WO2015050066A1 - 放射線検出器 - Google Patents

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戸波 寛道
倫明 津田
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株式会社島津製作所
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Definitions

  • the present invention relates to a radiation detector in which scintillator crystals are arranged two-dimensionally or three-dimensionally, and more particularly to a radiation detector provided with a reflector for distinguishing the position of fluorescence generation in the depth direction.
  • Such a radiation detector 51 has a scintillator 52 in which scintillator crystals c are arranged three-dimensionally in the vertical, horizontal, and height directions, and a photodetector 53 that detects fluorescence emitted from the scintillator 52. .
  • the fluorescence emitted from the scintillator 52 is obtained by converting radiation (see, for example, Patent Document 1).
  • the radiation detector 51 has a function of distinguishing in which part of the scintillator 52 the fluorescence is emitted when measuring the fluorescence. Such a function is called a fluorescence position discrimination function.
  • the radiation detector 51 discriminates the position of the fluorescence by specifying which of the scintillator crystals c constituting the scintillator 52 emits the fluorescence.
  • the scintillator 52 is configured simply by arranging the scintillator crystals c, the position discrimination of the fluorescence cannot be performed accurately. In particular, in order to be able to distinguish which of the crystals emitting fluorescence is one of the crystals arranged in the height direction indicated by the shaded area in FIG. It is necessary to provide the reflecting plate 54.
  • the configuration of the reflector 54 will be described.
  • the reflection plate 54 has the same height as the crystal, and there are two types, one that extends in the horizontal direction and one that extends in the vertical direction.
  • the reflecting plate 54 extending in the horizontal direction and the reflecting plate 54 extending in the vertical direction constitute a reflecting plate frame in which the reflecting plate 54 has a lattice shape by being fitted to each other.
  • the crystals are arranged so as to be fitted into the reflector frame.
  • the scintillator 52 having a new structure has been developed. That is, as shown in FIG. 21, the scintillator 52 is such that the scintillator crystal c in FIG. 20 is integrated in the height direction. By using such a scintillator 52, the sensitivity of the radiation detector 51 is improved. In other words, the scintillator 52 of FIG. 21 can reliably cause the fluorescence to reach the photodetector 53 unlike the configuration having four scintillator crystal layers as shown in FIG. 20 (see, for example, Patent Document 2).
  • the scintillator 52 described with reference to FIG. 21 is also provided with four reflector plate bodies composed of the reflector plate 54. With this reflector plate frame, the radiation detector 51 can discriminate the generation position of the fluorescence in the height direction.
  • the conventional radiation detector has the following problems. That is, according to the conventional radiation detector, it is not possible to accurately discriminate the generation position of the fluorescence in the height direction.
  • the reflecting plate 54 does not cover all four side surfaces of the scintillator crystal.
  • the reflectors 54 are provided on the side surface located on the upper side and the side surface located on the left side of the four side surfaces of the scintillator crystal.
  • the fluorescence generated from the generation point in the first layer of the scintillator crystal tries to diffuse radially around the generation point, it is actually blocked by the reflection plate 54 and escapes from the reflection plate 54.
  • the reflecting plate 54 is provided on the side surface located on the lower side and the side surface located on the left side of the four side surfaces of the scintillator crystal.
  • the fluorescence generated in the first layer spreads in the lower right direction
  • the fluorescence generated in the second layer spreads in the upper right direction. That is, the direction in which the fluorescence spreads differs depending on where the fluorescence is generated in the scintillator crystal.
  • the conventional radiation detector distinguishes from which layer of the scintillator crystal the fluorescence is emitted.
  • Such discrimination of the fluorescence generation position in the height direction is based on the premise that the fluorescence diffuses as ideal. In that respect, the diffused fluorescent light generated in the scintillator crystal is reliably reflected when it enters the reflector 54.
  • FIG. 23 schematically shows the reflection of the fluorescence.
  • Such reflection of diffused light is not assumed when discriminating in the height direction of fluorescence, and disturbs the spread of fluorescence as described in FIG. In other words, the reflection of fluorescence generated between crystals adversely affects the position discrimination of the fluorescence particularly in the height direction. That is, the fluorescence position discrimination becomes inaccurate.
  • the present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide a radiation detector having a configuration capable of discriminating the generation position of the fluorescence generated in the scintillator crystal in the height direction. An object of the present invention is to provide a radiation detector capable of accurately discriminating.
  • the radiation detector according to the present invention includes a scintillator having scintillator crystals that convert radiation into fluorescence vertically and horizontally and having four layers of the first layer to the fourth layer in the height direction, and the scintillator optically.
  • a radiation detector including a connected photodetector, and having a plurality of reflectors extending in a lateral direction or a longitudinal direction that reflect fluorescence in a gap between adjacent scintillator crystals, the first layer and the first layer Among the reflectors provided in the two layers, those extending in the horizontal direction are arranged in the vertical direction in a cycle of one scintillator crystal so as to appear alternately between the two layers, and the second layer and Of the reflectors provided in the third layer, those extending in the horizontal direction are arranged in the vertical direction with a period of one scintillator crystal so as to appear alternately between the two layers.
  • the ones extending in the horizontal direction are arranged in the vertical direction with a period of one scintillator crystal so as to appear alternately between the two layers, and the reflectors provided in the first layer and the second layer Among them, the ones extending in the vertical direction are arranged in the horizontal direction with a period of two scintillator crystals so that the appearing positions are the same between the two layers, and are provided in the second layer and the third layer.
  • the reflecting plates extending in the vertical direction are arranged in the horizontal direction with a period of one scintillator crystal so as to appear alternately between the two layers, and are provided in the third layer and the fourth layer.
  • the reflecting plates that extend in the vertical direction are arranged in the horizontal direction with a period of two scintillator crystals so that the appearing positions are the same between the two layers, and the surface of the scintillator crystals
  • the surface facing the adjacent scintillator crystal is polished. And it is characterized in that has a treated glass-like rough surface frosted rougher than the smooth surface.
  • the scintillator crystals adjacent to each other constituting the scintillator are optically coupled by a transmission material having a refractive index smaller than that of the material constituting the scintillator crystal.
  • the above-described configuration specifically represents the radiation detector of the present invention. If the surface connected to the photodetector of the scintillator is a rough surface, a part of the fluorescence generated by the scintillator is reliably incident on the photodetector without being reflected by the surface of the scintillator. The detector will optically couple as ideal. The above configuration contributes to accurate measurement of the fluorescence of the radiation detector.
  • the roughness of the rough surface of the scintillator crystal is such that the surface of the scintillator crystal is ground with 100 to 600 polishing paper.
  • the roughness of the rough surface of the scintillator crystal is rougher than the surface of the optically polished scintillator crystal.
  • the roughness of the rough surface of the scintillator crystal is rougher than the surface of the scintillator crystal that has been subjected to the chemical etching process.
  • the above radiation detector further includes a scintillator reflector provided so as to cover the side surface and the upper surface of the scintillator when the bottom surface is the surface of the scintillator where the photodetector is optically coupled.
  • the scintillator crystal constituting the side surface of the scintillator is more desirable if all surfaces are smooth surfaces.
  • the above radiation detector further includes a scintillator reflector provided so as to cover the side surface and the upper surface of the scintillator when the bottom surface is the surface of the scintillator where the photodetector is optically coupled. It is more desirable that only the surface forming the side surface of the scintillator among the surfaces of the scintillator crystal is a smooth surface.
  • the above-described configuration specifically represents the radiation detector of the present invention.
  • the surface of the scintillator configured by the collection of scintillator crystals is a smooth surface, when the fluorescence generated in the scintillator goes to the side surface of the scintillator, a part of the fluorescence is It is reflected from the side of and returned to the scintillator. At this time, the fluorescence emitted from the scintillator is totally reflected by the scintillator reflector and is also returned to the scintillator.
  • the side surface of the scintillator according to the above-described configuration is configured to assist the function of the scintillator reflector.
  • the above configuration contributes to accurate measurement of the fluorescence of the radiation detector.
  • the six faces of the scintillator crystal are smooth, it is not necessary to worry about the orientation of the scintillator crystal when assembling the scintillator, and the manufacture of the scintillator becomes easy.
  • the optical coupling with the adjacent crystal becomes ideal, and a radiation detector capable of accurate fluorescence measurement can be provided.
  • the scintillator crystal is unprocessed with the surface cut out from the crystal ingot.
  • the above-described configuration specifically represents the radiation detector of the present invention.
  • a scintillator crystal constituting the scintillator is manufactured by cutting a cylindrical crystal ingot with a wire saw or a dicing saw.
  • the scintillator crystal immediately after being cut is rough on all six sides. Therefore, when a scintillator crystal having a rough surface is assembled to produce a scintillator, reflection is suppressed at the optical coupling surface between adjacent scintillator crystals. That is, according to the above configuration, a scintillator having the effects of the present invention can be obtained. Furthermore, according to the above-described configuration, since a process for polishing the surface of the scintillator crystal is not necessary, a manufacturing process is shortened and a low-cost radiation detector can be provided.
  • FIG. 1 is a perspective view illustrating an overall configuration of a radiation detector according to Embodiment 1.
  • FIG. 3 is a plan view illustrating the configuration of a reflector according to Example 1.
  • FIG. 3 is a plan view illustrating the configuration of a reflector according to Example 1.
  • It is a schematic diagram explaining the distinction method of the generation position of the fluorescence about the height direction of the radiation detector concerning Example 1.
  • FIG. It is a schematic diagram explaining the distinction method of the generation
  • FIG. It is sectional drawing explaining the structure of the scintillator reflecting plate which concerns on Example 1.
