WO2019073534A1 - 演算増幅回路およびad変換器 - Google Patents

演算増幅回路およびad変換器 Download PDF

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input terminal
output terminal
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Inventor
睦夫 大東
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三菱電機株式会社
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45Differential amplifiers

Definitions

  • the present invention relates to an operational amplifier circuit and an AD converter including the operational amplifier circuit.
  • Patent Document 1 discloses an operational amplifier provided with a phase compensation circuit. In the phase compensation circuit, a resistor and a capacitor are connected in series.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Laid-Open No. 2005-333624
  • the phase margin is a value obtained by subtracting from 180 degrees the phase delay of the output signal with respect to the input signal of the operational amplifier circuit when the gain of the operational amplifier circuit is 1 (0 dB), and the phase delay is 180 degrees. It is a value indicating how much margin is available before
  • the gain margin is a value obtained by subtracting the gain of the operational amplifier circuit from 1 (0 dB) when the phase delay of the output signal with respect to the input signal of the operational amplifier circuit is 180 degrees, and the gain of the operational amplifier circuit is 1 It is a value that indicates how much margin there is before it becomes.
  • Patent Document 1 The frequency of the zero point resulting from the capacity of the phase compensation circuit disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2005-333624 (Patent Document 1) is increased by the resistance of the phase compensation circuit.
  • Patent Document 1 it is difficult to increase the frequency of the zero due to the parasitic capacitance of the operational amplifier circuit by the resistance of the phase compensation circuit disposed in the feedback path.
  • the operational amplifier may become unstable at frequencies near the zero point due to the parasitic capacitance of the operational amplifier circuit.
  • the present invention has been made to solve the problems as described above, and an object thereof is to improve the stability of an operational amplifier circuit.
  • An operational amplifier circuit includes first and second fully differential amplifiers, a first phase compensation resistor, and a first phase compensation capacitance.
  • the first fully differential amplifier includes first and second input terminals and first and second output terminals.
  • the second fully differential amplifier includes third and fourth input terminals and third and fourth output terminals.
  • the third input terminal is connected to the first output terminal.
  • the fourth input terminal is connected to the second output terminal.
  • the first phase compensation resistor and the first phase compensation capacitance are connected in series between the third output terminal and the fourth output terminal.
  • An operational amplifier circuit includes first and second fully differential amplifiers, first and second switches, and first and second phase compensation capacitors.
  • the first fully differential amplifier includes first and second input terminals and first and second output terminals.
  • the second fully differential amplifier includes third and fourth input terminals and third and fourth output terminals.
  • the third input terminal is connected to the first output terminal.
  • the fourth input terminal is connected to the second output terminal.
  • the first switch and the first phase compensation capacitance are connected in series between the first input terminal and the reference potential.
  • the second switch and the second phase compensation capacitance are connected in series between the second input terminal and the reference potential.
  • the first phase compensation resistor and the first phase compensation capacitance connected in series between the third output terminal and the fourth output terminal (between the differential outputs)
  • the reduction of the phase margin or the gain margin due to the zero point due to the parasitic capacitance of the operational amplifier circuit is suppressed.
  • the stability of the operational amplifier circuit can be improved.
  • the first switch and the first phase compensation capacitance connected in series between the first input terminal and the reference potential, and the second input terminal and the reference potential
  • the reduction of the phase margin or gain margin due to the zero point caused by the parasitic capacitance of the amplification circuit is suppressed.
  • the stability of the operational amplifier circuit can be improved.
  • FIG. 2 is a block diagram showing a functional configuration of an operational amplifier circuit according to Embodiment 1.
  • FIG. 7 is a block diagram showing a functional configuration of an operational amplifier circuit according to Comparative Example 1 of Embodiment 1.
  • FIG. 7 is a block diagram showing a functional configuration of an operational amplifier circuit according to Comparative Example 2 of Embodiment 1.
  • FIG. 3 is a Bode diagram showing frequency characteristics (gain characteristics) of respective gains of the operational amplifier circuit 1 of FIG. 1 and the operational amplifier circuit of FIG. 2 and frequency characteristics (phase characteristics) of respective phase delays.
  • FIG. 7 is a block diagram showing a functional configuration of an operational amplifier circuit according to a first modification of the first embodiment.
  • FIG. 16 is a block diagram showing a functional configuration of an operational amplifier circuit according to a second modification of the first embodiment.
  • FIG. 7 is a block diagram showing a functional configuration of an operational amplifier circuit according to a second embodiment.
  • FIG. 16 is a block diagram showing a functional configuration of an operational amplifier circuit according to a comparative example of the second embodiment.
  • FIG. 9 is a Bode diagram showing gain characteristics, phase characteristics, and gain margin of the operational amplifier circuit of FIG. 7 and the operational amplifier circuit of FIG. 8 together.
  • FIG. 9 is a Bode diagram showing gain characteristics, phase characteristics, and phase margins of the operational amplifier circuit of FIG. 7 and the operational amplifier circuit of FIG. 8 together.
  • FIG. 18 is a block diagram showing a functional configuration of a pipelined AD converter according to a third embodiment. It is a block diagram which shows the function structure of the switched capacitor circuit contained in each stage of FIG.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a functional configuration of the operational amplifier circuit 1 according to the first embodiment.
  • the operational amplifier circuit 1 includes a first fully differential amplifier 11, a second fully differential amplifier 12, a first phase compensation resistor 13, a first phase compensation capacitance 14, and a second A phase compensation capacitor 15 and a third phase compensation capacitor 16 are provided.
  • Input voltages Vip and Vin are input to the non-inverted input terminal (first input terminal) and the inverted input terminal (second input terminal) of the first fully differential amplifier 11, respectively.
  • the non-inverted input terminal (third input terminal) and the inverted input terminal (fourth input terminal) of the second fully differential amplifier 12 are the non-inverted output terminal (first output terminal) of the first fully differential amplifier 11 and the inverted terminal. Each is connected to an output terminal (second output terminal).
  • the first phase compensation resistor 13 and the first phase compensation capacitance 14 are connected in series between the inverting output terminal (third output terminal) and the noninverting input terminal (fourth output terminal) of the second fully differential amplifier 12 It is done.
  • the second phase compensation capacitance 15 is disposed in a feedback path connecting the inverting output terminal and the noninverting input terminal of the second fully differential amplifier 12.
  • the third phase compensation capacitance 16 is disposed in a feedback path connecting the non-inversion output terminal and the inversion input terminal of the second fully differential amplifier 12.
  • the first fully-differential amplifier 11 amplifies the difference between the input voltages Vip and Vin, and outputs a reverse-phase voltage to the second fully-differential amplifier 12.
  • the second fully-differential amplifier 12 amplifies the difference in reverse-phase voltage received from the first fully-differential amplifier 11 and outputs opposite-phase output voltages Von and Vop.
  • FIG. 2 is a block diagram showing a functional configuration of the operational amplifier circuit 110 according to comparative example 1 of the first embodiment.
