WO2019168141A1 - 分光特性測定装置、分光特性測定方法、及び炉の制御方法 - Google Patents

分光特性測定装置、分光特性測定方法、及び炉の制御方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2019168141A1
WO2019168141A1 PCT/JP2019/007983 JP2019007983W WO2019168141A1 WO 2019168141 A1 WO2019168141 A1 WO 2019168141A1 JP 2019007983 W JP2019007983 W JP 2019007983W WO 2019168141 A1 WO2019168141 A1 WO 2019168141A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
imaging
spectral
dimensional
measurement
furnace
Prior art date
Application number
PCT/JP2019/007983
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
児玉　俊文
勝太 天野
幸雄 ▲高▼橋
Original Assignee
Ｊｆｅスチール株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ｊｆｅスチール株式会社 filed Critical Ｊｆｅスチール株式会社
Priority to BR112020017230-8A priority Critical patent/BR112020017230B1/pt
Priority to CN201980016024.7A priority patent/CN111788463B/zh
Priority to JP2019520906A priority patent/JP6699802B2/ja
Priority to EP19761311.0A priority patent/EP3760991B1/en
Priority to KR1020207027287A priority patent/KR102500640B1/ko
Publication of WO2019168141A1 publication Critical patent/WO2019168141A1/ja

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/0044—Furnaces, ovens, kilns
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02—Details
    • G01J3/0289—Field-of-view determination; Aiming or pointing of a spectrometer; Adjusting alignment; Encoding angular position; Size of measurement area; Position tracking
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28—Investigating the spectrum
    • G01J3/2803—Investigating the spectrum using photoelectric array detector
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28—Investigating the spectrum
    • G01J3/2823—Imaging spectrometer
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28—Investigating the spectrum
    • G01J3/30—Measuring the intensity of spectral lines directly on the spectrum itself
    • G01J3/36—Investigating two or more bands of a spectrum by separate detectors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J2005/0077—Imaging

