WO2016203992A1

WO2016203992A1 - 投影装置および投影方法、投影モジュール、電子機器、並びにプログラム

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Publication number: WO2016203992A1
Application number: PCT/JP2016/066572
Authority: WO
Inventors: 中村　仁
Original assignee: ソニー株式会社
Priority date: 2015-06-19
Filing date: 2016-06-03
Publication date: 2016-12-22
Also published as: CN107924657A; JP2017009758A; US20180192018A1

Abstract

本技術は、光出力の期待値からの差分を補正することができるようにする投影装置および投影方法、投影モジュール、電子機器、並びにプログラムに関する。プロジェクション装置における光源からのレーザビームをテスト発光させて、その光出力と、光出力の期待値との差分から補正係数を求め、画素信号を補正係数により補正することで、補正された画素信号を出力することで、光出力と、その期待値との差分を補正する。この際、走査位置が、投影画像におけるブランキング領域内であって、ランダムに設定されるようにすると共に、発光強度を投影される画像に合わせたものにする。ことで、視聴者にテスト発光を意識させないようにすることができる。本技術は、プロジェクション装置に適用することができる。

Description

投影装置および投影方法、投影モジュール、電子機器、並びにプログラム

　本技術は、投影装置および投影方法、投影モジュール、電子機器、並びにプログラムに関し、特に、プロジェクション装置により投影される画像を高画質化できるようにした投影装置および投影方法、投影モジュール、電子機器、並びにプログラムに関する。

　従来、例えば、スクリーンを対象として、正弦波状にレーザビームを往復させる走査を行うプロジェクション装置が存在する（例えば、特許文献１参照）。

　このプロジェクション装置によれば、レーザビームを反射する駆動ミラーが駆動され、駆動ミラーから反射したレーザビームが、スクリーン上の各位置に照射される。

　これにより、スクリーン上の各位置には、レーザビームの照射により、スポット状の光であるスポット光が投影される。すなわち、スクリーン上には、複数のスポット光をそれぞれ画素とする画像が投影される。

　なお、レーザビームは、駆動ミラーの共振周波数に対応した走査速度で走査されるため、その走査速度は、スクリーンの中央で最も速くなり、スクリーンの端になるほど遅くなる。また、従来のプロジェクション装置は、予め決められた間隔で、レーザビームを照射する。

　このため、スクリーンの端に行くほどに、スポット光どうしが近接するものとなり、また、スポット光の幅は広くなる。

　このため、従来のプロジェクション装置によれば、上述のように、スクリーンの端に行くほどに、スポット光どうしが近接し、スポット光の幅は広くなるため、スポット光どうしの干渉がスクリーン上で生じ得る。

　結果として、スポット光どうしの干渉により、スクリーン上に投影される画像の画質が劣化してしまっていた。

　そこで、スポット光どうしの干渉を低減することで、スクリーン上に投影される画像の画質を向上させるようにする技術が提案されている（特許文献２参照）。

特開２００３－０２１８００号公報特開２０１４－０７１２４４号公報

　ところで、特許文献１，２の技術を用いたプロジェクション装置の解像度は、駆動ミラーの走査速度が律速となる。

　従って、現状の駆動ミラーの走査速度で実現される投影画像を超えた解像度を実現するには、駆動ミラーの走査速度をさらに向上させる必要がある。

　しかしながら、駆動ミラーの走査速度には限界があり、結果として、プロジェクション装置により投影される画像の解像度には、駆動ミラーの走査速度を律速とする限界があった。

　また、特許文献１，２の技術を用いたプロジェクション装置では、RGBの光源のそれぞれの光軸のずれにより色のにじみが出てしまう恐れがあった。

　本技術は、このような状況に鑑みてなされたものであり、特に、プロジェクション装置により投影される画像を高画質化できるようにするものである。

　本技術の一側面の投影装置は、入力画像の画素信号に応じたレーザビームを発生する光源ユニットと、前記光源ユニットより発生されたレーザビームを反射しつつ、走査しながらスクリーン上に投影する１つの走査部と、前記光源ユニットにより発生される前記レーザビームの光出力を検出する検出部と、前記検出部により検出された光出力と、前記レーザビームの光出力の期待値との差分に基づいて、前記レーザビームの光出力を補正する補正係数を算出する補正係数算出部と、前記補正係数に基づいて、前記入力画像における画素信号を補正する補正部と、前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生を制御するテスト発光制御部とを含み、前記補正係数算出部は、前記テスト発光制御部により制御されて、テスト発光位置がランダムに設定され、前記テスト発光用のレーザビームの光出力が投影している投影画像に連動して制御され、前記レーザビーム発生部より、前記テスト発光用のレーザビームが発生されたとき、前記検出部により検出された光出力に基づいて、前記レーザビームの光出力の期待値との差分を補正する補正係数を算出する投影装置である。

　前記テスト発光制御部には、前記走査部により前記スクリーン上で走査されている位置が、投影画像に対するブランキング領域であるとき、前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生させるようにすることができる。

　前記テスト発光制御部には、前記ブランキング領域に含まれる、複数の一部領域のいずれかをランダムにテスト発光位置として設定し、前記走査部により前記スクリーン上で走査されている位置が、投影画像に対するブランキング領域であって、前記テスト発光位置として設定された領域であるとき、前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生させるようにすることができる。

　前記テスト発光以外のレーザビームが前記レーザビーム発生部より発生されるとき、前記スクリーン上の画素の輝度のフレーム単位の平均値を算出する平均値算出部をさらに含ませるようにすることができ、前記テスト発光制御部には、前記レーザビーム発生部を制御して、前記平均値に基づいた輝度で、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームを発生させるようにすることができる。

　前記テスト発光制御部には、前記レーザビーム発生部を制御して、入力画像信号により前記スクリーン上に投影される画像の色の傾向に応じた発光強度で、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームを発生させるようにすることができる。

　前記テスト発光制御部には、前記レーザビーム発生部の発光頻度、および温度に基づいて、前記レーザビーム発生部を制御させて、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生させるようにすることができる。

　前記検出部には、前記レーザビームの光量を検出する光量検出部を含ませるようにすることができ、前記光量検出部により検出された光量に基づいて、前記レーザビームの光出力を検出させるようにすることができる。

　前記補正係数算出部には、前記検出部において検出された前記レーザビームの前記光出力と、前記スクリーン上に投影される前記レーザビームの光出力の前記期待値との差分を求めさせ、前記差分に基づいて、投影すべき画素信号を、前記レーザビーム発生部により発生されるレーザビームが実際に投影される光出力に対応した画素信号に変換する補正係数を補正値として算出させるようにすることができる。

　前記補正部には、前記スクリーン上に投影される画素信号を、前記補正値である補正係数により補正させ、補正された前記画素信号を、前記レーザビーム発生部に供給させ、前記レーザビーム発生部には、補正された前記画素信号に基づいて、前記レーザビームを発生させるようにすることができる。

　前記補正係数算出部には、前記レーザビームの光出力の期待値と、前記検出部において検出された光出力との差分に基づいて、前記補正係数を繰り返し算出することで、前記補正係数を更新させるようにすることができる。

　前記補正部には、前記入力画像における前記画素信号を、更新された、前記補正係数により補正させ、補正された画素信号を、前記レーザビーム発生部に供給させ、前記レーザビーム発生部には、補正された画素信号に基づいて、前記レーザビームを発生させるようにすることができる。

　前記レーザビーム発生部、前記コリメータレンズ、および前記光源ユニットは、RGBのそれぞれについて設けられており、前記検出部には、前記RGBのそれぞれの光出力を検出させ、前記補正係数算出部には、前記検出部により検出された、RGBのそれぞれの光出力と、光出力の期待値との差分を求めさせ、前記差分に基づいて、前記スクリーン上に投影される画素信号を補正する補正係数を算出させ、前記補正部には、前記入力画像信号の画素信号を、前記補正係数に基づいて、変換することで補正させるようにすることができる。

　前記補正係数算出部には、前記検出部により検出された、RGBのそれぞれの光出力と、前記光出力の期待値との差分を求めさせ、前記差分に基づいて、前記スクリーン上に投影される画素信号を補正する補正係数を繰り返し算出することで、前記補正係数を更新させるようにすることができる。

　本技術の一側面の投影方法は、入力画像の画素信号に応じたレーザビームを発生する光源ユニットと、前記光源ユニットより発生されたレーザビームを反射しつつ、走査しながらスクリーン上に投影する１つの走査部と、前記光源ユニットにより発生される前記レーザビームの光出力を検出する検出部と、前記検出部により検出された光出力と、前記レーザビーム出力の期待値との差分に基づいて、前記レーザビーム出力を補正する補正係数を算出する補正係数算出部と、前記補正係数に基づいて、前記入力画像における画素信号を補正する補正部と、前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生を制御するテスト発光制御部とを含み、前記補正係数算出部は、前記テスト発光制御部により制御されて、テスト発光位置がランダムに設定され、前記テスト発光用のレーザビームの光出力が投影している投影画像に連動して制御され、前記レーザビーム発生部より、前記テスト発光用のレーザビームが発生されたとき、前記検出部により検出された光出力に基づいて、前記レーザビームの光出力の期待値との差分を補正する補正係数を算出する投影装置の投影方法であって、前記光源ユニットが、入力画像の画素信号に応じたレーザビームを発生し、前記走査部が、前記光源ユニットより発生されたレーザビームを反射しつつ、走査しながらスクリーン上に投影し、前記検出部が、前記光源ユニットにより発生される前記レーザビームの光出力を検出し、前記補正係数算出部が、前記検出部により検出された光出力と、前記レーザビーム出力の期待値との差分に基づいて、前記レーザビーム出力を補正する補正係数を算出し、前記補正部が、前記補正係数に基づいて、前記入力画像における画素信号を補正し、前記テスト発光制御部が、前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生を制御するステップを含む投影方法であり、前記補正係数を算出するステップの処理は、前記テスト発光を制御するステップの処理により制御されて、テスト発光位置がランダムに設定され、前記テスト発光用のレーザビームの光出力が投影している投影画像に連動して制御され、前記レーザビーム発生部より、前記テスト発光用のレーザビームが発生されたとき、前記検出部により検出された光出力に基づいて、前記レーザビームの光出力の期待値との差分を補正する補正係数を算出する投影方法である。

　本技術の一側面のプログラムは、入力画像の画素信号に応じたレーザビームを発生する光源ユニットと、前記光源ユニットより発生されたレーザビームを反射しつつ、走査しながらスクリーン上に投影する１つの走査部と、前記光源ユニットにより発生される前記レーザビームの光出力を検出する検出部と、前記検出部により検出された光出力と、前記レーザビームの光出力の期待値との差分に基づいて、前記レーザビームの光出力を補正する補正係数を算出する補正係数算出部と、前記補正係数に基づいて、前記入力画像における画素信号を補正する補正部と、前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生を制御するテスト発光制御部としてコンピュータを機能させ、前記補正係数算出部は、前記テスト発光制御部により制御されて、テスト発光位置がランダムに設定され、前記テスト発光用のレーザビームの光出力が投影している投影画像に連動して制御され、前記レーザビーム発生部より、前記テスト発光用のレーザビームが発生されたとき、前記検出部により検出された光出力に基づいて、前記レーザビームの光出力の期待値との差分を補正する補正係数を算出するためのプログラムである。

　本技術の一側面の投影モジュールは、入力画像の画素信号に応じたレーザビームを発生する光源ユニットと、前記光源ユニットより発生されたレーザビームを反射しつつ、走査しながらスクリーン上に投影する１つの走査部と、前記光源ユニットにより発生される前記レーザビームの光出力を検出する検出部と、前記検出部により検出された光出力と、前記レーザビームの光出力の期待値との差分に基づいて、前記レーザビームの光出力を補正する補正係数を算出する補正係数算出部と、前記補正係数に基づいて、前記入力画像における画素信号を補正する補正部と、前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生を制御するテスト発光制御部とを含み、前記補正係数算出部は、前記テスト発光制御部により制御されて、テスト発光位置がランダムに設定され、前記テスト発光用のレーザビームの光出力が投影している投影画像に連動して制御され、前記レーザビーム発生部より、前記テスト発光用のレーザビームが発生されたとき、前記検出部により検出された光出力に基づいて、前記レーザビームの光出力の期待値との差分を補正する補正係数を算出する投影モジュールである。

　本技術の一側面の電子機器は、入力画像の画素信号に応じたレーザビームを発生する光源ユニットと、前記光源ユニットより発生されたレーザビームを反射しつつ、走査しながらスクリーン上に投影する１つの走査部と、前記光源ユニットにより発生される前記レーザビームの光出力を検出する検出部と、前記検出部により検出された光出力と、前記レーザビームの光出力の期待値との差分に基づいて、前記レーザビームの光出力を補正する補正係数を算出する補正係数算出部と、前記補正係数に基づいて、前記入力画像における画素信号を補正する補正部と、前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生を制御するテスト発光制御部とを含み、前記補正係数算出部は、前記テスト発光制御部により制御されて、テスト発光位置がランダムに設定され、前記テスト発光用のレーザビームの光出力が投影している投影画像に連動して制御され、前記レーザビーム発生部より、前記テスト発光用のレーザビームが発生されたとき、前記検出部により検出された光出力に基づいて、前記レーザビームの光出力の期待値との差分を補正する補正係数を算出する電子機器である。