  • the configuration of the operational amplifier circuit 110 shown in FIG. 2 is a configuration in which the first phase compensation resistor 13 and the first phase compensation capacitance 14 are removed from the configuration of the operational amplifier circuit 1 shown in FIG.
  • the configuration other than these is the same as that of the operational amplifier circuit 1 and therefore the description will not be repeated.
  • the operational amplification circuit 110 is a two-stage amplification circuit in which the first fully differential amplifier 11 and the second fully differential amplifier 12 are connected in cascade (series connection). Therefore, in the frequency characteristic of the operational amplifier circuit 110, two main poles (first and second poles) exist. The frequency of the second pole is higher than the frequency of the first pole, and the relative frequency difference between the first pole and the second pole depends on the configuration of the operational amplifier circuit 110 or the load capacitance of the operational amplifier circuit 110. Do.
  • a second phase compensation capacitance 15 and a third phase compensation capacitance 16 respectively disposed in two feedback paths of the second fully differential amplifier 12 By this, the frequency difference between the first pole and the second pole is enlarged, and the phase margin is improved (pole separation).
  • the arrangement of the second phase compensation capacitance 15 and the third phase compensation capacitance 16 in the two feedback paths of the second fully differential amplifier 12 lowers the operating speed of the operational amplifier circuit 110. Further, in the high frequency region, the impedances of the second phase compensation capacitance 15 and the third phase compensation capacitance 16 decrease. Therefore, the connection between the inverted output terminal and the non-inverted input terminal of the second fully differential amplifier 12 and the connection between the non-inverted output terminal and the inverted input terminal nearly approach a short-circuited state. The gain of the operational amplifier circuit 110 is recovered near the frequency due to the zero point caused by the third phase compensation capacitance 16 and the third phase compensation capacitance 16.
  • the gain margin of the operational amplifier circuit 110 is reduced in the high frequency range, and the stability of the operational amplifier circuit 110 is degraded.
  • the operational amplifier circuit 120 as shown in FIG. 3 may be used.
  • FIG. 3 is a block diagram showing a functional configuration of the operational amplifier circuit 120 according to Comparative Example 2 of the first embodiment.
  • the configuration of the operational amplifier circuit 120 shown in FIG. 3 is a configuration in which phase compensation resistors 121 and 122 are added to the configuration of the operational amplifier circuit 110 shown in FIG.
  • the configuration other than these is the same as that of the operational amplifier circuit 110, and therefore the description will not be repeated.
  • the phase compensation resistor 121 is connected in series with the second phase compensation capacitance 15 between the inverting output terminal and the noninverting input terminal of the second fully differential amplifier 12.
  • the phase compensation resistor 122 is connected in series with the third phase compensation capacitance 16 between the non-inversion output terminal and the inversion input terminal of the second fully differential amplifier 12.
  • the phase compensation resistors 121 and 122 avoid a short circuit condition of the input and output terminals of the second fully differential amplifier 12 in the high frequency range, and move the zero point in the frequency characteristic of the operational amplifier circuit 120 to a frequency band higher than the second pole. It can be done. Also by connecting the second phase compensation capacitance 15 and the third phase compensation capacitance 16 to the intermediate node of the first fully differential amplifier 11, the short circuit state of the input / output terminal of the second fully differential amplifier 12 in the high frequency range Can be avoided.
  • the internal parasitic capacitance of the operational amplifier circuit 120 for example, the parasitic capacitance between the gate and the drain of the transistor included in the second full differential amplifier 12
  • a resistor is inserted or the parasitic capacitance is avoided. It is not possible to reroute the signal as well. Therefore, it is difficult to improve the stability deterioration due to the zero point caused by the internal parasitic capacitance of the operational amplifier circuit 120 by the phase compensation resistors 121 and 122 shown in FIG.
  • the first phase compensation resistor 13 and the first phase are provided between the inverted output terminal and the non-inverted output terminal of the second fully differential amplifier 12 (between the differential outputs of the operational amplifier circuit 1).
  • the compensation capacitance 14 is connected in series. Since the first phase compensation resistor 13 and the first phase compensation capacitance 14 are connected between differential outputs, the zero point caused by the internal parasitic capacitance of the operational amplifier circuit 1 is canceled and the stability of the operational amplifier circuit 1 is improved. It can be done.
  • FIG. 4 is a Bode diagram showing frequency characteristics (gain characteristics) of respective gains of the operational amplifier circuit 1 of FIG. 1 and the operational amplifier circuit 110 of FIG. 2 and frequency characteristics (phase characteristics) of respective phase delays.
  • curves G1 and G10 show the gain characteristics of operational amplifier circuits 1 and 110, respectively.
  • Curves Ph1 and Ph10 indicate phase characteristics of operational amplifier circuits 1 and 110, respectively.
  • the frequency f11 is a frequency at which the phase delay of the operational amplifier circuits 1 and 110 is 180 degrees.
  • the frequency f12 ( ⁇ f11) is a frequency near the zero point due to the internal parasitic capacitance of the operational amplifier circuit 110.
  • Gain margins Gm1 and Gm10 are gain margins of the operational amplifier circuits 1 and 110, respectively.
  • gain characteristics G1 and G10 are substantially constant up to frequency f10 ( ⁇ f12), and in frequency bands from frequency f10 to f12 and in frequency bands after frequency f13 (> f11) It decreases almost similarly with the increase.
  • the gain characteristic G1 also decreases as the frequency increases in the frequency band from the frequency f12 to the frequency f13.
  • the gain characteristic G10 recovers from the gain characteristic G1 in the frequency band from the frequency f12 to the frequency f13, and decreases again in the frequency band after the frequency f11.
  • the gain of the gain characteristic G1 is smaller than the gain of the gain characteristic G10. That is, the gain margin Gm1 is larger than the gain margin Gm10.
  • the operational amplifier circuit 1 is more stable than the operational amplifier circuit 110.
  • the phase margin of the operational amplifier circuit 1 can also be changed by the first phase compensation resistor 13 and the first phase compensation capacitance 14.
  • the values of the first phase compensation resistor 13 and the first phase compensation capacitance 14 are changed so that the phase characteristics Ph1 and Ph10 in FIG. 4 have substantially the same change. I'm adjusting.
  • FIG. 5 is a block diagram showing a functional configuration of the operational amplifier circuit 1A according to the first modification of the first embodiment.
  • the operational amplifier circuit 1 of FIG. 1 the case where the first phase compensation resistor 13 is connected between the first phase compensation capacitance 14 and one output terminal of the second fully differential amplifier 12 has been described.
  • the first phase compensation is performed between the first phase compensation capacitance 14 and both output terminals of the second fully differential amplifier 12
  • the resistor 131 and the second phase compensation resistor 132 may be connected to each other.
  • FIG. 6 is a block diagram showing a functional configuration of the operational amplifier circuit 1B according to the second modification of the first embodiment.
