WO2016084882A1 - リングスペーサー - Google Patents

リングスペーサー Download PDF

Info

Publication number
WO2016084882A1
WO2016084882A1 PCT/JP2015/083179 JP2015083179W WO2016084882A1 WO 2016084882 A1 WO2016084882 A1 WO 2016084882A1 JP 2015083179 W JP2015083179 W JP 2015083179W WO 2016084882 A1 WO2016084882 A1 WO 2016084882A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
plate
ring spacer
container
shaped object
ring
Prior art date
Application number
PCT/JP2015/083179
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
正敬 西島
剛之 立川
Original Assignee
アキレス株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by アキレス株式会社 filed Critical アキレス株式会社
Priority to TW104139309A priority Critical patent/TWI646030B/zh
Priority to US15/529,684 priority patent/US10658212B2/en
Priority to SG11201704304XA priority patent/SG11201704304XA/en
Priority to CN201580063864.0A priority patent/CN107004627A/zh
Priority to MYPI2017701917A priority patent/MY188996A/en
Priority to JP2016561936A priority patent/JP6401293B2/ja
Publication of WO2016084882A1 publication Critical patent/WO2016084882A1/ja

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/6735Closed carriers
    • H01L21/67369Closed carriers characterised by shock absorbing elements, e.g. retainers or cushions
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/67346Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders characterized by being specially adapted for supporting a single substrate or by comprising a stack of such individual supports
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/6735Closed carriers
    • H01L21/67386Closed carriers characterised by the construction of the closed carrier
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/6735Closed carriers
    • H01L21/67366Closed carriers characterised by materials, roughness, coatings or the like
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/6735Closed carriers
    • H01L21/67383Closed carriers characterised by substrate supports

