WO2015008404A1 - 規則性模様による変位分布のための測定方法、装置およびそのプログラム - Google Patents
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Definitions
- the present invention relates to an analysis method and apparatus capable of measuring displacement distribution of an object from an arbitrary repetitive regular pattern on the object photographed by an optical camera easily, with high resolution, high accuracy and high speed.
- a displacement distribution (full field of view) measurement method is effective in which a displacement distribution in an image captured using an optical camera is determined.
- the digital image correlation method is characterized by using a random pattern having no regularity.
- Patent Document 1 a method has also been proposed in which a minute displacement distribution is measured by intentionally using a regular lattice pattern in a reverse idea.
- Non-Patent Document 1 calculates the amount of deformation by obtaining correlation of a certain evaluation area (subset) with respect to random patterns before and after deformation, it has high resolution. In the case of an image, much computation time is required.
- the accuracy that can be measured is limited to 1/20 to 1/50 pixels. Furthermore, it is technically difficult to paint arbitrary random patterns on nano-microscale objects. On the other hand, it is not easy to paint a random pattern on a megascale object such as several meters or more, and it takes time and cost. In addition, it is not desirable aesthetically.
- the moire method (Patent Document 1) has been developed.
- the grating used in the measurement is a sine wave (or cosine wave) or rectangle with a monochrome ratio of 1: 1.
- the conventional analysis method when applied to a regular pattern having an arbitrary repetition of two or more cycles, the conventional analysis method has a problem that a large error occurs.
- FIG. 1 shows an example of a pattern having regularity applicable in the present invention, and the regularity pattern is not limited. Also, although the two methods (means) described below are suitable methods for the regular patterns of the respective target objects, the regular patterns are not limited to the illustrated regular patterns.
- Displacement distribution analysis method 1 displacement distribution analysis method with an arbitrary analysis pitch using a single high-order frequency
- the present invention is artificially manufactured on the surface of an object (for example, pasting of a lattice pattern or transfer of a pattern) Or generate moiré fringes based on image data of a regular pattern having repetitions of one-dimensional equidistant pitches existing in advance on the surface of the object, and measure displacement distribution by phase information on a specific higher-order frequency .
- the displacement distribution analysis method capable of simple and high-speed processing is a regular pattern having repetitions according to the accuracy to be attached to the surface of the object and measuring the luminance distribution in the horizontal direction or the vertical direction at equal intervals.
- a sine wave grid or a square wave grid attached, or a regular pattern having repetitions that can be expected to be accurate on horizontal or vertical luminance distribution on an object surface and at equal pitches (p) (For example, it can apply suitably to the longitudinal (horizontal) stripe pattern which appears on the outer wall surface which is a structure of an object).
- the regular pattern mentioned above is an illustration of a regular pattern, Comprising: It does not limit the regular pattern which can apply the present invention.
- FIG. 2 shows the principle of displacement distribution analysis with an arbitrary analysis pitch, which is the first means (1), and an image processing method.
- f (i, j) is the brightness value (brightness) on the (i, j) coordinate of the photographed image
- a is the amplitude of the stripe grid
- b is the background brightness
- ⁇ 0 is the initial phase of the stripe grid
- ⁇ are the phase values of the fringe grating determined.
- P is a grid pitch interval in the i direction on the photographed image.
- This single stripe grid image taken is subjected to image thinning processing while changing the start point m of thinning in the i direction at an arbitrary pitch interval M (generally an integer) while changing the thinning start point m by 1 pixel
- M generally an integer
- the image processing method of thinning processing and luminance interpolation is the same as that described in Patent Document 1, but the analysis pitch (M, regular pitch on image data) is the pitch interval (P, A key point is a point that does not have to match the equal pitch (a pitch that can be analyzed at an arbitrary decimation interval). This is also true for the second means.
