WO2016129492A1 - スパッタ性に優れたＮｉ系ターゲット材 - Google Patents

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WO2016129492A1
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alloy
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sputtering target
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Inventor
未由紀 宇野
長谷川　浩之
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山陽特殊製鋼株式会社
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    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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    • G11B5/62—Record carriers characterised by the selection of the material
    • G11B5/73—Base layers, i.e. all non-magnetic layers lying under a lowermost magnetic recording layer, e.g. including any non-magnetic layer in between a first magnetic recording layer and either an underlying substrate or a soft magnetic underlayer
    • G11B5/7368—Non-polymeric layer under the lowermost magnetic recording layer
    • G11B5/7379—Seed layer, e.g. at least one non-magnetic layer is specifically adapted as a seed or seeding layer
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
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    • C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34—Sputtering
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F41/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties
    • H01F41/14—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying magnetic films to substrates
    • H01F41/18—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying magnetic films to substrates by cathode sputtering

Definitions

  • the present invention relates to a Ni-based alloy sputtering target material having a high magnetic flux with a low magnetic permeability and a high use efficiency.
  • the perpendicular magnetic recording method is a method suitable for high recording density, in which the easy axis of magnetization is oriented perpendicularly to the medium surface in the magnetic film of the perpendicular magnetic recording medium. .
  • a recording medium having a magnetic recording film phase and a soft magnetic film phase with an increased recording density has been developed.
  • a recording medium between the soft magnetic layer and the magnetic recording layer has been developed.
  • a recording medium on which a seed layer and a base film layer are formed has been developed.
  • a NiW-based alloy is used for the seed layer for the perpendicular magnetic recording system.
  • Patent Document 1 A seed layer having magnetism has been proposed by adding Fe, Co, which is a group VIII element having magnetism.
  • the magnetron sputtering method is generally used for the formation of the seed layer described above.
  • This magnetron sputtering method is a sputtering method that enables high-speed film formation by placing a magnet behind the target material, leaking magnetic flux to the surface of the target material, and converging the plasma in the leakage magnetic flux region. .
  • This magnetron sputtering method is characterized by leakage of magnetic flux to the sputtering surface of the target material. Therefore, if the magnetic permeability of the target material itself is high, sufficient magnetic flux leakage necessary for the magnetron sputtering method is formed on the sputtering surface of the target material. It becomes difficult to do. Therefore, the permeability of the target material itself must be reduced as much as possible.
  • the above-described target material has a problem that the magnetic permeability is high, the leakage magnetic flux is low, and the sputtering property is poor.
  • Patent Document 2 As an example of a technique for reducing the magnetic permeability, there is a method of reducing the magnetic permeability by using pure Co powder as a raw material in a pure Co sputtering target material as disclosed in JP 2010-59540 A (Patent Document 2). is there.
  • the method of Patent Document 2 can be applied only to the Co—Fe based alloy target material for the soft magnetic phase, and does not correspond to the Ni based alloy target material for the seed layer.
  • an alloy is used as the Fe source, and a powder sintering method using pure Fe powder has not been studied.
  • Ni—Co—Fe alloy target material capable of obtaining magnetic flux.
  • the present invention includes the following inventions.
  • (1) (Ni X —Fe Y —Co Z ) —M alloy (where X represents the ratio of Ni content to the total content of Ni, Fe and Co, and Y represents Ni, Fe and Co) Represents the ratio of the Fe content to the total content of Z, and Z represents the ratio of the Co content to the total content of Ni, Fe and Co.)
  • the alloy has a total of 2 to 20 at.m as one or more M1 elements selected from W, Mo, Ta, Cr, V and Nb as M elements. %, Al, Ga, In, Si, Ge, Sn, Zr, Ti, Hf, B, Cu, P, C, Ru, or a total of 0 to 10 at.
  • the alloy has a microstructure having a Ni-M phase as a matrix phase, and has the microstructure in which an Fe phase and / or a Co phase are dispersed in the matrix phase. Wood.
  • the alloy has a total of 1.5 at.
  • the Ni-based sputtering target material according to the above (1) characterized by containing at least%.
  • the alloy has one or more M2 elements selected from Al, Ga, In, Si, Ge, Sn, Zr, Ti, Hf, B, Cu, P, C, and Ru as the M element. Over 0 to 10 at.
  • Ni-based sputtering target material as described in any one of (1) to (3) above, which contains Co in the fcc or hcp phase.
  • an Ni—Fe—Co—M alloy sputtering target material capable of efficient magnetron sputtering can be provided, and an industry that requires a Ni—Fe—Co alloy seed layer as in a perpendicular magnetic recording medium. This is an extremely effective technology for manufacturing products.
  • the present invention relates to a (Ni X -Fe Y -Co Z ) -M alloy (where X represents the ratio of the Ni content to the total content of Ni, Fe and Co, and Y represents Ni, Fe and A ratio of Fe content to the total content of Co, and Z represents a ratio of the content of Co to the total content of Ni, Fe and Co.) And (Ni X -Fe Y -Co Z) -M alloy (hereinafter sometimes referred to as "Ni-Fe-Co-M alloys”.), As the element M, W, Mo, Ta, Cr , V, Nb 1 to 2 or more of M1 elements selected from 2 to 20 at.
  • the balance consists of Ni, Fe, Co and inevitable impurities, and
  • X + Y + Z 100, 20 ⁇ X ⁇ 98, 0 ⁇ Y ⁇ 50, 0 ⁇ Z ⁇ 60, and
  • the (Ni X —Fe Y —Co Z ) —M alloy has a microstructure having a Ni—M phase as a matrix phase, and a microstructure in which the Fe phase and / or the Co phase are dispersed in the matrix phase.