Definitions

  • the present invention relates to a ring spacer.
  • the plate-like object when a plate-like object such as a glass substrate or a semiconductor wafer is conveyed, the plate-like object is stored in a coin stack type (horizontal) conveyance container and conveyed.
  • a coin stack type transport container for example, a container body such as that described in Patent Document 1 is covered with a container lid, and in the container, cushion materials are provided at the lowermost stage and the uppermost stage.
  • a plurality of plate-like objects such as semiconductor wafers are accommodated between the cushion materials, and a spacer sheet is interposed between the upper and lower adjacent plate-like objects. Damage was suppressed by the spacer sheet.
  • the cover glass (glass substrate) on the surface of the image sensor and the semiconductor wafer having a 3DS-IC structure specifically, the surface of the semiconductor wafer with microbump formation and TSV terminal exposure.
  • a spacer sheet comes into direct contact with the surface of a plate such as a cover glass or a semiconductor wafer, for example, a part of the spacer sheet is transferred or rubbed and scratched.
  • the present invention eliminates the above-mentioned concerns, and even when a plate-like object such as a cover glass on the image sensor surface or a semiconductor wafer having a 3DS-IC structure is accommodated in a container and transported, the surface of these plate-like objects
  • An object of the present invention is to provide a ring spacer that can be conveyed while suppressing transfer and scratches on the surface.
  • the ring spacer according to claim 1 of the present invention is configured so that when a plurality of plate-like objects are accommodated in a vertical direction in a container that accommodates and conveys the plate-like objects,
  • a ring spacer interposed between The ring spacer includes at least a ring-shaped contact portion and a restriction portion,
  • the upper surface and the lower surface of the contact portion are substantially flat
  • the upper surface of the contact portion is a support surface that contacts the lower surface of the peripheral portion of the plate-like object and supports the lower surface of the peripheral portion of the plate-like object
  • the lower surface of the contact portion is a pressing surface that contacts the upper surface of the peripheral portion of the plate-like object and presses the upper surface of the peripheral portion of the plate-like object
  • the restricting portion is located on the outer side of the outer contour line of the plate-like object in a plan view, and is located above the support surface of the contact portion so as to protrude upward.
  • the restricting portion restricts horizontal movement of the plate-like object
  • the abutting portion is in contact with the lower surface of the peripheral portion of the plate-like object, acts as a support surface for supporting the lower surface of the peripheral portion of the plate-like object, and is in contact with the upper surface of the peripheral portion of the plate-like object. It acts as a pressing surface for pressing the upper surface of the peripheral edge of the object.
  • the ring spacer according to the present invention has transfer or scratches on the surface of the plate-like object even when the plate-like object such as a cover glass on the surface of the image sensor or a semiconductor wafer having a 3DS-IC structure is accommodated in a container and transported. It can be transported while suppressing sticking.
  • FIG. 4 is an enlarged view of an end face taken along the line BB ′ in FIG. 3.
  • FIG. 4 is an enlarged end view taken along the line CC ′ in FIG. 3.
  • the ring spacer 10 of the present invention has a plate-like object 20 to be accommodated when a plurality of plate-like objects 20 are accommodated in a vertical direction in a container that accommodates and conveys the plate-like object 20. Use it above and below.
  • the ring spacer of the present invention comprises at least a restricting portion 11 and a ring-shaped contact portion 12 as shown in FIGS.
  • the restricting portion 11 is located outward from the outer contour line of the plate-like object 20 in a plan view, that is, located on the outermost periphery of the ring spacer 10 and protrudes above the support surface 12a of the contact portion 12.
  • the movement of the plate-like object 20 in the horizontal direction is restricted by having the restriction portion upper surface 11a located at the right and the restriction portion lower surface 11b located at an appropriate position in the thickness direction of the contact portion 12.
  • the ring-shaped contact portion 12 is located inward of the restricting portion 11, that is, on the inner peripheral side of the restricting portion 11, and the upper surface 12 a and the lower surface 12 b of the contact portion 12 have a substantially flat shape.
  • the upper surface 12a of the portion 12 abuts on the lower surface of the peripheral edge of the plate-like object and acts as a support surface 12a that supports the lower surface of the peripheral edge of the plate-like object. It abuts on the upper surface of the part and acts as a pressing surface 12b for pressing the upper surface of the peripheral edge of the plate-like object.
  • “outward” refers to a direction away from the center of the ring spacer 10
  • “inward” refers to a direction toward the center of the ring spacer.
  • the restricting portion 11 in the ring spacer 10 of the present invention is a part that is located outward from the outer contour line of the plate-like object 20 in a plan view and restricts the horizontal movement of the plate-like object 20. Therefore, the upper surface 11 a of the restricting portion 11 protrudes above the upper surface (support surface) 12 a of the ring-shaped contact portion, and the height (that is, the thickness of the restricting portion 11) is greater than the thickness of the plate-like object 20. Is also big.
  • the restricting portion upper surface 11a is too high, the restricting portion upper surface 11a and the restricting surface 12b are restricted before the pressing surface 12b of the adjacent ring spacer 10 abuts (contacts) the peripheral surface of the plate-like object 20.
  • the lower surface 11b comes into contact, and it is difficult to hold the plate-like object 20 from moving up and down. Therefore, it is preferable to adjust the height so that the upper surface 11a and the lower surface 11b of the restricting portion are not in contact with each other as shown in FIG.
  • the restricting portion 11 may be provided discontinuously along the outer periphery of the contact portion 12 on the outermost periphery of the ring spacer 10, that is, outside the contact portion 12. Although not shown, they can be provided continuously.
  • the contact between the ring spacer 10 and the container body 40 is reduced, and the ring spacer 10 is removed when the ring spacer 10 is stored in the container body 40 or when the ring spacer 10 is stored in the container body 40. At this time, rubbing between the container body 40 and the ring spacer 10 can be reduced, and as a result, foreign matters (particles) generated from the container can be reduced.
  • the dimensions of the restricting portion 11 when the restricting portion 11 is formed in a discontinuous state is such that the restricting portion 11 can restrict the horizontal movement of the plate-like body 20 and minimizes contact with the container body 40. If possible, there is no particular limitation, but practically, it may be about 10 to 50% with respect to the circumferential length of the contact portion 12.
  • the inner surface 11c of the restricting portion 11 that contacts the side surface of the plate-like object 20 may have a flat shape as shown in FIG.
  • the support surface 12a of the contact portion 12 may be tapered from the support surface 12a of the restricting portion 11 with an inclination angle ⁇ > 90 °, or FIG. ),
  • the three corners of FIGS. 4A and 4B may be rounded.
  • the upper surface and the lower surface of the contact portion 12 have a substantially flat shape, and the upper surface (support surface) 12a of the contact portion is the periphery of the plate-like object 20.
  • the lower surface (pressing surface) 12b of the contact portion abuts on the upper surface of the peripheral portion of the plate-shaped object 20 and abuts on the lower surface of the plate-shaped material. It acts as a pressing surface that holds the upper surface of the peripheral edge of the object.
  • the position of the support surface 12a in the contact portion 12 is preferably lower than the restricting portion upper surface 11a and higher than an adsorbing portion upper surface 13a described later.
  • the position of the pressing surface 12b in the contact portion 12 is preferably lower than the lower surface of the restricting portion 11 and the lower surface of the suction portion 13b.
  • the support surface 12a in the ring-shaped contact portion 12 of the present invention is a surface that contacts and supports only the lower surface of the peripheral portion of the plate-like object 20 as shown in FIG.
  • the plate-like object 20 is, for example, a semiconductor wafer
