WO2017002374A1 - 増幅器 - Google Patents

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慎介 中野
宏明 桂井
正史 野河
木村　俊二
十林　正俊
茂弘 栗田
雅弘 遠藤
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日本電信電話株式会社
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Definitions

  • the present invention relates to an amplifier, and more particularly to an amplifier applied to a transimpedance amplifier that converts a current signal converted from an optical signal by a light receiving element into a voltage signal in an optical receiver.
  • a transimpedance amplifier (TIA) is used in an optical receiver, and amplifies signal intensity while converting a signal converted from an optical signal into a current signal by a light receiving element into a voltage signal. Since it is desired that the optical receiver can receive a minute optical signal, it is desirable that the optical receiver has low noise as a characteristic of the TIA.
  • FIG. 1 shows the configuration of a conventional grounded emitter TIA.
  • the grounded emitter TIA includes a transistor Q3 inserted between the input terminal IN and the negative power supply voltage VEE, an amplification stage including a transistor Q1 and resistors R1 and R2, an output stage including a transistor Q2 and a resistor R3, A feedback resistor R4 inserted between the output terminal OUT and the input terminal IN is provided.
  • the transistor Q3 functions as a variable current source, and controls the DC operating point of the amplifier by controlling the amount of current. DC operating point control by a variable current source is used for an offset compensation function, for example (see Non-Patent Document 1, for example).
  • FIG. 2 shows the configuration of a conventional base-grounded TIA.
  • the grounded base type TIA includes a transistor Q2 inserted between the input terminal IN and the negative power supply voltage VEE, and an amplification stage including the transistor Q1 and the resistor R1.
  • the transistor Q2 controls a DC current flowing through the transistor Q1 as a variable current source and a DC component of the input signal current (see, for example, Non-Patent Document 2).
  • FIG. 3 shows the configuration of a conventional RGC (Regulated Cascode) TIA. Similar to the grounded base type TIA, the transistor Q2 controls the DC current flowing through the transistor Q1 of the amplification stage as a variable current source and the DC component of the input signal current.
  • an amplifier applied to TIA includes a current source formed of a transistor.
  • An object of the present invention is to provide an amplifier that is applied to TIA and that suppresses noise generated by a current source.
  • the present invention is an amplifier constituting a transimpedance amplifier, in which an inductor element is inserted between a current source connected to an input terminal of an amplification stage and a power supply voltage line. It is characterized by being.
  • the current source includes a first transistor having a base terminal connected to a current control bias and a collector terminal connected to the input terminal, and the inductor element includes an emitter terminal of the first transistor and the power supply voltage. It is inserted between the lines.
  • FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a conventional grounded emitter TIA.
  • FIG. 2 is a diagram showing a configuration of a conventional base-grounded TIA
  • FIG. 3 is a diagram showing a configuration of a conventional RGC type TIA.
  • FIG. 4 is a diagram for explaining the internal resistance of the MOSFET.
  • FIG. 5 is a diagram showing a TIA chip structure.
  • FIG. 6 is a diagram showing a configuration of a grounded base type TIA according to the first embodiment of the present invention;
  • FIG. 7 is a diagram showing a configuration of a grounded base TIA according to the second embodiment of the present invention;
  • FIG. 8 is a diagram showing a configuration of a grounded base type TIA according to a third embodiment of the present invention
  • FIG. 9A is a diagram showing a resonance circuit formed in a TIA chip
  • FIG. 9B is a diagram showing a resonance circuit formed in the TIA chip
  • FIG. 10 is a diagram showing a configuration of a grounded base type TIA according to a fourth embodiment of the present invention
  • FIG. 11 is a diagram showing a result of simulating Zt and Ieq characteristics of a base-grounded TIA.
  • FIG. 12 is a diagram showing a result of simulating Zt and Ieq characteristics of a base-grounded TIA.
  • FIG. 13 is a diagram showing a configuration of a grounded-emitter TIA according to the fifth embodiment of the present invention
  • FIG. 14 is a diagram showing a simulation result of Zt and Ieq characteristics of a grounded emitter TIA.
  • FIG. 15 is a diagram showing a configuration of an RGC type TIA according to the sixth embodiment of the present invention.
  • an inductor element is connected to the emitter terminal of a transistor serving as a current source.
  • the current source is an ideal current source and an internal resistor R connected in parallel, the current noise per unit frequency generated by the current source is
  • the current noise decreases as the internal resistance R increases.
  • the internal impedance is infinite and the current noise is zero.
  • noise generated by the current source degrades the noise characteristics of the TIA. For example, as shown in FIG. 4, when an internal resistance R of a current source configured by connecting an element of impedance Z S to the source terminal of the MOSFET is obtained by an equation,
  • r o is the drain resistance of a single transistor
  • g m is the mutual conductance. From this equation, the internal impedance of the current source can be increased by using a transistor having a large impedance connected to the source terminal as the current source.
