WO2014163061A1 - 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法、磁気ディスク用ガラス基板、及び磁気ディスクの製造方法 - Google Patents

磁気ディスク用ガラス基板の製造方法、磁気ディスク用ガラス基板、及び磁気ディスクの製造方法 Download PDF

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WO2014163061A1
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WO
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glass substrate
magnetic disk
polishing
manufacturing
main surface
Prior art date
Application number
PCT/JP2014/059604
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English (en)
French (fr)
Inventor
基延 越阪部
秀造 徳光
祐治 山城
亮太郎 竹内
Original Assignee
Hoya株式会社
ホーヤ ガラスディスク ベトナム Ｉｉ リミテッド
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Publication date
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    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/84—Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers
    • G11B5/8404—Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers manufacturing base layers

Definitions

  • the present invention relates to a glass substrate for a magnetic disk used for a magnetic disk mounted on a magnetic recording device such as a hard disk drive (hereinafter abbreviated as “HDD”) and a method for manufacturing the same.
  • a hard disk drive hereinafter abbreviated as “HDD”
  • One of information recording media mounted on a magnetic recording device such as an HDD is a magnetic disk.
  • a magnetic disk is configured by forming a thin film such as a magnetic layer on a substrate, and an aluminum substrate has been conventionally used as the substrate.
  • the ratio of the glass substrate capable of narrowing the distance between the magnetic head and the magnetic disk as compared with the aluminum substrate is gradually increasing.
  • the surface of the glass substrate is polished with high accuracy so as to increase the recording density so that the flying height of the magnetic head can be reduced as much as possible.
  • HDDs with higher recording capacity and lower prices. In order to achieve this, it is necessary to further improve the quality and cost of glass substrates for magnetic disks. It is coming.
  • a conventional glass substrate polishing method is performed using a polishing pad of a polisher such as polyurethane while supplying a slurry (polishing liquid) containing a metal oxide abrasive such as cerium oxide or colloidal silica.
  • a glass substrate having high smoothness can be obtained by polishing using, for example, a cerium oxide-based abrasive and then finishing polishing (mirror polishing) using colloidal silica abrasive grains.
  • Patent Document 1 the shape and number of surface defects of a substrate are managed, and a glass substrate for a magnetic disk that can suppress the occurrence of problems in an HDD mounted with a magnetic head having a very small flying height. Is described.
  • the influence of the substrate on the reliability of the HDD becomes large for the following reason.
  • the flying height of the magnetic head (the gap between the magnetic head and the surface of the medium (magnetic disk)) is greatly reduced (lower flying height).
  • the distance between the magnetic head and the magnetic layer of the medium is reduced, so that signals can be written to smaller areas and signals of smaller magnetic particles can be picked up, achieving higher recording density. can do.
  • DFH Dynamic Flying Height
  • Patent Document 1 discloses a defect that is considered to be affected by a magnetic head having a very small flying height, such as a magnetic head having a DFH function (hereinafter simply referred to as “DFH head”).
  • DFH head a magnetic head having a DFH function
  • a convex foreign object defect whose area is broad is mentioned.
  • Such a defect in which the convex region is broad has a relatively large area in contact with the magnetic head, for example, compared with a defect in which the convex region is sharp. As a result, the magnetic head may crash.
  • This HDI sensor is a so-called contact detection sensor, and detects convex defects (projections) on the surface of the magnetic disk.
  • the HDI sensor is composed of, for example, an MR (magnetoresistive) element, and performs detection using a thermal asperity phenomenon.
  • the state of the magnetic disk surface by the HDI sensor is detected, and based on the detection result, the writing element and the reading element of the DFH head scanning the magnetic disk surface are detected.
  • the protruding amount of at least one of the elements it is considered that the contact between the convex defect existing on the magnetic disk surface and the writing / reading element can be avoided.
  • the state of the magnetic disk surface can be detected by using the HDI sensor, even if there is a defect having a broad convex area as described in Patent Document 1, the DFH head passes through this defect. It is considered that the protrusion amount of the writing / reading element can be controlled before the contact between the element and the defect before the reading.
  • the present invention has been made to solve such a conventional problem, and its purpose is unexpected even in the case of a magnetic disk compatible with the DFH head using the above-mentioned HDI sensor.
  • the inventor further investigated the cause of the occurrence of the foreign matter defect that can cause the above-described head crash, and found that the foreign matter is present on the surface of the glass substrate that is the substrate of the magnetic disk. And it turned out that this foreign material may exist even if manufactured according to the manufacturing method currently disclosed by the said patent document 1, for example. In other words, it is considered that the defect having a different cause of occurrence is different from the conventional defect in which the convex region which is a problem in Patent Document 1 is broad. Then, when this inventor examined further about the cause of generation
  • the present inventor adjusts the polishing liquid so as not to contain the foreign substances causing the defects, or selects a polishing liquid that does not contain such foreign substances.
  • the present inventors have found that the above problems can be solved, and have completed the present invention.
  • a glass substrate manufacturing method wherein the polishing liquid is adjusted to prevent the generation of foreign substances containing each element of aluminum (Al), silicon (Si) and oxygen (O) at least in an acidic environment.
  • a method for producing a glass substrate for a magnetic disk comprising:
  • a magnetic disk including a polishing process in which a polishing liquid containing colloidal silica is supplied between a main surface of a glass substrate and a polishing pad, and the main surface of the glass substrate is mirror-polished by bringing the glass substrate and the polishing pad into contact with each other.
  • a method of manufacturing a glass substrate for an aluminum wherein the polishing substrate is made of aluminum (Al), silicon (Si), and silicon (Si) that can inhibit recording and reproduction when the glass substrate is made into a magnetic disk and recorded and reproduced by a magnetic head.
  • a magnetic fluid containing a foreign material containing each element of oxygen (O) is selected, and the polishing treatment is performed using the selected polishing fluid.
  • Glass substrate manufacturing method for a disk is
  • (Configuration 7) The method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to any one of Structures 1 to 6, wherein the glass substrate for a magnetic disk is a glass substrate used for a magnetic disk mounted on a hard disk drive for a server.
  • a magnetic disk including a polishing process in which a polishing liquid containing colloidal silica is supplied between a main surface of a glass substrate and a polishing pad, and the main surface of the glass substrate is mirror-polished by bringing the glass substrate and the polishing pad into contact with each other.
  • a glass substrate manufacturing method wherein the polishing liquid is adjusted to prevent the generation of foreign substances that can hinder the recording and reproduction when the glass substrate is made into a magnetic disk and recorded and reproduced by the DFH head
  • a method for producing a glass substrate for a magnetic disk characterized in that: (Configuration 9) A magnetic disk manufacturing method comprising: forming at least a magnetic film on a main surface of a glass substrate for a magnetic disk obtained by the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to any one of Structures 1 to 8.
  • a glass substrate for a magnetic disk having a main surface wherein the main surface of the substrate is measured with a resolution of 256 ⁇ 256 pixels in a measurement area of 1 ⁇ m ⁇ 1 ⁇ m square using an atomic force microscope.
  • Ra is 0.15 nm or less
  • the arithmetic average roughness Ra of the wavelength band of 30 to 200 nm is 0.06 nm or less.
  • Laser light having a wavelength of 405 nm and a power of 80 mW is 6 ⁇ m from the main surface of the substrate.
  • the number of defects having a size in the in-plane direction of 30 to 200 nm is 30 or less per main surface, and A glass substrate for a magnetic disk, characterized in that a layered compound is not included in the detected defects.
  • the above configuration of the present invention it is possible to manufacture a high-quality glass substrate for a magnetic disk that can reduce foreign matter defects that can cause a head crash even when an HDI sensor is used. Further, the above configuration of the present invention makes it possible to manufacture a high-quality magnetic disk glass substrate suitable for manufacturing a magnetic disk having a higher recording density than ever before, for example, exceeding 750 gigabytes. It is.
  • top view (a) which shows an example of the shape of the foreign material concerning this invention
  • figure (b) which shows the cross-sectional shape of the foreign material.
  • the glass substrate for a magnetic disk is usually a rough grinding step (rough lapping step), a shape processing step, a fine grinding step (fine lapping step), an end surface polishing step, a main surface polishing step (first polishing step, second polishing step). It is manufactured through a chemical strengthening process.
  • a disk-shaped glass substrate (glass disk) is molded from molten glass by direct pressing.
  • a glass substrate may be obtained by cutting into a predetermined size from a plate glass manufactured by a downdraw method or a float method.
  • grinding is performed to improve dimensional accuracy and shape accuracy on the main surface of the molded glass substrate.
  • This grinding process usually uses a double-sided lapping machine to grind the main surface of the glass substrate using hard abrasive grains such as diamond. By grinding the main surface of the glass substrate in this way, a predetermined plate thickness and flatness are processed, and a predetermined surface roughness is obtained.
  • the mirror polishing method for the glass substrate is preferably performed using a polishing pad such as polyurethane while supplying a slurry (polishing liquid) containing a metal oxide abrasive such as cerium oxide or colloidal silica.
  • a polishing process is performed in which the surface of the glass substrate is mirror-polished by bringing a polishing liquid containing colloidal silica into contact with the polishing pad.
  • the recording / reproducing element of the head using an HDI sensor is used. It has been found that even if the clearance between the magnetic disk and the magnetic disk is controlled with high precision, a head crash may occur unexpectedly.
  • the present inventor has determined that there is a high possibility that the problem of the head crash is caused by the presence of a defect such as a specific shape that has not been detected so far. Further investigation of the cause of the occurrence of a foreign substance defect that could cause a magnetic field revealed that there was a foreign substance on the surface of the glass substrate, which is the substrate of the magnetic disk.
  • FIGS. 1A and 1B show an example of the shape of a foreign substance that is a problem in the present invention.
  • FIG. 1A is a plan view
  • FIG. 1B the foreign matter present on the surface of the glass substrate, which is considered as a problem that may cause the head crash problem, contains aluminum (Al), silicon (Si), and oxygen (O) elements. Further, for example, as shown in FIG. 1, the foreign matter has a small thickness and is flatter.
  • the sizes of X and Y (see FIG. 1 (a)) on the foreign substance plane (XY plane) are each in the range of about 30 to 200 nm. Further, the size of the thickness H of the foreign material (see FIG. 1B) is in the range of about 1 to 20 nm.
  • the ratio (Y / H) of, for example, the size of Y in the plane with respect to the size of the thickness H of the foreign material is in the range of about 5 to 200.
  • the shape (plan view) of the foreign material is not limited to the indefinite shape shown as an example in FIG. 1A, but is various such as a polygonal shape such as a square shape, a rectangular shape, and a hexagonal shape. Further, when the cross section of the foreign material is observed by a cross-sectional TEM, a layer structure in which a large number of thin layers are overlapped in the thickness direction is observed, and the end portion rises relatively steeply.
  • the present inventor is a layered crystalline foreign matter, specifically, a layered clay mineral (layered silicate) foreign matter (for example, montmorillonite, saponite, kaolinite, etc.) ) Etc.
  • a layered clay mineral (layered silicate) foreign matter for example, montmorillonite, saponite, kaolinite, etc.
  • the signal rise of the HDI sensor is steep, so the feedback to the DFH element portion is not in time, and the DFH element portion contacts the foreign matter. It is assumed that it will wear out.
  • the present inventor further examined the cause of the occurrence of such a foreign substance defect on the glass substrate surface, and found that the foreign substance causing the defect was contained in the polishing liquid used for the polishing treatment of the glass substrate. . That is, even after the glass substrate surface is polished, the polishing liquid is in contact with the glass substrate, so that foreign substances contained in the polishing liquid adhere to the glass substrate surface and are removed by subsequent cleaning or the like. It is considered that there is a possibility that it exists on the surface of the glass substrate. Since the foreign substance made of a layered compound is extremely flat, the lower the surface of the glass substrate is, the more closely it adheres with a stronger force. Moreover, since the foreign material which consists of a layered compound is very small, it is very difficult to remove completely by filtering. Therefore, it is very important to prevent it from adhering during or after polishing.
  • the polishing liquid used for the polishing treatment is made of aluminum (Al), silicon (Si), and oxygen (O) at least in an acidic environment. It was set as the structure adjusted in order to prevent generation
  • the above-described polishing liquid used for the polishing treatment is used to prevent the generation of foreign substances containing each element of aluminum (Al), silicon (Si), and oxygen (O) that cause the above-described defects.
  • a method for adjusting so as not to contain foreign substances for example, silica abrasive grains that are abrasive grains contained in the polishing liquid are dissolved, and the content of aluminum contained in the dissolved silica abrasive grains is 5 ⁇ g. / G or less, more preferably, silica abrasive grains of 3 ⁇ g / g or less may be used as abrasive grains.
  • Another method includes using a polishing liquid in which the amount of aluminum contained in a solid material obtained by evaporating and drying a slurry that is a polishing liquid is 5 ⁇ g / g or less.
  • polishing abrasive grains by using a high-purity silica sol that contains no or very little impurities such as Al obtained by the following manufacturing method, and adjust the polishing liquid of the present invention. That is, a first step of dissolving raw material silica (silica gel) having an impurity content such as Al of 5 ⁇ g / g or less in a quaternary ammonium hydroxide aqueous solution, and removing the quaternary ammonium hydroxide by an ion exchange method Then, the second step of preparing an active silicic acid solution and the third step of heating the active silicic acid solution in the presence of an alkali catalyst to grow silica to a predetermined particle size, impurities such as Al Can be produced.
