WO2014057951A1 - 成膜方法及び成膜装置 - Google Patents

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film
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智資 平野
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日本発條株式会社
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Definitions

  • the present invention relates to a film forming method and a film forming apparatus for forming a film by accelerating a raw material powder together with a gas and spraying and depositing the powder on a surface of a base material while maintaining the solid state.
  • a film forming method called a cold spray method In recent years, a film forming method called a cold spray method is known.
  • powder of a metal material that is below the melting point or softening point is sprayed from a nozzle together with an inert gas such as helium, argon, and nitrogen, and is allowed to collide with the substrate to be deposited in the solid state.
  • an inert gas such as helium, argon, and nitrogen
  • This is a method of forming a film on the surface of the substrate (see, for example, Patent Document 1).
  • film formation is performed at a relatively low temperature, unlike a thermal spraying method in which a powder of a material is melted and sprayed onto a substrate (for example, see Patent Document 2).
  • the influence of thermal stress can be alleviated, and a metal film having no phase transformation and suppressing oxidation can be obtained.
  • both the base material and the coating material are metals
  • plastic deformation occurs between the powder and the base material when the metal material powder collides with the base material (or the previously formed film). Since the anchor effect is obtained and the oxide films of each other are destroyed and metal bonds are formed by the new surfaces, a laminate with high adhesion strength can be obtained.
  • the cold spray method is usually performed in the atmosphere.
  • a nozzle having a small diameter with respect to the substrate is used in order to accelerate the powder at a high speed by the compressed gas.
  • the film already formed may be exposed to oxygen in the atmosphere and oxidized in areas other than the area during film formation where the powder sprayed from the nozzle is sprayed.
  • film formation is further performed on the upper layer of the oxidized film, bonding between the upper layer and the lower layer becomes insufficient, and the film characteristics such as bonding strength and electrical properties are affected.
  • the present invention has been made in view of the above, and it is possible to suppress oxidation of a film during film formation, and the apparatus can be configured in a simple and inexpensive manner, without taking time and effort.
  • Another object of the present invention is to provide a film forming method and a film forming apparatus capable of exchanging a base material to be formed.
  • the film forming method according to the present invention accelerates the raw material powder together with the gas and sprays and deposits the powder on the surface of the base material while maintaining the solid state.
  • a film forming method for forming a film by causing the substrate to be disposed in a chamber; and injecting the powder and an inert gas from a nozzle toward the substrate;
  • a film forming step of forming a film by depositing the powder on the surface of the base material while forming a positive pressure in the chamber with a gas.
  • the film formation step is performed while exhausting the inert gas from the chamber.
  • the film formation step is performed while rectifying the inert gas in the chamber.
  • the inert gas is rectified by supplying an inert gas into the chamber separately from the nozzle.
  • a film forming apparatus is a film forming apparatus that performs film formation by accelerating a raw material powder together with a gas, and spraying and depositing the powder on a surface of a base material while maintaining the solid state. Any one of a chamber, a holding unit provided in the chamber and holding the base material, a nozzle for injecting the powder together with an inert gas, and the nozzle and the holding unit is moved with respect to the other. And a moving mechanism, wherein the inside of the chamber becomes a positive pressure by the inert gas ejected by the nozzle.
  • the film forming apparatus further includes an exhaust unit that exhausts gas from the chamber.
  • the film forming apparatus further includes a rectifying mechanism that rectifies the inert gas in the chamber.
  • the rectifying mechanism is a gas supply unit that supplies an inert gas into the chamber.
  • the rectifying mechanism is a rectifying member installed in the chamber.
  • the chamber includes a container in which the holding unit is provided and a lid unit attached to the nozzle.
  • the chamber includes a cover attached to the nozzle and covering the holding portion.
  • the raw material powder and the inert gas are jetted from the nozzle toward the base material, and the inside of the chamber is made positive pressure by the inert gas and the powder is deposited on the surface of the base material. Is not exposed to oxygen, and oxidation of the film during film formation can be suppressed. Further, according to the present invention, it is not necessary to provide an additional device such as an exhaust device or an inert gas supply device in the chamber, so that the device can be configured simply and inexpensively. Furthermore, according to the present invention, it is not necessary to perform additional operations such as decompression in the chamber and gas exchange prior to film formation, so that it is possible to replace the substrate without taking time and effort. .
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing a film forming apparatus according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 2 is a flowchart showing the film forming method according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 3 is a schematic diagram showing Modification 1 of the film forming apparatus according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 4 is a schematic diagram illustrating another example of the rectifying unit provided in the chamber.
  • FIG. 5 is a schematic diagram showing a film forming apparatus according to Embodiment 2 of the present invention.
  • FIG. 6 is a graph showing the characteristics of the test pieces according to Examples and Comparative Examples.
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration of a film forming apparatus according to Embodiment 1 of the present invention.
  • a film forming apparatus 100 according to Embodiment 1 is a so-called cold spray apparatus that forms a film by spraying and depositing raw material powder 2 on the surface of a substrate 1.
  • a holding unit 11 that holds the substrate 1, a spray nozzle 12 that sprays the powder 2 together with an inert gas, a powder supply unit 13 that supplies the powder 2 to the spray nozzle 12, and a powder pipe 13a, and an inert gas.
  • a gas heating unit (gas supply unit) 14 and a gas pipe 14a for heating and supplying gas to the spray nozzle 12, a drive unit 15 for moving the spray nozzle 12, and a control unit 16 for controlling the operation of the drive unit 15; Is provided.