　本技術の一側面においては、光源ユニットにより、入力画像の画素信号に応じたレーザビームが発生させ、１つの走査部により、前記光源ユニットより発生されたレーザビームが反射されつつ、走査されながらスクリーン上に投影され、検出部により、前記光源ユニットにより発生される前記レーザビームの光出力が検出され、補正係数算出部により、前記検出部により検出された光出力と、前記レーザビームの光出力の期待値との差分に基づいて、前記レーザビームの光出力を補正する補正係数が算出され、補正部により、前記補正係数に基づいて、前記入力画像における画素信号が補正され、テスト発光制御部により、前記レーザビーム発生部が制御されて、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生が制御され、前記補正係数算出部により、前記テスト発光制御部により制御されて、テスト発光位置がランダムに設定され、前記テスト発光用のレーザビームの光出力が投影している投影画像に連動して制御され、前記レーザビーム発生部より、前記テスト発光用のレーザビームが発生されたとき、前記検出部により検出された光出力に基づいて、前記レーザビームの光出力の期待値との差分を補正する補正係数が算出される。

　本技術の一側面の投影装置は、それぞれ独立した装置であっても良いし、投影装置として機能するブロックであっても良い。

　本技術の一側面によれば、プロジェクション装置により投影される画像を高画質化することが可能となる。

本技術を適用したプロジェクションシステムの構成例を示すブロック図である。スポット光どうしの干渉を抑止するときの一例を示す図である。スポット光どうしの干渉を抑止するときの他の一例を示す図である。図１のプロジェクション装置の第１の実施の形態の構成例を示すブロック図である。ラスタスキャンについて説明するための図である。レーザビームの走査軌跡と画像信号規格に従った画素配列との関係について説明するための図である。一般的なプロジェクション装置におけるレーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂの周辺の構成を説明する図である。一般的なプロジェクション装置における１系統のレーザビームを発生するレーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂの周辺の構成による投影画像の解像度を説明する図である。本技術を適用したプロジェクション装置におけるレーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂの周辺の構成を説明する図である。本技術を適用したプロジェクション装置における２系統のレーザビームを発生するレーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂの周辺の構成による投影画像の解像度を説明する図である。本技術を適用したプロジェクション装置における４系統のレーザビームを発生するレーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂの周辺の構成による投影画像の解像度を説明する図である。レーザビーム発生部の構成例を説明する図である。レーザビーム発生部の２のレーザダイオードのずれ量と解像度の関係を説明する図である。レーザビーム発生部の２のレーザダイオードのずれ量の設定方法を説明する図である。レーザビーム発生部の２のレーザダイオードのずれ量の設定方法を説明する図である。レーザビーム発生部の２のレーザダイオードのずれ量の設定方法を説明する図である。レーザビーム発生部の２のレーザダイオードのずれ量を個別に設定する場合と、固定する場合とのずれの発生の違いを説明する図である。レーザ光源部２４の光軸のずれにより生じるレーザスポットのずれを説明する図である。レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂのそれぞれの光軸のずれにより生じるレーザスポットのずれを説明する図である。図１のプロジェクション装置の第２の実施の形態の構成例を示すブロック図である。図２０のプロジェクション装置におけるPDの詳細な構成を説明する図である。図２０のプロジェクション装置における発光制御処理を説明するフローチャートである。テスト発光位置を説明する図である。テスト発光の発光強度の設定方法を説明する図である。レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂのそれぞれのテスト発光時のPD上のレーザスポットの位置を説明する図である。レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂのそれぞれのテスト発光と、補正値を算出するタイミングを説明する図である。テスト発光のパルス波形を説明する図である。汎用のパーソナルコンピュータの構成例を説明する図である。電子機器の構成例を説明する図である。

　＜プロジェクションシステムの構成例＞
　図１は、本技術を適用したプロジェクションシステム１の構成例を示している。

　プロジェクションシステム１は、プロジェクション装置１１、ホストコントローラ１２、距離測定部１３、及びスクリーン１４から構成される。

　なお、このプロジェクションシステム１は、スクリーン１４上の各位置に、画素として投影（投射）されるスポット状の光であるスポット光どうしの干渉を抑止して、スクリーン１４上に投影される投影画像の画質を向上させるようにするものである。

　すなわち、例えば、プロジェクション装置１１は、スクリーン１４までの距離や、スポット光が投影されるスクリーン１４上の位置等に基づいて、レーザビームの照射を制御することにより、スクリーン１４上でのスポット光どうしの干渉を抑止する。

　なお、スクリーン１４において、スポット光どうしの干渉は、スクリーン１４までの距離が短いほどに、スポット光が投影されるスクリーン１４上の位置が端であるほどに発生し易いことがわかっている。尚、スポット光どうしの干渉については、図６を参照して詳述する。

　ホストコントローラ１２は、プロジェクション装置１１を制御して、スクリーン１４上にレーザビームを照射させることにより、スクリーン１４上のスポット光を各画素とする投影画像を投影させる。

　また、ホストコントローラ１２は、距離測定部１３から供給される、スクリーン１４までの距離（を示す情報）（以下、単に、スクリーン距離ともいう）を、プロジェクション装置１１に供給する。

　プロジェクション装置１１において、ホストコントローラ１２から供給されるスクリーン距離（スクリーン１４までの距離）は、レーザビームの照射を制御する際に参照される。

　距離測定部１３は、スクリーン距離を測定し、その測定結果を、ホストコントローラ１２に供給する。

　なお、距離測定部１３は、プロジェクション装置１１の、レーザビームを照射する照射口の近くに設けられているものとする。したがって、スクリーン距離とは、プロジェクション装置１１の照射口から、スクリーン１４までの距離である。

　また、距離測定部１３としては、スクリーン距離を測定可能であれば、どのような構成であってもよく、その測定方法も限定されない。

　すなわち、例えば、距離測定部１３として、レーザレンジファインダを採用し、レーザ光を照射したときから、その反射光を検出するまでの時間を計測することにより、スクリーン距離を測定することができる。

　その他、例えば、距離測定部１３として、複数台のカメラを採用し、複数台のカメラの撮像により得られた撮像画像を用いて、カメラどうしの視差から距離を測定するステレオ処理により、スクリーン距離の測定を行うようにしてもよい。

　なお、距離測定部１３は、例えば、プロジェクション装置１１に内蔵されているようにしてもよい。

　スクリーン１４は、プロジェクション装置１１から照射されるレーザビームにより、そのレーザビームに対応するスポット光を画素とした投影画像を投影する。

　＜スポット光どうしの干渉の抑止について＞
　次に、図２を参照して、プロジェクション装置１１が、レーザビームの照射を制御して、スポット光どうしの干渉を抑止するときの一例について説明する。

　図２のＡには、それぞれ異なるタイミングでスクリーン１４上に投影された複数のスポット光S1乃至S8の一例が示されている。

　図２のＢには、スポット光S1乃至S8のうち、互いに重複しないスポット光S1,S3,S6,S8のみが投影されたときの一例が示されている。

　図２のＡに示されるように、例えば、スポット光S1の一部は、図中右側に隣接するスポット光S2の一部と重複しているため、スポット光S1とスポット光S2の間では、光の干渉が生じている。

　同様にして、スポット光S2とスポット光S3、スポット光S3とスポット光S4、スポット光S5とスポット光S6、スポット光S6とスポット光S7、スポット光S7とスポット光S8の間では、それぞれ、光の干渉が生じている。

　したがって、例えば、プロジェクション装置１１は、スポット光S1乃至S8のうち、スポット光S1,S3,S6,S8のそれぞれに対応するレーザビームの照射のみを行うことにより、スポット光どうしの干渉が生じる事態を防止している。

　この場合、スクリーン１４には、図２のＢに示されるように、投影画像の画素として、スポット光S1,S3,S6,S8のみが投影される。

　次に、図３は、プロジェクション装置１１が、レーザビームの照射を制御して、スポット光どうしの干渉を抑止するときの他の一例を示している。

　図３のＡには、図２のＡと同様に、それぞれ異なるタイミングでスクリーン１４上に投影された複数のスポット光S1乃至S8の一例が示されている。

　図３のＢには、互いに重複しないスポット光S1,S3,S6,S8とともに、スポット光S1,S3,S6,S8に影響を与えない程度に輝度が調整されたスポット光S2,S4,S5,S7の一例が示されている。

　図３のＡにおいて、スポット光S1とスポット光S2、スポット光S2とスポット光S3、スポット光S3とスポット光S4、スポット光S5とスポット光S6、スポット光S6とスポット光S7、スポット光S7とスポット光S8の間では、それぞれ、光の干渉が生じている。

　したがって、例えば、プロジェクション装置１１は、スポット光S2,S4,S5,S7の輝度を、予め決められた閾値以下の輝度に調整（例えば、輝度を０に調整）することにより、スポット光どうしの干渉が生じる事態を防止するようにしている。

　この場合、スクリーン１４には、図３のＢに示されるように、投影画像の画素として、スポット光S1乃至S8が投影される。

　＜本技術を適用したプロジェクション装置１１の第１の実施の形態の構成例＞
　次に、図４を参照して、図１の本技術のプロジェクション装置１１の第１の実施の形態の構成例について説明する。

　このプロジェクション装置１１は、レーザビームを光源とした投影画像１４ａをスクリーン１４に投影する。また、プロジェクション装置１１は、コントローラ２１、レーザドライバ２２、ミラードライバ２３、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ、及び２４Ｂ、ミラー２５、ダイクロイックミラー２６－１，２６－２、駆動ミラー２７、並びに光学レンズ２８から構成される。

　コントローラ２１には、例えば、図１のホストコントローラ２１から、スクリーン１４上に投影される投影画像１４ａの画像データとして、入力画像信号が供給される。

　コントローラ２１は、ホストコントローラ１２から供給される入力画像信号に基づいて、投影画像１４ａを構成する各画素の、色（赤色、緑色、及び青色）ごとの画素データを、補間により生成し、ミラードライバ２３から取得したミラー同期信号に同期してレーザドライバ２２に供給する。なお、ミラー同期信号とは、入力画像信号に同期してミラードライバ２３を駆動させるための信号をいう。さらに、コントローラ２１には、ホストコントローラ１２から制御信号が供給され、コントローラ２１は、その制御信号に応じた制御を行う。

　レーザドライバ２２は、コントローラ２１から供給される、色毎の画素データに基づき、投影画像１４ａの画素ごとの画素値に応じた駆動信号を生成し、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ、及び２４Ｂに供給する。すなわち、例えば、レーザドライバ２２は、赤色の画素データの画素値に応じた駆動信号をレーザ光源部２４Ｒに供給し、緑色の画素データの画素値に応じた駆動信号をレーザ光源部２４Ｇに供給し、青色の画素データの画素値に応じた駆動信号をレーザ光源部２４Ｂに供給する。

　ミラードライバ２３は、スクリーン１４の水平方向（図中左右方向）および垂直方向（図中上下方向）にレーザビームをスキャンさせるために、駆動ミラー２７の共振周波数に基づいた水平スキャン信号および垂直スキャン信号を生成して、駆動ミラー２７に供給する。また、ミラードライバ２３は、駆動ミラー２７により反射されたレーザビームの一部を検出する受光部（図示せず）を有している。そして、ミラードライバ２３は、受光部の検出結果に基づいて水平スキャン信号及び垂直スキャン信号を調整したり、受光部の検出結果に従った検出信号をコントローラ２１にフィードバックしたりする。

　レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ、及び２４Ｂは、レーザドライバ２２から供給される駆動信号に従って、それぞれ対応する（波長の光の）色のレーザビームを出力する。例えば、レーザ光源部２４Ｒは、赤色の画素データの画素値に応じたレベルで赤色のレーザビームを出力する。同様に、レーザ光源部２４Ｇは、緑色の画素データの画素値に応じたレベルで緑色のレーザビームを出力し、レーザ光源部２４Ｂは、青色の画素信号の画素値に応じたレベルで青色のレーザビームを出力する。

　なお、以下では、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ、及び２４Ｂを、それぞれ区別する必要がない場合、それらを単にレーザ光源部２４ともいう。

　ミラー２５は、レーザ光源部２４Ｒから出力される赤色のレーザビームを反射する。ダイクロイックミラー２６－１は、レーザ光源部２４Ｇから出力される緑色のレーザビームを反射するとともに、ミラー２５により反射された赤色のレーザビームを透過させる。ダイクロイックミラー２６－２は、レーザ光源部２４Ｂから出力される青色のレーザビームを反射するとともに、ミラー２５により反射された赤色のレーザビーム、及び、ダイクロイックミラー２６－１により反射された緑色のレーザビームを透過させる。なお、ミラー２５、並びに、ダイクロイックミラー２６－１及び２６－２は、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ、及び２４Ｂから出力されたレーザビームの光軸が同軸となるように組み合わされて配置されている。

　駆動ミラー２７は、例えば、MEMS（Micro Electro Mechanical Systems）により形成された微小なミラーであり、ミラードライバ２３から供給される水平スキャン信号及び垂直スキャン信号に従って駆動する。すなわち、例えば、駆動ミラー２７は、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ、及び２４Ｂのそれぞれから出力されたレーザビームを反射して、それらのレーザビームがスクリーン１４の水平方向および垂直方向にスキャン（走査）されるように駆動する。

　光学レンズ２８は、駆動ミラー２７からスクリーン１４に向かうレーザビームの光学経路上に配置されており、レーザビームの光路を補正する。

　なお、プロジェクション装置１１は、レーザドライバ２２及びミラードライバ２３がコントローラ２１に統合される構成を採用することができる。また、プロジェクション装置１１は、レーザビームの光学経路上に光学レンズ２８が配置されない構成としてもよい。

　このように、プロジェクション装置１１は、駆動ミラー２７を駆動して、レーザビームをスキャン（走査）することにより、スクリーン１４上に二次元の投影画像１４ａを投影する。また、駆動ミラー２７によるレーザビームのスキャン方法としては、例えば、ラスタスキャンという方法と、リサージュスキャンという方法があるが、プロジェクション装置１１では、例えばラスタスキャンが採用される。