Definitions

  • the present invention relates to a spectral characteristic measuring apparatus, a spectral characteristic measuring method, and a furnace control method.
  • a spectroscopic measurement method using elements such as a prism, a diffraction grating, and a variable filter is known.
  • imaging spectroscopy or multispectral imaging technique for performing this spectroscopic measurement finely on a subdivided region of an object has been developed based on several principles and has recently become commercially available.
  • a variable filter capable of continuously changing the transmission characteristics is embedded in the imaging system (see Patent Document 1), or filter films having different transmission characteristics are attached to the pixels of the area sensor camera in a mosaic pattern.
  • a method see Non-Patent Document 1) that simultaneously acquires a plurality of spectral images equivalently is known.
  • Patent Document 1 has a problem that the spectral characteristics of temporally unsteady objects such as moving objects cannot be measured because the data acquisition timing at each wavelength is different. Further, the method described in Non-Patent Document 1 has a problem in that the resolution of an image is lowered when the number of observation wavelengths is increased, and it is difficult to obtain a detailed spectral spectrum distribution of a wide part of an object. .
  • Non-Patent Document 2 an imaging spectrometer (see Non-Patent Document 2) in which a diffraction grating and an area sensor camera are combined has been proposed.
  • the imaging spectrometer described in Non-Patent Document 2 can measure the measurement resolution in a visual field in one direction, that is, the resolution and the wavelength resolution within the measurement wavelength range, with a high resolution of 1000 or more, respectively.
  • Non-Patent Document 2 is one line (one-dimensional)
  • the position of the object is to be measured when measuring an object such as a large manufacturing apparatus or manufacturing state from a distance. Is difficult to associate with the measurement field of view. Specifically, if the object moves in a direction orthogonal to the one-dimensional line direction that is the measurement field of view of the imaging spectrometer, the object will be immediately removed from the measurement field of view, making measurement impossible. In this way, each time the object moves out of the measurement field of the imaging spectrometer, it is necessary to readjust the measurement field of the imaging spectrometer and the position of the object.
  • the present invention has been made in view of the above problems, and its purpose is to accurately associate the position of the target object with the measurement visual field even when the positional relationship with the target object changes.
  • Another object of the present invention is to provide a spectral characteristic measuring apparatus and a spectral characteristic measuring method capable of stably measuring spectral characteristics of an object.
  • Another object of the present invention is to provide a furnace control method capable of stably controlling the furnace in a desired state.
  • the spectral characteristic measuring apparatus includes an imaging spectroscopic device that acquires, as spectral information, light emitted from a linear region of an object or reflected light from the linear region, and two objects that include the linear region.
  • a two-dimensional imaging device that captures an image of a three-dimensional region; and an arithmetic unit that determines a range in which the imaging spectroscopic device acquires the spectral information based on an image captured by the two-dimensional imaging device.
  • the spectral characteristic measurement method uses a two-dimensional imaging device, the step of acquiring, as spectral information, light emitted from a linear region of an object or reflected light from the linear region using an imaging spectroscopic device.
  • the method for controlling a furnace according to the present invention measures the combustion state of the furnace by measuring the spectral information of the furnace using the spectral characteristic measurement method according to the present invention, and determines the measured combustion state of the furnace. And controlling the combustion state of the furnace based on the method.
  • the spectral characteristic measuring apparatus and the spectral characteristic measuring method according to the present invention even when the positional relationship with the object changes, the object position and the measurement visual field are accurately associated with each other, and the object is obtained. Can be measured stably. Moreover, according to the furnace control method of the present invention, the furnace can be stably controlled in a desired state.
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration of a spectral characteristic measuring apparatus according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a schematic diagram showing the relationship between the width of the measurement visual field of the imaging spectroscopic device and the width of the imaging visual field of the two-dimensional imaging device in the measurement visual field direction of the imaging spectroscopic device.
  • FIG. 3 is a diagram illustrating a captured image of the two-dimensional imaging device and a spectral spectrum intensity measured by the imaging spectroscopic device.
  • FIG. 4 is a diagram illustrating a captured image of the two-dimensional imaging device and a spectral spectrum intensity measured by the imaging spectroscopic device.
  • FIG. 5 is a diagram illustrating a captured image of the two-dimensional imaging device and a spectral spectrum intensity measured by the imaging spectroscopic device.
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration of a spectral characteristic measuring apparatus according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a schematic diagram showing the relationship between the width of the measurement visual field of the imaging spectroscopic device 4 shown in FIG. 1 and the width of the imaging visual field of the two-dimensional imaging device 6 in the measurement visual field direction of the imaging spectroscopic device 4.
  • a spectral characteristic measuring apparatus 1 is an apparatus for measuring spectral characteristics (spectral spectral intensity) of an object A such as a furnace or a laser welding location. In the example, it is installed on the fixed plate 2.
  • the spectral characteristic measuring device 1 includes an imaging lens 3, an imaging spectroscopic device 4, an imaging lens 5, a two-dimensional imaging device 6, and an arithmetic device 7.
  • the imaging spectroscopic device 4 acquires and acquires spectral characteristics by dispersing light emitted from the linear region (one-dimensional region) of the object A or reflected light from the linear region via the imaging lens 3.
  • the spectral characteristics are output to the display device 8.
  • the two-dimensional imaging device 6 is arranged so as to include the measurement visual field of the imaging spectroscopic device 4 according to the distance from the object A.
  • the two-dimensional imaging device 6 captures an image of the two-dimensional region of the object A including the linear region from which the imaging spectroscopic device 4 acquires spectral characteristics via the imaging lens 5 and displays the captured image as a display device. 8 is output.
  • the measurement visual field direction of the imaging spectroscopic device 4 and the photographing direction of the two-dimensional imaging device 6 are parallel to the installation surface of the imaging spectroscopic device 4 and the two-dimensional imaging device 6. Further, it is desirable that the optical axis centers of the imaging spectroscopic device 4 and the two-dimensional imaging device 6 are arranged so as to have the same height from the installation surface.
  • the optical axes of the imaging spectroscopic device 4 and the two-dimensional imaging device 6 are preferably as close as possible, and more preferably substantially the same. If the optical axes of the imaging spectroscopic device 4 and the two-dimensional imaging device 6 are separated from each other, it is difficult to obtain a correspondence between a measurement visual field of the imaging spectroscopic device 4 described later and an imaging visual field of the two-dimensional imaging device 6. However, there may be a case where the correspondence between the measurement visual field of the imaging spectroscopic device 4 described later and the imaging visual field of the two-dimensional imaging device 6 can be corrected by the arithmetic device 7 described later.
  • the computing device 7 determines the range of the object A from which the two-dimensional information is acquired by the imaging spectroscopic device 4 based on the captured image of the two-dimensional imaging device 6. Note that the range of the object A from which the two-dimensional information is acquired may be determined by the user based on the image output to the display device 8.
  • the measurement field of the imaging spectroscopic apparatus 4 and the object A photographed by the two-dimensional imaging apparatus 6 are measured. Correspondence with the captured image is included. Specifically, the user places a point light source having a known wavelength at the same position as the distance to the object A at one end of the measurement visual field of the imaging spectroscopic device 4, and uses the two-dimensional imaging device 6 to make a point. Mark the light source. Next, the fixed plate 2 is moved so that the point light source comes to the other end of the measurement visual field of the imaging spectroscopic device 4 and the image of the point light source is marked by the two-dimensional imaging device 6.
  • the position of the point light source image taken by the two-dimensional imaging device 6 when the point light source images are located at both ends of the measurement visual field of the imaging spectroscopic device 4 is marked.
