WO2011162203A1 - 太陽電池 - Google Patents

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Abstract

 第1導電型不純物を含むシリコン基板(2)の受光面側に設けられた第2導電型不純物を含む拡散領域(4)が、第1拡散領域(5)と、第2拡散領域(6)とを有し、第2拡散領域(6)の表面は、第1拡散領域(5)の表面よりも第2導電型不純物の濃度が高く、第2拡散領域(6)は互いに離れて配置されており、受光面電極(8)は複数の第2拡散領域(6)と接続されている太陽電池(1)である。

Description

太陽電池
 本発明は、太陽電池に関し、特に、太陽電池の受光面側の構造に関する。
 太陽電池は、太陽エネルギから電気エネルギに直接変換する素子である。また、太陽電池は、環境と調和し易く、太陽エネルギがエネルギ源であることから、そのエネルギ源は無限にあると言うことができる。さらに、太陽電池は、寿命が長いという長所も有している。太陽電池には、結晶シリコン太陽電池や化合物太陽電池などがある。
 図9は、従来の非特許文献1(Thomas Lauermann et al. "INSECT: AN INLINE SELECTIVE EMITTER CONCEPT WITH HIGH EFFICIENCIES AT COMPETITIVE PROCESS COSTS IMPROVED WITH INKJET MASKING TECHNOLOGY.", 24th EU PVSEC Hamburg, September 21-25, 2009)に記載の太陽電池を受光面側から見たときの模式的な平面図であり、図10は、図9のX-Xに沿った模式的な断面図である。図9に示すように、太陽電池201の受光面には、サブグリッド電極210と、サブグリッド電極210と交差するメイングリッド電極211とからなる受光面電極208が形成されている。また、太陽電池201の受光面には、反射防止膜207が形成されている。
 また、図10に示すように、太陽電池201のp型シリコン基板202の受光面にはテクスチャ構造である凹凸構造203が形成されており、p型シリコン基板202の受光面全面にn型不純物拡散領域204が形成されている。
 n型不純物拡散領域204は、n型不純物第1拡散領域205と、n型不純物第2拡散領域206とを有しており、n型不純物第1拡散領域205の表面のn型不純物濃度は、n型不純物第2拡散領域206の表面のn型不純物濃度と比べて低くなっている。
 また、n型不純物拡散領域204の受光面は、反射防止膜207で覆われており、n型不純物第2拡散領域206と接するようにしてサブグリッド電極210が形成されている。p型シリコン基板202の受光面と反対側の面である裏面には裏面電極209が形成されている。
 n型不純物拡散領域204は、p型シリコン基板202の受光面にn型不純物をドーピングすることによって形成されている。このとき、受光面電極208とn型不純物拡散領域204との接触抵抗を低くする観点からは、n型不純物拡散領域204のn型不純物濃度は高い方が好ましい。
 一方、太陽電池201の受光面における電子と正孔との再結合を低減する観点からは、n型不純物拡散領域204のn型不純物濃度は低い方が好ましい。
 すなわち、n型不純物拡散領域204のn型不純物濃度を低くしすぎた場合には受光面電極208とn型不純物拡散領域204との接触抵抗の増加、すなわち直列抵抗の増加を招くことになる。一方、n型不純物拡散領域204のn型不純物濃度の低下が不十分である場合には、太陽電池201の受光面における電子と正孔との再結合を低減する効果が低下することになる。
 そのため、n型不純物拡散領域204のうち、受光面電極208に接する領域であるn型不純物第2拡散領域206のn型不純物濃度を、その以外の領域であるn型不純物第1拡散領域205よりも高くすることによって、受光面電極208とn型不純物第2拡散領域206との接触抵抗を低く抑えつつ、n型不純物第1拡散領域205における電子と正孔との再結合を低減した太陽電池201を得ている。
 また、非特許文献1には、フォトリソグラフィなどの複雑な工程を要しない簡易な方法で、上記の太陽電池201を製造する方法を開示している。