　＜ラスタスキャンについて＞
　図５を参照して、ラスタスキャンについて説明する。

　図５では、投影画像１４ａ上にラスタスキャンによるレーザビームの走査軌跡が示されており、投影画像１４ａの下方に、水平スキャン信号H-Scanが示されており、投影画像１４ａの左方に、垂直スキャン信号V-Scanが示されている。

　水平スキャン信号H-Scanは、例えば、駆動ミラー２７の共振周波数に従った約20kHzで振動する正弦波の波形をした信号であり、水平スキャン信号H-Scanの周波数は、投影画像１４ａの水平同期周波数の１／２となる。垂直スキャン信号V-Scanは、例えば、投影画像１４ａのフレーム周期に応じた周波数である60Hzで振動する鋸波の波形をした信号である。

　なお、水平スキャン信号H-Scanの両端近傍における走査軌跡において、レーザビームは非発光とされ、走査軌跡の折り返し部分は、投影画像１４ａを投影するのには使用されないようにすることができる。また、垂直スキャン信号V-Scanが略垂直に立ち上がる波形となっている区間、即ち、レーザビームの走査軌跡が下端（走査終了時の位置）から上端（次の走査開始時の位置）に向かって急峻に変化する区間である帰線区間において、レーザビームは非発光とされる。

　このような水平スキャン信号H-Scan及び垂直スキャン信号V-Scanに従って駆動ミラー２７が駆動することにより、投影画像１４ａ上に示すような走査軌跡でレーザビームが走査される。図示するように、レーザビームは双方向に走査される。即ち、水平方向に向かう走査線の一行ごとにレーザビームの走査方向が逆方向となる。このため、プロジェクション装置１１では、走査線の１行ごとに入力画像信号を並べ替える処理を行ったり、入力画像信号に対するデータのアクセス方向を変更する必要がある。

　また、図５における水平スキャン信号H-Scanの下方に示すように、レーザビームの走査速度は、投影画像１４ａの中央において大きくなる一方、投影画像１４ａの端近傍において小さくなる。これにより、投影画像１４ａに輝度のムラが発生することが想定されるため、プロジェクション装置１１では、投影画像１４ａの端近傍においてレーザビームの出力を低下させて輝度を均一にする調整が行われる。同様に、プロジェクション装置１１は、必要に応じて、入力画像信号のレートを調整してもよい。

　さらに、レーザビームが正弦波に従って走査されるため、水平方向に向かう走査線どうしの間隔が不均一なものとなる。一般的に、画像信号規格では、画素が格子状に配置された画素配列で画像が構成されるため、画像信号規格に従った入力画像信号を、正弦波に従ったレーザビームの走査軌跡に応じて出力すると、投影画像１４ａにおいて画素ごとにズレが発生することになる。尚、図４のプロジェクション装置１１においては、駆動ミラー２７は、１個である例について示されているが、水平方向、および垂直方向の走査軌道をそれぞれ走査する駆動ミラーをそれぞれ設けるようにしてもよい。

　＜レーザビームの走査軌跡と画像信号規格に従った画素配列との関係について＞
　図６を参照して、レーザビームの走査軌跡と画像信号規格に従った画素配列との関係について説明する。

　図６のＡには、レーザビームの走査軌跡が示されており、図６のＢには、レーザビームの走査軌跡と画像信号規格に従った画素配列とが重ね合わされて示されている。なお、図６のＡ及び図６のＢには、走査軌跡の折り返し部分を、投影画像１４ａを投影するのに使用しているときの一例を示している。

　図６のＡ及び図６のＢにおいて、レーザビームの走査軌跡上に所定のピッチで配置されている矩形のドットは、正弦波的な水平スキャン信号H-Scanの軌道に対して、水平スキャン信号H-Scanに同期したビデオクロックで刻まれたスポット位置を表している。即ち、スポット位置は、それぞれ、ビデオクロックに従った異なるタイミングでレーザビームが照射され、スポット光が投影される位置を示している。

　図５を参照して上述したように、レーザビームの走査速度は、投影画像１４ａ（スクリーン１４）の中央において大きくなる一方、投影画像１４ａの端近傍において小さくなるとともに、水平方向に向かう走査線どうしの間隔は不均一なものとなる。そのため、図６のＡに示すように、スクリーン１４上におけるスポット位置の密度は、投影画像１４ａの中央において低く（粗く）なる一方、端近傍になるほど高く（密に）なるとともに、スポット位置どうしの垂直方向の間隔は不均一なものとなる。

　また、図６のＢにおいて、格子状に配置された丸型のドットは、画像信号規格に従った画素配列で配置される画素を表している。図６のＢに示すように、レーザビームの走査軌跡に従ったスポット位置は、画像信号規格に従った画素の配置と大きく異なるものとなり、タイミング的にも不均一なものとなる。このため、投影画像１４ａを投影する際に、画素ごとにズレが発生することになる。

　そこで、プロジェクション装置１１では、入力画像信号として供給される画像データを構成する画素を参照画素とし、その参照画素（の画素値）から、スポット位置に投影される投影画素を補間する補間処理を行うようにしている。これにより、投影画像１４ａにおいて画素ごとにズレが発生することを回避することができる。

　例えば、図６のＢに示すスポット位置ＳＰについて説明する。プロジェクション装置１１では、スポット位置ＳＰの近傍にある４つの参照画素Ｐ１乃至Ｐ４の画素値から、スポット位置ＳＰに応じた二次元補間によって、スポット位置ＳＰに投影される投影画素の画素値を生成する補間処理が行われる。このような補間処理を、全てのスポット位置に対して行うことで、投影画像１４ａにおいて画素ごとにズレが発生することが回避される。

　なお、投影画素を補間する際に参照される参照画素を選択するパターンは、図６のＢに示されるような４つの参照画素Ｐ１乃至Ｐ４を選択するパターンに限定されず、さらに多くの参照画素を選択する等の様々なパターンを採用することができる。

　＜解像度について＞
　次に、上述した本技術を適用したプロジェクション装置１１における解像度について説明するにあたって、まず、図７を参照して、一般的なプロジェクション装置１１における解像度について説明する。図７は、一般的なプロジェクション装置１１におけるレーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂ、ミラー２５、ダイクロイックミラー２６－１，２６－２、駆動ミラー２７、並びに光学レンズ２８の周辺の構成をより詳細に示した構成例を示している。尚、ここでは、図７で示される構成以外の構成については、図４におけるプロジェクション装置１１と同一であるものとする。

　より詳細には、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂは、それぞれ各波長のレーザビーム発生部２４Ｒａ，２４Ｇａ，２４Ｂａ、およびコリメータレンズ２４Ｒｂ，２４Ｇｂ，２４Ｂｂを備えている。すなわち、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂでは、それぞれレーザビーム発生部２４Ｒａ，２４Ｇａ，２４Ｂａが、各色に特有の波長のレーザビームを発生し、コリメータレンズ２４Ｒｂ，２４Ｇｂ，２４Ｂｂは、それぞれの波長のレーザビームをコリメートして出力する。尚、レーザビーム発生部２４Ｒａ，２４Ｇａ，２４Ｂａ、並びに、コリメータレンズ２４Ｒｂ，２４Ｇｂ，２４Ｂｂについては、それぞれ色（波長）を特に区別する必要が無い場合、単に、レーザビーム発生部２４ａ、並びに、コリメータレンズ２４ｂと称するものとする。

　そして、赤色の画素信号（Video Data Current Red）に基づいて、レーザビーム発生部２４Ｒａにより発生された赤色のレーザビームがコリメータレンズ２４Ｒｂにより出射方向が適切に調整された後、ミラー２５により反射され、図７の上方からダイクロイックミラー２６－１に入射する。

　また、緑色の画素信号（Video Data Current Green）に基づいて、レーザビーム発生部２４Ｇａにより発生された緑色のレーザビームがコリメータレンズ２４Ｇｂにより出射方向が適切に調整された後、ダイクロイックミラー２６－１により反射され、図７の上方からダイクロイックミラー２６－２に入射する。このとき、ダイクロイックミラー２６－１は、図７の上方から入射される赤色のレーザビームを、透過させ、これにより、赤色のレーザビームが図７の上方からダイクロイックミラー２６－２に入射する。

　さらに、青色の画素信号（Video Data Current Blue）に基づいて、レーザビーム発生部２４Ｂａにより発生された青色のレーザビームがコリメータレンズ２４Ｂｂにより出射方向が適切に調整された後、ダイクロイックミラー２６－２により反射され、図７の上方から駆動ミラー２７に入射する。このとき、ダイクロイックミラー２６－２は、図７の上方から入射される赤色および緑色のレーザビームを、透過させ、これにより、青色、赤色および緑色のレーザビームが、図７の上方から駆動ミラー２７に入射する。結果として、赤色、緑色、および青色（RGB）のレーザビームは、合波された状態で、駆動ミラー２７により入射されることになるので、１本の走査線として制御される。

　ところで、ここで画像出力の走査線本数は、入力画像のフレームレートに対する駆動ミラー２７の走査速度の関係で決まる。水平走査の周期が20kHzの場合、1frame周期を60Hzとすると1frameあたり往復で666本の水平走査線が存在することになる。

　このうち垂直走査のブランキング時間を10%とすると1frameあたりの投影画像１４ａの表示に使用可能な水平走査線数は約600本となり、垂直方向の最大解像度が特定される。このとき垂直方向の駆動ミラー２７の振り角は上下の走査線が分離されるように広げる必要がある。ただし、広げすぎると上下のビームが分離され画像に走査線の隙間ができるためビームスポット径に応じた最適な振り角に調整することが望ましい。

　例えば、図８の左部で示されるように、投影画像１４ａの垂直解像度（垂直方向のライン数）をVres、垂直画角をVFOV（Vertical Field of View（mm））とするとき、垂直ライン間の間隔Vline_stepは、Vline_step=VFOV/Vres（mm）となる。ここで、垂直ライン間の間隔Vline_stepは、図８の右部で示されるように、設計したビームスポット径に対して必要十分な間隔である必要がある。すなわち、図８の右部におけるNline（N番目のライン）における楕円形状の３個のビームスポットと、（N+1）line（N+1番目のライン）における３個のビームスポットが垂直方向に重なり過ぎず、かつ、所定の間隔以上の隙間とならない間隔である必要がある。

　また、投影画像１４ａの水平方向の解像度は、水平方向の駆動ミラー２７の振り角とビームスポット径及びビームの変調速度で決まるものであるが、ビームスポット径とビーム変調速度に対して振り角が十分広い必要がある。すなわち、図８の右部で示されるように、Nline、および（N+1）lineの３個の各ビームスポットで示されるように、水平方向に重なり過ぎず、かつ、所定の間隔以上の隙間とならない間隔である必要がある。尚、図８の左部における水平画角は、HFOV（Horizontal Field of View（mm））となる。

　この条件において720p（水平方向1280pixel×垂直方向720pixel）の投影画像１４ａを出力しようとした場合、垂直解像度が600lineで制限されるため元の画像信号を無圧縮で出力することはできない。そこで、画像信号を720lineから600lineに圧縮して投影画像１４ａを出力すると画像信号の垂直解像度が低下してしまい画質低下となる。また、720 lineをスケーリング無しに出力しようとすると駆動ミラー２７の走査速度を+20%程度向上させる必要がある。

　しかしながら、駆動ミラー２７の走査速度には、限界があり、高解像度化を進めると、解像度に合わせた走査速度とすることは難しくなる。

　そこで、各レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂのレーザビームを１系統から２系統以上にし、それぞれの走査軌道が垂直方向にずれるように構成し、走査軌道を増やすことで解像度を向上させることが考えられる。

　＜本技術を適用したプロジェクション装置１１の構成例＞
　次に、図９を参照して、本技術を適用したプロジェクション装置１１におけるレーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂ、ミラー２５、ダイクロイックミラー２６－１，２６－２、駆動ミラー２７、並びに光学レンズ２８の周辺の構成について説明する。尚、図９において、図４，図７における構成と同一の機能を備えた構成については、同一の符号、および同一の名称を付すものとし、適宜その説明は省略するものとする。

　すなわち、図９の本技術を適用したプロジェクション装置１１において、図７の一般的なプロジェクション装置１１と異なる点は、図９で示されるように、各レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂのレーザビームを１系統から２系統以上にし、それぞれの走査軌道がスクリーン１４上で垂直方向にずれるように構成されている点である。

　図９の左部で示されるように、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂは、図７におけるレーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂとは異なり、それぞれ２系統のRGBの画素信号（Video Data Current Red1,2，Video Data Current Green1,2，Video Data Current Blue1,2）が入力され、それぞれから垂直方向に所定のずれ幅を持った２系統の（２本の）レーザビームを出射する。

　この場合、図９の右部で示されるように、２本の走査軌道（RGB line scanning）ｓｃａｎ１，ｓｃａｎ２が形成される。

　ここで、RGBの画素信号（Video Data Current Red1,2，Video Data Current Green1,2，Video Data Current Blue1,2）は、例えば、図１０の左部で示される画素信号（Video Data Current Red1，Video Data Current Green1，Video Data Current Blue1）により、図１０の右部で示されるように、line2の画素信号からなる走査軌道ｓｃａｎ１が形成される。同様に、図１０の左部で示される画素信号（Video Data Current Red2，Video Data Current Green2，Video Data Current Blue2）により、図１０の右部で示されるように、line3の画素信号からなる走査軌道ｓｃａｎ２を形成が形成される。

