WO2012057091A1 - セラミックス焼結体の製造方法、セラミックス焼結体およびセラミックスヒータ - Google Patents

セラミックス焼結体の製造方法、セラミックス焼結体およびセラミックスヒータ Download PDF

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智資 平野
俊洋 立川
淳一 宮原
年彦 花待
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NHK Spring Co Ltd
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Definitions

  • the present invention relates to a method for producing a ceramic sintered body, a ceramic sintered body, and a ceramic heater.
  • a ceramic heater in which a heating element is embedded in a heater plate made of ceramics is used to heat a wafer in a semiconductor manufacturing process such as CVD or etching.
  • a heat-resistant metal such as molybdenum is embedded in a ceramic substrate and molded, and then the molded ceramic substrate is heated and sintered at a high temperature.
  • a metal heating element embedded in the ceramic substrate is surrounded by a metal member made of the same material in a non-conductive state, the ceramic substrate in which the heating element is embedded is fired, and the metal member is moved to the heating element.
  • a technique for providing a ceramic heater having high heat uniformity by carbonizing or oxidizing in preference to the above has been disclosed (for example, see Patent Document 1).
  • Patent Document 1 has a problem that it takes time and effort to surround the heating element in a non-conductive state by a metal member.
  • the present invention has been made in view of the above, and is a ceramic sintered body that suppresses and stabilizes carbonization of a metal material embedded therein during sintering and prevents a decrease in metal conductivity. It aims at providing a manufacturing method, a ceramic sintered compact, and a ceramic heater.
  • a method for producing a ceramic sintered body according to the present invention includes a metal having a standard free energy of formation of metal carbide smaller than that of the refractory metal material on the surface of the refractory metal material.
  • a film forming step for forming a metal film made of a material, and the heat-resistant metal material on which the film has been formed in the film forming step is disposed at a predetermined position in the powder that is a raw material of the ceramic substrate, and is subjected to pressure molding
  • the refractory metal material is molybdenum or a molybdenum alloy, or a high melting point low thermal expansion metal selected from tungsten, a tungsten alloy, niobium, or a niobium alloy. It is characterized by being.
  • the method for producing a ceramic sintered body according to the present invention is characterized in that, in the above invention, the metal film is formed of titanium, aluminum, tantalum or zirconium.
  • the method for producing a ceramic sintered body according to the present invention is characterized in that, in the above invention, the ceramic base is aluminum nitride, silicon nitride or aluminum oxide.
  • the method for producing a ceramic sintered body of the present invention is characterized in that, in the above invention, the sintering temperature of the ceramic sintered body is 1300 to 2000 ° C.
  • the method for producing a ceramic sintered body according to the present invention is characterized in that, in the above invention, the thickness of the metal film is 0.10 to 10.0 ⁇ m.
  • the ceramic sintered body of the present invention is a metal film formed of a heat-resistant metal material and a metal material formed on the surface of the heat-resistant metal material and having a standard free energy of formation of metal carbide smaller than that of the heat-resistant metal material. And a heat-resistant metal material on which the metal film is formed are disposed at predetermined positions in the powder that is a raw material of the ceramic base, and a pre-ceramic comprising a pressure-molded ceramic molded body is sintered. The metal film is carbonized during the sintering to form a metal carbide film.
  • the refractory metal material is a high melting point low thermal expansion metal selected from molybdenum or a molybdenum alloy, tungsten or a tungsten alloy, or niobium or a niobium alloy. It is characterized by.
  • the ceramic sintered body of the present invention is characterized in that, in the above invention, the metal film is formed of titanium, aluminum, tantalum or zirconium.
  • the ceramic sintered body of the present invention is characterized in that, in the above invention, the ceramic base is aluminum nitride, silicon nitride or aluminum oxide.
  • the ceramic sintered body of the present invention is characterized in that, in the above invention, the sintering temperature of the ceramic sintered body is 1300 to 2000 ° C.
  • the ceramic sintered body of the present invention is characterized in that, in the above invention, the thickness of the metal film is 0.10 to 10.0 ⁇ m.
  • a ceramic heater according to the present invention includes the ceramic sintered body according to any one of the above.