  • the on-resistance of the first switch 13B may be used as in the operational amplifier circuit 1B of FIG.
  • the operational amplifier circuit 1B includes a first switch 13B in place of the first phase compensation resistor 13 of the operational amplifier circuit 1 of FIG.
  • the operational amplifier circuit 1 B further includes a second switch 17, a third switch 18, and a control circuit 19 in addition to the configuration of the operational amplifier circuit 1.
  • the second switch 17 is connected between the noninverting input terminal of the first fully differential amplifier 11 and the inverted output terminal of the second fully differential amplifier 12.
  • the third switch 18 is connected between the inverting input terminal of the first fully differential amplifier 11 and the non-inverting output terminal of the second fully differential amplifier 12.
  • the control circuit 19 switches the conduction state and the non-conduction state of the first switch 13B, the second switch 17, and the third switch 18.
  • the control circuit 19 switches the first switch 13B to the conductive state when the second switch 17 and the third switch 18 are in the conductive state (when the input and output of the operational amplifier circuit 1 are shorted).
  • the stability can be improved.
  • phase compensation resistance and the phase compensation capacitance are arranged between the differential outputs of the operational amplifier circuit to perform the phase compensation.
  • the second embodiment the case where phase compensation is performed by arranging a phase compensation capacitance between the input terminal of the operational amplifier circuit and the reference potential will be described.
  • FIG. 7 is a block diagram showing a functional configuration of the operational amplifier circuit 2 according to the second embodiment.
  • the operational amplifier circuit 2 includes a first fully differential amplifier 21, a second fully differential amplifier 22, a first switch 23A, a second switch 23B, and a first phase compensation capacitance 24A.
  • Second phase compensation capacitance 24B third phase compensation capacitance 25A, fourth phase compensation capacitance 25B, third switch 26A, fourth switch 26B, first capacitance 27A, second capacitance 27B, And a control circuit 28.
  • a first capacitor 27A and a second capacitor 27B are connected to the non-inverted input terminal (first input terminal) and the inverted input terminal (second input terminal) of the first fully differential amplifier 21, respectively.
  • Input voltages Vip and Vin are input to the non-inverted input terminal and the inverted input terminal of the first fully-differential amplifier 21 through the first capacitor 27A and the second capacitor 27B, respectively.
  • the non-inverted input terminal (third input terminal) and the inverted input terminal (fourth input terminal) of the second fully differential amplifier 22 are the non-inverted output terminal (first output terminal) of the first fully differential amplifier 21 and the inverted terminal. Each is connected to an output terminal (second output terminal).
  • the first switch 23A and the first phase compensation capacitance 24A are connected in series between the reference potential and the first node N1 between the noninverting input terminal of the first fully differential amplifier 21 and the first capacitance 27A. ing.
  • the second switch 23B and the second phase compensation capacitance 24B are connected in series between the reference potential and the second node N2 between the inverting input terminal of the first fully differential amplifier 21 and the second capacitance 27B.
  • the reference potential is, for example, AC ground.
  • the third phase compensation capacitance 25A is disposed in a feedback path connecting the inverting output terminal and the noninverting input terminal of the second fully differential amplifier 22.
  • the fourth phase compensation capacitance 25B is disposed in a feedback path connecting the non-inversion output terminal and the inversion input terminal of the second fully differential amplifier 22.
  • the third switch 26 A is connected between the noninverting input terminal of the first fully differential amplifier 21 and the inverted output terminal of the second fully differential amplifier 22.
  • the fourth switch 26 B is connected between the inverting input terminal of the first fully differential amplifier 21 and the non-inverting output terminal of the second fully differential amplifier 22.
  • the control circuit 28 switches the conduction state and the non-conduction state of the first switch 23A, the second switch 23B, the third switch 26A, and the fourth switch 26B. When the third switch 26A and the fourth switch 26B are in the on state, the control circuit 28 switches the first switch 23A and the second switch 23B to the on state.
  • the first fully-differential amplifier 21 amplifies the difference between the input voltages Vip and Vin, and outputs a reverse-phase voltage to the second fully-differential amplifier 22.
  • the second fully-differential amplifier 22 amplifies the difference between the reverse-phase voltages received from the first fully-differential amplifier 21 and outputs opposite-phase output voltages Von and Vop.
  • the operational amplifier circuit 2 When the third switch 26A and the fourth switch 26B are switched to the conductive state, the operational amplifier circuit 2 operates so that the input voltage difference (differential input difference) of the operational amplifier circuit 2 becomes 0, and the operational amplifier circuit 2
  • the first capacitor 27A and the second capacitor 27B are charged by the offset voltage of Thereafter, when the third switch 26A and the fourth switch 26B are opened and become non-conductive, the input voltages Vip and Vin (differential input signal) are transmitted through the first capacitance 27A and the second capacitance 27B.
  • the signal is transmitted to the non-inverted input terminal and the inverted input terminal of the all-differential amplifier 21 respectively.
  • the offset voltage is subtracted from the differential input signal and amplified signals are output as output voltages Von and Vop.
  • FIG. 8 is a block diagram showing a functional configuration of an operational amplifier circuit 200 according to a comparative example of the second embodiment.
  • the control circuit 28 of the operational amplifier circuit 2 of FIG. 7 is replaced with the control circuit 28A, and from the configuration of the operational amplifier circuit 2, the first switch 23A, the second switch 23B, the first phase compensation capacitance 24A, the second phase compensation capacitance 24B is removed.
  • the control circuit 28A switches the conduction state and the non-conduction state of the third switch 26A and the fourth switch 26B.
  • FIG. 9 and FIG. 10 is a board diagram showing together each gain characteristic and each phase characteristic of the operational amplifier circuit 2 of FIG. 7 and the operational amplifier circuit 200 of FIG.
  • the Bode diagrams shown in FIGS. 9 and 10 are the same Bode diagram. The improvement of the gain margin will be described using FIG. 9, and the improvement of the phase margin will be described using FIG.
  • curves G2 and G20 show the gain characteristics of operational amplifier circuits 2 and 200, respectively.
  • Curves Ph2 and Ph20 show the phase characteristics of operational amplifier circuits 2 and 200, respectively.
  • frequencies f23 and f24 are frequencies at which the phase delay of the operational amplifier circuits 200 and 2 is 180 degrees.
  • Gain margins Gm2 and Gm20 are gain margins of the operational amplifier circuits 2 and 200, respectively.
  • the gain characteristics G2 and G20 are substantially constant up to the frequency f21, and decrease in the same manner as the frequency increases from the frequencies f21 to f22 (> f21).
  • the gain characteristic G2 decreases with the increase of the frequency also in the frequency band after the frequency f22.
  • the gain characteristic G20 decreases as the frequency increases.
  • the gain of the operational amplifier circuit 200 is larger than 1 (0 dB), so the gain margin Gm20 has a negative value. In the operational amplifier circuit 200, no gain margin is secured.