  • FIG. 1 only the chamber 10 is shown in cross section.
  • the chamber 10 includes a bottomed columnar container 10a and a lid 10b that covers the opening of the container 10a.
  • the specific shape of the container 10a is not particularly limited.
  • the bottomed cylinder is provided with a flange that extends from the opening toward the outer periphery.
  • the shape of the cover part 10b is prescribed
  • the lid 10b is attached to the spray nozzle 12 by fastening, bonding, welding, or the like, and is supported by a support mechanism (not shown) of the spray nozzle 12 so as to be three-dimensionally movable. Further, as shown in FIG. 1, when the base material 1 is formed, the lid 10b is slightly lifted (at least to the extent that gas can pass) from the opening 10c of the container 10a. It is supported so as to be movable in a parallel plane (horizontal in FIG. 1). At this time, the gap 10d between the container 10a and the lid portion 10b functions as an exhaust port for discharging the gas in the chamber 10 to the outside.
  • the diameter of the lid portion 10b depends on the movable range of the spray nozzle 12 so that the opening of the container 10a is not exposed even when the lid portion 10b is moved in a plane parallel to the opening surface 10c during film formation. It is designed to be larger than the opening diameter of the container 10a.
  • the holding unit 11 is provided at the bottom of the container 10a, for example.
  • the holding unit 11 includes a holding mechanism such as an electrostatic chuck, and holds the base material 1 with the film formation surface 1a of the base material 1 facing the spray nozzle 12 side.
  • a holding mechanism such as an electrostatic chuck
  • the film-formation surface 1a has shown the plate-shaped base material 1 which makes a plane
  • the whole shape of the base material 1 and the shape of the film-formation surface 1a are not specifically limited, It can form into a film What is necessary is just to have a surface.
  • the spray nozzle 12 accelerates the powder 2 supplied from the powder supply unit 13 by the inert gas supplied via the gas heating unit 14 and injects the powder 2 at a supersonic speed of, for example, 340 m / s or more.
  • Compressed gas obtained by compressing an inert gas such as helium, argon or nitrogen is supplied to the powder supply unit 13 and the gas heating unit 14 from the outside.
  • the powder supply unit 13 and the gas heating unit 14 are each provided with a valve (not shown) that adjusts the supply amount of the compressed gas.
  • the powder supply unit 13 accommodates a metal or alloy powder 2 that is a raw material of the film.
  • the powder supply unit 13 supplies the powder 2 to the spray nozzle 12 through the powder pipe 13a together with the inert gas supplied from the outside.
  • the gas heating unit 14 heats an inert gas supplied from the outside to a predetermined temperature, and supplies it to the spray nozzle 12 via the gas pipe 14a.
  • the temperature at which the inert gas is heated is, for example, 50 ° C. or higher, and is set to such an extent that the powder 2 does not melt (for example, about 300 ° C. to 900 ° C.) according to the type of the powder 2.
  • the driving unit 15 is provided in the spray nozzle 12 and is a part of a moving mechanism that moves the spray nozzle 12 together with the lid 10b.
  • a known general technique can be applied as the moving mechanism, and the entire moving mechanism is not shown in FIG.
  • the control unit 16 controls the operation of such a drive unit 15.
  • tip of the spray nozzle 12 has shown the flow of the inert gas typically.
  • FIG. 2 is a flowchart showing the film forming method according to the first embodiment.
  • the base material 1 is placed in the chamber 10.
  • the material of the base material copper, copper alloy, zinc, zinc alloy, aluminum, aluminum alloy, magnesium, magnesium alloy, nickel, nickel alloy, iron, iron alloy, titanium, titanium alloy, chromium, chromium alloy, niobium, Niobium alloy, molybdenum, molybdenum alloy, silver, silver alloy, tin, tin alloy, tantalum, tantalum alloy and other metals or alloys, alumina, zirconia, yttria, yttria stabilized zirconia ceramics, etc. be able to.
  • the base material 1 is held and fixed by the holding unit 11.
  • the powder supply unit 13 is filled with the powder 2 that is the raw material of the film formed on the substrate 1.
  • the type of powder 2 is not particularly limited, and may be copper, copper alloy, zinc, zinc alloy, aluminum, aluminum alloy, magnesium, magnesium alloy, nickel, nickel alloy, iron, iron alloy, titanium, titanium, depending on the application of the film.
  • a metal or an alloy such as an alloy, chromium, a chromium alloy, niobium, a niobium alloy, molybdenum, a molybdenum alloy, silver, a silver alloy, tin, a tin alloy, tantalum, or a tantalum alloy is appropriately selected.
  • the average particle diameter of the powder 2 is not particularly limited as long as it is a size capable of cold spraying (for example, about 5 to 100 ⁇ m).
  • the film forming apparatus 100 is activated. Thereby, supply of the compressed gas (inert gas) to the powder supply unit 13 and the gas heating unit 14 is started, and the powder 2 and the heated inert gas are supplied to the spray nozzle 12.
  • the powder 2 is put into a supersonic flow of compressed inert gas, accelerated, and sprayed from the spray nozzle 12 together with the inert gas while being kept in a solid state.
  • the atmosphere in the chamber 10 is discharged from the gap 10d by the inert gas sprayed from the spray nozzle 12, and becomes a positive pressure.
  • the inert gas sprayed from the spray nozzle 12 circulates in the chamber 10 after colliding with the surface of the substrate 1, and is discharged out of the chamber 10 through the gap 10d.
  • the inside of the chamber 10 is at a positive pressure, the external atmosphere does not enter the chamber 10.