 図11(a)~(f)に、従来の非特許文献1に記載の太陽電池201の製造方法を図解する模式的な断面図を示す。以下、図11(a)~(f)を参照して、従来の非特許文献1に記載の太陽電池201の製造方法について説明する。
 まず、図11(a)に示すように、p型シリコン基板202の受光面となる側の表面(以下、「受光面」という。)に凹凸構造203を形成する。
 次に、図11(b)に示すように、POCl3を用いた気相拡散により、p型シリコン基板202の受光面にリンを拡散させ、n型不純物拡散領域204を形成する。n型不純物拡散領域204は不純物拡散層であるため、p型シリコン基板202の受光面から内部に進むにしたがって次第にリン濃度が低下する濃度勾配が形成される。
 次に、図11(c)に示すように、p型シリコン基板202の受光面の凹凸構造203の受光面電極208が配置される領域に耐酸マスク251を形成する。
 次に、図11(d)に示すように、p型シリコン基板202の受光面側をエッチングする。これにより、耐酸マスク251で保護されていない部分のn型不純物拡散領域204がエッチングされてn型不純物第1拡散領域205が形成される。このとき、耐酸マスク251で保護された部分のn型不純物拡散領域204はエッチングされないことから、n型不純物第1拡散領域205の表面に比べてシート抵抗の低い表面を有するn型不純物第2拡散領域206が形成される。これは、上述したように、p型シリコン基板202の受光面から内部に進むにしたがって次第にリン濃度が低下する濃度勾配が形成されるためである。
 次に、図11(e)に示すように、p型シリコン基板202の受光面から耐酸マスク251を除去し、p型シリコン基板202の受光面に窒化シリコン膜からなる反射防止膜207を形成する。
 次に、図11(f)に示すように、反射防止膜207の一部を除去して露出したn型不純物第2拡散領域206に接するように受光面電極208を形成するとともに、p型シリコン基板202の裏面に裏面電極209を形成することによって太陽電池201が形成される。
 図12(a)に、従来の非特許文献1に記載の太陽電池201の受光面に形成された反射防止膜207を除去してp型シリコン基板202を受光面側から見たときの模式的な平面図を示し、図12(b)に、図12(a)に示すサブグリッド電極210の端部近傍の模式的な拡大平面図を示す。
 図12(a)および図12(b)に示すように、n型不純物第2拡散領域206と受光面電極208とは同一の平面形状を有しているが、n型不純物第2拡散領域206の面積は、受光面電極208の形成面積よりも大きく、受光面電極208は、n型不純物第2拡散領域206内に形成されている。
 上述したように、非特許文献1の太陽電池201の製造方法においては、n型不純物であるリンをp型シリコン基板202の受光面に1回の拡散工程で拡散することによって、n型不純物第1拡散領域205とn型不純物第2拡散領域206とを形成している。
 しかしながら、非特許文献1の太陽電池201の製造方法においては、受光面電極208の形成時にn型不純物第2拡散領域206に対する受光面電極208の位置ずれが生じ、受光面電極208がn型不純物第2拡散領域206上に形成されず、直列抵抗が増大し、変換効率が低下するという問題があった。
 上記の事情に鑑みて、本発明の目的は、受光面電極の位置ずれによる変換効率の低下を抑止することができる太陽電池を提供することにある。
 本発明の一態様によれば、第1導電型不純物を含むシリコン基板と、シリコン基板の受光面側に設けられた第2導電型不純物を含む拡散領域と、拡散領域の受光面側に設けられた受光面電極と、を含み、拡散領域は、第1拡散領域と第2拡散領域を有し、第2拡散領域の表面は、第1拡散領域の表面よりも、第2導電型不純物の濃度が高く、第2拡散領域は、互いに離れて配置されており、受光面電極は、複数の第2拡散領域と接続している、太陽電池である。
 ここで、本発明の太陽電池の一態様によれば、受光面電極は、メイングリッド電極とサブグリッド電極とからなり、サブグリッド電極が複数の第2拡散領域と接続されていてもよい。
 また、本発明の太陽電池の一態様によれば、サブグリッド電極は、メイングリッド電極と交差していてもよい。
 また、本発明の太陽電池の一態様によれば、第2拡散領域は矩形状であってもよい。