  • a circuit forming surface is formed.
  • the plate-like object 20 is a glass substrate
  • an uneven pattern or other surface is formed. Therefore, a part of the ring spacer 10 is not transferred to the surface of the use surface of the plate-like object 20, and damage can be suppressed and transported.
  • the support surface 12 a may be provided in a discontinuous state along the outer periphery of the ring spacer 10 via the air holes 14, or is not shown, but is continuous without providing the air holes 14. May be provided.
  • the dimension of the air hole 14 is 1 to 3 mm in the length direction, and the width direction is not particularly limited as long as air can enter and exit.
  • the width of the support surface 12a shown in FIG. If the width is less than 1 mm, it becomes insufficient to support the plate-like object 20, and the horizontal state of the plate-like object 20 cannot be maintained, and the ring spacer 10 and the plate-like object 20 come into contact with each other during the transfer. And may not be able to suppress damage. If the width exceeds 3 mm, it may come into contact with the circuit forming surface or the processed surface.
  • the shape of the surface of the support surface 12a that contacts the lower surface of the peripheral edge of the plate-like object 20 may be a substantially flat shape, and may be a flat shape as shown in FIGS. Although not shown, a substantially flat shape having a fine uneven shape may be used in order to minimize the contact portion with the plate-like object 20.
  • the pressing surface 12b in the ring-shaped contact portion 12 of the present invention is a surface that contacts the upper surface of the peripheral portion of the plate-like object 20 stored below as shown in FIG. As a result, it is possible to suppress the plate-like object 20 being conveyed in the conveyance container from moving up and down.
  • the pressing surface 12b may be the same as the width of the support surface 12a as shown in FIG. 2 or may be narrower or wider than the width of the support surface 12a, although not shown.
  • the holding surface 12b may be provided in a discontinuous state through the air holes 14, or may be provided in a continuous state without providing the air holes 14, although not shown.
  • the dimension of the air hole 14 is 1 to 3 mm in the length direction, and the width direction is not particularly limited as long as air can enter and exit.
  • the ring spacer 10 shown in FIG. 3 is described with the same figure because the upper surface (front surface) and the opposite surface (lower surface or bottom surface) are the same.
  • the portion of the pressing surface 12b that comes into contact with the plate-like object 20 may be substantially flat as in the support surface 12a.
  • it may be flat or may be substantially flat having a fine uneven shape. Good.
  • the ring spacer 10 of the present invention may be provided with a suction portion 13 in a continuous state inward of the contact portion 12.
  • the ring spacer 10 can be stored in the transport container or removed from the transport container by the suction device.
  • the suction portion 13 of the ring spacer 10 is sucked by the suction device and stored in the transport container, or from the transport container. It can be done automatically.
  • the ring spacer 10 of the present invention has a contact portion 12 formed in a discontinuous state to provide a gap, and the gap serves as an air hole 14.
  • the ring spacer 10 and the plate-like object 20 can be easily separated.
  • the ring spacer 10 of the present invention can be formed of synthetic resin by injection molding, vacuum molding, pressure molding, or the like.
  • Synthetic resins include polypropylene resins, polystyrene resins, ABS resins, polycarbonate resins, polyacetal resins, polyphenylene ether resins, polyether nitrile resins, polyphenylene sulfide resins, polyphthalamide resins, polyarylate resins. Examples thereof include resins, polysulfone resins, polyether sulfone resins, polyetherimide resins, liquid crystal polymer resins, and polyether ether ketone resins.
  • the synthetic resin may contain a conductive filler or an antistatic agent, or the surface of the ring spacer 10 after molding may be subjected to a conductive treatment so that the surface resistance value of the ring spacer 10 is 10 1 to 10 12 ⁇ .
  • a conductive filler carbon black, graphite carbon, graphite, carbon fiber, metal powder, metal fiber, metal oxide powder, metal-coated inorganic fine powder, organic fine powder and fiber can be used.
  • the conductive treatment include a treatment in which a film obtained by polymerizing a conductive polymer is directly formed on the surface of the ring spacer 10 after molding, or a coating containing a conductive polymer and a binder resin is coated.
  • the plate-like object 20 is a glass substrate, a semiconductor wafer or the like, and its shape is usually circular.
  • circuit patterns may be formed on both sides. Even in this case, a semiconductor having circuit patterns formed on both sides by using the ring spacer 10 of the present invention. It can be transferred while suppressing transfer and scratches on both surfaces of the wafer.
  • the transport container has a short cylindrical outline having a substantially circular bottom surface with the container lid 41 attached to the container body 40.
  • the container may be a container having a short prismatic outline having a substantially square bottom surface with the container lid attached to the container body.
  • you may provide a cushioning material in the lowest stage and uppermost stage in a conveyance container, and may not provide a cushioning material depending on the case.
  • the container body 40 and the container lid 41 are integrally formed by injection molding using conductive plastics to which a conductive filler and an antistatic agent are added, or conductive plastics subjected to polymer alloy treatment as a raw material.
  • the conductive filler to be added carbon black, graphite carbon, graphite, carbon fiber, metal powder, metal fiber, metal oxide powder, metal-coated inorganic fine powder, organic fine powder and fiber can be used.
  • cushion materials 30 are arranged at the lowermost and uppermost stages, and the plate-like objects 20 are interposed between the cushion materials 30.
  • a plurality of sheets are arranged and stored in the container main body 40 so that the ring spacer 10 is interposed above and below each plate-like object 20, and the container lid 41 is attached to the stored container main body 40.
  • a separate metal fitting (not shown) may be attached to the notch provided in the container main body, and the container lid may be firmly fixed with the metal fitting after the container lid is attached to the container main body.
  • the cushion material 30 can be disposed and housed in the lowermost and uppermost stages in the transport container.
  • a material of the cushion material 30 a flexible polyurethane foam, a polyethylene foam, a polypropylene foam, or a polystyrene foam can be used.
  • conductivity can be imparted to the cushion material 30, and the surface resistance is preferably 10 12 ⁇ or less.
  • the obtained ring spacer was subjected to a drop test and a transfer test.
  • the test method is as follows.
  • [Drop test] 1 a cushion body 30, a ring spacer 10, a plate-like object 10 (semiconductor wafer), a ring spacer 10, and a plate-like object 20 (semiconductor wafer) and the ring spacer 10 are alternately repeated.
  • a transport container (cylindrical transport container having an outer diameter of 226 mm and a height of 103 mm) in which the cushion material 30 was laid on the uppermost ring spacer 10 and the container lid 41 was mounted was prepared. Note that a total of 14 ring spacers and 13 plate-like objects (semiconductor wafers) were accommodated in the transfer container composed of the container body 40 and the container lid 41, respectively.
  • the transfer container is covered with two transfer container cushioning materials (PP packing made by Achilles: MA-8PP), and the covered container is a cardboard box (external dimensions: length 305 mm, width 305 mm, height 235 mm). Cardboard box having a rectangular parallelepiped shape). Subsequently, a drop test was performed on the cardboard box into which the transfer container and the two cushioning materials were inserted in accordance with ISO2248.
  • PP packing made by Achilles: MA-8PP PP packing made by Achilles: MA-8PP
  • the covered container is a cardboard box (external dimensions: length 305 mm, width 305 mm, height 235 mm). Cardboard box having a rectangular parallelepiped shape).
  • the cardboard is allowed to fall freely from a height of 100 cm and 120 cm (falling direction: one corner, three ridges and six sides), and then a transport container All the plate-like objects 20 (semiconductor wafers) were taken out of the plate, and the state of the plate-like objects 20 (semiconductor wafers) was visually observed. As a result, all the plate-like objects 20 (semiconductor wafers) were not damaged.
  • a drop tester DTS-100 manufactured by Shinei Technology Co., Ltd.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Packaging Frangible Articles (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