  • the pressure of the inert gas supplied to the spray nozzle 12 is preferably about 1 to 5 MPa.
  • the inside of the chamber 10 can be made positive pressure with an inert gas at an early stage, and in the subsequent step S4, the substrate 1 and the film formed thereon are formed. This is because the adhesion strength can be improved.
  • step S4 a film is formed on the substrate 1. That is, while spraying the powder 2 from the spray nozzle 12 and spraying it on the film forming surface 1a, the spray nozzle 12 is moved in the horizontal direction to deposit the powder 2 on the film forming surface 1a. At this time, since the inside of the chamber 10 is filled with the inert gas ejected from the spray nozzle 12, the film on the film formation surface 1a is not exposed to oxygen in the atmosphere, and the oxidation of the film is suppressed. be able to.
  • step S5 After forming a film with a desired thickness on the film formation surface 1a, the film formation apparatus 100 is stopped (step S5). Thereafter, in step S6, the lid 10b is removed from the container 10a, and the substrate 1 is taken out. Thereby, the film formed by the cold spray method is obtained. After that, another substrate may be held by the holding unit 11 of the film forming apparatus 100 and film formation may be continued.
  • the inside of the chamber 10 is filled with the inert gas sprayed from the spray nozzle 12 to make a positive pressure, and the film is formed. It is possible to suppress oxidation by exposure to oxygen. Therefore, it is possible to improve physical properties such as bonding strength and electrical properties in the film.
  • the inside of the chamber 10 is made positive pressure by the inert gas ejected from the spray nozzle 12, the atmosphere is removed from the chamber 10 after the substrate 1 is placed in the chamber 10. Additional work (exhaust or gas exchange, etc.) and waiting time are not required. Therefore, the substrate 1 can be easily replaced, and film formation can be performed efficiently.
  • FIG. 3 is a schematic diagram showing a film forming apparatus according to the first modification of the first embodiment.
  • the film forming apparatus 110 illustrated in FIG. 3 further includes a rectifying unit 17 and a gas supply unit 18 that rectify an inert gas in the chamber 10 with respect to the film forming apparatus 100.
  • the rectifying unit 17 is formed by bending one end of a cylindrical member toward the inner peripheral side, and is provided so as to surround the holding unit 11 in the vicinity of the bottom of the container 10a.
  • the rectifying unit 17 arranges the flow of the inert gas injected from the spray nozzle 12 so as to circulate through the chamber 10 and be discharged from the gap 10d.
  • the gas supply unit 18 includes a gas ejection port 18a provided in the vicinity of the bottom of the container 10a, and forms an inert gas flow circulating in the chamber 10 by supplying the inert gas into the chamber 10.
  • the inert gas can be efficiently circulated in the chamber 10 by flowing the inert gas along the inner wall surface from the vicinity of the bottom of the container 10a.
  • the rectifying unit 17 and the gas supply unit 18 as described above, the discharge of the atmosphere remaining in the chamber 10 can be expedited, and the chamber 10 can be quickly filled with the inert gas sprayed from the spray nozzle 12. Therefore, it becomes possible to more effectively suppress the oxidation of the film formed on the substrate 1.
  • straightening part 17 will not be limited to the example shown in FIG. 3, if the flow of the inert gas mentioned above can be formed.
  • the donut-shaped rectification unit 19 having an opening formed by curving the center part of the plate-like member is set to a height at the middle of the side surface of the inner wall of the container 10a. It may be provided like a collar.
  • the position and direction of the gas outlet 18a are not limited to the example shown in FIG. 3 as long as the above-described inert gas flow can be formed.
  • the gap 10d provided between the container 10a and the lid 10b is used as an exhaust port.
  • the form of the exhaust port is not limited to the example shown in FIG.
  • an opening may be provided in the lid portion 10b and this may be used as an exhaust port.
  • an opening may be provided above the side surface of the container 10a and this may be used as an exhaust port.
  • the lid portion 10b can be directly placed on the opening surface 10c of the container 10a.
  • FIG. 5 is a schematic diagram showing a film forming apparatus according to Embodiment 2 of the present invention.
  • the film forming apparatus 200 according to the second embodiment includes a cover portion 21 that is attached to the spray nozzle 12 and provided on the base 20 instead of the chamber 10 shown in FIG. 1.
  • FIG. 5 In addition, about the function and operation
  • FIG. 5 only the base 20 and the cover portion 21 are shown in cross section. Further, in FIG. 5, the description of the support mechanism and the moving mechanism of the spray nozzle 12 is omitted, and only the driving unit 15 provided in the spray nozzle 12 is shown in the moving mechanism.
  • the holding part 11 is provided directly on the base 20, and the cover part 21 is arranged so as to cover the holding part 11.
  • the cover portion 21 may be formed of a hard member (a member that is not easily deformed) such as metal, ceramics, glass, or acrylic, or may be formed of a flexible member (a member that is easily deformed) such as rubber or polyethylene. good. Or you may form the cover part 21 combining a hard member and a flexible member.
  • the cover portion 21 can be formed by forming a framework with a hard member such as metal and covering the framework with a flexible member such as a polyethylene sheet.
  • openings 21a are provided above the cover portion 21 (position higher than the base material 1 held by the holding portion 11).
  • the opening 21a functions as an exhaust port for discharging the gas in the cover portion 21 to the outside.
  • Such a cover portion 21 is attached to the spray nozzle 12 by fastening, bonding, welding, or the like according to the material of the cover portion 21 and moves together with the spray nozzle 12.