 また、本発明の太陽電池の一態様によれば、サブグリッド電極の長手方向における第2拡散領域の長さをXとし、サブグリッド電極の長手方向において第2拡散領域のピッチをYとし、第2拡散領域の交差率Zが以下の式(I)により表わされるとき、第2拡散領域の交差率Zが20%以下であってもよい。
 交差率Z(%)=100×X/Y …(I)
 また、本発明の太陽電池の一態様によれば、第2拡散領域は、サブグリッド電極の長手方向に突出した凸部を有してもよい。
 本発明の一態様によれば、第1導電型不純物を含むシリコン基板と、シリコン基板の受光面側に設けられた第2導電型不純物を含む拡散領域と、拡散領域の受光面側に設けられた受光面電極と、を含み、拡散領域は、第1拡散領域と第2拡散領域を有し、第2拡散領域の表面は、第1拡散領域の表面よりも、第2導電型不純物の濃度が高く、受光面電極は、メイングリッド電極と、サブグリッド電極とからなり、第2拡散領域は、サブグリッド電極と接する領域を有し、第2拡散領域は、サブグリッド電極の長手方向と直交する方向に突出した凸部を有する太陽電池である。
 また、本発明の太陽電池の一態様によれば、サブグリッド電極は、メイングリッド電極と交差していてもよい。
 さらに、本発明の太陽電池の一態様によれば、第2導電型はn型であってもよい。
 本発明によれば、受光面電極の位置ずれによる変換効率の低下を抑止することができる太陽電池を提供することができる。
実施の形態1の太陽電池を受光面から見たときの模式的な平面図である。 図1のII-IIに沿った模式的な断面図である。 (a)は実施の形態1の太陽電池の受光面に形成された反射防止膜を除去してp型シリコン基板を受光面側から見たときの模式的な平面図であり、(b)は(a)に示すサブグリッド電極の端部近傍の模式的な拡大平面図である。 (a)~(f)は、実施の形態1の太陽電池の製造方法の一例について図解する模式的な断面図である。 (a)は、実施の形態1の太陽電池のサブグリッド電極とn型不純物第2拡散領域との関係を図解する模式的な拡大平面図であり、(b)は、対照の太陽電池のサブグリッド電極とn型不純物第2拡散領域との関係を図解する模式的な拡大平面図である。 (a)は実施の形態2の太陽電池の受光面に形成された反射防止膜を除去してp型シリコン基板を受光面側から見たときの模式的な平面図であり、(b)は(a)に示すサブグリッド電極の端部近傍の模式的な拡大平面図である。 (a)は、実施の形態3の太陽電池の受光面に形成された反射防止膜を除去してp型シリコン基板を受光面側から見たときの模式的な平面図であり、(b)は、(a)に示すサブグリッド電極の端部近傍の模式的な拡大平面図である。 (a)は、実施の形態4の太陽電池の受光面に形成された反射防止膜を除去してp型シリコン基板を受光面側から見たときの模式的な平面図であり、(b)は、(a)に示すサブグリッド電極の端部近傍の模式的な拡大平面図である。 非特許文献1に記載の従来の太陽電池を受光面側から見たときの模式的な平面図である。 図9のX-Xに沿った模式的な断面図である。 (a)~(f)は、非特許文献1に記載の従来の太陽電池の製造方法を図解する模式的な断面図である。 (a)は、非特許文献1に記載の従来の太陽電池の受光面に形成された反射防止膜を除去してp型シリコン基板を受光面側から見たときの模式的な平面図であり、(b)は(a)に示すサブグリッド電極の端部近傍の模式的な拡大平面図である。
 以下、本発明の実施の形態について説明する。なお、本発明の図面において、同一の参照符号は、同一部分または相当部分を表わすものとする。
 <実施の形態1>
 図1に、実施の形態1の太陽電池を受光面から見たときの模式的な平面図を示す。図1に示すように、太陽電池1のp型シリコン基板2の受光面には、反射防止膜7と、受光面電極8とが形成されている。反射防止膜7は、たとえば窒化シリコン膜などからなる。受光面電極8は、サブグリッド電極10と、メイングリッド電極11とから形成されており、サブグリッド電極10およびメイングリッド電極11は、それぞれ、矩形状の表面形状を有している。
 ここで、サブグリッド電極10の長手方向と、メイングリッド電極11の長手方向とは約90°の角度を為しており、サブグリッド電極10は、メイングリッド電極11と交差している。