  • a metal film made of a metal material having a standard free energy of formation of metal carbide smaller than the heat-resistant metal material is formed on the heat-resistant metal material, and the heat-resistant metal material having the metal film formed thereon is ceramics. Since the metal film reacts preferentially with the carbon in the ceramic by embedding in the material and press-molding and sintering the molded ceramic molded body, the carbonization of the heat-resistant metal material is suppressed and conductive In addition to preventing the deterioration of the heat resistance, even when the heat-resistant metal material is carbonized, the carbonization reaction can be stabilized and the non-uniform conductivity of the heat-resistant metal material can be suppressed. Play.
  • FIG. 1 is a plan view showing an example of wiring of a heater wire of a ceramic heater according to an embodiment of the present invention.
  • 2 is a cross-sectional view taken along the line AA of the ceramic heater of FIG. 3 is a partially enlarged cross-sectional view taken along the line BB of the ceramic heater of FIG.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view for explaining a manufacturing process of the ceramic heater according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating a manufacturing process of the ceramic heater according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view for explaining a manufacturing process of the ceramic heater according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 7 is a cross-sectional view illustrating a manufacturing process of the ceramic heater according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is a photograph showing a partial cross section of a ceramic heater according to a conventional example.
  • FIG. 9 is a photograph showing a partial cross section of the ceramic heater according to Example 1.
  • a ceramic heater 10 according to an embodiment of the present invention includes a disk-shaped heater plate 1 and a foil-shaped heater wire 2 embedded in the heater plate 1.
  • FIG. 1 is a plan view showing an example of wiring of heater wires of a ceramic heater 10 according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line AA of the ceramic heater 10 of FIG.
  • FIG. 3 is a partially enlarged sectional view taken along line BB of the ceramic heater 10 of FIG.
  • the heater plate 1 functions as a mounting plate for performing etching or film formation on a wafer in a semiconductor manufacturing process.
  • the heater plate 1 has a disk shape of about 200 to 500 mm depending on the shape of a workpiece such as a wafer.
  • As a material of the heater plate 1 aluminum nitride (AlN), silicon nitride (SiNx), aluminum oxide (Al 2 O 3 ), or the like is preferably used.
  • the heater plate 1 is sintered at a temperature corresponding to the material used and the sintering aid.
  • AlN aluminum nitride
  • SiNx silicon nitride
  • Al 2 O 3 aluminum oxide
  • the heater wire 2 is embedded in the heater plate 1 in a spiral shape as shown in FIG.
  • a heat-resistant metal material such as molybdenum or molybdenum alloy, tungsten or tungsten alloy, or niobium or niobium alloy is preferably used.
  • the heater wire 2 has a foil shape with a thickness (T) of 25 to 200 ⁇ m and a width (W) of 1 to 10 mm.
  • T thickness
  • W width
  • a linear or coil-shaped heater wire having a rectangular or circular cross section may be used.
  • a metal carbide film 4 is formed on the surface of the heater wire 2 as shown in FIG.
  • the metal carbide film 4 is formed by carbonizing a metal film 4 a (see FIG. 4) formed on the surface of the heater wire 2 by sintering the heater plate 1.
  • the standard generation free energy ( ⁇ G 0 MaC ) of the metal carbide (MaC) is the standard generation free energy ( ⁇ G) of the carbide (MbC) of the metal material (Mb) of the heater wire 2. 0 MbC ) smaller material.
  • the standard free energy of formation of the metal carbide that is the standard for selecting the material of the metal film 4a is the standard free energy of reaction in a predetermined temperature range. In the present embodiment, the determination is made based on the standard reaction free energy of the metal carbide in the vicinity of the sintering temperature of the heater plate 1.
  • a metal film 4a selected from a material in which the standard reaction free energy of the metal carbide near the sintering temperature is smaller than the standard reaction free energy of the metal carbide of the metal material of the heater wire 2 During the sintering, the metal film 4a reacts preferentially with the carbon contained in the heater plate 1 on the order of several ppm over the material of the heater wire 2, so that the metal carbide film 4 is formed.
  • carbonization of the metal that is the material of the heater wire 2 can be suppressed.
  • the carbide layer of the metal material is between the heater wire 2 and the metal carbide coating 4. Since it is formed substantially uniformly, it is possible to suppress the non-uniform conductivity of the heater wire 2 wired in the heater plate 1 and to prevent the temperature distribution of the ceramic heater 10 from occurring.
  • Titanium, aluminum, tantalum or zirconium is suitable as the metal film 4a, but calcium, chromium, vanadium, etc. can be used depending on the sintering temperature and the heater wire metal type.
  • titanium is preferably used as the metal film 4a.