  • the base material 1 is held by the holding unit 11, and the raw material powder 2 and an inert gas are sprayed from the spray nozzle 12.
  • the inside of the cover part 21 is filled with the inert gas and becomes a positive pressure.
  • the spray nozzle 12 is moved in a plane parallel to the base 20 together with the cover portion 21 while spraying the powder 2 toward the film formation surface 1a of the substrate 1 to deposit the powder 2 on the film formation surface 1a.
  • the configuration of the film forming apparatus 200 can be further simplified.
  • the film forming apparatus 200 can be realized by adding the cover portion 21 to a cold spray apparatus having a general configuration.
  • the film forming apparatus 200 may be further provided with a rectifying unit 17 and a gas supply unit 18 as in the first embodiment.
  • the base material 1 is fixed and the spray nozzle 12 is moved.
  • the base material 1 and the spray nozzle 12 can be moved. Any of them may be moved.
  • the spray nozzle 12 side may be fixed and the base material 1 side may be moved, or both may be moved.
  • a film of pure copper was formed on the substrate 1 using the film forming apparatus 100 according to the first embodiment.
  • the pressure of the inert gas in the spray nozzle 12 was changed to form a plurality of types of films. And these membrane
  • coats were cut out, the test piece of 2 mm x 2 mm x 40 mm was produced, and the electrical conductivity was measured by the 4-terminal method.
  • a general cold spray apparatus was used to form a pure copper film in the atmosphere. And the test piece was produced similarly to the Example and the electrical conductivity was measured.
  • FIG. 6 is a graph showing measurement results for the test pieces of Examples and Comparative Examples.
  • the horizontal axis represents the pressure of the inert gas (gas pressure: MPa), and the vertical axis represents the conductivity of each test piece based on the conductivity of annealed pure copper (IACS: International Annealed Copper Standard). :%).

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Abstract

 成膜中の皮膜の酸化を抑制することが可能であり、装置を簡素且つ安価に構成することができると共に、手間及び時間をかけずに成膜対象の基材を交換することができる成膜方法及び成膜装置を提供する。成膜装置100は、原料の粉末2をガスと共に加速し、該粉末2を固相状態に保ったまま基材1の表面に吹き付けて堆積させることにより成膜を行う成膜装置であって、チャンバ10と、該チャンバ10内に設けられ、基材1を保持する保持部11と、粉末2を不活性ガスと共に噴射するスプレーノズル12と、スプレーノズル12と保持部11とのいずれか一方を他方に対して移動させる駆動部15と、を備え、スプレーノズル12が噴射する不活性ガスにより、チャンバ10内が陽圧になる。

Description

成膜方法及び成膜装置
 本発明は、原料の粉末をガスと共に加速し、該粉末を固相状態に保ったまま基材の表面に吹き付けて堆積させることにより成膜を行う成膜方法及び成膜装置に関する。
