の少なくとも一方を切り替えればよいので、容易に感度を切り替えることができる。また、小容量の帰還容量Cfでは第9の実施の形態を用い、より大容量の帰還容量Cfでは容量素子をそのまま用いるようにして切り替えることも可能である。
 前述の第2の実施の形態では、帰還容量Cfを放電スイッチSfの端子間容量の影響を受けないような比較的大容量とする必要があり、帰還容量Cfの容量選択に制限があったが、第9の実施の形態はこのような場合にも有効である。第2の実施の形態の放電スイッチSfは帰還容量Cf'の両端に接続すればよく、第9の実施の形態では必要な帰還容量Cfよりも大きな容量の帰還容量Cf'を使えるので、容量選択の制限を受けないようにできる。
 [第10の実施の形態]
 第10の実施の形態は、信号検知手段の出力を増幅するための増幅回路を追加することによって、高感度化を図る例を示している。図14は、第10の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示している。図1、図2、図3A、図5A及び図5Bと同一部分には同一の符号を付している。第1の実施の形態から第4の実施の形態の何れかと同一部分の説明を省略する。
 容量測定回路110は、増幅回路1710を含む信号検知手段510を備える。増幅回路1710の入力は、信号検知手段510に含まれる増幅器Uの出力に接続され、増幅回路1710の出力は、測定手段601に接続される。増幅回路1710を追加すれば、より高感度な容量測定回路110を実現することができる。追加された増幅回路1710の増幅率をA、信号検知手段510に含まれる増幅器Uの出力振幅をVout'、信号検知手段510の出力振幅をVoutとすると、Voutは
 Vout=A・Vout' ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(5)
 となり、増幅率A倍の高感度な信号検知手段510を実現できる。
 図14では、増幅回路1710の一例として、演算増幅器による反転増幅回路を示しており、増幅率Aは負の値{-(抵抗値R6/抵抗値R5)}になるので、増幅回路1710を追加しない場合に対して信号検知手段510の出力位相が反転する。しかし測定手段601では原則として信号検知手段510の出力振幅を知ることができればよいので、位相が反転しても問題は生じない。例えば、後述の第13の実施の形態などのように位相検波手段を使用する場合は、位相反転によって位相検波手段の出力電圧の極性が反転するので、これを考慮して適用すればよい。
 追加する増幅回路1710は、信号検知手段510に含まれる増幅器Uの出力信号中の必要な周波数成分を増幅できる増幅回路であればよく、演算増幅器による非反転増幅回路や、その他の回路形式の増幅回路も広く適用可能である。
 信号検知手段510に含まれる増幅器Uの出力に誤差として直流オフセット電圧が含まれている場合、追加する増幅回路1710が直流も増幅可能な増幅回路だと、直流オフセット電圧が増幅率A倍されてしまい、大きな誤差になったり増幅回路1710が飽和したりする可能性が生じる。このような場合は一例として、追加する増幅回路1710の入力側に容量素子を追加して容量結合とすればよい。
 前述の第9の実施の形態でも述べた通り、信号検知手段509、509-1の帰還容量Cfを直接切り替えることによって感度を切り替えることは困難である。これに対して第10の実施の形態によれば、追加する増幅回路1710の増幅率Aを切り替えることによって感度を切り替えることができるので、抵抗切り替え等によって容易に感度を切り替えることができる。
 なお第10の実施の形態は、他の実施の形態と自由に組み合わせて使用することができ、同じく高感度化という効果を有する第9の実施の形態とも、自由に組み合わせて適用することが可能である。
 [第11の実施の形態]
 第11の実施の形態は、基準容量Crと比較することによって容量測定の確度を向上させる例を示している。図15は、第11の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示している。図1、図2、図3A、図5A及び図5Bと同一部分には同一の符号を付している。第1の実施の形態から第4の実施の形態の何れかと同一部分の説明を省略する。信号検知手段511は、第1の実施の形態から第4の実施の形態で既述した信号検知手段の何れであってもよい。
 図15の容量測定回路111は、切替スイッチSWと基準容量Crとを含む。切替スイッチSWは、切替手段の一例であり、駆動信号発生手段201の後に設けられ、駆動信号は切替スイッチSWの共通接点に接続されている。切替スイッチSWの一方の接点は駆動電極301に接続されており、他方の接点は基準容量Crの一方の端子に接続されている。つまり、切替スイッチSWは、駆動信号発生手段201と、駆動電極301及び基準容量Crとの間に配置され、駆動信号発生手段201を駆動電極301又は基準容量Crに切り替え可能に接続する。当該他方の接点と基準容量Crの間に、減衰器ATを挿入することも可能である。基準容量Crの他方の端子は、検知電極401及び信号検知手段511の入力に接続されている。つまり基準容量Crは、切替スイッチSWの他方の接点と信号検知手段の入力の間に接続されている。
 切替スイッチSWによって駆動信号発生手段201の出力が駆動電極301に接続されているときは、他の実施の形態と同様の動作となるので、信号検知手段511の出力振幅Voutは、電極間容量Cxと比例する。切替スイッチSWによって駆動信号発生手段201の出力が基準容量Crに接続されているときは、信号検知手段511の出力振幅Voutは基準容量Crと比例する。前述のように減衰器ATが接続されている場合は、信号検知手段511の出力振幅Voutは、(減衰器ATの減衰率×基準容量Cr)に比例する。
 具体的な一例として、駆動信号振幅Vinが10Vrms、電極間容量Cxが0.11pF、減衰器ATの減衰率が1/100、基準容量Crが10pFであり、信号検知手段511には前述の第10の実施の形態のような増幅回路1710は追加されておらず、図不示の帰還容量Cfが1pFであるものとする。この場合、切替スイッチSWによって駆動信号発生手段201の出力が駆動電極301に接続されているときには、式1により、信号検知手段511の出力振幅Voutは1.1Vrmsとなる。一方、切替スイッチSWによって駆動信号発生手段201の出力が減衰器ATを介して基準容量Crに接続されているときは、式1の電極間容量Cxの代わりに、(減衰器ATの減衰率×基準容量Crの)0.1pFを式1に適用して、信号検知手段511の出力振幅Voutは1.0Vrmsとなる。
 誤差や経年変化等によって帰還容量Cfが変化すると、それに従って信号検知手段511の出力振幅Voutが変化することになる。例えば上記の例で帰還容量Cfが0.9pFに変化した場合、信号検知手段511の出力振幅Voutは0.99Vrmsと0.9Vrmsに変化してしまう。しかし、減衰器ATの減衰率と基準容量Crが正確でありさえすれば、1.0Vrmsに対する1.1Vrmsの比1.1も、0.9Vrmsに対する0.99Vrmsの比1.1も一定に保たれる。すなわち、減衰器ATの減衰率と基準容量Crを選択したときの信号検知手段511の出力振幅Voutを基準として、電極間容量Cxを正確に知ることができる。
 減衰器ATの減衰率を切り替えることは比較的容易であり、本開示の信号検知手段に適用する場合の性能劣化等もほとんどないので、より正確な容量測定を行うためには、切替スイッチSWを切り替えた時の信号検知手段の出力振幅Voutの差が小さめになるように減衰器ATの減衰率を選択することが好ましい。
 切替スイッチSWを基準容量Cr側に切り替えるタイミングは任意である。例えば距離測定や物体検知のために使用する場合は、対象物が移動している間に切り替えることができる。基準容量による校正が必要と思われるタイミングで切り替えることも可能であり、例えば電源投入の後、回路動作や周囲温度が安定するまでは頻繁に切り替え、安定した後は切り替え頻度を下げることも可能である。また、定期的に切り替えを行ってもよい。
 第11の実施の形態は、他の実施の形態と自由に組み合わせて使用することができる。ただし前述の第7の実施の形態では、電極間容量Cxと信号検知手段の出力振幅Voutの比例関係が成立しない部分があるので、組み合わせて使用することが不適当な場合がある。
 [第12の実施の形態]
 第12の実施の形態は、測定手段の入力側にフィルタを設けることによって、雑音等の影響を低減させる例を示している。このフィルタは、例えば測定手段に備えられる。図16は、フィルタを含む測定手段の一例を示している。
 単一の周波数(正弦波)によって容量測定を行う場合に、検知電極401と信号検知手段505の間に共振回路を含むノイズ除去回路1005、1005-1、1005-2、1005-3、1005-4を設けることによって雑音等の影響を低減させる例を、前述の第5の実施の形態に示した。これに対して第12の実施の形態では、測定手段の入力側にフィルタを設けることによって同様の効果を得ている。前述の第5の実施の形態と第12の実施の形態を併用することによって、雑音等の影響をより確実に低減させることも可能である。
 図16におけるフィルタfcは、雑音等の影響を低減させるものであればどのようなものでもよい。一例として、インダクタとコンデンサによる並列共振回路や直列共振回路、抵抗とコンデンサによるCRフィルタ、抵抗とインダクタによるLRフィルタ、各種のアクティブフィルタ、メカニカルフィルタやクリスタルフィルタなどを自由に用いることができる。また、A/D変換してディジタルフィルタを用いることなども可能である。アクティブフィルタを使用する場合にはフィルタ回路に利得を持たせて、前述の第10の実施の形態の増幅回路1710と兼用させることも可能である。
 減衰特性としては、駆動信号周波数だけを通過させるバンドパスフィルタ(BPF)や雑音の周波数を除去するバンドエリミネーションフィルタ(BEF)が有用な場合が多いが、雑音等の周波数成分によっては、ローパスフィルタ(LPF)、ハイパスフィルタ(HPF)やこれらの組み合わせを適宜選択可能である。
 フィルタfcによって抽出された必要な周波数成分は、前述の第1の実施の形態の測定回路の項で説明した各種の手法によってその交流振幅を測定する交流振幅測定手段ACに与えられる。交流信号測定手段ACの具体的な実現方法は、第1の実施の形態の測定手段の項で示した各種の方法を用いることができる。
 こうして得られた交流振幅情報は、前述の第1の実施の形態の測定回路の項で説明した比較判定手段によって測定結果の判定に用いることもできる。
 第12の実施の形態は、他の実施の形態と自由に組み合わせて使用することができる。
 [第13の実施の形態]
 第13の実施の形態は、測定手段として位相検波手段を使用する例を示している。位相検波手段によれば、駆動信号周波数成分だけを抽出でき、さらに位相を知ることもできる。図17Aから図17Cは、第13の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示している。図1、図2、図3A、図5A及び図5Bと同一部分には同一の符号を付している。第1の実施の形態から第4の実施の形態の何れかと同一部分の説明を省略する。駆動電極301、検知電極401及び信号検知手段501は、前述の第1の実施の形態(図1)と同様の例を示しているが、他の実施の形態を適宜使用することもできる。
 図17Aの容量測定回路113は、駆動信号発生手段213及び測定手段613を含む。駆動信号発生手段213は90°位相の異なる2つの信号、一例としてサイン信号(以下、「sin信号」という)とコサイン信号(以下、「cos信号」という)を出力する。一方の信号(一例としてsin信号)が駆動電極301に接続されると共に、測定手段613に接続される。また、他方の信号(一例としてcos信号)が測定手段613に接続される。測定手段613は、2つの位相検波手段1813-1、1813-2を含み、各位相検波手段1813-1、1813-2は2つの入力を有する。位相検波手段1813-1の一方の入力に、例えばsin信号が参照信号として与えられるとともに、他方の入力には、信号検知手段501の出力が接続されている。また、位相検波手段1813-2の一方の入力に、例えばcos信号が参照信号として与えられるとともに、他方の入力には、信号検知手段501の出力が接続されている。位相検波手段1813-1、1813-2は例えば位相検波器である。
 90°位相の異なる2つの信号を得るためには、アナログ信号の場合は90°移相回路を併用すればよい。駆動信号発生手段213としてDDS(ディジタル直接合成シンセサイザ)を用いると、より正確な90°位相差を有する2つの信号を得ることが期待できるので、後述の第18の実施の形態でその詳細を説明する。
 位相検波手段1813-1、1813-2は、2つの入力の乗算を行う。位相検波手段1813-1の出力には、平均化手段1913-1が接続され、位相検波手段1813-2の出力には、平均化手段1913-2が接続されている。
 駆動電極301に与えられたsin信号が、検知電極401、信号検知手段501における遅れなく信号検知手段501の出力に現れた場合、即ち信号検知手段501の出力とsin信号が同相の場合を考える。位相検波手段1813-1、1813-2では2つの入力の乗算が行われる。積和の公式により、sin信号が参照信号として与えられている位相検波手段1813-1では式6のような出力が得られる。
 sinαは信号検知手段501の出力、sinβは参照信号とする。数式の簡素化のために、sinαとsinβの振幅はいずれも1とする。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000005
 ここで、α=βなので、駆動信号周波数の2倍の周波数(cos(α+β))と直流成分(cos(α-β))が得られるが、平均化手段1913-1(ローパスフィルタ)によって2倍の周波数成分は除去される結果、直流成分だけが得られる。このため、位相検波手段では、参照信号周波数の周波数成分だけが抽出され、参照信号周波数以外の周波数成分(例えばハムや雑音)を除去する効果も有している。
 参照信号周波数以外の周波数成分(例えばハムや雑音)を除去する効果を向上させるために、位相検波手段1813-1、1813-2の入力に、前述の第12の実施の形態のようなフィルタを備えてもよい。
 cos(0)=1なので、この例では1/2、すなわち信号検知手段501の出力振幅と参照信号の振幅の積の半分の直流が得られる。これが、図17Aの「Y(sin成分)」である。
 一方、cos信号が参照信号として与えられている位相検波手段1813-2では、式7のような出力が得られる。(sinαは信号検知手段501の出力、cosβは参照信号とする。)
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000006
 sin(0)=0なので、こちらでは0の直流が得られる。これが、図17Aの「X(cos成分)」である。
 即ち、参照信号としてsin信号が与えられた位相検波手段-平均化手段の出力には、信号検知手段501の出力信号のうちsin成分に比例する直流電圧Yが得られ、参照信号としてcos信号が与えられた位相検波手段-平均化手段の出力には、信号検知手段501の出力信号のうちcos成分に比例する直流電圧Xが得られる。
 信号検知手段501等による位相遅れが無視できない場合は、必要に応じて、平均化手段1913-2と直流電圧測定手段2013-2の間に、式8の演算を行う演算手段2113-2を設置し、得られた直流電圧XとYを演算手段2113-2に与えて、信号検知手段501の出力振幅Voutを得ることができる。また、必要に応じて、平均化手段1913-1と直流電圧測定手段2013-1の間に、式9の演算を行う演算手段2113-1を設置し、得られた直流電圧XとYを演算手段2113-1に与えて、駆動信号発生手段213の出力のsin信号を基準とした位相を得ることができる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000007
 Atan(Y,X) ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(9)
 ここで、式9のAtan(Y,X)は、X、Y座標XY平面上のベクトルについて、X軸の正側となす偏角を求める、4象限正接関数である。
 演算手段2113-1の出力には直流電圧測定手段2013-1が接続されており、駆動信号発生手段213の出力のsin信号を基準とした位相の値を得ることができる。また、演算手段2113-2の出力には直流電圧測定手段2013-21が接続されており、信号検知手段501の出力振幅Voutの値を得ることができる。
 信号検知手段501等による位相遅れが無視できる場合や、駆動信号発生手段213による駆動信号と信号検知手段501の出力信号の間の位相を知る必要がない場合は、cos信号側の駆動信号、位相検波手段1813-2及び平均化手段1913-2、並びに演算手段2113-1、2113-2は不要であり、図17Bの容量測定回路113-1のような構成を取ることができる。すなわち、位相検波手段1813-1の出力には平均化手段1913-1が接続され、平均化手段1913-1の出力には直流電圧測定手段2013-1が接続される。
 平均化手段1913-1、1913-2をアナログ的に実現する場合は、ローパスフィルタ等で構成する。直流電圧測定手段2013-1、2013-2は、アナログ的な手段でもよいし、A/D変換してディジタル的な手段を用いてもよい。平均化手段1913-1、1913-2と直流電圧測定手段2013-1、2013-2を共にディジタル的に実現する場合は、各種のディジタルによる平均化手段1913-1、1913-2と、その結果のディジタル値を直流電圧値として知る適切な手段を、直流電圧測定手段2013-1、2013-2として用いればよい。
 なお、信号検知手段501の出力信号と参照信号の両方に直流成分が含まれていると、式6や式7で得られる直流に誤差が生じるので、信号検知手段501の出力や参照信号の入力の少なくとも一方を容量結合にする等の適当な手段で直流成分を除去する必要がある。
 図17Cの容量測定回路113-2は、駆動信号発生手段201及び測定手段613-2を含む。測定手段613-2中の参照信号発生器2213は、駆動信号発生手段201の周波数fから周波数fcだけ異なる周波数fhを出力している。即ち、fc=|f-fh|という周波数関係にある。この場合、位相検波手段2313の出力には、前述の式6や式7に示すように、f+fhの周波数成分と、|f-fh|(=fc)の周波数成分が現れる。フィルタfcによって周波数成分fcを抽出して交流振幅測定手段ACに与えることによって、電極間容量Cxを知ることができる。このような構成を、ヘテロダイン検波手段と称する。本開示において、ヘテロダイン検波手段は、位相検波手段の一例である。
 なお、周波数fcを抽出するフィルタfcや交流信号測定手段ACの具体的な実現手段は、前述の第12の実施の形態と同様である。
 ここで、駆動信号発生手段201の周波数fや参照信号発生器2213の周波数fhは、fやfhよりも周波数fcが低くなるように選択することが好ましい。一例としてフィルタfcとしてバンドパスフィルタを用いる場合、同じ構成であれば、中心周波数によらず比帯域幅(帯域幅を中心周波数で割った値)が同じになるのが一般的である。すなわち、バンドパスフィルタであるフィルタfcの中心周波数fcを低くするほど、帯域幅が狭くなる。このため、周波数fcが低くなるように選択すれば狭帯域幅を実現できるので、雑音等の不要な周波数成分を除去する能力を、より向上させることができる、という効果が生じる。
 また、図17Cの容量測定回路113-2では、フィルタfcによって周波数fcの交流を抽出して使用し、直流は減衰されるので、信号検知手段501の出力信号と参照信号の両方に直流成分が含まれていても誤差要因にならないという効果も有している。
 位相検波手段1813-1、1813-2、2313、平均化手段1913-1、1913-2、フィルタfc、交流振幅測定手段AC、駆動信号発生手段213、201、及び参照信号発生器2213は、アナログ回路、ディジタル回路のいずれも可能であり、またアナログ回路とディジタル回路を適宜混合することも可能である。
 位相検波手段1813-1、1813-2、2313をアナログ回路で実現する場合は、例えば参照信号を正弦波とするとともにアナログ乗算器を位相検波手段1813-1、1813-2、2313として用いることが可能である。
 駆動信号発生手段201、213や参照信号発生器2213から与える参照信号を方形波とし、それによって利得の正負をスイッチするような、アナログ回路による位相検波手段1813-1、1813-2、2313としてもよい。平均化手段1913-1、1913-2をアナログ回路で実現する場合は、適当なローパスフィルタを用いて直流成分を抽出して、抽出した直流成分を直流電圧測定手段2013-1、2013-2に与えればよい。