  • the thickness of the metal film 4a is preferably 0.10 to 10.0 ⁇ m. This is because if the thickness is too thin, carbonization of the heater wire 2 cannot be effectively suppressed, and if the thickness is too thick, the influence due to the difference in thermal expansion during heating increases.
  • Electrode terminals 3 are connected to both ends of the heater wire 2.
  • the electrode terminal 3 is fixed to the heater plate 1 by brazing or the like. By applying a voltage to the electrode terminal 3 and passing a current through the heater wire 2, the heater wire 2 generates heat and heats the workpiece placed on the heater plate 1.
  • 4 to 7 are cross-sectional views illustrating the manufacturing process of the ceramic heater 10 according to the embodiment of the present invention.
  • a metal film 4a is formed on the surface of the heater wire 2 (see FIG. 4).
  • the metal film 4a is formed on the surface of the heater wire 2 by vapor deposition or sputtering.
  • the metal film 4a may be formed on the heater wire 2 by covering the heater wire 2 with two metal foils made of the material of the metal film 4a at the upper and lower sides and rolling and bonding them.
  • the metal film 4a may be formed on the surface of the heater wire 2 by a method such as thermal spraying.
  • the lower molded body 1a of the heater plate 1 is pressure-molded.
  • the lower molded body 1a is formed by filling a predetermined amount of ceramic powder, which is a raw material of the heater plate 1, into a mold and press-molding it.
  • the heater wire 2 on which the metal film 4a is formed is wired at a predetermined position.
  • a predetermined amount of ceramic powder is further filled on the lower molded body 1 a with the heater wire 2, and the upper molded body 1 b is pressure-molded with a mold. To form a ceramic molded body 1c.
  • the ceramic molded body 1c is sintered.
  • aluminum nitride used as the ceramic material, it is heated and compressed at 1600 to 2000 ° C. and 10 to 40 MPa for several hours in a nitrogen atmosphere.
  • the metal film 4 a formed on the surface of the heater wire 2 is preferentially molded to the metal material of the heater wire 2. It reacts with the carbon content in the body 1c to form a metal carbide film 4. Thereby, the electroconductive fall of the heater wire 2 can be prevented. Furthermore, even when the metal material of the heater wire 2 is carbonized by forming the metal carbide film 4, the carbonization of the metal material is stabilized, and the heater wire 2 wired in the heater plate is stabilized. Conductivity non-uniformity can be suppressed.
  • the heater plate 1 After sintering, the heater plate 1 is cut to form electrode terminals 3 for supplying electric power from the outside.
  • the method for manufacturing a ceramic sintered body and the ceramic sintered body of the present invention are ceramic products in which a conductive metal is embedded, for example, a stage having an electrostatic chuck function. It can also be used for ceramic stages and the like incorporating a high-frequency electrode such as a plasma etching apparatus or a plasma CVD apparatus.
  • Aluminum nitride is used as the material of the heater plate 1.
  • a heater wire 2 having a size of 2 mm ⁇ 6700 mm ⁇ 75 ⁇ m was formed from a pure molybdenum metal foil, and a metal film 4 a made of titanium having a thickness of 1 ⁇ m was formed on the surface of the heater wire 2 by sputtering.
  • the heater wire 2 on which the metal film 4a is formed is wired at a predetermined position in the heater plate 1, press-molded, and sintered (sintering temperature 1800 ° C., pressure 20 MPa, 6 hours). Manufactured.
  • FIG. 8 is a photograph showing a partial cross section of the ceramic heater according to Conventional Example 1.
  • FIG. 9 is a photograph showing a partial cross section of the ceramic heater 10 according to the first example.
  • the heater wire 2 having a size of 2 mm ⁇ 6700 mm ⁇ 75 ⁇ m is formed from a metal foil of aluminum nitride and pure molybdenum as the material of the heater plate 1, and the heater wire 2 is wired at a predetermined position in the heater plate 1.
  • the titanium metal film 4a is formed on the surface of the molybdenum heater wire 2 by pressure molding and sintering (sintering temperature 1800 ° C., pressure 20 MPa, 6 hours). The only difference is that it is not formed.
  • Table 1 shows the electrical resistance values of the heater wires 2 of Example 1 and Conventional Example 1.
  • Reference Example 1 in Table 1 is an electrical resistance value of the heater wire 2 measured before sintering the ceramic heater of Example 1.