  • a first step of dissolving raw material silica (silica gel) having an impurity content such as Al of 5 ⁇ g / g or less in a quaternary ammonium hydroxide aqueous solution and removing the
  • the raw material silica used in the first step is obtained by a reaction between sodium silicate and mineral acid.
  • sodium silicate a commercially available sodium silicate solution (water glass) can be used.
  • mineral acid hydrochloric acid, nitric acid, sulfuric acid and the like can be used.
  • chelating agents such as dicarboxylic acids such as oxalic acid, malonic acid and succinic acid, oxycarboxylic acids such as polycarboxylic acid and citric acid, and hydrogen peroxide coexist. By doing so, impurities can be removed to a predetermined amount or less.
  • impurities such as Al can be measured by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP-AES).
  • the raw material silica (hereinafter referred to as crude silica) obtained by the first mineral acid treatment usually has a size of 50 nm or more.
  • dry pulverization or wet pulverization may be performed.
  • Crude silica can be pulverized by, for example, a ball mill, a bead mill, a jet mill, or ultrasonic waves.
  • the crushed crude silica is washed with a strong acid aqueous solution to remove metal impurities such as Al.
  • the strong acid mineral acids such as hydrochloric acid, nitric acid and sulfuric acid can be used.
  • the pH of the strong acid is preferably 1 or more, more preferably 2 to 4.
  • hydrogen peroxide or the like can be used as such an oxidizing agent.
  • a chelating agent in which a metal ion cationized with a strong acid or an oxidizing agent forms a chelate complex may be added to the strong acid aqueous solution.
  • chelating agents include N ′-(2-hydroxyethyl) ethylenediamine-N, N, N′-triacetic acid (HEDTA), 1-hydroxyethane-1,1-diphosphonic acid (HEDP), nitrilotrimethyl Acetic acid (NTA), N, N-di (2-hydroxyethyl) glycine (DHEG), ethylenediaminetetraacetic acid (EDTA), N- (2-hydroxyethyl) iminodiacetic acid (HIDA), diethylenetriaminepentaacetic acid (DTPA), Oxalic acid, malic acid, tartaric acid, fumaric acid, succinic acid, citric acid, gluconic acid, and the like can be used.
  • HEDTA 1-hydroxyethane-1,1-diphosphonic acid
  • NDA nitrilotrimethyl Acetic acid
  • DHEG N-di (2-hydroxyethyl) glycine
  • EDTA ethylenediaminetetraacetic
  • the refined silica whose content of Al element is 5 ppm or less is obtained by removing strong acid aqueous solution by filtration and washing with water.
  • content of the metal impurity in the obtained refined silica is larger than 5 ppm, what is necessary is just to repeat said grinding
  • the above two treatments may be performed simultaneously by wet pulverizing a strong acid aqueous solution containing crude silica.
  • the silica gel having a content of impurities such as Al of 5 ⁇ g / g or less thus obtained is dissolved in a quaternary ammonium hydroxide aqueous solution such as tetramethylammonium hydroxide or tetrabutylammonium hydroxide. To do.
  • an active silicic acid solution is prepared by removing the quaternary ammonium hydroxide by an ion exchange method. That is, a silica sol is produced from a silica solution.
  • an ion exchange method that is easy to work and has no risk of entry of impurities.
  • silica is grown to a predetermined particle size by heating the active silicic acid solution obtained in the second step in the presence of an alkali catalyst to polymerize silicic acid and grow the particles.
  • an alkali catalyst ammonia, amine, or the like is used as the alkali catalyst.
  • the heating temperature may be appropriately set within a range of about 60 ° C. to 250 ° C.
  • the particle diameter of the grown silica is arbitrary depending on the purpose of use, but for example, a silica sol having a particle diameter of 3 to 300 nm can be obtained.
  • the silica sol obtained by the above steps can be concentrated by evaporation and filtration.
  • the silica sol which does not contain components other than silica substantially can be obtained by removing the alkali catalyst by an ion exchange method.
  • production of the foreign material containing each element of (O) can be prevented.
  • RO water is pure water that has been subjected to RO (Reverse Osmotic Pressure Membrane) treatment. It is particularly preferable to use RO-DI water that has been subjected to RO treatment and DI treatment (deionization treatment). This is because RO water or RO-DI water has a very low content of impurities, such as alkali metals, and also has a low ion content.
  • the polishing liquid applied to the mirror polishing process of the present embodiment one adjusted to an acidic region is preferably used.
  • the polishing rate can be increased and the cleanliness is improved.
  • the pH is preferably in the range of 1 to 4, for example. Therefore, it is preferable that the polishing liquid is adjusted to prevent the occurrence of the above-described foreign matters at least in an acidic environment.
  • the pH of the polishing liquid may be adjusted to be alkaline (for example, 7 ⁇ pH ⁇ 10) for polishing.
  • the colloidal silica abrasive grains contained in the polishing liquid those having an average particle diameter in the range of 10 to 50 nm are preferably used from the viewpoint of polishing efficiency.
  • the abrasive grains contained in the polishing liquid used in the finishing mirror polishing process (second polishing process in the subsequent stage) should have an average particle diameter of 10 nm or more and less than 30 nm from the viewpoint of further reducing the surface roughness. It is preferred to use. More preferably, it is in the range of 10 to 20 nm.
  • the average particle size is a point where the cumulative curve is 50% when the cumulative curve is obtained with the total volume of the powder population in the particle size distribution measured by the light scattering method as 100%. (Hereinafter referred to as “cumulative average particle diameter (50% diameter)”).
  • the cumulative average particle diameter (50% diameter) is specifically a value obtained by measurement using a particle diameter / particle size distribution measuring apparatus.
  • the colloidal silica is particularly preferably one produced by an ion exchange method.
  • Colloidal silica produced by an ion exchange method is particularly preferable because it has a higher hardness and a higher polishing rate because of its higher density than those produced by other methods (for example, sol-gel method).
  • colloidal silica produced by an ion exchange method is preferable because it has a small amount of abrasion during polishing and the deterioration of the polishing rate is small even when used for a long time.
  • colloidal silica produced by the ion exchange method since colloidal silica produced by the ion exchange method has high dispersibility, minute scratches are hardly generated on the polished surface.
  • colloidal silica produced by the sol-gel method is relatively easy to agglomerate, so that minute scratches are likely to occur. Therefore, colloidal silica manufactured by the ion exchange method is used to manufacture a magnetic disk glass substrate for ultrahigh recording density of about 750 GB or more per 2.5 inch size disk with high quality and high efficiency. It is preferable to use it.
  • the magnetic disk glass substrate having an arithmetic average roughness Ra of 0.15 nm or less and an arithmetic average roughness Ra in the wavelength band of 30 to 200 nm of 0.06 nm or less. Can be manufactured efficiently.
  • the abrasive concentration in the polishing liquid is not particularly limited, but can be in the range of 10 to 30% by weight from the viewpoint of the surface quality after polishing and the polishing rate. In particular, the range of 10 to 20% by weight is preferable.
  • a second embodiment of the present invention will be described.
  • the second embodiment is to select a polishing liquid that does not contain foreign substances as described above. That is, in the second embodiment of the present invention, as in configuration 2 above, the surface of the glass substrate is polished by bringing the polishing liquid containing colloidal silica and the polishing pad into contact with each other to mirror-polish the surface of the glass substrate.
  • a method for producing a glass substrate for a magnetic disk including a treatment wherein the glass substrate is made into a magnetic disk as the polishing liquid, and aluminum (Al) that can inhibit recording and reproduction when the recording and reproduction is performed with a magnetic head, A polishing liquid that does not contain foreign substances containing silicon (Si) and oxygen (O) elements is selected, and the polishing process is performed using the selected polishing liquid.
  • a polishing liquid prepared using a high-purity silica sol that does not contain impurities such as Al as described in the first embodiment can be selected.
  • a polishing liquid manufactured by other methods and consequently prepared using silica sol that does not contain impurities such as Al is selected.
  • FIG. 2 is a longitudinal sectional view showing a schematic configuration of a planetary gear type double-side polishing apparatus that can be used in a mirror polishing process of a glass substrate.
  • the double-side polishing apparatus shown in FIG. 2 meshes with the sun gear 2, the internal gear 3 arranged concentrically on the outer side, the sun gear 2 and the internal gear 3, and the sun gear 2 and the internal gear 3.
  • a polishing liquid supply unit (not shown) for supplying a polishing liquid is provided between 5 and the lower surface plate 6.
  • the workpiece 1 held by the carrier 4, that is, the glass substrate is sandwiched between the upper surface plate 5 and the lower surface plate 6, and the upper and lower surface plates 5, 6 are polished.
  • the carrier 4 revolves and rotates according to the rotation of the sun gear 2 and the internal gear 3, and the upper and lower surfaces of the workpiece 1 are moved. Polished.
  • the applied load (working surface pressure) is preferably in the range of 75 to 150 gf / cm 2 .
  • the load is lower than 75 gf / cm 2 , the workability (polishing rate) of the glass substrate is lowered, which is not preferable.
  • the polishing pad for finishing mirror polishing is preferably a polishing pad (suede pad) of a soft polisher.
  • the polishing pad preferably has an Asker C hardness of 60 or more and 90 or less.
  • the contact surface of the polishing pad with the glass substrate is preferably made of a foamed resin with an open foam pore, particularly foamed polyurethane. When polishing is performed in this manner, the surface of the glass substrate can be polished into a smooth mirror surface.
  • a polishing process is often performed a plurality of times.
  • the surface roughness of the main surface of the glass substrate is smoothed while maintaining the flat surface obtained in the first polishing step and the first polishing step for removing scratches and distortions remaining in the lapping step. It may be performed through two stages of a second polishing step (mirror polishing) for finishing to a mirror surface (a multi-stage polishing of three or more stages may be performed).
  • a polishing liquid according to the first or second embodiment described above at least in the second polishing step at the subsequent stage.
  • an aluminosilicate glass containing SiO 2 as a main component and further containing alumina as the glass (glass type) constituting the glass substrate.
  • a glass substrate using such glass can be finished to a smooth mirror surface by mirror polishing the surface, and the strength after processing is good. Further, the strength can be further increased by chemical strengthening.
  • the glass may be crystallized glass or amorphous glass. By using amorphous glass, the surface roughness of the main surface when the glass substrate is used can be further reduced.
  • an aluminosilicate glass SiO 2 is 58 wt% to 75 wt%, Al 2 O 3 is 5 wt% to 23 wt%, Li 2 O is 3 wt% to 10 wt%, Na 2
  • An aluminosilicate glass containing O as a main component in an amount of 4 wt% or more and 13 wt% or less can be used.
  • the alkaline earth metal oxide is 5% by weight or more
  • SiO 2 is 62% by weight or more and 75% by weight or less
  • Al 2 O 3 is 5% by weight or more and 15% by weight or less
  • Li 2 O is added.
  • amorphous aluminosilicate glass containing no phosphorus oxide having a weight ratio of 0.5 to 2.0 and a weight ratio of Al 2 O 3 / ZrO 2 of 0.4 to 2.5 can be obtained.
  • heat resistance may be required as a characteristic of a next-generation substrate (for example, a substrate used for a magnetic disk applied to a heat-assisted magnetic recording method).
  • a next-generation substrate for example, a substrate used for a magnetic disk applied to a heat-assisted magnetic recording method.
  • an alkaline earth metal oxide is 5% by weight or more, and the following is expressed in mol%, SiO 2 is 50 to 75%, Al 2 O 3 is 0 to 6%, BaO 0-2%, Li 2 O 0-3%, ZnO 0-5%, Na 2 O and K 2 O in total 3-15%, MgO, CaO, SrO and BaO in total 14 to 35%, ZrO 2 , TiO 2 , La 2 O 3 , Y 2 O 3 , Yb 2 O 3 , Ta 2 O 5 , Nb 2 O 5 and HfO 2 in total 2 to 9%, A glass having a ratio [(MgO + CaO) / (MgO + CaO
  • the surface of the glass substrate after the mirror polishing process is preferably a mirror surface having an arithmetic average surface roughness Ra of 0.15 nm or less, particularly 0.10 nm or less. Further, it is preferable that the mirror surface has a maximum roughness Rmax of 1.5 nm or less. Further, in the present invention, the surface roughness (for example, the maximum roughness Rmax, the arithmetic average roughness Ra) is measured with a resolution of 256 ⁇ 256 pixels in a range of 1 ⁇ m ⁇ 1 ⁇ m using an atomic force microscope (AFM). It is practically preferable to obtain the surface roughness of the obtained surface shape.
  • AFM atomic force microscope
  • this embodiment is particularly suitable for the case where the glass substrate is cleaned under the condition that the difference in surface roughness Rq (root mean square roughness) of the glass substrate before and after cleaning is 0.05 nm or less after the mirror polishing process. It is particularly preferred that it be applied. Cleaning under the above conditions is particularly effective in order not to increase the roughness of the main surface of the glass substrate formed by mirror polishing.
  • the cleaning power is weak, it is difficult to remove the foreign matter adhering after the mirror polishing process as compared with the conventional cleaning (cleaning that deteriorates the substrate surface roughness). Even when such cleaning is used, the foreign matter can be suppressed and the surface roughness of the glass substrate can be reduced by performing mirror polishing according to the present embodiment.
  • mirror polishing is performed using the polishing liquid according to the present invention, and mirror polishing is performed.
  • chemical strengthening treatment before or after the mirror polishing process.