  • the width W1 of the measurement visual field of the imaging spectroscopic device 4 is determined and the correspondence between the measurement visual field of the imaging spectroscopic device 4 and the imaging visual field of the two-dimensional imaging device 6 is clarified. Even when the positional relationship with the object A changes, the position of the object A and the measurement visual field can be accurately associated, and the spectral characteristics of the object A can be stably measured.
  • the point light source is moved to the other end of the measurement visual field of the imaging spectroscopic device 4;
  • the measurement visual field of the imaging spectroscopic device 4 and the imaging visual field of the two-dimensional imaging device 6 may be associated with each other.
  • a plurality of point light sources may be prepared and arranged at both ends of the measurement visual field of the imaging spectroscopic device 4 to perform the above association.
  • the linear region of the object A is set in the measurement visual field of the imaging spectroscopic device 4, but may be the same width as the width W1 of the measurement visual field.
  • the spectral characteristics of the object A are measured using the imaging spectroscopic device 4. Based on the photographed image of the object A of the two-dimensional imaging device 6 and the width W1 of the measurement visual field of the imaging spectroscopic device 4, the calculation device 7 determines a range for measuring the spectral characteristics.
  • the present invention is applicable even when the object A itself emits light or when the object A reflects light from another light source.
  • Spectral characteristics can basically be measured at any point in the linear region, but may be measured over the entire linear region. That is, the one-dimensional spectral characteristic may be obtained by measuring from one end of the linear region to the other end of the linear region at a predetermined time and at a predetermined interval. Alternatively, a plurality of linear regions may be set to obtain two-dimensional spectral characteristics.
  • Spectral characteristics can be measured at any wavelength. One wavelength may be used or a plurality of wavelengths may be used.
  • the photographed image of the two-dimensional imaging device 6 is periodically checked, and the two points marked when the position of the image of the object A is associated with the field of view are shown.
  • the position of the fixed plate 2 is corrected so that the image of the object A is positioned on the straight line.
  • the imaging spectroscopic device 4 and the two-dimensional imaging device 6 are coupled to the same optical system to measure spectral characteristics, that is, a single optical axis is divided by a half mirror or the like to measure spectral characteristics. Is also possible. In this case, since the optical axes coincide completely, the correspondence between the fields of view becomes more accurate.
  • Whether or not the position of the image of the object A deviates from the straight line connecting the two points marked when the field of view is associated is, for example, that the spectral characteristic measured by the imaging spectroscopic device 4 is equal to or less than a preset threshold value. It can be determined by whether or not it has become. More specifically, this is the case when the spectral intensity falls below a preset threshold.
  • other means may be used to correct the position of the image of the object A.
  • a two-dimensional imaging visual field including the one-dimensional measurement visual field of the imaging spectroscopic apparatus 4 is used. Since the measurement is performed simultaneously with the two-dimensional imaging device 6 having the above, it is possible to correct the measurement field of view by detecting the measurement field out of the object A as an image.
  • the position of the object A and the measurement visual field are accurately associated with each other.
  • the spectral characteristics of the object A can be stably measured.
  • the spectral characteristics of the object A can be stably measured regardless of the length of the distance to the object A. Can do. This is particularly effective when the distance between the object A and the spectral characteristic measuring apparatus 1 is approximately 15 m or more.
  • the spectral characteristics can be stably measured without approaching the object A, which is particularly preferable.
  • the upper limit of the distance to the object A depends on the performance of the imaging spectroscopic device 4, the two-dimensional imaging device 6, and the imaging lenses 3 and 5 used in the spectral characteristic measuring device 1. Therefore, in reality, it is 50 m or less.
  • the reliability of the measurement result can be improved.
  • FIGS. 3A and 3B are diagrams showing a captured image of the two-dimensional imaging device 6 and a spectral spectrum intensity (light emission intensity) measured by the imaging spectroscopic device 4 at the start of measurement of spectral characteristics.
  • the flame corresponds to the portion indicated by hatching in FIG.
  • the broken line L1 indicates the observation line of the imaging spectroscopic device 4, and the broken line L2 indicates the measurement position of the spectral spectrum. That is, the spectral characteristic at the intersection of the broken line L1 and the broken line L2 is measured.
  • the linear region described above is a portion R where the hatched portion in FIG. 3A and the broken line L1 overlap.
  • the measurement spectrum of the imaging spectroscopic device 4 includes a flame emitted from a smelting furnace, so the spectral spectrum of the flame is measured. did it.
  • the position of the flame deviated from the measurement field of view of the imaging spectroscope 4 despite the occurrence of the flame because the position of the flame changed in the height direction.
  • the spectral spectrum intensity of the flame decreased.
  • the position in the height direction of the measurement visual field of the imaging spectroscopic device 4 was corrected based on the photographed image of the two-dimensional imaging device 6.
  • the position of the flame entered the measurement field of view of the imaging spectroscopic device 4 and the flame spectral spectrum could be acquired appropriately.
  • the spectral characteristics of the flame in other words, the combustion state of the smelting furnace is stably measured, and the state of the smelting furnace is based on the measurement result. Can be controlled stably.
  • the broken line L2 can be arbitrarily set as long as it is within the range of the linear region.
  • Dephosphorization and decarburization were carried out by oxidizing and refining the hot metal using a top blowing converter (oxygen gas top blowing, argon gas bottom blowing) with a capacity of 300 t.
  • the top blowing lance used was a Laval type nozzle arranged at equal intervals on the same circumference. A nozzle having a throat diameter of 73.6 mm, an outlet diameter of 78.0 mm, 5 holes, and a nozzle inclination angle of 15 ° was used.
  • the distance between the spectral characteristic measuring apparatus 1 and the converter was about 20 m.
  • iron scrap was charged into the converter, and then hot metal having the components and temperatures shown in Table 1 below was charged.
  • argon gas was blown from the bottom blowing tuyere and oxygen gas was blown from the top blowing lance to the hot metal bath surface to initiate hot metal oxidative refining.
  • the amount of iron scrap charged was adjusted so that the molten steel temperature after oxidation refining was 1650 ° C.
  • quick lime was added as a CaO-based solvent agent during oxygen refining, and oxidative refining was performed until the carbon concentration in the molten iron reached 0.05% by mass.
  • the amount of lime input was adjusted so that the basicity of the slag produced in the furnace was 2.5.
  • the spectroscopic characteristic measuring device 1 photographs a furnace-mouth combustion flame in the vicinity of the converter mouth at a predetermined measurement time interval ⁇ t: 1 to 10 seconds, and calculates the light emission intensity In of wavelength 610 nm. Analysis was performed.
  • the wavelength of 610 nm is a value determined in advance, and may be determined each time when the steel type, operating conditions, furnace shape is different, or when it is applied to equipment other than a converter, such as a refining pan. desirable.
  • the moving average change rate of the emission intensity shown in the following formulas (1) and (2) was calculated.
  • Emission intensity moving average change rate ⁇ I (n, s) -I (n ⁇ m, s) ⁇ / [ ⁇ I (n, s) + I (n ⁇ m, s) ⁇ / 2] (1)
  • I (n, s) is a countable number s
  • I (n -M, s) is a moving average (au) of a specific wavelength with s as a countable number and m ⁇ ⁇ t seconds before time n.
  • M is a natural number
  • s is a moving average countable number (an integer of 0 or more)
  • ⁇ t is a measurement time interval (s).
  • the converter operation was monitored using the obtained average rate of change in emission intensity at each time point as an index of the situation inside the converter. Then, when the obtained light emission intensity moving average change rate falls below a predetermined threshold value 1.6, at least the oxygen gas flow rate from the top blowing lance, the lance height of the top blowing lance, and the bottom blowing gas flow rate Adjusted one. Furthermore, in the example of this invention, when the emitted light intensity of the specific wavelength during blowing reduced, visual field adjustment was implemented each time.
  • the lance height is reduced to 2.5m from 3.0 m
  • the implementation rate in Table 2 is the ratio of charge at which the spectroscopic measurement of the furnace-mouth combustion flame can be stably performed with respect to the total number of blowing.
  • the spectral position of the object can be accurately measured and the spectral characteristics of the object can be measured stably.
  • a characteristic measuring apparatus and a spectral characteristic measuring method can be provided.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