  • the electrical resistance value which was 2.1 ⁇ before sintering, increased to 4.0 ⁇ (90% increase) after sintering, whereas in Example 1, after sintering, It can be seen that the increase is 2.9 ⁇ (38% increase), which is greatly suppressed.
  • the metal film 4a is formed on the surface of the heater wire 2 made of molybdenum by titanium having a standard free energy of formation of metal carbide near the sintering temperature (1800 ° C.) of the ceramic heater, which is smaller than molybdenum carbide. An increase in the electric resistance value of the ceramic heater 10 formed and sintered can be significantly suppressed.
  • the method for manufacturing a ceramic sintered body, the ceramic sintered body, and the ceramic heater according to the present invention can be used in a semiconductor manufacturing apparatus, and is particularly suitable for manufacturing a high-quality wafer.
  • Heater Plate 1 Heater Plate 2 Heater Wire 3 Electrode Terminal 4a Metal Film 4 Metal Carbide Film 5 Molybdenum Carbide 10 Ceramic Heater

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Abstract

　焼結の際に内部に埋設された耐熱性金属材料の炭化を抑制して、耐熱性金属材料の導電性の低下を防止するセラミックス焼結体の製造方法、セラミックス焼結体およびセラミックスヒータを提供する。本発明のセラミックス焼結体は、耐熱性金属材料からなるヒータ線２と、ヒータ線２の表面に形成され、金属炭化物の標準生成自由エネルギーがヒータ線２を形成する材料よりも小さい金属材料からなる金属皮膜と、金属皮膜が形成されたヒオータ線２をセラミックス基体の原材料である粉体中の所定の位置に配設し、加圧成型されたセラミックス成型体と、を備えるプレセラミックスを焼結して形成され、前記焼結時に金属皮膜が炭化されて金属炭化物皮膜４が形成されている。

Description

セラミックス焼結体の製造方法、セラミックス焼結体およびセラミックスヒータ
　本発明は、セラミックス焼結体の製造方法、セラミックス焼結体およびセラミックスヒータに関する。
　従来、半導体の製造プロセス、例えば、ＣＶＤやエッチング等の処理において、ウエハを加熱するために、セラミックスからなるヒータプレート中に発熱体を埋設したセラミックスヒータが使用されている。該セラミックスヒータは、発熱体として、耐熱性を有するモリブデン等の金属をセラミックス基体中に埋設して成型した後、成型したセラミックス基体を高温で加熱焼結しているが、焼結時に埋設金属が粉末中の炭素分と反応して炭化されることにより、不均一に導電性が低下し、ヒータプレートに温度分布が生じるという問題を有していた。
　これに対し、セラミックス基体に埋設する金属製の発熱体を、同じ材料からなる金属部材で非導通の状態で取り囲み、該発熱体を埋設したセラミックス基体を焼成して、前記金属部材を前記発熱体に優先して炭化または酸化させることにより、高い均熱性を有するセラミックスヒータを提供する技術が開示されている（例えば、特許文献1参照）。
特開２００９－２９５９６０号公報