  • a method of chemical strengthening treatment for example, a low-temperature ion exchange method in which ion exchange is performed in a temperature range that does not exceed the temperature of the glass transition point, for example, a temperature of 300 degrees Celsius or more and 400 degrees Celsius or less is preferable.
  • the chemical strengthening treatment is a process in which a molten chemical strengthening salt is brought into contact with a glass substrate, whereby an alkali metal element having a relatively large atomic radius in the chemical strengthening salt and a relatively small atomic radius in the glass substrate.
  • the chemically strengthened glass substrate is excellent in impact resistance, it is particularly preferable for mounting on a HDD for mobile use, for example.
  • alkali metal nitric acid such as potassium nitrate or sodium nitrate can be preferably used.
  • a rinse treatment may be performed in which the main surface of the glass substrate is washed by supplying a treatment liquid (rinse liquid) that does not include abrasive grains or is less in comparison with the second polishing step having an abrasive grain concentration.
  • a treatment liquid that does not include abrasive grains or is less in comparison with the second polishing step having an abrasive grain concentration.
  • the treatment liquid contains no abrasive grains or contains abrasive grains such as colloidal silica at a concentration of 3 wt% or less, preferably 1 wt% or less.
  • abrasive grains it is preferable to use those having an average particle diameter of 10 nm or more and less than 30 nm. More preferably, about 10 to 20 nm is used.
  • the processing liquid contains an abrasive grain, it is especially preferable to use the abrasive grain whose content of impurities, such as Al contained in the said abrasive grain, is 5 microgram / g or less.
  • the present invention also provides a glass substrate for a magnetic disk. That is, it provides a glass substrate for a magnetic disk in which the main surface is a mirror surface and no foreign substance of a layered compound is contained.
  • the glass substrate for a magnetic disk of the present invention is a glass substrate for a magnetic disk having a main surface, and the main surface of the substrate has a measurement area of 1 ⁇ m ⁇ 1 ⁇ m square using an atomic force microscope.
  • the arithmetic average roughness Ra when measured at a resolution of 256 ⁇ 256 pixels is 0.15 nm or less, and the arithmetic average roughness Ra in a wavelength band of 30 to 200 nm is 0.06 nm or less.
  • the size in the in-plane direction is 30 to 200 nm.
  • the glass substrate for a magnetic disk is characterized in that the number of defects is 30 or less per main surface, and the layered compound is not included in the detected defects.
  • the glass substrate for a magnetic disk according to the present invention has very high main surface smoothness, Ra is 0.15 nm or less, and arithmetic mean roughness Ra in a wavelength band of 30 to 200 nm is 0.06 nm or less.
  • the magnetic disk glass substrate of the present invention has a main surface with a small roughness and no layered foreign matter, and has a long-term reliability even when the gap between the DFH element portion and the magnetic disk surface is 1 nm or less.
  • a glass substrate can be obtained.
  • the method for producing a glass substrate for a magnetic disk according to the present invention as described above is suitable.
  • the laser light irradiation region preferably measures, for example, a radius of 15 to 31.5 mm (that is, about 24.09 cm 2 ) of the main surface of the substrate. Moreover, it can be determined, for example, by a cross-sectional TEM that the detected foreign matter is layered. The size of the detected foreign matter can be specified by, for example, TEM, SEM, AFM or the like after specifying the position by a laser type defect inspection apparatus. Further, the arithmetic average roughness Ra of the wavelength band of 30 to 200 nm on the main surface can be calculated as follows.
  • an area of a predetermined size on the main surface of the glass substrate for magnetic disk is used at an extremely small interval (for example, by dividing an area of 1 ⁇ m ⁇ 1 ⁇ m into 512 ⁇ 512 sections) using an AFM (atomic force microscope). Measure 3D data of surface texture. Next, a two-dimensional Fourier transform is performed on the measured three-dimensional data to obtain a two-dimensional image. Then, a wavelength component of 30 to 200 nm is extracted from the obtained two-dimensional image (that is, band-pass filter processing is performed).
  • inverse Fourier transform is applied to the extracted two-dimensional image of the wavelength component to generate three-dimensional data (three-dimensional data of only the wavelength component of 30 to 200 nm), and the arithmetic average roughness Ra is obtained from the three-dimensional data. Is calculated.
  • the minimum wavelength is about 4 nm because it is twice the minimum measurement resolution (1000 (nm) ⁇ 512).
  • the roughness of the wavelength band of 30 to 200 nm is low, it is considered that the layered foreign matter is likely to be adsorbed because it is the same size as the layered foreign matter size.
  • the glass substrate for a magnetic disk produced by the present invention is suitable for a glass substrate used for a magnetic disk mounted on an HDD having a DFH type magnetic head.
  • the magnetic disk glass substrate manufactured according to the present invention is mounted on a server HDD that requires high performance such as high-speed data transfer and high-speed access in addition to high reliability for long-time continuous operation. It is suitable for a glass substrate used for a magnetic disk.
  • the magnetic disk is manufactured by forming at least a magnetic layer on the magnetic disk glass substrate according to the present invention.
  • a material for the magnetic layer a hexagonal CoCrPt-based or CoPt-based ferromagnetic alloy having a large anisotropic magnetic field can be used.
  • a method of forming the magnetic layer it is preferable to use a method of forming a magnetic layer on a glass substrate by a sputtering method, for example, a DC magnetron sputtering method.
  • the orientation direction of the magnetic grains of the magnetic layer and the size of the magnetic grains can be controlled.
  • a cubic base layer such as a Cr-based alloy
  • the magnetization easy direction of the magnetic layer can be oriented along the magnetic disk surface.
  • a magnetic disk of the in-plane magnetic recording system is manufactured.
  • a hexagonal underlayer containing Ru or Ti for example, the easy magnetization direction of the magnetic layer can be oriented along the normal of the magnetic disk surface.
  • a perpendicular magnetic recording type magnetic disk is manufactured.
  • the underlayer can be formed by sputtering as with the magnetic layer.
  • a protective layer and a lubricating layer may be formed in this order on the magnetic layer.
  • the protective layer an amorphous hydrogenated carbon-based protective layer is suitable.
  • the protective layer can be formed by a plasma CVD method.
  • a lubricant having a functional group at the end of the main chain of the perfluoropolyether compound can be used.
  • the main component is a perfluoropolyether compound having a terminal hydroxyl group as a polar functional group.
  • the lubricating layer can be applied and formed by a dip method.
  • the glass substrate obtained by the present invention By using the glass substrate obtained by the present invention, even when recording / reproduction is performed by a DFH head equipped with an HDI sensor, a problem such as a head crash does not occur and a highly reliable magnetic disk can be obtained. Therefore, it is suitable for manufacturing a magnetic disk having a higher recording density than ever before, for example, exceeding 500 gigabytes.
  • Example 1 The following (1) rough lapping step (rough grinding step), (2) shape processing step, (3) fine lapping step (fine grinding step), (4) end surface polishing step, (5) main surface polishing step (first) A glass substrate for a magnetic disk of this example was manufactured through (polishing step), (6) chemical strengthening step, and (7) main surface polishing step (second polishing step).
  • a glass substrate made of disc-shaped aluminosilicate glass having a diameter of 66 mm ⁇ and a thickness of 1.0 mm was obtained from molten glass by direct pressing using an upper mold, a lower mold, and a trunk mold.
  • a glass substrate may be obtained by cutting into a predetermined size from a plate glass manufactured by a downdraw method or a float method.
  • a lapping process was performed on the glass substrate in order to improve dimensional accuracy and shape accuracy.
  • This lapping process was performed using a double-sided lapping apparatus.
  • Shape processing step Next, a cylindrical grindstone is used to make a hole in the center portion of the glass substrate, and the outer peripheral end face is ground to a diameter of 65 mm ⁇ . Chamfered.
  • Fine wrapping process This fine wrapping process uses a double-sided wrapping apparatus.
  • a hard polisher (hard foamed urethane) was used as the polisher, and the first polishing step was performed.
  • cerium oxide was dispersed as an abrasive.
  • the glass substrate after the first polishing step was washed and dried.
  • Chemical strengthening step chemical strengthening was performed on the glass substrate after the cleaning.
  • a chemical strengthening solution in which potassium nitrate and sodium nitrate were mixed was prepared, the chemical strengthening solution was heated to 380 ° C., and the cleaned and dried glass substrate was immersed for about 4 hours to perform chemical strengthening treatment.
  • the load was 100 g / cm 2 and the polishing allowance was 5 ⁇ m.
  • the glass substrate after the second polishing step was washed and dried.
  • the glass substrate was subjected to a cleaning process under the condition that the difference in surface roughness Rq between the glass substrate before and after the cleaning was 0.05 nm or less.
  • the colloidal silica was produced according to the method for producing a high-purity silica sol that does not contain impurities described in the first embodiment. Further, as a result of analyzing the solid obtained by evaporating and drying the polishing liquid using ICP-AES, Al was not detected. In addition, when the polishing slurry was filtered to confirm foreign matter in the slurry, no layered foreign matter was confirmed. That is, the polishing liquid does not contain foreign matter containing Al, Si, and O, which is a problem in the present invention.
  • the arithmetic average roughness Ra of the wavelength band of 30 to 200 nm was 0.06 nm or less.
  • the surface of the glass substrate was measured visually and with an optical surface analyzer, and the defects found were analyzed with SEM and AFM. As a result, the surface was mirror-like and had a problem with the present invention, for example, as shown in FIG. No foreign bodies were found.
  • the obtained glass substrate had an outer diameter of 65 mm, an inner diameter of 20 mm, and a plate thickness of 0.635 mm. Thus, a glass substrate for magnetic disk of this example was obtained.
  • Example 2 A glass substrate for a magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 1 except that a colloidal silica having an Al content of 3 ⁇ g / g was used. In addition, Al content is content of Al contained in the solid substance obtained by evaporating and drying colloidal silica slurry.
  • Example 3 A glass substrate for a magnetic disk was obtained in the same manner as in Example 1 except that a colloidal silica having an Al content of 5 ⁇ g / g was used.
  • Example 1 In the second polishing step of Example 1, the second polishing is performed in the same manner as in Example 1 except that a polishing liquid prepared using colloidal silica manufactured by an ion exchange method according to a conventionally known manufacturing method is used. The process was performed. And it was set as the same as Example 1 except a 2nd grinding
  • the colloidal silica produced according to the above-mentioned conventionally known production method had an Al content of 50 ⁇ g / g.
  • Comparative Example 2 In the second polishing step of Example 1, the same as Comparative Example 1 except that a polishing liquid prepared using colloidal silica manufactured by an ion exchange method according to a conventionally known manufacturing method having an average particle size of 80 nm was used.
  • the second polishing step was performed. And it was set as the same as Example 1 except a 2nd grinding
  • the surface of the glass substrate obtained through the above steps was analyzed with an optical surface analyzer in the same manner as described above, a large number of layered foreign matters that were problematic in the present invention were found. And as a result of analyzing the discovered layered foreign material, it was confirmed that the foreign material contains Al, Si, and O. On the other hand, the layered foreign matter could not be confirmed on the surfaces of the glass substrates according to Examples 1 to 3.
  • the glass substrates obtained in Examples 1 to 3, Comparative Example 1, and Reference Examples 1 and 2 are all measured on the main surface of the substrate using an atomic force microscope in a measurement area of 1 ⁇ m ⁇ 1 ⁇ m square.
  • the arithmetic average roughness Ra was 0.15 nm or less
  • the arithmetic average roughness Ra in the wavelength range of 30 to 200 nm was 0.06 nm or less.
  • the colloidal silica used had a large particle size, and the arithmetic average roughness Ra in the wavelength band of 30 to 200 nm was 0.08 nm.
  • the magnetic film glass substrates obtained in Examples 1 to 3, Comparative Examples 1 and 2, and Reference Examples 1 and 2 were subjected to the following film forming steps to obtain magnetic disks for perpendicular magnetic recording. . That is, an adhesion layer made of a Ti-based alloy thin film, a soft magnetic layer made of a CoTaZr alloy thin film, an underlayer made of a Ru thin film, a perpendicular magnetic recording layer made of a CoCrPt alloy, a carbon protective layer, and a lubricating layer are sequentially formed on the glass substrate. A film was formed.
  • the protective layer is for preventing the magnetic recording layer from deteriorating due to contact with the magnetic head, and is made of hydrogenated carbon, and provides wear resistance.
  • the lubricating layer was formed by dipping a liquid lubricant of alcohol-modified perfluoropolyether.
  • the recording / reproducing element deteriorated midway. Also in the magnetic disk using the glass substrates of Reference Examples 1 and 2 obtained by performing polishing using colloidal silica having an Al content of more than 5 ⁇ g / g in the middle of the recording / reproducing element Degradation occurred.
  • the deterioration of the recording / reproducing element specifically means wear of the element portion.
  • the protrusion amount due to DFH becomes smaller than before the wear, and therefore the recording / reproducing performance such as SNR deteriorates.
  • corrosion progresses from the worn portion, and recording / reproduction may not be possible. For this reason, recording and reproduction of magnetic signals cannot be performed stably for a long time.
  • the deterioration of the recording / reproducing element is determined by measuring the value of DFH touchdown power before and after the test, and comparing it with both values when the value after the test is larger. did. It can be seen that the larger the value of the touchdown power, the larger the protruding amount of the element portion, so that the element portion was worn during the long-term reliability test.