- Displacement distribution analysis method 2 Analysis method of displacement distribution by an arbitrary regular pattern using a plurality of frequency components: Displacement by an arbitrary regular pattern seen in daily life which is the second means (2) in FIG. 3 The principle of distribution analysis and the image processing method are shown. Since these regular patterns look different from the regularity of the pattern when viewed visually, roughly, two or more cycles are repeated at each equally-spaced pitch in the horizontal direction and the vertical direction which are present or pasted on the object surface.
- One-dimensional regular patterns for example, tilings of exterior walls that are structures of objects, windows of high-rise buildings, etc.
- the same patterns with equally spaced pitches horizontally or vertically present or pasted on the object surface Can be classified into a two-dimensional regular pattern (for example, an alphanumeric character, a flower pattern, etc.) having two or more repetitions, but the appropriate processing for the image data which is the luminance distribution data is as follows: It is the same.
- any regular pattern seen in daily life mentioned above is a repetition that can be expected to have the accuracy to be measured at least in the horizontal or vertical luminance distribution with equally spaced pitches that are present or affixed on the object surface. It may be said that it has a regularity pattern.
- g (i, j) is the brightness value (brightness) on the (i, j) coordinate of the photographed image of an arbitrary regular pattern.
- W is the order of the higher frequency
- a ⁇ is the amplitude (more than one) of the fringe grating at each frequency
- b is the background luminance
- ⁇ 0 is the initial phase of the fringe grating
- ⁇ is the determined fringe grating phase value It is.
- P is a grid pitch interval in the i direction on the photographed image.
- This single stripe grid image taken is subjected to image thinning processing while changing the start point m of thinning in the i direction at an arbitrary pitch interval M (generally an integer) while changing the thinning start point m by 1 pixel
- M generally an integer
- moire fringes with low spatial frequency obtained here are also regular, and can be represented by a Fourier series including higher-order frequencies as shown in equation (6).
- the present invention exploits this property to simultaneously extract multiple frequency components. Amplitude information (or power spectrum information) and phase information of a plurality of frequency components are simultaneously calculated by discrete Fourier transform.
- the present invention if there is a regular pattern with arbitrary repetition on the surface of the measurement object, it is possible to analyze the displacement distribution with high accuracy and high speed simply.
- the regular pattern it is not necessary to limit the interval of the analysis pitch, and it is possible to obtain displacement distribution more simply and with high accuracy.
- the effect 2 can be applied with a regular pattern with any repetition, the applicable range is wide.
- the present invention can be obtained by comparing the deflection distribution obtained by the conventional measurement method (analyzing the sampling pitch with 5 pixels) and the measurement method of the present invention (analyzing the sampling pitch with 15 pixels) with these same grid images. Confirm the effectiveness of
- FIG. 5A shows the Fourier spectrum distribution at one central pixel in the vicinity of the load point.
- the sampling pitch is analyzed by five pixels which are substantially the same as the grating pitch, a large amplitude appears in the component of frequency 1 as shown in FIG. 5A.
- FIG. 5 (c) and 5 (d) show the deflection distribution of one horizontal center line measured by the conventional method and the present invention.
- FIG. 5 (c) is the result of analysis using the conventional fundamental frequency 1
- FIG. 5 (d) is the result of analysis using the frequency 3 according to the present invention.
- tile patterns of 1 cycle 20 pixels (considered to be a grid pitch of 1 mm) in which white is brightness 1 and black is 0 were created.
- One is a tile pattern in which the white-to-white ratio of 1: 9 with 2 pixels of white and 18 pixels of 20 out of 20 pixels, and the tile pattern with a white-to-white ratio of 1:19 with white and 1 pixel of white and 19 pixels.
- the measurement error in the case where the two types of grid images were displaced by 0.05 mm from 0 mm to 1 mm on a computer was investigated.
- the displacement amount analysis was performed in a state in which 10% random noise was added to the tile pattern image at each position.
- the thinning-out number is 20, and the result of analyzing only the frequency 1 described in the conventional patent document 1 is compared with the result of analysis taking into consideration the frequency components up to the fifth order according to the present invention.
- FIG. 6 shows the relationship between displacement amounts and analysis errors for tile patterns having two different black and white ratios.