　しかしながら、特許文献１に記載の技術では、発熱体を金属部材により非導通の状態で取り囲むのに手間がかかるという問題を有する。
　本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、焼結の際に内部に埋設された金属材料の炭化を抑制および安定化して、金属の導電性の低下を防止するセラミックス焼結体の製造方法、セラミックス焼結体およびセラミックスヒータを提供することを目的とする。
　上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明のセラミックス焼結体の製造方法は、耐熱性金属材料の表面に、金属炭化物の標準生成自由エネルギーが該耐熱性金属材料より小さい金属材料からなる金属皮膜を形成する皮膜形成ステップと、前記皮膜形成ステップで皮膜を形成した前記耐熱性金属材料を、セラミックス基体の原材料である粉体中の所定の位置に配設し、加圧成型してセラミックス成型体を成型する成型ステップと、前記成型ステップで成型したセラミックス成型体を焼結してセラミックス焼結体を生成する焼結ステップと、を含むことを特徴とする。
　また、本発明のセラミックス焼結体の製造方法は、上記発明において、前記耐熱性金属材料は、モリブデンもしくはモリブデン合金、またはタングステンもしくはタングステン合金、ニオブもしくはニオブ合金から選択される高融点低熱膨張金属であることを特徴とする。
　また、本発明のセラミックス焼結体の製造方法は、上記発明において、前記金属皮膜は、チタン、アルミニウム、タンタルまたはジルコニウムから形成されることを特徴とする。
　また、本発明のセラミックス焼結体の製造方法は、上記発明において、前記セラミックス基体は、窒化アルミニウム、窒化珪素または酸化アルミニウムであることを特徴とする。
　また、本発明のセラミックス焼結体の製造方法は、上記発明において、前記セラミックス焼結体の焼結温度は、１３００～２０００℃であることを特徴とする。
　また、本発明のセラミックス焼結体の製造方法は、上記発明において、前記金属皮膜の厚さは０．１０～１０．０μｍであることを特徴とする。
　また、本発明のセラミックス焼結体は、耐熱性金属材料と、前記耐熱性金属材料の表面に形成され、金属炭化物の標準生成自由エネルギーが前記耐熱性金属材料よりも小さい金属材料からなる金属皮膜と、前記金属皮膜が形成された耐熱性金属材料をセラミックス基体の原材料である粉体中の所定の位置に配設し、加圧成型されたセラミックス成型体と、を備えるプレセラミックスを焼結して形成され、前記焼結時に前記金属皮膜が炭化されて金属炭化物皮膜が形成されることを特徴とする。
　また、本発明のセラミックス焼結体は、上記発明において、前記耐熱性金属材料は、モリブデンもしくはモリブデン合金、またはタングステンもしくはタングステン合金、またはニオブもしくはニオブ合金から選択される高融点低熱膨張金属であることを特徴とする。
　また、本発明のセラミックス焼結体は、上記発明において、前記金属皮膜は、チタン、アルミニウム、タンタルまたはジルコニウムから形成されることを特徴とする。
　また、本発明のセラミックス焼結体は、上記発明において、前記セラミックス基体は、窒化アルミニウム、窒化珪素または酸化アルミニウムであることを特徴とする。
　また、本発明のセラミックス焼結体は、上記発明において、前記セラミックス焼結体の焼結温度は、１３００～２０００℃であることを特徴とする。
　また、本発明のセラミックス焼結体は、上記発明において、前記金属皮膜の厚さは０．１０～１０．０μｍであることを特徴とする。
　また、本発明のセラミックスヒータは、上記のいずれかひとつに記載のセラミックス焼結体を備えることを特徴とする。
　本発明によれば、耐熱性金属材料に、金属炭化物の標準生成自由エネルギーが該耐熱性金属材料より小さい金属材料からなる金属皮膜を形成し、該金属皮膜を形成した耐熱性金属性材料をセラミックス材料内に埋設して加圧成型し、成型したセラミックス成型体を焼結することにより、該金属皮膜がセラミックス中の炭素と優先的に反応するため、耐熱性金属材料の炭化を抑制して導電性の低下を防止するとともに、前記耐熱性金属材料が炭化された場合であっても、その炭化反応を安定化して耐熱性金属材料の導電性の不均一化を抑制することができるという効果を奏する。