  • the present invention relates to a Ni-based sputtering target material.
  • the Ni-based sputtering target material of the present invention is preferably a seed layer sputtering target material.
  • Ni-M alloy powder, pure Fe powder, and pure Co powder are used as raw material powders, and these are mixed and molded.
  • the magnetic Fe and / or Co is separated and mixed in a Ni-based alloy that is weak or non-magnetic.
  • the Ni—Fe—Co—M alloy includes one or more M1 elements selected from W, Mo, Ta, Cr, V, and Nb as M elements in total. 2-20 at. %contains.
  • This M1 element is a bcc metal having a high melting point, and its mechanism is not clear by adding it to the Ni—Fe—Co system which is fcc within the component range specified in the present invention, but it is required for the seed layer. It is an element that improves the orientation to the (111) plane and refines the crystal grains.
  • the total content of one or more M1 elements selected from W, Mo, Ta, Cr, V, and Nb is at. % Amount is 2 to 20%.
  • the total content of M1 elements is 2 at. If it is less than%, the effect is not sufficient, and the total content of M1 elements is 20 at. If it exceeds%, the compound will precipitate or become amorphous. Since the seed layer alloy is required to be an fcc single phase, the total content of the M1 element ranges from 2 to 20 at. %. Preferably 5 to 15 at. %.
  • the ratio X of Ni content to the total content of Ni, Fe and Co is 98-20.
  • the reason why X is 98 or less is that the coercive force is high when Y + Z is less than 2.0.
  • the reason why X is set to 20 or more is that if it is less than 20, the coercive force is increased as described above. Therefore, the range is 98-20. Preferably it is 98-60.
  • the ratio Y of the Fe content to the total content of Ni, Fe and Co is 0-50.
  • Fe is an element that reduces the coercive force and also improves the orientation of the film. If Y exceeds 50, the coercive force increases, so the range is set to 0-50. It is preferably 2 to 50, more preferably 10 to 40.
  • the ratio Z of the Co content to the total content of Ni, Fe and Co is 0-60.
  • Co is an element that reduces the coercivity in the (111) direction. If Z exceeds 60, the coercive force increases, so the upper limit is set to 60. Preferably it is 40 or less.
  • the Ni—Fe—Co—M alloy has a microstructure having a Ni—M phase as a matrix phase, and the Fe phase and / or Co phase is dispersed in the matrix phase.
  • the identification of the microstructure can be performed using X-ray diffraction, an optical microscope or the like.
  • the total amount of Fe and Co is 1.5 at.
  • the Ni-based intermediate layer can have sufficient magnetism. Therefore, the total content of Fe and Co is 1.5 at. % Or more is preferable.
  • the Ni—Fe—Co—M alloy includes Al, Ga, In, Si, Ge, Sn, Zr, Ti, Hf, B, Cu, P, C, as M elements.
  • M2 elements selected from Ru are added in a total amount of 0 to 10 at. %contains.
  • the M2 element is an optional component, the M2 element is an element that orients the (111) plane, and is an element that refines the crystal grains. Therefore, the Ni—Fe—Co—M alloy is composed of the M2 element. It is preferable to contain 1 type or 2 types or more of these. The total content of M2 elements is 10 at.
  • the upper limit is 10 at. %. Preferably 5 at. %.
  • the total content of M1 + M2 is preferably 25 at. % Or less, more preferably 20 at. % Or less.
  • Ni—Fe—Co—M alloy Co is not alloyed with the Ni—M alloy that is the matrix phase, but exists in a single fcc or hcp phase, so that the Ni—Fe—Co—M alloy Becomes a target material with low permeability and excellent sputtering properties.
  • Fe is present in a single fcc or bcc phase without being alloyed with the Ni—M alloy that is the matrix phase, so that the Ni—Fe—Co—M alloy becomes a target material with low permeability and excellent sputterability.
  • Ni-Fe-Co-M alloy a magnetic flux leakage of 10% or more is obtained by separating and mixing magnetic Fe and / or Co in a weakly or non-magnetic Ni-M alloy. As a result, the Ni—Fe—Co—M alloy becomes a target material having excellent sputterability.
  • the present inventor has obtained a predetermined composition ratio of a powder obtained by rapidly solidifying a molten Ni-M alloy and pure Fe powder and / or pure Co powder in a sputtering target material comprising a Ni-Fe-Co-M alloy. It was found that a Ni-based target having low magnetic permeability and excellent sputterability can be produced by mixing, forming, and machining.
  • the Ni-based sputtering target material of the present invention is based on the knowledge of the present inventors.
  • pure Fe and / or pure Co powder can be used.
  • Pure Co preferably forms an fcc or hcp structure
  • pure Fe preferably forms an fcc or bcc structure. Therefore, according to the present invention, in the target material prepared by using Ni-M alloy powder, pure Fe powder, pure Co powder and mixing them, the pure Co in the fcc or hcp phase and / or the pure Co in the fcc or bcc phase are used.
  • the presence of Fe can be clearly observed from X-ray diffraction. On the other hand, it has been found that these peaks are not observed in alloyed Fe and / or Co.
  • the produced alloy powder is preferably a powder classified to 500 ⁇ m or less.
  • a gas atomizing method, a water atomizing method, a rotating disk atomizing method or the like can be applied.
  • PTF leakage magnetic flux
  • a method of measuring a magnetic flux leaking to the target material surface by arranging a permanent magnet on the back surface of the target material. can be used. This method can quantitatively measure the leakage magnetic flux in a state close to a magnetron sputtering apparatus.
  • pure Fe powder, pure Co powder, and Ni-M alloy powder were produced by a gas atomization method.