- the RMS (root mean square) error of the difference between the analyzed displacement amount and the theoretical displacement amount in the evaluation region of 20 ⁇ 20 pixels in the center of the image is plotted.
- the conventional method has an effect of reducing noise of 4.1 ⁇ m and 1/3 or more according to the present invention with respect to 14.9 ⁇ m.
- the analysis error is 7.2 ⁇ m which is 1 ⁇ 4 or less according to the present invention compared to 29.4 ⁇ m in the conventional method, and it can be confirmed that the accuracy can be improved.
- FIG. 7 shows the relationship between the order of the frequency used in the analysis and the measurement error in the present invention. From this, it is understood that the measurement accuracy can be improved by considering a plurality of frequency components as compared with the conventional method using only one frequency component.
- the grid pitch on the camera image was 40 pixels.
- This method moves horizontally from 0 mm to 2 mm by 0.1 mm from the moving stage, captures images at each position (moving amount), and takes into consideration the conventional method using only the first order frequency component and the fifth order frequency component
- the displacement amount according to the invention was analyzed respectively, and the average value and the standard deviation of the measurement value of the experimental value and the displacement amount of the stage in the evaluation area of 40 ⁇ 10 pixels at the center of the image were calculated.
- FIG. 9 (a) shows the average error obtained by the conventional method and the present invention with respect to the amount of movement. It can be understood from the experimental results that according to the present invention, displacement measurement with higher accuracy can be performed.
- FIG. 9 (b) shows the standard deviation of the measurement error obtained by the conventional method and the present invention with respect to the amount of movement. The variation of four times or more was able to be reduced compared with the conventional method.
- the grid pitch on the camera image was 20 pixels.
- This method moves horizontally from 0 mm to 1 mm by 0.02 mm from the moving stage, captures an image at each position (moving amount), and takes into consideration the conventional method using only the primary frequency component and the fifth frequency component
- the displacement amount according to the invention was analyzed respectively, and the root mean square (RMS) of the measurement error of the experimental value and the displacement amount of the stage in the evaluation area of 20 ⁇ 20 pixels at the center of the image was calculated.
- RMS root mean square
- FIG. 11 shows the RMS errors obtained by the conventional method and the present invention with respect to the amount of movement. All three types of two-dimensional regular patterns succeeded in greatly improving the measurement accuracy.
- the RMS average error of the conventional method is 26.3 ⁇ m
- the present invention is 12.1 ⁇ m
- the accuracy has been improved 2.2 times.
- the RMS average error of the conventional method is 112.4 ⁇ m, whereas the present invention is 10.0 ⁇ m, and the accuracy can be improved 11.2 times.
- the RMS average error of the conventional method is 8.7 ⁇ m, whereas the present invention is as accurate as 9.6 ⁇ m.
- programs are prepared in C language and C ++ language, and each displacement distribution measuring method is executed to measure displacement distribution.
- the program language is not limited to the C language and the C ++ language, and may be a program loaded to the RAM or a program fixed to the ROM.
- the image data obtained from the optical camera is processed using a personal computer to obtain the measurement results of each displacement distribution.
- the displacement distribution measuring device may be configured separately from the optical camera, or may be configured integrally with the optical camera. Further, it may be incorporated in a displacement distribution analysis device, or it may be incorporated in various measurement devices by setting an input / output specification appropriately and making one chip.
- the present invention can be applied to any regular pattern, it is suitable to be applied to mechanical characterization of newly developed materials and health diagnosis of infrastructure. It can handle a wide range of objects from nano-micro scale to mega-scale.
- Industrial fields to which the present invention can be more specifically applied include nanoscience fields, mechanical materials, infrastructure civil engineering fields, and biomimetics fields.