図１は、本発明の実施の形態にかかるセラミックスヒータのヒータ線の配線の一例を示す平面図である。 図２は、図１のセラミックスヒータのＡ－Ａ線の断面図である。 図３は、図１のセラミックスヒータのＢ－Ｂ線の一部拡大断面図である。 図４は、本発明の実施の形態にかかるセラミックスヒータの製造工程を説明する断面図である。 図５は、本発明の実施の形態にかかるセラミックスヒータの製造工程を説明する断面図である。 図６は、本発明の実施の形態にかかるセラミックスヒータの製造工程を説明する断面図である。 図７は、本発明の実施の形態にかかるセラミックスヒータの製造工程を説明する断面図である。 図８は、従来例にかかるセラミックスヒータの一部断面を示す写真である。 図９は、実施例１にかかるセラミックスヒータの一部断面を示す写真である。
　以下に、本発明の実施の形態にかかるセラミックス焼結体の製造方法、セラミックス焼結体およびセラミックスヒータについて、図面を参照しながら詳細に説明する。図面において、同一部分には同一の符号を付している。なお、図面は模式的なものであり、部位の寸法および厚みとの関係や、各部位の寸法および厚みの比率は現実のものと異なることに留意すべきである。
　本発明の実施の形態にかかるセラミックスヒータ１０は、円盤状のヒータプレート１と、ヒータプレート１に埋設された箔状のヒータ線２と、を備えている。図１は、本発明の実施の形態にかかるセラミックスヒータ１０のヒータ線の配線の一例を示す平面図である。図２は、図１のセラミックスヒータ１０のＡ－Ａ線の断面図である。図３は、図１のセラミックスヒータ１０のＢ－Ｂ線の一部拡大断面図である。
　ヒータプレート１は、半導体製造工程において、ウエハにエッチングまたは成膜等をするための載置板として機能する。ヒータプレート１は、ウエハなどのワークの形状に応じて、２００～５００ｍｍ程度の円盤形状をなす。ヒータプレート１の材料としては、窒化アルミニウム（ＡｌＮ）、窒化珪素（ＳｉＮｘ）、酸化アルミニウム（Ａｌ２Ｏ３）などが好適に使用される。ヒータプレート１は、使用する材料および焼結助剤に応じた温度で焼結され、例えば、窒化アルミニウム（ＡｌＮ）は１６００～２０００℃、窒化珪素（ＳｉＮｘ）は１６００～２０００℃、酸化アルミニウム（Ａｌ２Ｏ３）は１３００～１６００℃でそれぞれ焼結される。
　ヒータ線２は、図１に示すようにヒータプレート１内に渦巻状に配線されて埋設されている。ヒータ線２には、耐熱性の金属材料、例えば、モリブデンもしくはモリブデン合金、タングステンもしくはタングステン合金、またはニオブもしくはニオブ合金から選択される高融点低熱膨張金属が好適に使用される。ヒータ線２は、厚さ（Ｔ）が２５～２００μｍ、幅（Ｗ）が１～１０ｍｍの箔状をなす。しかしながら、箔状の他に断面が矩形、または円形をなす線状やコイル状のヒータ線の使用も可能である。
　ヒータ線２の表面には、図３に示すように金属炭化物皮膜４が形成されている。金属炭化物皮膜４は、ヒータ線２の表面に形成された金属皮膜４ａ（図４参照）が、ヒータプレート１の焼結により炭化されて形成される。金属皮膜４ａの材料（Ｍａ）は、金属炭化物（ＭａＣ）の標準生成自由エネルギー（△Ｇ０ ＭａＣ）が、ヒータ線２の金属材料（Ｍｂ）の炭化物（ＭｂＣ）の標準生成自由エネルギー（△Ｇ０ ＭｂＣ）より小さい材料から選択される。
　金属皮膜４ａの材料選定の基準となる金属炭化物の標準生成自由エネルギーは、所定の温度範囲における標準反応自由エネルギーを使用する。本実施の形態では、ヒータプレート１の焼結温度近傍における金属炭化物の標準反応自由エネルギーを基準として判断する。焼結温度近傍における金属炭化物の標準反応自由エネルギーが、ヒータ線２の金属材料の金属炭化物の標準反応自由エネルギーよりも小さい材料から選択される金属皮膜４ａをヒータ線２の表面に形成することにより、焼結時に金属皮膜４ａがヒータ線２の材料より優先的にヒータプレート１内に数ｐｐｍのオーダーで含有される炭素と反応して金属炭化物皮膜４が形成される。金属皮膜４ａをヒータ線２の表面に形成することにより、ヒータ線２の材料である金属の炭化を抑制できる。さらにまた、金属皮膜４ａによりトラップしきれなかった炭素によりヒータ線２の金属材料が炭化された場合であっても、その金属材料の炭化物層は、ヒータ線２と金属炭化物皮膜４との間に略均一に形成されるため、ヒータプレート１内に配線されるヒータ線２の導電性の不均一化を抑制して、セラミックスヒータ１０の温度分布の発生を防止することができる。
　金属皮膜４ａとして、チタン、アルミニウム、タンタルまたはジルコニウムが適しているが焼結温度やヒータ線金属種によっては、カルシウム、クロム、バナジウムなども用いる事が出来る。ヒータ線２としてモリブデンまたはモリブデン合金を使用する場合、金属皮膜４ａとしてはチタンが好適に使用される。金属皮膜４ａの厚さは、０．１０～１０．０μｍとすることが好ましい。薄くしすぎると、ヒータ線２の炭化を効果的に抑制することができず、また厚くしすぎると、加熱時の熱膨張差による影響が大きくなるためである。