  • FIG. 1 is a perspective view illustrating a scintillator crystal according to Example 1.
  • FIG. 3 is a schematic diagram illustrating characteristics of the scintillator crystal according to Example 1.
  • FIG. 3 is a schematic diagram illustrating characteristics of the scintillator crystal according to Example 1. It is a schematic diagram explaining the effect of the radiation detector which concerns on Example 1.
  • FIG. It is a schematic diagram explaining the effect of the radiation detector which concerns on Example 1.
  • FIG. It is a schematic diagram explaining the effect of the radiation detector which concerns on Example 1.
  • FIG. It is a schematic diagram explaining the effect of the radiation detector which concerns on Example 1.
  • FIG. It is a schematic diagram explaining the effect of the radiation detector which concerns on Example 1.
  • FIG. It is a schematic diagram explaining the effect of the radiation detector which concerns on Example 1.
  • FIG. It is a schematic diagram explaining the effect of the radiation detector which concerns on Example 1.
  • FIG. It is a schematic diagram explaining the effect of the radiation detector which concerns on Example 1.
  • FIG. It is a schematic diagram explaining the effect of the radiation detector which concerns on Example 1.
  • FIG. It is a schematic diagram explaining the
  • SiPMA 3 semiconductor element silicon photomultipliers for detecting fluorescence are arranged in a two-dimensional matrix, and the positions of incident fluorescence with respect to x and y (horizontal and vertical) can be discriminated.
  • the light guide 4 is provided to guide the fluorescence generated in the scintillator 2 to the SiPMA 3. Therefore, the light guide 4 is optically coupled to the scintillator 2 and the SiPMA 3.
  • SiPMA3 corresponds to the photodetector of the present invention.
  • the scintillator 2 is configured by two-dimensionally arranging scintillator crystals c that convert radiation into fluorescence in the x and y directions, and includes four layers of the first layer L1 to the fourth layer L4 in the z direction. Has a layer. That is, the scintillator 2 is configured by two-dimensionally arranging quadrangular prism-shaped scintillator crystals c that are elongated in the z direction (height direction). Each of the scintillator crystals c is composed of Lu 2 (1-X) Gd 2X SiO 5 (hereinafter referred to as LGSO ) in which Ce is diffused.
  • LGSO Lu 2 (1-X) Gd 2X SiO 5
  • Each of the scintillator crystals c has a rectangular parallelepiped shape having a width in the x direction of 3 mm, a width in the y direction of 3 mm, and a height in the z direction of 20 mm, for example. Further, the four side end surfaces of the scintillator 2 are covered with a reflection film (not shown). The scintillator crystal c is provided across the first layer L1 to the fourth layer L4 of the scintillator 2.
  • the fluorescence emitted from the scintillator 2 is discriminated by the SiPMA 3 that detects the fluorescence optically connected to the scintillator 2 through the light guide 4. That is, the SiPMA 3 can distinguish from which scintillator crystal c the fluorescence emitted from the scintillator 2 is generated. That is, the SiPMA 3 has the ability to discriminate fluorescence generation positions in the x direction and the y direction of the scintillator 2.
  • SiPMA 3 can discriminate the position where the fluorescence is generated in the z direction of the scintillator 2. That is, the SiPMA 3 can discriminate from which of the four layers of the scintillator 2 the fluorescence is emitted. That is, the scintillator 2 can be divided into four regions in the z direction. The division at this time is referred to as a first layer L1, a second layer L2, a third layer L3, and a fourth layer L4 in order. Of these four layers, the layer located on the incident surface side where the radiation is incident on the scintillator 2 is the first layer L1, and the layer located on the light guide 4 side in the scintillator 2 is the fourth layer L4. It shall be.
  • the scintillator crystal c constituting the scintillator 2 is present across the layers L1, L2, L3, and L4. The height of each layer L1, L2, L3, L4 in the z direction is set to 5 mm.
  • a transmitting material t that transmits fluorescence is provided at a position between adjacent scintillator crystals c.
  • the transmissive material t is also formed between the scintillator crystal c and the reflectors RX and RY.
  • the transmitting material t also plays a role of forming the scintillator 2 by combining the scintillator crystal c and the reflecting plate.
  • the thickness of the transmissive material t is about 25 ⁇ m between the scintillator crystal c and the reflectors RX and RY, and a thermosetting resin made of silicon resin can be used as the material.
  • LGSO constituting the scintillator crystal c is a substance having a relatively high refractive index, and the refractive index of LGSO is about 1.82.
  • the silicon resin constituting the transmission material t is a substance having a relatively low refractive index, and the refractive index of the silicon resin is about 1.41.
  • the adjacent scintillator crystals c constituting the scintillator 2 are optically coupled by the transmission material t having a refractive index smaller than that of the material constituting the scintillator crystal c.
  • the scintillator 2 is provided with a reflecting plate RX extending in the x direction (horizontal direction) and a reflecting plate RY extending in the y direction (vertical direction) that reflects fluorescence in the gap between the adjacent scintillator crystals c.
  • the reflectors RX and RY are made of a plastic film such as a polyester film at a position interposed between adjacent scintillator crystals c, and have a thickness of 125 ⁇ m, for example.
  • the reflector RX corresponds to the reflector extending in the lateral direction of the present invention
  • the reflector RY corresponds to the reflector extending in the longitudinal direction of the present invention.
  • the reflection plate RYb straddles the third layer L3 and the fourth layer L4 of the scintillator 2 and is arranged in the x direction with a period of two scintillator crystals c.
  • the height of the reflecting plate RYb in the z direction is set to 10 mm for two layers, for example.
  • the height of the reflector RYb is equal to the total height of the first layer L1 and the second layer L2.
  • the reflectors RYa provided in the first layer L1 and the second layer L2 are arranged in the horizontal direction with a period of two scintillator crystals so that the appearing positions are the same between the two layers.
  • the reflectors RYa and RYb provided in the second layer L2 and the third layer L3 are arranged in the horizontal direction with a period of one scintillator crystal so as to appear alternately between the two layers.
  • the reflectors RYb provided in the third layer L3 and the fourth layer L4 are arranged in the horizontal direction with a period of two scintillator crystals so that the appearing positions are the same between the two layers. Yes.
  • the present invention is characterized by the structure of the scintillator crystal c constituting the scintillator 2.
  • the scintillator crystal c is a rectangular parallelepiped as shown in FIG. 7, and has six faces.
  • c has a rough surface on all six surfaces.
  • the rough surface is a rough surface that is rougher than a smooth surface that has been polished, and has a texture like polished glass.
  • the smooth surface is a surface polished to such an extent that the inside of the crystal can be seen through.
  • the state that the surface of the scintillator crystal c is rough is represented by shading.
  • the surface which opposes the next scintillator crystal c among the surfaces which the scintillator crystal c which comprises the scintillator 2 has is a rough surface. Therefore, according to the configuration of the first embodiment, the scintillator crystals c are optically coupled by connecting the rough surfaces via the transmission material t.
  • the center of gravity of the fluorescence generated in the first layer L1 of the scintillator crystal B located at the upper right when viewed from the center point G of the scintillator 2 appears at a position shifted from the center of the scintillator crystal B to the upper right.
  • the center of gravity of the fluorescence generated in the first layer L1 of the scintillator crystal C located at the lower left when viewed from the center point G of the scintillator 2 appears at a position shifted to the lower left from the center of the scintillator crystal C.
  • the lower left of FIG. 11 shows a case where fluorescence is generated in the third layer L3 of the four scintillator crystals c. If fluorescence is generated in the scintillator crystal c and the SiPMA 3 detects it, the position of the center of gravity identified by the SiPMA 3 should appear in the center of the scintillator crystal c. However, the third layer L3 is provided with reflectors RX and RY as shown in the lower left of FIG. Therefore, the spread of the fluorescence generated in the scintillator crystal c is biased. The position of the center of gravity detected by the SiPMA 3 is slightly shifted from the center of the scintillator crystal c where the fluorescence is generated.
  • FIG. 16 focuses on the fluorescence generated in the fourth layer L4 of the scintillator crystals A, B, C, and D as an example.
  • the scintillator crystals A, B, C, and D in the fourth layer L4 are not provided with the reflectors RX and RY between the crystals, and the scintillator crystals A, B, C, and D are viewed together.
  • the four sides are surrounded by the reflectors RX and RY.
  • the upper left side of FIG. 16 is a case where the scintillator crystal c has a smooth surface as in the past. In this case, as shown on the upper left side of FIG.
  • the roughened scintillator crystal according to the present invention functions to reinforce the effect of imparting bias to the fluorescence spread of the reflectors RX and RY. Therefore, the centroids from different layers of the same crystal are separated from each other. That is, each of the fluorescence-derived centroids ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ generated in each of the layers L1, L2, L3, and L4 generated in the scintillator crystal A on the map is arranged at a position away from each other. This makes it easy to distinguish whether fluorescence has occurred. Based on such a principle, the spatial resolution of the radiation detector 1 according to the present invention is improved.
  • the surface connected to the SiPMA 3 of the scintillator 2 is a rough surface, the fluorescence generated by the scintillator 2 is reliably incident on the SiPMA 3 without being reflected by the surface of the scintillator 2, so that the scintillator 2 and the SiPMA 3 It will be optically coupled as ideal.
  • the above configuration contributes to accurate measurement of the fluorescence of the radiation detector.
  • the present invention is not limited to the above-described configuration, and can be modified as follows.
  • the reflectors RYa and RYb are configured to straddle the two layers of the scintillator 2.