本発明の一実施形態である分光特性測定装置１は、対象物Ａの直線状領域が発する光又は直線状領域からの反射光を分光情報として取得するイメージング分光装置４と、直線状領域を包含する対象物Ａの２次元領域の画像を撮影する２次元撮像装置６と、２次元撮像装置６によって撮影された画像に基づいてイメージング分光装置４が分光情報を取得する範囲を決定する演算装置７と、を備える。

Description

分光特性測定装置、分光特性測定方法、及び炉の制御方法
　本発明は、分光特性測定装置、分光特性測定方法、及び炉の制御方法に関する。
　対象物の色の特徴を定量化する手段として、プリズム、回折格子、可変フィルタ等の素子を用いた分光計測の手法が知られている。また、この分光計測を対象物の細分化した領域に対して細かく行うイメージング分光法ないしはマルチスペクトル撮像手法が数通りの原理に基づいて開発され、近年市販されるようになっている。具体的には、透過特性を連続的に変化させることができる可変フィルタを撮像系に埋め込む方式（特許文献１参照）や、エリアセンサカメラの画素に透過特性の異なるフィルタ膜をモザイク状に張り付けて等価的に複数の分光画像を同時に取得する方式（非特許文献１参照）が知られている。
　ところが、特許文献１に記載の方式には、それぞれの波長でのデータ取得タイミングが異なるために、移動体等の時間的に非定常な対象物の分光特性を測定できないという問題がある。また、非特許文献１に記載の方式には、観測波長の数を増やすと画像の解像度が低下するという問題点があり、対象物の広範な部分の詳細な分光スペクトル分布の取得が困難である。
　これに対して、回折格子とエリアセンサカメラとを組み合わせたイメージング分光器（非特許文献２参照）が提案されている。非特許文献２に記載のイメージング分光器を用いることにより、対象物の直線状領域の詳細な分光特性を取得できる。非特許文献２に記載のイメージング分光器は、一方向の視野内の測定分解能、すなわち解像度や測定波長範囲内の波長分解能をそれぞれ１０００以上の高い分解能で測定することが可能であり、特許文献２に開示されているような印刷物の濃度や色彩の詳細な検査や、近年では森林や圃場の植生分布の解析等に用いられている。
特開２００８－１３９０６２号公報 特開２０００－３５６５５２号公報
株式会社アルゴ、"分光フィルタ搭載ハイパースペクトルカメラ"、［online］、平成３０年１月１５日検索、インターネット＜URL:https://www.argocorp.com/cam/special/IMEC/IMEC_snapshot.html＞ ダイトロン株式会社、"イメージング分光器ImSpector"、［online］、平成３０年１月１５日検索、インターネット＜URL:http://www.daitron.co.jp/products/category/?c=zoom&pk=1942&sw=1＞
　しかしながら、非特許文献２に記載のイメージング分光器の測定視野が１ライン（１次元）であるために、大型の製造装置や製造状態等の対象物を遠方から測定する場合には対象物の位置と測定視野との対応付けが難しい。具体的には、イメージング分光器の測定視野である１次元のライン方向に対して直交する方向に対象物が移動すると、対象物がすぐに測定視野から外れてしまい測定不能となってしまう。このように、イメージング分光器の測定視野から対象物が外れる度にイメージング分光器の測定視野と対象物の位置との再調整が必要になる。このような問題を解決するために、対象物及び測定装置の位置決めを正確に行うことが考えられるが、実用上は対象物が移動したり、測定装置の固定状態が変化したりする等して測定装置と対象物との位置関係が変化し、対象物の分光特性を安定して測定することは難しい。
　本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであって、その目的は、対象物との位置関係が変化する場合であっても、対象物の位置と測定視野との対応付けを正確に行い、対象物の分光特性を安定して測定可能な分光特性測定装置及び分光特性測定方法を提供することにある。また、本発明の他の目的は、炉を所望の状態に安定して制御可能な炉の制御方法を提供することにある。
　本発明に係る分光特性測定装置は、対象物の直線状領域が発する光又は該直線状領域からの反射光を分光情報として取得するイメージング分光装置と、前記直線状領域を包含する対象物の２次元領域の画像を撮影する２次元撮像装置と、前記２次元撮像装置によって撮影された画像に基づいて前記イメージング分光装置が前記分光情報を取得する範囲を決定する演算装置と、を備えることを特徴とする。
　本発明に係る分光特性測定方法は、イメージング分光装置を用いて対象物の直線状領域が発する光又は該直線状領域からの反射光を分光情報として取得するステップと、２次元撮像装置を用いて前記直線状領域を包含する対象物の２次元領域の画像を撮影するステップと、前記２次元撮像装置によって撮影された画像に基づいて前記イメージング分光装置によって前記分光情報を取得する範囲を決定するステップと、を含むことを特徴とする。
　本発明に係る炉の制御方法は、本発明に係る分光特性測定方法を利用して炉の前記分光情報を測定することによって前記炉の燃焼状態を測定し、測定された前記炉の燃焼状態に基づいて前記炉の燃焼状態を制御するステップを含むことを特徴とする。
　本発明に係る分光特性測定装置及び分光特性測定方法によれば、対象物との位置関係が変化する場合であっても、対象物の位置と測定視野との対応付けを正確に行い、対象物の分光特性を安定して測定できる。また、本発明に係る炉の制御方法によれば、炉を所望の状態に安定して制御できる。
図１は、本発明の一実施形態である分光特性測定装置の構成を示す模式図である。 図２は、イメージング分光装置の測定視野の幅とイメージング分光装置の測定視野方向における２次元撮像装置の撮像視野の幅との関係を示す模式図である。 図３は、２次元撮像装置の撮影画像及びイメージング分光装置によって測定された分光スペクトル強度を示す図である。 図４は、２次元撮像装置の撮影画像及びイメージング分光装置によって測定された分光スペクトル強度を示す図である。 図５は、２次元撮像装置の撮影画像及びイメージング分光装置によって測定された分光スペクトル強度を示す図である。
　以下、図面を参照して、本発明の一実施形態である分光特性測定装置の構成について説明する。
　図１は、本発明の一実施形態である分光特性測定装置の構成を示す模式図である。図２は、図１に示すイメージング分光装置４の測定視野の幅とイメージング分光装置４の測定視野方向における２次元撮像装置６の撮像視野の幅との関係を示す模式図である。図１に示すように、本発明の一実施形態である分光特性測定装置１は、炉やレーザ溶接箇所等の対象物Ａの分光特性（分光スペクトル強度）を測定するための装置であり、この例では固定板２の上に設置されている。分光特性測定装置１は、結像用レンズ３、イメージング分光装置４、結像用レンズ５、２次元撮像装置６、及び演算装置７を備えている。