 位相検波手段1813-1、1813-2、2313をディジタル回路で実現する場合は、駆動信号発生手段201、213や参照信号発生器2213から与える参照信号や、信号検知手段501の出力信号をA/D変換して、ディジタル乗算などによって位相検波手段を実現すればよい。A/D変換のアンチエイリアシングフィルタに、前述の第12の実施の形態のフィルタの機能を備えてもよい。
 駆動信号発生手段201、213や参照信号発生器2213としてDDS(ディジタル直接合成シンセサイザ)を使用すれば、参照信号をディジタル信号として得ることも可能であり、90°位相の異なる信号を得ることも容易である。平均化手段1913-1、1913-2をディジタル回路で実現する場合は、移動平均、ディジタル演算による積分や、ディジタルフィルタによるローパスフィルタなどの適当な平均化手法を用いて直流成分を抽出し、そのディジタル値を直流電圧として知ればよい。
 式8や式9によって振幅や位相を知るための演算を行う場合も同様に、アナログ演算回路で実現してもよいし、ディジタル回路で演算を行ってもよい。
 このようにして得られた測定結果は、前述の第1の実施の形態の測定回路の項で説明した比較判定手段によって測定結果の判定に用いることもできる。
 位相検波手段1813-1、1813-2、2313は、駆動信号周波数が変化しても動作するので、電極間容量Cxの周波数特性を測定する用途にも利用可能である。例えば、駆動電極301と検知電極401の間に誘電体が存在しており、その比誘電率が周波数によって変化するときに、その比誘電率の周波数特性を測定できる。図17Aの例では駆動信号発生手段213の駆動信号周波数を、図17Bの例では駆動信号発生手段201の駆動信号周波数を適宜変化させることによって電極間容量Cxの周波数特性を測定すればよい。図17Cのヘテロダイン検波手段の例では、駆動信号発生手段201の駆動信号周波数と参照信号発生器2213の参照信号周波数の差を周波数fcに保ちながら、各々の周波数を適宜変化させることによって、電極間容量Cxの周波数特性を測定すればよい。
 第13の実施の形態は、他の実施の形態と自由に組み合わせて実施可能である。
例えば、容量測定回路113、113-1、113-2は、信号検知手段501に代えて、第1の実施の形態から第4の実施の形態で既述した信号検知手段を備えていてもよい。
 [第14の実施の形態]
 第14の実施の形態は、複数点の測定を行う例を示している。図18Aから図23Bは、第14の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示している。図1、図2、図3A、図5A及び図5Bと同一部分には同一の符号を付している。第1の実施の形態から第4の実施の形態、第12の実施の形態や、第13の実施の形態の何れかと同一部分の説明を省略する。
 複数点の測定を行う場合、最も単純には、駆動信号発生手段、駆動電極、検知電極、信号検知手段、測定手段を複数組用いればよいが、第14の実施の形態ではそれらの一部を簡素化する例を示している。
 図18A及び図18Bでは、検知電極と信号検知手段が、各々一つだけで済む例を示している。図19では、駆動信号発生手段と駆動電極が、各々一つだけで済む。図20A及び図20Bでは、検知電極と信号検知手段が各々一つだけで済むのに加えて、測定手段も一つだけで済む。なお図20Bでは、切替手段を併用している。
 図21から図23Bでも、切替手段を併用している。図21では、駆動信号発生手段と駆動電極が各々一つだけで済むのに加えて、測定手段も一つだけで済む。図22では駆動電極だけを複数使用し、他は一つだけで済む。図23A及び図23Bでは検知電極だけを複数使用し、他は一つだけで済む。
 図18Aの容量測定回路114及び図18Bの容量測定回路114-1は、駆動信号発生手段214-1・・・214-n、駆動電極314-1・・・314-n及び検知電極414を備える。各駆動信号発生手段214-1・・・214-nは第1の実施の形態で既述した駆動信号発生手段201と同様であり、各駆動電極314-1・・・314-nは第1の実施の形態で既述した駆動電極301と同様である。駆動信号発生手段214-1・・・214-nは駆動電極314-1・・・314-nに一対一で接続する。検知電極414は、各駆動電極314-1・・・314-nとの間に電極間容量Cx1・・・Cxnを形成する。また、容量測定回路114は、第12の実施の形態で既述したフィルタfc1・・・fcn及び交流電圧測定手段AC1・・・ACnを含む測定手段614を備え、容量測定回路114-1は、第13の実施の形態で既述した位相検波手段1814-1・・・1814-n、平均化手段1914-1・・・1914-n及び直流電圧測定手段DC1・・・DCnを含む測定手段614-1を備える。
 駆動信号発生手段214-1で生成された周波数f1の駆動信号は1番目の駆動電極314-1に与えられ、図不示の周波数f2の駆動信号は図不示の2番目の駆動電極に与えられ、以下同様に周波数fnの駆動信号はn番目の駆動電極314-nに与えられる。ここでnは2以上の任意の自然数である。f1からfnは各々異なる周波数であり、フィルタfc1・・・fcn及び位相検波手段1814-1・・・1814-nで分離可能な程度に離れた周波数を選択する。検知電極414と1番目の駆動電極314-1の間の電極間容量をCx1とし、以下同様に検知電極414とn番目の駆動電極314-nの間の電極間容量をCxnとする。
 測定手段614の入力には、前述の第12の実施の形態で説明したフィルタfcがn個接続されている。周波数f1だけを抽出するフィルタfc1の出力には交流電圧測定手段AC1が接続されており、図不示の周波数f2だけを抽出するフィルタfc2には図不示の交流電圧測定手段AC2が接続されており、以下同様に周波数fnだけを抽出するフィルタfcnには交流電圧測定手段ACnが接続されている。フィルタfc1・・・fcn及び交流電圧測定手段AC1・・・ACnによって各々、電極間容量Cx1・・・Cxnを得ることができる。容量測定回路114では、各フィルタに対応する複数の交流電圧測定手段を用いる測定手段を例示したが、一つ(あるいはnよりも少ない個数)の交流電圧測定手段を用いて、n個のフィルタの出力を切り替えてもよい。また、抽出する周波数を切り替えることが可能な一つ(あるいはnよりも少ない個数)のフィルタと交流電圧測定手段を用いてもよい。
 容量測定回路114-1では、前述の第13の実施の形態信号で説明した位相検波手段1813-1を用いる例を示しており、測定手段614-1の入力にはn個の位相検波手段1814-1・・・1814-nと、各々に対応する平均化手段1914-1・・・1914-n及び直流電圧測定手段DC1・・・DCnが接続されている。前述の第13の実施の形態で説明したように、位相検波手段では参照信号以外の周波数を除去できるので、位相検波手段1814-1・・・1814-nによってフィルタfc1・・・fcnと同様の効果を得られる。また、各々の位相検波手段1814-1・・・1814-nに接続される平均化手段1914-1・・・1914-nによって、各々Cx1・・・Cxnの容量に比例した直流電圧を得ることができる。
 容量測定回路114-1では位相検波手段各々に対応する複数の平均化手段と複数の直流電圧測定手段を用いる例を示しているが、一つ(あるいはnよりも少ない個数)の直流電圧測定手段を切り替えて使用してもよいし、一つ(あるいはnよりも少ない個数)の平均化手段と直流電圧測定手段を切り替えて使用してもよい。
 こうして得られた、複数の駆動電極各々に対応する容量の情報を、静電容量変位計としてどのように活用できるかについては、第21の実施の形態以降で説明する。
 図19の容量測定回路114-2では、周波数fの駆動信号波形が駆動信号発生手段201で生成されて駆動電極314に与えられる。ここでnは2以上の任意の自然数である。フィルタfc1・・・fcnや位相検波手段1814-1・・・1814-nは各々、周波数fの周波数成分を抽出する。
 容量測定回路114-2は、駆動電極314、検知電極414-1・・・414-n、信号検知手段514及び測定手段614-2を備える。駆動電極314は、各検知電極414-1・・・414-nとの間に電極間容量Cx1・・・Cxnを形成する。信号検知手段514は、第1の実施の形態で既述した信号検知手段501を複数含み、信号検知手段501の入力は、検知電極414-1・・・414-nに一対一で接続する。測定手段614-2は、フィルタfc1・・・fcn及び交流電圧測定手段AC1・・・ACnを含み、フィルタfc1・・・fcn及び交流電圧測定手段AC1・・・ACnは、複数のフィルタと交流電圧測定手段のセットを形成する。複数のフィルタと交流電圧測定手段のセットは、複数の信号検知手段501の出力に一対一で接続する。フィルタと交流電圧測定手段のセットの代わりに、位相検波手段、平均化手段と直流電圧測定手段のセットを用いてもよい。
 駆動電極314と1番目の検知電極414-1の間の電極間容量をCx1とし、1番目の検知電極414-1が接続される信号検知手段514は、帰還容量Cf1と増幅器U1を含んでおり、周波数fの周波数成分を抽出するフィルタfc1を介して交流電圧測定手段AC1に与える構成となっている。以降、n番目まで各々同様の構成となっている。
 図19の容量測定回路114-2を図18Aの容量測定回路114と比較すると、駆動信号発生手段214-1・・・214-nがn個から1個に削減できる反面、信号検知手段501に含まれる増幅器Uや帰還容量Cfが1個からn個に増えるという違いがあるので、実際に使用する場合に適する方を選択可能である。
 図20Aから図23Bは、信号源や切替手段の追加によって、信号検知手段や測定手段を簡素化する変形例を示している。
 図20Aの容量測定回路114-3は、信号源2214と乗算器2314を追加して、前述の第13の実施の形態で述べたヘテロダイン検波手段を構成することによって、容量測定回路114から信号検知手段501と測定手段614を簡素化する変形例を示している。
 前述の式6や式7で示したように、2つの周波数成分を乗算すると、それらの周波数成分の和と差の周波数成分が得られる。信号源2214の周波数がfh、1番目の駆動電極314-1に与えられている駆動信号の周波数がf1のとき、乗算器2314の出力では(f1±fh)の周波数成分が得られる。
 容量測定回路114-3において、フィルタfcが抽出する周波数fcが、f1±fhのいずれかになるように信号源周波数fhを選択すれば、1番目の駆動電極314-1に与えられた周波数f1がフィルタfcで抽出される。こうして選択された周波数f1の振幅を、測定手段614-3中の交流電圧測定手段ACで測定すれば、1番目の駆動電極314-1と検知電極414との間の電極間容量Cx1を知ることができる。信号源周波数fhを切り替えることによって、以下同様にn番目の電極間容量Cxnまでを各々知ることができる。
 なお容量測定回路114-3の場合は、f1±fhからfn±fhの周波数が各々、フィルタで抽出可能な程度に離れた周波数になるように選択する。(一例として、f1+fh≒f2-fhのようにならないように、周波数を選択する。)
 図20Bの容量測定回路114-4は、切替スイッチ2614を追加することによって、容量測定回路114-1の測定手段614-1を簡素化する例を示している。位相検波手段1814は、参照信号の周波数以外を減衰する働きを有しており、一種のバンドパスフィルタとして動作する。容量測定回路114-4では、信号検知手段501から測定手段614-4に、駆動信号周波数f1からfnまでの各周波数成分が重畳された波形が与えられる。
 位相検波手段1814の参照信号として駆動信号周波数f1を選択すると、位相検波手段1814では1番目の駆動電極314-1から与えられている駆動信号周波数f1の成分だけが抽出される。このため平均化手段1914の出力では、検知電極414と1番目の駆動電極314-1との間の電極間容量Cx1に比例した直流電圧が得られる。駆動信号周波数の切替スイッチ2614の選択により、以下同様に、n番目の電極間容量Cxnまでを各々知ることができる。
 図21の容量測定回路114-5は、切替手段の一例である切替スイッチ2714を追加することによって、駆動信号発生手段201、駆動電極314と測定手段614-5を簡素化する例を示している。容量測定回路114-5では、検知電極と信号検知手段を複数組使用し、測定手段614-5の切替スイッチ2714で切り替えることによって、複数点の測定を行っている。
 まず容量測定回路114-5では、一つの駆動信号発生手段201で、一つの周波数を出力するだけとなっている。また容量測定回路114-5の測定手段614-5では、位相検波手段1814と直流電圧測定手段DCが一組だけでよい。検知電極414-1・・・414-nと信号検知手段501を複数組使用している点は、容量測定回路114-2と同様である。
 容量測定回路114-5では、位相検波手段1814と直流電圧測定手段DCによる測定手段614-5を例示しているが、これに限定するものではない。例えば第12の実施の形態で示した、フィルタfcと交流信号測定手段ACによる測定手段612であってもよい。
 図22の容量測定回路114-6は、切替手段の一例である切替スイッチ2715を追加して駆動電極を切り替えることによって、駆動信号発生手段201、検知電極414、信号検知手段501と測定手段601を簡素化する例を示している。
 容量測定回路114-6では駆動電極を複数使用し、駆動電極と駆動信号発生手段201の間を切替スイッチ2715で切り替えることによって駆動電極のいずれか一つに駆動信号を与えている。駆動電極314-1から駆動電極314-nまでを順次切り替えることによって、電極間容量Cx1から電極間容量Cxnを各々知ることができる。
 図22の容量測定回路114-6を適用した静電容量変位計の具体例を、後述の第6の実施例や図56A及び図56Bに示す。
 図23Aの容量測定回路114-7は、切替手段の一例である切替スイッチ2716を追加して検知電極を切り替えることによって、駆動信号発生手段201、駆動電極314、信号検知手段501と測定手段601を簡素化する例を示している。
 容量測定回路114-7では、検知電極を複数使用し、検知電極と信号検知手段501の間を切替スイッチ2716で切り替えることによって、検知電極の一つと信号検知手段501を接続している。
 検知電極414-1から検知電極414-nまでを順次切り替えることによって、電極間容量Cx1から電極間容量Cxnを各々知ることができる。
 図23Bの容量測定回路114-8は、図23Aの容量測定回路114-7の変形例を示している。容量測定回路114-7や容量測定回路114-8において、一つの検知電極と信号検知手段501を接続することを、以下「選択」と略記する。
 容量測定回路114-7では、複数備える検知電極のうち選択された検知電極以外は、電気的に浮いた状態となる。これに対して容量測定回路114-8では、選択された検知電極以外を接地している。これによって、選択された検知電極以外の接地された電極を、電気力線を整形させるために用いることができる。(この詳細は、後述の第2の実施例中で、ガード電極として説明する。)
 図23Bでは、検知電極414-1だけが選択され、切り替えスイッチ2717-1によって信号検知手段501に接続されている。他の検知電極、414-2(図不示)から414-nは、切り替えスイッチ2717-2(図不示)から2717-nによって基準電位に接続(接地)されている。
 図不示の検知電極414-2が選択されて図不示の切り替えスイッチ2717-2によって信号検知手段501に接続されるときは、他の検知電極、414-1及び414-3(図不示)から414-nは、切り替えスイッチ2717-1及び2717-3(図不示)から2717-nによって接地される。
 切り替えスイッチ2717-1から切り替えスイッチ2717-nを同様に切り替えて検知電極414-1から414-nを順次選択することによって、1番目の電極間容量Cx1からn番目の電極間容量Cxnを各々知ることができる。
 図23Bの容量測定回路114-8を適用した静電容量変位計の具体例を、後述の第6の実施例の図57A及び図57Bや図58に示す。
 第14の実施の形態では、前述の第12の実施の形態や第13の実施の形態を適用する例を示したが、必要に応じてさらに他の実施の形態を適用することも可能である。
 容量測定回路114-3、114-4、114-5、114-6、114-7、114-8では、信号源や切替手段の追加によって、測定手段を簡素化する変形例を示したが、これらは代表的な一例にすぎず、これらに限定するものではない。前述の実施の形態で例示したように、駆動信号発生手段、駆動電極、検知電極、信号検知手段、測定手段各々の実現手段は様々であり、切替手段や信号源等の追加による信号検知手段や測定手段を簡素化する変形例は、組み合わせによって数多く考えられる。
 [第15の実施の形態]
 第15の実施の形態は、90°の位相差を有する2つの信号を発生可能な駆動信号発生手段と、それに対応する2つの駆動電極を用いることによって、2点の測定を行う例を示している。第15の実施の形態では、検知電極、信号検知手段と測定手段は、各々一つだけで済む。図24は、第15の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示している。図1、図2、図3A、図5A及び図5Bと同一部分には同一の符号を付している。第1の実施の形態から第4の実施の形態、及び第13の実施の形態の何れかと同一部分の説明を省略する。
 第15の実施の形態に係る容量測定回路115では、前述の第13の実施の形態と同様、90°の位相差を有する例としてsin信号とcos信号を例示しているが、90°の位相差を有する2つの信号であればこれに限定されない。
 容量測定回路115では、駆動信号発生手段201で生成された一方の駆動信号(sin信号)は一方の駆動電極315-1に与えられ、他方の駆動信号(cos信号)は他方の駆動電極315-2に与えられる。検知電極415とsin信号側の駆動電極315-1の間の電極間容量をCxsとし、cos信号側の駆動電極315-2との間の電極間容量をCxcとする。
 測定手段615は、sin信号が参照信号として与えられる位相検波手段1815-1と、cos信号が参照信号として与えられる位相検波手段1815-2と、各々に対応する平均化手段1915-1、1915-2を含んでいる。sin信号を参照信号として与えられる位相検波手段1815-1に接続された平均化手段1915-1の出力からは、電極間容量Cxsに比例した直流電圧が得られる。cos信号を参照信号として与えられる位相検波手段1815-2に接続された平均化手段1915-2の出力からは、電極間容量Cxcに比例した直流電圧が得られる。容量測定回路115では位相検波手段1815-1、1815-2各々に対応する2つの直流電圧測定手段DC1、DC2を用いる例を示しているが、1つの直流電圧測定手段を切り替えて使用してもよい。
 第15の実施の形態では90°の位相差を有する信号を用いている。直交する90°の位相差を有する信号はお互いに影響を及ぼさないという性質を有しているため、独立した2点の測定が可能である。
 駆動電極315-1、315-2と検知電極415の間に存在する物体によっては、周波数が異なると比誘電率が変化する(周波数特性を有する)場合があるため、前述の第14の実施の形態に係る図18A及び図18Bや図20A及び図20Bのように複数の周波数を使用すると、比誘電率の周波数特性が誤差要因になる場合がある。これに対して第15の実施の形態では、位相差を利用していることによって単一の周波数で済むので、比誘電率の周波数特性が誤差要因にならないという利点も有している。
 また、信号検知手段や測定手段が周波数特性を有している場合も同様に、単一の周波数で済むことによる第15の実施の形態の利点が得られる。
 第15の実施の形態では、前述の第13の実施の形態を適用する例を示したが、必要に応じてさらに他の実施の形態を適用することも可能である。
 [第16の実施の形態]
 第16の実施の形態、及び図25A、図25B及び図25Cと図26は、本開示の容量測定回路を用いた検知電極の位置検出の例を示しており、特定の位置を検出するための物体検知を行う例を示している。図25A、図25B及び図25Cと図26において、検知電極のリード線の端に付されている丸印は、信号検知手段(図不示)に接続される点を示しており、測定手段も図示を省略している。
 図25Aの例では、駆動信号発生手段5421で180°位相差の異なる駆動信号を発生させて2つの駆動電極5422-1、5422-2に印加しており、検知電極5423は2つの駆動電極5422-1、5422-2の間に移動可能に設けられている。駆動信号の一方を0°とし、その電圧をV、対応する駆動電極5422-1と検知電極5423の電極間距離をdとする。駆動信号の他方を180°とし、その電圧をV180、対応する駆動電極5422-2と検知電極5423の電極間距離をd180とする。
 検知電極5423を移動させる場合、電圧VとV180が等しいときには、電極間距離dとd180が等しいところで2つの駆動信号が打ち消し合う結果、容量測定回路の信号検知手段の出力振幅Voutがゼロとなる。即ち、検知電極5423が2つの駆動電極5422-1、5422-2の中心に到達したことを知ることができる。