  • an inductor element is connected to the emitter terminal of a transistor serving as a current source, so that a current source having a large internal impedance in a high frequency band while keeping a bias necessary for driving the current source low. Is realized. Thereby, the total amount of current noise generated from the current source can be kept small.
  • the inductor element having a larger inductance is used, a current source having a larger internal impedance can be realized, and a greater noise reduction effect can be obtained. It is also conceivable to insert a resistor in series with the inductor element.
  • the inductor element used in this embodiment has a larger effect when the inductance value is larger.
  • the inductor element used in this embodiment has a larger effect when the inductance value is larger.
  • a wideband TIA having a signal band exceeding 10 GHz it is necessary to obtain a noise reduction effect at least at a frequency on the order of GHz.
  • an inductor element having an inductance value of nH order or more is required for the current source of TIA.
  • Broadband TIA is often manufactured on a semiconductor integrated circuit.
  • an inductor element on an integrated circuit a planar structure using only a wiring formed in the uppermost wiring layer is widely used.
  • Fig. 5 shows the TIA chip structure.
  • a TIA 11 is mounted on the TIA chip 10, and the TIA 11 is connected to the electrode pad 13 a for the input terminal IN and the electrode pad 13 b for the output terminal OUT. Furthermore, an electrode pad 13c for the positive power supply voltage VCC, an electrode pad 13d for the negative power supply voltage VEE, an electrode pad 13d for the inductor element 12, and the like are provided and connected to the TIA 11.
  • the chip size is determined by the size of the electrode pads and the number of necessary electrode pads.
  • the size of the inductor element needs to be equal to or smaller than that of the electrode pad in order not to increase the size of the integrated circuit. Therefore, by using an inductor element having a three-dimensional structure, an inductance value of nH order or more can be obtained, and a greater noise reduction effect can be obtained.
  • FIG. 6 shows a configuration of a grounded-base TIA according to the first embodiment of the present invention.
  • the grounded base type TIA includes a transistor Q2 and an inductor L1, and an amplification stage including a transistor Q1 and a resistor R1, which are inserted in series between the input terminal IN and the negative power supply voltage VEE.
  • the base terminal of the transistor Q2 is connected to a current control bias and controls the DC current flowing through the transistor Q1 and the DC component of the input signal current.
  • FIG. 7 shows the configuration of a base grounded TIA according to the second embodiment of the present invention.
  • a resistor R2 is further inserted in series with the negative power supply voltage VEE at the emitter terminal of the transistor Q2 serving as a current source.
  • VEE negative power supply voltage
  • bipolar transistor having a base terminal, a collector terminal, and an emitter terminal
  • some or all of the transistors can be replaced with FET elements having a gate terminal, a drain terminal, and a source terminal.
  • FIG. 8 shows a configuration of a base-grounded TIA according to the third embodiment of the present invention.
  • a capacitive element C is further connected in parallel. By adding the capacitive element C, the impedance Z seen in the VEE direction from the emitter terminal of Q2 constituting the current source is
  • the impedance seen from the emitter terminal in the VEE direction does not increase to ⁇ due to the resistance component parasitic on the inductor L1, the impedance can be increased near the resonance point.
  • the third embodiment is effective when an inductor having a sufficiently large inductance cannot be formed inside the amplifier. Further, by designing the LC resonance point within the TIA band, a particularly large internal impedance can be obtained.
  • FIG. 9A and 9B show a resonance circuit formed in the TIA chip.
  • FIG. 9A is a bird's-eye view of a three-dimensional inductor element formed on a TIA chip. Spiral wiring lacking a part is formed in a plurality of wiring layers on the substrate 21, and wiring between each wiring layer is connected in cascade so as to form a continuous wiring, thereby forming an inductor element 22. Yes. Note that illustration of each wiring layer is omitted.
  • an LC parallel circuit using the parasitic capacitance 23 between the wirings can be configured as shown in FIG. 9B. Therefore, it has a large inductance value and can also function as an LC resonance circuit, and a larger noise reduction effect can be obtained.
  • FIG. 10 shows a configuration of a grounded-base TIA according to the fourth embodiment of the present invention.
  • a transistor Q3 is added to form a cascode type, and a second current source comprising a transistor Q4 and an inductor L2 is provided between the positive power supply voltage VCC and the collector terminal of the transistor Q1.
  • the second current source including the transistor Q4 and the inductor L2
  • the current flowing through the transistor Q1 in the amplification stage is increased, and a wider band operation is possible than the conventional TIA shown in FIG.
  • the transistor Q3 to form a cascode type, it is possible to obtain the effect of preventing the band deterioration caused by the parasitic capacitance associated with the second current source.
  • FIG. 11 shows the simulation result of the transimpedance gain Zt and input equivalent noise current density Ieq characteristics of the base-grounded TIA.
  • Reference symbol A indicates the grounded base type TIA of the fourth embodiment shown in FIG. 10 (there are inductors L1 and L2), and reference symbol B indicates the grounded base type TIA (first embodiment) shown in FIG.
  • the reference C indicates a base-grounded TIA in which only the inductor L2 is present without the inductor L1 in the modification of the fourth embodiment, and the reference D indicates the conventional base shown in FIG.