 近年、コールドスプレー法と呼ばれる成膜方法が知られている。コールドスプレー法は、融点又は軟化点以下の状態にある金属材料の粉末を、ヘリウム、アルゴン、窒素等の不活性ガスとともにノズルから噴射し、固相状態のまま成膜対象の基材に衝突させて基材の表面に皮膜を形成する方法である(例えば、特許文献1参照)。コールドスプレー法においては、材料の粉末を溶融させて基材に吹き付ける溶射法(例えば、特許文献2参照)と異なり、比較的低い温度で成膜が行われる。このため、コールドスプレー法によれば、熱応力の影響を緩和することができ、相変態がなく酸化も抑制された金属皮膜を得ることができる。特に、基材及び皮膜となる材料がともに金属である場合、金属材料の粉末が基材(又は先に形成された皮膜)に衝突した際に粉末と基材との間で塑性変形が生じてアンカー効果が得られると共に、互いの酸化皮膜が破壊されて新生面同士による金属結合が生じるので、密着強度の高い積層体を得ることができる。
特開2008-302311号公報 特開平5-171399号公報
 ところで、通常、コールドスプレー法は大気中において実施される。また、コールドスプレー法においては、圧縮ガスにより粉末を高速に加速するため、基材に対して口径の小さなノズルが用いられる。このため、ノズルから噴射された粉末が吹き付けられる成膜中の領域以外においては、既に形成された皮膜が大気中の酸素に曝され、酸化してしまうおそれがある。その結果、酸化した皮膜の上層にさらに成膜を行うことになり、上層と下層との間における接合が不十分となり、接合強度や電気的性質等の皮膜の特性に影響を及ぼしてしまう。
 皮膜の酸素への曝露を抑制するためには、減圧されたチャンバ内で成膜を行うことが考えられる。しかしながら、この場合、チャンバに排気装置を設ける必要があるため、装置構成が複雑化すると共に、装置費用が高価になってしまう。また、チャンバ内に基材を配置した後、減圧雰囲気とするまでに長時間を要するため、成膜の開始が遅れてしまう。さらに、基材を交換する際には、減圧雰囲気の開放、基材の交換、再び減圧といった手順が必要となり、手間と時間がかかってしまうという問題もある。
 一方、皮膜の酸素への曝露を抑制する別の手段として、チャンバ内を不活性ガスで満たすことにより酸素を排除して成膜を行うことも考えられる。しかしながら、この場合も、チャンバに不活性ガスの供給装置を別途設ける必要が生じ、装置費用が上昇してしまう。また、チャンバ内に基材を設置した後、チャンバ内の大気を不活性ガスに交換する時間が必要となり、やはり、基材の交換に手間と時間がかかってしまう。
 本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、成膜中の皮膜の酸化を抑制することが可能であり、装置を簡素且つ安価に構成することができると共に、手間及び時間をかけずに成膜対象の基材を交換することができる成膜方法及び成膜装置を提供することを目的とする。
 上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係る成膜方法は、原料の粉末をガスと共に加速し、該粉末を固相状態に保ったまま基材の表面に吹き付けて堆積させることにより成膜を行う成膜方法であって、前記基材をチャンバ内に配置する基材配置工程と、前記粉末及び不活性ガスをノズルから前記基材に向けて噴射し、前記不活性ガスにより前記チャンバ内を陽圧にするとともに、前記基材の表面に前記粉末を堆積させて皮膜を形成する成膜工程と、を含むことを特徴とする。
 上記成膜方法において、前記成膜工程は、前記不活性ガスを前記チャンバから排気しつつ行われることを特徴とする。
 上記成膜方法において、前記成膜工程は、前記チャンバ内における前記不活性ガスを整流しつつ行われることを特徴とする。
 上記成膜方法において、前記ノズルとは別に、前記チャンバ内に不活性ガスを供給することにより、前記不活性ガスを整流することを特徴とする。
 本発明に係る成膜装置は、原料の粉末をガスと共に加速し、該粉末を固相状態に保ったまま基材の表面に吹き付けて堆積させることにより成膜を行う成膜装置であって、チャンバと、前記チャンバ内に設けられ、前記基材を保持する保持部と、前記粉末を不活性ガスと共に噴射するノズルと、前記ノズルと前記保持部とのいずれか一方を他方に対して移動させる移動機構と、を備え、前記ノズルが噴射する前記不活性ガスにより、前記チャンバ内が陽圧になることを特徴とする。
 上記成膜装置は、前記チャンバ内から気体を排出する排気部をさらに備えることを特徴とする。
 上記成膜装置は、前記チャンバ内における前記不活性ガスを整流する整流機構をさらに備えることを特徴とする。
 上記成膜装置において、前記整流機構は、前記チャンバ内に不活性ガスを供給するガス供給部であることを特徴とする。
 上記成膜装置において、前記整流機構は、前記チャンバ内に設置された整流部材であることを特徴とする。
 上記成膜装置において、前記チャンバは、内部に前記保持部が設けられた容器と、前記ノズルに取り付けられた蓋部とを有することを特徴とする。
 上記成膜装置において、前記チャンバは、前記ノズルに取り付けられ、前記保持部を覆うカバーを有することを特徴とする。
 本発明によれば、原料の粉末及び不活性ガスをノズルから基材に向けて噴射し、不活性ガスによりチャンバ内を陽圧にすると共に、基材の表面に粉末を堆積させるので、基材が酸素に曝露されることがなくなり、成膜中の皮膜の酸化を抑制することが可能となる。また、本発明によれば、排気装置や不活性ガスの供給装置等の追加の装置をチャンバに設ける必要がなくなるので、装置を簡素且つ安価に構成することができる。さらに、本発明によれば、成膜に先立ってチャンバ内の減圧やガスの交換等の追加の作業を行う必要がないので、手間及び時間をかけることなく基材を交換することが可能となる。
図1は、本発明の実施の形態1に係る成膜装置を示す模式図である。 図2は、本発明の実施の形態1に係る成膜方法を示すフローチャートである。 図3は、本発明の実施の形態1に係る成膜装置の変形例1を示す模式図である。 図4は、チャンバ内に設ける整流部の別の例を示す模式図である。 図5は、本発明の実施の形態2に係る成膜装置を示す模式図である。 図6は、実施例及び比較例に係る試験片の特性を示すグラフである。