 電圧VとV180が異なるときに検知電極5423を移動させる場合は、式10を満たすときに2つの駆動信号が打ち消し合う結果、信号検知手段の出力振幅Voutがゼロとなる。即ち、2つの駆動信号電圧によって、2つの駆動電極5422-1、5422-2の間の任意の位置を知ることができる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000008
 図25Aでは一次元の位置検知を例示したのに対して、図25Bや図25Cでは二次元の位置検知を例示する。
 図25Bでは、図25Aの一次元の位置検知を縦と横に2組設けることによって、二次元の位置検知を実現している。縦の位置検知の駆動信号周波数をf1とし、横の位置検知の駆動信号周波数をf2として異なる周波数とし、第14の実施の形態に係る図18A、図18B、図20A、図20Bや図22のような方法を適用すれば、f1によって縦方向、f2によって横方向の位置検知ができるので、二次元の位置検知を実現できる。図25Bの前後方向にもう一組の一次元の位置検知を追加し、さらに異なる周波数f3を使用すれば、三次元の位置検知も実現可能である。
 図25Cも、図25Aの一次元の位置検知を縦と横に2組設けることによって、二次元の位置検知を実現している。図25Cでは、縦の位置検知を0°と180°、横の位置検知を90°と270°のように、縦横を90°の位相差としている。この場合は、第15の実施の形態に係る図24のような方法によって、縦と横各々の位置検知ができるので、一つの周波数で二次元の位置検知を実現できる。
 なお、図25Bや図25Cで円柱状の検知電極を例示しているのは、縦方向、横方向ともに方向性を持たせないためである。また、駆動電極は平板状に限定するものではなく、例えば4つの90°弱の円弧状の駆動電極によって、円筒に近い電極形状と電極配置とするなど、用途に合わせて自由に変形することが可能である。
 図26の変形例では、図のX方向の検知電極の位置と、検知電極の高さ(Z方向の位置)や駆動電極に対する平行度を知る例を示している。
 まず、180°の位相差を有する2つの駆動信号を、各々、図26のような直角三角形状の電極2601及び電極2602に与えている。これら2つの駆動信号の振幅は、等しいものとする。さらに、細長い検知電極が駆動電極面と高さ方向で平行に設けられており、図の左右方向に移動可能の場合を考える。検知電極が図の左側にいる場合は180°成分が大きく、右側にいる場合は0°成分が大きくなり、検知電極が中央にいるときには0°成分と180°成分が打ち消し合う結果、信号検知手段の出力電圧はゼロになる。
 容量測定回路の測定手段として、0°の駆動信号を参照信号とする位相検波手段を使用する場合は、180°成分に対しては位相検波手段の出力が負の値となり、0°成分に対しては正の値となる。駆動電極左右方向の検知電極の位置を横軸に取って対応させると、0°の駆動信号を参照信号とする位相検波手段の出力電圧は図26のグラフ2603の実線のようになる。
 検知電極が駆動電極面と高さ方向で平行でない場合、すなわち直角三角形状の電極2601及び電極2602の一方の電極に近く、他方の電極からは遠いように傾いていると、0°の駆動信号を参照信号とする位相検波手段の出力電圧は図26のグラフ2603の実線に対して誤差を持つ。このような誤差を生じないよう、検知電極の平行度を保つために、さらに下記のような方法を併用している。
 図26ではさらに、直角三角形の電極2601及び電極2602に与えている駆動信号とは90°の位相差を持つ、90°と270°の駆動信号を、図のように、各々長方形状の電極に与えている。細長い検知電極が駆動電極面と高さ方向で平行を保っている場合、即ち図の高さZ1とZ2が等しい場合は、90°と270°の駆動信号が打ち消し合う結果、90°の駆動信号を参照信号とする信号検知手段の出力電圧はゼロになる。高さ方向の平行が崩れると、90°の駆動信号を参照信号とする位相検波手段の出力電圧が正又は負の値になるので、これがゼロになるように検知電極の角度を修正する。
 なお、高さZ1とZ2の平均値、即ち検知電極の平均高さをZとすると、平均高さZの高低によって、図26のグラフ2603のように0°の駆動信号を参照信号とする位相検波手段の出力電圧が変化する。
 ここでは、90°単位の位相差を持つ駆動信号を使用し、位相検波手段によって0°・180°と90°・270°を分離測定する例を示したが、これに限定するものではない。例えば、図26の90°・270°側を、0°・180°とは周波数の異なる180°位相差を有する駆動信号とすることも可能である。さらに、図26の90°側と270°側の代わりに、各々異なる周波数を用いれば、高さZ1とZ2を各々独立して知ることも可能である。検知電極の傾きを知る必要がない場合は、長方形の電極の一方とそれに対応する駆動信号を省略することも可能である。また、検知電極の高さを知る必要がない場合は、長方形の電極の両方とそれらの駆動信号を省略することも可能である。
 [第17の実施の形態]
 第17の実施の形態は、ひとつの容量に比例し、もうひとつの容量には反比例する直流電圧を得る応用例を示している。図27は、第17の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示している。図1、図2、図3A、図5A及び図5Bと同一部分には同一の符号を付している。第1の実施の形態から第4の実施の形態の何れかと同一部分の説明を省略する。
 反比例する側の容量として基準容量を用い、比例する側の容量を駆動電極と検知電極の電極間容量として測定する場合は、前述の実施の形態と同様の効果が得られる。
 比例する側の容量として基準容量を用い、反比例する側の容量を電極間容量として測定する場合は、電極間容量と反比例する直流電圧を得ることができる。ここで、平行平板における端効果の影響が小さい場合は、電極間容量は電極間距離とほぼ反比例するので、電極間距離とほぼ比例する直流電圧を得ることが可能となる。
 前述の第1の実施の形態において「関数関係」という表現を用いたのは、第17の実施の形態のように、容量に比例する直流電圧だけでなく、容量と反比例の関係にある直流電圧を得ることもできるためである。
 以下、図27の容量測定回路116の構成と動作を詳細に説明する。
 駆動信号発生手段216は、駆動電極において±V1の振幅の方形波を発生しており、第1の容量の一例である容量C1を介して信号検知手段501の入力に接続されている。駆動信号発生手段216ではさらに、方形波と同期したスイッチ切り替え信号を発生しており、スイッチ2816とスイッチ3016を切り替え駆動している。
 前述の第13の実施の形態において、アナログ回路で位相検波手段を実現する例として、駆動信号発生手段から与える参照信号を方形波とし、それによって利得の正負をスイッチするような回路について説明した。第17の実施の形態の測定手段616の位相検波手段は、第1の位相検波手段の一例であり、このようなアナログ回路による位相検波手段を例示しており、前述のスイッチ切り替え信号を参照信号として利得の正負を切り替えている。位相検波手段1816中の「-1」と記載された三角記号は、利得が1倍の反転増幅回路を示しており、位相検波手段1816中のスイッチ2816の一方の接点には反転増幅器の出力が与えられている。スイッチ2816の他方の接点には位相検波手段1816の入力がそのまま与えられているが、必要に応じて利得が1倍の非反転増幅回路を使用してもよい。また、利得の絶対値が1よりも大きい反転増幅回路及び同じ絶対値利得の非反転増幅回路を使用すれば、前述の第10の実施の形態と同様の高感度化を実現することができる。
 位相検波手段1816の出力、すなわちスイッチ2816の共通接点は、積分回路の入力に接続されている。この積分回路は平均化手段の一例であり、増幅器Ui'、積分抵抗Ri'と、積分容量Ci'で構成されており、位相検波手段1816の出力を直流に変換している。この直流電圧をV2とする。
 この直流電圧V2は、直流電圧測定手段DCの入力及び位相検波手段1816と同様の回路2916の入力に接続されている。この回路2916は第2の位相検波手段の一例であり、回路2916中のスイッチ3016の一方の接点には直流電圧V2がそのまま与えられており、他方の接点には直流電圧V2を反転した直流電圧-V2が与えられている。このスイッチ3016は、前述のスイッチ切り替え信号によって切り替え駆動されており、駆動電極の電圧が+V1のときは直流電圧-V2側のスイッチの接点と共通接点が接続され、駆動電極の電圧が-V1のときは直流電圧V2側のスイッチの接点と共通接点が接続されるように動作している。このスイッチの共通接点は、第2の容量の一例である容量C2を介して信号検知手段501の入力に接続されている。
 図27の回路は、下記の式11の関係となるように動作する。
 V1・C1=V2・C2 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(11)
 式11を変形すると、式12が得られる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000009
 ここで、V1は既知の値である。式12は、直流電圧V2が、容量C1に比例し、容量C2に反比例することを示している。
 C2に基準容量となるような容量素子を使用し、C1を電極間容量として動作させれば、前述の実施の形態と同様、電極間容量C1に比例した直流電圧V2が得られる。
 一方、C1に基準容量となるような容量素子を使用し、C2を電極間容量として動作させれば、電極間容量C2と反比例する直流電圧V2を得ることができる。平行平板電極において端効果が無視できる場合は、電極間容量と電極間距離はほぼ反比例するので、直流電圧V2として電極間距離とほぼ比例する直流電圧を得ることが可能となる。
 第17の実施の形態でも、必要に応じて他の実施の形態を適用することが可能である。
 [第18の実施の形態]
 第18の実施の形態は、駆動信号発生手段としてDDSを使用する例を示している。つまり、DDSを含む駆動信号発生手段を使用する例である。図28A及び図28Bは、第18の実施の形態に係るDDSの一例を示している。
 図28AのDDS3117は、位相アキュムレータと、LUT(ルックアップテーブル)と、D/A変換器(D/A)と、LPF(ローパスフィルタ)を備える。加算器とレジスタ(ラッチ、D-F/F)からなる位相アキュムレータは、クロック毎に周波数設定の値だけ値が増える(即ち位相が進む)動作を行い、周波数設定の値に比例した周波数を出力する。より具体的には、クロック周波数をfCLK、加算器とレジスタが各々2進数nビット、周波数設定値がfsetのとき、DDS3117の出力周波数foutは式13のようになり、周波数設定値fsetに比例した周波数の出力周波数foutが得られる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000010
 位相アキュムレータの出力をそのままD/A変換すると鋸歯状波となる。位相アキュムレータの出力nビットのうちn'ビット(n≧n')を、2n'ワードのLUTによって正弦波に相当するディジタルデータに変換して、D/A変換することにより、正弦波を得ている。LUTは通常、ROM(Read-Only Memory)で構成されているが、RAM(Random-Access Memory)を用いることもできる。
 また、LUTのデータ内容によって、正弦波以外の任意の波形データを生成することも可能である。例えば、周波数f1からfnの複数の周波数成分を含む波形データをLUTに格納することによって、複数の周波数成分を含む波形を生成することができる。
 mビットのD/A変換器を使用する場合、LUTの出力のうちmビットがD/A変換器に与えられる。この場合、LUTの出力ビット数はmビット以上である必要があり、mビット未満のときはD/A変換器の分解能の一部が無駄になる。
 ディジタル回路の遅延時間等の過渡状態が無視できない場合は、D/A変換器の前にレジスタを設けてクロック毎に波形データを取り込むことによって良好なD/A変換結果を得ることができる。図28A、図28B及び図29Aは共に、このようなレジスタを内蔵しているD/A変換器を例示している。
 D/A変換器の出力は階段波状のアナログ波形であり、不要な周波数成分を含んでいるので、LPFによって不要な周波数成分(スプリアス)を除去し、所望の波形を得ている。単一周波数の正弦波を出力する場合は、BPF(バンドパスフィルタ)を用いることによって、さらにスプリアス性能を向上させることもできる。
 DDSは周知の技術なので、DDSについてのこれ以上詳細な説明は、省略する。
 図28Bは、DDS3117-1を示し、同一周波数で位相の異なる波形を得るための方法の一例を示しており、LUTに位相が異なる波形データを格納することによって、異なる位相の波形を得ている。即ち、0°出力側のLUTには正弦波(sin)データ、90°出力側のLUTには余弦波(cos)データを格納し、LUTの入力には同一のDDS出力を与えている。
 前述の第16の実施の形態では、0°の反転波形の180°や、90°の反転波形の270°を使用する場合がある。LUT、D/A変換器、LPFを各4個使用する場合は、反転した正弦波データをLUTに格納して180°波形を得、反転した余弦波データで270°波形を得ることができる。また、反転増幅器によって0°波形や90°波形を反転して、180°波形や270°波形を得ることもできる。
 ここでは、LUTに90°単位の位相差データを格納する例を示したが、LUTによる方法であればこれに限定することなく、自由な位相差データを格納することによって、任意の位相差の波形を得ることができる。
 LUTのデータ内容が固定されている場合、例えば正弦波(sin)データのLUTしか使用できない場合は、ディジタル加算器によって位相を変化させることが可能である。図29AのDDS3117-2に追加されている加算器では、位相アキュムレータの出力に位相設定値を加算して、位相設定値の分、位相が進んだ移相出力を得ている。位相アキュムレータのビット数をn、位相設定値のビット数をpとすると、n≧pであることが必要である。(n<pの場合は、加算器による位相分解能の一部が無駄になる。)位相アキュムレータのMSB(Most Significant Bit:最上位ビット)と加算器のMSBは一致するように接続されており、n>pのときは余分な下位ビットには固定値(一般的には0)が与えられる。このときの位相分解能は、360°÷2となる。
 前述の第13の実施の形態や第15の実施の形態において、90°の位相差を有する駆動信号を使用している。また前述の第16の実施の形態では、0°の反転波形の180°や、90°の反転波形の270°を使用する場合もある。位相差が90°の倍数だけであれば、位相の異なる波形を得るための加算器を簡略化できるので、以下これについて説明する。
 nビットの位相アキュムレータの出力は0~2-1の値を取る。これに対して180°位相の異なる出力を得るためには、位相アキュムレータの出力に2n-1を加算すればよいが、これはMSBに1を加える、つまりMSBを反転することに相当する。この場合、MSB以外のビットは変化しないので、そのままの値を使用すればよい。
 同様に、90°位相を進ませるためには、位相アキュムレータの出力に2n-2を加算すればよいが、これは位相アキュムレータの上位2ビットの値に1を加えることに相当する。また、90°位相を遅らせるためには、位相アキュムレータの出力から2n-2を減算すればよいが、これは位相アキュムレータの上位2ビットの値から1を減じることに相当する。この場合、上位2ビット以外は変化しないので、そのままの値を使用すればよい。
 図29Bの真理値表は、MSBを含む上位2ビットの値を示している。例えば、0°の上位2ビットが00のとき、90°では01、180°では10、270°では11となっている。
 90°のときにこの真理値表を満たすためには、0°の上位2ビットの排他的論理和(XOR)をとって90°のMSBとし、0°の上から2ビット目の論理否定(NOT)をとって90°の上から2ビット目とすればよい。180°のときは、0°のMSBを反転させ、上から2ビット目はそのまま使用すればよい。270°のときも同様に、90°のMSBを反転させ、90°の上から2ビット目をそのまま使用すればよい。図29Bの真理値表の下の論理演算記号は、このような処理を図示している。
 90°の単位の位相差を有する駆動信号を得るためにこのような方法を用いれば、多ビットの加算器を用いることなく、簡単な論理回路で移相できるので、より低コストでDDSを実現することができる。また、各位相のD/A変換器とLPFの特性や、D/A変換のタイミングが一致していれば、正確な90°単位の位相差を有する信号を得ることができる。
 前述の第13の実施の形態で説明し、第17の実施の形態で図示した、アナログ回路で位相検波手段を実現する例では、方形波の参照信号によって利得の正負をスイッチしている。この場合の参照信号は、各位相のLUTに与えている各々のMSBを使用することができる。
 [第19の実施の形態]
 第19の実施の形態は、比較判定手段や閾値設定手段を測定手段中に追加したり、通信手段を測定手段中に追加したりする変形例を示している。図30は、第19の実施の形態に係る測定手段の一例を示している。
 本開示の容量測定回路の測定手段では、信号検知手段の出力振幅Vout、電極間容量Cxや、電極間距離や物体の状態などの様々な測定結果を得ることができる。この様々な測定結果は、必要に応じてさらに比較判定手段に与えることによって、各種の判定を行うこともできる。
 このような比較判定手段は、電圧値に対してアナログ的なコンパレータを用いてもよいし、ディジタル処理による場合はディジタル値に基いて比較判定を行ってもよい。比較判定手段のための閾値は、閾値設定手段によって比較判定手段に与える。
 最も単純には、単一の比較判定手段によって、測定結果がある値を超えたら正常、ある値以下なら異常(あるいは、ある値を超えたら異常、ある値以下なら正常)のような判定が可能である。2つの比較判定手段を用いれば、一例として、ある範囲以内(例えば、比較判定手段1の閾値よりも高く、比較判定手段2の閾値以下)であれば正常、その範囲よりも下(例えば、比較判定手段1の閾値よりも低い)であれば異常1、その範囲よりも上(例えば、比較判定手段2の閾値よりも高い)なら異常2、のような範囲判定が可能である。必要があれば、さらに多くの比較判定手段を用いて、複数の範囲判定等、任意の比較判定を行えばよい。
 また、測定結果の立ち上がり時間、立ち下がり時間、ある値以下で保持している時間、ある値以上で保持している時間などを比較判定手段によって同様に判定することも可能である。さらに、これら各種時間相互の、大小や比などを比較判定手段によって判定することもできる。このような判定の具体的な応用の一例を、後述の実施例4、図51Aから図53Bに示す。
 本開示の容量測定回路の比較判定手段で得た測定結果や判定結果のような情報は、各種の通信によってコンピュータ等に情報伝達して、データ保管や適切な情報処理を行うことも可能である。例えば、有線又は無線接続によってインターネットに接続し、適当な目的地(遠隔地を含む)に情報を伝達して適切な情報処理を行う、いわゆるIoT(Internet of Things)に適用することも可能である。もちろん、LAN(Local Area Network)や他の通信手段によって、工場内のコンピュータ等に情報を伝達することなども可能である。
 このような、比較判定手段、閾値設定手段や通信手段も、測定手段の中に含まれるものとする。図30に示す測定手段618は、比較判定手段、閾値設定手段、通信手段を全て含む測定手段の例である。比較判定手段と閾値設定手段だけを含むこともできるし、通信手段だけを含むことも可能であり、どちらも含まないことも可能である。
 具体的な応用の一例として、本開示の容量測定回路を物体検知を行う静電容量変位計として用いる場合に、電極間への物体の接近・離脱を比較判定手段で検出するように用いれば、「近接センサ」として使用することができる。さらにこの場合、比較判定手段によって測定結果が閾値を超えているか否かを判定すれば、ある程度以上に近接しているか否かなどを判定するための「近接スイッチ」として使用することもできる。
 [第20の実施の形態]
 第20の実施の形態は、駆動信号発生手段、駆動電極、検知電極、信号検知手段や測定手段をICに実装する例を示している。図31Aから図32は、第20の実施の形態に係る容量測定回路の一例を示している。
 本開示の容量測定回路における基本的な構成要素、即ち、駆動信号発生手段、駆動電極、検知電極、信号検知手段、測定手段の5つの構成要素の一部をICに実装することも有益である。ここでICは、パッケージの形態を問わず、モノリシックICやハイブリッドICなどを広く含むものとする。
 例えば図31Aのように、駆動信号発生手段、信号検知手段、測定手段のような電気回路の全て又はその一部をIC3219に実装することによって、本開示の容量測定回路やそれを用いる静電容量変位計を、より小型かつ安価に提供できるようになる。
 前述の第14の実施の形態などでは、駆動信号発生手段と駆動電極を対にして複数使用したり、検知電極と信号検知手段を対にして複数使用したりする例が示されている。このような形態で使用する場合は、駆動信号発生手段を備えるICのパッケージの表面に駆動電極などの電極3319を一体化した図31BのようなIC3219-1や、少なくとも信号検知手段を備えるICのパッケージの表面に検知電極を一体化したIC3219-1が、特に有効であろう。電極は、必要に応じてICパッケージの裏面に設けることも可能である。