  • the gas atomization method was performed under the conditions that the gas type was argon gas, the nozzle diameter was 6 mm, and the gas pressure was 5 MPa.
  • Ni-M alloy powder After filling the above-mentioned Ni-M alloy powder with a mixed powder of pure Fe powder and pure Co powder into a sealed can made of SC material, and after deaeration vacuum sealing at an ultimate vacuum of 10 -1 Pa or higher, A compact is produced by pressure sintering at a temperature of 1100 K, 147 MPa and a holding time of 5 hours, or a temperature of 950 K, 147 MPa and a holding time of 5 hours. A target material having a thickness of 7 mm was obtained.
  • the mixed powder pure Fe powder, pure Co powder, and Ni-M alloy powder were stirred for 1 hour with a V-type mixer.
  • a pressure sintering method of the mixed powder hot pressing, hot isostatic pressing, energizing pressure sintering, hot extrusion, and the like can be applied.
  • PTF In measuring the PTF of the produced target material, a permanent magnet was placed on the back surface of the target material, and the magnetic flux leaking to the target material surface was measured.
  • the PTF of the target material of the comparative example was 10% or less, but all of the target materials of the examples of the present invention showed 10% or more of PTF.
  • No. 1 to 30 are examples of the present invention
  • No. Reference numerals 31 to 41 are comparative examples.
  • X represents the ratio of the Ni content (at.%) To the total content (at.%) Of Ni, Fe and Co
  • Y represents the total content of Ni, Fe and Co.
  • Z is the ratio of Co content (at.%) To the total content (at.%) Of Ni, Fe and Co Represents.
  • X + Y + Z 100.
  • the total content (at.%) Of Ni, Fe and Co is obtained by subtracting the total content W (at.%) Of M1 + M2 from 100 (at.%).
  • Ni-M alloy powder, pure Fe powder, and pure Co powder were used as raw material powders, and these were mixed and molded to form a weakly or non-magnetic Ni alloy. Further, since Fe and / or Co having magnetism are separated and mixed, the magnetic permeability is 1000 or less, and the PTF is 10% or more. Fe and / or Co