  • the operational amplifier circuit 200 oscillates at the frequency f23, and the operation becomes unstable.
  • the gain of the operational amplifier circuit 2 is smaller than 1 (0 dB) at the frequency f24 at which the phase delay of the operational amplifier circuit 2 is 180 degrees, the gain margin Gm2 has a positive value. In the operational amplifier circuit 2, a gain margin is secured. The operational amplifier circuit 2 is more stable than the operational amplifier circuit 200.
  • frequencies f29 and f30 are frequencies at which the gains of the operational amplifier circuits 2 and 200 are 1 (0 dB).
  • Phase margins Pm2 and Pm20 are phase margins of the operational amplifier circuits 2 and 200, respectively.
  • the phase characteristics Ph2 and Ph20 are substantially constant up to the frequency f25, and decrease in the same manner as the frequency increases from the frequencies f25 to f26 (> f25).
  • the phase characteristic Ph2 is substantially constant from the frequency f26 to the frequency f27 (> f26), and decreases with the frequency increase after the frequency f27.
  • the phase characteristic Ph20 is substantially constant from the frequency f26 to the frequency f28 (> f27), and decreases with the frequency increase after the frequency f28.
  • the phase delay of the operational amplifier circuit 200 is larger than 180 degrees, so the phase margin Pm20 has a negative value. In the operational amplifier circuit 200, no phase margin is secured. Therefore, as described with reference to FIG. 9, when the phase delay of the operational amplifier circuit 200 is 180 degrees, the gain of the operational amplifier circuit 200 is larger than 1 (0 dB).
  • the operation of the operational amplification circuit 200 may become unstable because the operation amplification circuit 200 is in the oscillating state.
  • the phase delay of the operational amplifier circuit 2 is smaller than 180 degrees, and the phase margin Pm2 has a positive value.
  • a phase margin is secured.
  • the operational amplifier circuit 2 is more stable than the operational amplifier circuit 200.
  • the stability can be improved.
  • Third Embodiment In recent years, with the miniaturization of process nodes, the power supply voltage is decreasing. In order to achieve high accuracy required for a pipelined AD converter after lowering the power supply voltage, a plurality of amplifiers are cascaded as in the operational amplifier circuits according to the first and second embodiments. It is necessary to connect them to achieve high gain and to ensure stability by phase compensation. Therefore, in the third embodiment, a case where the operational amplifier circuits according to the first and second embodiments are used in a pipelined AD converter will be described.
  • FIG. 11 is a block diagram showing a functional configuration of the pipelined AD converter 300 according to the third embodiment.
  • the AD converter 300 includes stages 1 to N (N is 2 or more) and a digital correction circuit EC.
  • Each of the stages 1 to N performs AD conversion and outputs a digital signal to the digital correction circuit EC.
  • the digital correction circuit EC corrects the deviation of the output timing of the digital signal from each stage, and outputs the digital signal of N bits by adding each digital signal.
  • FIG. 12 is a block diagram showing a functional configuration of the switched capacitor circuit 30 included in each stage of FIG.
  • the switched capacitor circuit 30 includes the operational amplifier circuit 3, switches 31A and 31B, capacitors 34 to 37, and switches 38 to 41.
  • the operational amplifier circuit 3 and each of the switches 31A, 31B, 38 to 41 are controlled by a control circuit (not shown).
  • Input voltages Vip and Vop and reference voltages Vrp and Vrn are input to the switched capacitor circuit 30.