 また、物体検知を行う静電容量変位計のように、駆動電極と検知電極の相対位置関係が固定されていてもよい場合は、ICのパッケージの表面などに駆動電極と検知電極の両方を備え、電気回路と共にIC化することも有効である。このような場合、後述の第5の実施例で説明する並列電極3419や同心円電極3519を、図31Cや図31DのようにIC3219-2、3219-3のパッケージ上に設けることができる。
 また、IC3219-1、3219-2、3219-3では円形の電極を例示しているが、電極の形状や寸法は、必要に応じて自由に選択することができる。
 本開示の容量測定回路の構成要素の一部をICに実装することも可能である。例えば、駆動信号発生手段として第18の実施の形態のようなDDSを使用して、90°単位の位相差を持つ複数の駆動信号を得る場合を考える。図32は、DDSによる駆動信号発生手段を2種類のICに分割した一例を示している。
 IC1は、周波数設定手段、加算器と、クロック信号が供給されるレジスタによって構成されており、加算器とレジスタによる位相アキュムレータの出力を、外部に出力している。
 IC2では、IC1の出力と位相設定手段の値が加算器に与えられることによって移相され、LUT、D/A変換器、LPFを経由して波形が生成され、さらに増幅回路で必要な電圧に増幅されて駆動電極に与えられる。またIC2では、図31BのようにICパッケージに電極を備えてもよい。
 本開示の容量測定回路にIC1及びIC2を適用する場合は、90°単位の位相差を有していればよいので、加算器の代わりとして、第18の実施の形態の図29Bのような上位2ビットによる移相手段を用いることもできる。この場合、位相設定手段は、0°/90°/180°/270°を選択する位相選択手段とし、図29Bの表の下に示すような回路をセレクタで切り替えればよい。
 0°と90°の2つの信号が必要な場合は、IC1を1個とIC2を2個使用すればよい。0°、90°、180°、270°の4つ信号が必要な場合は、IC1を1個とIC2を4個使用すればよい。IC1の出力は、複数ビット幅のディジタル信号であるが、IC1の出力でパラレル-シリアル変換を行い、IC2の入力でシリアル-パラレル変換することによって、配線を簡略化することも可能である。
 ここでは、駆動信号発生手段のDDSを2種類のICに分割し、各ICが駆動信号発生手段の一部となる例を示した。
 第14の実施の形態の測定手段614、614-2のように、フィルタfc1・・・fcnと交流電圧測定手段AC1・・・ACnを複数組備える場合には、フィルタと交流電圧測定手段の組み合わせを一つのICとすると有効である。同様に、第14の実施の形態の測定手段614-1のように、位相検波手段1814-1・・・1814-n、平均化手段1914-1・・・1914-nと直流電圧測定手段DC1・・・DCnを複数組備えるような場合には、位相検波手段、平均化手段と直流電圧測定手段の組み合わせの全部又は一部を一つのICにすることが有効である。また第14の実施の形態では、信号検知手段501を複数用いる例も示されているので、信号検知手段501をICにすることもできる。この場合は、さらに検知電極を備えるICにすると、より有効であろう。
 このように、本開示の容量測定回路の構成要素のどの部分をICに実装するかは、必要に応じて自由に選択することが可能である。
 [第21の実施の形態]
 第21の実施の形態は、前述の実施の形態のような容量測定回路を適用した、静電容量変位計を示している。静電容量変位計の主な用途は、距離測定と、容量に影響する物体の状態を知る物体検知に大別することができる。
 図33Aから図33Cは、静電容量変位計120、120-1、120-2を距離測定に用いる場合を例示している。図1、図2、図3A、図5A及び図5Bと同一部分には同一の符号を付している。第1の実施の形態から第4の実施の形態の何れかと同一部分の説明を省略する。静電容量変位計120、120-1、120-2は、駆動電極320と、検知電極420と、信号検知手段520と、測定手段620とを含む。駆動電極320は、前述の駆動電極301又は対象物であり、検知電極420は、前述の検知電極401又は対象物である。信号検知手段520及び測定手段620の組は、第1の実施の形態から第20の実施の形態で前述した信号検知手段及び測定手段の組の何れであってもよい。
 距離測定においては、以下の3通りがある。
(1) 駆動電極320を対象物として対象物と検知電極420の間の電極間距離dを測定する場合(図33A)、
(2) 検知電極420を対象物として駆動電極320と対象物の間の電極間距離dを測定する場合(図33B)、
(3) 駆動電極320、検知電極420共に対象物として対象物同士の間の電極間距離dを測定する場合(図33C)
これらの具体例は、後述の第1の実施例から第3の実施例で説明する。
 なお、対象物が導電体でない場合は、対象物に電極を取り付ける(例えば貼付する)ことによって、同様に距離測定を行うことが可能である。
 図34Aと図34Bは、静電容量変位計120-3、120-4を物体検知に用いる場合を例示している。図1、図2、図3A、図5A及び図5Bと同一部分には同一の符号を付している。第1の実施の形態から第4の実施の形態の何れかと同一部分の説明を省略する。静電容量変位計120-3、120-4は、駆動電極320と、検知電極420と、信号検知手段520と、測定手段620とを含む。駆動電極320は、前述の駆動電極301であり、検知電極420は、前述の検知電極401である。信号検知手段520及び測定手段620の組は、第1の実施の形態から第20の実施の形態で前述した信号検知手段及び測定手段の組の何れであってもよい。
 物体検知を行う場合は、駆動電極320も検知電極420も対象物にはせず、電極間容量Cx(図1)によって、電極間容量Cxに影響する物体の状態を知る。静電容量変位計120-3、120-4による物体検知の最も代表的な例は、図34Aに示すように、駆動電極320と検知電極420の間の対象物の状態を知る場合である。例えば対象物が液体容器の場合、容器中の液体(通常、空気よりも比誘電率が大きい)の量によって電極間容量Cxが変化するので、電極間容量Cxによって容器中の液体の量を知ることができる。静電容量変位計120-3、120-4による物体検知の場合は、駆動電極320と検知電極420は図34Aのように対向している必要はなく、例えば図34Bのように隣接していてもよく、電極の向きや配置等は用途によって自由に選択可能である。物体検知の具体的な例は、後述の第4の実施例から第6の実施例で説明する。
 [第22の実施の形態]
 第22の実施の形態は、例えば静電容量変位計120、120-1、120-2において、電極間距離d(図33Aから図33C)と、電極間容量Cxの関係を、関数で近似して逆補正することによって、より正確な電極間距離dを知る例を示している。
 また第22の実施の形態は、例えば静電容量変位計120-3、120-4において、対象物(図34A及び図34B)の状態と、電極間容量Cxの関係を、関数で近似して逆補正することによって、より正確な対象物の状態を知る例を示している。
 図35は、第22の実施の形態の距離測定を説明するためのグラフの一例を示しており、横軸は電極間距離dであり、縦軸は電極間容量Cxである。図35では、駆動電極と検知電極が正方形の平行平板を用いた場合を例示しており、駆動電極と検知電極の面積は各々1.6×10-3(40mm×40mm)とした。
 空気中の平行平板モデルによる平行平板コンデンサの静電容量C[F]は、平行平板電極の各々の面積をS[m]、平行平板電極の電極間距離をd[m]、空気の誘電率は真空の誘電率ε[F/m]と等しいとすると、式14のように表され、静電容量Cは平行平板電極の電極間距離dと反比例する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000011
 この関係の一例を、図35中の「平行平板モデル」に示す。
 ただし式14が成立するのは、端効果が無視できる領域(平行平板電極の寸法が、平行平板の電極間距離に比べて十分大きい場合)である。平行平板電極の寸法に対して平行平板の電極間距離が大きくなり、静電容量Cが小さくなると、端効果によって静電容量Cは式14よりもさらに小さくなる。
 適切な電磁界シミュレータを用いれば、端効果も考慮した平行平板コンデンサの静電容量と平行平板の電極間距離の関係を得ることができる。振幅:20Vp-p、周波数:1MHzの正弦波の場合の関係の例を、図35中の「シミュレーション」に示す。なお図35では、電磁界シミュレータとして、有限会社 ソネット技研製、高周波用電磁界シミュレータ SonnetLiteを使用した。
 本開示の容量測定回路を用いた静電容量変位計による実測値は、図35中の「実測値」に示す。なお、実測における測定条件の振幅と周波数は、電磁界シミュレータと同様である。実測時に使用した静電容量変位計の容量測定回路には、前述の実施の形態を適宜適用している。この測定値は、実測した適当な個数の電極間距離における電極間容量Cxを補間することによって得ている。
 図35のグラフによると、電極間容量Cxが数pF以上となる電極間距離d、すなわち電極間距離dが数mm以下では、平行平板モデル、シミュレーション、実測値は各々、ほとんど一致している。また、電極間容量Cxが数pF未満となる電極間距離dにおいては、端効果によって、平行平板モデルよりもシミュレーションや実測値の方が電極間容量Cxが小さくなっている。さらに、電極間容量Cxが数十fF未満となる電極間距離d、すなわち電極間距離dが数十mm以上においては、測定値よりもシミュレーションの方が、電極間容量Cxが小さくなっている。
 第22の実施の形態ではまず、図35に示すような実測値を得て、電極間容量と電極間距離の関係を関数で近似する。近似を行うための関数としては、多項式や指数関数等、周知の様々な関数を用いることができる。また近似手法としては最小二乗法等の周知の様々な手法を用いることができる。これらの周知の関数や手法に関する説明は、省略する。
 何種類かの関数で近似してみた結果を図35に表示しようとしたが、図35の上では実測値のプロットと重なってしまって差異が見えなかったので、図35に近似結果を図示することは省略した。
 実際の測定時には、静電容量変位計中の容量測定回路で実際に測定された容量値を、採用した近似関数に適用することによって、より正確な電極間距離を知ることができる静電容量変位計を実現できる。
 上記では実測値に近似する例を示したが、予め実測することが困難などの場合は、シミュレーション結果に基づいて関数で近似することも可能である。このような簡易的な方法を採用する場合であっても、少なくとも平行平板モデルよりも正確な電極間距離を知ることができる。
 なお上記では静電容量変位計の距離測定に適用することによって電極間距離を知る例を示したが、静電容量変位計の物体検知に適用することも可能である。
 図36のグラフ3601は、第22の実施の形態の物体検知を説明するための実測値のグラフの一例を示しており、縦軸はペットボトル3621中の液体の水位であり、横軸は電極間容量Cxである。ペットボトル3621中の液体の水位は、液体の容量も示している。図36は更に、駆動電極と検知電極の位置関係や、液体の水位に対応づけて被試験体のペットボトル3621の形状を示している。この例では、直径60mmの円形の駆動電極321と、直径30mmの検知電極421と、検知電極421の周囲に直径60mmのガード電極(図不示、後述の第2の実施例を参照)を使用した。また駆動信号として、駆動信号振幅:20Vp-p、駆動信号周波数:1MHz、駆動信号波形:正弦波を用いた。なお被試験体として使用したペットボトル3621は、図36に示しているように、溝3721やくびれ3821を有しており、各溝3721に対応する水位、及びペットボトル3621の定格容量において、電極間容量Cxを測定した。
 静電容量変位計の物体検知に適用する場合は、予め、実測値やシミュレーション値に基いて、測定対象物の物体の状態と電極間容量Cxの関係を関数で近似する。実際の測定時には、実際に測定された電極間容量Cxを、採用した近似関数に適用することによって、より正確な物体の状態を知ることができる。一例として、容器中の液体の容量を検出する場合、予め駆動電極と検出電極の電極間容量Cxと容器中の液体の容量や水位の関係を図36の例のように知って関数で近似し、実際の測定時には、測定された容量をこの近似関数に適用することによって、正確な容器中の液体の容量を知ることができる静電容量変位計を実現できる。
 [第23の実施の形態]
 本開示の静電容量変位計では、電極や被測定物を移動可能にすることもできる。ここで「移動」には、回転などの動きも広く含まれる。
 前出の第14の実施の形態では、駆動電極又は検知電極のいずれかを複数設けることによって、複数箇所の距離測定や物体検知を可能としていた。
 本開示の静電容量変位計では、電極や被測定物のいずれか一以上(以下「電極等」と記載する)を移動可能とすることによって、複数箇所の距離測定や物体検知を順次行うことが可能である。さらに前出の第14の実施の形態を併用することも可能であり、より短時間で測定できる等の効果が得られる。
 本開示の静電容量変位計における距離測定では、前述のように、駆動電極又は検知電極のいずれか、又は両方を対象物として、電極間の距離を測定する。両方の電極を移動可能とする距離測定の具体例を後述の第1の実施例-2(図38)に、一方の電極を移動可能とする距離測定の具体例を後述の第1の実施例-4(図40B、図40C)、第2の実施例-2(図43Aから図43D)や第3の実施例-3(図46)に示す。第2の実施例-2(図43Aから図43D)や第3の実施例-3(図46)では、第14の実施の形態を併用する例を示している。
 また、本開示の静電容量変位計における物体検知に関し、電極を移動する物体検知の具体例を後述の第6の実施例-5(図60A)に、電極間容量に影響する物体を移動する具体例を後述の第4の実施例-1(図48)、第4の実施例-4(図51A、図51B)、第4の実施例-5(図53A、図53B)、第6の実施例-4(図59)や第6の実施例-5(図62A及び図62B)に示す。
 本開示の容量測定回路によれば、微小容量を測定できるので、長い距離の距離測定を実現できる。このため、静電容量変位計を用いた測定用途だけでなく、レーザー変位計や渦電流変位計等で実現していた測定用途にも広く適用可能である。
 また、本開示の静電容量変位計によれば、梱包箱内部の外から見ることができないような物体の物体検知や、長距離における物体検知のような用途にも広く適用可能となる。
 さらに、本開示の静電容量変位計によって、複数点における距離測定や物体検知を行う場合は、電極や回路の一部を簡素化することができるので、より低コストで実現できるという効果も有しており、この点においても広範囲な用途に適用可能である。
 以下に、本開示の静電容量変位計によって距離測定や物体検知を行う場合の、具体的な実施例を示す。
 [第1の実施例]
 第1の実施例は、静電容量変位計による距離測定の具体的な例のうち、一組の駆動電極と検知電極による一例を示している。
 図37から図40Cは、静電容量変位計による距離測定に使用する一組の駆動電極と検知電極の具体例を示している。図37から図63Bにおいて、リード線の端に付されている丸印は、本開示の駆動信号発生手段又は信号検知手段が、各図に示されている駆動電極又は検知電極に接続する箇所を示している。一方の電極に駆動信号発生手段との接続が図示されている場合はその電極が駆動電極になり、他方の電極は検知電極になる。
 [第1の実施例-1]
 図37は、隔膜真空計5001を例示している。隔膜真空計5001の本体5002は、隔膜5003によって測定室5004と基準室5005に気密分離されており、基準室5005は真空に保たれている。ゲッター剤5006は、真空度を保持するためのものである。基準室5005の隔膜5003と対向する面には、固定電極5007が設けられている。測定室5004に与えられる測定圧力が高い場合は破線のように隔膜5003が固定電極5007に近づき、測定圧力が低い場合は実線のように隔膜5003が固定電極5007から遠ざかる。この結果、隔膜5003と固定電極5007間の容量が、隔膜5003と固定電極5007間の電極間距離にほぼ反比例して変化するので、容量によって測定圧力を知ることができる。この例では、隔膜5003と固定電極5007と、駆動電極と検知電極の対応は、どちらでもよい。
 隔膜5003(対象物)を駆動電極とし、固定電極5007を検知電極として、本体5002を接地し、固定電極5007を本体5002に近い位置に設けると、より好ましい結果が得られよう。本開示の容量測定回路を使用する静電容量変位計の場合、信号検知手段によって検知電極が仮想接地される。このため、本体5002を接地した場合、隔膜5003の周辺部からの電気力線は主に測定室5004の側面に広がり、隔膜5003の中心部からの電気力線は主に基準室5005の対向面に位置する固定電極5007に到達する。隔膜5003の中心部は測定圧力によって最も大きく移動する部分のため、上記のように接続することによって高感度にできる。また、接地された本体5002がシールドとして動作するため、周囲の雑音等の影響を受けにくいという利点もある。
 第22の実施の形態で説明したように、図37において、隔膜5003と固定電極5007間の容量と測定圧力の関係を予め測定し、その関係を適切な関数で近似することによって、より正確な測定圧力を知ることも可能である。
 [第1の実施例-2]
 図38は、自動車等のブレーキ用ディスク(以下、「ディスク」という)5021の面振れ、表面の凹凸や平坦度など(以下、「面振れ等」という)の試験を行う例を示している。ディスク5021(対象物)は回転可能であり、駆動電極又は検知電極とすることが可能であり、例えば水平に設置されている。移動電極5022は、ディスク5021から若干離れた位置に設置されており、ディスク5021と平行に、ディスク5021の直径方向に移動可能とする。全く面振れ等のないディスク5021であれば、移動電極5022の位置に関わらず、ディスク5021を回転させてもディスク5021と移動電極5022の間の電極間距離は一定となる。面振れ等があればディスク5021の回転に伴って電極間距離が変化するので、静電容量変位計によってその距離変化を知ることができる。移動電極5022を図中の矢印のように移動させれば、ディスク5021の外周面と内周面の面振れ等の違いを知ることができる。なお図38ではディスク5021の一方の面の移動電極5022を例示したが、反対の面に移動電極5022を設けたり、両面に移動電極5022を設けたりすることも可能である。
 図38のディスク5021の場合、より大きいディスク5021(対象物)を駆動電極とし、より小さい移動電極5022を検知電極とすると、検知電極を比較的小さくできるので、ハムや周囲雑音の影響を受けにくいという利点がある。検知電極において、ディスク5021とは反対側の面にシールド電極を設けたり、検知電極と信号検知手段との間の配線にシールド線を用いたりすると、ハムや周囲雑音の影響を低減可能である。逆に、ディスク5021を検知電極とし、移動電極5022を駆動電極にすると、駆動電極が小さいので駆動電極から放射される放射電波を抑制できるという利点がある。
 このように、対象物と電極の形状等を考慮して、駆動電極と検知電極を適宜選択することができる。このことは、後述する他の実施例においても同様である。後述する実施例では、より好ましい組み合わせを示している場合があるが、例示している組み合わせに限定するものではない。
 [第1の実施例-3]
 隔膜真空計5001や、ディスク5021の面振れ等の例では、一方が電極、他方が対象物であり、即ち、図33A又は図33Bの駆動電極320及び検知電極420の組に相当していた。図39のCRT(cathode-ray tube)5041の垂直偏向板5042及び水平偏向板5043は、それぞれ図33Cの駆動電極320及び検知電極420の組に相当する、駆動電極と検知電極の両方が対象物となる例を示す。
 図39は、CRT5041の偏向板間の距離測定を行う例を示している。図39において、破線は電子ビームの軌跡を示している。電子銃5044から発射された電子ビームは、垂直偏向板5042の間の電圧によって上下方向に偏向し、水平偏向板5043の間の電圧によって左右方向に偏向した上で、蛍光面5045に到達する。オシロスコープにおける代表的な応用例として、鋸歯状波を水平偏向板5043に印加することによって横軸を時間軸とし、入力電圧波形を増幅して垂直偏向板5042に印加することによって縦軸を入力電圧軸とすることができる。オシロスコープにおけるXYモードでは、X入力の電圧波形を増幅して水平偏向板5043に印加し、Y入力の電圧波形を増幅して垂直偏向板5042に印加することができる。
 垂直偏向板5042や水平偏向板5043の形状は、誤差が小さい既知の値であるのに対して、組み立てによる偏向板間の距離の誤差は大きくなりがちなので、製造の良否判定等の目的で偏向板間の距離を測定する必要が生じる。