　イメージング分光装置４は、結像用レンズ３を介して対象物Ａの直線状領域（１次元領域）が発する光又はその直線状領域からの反射光を分光して分光特性を取得し、取得した分光特性を表示装置８に出力する。
　２次元撮像装置６は、対象物Ａとの間の距離に合わせてイメージング分光装置４の測定視野を含むように配置されている。２次元撮像装置６は、結像用レンズ５を介してイメージング分光装置４が分光特性を取得する直線状領域を包含する対象物Ａの２次元領域の画像を撮影し、撮影した画像を表示装置８に出力する。なお、図２に示すように、イメージング分光装置４の測定視野の幅Ｗ１に対して２次元撮像装置６の撮像視野の幅Ｗ２を大きくすることが望ましい。これにより、２次元撮像装置６の撮影画像によりイメージング分光装置４の測定視野をもれなく確認することができる。
　この時、イメージング分光装置４及び２次元撮像装置６は、イメージング分光装置４の測定視野方向及び２次元撮像装置６の撮影方向が、イメージング分光装置４及び２次元撮像装置６の設置面と平行になり、またイメージング分光装置４及び２次元撮像装置６の光軸中心が、設置面から同じ高さになるように配置されることが望ましい。
　さらに、イメージング分光装置４及び２次元撮像装置６の光軸は、出来る限り近い方が好ましく、略同一であることがさらに好ましい。イメージング分光装置４及び２次元撮像装置６の光軸が離れていると、後述するイメージング分光装置４の測定視野と２次元撮像装置６の撮像視野との対応関係が取りづらくなる。但し、後述する演算装置７によって、後述するイメージング分光装置４の測定視野と２次元撮像装置６の撮像視野との対応関係を補正できる場合もある。
　演算装置７は、２次元撮像装置６の撮影画像に基づいてイメージング分光装置４によって２次元情報を取得する対象物Ａの範囲を決定する。なお、２次元情報を取得する対象物Ａの範囲は、表示装置８に出力されている画像に基づいてユーザが決定してもよい。
　このような構成を有する分光特性測定装置１を用いて対象物Ａの分光特性を測定する際には、まず、イメージング分光装置４の測定視野と２次元撮像装置６によって撮影された対象物Ａを含む撮影画像との対応付けを行う。具体的には、ユーザは、対象物Ａまでの距離と同一の位置に波長が既知である点光源を、イメージング分光装置４の測定視野の一方の端に配置し、２次元撮像装置６によって点光源をマークする。次に、固定板２を動かして、イメージング分光装置４の測定視野のもう一方の端に点光源がくるようにして、２次元撮像装置６によって点光源の像をマークする。このようにして、点光源の像がイメージング分光装置４の測定視野の両端に位置したときの、２次元撮像装置６によって撮影された点光源の像の位置をマークする。これにより、イメージング分光装置４の測定視野の幅Ｗ１が決まると共に、イメージング分光装置４の測定視野と２次元撮像装置６の撮像視野との対応関係が明確になるので、分光特性測定装置１と対象物Ａとの位置関係が変化した場合であっても、対象物Ａの位置と測定視野との対応付けを正確に行い、対象物Ａの分光特性を安定して測定することができる。
　なお、イメージング分光装置４の測定視野の一方の端に配置し、２次元撮像装置６によって点光源をマークした後、点光源をイメージング分光装置４の測定視野のもう一方の端に移動させて、イメージング分光装置４の測定視野と２次元撮像装置６の撮像視野を対応付けてもよい。また、点光源を複数用意し、イメージング分光装置４の測定視野の両端に配置して、上記の対応付けを行ってもよい。対象物Ａの直線状領域は、イメージング分光装置４の測定視野内に設定されるが、測定視野の幅Ｗ１と同じ幅であってもよい。
　次に、イメージング分光装置４を用いて対象物Ａの分光特性を測定する。２次元撮像装置６の対象物Ａの撮影画像と、イメージング分光装置４の測定視野の幅Ｗ１に基づいて、演算装置７によって、分光特性を測定する範囲を決定する。対象物Ａ自身が発光している場合、又は、対象物Ａが他の光源からの光を反射している場合でも、本発明は適用可能である。分光特性は、基本的には、直線状領域の任意の点で測定できるが、直線状領域全体にわたって測定してもよい。つまり、直線状領域の一方の端から順に、所定の時間、所定の間隔で、直線状領域のもう一方の端まで測定し、１次元の分光特性を求めてもよい。また、直線状領域を複数設定して、２次元の分光特性としてもよい。分光特性は、任意の波長で測定できる。波長は、１種類であっても、複数用いてもよい。
　なお、分光特性を測定している際には、２次元撮像装置６の撮影画像を定期的に確認し、対象物Ａの画像の位置が視野の対応付けを行った際にマークした２点を結ぶ直線上から外れた場合、対象物Ａの画像が直線上に位置するように固定板２の位置を修正する。なお、イメージング分光装置４と２次元撮像装置６とを同一の光学系に結合して分光特性を測定する、すなわち単一の光軸をハーフミラー等により分割して分光特性を測定する等の変更も可能である。この場合、光軸が完全に一致するので、両者の視野の対応関係がより正確になる。
　対象物Ａの画像の位置が、視野の対応付けを行った際にマークした２点を結ぶ直線上から外れたかどうかは、例えばイメージング分光装置４が測定した分光特性が、予め設定した閾値以下になったか否か等で判定できる。具体的には、分光強度が予め設定した閾値以下になった場合等である。また、対象物Ａの画像の位置の修正は、固定板２の位置の修正の他に、他の手段を用いてもよい。
　このように、本発明の一実施形態である分光特性測定装置１では、イメージング分光装置４を用いた分光特性の測定において、イメージング分光装置４の１次元の測定視野を包含する２次元の撮像視野を有する２次元撮像装置６を併設して同時に測定するので、対象物Ａの測定視野外れを画像として検知して測定視野を修正することができる。
　これにより、対象物Ａと、イメージング分光装置４の光軸に対して略垂直方向との位置関係が変化する場合であっても、対象物Ａの位置と測定視野との対応付けを正確に行い、対象物Ａの分光特性を安定して測定することができる。また、事前に対象物Ａとイメージング分光装置４との距離を把握して測定しているので、対象物Ａまでの距離の長短に関わらず、対象物Ａの分光特性を安定して測定することができる。この点については、対象物Ａと分光特性測定装置１との距離が大体１５ｍ以上の時に特に効果を発揮する。そのため、対象物Ａが炉等の危険物である場合には、対象物Ａに近づかなくても分光特性を安定して測定できるため、特に好適である。なお、対象物Ａとの距離の上限は、分光特性測定装置１に使用されるイメージング分光装置４、２次元撮像装置６、及び結像用レンズ３，５の性能に依存する。そのため、現実的には、５０ｍ以下となる。また、測定すべき対象物と外乱物との識別が容易になるので、測定結果の信頼性を向上させることもできる。