existed alone, and fcc or hcp phase Co and / or fcc or bcc phase Fe were observed by X-ray diffraction. As a result, Example No. As in 1 to 30, a sputtering target material in which pure Fe powder and pure Co powder are used for molding, and a single phase of Fe and / or Co is separated in the Ni-M system, It can be seen that the permeability is lowered.
  • Ni-based sputtering target material that has strong magnetic flux leakage and excellent sputterability due to the inclusion of a single phase of Fe and / or Co separated in a Ni-M system that is a matrix phase. And the Ni-based sputtering target material of the present invention has excellent results.

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Abstract

強い漏洩磁束が得られる透磁率が低く使用効率が高いＮｉ系合金スパッタリングターゲット材として、（ＮｉＸ－ＦｅＹ－ＣｏＺ）－Ｍ合金を含んでなるＮｉ系スパッタリングターゲット材であって、前記合金は、Ｍ元素として、Ｗ、Ｍｏ、Ｔａ、Ｃｒ、Ｖ、Ｎｂから選ばれる１種又は２種以上のＭ１元素を合計で２～２０ａｔ．％、Ａｌ，Ｇａ，Ｉｎ，Ｓｉ，Ｇｅ，Ｓｎ，Ｚｒ，Ｔｉ，Ｈｆ，Ｂ，Ｃｕ，Ｐ，Ｃ，Ｒｕから選ばれる１種又は２種以上のＭ２元素を合計で０～１０ａｔ．％含有し、残部がＮｉ、Ｆｅ、Ｃｏ及び不可避的不純物からなり、かつ、Ｘ＋Ｙ＋Ｚ＝１００としたとき、２０≦Ｘ≦９８、０≦Ｙ≦５０、０≦Ｚ≦６０であり、かつ、前記合金は、マトリックス相としてＮｉ－Ｍ相を有するミクロ組織であって、マトリックス相中にＦｅ相及び／又はＣｏ相が分散しているミクロ組織を有することを特徴とするＮｉ系スパッタリングターゲット材を提供する。

Description

スパッタ性に優れたＮｉ系ターゲット材
　本発明は、強い漏洩磁束が得られる透磁率が低く使用効率が高いＮｉ系合金スパッタリングターゲット材に関するものである。
　近年、垂直磁気記録の進歩は著しく、ドライブの大容量化のために、磁気記録媒体の高記録密度化が進められており、従来普及していた面内磁気記録媒体により、さらに高記録密度が実現できる垂直磁気記録方式が実用化されている。ここで、垂直磁気記録方式とは、垂直磁気記録媒体の磁性膜中の媒体面に対して磁化容易軸が垂直方向に配向するように形成したものであり、高記録密度に適した方法である。
　そして、垂直磁気記録方式においては、記録密度を高めた磁気記録膜相と軟磁性膜相とを有する記録媒体が開発されており、このような媒体構造では、軟磁性層と磁気記録層の間にシード層や下地膜層が製膜された記録媒体が開発されている。この垂直磁気記録方式用のシード層には一般に、ＮｉＷ系の合金が用いられている。
　一方、ハードディスクドライブの磁気記録特性を改善する一つの手法として、シード層に磁性を持たせる方法が提案されており、例えば、特開２０１２－１２８９３３号（特許文献１）に開示されているように、磁性を有するＶＩＩＩ族の元素であるＦｅ，Ｃｏを添加することで、磁性を持ったシード層が提案されている。
特開２０１２－１２８９３３号公報 特開２０１０－５９５４０号公報
　上述したシード層の成膜には、一般にマグネトロンスパッタリング法が用いられている。このマグネトロンスパッタリング法とは、ターゲット材の背後に磁石を配置し、ターゲット材の表面に磁束を漏洩させて、その漏洩磁束領域にプラズマを収束させることにより高速成膜を可能とするスパッタリング法である。このマグネトロンスパッタリング法はターゲット材のスパッタ表面に磁束を漏洩させることに特徴があるため、ターゲット材自身の透磁率が高い場合にはターゲット材のスパッタ表面にマグネトロンスパッタリング法に必要十分な漏洩磁束を形成するのが難しくなる。そこで、ターゲット材自身の透磁率を極力低減しなければならない。しかしながら、上述でのターゲット材では透磁率が高いため漏洩磁束が低く、スパッタ性に乏しい点が課題である。