 以下、本発明を実施するための形態を、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、以下の実施の形態により本発明が限定されるものではない。また、以下の説明において参照する各図は、本発明の内容を理解し得る程度に形状、大きさ、及び位置関係を概略的に示してあるに過ぎない。即ち、本発明は各図で例示された形状、大きさ、及び位置関係のみに限定されるものではない。
(実施の形態1)
 図1は、本発明の実施の形態1に係る成膜装置の構成を示す模式図である。図1に示すように、実施の形態1に係る成膜装置100は、基材1の表面に原料の粉末2を吹き付けて堆積させることにより成膜を行う、所謂コールドスプレー装置であり、チャンバ10と、基材1を保持する保持部11と、粉末2を不活性ガスと共に噴射するスプレーノズル12と、該スプレーノズル12に粉末2を供給する粉末供給部13及び粉末用配管13aと、不活性ガスを加熱してスプレーノズル12に供給するガス加熱部(ガス供給部)14及びガス用配管14aと、スプレーノズル12を移動させる駆動部15と、駆動部15の動作を制御する制御部16とを備える。なお、図1においては、チャンバ10についてのみ、断面を示している。
 チャンバ10は、有底の柱状をなす容器10aと、容器10aの開口を覆う蓋部10bとを有する。容器10aの具体的形状は特に限定されず、実施の形態1においては、有底の円柱に、開口から外周に向かって延出するフランジを設けた形状をなしている。また、蓋部10bの形状は、容器10aの開口形状に応じて規定され、実施の形態1においては円盤形状をなしている。
 蓋部10bは、締結、接着、又は溶接等によりスプレーノズル12に取り付けられ、スプレーノズル12の図示しない支持機構により、3次元的に移動可能に支持されている。また、図1に示すように、基材1の成膜を行う際、蓋部10bは、容器10aの開口面10cから僅かに(少なくとも気体が通過できる程度)浮いた状態で、開口面10cと平行な面内で(図1においては水平方向に)移動可能に支持される。このとき、容器10aと蓋部10bとの間の隙間10dは、チャンバ10内の気体を外部に排出する排気口として機能する。
 蓋部10bの径は、成膜時に該蓋部10bを開口面10cと平行な面内で移動させた際にも、容器10aの開口が露出しないように、スプレーノズル12の可動範囲に応じて、容器10aの開口径よりも大きく設計されている。
 保持部11は、例えば容器10aの底部に設けられている。保持部11は、静電チャック等の保持機構を備え、基材1の成膜面1aをスプレーノズル12側に向けた状態で基材1を保持する。なお、図1においては、成膜面1aが平面をなす板状の基材1を示しているが、基材1の全体形状及び成膜面1aの形状は特に限定されず、成膜可能な面を有していれば良い。
 スプレーノズル12は、ガス加熱部14を介して供給された不活性ガスにより、粉末供給部13から供給された粉末2を加速し、例えば340m/s以上の超音速で噴射する。
 粉末供給部13及びガス加熱部14には、外部からヘリウム、アルゴン、窒素等の不活性ガスを圧縮した圧縮ガスが供給される。なお、粉末供給部13及びガス加熱部14には、圧縮ガスの供給量を調節する図示しないバルブがそれぞれ設けられている。
 粉末供給部13には、皮膜の原料となる金属又は合金の粉末2が収容されている。粉末供給部13は、粉末2を外部から供給される不活性ガスと共に、粉末用配管13aを介してスプレーノズル12に供給する。
 ガス加熱部14は、外部から供給される不活性ガスを所定の温度に加熱し、ガス用配管14aを介してスプレーノズル12に供給する。不活性ガスを加熱する温度は、例えば50℃以上であって、粉末2の種類に応じて、粉末2が溶融しない程度(例えば300℃~900℃程度)に設定される。
 駆動部15は、スプレーノズル12に設けられ、スプレーノズル12を蓋部10bと共に移動させる移動機構の一部である。なお、移動機構としては、公知の一般技術を適用することができ、図1においては、移動機構全体の記載を省略している。この駆動部15を動作させ、スプレーノズル12を容器10aの開口面10cと平行な面内で移動させることにより、スプレーノズル12から噴射される粉末2によって基材1の成膜面1aが走査される。制御部16は、このような駆動部15の動作を制御する。なお、スプレーノズル12の先端から始まる破線の矢印は、不活性ガスの流れを模式的に示している。
 次に、実施の形態1に係る成膜方法を説明する。図2は、実施の形態1に係る成膜方法を示すフローチャートである。
 まず、工程S1において、基材1をチャンバ10内に配置する。基材1の材料としては、銅、銅合金、亜鉛、亜鉛合金、アルミニウム、アルミニウム合金、マグネシウム、マグネシウム合金、ニッケル、ニッケル合金、鉄、鉄合金、チタン、チタン合金、クロム、クロム合金、ニオブ、ニオブ合金、モリブデン、モリブデン合金、銀、銀合金、錫、錫合金、タンタル、タンタル合金等の金属又は合金や、アルミナ、ジルコニア、イットリア、イットリア安定化ジルコニア等のセラミックス等、特に限定することなく用いることができる。なお、これらの材料によって形成された基材1に対し、予め表面処理を適宜施しておいても良い。チャンバ10内においては、基材1を保持部11に保持させて固定する。
 続く工程S2において、基材1に形成する皮膜の原料となる粉末2を、粉末供給部13に充填する。粉末2の種類は特に限定されず、皮膜の用途に応じて、銅、銅合金、亜鉛、亜鉛合金、アルミニウム、アルミニウム合金、マグネシウム、マグネシウム合金、ニッケル、ニッケル合金、鉄、鉄合金、チタン、チタン合金、クロム、クロム合金、ニオブ、ニオブ合金、モリブデン、モリブデン合金、銀、銀合金、錫、錫合金、タンタル、タンタル合金等の金属又は合金が適宜選択される。また、粉末2の平均粒径も、コールドスプレーが可能なサイズ(例えば5~100μm程度)であれば特に限定されない。
 続く工程S3において、成膜装置100を起動させる。それにより、粉末供給部13及びガス加熱部14への圧縮ガス(不活性ガス)の供給が開始され、粉末2及び加熱された不活性ガスがスプレーノズル12に供給される。スプレーノズル12において、粉末2は、圧縮された不活性ガスの超音速流の中に投入されて加速され、固相状態に保ったまま不活性ガスと共にスプレーノズル12から噴射される。