Landscapes

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Abstract

　本発明はＨＤＩセンサを用いた場合であってもヘッドクラッシュを引き起こし得る異物欠陥を低減できる磁気ディスク用ガラス基板の製造方法を提供する。　本発明は、ガラス基板の表面にコロイダルシリカを含む研磨液と研磨パッドを接触させてガラス基板表面を鏡面研磨する研磨処理を含む。研磨液として、ガラス基板が磁気ディスクとなされて磁気ヘッドで記録再生される際に、記録再生を阻害し得るＡｌ、Ｓｉ及びＯの各元素を含有する異物を含有しない研磨液を選択し、この研磨液を利用して研磨処理を行う。

Description

磁気ディスク用ガラス基板の製造方法、磁気ディスク用ガラス基板、及び磁気ディスクの製造方法
　本発明は、ハードディスクドライブ（以下、「ＨＤＤ」と略称する。）等の磁気記録装置に搭載される磁気ディスクに用いられる磁気ディスク用ガラス基板およびその製造方法に関する。
ＨＤＤ等の磁気記録装置に搭載される情報記録媒体の一つとして磁気ディスクがある。磁気ディスクは、基板上に磁性層等の薄膜を形成して構成されたものであり、その基板として従来はアルミ基板が用いられてきた。しかし、最近では、高記録密度化の追求に呼応して、アルミ基板と比べて磁気ヘッドと磁気ディスクとの間隔をより狭くすることが可能なガラス基板の占める比率が次第に高くなってきている。また、ガラス基板表面は磁気ヘッドの浮上高さを極力下げることができるように、高精度に研磨して高記録密度化を実現している。近年、ＨＤＤの更なる大記録容量化、低価格化の要求は増すばかりであり、これを実現するためには、磁気ディスク用ガラス基板においても更なる高品質化、低コスト化が必要になってきている。
上述したように高記録密度化にとって必要な低フライングハイト（浮上量）化のために磁気ディスク表面の高い平滑性は必要不可欠である。磁気ディスク表面の高い平滑性を得るためには、結局、高い平滑性の基板表面が求められるため、高精度にガラス基板表面を研磨する必要がある。
従来のガラス基板の研磨方法は、酸化セリウムやコロイダルシリカ等の金属酸化物の研磨材を含有するスラリー（研磨液）を供給しながら、ポリウレタン等のポリシャの研磨パッドを用いて行っている。高い平滑性を有するガラス基板は、たとえば酸化セリウム系研磨材を用いて研磨した後、さらにコロイダルシリカ砥粒を用いた仕上げ研磨（鏡面研磨）によって得ることが可能である。
ここで例えば、特許文献１には、基板の表面欠陥の形状及び個数が管理されて、フライングハイトが非常に小さい磁気ヘッドが搭載されたＨＤＤにおける不具合の発生を抑えることができる磁気ディスク用ガラス基板が記載されている。
国際公開第２０１０／００１８４３号
現在のＨＤＤにおいては、例えば２．５インチ型（直径６５ｍｍ）の磁気ディスクにディスク１枚あたり３２０ギガバイト程度の情報を収納することが可能になっているが、更なる高記録密度化、例えば７５０ギガバイト、更には１テラバイトの実現が要求されるようになってきている。このような近年のＨＤＤの大容量化の要求に伴い、基板表面品質の向上の要求は今まで以上に厳しいものとなってきている。上記のような例えば７５０ギガバイトの磁気ディスク向けの次世代基板においては、ＨＤＤの信頼性に与える基板の影響が大きくなるので、基板表面の粗さだけでなく、異物欠陥等の表面欠陥が存在しないことについても現行品からの更なる改善が求められる。
次世代基板においてはＨＤＤの信頼性に与える基板の影響が大きくなるのは以下のような理由による。
磁気ヘッドの浮上量（磁気ヘッドと媒体（磁気ディスク）表面との間隙）の大幅な低下（低浮上量化）が挙げられる。こうすることで、磁気ヘッドと媒体の磁性層との距離が近づくため、より小さい領域に信号を書き込むことや、より小さい磁性粒子の信号を拾うことができるようになり、高記録密度化を達成することができる。近年、ＤＦＨ（Dynamic Flying Height）制御という機能が磁気ヘッドに搭載されている。これは、スライダーの浮上量を下げるのではなく、磁気ヘッドの記録再生素子部近傍に内蔵したヒーター等の加熱部の熱膨張を利用して、記録再生素子部のみを媒体表面方向に向けて突き出す（近づける）機能である。今後、このＤＦＨ機能によって、磁気ヘッドの素子部と媒体表面との間隙は、２ｎｍ未満と極めて小さくなると見られている。このような状況下で、基板表面の平均粗さを極めて小さくしたところで、従来問題とならなかった異物欠陥等の表面欠陥が存在すると、突き出した磁気ヘッドの記録再生素子部が異物欠陥と衝突し、このような磁気ヘッドと異物欠陥との衝突が度重なると磁気ヘッドの駆動に影響を及ぼすようになり、素子の劣化による読み取り不良という重大な故障を引き起こすことになる可能性がある。
ところで、上記特許文献１には、ＤＦＨ機能を備えた磁気ヘッド（以下、単に「ＤＦＨヘッド」と呼ぶ。）のようにフライングハイトが非常に小さい磁気ヘッドで影響を及ぼすと思われる欠陥として、凸領域がブロードである凸状異物欠陥が挙げられている。このような凸領域がブロードである欠陥は、例えば凸領域がシャープである欠陥と比べると、磁気ヘッドと接触する面積が相対的に大きく、磁気ヘッドに対して大きな衝突エネルギーが加わるために、結果として磁気ヘッドがクラッシュしてしまう虞がある。
近年、上記特許文献１に記載されたような凸領域がブロードである欠陥が存在することによるＤＦＨヘッドのクラッシュを防止し得る技術として、ＨＤＩ(Head Disk Interface)センサを搭載したＤＦＨヘッドを用いる技術が提案されている。
このＨＤＩセンサとは、謂わば接触検知センサであり、磁気ディスク表面の凸状欠陥（突起物）を検出する。ＨＤＩセンサは、例えばＭＲ(magnetoresistive)素子からなり、サーマルアスペリティ(Thermal Asperity)現象を利用して検出を行うものである。
このＨＤＩセンサを搭載したＤＦＨヘッドを用いて、このＨＤＩセンサによる磁気ディスク表面の状態を検出し、この検出結果に基づいて、磁気ディスク表面上を走査しているＤＦＨヘッドの書込み素子および読込み素子の少なくとも一方の素子の突出し量を制御することで、磁気ディスク表面に存在する凸状欠陥と書込み・読込み素子との接触を回避することができると考えられる。要するに、ＨＤＩセンサを用いることにより、磁気ディスク表面の状態を検出できるため、上記特許文献１に記載されたような凸領域がブロードである欠陥が存在していても、ＤＦＨヘッドがこの欠陥を通過する前に、書込み・読込み素子の突出し量を制御して、これら素子と欠陥とが接触することを回避することができると考えられる。
ところが、本発明者の検討によると、例えば７５０ギガバイトを超えるような今まで以上に高記録密度の磁気ディスクを製造しようとした場合、上述のＨＤＩセンサを用いた場合であっても、予想外にヘッドクラッシュを引き起こし得る場合があることが判明した。
本発明者はこの原因についても調査したところ、今までには検出されたことのない、ある特定の欠陥が存在することにより、例えばヘッドの読取りエラーの発生頻度が増大したり、ひいては上記ヘッドクラッシュの問題が引き起こされている可能性が高いことを突き止めた。
そこで、本発明はこのような従来の課題を解決すべくなされたものであって、その目的は、上述のＨＤＩセンサを用いたＤＦＨヘッド対応の磁気ディスクとした場合であっても、予想外にヘッドクラッシュを引き起こし得る異物欠陥を低減させることができる磁気ディスク用ガラス基板の製造方法、磁気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスクの製造方法を提供することである。
本発明者は、上述のヘッドクラッシュを引き起こし得る異物欠陥の発生原因をさらに調査したところ、磁気ディスクの基板であるガラス基板の表面に異物が存在することが判明した。そして、この異物は、例えば上記特許文献１に開示されている製造方法に従って製造しても存在する場合があることが判明した。つまり、上記特許文献１で問題としているような従来の凸領域がブロードである欠陥とは発生原因の異なる異物欠陥であると考えられる。
そこで、本発明者は、この異物欠陥の発生原因についてさらに検討したところ、ガラス基板の研磨処理に用いる研磨液に上記欠陥の原因となる異物が含まれていることが判明した。従って、ガラス基板表面を研磨した後であっても、研磨液はガラス基板と接触しているため、研磨液に含まれている異物がガラス基板表面に付着し、その後の洗浄等によっても除去されずに、ガラス基板表面に存在する可能性があることを見出した。
そこで、本発明者は、上記知見に基づき、研磨液に上記欠陥の原因となる異物を含有しないように調整する、あるいは、研磨液としてこのような異物が含有されていないものを選択することにより、上記課題を解決できることを見出し、本発明を完成させるに至った。
すなわち、本発明は上記目的を達成するために、以下の構成を有する。
（構成１）
HDIセンサが搭載され、記録再生素子の少なくとも一方の素子の突出し量を前記HDIセンサからの信号に基づいて制御可能なDFHヘッド対応の磁気ディスクに適用される磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、ガラス基板の主表面と研磨パッドとの間に、コロイダルシリカを含む研磨液を供給し、ガラス基板と研磨パッドとを接触させてガラス基板の主表面を鏡面研磨する研磨処理を含む磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、前記研磨液は、少なくとも酸性環境下において、アルミニウム（Ａｌ）、ケイ素（Ｓｉ）及び酸素（Ｏ）の各元素を含有する異物の発生を防止すべく調整されていることを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
（構成２）
HDIセンサが搭載され、記録再生素子の少なくとも一方の素子の突出し量を前記HDIセンサからの信号に基づいて制御可能なDFHヘッド対応の磁気ディスクに適用される磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、ガラス基板の主表面と研磨パッドとの間に、コロイダルシリカを含む研磨液を供給し、ガラス基板と研磨パッドとを接触させてガラス基板の主表面を鏡面研磨する研磨処理を含む磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、前記研磨液として、前記ガラス基板が磁気ディスクとなされて磁気ヘッドで記録再生される際に、記録再生を阻害し得るアルミニウム（Ａｌ）、ケイ素（Ｓｉ）及び酸素（Ｏ）の各元素を含有する異物を含有しない研磨液を選択し、該選択された研磨液を利用して前記研磨処理を行うことを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
（構成３）
　前記異物は、層状化合物であることを特徴とする構成１又は２に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
（構成４）
　前記コロイダルシリカは、イオン交換法により製造されたものであることを特徴とする構成１乃至３のいずれかに記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
（構成５）
前記コロイダルシリカ中のアルミニウム（Ａｌ）の含有量が５μｇ／ｇ以下であることを特徴とする構成１乃至４のいずれかに記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
（構成６）
　前記研磨処理の後に、洗浄前後のガラス基板の表面粗さＲｑの差が０．０５ｎｍ以下となる条件でガラス基板の洗浄処理を行うことを特徴とする構成１乃至５のいずれかに記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
（構成７）
前記磁気ディスク用ガラス基板は、サーバ用のハードディスクドライブに搭載される磁気ディスクに用いられるガラス基板であることを特徴とする構成１乃至６のいずれかに記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
（構成８）
HDIセンサが搭載され、記録再生素子の少なくとも一方の素子の突出し量を前記HDIセンサからの信号に基づいて制御可能なDFHヘッド対応の磁気ディスクに適用される磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、ガラス基板の主表面と研磨パッドとの間に、コロイダルシリカを含む研磨液を供給し、ガラス基板と研磨パッドとを接触させてガラス基板の主表面を鏡面研磨する研磨処理を含む磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、前記研磨液は、前記ガラス基板が磁気ディスクとなされて前記DFHヘッドで記録再生される際に、前記記録再生を阻害し得る異物の発生を防止すべく調整されていることを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板の製造方法．
（構成９）
　構成１乃至８のいずれかに記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法によって得られた磁気ディスク用ガラス基板の主表面上に少なくとも磁性膜を成膜することを特徴とする磁気ディスクの製造方法。
（構成１０）