 図2に、図1のII-IIに沿った模式的な断面図を示す。p型シリコン基板2の受光面側にはテクスチャ構造である凹凸構造3が形成されており、p型シリコン基板2の受光面にはn型不純物拡散層であるn型不純物拡散領域4が形成されている。ここで、n型不純物拡散領域4は、n型不純物第1拡散領域5と、n型不純物第2拡散領域6とを有しており、n型不純物第2拡散領域6の表面のn型不純物濃度は、n型不純物第1拡散領域5の表面のn型不純物濃度よりも高くなっている。
 また、n型不純物第2拡散領域6の表面の一部にはサブグリッド電極10が接するように形成されており、p型シリコン基板2の受光面とは反対側の裏面には裏面電極9が形成されている。なお、p型シリコン基板2の厚さはたとえば約200μmとされ、p型シリコン基板2の受光面の幅および長さは共にたとえば約156.5mmとされる。
 さらに、n型不純物第2拡散領域6におけるp型シリコン基板2の厚さは、n型不純物第1拡散領域5におけるp型シリコン基板2の厚さよりも厚くなっていることから、n型不純物第2拡散領域6は、サブグリッド電極10の長手方向(図2の紙面に対する法線の方向)に沿って形成された凸部を有することになる。
 図3(a)に、太陽電池1の受光面に形成された反射防止膜7を除去してp型シリコン基板2を受光面側から見たときの模式的な平面図を示し、図3(b)に、図3(a)に示すサブグリッド電極10の端部近傍の模式的な拡大平面図を示す。
 図3(a)に示すように、n型不純物拡散領域4はp型シリコン基板2の受光面の略全面に形成されており、矩形状の表面を有するn型不純物第2拡散領域6は、互いに離れるようにして、複数の島状に配置されている。
 また、図3(b)に示すように、サブグリッド電極10は、その長手方向10aに沿って、複数のn型不純物第2拡散領域6と電気的に接続されている。
 ここで、n型不純物第2拡散領域6の長手方向の長さBは、サブグリッド電極10の長手方向10aに直交する方向の長さである幅Aの3倍以上5倍以下であることが好ましい。この場合には、n型不純物第2拡散領域6とサブグリッド電極10との電気的な接続を確実なものとしつつ、n型不純物第2拡散領域6の形成領域の増大を抑えることによって太陽電池1の受光面における電子と正孔との再結合を低減することができるため、太陽電池1の変換効率の低下を抑止することができる。
 なお、サブグリッド電極10の幅Aは、たとえば100μmとすることができるとともに、n型不純物第2拡散領域6の長さBは、たとえば500μmとすることができる。
 また、上記においては、n型不純物第2拡散領域6の表面形状が矩形状である場合について説明したが、n型不純物第2拡散領域6の表面形状は、矩形状に限定されず、たとえば楕円状であってもよい。
 以下、図4(a)~図4(f)の模式的断面図を参照して、実施の形態1の太陽電池1の製造方法の一例について説明する。
 まず、図4(a)に示すように、たとえば、受光面の幅および長さが共に約156.5mmであって、厚さが約200μmであるp型シリコン基板2を用意し、p型シリコン基板2の受光面に凹凸構造3を形成する。
 次に、図4(b)に示すように、p型シリコン基板2の受光面に、POCl3を用いてリンを気相拡散させることによって、n型不純物拡散領域4を形成する。n型不純物拡散領域4は、n型不純物であるリンの拡散層であるため、p型シリコン基板2の受光面から内部に進むにしたがって次第にリン濃度が低下するリン濃度の濃度勾配が形成される。その後、フッ化水素酸処理により、リンの拡散時にp型シリコン基板2の受光面に形成されたガラス層を除去する。
 次に、n型不純物拡散領域4の表面のn型不純物の濃度管理として、p型シリコン基板2の受光面のシート抵抗を4探針法により測定する。ここで、p型シリコン基板2の受光面のシート抵抗は、たとえば30Ω/□以上60Ω/□以下の範囲に管理する。n型不純物拡散領域4の表面のn型不純物の濃度管理を行なう方法としては、SIMS(Secondary Ion-microprobe Mass Spectrometry)などを用いた方法もあるが、シート抵抗を測定する方法が簡易である。
 n型不純物拡散領域4の表面のシート抵抗は、後工程で形成される受光面電極8との接触抵抗が十分に低ければ特に限定されず、受光面電極8の組成や形成条件等によって最適値は変わる。