　この場合、走査軌道ｓｃａｎ１，ｓｃａｎ２のずれ量が、例えば、図１０の右部で示されるように、走査軌道ｓｃａｎ１の垂直方向の走査間隔（Vertical 1 line distance）の1/2（0.5 offset）となるように形成されるように調整する。このように調整することで、走査軌道ｓｃａｎ１，ｓｃａｎ２は、均等に走査することが可能となる。

　結果として、２系統の走査軌道により、垂直方向の解像度を、理論的には最大で略２倍にすることが可能となる。

　同様に、レーザ光源部２４において出射されるレーザビームをN本発生させるようにすることで、走査軌道をN倍にすることができる。例えば、N=4の場合、図１１で示されるように、走査軌道を４本にすることが可能となる。この場合、１つの走査軌道の垂直方向の走査間隔（Vertical 1 line distance）に対して、1/4のずれ量（1/4line）で設定することで、４本の走査軌道は、それぞれ垂直方向に等間隔に配置される。

　＜レーザビーム発生部２４ａの構成例＞
　次に、図１２を参照して、２系統のレーザビームを発生する場合のレーザビーム発生部２４ａの構成例について説明する。

　レーザビーム発生部２４ａは、図１２で示されるように、走査軌道を高精度にずらし、ずれ量を維持するために、２のレーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２からなるモノリシックマルチビームLD（Laser Diode）から構成されており、このレーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２により光軸が調整される。

　モノリシックマルチビームLDは、半導体基板上にフォトリソグラフィによりストライプ構造の発光機能を持つ複数の発光素子からなるレーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２を作り込んだものである。このストライプ構造の発光素子であるレーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２の方向が高精度に調整された状態で一体構造とされているので、発光点の相対位置を高精度に調整することが可能な構成とされている。

　従って、モノリシックマルチビームLDにおいては、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２間の発光点間隔がスクリーン１４上のずれとなって現れる。スクリーン１４上のずれが大きいと２の走査軌道で解像度を向上する領域が狭くなるため、投影画像１４ａの画角が小さくなり、またブランキング時間が増えることで投影画像１４ａの明るさが低下してしまう。

　ここで、図１２，図１３で示されるように、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２の発光点間隔がd（um）であり、光学倍率がMtであるとき、スクリーン１４上での、それぞれのレーザスポットＳＰ１，ＳＰ２のずれ量offsetは、図１３で示されるようにoffset=d×Mtとなる。ここで走査軌道Ｓｃａｎ１と走査軌道Ｓｃａｎ２により走査される範囲は、それぞれ範囲Ｓｃ１，Ｓｃ２となり、この範囲Ｓｃ１，Ｓｃ２が重なる領域において、解像度が２倍にされる。しかしながら、このずれ量offsetが水平方向のずれ量となったとき、スクリーン１４上の左右に、走査軌道Ｓｃａｎ１と走査軌道Ｓｃａｎ２により走査される範囲Ｓｃ１，Ｓｃ２が重ならない、それぞれoffset幅分の解像度低下領域Ｓｃａｎ１ｏｆｆｓｅｔ，Ｓｃａｎ２ｏｆｆｓｅｔができてしまう。このoffset幅分の解像度低下領域Ｓｃａｎ１ｏｆｆｓｅｔ，Ｓｃａｎ２ｏｆｆｓｅｔは、解像度、明るさともに、範囲Ｓｃ１，Ｓｃ２が重なる範囲の半分に低下するため画質が低下する領域となる。

　高解像度の領域のみを使用する場合、この解像度低下領域Ｓｃａｎ１ｏｆｆｓｅｔ，Ｓｃａｎ２ｏｆｆｓｅｔにより、水平方向のブランキング時間が増えて、明るさ（lm）の低下につながる。このため、発光点間隔dが、より狭くなるようにして、ブランキング時間をできるだけ低減することが望ましい。

　一方でビーム発光点間隔dが近いことで互いのビームの熱が干渉し、発光パワーが低下する影響もあるため最適化する必要がある。これらを考慮した場合、発光点間隔dの最適な間隔は、例えば、5乃至50um程度とすることが望ましい。

　モノリシックマルチビームLDからなるレーザビーム発生部２４ａでは、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２間の寸法で発生するずれ量を所望の走査軌道のずれに調整する光学調整が必要である。

　より具体的には、例えば、図１４で示されるように、レーザビーム発生部２４ａを回転して垂直方向のスクリーン１４上のスポットＳｐ１，Ｓｐ２のずれ量が1/2line（＝0.5line）になる点で固定する調整方法が挙げられる。ここで、垂直方向の画角が450mmとして投影画像１４ａの水平走査ライン数(垂直解像度)が600lineとしたとき、1lneの間隔Vline_stepは、Vline_step=450mm/600line=0.75mm/lineとなる。

　この場合、２の走査軌道の垂直方向の間隔を1/2lineすなわち0.75mm/2≒0.375mmに調整することで、２の走査軌道は互いの走査軌道に対して1/2lineずれた位置を走査し、垂直line間を、相互に別の走査軌道で埋めることができる。

　この調整を各RGBのレーザビーム発生部２４ａ毎に実施し、２の異なる走査軌道をもつRGBビーム群を実現する。それぞれ水平方向、および、垂直方向にずれた各ビームは、各位置にあった画素信号で個別変調される。

　また、図１５で示されるように、レーザビーム発生部２４ａのレーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２のそれぞれによりスクリーン１４上に投影されるレーザスポットｓｐ１，ｓｐ２の発光点間隔を垂直lineずれに一致するよう設計するようにしてもよい。

　ここで、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２の間隔として実現可能な最小寸法としてずれ量dを10umとした場合、さらに、光学倍率を考慮して寸法が決定される。例えば、光学倍率をMtとしたときに、Mt×d=m×Vline_step+1/2Vline_stepの関係を考慮するとずれ量dは、d=（m+1/2）Vline_step/Mtとなる。ここで、mは、垂直走査線間の間隔を調整する垂直走査線間隔係数である。このときずれ量dを、より狭くすることで、解像度低下領域Ｓｃａｎ１ｏｆｆｓｅｔ，Ｓｃａｎ２ｏｆｆｓｅｔを小さくすることができ、解像度を向上することが可能となる。尚、この方式の場合、ビーム間のずれは、水平方向は小さく、垂直方向に(m+1/2)line分のずれとなる。

　さらに、図１６の左下部における矢印で示されるように、レーザビーム発生部２４ａのレーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２それぞれによりスクリーン１４上に投影されるレーザスポットｓｐ１，ｓｐ２の発光点間隔を垂直lineずれに一致するよう回転させて斜め方向に配置するようにしてもよい。

　この場合、解像度低下領域Ｓｃａｎ１ｏｆｆｓｅｔ，Ｓｃａｎ２ｏｆｆｓｅｔは水平及び垂直の走査領域のブランキングの両方が増えることになる。投影画像１４ａを補正するために必要とされる画像メモリは、図１４で示されるように、垂直方向のずれ量が1/2lineとなることが望ましい。

　尚、レーザビーム発生部２４ａの構成としては、モノリシックマルチビームLDでなくてもよく、レーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２が、それぞれ個別に設けられたシングルビームダイオードを接着剤により接着した状態で複数用いるようにすることでの垂直解像度を向上することも原理的には可能である。

　ただし、この場合、実際には接着剤の固定が温度による熱膨張などで変動し、ずらしたはずのレーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２の出射方向がランダムにシフトし、例えば、図１７の右部で示されるように、各ビームに対してそれぞれのずれ量に応じた補正が必要となる恐れがある。すなわち、図１７の右部においては、スクリーン１４上において、レーザスポットｓｐ１１，ｓｐ１２となるようにレーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２の出射方向が設定されていたにも拘わらず、レーザスポットｓｐ１１’，ｓｐ１２’で示されるように、双方が独立して個別にシフトしてしまう恐れがある。

　これに対してモノリシックマルチビームLDを使用したレーザビーム発生部２４ａの場合、温度によりずれたとしても同じモノリシックマルチビームLDを使用したレーザダイオードＬＤ１，ＬＤ２間の出射方向については、一定の間隔が維持されており、ビーム同士はビームの相対位置が高精度に合っている。このため、ずれが発生しても、図１７の左部で示されるように、スクリーン１４上において、本来はレーザスポットｓｐ１，ｓｐ２に投影されるように調整されていても、レーザスポットｓｐ１’，ｓｐ２’へと変化するのみで、相互関係は維持されるので、補正による調整がより容易である。

　また、上述した、（m+1/N）lineにおける、垂直走査線間隔係数mの範囲は、実現される垂直解像度、すなわち、垂直方向のライン数から決まる。

　例えば、１種類の走査軌道で投影画像１４ａを描くのに使用可能な垂直方向の走査線本数をVline_single(VFOV(画像出力範囲内)の走査線本数)とするとき、複数の系統のレーザビームによる走査で実現可能な走査線本数Vline_multiは、Vline_multi(line)=(Vline_single-m)×Nのように表される。

　ここで、垂直走査線間隔係数mの上限値は、Vline_single以上の解像度が得られる条件とすると、(Vline_single-m)×N≧Vline_singleと表されることになるので、垂直走査線間隔係数mは、m≦Vline_single(1-1/N)として表現されることになる。ここで、垂直走査線間隔係数mの下限値は、走査線本数が最大になる条件なのでm=0となる。

　以上の構成により、駆動ミラー２７の走査速度を変えることなく、解像度を向上させることが可能となり、より高精細な投影画像１４ａを表示することが可能となる。結果として、プロジェクション装置により投影される投影画像を高解像度化することが可能となり、高画質化を実現することが可能となる。

　＜RGBの光軸のずれについて＞
　次に、各レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂの各光軸間のずれについて説明する。

　以上においては、各レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂを２系統以上にすることで、駆動ミラーの走査速度を変えることなく解像度を向上させる例について説明してきた。しかしながら、各レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂを組み上げると、実際には、それぞれの光軸にはずれが生じるのが一般的であり、各色の光源を２系統以上にすると、にじみによる影響がより大きくなる恐れがある。

　すなわち、各レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂが１系統である場合、図７で示されるようにレーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂを構成し、それぞれの光軸を調整しても、ずれが生じることにより、例えば、レーザスポットが、それぞれ図１８で示されるように照射されることがある。

　図１８は、図７のレーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂによりスクリーン１４に照射される、それぞれのレーザスポットｓｃｒ，ｓｃｇ，ｓｃｂの例を示しており、各マス目は画素（pixel）位置を示している。例えば、レーザスポットｓｃｒを基準とする場合、レーザスポットｓｃｒとレーザスポットｓｃｇとのオフセットｏｆｆｓｅｔ１、およびレーザスポットｓｃｒとレーザスポットｓｃｂとのオフセットｏｆｆｓｅｔ２が生じる。

　このオフセットｏｆｆｓｅｔ１，ｏｆｆｓｅｔ２は、レーザスポットｓｃｒを原点とした座標で表現すると、それぞれ（１，１），（１，－２）と表現される。

　より具体的には、例えば、図１９の左部で示されるように、本来の調整された状態でレーザビーム発生部２４ａが設けられたはずであるが、これがレーザビーム発生部２４ａ’で示されるように調整ずれdが発生した状態で設けられることがある。これにより、スクリーン１４までの光学倍率をMtとするとスクリーン１４上での、それぞれのビームスポットｓｐａ，ｓｐａ’間にはOffset（Beam shift）（＝Offset=d×Mt）からなるずれが生じる。従って、このようなずれが、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂのそれぞれで生じることで、例えば、本来は、同一の位置に投影されるべきレーザスポットｓｃ１，ｓｃ２，ｓｃ３が、図１９の右部で示されるように、異なる位置に投影されることがある。

　例えば、投影画像１４ａが、水平画角が800mm、垂直画角が450mm、720p（水平方向1280pixel×垂直720pixel（1pixel=0.625mm))であって、光学倍率500の系における光源の2umのずれ量dは、スクリーン上では1.0mmとなり3.2pixelのずれとして現れることになるので、大きな画質劣化となる。

　そこで、例えば、図１８で示されるようなオフセット（ｏｆｆｓｅｔ１，ｏｆｆｓｅｔ２）を測定し、レーザ光源部２４Ｒにより照射される、レーザスポットｓｃｒを基準として、レーザ光源部２４Ｇ，２４Ｂの、オフセットｏｆｆｓｅｔ１，ｏｆｆｓｅｔ２とされる位置に現実に存在すべき画素の信号を、それぞれレーザスポットｓｃｇ，ｓｃｂで照射するように補正することで、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂの光軸のずれを補正するようにしてもよい。

　＜本技術を適用したプロジェクション装置１１の第２の実施の形態の構成例＞
　次に、図２０を参照して、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂをテスト発光させて、光軸のずれを検出し、レーザ光源部２４Ｒにより照射されるレーザスポットにより形成される画素を基準としたとき、相対的なｏｆｆｓｅｔ１，ｏｆｆｓｅｔ２により求められる位置の画素信号を、レーザ光源部２４Ｇ，２４Ｂにより照射されるレーザスポットとして投影することで、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂのそれぞれのずれを補正するようにした、図１の本技術のプロジェクション装置１１の第２の実施の形態の構成例について説明する。尚、図２０において、図４のプロジェクション装置１１と同一の機能を備えた構成については、同一の符号、および同一の名称を付すものとし、適宜説明は省略するものとする。

　すなわち、図２０のプロジェクション装置１１において、図４におけるプロジェクション装置１１と異なる構成は、ダイクロイックミラー２６－２、およびコントローラ２１に代えて、ビームスプリッタ１０１およびコントローラ１０６を設けるようにし、さらに、フォトディテクタ（PD）１０２、切替部１０３、TIA（Trance Impedance Amplifier）１０４、およびADC（Analog Digital Converter）１０５を設けた点である。