  • a grounded TIA no inductors L1 and L2 is shown.
  • the present invention is applicable not only to the current source inserted between the input terminal IN and the negative power supply voltage VEE but also to a current source constituted by the transistor Q4 and the inductor L2 in the cascode type TIA. Therefore, the present embodiment is not limited to a current source inserted between the input terminal IN and the negative power supply voltage VEE in a TIA including a current source.
  • Reference numeral A indicates the base-grounded TIA of the third embodiment shown in FIG. 8 (there is a resistor R, an inductor L1, and a capacitive element C), and reference numeral B indicates that of the second embodiment shown in FIG. A base-grounded TIA (only the resistor R and the inductor L1 are present) is shown, and a symbol C indicates the conventional base-grounded TIA (no inductors L1 and L2) shown in FIG.
  • FIG. 13 shows the configuration of a grounded-emitter TIA according to the fifth embodiment of the present invention.
  • the grounded emitter TIA includes an amplifier stage including a transistor Q3 and an inductor L1, a transistor Q1 and resistors R1 and R2, and a transistor Q2 and a resistor R3, which are inserted in series between the input terminal IN and the negative power supply voltage VEE. And an output resistor (emitter follower) and a feedback resistor R4 inserted between the output terminal OUT and the input terminal IN.
  • the base terminal of the transistor Q3 is connected to a current control bias and controls the DC current flowing through the transistor Q1 and the DC component of the input signal current.
  • the base terminal of the transistor Q1 in the amplification stage is connected to the input terminal IN, the emitter terminal is connected to the negative power supply voltage VEE via the resistor R2, and the collector terminal is connected to the base terminal of the transistor Q2 in the output stage. .
  • the collector terminal of the transistor Q2 in the output stage is connected to the positive power supply voltage VCC, and the emitter terminal is connected to the negative power supply voltage VEE via the resistor R3. Since the collector terminal of the transistor Q1 is connected to the emitter follower of the output stage, it can be considered equivalently connected to the output terminal OUT.
  • FIG. 14 shows the simulation result of the transimpedance gain Zt and the input equivalent noise current density Ieq characteristics of the grounded emitter TIA.
  • Reference numeral A indicates the grounded-emitter TIA of the fifth embodiment shown in FIG. 13 (there is an inductor L1), and reference B indicates the conventional grounded-emitter TIA (no inductor L1) shown in FIG. ing.
  • the input equivalent noise current density Ieq can be improved without changing the transimpedance gain Zt.
  • a configuration may be adopted in which a resistor is inserted in series with the inductor element, as in the base-grounded TIA.
  • bipolar transistors instead of bipolar transistors, some or all of the transistors can be replaced with FET elements.
  • the current source is not limited to the current source inserted between the input terminal IN and the negative power supply voltage VEE.
  • FIG. 15 shows a configuration of an RGC type TIA according to the sixth embodiment of the present invention.
  • An amplifying stage including the transistor Q1 and the resistor R1 includes the transistor Q2 and the resistor R2, and the transistor Q2 and the inductor R1 inserted between the input terminal IN and the negative power supply voltage VEE.
  • the base terminal of the transistor Q2 is connected to a current control bias and controls the DC current flowing through the transistor Q1 and the DC component of the input signal current.
  • a configuration may be adopted in which a resistor is inserted in series with the inductor element, similarly to the base-grounded TIA.
  • a resistor is inserted in series with the inductor element, similarly to the base-grounded TIA.
  • some or all of the transistors can be replaced with FET elements.
  • the current source is not limited to the current source inserted between the input terminal IN and the negative power supply voltage VEE.
  • the first to sixth embodiments it is possible to realize a current source having a large internal impedance by connecting an inductor element to an emitter terminal of a transistor serving as a current source, which is an amplifier applied to TIA. it can. As a result, the noise generated by the current source can be kept small, and a low-noise TIA can be realized.