【目的】 イメージセンサー表面のカバーガラスや、3DS-IC構造を持つ半導体ウエハなどの板状物を容器内に収納して搬送する場合に、これら板状物表面に転写や傷が付くのを抑制して搬送できるリングスペーサーを提供する。 【構成】 板状物を収納して搬送させる容器内において、板状物の上下に介在されるリングスペーサーであって、リングスペーサーは少なくともリング状の当接部と規制部とを備え、当接部における上面および下面は、略フラット形状であり、当接部における上面は板状物の周縁部下面と当接し、板状物の周縁部下面を支持する支持面であり、当接部における下面は板状物の周縁部上面と当接し、板状物の周縁部上面を押さえる押さえ面であり、規制部は、平面視で板状物の外輪郭線よりも外方に位置し、かつ当接部の支持面よりも上方に突出して位置する規制部上面と、当接部の厚み方向の適宜箇所に位置する規制部下面とを有することを特徴とする。

Description

リングスペーサー
 本発明は、リングスペーサーに関する。
 従来、ガラス基板や半導体ウエハなどの板状物を搬送する際、コインスタック式(横置き)搬送容器に板状物を収納して搬送されていた。
 このコインスタック式搬送容器としては、例えば特許文献1に記載されているような容器本体に容器蓋を被せたものが知られており、その容器内には、最下段と最上段にクッション材が設けられ、そのクッション材間に半導体ウエハなどの板状物が複数枚収納され、上下に隣り合う板状物の相互間にスペーサーシートが介在されており、搬送中の振動や衝撃による板状物の損傷をスペーサーシートによって抑制していた。
特開2002-240883号公報
 ところが昨今、イメージセンサー表面のカバーガラス(ガラス基板)や、3DS-IC構造を持つ半導体ウエハ、具体的には該半導体ウエハ表面にマイクロバンプの形成やTSV端子の露出があるものは、それぞれ非常に繊細な構造を有しており、結果、これらカバーガラスや半導体ウエハなどの板状物表面に例えばスペーサーシートが直接接触すると、スペーサーシートの一部分が転写し、或いは擦れて傷を付け、これら板状物を破損させるかも知れない懸念が生じている。
 そこで本発明は、上記懸念を払拭し、例えばイメージセンサー表面のカバーガラスや、3DS-IC構造を持つ半導体ウエハなどの板状物を容器内に収納して搬送する場合でも、これら板状物表面に転写や傷が付くのを抑制して搬送できるリングスペーサーを提供することを目的とする。
 上記課題を解決するため、本発明の請求項1記載のリングスペーサーは、板状物を収納して搬送させる容器内において、板状物を上下方向に複数枚収納させる際、板状物の上下に介在されるリングスペーサーであって、
 前記リングスペーサーは、少なくともリング状の当接部と規制部とを備え、
 前記当接部における上面および下面は、略フラット形状であり、
 前記当接部における上面は、板状物の周縁部下面と当接し、前記板状物の周縁部下面を支持する支持面であり、
前記当接部における下面は、板状物の周縁部上面と当接し、前記板状物の周縁部上面を押さえる押さえ面であり、
 前記規制部は、平面視で前記板状物の外輪郭線よりも外方に位置し、かつ前記当接部の支持面よりも上方に突出して位置する規制部上面と、前記当接部の厚み方向の適宜箇所に位置する規制部下面とを有することを特徴とし、
 前記規制部は、前記板状物の水平方向移動を規制し、
 前記当接部は、前記板状物の周縁部下面と当接し、前記板状物の周縁部下面を支持する支持面として作用し、かつ前記板状物の周縁部上面と当接し、前記板状物の周縁部上面を押さえる押さえ面として作用する。
 本発明のリングスペーサーは、例えばイメージセンサー表面のカバーガラスや、3DS-IC構造を持つ半導体ウエハなどの板状物を容器に収納して搬送する場合でも、これら板状物表面に転写や傷が付くのを抑制して搬送することができる。
搬送容器内に板状物などを収納した状態を説明する図。 搬送容器内に板状物を複数枚収納した際、板状物とリングスペーサーとの収納状態を説明する図。 本発明のリングスペーサーを平面視した図。 (A)が図3におけるA-A'部分を切断した端面拡大図、(B)~(D)は同部分の他の例を説明する端面拡大図。 図3におけるB-B'部分を切断した端面拡大図。 図3におけるC-C'部分を切断した端面拡大図。
[リングスペーサー]
 図1に示すように、本発明のリングスペーサー10は、板状物20を収納して搬送させる容器内において、板状物20を上下方向に複数枚収納させる際、その収納させる板状物20の上下に介在させて使用する。
 また、本発明のリングスペーサーは、図2~図4に示すように少なくとも規制部11とリング状の当接部12とを備え、
規制部11は、平面視で板状物20の外輪郭線よりも外方に位置し、すなわちリングスペーサー10の最外周に位置し、かつ前記当接部12の支持面12aよりも上方に突出して位置する規制部上面11aと、前記当接部12の厚み方向の適宜箇所に位置する規制部下面11bとを有する構成とすることにより、板状物20の水平方向移動を規制する。
リング状の当接部12は、規制部11よりも内方、すなわち規制部11の内周側に位置し、前記当接部12における上面12aおよび下面12bは略フラット形状であり、前記当接部12における上面12aは、板状物の周縁部下面と当接し、前記板状物の周縁部下面を支持する支持面12aとして作用し、前記当接部における下面12bは、板状物の周縁部上面と当接し、前記板状物の周縁部上面を押さえる押さえ面12bとして作用する。
 なお、ここでいう「外方」とは、リングスペーサー10の中心から外へ離れていく方向を指し、「内方」とは、リングスペーサーの中心に向かう方向を指す。
[規制部]
 本発明のリングスペーサー10における規制部11は、平面視で板状物20の外輪郭線よりも外方に位置すると共に、板状物20の水平方向移動を規制する部位である。従って、規制部11の上面11aは、リング状の当接部における上面(支持面)12aよりも上方に突出しており、その高さ(すなわち規制部11の厚み)は板状物20の厚みよりも大きい。