  • one or both of the reflectors RYa and RYb are replaced by the scintillator.
  • the present invention can be applied to a radiation detector having a structure divided by each of the two layers.

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Abstract

本発明によれば、横方向(x)または縦方向(y)に互いに隣接するシンチレータ結晶(c)の隙間に複数の反射板(RX,RY)を備えた放射線検出器において、蛍光の発生位置の高さ方向(z)の弁別が正確にできる。すなわち、本発明の放射線検出器のシンチレータ結晶(c)の隣のシンチレータ結晶に対向する面は粗面となっている。これにより、互いに隣接するシンチレータ結晶(c)の間で起こる予期しない蛍光の反射を抑制することができ、シンチレータ(2)で発生する蛍光の広がりを理想通りとすることができる。したがって、本発明によれば、蛍光の発生位置を高さ方向(z)について正確に弁別できる放射線検出器を提供することができる。

Description

放射線検出器
 本発明は、シンチレータ結晶が2次元または3次元的に配列された放射線検出器に関し、特に、深さ方向の蛍光の発生位置を区別するための反射板を備えた放射線検出器に関する。
 γ線などの放射線を検出する放射線検出器には外見が図20のようなものがある。この様な放射線検出器51は、シンチレータ結晶cが縦、横、高さ方向に3次元的に配列したシンチレータ52と、シンチレータ52から発した蛍光を検出する光検出器53とを有している。シンチレータ52から発せられる蛍光は、放射線が変換されたものである(例えば特許文献1参照)。
 放射線検出器51は、蛍光を測定する際に蛍光がシンチレータ52のどの部分で発したかを区別する機能を有している。この様な機能は、蛍光の位置弁別機能と呼ばれる。放射線検出器51は、シンチレータ52を構成するシンチレータ結晶cのどの結晶が蛍光を発したのかを特定することにより、蛍光の位置を弁別する。
 シンチレータ結晶cを単に配列してシンチレータ52を構成しただけでは、蛍光の位置弁別を正確に行うことができない。特に、蛍光を発した結晶が図20の網掛けで示す高さ方向に配列した結晶のうちどれであるかを区別できるようにするには、シンチレータ52を構成する結晶の隙間に蛍光を反射する反射板54を設ける必要がある。
 反射板54の構成について説明する。反射板54は、結晶と同じ高さを有しており、横方向に伸びるものと縦方向に伸びるものとの2種類がある。そして、横方向に伸びる反射板54と縦方向に伸びる反射板54とは、互いに嵌め合わされることにより反射板54が格子状となった反射板枠体を構成している。結晶はこの反射板枠体にはめ込まれるように配列している。
 ところで、近年になって、新しい構造のシンチレータ52が開発されてきている。すなわち、図21に示すように図20におけるシンチレータ結晶cが高さ方向に一体化したようなシンチレータ52である。この様なシンチレータ52を用いることにより、放射線検出器51の感度が向上する。すなわち、図21のシンチレータ52は、図20のような4層のシンチレータ結晶層を有する構成とは異なり、蛍光が確実に光検出器53に到達させることができる(例えば特許文献2参照)。
 この様な図21で説明したシンチレータ52においても、反射板54から構成される4つの反射板枠体が備えられている。この反射板枠体により、放射線検出器51は、高さ方向についての蛍光の発生位置を弁別することができる。
特開2004-279057号公報 国際公開WO2009/101730号公報
 しかしながら、従来の放射線検出器は次のような問題がある。すなわち、従来の放射線検出器によれば、高さ方向についての蛍光の発生位置の弁別を正確に行うことができない。
 従来の放射線検出器は、シンチレータ結晶のどの層で蛍光が発生したのかを弁別するのに、各層の間で光学的な環境が異なることを利用している。すなわち、反射板54は、シンチレータ結晶の4側面の全てを覆う様にはなっていないのである。例えば、あるシンチレータ結晶の第1層には、反射板54は、シンチレータ結晶の4側面のうち、図22に示す上側に位置する側面と、左側に位置する側面とに設けられている。
 このようなシンチレータ結晶の第1層における発生点から発生した蛍光は、この発生点を中心として放射状に拡散しようとするものの、実際は反射板54に阻まれて、反射板54から逃げるように右下方向に広がる。一方、シンチレータ結晶の第2層には、反射板54は、シンチレータ結晶の4側面のうち、図22に示す下側に位置する側面と、左側に位置する側面とに設けられている。このようなシンチレータ結晶の第2層における発生点から発生した蛍光は、この発生点を中心として放射状に拡散しようとするものの、実際は反射板54に阻まれて、反射板から逃げるように右上方向に広がる。
 このように、第1層で生じた蛍光は、右下方向に広がり、第2層で生じた蛍光は、右上方向に広がる。すなわち、シンチレータ結晶のどこで蛍光が発生するかによって、蛍光が広がる方向が違うのである。従来の放射線検出器はこの様な原理に基づいて、蛍光がシンチレータ結晶のどの層から発したのかを区別するようになっている。
 この様な高さ方向についての蛍光の発生位置の弁別は、蛍光が理想通りに拡散することが前提となる。その点、シンチレータ結晶で生じた蛍光の拡散光は、反射板54に入射すると確実に反射される。
 しかしながら、シンチレータ結晶の側面のうち反射板54が設けられていない面では、理想から外れた現象が起こる。すなわち、蛍光があるシンチレータ結晶で生じたとして、これが反射板54が設けられていない面を通じて隣の結晶に拡散するときに、結晶表面で拡散光の一部が反射してしまうのである。図23は、この蛍光の反射を模式的に表している。このような拡散光の反射は、蛍光の高さ方向の弁別をする上で想定していないものであり、図22で説明したような蛍光の広がりを乱すものである。すなわち、結晶間で生じる蛍光の反射は、特に高さ方向についての蛍光の位置弁別に悪影響を与える。すなわち、蛍光の位置弁別が不正確なものとなってしまうのである。
 本発明は、この様な事情に鑑みてなされたものであって、その目的は、シンチレータ結晶で生じた蛍光の発生位置を高さ方向について弁別できる構成の放射線検出器において、蛍光の発生位置の弁別が正確にできる放射線検出器を提供することにある。
 本発明は上述の課題を解決するために次のような構成をとる。
 すなわち、本発明に係る放射線検出器は、放射線を蛍光に変換するシンチレータ結晶が縦横に配列し、高さ方向に第1層ないし第4層の4つの層を有するシンチレータと、シンチレータに光学的に接続された光検出器とを備えた放射線検出器であって、互いに隣接するシンチレータ結晶の隙間に蛍光を反射する横方向または縦方向に伸びた複数の反射板を有し、第1層および第2層に備えられた反射板のうち横方向に伸びるものは、2つの層の間で交互に出現するようにシンチレータ結晶1個分の周期で縦方向に配列しているとともに、第2層および第3層に備えられた反射板のうち横方向に伸びるものは、2つの層の間で交互に出現するようにシンチレータ結晶1個分の周期で縦方向に配列しており、第3層および第4層に備えられた反射板のうち横方向に伸びるものは、2つの層の間で交互に出現するようにシンチレータ結晶1個分の周期で縦方向に配列しており、第1層および第2層に備えられた反射板のうち縦方向に伸びるものは、出現する位置が2つの層の間で同じとなるようにシンチレータ結晶2個分の周期で横方向に配列しているとともに、第2層および第3層に備えられた反射板のうち縦方向に伸びるものは、2つの層の間で交互に出現するようにシンチレータ結晶1個分の周期で横方向に配列しており、第3層および第4層に備えられた反射板のうち縦方向に伸びるものは、出現する位置が2つの層の間で同じとなるようにシンチレータ結晶2個分の周期で横方向に配列していており、シンチレータ結晶が有する面のうち隣のシンチレータ結晶に対向する面が研磨処理された平滑面より粗く磨りガラス状の粗面となっていることを特徴とするものである。
 [作用・効果]本発明の放射線検出器のシンチレータ結晶の表面は粗面となっている。これにより、シンチレータ結晶の間で起こる予期しない蛍光の一部が反射することを抑制することができ、シンチレータで発生する蛍光の広がりを理想通りとすることができる。したがって、本発明によれば、蛍光の発生位置を正確に弁別できる放射線検出器を提供することができる。
 また、上述の放射線検出器において、シンチレータを構成する互いに隣接するシンチレータ結晶は、屈折率がシンチレータ結晶を構成する材料よりも小さい透過材により光学的に結合されていればより望ましい。
 [作用・効果]上述の構成は本発明の放射線検出器を具体的に表したものとなっている。すなわち、屈折率の小さい透過材を屈折率の大きい2つのシンチレータ結晶で挟みこむことで、結晶同士が光学的に結合されている構成となっていると、シンチレータ結晶から透過材に向けて進む蛍光の一部が結晶表面で反射してしまう。本発明によれば、シンチレータ結晶の表面が粗面となっているので、結晶表面における蛍光の反射を抑制することができる。
 また、上述の放射線検出器において、シンチレータにおける光検出器に接続されている面が研磨処理された平滑面より粗く磨りガラス状の粗面となっていればより望ましい。
 [作用・効果]上述の構成は本発明の放射線検出器を具体的に表したものとなっている。シンチレータの光検出器に接続されている面が粗面となっていれば、シンチレータで発生した蛍光の一部がシンチレータの表面で反射することなく確実に光検出器に入射するので、シンチレータと光検出器が理想通りに光学的に結合することになる。上述の構成は、放射線検出器の蛍光の正確な測定に寄与するものである。