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Abstract

ＴＩＡに適用される増幅器であって、電流源によって生じるノイズを抑制する。トランスインピーダンスアンプを構成する増幅器であって、増幅段の入力端子に接続された電流源と電源電圧線との間にインダクタ素子が挿入されていることを特徴とする。前記電流源は、ベース端子が電流制御用バイアスに接続され、コレクタ端子が前記入力端子に接続された第１のトランジスタを含み、前記インダクタ素子は、前記第１のトランジスタのエミッタ端子と前記電源電圧線との間に挿入されている。

Description

増幅器
　本発明は、増幅器に関し、より詳細には、光受信器において受光素子によって光信号から変換された電流信号を電圧信号に変換するトランスインピーダンスアンプに適用される増幅器に関する。
　トランスインピーダンスアンプ（ＴＩＡ）は、光受信器に用いられ、受光素子によって光信号から電流信号に変換された信号を、電圧信号に変換しながら信号強度を増幅する。光受信器は、微小な光信号を受信できることが望まれるため、ＴＩＡの特性として、低ノイズであることが望まれる。
　図１に、従来のエミッタ接地型ＴＩＡの構成を示す。エミッタ接地型ＴＩＡは、入力端子ＩＮと負側電源電圧ＶＥＥとの間に挿入されたトランジスタＱ３と、トランジスタＱ１および抵抗Ｒ１、Ｒ２からなる増幅段と、トランジスタＱ２および抵抗Ｒ３からなる出力段と、出力端子ＯＵＴと入力端子ＩＮとの間に挿入された帰還抵抗Ｒ４とを備えている。トランジスタＱ３は、可変電流源として機能し、その電流量を制御することにより、増幅器のＤＣ動作点を制御する。可変電流源によるＤＣ動作点制御は、例えばオフセット補償機能に用いられる（例えば、非特許文献１参照）。
　図２に、従来のベース接地型ＴＩＡの構成を示す。ベース接地型ＴＩＡは、入力端子ＩＮと負側電源電圧ＶＥＥとの間に挿入されたトランジスタＱ２と、トランジスタＱ１および抵抗Ｒ１からなる増幅段とを備えている。トランジスタＱ２は、可変電流源としてトランジスタＱ１に流れるＤＣ電流と入力信号電流のＤＣ成分とを制御する（例えば、非特許文献２参照）。
　図３に、従来のＲＧＣ（Regulated Cascode）型ＴＩＡの構成を示す。ベース接地型ＴＩＡと同様に、トランジスタＱ２が、可変電流源として増幅段のトランジスタＱ１に流れるＤＣ電流と入力信号電流のＤＣ成分とを制御する。このように、ＴＩＡに適用される増幅器には、トランジスタで形成される電流源を備えている。
　しかしながら、増幅器の内部に電流源を備える場合、その電流源によって生じる雑音が大きく、ＴＩＡのノイズ特性を劣化させるという問題があった。特に、上述したＴＩＡのように、入力端子に電流源が接続されている場合には、入力信号を増幅する前段において雑音が影響を及ぼすため、ノイズ特性の劣化は極めて顕著である。
Chia-Ming Tsai, "A 40 mW 3 Gb/s Self-Compensated Differential Transimpedance Amplifier With Enlarged Input Capacitance Tolerance in 0.18μm CMOS Technology," IEEE Journal of Solid-State Circuits, Vol. 44, No. 10, pp. 2671-2677, Oct. 2009. Rania H. Mekky et al., "Ultra Low-Power Low-Noise Transimpedance Amplifier for MEMS-Based Reference Oscillators," IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems 2013.
　本発明の目的は、ＴＩＡに適用される増幅器であって、電流源によって生じるノイズを抑制した増幅器を提供することにある。
　本発明は、このような目的を達成するために、トランスインピーダンスアンプを構成する増幅器であって、増幅段の入力端子に接続された電流源と電源電圧線との間にインダクタ素子が挿入されていることを特徴とする。
　前記電流源は、ベース端子が電流制御用バイアスに接続され、コレクタ端子が前記入力端子に接続された第１のトランジスタを含み、前記インダクタ素子は、前記第１のトランジスタのエミッタ端子と前記電源電圧線との間に挿入されている。
図１は、従来のエミッタ接地型ＴＩＡの構成を示す図、 図２は、従来のベース接地型ＴＩＡの構成を示す図、 図３は、従来のＲＧＣ型ＴＩＡの構成を示す図、 図４は、ＭＯＳＦＥＴの内部抵抗を説明するための図、 図５は、ＴＩＡのチップ構造を示す図、 図６は、本発明の第１の実施形態にかかるベース接地型ＴＩＡの構成を示す図、 図７は、本発明の第２の実施形態にかかるベース接地型ＴＩＡの構成を示す図、 図８は、本発明の第３の実施形態にかかるベース接地型ＴＩＡの構成を示す図、 図９Ａは、ＴＩＡチップに形成された共振回路を示す図、 図９Ｂは、ＴＩＡチップに形成された共振回路を示す図、 図１０は、本発明の第４の実施形態にかかるベース接地型ＴＩＡの構成を示す図、 図１１は、ベース接地型ＴＩＡのＺｔ、Ｉｅｑ特性をシミュレーションした結果を示す図、 図１２は、ベース接地型ＴＩＡのＺｔ、Ｉｅｑ特性をシミュレーションした結果を示す図、 図１３は、本発明の第５の実施形態にかかるエミッタ接地型ＴＩＡの構成を示す図、 図１４は、エミッタ接地型ＴＩＡのＺｔ、Ｉｅｑ特性をシミュレーションした結果を示す図、 図１５は、本発明の第６の実施形態にかかるＲＧＣ型ＴＩＡの構成を示す図である。