　ビームスプリッタ１０１は、赤色のレーザビームの一部をPD１０２に向けて反射し、緑色のレーザビームの一部をPD１０２に向けて反射し、青色のレーザビームの一部をPD１０２に向けて透過する。

　PD１０２は、例えば、図２１で示されるように、水平方向および垂直方向に２×２の領域１０２ａ乃至１０２ｄに合計４分割されており、それぞれが光量に応じた信号電流を発生し、切替部１０３のスイッチ１０３ａ乃至１０３ｄに出力する。尚、PD１０２中の楕円は、PDに入射するレーザビームのスポット形状を示している。

　切替部１０３は、スイッチ１０３ａ乃至１０３ｄからなり、コントローラ１０６により制御されて、それぞれのオン、またはオフが制御される。これにより、PD１０２の領域１０２ａ乃至１０２ｄのそれぞれの信号電流を切り替えてTIA１０４に出力する。

　TIA１０４は、コントローラ１０６により制御されて、所定のレートで、信号電流を信号電圧に変換してADC１０５に出力する。

　ADC１０５は、TIA１０４より供給されてくるアナログ信号からなる信号電圧をデジタル信号に変換してコントローラ１０６に供給する。

　コントローラ１０６は、基本的にコントローラ２１と同一の機能を備えたものであるが、切替部１０３乃至ADC１０５を制御し、ずれを補正するためのさらなる機能を備えている。より具体的には、コントローラ１０６は、LD制御部１０６ａ、平均値算出部１０６ｂ、テスト発光制御部１０６ｃ、ミラー制御部１０６ｄ、メモリ１０６ｅ、および補正値算出部１０６ｆを備えている。

　LD制御部１０６ａは、メモリ１０６ｅに記憶された、補正値算出部１０６ｆにより算出されたレーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂの光軸のずれを補正するための補正値を用いて、入力画像信号における画素位置の画素信号を、光軸がずれることで、実際にずれて投影される画素位置の画素信号に補正して発光させるようにレーザドライバ２２を制御する。また、LD制御部１０６ａは、メモリ１０６ｅに記憶された、補正値算出部１０６ｆにより算出されたレーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂの光出力における検出値と、期待値との差分を補正するための補正値を用いて、入力画像信号における画素位置の画素信号を、実際に投影される画素の光出力を期待値通りの光出力になるように発光させるようにレーザドライバ２２を制御する。すなわち、LD制御部１０６ａは、光軸のずれを補正する補正値と、光出力を補正するための補正値との２つの補正値を利用して、光軸ずれと光出力とを補正するように、レーザドライバ２２を制御して、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂよりレーザビームを発光させる。

　平均値算出部１０６ｂは、LD制御部１０６ａにより出力される画素信号のフレーム単位の輝度の平均値を算出し、テスト発光制御部１０６ｃに供給する。

　テスト発光制御部１０６ｃは、ミラー制御部１０６ｄより供給される、ミラードライバ２３が制御されるミラー同期信号に基づいて、駆動ミラー２７の動作方向を特定し、補正値を算出するためのテスト発光すべきタイミングを決定して、平均値算出部１０６ｂより供給されるフレームの輝度の平均値に応じた発光強度で、テスト発光するようにLD制御部１０６ａに指令を出力する。このとき、テスト発光制御部１０６ｃは、切替部１０３におけるスイッチ１０３ａ乃至１０３ｄのオン、またはオフを制御し、TIA１０４の増幅レートを制御し、さらに、ADC１０５に電圧信号の測定タイミングを制御する。

　補正値算出部１０６ｆは、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂのそれぞれのテスト発光によりPD１０２で受光されるADC１０５により測定された領域１０２ａ乃至１０２ｄのそれぞれの領域の信号電圧に基づいて、それぞれのレーザビームの位置を特定し、相互の位置関係からオフセットを求め、オフセットに応じた光軸ずれを補正する補正値を算出して、補正情報としてメモリ１０６ｅに記憶させる。また、補正値算出部１０６ｆは、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂのそれぞれのテスト発光によりPD１０２で受光されるADC１０５により測定された領域１０２ａ乃至１０２ｄのそれぞれの領域の信号電圧に基づいて、レーザビームの光出力を特定し、期待値との差分（ずれ）に応じて、実際に投影される光出力と、期待値との差分を補正する補正値を算出して、補正情報としてメモリ１０６ｅに記憶させる。

　＜発光制御処理＞
　次に、図２２のフローチャートを参照して、図２０のプロジェクション装置１１における発光制御処理について説明する。

　入力画像信号が入力され、順次画素信号に応じたラスタスキャンによる走査によるスクリーン上の投影を開始するにあたり、駆動ミラー２７が走査軌道の先端部に投影できる状態に傾けられている状態から処理が開始される。

　ステップＳ１１において、テスト発光制御部１０６ｃは、テスト発光位置をランダムに設定する。テスト発光位置は、駆動ミラー２７の動作により投影画像１４ａの周囲のブランキング領域のいずれかに設定する。例えば、図２３で示されるように、投影画像１４ａを構成が可能な領域Ｚ１のうち、実際に画像が構成される領域Ｚ２の周囲の領域であり、例えば、領域Ｚ１１乃至Ｚｎのうちのいずれかの領域が、テスト発光位置に設定される。すなわち、領域Ｚ１内における領域Ｚ２以外の領域は、視聴する際に視聴者により意識され難い領域であるので、テスト発光されるレーザスポットが照射されても認識され難い。そこで、例えば、この領域Ｚ１１乃至Ｚｎのいずれかの領域が、ランダムにテスト発光位置として設定される。

　ステップＳ１２において、テスト発光制御部１０６ｃおよびLD制御部１０６ａは、ミラー制御部１０６ｄに問い合わせて、現在の駆動ミラー２７の照射方向から走査位置を特定する。

　ステップＳ１３において、テスト発光制御部１０６ｃは、走査位置が投影画像１４ａの表示領域であるか否かを判定する。ステップＳ１３において、走査位置が投影画像１４ａの表示領域であった場合、処理は、ステップＳ１４に進む。

　ステップＳ１４において、LD制御部１０６ａは、メモリ１０６ｅに記憶されている補正値に基づいて、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂの光軸のずれに応じて入力画像信号として投影すべき画素位置を補正する。

　ステップＳ１５において、平均値算出部１０６ｂは、補正された画素位置の画像信号より輝度を抽出し、１フレームの画素信号の輝度の平均値を算出するために加算する。

　ステップＳ１６において、LD制御部１０６ａは、レーザドライバ２２を制御して、入力画像信号に基づいて、画素位置が補正された画素信号を、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂで発光させる。

　ステップＳ１７において、ミラー制御部１０６ｄは、１フレームの走査が完了したか否かを判定し、完了していない場合、処理は、ステップＳ１２に戻る。すなわち、１フレーム分の処理が完了するまで、ステップＳ１２乃至Ｓ３４の処理が繰り返される。そして、ステップＳ１７において、１フレーム分の処理が完了したと見なされると、そのタイミングで、駆動ミラー２７の照射方向を次フレームの画像出力に備えてフレーム先頭位置、に所定角度だけ変化させ、処理は、ステップＳ３５に進む。

　また、ステップＳ３５において、LD制御部１０６ａは、画像出力制御の停止指示が出ているか否かを判定し、停止指示がない場合、処理は、ステップＳ１１に戻る。そして、ステップＳ３５において、画像出力の停止指示が出たと判定された場合、処理は終了する。

　一方、ステップＳ１３において、走査位置が投影画像１４ａの表示領域ではない場合、処理は、ステップＳ１８に進む。

　ステップＳ１８において、テスト発光制御部１０６ｃは、ミラー制御部１０６ｄへの問い合わせにより特定された走査位置がテスト発光位置として決定された領域内であるか否かを判定する。

　ステップＳ１８において、特定された走査位置がテスト発光位置として決定された領域内ではないと判定された場合、テスト発光は行われず、処理は、ステップＳ１７に進む。

　ステップＳ１８において、テスト発光位置であると判定された場合、処理は、ステップＳ１９に進む。

　ステップＳ１９において、LD制御部１０６ａは、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂのいずれかにおいて、LDパワー制御用のテスト発光を実行する必要があるか否かを判定する。ステップＳ１９において、例えば、同一フレーム内でLDパワー制御用のテスト発光がなされていないとき、LDパワー制御用のテスト発光を実行する必要があると判定される。このような場合、処理は、ステップＳ２０に進む。

　ステップＳ２０において、テスト発光制御部１０６ｃは、平均値算出部１０６ｂを制御して、これまでの同一フレーム内における画素値の輝度の平均値を算出させ、輝度の平均値に基づいてテスト発光時の発光強度を特定する。すなわち、テスト発光制御部１０６ｃは、例えば、図２４で示されるように、同一フレームにおける画素値の輝度の平均値（Output Video avg(%)）に対して、テスト発光における発光強度（Test emission power(mV)）を設定するようにしてもよい。すなわち、このようにフレームの画素値の輝度の平均値が低く、全体として暗い画像の場合については、テスト発光の強度も低く暗めに設定されるようにし、逆に、輝度の平均値が高く、全体として明るい画像の場合については、テスト発光の強度も高く明るめに設定されるようにする。このように発光強度を設定することで、視聴者に、テスト発光があったことを、より認識されにくい明るさに設定することが可能となる。

　ステップＳ２１において、テスト発光制御部１０６ｃは、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂのいずれかにおいて、測定対象となるレーザ光源部２４を発光させることなく、測定対象となるPD１０２の領域１０２ａ乃至１０２ｄのすべての領域の信号電流を測定する。すなわち、この場合、テスト発光制御部１０６ｃは、測定対象となる領域１０２ａ乃至１０２ｄの合計を測定できるように、切替部１０３におけるスイッチ１０３ａ乃至１０３ｄの全てをオンに設定すると共に、対応するタイミングにおいてADC１０５を制御して信号電圧を測定させ、測定結果を取得する。

　ステップＳ２２において、テスト発光制御部１０６ｃは、測定対象となるレーザ光源部２４を発光させる。

　ステップＳ２３において、テスト発光制御部１０６ｃは、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂのいずれかにおいて、測定対象となるレーザ光源部２４が発光したときの、測定対象となるPD１０２の領域１０２ａ乃至１０２ｄのすべての信号電流を測定する。このときも、テスト発光制御部１０６ｃは、測定対象となる領域１０２ａ乃至１０２ｄのすべての信号電流を測定できるように、切替部１０３におけるスイッチ１０３ａ乃至１０３ｄの全てをオンに設定すると共に、対応するタイミングにおいてADC１０５を制御して信号電圧を測定させ、測定結果を取得する。

　ステップＳ２４において、補正値算出部１０６ｆは、テスト発光させたときのレーザビームのパワー（光出力）に対する期待値と測定結果の差分を演算する。すなわち、補正値算出部１０６ｆは、発光状態の測定値から未発光状態のoffset値を間引き、さらに、期待値との差分を用いて補正値（補正係数）を計算し、メモリ１０６ｅに記憶する。

　ステップＳ２５において、LD制御部１０６ａは、メモリ１０６ｅに記憶された期待値との差分から求められる補正値（補正係数）に基づいて、発光パワーを補正し、処理は、ステップＳ１７に進む。以降においては、LDパワー制御用テスト発光が繰り返されることにより、この補正値（補正係数）が、順次、更新されることになる。

　より具体的な手法としては、例えば、以降の処理においては、補正値算出部１０６ｆは、このLDパワー制御用テスト発光により求められた差分に相当する分だけ画素信号を加算する値を補正係数として算出して、メモリ１０６ｅに記憶する。そして、LD制御部１０６ａが、メモリ１０６ｅに記憶されている補正係数を読み出して、入力画像信号における画素信号に加算することで、実際に必要なパワー（光出力）が得られる画素信号に変換して、レーザ光源部２４において変調出力させるようにする。このような制御により、レーザ光源部２４により出力されるレーザビームのパワー（光出力）が補正される。

　このようにレーザ光源部２４のパワー（光出力）が制御されることにより、投影画像の明るさ（光出力）が、画素信号により期待される明るさと異なるものになるようなことがなくなり、画素信号に忠実な明るさでスクリーン１４上に投影することが可能となる。結果として、プロジェクション装置１１により投影される投影画像１４ａを高画質化させることが可能となる。

　ステップＳ１９において、LDパワー制御用のテスト発光を実行する必要がないと判定された場合、処理は、ステップＳ２６に進む

　ステップＳ２６において、テスト発光制御部１０６ｃは、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂのいずれかにおいて、光軸補正を実行する必要があるか否かを判定する。例えば、同一フレーム内で、光軸補正がなされているか否かに基づいて光軸補正の有無が判定され、同一フレーム内で既に光軸補正がなされているような場合、必要ないと判定されて、処理は、ステップＳ１７に進む。

　一方、ステップＳ２６において、光軸補正を実行する必要があると判定された場合、処理は、ステップＳ２７に進む。

　ステップＳ２７において、テスト発光制御部１０６ｃは、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂのいずれか、測定対象となるレーザ光源部２４を発光させることなく、未測定の測定対象となるPD１０２の領域１０２ａ乃至１０２ｄのいずれかの領域の信号電流を測定する。すなわち、この場合、テスト発光制御部１０６ｃは、測定対象となる領域１０２ａ乃至１０２ｄのいずれかを測定できるように、切替部１０３におけるスイッチ１０３ａ乃至１０３ｄの対応するスイッチのみをオンに設定すると共に、対応するタイミングにおいてADC１０５を制御して信号電圧を測定させ、測定結果を取得する。