 なお、2枚の垂直偏向板5042(いずれも対象物)は同形状なので、どちらを駆動電極とし、どちらを検知電極にするかは、自由である。2枚の水平偏向板5043(いずれも対象物)においても、同様である。
 従来技術による静電容量変位計では、一方を専用の電極、他方を接地された導電体とする必要があるため、この実施例のような用途に適用することはできない。2つ以上の対象物を電極としている以降の実施例でも同様である。
 [第1の実施例-4]
 図40Aから図40Cでは、本開示の静電容量変位計による距離測定の具体的な例のうち、一組の駆動電極と検知電極による、その他の具体的な応用例を示している。
 図40Aは、物体の高さを測定する一例として、乾電池の電極間の距離測定の例を示している。図40Aでは、乾電池5061を位置決めゲージ5062に押し当てて固定し、乾電池5061の下側の電極を例えば駆動電極とし、乾電池5061の上部から少し離れた位置に固定された電極5063を検知電極にして、乾電池5061の上側の電極と電極5063の間の容量を測定することによって距離測定を行っている。(乾電池5061の上側と下側の電極間のインピーダンスは、十分に低いことを前提にしている。)駆動電極と検知電極は上記の逆でもよく、乾電池5061の上下の向きも図と逆でもよい。(乾電池5061の上下を逆にすると、乾電池5061の平坦な電極面との容量を測定することになるので、さらに好ましい結果が得られる可能性がある。)このような高さの測定は、様々な物体に適用可能である。
 図40Bは、ベアリングの真円度の測定を行う例を示しており、金属性のベアリング5081(対象物)の軸を固定して一方の電極とし、ベアリング5081の少し外に他方の電極5082を固定している。ベアリング5081が完全な真円度を有していればベアリング5081を回転させても電極間容量は変化しない。ベアリング5081の回転に伴い電極間容量が変化すれば、それによって電極間距離の変化を知ることができる結果、ベアリング5081の真円度を知ることができる。
 図40Cは、モータ軸の芯振れの測定を行う例を示しており、モータ軸5101と導通しているモータ本体5102を一方の電極とし、モータ軸5101の少し外に他方の電極5103を固定している。モータ軸5101の回転に伴い電極間容量が変化すれば、それによって電極間距離の変化を知ることができる結果、モータ軸5101の芯振れの度合いを知ることができる。
 [第1の実施例-その他]
 本開示の静電容量変位計において、一組の駆動電極と検知電極を使用する距離測定は、他にも様々な用途に利用可能なので、以下これらを列挙する。
・駆動電極と検知電極で対象物を挟み込むことによるフィルム、紙、ゴム、樹脂等の厚さ測定。(対象物の比誘電率を予め知っておくことによって、測定された電極間容量から電極間距離=対象物の厚さを知る。)
・アクチュエータなどの位置決め(アクチュエータを一方の電極にしてもよいし、アクチュエータに一方の電極を貼り付けてもよい。)
・2つの物体の隙間測定(各物体を電極としてもよいし、各物体に電極を取り付けてもよい。)
 第1の実施例に示した用途において、複数箇所の距離測定を行う場合は、後述の第2の実施例や第3の実施例のような方法を適用することができる。
 [第2の実施例]
 第2の実施例、及び図41Aから図43Dは、本開示の静電容量変位計による距離測定の具体的な例において、駆動電極と検知電極のいずれか一方を2つ使用することによって、2箇所の距離測定を行う、具体的な応用例を示している。
 図41Aから図41Dは、2つの導体(いずれも対象物)の間に位置する電極と各導体間の電極間距離を測定する例を示している。図42Aから図42Cは、1つの導体(対象物)と2つの電極との各電極間距離を測定する例を示している。図43Aから図43Dは、円筒状金属部品の直角度測定を行う例を示している。
 [第2の実施例-1]
 図41Aは、2つの導体の一方を駆動電極、他方を検知電極とする例を示しており、第1の実施例に含まれる参照例であり、第2の実施例の対象外である。
 図41Bは、前述の第15の実施の形態で示した90°の位相差を持つ2つの駆動信号を用いる方法によって、2つの導体の間に位置する電極と各導体間の電極間距離を各々測定している。一方の導体には駆動信号としてsin信号を与えており、他方の導体には駆動信号としてcos信号を与えており、第15の実施の形態のように位相検波手段によって2つの導体各々と電極との電極間距離を知ることができる。この結果、(一方の導体と電極との電極間距離+他方の導体と電極との電極間距離+電極の厚さ)によって、2つの導体間の距離を知ることができる。
 図41Cは、前述の第14の実施の形態の図18Aや図18Bで示した、複数(2つ)の周波数を用いる方法によって、2つの導体の間に位置する電極と各導体の電極間距離を各々測定している。一方の導体には周波数f1の駆動信号を、他方の導体には周波数f2の駆動信号を与えており、2つの駆動電極を有している。これにより、第14の実施の形態で説明したように、2つの導体各々と電極との電極間距離を知ることができる。この結果、(一方の導体と電極との電極間距離+他方の導体と電極との電極間距離+電極の厚さ)によって、2つの導体間の距離を知ることができる。複数の周波数を用いる方法は、後述の第3の実施例で、さらなる具体例を用いて説明する。
 図41Dは、前述の第14の実施の形態における、図19で示した方法や、図21、図23A及び図23Bに示した切り替えを用いる方法によって、2つの導体の間に位置する電極と各導体との電極間距離を各々測定している。(図19ではフィルタfc1・・・fcnと交流電圧測定手段AC1・・・ACnを用いる例を示しているが、位相検波手段、平均化手段と直流電圧測定手段を測定手段として使用することも可能である。)
 図41Dでは、2つの導体5121-1、5121-2は共通に接続されており、駆動信号が印加されている。この例では、2つの導体5121-1、5121-2が1つの駆動電極であり、それらの間に2つの検知電極5122-1、5122-2を有している。一方の検知電極5122-1は一方の導体5121-1との電極間距離d1を測定し、他方の検知電極5122-2は他方の導体5121-2との電極間距離d2を測定している。2つの検知電極5122-1、5122-2の厚さをdとすると、2つの導体間の距離は、d1+d+d2によって知ることができる。
 2つの検知電極5122-1、5122-2の周囲に接地された電極5123を追加すると、例えば図41Dに示しているような電気力線が生じ、導体5121-1、5121-2と検知電極5122-1、5122-2の間の電気力線は平行になるので、平行平板モデルによる平行平板コンデンサの静電容量の式(前出の式14)と一致しやすくなることが期待できる。このように、電気力線を適宜整形又は変形させるために設ける電極を総称して、ガード電極と称する。
 なお図の電気力線は、理解の容易のための簡易的な図であり、正確な計算に基づく電気力線ではない。(他の電気力線の図においても同様。)
 図41Bから図41Dでは、2つの導電体間の距離を測定する例を示したが、これらを応用して、図42Aから図42Cのように、1つの導電体の厚さを測定することも可能である。この方法によって、一例として、半導体のシリコンウェーハの厚さを測定することができる。
 図42Aでは、前述の第15の実施の形態で示した90°の位相差を持つ2つの駆動信号を用いる方法によって、1つの導電体5141(対象物:検知電極)と2つの駆動電極5142-1、5142-2との電極間距離を、各々測定している。固定されている2つの駆動電極間の距離をd、導電体と一方の検知電極との電極間距離をd1、導電体と他方の検知電極との距離をd2とすると、導電体の厚さは、d-d1-d2によって知ることができる。(図42Bも同様。)(距離d、d1、d2と導電体の厚さの関係は、図42Cも参照。ただし図42Cでは、駆動電極と検知電極が、図42Aや図42Bとは逆になっている。)
 図42Bでは、前述の第14の実施の形態の図18Aや図18Bで示した、複数(2つ)の周波数を用いる方法によって、1つの導電体5141と2つの駆動電極5142-1、5142-2との電極間距離を各々測定することによって、導電体5141の厚さを測定している。
 また図42Cでは、前述の第14の実施の形態の図19で示した方法によって、1つの導電体5161と2つの検知電極5162-1、5162-2との電極間距離を各々測定して、導電体5161の厚さを測定している。
 このように、90°の位相差を持つ2つの駆動信号を用いる方法、複数(2つ)の周波数を用いる方法や、前述の第14の実施の形態の図19で示した方法を適用することによって、例えば図39のようなCRT5041の垂直偏向板5042と水平偏向板5043各々の電極間距離を、同時に測定することも可能である。
 [第2の実施例-2]
 2つの距離測定を同時に行う、さらなる具体例を、図43Aから図43Dに示す。図43Aから図43Dは、円筒状の金属部品の直角度を検査する例である。ここでは90°の位相差を持つ2つの駆動信号(sin信号とcos信号)を用いる方法を例示しているが、図41Aから図42Cで示した方法と同様、複数(2つ)の周波数を用いる方法や、前述の第14の実施の形態の図19で示した方法、図21、図23A及び図23Bに示した切り替えを用いる方法などを適用することも可能である。
 図43Aでは、面振れのない正確なターンテーブル5181の上に円筒状の金属部品5182が載せられており、金属部品5182の近辺に2つの駆動電極5183-1、5183-2がほぼ垂直の2点に固定されている。ターンテーブル5181は金属部品5182と接触して電気的に接続されており、金属部品5182と一体となって検知電極となっている。金属部品5182の直角度が完全でなく(すなわち傾きがあり)、その中心がターンテーブル5181の中心と一致しているとき(すなわち芯ずれがないとき)に、ターンテーブル5181が回転する状態を側面視すると、金属部品5182は、図43Bのように金属部品5182の縦の実線と破線のように動く。sin信号側の駆動電極と金属部品5182との間の容量をCsin、cos信号側の駆動電極と金属部品5182との間の容量をCcosとする。
 図43A及び図43Bにおいて、金属部品5182の傾きがあり芯ずれがないとき、ターンテーブル5181の回転角度を横軸とし、sin信号側の容量Csin、及びcos信号側の容量Ccosを縦軸に取ると、図43Cのように変化する。この容量Csinと容量Ccosの容量変化の差によって、金属部品5182の直角度を知ることができる。
 円筒状の金属部品5182の中心がターンテーブル5181の中心とずれているが、金属部品5182の直角度が完全のときは、図43Dのように、Csin、Ccos各々の容量は同じように変化する。この場合、Csin、Ccos各々の容量変化の差がゼロなので、金属部品の直角度が完全であることを知ることができる。
 第2の実施例では、90°の位相差を持つ2つの駆動信号を用いる方法、複数(2つ)の周波数を用いる方法や、前述の第14の実施の形態の図19で示した方法を具体例として説明したが、これらに限定するものではない。例えば第14の実施の形態で説明した、ヘテロダイン検波手段や切替手段を適宜使用して、用途や要求性能に応じた静電容量変位計を実現してもよい。
 [第3の実施例]
 第3の実施例、及び図44から図47は、本開示の静電容量変位計による距離測定において、3箇所以上の距離測定を行う具体例を示している。
 図44は金属平板5201の傾斜角や垂直位置を測定する例を、図45は自動車ドアの応力ひずみを測定する例を、図46は3点法によって真円度を測定する例を示している。
 3箇所以上の距離測定を行う場合、第14の実施の形態で示した、複数(2つ)の周波数を用いる方法、前述の第14の実施の形態の図19で示した方法、ヘテロダイン検波手段や切替手段を適宜使用可能である。
 各具体例においては、3箇所以上の距離測定を行う各種の測定方法についての説明や電極の接続方法の説明は省略しているが、第14の実施の形態で示した測定方法や電極接続方法のいずれも、適宜使用可能である。
 [第3の実施例-1]
 図44は、3箇所の距離測定によって、金属平板5201の傾斜角や垂直位置を測定する例を示している。駆動電極・検知電極の一方は金属平板5201(対象物)、他方は電極A、B、Cになっている。電極A、B、Cは、各電極が金属平板5201との電極間距離を測定している。電極A、B、C各々の金属平板5201との電極間距離を各々、距離A、B、Cと称する。
 電極Aと電極Bの間隔は既知なので、距離Aと距離Bを知れば、傾きαを知ることができる。例えば、距離A>距離Bであれば、図44のαの下方向の矢印の方向に傾いていることを知ることができる。電極Cと、電極Aと電極Bの間の中央の間隔も既知なので、距離A、B、Cを知れば、傾きβを知ることができる。例えば、距離Aと距離Bの平均値>距離Cであれば、図44のβの上方向の矢印の方向に傾いていることを知ることができる。距離A、B、Cの平均値を知れば、垂直位置Zを知ることができる。例えば、距離A、B、Cの平均値が基準値よりも小さければ、金属平板5201が図44のZの矢印の方向に上昇していることを知ることができる。
 ここでは、3箇所の距離測定によって傾きと垂直位置を知る例を示したが、例えば4箇所の距離測定によれば金属平板5201のねじれを知ることができ、さらに多数の距離測定によって金属平板5201の平面度などを知ることもできる。
 [第3の実施例-2]
 図45は、3箇所よりも多点の距離測定によって、自動車ドアの応力ひずみを測定する例を示している。図45において、自動車ドア5221(対象物)は、駆動電極・検知電極の一方となっている。電極位置決めを行う治具5222に複数備えている電極5223は、駆動電極・検知電極の他方となっている。
 まず、自動車ドア5221に応力を加えない状態において、各電極5223と自動車ドア5221との間の電極間距離を測定し、これを基準値とする。自動車ドア5221の所定の位置に応力を加えると、応力を加えた付近の電極5223を中心として、各電極5223の電極間距離が大きくなる。これによって、応力による自動車ドア5221の変形・ひずみの度合いや、ひずみがどこまで広がるか、などを知ることができる。応力を加える位置を順次変更して測定したり、変形・ひずみの度合い等を「マスタ」(基準対象物)と比較することによって良否判定を行ったりすることもできる。
 [第3の実施例-3]
 図46は、金属円筒(金属円柱でも可)において、3点法によって真円度を測定する例を示している。図46において、駆動電極・検知電極の一方は回転可能となるように設置された金属円筒5241(対象物)そのものであり、他方は金属円筒5241の周囲の基準位置に配置された3つの電極5242になっている。金属円筒5241を回転可能とする方法や駆動電極・検知電極の一方に接続する方法は図示していないが、例えば図43Aのようなターンテーブル5181を使用すればよい。3点法による真円度測定は、被測定物を回転させ、三箇所で被測定物の変位を測定することによって真円度を測定する手法であるが、既知の手法なのでその詳細の説明は省略する。
 [第3の実施例-4]
 図47は、鋼板の直角度、平行度やサイズを測定する例を示している。図47において、駆動電極・検知電極の一方は四角形の鋼板5261(対象物)そのもの、他方は鋼板5261の付近に備えている電極5262-1、5262-2、5262-3、5262-4、5262-5、5262-6になっている。鋼板5261は、位置決めガイド5263によってその位置が決められている。電極5262-1、5262-2、5262-3、5262-4、5262-5、5262-6で測定した鋼板5261との電極間距離は、それぞれ第1の距離、第2の距離、第3の距離、第4の距離、第5の距離、第6の距離である。
 まず、正確な直角度とサイズを有するマスタ鋼板を用いて、第1の距離から第6の距離を各々測定しておく。この際、各電極5262-1、5262-2、5262-3、5262-4、5262-5、5262-6の電極間距離が同じになるように、電極位置を調整してもよい。次に、被対象物の鋼板5261を用いて、第1の距離から第6の距離を各々測定する。
 第1の距離と第2の距離の差を知ることによって電極5262-1と電極5262-2側の鋼板側面の傾き(マスタに対する相対値、以下同様)を知ることができ、第3の距離と第4の距離の差を知ることによって電極5262-3と電極5262-4側の鋼板側面の傾きを知ることができる。また、第1の距離と第3の距離によって鋼板5261の下の方のサイズ(図47における横幅)を知ることができ、第2の距離と第4の距離によって鋼板5261の上の方のサイズを知ることができる。また、(第1の距離と第2の距離の平均値)と(第3の距離と第4の距離の平均値)によって、鋼板5261の中心付近のサイズを推定することもできる。
 第5の距離と第6の距離の差を知ることによって、鋼板5261の下側面と上側面の平行度を知ることができる。第5の距離によって鋼板5261の左側面付近のサイズ(図47における縦幅)を、第6の距離によって右側面付近のサイズを知ることができ、第5の距離と第6の距離の平均値によって鋼板5261の左右方向の中心付近のサイズを推定することもできる。
 [第4の実施例]
 第4の実施例、及び図48から図53Bは、本開示の静電容量変位計による物体検知において、一組の駆動電極と検知電極を使用する場合の具体例を示している。これらの図に示す具体例は代表的な一例にすぎず、一組の駆動電極と検知電極を使用する場合においても、本開示の静電容量変位計による物体検知は広範囲の用途に応用可能である。
 [第4の実施例-1]
 図48は、テープやベルト等のテープ状の対象物(以下、「テープ」という)5281の、製造ラインにおける厚さ測定の例を示している。テープ5281はローラー5282によって矢印方向に送られており、非接触でテープ5281を挟むように駆動電極と検知電極の組5283が設けられている。テープ5281の比誘電率は、空気の比誘電率よりも大きいので、電極間容量Cxはテープ5281がない場合よりも大きくなり、テープ5281が厚いほど電極間容量Cxが大きくなる。また、電極間距離は一定のため、テープ5281が図の上下方向にぶれても電極間容量Cxは変化しないので、電極間容量Cxによってテープ5281の厚さを知ることができる。
 図48の例では、テープ5281の厚さの上限値(電極間容量Cxの最大値)とテープ5281の厚さの下限値(電極間容量Cxの最小値)の2つの比較を行うことによって、テープ5281の厚さが正常(電極間容量Cxが最小値と最大値の間にある)、テープ5281が厚すぎる(電極間容量Cxが最大値以上)、テープ5281が薄すぎる(電極間容量Cxが最小値以下)のような判定を行うことが好ましい。
 図48では、一組の駆動電極と検知電極を使用して幅の狭いテープ状の対象物の厚さを測定する例を示した。しかし、幅の広いシート、紙、布地、フィルムのような対象物であっても、特定の位置の厚さを知れば足りる場合や、幅や面全体の平均的な厚さを知るような場合であれば、一組の駆動電極と検知電極を適用可能である。例えば紙送り機構において、紙が重なって送られていることを特定の位置で検出するような場合は、一組の駆動電極と検知電極を適用可能である。
 [第4の実施例-2]
 図49は、液体容器への液体注入量の測定の例を示している。液体容器5301の側面には、図のように駆動電極と検知電極の組5302が設けられている。液体容器5301や容器に入れられる液体の比誘電率は、空気の比誘電率よりも大きい。このため電極間容量Cxは、電極間に液体容器5301が存在しない場合に最も小さく、空の液体容器5301が存在する場合は少し大きくなり、液体が最大量充填された場合に最も大きくなる。この結果、電極間容量Cxによって液体容器5301内の液体の量を知ることができる。
 例えばベルトコンベアで運ばれてきた液体容器5301が電極間で停止すると、電極間容量が少し増えることによって、液体容器5301が所定位置に停止したことを検出できる。さらに容器の上からノズル5303が降下してきて液体の注入が始まると、液体の増加に伴って電極間容量Cxが増加していく。所定の液体量に対応する電極間容量Cxに達したら、液体の注入を終了し、ノズル5303を上昇させ、次の液体容器5301に交代する。
 この例の場合は、液体容器5301の有無を判定するための閾値と、所定の液体量に対応する閾値の2つを比較することができる。液体容器5301自体の厚さの個体差等による静電容量の違いが無視できない場合は、液体容器5301が空の状態の静電容量を基準値として、静電容量の増加量によって所定の液体量に達したことを知ることも可能である。
 図49は、液体容器5301の両側面に平板状の電極、つまり駆動電極と検知電極の組5302を設ける例を示しているが、液体容器5301に沿って湾曲した電極を用いることによって、より高感度化を図ることもできる。この場合はさらに、湾曲した電極を動かして液体容器5301を挟み込むことによって液体容器5301の位置決めを行い、測定のばらつきを低減することも可能である。
 また、前述の図36のように、液体容器の上下に設けた電極を用いることもできる。この場合は、容器の注入口側の電極に開けた穴にノズル5303を通せばよい。
 [第4の実施例-3]
 本開示の静電容量変位計において、一組の駆動電極と検知電極を使用する物体検知によって複数の周波数における各々の電極間容量を得て、これに基づいて対象物の誘電率などの周波数特性を知ることも可能である。