　一方、透磁率を低減する手法の一例として、特開２０１０－５９５４０号（特許文献２）のように、純Ｃｏスパッタリングターゲット材において、原料に純Ｃｏ粉末を用いることで透磁率を低くする方法がある。しかし、特許文献２の方法は軟磁性相用Ｃｏ－Ｆｅ系合金ターゲット材にのみ適応でき、シード層用Ｎｉ系合金ターゲット材等には対応していない。さらに、Ｆｅ源には合金を使用しており、純Ｆｅ粉末を用いた粉末焼結法の検討は行われていない。
　そこで、本発明者は、原料粉末としてＮｉ－Ｍ系合金粉末、純Ｆｅ粉末、純Ｃｏ粉末を用いて、シード層用Ｎｉ－Ｃｏ－Ｆｅ系合金ターゲット材の製造方法を検討した結果、強い漏洩磁束が得られるＮｉ－Ｃｏ－Ｆｅ系合金ターゲット材を見出した。
　本発明は、以下の発明を包含する。
（１）（ＮｉＸ－ＦｅＹ－ＣｏＺ）－Ｍ合金（ここで、Ｘは、Ｎｉ、Ｆｅ及びＣｏの合計含有量に対するＮｉの含有量の比率を表し、Ｙは、Ｎｉ、Ｆｅ及びＣｏの合計含有量に対するＦｅの含有量の比率を表し、Ｚは、Ｎｉ、Ｆｅ及びＣｏの合計含有量に対するＣｏの含有量の比率を表す。）を含んでなる、Ｎｉ系スパッタリングターゲット材であって、前記合金は、Ｍ元素として、Ｗ、Ｍｏ、Ｔａ、Ｃｒ、Ｖ、Ｎｂから選ばれる１種又は２種以上のＭ１元素を合計で２～２０ａｔ．％、Ａｌ，Ｇａ，Ｉｎ，Ｓｉ，Ｇｅ，Ｓｎ，Ｚｒ，Ｔｉ，Ｈｆ，Ｂ，Ｃｕ，Ｐ，Ｃ，Ｒｕから選ばれる１種又は２種以上のＭ２元素を合計で０～１０ａｔ．％含有し、残部がＮｉ、Ｆｅ、Ｃｏ及び不可避的不純物からなり、かつ、Ｘ＋Ｙ＋Ｚ＝１００としたとき、２０≦Ｘ≦９８、０≦Ｙ≦５０、０≦Ｚ≦６０であり、かつ、前記合金は、マトリックス相としてＮｉ－Ｍ相を有するミクロ組織であって、前記マトリックス相中にＦｅ相及び／又はＣｏ相が分散している前記ミクロ組織を有することを特徴とする、Ｎｉ系スパッタリングターゲット材。
（２）前記合金が、Ｆｅ及びＣｏを合計で１．５ａｔ．％以上含有すること特徴とする、前記（１）に記載のＮｉ系スパッタリングターゲット材。
（３）前記合金が、Ｍ元素として、Ａｌ，Ｇａ，Ｉｎ，Ｓｉ，Ｇｅ，Ｓｎ，Ｚｒ，Ｔｉ，Ｈｆ，Ｂ，Ｃｕ，Ｐ，Ｃ，Ｒｕから選ばれる１種又は２種以上のＭ２元素を合計で０超～１０ａｔ．％含有することを特徴とする、前記（１）又は（２）に記載のＮｉ系スパッタリングターゲット材。
（４）ｆｃｃ又はｈｃｐ相のＣｏを含むことを特徴とする、前記（１）～（３）のいずれか１つに記載のＮｉ系スパッタリングターゲット材。
（５）ｆｃｃ又はｂｃｃ相のＦｅを含むことを特徴とする、前記（１）～（３）のいずれか１つに記載のＮｉ系スパッタリングターゲット材。
（６）漏洩磁束が１０％以上であることを特徴とする、前記（１）～（３）のいずれか１つに記載のＮｉ系スパッタリングターゲット材。
　本発明によれば、効率よくマグネトロンスパッタリングが行えるＮｉ－Ｆｅ－Ｃｏ－Ｍ系合金スパッタリングターゲット材を提供でき、垂直磁気記録媒体のようにＮｉ－Ｆｅ－Ｃｏ系合金のシード層を必要とする工業製品を製造する上で極めて有効な技術となる。
　以下、本発明について詳細に説明する。
　本発明は、（ＮｉＸ－ＦｅＹ－ＣｏＺ）－Ｍ合金（ここで、Ｘは、Ｎｉ、Ｆｅ及びＣｏの合計含有量に対するＮｉの含有量の比率を表し、Ｙは、Ｎｉ、Ｆｅ及びＣｏの合計含有量に対するＦｅの含有量の比率を表し、Ｚは、Ｎｉ、Ｆｅ及びＣｏの合計含有量に対するＣｏの含有量の比率を表す。）を含んでなる、Ｎｉ系スパッタリングターゲット材であって、
　（ＮｉＸ－ＦｅＹ－ＣｏＺ）－Ｍ合金（以下「Ｎｉ－Ｆｅ－Ｃｏ－Ｍ合金」と表記する場合がある。）は、Ｍ元素として、Ｗ、Ｍｏ、Ｔａ、Ｃｒ、Ｖ、Ｎｂから選ばれる１種又は２種以上のＭ１元素を合計で２～２０ａｔ．％、Ａｌ，Ｇａ，Ｉｎ，Ｓｉ，Ｇｅ，Ｓｎ，Ｚｒ，Ｔｉ，Ｈｆ，Ｂ，Ｃｕ，Ｐ，Ｃ，Ｒｕから選ばれる１種又は２種以上のＭ２元素を合計で０～１０ａｔ．％含有し、
　残部がＮｉ、Ｆｅ、Ｃｏ及び不可避的不純物からなり、かつ、
　Ｘ＋Ｙ＋Ｚ＝１００としたとき、２０≦Ｘ≦９８、０≦Ｙ≦５０、０≦Ｚ≦６０であり、かつ、
　（ＮｉＸ－ＦｅＹ－ＣｏＺ）－Ｍ合金は、マトリックス相としてＮｉ－Ｍ相を有するミクロ組織であって、マトリックス相中にＦｅ相及び／又はＣｏ相が分散しているミクロ組織を有することを特徴とする、Ｎｉ系スパッタリングターゲット材に関する。本発明のＮｉ系スパッタリングターゲット材は、好ましくは、シード層用スパッタリングターゲット材である。
　本発明の最も重要な特徴は、スパッタリングターゲット材（好ましくはシード層用スパッタリングターゲット材）において、原料粉末としてＮｉ－Ｍ系合金粉末、純Ｆｅ粉末、純Ｃｏ粉末を用い、これらを混合し、成形することで、磁性が弱い又は磁性を持たないＮｉ系合金中に、磁性を有するＦｅ及び／又はＣｏを切り離して混在させた点にある。