　ステップＳ２８において、テスト発光制御部１０６ｃは、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂのいずれか、測定対象となるレーザ光源部２４を発光させる。テスト発光のパワーは、固定でPD１０２の領域１０２ａ乃至１０２ｄの各測定において同一の条件で測定できるようにする。視認性を下げるために発光パワーを下げ、検出系のゲインを高ゲイン切り替えることで安定した測定が実現できる。テスト発光のパワーはステップＳ２０の処理と同じく、投影画像１４ａに同期した明るさで実行することも可能である。

　ステップＳ２９において、テスト発光制御部１０６ｃは、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂのいずれか、測定対象となるレーザ光源部２４が発光したときの、未測定の測定対象となるPD１０２の領域１０２ａ乃至１０２ｄのいずれかの信号電流を測定する。このときも、テスト発光制御部１０６ｃは、測定対象となる領域１０２ａ乃至１０２ｄのいずれかの信号電流を測定できるように、切替部１０３におけるスイッチ１０３ａ乃至１０３ｄの対応するスイッチのみをオンに設定すると共に、対応するタイミングにおいてADC１０５を制御して信号電圧を測定させ、測定結果を取得する。

　ステップＳ３０において、テスト発光制御部１０６ｃは、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂの補正値を算出することが可能であるか否かを判定する。すなわち、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂのそれぞれについてテスト発光され、さらに、PD１０２において領域１０２ａ乃至１０２ｄのそれぞれについての測定結果が求められた状態であるとき補正値を算出することが可能となる。したがって、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂのそれぞれのテスト発光時の、PD１０２の領域１０２ａ乃至１０２ｄのそれぞれの測定結果である合計１２個のパラメータからなる値が測定されているか否かに基づいて、補正値が算出可能であるか否かが判定される。

　ステップＳ３０において、例えば、補正値が算出可能ではないと判定された場合、すなわち、合計１２個のパラメータが揃っていない場合、処理は、ステップＳ１７に進む。

　ステップＳ３０において、例えば、補正値が算出可能と判定された場合、すなわち、合計１２個のパラメータが揃っている場合、処理は、ステップＳ３１に進む。

　ステップＳ３１において、補正値算出部１０６ｆは、PD１０２上におけるレーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂのそれぞれのレーザスポットの重心位置を算出する。レーザスポットのPD１０２上の形状は、例えば、図２１の左下部で示されるような楕円形状であることがわかっている。例えば、図２１の左下部における楕円形における長径がByであり、短径がBxとしてわかっているものとする場合、かつ、図２１におけるPD１０２における領域１０２ａ乃至１０２ｄのそれぞれの初期値がA乃至Dであるものとした場合、重心位置（X，Y）は、（X，Y）＝（Bx×Xoff/TTL，By×Yoff/TTL）として求められる。ここで、Xoffは、（（A+B）－（C+D））であり、Yoffは、（（A+D）－（B+C））であり、TTL＝A+B+C+Dである。

　補正値算出部１０６ｆは、例えば、図２５の右部で示されるように、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４ＢのPD１０２上のレーザスポットｓｐ１，ｓｐ２，ｓｐ３のそれぞれについて、上述した重心位置を算出する。

　ステップＳ３２において、補正値算出部１０６ｆは、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４ＢのPD１０２上のレーザスポットｓｐ１，ｓｐ２，ｓｐ３の重心位置の過去と現在の差分を算出する。ここで、差分は、過去のテスト発光で測定されたレーザスポットｓｐ１，ｓｐ２，ｓｐ３の重心位置と、今回のテスト発光で測定されたレーザスポットｓｐ１，ｓｐ２，ｓｐ３の重心位置との差分Δｓｐ１，Δｓｐ２，Δｓｐ３を求める。ただし、最初の処理では、過去のレーザスポットの重心位置が存在しないため、差分Δｓｐ１，Δｓｐ２，Δｓｐ３は発生せず、この処理はスキップされて、２回目以降のテスト発光時の処理となる。

　ステップＳ３３において、補正値算出部１０６ｆは、差分に基づいて補正値となる係数を算出（更新）する。

　ステップＳ３４において、補正値算出部１０６ｆは、求められた補正係数からなる補正値の組を補正情報としてメモリ１０６ｅに記憶させる。

　より詳細には、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４ＢのPD１０２上のレーザスポットｓｐ１，ｓｐ２，ｓｐ３の重心位置が、それぞれｓｐ１（ｘ１，ｙ１），ｓｐ２（ｘ２，ｙ２），ｓｐ３（ｘ３，ｙ３）である場合、以下のように補正値が求められる。

　すなわち、レーザスポットｓｐ１を原点（０，０）にするとき、レーザスポットｓｐ２，ｓｐ３の座標は、それぞれｓｐ１（０，０），ｓｐ２（ｘ２－ｘ１，ｙ２－ｙ１），ｓｐ３（ｘ３－ｘ１，ｙ３－ｙ１）で表される。

　ここでは、PD１０２上のレーザスポットｓｐ１，ｓｐ２，ｓｐ３に対応するスクリーン１４上の投影画像１４ａにおけるｓｐ１に対応する画素位置を原点とするときの画素位置ｓｃ１，ｓｃ２，ｓｃ３は、それぞれ画素位置ｓｃ１（０，０），ｓｃ２（ｃｏｍｐ２ｘ，ｃｏｍｐ２ｙ），ｓｃ３（ｃｏｍｐ３ｘ，ｃｏｍｐ３ｙ）であるものとする。

　ここで、ｃｏｍｐ２ｘは、PD１０２上のレーザスポットｓｐ２のレーザビームで投影されるスクリーン１４上の画素位置ｓｃ２のｘ座標であり、同様に、ｃｏｍｐ２ｙは、そのｙ座標である。同様に、ｃｏｍｐ３ｘ，ｃｏｍｐ３ｙは、PD１０２上のレーザスポットｓｐ３のレーザビームで投影されるスクリーン１４上の画素位置ｓｃ３のｘ座標およびｙ座標である。

　このとき、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂがそれぞれ投影すべき画素位置への変換係数となる補正値Ｃｒ，Ｃｇ，Ｃｂは、それぞれＣｒ（０，０）、Ｃｇ（ｃｏｍｐ２ｘ／（ｘ２－ｘ１），ｃｏｍｐ２ｙ／（ｙ２－ｙ１））、Ｃｂ（ｃｏｍｐ３ｘ／（ｘ３－ｘ１），ｃｏｍｐ３ｙ／（ｙ３－ｙ１））とされる。

　このように求められた変換係数となる補正値Ｃｒ，Ｃｇ，Ｃｂが最初の処理で補正値として求められる。

　また、上述した、ステップＳ３２において求められる差分Δｓｐ１，Δｓｐ２，Δｓｐ３は以下のように求められる。

　尚、以降においては、新たなテスト発光で求められるレーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４ＢのPD１０２上のレーザスポットｓｐ１’，ｓｐ２’，ｓｐ３’を、それぞれｓｐ１’（ｘ１’，ｙ１’），ｓｐ２’（ｘ２’，ｙ２’），ｓｐ３’（ｘ３’，ｙ３’）とし、過去のレーザスポットｓｐ１，ｓｐ２，ｓｐ３を、それぞれｓｐ１（ｘ１，ｙ１），ｓｐ２（ｘ２，ｙ２），ｓｐ３（ｘ３，ｙ３）として説明を進めるものとする。

　新たなレーザスポットｓｐ１’（ｘ１’，ｙ１’），ｓｐ２’（ｘ２’，ｙ２’），ｓｐ３’（ｘ３’，ｙ３’）の座標は、ｓｐ１’を原点（０，０）とした場合、ｓｐ１’（０，０），ｓｐ２’（ｘ２’－ｘ１’，ｙ２’－ｘ１’），ｓｐ３’（ｘ３’－ｘ１’，ｙ３’－ｙ１’）に変換される。

　これにより、差分Δｓｐ１，Δｓｐ２，Δｓｐ３は、ｓｐ１’が基準とされることにより、Δｓｐ１（０，０），Δｓｐ２（Δｘ２＝（ｘ２’－ｘ１’）－（ｘ２－ｘ１），Δｙ２＝（ｙ２’－ｙ１’）－（ｙ２－ｙ１）），Δｓｐ３（Δｘ３＝（ｘ３’－ｘ１’）－（ｘ３－ｘ１），Δｙ３＝（ｙ３’－ｙ１’）－（ｙ３－ｙ１））となる。

　この結果、補正値Ｃｒ，Ｃｇ，Ｃｂは、それぞれ更新されて、Ｃｒ’（０，０）、Ｃｇ’（Δｘ２×ｃｏｍｐ２ｘ／（ｘ２－ｘ１），Δｙ２×ｃｏｍｐ２ｙ／（ｙ２－ｙ１））、Ｃｂ’（Δｘ３×ｃｏｍｐ３ｘ／（ｘ３－ｘ１），Δｙ３×ｃｏｍｐ３ｙ／（ｙ３－ｙ１））とされる。

　さらに、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂにおいて、入力画像信号の画素位置が、それぞれ（ｘ，ｙ）である場合、ステップＳ１５の処理により、LD制御部１０６ａは、補正値Ｃｒ，Ｃｇ，Ｃｂが、それぞれＣｒ（ｃｒｘ，ｃｒｙ），Ｃｇ（ｃｇｘ，ｃｇｙ），Ｃｂ（ｃｂｘ，ｃｂｙ）である場合、実際発光すべき画素位置を（ｘ，ｙ）、（ｘ×ｃｇｘ，ｙ×ｃｇｙ）、（ｘ×ｃｂｘ，ｙ×ｃｂｙ）とすることで補正する。

　以上の処理により、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂの光軸のぞれぞれの重心位置間の関係、すなわち、オフセットに応じて、補正値を算出して、入力画像信号に対応した画素位置を補正することにより、光軸のずれを補正することが可能となる。さらに、補正値は、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂの光軸のぞれぞれの重心位置を繰り返し測定し、過去の位置との差分に応じて更新するようにしているので、温度変化など光軸のずれに変化が生じるようなことがあっても、適切な補正値を設定することが可能となる。結果として、RGBのレーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂの光軸のずれにより生じる色のにじみなどによる画質の低下を抑制することが可能となり、結果として、プロジェクション装置１１により投影される投影画像１４ａを高画質化することが可能となる。

　また、この場合、例えば、図２６で示されるようなタイムチャートで処理がなされることになる。すなわち、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂのそれぞれのテスト発光による対応するビームスポットｓｐ１，ｓｐ２，ｓｐ３について、時刻ｔ１１乃至ｔ１２，時刻ｔ１３乃至ｔ１４，時刻ｔ１５乃至ｔ１６のそれぞれでステップＳ２０乃至Ｓ２５の処理が繰り返されて、PD１０２における領域１０２ａ乃至１０２ｄの４か所の測定結果が求められ、時刻ｔ１７乃至ｔ１８において、ステップＳ２６乃至Ｓ２９の処理により補正値を算出（更新）するようにすることができる。

　さらに、テスト発光において、レーザ光源部２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂを発光させる際のパルス幅については、レーザビーム発生部２４ａの変調の安定性と、PD１０２の領域１０２ａ乃至１０２ｄのそれぞれの光量に応じた信号電圧を測定する際の応答速度との関係により決定する必要がある。すなわち、例えば、図２７の左部で示されるように、時刻ｔ１乃至ｔ２においては、パルス波形が不安定であるため、このような特性である場合、時刻ｔ１乃至ｔ３として、安定状態が長いパルス波形にして測定をすることが望ましい。ただし、図２７の右部で示されるように、短時間である時刻ｔ１１乃至ｔ１２であっても波形として安定していれば、測定が可能である限り、この時間帯での測定でもよい。

　以上においては、テスト発光に際して、その発光強度を、そのフレームにおける平均画素値に基づいて設定する例について説明してきたが、視聴者に認識し難い発光強度にすることができれば、その他の方法でもよく、例えば、投影画像１４ａにより表現されるシーンに応じて変化させるようにしてもよく、例えば、夜空に上がる花火を表示するような場合については、比較的強い強度にしてもよい。

　また、明るい画像の際には発光強度を高くし、暗い画像の際には発光強度を低くするようにしてもよい。さらに、各RGBでテスト発光を切り替える場合、それぞれ出力画像に応じて個別にテスト発光値が設定されるようにしてもよい。すなわち、例えば、明るい緑色の画像のときには、緑色（G）のテスト発光強度を強くし、その他の赤色（R）および青色（B）の発光強度は弱くするようにしてもよい。さらに、人間の目の視感度から考慮して、最も感度の高い緑色の画像のみで発光強度を決定するようにしてもよい。また、テスト発光の位置をランダムに変更することで同一位置での周期的な繰り返し発光を抑制し、人間の目の視認性を低下させることが可能となる。

　さらに、光軸のずれは、高温であるほど大きくなる傾向があるため、レーザビームの発行頻度や、レーザビーム発生部２４ａの温度に応じて、テスト発光の発生頻度を変化させるようにしてもよく、例えば、高温の場合については、頻繁にテスト発光を行い、低温の場合については、テスト発光の頻度を低下させるようにしてもよい。さらに、本実施の形態の構成例では、”軸ずれ”、および、”光出力の期待値とのずれ（差分）”の２つのずれを補正する例について説明してきたが、”軸ずれ”、および、”光出力の期待値とのずれ（差分）”の少なくともいずれかを補正するだけでも、投影画像を高画質化することは可能であり、このうち”光出力の期待値とのずれ（差分）”を補正するだけであれば、PD１０２は、４分割する必要はなく、全体として光量に応じた信号電圧が測定できればよい。