  • the switched capacitor circuit 30 outputs the output voltages Vop and Von.
  • the operational amplifier circuit according to the first or second embodiment is applicable to the operational amplifier circuit 3.
  • the switches 31A and 31B correspond to the second and third switches, respectively.
  • the switches 31A and 31B correspond to the third and fourth switches, respectively.
  • stages 1 to N shown in FIG. 11 input voltages Vip and Vop (input signals) are amplified and output in the amplification period.
  • the feedback factor determined by the capacitors 34 to 37 is smaller than 1 and the operation speed is reduced, but the stability is improved.
  • phase compensation is performed by turning on the switch 13B of the first embodiment or the switches 23A and 24A of the second embodiment only during the sampling period to improve the stability.

Abstract

本発明の一局面に係る演算増幅回路(1)は、第1全差動増幅器(11)および第2全差動増幅器(12)と、第1位相補償抵抗(13)と、第1位相補償容量(14)とを備える。第1全差動増幅器(11)は、非反転入力端子および反転入力端子と、非反転出力端子および反転出力端子とを含む。第2全差動増幅器(12)は、非反転入力端子および反転入力端子と、非反転出力端子および反転出力端子とを含む。第2全差動増幅器(12)の非反転入力端子は、第1全差動増幅器(11)の非反転出力端子に接続されている。第2全差動増幅器(12)の反転入力端子は、第1全差動増幅器(11)の反転出力端子に接続されている。第1位相補償抵抗(13)と第1位相補償容量(14)とは、第2全差動増幅器(12)の反転出力端子と非反転出力端子との間において直列に接続されている。

Description

演算増幅回路およびAD変換器
 本発明は、演算増幅回路、および当該演算増幅回路を備えるAD変換器に関する。
 従来、発振を抑制する位相補償機能を有する演算増幅回路が知られている。たとえば、特開2005-333624号公報(特許文献1)には、位相補償回路を備える演算増幅器が開示されている。当該位相補償回路においては、抵抗と容量とが直列に接続されている。
特開2005-333624号公報
 一般に、演算増幅回路の周波数特性の零点付近の周波数において、演算増幅回路の利得が回復する。そのため演算増幅回路の位相余裕またはゲイン余裕が減少するため、演算増幅回路が発振状態に近づき、演算増幅回路の安定性が劣化し得る。位相余裕およびゲイン余裕を確保して演算増幅回路の安定性を高めるために、特開2005-333624号公報(特許文献1)に開示されているような位相補償回路が演算増幅回路の帰還経路に配置される場合がある。
 なお、位相余裕とは、演算増幅回路の利得が1(0dB)となるときの、演算増幅回路の入力信号に対する出力信号の位相遅れを180度から引いた値であり、当該位相遅れが180度となるまでにどれだけの余裕があるかを示す値である。ゲイン余裕とは、演算増幅回路の入力信号に対する出力信号の位相遅れが180度なったときの演算増幅回路の利得を、1(0dB)から引いた値であり、演算増幅回路の利得が1となるまでにどれだけの余裕があるかを示す値である。
 特開2005-333624号公報(特許文献1)に開示されている位相補償回路の容量に起因する零点の周波数は、当該位相補償回路の抵抗によって高められる。しかし、演算増幅回路の寄生容量に起因する零点の周波数を、帰還経路に配置された位相補償回路の抵抗によって高めることは困難である。その結果、演算増幅回路の寄生容量に起因する零点付近の周波数において演算増幅器が不安定になり得る。
 本発明は、上述のような課題を解決するためになされたものであり、その目的は、演算増幅回路の安定性を向上させることである。
 本発明の一局面に係る演算増幅回路は、第1および第2全差動増幅器と、第1位相補償抵抗と、第1位相補償容量とを備える。第1全差動増幅器は、第1および第2入力端子と、第1および第2出力端子とを含む。第2全差動増幅器は、第3および第4入力端子と、第3および第4出力端子とを含む。第3入力端子は、第1出力端子に接続されている。第4入力端子は、第2出力端子に接続されている。第1位相補償抵抗と第1位相補償容量とは、第3出力端子と第4出力端子との間において直列に接続されている。
 本発明の他の局面に係る演算増幅回路は、第1および第2全差動増幅器と、第1および第2スイッチと、第1および第2位相補償容量とを備える。第1全差動増幅器は、第1および第2入力端子と、第1および第2出力端子とを含む。第2全差動増幅器は、第3および第4入力端子と、第3および第4出力端子とを含む。第3入力端子は、第1出力端子に接続されている。第4入力端子は、第2出力端子に接続されている。第1スイッチおよび第1位相補償容量は、第1入力端子と基準電位との間において直列に接続されている。第2スイッチおよび第2位相補償容量は、第2入力端子と基準電位との間において直列に接続されている。
 本発明に一局面に係る演算増幅回路によれば、第3出力端子と第4出力端子との間(差動出力間)において直列に接続された第1位相補償抵抗および第1位相補償容量により、演算増幅回路の寄生容量に起因する零点による位相余裕またはゲイン余裕の減少が抑制される。その結果、演算増幅回路の安定性を向上させることができる。
 本発明の他の局面に係る演算増幅回路によれば、第1入力端子と基準電位との間において直列に接続された第1スイッチおよび第1位相補償容量、ならびに第2入力端子と基準電位との間において直列に接続された第2スイッチおよび第2位相補償容量により、増幅回路の寄生容量に起因する零点による位相余裕またはゲイン余裕の減少が抑制される。その結果、演算増幅回路の安定性を向上させることができる。
実施の形態1に係る演算増幅回路の機能構成を示すブロック図である。 実施の形態1の比較例1に係る演算増幅回路の機能構成を示すブロック図である。 実施の形態1の比較例2に係る演算増幅回路の機能構成を示すブロック図である。 図1の演算増幅回路1および図2の演算増幅回路の各利得の周波数特性(利得特性)および各位相遅れの周波数特性(位相特性)を併せて示すボード線図である。 実施の形態1の変形例1に係る演算増幅回路の機能構成を示すブロック図である。 実施の形態1の変形例2に係る演算増幅回路の機能構成を示すブロック図である。 実施の形態2に係る演算増幅回路の機能構成を示すブロック図である。 実施の形態2の比較例に係る演算増幅回路の機能構成を示すブロック図である。 図7の演算増幅回路および図8の演算増幅回路の各利得特性、各位相特性、およびゲイン余裕を併せて示すボード線図である。 図7の演算増幅回路および図8の演算増幅回路の各利得特性、各位相特性、および位相余裕を併せて示すボード線図である。 実施の形態3に係るパイプライン型のAD変換器の機能構成を示すブロック図である。 図11の各ステージに含まれるスイッチトキャパシタ回路の機能構成を示すブロック図である。
 以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は原則として繰り返さない。
 実施の形態1.
 図1は、実施の形態1に係る演算増幅回路1の機能構成を示すブロック図である。図1に示されるように、演算増幅回路1は、第1全差動増幅器11と、第2全差動増幅器12と、第1位相補償抵抗13と、第1位相補償容量14と、第2位相補償容量15と、第3位相補償容量16とを備える。