主表面を有する磁気ディスク用ガラス基板であって、前記基板の主表面を、原子間力顕微鏡を用いて１μｍ×１μｍ角の測定領域を２５６×２５６ピクセルの解像度で測定したときの算術平均粗さＲａが０．１５ｎｍ以下であり、かつ、３０～２００ｎｍの波長帯域の算術平均粗さＲａが０．０６ｎｍ以下であり、前記基板の主表面に対して、波長４０５ｎｍ、パワー８０ｍＷのレーザ光を６μｍのスポット径で照射して前記基板の主表面からの散乱光により異物を検出した際に、面内方向の大きさが３０～２００ｎｍの欠陥が一つの主表面当たり３０個以下であり、かつ、検出された欠陥の中には層状化合物が含まれない、ことを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板。
本発明の上記構成とすることで、ＨＤＩセンサを用いた場合であっても、ヘッドクラッシュを引き起こし得る異物欠陥を低減させることができる高品質の磁気ディスク用ガラス基板を製造することが可能である。
また、本発明の上記構成とすることで、例えば７５０ギガバイトを超えるような今まで以上に高記録密度の磁気ディスクを製造するのに好適な高品質の磁気ディスク用ガラス基板を製造することが可能である。
本発明に関わる異物の形状の一例を示す平面図（ａ）とその異物の断面形状を示す図（ｂ）である。 両面研磨装置の概略構成を示す縦断面図である。
　以下、本発明の実施の形態を詳述する。
磁気ディスク用ガラス基板は、通常、粗研削工程（粗ラッピング工程）、形状加工工程、精研削工程（精ラッピング工程）、端面研磨工程、主表面研磨工程（第１研磨工程、第２研磨工程）、化学強化工程、等を経て製造される。
この磁気ディスク用ガラス基板の製造は、まず、溶融ガラスからダイレクトプレスにより円盤状のガラス基板（ガラスディスク）を成型する。なお、このようなダイレクトプレス以外に、ダウンドロー法やフロート法で製造された板ガラスから所定の大きさに切り出してガラス基板を得てもよい。次に、この成型したガラス基板の主表面に対して寸法精度及び形状精度を向上させるための研削（ラッピング）を行う。この研削工程は、通常両面ラッピング装置を用い、ダイヤモンド等の硬質砥粒を用いてガラス基板主表面の研削を行う。こうしてガラス基板主表面を研削することにより、所定の板厚、平坦度に加工するとともに、所定の表面粗さを得る。
この研削工程の終了後は、形状加工工程、端面研磨工程を経た後、高精度な平面を得るための鏡面研磨加工を行う。ガラス基板の鏡面研磨方法としては、酸化セリウムやコロイダルシリカ等の金属酸化物の研磨材を含有するスラリー（研磨液）を供給しながら、ポリウレタン等の研磨パッドを用いて行うのが好適である。
　ここで、本発明における第１の実施の形態について説明する。
本発明の第１の実施の形態は、上記構成１にあるように、ガラス基板の表面に、コロイダルシリカを含む研磨液と、研磨パッドとを接触させてガラス基板表面を鏡面研磨する研磨処理を含む磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、前記研磨液は、少なくとも酸性環境下において、アルミニウム（Ａｌ）、ケイ素（Ｓｉ）及び酸素（Ｏ）の各元素を含有する異物の発生を防止すべく調整されている構成としたものである。
前にも述べたように、本発明者の検討によると、例えば７５０ギガバイトを超えるような今まで以上に高記録密度の磁気ディスクを製造しようとした場合、ＨＤＩセンサを用いてヘッドの記録再生素子と磁気ディスクとのクリアランスを高精度に制御しても、予想外にヘッドクラッシュを引き起こし得る場合があることが判明した。
本発明者は、今までには検出されたことのない、ある特定の形状等の欠陥が存在することにより、上記ヘッドクラッシュの問題が引き起こされている可能性が高いことを突き止め、上記ヘッドクラッシュを引き起こし得る異物欠陥の発生原因をさらに調査したところ、磁気ディスクの基板であるガラス基板の表面に異物が存在することが判明した。そして、この異物は、前記特許文献１に開示されている製造方法に従って製造しても存在する場合があることが判明し、前記特許文献１で問題としているような従来の凸領域がブロードである欠陥とは発生原因の異なる異物欠陥であると考えられる。
図１は、本発明で問題としている異物の形状の一例を示すもので、（ａ）は平面図、（ｂ）はその異物の断面形状を示す図である。
本発明において、上記ヘッドクラッシュの問題を引き起こし得るとして問題にしているガラス基板表面に存在する異物は、アルミニウム（Ａｌ）、ケイ素（Ｓｉ）及び酸素（Ｏ）の各元素を含有している。
また、前記異物は、例えば、図１に示すように、厚みが小さくより平坦である。異物の平面（Ｘ－Ｙ平面）におけるＸ、Ｙのサイズ（図１（ａ）参照）は、それぞれ３０～２００ｎｍ程度の範囲内である。また、異物の厚みＨのサイズ（図１（ｂ）参照）は、１～２０ｎｍ程度の範囲内である。異物の厚みＨのサイズに対する平面における例えばＹのサイズの比（Ｙ／Ｈ）は、５～２００程度の範囲内である。
また、上記異物の形状（平面視）は、図１（ａ）に一例として示したような不定形状に限らず、正方形状、長方形状、六角形状等の多角形状など、様々である。
また、上記異物の断面を断面TEMにより観察すると、厚み方向に多数の薄層が重なった層構造が観察され、端部は比較的急峻に立ち上がっている。
本発明者は、このような異物の構造、組成についても分析した結果、層状結晶性異物であり、具体的には、層状粘土鉱物（層状ケイ酸塩）異物（例えばモンモリロナイト、サポナイト、カオリナイトなど）等である。
このような特定の形状等の異物が表面に存在するガラス基板を用いて作製した磁気ディスクにおいて、ＤＦＨヘッドで記録再生される際に、ＨＤＩセンサを用いてヘッドの記録再生素子と磁気ディスクとのクリアランスを高精度に制御しても、素子の劣化を引き起こし得る場合がある理由としては、この形状のため、ＨＤIセンサの追従が遅れるためセンサ先端が欠陥に衝突するためと推測される。
このような異物欠陥は従来のＤＦＨヘッドでは問題とならなかった、あるいは検出できなかったが、ＨＤＩセンサ付きＤＦＨヘッドとなったことでディスク表面との間隙が１ｎｍ以下となり初めて課題（突き出し素子部の磨耗）として認識されたものである。
ＨＤＩセンサは、DFH素子部とディスク表面との間の距離の変化に起因する温度変化を捉えることができ、ここで得られた信号を、DFH突き出し量を制御する電流値にフィードバックすることで、ほぼリアルタイムな突き出し量制御を可能としており、それゆえヘッドとディスク表面の間隙を１ｎｍ以下にまで減らすことができる。しかし、本発明で問題としている異物は上記のような特定の形状であるため、ＨＤＩセンサの信号の立ち上がりが急峻であるため、DFH素子部へのフィードバックが間に合わず、DFH素子部が異物に接触して磨耗してしまうと推察される。
本発明者は、このようなガラス基板表面上の異物欠陥の発生原因についてさらに検討したところ、ガラス基板の研磨処理に用いる研磨液に上記欠陥の原因となる異物が含まれていることが判明した。つまり、ガラス基板表面を研磨した後であっても、研磨液はガラス基板と接触しているため、研磨液に含まれている異物がガラス基板表面に付着し、その後の洗浄等によっても除去されずに、ガラス基板表面に存在する可能性があると考えられる。
層状化合物からなる異物は極めて平坦であるため、ガラス基板表面が低粗さであればあるほど、付着した場合に強い力で「密着」してしまう。また、層状化合物からなる異物は極めて小さいため、フィルタリングで完全に取り除くことは極めて困難である。
そのため、研磨中や研磨後に付着しないように予防することが非常に重要である。
そこで、本発明者は、上記知見に基づき、研磨液に上記欠陥の原因となる異物を含有しないように調整することにより、前記課題を解決できることを見出した。すなわち、本発明の第１の実施の形態においては、上記構成１のように、研磨処理に用いる研磨液は、少なくとも酸性環境下において、アルミニウム（Ａｌ）、ケイ素（Ｓｉ）及び酸素（Ｏ）の各元素を含有する異物の発生を防止すべく調整されている構成とした。
　本実施の形態においては、上述の欠陥の原因となるアルミニウム（Ａｌ）、ケイ素（Ｓｉ）及び酸素（Ｏ）の各元素を含有する異物の発生を防止すべく、研磨処理に用いる研磨液に上記異物を含有しないように調整する方法としては、例えば、研磨液に含まれる研磨砥粒であるシリカ砥粒を溶解して、当該溶解したシリカ砥粒中に含有しているアルミニウムの含有量が５μｇ／ｇ以下、より好ましくは３μｇ／ｇ以下であるシリカ砥粒を研磨砥粒として用いればよい。また、他の方法としては、研磨液であるスラリーを蒸発乾燥して得られる固形物に含まれるアルミニウムの量が５μｇ／ｇ以下である研磨液を用いることが挙げられる。このようなシリカ砥粒、または、研磨液を用いてガラス基板の主表面を鏡面研磨することにより、研磨後のガラス基板の表面に付着している上記異物の数を低減させることができる。
　また、例えば、以下の製法によって得られるＡｌ等の不純物を含まない、または、非常に少ない高純度シリカゾルを用いて研磨砥粒を作製し、本発明の研磨液を調整することが好適である。
　すなわち、Ａｌ等の不純物の含有量が例えば５μｇ／ｇ以下である原料シリカ（シリカゲル）を水酸化第４アンモニウム水溶液に溶解する第１の工程と、該水酸化第４アンモニウムをイオン交換法により除去して活性ケイ酸液を調製する第２の工程と、該活性ケイ酸液をアルカリ触媒の存在下で加熱してシリカを所定の粒子径に成長させる第３の工程とによって、Ａｌ等の不純物を含まない高純度シリカゾルを製造することができる。
　上記第１の工程で使用する原料シリカは、ケイ酸ナトリウムと鉱酸との反応によって得られる。ケイ酸ナトリウムとしては、市販のケイ酸ナトリウム溶液（水ガラス）を使用することができる。また、鉱酸としては、塩酸、硝酸、硫酸等を使用することができる。また、ケイ酸ナトリウムと鉱酸との反応時に、シュウ酸、マロン酸、コハク酸等のジカルボン酸、ポリカルボン酸、クエン酸等のオキシカルボン酸、等のキレート剤や、さらに過酸化水素を共存させることで不純物を所定量以下に除去することができる。なお、不純物のＡｌ等の含有量は、誘導結合プラズマ発光分光分析法（ＩＣＰ－ＡＥＳ）を用いて測定することが可能である。
　ところで、市販のケイ酸ナトリウム溶液（水ガラス）から原料シリカを得る場合、上記の鉱酸処理を複数回行ったとしてもAl元素の含有量を５ｐｐｍ（μｇ／ｇ）以下とすることは困難であることが判明した。これは、鉱酸処理による縮合反応の際にAl元素が原料シリカの粒子の内部に取り込まれてしまうためである。内部に取り込まれたAl元素は、その後繰り返し鉱酸で処理しても除去することができない。そこで、さらに以下の粉砕処理を行った後に、Al元素の除去処理を行う。
　１度目の鉱酸処理により得られた原料シリカ（以後、粗製シリカと呼ぶ）は通常５０ｎｍ以上の大きさである。これを粉砕する場合、乾式粉砕を行ってもよいし、湿式粉砕を行ってもよい。粗製シリカは、例えば、ボールミル、ビーズミル、ジェットミル、超音波等により粉砕することができる。
　次に、粉砕した粗製シリカを強酸水溶液で洗浄し、Ａｌ等の金属不純物を除去する。強酸として、塩酸、硝酸、硫酸等の鉱酸を用いることができる。強酸のｐＨは１以上であることが好ましく、２～４であることがより好ましい。
　また、金属元素を含まない酸化剤を強酸水溶液に添加してもよい。酸化剤により金属不純物の陽イオン化が促進されるため、効率よく金属不純物を除去することができる。このような酸化剤として、例えば、過酸化水素等を用いることができる。
　さらに、強酸や酸化剤により陽イオン化した金属イオンがキレート錯体を形成するキレート剤を強酸水溶液に添加してもよい。キレート剤により、金属イオンのシリカへの再付着を防ぎ、より確実に除去することができる。このようなキレート剤として、例えば、Ｎ’－（２－ヒドロキシエチル）エチレンジアミン－Ｎ，Ｎ，Ｎ’－三酢酸（ＨＥＤＴＡ）、１－ヒドロキシエタン－１，１－ジホスホン酸（ＨＥＤＰ）、ニトリロ三酢酸（ＮＴＡ）、Ｎ，Ｎ－ジ（２－ヒドロキシエチル）グリシン（ＤＨＥＧ）、エチレンジアミン四酢酸（ＥＤＴＡ）、Ｎ－（２－ヒドロキシエチル）イミノ二酢酸（ＨＩＤＡ）、ジエチレントリアミン五酢酸（ＤＴＰＡ）、シュウ酸、リンゴ酸、酒石酸、フマル酸、コハク酸、クエン酸、グルコン酸、等を用いることができる。
　その後、ろ過、水洗により強酸水溶液を除去することで、Ａｌ元素の含有量が５ｐｐｍ以下の精製シリカが得られる。
　なお、得られた精製シリカ中の金属不純物の含有量が５ｐｐｍより大きい場合は、上記の粉砕処理及び金属元素の除去処理を、Ａｌ元素の含有量が５ｐｐｍ以下となるまで繰り返し行えばよい。また、粗製シリカを含む強酸水溶液を湿式粉砕することで、上記２つの処理を同時に行ってもよい。
　このように、金属不純物の含有量が５ｐｐｍより多い粗製シリカを粉砕してから、強酸性の水溶液で洗浄することで、粗製シリカの内部に取り込まれたＡｌ元素等の金属不純物を厳密に除去することができ、金属不純物の含有量が５ｐｐｍ以下となるまで精製された精製シリカを得ることができる。そして、この精製シリカを原料シリカとすることで、以後の工程において、アルミニウム（Ａｌ）、ケイ素（Ｓｉ）及び酸素（Ｏ）の各元素を含有する層状結晶性異物の発生を抑制することができる。
　上記第１の工程では、こうして得られたＡｌ等の不純物の含有量が例えば５μｇ／ｇ以下であるシリカゲルを、水酸化テトラメチルアンモニウム、水酸化テトラブチルアンモニウム等の水酸化第４アンモニウム水溶液に溶解する。
　上記第２の工程では、上記水酸化第４アンモニウムをイオン交換法により除去して活性ケイ酸液を調製する。つまり、シリカの溶液からシリカゾルを製造する。水酸化第４アンモニウムの除去には、作業が容易で不純物の侵入の虞がないイオン交換法を用いることが好適である。