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Abstract
Description
非特許文献1に記載している変位分布計測技術は、変形前後のランダムなパターンに対して、一定の評価領域(サブセット)の相関を求めることで変形量を算出しているが、高分解能な画像の場合多くの計算時間を要する。
本計測技術は構造物表面に貼付けた格子ピッチの1/1000の精度で微小変位分布を測定できるが、測定で用いている格子は白黒比が1:1の正弦波(もしくは余弦波)または矩形波模様であり、ナノマイクロ材料や大型構造物を対象とした場合、構造物表面にかならずしもこれらの模様が貼付けられるとは限らず適用できる限界があった。また2周期以上の任意の繰り返しのある規則性模様に適用した場合、従来の解析方法では大きな誤差が発生するという問題点がある。
なお、図1に本発明において、適用できる規則性を有する模様の例を示すものであり、規則性模様を限定するものではない。
また次に説明する2つの方法(手段)は各対象とする物体の規則性模様に好適な方法であるが各規則性模様を例示の規則性模様に限定するものではない。
本発明は、物体表面に人工的に作製された(例えば格子模様の貼付けやパターンの転写)、または物体表面に予め存在している1次元の等間隔ピッチの繰り返しを有する規則性模様の画像データに基づいてモアレ縞を発生させ、ある特定の高次周波数に関する位相情報により変位分布を測定する。
この簡便で高速処理が可能な変位分布解析方法は、より詳しくは、物体表面上に貼付けられ等間隔ピッチで水平方向または垂直方向の輝度分布に測定したい精度に応じた繰り返しを有する規則性模様(例えば貼り付けられた正弦波格子や矩形波格子)、または物体表面上に存在し等間隔ピッチ(p)で水平方向または垂直方向の輝度分布に測定したい精度を期待し得る繰り返しを有する規則性模様(例えば物体の構造である外壁面にあらわれる縦(横)縞模様)に好適に適用できる。
なお、上にあげた規則性模様は、規則性模様の例示であって、本発明の適用可能な規則性模様を限定するものではない。
図2に第1の手段(1)である任意の解析ピッチによる変位分布解析の原理と画像処理方法を示す。測定対象物表面に貼付した等間隔ピッチで水平方向または垂直方向の輝度分布に測定したい精度に応じた規則性のある模様、例えば正弦波または矩形波の縞格子を光学式カメラで撮影すると、近似的に式(1)により表されるような輝度分布をもつ1枚の縞格子画像が得られる。
またこれは第2の手段においても同様である。
図3に第2の手段(2)である日常生活で見かける任意の規則性模様による変位分布解析の原理と画像処理方法を示す。
これらの規則性模様は、目視した場合に模様の規則性が異なって見えるので、大まかに、物体表面上に存在しまたは貼付けられた水平方向と垂直方向に各等間隔ピッチで2周期以上の繰り返しを有する1次元規則性模様(例えば物体の構造である外壁のタイル模様や高層ビルの窓模様など)と、物体表面上に存在しまたは貼付けられた水平方向または垂直方向に等間隔ピッチで同じパターンが2個以上の繰り返しを有する2次元規則性模様(例えば英数字、花柄など任意のパターンもの)とに分類できるが、その輝度分布データである画像データに対する適切な処理は次に示すように同一である。
また上に述べた日常生活で見かける任意の規則性模様とは、物体表面上に存在しまたは貼付けられた等間隔ピッチで少なくとも水平方向または垂直方向の輝度分布に測定したい精度を期待し得る繰り返しを有する規則性模様と言ってもよい。
本発明はこの性質は利用して複数の周波数成分を同時に抽出する。離散フーリエ変換により複数個の周波数成分の振幅情報(またはパワースペクトル情報)および位相情報を同時に算出する。
変形前後のモアレ縞の複数個のそれぞれの周波数の位相差から式(4)より、複数個のx方向の変位分布u(i,j;ω)を算出することが可能である。最後に求めた各周波数の振幅またはパワーで重み付けして合成し、最終の変位分布u(i,j)を求める。
同様にy方向について上記の画像処理を行えば、y方向の変位分布v(i,j)を求めることが可能である。
効果の1として、規則性模様に対して、解析ピッチの間隔を限定する必要がなく、より簡便かつ高精度で変位分布を得ることが可能である。