　本実施例では、図１に示す分光特性測定装置１を用いて製鋼工場の精錬炉から発せられる火炎の分光特性を測定した。分光特性測定装置１から精錬炉までの距離は、安全上のために及び火花や溶鋼飛沫から装置を保護するために約２０ｍとした。図３（ａ），（ｂ）はそれぞれ、分光特性の測定開始時における２次元撮像装置６の撮影画像及びイメージング分光装置４によって測定された分光スペクトル強度（発光強度）を示す図である。火炎は、図３（ａ）のハッチングで示された部分に相当する。なお、図中、破線Ｌ１はイメージング分光装置４の観察ラインを示し、破線Ｌ２は分光スペクトルの測定位置を示す。すなわち、破線Ｌ１と破線Ｌ２の交点の、分光特性を測定する。また、この実施例では、前述した直線状領域は、図３（ａ）のハッチングで示された部分と破線Ｌ１とが重なる部分Ｒとした。
　図３（ａ），（ｂ）に示すように、分光特性の測定開始時においては、イメージング分光装置４の測定視野が精錬炉から発せられる火炎を含んでいたために、火炎の分光スペクトルを測定できた。ところが、精錬炉の操業が進行したところ、火炎の発生位置が高さ方向に変化したために、火炎が発生しているのにも拘わらず火炎の位置がイメージング分光装置４の測定視野から外れてしまい、図４（ａ），（ｂ）に示すように火炎の分光スペクトル強度が減少した。
　そこで、２次元撮像装置６の撮影画像に基づいてイメージング分光装置４の測定視野の高さ方向の位置を修正した。その結果、図５（ａ），（ｂ）に示すように火炎の位置がイメージング分光装置４の測定視野に入り、火炎の分光スペクトルを適正に取得することができた。このような構成によれば、火炎との位置関係が変化する場合であっても火炎の分光特性、換言すれば精錬炉の燃焼状態を安定して測定し、測定結果に基づいて精錬炉の状態を安定して制御することができる。なお、この実施例では、破線Ｌ１と破線Ｌ２との交点で分光特性を測定した例を示したが、破線Ｌ２は、直線状領域の範囲内であれば、任意に設定できることは言うまでもない。
　次に、本発明による分光特性測定装置及び分光特性測定方法を、転炉の操業に適用し、炉の制御を行った例を示す。
　容量３００ｔの上吹き転炉（酸素ガス上吹き、アルゴンガス底吹き）を用いて溶銑を酸化精錬して脱燐及び脱炭を行った。上吹きランスはラバール型のノズルを同一円周上に等間隔に配置したものを使用した。なお、ノズルのスロート径は７３．６ｍｍ、出口径は７８．０ｍｍ、５孔、ノズル傾角は１５°のものを用いた。分光特性測定装置１と転炉との間の距離は約２０ｍとした。
　まず、転炉内に鉄スクラップを装入した後、以下の表１に示す成分及び温度の溶銑を装入した。次いで、底吹羽口からアルゴンガスを、上吹きランスから酸素ガスを溶銑浴面に吹き付けて溶銑の酸化精錬を開始した。なお、鉄スクラップの装入量は、酸化精錬終了後の溶鋼温度が１６５０℃となるように調整した。次いで、酸素精錬中にＣａＯ系溶媒剤として生石灰を投入して、溶融鉄中の炭素濃度が０．０５質量％となるまで酸化精錬を行った。石灰の投入量は炉内に生成されるスラグの塩基度が２．５となるように調整した。
　酸素吹錬中に、所定の測定時間間隔Δｔ：１～１０秒で、分光特性測定装置１で転炉の炉口付近の炉口燃焼火炎を撮影し、波長６１０ｎｍの光の発光強度Ｉｎを算出する解析を行った。ここで、６１０ｎｍという波長は事前検討から決めた値であり、鋼種や操業条件、炉の形状が異なる場合、あるいは転炉以外の設備、例えば精錬鍋に適用する場合は、その都度決定することが望ましい。得られた各時点における波長６１０ｎｍの発光強度Ｉｎを用いて、以下の数式（１），（２）に示す発光強度の移動平均変化率を算出した。
発光強度移動平均変化率
＝{Ｉ（ｎ,ｓ）―Ｉ（ｎ－ｍ,ｓ）}/[{Ｉ（ｎ,ｓ）＋Ｉ（ｎ－ｍ,ｓ）}/２]　…(１)
Ｉ（ｎ,ｓ）＝Σs-1 i=0Ｉn-I　…(２)
　ここで、数式（１），（２）において、Ｉ（ｎ,ｓ）は可算数をｓとし、時刻ｎを基準とする特定波長の発光強度の移動平均（ａ.ｕ.）、Ｉ（ｎ－ｍ,ｓ）は可算数をｓとし、時刻ｎからｍ×Δｔ秒前を基準とする特定波長の移動平均（ａ.ｕ.）である。また、ｍは自然数、ｓは移動平均の可算数（０以上の整数）、Δｔは測定時間間隔（ｓ）である。
　得られた各時点における発光強度移動平均変化率を転炉炉内状況の指標とし、転炉操業を監視した。そして、得られた発光強度移動平均変化率が予め決定された閾値１．６を下回った時点で、上吹きランスからの酸素ガス流量、上吹きランスのランス高さ、及び底吹きガス流量の少なくとも一つを調整した。さらに、本発明例では、吹錬中の特定波長の発光強度が減少した場合に、都度視野調整を実施した。
　具体的には、上吹きランスからの酸素ガス流量を１０００Ｎｍ３/ｍｉｎから８３３Ｎｍ３/ｍｉｎへと減少させ、ランス高さは３.０ｍから２．５ｍへと低下させ、底吹きガス流量は１５Ｎｍ３/ｍｉｎから３０Ｎｍ３/ｍｉｎへと増加させた。なお、表２中の実施率とは、全吹錬数に対して炉口燃焼火炎の分光測定を安定して行えたチャージの割合である。火炎の分光測定を安定して行えなかった吹錬では、すなわち発光強度の移動平均変化率が数式（２）を満たすことがなかったときは、既存のプロセスコンピューターによる熱物質計算に基づき、溶湯中炭素濃度が０．４５質量％と推定された時点で、上記した上吹き条件及び底吹き条件の調整を行った。
　なお、比較例として、分光測定の視野調整を行わなかった水準及び発光強度変化に関係なく、既存のプロセスコンピューターによる熱物質計算に基づき、溶湯中炭素濃度が０．４５質量％と推定された時点で、上記した上吹き条件及び底吹き条件の調整を行った水準を示す。
　表２に示すように、本発明例では、いずれも比較例に比べてスラグ中の全鉄分量が少なく、鉄歩留りが向上した。また、本発明例と比較例とでは、精錬時間はほぼ同じであり、生産性はほぼ同等だった。これにより、本発明を適用することによって、転炉の操業条件を最適化できることが明らかとなった。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
　以上、本発明者らによってなされた発明を適用した実施の形態について説明したが、本実施形態による本発明の開示の一部をなす記述及び図面により本発明は限定されることはない。すなわち、本実施形態に基づいて当業者等によりなされる他の実施の形態、実施例、及び運用技術等は全て本発明の範疇に含まれる。
　本発明によれば、対象物との位置関係が変化する場合であっても、対象物の位置と測定視野との対応付けを正確に行い、対象物の分光特性を安定して測定可能な分光特性測定装置及び分光特性測定方法を提供することができる。
　１　分光特性測定装置
　２　固定板
　３，５　結像用レンズ
　４　イメージング分光装置
　６　２次元撮像装置
　７　演算装置
　８　表示装置
　Ａ　対象物