 また、上述の放射線検出器において、シンチレータ結晶が有する粗面の粗さの程度は、シンチレータ結晶の表面を100番以上600番以下の研磨紙で研削した程度となっていればより望ましい。
 また、上述の放射線検出器において、シンチレータ結晶が有する粗面の粗さの程度は、光学研磨したシンチレータ結晶の表面よりも粗いものとなっていればより望ましい。
 また、上述の放射線検出器において、シンチレータ結晶が有する粗面の粗さの程度は、ケミカルエッチング処理をしたシンチレータ結晶の表面よりも粗いものとなっていればより望ましい。
 [作用・効果]上述の構成は本発明の放射線検出器を具体的に表したものとなっている。シンチレータ結晶の粗面の程度が上述に示した程度となっていれば、本発明の効果を十分に発揮することができる放射線検出器が提供できる。
 また、上述の放射線検出器において、シンチレータに配列されているシンチレータ結晶は、第1層ないし第4層に跨って設けられていればより望ましい。
 また、上述の放射線検出器において、シンチレータに配列されているシンチレータ結晶には、第1層および第2層に跨って設けられているものと、第3層および第4層に跨って設けられているものとの二種類があればより望ましい。
 [作用・効果]上述の構成は本発明の放射線検出器を具体的に表したものとなっている。本発明は、様々は態様の放射線検出器に適用することができる。
 また、上述の放射線検出器において、シンチレータが有する面のうち光検出器が光学的に結合されている面を底面としたとき、シンチレータの側面および上面を覆うように設けられたシンチレータ反射板を備え、シンチレータの側面を構成するシンチレータ結晶は、全ての面が平滑面となっていればより望ましい。
 また、上述の放射線検出器において、シンチレータが有する面のうち光検出器が光学的に結合されている面を底面としたとき、シンチレータの側面および上面を覆うように設けられたシンチレータ反射板を備え、シンチレータ結晶が有する面のうちシンチレータの側面をなす面のみが平滑面となっていればより望ましい。
 [作用・効果]上述の構成は本発明の放射線検出器を具体的に表したものとなっている。本発明の構成によれば、シンチレータ結晶が集合して構成されているシンチレータの表面が平滑面となっているので、シンチレータで発生した蛍光がシンチレータの側面に向かうと、蛍光の一部は、シンチレータの側面で反射しシンチレータに戻される。このときシンチレータを出射してしまった蛍光は、シンチレータ反射板により全反射し、これもシンチレータに戻される。このように、上述の構成に係るシンチレータの側面は、シンチレータ反射板の機能を手助けする構成となっている。上述の構成は、放射線検出器の蛍光の正確な測定に寄与するものである。
 シンチレータ結晶の6面が平滑面となっていると、シンチレータを組み立てる際にシンチレータ結晶の向きを気にしないでよくなり、シンチレータの製造が容易となる。また、シンチレータ結晶の一部の面が平滑面となっていると、隣の結晶との光学的な結合が理想通りとなり、正確な蛍光の測定ができる放射線検出器が提供できる。
 また、上述の放射線検出器において、シンチレータ結晶は、表面が結晶インゴットを切り出した状態のまま未加工となっていればより望ましい。
 [作用・効果]上述の構成は本発明の放射線検出器を具体的に表したものとなっている。シンチレータを構成するシンチレータ結晶は、円筒形状の結晶インゴットをワイヤーソーやダイジングソーで切り分けて製造される。切り分けられた直後のシンチレータ結晶は、6面とも粗面となっている。そこで、表面が粗面のままとなっているシンチレータ結晶を組み立ててシンチレータを製造すれば、隣り合うシンチレータ結晶同士の光学的な結合面で反射が抑制されることになる。つまり上述の構成によれば、本発明の効果を有するシンチレータが得られる。さらに、上述の構成によれば、シンチレータ結晶の表面を研磨する工程が必要でないので、製造工程が短縮され低コストな放射線検出器が提供できる。
 本発明の放射線検出器のシンチレータ結晶の表面は粗面となっている。これにより、シンチレータ結晶の間で起こる予期しない蛍光の反射を抑制することができ、シンチレータで発生する蛍光の広がりを理想通りとすることができる。したがって、本発明によれば、蛍光の発生位置を正確に弁別できる放射線検出器を提供することができる。
実施例1に係る放射線検出器の全体構成を説明する斜視図である。 実施例1に係る反射板の構成について説明する平面図である。 実施例1に係る反射板の構成について説明する平面図である。 実施例1に係る放射線検出器の高さ方向についての蛍光の発生位置の区別方法について説明する模式図である。 実施例1に係る放射線検出器の高さ方向についての蛍光の発生位置の区別方法について説明する模式図である。 実施例1に係るシンチレータ反射板の構成について説明する断面図である。 実施例1に係るシンチレータ結晶について説明する斜視図である。 実施例1に係るシンチレータ結晶の特性について説明する模式図である。 実施例1に係るシンチレータ結晶の特性について説明する模式図である。 実施例1に係る放射線検出器の効果について説明する模式図である。 実施例1に係る放射線検出器の効果について説明する模式図である。 実施例1に係る放射線検出器の効果について説明する模式図である。 実施例1に係る放射線検出器の効果について説明する模式図である。 実施例1に係る放射線検出器の効果について説明する模式図である。 実施例1に係る放射線検出器の効果について説明する模式図である。 実施例1に係る放射線検出器の効果について説明する模式図である。 本発明に係る放射線検出器の1変形例について説明する断面図である。 本発明に係る放射線検出器の1変形例について説明する断面図である。 本発明に係る放射線検出器の1変形例について説明する断面図である。 従来装置に係る放射線検出器の構成を説明する斜視図である。 従来装置に係る放射線検出器の構成を説明する斜視図である。 従来装置に係る放射線検出器の構成を説明する模式図である。 従来装置に係る放射線検出器の問題点を説明する模式図である。
 以降、発明を実施するための形態として具体的な実施例について説明する。
 (1)放射線検出器1の概略構成
 図1に示すように、実施例1に係る放射線検出器は、放射線を蛍光に変換するシンチレータ結晶cが縦横に配列し、高さ方向に第1層L1ないし第4層L4の4つの層を有するシンチレータ2と、シンチレータ2に光学的に接続されたシリコン・フォト・マルチプライア・アレイ(以下、SiPMA3よぶ)と、シンチレータ2とSiPMA3との間に介在する位置に配置されたライトガイド4とを備えた放射線検出器である。このSiPMA3は、蛍光を検出する半導体素子シリコン・フォト・マルチプライアが2次元マトリックス状に配列されており、入射した蛍光のx,およびy(横および縦)についての位置を弁別することができる。ライトガイド4は、シンチレータ2で生じた蛍光をSiPMA3に導くために設けられている。したがって、ライトガイド4は、シンチレータ2とSiPMA3とに光学的に結合されている。SiPMA3は、本発明の光検出器に相当する。
 (2)シンチレータの構成
 シンチレータ2は、放射線を蛍光に変換するシンチレータ結晶cがx,y方向に二次元的に配列して構成され、z方向に第1層L1ないし第4層L4の4つの層を有している。すなわち、シンチレータ2は、z方向(高さ方向)に細長状となっている4角柱形状のシンチレータ結晶cが二次元的に配列されることにより構成されている。シンチレータ結晶cの各々は、Ceが拡散したLu2(1-X)Gd2XSiO(以下、LGSOとよぶ)によって構成されている。また、シンチレータ結晶cの各々は、例えば、x方向の幅が3mm,y方向の幅が3mm,z方向の高さが20mmの直方体をしている。また、シンチレータ2の4側端面は、図示しない反射膜で被覆されている。シンチレータ結晶cは、シンチレータ2の第1層L1ないし第4層L4に跨って設けられている。
 なお、シンチレータ2で発した蛍光は、ライトガイド4を介してシンチレータ2に光学的に接続された蛍光を検出するSiPMA3によって弁別される。すなわち、SiPMA3は、シンチレータ2で発した蛍光がどのシンチレータ結晶cから発生したものであるのかを区別することができるのである。つまり、SiPMA3は、シンチレータ2のx方向およびy方向について蛍光の発生位置の弁別能を有している。
 SiPMA3は、シンチレータ2のz方向についても蛍光の発生位置の弁別をすることができる。すなわち、SiPMA3は、シンチレータ2が有する4つの層のうち、どの層から蛍光が発したのかを弁別することができるのである。すなわち、シンチレータ2は、z方向について4つの領域に区分けすることができる。このときの区分けを順番に第1層L1,第2層L2,第3層L3,第4層L4と呼ぶことにする。これら4層のうち、シンチレータ2における放射線が入射する面である入射面側に位置する層を第1層L1であるものとし、シンチレータ2におけるライトガイド4側に位置する層を第4層L4であるものとする。シンチレータ2を構成するシンチレータ結晶cは、この各層L1,L2,L3,L4に跨って存在しているということになる。各層L1,L2,L3,L4のz方向の高さは、それぞれ5mmに設定されている。
 互いに隣接するシンチレータ結晶cに挟まれる位置には、蛍光を透過する透過材tが設けられている。透過材tは、シンチレータ結晶cと反射板RX,RYとの間にも形成されている。この透過材tは、シンチレータ結晶cや反射板を結合してシンチレータ2を形作る役割も果たしている。この透過材tの厚さは、シンチレータ結晶cと反射板RX,RYとの間において25μm程度であり、材料としては、シリコン樹脂からなる熱硬化性樹脂が使用できる。