　ヒータ線２の両端には、電極端子３が接続される。電極端子３は、ヒータプレート１にろう付け等により固定される。電極端子３に電圧を印加して、ヒータ線２に電流を流すことにより、ヒータ線２が発熱し、ヒータプレート１に載置されたワークを加熱する。
　次に、本実施の形態にかかるセラミックスヒータ１０の製造方法について説明する。図４～図７は、本発明の実施の形態にかかるセラミックスヒータ１０の製造工程を説明する断面図である。
　まず、ヒータ線２の表面に金属皮膜４ａを形成する（図４参照）。金属皮膜４ａは、蒸着やスパッタリング等によりヒータ線２の表面に形成される。または、金属皮膜４ａの材料からなる２枚の金属箔でヒータ線２を上下で覆い、圧延接着することによりヒータ線２に金属皮膜４ａを形成してもよい。または溶射等の方法でヒータ線２の表面に金属皮膜４ａを形成しても良い。
　ヒータプレート１は、まず、下部成型体１ａが加圧成型される。下部成型体１ａは、ヒータプレート１の原料であるセラミックス粉体を、所定量金型に充填して加圧成型して形成する。
　次に、図５に示すように、成型した下部成型体１ａ上に、金属皮膜４ａを形成したヒータ線２を所定の位置に配線する。
　ヒータ線２を配線後、図６に示すように、ヒータ線２を配線した下部成型体１ａ上に、さらに所定量のセラミックス粉体を充填し、金型で加圧成型して上部成型体１ｂを成型して、セラミックス成型体１ｃを形成する。
　続いて、図７に示すように、セラミックス成型体１ｃを焼結する。セラミックス原料として、窒化アルミニウムを使用する場合には、窒素雰囲気中、１６００～２０００℃、１０～４０ＭＰａで数時間加熱圧縮して行う。
　セラミックス成型体１ｃを焼結して、セラミックス焼結体であるヒータプレート１を形成する際、ヒータ線２の表面に形成された金属皮膜４ａは、ヒータ線２の金属材料に優先してセラミックス成型体１ｃ中の炭素分と反応し、金属炭化物皮膜４を形成する。これにより、ヒータ線２の導電性の低下を防止することができる。さらに、金属炭化物皮膜４が形成されることにより、ヒータ線２の金属材料が炭化される場合であっても、該金属材料の炭化を安定化して、ヒータプレート内に配線されるヒータ線２の導電性の不均一化を抑制することができる。
　焼結後、ヒータプレート１を切削加工して、外部から電力を供給するための電極端子３を形成する。
　以上、本実施の形態ではセラミックスヒータについて説明したが、本発明のセラミックス焼結体の製造方法およびセラミックス焼結体は、導電性金属を埋設したセラミックス製品、たとえば、静電チャック機能を備えたステージや、プラズマエッチング装置やプラズマＣＶＤ装置などの高周波電極を内蔵するセラミックス製のステージ等にも使用することができる。
　本実施の形態にかかるセラミックスヒータ１０の性能を確認するために、以下の試験を行った。ヒータプレート１の材料として窒化アルミニウムを使用する。純モリブデンの金属箔から２ｍｍ×６７００ｍｍ×７５μｍのサイズのヒータ線２を形成し、このヒータ線２の表面に１μｍの厚さのチタンを材料とする金属皮膜４ａをスパッタリングにより形成した。金属皮膜４ａを形成したヒータ線２をヒータプレート１内の所定の位置に配線し、加圧成型し、焼結（焼結温度１８００℃、圧力２０ＭＰａ、６時間）してセラッミックスヒータ１０を製造した。
　図８は、従来例１にかかるセラミックスヒータの一部断面を示す写真である。図９は、実施例１にかかるセラミックスヒータ１０の一部断面を示す写真である。従来例１は、ヒータプレート１の材料は窒化アルミニウム、純モリブデンの金属箔から２ｍｍ×６７００ｍｍ×７５μｍのサイズのヒータ線２を形成し、該ヒータ線２をヒータプレート１内の所定の位置に配線し、加圧成型し、焼結（焼結温度１８００℃、圧力２０ＭＰａ、６時間）して製造したものであり、実施例１とは、モリブデンのヒータ線２の表面にチタンの金属皮膜４ａを形成してない点のみ異なる。
　図８に示すように、ヒータ線２の表面に金属皮膜４ａが形成されない従来例１では、炭化モリブデン５が、ヒータ線２内に不均一に形成されている。これに対し、実施例１にかかるセラミックスヒータ１０は、図９に示すように、ヒータ線２と金属炭化物皮膜４（炭化チタン）との間に、略均一に炭化モリブデン５が形成され、炭化モリブデン５が生成する割合も従来例１よりも小さくなっていることがわかる。