　以下、図面を参照しながら本発明の実施形態について詳細に説明する。本実施形態におけるＴＩＡは、電流源となるトランジスタのエミッタ端子にインダクタ素子を接続している。
　電流源を理想電流源と内部抵抗Ｒの並列接続と考えると、その電流源によって生じる単位周波数あたりの電流ノイズは、
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
 であるため、内部抵抗Ｒが大きいほど電流ノイズは小さくなる。理想的な電流源の場合、内部インピーダンスが無限大であり電流ノイズはゼロである。しかし、実際に電流源を構成すると、有限の内部インピーダンスを有するため、電流源によって生じる雑音がＴＩＡのノイズ特性を劣化させる。例えば、図４に示すように、ＭＯＳＦＥＴのソース端子にインピーダンスＺＳの素子を接続して構成した電流源の内部抵抗Ｒを式で求めると、
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
 となる。ｒｏはトランジスタ単体のドレイン抵抗、ｇｍは相互コンダクタンスである。この式から、ソース端子に大きなインピーダンスを接続したトランジスタを、電流源に用いることにより、電流源の内部インピーダンスを大きくすることができる。
　一方、電流源の内部インピーダンスを増加させるために、大きな抵抗値の抵抗素子を用いた場合、抵抗によって大きな電圧降下が生じる。このような構成では、電流源を駆動する時に、ゲート端子およびドレイン端子に必要なバイアスが大きくなり、使用用途が制限されてしまう。このことは、バイポーラトランジスタについても同じことが言える。
　そこで、本実施形態では、電流源となるトランジスタのエミッタ端子にインダクタ素子を接続することにより、電流源を駆動するのに必要なバイアスを低く保ったまま、高周波帯での内部インピーダンスが大きな電流源を実現する。これにより、電流源から発生する電流ノイズの総量を小さく抑えることができる。本実施形態では、インダクタンスの大きなインダクタ素子を用いるほど、より大きな内部インピーダンスを有する電流源を実現することができ、より大きなノイズ低減効果を得ることができる。また、インダクタ素子と直列に抵抗を挿入することも考えられる。
　　（インダクタンス素子）
　本実施形態で用いるインダクタ素子について、インダクタンス値が大きい方が大きな効果が得られる事は前述した通りである。例えば、信号帯域が１０ＧＨｚを超えるような広帯域ＴＩＡでは、少なくともＧＨｚオーダの周波数でノイズ低減効果が得られる必要が有る。このとき、ＴＩＡの電流源には、ｎＨオーダ以上のインダクタンス値を持つインダクタ素子が必要となる。
　広帯域ＴＩＡは、半導体集積回路上に作製されることが多い。集積回路上のインダクタ素子としては、最上層の配線層に形成された配線のみを用いたプレーナ型構造が広く使われている。しかしながら、ｎＨオーダ以上のインダクタンス値を持つインダクタ素子を、小型化した上で実装するためには、下層の配線層も用いた三次元構造のインダクタ素子を用いることが望ましい。
　図５に、ＴＩＡのチップ構造を示す。ＴＩＡチップ１０には、ＴＩＡ１１が搭載され、ＴＩＡ１１と、入力端子ＩＮ用の電極パッド１３ａおよび出力端子ＯＵＴ用の電極パッド１３ｂとが接続されている。さらに、正側電源電圧ＶＣＣ用の電極パッド１３ｃおよび負側電源電圧ＶＥＥ用の電極パッド１３ｄと、インダクタ素子１２用の電極パッド１３ｄ等が設けられ、ＴＩＡ１１と接続される。
　ＴＩＡに代表される高周波アナログ集積回路の場合、チップサイズは、電極パッドのサイズと必要な電極パッドの個数によって律速される。インダクタ素子を集積回路に搭載する場合、集積回路のサイズが拡大しないようにするためには、インダクタ素子のサイズを、電極パッドと同程度のサイズまたはそれ以下に収める必要が有る。従って、三次元構造のインダクタ素子を用いることにより、ｎＨオーダ以上のインダクタンス値を得ることができ、より大きなノイズ低減効果を得ることができる。
　以下にベース接地型、エミッタ接地型、ＲＧＣ型ＴＩＡの構成を例に、それぞれ実施例を説明するが、電流源を搭載するＴＩＡであれば本発明を適応することができ、ＴＩＡの構成はこれに限るものでは無い。
　　（ベース接地型ＴＩＡ）
　図６に、本発明の第１の実施形態にかかるベース接地型ＴＩＡの構成を示す。ベース接地型ＴＩＡは、入力端子ＩＮと負側電源電圧ＶＥＥとの間に直列に挿入された、トランジスタＱ２およびインダクタＬ１と、トランジスタＱ１および抵抗Ｒ１からなる増幅段とを備えている。トランジスタＱ２のベース端子は、電流制御用バイアスに接続され、トランジスタＱ１に流れるＤＣ電流と入力信号電流のＤＣ成分とを制御する。トランジスタＱ２のエミッタ端子にインダクタ素子を接続することにより、内部インピーダンスの大きな電流源を構成し、電流源によるＴＩＡのノイズ特性の劣化を抑えている。
　図７に、本発明の第２の実施形態にかかるベース接地型ＴＩＡの構成を示す。電流源となるトランジスタＱ２のエミッタ端子には、インダクタＬ１に加えて、さらに抵抗Ｒ２が負側電源電圧ＶＥＥとの間に直列に挿入されている。第１の実施形態と比較して、より大きな内部インピーダンスを有する電流源を実現することができる。