 次に、図4(c)に示すように、n型不純物拡散領域4の表面において受光面電極8が配置される領域に耐酸マスク51を形成する。耐酸マスク51が形成されたn型不純物拡散領域4が、後工程でn型不純物第2拡散領域6として残る。耐酸マスク51の形成方法としては、たとえば、フォトリソグラフィを用いた方法、スクリーン印刷などの印刷法を用いた方法、またはインクジェットを用いた方法などがある。
 次に、図4(d)に示すように、p型シリコン基板2の受光面をエッチングする。これにより、耐酸マスク51で保護されていないn型不純物拡散領域4の部分がエッチングされ、たとえば表面のシート抵抗が90Ω/□程度のn型不純物第1拡散領域5が形成される。また、このとき、耐酸マスク51で保護された部分のn型不純物拡散領域4はエッチングされず、エッチングにより形成されたn型不純物第1拡散領域5の表面に比べて、表面のシート抵抗の低いn型不純物第2拡散領域6が形成される。これは、上述したように、p型シリコン基板2の受光面から内部に進むにしたがって次第にリン濃度が低下するリン濃度の濃度勾配が形成されるためである。
 次に、図4(e)に示すように、耐酸マスク51をp型シリコン基板2から除去し、その後、p型シリコン基板2の受光面にたとえば窒化シリコン膜などからなる反射防止膜7を形成する。
 次に、図4(f)に示すように、p型シリコン基板2の受光面に受光面電極8を形成し、p型シリコン基板2の裏面に裏面電極9を形成する。受光面電極8および裏面電極9は、それぞれ、たとえば、スクリーン印刷法により導電性ペーストを印刷し、その後導電性ペーストを焼成することなどにより行なわれる。受光面電極8は、導電性ペーストの焼成時に導電性ペーストの構成成分が反射防止膜7を突き破ってn型不純物第2拡散領域6と接触するようにして形成される。
 その後、ダイサーなどにより、p型シリコン基板2の4辺を切り落とすことによって接合分離を行ない、実施の形態1の太陽電池1が形成される。
 上記のような構成を有する実施の形態1の太陽電池1においては、n型不純物第2拡散領域6が互いに離れて配置されており、受光面電極8のサブグリッド電極10がその長手方向において複数のn型不純物第2拡散領域6と接続されている。そのため、仮に、1つのn型不純物第2拡散領域6と、サブグリッド電極10との間に位置ズレが生じたとしても、他のn型不純物第2拡散領域6においてサブグリッド電極10との接続を確保することができるため、再結合を抑止するためのn型不純物濃度が低いn型不純物第1拡散領域5と、受光面電極8との接触抵抗の上昇を抑止するためのn型不純物濃度が高いn型不純物第2拡散領域6とを受光面に備えた太陽電池1の受光面電極8の位置ずれによる変換効率の低下を抑止することができる。
 次に、実施の形態1の太陽電池1において、サブグリッド電極10とn型不純物第2拡散領域6との接触抵抗を下げながら受光面でのキャリアの再結合を抑えるようにするため、n型不純物第2拡散領域6が互いに離れるようにして配置し、n型不純物第2拡散領域6の長さとピッチを変えて太陽電池の特性評価を行なった。
 図5(a)に、実施の形態1の太陽電池のサブグリッド電極10とn型不純物第2拡散領域6との関係を図解する模式的な拡大平面図を示す。ここで、n型不純物第2拡散領域6の表面形状は矩形状としている。
 ここで、n型不純物第2拡散領域6のサブグリッド電極10に対する交差率Z(%)を以下の式(I)で定義する。
交差率Z(%)=100×X/Y …(I)
 上記の式(I)において、長さXは、図5(a)に示すように、サブグリッド電極10の長手方向10aにおけるn型不純物第2拡散領域6の長さを表わす。また、ピッチYは、図5(a)に示すように、n型不純物第2拡散領域6の長手方向10aにおけるn型不純物第2拡散領域6のピッチを表わす。
 また、対照として、図5(b)に示すように、n型不純物第2拡散領域6の表面形状をサブグリッド電極10の表面形状に合致させたライン形状にし、サブグリッド電極10の幅Aを100μmとし、n型不純物第2拡散領域6の幅Bを100μmとしている。
 サブグリッド電極10と接する領域以外のn型不純物第2拡散領域6が多く存在すると、受光面でのキャリアの再結合が多くなり、太陽電池の特性である短絡電流密度(Jsc)および開放電圧(Voc)が小さくなる。