　また、以上においては、プロジェクションシステム１におけるプロジェクション装置１１を例として説明してきたが、プロジェクション装置１１により投影可能なものであれば、プロジェクションシステム１以外の構成であってもよく、例えば、プロジェクション装置１１により投影画像１４ａを自動車のフロントウィンドウに投影したり、航空機などの操縦士などが使用するHUD（Head Up Display）に投影するようにしてもよい。

　＜ソフトウェアにより実行させる例＞
　ところで、上述した一連の処理は、ハードウェアにより実行させることもできるが、ソフトウェアにより実行させることもできる。一連の処理をソフトウェアにより実行させる場合には、そのソフトウェアを構成するプログラムが、専用のハードウェアに組み込まれているコンピュータ、または、各種のプログラムをインストールすることで、各種の機能を実行することが可能な、例えば汎用のパーソナルコンピュータなどに、記録媒体からインストールされる。

　図２８は、汎用のパーソナルコンピュータの構成例を示している。このパーソナルコンピュータは、CPU(Central Processing Unit)１００１を内蔵している。CPU１００１にはバス１００４を介して、入出力インタ-フェイス１００５が接続されている。バス１００４には、ROM(Read Only Memory)１００２およびRAM(Random Access Memory)１００３が接続されている。

　入出力インタ-フェイス１００５には、ユーザが操作コマンドを入力するキーボード、マウスなどの入力デバイスよりなる入力部１００６、処理操作画面や処理結果の画像を表示デバイスに出力する出力部１００７、プログラムや各種データを格納するハードディスクドライブなどよりなる記憶部１００８、LAN（Local Area Network）アダプタなどよりなり、インターネットに代表されるネットワークを介した通信処理を実行する通信部１００９が接続されている。また、磁気ディスク（フレキシブルディスクを含む）、光ディスク（CD-ROM(Compact Disc-Read Only Memory)、DVD(Digital Versatile Disc)を含む）、光磁気ディスク（ＭＤ(Mini Disc)を含む）、もしくは半導体メモリなどのリムーバブルメディア１０１１に対してデータを読み書きするドライブ１０１０が接続されている。

　CPU１００１は、ROM１００２に記憶されているプログラム、または磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、もしくは半導体メモリ等のリムーバブルメディア１０１１ら読み出されて記憶部１００８にインストールされ、記憶部１００８からRAM１００３にロードされたプログラムに従って各種の処理を実行する。RAM１００３にはまた、CPU１００１が各種の処理を実行する上において必要なデータなども適宜記憶される。

　以上のように構成されるコンピュータでは、CPU１００１が、例えば、記憶部１００８に記憶されているプログラムを、入出力インタフェース１００５及びバス１００４を介して、RAM１００３にロードして実行することにより、上述した一連の処理が行われる。

　コンピュータ（CPU１００１）が実行するプログラムは、例えば、パッケージメディア等としてのリムーバブルメディア１０１１に記録して提供することができる。また、プログラムは、ローカルエリアネットワーク、インターネット、デジタル衛星放送といった、有線または無線の伝送媒体を介して提供することができる。

　コンピュータでは、プログラムは、リムーバブルメディア１０１１をドライブ１０１０に装着することにより、入出力インタフェース１００５を介して、記憶部１００８にインストールすることができる。また、プログラムは、有線または無線の伝送媒体を介して、通信部１００９で受信し、記憶部１００８にインストールすることができる。その他、プログラムは、ROM１００２や記憶部１００８に、あらかじめインストールしておくことができる。

　なお、コンピュータが実行するプログラムは、本明細書で説明する順序に沿って時系列に処理が行われるプログラムであっても良いし、並列に、あるいは呼び出しが行われたとき等の必要なタイミングで処理が行われるプログラムであっても良い。

　＜プロジェクションシステムモジュールとして電子機器に適用する例＞
　さらに、以上においては、プロジェクションシステム１が単独で構成される例について説明してきたが、例えば、プロジェクションシステム１のスクリーン１４を除いた構成を１チップ程度の構成からなるプロジェクションシステムモジュールとするようにして、携帯電話機、スマートフォン、携帯端末、携帯型の撮像装置などの電子機器に組み込むようにし、例えば、それぞれの電子機器に記憶されている画像や通信により受信される画像を投影するようにしてもよい。

　図２９は、図１のスクリーン１４を除いたプロジェクションシステム１としての機能が１チップにモジュール化されたプロジェクションシステムモジュール１１１１を含む電子機器の構成例を示したものである。ここで、CPU１０３１乃至リムーバブルメディア１０４１の機能および構成は、CPU１００１乃至リムーバブルメディア１０１１と略同機能であるので、その説明は省略するものとする。ただし、図２９における電子機器のCPU１０３１乃至リムーバブルメディア１０４１は、CPU１００１乃至リムーバブルメディア１０１１より携帯性に優れた小型化されたものとされるのが一般的である。尚、プロジェクションシステムモジュール１１１１については、図１のプロジェクションシステム１と同一の機能であるので、その説明は省略するものとする。

　また、本明細書において、システムとは、複数の構成要素（装置、モジュール（部品）等）の集合を意味し、すべての構成要素が同一筐体中にあるか否かは問わない。したがって、別個の筐体に収納され、ネットワークを介して接続されている複数の装置、及び、１つの筐体の中に複数のモジュールが収納されている１つの装置は、いずれも、システムである。

　なお、本技術の実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本技術の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。

　例えば、本技術は、１つの機能をネットワークを介して複数の装置で分担、共同して処理するクラウドコンピューティングの構成をとることができる。

　また、上述のフローチャートで説明した各ステップは、１つの装置で実行する他、複数の装置で分担して実行することができる。

　さらに、１つのステップに複数の処理が含まれる場合には、その１つのステップに含まれる複数の処理は、１つの装置で実行する他、複数の装置で分担して実行することができる。

　尚、本技術は、以下のような構成も取ることができる。
＜１＞　入力画像の画素信号に応じたレーザビームを発生する光源ユニットと、
　前記光源ユニットより発生されたレーザビームを反射しつつ、走査しながらスクリーン上に投影する１つの走査部と、
　前記光源ユニットにより発生される前記レーザビームの光出力を検出する検出部と、
　前記検出部により検出された光出力と、前記レーザビームの光出力の期待値との差分に基づいて、前記レーザビームの光出力を補正する補正係数を算出する補正係数算出部と、
　前記補正係数に基づいて、前記入力画像における画素信号を補正する補正部と、
　前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生を制御するテスト発光制御部とを含み、
　前記補正係数算出部は、前記テスト発光制御部により制御されて、テスト発光位置がランダムに設定され、前記テスト発光用のレーザビームの光出力が投影している投影画像に連動して制御され、前記レーザビーム発生部より、前記テスト発光用のレーザビームが発生されたとき、前記検出部により検出された光出力に基づいて、前記レーザビームの光出力の期待値との差分を補正する補正係数を算出する
　投影装置。
＜２＞　前記テスト発光制御部は、前記走査部により前記スクリーン上で走査されている位置が、投影画像に対するブランキング領域であるとき、前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生させる
　＜１＞に記載の投影装置。
＜３＞　前記テスト発光制御部は、前記ブランキング領域に含まれる、複数の一部領域のいずれかをランダムにテスト発光位置として設定し、
　前記走査部により前記スクリーン上で走査されている位置が、投影画像に対するブランキング領域であって、前記テスト発光位置として設定された領域であるとき、前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生させる
　＜１＞または＜２＞に記載の投影装置。
＜４＞　前記テスト発光以外のレーザビームが前記レーザビーム発生部より発生されるとき、前記スクリーン上の画素の輝度のフレーム単位の平均値を算出する平均値算出部をさらに含み、
　前記テスト発光制御部は、前記レーザビーム発生部を制御して、前記平均値に基づいた輝度で、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームを発生させる
　＜１＞および＜３＞のいずれかに記載の投影装置。
＜５＞　前記テスト発光制御部は、前記レーザビーム発生部を制御して、入力画像信号により前記スクリーン上に投影される画像の色の傾向に応じた発光強度で、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームを発生させる
　＜１＞乃至＜４＞のいずれかに記載の投影装置。
＜６＞　前記テスト発光制御部は、前記レーザビーム発生部の発光頻度、および温度に基づいて、前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生させる
　＜１＞乃至＜５＞のいずれかに記載の投影装置。
＜７＞　前記検出部は、
　　前記レーザビームの光量を検出する光量検出部を含み、
　　前記光量検出部により検出された光量に基づいて、前記レーザビームの光出力を検出する
　＜１＞乃至＜６＞のいずれかに記載の投影装置。
＜８＞　前記補正係数算出部は、
　　前記検出部において検出された前記レーザビームの前記光出力と、前記スクリーン上に投影される前記レーザビームの光出力の前記期待値との差分を求め、前記差分に基づいて、投影すべき画素信号を、前記レーザビーム発生部により発生されるレーザビームが実際に投影される光出力に対応した画素信号に変換する補正係数を補正値として算出する
　＜１＞乃至＜７＞のいずれかに記載の投影装置。
＜９＞　前記補正部は、前記スクリーン上に投影される画素信号を、前記補正値である補正係数により補正し、補正された前記画素信号を、前記レーザビーム発生部に供給し、
　前記レーザビーム発生部は、補正された前記画素信号に基づいて、前記レーザビームを発生する
　＜８＞に記載の投影装置。
＜１０＞　前記補正係数算出部は、前記レーザビームの光出力の期待値と、前記検出部において検出された光出力との差分に基づいて、前記補正係数を繰り返し算出することで、前記補正係数を更新する
　＜８＞に記載の投影装置。
＜１１＞　前記補正部は、前記入力画像における前記画素信号を、更新された、前記補正係数により補正し、補正された画素信号を、前記レーザビーム発生部に供給し、
　前記レーザビーム発生部は、補正された画素信号に基づいて、前記レーザビームを発生する
　＜１０＞に記載の投影装置。
＜１２＞　前記レーザビーム発生部、前記コリメータレンズ、および前記光源ユニットは、RGBのそれぞれについて設けられており、
　前記検出部は、前記RGBのそれぞれの光出力を検出し、
　前記補正係数算出部は、前記検出部により検出された、RGBのそれぞれの光出力と、光出力の期待値との差分を求め、前記差分に基づいて、前記スクリーン上に投影される画素信号を補正する補正係数を算出し、
　前記補正部は、前記入力画像信号の画素信号を、前記補正係数に基づいて、変換することで補正する
　＜１＞乃至＜１１＞のいずれかに記載の投影装置。
＜１３＞　前記補正係数算出部は、前記検出部により検出された、RGBのそれぞれの光出力と、前記光出力の期待値との差分を求め、前記差分に基づいて、前記スクリーン上に投影される画素信号を補正する補正係数を繰り返し算出することで、前記補正係数を更新する
　＜１２＞に記載の投影装置。
＜１４＞　入力画像の画素信号に応じたレーザビームを発生する光源ユニットと、
　前記光源ユニットより発生されたレーザビームを反射しつつ、走査しながらスクリーン上に投影する１つの走査部と、
　前記光源ユニットにより発生される前記レーザビームの光出力を検出する検出部と、
　前記検出部により検出された光出力と、前記レーザビーム出力の期待値との差分に基づいて、前記レーザビーム出力を補正する補正係数を算出する補正係数算出部と、
　前記補正係数に基づいて、前記入力画像における画素信号を補正する補正部と、
　前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生を制御するテスト発光制御部とを含み、
　前記補正係数算出部は、前記テスト発光制御部により制御されて、テスト発光位置がランダムに設定され、前記テスト発光用のレーザビームの光出力が投影している投影画像に連動して制御され、前記レーザビーム発生部より、前記テスト発光用のレーザビームが発生されたとき、前記検出部により検出された光出力に基づいて、前記レーザビームの光出力の期待値との差分を補正する補正係数を算出する投影装置の投影方法であって、
　前記光源ユニットが、入力画像の画素信号に応じたレーザビームを発生し、
　前記走査部が、前記光源ユニットより発生されたレーザビームを反射しつつ、走査しながらスクリーン上に投影し、
　前記検出部が、前記光源ユニットにより発生される前記レーザビームの光出力を検出し、
　前記補正係数算出部が、前記検出部により検出された光出力と、前記レーザビーム出力の期待値との差分に基づいて、前記レーザビーム出力を補正する補正係数を算出し、
　前記補正部が、前記補正係数に基づいて、前記入力画像における画素信号を補正し、
　前記テスト発光制御部が、前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生を制御するステップを含む投影方法であり、
　前記補正係数を算出するステップの処理は、前記テスト発光を制御するステップの処理により制御されて、テスト発光位置がランダムに設定され、前記テスト発光用のレーザビームの光出力が投影している投影画像に連動して制御され、前記レーザビーム発生部より、前記テスト発光用のレーザビームが発生されたとき、前記検出部により検出された光出力に基づいて、前記レーザビームの光出力の期待値との差分を補正する補正係数を算出する
　投影方法。
＜１５＞　入力画像の画素信号に応じたレーザビームを発生する光源ユニットと、
　前記光源ユニットより発生されたレーザビームを反射しつつ、走査しながらスクリーン上に投影する１つの走査部と、
　前記光源ユニットにより発生される前記レーザビームの光出力を検出する検出部と、
　前記検出部により検出された光出力と、前記レーザビームの光出力の期待値との差分に基づいて、前記レーザビームの光出力を補正する補正係数を算出する補正係数算出部と、
　前記補正係数に基づいて、前記入力画像における画素信号を補正する補正部と、
　前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生を制御するテスト発光制御部としてコンピュータを機能させ、
　前記補正係数算出部は、前記テスト発光制御部により制御されて、テスト発光位置がランダムに設定され、前記テスト発光用のレーザビームの光出力が投影している投影画像に連動して制御され、前記レーザビーム発生部より、前記テスト発光用のレーザビームが発生されたとき、前記検出部により検出された光出力に基づいて、前記レーザビームの光出力の期待値との差分を補正する補正係数を算出する
　ためのプログラム。
＜１６＞　入力画像の画素信号に応じたレーザビームを発生する光源ユニットと、
　前記光源ユニットより発生されたレーザビームを反射しつつ、走査しながらスクリーン上に投影する１つの走査部と、
　前記光源ユニットにより発生される前記レーザビームの光出力を検出する検出部と、
　前記検出部により検出された光出力と、前記レーザビームの光出力の期待値との差分に基づいて、前記レーザビームの光出力を補正する補正係数を算出する補正係数算出部と、
　前記補正係数に基づいて、前記入力画像における画素信号を補正する補正部と、
　前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生を制御するテスト発光制御部とを含み、
　前記補正係数算出部は、前記テスト発光制御部により制御されて、テスト発光位置がランダムに設定され、前記テスト発光用のレーザビームの光出力が投影している投影画像に連動して制御され、前記レーザビーム発生部より、前記テスト発光用のレーザビームが発生されたとき、前記検出部により検出された光出力に基づいて、前記レーザビームの光出力の期待値との差分を補正する補正係数を算出する
　投影モジュール。
＜１７＞　入力画像の画素信号に応じたレーザビームを発生する光源ユニットと、
　前記光源ユニットより発生されたレーザビームを反射しつつ、走査しながらスクリーン上に投影する１つの走査部と、
　前記光源ユニットにより発生される前記レーザビームの光出力を検出する検出部と、
　前記検出部により検出された光出力と、前記レーザビームの光出力の期待値との差分に基づいて、前記レーザビームの光出力を補正する補正係数を算出する補正係数算出部と、
　前記補正係数に基づいて、前記入力画像における画素信号を補正する補正部と、
　前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生を制御するテスト発光制御部とを含み、
　前記補正係数算出部は、前記テスト発光制御部により制御されて、テスト発光位置がランダムに設定され、前記テスト発光用のレーザビームの光出力が投影している投影画像に連動して制御され、前記レーザビーム発生部より、前記テスト発光用のレーザビームが発生されたとき、前記検出部により検出された光出力に基づいて、前記レーザビームの光出力の期待値との差分を補正する補正係数を算出する
　電子機器。