 一例として、対象物が混合物であり、その混合比によって誘電率の周波数特性が変化するときに、特徴的な何点かの周波数における周波数特性を知ることによって、対象物の混合比を知ったり、混合物の良否判定を行うことなどが可能である。
 第21の実施の形態に係る図34Aや図34Bを参照する。
 まず駆動信号発生手段201において、複数の周波数成分を含む駆動信号を発生する。このような駆動信号として、周波数重畳波形を用いることができる。また、複数の高調波成分を含有する方形波、鋸歯状波、三角波などの波形も用いることができ、慣用されている技術で容易に生成可能である。(ホワイトノイズやピンクノイズのような、より多くの周波数成分を含む波形を用いることも可能ではあるが、各々の周波数成分が小さいためSN比はあまり期待できない。)
 測定手段620は、必要となる複数の周波数の各々を知ることができる構成とする。一例として、第14の実施の形態に係る図18Aの測定手段614や、図20Aの測定手段614-3と同様の構成を適用可能である。
 駆動信号としてf1・・・fnのn個の周波数の周波数重畳波形を用いる場合は、f1・・・fnのn点の周波数特性を知ることができる。方形波や鋸歯状波を駆動信号として用いる場合は、基本波や高調波のうち必要な周波数成分に対する周波数特性を知ることができる。
 周波数重畳波形では、単一周波数の正弦波よりも振幅が大きくなりがちであり、信号検知手段増幅器の出力が飽和する可能性が増える。この可能性を軽減するためには、重畳する各周波数を適宜選択し、重畳する各周波数成分の位相を各々調整して、周波数重畳波形のピーク電圧が、最小あるいは必要なだけ小さくなるようにすればよい。重畳する周波数が予めわかっている場合は、計算やシミュレーションによってピーク電圧が小さくなるような各位相を求めることもできる。
 この一例として、1kHzと3kHzの正弦波を重畳する場合を、図50A及び図50Bに示す。図50Aでは、1kHz(点線)の位相が0°のときに、3kHz(細い実線)の位相が180°の場合を示している。この場合の重畳波形(太い実線)のピーク値は、1kHzの正弦波や3kHzの正弦波のピーク値の2倍である。図50Bでは、1kHz(点線)との位相が0°のときに、3kHz(細い実線)の位相も0°の場合を示している。この場合の重畳波形(太い実線)のピーク値は、1kHzと3kHzの正弦波の約1.54倍である。即ちこの場合は、重畳する周波数成分の位相を選択することによって、ピーク電圧を8割弱に低減できる。
 周波数特性を知るためのもう一つの方法として、駆動信号周波数をスイープさせる方法を用いることも可能であり、この場合は例えば図17Aから図17Cの容量測定回路を用いた静電容量変位計とする。
 図17Aの駆動信号発生手段213、もしくは図17B又は図17Cの駆動信号発生手段201では、測定を行う周波数を順次発生させる(周波数をスイープさせる)。測定手段620としては、図17Aの測定手段613、図17Bの測定手段613-1、図17Cの測定手段613-2を各々用いる。図17Aから図17Cの構成、動作や特徴等は、第14の実施の形態の説明の該当部を参照し、ここではこれ以上の説明は省略する。
 [第4の実施例-4]
 図51Aから図52Bは、電極間に人体の一部(指を例示)を接近・離脱することによって、何らかの機器の操作指示を行う例を示しており、本開示の静電容量変位計を近接センサとして使用する一例である。
 図51Aは電極と指ガードの位置関係の例を示す斜視図であり、図51Bは電極と指ガードの位置関係の例を示す正面図を示すと共に、指の接近状態と離脱状態を示している。指ガードは、指の移動範囲を規制すると共に、指が電極に直接触れないようにする機能も有している。
 図52A及び図52Bは、図51A及び図51Bにおいて指を接近・離脱させたときの本開示の静電容量変位計の出力電圧の例を示している。本開示の静電容量変位計に対して、人体は一般的に接地された導体のようにふるまうため、指が電極に接近すると電極間容量が減少し、指が電極から離脱すると電極間容量が元に戻る。
 図52Aは、図51A及び図51Bにおいて指を接近・離脱させるパターンと、各パターンに対応する本開示の静電容量変位計の出力電圧の例を示している。指が離脱状態から接近状態に早く移動した場合は、「早い接近」に示すように出力電圧が急激に下がる。指が離脱状態から接近状態にゆっくりと移動した場合は、「遅い接近」に示すように出力電圧がゆっくりと下がる。指が接近状態から離脱状態に早く移動した場合は、「早い離脱」に示すように出力電圧が急激に上がる。指が接近状態から離脱状態にゆっくりと移動した場合は、「遅い離脱」に示すように出力電圧がゆっくりと上がる。指が接近状態で停止したときは、「近接停止」に示すように出力電圧は下がったままとなり、離脱状態で停止したときは、「離脱停止」に示すように出力電圧は上がったままとなる。
 図52Bは、図52Aに示した指を接近・離脱させる6つのパターンの組み合わせを示している。上段左端は早い接近と早い離脱が連続して生じたときの出力電圧を示している。上段左中は早い接近の後接近状態で停止し、その後早い離脱が生じたときの出力電圧を示している。上段右中は遅い接近と遅い離脱が連続して生じたとき、上段右端は遅い接近・接近状態で停止・遅い離脱が生じたときの出力電圧を示している。下段左端は早い接近と遅い離脱が連続して生じたとき、下段左中は早い接近・接近状態で停止・遅い離脱が生じたときの出力電圧を示している。下段右中は遅い接近と早い離脱が連続して生じたとき、下段右端は遅い接近・接近状態で停止・早い離脱が生じたときの出力電圧を示している。即ち、図52Aの6つのパターンの組み合わせによって、図52Bの8つのパターンが得られることを例示している。
 図52Bにおいて、離脱状態時の出力電圧はVH、接近状態時の出力電圧はVLである。VHとVLの間には図のように、ハイレベル閾値電圧VthHとローレベル閾値電圧VthLを設定する。一例として、VHとVLの電圧差の10%だけVHよりも低い電圧をハイレベル閾値電圧VthHとし、VHとVLの電圧差の10%だけVLよりも高い電圧をローレベル閾値電圧VthLとすることができる。
 離脱状態時の出力電圧VHは、指の太さ等による影響はほとんどないと考えられる。これに対して接近状態時の出力電圧VLは、指の太さ等によって異なる可能性が高い。このような場合、例えば、接近状態において最も低くなったときの出力電圧を接近状態時の出力電圧VLとすることによって、指の太さ等の差異を吸収することができる。
 出力電圧がハイレベル閾値電圧VthHからローレベル閾値電圧VthLまで下がる時間を降下時間tfとし、出力電圧がローレベル閾値電圧VthLよりも低い時間を停止時間thとし、出力電圧がローレベル閾値電圧VthLからハイレベル閾値電圧VthHまで上がる時間を上昇時間trとする。
 降下時間tfが予め定めた降下時間閾値よりも短ければ「早い接近」であり、降下時間閾値以上であれば「遅い接近」であると判定できる。停止時間thが予め定めた停止時間閾値よりも短ければ接近と停止が連続して発生したと判定し、停止時間閾値以上であれば接近停止があったと判定できる。上昇時間trが予め定めた上昇時間閾値よりも短ければ「早い離脱」であり、上昇時間閾値以上であれば「遅い離脱」であると判定できる。このような判定を行うために、前述の第19の実施の形態で説明した比較判定手段を用いることができる。
 図52Bの8つのパターンを識別することによって、8種類の操作指示として用いることができる。一例として、自動車において、遅い接近と遅い離脱の連続をドアロック、早い接近と早い離脱の連続をドアロック解除の操作指示としたり、遅い接近と早い離脱の連続を窓を開ける指示、早い接近と遅い離脱の連続を窓を閉じる操作指示としたりすることができる。さらに、接近状態における停止があるときは窓の開閉速度を遅くし、停止がないときは窓の開閉速度を早くすることなども考えられる。
 指の太さは個人差があるが、誰でも使えるようにするためには、図51Aの指ガードの幅は一例として30mm程度にすることになり、電極間距離はさらに広くなる。このため、測定距離の短い従来技術による静電容量変位計をこのような用途に適用することは困難である。
 [第4の実施例-5]
 図53A及び図53Bは、電極間を移動する物体の移動方向を知ることができる静電容量変位計の例を示している。
 図53Aは、物体が左から右に移動する場合の例と、そのときの静電容量変位計の出力電圧波形の例を示している。また図53Bは、物体が右から左に移動する場合の例と、そのときの静電容量変位計の出力電圧波形の例を示している。
 図53Aや図53Bでは、被測定物の一例である自動車が道路を走行する状態を例示している。例示している自動車は浮いた導電体であり、自動車が電極間に入ると電極間容量が増える。
 図53Aや図53Bの電極は、図の左方向では電極間の距離が近く、右方向では電極間の距離が離れている。このような場合、図53Aに示すように、電極間の距離が近いところでは電気力線の密度が高く、電極間の距離が遠いところでは電気力線の密度が低くなる。
 このような電極間を、図53Aのように自動車が左から右に通過すると、最初に電気力線の密度が高い部分を通過するときは静電容量変位計の出力電圧が早く上昇し、その後電気力線の密度が低い部分を通過するときは静電容量変位計の出力電圧がゆっくりと下降する。一方、図53Bのように自動車が右から左に通過すると、最初に電気力線の密度が低い部分を通過するときは静電容量変位計の出力電圧がゆっくり上昇し、その後電気力線の密度が高い部分を通過するときは静電容量変位計の出力電圧が早く下降する。
 また、自動車の通過速度が早いときは静電容量変位計の出力電圧がより早く上昇/下降し、遅いときは静電容量変位計の出力電圧がより遅く上昇/下降する。
 即ち、静電容量変位計の出力電圧の上昇時間と下降時間の間の大小に基づいて自動車が通過方向を知ることができる。また、上昇時間と下降時間の和に基づいて、自動車の通過速度を知ることもできる。
 図53Aのように自動車が左から右に移動するときの静電容量変位計の出力電圧は図53Aのグラフ5351のように変化し、図53Bのように自動車が右から左に移動するときは出力電圧が図53Bのグラフ5352のように変化する。(図53Bでは自動車が右から左に移動するが、図53Bのグラフ5352では時間軸が右向きになっており、出力電圧は図の左から右に向かって変化する。)
 [第4の実施例-その他]
 本開示の静電容量変位計において、一組の駆動電極と検知電極を使用する物体検知は、他にも様々な用途に利用可能なので、以下これらを列挙する。
・薬品等の混合比や、酒類中のアルコール濃度を、対象物の比誘電率によって知る。
・土、砂、コンクリートブロック等の水分量を、対象物の比誘電率によって知る。
・シュークリーム内のクリームの有無や量などを、対象物の比誘電率によって知る。
・トレイ内の食品充填量などを、対象物の比誘電率によって知る。
・容器の内容物の量や種類を、対象物の比誘電率によって知る。
・容器内の付属品等の数や種類を、非接触検査する。
・タンクやケース中の液量・粉体量や、風呂等の水位を、検出・制御する。
・タイヤ、ゴムや樹脂部品等の中の気泡を、対象物の比誘電率によって知る。
・フィルムなどに付着した金属片を検出する。
・劣化すると膨らむ電池や電解コンデンサなど、物体の形状変化によって対象物の状態を知る。
・静電容量が面積、厚さ及び誘電率の積で決まる銅張り積層板の、厚さや比誘電率を知る。
・プリント基板のパターン間容量を知る。(本開示の容量測定回路によって、微小容量の測定も可能。)
・美術館等、進入禁止エリアへの人や車の侵入を検知する。
・産業用ロボットの動作による、危険領域への侵入を防止する。
・その他、物体の有無や、物体が近接したことの検知等に広く適用可能。
 第4の実施例に示した用途では、後述の第5の実施例のような電極の形状や位置関係の変形例を適用することができる。また第4の実施例に示した用途において、複数箇所で物体検知を行う場合は、後述の第6の実施例のような方法を適用することができる。
 [第5の実施例]
 第5の実施例、及び図54Aから図55Cは、本開示の静電容量変位計による物体検知の一組の駆動電極と検知電極において、電極の形状や位置関係の変形例を示している。
 例えば第4の実施例に係る図48と図49では、駆動電極と検知電極を対向配置する例を示した。これに対して第5の実施例に係る図54Aから図54Dでは、駆動電極と検知電極を並列配置する例を示す。また第5の実施例に係る図55Aから図55Cでは、駆動電極と検知電極を同心円状に配置する例を示す。
 [第5の実施例-1]
 図54Aには、円形の駆動電極5321と円形の検知電極5322を、同一平面に横に並べて配置(即ち、並列配置)する例を示している。電極の形状や配置は一例であり、用途に合わせて自由に選択可能である。例えば四角形の電極でもよく、高さを異ならせた配置や、電極を傾けた配置なども可能である。
 図54Bには、検知電極5322の付近にシールド電極5323を設ける例を示している。駆動電極5321に対して同様にシールド電極5323を設けることも可能である。シールド電極5323は、検知電極5322や駆動電極5321と異なる大きさでも構わないが、少し大きめにすることが好ましい。検知電極5322と駆動電極5321の付近に、共通の大きなシールド電極5323を設けることも可能である。第6の実施の形態で説明したようなプリント基板を用いる電極は、並列配置の電極にも好適である。
 図54Cには、並列配置した駆動電極5321と検知電極5322の間の電気力線のうち、一方の面の電気力線だけを例示している。
 図54Dには、並列配置した駆動電極5321と検知電極5322の付近に、接地された導電体5324が接近した場合の電気力線の例を示している。この場合、駆動電極5321から発した電気力線の一部が接地された導電体5324に到達し、検知電極5322に届かなくなるので、電極間容量Cxは減少する。このような電極間容量Cxの減少を検出することによって、例えば接地された導電体が接近したことを検知する物体検知を行うことができる。
 一方、並列配置した駆動電極5321と検知電極5322の付近に、空気よりも誘電率が大きい物体(例えば液体)が近接する場合(図不示)や浮いた導電体が近接する場合(図不示)は、電極間容量Cxが増加する。このような電極間容量Cxの増加を検出することによって、例えば液体容器や自動車などが接近したことを検知する物体検知を行うことができる。
 [第5の実施例-2]
 図55Aには、ドーナツ状の駆動電極5341と、ドーナツの穴に相当する部分に位置する円形の検知電極5342の例を示している。このような電極の形状・配置を、同心円状の配置と称する。
 図55Bには、駆動電極5341と検知電極5342の間に、さらにドーナツ状のガード電極5343を設けた例を示しており、このような場合の電気力線を図55Cに例示している。ガード電極5343が存在する場合、電極が配置されている面に近く(低く)駆動電極5341から発生した電気力線はガード電極5343に到達し、電極が配置されている面から遠く(高く)発生した電気力線だけが検知電極5342に到達する。このため、電極面からより遠い物体の検知に適した電極配置として働くことが期待できる。
 同心円状の電極配置においても、電極の形状や配置等は自由であり、各電極の直径の比率を変更したり、円形を四角形に変更したり、適宜ガード電極を追加することも可能である。第6の実施の形態で説明したようなプリント基板を用いる電極は、同心円状配置の電極にも好適である。駆動電極と検知電極を入れ替えて使用することも可能である。
 接地された導電体の近接による静電容量の減少、又は、空気よりも比誘電率の高い物体や浮いた導電体の近接による静電容量の増加は、前述の並列配置と同様なので、説明を省略する。
 このような、電極の並列配置や同心円状の配置等は、物体の近接・離脱の検知(近接スイッチや近接センサ)や、近接した物体の誘電率の増加等の検知(例えば内容物の有無や量の検知)にも適している。このような場合は、適切な閾値を用いることによって、物体検知の判定を行うことも、特に好ましい。このような場合の電極の配置は、並列配置や同心円状の配置に限定するものではない。同様の機能を実現可能な、様々な他の電極配置も考えられ、並列配置や同心円状の配置はこの代表的な一例にすぎない。
 [第6の実施例]
 第6の実施例、及び図56Aから図63Bは、本開示の静電容量変位計による物体検知において、駆動電極と検知電極の一方又は両方を複数用いることによって、複数の物体検知を行う例を示している。
 [第6の実施例-1]
 図56A及び図56Bは、複数の物体検知を行う例として、梱包箱5361に入った状態のままで、複数のペットボトル5362各々の内容量検査を行う例を示している。梱包箱5361に入った状態のペットボトル5362(対象物)は、外から見ることができず、レーザー光も通さないため、レーザー変位計によって内容量を検査することはできない。またこのような対象物は金属ではないため、渦電流変位計を適用することもできない。ペットボトル5362の高さは、500ミリリットル品でも高さ200mm前後、1.5リットル品や2リットル品では300mm強もある。このため、梱包箱に入った状態のペットボトルの内容量検査は、本開示の容量測定回路を用いた静電容量変位計によって可能になった。
 図56Aは梱包状態のペットボトル5362を含む梱包箱5361の電極の上面図、図56Bは梱包箱5361や電極の側面図である。梱包箱5361内のペットボトル5362は破線で示されている。各ペットボトル5362の上部(梱包箱の上部)には、例示している断面が四角形のペットボトル5362に合わせて、四角形の駆動電極5363を設ける例を示している。また、梱包箱5361の下部には、梱包箱5361よりも大きいサイズの検知電極5364を設ける例を示している。駆動電極5363や検知電極5364の形状やサイズはこれらに限定するものではない。
 また図56Aでは、前述の第14の実施の形態の図22の方法を用いて駆動電極5363を切り替える例を示しているが、この方法に限定するものではない。第14の実施の形態に示したような、複数箇所の容量測定を行う様々な手法を適宜適用したり、さらにこれらを適宜組み合わせて適用したりすることもできる。
 図56Bには、ペットボトル5362のうち、左から2番目のペットボトル5362の内容量が少ない場合を例示している。また、ペットボトル5362のうち1本の上部に設けられた駆動電極5363から下部の検知電極5364への電気力線の一例を示している。電気力線のほとんどは駆動電極5363から検知電極5364に向かうため、駆動電極5363の直下のペットボトル5362の内容量によって、電極間容量Cxが支配的に決まる。若干の電気力線は駆動電極5363の周囲のペットボトル5362を通過するため、周囲のペットボトル5362の一部又は全部の内容量が極端に異なる場合は若干の影響が生じる可能性はある。しかし当該ペットボトル5362の上部の駆動電極5363を駆動して測定したときに、当該ペットボトル5362の内容量が極端に異なることを知ることができるので、周囲への影響を計算によって補正することも可能である。また、梱包箱5361中のペットボトル5362の一本でも内容量が極端に異なっていることを検知すれば、その梱包箱5361単位で検査不合格となり、ペットボトル5362の入れ替えを行う必要が生じるため、周囲の状態による測定結果への影響は大きな問題にはならない。
 [第6の実施例-2]
 図57A及び図57Bは、複数の物体検知を行う例として、梱包箱5381に入った状態のままで、複数の牛乳パック5382の内容量検査を行う例を示している。梱包箱5381に入った状態の牛乳パック5382(対象物)の内容量検査も同様に、本開示の容量測定回路を用いた静電容量変位計によって可能になった。(梱包箱5381に入っていなくても、牛乳パック5382はレーザー光を通さないので、やはりレーザー変位計を内容量検査に適用することはできない。なお1リットルの牛乳パック5382の代表的な高さは、194mmである。)
 図56A及び図56Bの例では駆動電極を切り替える例を示したが、図57A及び図57Bの例では検知電極を切り替える例を示している。図57Aは検知電極の配置を示すための上面図の例であり、図57Bは側面図の例である。
 図57Aに示すように、牛乳パック5382(3行×4列=12個を例示)の上部には各々、牛乳パック5382に近いサイズの四角形の電極5383が設けられている。また、梱包箱5381の周囲には、接地されたガード電極5384が設けられている。梱包箱5381の下には、ガード電極5384の外形と同程度の大きさの、駆動電極5385(図不示)が全面に設けられている。
 図57Bでは、ガード電極5384や駆動電極5385の例や、電極5383の切り替えの例を示している。電極5383の切り替えは、前述の第14の実施の形態の図23Bの方法を例示している。図57Bの例では、電極5383の切り替えは1行の4個分だけを図示しているが、実際は、3行×4列=12個の切替スイッチが設けられている。12個の切替スイッチのうち1個だけが電極5383を信号検知手段と接続しており、他の電極5383は接地に接続されている。