 第1全差動増幅器11の非反転入力端子(第1入力端子)および反転入力端子(第2入力端子)には、入力電圧Vip,Vinがそれぞれ入力される。第2全差動増幅器12の非反転入力端子(第3入力端子)および反転入力端子(第4入力端子)は、第1全差動増幅器11の非反転出力端子(第1出力端子)および反転出力端子(第2出力端子)にそれぞれ接続されている。第1位相補償抵抗13および第1位相補償容量14は、第2全差動増幅器12の反転出力端子(第3出力端子)と非反転入力端子(第4出力端子)との間において直列に接続されている。
 第2位相補償容量15は、第2全差動増幅器12の反転出力端子と非反転入力端子とを接続する帰還経路に配置されている。第3位相補償容量16は、第2全差動増幅器12の非反転出力端子と反転入力端子とを接続する帰還経路に配置されている。
 第1全差動増幅器11は、入力電圧VipおよびVinの差を増幅して、逆相の電圧を第2全差動増幅器12に出力する。第2全差動増幅器12は、第1全差動増幅器11から受けた逆相の電圧の差を増幅して、逆相の出力電圧VonおよびVopを出力する。第1全差動増幅器11の利得を高くするとともに、第2全差動増幅器22の出力振幅を大きくすることにより、演算増幅回路1の利得を大きくするとともに演算増幅回路1が扱える信号振幅を大きくすることができる。
 図2は、実施の形態1の比較例1に係る演算増幅回路110の機能構成を示すブロック図である。図2に示される演算増幅回路110の構成は、図1に示される演算増幅回路1の構成から第1位相補償抵抗13および第1位相補償容量14が除かれた構成である。これら以外の構成は、演算増幅回路1と同様であるため、説明を繰り返さない。
 演算増幅回路110は、第1全差動増幅器11および第2全差動増幅器12がカスケード接続(縦列接続)された2段構成の増幅回路である。そのため、演算増幅回路110の周波数特性には、2つの主要極(第1および第2極)が存在する。第1極の周波数よりも第2極の周波数の方が高く、第1極と第2極との相対的な周波数差は、演算増幅回路110の構成、あるいは演算増幅回路110の負荷容量に依存する。
 一般的に、演算増幅回路の周波数特性において、第1極と第2極との周波数差が小さいと位相余裕が小さくなり、演算増幅回路の安定性が劣化する。このような安定性の劣化を防止するために、演算増幅回路110においては、第2全差動増幅器12の2つの帰還経路にそれぞれ配置された第2位相補償容量15および第3位相補償容量16により、第1極と第2極との周波数差が拡大され、位相余裕が改善される(極分離)。
 しかし、第2全差動増幅器12の2つの帰還経路に第2位相補償容量15および第3位相補償容量16がそれぞれ配置されていることにより、演算増幅回路110の動作速度が低下する。また、高周波域では第2位相補償容量15および第3位相補償容量16のインピーダンスが減少する。そのため、第2全差動増幅器12の反転出力端子と非反転入力端子との接続状態、および非反転出力端子と反転入力端子との接続状態が、ほぼ短絡状態に近づき、第2位相補償容量15および第3位相補償容量16に起因する零点により、当該周波数付近で演算増幅回路110の利得が回復する。その結果、高周波域において演算増幅回路110のゲイン余裕が減少し、演算増幅回路110の安定性が劣化する。このような高周波域における演算増幅回路の安定性の劣化を防止するために、図3に示されるような演算増幅回路120が用いられる場合がある。
 図3は、実施の形態1の比較例2に係る演算増幅回路120の機能構成を示すブロック図である。図3に示される演算増幅回路120の構成は、図2に示される演算増幅回路110の構成に、位相補償抵抗121,122が追加された構成である。これら以外の構成は、演算増幅回路110と同様であるため、説明を繰り返さない。
 位相補償抵抗121は、第2全差動増幅器12の反転出力端子と非反転入力端子との間において、第2位相補償容量15と直列に接続されている。位相補償抵抗122は、第2全差動増幅器12の非反転出力端子と反転入力端子との間において、第3位相補償容量16と直列に接続されている。位相補償抵抗121,122により、高周波域での第2全差動増幅器12の入出力端子の短絡状態を回避し、演算増幅回路120の周波数特性における零点を第二極よりも高い周波数帯域に移動させることができる。なお、第2位相補償容量15および第3位相補償容量16を第1全差動増幅器11の中間ノードに接続することによっても、高周波域における第2全差動増幅器12の入出力端子の短絡状態を回避することができる。
 しかし、演算増幅回路120の内部寄生容量(たとえば第2全差動増幅器12に含まれるトランジスタのゲート-ドレイン間の寄生容量)に対しては、抵抗を挿入したり、あるいは当該寄生容量を回避するように信号の経路を変更したりすることができない。そのため、演算増幅回路120の内部寄生容量に起因する零点による安定性の劣化は、図3に示される位相補償抵抗121,122によって改善することは困難である。
 そこで、演算増幅回路1では、第2全差動増幅器12の反転出力端子と非反転出力端子との間(演算増幅回路1の差動出力間)において、第1位相補償抵抗13と第1位相補償容量14とが直列に接続される。第1位相補償抵抗13および第1位相補償容量14が差動出力間に接続されていることにより、演算増幅回路1の内部寄生容量に起因する零点を打ち消し、演算増幅回路1の安定性を向上させることができる。
 図4は、図1の演算増幅回路1および図2の演算増幅回路110の各利得の周波数特性(利得特性)および各位相遅れの周波数特性(位相特性)を併せて示すボード線図である。図4において、曲線G1およびG10は、演算増幅回路1および110の各利得特性を示す。曲線Ph1およびPh10は、演算増幅回路1および110の各位相特性をそれぞれ示す。周波数f11は、演算増幅回路1および110の位相遅れが180度となる周波数である。周波数f12(<f11)は、演算増幅回路110の内部寄生容量に起因する零点付近の周波数である。ゲイン余裕Gm1およびGm10は、それぞれ演算増幅回路1および110のゲイン余裕である。
 図4に示されるように、利得特性G1およびG10は、周波数f10(<f12)まではほぼ一定であり、周波数f10からf12までの周波数帯および周波数f13(>f11)以降の周波数帯において周波数の増加に伴ってほぼ同様に減少している。
 利得特性G1は、周波数f12からf13までの周波数帯においても周波数の増加に伴って減少している。一方、利得特性G10は、周波数f12からf13までの周波数帯において利得特性G1よりも利得が回復し、周波数f11以降の周波数帯において再び減少している。
 周波数f11における利得特性G1およびG10の各利得を比較すると、利得特性G1の利得の方が、利得特性G10の利得よりも小さい。すなわち、ゲイン余裕Gm1の方が、ゲイン余裕Gm10よりも大きい。演算増幅回路1は、演算増幅回路110よりも安定性が向上している。
 なお、第1位相補償抵抗13および第1位相補償容量14によって演算増幅回路1の位相余裕も変化させることができる。実施の形態1においては、ゲイン余裕の改善を強調するため、図4の位相特性Ph1およびPh10がほぼ同様の変化をするように、第1位相補償抵抗13および第1位相補償容量14の値を調整している。
 実施の形態1の変形例1.
 図5は、実施の形態1の変形例1に係る演算増幅回路1Aの機能構成を示すブロック図である。図1の演算増幅回路1においては、第1位相補償容量14と第2全差動増幅器12の一方の出力端子との間に第1位相補償抵抗13が接続されている場合について説明した。差動増幅の対称性を考慮して、図5に示される演算増幅回路1Aのように、第1位相補償容量14と第2全差動増幅器12の両出力端子との間に第1位相補償抵抗131および第2位相補償抵抗132がそれぞれ接続されてもよい。
 実施の形態1の変形例2.
 図6は、実施の形態1の変形例2に係る演算増幅回路1Bの機能構成を示すブロック図である。図1の演算増幅回路1の第1位相補償抵抗13として、図6の演算増幅回路1Bのように第1スイッチ13Bのオン抵抗を用いてもよい。図6に示されるように、演算増幅回路1Bは、図1の演算増幅回路1の第1位相補償抵抗13に替えて第1スイッチ13Bを備える。演算増幅回路1Bは、演算増幅回路1の構成に加えて、第2スイッチ17と、第3スイッチ18と、制御回路19とをさらに備える。
 第2スイッチ17は、第1全差動増幅器11の非反転入力端子と第2全差動増幅器12の反転出力端子との間に接続されている。第3スイッチ18は、第1全差動増幅器11の反転入力端子と第2全差動増幅器12の非反転出力端子との間に接続されている。制御回路19は、第1スイッチ13B、第2スイッチ17、および第3スイッチ18の導通状態および非導通状態を切換える。制御回路19は、第2スイッチ17および第3スイッチ18が導通状態である場合(演算増幅回路1の入出力間が短絡されている場合)、第1スイッチ13Bを導通状態に切換える。
 以上、実施の形態1および変形例1,2に係る演算増幅回路によれば、安定性を向上させることができる。
 実施の形態2.