 但し、規制部上面11aの高さが高過ぎると、上に隣り合うリングスペーサー10の押さえ面12bが板状物20の周縁部上面と当接(接触)する前に、規制部上面11aと規制部下面11bとが接触してしまい、板状物20が上下方向へ移動するのを押さえ難くしてしまう。そこで、図2に示すように規制部上面11aと下面11bとが搬送容器内において非接触となるように高さを調整するのがよい。
 また、規制部11は、図3に示すように、リングスペーサー10の最外周、すなわち当接部12の外方に、当接部12の外周に沿って、不連続に設けてもよいし、図示はしないが、連続して設けることもできる。
 図3に示すように、不連続に設ければ、リングスペーサー10と容器本体40との接触が少なくなり、容器本体40へリングスペーサー10を収納する際、或いは容器本体40からリングスペーサー10を取り除く際、容器本体40とリングスペーサー10との擦れを少なくでき、結果、容器から発生する異物(パーティクル)を低減できる。
 規制部11を不連続状態で形成する際の規制部11の寸法は、規制部11が板状体20の水平方向の移動を制限することができ、かつ容器本体40との接触を極力少なくすることができれば、特に制限しないが、実用的には当接部12の周長に対して10~50%程度であればよい。
 また、板状物20の側面(平面視で、板状物の外輪郭線)と接触する規制部11の内方面11cは、図4(A)に示すようなフラット形状であってもよいし、図4(B)に示すように、当接部12の支持面12aから規制部11の上面11aへ傾斜角θ>90°のテーパを付けてもよいし、図4(C)や(D)に示すように、図4(A)や(B)の3つのコーナー部をアール形状としてもよい。
[当接部]
 本発明のリングスペーサー10におけるリング状の当接部12は、該当接部12における上面および下面が略フラット形状であり、前記当接部における上面(支持面)12aが、板状物20の周縁部下面と当接し、前記板状物の周縁部下面を支持する支持面として作用し、前記当接部における下面(押さえ面)12bが板状物20の周縁部上面と当接し、前記板状物の周縁部上面を押さえる押さえ面として作用する。
 そして、当接部12における支持面12aの位置は、規制部上面11aよりも低く、後述の吸着部上面13aよりも高い位置にあることがよい。また、当接部12における押さえ面12bの位置は、規制部11下面および吸着部下面13bよりも下方の位置にあることがよい。
(支持面)
 本発明のリング状の当接部12における支持面12aとは、図2に示すように板状物20の周縁部下面のみと当接して支持する面である。その結果、板状物20が例えば半導体ウエハの場合は回路形成面、ガラス基板の場合は凹凸パターン等形成面、すなわち板状物20の周縁部以外の面と、リングスペーサー10とを非接触状態で容器内に収納できるので、板状物20における使用面の表面に、リングスペーサー10の一部が転写せず、傷付きも抑制し、搬送することができる。
 支持面12aは、図3に示すように、リングスペーサー10の外周に沿って空気孔14を介しながら不連続状態に設けてもよいし、図示はしないが、空気孔14を設けずに連続状態で設けてもよい。
 また、空気孔14の寸法としては、長さ方向は1~3mmであり、幅方向は空気が入・出できれば特に制限されない。
 図2に示す支持面12aの幅、すなわち板状物20の周縁部下面と当接して支持する幅は1~3mmがよい。その幅が1mm未満であると、板状物20を支持するのが不十分となり、板状物20の水平状態を維持できず、搬送時にリングスペーサー10と板状物20とが接触し、転写や傷付きを抑制できない場合がある。その幅が3mmを超えると、回路形成面や加工面と接触してしまう場合がある。
 また、支持面12aにおける板状物20の周縁部下面と当接する面の形状は、略フラット形状であればよく、例えば図2,4~6に示すようにフラット形状であってもよいし、図示はしないが、板状物20との接触部を極力少なくするために微細な凹凸形状を有する略フラット形状であってもよい。
(押さえ面)
 本発明のリング状の当接部12における押さえ面12bは、図2に示すように下方に収納される板状物20の周縁部上面と当接する面である。その結果、搬送容器内で搬送中の板状物20が上下方向に移動するのを抑制することができるものである。
 なお、押さえ面12bは、図2に示すように支持面12aの幅と同一でもよいし、図示はしないが、支持面12aの幅より狭くても、広くてもよい。
 押さえ面12bも、支持面12aと同様に、空気孔14を介しながら不連続状態に設けてもよいし、図示はしないが、空気孔14を設けずに連続状態で設けてもよい。
 また、空気孔14の寸法としては、長さ方向は1~3mmであり、幅方向は空気が入・出できれば特に制限されない。
 なお、図3に示すリングスペーサー10は、上面(表面)と、その反対面(下面あるいは底面)は同一に表されるため、同じ図で説明する。
 押さえ面12bの板状物20と接触する部位は、支持面12aと同じように、略フラット形状であればよく、例えばフラット形状でもよいし、微細な凹凸形状からなる略フラット形状であってもよい。
[吸着部]
 本発明のリングスペーサー10は、当接部12よりも内方に、連続状態で吸着部13を備えてもよい。この吸着部13を備えることで、吸着装置によりリングスペーサー10を搬送容器へ収納し、或いは搬送容器から取り除くことができる。例えば、搬送容器にリングスペーサー10を収納する、或いは、搬送容器からリングスペーサー10を取り除く場合、吸着装置でリングスペーサー10の吸着部13を吸着させ、搬送容器内へ収納し、或いは搬送容器内から取り除くことを自動的に行うことができる。
[空気孔]
 本発明のリングスペーサー10は、例えば、図3に示すように、当接部12を不連続状態で形成して隙間を設け、その隙間を空気孔14とすることで、リングスペーサー10や板状物20を搬送容器から取り除く際、リングスペーサー10と板状物20とを分離し易くできる。とりわけ、空気孔14を3箇所以上設けることでリングスペーサー10と板状物20とをそれぞれ独立して分離し易くできる。
[リングスペーサーの素材]