 信号検知手段と接続された電極1個も、信号検知手段の入力における仮想接地によって接地電位になっているので、梱包箱上部の12個の電極5383とガード電極5384は、全面的に接地された一つの大きな平板電極と同様に働く。一方、駆動電極5385もこれと同程度の大きさの平板電極であるため、全体として平行平板コンデンサのように働く。この様子を、図57Bの電気力線に例示している。
 図57Bに示すように、周辺部分の電気力線は電極の外に膨らもうとするが(端効果)、牛乳パック5382が存在している部分ではほぼ平行な電気力線となっている。即ちガード電極5384は、牛乳パック5382が存在している部分において平行な電気力線となるように、電気力線を整形している。この結果、どの牛乳パック5382の内容量を検知測定する場合であっても、周囲の牛乳パック5382の内容量の影響をほとんど受けないようにすることができる。
 周辺の対象物の影響を受けにくいようにしたい場合は、上記のようにガード電極5384を設けて、検知電極を切り替える方が有利である。しかしこの場合は、接地側に接続している切替スイッチの電極間容量が、検知電極への接続に対する浮遊容量となる。しかし本開示の容量測定回路では、検知電極に付加される浮遊容量はあまり問題にはならない。
 さらに浮遊容量の影響をより小さくしたい場合は、第14の実施の形態の図21のように、信号検知手段を複数用いて測定手段で切り替えることも可能である。この場合も、梱包箱上部の12個の電極5383とガード電極5384は、全面的に接地された一つの大きな電極と同様に働き、駆動電極5385もこれと同程度の大きさであるため、全体として平行平板コンデンサのように働く。
 浮遊容量の影響をより小さくしたい場合の他の対処方法として、図56A及び図56Bのように駆動電極を切り替える方法を選択するか、もしくは第6の実施の形態で示したアクティブシールドを用いることも可能である。即ち、検知電極と駆動電極のどちらを切り替えるかは、用途に応じて選択可能である。
 [第6の実施例-3]
 図58は、複数の物体検知を行う例として、カップラーメンの蓋、別添スープ、麺などの内部の状態を検査する例を示している。図58で左側に図示されている電極は駆動電極であり、右側に図示されている電極は検知電極5802、検知電極5803、検知電極5804及び検知電極5805とガード電極5801及びガード電極5806である。電極の形状は自由に選択可能であり、平板電極でもよいし、カップラーメンを囲むような円弧状の電極になっていてもよい。
 ガード電極5801及びガード電極5806は接地されている。検知電極5802はカップラーメンの蓋の高さに設置されている。検知電極5804は麺の上に置かれている別添スープの高さに設置されており、検知電極5803は検知電極5802と検知電極5804の間に設置されている。検知電極5805はカップラーメン容器中の麺に相当する部分に設置されている。
 前述の第14の実施の形態の図23Bの方法によって、電極切り替えスイッチは、検知電極5802、検知電極5803、検知電極5804及び検知電極5805のうちいずれか一つを信号検知手段に接続し、他は接地するように設けられている。(図58では、検知電極5804が信号検知手段に接続されており、他の検知電極は接地されている状態を例示している。)
 カップラーメンの蓋は、プラスチックとアルミ箔が積層されていることを想定する。プラスチックは誘電体であり、アルミ箔は浮いた導電体なので、共に電極間容量を増大させる。このため、検知電極5802が信号検知手段に接続されているときにおいて、蓋が装着されていない場合やカップラーメンが電極間に置かれていない場合には、想定している電極間容量よりも小さくなるので、蓋の未装着やカップラーメンの不存在を検知できる。適切な閾値を適用すれば、蓋の未装着とカップラーメンの不存在を区別することも可能であろう。
 カップラーメンの麺の上に置かれている別添スープ(粉末や液体)は、プラスチックとアルミ箔が積層された袋に入っていることを想定する。プラスチックやスープは誘電体であり、アルミ箔は浮いた導電体なので、共に電極間容量を増大させる。このため、検知電極5804が信号検知手段に接続されているときにおいて、別添スープが入っていないときや別添スープが正常な高さに置かれていないときは、想定している電極間容量よりも小さくなるので、このような事態を検知できる。
 電極5803が信号検知手段に接続されているときにおいて、想定している電極間容量よりも大きい場合は、別添スープや麺と蓋の間に異物(誘電体や浮いた導電体)が入っている可能性があり、これを検知できる。逆に想定している電極間容量よりも小さいときは、カップラーメンが電極間に置かれていない場合が想定され、これを検知できる。
 検知電極5805が信号検知手段に接続されているときにおいて、想定している電極間容量よりも大きい場合は、麺(誘電体)が規定量よりも多く高密度であることを検知できる。逆に想定している電極間容量よりも小さいときは、麺(誘電体)が規定量よりも少なく低密度であることを検知できる。電極間容量が大幅に小さいときは、麺が入っていない場合、カップラーメンが電極間に置かれていない場合が想定され、これを検知できる。
 図58では、検知電極5082、検知電極5083、検知電極5084及び検知電極5085をスイッチで切り替える例を示したが、信号検知手段や測定手段を複数用いて同時に電極間容量を知ることによって、より短時間でカップラーメンの状態を知ることも可能である。その他にも、第14の実施の形態で示した様々な方法によって、複数箇所の電極間容量を知ることが可能である。
 [第6の実施例-4]
 図59は、複数の電極を用いることによって、被測定物の位置を推定する例を示している。図59の配置5901は、例えば、被測定物(一例としてペットボトルに入った飲料)がベルトコンベアに乗って左から右に移動していくときを例示している。図59の配置5901中のA、B、C、Dは各々、被測定物を検出するための近接センサや近接スイッチである。図59のグラフ5902中のA、B、C、Dは、本開示の静電容量変位計を近接センサとして用いたときの出力電圧の例を示している。図59のグラフの横軸は、図59の配置5901の被測定物の位置を示す横方向に対応しており、被測定物が左から右に移動していくときの静電容量変位計の出力電圧の例を示している。(被測定物は誘電体であり、被測定物が電極間に入ると電極間容量が増加して静電容量変位計の出力電圧が上がる場合を例示している。)
 まず、従来用いられていた近接スイッチとして、図59の配置5901のA、B、C、Dとして光電センサ(遮光型や反射型)を用いる場合を考える。光電センサでは、被測定物が所定位置にあるかないかを光電センサの出力のオンオフで知ることはできるが、被測定物が近くにあるか遠いかを知ることはできない。
 被測定物が位置Pまで移動してきたとき、センサAの出力は一度オンオフして、センサAを通過したことを知ることができる。センサA出力のオンオフ後、センサBの出力はまだオンオフしていない。この状態では、被測定物がセンサAとセンサBの間にいることは検知できるが、被測定物がセンサAとセンサBの間のどこにいるかを知ることはできない。
 本開示の静電容量変位計を近接センサとして用いる場合を考える。この場合、図59の配置5901のA、B、C、Dは各々、本開示の静電容量変位計の駆動電極と検知電極である。
 被測定物が位置Pにあるとき、Aの電極に対応する静電容量変位計の出力電圧は図59のグラフ5902のAの中に示している上下矢印の電圧である。(図59グラフ5902において、被測定物が離れたときの電圧、即ち電圧の平坦部を基準電圧とする。以下同様。)またこのとき、Bの電極に対応する静電容量変位計の出力電圧は図59のグラフ5902のBの中に示している上下矢印の電圧である。CとDの出力電圧は、共に基準電圧である。
 A中の上下矢印の電圧は比較的大きく、B中の上下矢印の電圧は比較的小さい。このことから、被測定物はBよりもAに近い位置にあり、CやDからは離れていることを知ることができる。この場合の一例として、Aの電圧とBの電圧の比に基づいて、被測定物の位置を推定することができる。
 各電極における被測定物の位置と静電容量変位計の出力電圧の関係を、図59のグラフ5902のように予め知っておけば、各電極に対応する静電容量変位計の出力電圧から、より正確な被測定物の位置を推定することもできる。
 なお図59の配置5901で例示している複数の電極において、各々の静電容量を知るためには、第14の実施の形態の様々な方法を自由に選択して使用することができる。
 [第6の実施例-5]
 図60Aから図63Bには、さらに多数箇所の物体検知を行う一例として、自動車用タイヤ(以下、「タイヤ」という)5401の検査を示している。検査対象は自動車用タイヤに限定するものではない。例えば、タイヤ5401を構成するゴム等に気泡が含まれていると、強度が劣化したり、摩耗によって気泡部が外に現れると外観を損ねたりするおそれがある。気泡、すなわち空気の比誘電率は、ゴムの比誘電率よりも低いため、気泡が含まれている部分は電極間容量が減少するので、気泡を検知することができる。
 図60Aから図61Bは、タイヤの断面方向から見た電極の構成を図示しており、図62Aから図63Bは、タイヤの側面方向から見た電極の構成を図示している。
 図60Aは、一対の駆動電極と検知電極によってタイヤの検査を行う例を示している。タイヤ5401の内側全体には駆動電極5402が設けられており、タイヤ5401の外側には小型の検知電極5403が設けられている。(駆動電極5402と検知電極5403の関係は一例であり、逆でもよい。図60Aから図63Bの説明において同様。)なお、タイヤ5401の内側全体に、図のように駆動電極5402を設けるためには、電極を分割してタイヤ5401の内部に入れた上で、それら複数の電極を電気的に接続する必要があるが、これは図示を省略している。(以下同様。)
 外側の電極は、図の点線矢印のようにタイヤ5401の外部を移動可能となっている。必要があればさらに、タイヤ5401の溝部分に入り込むことができるようになっていてもよい。外側の電極がタイヤ5401の外部を点線矢印のように一周すると、タイヤ5401を必要量回転させ、同じように検査を繰り返す。なお、タイヤ5401の回転は、一例として後述の図62Aや図62Bのようにして実現することができる。図60Aは、一対の駆動電極と検知電極だけで済むという利点があるが、外側の電極をタイヤ5401に沿って移動させる手段やタイヤ5401を回転させる手段が必要となり、また測定時間が長くかかる可能性が高い。
 図60Aは、タイヤ5401の内側の電極を固定する場合を例示しているが、タイヤ5401の外側の電極と内側の電極が対をなして、両方の電極を移動可能にすることもできる。(図不示。)
 図60Bは、一つの駆動電極と複数の検知電極によってタイヤの検査を行う例を示している。タイヤ5401の内側全体には駆動電極5402が設けられており、タイヤ5401の外側には適宜分割された複数の検知電極5403が設けられている。複数の検知電極5403の各々に、信号検知手段と測定手段を設けると、測定時間は短くできるがコストが上昇する。前述の第14の実施の形態やそれらの組み合わせを用いることによって、測定時間とコストを選択できるので、用途に応じて適宜選択すればよい。
 図61Aは、図60Bとは逆に、タイヤ5401の外側全体に検知電極5403を設け、タイヤ5401の内側には適宜分割された複数の駆動電極5402を設けている。タイヤ5401の外側全体に、図のように検知電極5403を設ける場合は、例えば、接地面と両側面に電極を3分割してタイヤ外部に設けた上で、それら複数の電極を電気的に接続する必要が生じるが、これは図示を省略している。(以下同様。)複数の電極や、測定時間とコストの選択については、図60Bと同様なので、説明を省略する。
 図61Bは、図60Bのタイヤの内側の電極を分割した例を示している。測定時間とコストの最適化のために、このようにタイヤ5401の内側の電極を適宜分割することも可能である。また、図61Aのようなタイヤ5401の外側の電極を適宜分割することも可能である。
 図62Aと図62Bは、タイヤを回転させることによってタイヤの検査を行う例を示している。図62Aはタイヤ5401の内側に駆動電極5402を、外側に検知電極5403を設ける例を示しており、図60A、図60Bの例や、図61Bの例に適用することができる。図62Bは逆にタイヤ5401の外側に駆動電極5402を、内側に検知電極5403を設ける例を示しており、図61Aに適用することができる。検知電極5403の周囲のガード電極5404は、図57Bと同じように、駆動電極5402から検知電極5403への電気力線を平行にするために設ける例を示しており、必要時に設けることができる任意要素である。
 タイヤ5401を回転・停止させながら測定を行うと時間がかかりすぎる場合は、図63Aや図63Bに例示するように、電極をタイヤ5401の円周方向に適宜分割することによって測定の並列化・高速化を図ることも可能である。図63Aや図63Bはタイヤ5401を回転させないで済むように電極を分割した例を示している。タイヤ5401を回転させない場合は、電極をタイヤ5401に接触させて測定を行うことができる。
 図に示す電極よりも小さい電極にして、タイヤ5401を少しだけ((360°÷分割数の角度)以内)回転させることによって、より詳細な検査と測定時間低減を両立させようとすることも可能である。
 以上説明したように、本開示の最も好ましい実施の形態や具体的な実施例等について説明したが、本発明は、上記の記載に限定されるものではなく、請求の範囲に記載され、又は明細書に開示された本開示の要旨に基づき、当業者において様々な変形や変更が可能であることは勿論であり、斯かる変形や変更が、本発明の範囲に含まれることは言うまでもない。
 101 容量測定回路
 120 静電容量変位計
 201 駆動信号発生手段
 301 駆動電極
 401 検知電極
 501 信号検知手段
 601 測定手段
 701 負帰還部
 904 直流補償回路
 1005 ノイズ除去回路
 1106 シールド電極
 1206 シールド線
 1306 プリント基板
 1406 コネクタ
 1507 並列共振回路
 1607 直列共振回路
 1710 増幅回路
 1813 位相検波手段

Claims (39)

  1.  交流信号が入力される第1導電体と第2導電体との間に形成される静電容量を測定するための静電容量測定回路であって、
     入力及び出力を有する増幅器と、帰還容量を含み前記増幅器の出力から前記増幅器の入力に負帰還をかける負帰還部を含み、前記増幅器の入力が前記第2導電体に接続されるとともに前記負帰還部により仮想接地され、前記静電容量と関数関係にある振幅の交流信号を出力する信号検知手段と、
     前記信号検知手段の出力に接続され、少なくとも前記信号検知手段の交流信号出力の振幅を測定する機能を有する測定手段と、
     を備える静電容量測定回路。
  2.  前記信号検知手段は、さらに、直流補償回路を含み、
     前記直流補償回路は、前記増幅器の出力に接続された入力を有する積分回路と、前記積分回路の出力及び前記増幅器の入力に接続する帰還抵抗を含み、前記増幅器の出力中の直流成分及び低周波成分を、前記増幅器の入力に負帰還をかけることによって前記増幅器を直流的に安定させる、
     請求項1の静電容量測定回路。
  3.  前記直流補償回路は、さらに、少なくとも一つのローパスフィルタを含み、該ローパスフィルタは、前記増幅器の出力と前記積分回路の入力の間、又は前記積分回路の出力と前記帰還抵抗の間の少なくとも一方の間に設置される、
     請求項2の静電容量測定回路。
  4.  前記負帰還部は、前記帰還容量に並列に接続される帰還抵抗を含み、該帰還抵抗の端子間に端子間容量が形成される、
     請求項1の静電容量測定回路。
  5.  前記負帰還部は、さらに、前記帰還抵抗に直列に接続されるキャンセル回路又は減衰器を含む、
     請求項4の静電容量測定回路。
  6.  前記負帰還部は、さらに、前記帰還抵抗と前記キャンセル回路又は前記減衰器の間に第1のバッファアンプを含む、
     請求項5の静電容量測定回路。
  7.  前記負帰還部は、前記帰還容量に並列に接続される放電スイッチを含む、
     請求項1、請求項4、請求項5又は請求項6の静電容量測定回路。
  8.  前記第2導電体と前記信号検知手段の間に設置され、第1の共振回路、第2の共振回路、又は前記第1の共振回路及び前記第2の共振回路を含むノイズ除去回路をさらに備え、
     前記第1の共振回路は、前記第1導電体に入力される前記交流信号の周波数成分で共振し、
     前記第2の共振回路は、除去しようとする周波数成分で共振する、
     請求項1から請求項7のいずれか一項の静電容量測定回路。
  9.  前記第2導電体と前記信号検知手段の間、前記第2導電体の近辺、又は前記第1導電体の近辺の少なくとも1か所に設置されるシールドをさらに備え、
     前記シールドが接地される、
     請求項1から請求項7のいずれか一項の静電容量測定回路。
  10.  前記第2導電体と前記信号検知手段の間、前記第2導電体の近辺、又は前記第1導電体の近辺の少なくとも1か所に設置されるシールドと、
     入力及び出力を含む第2のバッファアンプをさらに備え、
     前記第2のバッファアンプの入力が前記信号検知手段の入力に接続されるとともに、前記第2のバッファアンプの出力が前記シールドに接続され、前記第2のバッファアンプの出力によって前記シールドを駆動する、
     請求項1から請求項7のいずれか一項の静電容量測定回路。
  11.  前記第1導電体、前記第2導電体、又は前記第1導電体及び前記第2導電体をプリント基板によって構成する、
     請求項1から請求項7のいずれか一項の静電容量測定回路。
  12.  前記第1導電体と前記第2導電体の間、前記第1導電体に入力される前記交流信号を発生する駆動信号発生手段と前記第1導電体の間、前記第2導電体と前記信号検知手段の間、又は前記駆動信号発生手段と前記第1導電体の間と前記第2導電体と前記信号検知手段の間の両方の間に設置されるインダクタをさらに備え、
     前記静電容量と前記インダクタが共振回路を形成し、前記静電容量が特定の値であるときに前記共振回路が前記第1導電体に入力される交流信号の周波数で共振する、
     請求項1から請求項7のいずれか一項の静電容量測定回路。
  13.  前記信号検知手段は、前記増幅器の出力と前記測定手段の間に設置される増幅回路を含み、該増幅回路は、前記第1導電体に入力される前記交流信号の周波数における増幅率の絶対値が1より大きい増幅率を有する、
     請求項1から請求項12のいずれか一項の静電容量測定回路。
  14.  前記帰還容量は、減衰器と、第3のバッファアンプと、容量素子を含み、
     前記増幅器の出力側に前記減衰器の入力側が接続され、前記減衰器の出力側に前記第3のバッファアンプの入力側が接続され、前記第3のバッファアンプの出力側に前記容量素子の一端が接続され、前記容量素子の他端が前記増幅器の入力側に接続され、
     前記帰還容量が等価的に前記容量素子の容量と前記減衰器の減衰率と前記第3のバッファアンプの利得の積値と同じ容量を備えるように、前記信号検知手段が動作する、
     請求項1から請求項12のいずれか一項の静電容量測定回路。
  15.  前記帰還容量は、第1の抵抗と第2の抵抗を含む減衰器と、容量素子を含み、
     前記増幅器の出力側に前記減衰器の入力側が接続され、前記減衰器の出力側に前記容量素子の一端が接続され、前記増幅器の入力側に前記容量素子の他端が接続され、
     前記交流信号の周波数における、前記容量素子のインピーダンスが前記第1の抵抗と前記第2の抵抗の並列抵抗値に対して大きいとき、前記帰還容量が等価的に前記容量素子の容量と前記減衰器の減衰率の積値と同じ容量を備えるように、前記信号検知手段が動作する、
     請求項1から請求項12のいずれか一項の静電容量測定回路。
  16.  前記増幅器は、ディスクリート素子で構成されている、
     請求項1から請求項15のいずれか一項の静電容量測定回路。
  17.  前記第1導電体及び前記第2導電体に並列に接続された基準容量と、
     前記第1導電体に入力される前記交流信号を発生する駆動信号発生手段と、前記第1導電体及び前記基準容量との間に配置され、前記駆動信号発生手段を前記第1導電体又は前記基準容量に切り替え可能に接続するスイッチと、
     をさらに備える
     請求項1から請求項16のいずれか一項の静電容量測定回路。
  18.  前記測定手段は、入力側にフィルタを備え、
     前記フィルタは、前記測定手段で測定しようとする周波数以外の周波数成分を減衰させる、
     請求項1から請求項17のいずれか一項の静電容量測定回路。
  19.  前記測定手段は位相検波手段を備え、
     前記位相検波手段は、前記測定手段で測定しようとする周波数以外の周波数成分の影響を抑制する、
     請求項1から請求項18のいずれか一項の静電容量測定回路。
  20.  各々異なる周波数の交流信号を出力し、前記第1導電体に入力される交流信号を発生する駆動信号発生手段を、複数さらに備え、
     前記第1導電体は、複数の第1導電体を含み、前記複数の第1導電体は、前記各々異なる周波数の前記交流信号に対応する前記複数の駆動信号発生手段に一対一で接続し、