　ここでは、ベース端子、コレクタ端子、エミッタ端子を有するバイポーラトランジスタを用いた構成で説明したが、一部または全てのトランジスタを、ゲート端子、ドレイン端子、ソース端子を有するＦＥＴ素子に置き換えることもできる。
　図８に、本発明の第３の実施形態にかかるベース接地型ＴＩＡの構成を示す。図７に示したベース接地型ＴＩＡにおいて、インダクタＬ１に加えて、さらに容量素子Ｃを並列に接続した。容量素子Ｃを加えることにより、電流源を構成するＱ２のエミッタ端子からＶＥＥ方向に見えるインピーダンスＺは、
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
 となり、
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000004
 となる周波数、すなわち共振回路の共振点において、｜Ｚ｜＝∞となる。第２の実施形態と比較して、より大きな内部インピーダンスを有する電流源を実現することができる。
　実際には、インダクタＬ１に寄生する抵抗成分等によって、エミッタ端子からＶＥＥ方向に見えるインピーダンスは∞まで大きくはならないが、共振点付近においてインピーダンスを大きく見せることができる。第３の実施形態は、増幅器の内部に、充分に大きなインダクタンスのインダクタを形成することができない場合に有効である。また、ＬＣの共振点を、ＴＩＡの帯域内に設計することにより、特に大きな内部インピーダンスを得ることができる。
　図９Ａおよび９Ｂに、ＴＩＡチップに形成された共振回路を示す。図９Ａは、ＴＩＡチップに形成された三次元構造のインダクタ素子の鳥瞰図である。基板２１上の複数の配線層に、一部が欠けたスパイラル状の配線を形成し、各配線層間の配線を、一続きの配線となるように縦続接続して、インダクタ素子２２を形成している。なお、各配線層の図示は省略している。
　ここで、隣接する配線層に形成された配線が一部重なるようにすると、図９Ｂに示したように、配線間の寄生容量２３を利用したＬＣ並列回路を構成することができる。従って、大きなインダクタンス値を有し、かつＬＣ共振回路としても機能させることができ、より大きなノイズ低減効果を得ることができる。
　図１０に、本発明の第４の実施形態にかかるベース接地型ＴＩＡの構成を示す。図６に示したベース接地型ＴＩＡにおいて、トランジスタＱ３を追加してカスコード型とし、正側電源電圧ＶＣＣとトランジスタＱ１のコレクタ端子との間に、トランジスタＱ４およびインダクタＬ２からなる第２の電流源を備えた。トランジスタＱ４およびインダクタＬ２からなる第２の電流源をさらに備えることにより、増幅段のトランジスタＱ１に流れる電流を増加させ、図２に示した従来のＴＩＡよりも広帯域動作が可能となる。また、トランジスタＱ３を追加してカスコード型とすることにより、第２の電流源に付随する寄生容量によって生ずる帯域劣化を防ぐ効果が得られる。
　図１１に、ベース接地型ＴＩＡのトランスインピーダンス利得Ｚｔ、入力換算雑音電流密度Ｉｅｑ特性をシミュレーションした結果を示す。符号Ａは、図１０に示した第４の実施形態のベース接地型ＴＩＡ（インダクタＬ１、Ｌ２が存在）を示し、符号Ｂは、図６に示した第１の実施形態のベース接地型ＴＩＡ（インダクタＬ１のみ存在）を示し、符号Ｃは、第４の実施形態の変形でインダクタＬ１が無く、インダクタＬ２のみが存在するベース接地型ＴＩＡを示し、符号Ｄは、図２に示した従来のベース接地型ＴＩＡ（インダクタＬ１、Ｌ２ともに無し）を示している。
　図１１から明らかなように、インダクタＬ１、Ｌ２を挿入することにより、トランスインピーダンス利得Ｚｔを変化させること無く、入力換算雑音電流密度Ｉｅｑを改善することができる。また、入力端子ＩＮと負側電源電圧ＶＥＥとの間に挿入された電流源に限らず、カスコード型のＴＩＡにおけるトランジスタＱ４およびインダクタＬ２により構成される電流源にも適応可能であることが分かる。従って、本実施形態は、電流源を備えるＴＩＡにおいて、入力端子ＩＮと負側電源電圧ＶＥＥとの間に挿入された電流源に限定されるものでは無い。
　さらに、図１２にシミュレーション結果を示す。符号Ａは、図８に示した第３の実施形態のベース接地型ＴＩＡ（抵抗Ｒ、インダクタＬ１、容量素子Ｃが存在）を示し、符号Ｂは、図７に示した第２の実施形態のベース接地型ＴＩＡ（抵抗Ｒ、インダクタＬ１のみ存在）を示し、符号Ｃは、図２に示した従来のベース接地型ＴＩＡ（インダクタＬ１、Ｌ２ともに無し）を示している。
　図１２から明らかなように、容量素子Ｃを挿入することにより、トランスインピーダンス利得Ｚｔを変化させること無く、入力換算雑音電流密度Ｉｅｑを改善することができ、ＴＩＡの帯域内において、電流源によって生じるノイズを小さく抑えことができる。
　　（エミッタ接地型ＴＩＡ）
　図１３に、本発明の第５の実施形態にかかるエミッタ接地型ＴＩＡの構成を示す。エミッタ接地型ＴＩＡは、入力端子ＩＮと負側電源電圧ＶＥＥとの間に直列に挿入された、トランジスタＱ３およびインダクタＬ１と、トランジスタＱ１および抵抗Ｒ１、Ｒ２からなる増幅段と、トランジスタＱ２および抵抗Ｒ３からなる出力段（エミッタフォロワ）と、出力端子ＯＵＴと入力端子ＩＮとの間に挿入された帰還抵抗Ｒ４とを備えている。トランジスタＱ３のベース端子は、電流制御用バイアスに接続され、トランジスタＱ１に流れるＤＣ電流と入力信号電流のＤＣ成分とを制御する。トランジスタＱ３のエミッタ端子にインダクタ素子を接続することにより、内部インピーダンスの大きな電流源を構成し、電流源によるＴＩＡのノイズ特性の劣化を抑えている。