 シンチレータ結晶cを構成するLGSOは、比較的屈折率の高い物質であり、LGSOの屈折率は、1.82程度である。透過材tを構成するシリコン樹脂は、比較的屈折率の低い物質であり、シリコン樹脂の屈折率は1.41程度となっている。このように、シンチレータ2を構成する互いに隣接するシンチレータ結晶cは、屈折率がシンチレータ結晶cを構成する材料よりも小さい透過材tにより光学的に結合されている。
 (3)反射板の構成
 次に、反射板について説明する。シンチレータ2には、互いに隣接するシンチレータ結晶cの隙間に蛍光を反射するx方向(横方向)に伸びる反射板RXおよびy方向(縦方向)に伸びる反射板RYとが設けられている。反射板RX,RYは、図1に示すように、互いに隣接するシンチレータ結晶cの間に介在する位置には、例えばポリエステルフィルムなどのプラスチックフィルムで構成され、厚さは、例えば125μmとなっている。反射板RXは、本発明の横方向に伸びた反射板に相当し、反射板RYは、本発明の縦方向に伸びた反射板に相当する。
 <反射板RYについて>
 まず、反射板RYについて説明する。図2は、実施例1に係るシンチレータをそのzx側端面から見たときの平面図である。図2の示すように、いずれの反射板RYも、y方向、およびz方向に伸びた板状となっている。第1層L1,第2層L2には、y方向に伸びる反射板RYaがシンチレータ結晶cの隙間に挿入されている。この反射板RYaは、x方向に配列された32個のシンチレータ結晶cのうち、例えば、c(2,1)とc(3,1)との間に挿入される。この様に、反射板RYaの左隣は、x方向について偶数番のシンチレータ結晶cが位置し、反射板RYaの右隣は、x方向について奇数番のシンチレータ結晶cが位置している。この反射板RYaの各々は、第1層L1,第2層L2に跨って設けられており、シンチレータ2全体では15枚設けられる。反射板RYaは、シンチレータ2の第1層L1と第2層L2とに跨っているとともにシンチレータ結晶c2個分の周期でx方向に配列している。反射板RYaのz方向の高さは例えば層2段分の10mmに設定されている。このように、反射板RYaの高さは第1層L1と第2層L2との合計の高さに等しい。
 同様に、第3層L3,第4層L4には、y方向に伸びる反射板RYbがシンチレータ結晶cの隙間に挿入されている。しかし、その挿入位置は、反射板RYaとは異なるものとなっている。すなわち、反射板RYbの左隣は、x方向について奇数番のシンチレータ結晶cが位置し、反射板RYbの右隣は、x方向について偶数番のシンチレータ結晶cが位置している。この反射板RYbの各々は、第3層L3,第4層L4に跨って設けられており、シンチレータ2全体では16枚設けられる。反射板RYbは、シンチレータ2の第3層L3と第4層L4とに跨っているとともにシンチレータ結晶c2個分の周期でx方向に配列している。反射板RYbのz方向の高さは例えば層2段分の10mmに設定されている。このように、反射板RYbの高さは第1層L1と第2層L2との合計の高さに等しい。
 このように、第1層L1および第2層L2に備えられた反射板RYaは、出現する位置が2つの層の間で同じとなるようにシンチレータ結晶2個分の周期で横方向に配列している。同様に、第2層L2および第3層L3に備えられた反射板RYa,RYbは、2つの層の間で交互に出現するようにシンチレータ結晶1個分の周期で横方向に配列している。同様に、第3層L3および第4層L4に備えられた反射板RYbは、出現する位置が2つの層の間で同じとなるようにシンチレータ結晶2個分の周期で横方向に配列している。
 <反射板RXについて>
 次に、本各実施例に係るシンチレータの有するyz側の側端面について説明する。図3は、実施例1に係るシンチレータをそのyz側端面から見たときの平面図である。図3の示すように、各層におけるシンチレータ結晶cの隙間には、x方向に伸びた反射板RXが挿入されている。しかも、そのz方向の高さは例えば層1段分の5mmに設定されている。いずれの反射板RXも、x方向、およびz方向に伸びた板状である。このように、反射板RXと各層L1,L2,L3,L4の高さは等しい。
 反射板RX1は、第1層L1のシンチレータ結晶cの隙間に挿入される反射板であり、反射板RX2は、第2層L2のシンチレータ結晶cの隙間に挿入される反射板である。また、反射板RX1は、y方向に配列された32個のシンチレータ結晶cのうち、例えば、c(32,2)とc(32,3)との間に挿入される。この様に、反射板RX1の左隣は、y方向について偶数番のシンチレータ結晶cが位置し、反射板RX1の右隣は、y方向について奇数番のシンチレータ結晶cが位置している。一方、反射板RX2は、シンチレータ結晶層において、反射板RX2とは異なる位置に挿入される。すなわち、反射板RX2の左隣は、y方向について奇数番のシンチレータ結晶cが位置し、反射板RX2の右隣は、y方向について偶数番のシンチレータ結晶cが位置している。なお、この反射板RX1は、第1層L1において15枚設けられ、反射板RX2は、第2層L2において16枚設けられる。このように、反射板RX1,RX2は、シンチレータ2の第1層L1と第2層L2との間で交互に出現するようにシンチレータ結晶c1個分の周期でy方向に配列している。反射板RX1の高さは、第1層L1の高さに等しく、反射板RX2の高さは、第2層L2の高さに等しい。
 反射板RX3は、第3層L3のシンチレータ結晶cの隙間に挿入される反射板であり、シンチレータ2における反射板RX3の挿入位置は、反射板RX1と同様なものとなっている。同様に、反射板RX4は、第4層L4のシンチレータ結晶cの隙間に挿入される反射板であり、シンチレータ2における反射板RX4の挿入位置は、反射板RX2と同様なものとなっている。すなわち、反射板RX3の左隣は、y方向について偶数番のシンチレータ結晶cが位置し、反射板RX3の右隣は、y方向について奇数番のシンチレータ結晶cが位置している。そして、反射板RX4の左隣は、y方向について奇数番のシンチレータ結晶cが位置し、反射板RX4の右隣は、y方向について偶数番のシンチレータ結晶cが位置している。なお、この反射板RX3は、第3層L3において15枚設けられ、反射板RX4は、第4層L4において16枚設けられる。このように、反射板RX3,RX4は、シンチレータ2の第3層L3と第4層L4との間で交互に出現するようにシンチレータ結晶c1個分の周期でy方向に配列している。反射板RX3の高さは、第3層L3の高さに等しく、反射板RX4の高さは、第4層L4の高さに等しい。
 このように、第1層L1および第2層L2に備えられた反射板RX1,RX2は、2つの層の間で交互に出現するようにシンチレータ結晶1個分の周期で縦方向に配列している。同様に、第2層L2および第3層L3に備えられた反射板RX2,RX3は、2つの層の間で交互に出現するようにシンチレータ結晶1個分の周期で縦方向に配列している。同様に、第3層L3および第4層L4に備えられた反射板RX3,RX4は、2つの層の間で交互に出現するようにシンチレータ結晶1個分の周期で縦方向に配列している。
 <蛍光の発生位置の弁別方法>
 次に、実施例1に係る放射線検出器1のx,y,z方向における蛍光の発生位置の弁別方法について説明する。シンチレータ2に入射したγ線は、4領域のいずれかで蛍光に変換される。この蛍光は、ライトガイド4の方向に進み、ライトガイド4を介してSiPMA3に入射する。SiPMA3は、マルチアノードタイプであり、入射位置に応じて出力される検出信号の電圧が段階的に変化する構成となっている。こうして、蛍光がSiPMA3に入射したx,およびy方向の位置を弁別することができる。
 次に、図4,図5を参照しながら、放射線検出器1のz方向における蛍光の発生位置の弁別方法について説明する。図4,図5に示すように、シンチレータ2の4領域において、反射板RXと反射板RYの挿入位置が互いに異なるものとなっている。図4,図5を通じて(2,2)に位置するシンチレータ結晶c(2,2)(図4,図5中に斜線で示す)に注目すると、4領域における反射板RX,RYの挿入方向は、互いに異なったものとなっている。シンチレータ結晶cで生じた蛍光は、x,およびy方向に広がりながらSiPMA3に到達するが、反射板RX,RYを設けることによって、その広がり方に方向性が付加される。しかも、x,yの位置が同一な各層L1,L2,L3,L4で発した蛍光の各々を比較すれば、それらが広がる方向は互いに異なったものとなっている。つまり、シンチレータ2のz方向における蛍光発生位置の違いは、蛍光のx,y方向の位置の違いに変換されることになる。SiPMA3は、このz方向の位置の違いに起因する蛍光のx,y方向のわずかなずれを検知し、そこから蛍光のz方向に関する発生位置が各層L1,L2,L3,L4の中のどこかを割り出すことができる。
 (4)シンチレータ反射板Sについて
 直方体となっているシンチレータ2は6つの面を有する。そのうち1つの面は、ライトガイド4と結合している蛍光の出射面となっている。シンチレータ2が有する6つの面のうち出射面以外の5つの面の各々には、図6に示すように、各面を覆うようにシンチレータ反射板Sが設けられている。シンチレータ反射板Sは、シンチレータ結晶cの隙間に設けられた反射板RX,RYと同じ材質で構成され、シリコン樹脂が硬化した透過材tを介してシンチレータ2と一体化している。このシンチレータ反射板Sは、シンチレータ2で生じた蛍光が出射面以外の面から散逸してしまうことを防止する目的で設けられている。このように、シンチレータ反射板Sは、SiPMA3に蛍光を集光させる役割を担っている。
 (5)シンチレータ結晶cの表面の構成について:本発明における最も特徴的な構成