　１　プロジェクションシステム，　１１　プロジェクション装置，　１２　ホストコントローラ，　１３　距離測定部，　１４　スクリーン，　１４ａ　投影画像，　２１　コントローラ，　２２　レーザドライバ，　２３　ミラードライバ，　２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂ　レーザ光源部，　２４ａ，２４Ｒａ，２４Ｇａ，２４Ｂａ　レーザビーム発生部，　２４ｂ，２４Ｒｂ，２４Ｇｂ，２４Ｂｂ　コリメータレンズ，　２５　ミラー，　２６－１，２６－２　ダイクロイックミラー，　２７　駆動ミラー，　２８　光学レンズ，　１０１　ビームスプリッタ，　１０２　フォトディテクタ（PD），　１０２ａ乃至１０２ｄ　領域，　１０３　切替部，　１０３ａ乃至１０３ｄ　スイッチ，　１０４　TIA（Trance Impedance Amplifier），　１０５　ADC（Analog Digital Converter），　１０６　コントローラ，　１０６ａ　LD制御部，　１０６ｂ　平均値算出部，　１０６ｃ　テスト発光制御部，　１０６ｄ　ミラー制御部，　１０６ｅ　メモリ，　１０６ｆ　補正値算出部

Claims

　入力画像の画素信号に応じたレーザビームを発生する光源ユニットと、
　前記光源ユニットより発生されたレーザビームを反射しつつ、走査しながらスクリーン上に投影する１つの走査部と、
　前記光源ユニットにより発生される前記レーザビームの光出力を検出する検出部と、
　前記検出部により検出された光出力と、前記レーザビームの光出力の期待値との差分に基づいて、前記レーザビームの光出力を補正する補正係数を算出する補正係数算出部と、
　前記補正係数に基づいて、前記入力画像における画素信号を補正する補正部と、
　前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生を制御するテスト発光制御部とを含み、
　前記補正係数算出部は、前記テスト発光制御部により制御されて、テスト発光位置がランダムに設定され、前記テスト発光用のレーザビームの光出力が投影している投影画像に連動して制御され、前記レーザビーム発生部より、前記テスト発光用のレーザビームが発生されたとき、前記検出部により検出された光出力に基づいて、前記レーザビームの光出力の期待値との差分を補正する補正係数を算出する
　投影装置。
　前記テスト発光制御部は、前記走査部により前記スクリーン上で走査されている位置が、投影画像に対するブランキング領域であるとき、前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生させる
　請求項１に記載の投影装置。
　前記テスト発光制御部は、前記ブランキング領域に含まれる、複数の一部領域のいずれかをランダムにテスト発光位置として設定し、
　前記走査部により前記スクリーン上で走査されている位置が、投影画像に対するブランキング領域であって、前記テスト発光位置として設定された領域であるとき、前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生させる
　請求項２に記載の投影装置。
　前記テスト発光以外のレーザビームが前記レーザビーム発生部より発生されるとき、前記スクリーン上の画素の輝度のフレーム単位の平均値を算出する平均値算出部をさらに含み、
　前記テスト発光制御部は、前記レーザビーム発生部を制御して、前記平均値に基づいた輝度で、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームを発生させる
　請求項１に記載の投影装置。
　前記テスト発光制御部は、前記レーザビーム発生部を制御して、入力画像信号により前記スクリーン上に投影される画像の色の傾向に応じた発光強度で、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームを発生させる
　請求項１に記載の投影装置。
　前記テスト発光制御部は、前記レーザビーム発生部の発光頻度、および温度に基づいて、前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生させる
　請求項１に記載の投影装置。
　前記検出部は、
　　前記レーザビームの光量を検出する光量検出部を含み、
　　前記光量検出部により検出された光量に基づいて、前記レーザビームの光出力を検出する
　請求項１に記載の投影装置。
　前記補正係数算出部は、
　　前記検出部において検出された前記レーザビームの前記光出力と、前記スクリーン上に投影される前記レーザビームの光出力の前記期待値との差分を求め、前記差分に基づいて、投影すべき画素信号を、前記レーザビーム発生部により発生されるレーザビームが実際に投影される光出力に対応した画素信号に変換する補正係数を補正値として算出する
　請求項１に記載の投影装置。
　前記補正部は、前記スクリーン上に投影される画素信号を、前記補正値である補正係数により補正し、補正された前記画素信号を、前記レーザビーム発生部に供給し、
　前記レーザビーム発生部は、補正された前記画素信号に基づいて、前記レーザビームを発生する
　請求項８に記載の投影装置。
　前記補正係数算出部は、前記レーザビームの光出力の期待値と、前記検出部において検出された光出力との差分に基づいて、前記補正係数を繰り返し算出することで、前記補正係数を更新する
　請求項８に記載の投影装置。
　前記補正部は、前記入力画像における前記画素信号を、更新された、前記補正係数により補正し、補正された画素信号を、前記レーザビーム発生部に供給し、
　前記レーザビーム発生部は、補正された画素信号に基づいて、前記レーザビームを発生する
　請求項１０に記載の投影装置。
　前記レーザビーム発生部、前記コリメータレンズ、および前記光源ユニットは、RGBのそれぞれについて設けられており、
　前記検出部は、前記RGBのそれぞれの光出力を検出し、
　前記補正係数算出部は、前記検出部により検出された、RGBのそれぞれの光出力と、光出力の期待値との差分を求め、前記差分に基づいて、前記スクリーン上に投影される画素信号を補正する補正係数を算出し、
　前記補正部は、前記入力画像信号の画素信号を、前記補正係数に基づいて、変換することで補正する
　請求項１に記載の投影装置。
　前記補正係数算出部は、前記検出部により検出された、RGBのそれぞれの光出力と、前記光出力の期待値との差分を求め、前記差分に基づいて、前記スクリーン上に投影される画素信号を補正する補正係数を繰り返し算出することで、前記補正係数を更新する
　請求項１２に記載の投影装置。
　入力画像の画素信号に応じたレーザビームを発生する光源ユニットと、
　前記光源ユニットより発生されたレーザビームを反射しつつ、走査しながらスクリーン上に投影する１つの走査部と、
　前記光源ユニットにより発生される前記レーザビームの光出力を検出する検出部と、
　前記検出部により検出された光出力と、前記レーザビーム出力の期待値との差分に基づいて、前記レーザビーム出力を補正する補正係数を算出する補正係数算出部と、
　前記補正係数に基づいて、前記入力画像における画素信号を補正する補正部と、
　前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生を制御するテスト発光制御部とを含み、
　前記補正係数算出部は、前記テスト発光制御部により制御されて、テスト発光位置がランダムに設定され、前記テスト発光用のレーザビームの光出力が投影している投影画像に連動して制御され、前記レーザビーム発生部より、前記テスト発光用のレーザビームが発生されたとき、前記検出部により検出された光出力に基づいて、前記レーザビームの光出力の期待値との差分を補正する補正係数を算出する投影装置の投影方法であって、
　前記光源ユニットが、入力画像の画素信号に応じたレーザビームを発生し、
　前記走査部が、前記光源ユニットより発生されたレーザビームを反射しつつ、走査しながらスクリーン上に投影し、
　前記検出部が、前記光源ユニットにより発生される前記レーザビームの光出力を検出し、
　前記補正係数算出部が、前記検出部により検出された光出力と、前記レーザビーム出力の期待値との差分に基づいて、前記レーザビーム出力を補正する補正係数を算出し、
　前記補正部が、前記補正係数に基づいて、前記入力画像における画素信号を補正し、
　前記テスト発光制御部が、前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生を制御するステップを含む投影方法であり、
　前記補正係数を算出するステップの処理は、前記テスト発光を制御するステップの処理により制御されて、テスト発光位置がランダムに設定され、前記テスト発光用のレーザビームの光出力が投影している投影画像に連動して制御され、前記レーザビーム発生部より、前記テスト発光用のレーザビームが発生されたとき、前記検出部により検出された光出力に基づいて、前記レーザビームの光出力の期待値との差分を補正する補正係数を算出する
　投影方法。
　入力画像の画素信号に応じたレーザビームを発生する光源ユニットと、
　前記光源ユニットより発生されたレーザビームを反射しつつ、走査しながらスクリーン上に投影する１つの走査部と、
　前記光源ユニットにより発生される前記レーザビームの光出力を検出する検出部と、
　前記検出部により検出された光出力と、前記レーザビームの光出力の期待値との差分に基づいて、前記レーザビームの光出力を補正する補正係数を算出する補正係数算出部と、
　前記補正係数に基づいて、前記入力画像における画素信号を補正する補正部と、
　前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生を制御するテスト発光制御部としてコンピュータを機能させ、
　前記補正係数算出部は、前記テスト発光制御部により制御されて、テスト発光位置がランダムに設定され、前記テスト発光用のレーザビームの光出力が投影している投影画像に連動して制御され、前記レーザビーム発生部より、前記テスト発光用のレーザビームが発生されたとき、前記検出部により検出された光出力に基づいて、前記レーザビームの光出力の期待値との差分を補正する補正係数を算出する
　ためのプログラム。
　入力画像の画素信号に応じたレーザビームを発生する光源ユニットと、
　前記光源ユニットより発生されたレーザビームを反射しつつ、走査しながらスクリーン上に投影する１つの走査部と、
　前記光源ユニットにより発生される前記レーザビームの光出力を検出する検出部と、
　前記検出部により検出された光出力と、前記レーザビームの光出力の期待値との差分に基づいて、前記レーザビームの光出力を補正する補正係数を算出する補正係数算出部と、
　前記補正係数に基づいて、前記入力画像における画素信号を補正する補正部と、
　前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生を制御するテスト発光制御部とを含み、
　前記補正係数算出部は、前記テスト発光制御部により制御されて、テスト発光位置がランダムに設定され、前記テスト発光用のレーザビームの光出力が投影している投影画像に連動して制御され、前記レーザビーム発生部より、前記テスト発光用のレーザビームが発生されたとき、前記検出部により検出された光出力に基づいて、前記レーザビームの光出力の期待値との差分を補正する補正係数を算出する
　投影モジュール。
　入力画像の画素信号に応じたレーザビームを発生する光源ユニットと、
　前記光源ユニットより発生されたレーザビームを反射しつつ、走査しながらスクリーン上に投影する１つの走査部と、
　前記光源ユニットにより発生される前記レーザビームの光出力を検出する検出部と、
　前記検出部により検出された光出力と、前記レーザビームの光出力の期待値との差分に基づいて、前記レーザビームの光出力を補正する補正係数を算出する補正係数算出部と、
　前記補正係数に基づいて、前記入力画像における画素信号を補正する補正部と、
　前記レーザビーム発生部を制御して、前記補正係数を算出するためのテスト発光用のレーザビームの発生を制御するテスト発光制御部とを含み、
　前記補正係数算出部は、前記テスト発光制御部により制御されて、テスト発光位置がランダムに設定され、前記テスト発光用のレーザビームの光出力が投影している投影画像に連動して制御され、前記レーザビーム発生部より、前記テスト発光用のレーザビームが発生されたとき、前記検出部により検出された光出力に基づいて、前記レーザビームの光出力の期待値との差分を補正する補正係数を算出する
　電子機器。