　また、表１に実施例１と従来例１のヒータ線２の電気抵抗値を示す。表１の参考例１は、実施例１のセラミックスヒータを焼結する前に測定したヒータ線２の電気抵抗値である。表１に示すように、従来例１では、焼結前２．１Ωであった電気抵抗値が焼結後４．０Ω（９０％上昇）まで増加するのに対し、実施例１では焼結後２．９Ω（３８％上昇）と、その増加が大幅に抑制されていることがわかる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
　実施例１に示すように、モリブデンからなるヒータ線２の表面に、セラミックスヒータの焼結温度（１８００℃）近傍での金属炭化物の標準生成自由エネルギーが、炭化モリブデンより小さいチタンにより金属皮膜４ａを形成して焼結したセラミックスヒータ１０の電気抵抗値の上昇を大幅に抑制することができる。
　以上のように、本発明のセラミックス焼結体の製造方法、セラミックス焼結体およびセラミックスヒータは、半導体製造装置に使用可能であり、特に、高品質なウエハを製造するのに適している。
　１　ヒータプレート
　２　ヒータ線
　３　電極端子
　４ａ　金属皮膜
　４　金属炭化物皮膜
　５　炭化モリブデン
　１０　セラミックスヒータ

Claims (13)

  1. 　耐熱性金属材料の表面に、金属炭化物の標準生成自由エネルギーが該耐熱性金属材料より小さい金属材料からなる金属皮膜を形成する皮膜形成ステップと、
    　前記皮膜形成ステップで皮膜を形成した前記耐熱性金属材料を、セラミックス基体の原材料である粉体中の所定の位置に配設し、加圧成型してセラミックス成型体を成型する成型ステップと、
    　前記成型ステップで成型したセラミックス成型体を焼結してセラミックス焼結体を生成する焼結ステップと、
    　を含むことを特徴とするセラミックス焼結体の製造方法。
  2. 　前記耐熱性金属材料は、モリブデンもしくはモリブデン合金、タングステンもしくはタングステン合金、ニオブもしくはニオブ合金から選択される高融点低熱膨張金属であることを特徴とする請求項１に記載のセラミックス焼結体の製造方法。
  3. 　前記金属皮膜は、チタン、アルミニウム、タンタルまたはジルコニウムから形成されることを特徴とする請求項１に記載のセラミックス焼結体の製造方法。
  4. 　前記セラミックス基体は、窒化アルミニウム、窒化珪素または酸化アルミニウムであることを特徴とする請求項１に記載のセラミックス焼結体の製造方法。
  5. 　前記セラミックス焼結体の焼結温度は、１３００～２０００℃であることを特徴とする請求項１に記載のセラミックス焼結体の製造方法。
  6. 　前記金属皮膜の厚さは０．１０～１０．０μｍであることを特徴とする請求項１～５のいずれか一つに記載のセラミックス焼結体の製造方法。
  7. 　耐熱性金属材料と、
    　前記耐熱性金属材料の表面に形成され、金属炭化物の標準生成自由エネルギーが前記耐熱性金属材料よりも小さい金属材料からなる金属皮膜と、
    　前記金属皮膜が形成された耐熱性金属材料をセラミックス基体の原材料である粉体中の所定の位置に配設し、加圧成型されたセラミックス成型体と、
    　を備えるプレセラミックスを焼結して形成され、前記焼結時に前記金属皮膜が炭化されて金属炭化物皮膜が形成されることを特徴とするセラミックス焼結体。
  8. 　前記耐熱性金属材料は、モリブデンもしくはモリブデン合金、タングステンもしくはタングステン合金、ニオブもしくはニオブ合金から選択される高融点低熱膨張金属であることを特徴とする請求項７に記載のセラミックス焼結体。
  9. 　前記金属皮膜は、チタン、アルミニウム、タンタルまたはジルコニウムから形成されることを特徴とする請求項７に記載のセラミックス焼結体。
  10. 　前記セラミックス基体は、窒化アルミニウム、窒化珪素または酸化アルミニウムであることを特徴とする請求項７に記載のセラミックス焼結体。
  11. 　前記セラミックス焼結体の焼結温度は、１３００～２０００℃であることを特徴とする請求項７に記載のセラミックス焼結体。
  12. 　前記金属皮膜の厚さは０．１０～１０．０μｍであることを特徴とする請求項７～１１のいずれか一つに記載のセラミックス焼結体。
  13. 　請求項７～１２のいずれか一つに記載のセラミックス焼結体を備えることを特徴とするセラミックスヒータ。
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