 そこで、まず、図5(a)において、サブグリッド電極10と接する領域以外のn型不純物第2拡散領域6を減らして、短絡電流密度および開放電圧が図5(b)に示す対照に近づく交差率Zを求めた。
 ここで、ピッチYを1mmと一定にして、交差率Zを下げた場合の太陽電池の特性の評価結果を表1に示す。なお、F.F.は曲線因子であり、Effは変換効率である。対照のJsc値、Voc値、F.F.値およびEff値をそれぞれ1.000としている。サンプルNo.1は、長さXが500μm(交差率Z:50%)であり、サンプルNo.2は、長さXが350μm(交差率Z:35%)であり、サンプルNo.3は、長さXが200μm(交差率Z:20%)である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
 表1に示すように、交差率Zを下げていく、すなわち長さXを小さくしていくと、Jsc値およびVoc値は大きくなり、対照に近づく結果が得られた。その一方で、F.F.値は小さくなり、Eff値は、F.F.値の影響が大きく反映される結果となった。
 これは、サブグリッド電極10と接する領域以外のn型不純物第2拡散領域6を減らすことで、受光面でのキャリアの再結合を少なくすることができ、Jsc値およびVoc値を大きくすることができたが、サブグリッド電極10と接するn型不純物第2拡散領域6が減ることで、サブグリッド電極10とn型不純物第2拡散領域6との接触抵抗が上昇して、F.F.値が小さくなったためと考えられる。
 表1に示す結果から、交差率Zを20%とした場合には、Jsc値およびVoc値が対照とほぼ同等である結果が得られた。そこで、次に、交差率Zを20%として、F.F.値を対照に近づける検討を行なった。
 ここで、交差率Zを20%としたのは、交差率Zを20%以下にした場合には、Jsc値およびVoc値は対照と同等のままであると考えられるためである。
 次に、交差率Zを20%と一定にして、長さXおよびピッチYを下げたときの太陽電池の特性の評価結果を表2に示す。サンプルNo.3は、表1と同様、長さXを200μmとし、サンプルNo.4は、長さXを100μmとし、サンプルNo.5は、長さXを50μmとし、サンプルNo.6は、長さXを30μmとしている。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
 表2に示すように、サンプルNo.5およびサンプルNo.6で、Jsc値、Voc値、F.F.値およびEff値のいずれもが対照と同等の値が得られた。したがって、表2に示す結果から、図5(a)に示すように、n型不純物第2拡散領域6の表面形状が矩形状であり、n型不純物第2拡散領域6の長手方向が、サブグリッド電極10の長手方向10aと直交し、さらに、n型不純物第2拡散領域6が長手方向10aに沿って所定のピッチYで配置された構成においては、サブグリッド電極10の長手方向10aにおけるn型不純物第2拡散領域6の長さXが50μm以下である場合には、対照と同様の、Jsc値、Voc値、F.F.値およびEff値が得られることがわかる。したがって、Jsc値およびVoc値を維持しながら、F.F.値の低下を抑えて、対照と同等の変換効率Eff値を得ることができる。
 以上のように、実施の形態1の太陽電池においては、n型不純物第2拡散領域6の幅をサブグリッド電極10の幅よりも広くしてn型不純物第2拡散領域6の幅内でサブグリッド電極10を接続し、同時にn型不純物第2拡散領域6をサブグリッド電極10の長手方向10aに沿って互いに離れるように複数配置することによって、再結合を抑止するためのn型不純物濃度が低いn型不純物第1拡散領域5と、受光面電極8との接触抵抗の上昇を抑止するためのn型不純物濃度が高いn型不純物第2拡散領域6とを受光面に備えた太陽電池1の受光面電極8の位置ずれによる変換効率の低下を抑止することができる。
 <実施の形態2>
 図6(a)に、実施の形態2の太陽電池の受光面に形成された反射防止膜を除去してp型シリコン基板を受光面側から見たときの模式的な平面図を示し、図6(b)に、図6(a)に示すサブグリッド電極の端部近傍の模式的な拡大平面図を示す。