 本発明のリングスペーサー10は、合成樹脂を射出成形、真空成形、圧空成形などで形成することができる。合成樹脂としては、ポリプロピレン系樹脂、ポリスチレン系樹脂、ABS系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、ポリアセタール系樹脂、ポリフェニレンエーテル系樹脂、ポリエーテルニトリル系樹脂、ポリフェニレンサルファイド系樹脂、ポリフタルアミド系樹脂、ポリアリレート系樹脂、ポリサルフォン系樹脂、ポリエーテルサルフォン系樹脂、ポリエーテルイミド系樹脂、液晶ポリマー系樹脂、ポリエーテルエーテルケトン系樹脂等が挙げられる。
 また、合成樹脂に導電性フィラーや帯電防止剤を含有させる、或いは成形後のリングスペーサー10表面に導電処理を施し、リングスペーサー10の表面抵抗値を101~1012Ωにしてもよい。なお、導電性フィラーとしては、カーボンブラック、グラファイトカーボン、グラファイト、炭素繊維、金属粉末、金属繊維、金属酸化物の粉末、金属コートした無機質微粉末、有機質微粉末および繊維が使用できる。導電処理としては、成形後のリングスペーサー10表面に直接導電性ポリマーを重合した膜を形成する、或いは導電性ポリマーとバインダー樹脂を含んだ塗料をコーティングする処理が挙げられる。
[板状物]
 板状物20とは、ガラス基板や半導体ウエハなどであり、その形状は通常円形である。
 なお、板状物20が半導体ウエハの場合、両面に回路パターンが形成された場合があるが、その場合でも、本発明のリングスペーサー10を使用することで、両面に回路パターンが形成された半導体ウエハの両表面に、転写や傷が付くのを抑制して搬送することができる。
[搬送容器]
 搬送容器は、図1に示すように容器本体40に容器蓋体41が装着された状態で概略円形の底面を有する背の低い円柱状の輪郭を呈する。なお、特許第4562930号に記載されているように、容器本体に容器蓋体が装着された状態で概略正方形の底面を有する背の低い角柱状の輪郭を呈する容器であってもよい。
 なお、図1に示すように搬送容器内の最下段と最上段にクッション材を設けてもよいし、場合によってはクッション材を設けなくてもよい。
 また、容器本体40および容器蓋体41は、導電性フィラーや帯電防止剤を添加した導電性プラスチックス、あるいはポリマーアロイ処理した導電性プラスチックスを素材として射出成形により一体成形されている。なお、添加する導電性フィラーとしては、カーボンブラック、グラファイトカーボン、グラファイト、炭素繊維、金属粉末、金属繊維、金属酸化物の粉末、金属コートした無機質微粉末、有機質微粉末および繊維が使用できる。
 また、例えば板状物20を複数枚重ねて搬送容器に収納する場合、図1に示すように、最下段と最上段にクッション材30が配置され、そのクッション材30間に板状物20が複数枚配置され、各板状物20の上下にリングスペーサー10を介在するように容器本体40に収納され、その収納された容器本体40に容器蓋体41を装着するものである。
 なお、容器本体に設けた切り欠き部に別途金具を付けて(図示省略)、容器本体に容器蓋体を装着後、金具で容器蓋体を強固に固定してもよい。
[クッション材]
 クッション材30は、搬送容器内の最下段と最上段に配置収納することができる。クッション材30の素材として、軟質ポリウレタンフォーム、ポリエチレンフォーム、ポリプロピレンフォーム、ポリスチレンフォームを用いることができる。
 また、クッション材30にも導電性を付与することができ、この表面抵抗は1012Ω以下とするのが好ましい。
[リングスペーサーの製造]
 ポリカーボネート樹脂(帝人化成(株)製のパンライトL-1225L)を射出成形し、図3、図4(A)、図5~6に示す形状のリングスペーサーを得た。
 得られたリングスペーサーについて、落下試験と転写試験を行った。試験方法は、以下の通りである。
[落下試験]
 図1に示すような容器本体40に、クッション材30、リングスペーサー10、板状物10(半導体ウエハ)、リングスペーサー10、そして板状物20(半導体ウエハ)とリングスペーサー10を交互に繰り返して収納し、最上部のリングスペーサー10の上にクッション材30を敷き、容器蓋体41を装着した搬送容器(外径226mm・高さ103mmの円柱形状の搬送容器)を準備した。なお、容器本体40と容器蓋41とからなる搬送容器には、合計でリングスペーサーを14枚、板状物(半導体ウエハ)を13枚それぞれ収納させた。
 続いて、搬送容器の緩衝材(アキレス製のPPパッキン:MA-8PP)を2個使って搬送容器を覆い、その覆ったものを段ボール箱(外寸:長さ305mm・幅305mm・高さ235mmの直方体形状の段ボール箱)に挿入した。
 続いて、搬送容器と2個の緩衝材を挿入した段ボール箱を、ISO2248に準拠して落下試験を行った。具体的には、落下試験機(神栄テクノロジー社製のDTS-100)を用いて、100cm、120cmの高さから段ボールを自由落下(落下方向:1角3稜6面)させ、その後、搬送容器から全ての板状物20(半導体ウエハ)を取り出し、板状物20(半導体ウエハ)の状態を目視で観察した。
 結果、全ての板状物20(半導体ウエハ)において、破損がなかった。
[転写試験]
 上記の落下試験と同じ収納態様の搬送容器を準備し、この状態の搬送容器を6ヶ月間保存し、その後、搬送容器から全ての板状物20(半導体ウエハ)を取り出し、板状物20(半導体ウエハ)表面をレーザーマイクロスコープ((株)キーエンス製のVK-8500)で観察した。
 結果、板状物20の表面に、異物(リングスペーサー20を構成する素材の一部)が転写されていなかった。
10  リングスペーサー
11  規制部
11a 規制部上面
11b 規制部下面
11c 規制部内方面
12  リング状の当接部
12a 支持面(リング状の当接部における上面)
12b 押さえ面(リング状の当接部における下面)
13  吸着部
13a 吸着部上面
13b 吸着部下面
14  空気孔
20  板状物
30  クッション材
40  容器本体 
41  容器蓋体