 続いて本発明における最も特徴的な構成について説明する。すなわち、本発明は、シンチレータ2を構成するシンチレータ結晶cの構成に特徴がある。シンチレータ結晶cは、図7に示すように直方体となっており、6つの面を有している。本発明のシンチレータ結晶はcは、6つの面のいずれもが粗面となっているのである。粗面とは、表面が研磨処理された平滑面よりも粗いザラついた面をいい、見た目としては磨りガラスのような質感となっている。なお、平滑面とは、結晶の内部が透けて見える程度に研磨された面である。図7においては、シンチレータ結晶cの表面が粗面となっている様子を網掛けで表している。このように、シンチレータ2を構成するシンチレータ結晶cが有する面のうち隣のシンチレータ結晶cに対向する面が粗面となっている。したがって実施例1の構成によれば、粗面同士が透過材tを介して結合することによりシンチレータ結晶cの光学的な結合がなされることになる。
 シンチレータ結晶cが有する粗面の粗さの程度は、シンチレータ結晶cの表面を100番以上600番以下の研磨紙で研削した程度となっている。したがって、シンチレータ結晶cが有する粗面の粗さの程度は、光学研磨したシンチレータ結晶cの表面よりも粗く、ケミカルエッチング処理をしたシンチレータ結晶cの表面よりも粗いものとなっている。
 シンチレータ結晶cの表面が粗面となっている理由について説明する。従来のシンチレータ結晶cの表面には、平滑面とするような磨き加工がなされている。この様な磨き加工を行う理由としては、組み立ての容易性や、シンチレータ結晶cから出射する蛍光の減衰を防ぐことなどがある。しかし、シンチレータ結晶cの表面を平滑面としてしまうと、シンチレータ結晶表面で蛍光の一部が反射するという問題点が起こる。
 この問題点について説明する。
 シンチレータ2を構成するシンチレータ結晶cには、透過材tを介して反射板RX,RYに接している部分と、透過材tを介して隣のシンチレータ結晶cに接している部分とがある。従って、いずれの部分も透過材tに接していることになる。この透過材tの屈折率は、シンチレータ結晶cの屈折率よりも小さいものとなっている。このようなシンチレータ結晶cと透過材tとの間で見られる屈折率の違いは、蛍光の一部が反射を引き起こす原因となる。
 すなわち、屈折率の大きいシンチレータ結晶cの内部を進む蛍光が屈折率の小さな透過材tに突入するときに、蛍光成分の一部が透過材tに進入できずに反射してしまう場合があるのである。すなわち、図8に示すように、シンチレータ結晶cの内部を進む蛍光成分がシンチレータ結晶cの屈折率と透過材tの屈折率で決まる臨界角よりも大きい入射角θで透過材tに向かうと、この蛍光成分は、シンチレータ結晶cの表面で全反射し、シンチレータ結晶cから出射できずにシンチレータ結晶cの表面で折り返してしまい、透過材tに入射しない。この反射光は、透過材tに入射していった透過光とは異なる経路を辿ってSiPMA3で検出されることにはなる。したがって、反射光も検出されるのだから、界面で蛍光の全反射が起こっても特に問題はないのではないかとも思われる。しかし、このような反射は、本来想定されているものではなく、次のような問題を引き起こす。すなわち、シンチレータ結晶cの内側で蛍光の反射が起こると、透過材tを介して光学的に結合された2つのシンチレータ結晶cの間で光学的な環境の差が想定よりも大きく異なってしまう。
 本発明のように、シンチレータ結晶cの表面が粗面であると、図9に示すように、シンチレータ結晶cの蛍光が透過材tに向けて臨界角よりも大きい入射角θで入射したとしても、シンチレータ結晶cの表面で全反射が起こりにくなる。このように結晶表面で反射が抑えられる理由としては、シンチレータ結晶cの内部と透過材tとの間にザラついたシンチレータ結晶cの表層があると、この表層がシンチレータ結晶cと透過材tとの間にあった屈折率の不連続性を緩和し、結晶と透過材との間の屈折率の相違による特性が薄れるというメカニズムが考えられる。
 <高さ方向についての空間分解能の改善について>
 本発明によれば、放射線検出器1の高さ方向についての空間分解能が改善されるのでこれについて説明する。この説明に先立って、まずは、従来通りのシンチレータ2における高さ方向の位置弁別の原理について詳細する。従来通りとは、シンチレータ2を構成するシンチレータ結晶cが平滑面となっている場合のことである。図10は、シンチレータ2の中心付近を描写している。図中の符号Gは、シンチレータ2の中心点であり、x方向とy方向の両方についてシンチレータ2の中心となっている。シンチレータ2は、この中心点Gを囲む符号A,B,C,Dで示す4つのシンチレータ結晶cを有している。以降、この4つのシンチレータ結晶cが蛍光を発した場合について考える。
 図11は、4つのシンチレータ結晶cの第1層L1~第4層L4で蛍光が発生した場合を示している。4つのシンチレータ結晶cが蛍光が生じたとすると、シンチレータ結晶cの各々が蛍光を生じる。SiPMA3は、その発生した蛍光の重心を算出し、この蛍光がどのシンチレータ結晶cに由来するかを識別することができる。
 図11の左上は、4つのシンチレータ結晶cの第1層L1で蛍光が発生した場合を示している。シンチレータ結晶cで蛍光が生じSiPMA3がそれを検出したとすると、SiPMA3が識別する重心の位置は、シンチレータ結晶cの中央に現れるはずである。しかし、第1層L1には、図12の左上に示すように反射板RX,RYが設けられている。したがって、シンチレータ結晶cで生じた蛍光の広がり方が偏る。SiPMA3が検出する重心の位置は、蛍光が生じたシンチレータ結晶cの中央からわずかにずれる。
 図11の左上は、4つのシンチレータ結晶cの第1層L1で蛍光が発生した場合、SiPMA3が検出する蛍光の重心の位置を示している。図11の左上における○印に示すように、シンチレータ2の中心点Gから見て左上に位置するシンチレータ結晶Aの第1層L1で生じた蛍光の重心はシンチレータ結晶Aの中心から左上にずれた位置に現れる。また、シンチレータ2の中心点Gから見て右上に位置するシンチレータ結晶Bの第1層L1で生じた蛍光の重心はシンチレータ結晶Bの中心から右上にずれた位置に現れる。同様に、シンチレータ2の中心点Gから見て左下に位置するシンチレータ結晶Cの第1層L1で生じた蛍光の重心はシンチレータ結晶Cの中心から左下にずれた位置に現れる。また、シンチレータ2の中心点Gから見て右下に位置するシンチレータ結晶Dの第1層L1で生じた蛍光の重心はシンチレータ結晶Dの中心から右下にずれた位置に現れる。
 第2層L2~第4層L4も反射板RX,RYが設けられていることからすると、これら第2層L2~第4層L4で蛍光が発生してもSiPMA3がシンチレータ結晶cの中央からわずかにずれた位置を蛍光の重心として検出することには変わりはない。ただし、第2層L2~第4層L4における反射板RX,RYの挿入位置は第1層L1と異なるので、第2層L2~第4層L4で蛍光が発生した場合における蛍光の重心のずれ方は第1層L1と相違する。
 図11の右上は、4つのシンチレータ結晶cの第2層L2で蛍光が発生した場合を示している。シンチレータ結晶cで蛍光が生じSiPMA3がそれを検出したとすると、SiPMA3が識別する重心の位置は、シンチレータ結晶cの中央に現れるはずである。しかし、第2層L2には、図12の右上に示すように反射板RX,RYが設けられている。したがって、シンチレータ結晶cで生じた蛍光の広がり方が偏る。SiPMA3が検出する重心の位置は、蛍光が生じたシンチレータ結晶cの中央からわずかにずれる。
すなわち、図11の右上における△印に示すように、シンチレータ結晶Aの第2層L2で生じた蛍光の重心はシンチレータ結晶Aの中心から左下にずれた位置に現れる。また、シンチレータ結晶Bの第2層L2で生じた蛍光の重心はシンチレータ結晶Bの中心から右下にずれた位置に現れる。同様に、シンチレータ結晶Cの第2層L2で生じた蛍光の重心はシンチレータ結晶Cの中心から左上にずれた位置に現れる。また、シンチレータ結晶Dの第2層L2で生じた蛍光の重心はシンチレータ結晶Dの中心から右上にずれた位置に現れる。
 図11の左下は、4つのシンチレータ結晶cの第3層L3で蛍光が発生した場合を示している。シンチレータ結晶cで蛍光が生じSiPMA3がそれを検出したとすると、SiPMA3が識別する重心の位置は、シンチレータ結晶cの中央に現れるはずである。しかし、第3層L3には、図12の左下に示すように反射板RX,RYが設けられている。したがって、シンチレータ結晶cで生じた蛍光の広がり方が偏る。SiPMA3が検出する重心の位置は、蛍光が生じたシンチレータ結晶cの中央からわずかにずれる。
 すなわち、図11の左下における×印に示すように、シンチレータ結晶Aの第3層L3で生じた蛍光の重心はシンチレータ結晶Aの中心から右上にずれた位置に現れる。また、シンチレータ結晶Bの第3層L3で生じた蛍光の重心はシンチレータ結晶Bの中心から左上にずれた位置に現れる。同様に、シンチレータ結晶Cの第3層L3で生じた蛍光の重心はシンチレータ結晶Cの中心から右下にずれた位置に現れる。また、シンチレータ結晶Dの第3層L3で生じた蛍光の重心はシンチレータ結晶Dの中心から左下にずれた位置に現れる。
 図11の右下は、4つのシンチレータ結晶cの第4層L4で蛍光が発生した場合を示している。シンチレータ結晶cで蛍光が生じSiPMA3がそれを検出したとすると、SiPMA3が識別する重心の位置は、シンチレータ結晶cの中央に現れるはずである。しかし、第4層L4には、図12の右下に示すように反射板RX,RYが設けられている。したがって、シンチレータ結晶cで生じた蛍光の広がり方が偏る。SiPMA3が検出する重心の位置は、蛍光が生じたシンチレータ結晶cの中央からわずかにずれる。
 すなわち、図11の右下における□印に示すように、シンチレータ結晶Aの第4層L4で生じた蛍光の重心はシンチレータ結晶Aの中心から右下にずれた位置に現れる。また、シンチレータ結晶Bの第4層L4で生じた蛍光の重心はシンチレータ結晶Bの中心から左下にずれた位置に現れる。同様に、シンチレータ結晶Cの第4層L4で生じた蛍光の重心はシンチレータ結晶Cの中心から右上にずれた位置に現れる。また、シンチレータ結晶Dの第4層L4で生じた蛍光の重心はシンチレータ結晶Dの中心から左上にずれた位置に現れる。