　増幅段のトランジスタＱ１のベース端子は入力端子ＩＮに接続され、エミッタ端子は抵抗Ｒ２を介して負側電源電圧ＶＥＥに接続され、コレクタ端子は、出力段のトランジスタＱ２のベース端子に接続されている。出力段のトランジスタＱ２のコレクタ端子は正側電源電圧ＶＣＣに接続され、エミッタ端子は抵抗Ｒ３を介して負側電源電圧ＶＥＥに接続されている。トランジスタＱ１のコレクタ端子は、出力段のエミッタフォロワに接続されているので、等価的には、出力端子ＯＵＴに接続されているとみなせる。
　図１４に、エミッタ接地型ＴＩＡのトランスインピーダンス利得Ｚｔ、入力換算雑音電流密度Ｉｅｑ特性をシミュレーションした結果を示す。符号Ａは、図１３に示した第５の実施形態のエミッタ接地型ＴＩＡ（インダクタＬ１が存在）を示し、符号Ｂは、図１に示した従来のエミッタ接地型ＴＩＡ（インダクタＬ１無し）を示している。
　図１４から明らかなように、インダクタＬ１を挿入することにより、トランスインピーダンス利得Ｚｔを変化させること無く、入力換算雑音電流密度Ｉｅｑを改善することができる。本実施形態においても、ベース接地型ＴＩＡと同様に、インダクタ素子と直列に抵抗を挿入した構成としてもよい。また、バイポーラトランジスタの代わりに、一部または全てのトランジスタをＦＥＴ素子に置き換えることもできる。さらに、電流源を備えるＴＩＡにおいて、入力端子ＩＮと負側電源電圧ＶＥＥとの間に挿入された電流源に限定されるものでは無い。
　　（ＲＧＣ型ＴＩＡ）
　図１５に、本発明の第６の実施形態にかかるＲＧＣ型ＴＩＡの構成を示す。トランジスタＱ１および抵抗Ｒ１からなる増幅段に、トランジスタＱ２および抵抗Ｒ２をカスコード接続し、入力端子ＩＮと負側電源電圧ＶＥＥとの間に挿入された、トランジスタＱ２およびインダクタＬ１とを備えている。トランジスタＱ２のベース端子は、電流制御用バイアスに接続され、トランジスタＱ１に流れるＤＣ電流と入力信号電流のＤＣ成分とを制御する。トランジスタＱ２のエミッタ端子にインダクタ素子を接続することにより、内部インピーダンスの大きな電流源を構成し、電流源によるＴＩＡのノイズ特性の劣化を抑えている。
　本実施形態においても、ベース接地型ＴＩＡと同様に、インダクタ素子と直列に抵抗を挿入した構成としてもよい。また、バイポーラトランジスタの代わりに、一部または全てのトランジスタをＦＥＴ素子に置き換えることもできる。さらに、電流源を備えるＴＩＡにおいて、入力端子ＩＮと負側電源電圧ＶＥＥとの間に挿入された電流源に限定されるものでは無い。
　第１～第６の実施形態によれば、ＴＩＡに適用される増幅器であって、電流源となるトランジスタのエミッタ端子にインダクタ素子を接続することにより、内部インピーダンスが大きな電流源を実現することができる。これにより、電流源によって生じるノイズを小さく抑え、低ノイズのＴＩＡを実現することができる。

Claims (9)

  1. 　トランスインピーダンスアンプを構成する増幅器であって、増幅段の入力端子に接続された電流源と電源電圧線との間にインダクタ素子が挿入されていることを特徴とする増幅器。
  2. 　前記電流源は、ベース端子が電流制御用バイアスに接続され、コレクタ端子が前記入力端子に接続された第１のトランジスタを含み、
    　前記インダクタ素子は、前記第１のトランジスタのエミッタ端子と前記電源電圧線との間に挿入されていることを特徴とする請求項１に記載の増幅器。
  3. 　前記増幅段は、エミッタ端子が前記入力端子に接続され、コレクタ端子が出力端子に接続され、ベース端子が電流制御用バイアスに接続された第２のトランジスタを含むことを特徴とする請求項２に記載の増幅器。
  4. 　ベース端子が電流制御用バイアスに接続され、コレクタ端子が前記第２のトランジスタのコレクタ端子に接続された第３のトランジスタを含み、
    　前記第３のトランジスタのエミッタ端子と電源電圧線との間に第２のインダクタ素子が挿入されていることを特徴とする請求項３に記載の増幅器。
  5. 　エミッタ端子が前記電源電圧線に接続され、コレクタ端子が前記第２のトランジスタのベース端子に接続され、ベース端子が前記入力端子に接続された第３のトランジスタを含むことを特徴とする請求項３に記載の増幅器。
  6. 　前記増幅段は、ベース端子が前記入力端子に接続され、コレクタ端子が出力端子に接続され、エミッタ端子が前記電源電圧線に接続された第２のトランジスタを含むことを特徴とする請求項２に記載の増幅器。
  7. 　前記電流源と前記電源電圧線との間に、さらに抵抗素子が挿入されていることを特徴とする請求項１ないし６のいずれかに記載の増幅器。
  8. 　前記インダクタ素子と並列に、さらに容量素子が挿入されていることを特徴とする請求項１ないし７のいずれかに記載の増幅器。
  9. 　ベース端子、コレクタ端子およびエミッタ端子を有するトランジスタの一部または全てが、ゲート端子、ドレイン端子およびソース端子を有するＦＥＴであることを特徴とする請求項２ないし８のいずれかに記載の増幅器。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3844871A4 (en) * 2018-08-31 2021-09-08 Texas Instruments Incorporated METHOD AND DEVICE FOR VOLTAGE BUFFERING