Claims (3)

  1.  板状物を収納して搬送させる容器内において、板状物を上下方向に複数枚収納させる際、板状物の上下に介在されるリングスペーサーであって、
     前記リングスペーサーは、少なくともリング状の当接部と規制部とを備え、
     前記当接部における上面および下面は、略フラット形状であり、
     前記当接部における上面は、板状物の周縁部下面と当接し、前記板状物の周縁部下面を支持する支持面であり、
    前記当接部における下面は、板状物の周縁部上面と当接し、前記板状物の周縁部上面を押さえる押さえ面であり、
     前記規制部は、平面視で前記板状物の外輪郭線よりも外方に位置し、かつ前記当接部の支持面よりも上方に突出して位置する規制部上面と、前記当接部の厚み方向の適宜箇所に位置する規制部下面とを有することを特徴とするリングスペーサー。
  2.  規制部が、連続状態または不連続状態に形成されてなることを特徴とする請求項1に記載のリングスペーサー。
  3.  当接部よりも内方に、吸着部を備えることを特徴とする請求項1または2に記載のリングスペーサー。 
PCT/JP2015/083179 2014-11-27 2015-11-26 リングスペーサー WO2016084882A1 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW104139309A TWI646030B (zh) 2014-11-27 2015-11-26 Ring spacer
US15/529,684 US10658212B2 (en) 2014-11-27 2015-11-26 Ring spacer
SG11201704304XA SG11201704304XA (en) 2014-11-27 2015-11-26 Ring spacer
CN201580063864.0A CN107004627A (zh) 2014-11-27 2015-11-26 环形间隔件
MYPI2017701917A MY188996A (en) 2014-11-27 2015-11-26 Ring spacer
JP2016561936A JP6401293B2 (ja) 2014-11-27 2015-11-26 リングスペーサー

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014-240117 2014-11-27
JP2014240117 2014-11-27

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2016084882A1 true WO2016084882A1 (ja) 2016-06-02

Family

ID=56074434

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2015/083179 WO2016084882A1 (ja) 2014-11-27 2015-11-26 リングスペーサー

Country Status (7)

Country Link
US (1) US10658212B2 (ja)
JP (1) JP6401293B2 (ja)
CN (1) CN107004627A (ja)
MY (1) MY188996A (ja)
SG (1) SG11201704304XA (ja)
TW (1) TWI646030B (ja)
WO (1) WO2016084882A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019057612A (ja) * 2017-09-21 2019-04-11 アキレス株式会社 リングスペーサー
JP2021089927A (ja) * 2019-12-03 2021-06-10 三菱電機株式会社 キャリアスペーサおよび半導体装置の製造方法