 図13は、図11で示した各層L1~L4に係る重心の位置をひとまとめに重ねて描いたものである。ここで注目すべきは、各層に係る蛍光は、重心が互いに重なり合っていないことである。従って、SiPMA3は、これら重心を区別して検出することができる。同じシンチレータ結晶の各層L1~L4で生じた蛍光は、区別することはできないはずである。しかし、同じシンチレータ結晶であっても、蛍光は発生した層に応じて異なる広がり方で広がってSiPMA3に検出される。したがって、蛍光がシンチレータ結晶の中心からどの方向にシフトしたかを区別すれば、蛍光が発生したのはどの層なのかを区別することができる。
 この時に問題となるは、重心のシフト量である。重心のシフト量が小さいと、各層L1~L4で生じた蛍光の重心はシンチレータ結晶の中心からわずかにしか移動しないということになる。図13に示すように○△×□で示す各層L1~L4由来の蛍光の重心がシンチレータ結晶の中心付近に集まったような状態だと、蛍光の発生した層がどの層かを区別するのが難しくなってしまう。
 本発明によれば、蛍光の高さ方向についての空間分解能が改善されるので、その詳細を説明する。図14は、本発明に係るシンチレータ2が粗面のシンチレータ結晶cで構成されている場合である。図14は、従来構成における図11に対応している。例えば、図14の左上における○印に示すように、シンチレータ2の中心点Gから見て左上に位置するシンチレータ結晶Aの第1層L1で生じた蛍光の重心はシンチレータ結晶Aの中心から左上にずれた位置に現れる。このように本発明のシンチレータ2における蛍光の重心のずれる方向は、従来のシンチレータ2と同じになる。
 しかし、本発明に係る構成によれば、重心のシフト量が大きくなる。図15の左側は、図14で示した各層L1~L4に係る重心の位置をひとまとめに重ねて描いたものであり、従来構成の図16に対応している。図15の左側を参照すれば、○△×□で示す各層L1~L4由来の蛍光の重心が互いに大きく移動しており、各重心を互いに見分けるのが容易となっている。蛍光の重心がバラけた様子は図15の右側において比較のため再掲している従来構成の対応図を参照すれば容易に理解できる。
 本発明のこのような効果が生じる原理について説明する。図16は、例として、シンチレータ結晶A,B,C,Dの第4層L4で生じる蛍光に注目する。第4層L4におけるシンチレータ結晶A,B,C,Dは、結晶同士の間に反射板RX,RYが設けられておらず、シンチレータ結晶A,B,C,Dを1まとめとして見たときの四辺が反射板RX,RYに囲まれているような状況となっている。図16の左上側は、従来通りシンチレータ結晶cが平滑面となっている場合である。この場合、図16の左上側に示すように、縦2列横2列に配列された4つのシンチレータ結晶A,B,C,Dの表面では蛍光の反射が盛んに起こっている。この結晶の表面でおこる反射により各シンチレータ結晶A,B,C,Dが光学的に隔絶されている。
 従来構成においては、結晶の表面で起こる反射によりシンチレータ結晶A,B,C,Dが光学的に隔絶されている。したがって、SiPMA3は、図16の右上側における□印で示すように各結晶由来の蛍光の重心が図10の中心点Gから互いに離れるように配置する。
 シンチレータ2に反射板RX,RYを設ける理由は、シンチレータ2内で生じる蛍光の広がり方に偏りを生じさせる必要性からであった。しかし、シンチレータ結晶A,B,C,Dの表面で蛍光の反射が生じてしまうと、反射板RX,RYが作り出そうとしている蛍光広がり方の偏りがシンチレータ結晶A,B,C,Dの表面では蛍光の反射により一部キャンセルされてしまう。このような事情から図16の右上側の□で示す重心の位置は、反射板RX,RYに逆らい、それぞれのシンチレータ結晶A,B,C,Dの中心の位置に戻ろうとするのである。
 従って、従来構成においては、シンチレータで生じた蛍光がどのシンチレータ結晶で生じたかを区別することはできるとしても、蛍光がどの層L1,L2,L3,L4で生じたものかを区別するのは難しい構成となっている。各層L1,L2,L3,L4で生じた蛍光に由来する重心がマップ上で近い位置に配置されるからである。
 図16の下側は、本発明に係るシンチレータ結晶cが粗面となっている場合である。この場合、図16の左下に示すように、互いに隣り合うシンチレータ結晶A,B,C,Dの表面では蛍光の反射が抑えられる。結晶の表面で起こる反射がないだけ各シンチレータ結晶A,B,C,Dが光学的に近い関係にある。シンチレータ結晶cの表面を粗面としたことにより、第4層由来の4つの重心は、マップ上で互いに近づけられて配置される。
 このような事情は、高さ方向の蛍光の発生位置の区別をする点で有利となるのでこれについて説明する。本発明に係る粗面化したシンチレータ結晶は、反射板RX,RYが有する蛍光の広がりに偏りを持たせる効果を強化する働きがある。したがって、それだけ同じ結晶で異なる層由来の重心同士が互いに引き離されるのである。つまり、マップ上におけるシンチレータ結晶Aで生じた各層L1,L2,L3,L4で生じた蛍光由来の重心○△×□のそれぞれが互いに離れた位置に配置されることになり、シンチレータ結晶のどの層で蛍光が発生したのかが区別しやすくなる。このような原理に基づいて本発明に係る放射線検出器1は、空間分解能が向上することになる。
 なお、隣接するシンチレータ結晶に跨って隣接する各重心○△×□が近づくことにより各重心の区別はつきにくくはなるが、各重心○△×□は、異なるシンチレータ結晶に由来しているので、マップ上において十分に離れた位置に出現する性質があり、本来的に区別されやすい。したがって、結晶の表面を粗面とすることでマップ上で各重心○△×□が近づいても空間分解能が悪化することはない。この事情は他の層由来の重心でも同様である。
 このような空間分解能の向上は、特にマップの端部で顕著である。シンチレータ2の端部では、重心が混み合う。重心がシンチレータ2の端部で混み合う理由は、シンチレータ2の端部で生じた蛍光が広がることにできる空間がシンチレータ2の中央部で生じた蛍光のものよりも狭いことにある。このようなシンチレータ2端部は、重心が重なりやすく、それだけ蛍光の発生位置を正確に特定するのが難しい。本発明に係る放射線検出器1のようにシンチレータ結晶cの表面を粗面とすれば、マップの端部において重なり合った重心が分散し、より空間分解能が向上する。
 <シンチレータ2とライトガイド4との結合について>
 シンチレータ2における蛍光がSiPMA3に向けて出射する出射面は、透過材tを介してライトガイド4に光学的に接続されている。シンチレータ2を構成するシンチレータ結晶cは、6面が粗面となっているから、シンチレータ2の出射面もまた粗面となっている。出射面に結合している透過材tの屈折率は、シンチレータ結晶の屈折率よりも小さい。
 以上のように、本発明の放射線検出器のシンチレータ結晶cの表面は粗面となっている。これにより、シンチレータ結晶cの間で起こる予期しない蛍光の一部が反射することを抑制することができ、シンチレータ2で発生する蛍光の広がりを理想通りとすることができる。したがって、本発明によれば、蛍光の発生位置を正確に弁別できる放射線検出器を提供することができる。
 また、実施例の構成のように屈折率の小さい透過材tを屈折率の大きい2つのシンチレータ結晶cで挟みこむことで、結晶同士が光学的に結合されている構成となっていると、シンチレータ結晶cから透過材tに向けて進む蛍光の一部が結晶表面で反射してしまう。本発明によれば、シンチレータ結晶cの表面が粗面となっているので、結晶表面における蛍光の一部が反射することを抑制することができる。
 また、シンチレータ2のSiPMA3に接続されている面が粗面となっていれば、シンチレータ2で発生した蛍光がシンチレータ2の表面で反射することなく確実にSiPMA3に入射するので、シンチレータ2とSiPMA3が理想通りに光学的に結合することになる。上述の構成は、放射線検出器の蛍光の正確な測定に寄与するものである。
 本発明は、上述の構成に限られず、下記のように変形実施することができる。
 (1)実施例1におけるシンチレータ2を構成するシンチレータ結晶cは全て同じ構成となっていたが、本発明はこの構成に限られない。図17に示すようにシンチレータ2の端部に位置するシンチレータ結晶cが平滑面を有する構成としてもよい。図17における太線で示すシンチレータ結晶cの面は、平滑面となっている。平滑面とは、シンチレータ結晶cの表面に光学研磨処理を施したりケミカルエッチング処理を施して得られる滑らかな平面である。本変形例に係るシンチレータ2の端部に位置するシンチレータ結晶cは、直方体となっており、6つの平面を有する。この6つの平面のいずれも平滑化処理された平滑面となっている。
 本発明におけるシンチレータ2が有する面のうちSiPMA3が光学的に結合されている面を底面としたとき、シンチレータ2の側面を構成するシンチレータ結晶cは、全ての面が平滑面となっている。
 本変形例によれば、シンチレータ結晶cが集合して構成されているシンチレータ2の表面が平滑面となっているので、シンチレータ2で発生した蛍光がシンチレータ2の側面に向かうと、蛍光の一部は、シンチレータ2の側面で反射しシンチレータ2に戻される。このときシンチレータ2を出射してしまった蛍光は、シンチレータ反射板Sにより全反射し、これもシンチレータ2に戻される。このように、上述の構成に係るシンチレータ2の側面は、シンチレータ反射板Sの機能を手助けする構成となっている。また、シンチレータ2の側面が平滑面となっていると、蛍光がシンチレータ2の側面から出射しシンチレータ反射板Sで反射して再びシンチレータ2の側面に入射するまでに蛍光が減衰することがない。したがって、本変形例の構成は、放射線検出器の蛍光の正確な測定に寄与するものである。シンチレータ結晶cの6面が平滑面となっていると、シンチレータ2を組み立てる際にシンチレータ結晶cの向きを気にしないでよくなり、シンチレータ2の製造が容易となる。