     前記第2導電体は1つであり、
     前記信号検知手段又は前記測定手段は、前記複数の周波数を分離して、各第1導電体と前記第2導電体間の前記静電容量を測定する、
     請求項18又は請求項19の静電容量測定回路。
  21.  前記第1導電体は1つであり、
     前記第2導電体は複数の第2導電体を有し、前記複数の第2導電体に一対一で対応する前記信号検知手段及び前記測定手段に接続され、
     前記信号検知手段又は前記測定手段は、1つの前記第1導電体と、複数の前記第2導電体間の前記静電容量を各々測定する、
     請求項18又は請求項19の静電容量測定回路。
  22.  前記第1導電体に入力される前記交流信号を生成する駆動信号発生手段、前記第1導電体、前記第2導電体、前記信号検知手段、及び前記測定手段のうちの2つの間の接続を切り替える切替手段をさらに備える、
     請求項18又は請求項19の静電容量測定回路。
  23.   前記第1導電体は、位相が90°異なる2つの交流信号が各々入力される2つの第1導電体を有し、
     前記第2導電体は1つであり、
     前記測定手段が前記2つの交流信号を位相差で分離することによって、前記1つの第2導電体と各第1導電体間の前記静電容量を測定する、
     請求項19の静電容量測定回路。
  24.  前記第1導電体は、位相が180°異なる2つの交流信号が各々入力される2つの第1導電体を有し、
     前記第2導電体は1つであり、
     前記第2導電体が接続されている前記信号検知手段の出力が最小になる位置と前記2つの前記第1導電体における各々の電圧に基いて前記第2導電体の位置を測定する、
     請求項18又は請求項19の静電容量測定回路。
  25.  前記第1導電体及び前記第2導電体は第1の静電容量を形成し、該第1の静電容量は、前記信号検知手段の入力に接続され、
     前記測定手段は、第1の位相検波手段と、該第1の位相検波手段の出力を直流に変換する平均化手段を含み、直流電圧を出力し、
     前記静電容量測定回路は、さらに、第2の静電容量と、第2の位相検波手段とを備え、
     前記直流電圧は、前記第2の位相検波手段及び前記第2の静電容量を介して前記信号検知手段の入力に接続され、
     前記第1の静電容量及び前記第2の静電容量のいずれかが前記静電容量を形成し、
     前記直流電圧は、前記第1の静電容量に比例し、前記第2の静電容量に反比例する、
     請求項19の静電容量測定回路。
  26.  前記第1導電体に入力される前記交流信号は、ディジタル直接合成シンセサイザにより発生され、
     前記ディジタル直接合成シンセサイザはルックアップテーブルを含み、該ルックアップテーブルによって位相の異なる信号を得る、
     請求項23又は請求項24の静電容量測定回路。
  27.  前記第1導電体に入力される前記交流信号は、ディジタル直接合成シンセサイザにより発生され、
     前記ディジタル直接合成シンセサイザは、出力の上位2ビットの論理演算によって90°単位の位相の異なる信号を得る、
     請求項23又は請求項24の静電容量測定回路。
  28.  前記測定手段は、さらに、1以上の比較判定手段と、前記比較判定手段に対応する閾値設定手段を含み、
     前記測定手段で測定又は算出した結果の判定を行う、
     請求項1から請求項27のいずれか一項の静電容量測定回路。
  29.  前記測定手段はさらに通信手段を備え、前記測定手段で測定した測定結果を、前記通信手段を介して送信する、
     請求項1から請求項27のいずれか一項の静電容量測定回路。
  30.  前記測定手段はさらに通信手段を備え、前記結果、前記結果の判定結果の、両方又は一方を、前記通信手段を介して送信する、
     請求項28の静電容量測定回路。
  31.  前記静電容量によって、前記静電容量に影響する物体の接近又は離脱を検知する、
     請求項1から請求項30のいずれか一項の静電容量測定回路。
  32.  前記第1導電体に入力される前記交流信号を発生する駆動信号発生手段、前記第1導電体、前記第2導電体、前記信号検知手段、及び前記測定手段により構成される回路の少なくとも一部を集積回路に実装する、
     請求項1から請求項31のいずれか一項の静電容量測定回路。
  33.  前記第1導電体に入力される前記交流信号を発生する駆動信号発生手段と前記第1導電体の間、前記第2導電体と前記信号検知手段の間、又は前記第1導電体に入力される前記交流信号を発生する駆動信号発生手段と前記第1導電体の間及び前記第2導電体と前記信号検知手段の間を着脱可能とした、
     請求項1から請求項32のいずれか一項の静電容量測定回路。
  34.  請求項1から請求項33のいずれか一項の静電容量測定回路を備え、
     前記第1導電体又は前記第2導電体は、測定の対象物であり、又は
     前記第1導電体及び前記第2導電体は、別の対象物であり、
     前記測定手段は、前記第1導電体と前記第2導電体の間の距離を測定する、
     静電容量変位計。
  35.  前記測定手段は、前記静電容量と前記距離の関係を曲線関数で近似し、
     前記曲線関数に基いて補正を行うことによって、前記静電容量と前記距離の関係を得る、
     請求項34の静電容量変位計。
  36.  前記第1導電体、前記第2導電体のいずれか一以上を移動可能とした、
     請求項34の静電容量変位計。
  37.  請求項1から請求項33のいずれか一項の静電容量測定回路を備え、
     前記測定手段は、前記第1導電体と前記第2導電体間の前記静電容量に影響する物体の状態を検知する、
     静電容量変位計。
  38.  前記静電容量と、前記静電容量に影響する前記物体の状態の関係を曲線関数で近似し、
     前記曲線関数に基いて補正を行うことによって、前記静電容量と物体の状態の関係を得る、
     請求項37の静電容量変位計。
  39.  前記第1導電体、前記第2導電体、又は前記静電容量に影響する物体のいずれか一以上を移動可能とした、
     請求項37の静電容量変位計。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11320473B2 (en) * 2016-08-22 2022-05-03 Pioneer Corporation Capacitance detection device and optical wavelength-selective filter device
KR20220094178A (ko) * 2020-12-28 2022-07-05 한국과학기술원 임피던스 측정 장치 및 임피던스 측정 방법

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11231808B2 (en) * 2019-01-16 2022-01-25 Microchip Technology Incorporated Dual measurement for high sensitivity capacitive sensing applications and related systems, methods and devices
WO2020235192A1 (ja) * 2019-05-22 2020-11-26 アルプスアルパイン株式会社 静電容量検出センサ
US11101105B1 (en) * 2020-05-28 2021-08-24 Applied Materials Israel Ltd. Noise reduction of a high voltage supply voltage
WO2023021633A1 (en) * 2021-08-18 2023-02-23 Alps Alpine Co., Ltd. Dac-generated driven shield and voltage reference
CN115616294B (zh) * 2022-09-28 2024-05-28 深圳曦华科技有限公司 一种基于延迟锁相环路的电容检测方法及电容检测电路

Citations (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07229941A (ja) * 1994-02-17 1995-08-29 Sunx Ltd 静電容量測定回路及びこれを利用した電子部品のリード検査装置
JPH09145760A (ja) * 1995-11-22 1997-06-06 Japan Aviation Electron Ind Ltd 静電容量計測装置
JP2000505550A (ja) * 1996-02-23 2000-05-09 マサチューセッツ・インスティチュート・オブ・テクノロジー 規定された空間における存在、向き及び活動を分析するための変位電流による方法及び装置
US6331780B1 (en) * 1998-01-23 2001-12-18 Sumitomo Metal Industries Ltd. Static capacitance-to-voltage converter and converting method
JP2002538469A (ja) * 1999-03-05 2002-11-12 オートモーティブ システムズ ラボラトリー インコーポレーテッド 近接センサ
JP2004347493A (ja) * 2003-05-23 2004-12-09 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 異常検出機能を持つ静電容量式センサ装置
JP2006253764A (ja) * 2005-03-08 2006-09-21 Rohm Co Ltd 容量電圧変換回路、それを用いた入力装置、電子機器、ならびに容量電圧変換方法
JP2006320979A (ja) * 2005-05-17 2006-11-30 Tokyo Seimitsu Co Ltd 工作機械
US20060273805A1 (en) * 2005-06-02 2006-12-07 Georgia Tech Research Corporation System and method for sensing capacitance change of a capacitive sensor
JP2010239587A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Fujikura Ltd 車両用ドア開閉装置
WO2011024576A1 (ja) * 2009-08-31 2011-03-03 日立オートモティブシステムズ株式会社 静電容量型物理量センサ及び角速度センサ
JP2013061278A (ja) * 2011-09-14 2013-04-04 Fujitsu Ltd 信号生成装置及び信号生成方法
JP2013066176A (ja) * 2011-09-01 2013-04-11 Nf Corp 増幅回路および帰還回路
JP2013247396A (ja) * 2012-05-23 2013-12-09 Sharp Corp 電圧変換回路、センサーシステムおよび通信システム
JP2014041110A (ja) * 2012-08-22 2014-03-06 Syouei System Co Ltd 変位センサ
US20140327455A1 (en) * 2013-05-03 2014-11-06 Sensirion Ag Sensor circuit arrangement
US20140338449A1 (en) * 2011-11-29 2014-11-20 Sumitomo Precision Products Company Limited Fault detection using skewed transducers
EP3017276A1 (en) * 2013-07-04 2016-05-11 Silicon Sensing Systems Limited Pickoff transducer wire bond bit detection
US20180017598A1 (en) * 2015-04-28 2018-01-18 Alps Electric Co., Ltd. Non-contact voltage measurement device
WO2018062956A1 (ko) * 2016-09-29 2018-04-05 (주)세미센스 정전용량방식 센서장치

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2337346A1 (fr) * 1975-12-30 1977-07-29 Onera (Off Nat Aerospatiale) Pont de mesure de capacites
US5844415A (en) 1994-02-03 1998-12-01 Massachusetts Institute Of Technology Method for three-dimensional positions, orientation and mass distribution
JPH08279718A (ja) * 1995-04-07 1996-10-22 Nec Corp オフセット除去増幅回路
JPH09280806A (ja) 1996-04-09 1997-10-31 Nissan Motor Co Ltd 静電容量式変位計
JP4309158B2 (ja) * 2003-03-19 2009-08-05 富士重工業株式会社 電荷信号変換アンプ、及び筒内圧測定装置
DE102005041759A1 (de) * 2005-09-02 2007-09-06 Pepperl + Fuchs Gmbh Oszillatorschaltung sowie Verfahren zur Beeinflussung, Steuerung oder Regelung der Frequenz eines Oszillators
US8564301B2 (en) * 2010-11-08 2013-10-22 Semiconductor Components Industries, Llc Device and method for determining capacitance as a function of voltage
US9594387B2 (en) * 2011-09-19 2017-03-14 Texas Instruments Incorporated Voltage regulator stabilization for operation with a wide range of output capacitances
US8975963B2 (en) * 2012-03-28 2015-03-10 Texas Instruments Incorporated Offset reduction for analog front-ends
US9128136B2 (en) * 2013-03-15 2015-09-08 Infineon Technologies Ag Apparatus and method for determining the sensitivity of a capacitive sensing device
JP6488674B2 (ja) * 2013-12-25 2019-03-27 パナソニック株式会社 Dcオフセットキャンセル回路
US10506318B2 (en) * 2016-02-23 2019-12-10 Infineon Technologies Ag System and method for signal read-out using source follower feedback

Patent Citations (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07229941A (ja) * 1994-02-17 1995-08-29 Sunx Ltd 静電容量測定回路及びこれを利用した電子部品のリード検査装置
JPH09145760A (ja) * 1995-11-22 1997-06-06 Japan Aviation Electron Ind Ltd 静電容量計測装置
JP2000505550A (ja) * 1996-02-23 2000-05-09 マサチューセッツ・インスティチュート・オブ・テクノロジー 規定された空間における存在、向き及び活動を分析するための変位電流による方法及び装置
US6331780B1 (en) * 1998-01-23 2001-12-18 Sumitomo Metal Industries Ltd. Static capacitance-to-voltage converter and converting method
JP2002538469A (ja) * 1999-03-05 2002-11-12 オートモーティブ システムズ ラボラトリー インコーポレーテッド 近接センサ
JP2004347493A (ja) * 2003-05-23 2004-12-09 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 異常検出機能を持つ静電容量式センサ装置
JP2006253764A (ja) * 2005-03-08 2006-09-21 Rohm Co Ltd 容量電圧変換回路、それを用いた入力装置、電子機器、ならびに容量電圧変換方法
JP2006320979A (ja) * 2005-05-17 2006-11-30 Tokyo Seimitsu Co Ltd 工作機械
US20060273805A1 (en) * 2005-06-02 2006-12-07 Georgia Tech Research Corporation System and method for sensing capacitance change of a capacitive sensor
JP2010239587A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Fujikura Ltd 車両用ドア開閉装置
WO2011024576A1 (ja) * 2009-08-31 2011-03-03 日立オートモティブシステムズ株式会社 静電容量型物理量センサ及び角速度センサ
JP2013066176A (ja) * 2011-09-01 2013-04-11 Nf Corp 増幅回路および帰還回路
JP2013061278A (ja) * 2011-09-14 2013-04-04 Fujitsu Ltd 信号生成装置及び信号生成方法
US20140338449A1 (en) * 2011-11-29 2014-11-20 Sumitomo Precision Products Company Limited Fault detection using skewed transducers
JP2013247396A (ja) * 2012-05-23 2013-12-09 Sharp Corp 電圧変換回路、センサーシステムおよび通信システム
JP2014041110A (ja) * 2012-08-22 2014-03-06 Syouei System Co Ltd 変位センサ
US20140327455A1 (en) * 2013-05-03 2014-11-06 Sensirion Ag Sensor circuit arrangement
EP3017276A1 (en) * 2013-07-04 2016-05-11 Silicon Sensing Systems Limited Pickoff transducer wire bond bit detection
US20180017598A1 (en) * 2015-04-28 2018-01-18 Alps Electric Co., Ltd. Non-contact voltage measurement device
WO2018062956A1 (ko) * 2016-09-29 2018-04-05 (주)세미센스 정전용량방식 센서장치

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11320473B2 (en) * 2016-08-22 2022-05-03 Pioneer Corporation Capacitance detection device and optical wavelength-selective filter device
KR20220094178A (ko) * 2020-12-28 2022-07-05 한국과학기술원 임피던스 측정 장치 및 임피던스 측정 방법
KR102651909B1 (ko) 2020-12-28 2024-03-27 한국과학기술원 임피던스 측정 장치 및 임피던스 측정 방법

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