　本発明のＮｉ系スパッタリングターゲット材において、Ｎｉ－Ｆｅ－Ｃｏ－Ｍ合金は、Ｍ元素として、Ｗ，Ｍｏ，Ｔａ，Ｃｒ，Ｖ，Ｎｂから選ばれる１種又は２種以上のＭ１元素を合計で２～２０ａｔ．％含有する。このＭ１元素は、高融点を持つｂｃｃ系金属であり、本発明で規定する成分範囲でｆｃｃであるＮｉ－Ｆｅ－Ｃｏ系に添加することにより、そのメカニズムは明確ではないが、シード層に求められる（１１１）面への配向性を改善させ、かつ結晶粒を微細化させる元素である。Ｗ，Ｍｏ，Ｔａ，Ｃｒ，Ｖ，Ｎｂから選ばれる１種又は２種以上のＭ１元素の合計含有量は、ａｔ．％量で、２～２０％とする。Ｍ１元素の合計含有量が２ａｔ．％未満ではその効果が十分でなく、また、Ｍ１元素の合計含有量が２０ａｔ．％を超えると化合物が析出するか、アモルファス化する。シード層用合金としてはｆｃｃ単相である事が求められることから、Ｍ１元素の合計含有量の範囲を２～２０ａｔ．％とする。好ましくは５～１５ａｔ．％とする。
　本発明のＮｉ系スパッタリングターゲット材において、Ｎｉ－Ｆｅ－Ｃｏ－Ｍ合金は、Ｎｉ、Ｆｅ及びＣｏを含有する。Ｎｉ、Ｆｅ及びＣｏの合計含有量（ａｔ．％）に対するＮｉの含有量（ａｔ．％）、Ｆｅの含有量（ａｔ．％）及びＣｏの含有量（ａｔ．％）の比率（ａｔ．比）を、それぞれ、Ｘ、Ｙ及びＺとし（すなわち、Ｎｉ：Ｆｅ：Ｃｏ＝Ｘ：Ｙ：Ｚ）、Ｘ＋Ｙ＋Ｚ＝１００とすると、Ｘは９８～２０（すなわち２０≦Ｘ≦９８）、Ｙは０～５０（すなわち０≦Ｙ≦５０）、Ｚは０～６０（すなわち０≦Ｚ≦６０）である。
　Ｘ＋Ｙ＋Ｚ＝１００としたとき、Ｎｉ、Ｆｅ及びＣｏの合計含有量に対するＮｉの含有量の比率Ｘは、９８～２０である。Ｘを９８以下とした理由は、Ｙ＋Ｚが２．０未満では保磁力が高くなるからである。また、Ｘを２０以上とした理由は、２０未満では、上記同様、保磁力が高くなるからである。したがって、その範囲を９８～２０とする。好ましくは９８～６０とする。
　Ｘ＋Ｙ＋Ｚ＝１００としたとき、Ｎｉ、Ｆｅ及びＣｏの合計含有量に対するＦｅの含有量の比率Ｙは、０～５０である。Ｆｅは、保磁力を低減する元素であり、かつ、膜の配向性を改善する元素でもある。Ｙが５０を超えると保磁力が高くなることから、その範囲を０～５０とする。好ましくは２～５０、より好ましくは１０～４０とする。
　Ｘ＋Ｙ＋Ｚ＝１００としたとき、Ｎｉ、Ｆｅ及びＣｏの合計含有量に対するＣｏの含有量の比率Ｚは、０～６０である。Ｃｏは、（１１１）方向の保磁力を低減する元素である。Ｚが６０を超えると保磁力が高くなることから、その上限を６０とする。好ましくは４０以下とする。
　本発明のＮｉ系スパッタリングターゲット材において、Ｎｉ－Ｆｅ－Ｃｏ－Ｍ合金は、マトリックス相としてＮｉ－Ｍ相を有するミクロ組織であって、マトリックス相中にＦｅ相及び／又はＣｏ相が分散しているミクロ組織を有する。ミクロ組織の同定は、Ｘ線回折、光学顕微鏡等を使用して行うことができる。磁性を有するＦｅ相及び／又はＣｏ相が、磁性が弱い又は磁性を持たないＮｉ－Ｍ相中に、分散することにより、母材の磁性を低減させ、透磁率を低下させることができる。透磁率の低下により、強い漏洩磁束が得られ、スパッタリング性を向上させることができる。Ｎｉ－Ｆｅ－Ｃｏ－Ｍ合金において、Ｆｅ及びＣｏの合計量が１．５ａｔ．％以上である場合、Ｎｉ系中間層に十分な磁性を持たせることができる。したがって、Ｆｅ及びＣｏの合計含有量を１．５ａｔ．％以上とすることが好ましい。
　本発明のＮｉ系スパッタリングターゲット材において、Ｎｉ－Ｆｅ－Ｃｏ－Ｍ合金は、Ｍ元素として、Ａｌ，Ｇａ，Ｉｎ，Ｓｉ，Ｇｅ，Ｓｎ，Ｚｒ，Ｔｉ，Ｈｆ，Ｂ，Ｃｕ，Ｐ，Ｃ，Ｒｕから選ばれる１種又は２種以上のＭ２元素を合計で０～１０ａｔ．％含有する。Ｍ２元素は任意成分であるが、Ｍ２元素は、（１１１）面を配向させる元素であり、また、結晶粒を微細化する元素であるので、Ｎｉ－Ｆｅ－Ｃｏ－Ｍ合金は、このＭ２元素の１種又は２種以上を含有することが好ましい。Ｍ２元素の合計含有量が１０ａｔ．％を超えると化合物が生じたり、アモルファス化したりすることから、その上限を１０ａｔ．％とする。好ましくは５ａｔ．％とする。また、Ｍ１＋Ｍ２の合計含有量は、好ましくは２５ａｔ．％以下、さらに好ましくは２０ａｔ．％以下とする。
　Ｎｉ－Ｆｅ－Ｃｏ－Ｍ合金において、Ｃｏが、マトリックス相であるＮｉ－Ｍ系合金と合金化せずに、ｆｃｃ又はｈｃｐ相の単一で存在することで、Ｎｉ－Ｆｅ－Ｃｏ－Ｍ合金は、透磁率の低いスパッタリング性に優れたターゲット材となる。Ｎｉ－Ｆｅ－Ｃｏ－Ｍ合金において、Ｆｅが、マトリックス相であるＮｉ－Ｍ系合金と合金化せずに、ｆｃｃ又はｂｃｃ相の単一で存在することで、Ｎｉ－Ｆｅ－Ｃｏ－Ｍ合金は、透磁率の低いスパッタ性に優れたターゲット材となる。Ｎｉ－Ｆｅ－Ｃｏ－Ｍ合金において、磁性が弱い又は磁性を持たないＮｉ－Ｍ系合金中に、磁性を有するＦｅ及び／又はＣｏを切り離して混在させることにより、１０％以上の漏洩磁束を得ることができ、これにより、Ｎｉ－Ｆｅ－Ｃｏ－Ｍ合金は、スパッタ性に優れたターゲット材となる。
　本発明者は、Ｎｉ－Ｆｅ－Ｃｏ－Ｍ合金を含んでなるスパッタリングターゲット材において、Ｎｉ－Ｍ合金溶湯を急冷凝固処理した粉末と、純Ｆｅ粉末及び／又は純Ｃｏ粉末とを所定の組成比率で混合し、成形し、機械加工することで、透磁率の低くスパッタ性に優れたＮｉ系ターゲットを製造することができることを見出した。本発明のＮｉ系スパッタリングターゲット材は、かかる本発明者の知見に基づくものである。