　上記第３の工程では、上記第２の工程によって得られた活性ケイ酸液をアルカリ触媒の存在下で加熱して、ケイ酸を重合し粒子成長させることにより、シリカを所定の粒子径に成長させる。ここで、アルカリ触媒としてはアンモニア、アミン等が用いられる。また、加熱温度としては、６０℃～２５０℃程度の範囲内で適宜設定すればよい。成長させたシリカの粒子径は使用目的によって任意であるが、例えば３～３００ｎｍの粒子径を有するシリカゾルが得られる。
　以上の工程によって得られるシリカゾルは、蒸発、濾過によって濃縮することができる。また、イオン交換法によって上記アルカリ触媒を除去することにより、実質的にシリカ以外の成分を含まないシリカゾルを得ることができる。
　こうして得られるＡｌ等の不純物を含まない高純度シリカゾルを用いて本発明の研磨液を調整することにより、上述のガラス基板表面の異物欠陥の原因となるアルミニウム（Ａｌ）、ケイ素（Ｓｉ）及び酸素（Ｏ）の各元素を含有する異物の発生を防止することができる。
　本実施の形態において、コロイダルシリカ砥粒を含む研磨液を組成するには、純水、例えば、ＲＯ水を用いることが好ましい。ここでＲＯ水とは、ＲＯ（逆浸透圧膜）処理された純水のことである。ＲＯ処理及びＤＩ処理（脱イオン処理）されたＲＯ－ＤＩ水を用いると特に好ましい。ＲＯ水或いはＲＯ－ＤＩ水は不純物、例えばアルカリ金属の含有量が極めて少ない上に、イオン含有量も少ないからである。
　また、本実施の形態の鏡面研磨処理に適用される上記研磨液は、酸性域に調整されたものが好適に用いられる。例えば、酸を研磨液に添加して、酸性域（ｐＨ＝１～４の範囲）に調整された研磨液を用いてガラス基板を鏡面研磨すると、研磨レートを高くでき、また、清浄性を向上させることができる。ｐＨは例えば１～４の範囲内であることが好ましい。従って、上記研磨液は、少なくとも酸性環境下において、上述の異物の発生を防止すべく調整されていることが好ましい。なお、本発明においては、研磨液の液性であるｐHとしては、例えばアルカリ性（例えば７＜ｐH≦１０）に調整して研磨してもよい。
研磨液に含有されるコロイダルシリカ研磨砥粒は、平均粒径が１０～５０ｎｍの範囲内ものを使用するのが研磨効率の点からは好ましい。特に、仕上げ鏡面研磨工程（後段の第２研磨工程）に用いる研磨液に含有される研磨砥粒は、表面粗さのいっそうの低減を図る観点から、平均粒径が１０ｎｍ以上３０ｎｍ未満のものを使用するのが好ましい。さらに好ましくは１０～２０ｎｍの範囲のものである。
なお、本発明において、上記平均粒径とは、光散乱法により測定された粒度分布における粉体の集団の全体積を１００％として累積カーブを求めたとき、その累積カーブが５０％となる点の粒径（以下、「累積平均粒子径（５０％径）」と呼ぶ。）を言う。本発明において、累積平均粒子径（５０％径）は、具体的には、粒子径・粒度分布測定装置を用いて測定して得られる値である。
また、本発明において、上記コロイダルシリカは、イオン交換法によって製造されたものを用いることが特に好ましい。イオン交換法によって製造されたコロイダルシリカは他の方法（例えばゾルゲル法）で製造されたものと比べて密度が高い故に硬度が高く、研磨速度が優れているため特に好ましい。また、イオン交換法によって製造されたコロイダルシリカは、研磨における摩耗量も少なく、長期間使用しても研磨速度の劣化が少ないため好ましい。また、イオン交換法によって製造されたコロイダルシリカは、分散性が高いので、研磨面に微小なスクラッチが生じにくい。逆にゾルゲル法で製造したコロイダルシリカは比較的凝集しやすいため、微小なスクラッチが発生しやすい。したがって、２．５インチサイズのディスク１枚あたり７５０GB程度以上の超高記録密度向けの磁気ディスク用ガラス基板を高品質・高効率で製造するためには、イオン交換法で製造されたコロイダルシリカを用いることが好ましい。
なお、上記のコロイダルシリカを用いることにより、算術平均粗さＲａが０．１５ｎｍ以下であり、かつ、３０～２００ｎｍの波長帯域の算術平均粗さＲａが０．０６ｎｍ以下である磁気ディスク用ガラス基板を効率よく製造することができる。
また、研磨液中の砥粒濃度は、特に制約されないが、研磨後の表面品質及び研磨レートの観点からは、１０～３０重量％の範囲とすることができる。特に、１０～２０重量％の範囲が好適である。
また、本発明の第２の実施の形態について説明する。第２の実施の形態は、研磨液として上述のような異物が含有されていないものを選択することである。
すなわち、本発明の第２の実施の形態は、上記構成２にあるように、ガラス基板の表面に、コロイダルシリカを含む研磨液と、研磨パッドとを接触させてガラス基板表面を鏡面研磨する研磨処理を含む磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、前記研磨液として、前記ガラス基板が磁気ディスクとなされて磁気ヘッドで記録再生される際に、記録再生を阻害し得るアルミニウム（Ａｌ）、ケイ素（Ｓｉ）及び酸素（Ｏ）の各元素を含有する異物を含有しない研磨液を選択し、該選択された研磨液を利用して前記研磨処理を行う構成としたものである。
例えば、上述の第１の実施の形態で説明したようなＡｌ等の不純物を含まない高純度シリカゾルを用いて調整された研磨液を選択することができる。勿論、上述の第１の実施の形態で説明したような製法に限らず、他の方法で製造され、結果的にＡｌ等の不純物を含まないシリカゾルを用いて調製された研磨液を選択してもよい、
以上の第２の実施の形態を適用し、研磨液として、ガラス基板が磁気ディスクとなされて磁気ヘッドで記録再生される際に、記録再生を阻害し得るアルミニウム（Ａｌ）、ケイ素（Ｓｉ）及び酸素（Ｏ）の各元素を含有する異物を含有しない研磨液を選択し、該選択された研磨液を利用して鏡面研磨処理を行うことにより、ガラス基板表面の上記異物による欠陥の発生を防止することができる。そして、以上の第２の実施の形態を適用して得られたガラス基板を利用して製造される磁気ディスクにおいては、ＨＤＩセンサを備えたＤＦＨヘッドで記録再生される際に、ヘッドクラッシュ等の問題を低減させることができる。
上述の実施の形態の研磨処理における研磨方法は特に限定されるものではないが、例えば、ガラス基板と研磨パッドとを接触させ、研磨砥粒を含む研磨液を供給しながら、研磨パッドとガラス基板とを相対的に移動させて、ガラス基板の表面を鏡面状に研磨すればよい。
　例えば図２は、ガラス基板の鏡面研磨工程に用いることができる遊星歯車方式の両面研磨装置の概略構成を示す縦断面図である。図２に示す両面研磨装置は、太陽歯車２と、その外方に同心円状に配置される内歯歯車３と、太陽歯車２及び内歯歯車３に噛み合い、太陽歯車２や内歯歯車３の回転に応じて公転及び自転するキャリア４と、このキャリア４に保持された被研磨加工物１を挟持可能な研磨パッド７がそれぞれ貼着された上定盤５及び下定盤６と、上定盤５と下定盤６との間に研磨液を供給する研磨液供給部（図示せず）とを備えている。
　このような両面研磨装置によって、研磨加工時には、キャリア４に保持された被研磨加工物１、即ちガラス基板を上定盤５及び下定盤６とで挟持するとともに、上下定盤５，６の研磨パッド７と被研磨加工物１との間に研磨液を供給しながら、太陽歯車２や内歯歯車３の回転に応じてキャリア４が公転及び自転しながら、被研磨加工物１の上下両面が研磨加工される。
　なお、加える荷重（加工面圧力）は、７５～１５０ｇｆ／ｃｍ２の範囲内が好適である。
上記荷重が、７５ｇｆ／ｃｍ２よりも低いと、ガラス基板の加工性（研磨速度）が低下するために好ましくない。また、１５０ｇｆ／ｃｍ２よりも高い場合には、ガラス基板表面にスクラッチ等の傷が発生する場合があるため好ましくない。
特に仕上げ鏡面研磨用の研磨パッドとしては、軟質ポリッシャの研磨パッド（スウェードパッド）であることが好ましい。研磨パッドの硬度はアスカーＣ硬度で、６０以上９０以下とすることが好適である。研磨パッドのガラス基板との当接面は、発泡ポアが開口した発泡樹脂、取り分け発泡ポリウレタンとすることが好ましい。このようにして研磨を行うと、ガラス基板の表面を平滑な鏡面状に研磨することができる。
また、前記磁気ディスク用ガラス基板を製造するためには、複数回の研磨処理を行うことが多い。例えば、前記ラッピング工程で残留した傷や歪みを除去するための第１研磨工程と、この第１研磨工程で得られた平坦な表面を維持しつつ、ガラス基板主表面の表面粗さを平滑な鏡面に仕上げる第２研磨工程（鏡面研磨）の２段階を経て行われることがある（なお、３段階以上の多段階研磨を行うこともある）。この場合、少なくとも後段の第２研磨工程は、上述の第１あるいは第２の実施の形態による研磨液を適用することが好適である。
また、本発明においては、ガラス基板を構成するガラス（の硝種）は、ＳｉＯ2を主成分とし、さらにアルミナを含むアルミノシリケートガラスを用いることが好ましい。このようなガラスを用いたガラス基板は表面を鏡面研磨することにより平滑な鏡面に仕上げることができ、また加工後の強度が良好である。また、化学強化によってさらに強度を上げることもできる。
また、上記ガラスは、結晶化ガラスであってもよく、アモルファスガラスであってもよい。アモルファスガラスとすることで、ガラス基板としたときの主表面の表面粗さをより一層下げることができる。
このようなアルミノシリケートガラスとしては、ＳｉＯ2が５８重量％以上７５重量％以下、Ａｌ2Ｏ3が５重量％以上２３重量％以下、Ｌｉ2Ｏが３重量％以上１０重量％以下、Ｎａ2Ｏが４重量％以上１３重量％以下を主成分として含有するアルミノシリケートガラス（ただし、リン酸化物を含まないアルミノシリケートガラス）を用いることができる。さらに、例えば、アルカリ土類金属の酸化物が５重量％以上であって、ＳｉＯ2 を６２重量％以上７５重量％以下、Ａｌ2Ｏ3 を５重量％以上１５重量％以下、Ｌｉ2Ｏを４重量％以上１０重量％以下、Ｎａ2 Ｏを４重量％以上１２重量％以下、ＺｒＯ2 を５．５重量％以上１５重量％以下、主成分として含有するとともに、Ｎａ2Ｏ／ＺｒＯ2の重量比が０．５以上２．０以下、Ａｌ2 Ｏ3 ／ＺｒＯ2 の重量比が０．４以上２．５以下であるリン酸化物を含まないアモルファスのアルミノシリケートガラスとすることができる。
　また、次世代基板（例えば熱アシスト磁気記録方式に適用される磁気ディスクに用いられる基板）の特性として耐熱性を求められる場合もある。この場合の耐熱性ガラスとしては、例えば、アルカリ土類金属の酸化物が５重量％以上であって、以下はモル％表示にて、ＳｉＯ２を５０～７５％、Ａｌ２Ｏ３を０～６％、ＢａＯを０～２％、Ｌｉ２Ｏを０～３％、ＺｎＯを０～５％、Ｎａ２ＯおよびＫ２Ｏを合計で３～１５％、ＭｇＯ、ＣａＯ、ＳｒＯおよびＢａＯを合計で１４～３５％、ＺｒＯ２、ＴｉＯ２、Ｌａ２Ｏ３、Ｙ２Ｏ３、Ｙｂ２Ｏ３、Ｔａ２Ｏ５、Ｎｂ２Ｏ５およびＨｆＯ２を合計で２～９％、含み、モル比［（ＭｇＯ＋ＣａＯ）／（ＭｇＯ＋ＣａＯ＋ＳｒＯ＋ＢａＯ）］が０．８５～１の範囲であり、且つモル比［Ａｌ２Ｏ３／（ＭｇＯ＋ＣａＯ）］が０～０．３０の範囲であるガラスを好ましく用いることができる。
本発明においては、上記鏡面研磨加工後（上記研磨処理後）のガラス基板の表面は、算術平均表面粗さＲａが０．１５ｎｍ以下、特に０．１０ｎｍ以下である鏡面とされることが好ましい。更に、最大粗さＲｍａｘが１．５ｎｍ以下である鏡面とされることが好ましい。
また、本発明において表面粗さ（例えば、最大粗さＲｍａｘ、算術平均粗さＲａ）は、原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）を用いて１μｍ×１μｍの範囲を２５６×２５６ピクセルの解像度で測定したときに得られる表面形状の表面粗さとすることが実用上好ましい。
また、本実施の形態は、特に、鏡面研磨加工後に、洗浄前後のガラス基板の表面粗さＲｑ（二乗平均平方根粗さ）の差が０．０５ｎｍ以下となる条件でガラス基板を洗浄する場合に適用されることが特に好ましい。
上記のような条件での洗浄は、鏡面研磨加工によって形成されたガラス基板の主表面の粗さを増大させないために特に有効である。しかし、その一方で、洗浄力が弱いために、上記鏡面研磨加工後に付着した異物を除去することが、従来の洗浄（基板表面粗さを悪化させる洗浄）に比べて困難である。このような洗浄を用いた場合であっても、本実施の形態にかかる鏡面研磨加工を行うことにより、上記異物を抑制でき、かつ、ガラス基板の表面粗さを低減させることができる。
つまり、主表面の算術平均表面粗さ（Ｒａ）が０．１５ｎｍ以下の磁気ディスク用ガラス基板を得るためには、本発明にかかる研磨液を用いて鏡面研磨処理を行い、かつ、鏡面研磨処理後の洗浄処理では、浄前後のガラス基板の表面粗さＲｑの差が０．０５ｎｍ以下となる洗浄条件を適用することがより好ましい。
本発明においては、鏡面研磨加工工程の前または後に、化学強化処理を施すことが好ましい。化学強化処理の方法としては、例えば、ガラス転移点の温度を超えない温度領域、例えば摂氏３００度以上４００度以下の温度で、イオン交換を行う低温型イオン交換法などが好ましい。化学強化処理とは、溶融させた化学強化塩とガラス基板とを接触させることにより、化学強化塩中の相対的に大きな原子半径のアルカリ金属元素と、ガラス基板中の相対的に小さな原子半径のアルカリ金属元素とをイオン交換し、ガラス基板の表層に該イオン半径の大きなアルカリ金属元素を浸透させ、ガラス基板の表面に圧縮応力を生じさせる処理のことである。化学強化処理されたガラス基板は耐衝撃性に優れているので、例えばモバイル用途のＨＤＤに搭載するのに特に好ましい。化学強化塩としては、硝酸カリウムや硝酸ナトリウムなどのアルカリ金属硝酸を好ましく用いることができる。