効果の2として、任意の繰り返しのある規則性模様で適用できるため、適用可能範囲が広い。
本発明の第2の手段(2)に記されている方法の有効性を確認するために、シミュレーションによりその効果を確認した。
本発明の第2の手段(2)に記されている方法の有効性を確認するために、図8に示す光学系を用いて、1次元の規則性を有するタイル模様を利用した変位分布解析の実験結果を図9に示す。
本タイルを移動ステージの平面板上に固定し、4.5mから離れた場所に設置した光学カメラで画像撮影を行った。
これらの計4種類の模様を移動ステージの平面板上に固定し、135cmから離れた場所に設置した光学カメラで画像撮影を行った。
なおプログラム言語はC言語とC++言語に限定されず、またRAMにロードされるプログラムであってもよいしROMに固定されるプログラムであってもよい。
変位分布測定装置は、光学式カメラと分離して構成してもよいし、光学式カメラと一体的に構成してもよい。
また変位分布解析装置に組み込んでもよいし、適宜入出力仕様を設定しワンチップにして各種測定装置に組み込むことができる。
より具体的に応用展開できる産業分野は、ナノサイエンス分野、機械材料、インフラ土木分野、およびバイオミメティックス分野が挙げられる。
2 荷重機構
3 支持台
4 格子パターンの拡大図
5 カメラ
6 1次元繰り返し模様
7 移動方向
8 移動ステージ
9 2次元繰り返し模様
Claims (12)
- 光学式カメラを用いて、物体表面上に貼付けられ等間隔ピッチで水平方向または垂直方向の輝度分布に測定したい精度に応じた繰り返しを有する規則性模様(例えば正弦波や矩形波格子)、または物体表面上に存在して等間隔ピッチ(p)で水平方向または垂直方向の輝度分布に測定したい精度を期待し得る繰り返しを有する規則性模様(例えば物体の構造である外壁面にあらわれる縦(横)縞模様)を変形前後のデジタル画像を撮影して、変位分布測定装置において該デジタル画像を処理し物体の変位分布を測定する方法において、
前記変形前後の模様画像を取得するステップと、
前記の模様画像の輝度データに対して水平方向または垂直方向に任意の一定のサンプリング間隔(M)(解析周波数、規則性模様のピッチと一致しなくてもよい)で間引き処理と輝度補間を行い、位相がシフトされた複数枚の空間周波数の低いモアレ縞画像を生成するステップと、
前記位相がシフトされたモアレ縞画像に対しフーリエ変換を行い、該解析周波数に対応する特定(例えば振幅あるいはパワーの最も大きいもの)の周波数成分の情報を抽出して水平方向または垂直方向の高次周波数のモアレ縞画像の位相分布を求めるステップと、
変形前後のモアレ縞の位相分布から得られる位相差分布から、物体の変位分布を算出するステップを有することを、
特徴とする物体の変位分布測定方法。
次にモアレ縞の特定の周波数ωにおける位相差分布から変位分布uを求める数式を示す。i,jは撮影画像の水平座標および垂直座標、pは水平方向または垂直方向の規則性模様のピッチ間隔の実寸値、Mは解析周波数、ωは特定の高次周波数成分、φは位相分布関数。
- 光学式カメラを用いて、物体表面上に存在しまたは貼付けられた水平方向と垂直方向に各等間隔ピッチで2周期以上の繰り返しを有する1次元規則性模様(例えば物体の構造である外壁のタイル模様や高層ビルの窓模様など)を変形前後のデジタル画像を撮影して、変位分布測定装置において該デジタル画像を処理し物体の変位分布を測定する方法において、
前記変形前後の1次元規則性模様画像を取得するステップと、
前記の1次元規則性模様画像の輝度データに対して水平方向または垂直方向に任意の一定のサンプリング間隔(M)(解析周波数、規則性模様ピッチと一致しなくてもよい)で間引き処理と輝度補間を行い、位相がシフトされた複数枚のモアレ縞画像を生成するステップと、
前記位相がシフトされたモアレ縞画像に対しフーリエ変換を行い、該解析周波数に対応する複数の周波数成分の情報を同時に抽出して水平方向または垂直方向の複数個の周波数のモアレ縞画像の位相分布を求めるステップと、