 (2)また、本発明は、図18に示すようにシンチレータ2の端部に位置するシンチレータ結晶cが平滑面を有する構成としてもよい。図18における太線で示すシンチレータ結晶cの面は、平滑面となっている。本変形例に係るシンチレータ2の端部に位置するシンチレータ結晶cは、直方体となっており、6つの平面を有する。この6つの平面のうち、透過材tを介してシンチレータ反射板Sに結合している面(シンチレータ2の端面をなす面)が平滑化処理された平滑面となっており、残りの5面は粗面となっている。また、シンチレータ2の角部に位置する4つのシンチレータ結晶cについては、透過材tを介してシンチレータ反射板Sに結合している面(シンチレータ2の端面をなす面)が2つあるので、この2つの面が平滑化処理された平滑面となっており、残りの4面は粗面となっている。すなわち、本変形例によれば、シンチレータ2が有する面のうちSiPMA3が光学的に結合されている面を底面としたとき、シンチレータ結晶cが有する面のうちシンチレータ2の側面をなす面のみが平滑面となっている。
 本変形例においても上述の(1)の変形例と同様な効果を得ることができる。シンチレータ結晶cの一部の面が平滑面となっていると、隣の結晶との光学的な結合が理想通りとなり、正確な蛍光の測定ができる放射線検出器が提供できる。
 (3)上述の実施例では、シンチレータ2を構成するシンチレータ結晶cが研磨紙で研磨されたものであると説明しているが、本発明はこの構成に限らない。すなわち、LGSO結晶インゴットから切り出されたシンチレータ結晶cの表面を無加工のまま組み立ててシンチレータ2を構成するようにしてもよい。シンチレータ2を構成するシンチレータ結晶cは、円筒形状のLYSOインゴットをワイヤーソーやダイジングソーで切り分けて製造される。切り分けられた直後のシンチレータ結晶cは、6面とも粗面となっている。そこで、表面が粗面のままとなっているシンチレータ結晶を組み立ててシンチレータ2を製造すれば、隣り合うシンチレータ結晶同士の光学的な結合面で反射が抑制されることになる。本変形例によれば、本発明の効果を有するシンチレータ2が得られる。さらに、本変形例によれば、シンチレータ結晶cの表面を研磨する工程が必要でないので、製造工程が短縮され低コストな放射線検出器が提供できる。
 (4)上述の実施例では、シンチレータ2は、第1層L1から第4層L4までに跨る一体もののシンチレータ結晶cから構成されていたが、この構成に変えて、図19のようにシンチレータ2を第1層L1と第2層L2とに跨るシンチレータ結晶と、第3層L3と第4層L4とに跨るシンチレータ結晶とによって構成するようにしてもよい。本変形例におけるシンチレータ2に配列されているシンチレータ結晶cには、第1層L1および第2層L2に跨って設けられているものと、第3層L3および第4層L4に跨って設けられているものとの二種類がある。このように本発明は、様々な態様の放射線検出器に適用することができる。
 (5)上述の実施例では、反射板RYa,RYbがシンチレータ2の2層に跨っている構成となっていたが、本発明はこれに代えて、反射板RYa,RYbの一方または両方がシンチレータ2の各層で分割された構成とした放射線検出器に適用することができる。
 (6)上述の実施例では、結晶の材料としてLGSOを用いていたが本発明はこれに限られず、Lu(1-x)2xSiO(LYSO),GSOなどの他の材料を用いてもよい。また、光検出器としてSiPMA以外の他のデバイスを用いてもよい。
 以上のように、本発明の放射線検出器は、医用分野に適している。
c            シンチレータ結晶
t            透過材
L1          第1層
L2          第2層
L3          第3層
L4          第4層
RX,RY    反射板
S            シンチレータ反射板
2            シンチレータ
3            SiPMA(光検出器)

Claims (11)

  1.  放射線を蛍光に変換するシンチレータ結晶が縦横に配列し、高さ方向に第1層ないし第4層の4つの層を有するシンチレータと、前記シンチレータに光学的に接続された光検出器とを備えた放射線検出器であって、
     互いに隣接する前記シンチレータ結晶の隙間に蛍光を反射する横方向または縦方向に伸びた複数の反射板を有し、
     第1層および第2層に備えられた反射板のうち横方向に伸びるものは、2つの層の間で交互に出現するようにシンチレータ結晶1個分の周期で縦方向に配列しているとともに、
     第2層および第3層に備えられた反射板のうち横方向に伸びるものは、2つの層の間で交互に出現するようにシンチレータ結晶1個分の周期で縦方向に配列しており、
     第3層および第4層に備えられた反射板のうち横方向に伸びるものは、2つの層の間で交互に出現するようにシンチレータ結晶1個分の周期で縦方向に配列しており、
     第1層および第2層に備えられた反射板のうち縦方向に伸びるものは、出現する位置が2つの層の間で同じとなるようにシンチレータ結晶2個分の周期で横方向に配列しているとともに、
     第2層および第3層に備えられた反射板のうち縦方向に伸びるものは、2つの層の間で交互に出現するようにシンチレータ結晶1個分の周期で横方向に配列しており、
     第3層および第4層に備えられた反射板のうち縦方向に伸びるものは、出現する位置が2つの層の間で同じとなるようにシンチレータ結晶2個分の周期で横方向に配列していており、
     前記シンチレータ結晶が有する面のうち隣のシンチレータ結晶に対向する面が研磨処理された平滑面より粗く磨りガラス状の粗面となっていることを特徴とする放射線検出器。
  2.  請求項1に記載の放射線検出器において、
     前記シンチレータを構成する互いに隣接する前記シンチレータ結晶は、屈折率が前記シンチレータ結晶を構成する材料よりも小さい透過材により光学的に結合されていることを特徴とする放射線検出器。
  3.  請求項1または請求項2に記載の放射線検出器において、
     前記シンチレータにおける前記光検出器に接続されている面が研磨処理された平滑面より粗く磨りガラス状の粗面となっていることを特徴とする放射線検出器。
  4.  請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の放射線検出器において、
     前記シンチレータ結晶が有する粗面の粗さの程度は、前記シンチレータ結晶の表面を100番以上600番以下の研磨紙で研削した程となっていることを特徴とする放射線検出器。
  5.  請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の放射線検出器において、
     前記シンチレータ結晶が有する粗面の粗さの程度は、光学研磨した前記シンチレータ結晶の表面よりも粗いものとなっていることを特徴とする放射線検出器。
  6.  請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の放射線検出器において、
     前記シンチレータ結晶が有する粗面の粗さの程度は、ケミカルエッチング処理をした前記シンチレータ結晶の表面よりも粗いものとなっていることを特徴とする放射線検出器。
  7.  請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の放射線検出器において、
     前記シンチレータに配列されている前記シンチレータ結晶は、第1層ないし第4層に跨って設けられていることを特徴とする放射線検出器。
  8.  請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の放射線検出器において、
     前記シンチレータに配列されている前記シンチレータ結晶には、第1層および第2層に跨って設けられているものと、第3層および第4層に跨って設けられているものとの二種類があることを特徴とする放射線検出器。
  9.  請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の放射線検出器において、
     前記シンチレータが有する面のうち前記光検出器が光学的に結合されている面を底面としたとき、前記シンチレータの側面および上面を覆うように設けられたシンチレータ反射板を備え、
     前記シンチレータの側面を構成する前記シンチレータ結晶は、全ての面が平滑面となっていることを特徴とする放射線検出器。
  10.  請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の放射線検出器において、
     前記シンチレータが有する面のうち前記光検出器が光学的に結合されている面を底面としたとき、前記シンチレータの側面および上面を覆うように設けられたシンチレータ反射板を備え、
     前記シンチレータ結晶が有する面のうち前記シンチレータの側面をなす面のみが平滑面となっていることを特徴とする放射線検出器。
  11.  請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の放射線検出器において、
     前記シンチレータ結晶は、表面が結晶インゴットを切り出した状態のまま未加工となっていることを特徴とする放射線検出器。
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