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10832927B2 (en) * 2015-12-18 2020-11-10 Texas Instruments Incorporated Interlocking nest wafer protector
US20190067062A1 (en) * 2017-08-29 2019-02-28 Daewon Semiconductor Packaging Industrial Company Separators for handling, transporting, or storing semiconductor wafers
CN109031893B (zh) * 2018-07-24 2020-02-14 武汉华星光电技术有限公司 掩膜板存放区定位装置
CN111283646A (zh) * 2020-04-01 2020-06-16 江苏核电有限公司 一种用于柔性石墨垫存放的工具盘及其方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004022571A (ja) * 2002-06-12 2004-01-22 Toyota Motor Corp ウエハ支持治具およびそれを用いた半導体素子製造方法
JP2007281052A (ja) * 2006-04-04 2007-10-25 Miraial Kk 薄板収納容器
US20120205282A1 (en) * 2011-02-16 2012-08-16 Texchem Advanced Products Incorporated Sdn Bhd Single and dual stage wafer cushion and wafer separator

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3695424A (en) * 1970-10-28 1972-10-03 Eastman Kodak Co Package for fragile articles
JP4562930B2 (ja) 2001-02-16 2010-10-13 アキレス株式会社 ダイシングウェーハ収納容器
US6926150B2 (en) * 2003-02-05 2005-08-09 Texas Instruments Incorporated Protective interleaf for stacked wafer shipping
US20050072121A1 (en) * 2003-10-06 2005-04-07 Texas Instruments Incorporated Method and system for shipping semiconductor wafers
US20070068846A1 (en) * 2005-09-29 2007-03-29 Huang-Ting Hsiao Wafer packing
WO2007092557A2 (en) * 2006-02-08 2007-08-16 Entegris, Inc. Stacking rings for wafers
FR2902235B1 (fr) * 2006-06-09 2008-10-31 Alcatel Sa Dispositif de transport, de stockage et de transfert de substrats
JP5029891B2 (ja) 2007-08-01 2012-09-19 日本電気硝子株式会社 スペーサ及び板状物梱包体
JP4825771B2 (ja) * 2007-10-22 2011-11-30 信越ポリマー株式会社 ウェーハ収納容器およびウェーハのハンドリング方法
US20100224517A1 (en) * 2009-03-03 2010-09-09 Haggard Clifton C Disk separator device
US9099514B2 (en) * 2012-03-21 2015-08-04 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Wafer holder with tapered region
CN103223663A (zh) * 2013-04-17 2013-07-31 任向荣 工件存放容器
CN106463437B (zh) 2014-02-25 2019-09-06 恩特格里斯公司 具有堆叠式支撑环的晶片运送装置
JP6247566B2 (ja) * 2014-02-28 2017-12-13 東洋炭素株式会社 加熱処理容器、加熱処理容器集合体、及び、半導体素子製造装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004022571A (ja) * 2002-06-12 2004-01-22 Toyota Motor Corp ウエハ支持治具およびそれを用いた半導体素子製造方法
JP2007281052A (ja) * 2006-04-04 2007-10-25 Miraial Kk 薄板収納容器
US20120205282A1 (en) * 2011-02-16 2012-08-16 Texchem Advanced Products Incorporated Sdn Bhd Single and dual stage wafer cushion and wafer separator

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019057612A (ja) * 2017-09-21 2019-04-11 アキレス株式会社 リングスペーサー
JP7061857B2 (ja) 2017-09-21 2022-05-02 アキレス株式会社 リングスペーサー
JP2021089927A (ja) * 2019-12-03 2021-06-10 三菱電機株式会社 キャリアスペーサおよび半導体装置の製造方法
JP7330081B2 (ja) 2019-12-03 2023-08-21 三菱電機株式会社 キャリアスペーサおよび半導体装置の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20170330778A1 (en) 2017-11-16
JPWO2016084882A1 (ja) 2017-09-07
SG11201704304XA (en) 2017-06-29
TW201634360A (zh) 2016-10-01
MY188996A (en) 2022-01-17
US10658212B2 (en) 2020-05-19
CN107004627A (zh) 2017-08-01
TWI646030B (zh) 2019-01-01
JP6401293B2 (ja) 2018-10-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6401293B2 (ja) リングスペーサー
TWI291437B (en) Packing box for a glass substrate and a package structure of a glass substrate using the same
US9666468B2 (en) Tray for a wafer with tape frame
US10535542B2 (en) Wafer box, method for arranging wafers in a wafer box, wafer protection plate and method for protecting a wafer
JP6166275B2 (ja) 基板収納容器
US7579072B2 (en) Substrate accommodating tray
TWI462211B (zh) 承載裝置與承載裝置及被載物之組合
WO2017069205A1 (ja) セパレータ
JP7061857B2 (ja) リングスペーサー
JP6646385B2 (ja) セパレータ
JP6990873B2 (ja) 半導体ウェハ容器
JP6433206B2 (ja) テープフレーム付きウエハ用トレイ
JP2004311779A (ja) 半導体ウェーハ収納容器及び半導体ウェーハの搬送方法
CN219488014U (zh) 电池托盘、电池托盘搬运装置及电池生产线
TWI729070B (zh) 基板載運器
JP2002362736A (ja) シート状無機材料の取り出し搬送方法及び収納兼搬送用トレイ
TWM534727U (zh) 工件承載盤之改良結構
JP2012126408A (ja) ウエハー用運搬ケース

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 15863096

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2016561936

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 15529684

Country of ref document: US

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 11201704304X

Country of ref document: SG

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 15863096

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1