 ここで、図6(b)に示すように、実施の形態2の太陽電池においては、n型不純物第2拡散領域6の表面形状がサブグリッド電極10の長手方向10aと直交する方向に伸張する矩形状ではなく、サブグリッド電極10の長手方向10aに突出した凸部6aを有する形状となっている点に特徴がある。
 実施の形態2の太陽電池においても、図6(b)に示すように、サブグリッド電極10の長手方向10aにおいては、隣り合うn型不純物第2拡散領域6同士は互いに接しないように配置されているため、サブグリッド電極10はその長手方向10aにおいて、サブグリッド電極10の幅Aよりも広い幅Bを有するn型不純物第2拡散領域6の複数と接続することになる。ここで、サブグリッド電極10の幅Aはたとえば100μmとし、n型不純物第2拡散領域6の幅Bはたとえば500μmとすることができる。
 そのため、実施の形態2の太陽電池においても、仮に、1つのn型不純物第2拡散領域6と、サブグリッド電極10との間に位置ズレが生じたとしても、他のn型不純物第2拡散領域6においてサブグリッド電極10との接続を確保することができるため、再結合を抑止するためのn型不純物濃度が低いn型不純物第1拡散領域5と、受光面電極8との接触抵抗の上昇を抑止するためのn型不純物濃度が高いn型不純物第2拡散領域6とを受光面に備えた太陽電池1の受光面電極8の位置ずれによる変換効率の低下を抑止することができる。
 本実施の形態における上記以外の説明は実施の形態1と同様であるため、その説明については省略する。
 <実施の形態3>
 図7(a)に、実施の形態3の太陽電池の受光面に形成された反射防止膜を除去してp型シリコン基板を受光面側から見たときの模式的な平面図を示し、図7(b)に、図7(a)に示すサブグリッド電極の端部近傍の模式的な拡大平面図を示す。
 実施の形態3の太陽電池は、図7(b)に示すように、n型不純物第2拡散領域6は、サブグリッド電極10の長手方向10aに連結されており、n型不純物第2拡散領域6の連結部6bの幅Cはサブグリッド電極10の幅Aよりも狭くなっている点に特徴がある。
 また、実施の形態3の太陽電池は、図7(b)に示すように、n型不純物第2拡散領域6は、サブグリッド電極10の長手方向10aと直交する方向に突出した凸部6cを有している。
 実施の形態3の太陽電池においては、図7(b)に示すように、サブグリッド電極10の長手方向10aにおいて、サブグリッド電極10の幅Aよりも広い幅Bを有するn型不純物第2拡散領域6と接続することになる。ここで、サブグリッド電極10の幅Aをたとえば100μmとし、n型不純物第2拡散領域6の幅Bをたとえば500μmとすることができる。
 そのため、実施の形態2の太陽電池においても、仮に、n型不純物第2拡散領域6の連結部6bと、サブグリッド電極10との間に位置ズレが生じたとしても、n型不純物第2拡散領域6の凸部6cでサブグリッド電極10との接続を確保することができるため、再結合を抑止するためのn型不純物濃度が低いn型不純物第1拡散領域5と、受光面電極8との接触抵抗の上昇を抑止するためのn型不純物濃度が高いn型不純物第2拡散領域6とを受光面に備えた太陽電池1の受光面電極8の位置ずれによる変換効率の低下を抑止することができる。
 本実施の形態における上記以外の説明は実施の形態1および実施の形態2と同様であるため、その説明については省略する。
 <実施の形態4>
 図8(a)に、実施の形態4の太陽電池の受光面に形成された反射防止膜を除去してp型シリコン基板を受光面側から見たときの模式的な平面図を示し、図8(b)に、図8(a)に示すサブグリッド電極の端部近傍の模式的な拡大平面図を示す。
 実施の形態4の太陽電池は、サブグリッド電極10の長手方向10aに沿ってn型不純物第2拡散領域6同士を連結する連結部6bの幅Dが、サブグリッド電極10の幅Aよりも広くなっている点に特徴がある。
 実施の形態4の太陽電池においては、図8(b)に示すように、サブグリッド電極10の長手方向10aにおいて、サブグリッド電極10の幅Aよりも広い幅Bを有するn型不純物第2拡散領域6と接続することになる。ここで、サブグリッド電極10の幅Aをたとえば100μmとし、n型不純物第2拡散領域6の幅Bをたとえば500μmとし、n型不純物第2拡散領域6の連結部6bの幅Dをたとえば350μmとし、サブグリッド電極10の長手方向10aと直交する方向に突出した凸部6cの幅Eを実施の形態3よりも狭くすることができる。