Claims (3)

  1. 　対象物の直線状領域が発する光又は該直線状領域からの反射光を分光情報として取得するイメージング分光装置と、
    　前記直線状領域を包含する対象物の２次元領域の画像を撮影する２次元撮像装置と、
    　前記２次元撮像装置によって撮影された画像に基づいて前記イメージング分光装置が前記分光情報を取得する範囲を決定する演算装置と、
    　を備えることを特徴とする分光特性測定装置。
  2. 　イメージング分光装置を用いて対象物の直線状領域が発する光又は該直線状領域からの反射光を分光情報として取得するステップと、
    　２次元撮像装置を用いて前記直線状領域を包含する対象物の２次元領域の画像を撮影するステップと、
    　前記２次元撮像装置によって撮影された画像に基づいて前記イメージング分光装置によって前記分光情報を取得する範囲を決定するステップと、
    　を含むことを特徴とする分光特性測定方法。
  3. 　請求項２に記載の分光特性測定方法を利用して炉の前記分光情報を測定することによって前記炉の燃焼状態を測定し、測定された前記炉の燃焼状態に基づいて前記炉の燃焼状態を制御するステップを含むことを特徴とする炉の制御方法。
PCT/JP2019/007983 2018-03-02 2019-03-01 分光特性測定装置、分光特性測定方法、及び炉の制御方法 WO2019168141A1 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
BR112020017230-8A BR112020017230B1 (pt) 2018-03-02 2019-03-01 Método de controle de forno
CN201980016024.7A CN111788463B (zh) 2018-03-02 2019-03-01 分光特性测定装置、分光特性测定方法和炉的控制方法
JP2019520906A JP6699802B2 (ja) 2018-03-02 2019-03-01 炉の制御方法
EP19761311.0A EP3760991B1 (en) 2018-03-02 2019-03-01 Spectroscopic characteristic measurement device, spectroscopic characteristic measurement method, and furnace control method
KR1020207027287A KR102500640B1 (ko) 2018-03-02 2019-03-01 로의 제어 방법

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018-037165 2018-03-02
JP2018037165 2018-03-02

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2019168141A1 true WO2019168141A1 (ja) 2019-09-06

Family

ID=67806195

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2019/007983 WO2019168141A1 (ja) 2018-03-02 2019-03-01 分光特性測定装置、分光特性測定方法、及び炉の制御方法

Country Status (7)

Country Link
EP (1) EP3760991B1 (ja)
JP (1) JP6699802B2 (ja)
KR (1) KR102500640B1 (ja)
CN (1) CN111788463B (ja)
BR (1) BR112020017230B1 (ja)
TW (1) TWI721381B (ja)
WO (1) WO2019168141A1 (ja)

Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000356552A (ja) 1999-06-11 2000-12-26 Kawatetsu Techno Res Corp 印刷面の色彩・濃度測定方法および装置
JP2001027607A (ja) * 1999-07-15 2001-01-30 Kaken Kogyo:Kk 観察装置
JP2005315779A (ja) * 2004-04-30 2005-11-10 Jfe Steel Kk 火点放射計測方法及びその装置
JP2008139062A (ja) 2006-11-30 2008-06-19 Toray Ind Inc 分光測定装置よび分光測定方法
JP2008286584A (ja) * 2007-05-16 2008-11-27 Otsuka Denshi Co Ltd 光学特性測定装置およびフォーカス調整方法
JP2009068995A (ja) * 2007-09-13 2009-04-02 Panasonic Corp マイクロアレイ装置
JP2011220700A (ja) * 2010-04-05 2011-11-04 Yokogawa Electric Corp 顕微鏡用分光分析装置
JP2015010910A (ja) * 2013-06-28 2015-01-19 株式会社ニコン 検出方法、検出装置、バイオチップのスクリーニング方法、スクリーニング装置及びバイオチップ
JP2015034707A (ja) * 2013-08-07 2015-02-19 株式会社ニコン 検出方法、検出装置、バイオチップのスクリーニング方法及びスクリーニング装置
JP2015072713A (ja) * 2009-12-18 2015-04-16 フラームセ・インステリング・フォール・テヒノロヒス・オンデルズーク・ナムローゼ・フェンノートシャップＶｌａａｍｓｅ Ｉｎｓｔｅｌｌｉｎｇ Ｖｏｏｒ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｓｃｈ Ｏｎｄｅｒｚｏｅｋ Ｎ．Ｖ． マルチスペクトルデータの幾何学的リファレンシング
JP2016145405A (ja) * 2015-01-29 2016-08-12 Ｊｆｅスチール株式会社 溶鉄の精錬方法並びに高温物質の組成分析方法及び高温物質の組成分析装置
JP2016156777A (ja) * 2015-02-26 2016-09-01 住友電気工業株式会社 分光測定装置
JP2017522666A (ja) * 2014-07-07 2017-08-10 ヴィート エヌブイ マルチスペクトルデータの幾何学的参照付けのための方法およびシステム
JP2018029251A (ja) * 2016-08-17 2018-02-22 ソニー株式会社 検査装置、検査方法、およびプログラム