　また、ガラス基板主表面の表面粗さを平滑な鏡面に仕上げる第２研磨工程の後に、第２研磨工程で使用した研磨装置と同じ研磨装置を用いて、ガラス基板と研磨パッドとの間に、砥粒を含まない或いは砥粒濃度の第２研磨工程と比べて少ない処理液（リンス液）を供給することでガラス基板の主表面を洗浄処理するリンス処理を行ってもよい。このリンス処理をすることによって、第２研磨工程後に主表面に付着し残留している砥粒（コロイダルシリカの砥粒）の数を減らすことができ、最終的に磁気ディスク用ガラス基板の品質を高めることができる。
上記処理液には、砥粒を全く含まない、或いはコロイダルシリカ等の砥粒を３重量％以下、好ましくは１重量％以下の濃度で含有する。処理液に砥粒を含有する場合、平均粒径が１０ｎｍ以上３０ｎｍ未満のものを使用するのが好ましい。さらに好ましくは１０～２０ｎｍ程度のものを使用するのが好ましい。なお、上記処理液に砥粒を含有させる場合、当該砥粒に含まれるＡｌ等の不純物の含有量が例えば５μｇ／ｇ以下である研磨砥粒を用いることが特に好ましい。
また、本発明は、磁気ディスク用ガラス基板についても提供する。すなわち、主表面が鏡面であり、かつ、層状化合物の異物が含まれない磁気ディスク用ガラス基板を提供する。
本発明の磁気ディスク用ガラス基板は、具体的には、主表面を有する磁気ディスク用ガラス基板であって、前記基板の主表面を、原子間力顕微鏡を用いて１μｍ×１μｍ角の測定領域を２５６×２５６ピクセルの解像度で測定したときの算術平均粗さＲａが０．１５ｎｍ以下であり、かつ、３０～２００ｎｍの波長帯域の算術平均粗さＲａが０．０６ｎｍ以下であり、前記基板の主表面に対して、波長４０５ｎｍ、パワー８０ｍＷのレーザ光を６μｍのスポット径で照射して前記基板の主表面からの散乱光により異物を検出した際に、面内方向の大きさが３０～２００ｎｍの欠陥が一つの主表面当たり３０個以下であり、かつ、検出された欠陥の中には層状化合物が含まれない、ことを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板である。
本発明の磁気ディスク用ガラス基板は、主表面の平滑性が極めて高く、Ｒａが０．１５ｎｍ以下であり、かつ、３０～２００ｎｍの波長帯域の算術平均粗さＲａが０．０６ｎｍ以下であるので、本来であれば、シリカスラリに含まれる平坦な層状異物が一度付着すると強固に付着してしまい、その後の洗浄で容易に取れない状態となりやすい。しかし、本発明の磁気ディスク用ガラス基板は、主表面の粗さが小さいとともに層状異物がなく、ＤＦＨ素子部と磁気ディスク表面との間隙が１ｎｍ以下であっても長期信頼性のある磁気ディスク用ガラス基板を得ることができる。このような本発明の磁気ディスク用ガラス基板を得るためには、上述したような本発明に係る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法が好適である。
なお、上記レーザ光の照射領域（測定領域）は、例えば基板主表面の半径１５～３１．５ｍｍ（すなわち約２４．０９ｃｍ２）を測定することが好適である。
また、検出された異物が層状であることは、例えば断面ＴＥＭにて判断することが可能である。検出された異物のサイズは、例えばレーザ式の欠陥検査装置で位置を特定した後、ＴＥＭ、ＳＥＭ、ＡＦＭ等でサイズを特定することが可能である。
また、主表面の３０～２００ｎｍの波長帯域の算術平均粗さRaについては、以下のようにして算出することができる。
先ず磁気ディスク用ガラス基板の主表面の所定サイズの領域を極小の一定間隔で（例えば、１μｍ×１μｍの領域内を５１２×５１２の区画に区分して）ＡＦＭ（原子間力顕微鏡）を用いて、表面性状の３次元データを測定する。次に、測定された３次元データに対して２次元フーリエ変換を行い、２次元画像を得る。そして、得られた２次元画像から３０～２００ｎｍの波長成分を抽出する（つまり、バンドパスフィルタ処理を行う）。最後に、抽出した波長成分の２次元画像に対して逆フーリエ変換を施して３次元データ（３０～２００ｎｍの波長成分のみの３次元データ）を生成し、この３次元データから算術平均粗さRaを算出する。
なお、層状異物の吸着しやすさとの相関がある波長帯域を調査するため、波長帯域の上限及び下限を種々変更して調査したところ、３０～２００ｎｍにおいて最も相関が高くなることが判明した。なお、例えば最小波長は、最小測定分解能（１０００（ｎｍ）÷５１２）の２倍となるので、約４ｎｍである。３０～２００ｎｍの波長帯域の粗さが低い場合、層状異物サイズと同等サイズであるため、層状異物が吸着しやすくなると考えられる。
　本発明によって製造される磁気ディスク用ガラス基板は、上述のとおり、ＤＦＨ型磁気ヘッドを備えるＨＤＤに搭載される磁気ディスクに用いられるガラス基板に好適である。
また、本発明によって製造される磁気ディスク用ガラス基板は、特に長時間の連続稼動に対する高信頼性に加えて、高速データ転送や高速アクセスなど高性能を要求されるサーバ用のＨＤＤに搭載される磁気ディスクに用いられるガラス基板に好適である。
また、以上の磁気ディスク用ガラス基板を用いた磁気ディスクの製造方法についても説明する。磁気ディスクは、本発明による磁気ディスク用ガラス基板の上に少なくとも磁性層を形成して製造される。磁性層の材料としては、異方性磁界の大きな六方晶系であるＣｏＣｒＰｔ系やＣｏＰｔ系強磁性合金を用いることができる。磁性層の形成方法としてはスパッタリング法、例えばＤＣマグネトロンスパッタリング法によりガラス基板の上に磁性層を成膜する方法を用いることが好適である。またガラス基板と磁性層との間に、下地層を介挿することにより磁性層の磁性グレインの配向方向や磁性グレインの大きさを制御することができる。例えば，Ｃｒ系合金など立方晶系下地層を用いることにより、例えば磁性層の磁化容易方向を磁気ディスク面に沿って配向させることができる。この場合、面内磁気記録方式の磁気ディスクが製造される。また、例えば、ＲｕやＴｉを含む六方晶系下地層を用いることにより、例えば磁性層の磁化容易方向を磁気ディスク面の法線に沿って配向させることができる。この場合、垂直磁気記録方式の磁気ディスクが製造される。下地層は磁性層同様にスパッタリング法により形成することができる。
また、磁性層の上に、保護層、潤滑層をこの順に形成するとよい。保護層としてはアモルファスの水素化炭素系保護層が好適である。例えばプラズマＣＶＤ法により保護層を形成することができる。また、潤滑層としては、パーフルオロポリエーテル化合物の主鎖の末端に官能基を有する潤滑剤を用いることができる。取り分け、極性官能基として水酸基を末端に備えるパーフルオロポリエーテル化合物を主成分とすることが好ましい。潤滑層はディップ法により塗布形成することができる。
本発明によって得られるガラス基板を利用することにより、ＨＤＩセンサを備えたＤＦＨヘッドによる記録再生を行っても、ヘッドクラッシュ等の問題が起こらず、信頼性の高い磁気ディスクを得ることができる。それゆえ、例えば５００ギガバイトを超えるような今まで以上に高記録密度の磁気ディスクを製造するのに好適である。
以下に実施例を挙げて、本発明の実施の形態について具体的に説明する。なお、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。
（実施例１）
以下の（１）粗ラッピング工程（粗研削工程）、（２）形状加工工程、（３）精ラッピング工程（精研削工程）、（４）端面研磨工程、（５）主表面研磨工程（第１研磨工程）、（６）化学強化工程、（７）主表面研磨工程（第２研磨工程）を経て本実施例の磁気ディスク用ガラス基板を製造した。
（１）粗ラッピング工程
まず、溶融ガラスから上型、下型、胴型を用いたダイレクトプレスにより直径６６ｍｍφ、厚さ１．０ｍｍの円盤状のアルミノシリゲートガラスからなるガラス基板を得た。なお、このようなダイレクトプレス以外に、ダウンドロー法やフロート法で製造された板ガラスから所定の大きさに切り出してガラス基板を得てもよい。
次いで、このガラス基板に寸法精度及び形状精度の向上させるためラッピング工程を行った。このラッピング工程は両面ラッピング装置を用いて行った。
（２）形状加工工程
次に、円筒状の砥石を用いてガラス基板の中央部分に孔を空けると共に、外周端面の研削をして直径を６５ｍｍφとした後、外周端面および内周端面に所定の面取り加工を施した。
（３）精ラッピング工程
この精ラッピング工程は両面ラッピング装置を用いた。
（４）端面研磨工程
次いで、ブラシ研磨により、ガラス基板を回転させながらガラス基板の端面（内周、外周）を研磨した。そして、上記端面研磨を終えたガラス基板の表面を洗浄した。
（５）主表面研磨工程（第１研磨工程）
次に、第１研磨工程を両面研磨装置を用いて行なった。両面研磨装置においては、研磨パッドが貼り付けられた上下研磨定盤の間にキャリアにより保持したガラス基板を密着させ、このキャリアを太陽歯車（サンギア）と内歯歯車（インターナルギア）とに噛合させ、上記ガラス基板を上下定盤によって挟圧する。その後、研磨パッドとガラス基板の研磨面との間に研磨液を供給して回転させることによって、ガラス基板が定盤上で自転しながら公転して両面を同時に研磨加工するものである。具体的には、ポリシャとして硬質ポリシャ（硬質発泡ウレタン）を用い、第１研磨工程を実施した。研磨液としては酸化セリウムを研磨剤として分散したものとした。上記第１研磨工程を終えたガラス基板を、洗浄し、乾燥した。
（６）化学強化工程
次に、上記洗浄を終えたガラス基板に化学強化を施した。化学強化は硝酸カリウムと硝酸ナトリウムの混合した化学強化液を用意し、この化学強化溶液を３８０℃に加熱し、上記洗浄・乾燥済みのガラス基板を約４時間浸漬して化学強化処理を行なった。
（７）主表面研磨工程（第２研磨工程）
次いで上記の第１研磨工程で使用したものと同じ両面研磨装置を用い、ポリシャを軟質ポリシャ（スウェード）の研磨パッド（アスカーＣ硬度で７５の発泡ポリウレタン）に替えて第２研磨工程を実施した。この第２研磨工程は、上述した第１研磨工程で得られた平坦な表面を維持しつつ、例えばガラス基板主表面の表面粗さをＲａで０．２ｎｍ程度以下の平滑な鏡面に仕上げるための鏡面研磨加工である。研磨液としてはコロイダルシリカ（平均粒径（Ｄ５０）３０ｎｍ）を水に分散させたものを使用した。研磨液のｐＨは２となるように調整した。そして、荷重１００ｇ／ｃｍ２、研磨取代を５μｍとした。上記第２研磨工程を終えたガラス基板を、洗浄し、乾燥した。なお、洗浄前後のガラス基板の表面粗さＲｑの差が０．０５ｎｍ以下となる条件でガラス基板の洗浄処理を行った。
なお、上記コロイダルシリカは、前述の第１の実施の形態において説明した不純物を含まない高純度のシリカゾルの製法に従って製造した。また、上記研磨液を蒸発乾燥して得られた固形物をＩＣＰ－ＡＥＳを用いて分析した結果、Ａｌは検出されなかった。また、研磨スラリをフィルタリングしてスラリ中の異物を確認したところ、層状異物は確認されなかった。つまり、上記研磨液には、本発明で問題としているＡｌ、Ｓｉ、Ｏを含有する異物は含まれていない。
上記工程を経て得られたガラス基板の主表面の表面粗さを原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）にて測定したところ、Ｒｍａｘ＝１．４３ｎｍ、Ｒａ＝０．１３ｎｍと超平滑な表面を持つガラス基板を得た。また、３０～２００ｎｍの波長帯域の算術平均粗さＲａは０．０６ｎｍ以下であった。また、そのガラス基板の表面を目視及び光学式表面分析装置で測定し、見つかった欠陥をSEM及びAFMで分析したところ、鏡面状であり、本発明で問題としている例えば図１に示すような層状異物は発見されなかった。
また、得られたガラス基板の外径は６５ｍｍ、内径は２０ｍｍ、板厚は０．６３５ｍｍであった。
こうして、本実施例の磁気ディスク用ガラス基板を得た。
（実施例２）
　上記コロイダルシリカとして、Ａｌの含有量が３μｇ/ｇのものを使用した以外は、実施例１と同様にして磁気ディスク用ガラス基板を得た。なお、Ａｌ含有量は、コロイダルシリカスラリーを蒸発乾燥して得られる固形物に含まれるＡｌの含有量である。
（実施例３）
　上記コロイダルシリカとして、Ａｌの含有量が５μｇ/ｇのものを使用した以外は、実施例１と同様にして磁気ディスク用ガラス基板を得た。
（比較例１）
　上記実施例１の第２研磨工程において、従来公知の製法に従ってイオン交換法により製造されたコロイダルシリカを用いて調製された研磨液を使用したこと以外は、実施例１と同様にして第２研磨工程を行った。そして、第２研磨工程以外は実施例１と同様とした。なお、上記の従来公知の製法に従って製造されたコロイダルシリカはＡｌの含有量が５０μｇ/ｇのものであった。
（比較例２）
　上記実施例１の第２研磨工程において、平均粒径８０ｎｍの従来公知の製法に従ってイオン交換法により製造されたコロイダルシリカを用いて調製された研磨液を使用したこと以外は、比較例１と同様にして第２研磨工程を行った。そして、第２研磨工程以外は実施例１と同様とした。
上記工程を経て得られたガラス基板の表面を上記と同様に光学式表面分析装置で分析したところ、本発明で問題としている層状異物が多数発見された。そして、発見された層状異物を分析した結果、Ａｌ、Ｓｉ、Ｏを含有する異物であることが確認された。一方で、実施例１～３にかかるガラス基板の表面には、上記層状異物は確認できなかった。
（参考例１）
　上記コロイダルシリカとして、Ａｌの含有量が７μｇ/ｇのものを使用した以外は、実施例１と同様にして磁気ディスク用ガラス基板を得た。