 それにより、チャンバ10内は、スプレーノズル12から噴射される不活性ガスにより大気が隙間10dから排出され、陽圧となる。このため、スプレーノズル12から噴射された不活性ガスは、図1の破線で示すように、基材1の表面に衝突した後、チャンバ10内を循環し、隙間10dからチャンバ10外に排出される。このとき、チャンバ10内は陽圧であるため、外部の大気がチャンバ10内に侵入することはない。
 ここで、スプレーノズル12に供給される不活性ガスの圧力は、1~5MPa程度とすることが好ましい。圧力をこの程度に調節することにより、早い段階で、チャンバ10内を不活性ガスによって陽圧にすることができると共に、後の工程S4において、基材1とその上に形成される皮膜との密着強度の向上を図ることができるからである。
 工程S4において、基材1に対して成膜を行う。即ち、スプレーノズル12から粉末2を噴射して成膜面1aに吹き付けつつ、スプレーノズル12を水平方向に移動させ、成膜面1aに粉末2を堆積させる。この際、チャンバ10内はスプレーノズル12から噴射された不活性ガスで満たされているため、成膜面1a上の皮膜が大気中の酸素に曝されることはなく、皮膜の酸化を抑制することができる。
 成膜面1a上に所望の厚さの皮膜を形成した後、成膜装置100を停止させる(工程S5)。その後、工程S6において、容器10aから蓋部10bを外し、基材1を取り出す。それにより、コールドスプレー法により形成された皮膜が得られる。なお、この後、別の基材を成膜装置100の保持部11に保持させ、引き続き成膜を行っても良い。
 以上説明したように、実施の形態1によれば、スプレーノズル12から噴射される不活性ガスによりチャンバ10内を満たして陽圧にすると共に、成膜を行うので、形成された皮膜が大気中の酸素に曝露されて酸化するのを抑制することができる。従って、皮膜内における接合強度や電気的性質等の物性値を向上させることが可能となる。
 また、実施の形態1によれば、チャンバ10内から大気を除去するための追加の装置(排気装置又はガス供給装置等)を設ける必要がないので、装置構成を簡素にすることができ、装置費用の上昇を抑えることができる。
 さらに、実施の形態1によれば、スプレーノズル12から噴射される不活性ガスによりチャンバ10内を陽圧にするので、基材1をチャンバ10内に配置した後、チャンバ10から大気を除去するための追加の作業(排気又はガス交換等)や待ち時間が不要となる。従って、基材1の交換が容易となり、効率良く成膜を行うことが可能となる。
(変形例1)
 次に、実施の形態1の変形例1について説明する。
 図3は、実施の形態1の変形例1に係る成膜装置を示す模式図である。図3に示す成膜装置110は、成膜装置100に対し、チャンバ10内において不活性ガスを整流する整流部17及びガス供給部18をさらに備える。
 整流部17は、筒状の部材の一端を内周側に湾曲させたものであり、容器10aの底部近傍に保持部11を囲むように設けられる。整流部17は、スプレーノズル12から噴射された不活性ガスの流れを、チャンバ10内を循環して隙間10dから排出されるように整える。
 ガス供給部18は、容器10aの底部近傍に設けられたガス噴出口18aを含み、チャンバ10内に不活性ガスを供給することにより、チャンバ10内を循環する不活性ガスの流れを形成する。このように容器10aの底部近傍から内壁面に沿わせるように不活性ガスを流すことで、チャンバ10内に不活性ガスを効率的に循環させることができる。
 このような整流部17及びガス供給部18を設けることにより、チャンバ10内に残留する大気の排出を早め、スプレーノズル12から噴射された不活性ガスによってチャンバ10内をいち早く満たすことができる。従って、基材1に形成された皮膜の酸化をより効果的に抑制することが可能となる。
 なお、成膜装置110においては、整流部17及びガス供給部18のいずれか一方のみを設けても良い。また、整流部17の形状及び配置は、上述した不活性ガスの流れを形成することができれば、図3に示す例に限定されない。整流部の別の例として、図4に示すように、板状部材の中心部を湾曲させて開口を形成したドーナツ状の整流部19を、容器10aの内壁側面の中ほどの高さに、つばのように設けても良い。ガス噴出口18aの位置や方向についても、上述した不活性ガスの流れを形成することができれば、図3に示す例に限定されない。
(変形例2)
 次に、実施の形態1の変形例2について説明する。
 上記実施の形態1においては、容器10aと蓋部10bとの間に設けた隙間10dを排気口としたが、排気口の形態は図1に示す例に限定されない。例えば、蓋部10bに開口を設け、これを排気口としても良い。或いは、容器10aの側面の上方に開口を設けて、これを排気口としても良い。これらの場合、蓋部10bを容器10aの開口面10c上に直接載置することができる。
(実施の形態2)
 次に、本発明の実施の形態2について説明する。
 図5は、本発明の実施の形態2に係る成膜装置を示す模式図である。図5に示すように、実施の形態2に係る成膜装置200は、図1に示すチャンバ10の代わりに、スプレーノズル12に取り付けられ、ベース20上に設けられたカバー部21を備える。
 なお、図5に示す保持部11、スプレーノズル12、粉末供給部13及び粉末用配管13a、ガス加熱部14及びガス用配管14a、駆動部15、及び制御部16の機能及び動作については、実施の形態1と同様である。また、図5においては、ベース20及びカバー部21についてのみ、断面を示している。さらに、図5においては、スプレーノズル12の支持機構及び移動機構全体の記載を省略し、移動機構のうち、スプレーノズル12に設けられた駆動部15のみを示している。
 実施の形態2において、保持部11はベース20上に直接設けられ、カバー部21は保持部11を覆うように配置される。カバー部21は、金属、セラミックス、ガラス、アクリル等の硬質部材(変形し難い部材)によって形成されていても良いし、ゴム、ポリエチレン等の柔軟部材(変形し易い部材)によって形成されていても良い。或いは、硬質部材と柔軟部材とを組み合わせてカバー部21を形成しても良い。例えば、金属等の硬質部材により骨組みを形成し、該骨組みをポリエチレンシート等の柔軟部材によって覆うことにより、カバー部21を形成することができる。