変形前後のモアレ縞の位相分布から得られるこれらの複数個の位相差分布を基に各周波数の振幅またはパワーで重み付けして合成して、所定の繰り返し模様を対象に測定誤差の少ない物体の変位分布を算出するステップを有することを、
特徴とする物体の変位分布測定方法。 - 光学式カメラを用いて、物体表面上に存在しまたは貼付けられた水平方向または垂直方向に等間隔ピッチで同じパターンが2個以上の繰り返しを有する2次元規則性模様(例えば英数字、花柄など任意のパターン)を変形前後のデジタル画像を撮影して、変位分布測定装置において該デジタル画像を処理し物体の変位分布を測定する方法において、
前記変形前後の2次元規則性模様画像を取得するステップと、
前記の2次元規則性模様画像の輝度データに対して水平方向または垂直方向に任意の一定のサンプリング間隔(M)(解析周波数、規則性模様ピッチと一致しなくてもよい)で間引き処理と輝度補間を行い、位相がシフトされた複数枚のモアレ縞画像を生成するステップと、
前記位相がシフトされたモアレ縞画像に対しフーリエ変換を行い、該解析周波数に対応する複数の周波数成分の情報を同時に抽出して水平方向または垂直方向の複数個の周波数のモアレ縞画像の位相分布を求めるステップと、
変形前後のモアレ縞の位相分布から得られるこれらの複数個の位相差分布を基に各周波数の振幅またはパワーで重み付けして合成して、所定の繰り返し模様を対象に測定誤差の少ない物体の変位分布を算出するステップを有することを、
特徴とする物体の変位分布測定方法。 - 光学式カメラを用いて、物体表面上に存在しまたは貼付けられた等間隔ピッチで少なくとも水平方向または垂直方向の輝度分布に測定したい精度を期待し得る繰り返しを有する規則性模様を変形前後のデジタル画像を撮影して、変位分布測定装置において該デジタル画像を処理し物体の変位分布を測定する方法において、
前記変形前後の規則性模様画像を取得するステップと、
前記の規則性模様画像の輝度データに対して水平方向または垂直方向に任意の一定のサンプリング間隔(M)(解析周波数、規則性模様ピッチと一致しなくてもよい)で間引き処理と輝度補間を行い、位相がシフトされた複数枚のモアレ縞画像を生成するステップと、
前記位相がシフトされたモアレ縞画像に対しフーリエ変換を行い、該解析周波数に対応する複数の周波数成分の情報を同時に抽出して水平方向または垂直方向の複数個の周波数のモアレ縞画像の位相分布を求めるステップと、
変形前後のモアレ縞の位相分布から得られるこれらの複数個の位相差分布を基に各周波数の振幅またはパワーで重み付けして合成して、所定の繰り返し模様を対象に測定誤差の少ない物体の変位分布を算出するステップを有することを、
特徴とする物体の変位分布測定方法。 - 物体の変位分布解析プログラムにおいて、請求項1に記載の手順を実行することを特徴とするプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
- 物体の変位分布解析プログラムにおいて、請求項2に記載の手順を実行することを特徴とするプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
- 物体の変位分布解析プログラムにおいて、請求項3に記載の手順を実行することを特徴とするプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
- 物体の変位分布解析プログラムにおいて、請求項4に記載の手順を実行することを特徴とするプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
- 物体の変位分布測定装置であって、請求項1に記載する方法を実施して物体の変位分布を測定することを特徴とする変位分布測定装置。
- 物体の変位分布測定装置であって、請求項2に記載する方法を実施して物体の変位分布を測定することを特徴とする変位分布測定装置。
- 物体の変位分布測定装置であって、請求項3に記載する方法を実施して物体の変位分布を測定することを特徴とする変位分布測定装置。
- 物体の変位分布測定装置であって、請求項4に記載する方法を実施して物体の変位分布を測定することを特徴とする変位分布測定装置。
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