 実施の形態1においては、演算増幅回路の差動出力間に位相補償抵抗および位相補償容量を配置して位相補償を行なう場合について説明した。実施の形態2においては、演算増幅回路の入力端子と基準電位との間に位相補償容量を配置して位相補償を行なう場合について説明する。
 図7は、実施の形態2に係る演算増幅回路2の機能構成を示すブロック図である。図7に示されるように、演算増幅回路2は、第1全差動増幅器21と、第2全差動増幅器22と、第1スイッチ23Aと、第2スイッチ23Bと、第1位相補償容量24Aと、第2位相補償容量24Bと、第3位相補償容量25Aと、第4位相補償容量25Bと、第3スイッチ26Aと、第4スイッチ26Bと、第1容量27Aと、第2容量27Bと、制御回路28とを備える。
 第1全差動増幅器21の非反転入力端子(第1入力端子)および反転入力端子(第2入力端子)には、第1容量27Aおよび第2容量27Bがそれぞれ接続されている。第1全差動増幅器21の非反転入力端子および反転入力端子には、第1容量27Aおよび第2容量27Bを介して、入力電圧Vip,Vinがそれぞれ入力される。第2全差動増幅器22の非反転入力端子(第3入力端子)および反転入力端子(第4入力端子)は、第1全差動増幅器21の非反転出力端子(第1出力端子)および反転出力端子(第2出力端子)にそれぞれ接続されている。
 第1スイッチ23Aおよび第1位相補償容量24Aは、第1全差動増幅器21の非反転入力端子および第1容量27Aとの間の第1ノードN1と、基準電位との間において直列に接続されている。第2スイッチ23Bおよび第2位相補償容量24Bは、第1全差動増幅器21の反転入力端子および第2容量27Bの間の第2ノードN2と、基準電位との間において直列に接続されている。基準電位は、たとえばACグランドである。
 第3位相補償容量25Aは、第2全差動増幅器22の反転出力端子と非反転入力端子とを接続する帰還経路に配置されている。第4位相補償容量25Bは、第2全差動増幅器22の非反転出力端子と反転入力端子とを接続する帰還経路に配置されている。
 第3スイッチ26Aは、第1全差動増幅器21の非反転入力端子と第2全差動増幅器22の反転出力端子との間に接続されている。第4スイッチ26Bは、第1全差動増幅器21の反転入力端子と第2全差動増幅器22の非反転出力端子との間に接続されている。制御回路28は、第1スイッチ23A、第2スイッチ23B、第3スイッチ26A、および第4スイッチ26Bの導通状態および非導通状態を切換える。制御回路28は、第3スイッチ26Aおよび第4スイッチ26Bが導通状態である場合、第1スイッチ23Aおよび第2スイッチ23Bを導通状態に切換える。
 第1全差動増幅器21は、入力電圧VipおよびVinの差を増幅して、逆相の電圧を第2全差動増幅器22に出力する。第2全差動増幅器22は、第1全差動増幅器21から受けた逆相の電圧の差を増幅して、逆相の出力電圧VonおよびVopを出力する。第1全差動増幅器21の利得を高くするとともに、第2全差動増幅器22の出力振幅を大きくすることにより、演算増幅回路2の利得を大きくするとともに演算増幅回路2が扱える信号振幅を大きくすることができる。
 第3スイッチ26Aおよび第4スイッチ26Bが導通状態に切換えられた場合、演算増幅回路2の入力電圧差(差動入力差)が0となるように演算増幅回路2が動作し、演算増幅回路2のオフセット電圧によって第1容量27Aおよび第2容量27Bが充電される。その後、第3スイッチ26Aおよび第4スイッチ26Bが開放されて非導通状態となったときに、入力電圧VipおよびVin(差動入力信号)は第1容量27Aおよび第2容量27Bを介して第1全差動増幅器21の非反転入力端子および反転入力端子にそれぞれ伝達される。差動入力信号からオフセット電圧が引かれて増幅された信号が出力電圧VonおよびVopとして出力される。
 図8は、実施の形態2の比較例に係る演算増幅回路200の機能構成を示すブロック図である。演算増幅回路200の構成は、図7の演算増幅回路2の制御回路28が制御回路28Aに置き換えられるとともに、演算増幅回路2の構成から第1スイッチ23A,第2スイッチ23B,第1位相補償容量24A,第2位相補償容量24Bが取り除かれた構成である。制御回路28Aは、第3スイッチ26Aおよび第4スイッチ26Bの導通状態および非導通状態を切換える。
 図9および図10の各々は、図7の演算増幅回路2および図8の演算増幅回路200の各利得特性および各位相特性を併せて示すボード線図である。図9および図10に示されている各ボード線図は、同じボード線図である。図9を用いてゲイン余裕の改善について説明し、図10を用いて位相余裕の改善について説明する。
 図9において、曲線G2およびG20は、演算増幅回路2および200の各利得特性を示す。曲線Ph2およびPh20は、演算増幅回路2および200の各位相特性をそれぞれ示す。図10においても同様である。図9において、周波数f23およびf24(>f23)は、それぞれ演算増幅回路200および2の位相遅れが180度となる周波数である。ゲイン余裕Gm2およびGm20は、それぞれ演算増幅回路2および200のゲイン余裕である。
 図9を用いてゲイン余裕の改善について説明する。図9に示されるように、利得特性G2およびG20は、周波数f21まではほぼ一定であり、周波数f21からf22(>f21)までは周波数の増加に伴ってほぼ同様に減少している。利得特性G2は、周波数f22以降の周波数帯においても周波数の増加に伴って減少している。一方、利得特性G20は、周波数f22以降において利得特性G2よりも利得が一旦回復し後、再び周波数の増加に伴い減少している。
 演算増幅回路200の位相遅れが180度となる周波数f23において、演算増幅回路200の利得は1(0dB)より大きいため、ゲイン余裕Gm20はマイナスの値となる。演算増幅回路200においては、ゲイン余裕が確保されていない。演算増幅回路200は、周波数f23において発振状態となり、動作が不安定となる。
 一方、演算増幅回路2の位相遅れが180度となる周波数f24において、演算増幅回路2の利得は1(0dB)よりも小さいため、ゲイン余裕Gm2はプラスの値となる。演算増幅回路2においては、ゲイン余裕が確保されている。演算増幅回路2は、演算増幅回路200よりも安定性が向上している。
 次に、図10を用いて位相余裕の改善について説明する。図10において、周波数f29およびf30(>f29)は、それぞれ演算増幅回路2および200の利得が1(0dB)となる周波数である。位相余裕Pm2およびPm20は、それぞれ演算増幅回路2および200の位相余裕である。
 図10に示されるように、位相特性Ph2およびPh20は、周波数f25まではほぼ一定であり、周波数f25からf26(>f25)までは周波数の増加に伴ってほぼ同様に減少する。位相特性Ph2は、周波数f26からf27(>f26)まではほぼ一定であり、周波数f27以降において周波数の増加に伴って減少している。位相特性Ph20は、周波数f26からf28(>f27)まではほぼ一定であり、周波数f28以降において周波数の増加に伴って減少している。
 演算増幅回路200の利得が1(0dB)となる周波数f30(>f28)において、演算増幅回路200の位相遅れは180度よりも大きいため、位相余裕Pm20はマイナスの値となる。演算増幅回路200においては位相余裕が確保されていない。そのため、図9を用いて説明したように、演算増幅回路200の位相遅れが180度であるときに演算増幅回路200の利得が1(0dB)より大きくなる。周波数f30においては、演算増幅回路200が発振状態となった後であるため、演算増幅回路200の動作が不安定になり得る。
 一方、演算増幅回路2の利得が1(0dB)となる周波数f29において、演算増幅回路2の位相遅れは180度よりも小さく、位相余裕Pm2はプラスの値となる。演算増幅回路2においては位相余裕が確保されている。演算増幅回路2は、演算増幅回路200よりも安定性が向上している。
 以上、実施の形態2に係る演算増幅回路によれば、安定性を向上させることができる。
 実施の形態3.