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7820967B2 (en) * 2007-09-11 2010-10-26 Electrophysics Corp. Infrared camera for locating a target using at least one shaped light source
US20120002035A1 (en) * 2010-06-30 2012-01-05 General Electric Company Multi-spectral system and method for generating multi-dimensional temperature data
JP5475057B2 (ja) * 2012-04-20 2014-04-16 株式会社 オフィス・カラーサイエンス 変角分光イメージング測定方法およびその装置
JP6377768B2 (ja) * 2015-01-07 2018-08-22 オリンパス株式会社 分光画像取得装置
WO2017093431A1 (en) 2015-12-01 2017-06-08 Glana Sensors Ab Method of hyperspectral measurement

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000356552A (ja) 1999-06-11 2000-12-26 Kawatetsu Techno Res Corp 印刷面の色彩・濃度測定方法および装置
JP2001027607A (ja) * 1999-07-15 2001-01-30 Kaken Kogyo:Kk 観察装置
JP2005315779A (ja) * 2004-04-30 2005-11-10 Jfe Steel Kk 火点放射計測方法及びその装置
JP2008139062A (ja) 2006-11-30 2008-06-19 Toray Ind Inc 分光測定装置よび分光測定方法
JP2008286584A (ja) * 2007-05-16 2008-11-27 Otsuka Denshi Co Ltd 光学特性測定装置およびフォーカス調整方法
JP2009068995A (ja) * 2007-09-13 2009-04-02 Panasonic Corp マイクロアレイ装置
JP2015072713A (ja) * 2009-12-18 2015-04-16 フラームセ・インステリング・フォール・テヒノロヒス・オンデルズーク・ナムローゼ・フェンノートシャップＶｌａａｍｓｅ Ｉｎｓｔｅｌｌｉｎｇ Ｖｏｏｒ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｓｃｈ Ｏｎｄｅｒｚｏｅｋ Ｎ．Ｖ． マルチスペクトルデータの幾何学的リファレンシング
JP2011220700A (ja) * 2010-04-05 2011-11-04 Yokogawa Electric Corp 顕微鏡用分光分析装置
JP2015010910A (ja) * 2013-06-28 2015-01-19 株式会社ニコン 検出方法、検出装置、バイオチップのスクリーニング方法、スクリーニング装置及びバイオチップ
JP2015034707A (ja) * 2013-08-07 2015-02-19 株式会社ニコン 検出方法、検出装置、バイオチップのスクリーニング方法及びスクリーニング装置
JP2017522666A (ja) * 2014-07-07 2017-08-10 ヴィート エヌブイ マルチスペクトルデータの幾何学的参照付けのための方法およびシステム
JP2016145405A (ja) * 2015-01-29 2016-08-12 Ｊｆｅスチール株式会社 溶鉄の精錬方法並びに高温物質の組成分析方法及び高温物質の組成分析装置
JP2016156777A (ja) * 2015-02-26 2016-09-01 住友電気工業株式会社 分光測定装置
JP2018029251A (ja) * 2016-08-17 2018-02-22 ソニー株式会社 検査装置、検査方法、およびプログラム

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
"the hyperspectral camera equipped with a spectral filter", 15 January 2018, DAITRON CO., LTD.
See also references of EP3760991A4

Also Published As

Publication number Publication date
TW201939016A (zh) 2019-10-01
BR112020017230B1 (pt) 2023-05-09
KR20200121875A (ko) 2020-10-26
JP6699802B2 (ja) 2020-05-27
BR112020017230A2 (pt) 2020-12-22
JPWO2019168141A1 (ja) 2020-04-16
KR102500640B1 (ko) 2023-02-15
TWI721381B (zh) 2021-03-11
CN111788463A (zh) 2020-10-16
EP3760991A1 (en) 2021-01-06
EP3760991A4 (en) 2021-05-05
EP3760991B1 (en) 2024-02-21
CN111788463B (zh) 2023-03-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4889913B2 (ja) 赤外線に感応する赤外線カメラ
US11312648B2 (en) Control system for furnace
KR101216657B1 (ko) 용선　온도의 검지 방법 및 이것을 이용한 고로의 조업 방법
JP7088439B1 (ja) 転炉の操業方法及び転炉の吹錬制御システム
US20180143004A1 (en) Scanning Laser Range Finder with Surface Temperature Measurement Using Two-Color Pyrometry
US5378493A (en) Ceramic welding method with monitored working distance
WO2019168141A1 (ja) 分光特性測定装置、分光特性測定方法、及び炉の制御方法
USH1925H (en) Apparatus and method for monitoring steel decarburization by remote flame emission spatial imaging spectroscopy
WO2016181185A1 (en) Method of determining a chemical composition of a slag portion
JP5103835B2 (ja) 放射温度測定装置および放射温度測定方法
JP2006126062A (ja) 溶融金属の温度計測方法及び装置
JP4873788B2 (ja) 炉内状況の検知方法
JP2022177624A (ja) ダスト発生速度推定装置及びダスト発生速度推定方法
JPH02182817A (ja) 高炉レースウェイ部観察装置
Monfort et al. Journal of Applied and Laser Spectroscopy
JP4439991B2 (ja) 火点放射計測方法及びその装置
Konno et al. Image Measurement of High Temperature Objects
JP5222812B2 (ja) 火点放射計測方法及びその装置
JPS61230019A (ja) 溶解位置測定装置
JP2022167371A (ja) ダスト発生速度評価装置及びダスト発生速度評価方法
KR20230013096A (ko) 전로 취련 제어 방법 및 전로 취련 제어 시스템
KR20220093224A (ko) 랜스 칩, 전로내 측온 설비 및 전로내 측온 방법
JP2008083267A (ja) ラインセンサカメラの焦点合わせ装置
JPS61230033A (ja) 温度分布測定装置
PL232276B1 (pl) Sposób wyznaczania wartości parametrów promiennych niezbędnych do oszacowania zawartości FeO w żużlu stalowniczym

Legal Events

Date Code Title Description
ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2019520906

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 19761311

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20207027287

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2019761311

Country of ref document: EP

Effective date: 20201002

REG Reference to national code

Ref country code: BR

Ref legal event code: B01A

Ref document number: 112020017230

Country of ref document: BR

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 112020017230

Country of ref document: BR

Kind code of ref document: A2

Effective date: 20200824