 カバー部21の上方(保持部11に保持される基材1よりも高い位置)には、1つ又は複数(図5においては2つ)の開口21aが設けられている。開口21aは、カバー部21内の気体を外部に排出する排気口として機能する。このようなカバー部21は、該カバー部21の素材に応じて、締結、接着、又は溶接等によりスプレーノズル12に取り付けられ、スプレーノズル12と共に移動する。
 成膜装置200において成膜を行う際には、基材1を保持部11に保持させ、スプレーノズル12から原料の粉末2及び不活性ガスを噴射する。それにより、カバー部21内が不活性ガスによって満たされ、陽圧となる。そして、基材1の成膜面1aに向けて粉末2を吹き付けつつ、スプレーノズル12をカバー部21と共にベース20と平行な面内で移動させ、成膜面1aに粉末2を堆積させる。その結果、成膜面1a上に形成された皮膜を酸素に曝すことなく、成膜を行うことができる。
 以上説明したように、実施の形態2によれば、スプレーノズル12に取り付けられたカバー部21によってチャンバを形成するので、成膜装置200の構成をより簡単にすることができる。例えば、一般的な構成を有するコールドスプレー装置にカバー部21を追加することにより、成膜装置200を実現することも可能である。
 なお、成膜装置200に対し、実施の形態1と同様に、整流部17やガス供給部18をさらに設けても良い。
 以上説明した実施の形態1及び2においては、基材1を固定し、スプレーノズル12を移動させることとしたが、一方を他方に対して移動させることができれば、基材1及びスプレーノズル12のいずれを移動させても良い。例えば、スプレーノズル12側を固定し、基材1側を移動させても良いし、両者を移動させても良い。
 以下、本発明の実施例を説明する。
 実施例として、実施の形態1に係る成膜装置100を用い、基材1上に純銅の皮膜を形成した。この際、スプレーノズル12における不活性ガスの圧力を変化させて、複数種類の皮膜を形成した。そして、これらの皮膜を切り出して2mm×2mm×40mmの試験片を作製し、4端子法により導電率を測定した。一方、比較例として、一般的なコールドスプレー装置を用い、大気中において純銅の皮膜を形成した。そして、実施例と同様に試験片を作製し、導電率を測定した。
 図6は、実施例及び比較例の試験片に対する測定結果を示すグラフである。図6において、横軸は不活性ガスの圧力(ガス圧力:MPa)を示し、縦軸は、アニール処理された純銅の導電率を基準とした各試験片の導電率(IACS:International Annealed Copper Standard:%)を示す。
 図6に示すように、実施例の場合、ガス圧力の大きさによらず、100%に近い導電率が得られた。これに対し、比較例の場合、ガス圧力を高くするほど導電率が上昇する傾向は見られたが、いずれの場合も、実施例の導電率には及ばなかった。
 1 基材
 1a 成膜面
 2 粉末
 10 チャンバ
 10a 容器
 10b 蓋部
 10c 開口面
 10d 隙間
 11 保持部
 12 スプレーノズル
 13 粉末供給部
 13a 粉末用配管
 14 ガス加熱部(ガス供給部)
 14a ガス用配管
 15 駆動部
 16 制御部
 17、19 整流部
 18 ガス供給部
 18a ガス噴出口
 20 ベース
 21 カバー部
 21a 開口
 100、110、200 成膜装置

Claims (11)

  1.  原料の粉末をガスと共に加速し、該粉末を固相状態に保ったまま基材の表面に吹き付けて堆積させることにより成膜を行う成膜方法であって、
     前記基材をチャンバ内に配置する基材配置工程と、
     前記粉末及び不活性ガスをノズルから前記基材に向けて噴射し、前記不活性ガスにより前記チャンバ内を陽圧にするとともに、前記基材の表面に前記粉末を堆積させて皮膜を形成する成膜工程と、
    を含むことを特徴とする成膜方法。
  2.  前記成膜工程は、前記不活性ガスを前記チャンバから排気しつつ行われることを特徴とする請求項1に記載の成膜方法。
  3.  前記成膜工程は、前記チャンバ内における前記不活性ガスを整流しつつ行われることを特徴とする請求項1又は2に記載の成膜方法。
  4.  前記ノズルとは別に、前記チャンバ内に不活性ガスを供給することにより、前記不活性ガスを整流することを特徴とする請求項3に記載の成膜方法。
  5.  原料の粉末をガスと共に加速し、該粉末を固相状態に保ったまま基材の表面に吹き付けて堆積させることにより成膜を行う成膜装置であって、
     チャンバと、
     前記チャンバ内に設けられ、前記基材を保持する保持部と、
     前記粉末を不活性ガスと共に噴射するノズルと、
     前記ノズルと前記保持部とのいずれか一方を他方に対して移動させる移動機構と、
    を備え、
     前記ノズルが噴射する前記不活性ガスにより、前記チャンバ内が陽圧になることを特徴とする成膜装置。
  6.  前記チャンバ内から気体を排出する排気部をさらに備えることを特徴とする請求項5に記載の成膜装置。
  7.  前記チャンバ内における前記不活性ガスを整流する整流機構をさらに備えることを特徴とする請求項5又は6に記載の成膜装置。
  8.  前記整流機構は、前記チャンバ内に不活性ガスを供給するガス供給部であることを特徴とする請求項7に記載の成膜装置。
  9.  前記整流機構は、前記チャンバ内に設置された整流部材であることを特徴とする請求項7に記載の成膜装置。
  10.  前記チャンバは、内部に前記保持部が設けられた容器と、前記ノズルに取り付けられた蓋部とを有することを特徴とする請求項5~9のいずれか1項に記載の成膜装置。
  11.  前記チャンバは、前記ノズルに取り付けられ、前記保持部を覆うカバーを有することを特徴とする請求項5~9のいずれか1項に記載の成膜装置。
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