JP2020077956A (ja) * 2018-11-07 2020-05-21 住友電気工業株式会社 光受信回路

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09260973A (ja) * 1996-03-26 1997-10-03 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 差動増幅器
JP2000040203A (ja) * 1998-07-06 2000-02-08 Hewlett Packard Co <Hp> 磁気抵抗型ヘッド読取り増幅器
JP2001251150A (ja) * 2000-03-08 2001-09-14 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 単相信号／差動信号変換型の電圧増幅器
JP2004207874A (ja) * 2002-12-24 2004-07-22 Toshiba Corp 周波数変換器及び無線通信端末装置
JP2009290520A (ja) * 2008-05-29 2009-12-10 Hitachi Ltd トランスインピーダンスアンプ、レギュレイテッド型トランスインピーダンスアンプ及び光受信器

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3331028A (en) * 1965-01-21 1967-07-11 Avco Corp Multistage transistor amplifier in which the impedances of the various stages are successively varied to control gain
CA2021380C (en) * 1989-07-21 1994-05-10 Takuji Yamamoto Equalizing and amplifying circuit in an optical signal receiving apparatus
DE4104980C3 (de) * 1991-02-19 1996-02-08 Telefunken Microelectron Verstärkerstufe für niederohmige Wechselspannungs-Quellen
US5945878A (en) * 1998-02-17 1999-08-31 Motorola, Inc. Single-ended to differential converter
US20060034620A1 (en) 2004-08-12 2006-02-16 Triaccess Technologies, Inc. Low noise optical receiver
TWI340537B (en) * 2006-02-14 2011-04-11 Richwave Technology Corp Single-ended input to differential-ended output low noise amplifier implemented with cascode and cascade topology
WO2010050193A1 (ja) 2008-10-30 2010-05-06 住友ベークライト株式会社 多層配線基板およびその製造方法
EP2736168B1 (en) 2010-03-09 2015-05-06 Marvell World Trade Ltd. Class AB amplifiers
US8487702B2 (en) * 2011-09-21 2013-07-16 Realtek Semiconductor Corp. Transimpedance amplifier and method thereof
EP2869465B1 (en) 2013-11-01 2016-05-25 Nxp B.V. RF amplifier

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09260973A (ja) * 1996-03-26 1997-10-03 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 差動増幅器
JP2000040203A (ja) * 1998-07-06 2000-02-08 Hewlett Packard Co <Hp> 磁気抵抗型ヘッド読取り増幅器
JP2001251150A (ja) * 2000-03-08 2001-09-14 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 単相信号／差動信号変換型の電圧増幅器
JP2004207874A (ja) * 2002-12-24 2004-07-22 Toshiba Corp 周波数変換器及び無線通信端末装置
JP2009290520A (ja) * 2008-05-29 2009-12-10 Hitachi Ltd トランスインピーダンスアンプ、レギュレイテッド型トランスインピーダンスアンプ及び光受信器

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
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