　本発明のＮｉ系スパッタリングターゲット材を製造する際、純Ｆｅ及び／又は純Ｃｏ粉末を使用することができる。純Ｃｏは、ｆｃｃ又はｈｃｐ構造を形成していることが好ましく、また、純Ｆｅは、ｆｃｃ又はｂｃｃ構造を形成していることが好ましい。したがって、本発明に従って、Ｎｉ－Ｍ系合金粉末、純Ｆｅ粉末、純Ｃｏ粉末を用い、これらを混合して作製したターゲット材では、ｆｃｃ若しくはｈｃｐ相の純Ｃｏ及び／又はｆｃｃ若しくはｂｃｃ相の純Ｆｅが存在していることをＸ線回折より明確に観測することができる。一方、合金化したＦｅ及び／又はＣｏでは、これらのピークは観測されないことが判明している。
　作製した合金粉末は５００μｍ以下に分級した粉末であることが好ましい。粉末の作製には、ガスアトマイズ法、水アトマイズ法、回転ディスク式アトマイズ法等を適用することができる。作製したターゲット材の漏洩磁束（Ｐａｓｓ－Ｔｈｒｏｕｇｈ－Ｆｌｕｘ、以下「ＰＴＦ」と記す。）の測定に当たっては、ターゲット材の裏面に永久磁石を配置し、ターゲット材表面に漏洩する磁束を測定する方法を使用することができる。この方法は、マグネトロンスパッタ装置に近い状態の漏洩磁束を定量的に測定することができる。実際の測定は、ＡＳＴＭ　Ｆ２８０６－０１（Ｓｔａｎｄａｒｄ　Ｔｅｓｔ　Ｍｅｔｈｏｄ　ｆｏｒ　Ｐａｓｓ　Ｔｈｒｏｕｇｈ　Ｆｌｕｘ　ｏｆ　Ｃｉｒｃｕｌａｒ　Ｍａｇｎｅｔｉｃ　Ｓｐｕｔｔｅｒｉｎｇ　Ｔａｒｇｅｔｓ　Ｍｅｔｈｏｄ２）に基づいて行い、次式よりＰＴＦを求めた。
（ＰＴＦ）＝１００×（ターゲット材を置いた状態での磁束の強さ）÷（ターゲット材を置かない状態での磁束の強さ）（％）
　以下、本発明についてさらに実施例により具体的に説明する。
　原料粉末において、純Ｆｅ粉末、純Ｃｏ粉末、Ｎｉ－Ｍ系合金粉末は、ガスアトマイズ法によって作製した。ガスアトマイズ法の条件は、ガス種類がアルゴンガス、ノズル径が６ｍｍ、ガス圧が５ＭＰａの条件で行った。
　上述したＮｉ－Ｍ系合金粉末に対して、純Ｆｅ粉末、純Ｃｏ粉末の各混合粉末をＳＣ材質からなる封入缶に充填し、到達真空度１０-1Ｐａ以上で脱気真空封入した後、加圧焼結方法にて、温度１１００Ｋ、１４７ＭＰａ、保持時間５時間の条件、ないしは温度９５０Ｋ、１４７ＭＰａ、保持時間５時間の条件で、成形体を作製し、次いで機械加工により最終形状として外径１８０ｍｍ、厚み７ｍｍのターゲット材を得た。混合粉末は、純Ｆｅ粉末、純Ｃｏ粉末、Ｎｉ－Ｍ系合金粉末をＶ型混合機により１時間攪拌したものを使用した。また、混合粉末の加圧焼結方法としては、ホットプレス、熱間静水圧プレス、通電加圧焼結、熱間押し出し等を適用することができる。
　得られたターゲット材の特性についての測定、評価について述べる。
［透磁率］
　作製したターゲット材の透磁率の測定に当たっては、外径１５ｍｍ、内径１０ｍｍ、高さ５ｍｍのリング試験片を製作し、ＢＨトレーサーを用いて、８ｋＡ／ｍの印加磁場にて最大透磁率を測定した。最大透磁率が１０００以下を「○」、１０００を超えるものを「×」とした。
［ＰＴＦ］
　作製したターゲット材のＰＴＦの測定に当たっては、ターゲット材の裏面に永久磁石を配置し、ターゲット材表面に漏洩する磁束を測定した。比較例のターゲット材のＰＴＦは１０％以下であったが、本発明の実施例のターゲット材はいずれも１０％以上のＰＴＦを示した。
［Ｆｅ相、Ｃｏ相］
　作製したターゲット材のＣｏ相及び／又はＦｅ相の観測に当たっては、幅１０ｍｍ、長さ２０ｍｍ、厚み５ｍｍの試験片を製作し、Ｘ線回折装置にて回折パターンを得た。Ｘ源はＣｕ－α線でスキャンスピード４°／ｍｉｎで測定した。実施例のターゲット材のＸＲＤパターンでは、メインピークと共にｆｃｃ若しくはｈｃｐのＣｏ相及び／又はｆｃｃ若しくはｂｃｃのＦｅ相に起因するピークを観測した。ＸＲＤによりｆｃｃ若しくはｈｃｐのＣｏ相及び／又はｆｃｃ若しくはｂｃｃのＦｅ相を観測したものを「○」、観測しなかったものを「×」とした。
［成分偏析］
　作製したターゲット材の成分分布測定に当たっては、幅１０ｍｍ、長さ２０ｍｍ、厚み５ｍｍの試験片を製作し、ＥＰＭＡ（電子ブローブマイクロアナライザ）より各主成分の分布を観測した。比較例のターゲット材において、Ｆｅ、Ｃｏが均一に存在していたが、実施例のターゲット材においては、Ｆｅ、Ｃｏ成分の分布に偏りがあり、Ｎｉ－Ｍ系中にＦｅ、Ｃｏの単一相が切り離された状態で混在していることを観測した。ＥＰＭＡよりＦｅ、Ｃｏ成分の分布に偏りがあるものを「○」、Ｆｅ、Ｃｏが均一に存在しているものを「×」と示した。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