（参考例２）
　上記コロイダルシリカとして、Ａｌの含有量が１０μｇ/ｇのものを使用した以外は、実施例１と同様にして磁気ディスク用ガラス基板を得た。
　上記参考例１、２で得られたガラス基板についても、表面を光学式表面分析装置で分析し、Ａｌ、Ｓｉ，Ｏを含有する層状異物の数を分析した。
　上記実施例１～３、比較例１、２、参考例１、２で得られた各ガラス基板における層状異物の数については、纏めて下記表１に示した。
　なお、上記実施例１～３、比較例１、参考例１、２で得られた各ガラス基板は、いずれも、基板の主表面を、原子間力顕微鏡を用いて１μｍ×１μｍ角の測定領域を２５６×２５６ピクセルの解像度で測定したときの算術平均粗さＲａが０．１５ｎｍ以下であり、かつ、３０～２００ｎｍの波長帯域の算術平均粗さＲａが０．０６ｎｍ以下に仕上がっていたが、比較例２のガラス基板では、使用したコロイダルシリカの粒径が大きく、３０～２００ｎｍの波長帯域の算術平均粗さＲａは０．０８ｎｍであった。
　また、上記実施例１～３、比較例１、２、参考例１、２で得られた各磁気ディスク用ガラス基板にそれぞれ以下の成膜工程を施して、垂直磁気記録用磁気ディスクを得た。
すなわち、上記ガラス基板上に、Ｔｉ系合金薄膜からなる付着層、ＣｏＴａＺｒ合金薄膜からなる軟磁性層、Ｒｕ薄膜からなる下地層、ＣｏＣｒＰｔ合金からなる垂直磁気記録層、カーボン保護層、潤滑層を順次成膜した。保護層は、磁気記録層が磁気ヘッドとの接触によって劣化することを防止するためのもので、水素化カーボンからなり、耐磨耗性が得られる。また、潤滑層は、アルコール変性パーフルオロポリエーテルの液体潤滑剤をディップ法により形成した。
得られた磁気ディスクについて、HDIセンサを備えたDFHヘッドを搭載したドライブにて長期信頼性試験（８０℃、80％ＲＨの恒温槽内で、DFHで突き出した素子部と磁気ディスクとの間の距離を１ｎｍに設定し、最内周と最外周の間の連続シーク動作を24時間続ける）を行った。その結果についても、下記表１に示した。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
　比較例１と比較例２の対比では、比較例２の方が層状異物の数が低減した。これは、３０～２００ｎｍの波長帯域の算術平均粗さＲａが０．０６ｎｍ以下の表面において、層状異物がより固着し易いからであると考えられる。
　また、比較例１、２、参考例１、２のガラス基板では、実施例１と同じ条件の洗浄処理では層状異物が除去されなかったため、アルカリ度の高い条件で洗浄処理を行ったところ、層状異物は除去されたが、洗浄後の基板表面の粗さが大きく劣化してしまった。
　また、上記表１の結果、実施例１～３のガラス基板を用いた磁気ディスクにおいては、記録再生素子の劣化も起こらず良好な結果が得られた。一方、比較例１のガラス基板を用いた磁気ディスクでは、途中で記録再生素子の劣化が発生した。また、シリカ中のＡｌの含有量が５μｇ/ｇよりも多いコロイダルシリカを用いて研磨処理を行い、得られた参考例１、２のガラス基板を用いた磁気ディスクにおいても、途中で記録再生素子の劣化が発生した。
なお、ここで、記録再生素子の劣化とは、具体的には素子部の磨耗のことである。素子部が磨耗すると、磨耗前と比べてDFHによる突き出し量が小さくなるので、SNR等の記録再生性能が劣化してしまう。また、磨耗した部分から腐食が進行し、記録再生ができなくなることもある。そのため、磁気信号の記録や再生を長期的に安定して行うことができなくなる。
記録再生素子の劣化の判定は、具体的には、試験前後に、DFHのタッチダウンパワーの値を測定し、両者の値と比較して、試験後の値の方が大きい場合に劣化ありとした。タッチダウンパワーの値が大きいほど、素子部の突き出し量が大きくなるので、長期信頼性試験の間に素子部が磨耗したことがわかる。
１　ガラス基板
２　太陽歯車
３　内歯歯車
４　キャリア
５　上定盤
６　下定盤
７　研磨パッド
 

Claims (10)

  1. 　HDIセンサが搭載され、記録再生素子の少なくとも一方の素子の突出し量を前記HDIセンサからの信号に基づいて制御可能なDFHヘッド対応の磁気ディスクに適用される磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、
    　ガラス基板の主表面と研磨パッドとの間に、コロイダルシリカを含む研磨液を供給し、ガラス基板と研磨パッドとを接触させてガラス基板の主表面を鏡面研磨する研磨処理を含む磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、
    　前記研磨液は、少なくとも酸性環境下において、アルミニウム（Ａｌ）、ケイ素（Ｓｉ）及び酸素（Ｏ）の各元素を含有する異物の発生を防止すべく調整されていることを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
  2. 　HDIセンサが搭載され、記録再生素子の少なくとも一方の素子の突出し量を前記HDIセンサからの信号に基づいて制御可能なDFHヘッド対応の磁気ディスクに適用される磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、
    　ガラス基板の主表面と研磨パッドとの間に、コロイダルシリカを含む研磨液を供給し、ガラス基板と研磨パッドとを接触させてガラス基板の主表面を鏡面研磨する研磨処理を含む磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、
    　前記研磨液として、前記ガラス基板が磁気ディスクとなされて磁気ヘッドで記録再生される際に、記録再生を阻害し得るアルミニウム（Ａｌ）、ケイ素（Ｓｉ）及び酸素（Ｏ）の各元素を含有する異物を含有しない研磨液を選択し、該選択された研磨液を利用して前記研磨処理を行うことを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
  3. 　前記異物は、層状化合物であることを特徴とする請求項１又は２に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
  4. 　前記コロイダルシリカは、イオン交換法により製造されたものであることを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
  5. 　前記コロイダルシリカ中のアルミニウム（Ａｌ）の含有量が５μｇ／ｇ以下であることを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
  6. 　前記研磨処理の後に、洗浄前後のガラス基板の表面粗さＲｑの差が０．０５ｎｍ以下となる条件でガラス基板の洗浄処理を行うことを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
  7. 　前記磁気ディスク用ガラス基板は、サーバ用のハードディスクドライブに搭載される磁気ディスクに用いられるガラス基板であることを特徴とする請求項１乃至６のいずれかに記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
  8. 　HDIセンサが搭載され、記録再生素子の少なくとも一方の素子の突出し量を前記HDIセンサからの信号に基づいて制御可能なDFHヘッド対応の磁気ディスクに適用される磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、
    　ガラス基板の主表面と研磨パッドとの間に、コロイダルシリカを含む研磨液を供給し、ガラス基板と研磨パッドとを接触させてガラス基板の主表面を鏡面研磨する研磨処理を含む磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、
    　前記研磨液は、前記ガラス基板が磁気ディスクとなされて前記DFHヘッドで記録再生される際に、前記記録再生を阻害し得る異物の発生を防止すべく調整されていることを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板の製造方法．
  9. 　請求項１乃至８のいずれかに記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法によって得られた磁気ディスク用ガラス基板の主表面上に少なくとも磁性膜を成膜することを特徴とする磁気ディスクの製造方法。
  10. 　主表面を有する磁気ディスク用ガラス基板であって、
    　前記基板の主表面を、原子間力顕微鏡を用いて１μｍ×１μｍ角の測定領域を２５６×２５６ピクセルの解像度で測定したときの算術平均粗さＲａが０．１５ｎｍ以下であり、かつ、３０～２００ｎｍの波長帯域の算術平均粗さＲａが０．０６ｎｍ以下であり、
    　前記基板の主表面に対して、波長４０５ｎｍ、パワー８０ｍＷのレーザ光を６μｍのスポット径で照射して前記基板の主表面からの散乱光により異物を検出した際に、面内方向の大きさが３０～２００ｎｍの欠陥が一つの主表面当たり３０個以下であり、かつ、検出された欠陥の中には層状化合物が含まれない、ことを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板。
     
     
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016060169A1 (ja) * 2014-10-14 2016-04-21 Hoya株式会社 磁気ディスク用基板の製造方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SG11202006025YA (en) * 2017-12-27 2020-07-29 Kao Corp Method for producing aluminum platter

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008094641A (ja) * 2006-10-06 2008-04-24 Ohara Inc 基板の製造方法
JP2010108592A (ja) * 2008-09-30 2010-05-13 Hoya Corp 磁気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスク
WO2012036087A1 (ja) * 2010-09-15 2012-03-22 旭硝子株式会社 研磨剤および研磨方法
WO2012043704A1 (ja) * 2010-09-30 2012-04-05 Hoya株式会社 磁気記録媒体ガラス基板用ガラスブランク製造方法、磁気記録媒体ガラス基板製造方法、磁気記録媒体製造方法、および、磁気記録媒体ガラス基板用ガラスブランクの製造装置
JP2012155785A (ja) * 2011-01-25 2012-08-16 Showa Denko Kk 磁気記録媒体用基板の製造方法
JP2012178209A (ja) * 2011-01-31 2012-09-13 Kao Corp 磁気ディスク基板の製造方法
JP2012216278A (ja) * 2011-03-31 2012-11-08 Hoya Corp 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び磁気ディスクの製造方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008094641A (ja) * 2006-10-06 2008-04-24 Ohara Inc 基板の製造方法
JP2010108592A (ja) * 2008-09-30 2010-05-13 Hoya Corp 磁気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスク
WO2012036087A1 (ja) * 2010-09-15 2012-03-22 旭硝子株式会社 研磨剤および研磨方法
WO2012043704A1 (ja) * 2010-09-30 2012-04-05 Hoya株式会社 磁気記録媒体ガラス基板用ガラスブランク製造方法、磁気記録媒体ガラス基板製造方法、磁気記録媒体製造方法、および、磁気記録媒体ガラス基板用ガラスブランクの製造装置
JP2012155785A (ja) * 2011-01-25 2012-08-16 Showa Denko Kk 磁気記録媒体用基板の製造方法
JP2012178209A (ja) * 2011-01-31 2012-09-13 Kao Corp 磁気ディスク基板の製造方法
JP2012216278A (ja) * 2011-03-31 2012-11-08 Hoya Corp 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び磁気ディスクの製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016060169A1 (ja) * 2014-10-14 2016-04-21 Hoya株式会社 磁気ディスク用基板の製造方法
JPWO2016060169A1 (ja) * 2014-10-14 2017-07-27 Hoya株式会社 磁気ディスク用基板の製造方法

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