 近年、プロセスノードの微細化に伴い、電源電圧が低下している。電源電圧を低下させた上で、パイプライン型のAD変換器に求められるような高い精度を達成するためには、実施の形態1および2に係る演算増幅回路のように、複数の増幅器をカスケード接続して高い利得を実現するとともに、位相補償によって安定性を確保する必要がある。そこで、実施の形態3においては、実施の形態1よび2に係る演算増幅回路が、パイプライン型のAD変換器において使用される場合について説明する。
 図11は、実施の形態3に係るパイプライン型のAD変換器300の機能構成を示すブロック図である。図11に示されるように、AD変換器300は、ステージ1~N(Nは2以上)と、デジタル補正回路ECとを備える。
 ステージ1~Nの各々は、AD変換を行なってデジタル信号をデジタル補正回路ECに出力する。デジタル補正回路ECは、各ステージからのデジタル信号の出力タイミングのずれを補正し、各デジタル信号を加算することによって、Nビットのデジタル信号を出力する。
 図12は、図11の各ステージに含まれるスイッチトキャパシタ回路30の機能構成を示すブロック図である。図12に示されるように、スイッチトキャパシタ回路30は、演算増幅回路3と、スイッチ31A,31Bと、容量34~37と、スイッチ38~41とを備える。演算増幅回路3、およびスイッチ31A,31B、38~41の各々は、不図示の制御回路によって制御される。スイッチトキャパシタ回路30には、入力電圧Vip,Vopおよび参照電圧Vrp,Vrnが入力される。スイッチトキャパシタ回路30は、出力電圧Vop,Vonを出力する。
 演算増幅回路3には、実施の形態1または2に係る演算増幅回路が適用可能である。演算増幅回路3に実施の形態1に係る演算増幅回路を適用する場合、スイッチ31Aおよび31Bは、第2および第3スイッチにそれぞれ対応する。演算増幅回路3に実施の形態2に係る演算増幅回路を適用する場合、スイッチ31A,31Bは、第3および第4スイッチにそれぞれ対応する。
 図11に示されるステージ1~Nでは、増幅期間において、入力電圧Vip,Vop(入力信号)が増幅されて出力される。増幅期間においては、容量34~37で決定されるフィードバックファクタが1よりも小さくなり、動作速度は遅くなるものの、安定性は向上する。
 入力信号がサンプリングされるサンプリング期間においては、スイッチ31A,31Bにより演算増幅回路3の入出力間が短絡され、フィードバックファクタがほぼ1となるため、演算増幅回路3の回路構成を変えないのであれば、安定性は劣化する。そこで、スイッチトキャパシタ回路30においては、サンプリング期間のみ実施の形態1のスイッチ13Bまたは実施の形態2のスイッチ23A,24Aを導通状態とすることによって位相補償を行い、安定性を向上させる。
 以上、実施の形態3に係るAD変換器によれば、安定性を向上させることができる。
 今回開示された各実施の形態は、矛盾しない範囲で適宜組み合わせて実施することも予定されている。今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
 1~3,1A,1B,110,120,200 演算増幅回路、1~N ステージ、11,21 第1全差動増幅器、12,22 第2全差動増幅器、13,131 第1位相補償抵抗、13B,23A 第1スイッチ、14,24A 第1位相補償容量、15,24B 第2位相補償容量、16,25A 第3位相補償容量、17,23B 第2スイッチ、18,26A 第3スイッチ、19,28,28A 制御回路、25B 第4位相補償容量、26B 第4スイッチ、27A 第1容量、27B 第2容量、30 スイッチトキャパシタ回路、31A,31B,38,41 スイッチ、34~37 容量、121,122 位相補償抵抗、132 第2位相補償抵抗、300 AD変換器、EC デジタル補正回路。

Claims (10)

  1.  第1および第2入力端子と、第1および第2出力端子とを含む第1全差動増幅器と、
     前記第1出力端子に接続された第3入力端子と、前記第2出力端子に接続された第4入力端子と、第3および第4出力端子とを含む第2全差動増幅器と、
     前記第3出力端子と前記第4出力端子との間において直列に接続された第1位相補償抵抗および第1位相補償容量とを備える、演算増幅回路。
  2.  第2位相補償抵抗をさらに備え、
     前記第1位相補償抵抗は、前記第1位相補償容量と前記第3出力端子との間に接続され、
     前記第2位相補償抵抗は、前記第1位相補償容量と前記第4出力端子との間に接続されている、請求項1に記載の演算増幅回路。
  3.  前記第1位相補償抵抗として第1スイッチを含む、請求項1に記載の演算増幅回路。
  4.  前記第1入力端子と前記第3出力端子との間に接続された第2スイッチと、
     前記第2入力端子と前記第4出力端子との間に接続された第3スイッチとをさらに備え、
     前記第2および第3スイッチが導通状態である場合、前記第1スイッチは導通状態に切換えられる、請求項3に記載の演算増幅回路。
  5.  前記第3入力端子と前記第3出力端子との間に接続された第2位相補償容量と、
     前記第4入力端子と前記第4出力端子との間に接続された第3位相補償容量とをさらに備える、請求項1~4のいずれか1項に記載の演算増幅回路。
  6.  第1および第2入力端子と、第1および第2出力端子とを含む第1全差動増幅器と、
     前記第1出力端子に接続された第3入力端子と、前記第2出力端子に接続された第4入力端子と、第3および第4出力端子とを含む第2全差動増幅器と、
     前記第1入力端子と基準電位との間において直列に接続された第1スイッチおよび第1位相補償容量と、
     前記第2入力端子と前記基準電位との間において直列に接続された第2スイッチおよび第2位相補償容量とを備える、演算増幅回路。
  7.  前記第1入力端子と前記第3出力端子との間に接続された第3スイッチと、
     前記第2入力端子と前記第4出力端子との間に接続された第4スイッチとをさらに備え、
     前記第3および第4スイッチが導通状態である場合、前記第1および第2スイッチは導通状態に切換えられる、請求項6に記載の演算増幅回路。
  8.  前記第3入力端子と前記第3出力端子との間に接続された第3位相補償容量と、
     前記第4入力端子と前記第4出力端子との間に接続された第4位相補償容量とをさらに備える、請求項7に記載の演算増幅回路。
  9.  前記第1および第2入力端子にそれぞれ接続された第1および第2容量をさらに備え、
     前記第1スイッチおよび前記第1位相補償容量は、前記第1入力端子および前記第1容量の間の第1ノードと、前記基準電位との間において直列に接続され、
     前記第2スイッチおよび前記第2位相補償容量は、前記第2入力端子および前記第2容量の間の第2ノードと、前記基準電位との間において直列に接続されている、請求項6~8のいずれか1項に記載の演算増幅回路。
  10.  請求項1~9のいずれか1項に記載の演算増幅回路を備える、AD変換器。
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