　表１及び表２に示すように、Ｎｏ．１～３０は本発明例、Ｎｏ．３１～４１は比較例である。表１及び表２において、Ｘは、Ｎｉ、Ｆｅ及びＣｏの合計含有量（ａｔ．％）に対するＮｉの含有量（ａｔ．％）の比率を表し、Ｙは、Ｎｉ、Ｆｅ及びＣｏの合計含有量（ａｔ．％）に対するＦｅの含有量（ａｔ．％）の比率を表し、Ｚは、Ｎｉ、Ｆｅ及びＣｏの合計含有量（ａｔ．％）に対するＣｏの含有量（ａｔ．％）の比率を表す。なお、Ｘ＋Ｙ＋Ｚ＝１００である。Ｎｉ、Ｆｅ及びＣｏの合計含有量（ａｔ．％）は、１００（ａｔ．％）からＭ１＋Ｍ２の合計含有量Ｗ（ａｔ．％）を差し引くことにより求められる。例えば、Ｎｏ．１において、Ｎｉ、Ｆｅ及びＣｏの合計含有量（ａｔ．％）は、１００（ａｔ．％）－６（ａｔ．％）＝９４（ａｔ．％）である。
　表２に示すように、比較例３１～４１は、磁性を有するＮｉ系シード層用合金ターゲット材の原料として、単にＦｅ源及び／又はＣｏ源に合金のみを用いるので、磁性を持つＦｅ及び／又はＣｏが均一に存在する。したがって、１０００を超える透磁率が観測され、ＰＴＦは１０％未満であった。また、Ｆｅ及び／又はＣｏは合金の状態で存在しており、ＸＲＤによるそれぞれ固有のピークは観測されなかった。
　これに対し、表１に示すように、本発明例Ｎｏ．１～３０においては、いずれも原料粉末としてＮｉ－Ｍ系合金粉末、純Ｆｅ粉末、純Ｃｏ粉末を用い、これらを混合し、成形することにより、磁性が弱い又は磁性を持たないＮｉ系合金中に、磁性を有するＦｅ及び／又はＣｏが切り離されて混在しているため、１０００以下の透磁率を示し、１０％以上のＰＴＦを示した。また、Ｆｅ及び／又はＣｏは単体で存在しており、Ｘ線回折よりｆｃｃ若しくはｈｃｐ相のＣｏ及び／又はｆｃｃ若しくはｂｃｃ相のＦｅを観測した。この結果、本発明例Ｎｏ．１～３０のように、純Ｆｅ粉末、純Ｃｏ粉末を成形に使用し、Ｎｉ－Ｍ系中にＦｅ及び／又はＣｏの単一相が切り離された状態で混在しているスパッタリングターゲット材は、透磁率の低下していることがわかる。
　以上述べたように、本発明によれば、Ｎｉ－Ｆｅ－Ｃｏ－Ｍ合金を含んでなるＮｉ系スパッタリングターゲット材であって、Ｎｉ、Ｆｅ、Ｃｏの比率がａｔ％基準で、Ｎｉ：Ｆｅ：Ｃｏ＝９８～２０：０～５０：０～６０であり、かつ、Ｍ元素として、Ｗ，Ｍｏ，Ｔａ，Ｃｒ，Ｖ，Ｎｂから選ばれる１種又は２種以上のＭ１元素を２～２０ａｔ％、Ａｌ，Ｇａ，Ｉｎ，Ｓｉ，Ｇｅ，Ｓｎ，Ｚｒ，Ｔｉ，Ｈｆ，Ｂ，Ｃｕ，Ｐ，Ｃ，Ｒｕから選ばれる１種又は２種以上のＭ２元素を合計で０～１０ａｔ．％含有し、かつ、マトリックス相であるＮｉ－Ｍ系中にＦｅ及び／又はＣｏの単一相が切り離された状態で混在することにより、漏洩磁束が強くスパッタ性に優れたＮｉ系スパッタリングターゲット材が提供され、本発明のＮｉ系スパッタリングターゲット材は、優れた結果を奏するものである。本発明のＮｉ系スパッタリングターゲット材において、Ｆｅ＋Ｃｏ≧１．５ａｔ．％であることが好ましい。

Claims (6)

  1. 　（ＮｉＸ－ＦｅＹ－ＣｏＺ）－Ｍ合金（ここで、Ｘは、Ｎｉ、Ｆｅ及びＣｏの合計含有量に対するＮｉの含有量の比率を表し、Ｙは、Ｎｉ、Ｆｅ及びＣｏの合計含有量に対するＦｅの含有量の比率を表し、Ｚは、Ｎｉ、Ｆｅ及びＣｏの合計含有量に対するＣｏの含有量の比率を表す。）を含んでなる、Ｎｉ系スパッタリングターゲット材であって、
    　前記合金は、
    　Ｍ元素として、Ｗ，Ｍｏ，Ｔａ，Ｃｒ，Ｖ，Ｎｂから選ばれる１種又は２種以上のＭ１元素を合計で２～２０ａｔ．％、Ａｌ，Ｇａ，Ｉｎ，Ｓｉ，Ｇｅ，Ｓｎ，Ｚｒ，Ｔｉ，Ｈｆ，Ｂ，Ｃｕ，Ｐ，Ｃ，Ｒｕから選ばれる１種又は２種以上のＭ２元素を合計で０～１０ａｔ．％含有し、
    　残部がＮｉ，Ｆｅ，Ｃｏ及び不可避的不純物からなり、かつ、
    　Ｘ＋Ｙ＋Ｚ＝１００としたとき、２０≦Ｘ≦９８、０≦Ｙ≦５０、０≦Ｚ≦６０であり、かつ、
    　前記合金は、マトリックス相としてＮｉ－Ｍ相を有するミクロ組織であって、前記マトリックス相中にＦｅ相及び／又はＣｏ相が分散している前記ミクロ組織を有することを特徴とする、Ｎｉ系スパッタリングターゲット材。
  2. 　前記合金が、Ｆｅ及びＣｏを合計で１．５ａｔ．％以上含有することを特徴とする、請求項１に記載のＮｉ系スパッタリングターゲット材。
  3. 　前記合金が、Ｍ元素として、Ａｌ，Ｇａ，Ｉｎ，Ｓｉ，Ｇｅ，Ｓｎ，Ｚｒ，Ｔｉ，Ｈｆ，Ｂ，Ｃｕ，Ｐ，Ｃ，Ｒｕから選ばれる１種又は２種以上のＭ２元素を合計で０超～１０ａｔ．％含有することを特徴とする、請求項１又は２に記載のＮｉ系スパッタリングターゲット材。
  4. 　ｆｃｃ又はｈｃｐ相のＣｏを含むことを特徴とする、請求項１～３のいずれか１項に記載のＮｉ系スパッタリングターゲット材。
  5. 　ｆｃｃ又はｂｃｃ相のＦｅを含むことを特徴とする、請求項１～３のいずれか１項に記載のＮｉ系スパッタリングターゲット材。
  6. 　漏洩磁束が１０％以上であることを特徴とする、請求項１～３のいずれか１項に記載のＮｉ系スパッタリングターゲット材。
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