 そのため、実施の形態4の太陽電池においても、仮に、n型不純物第2拡散領域6の連結部6bと、サブグリッド電極10との間に位置ズレが生じたとしても、n型不純物第2拡散領域6の凸部6cでサブグリッド電極10との接続を確保することができるため、再結合を抑止するためのn型不純物濃度が低いn型不純物第1拡散領域5と、受光面電極8との接触抵抗の上昇を抑止するためのn型不純物濃度が高いn型不純物第2拡散領域6とを受光面に備えた太陽電池1の受光面電極8の位置ずれによる変換効率の低下を抑止することができる。
 本実施の形態における上記以外の説明は実施の形態1~実施の形態3と同様であるため、その説明については省略する。
 なお、上記の実施の形態1~実施の形態4においては、p型シリコン基板2を用いる場合について説明したが、p型シリコン基板2に代えてn型シリコン基板を用いることも可能である。n型シリコン基板を用いた場合には、受光面側の拡散領域はp型不純物拡散領域となり、p型不純物拡散領域は、p型不純物第1拡散領域と、p型不純物第2拡散領域とからなり、p型不純物第1拡散領域の表面のp型不純物濃度は、p型不純物第2拡散領域の表面のp型不純物濃度よりも低くなる。
 今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
 本発明は、太陽電池に利用することができ、特に、再結合を抑止するための不純物濃度が低い不純物拡散領域と、受光面電極との接触抵抗の上昇を抑止するための不純物濃度が高い不純物拡散領域とを受光面に備えた太陽電池に利用することができる。
 1 太陽電池、2 p型シリコン基板、3 凹凸構造、4 n型不純物拡散領域、5 n型不純物第1拡散領域、6 n型不純物第2拡散領域、6a,6c 凸部、6b 連結部、7 反射防止膜、8 受光面電極、9 裏面電極、10 サブグリッド電極、10a 長手方向、51 耐酸マスク、201 太陽電池、202 p型シリコン基板、203 凹凸構造、204 n型不純物拡散領域、205 n型不純物第1拡散領域、206 n型不純物第2拡散領域、207 反射防止膜、208 受光面電極、209 裏面電極、210 サブグリッド電極、211 メイングリッド電極、251 耐酸マスク。

Claims (9)

  1.  第1導電型不純物を含むシリコン基板(2)と、
     前記シリコン基板(2)の受光面側に設けられた第2導電型不純物を含む拡散領域(4)と、
     前記拡散領域(4)の受光面側に設けられた受光面電極(8)と、を含み、
     前記拡散領域(4)は、第1拡散領域(5)と第2拡散領域(6)を有し、
     前記第2拡散領域(6)の表面は、前記第1拡散領域(5)の表面よりも、前記第2導電型不純物の濃度が高く、
     前記第2拡散領域(6)は、互いに離れて配置されており、
     前記受光面電極(8)は、複数の前記第2拡散領域(6)と接続している、太陽電池(1)。
  2.  前記受光面電極(8)は、メイングリッド電極(11)と、サブグリッド電極(10)とからなり、
     前記サブグリッド電極(10)が、複数の前記第2拡散領域(6)と接続されている、請求項1に記載の太陽電池(1)。
  3.  前記サブグリッド電極(10)は、前記メイングリッド電極(11)と交差している、請求項2に記載の太陽電池(1)。
  4.  前記第2拡散領域(6)は、矩形状である、請求項1~3のいずれかに記載の太陽電池(1)。
  5.  前記サブグリッド電極(10)の長手方向における前記第2拡散領域(6)の長さをXとし、
     前記サブグリッド電極(10)の長手方向において前記第2拡散領域(6)のピッチをYとし、
     前記第2拡散領域(6)の交差率Zが以下の式(I)により表わされるとき、
     交差率Z(%)=100×X/Y …(I)
     前記第2拡散領域(6)の前記交差率Zが20%以下である、請求項4に記載の太陽電池(1)。
  6.  前記第2拡散領域(6)は、前記サブグリッド電極(10)の長手方向に突出した凸部(6a)を有する、請求項4または5に記載の太陽電池(1)。
  7.  第1導電型不純物を含むシリコン基板(2)と、
     前記シリコン基板(2)の受光面側に設けられた第2導電型不純物を含む拡散領域(4)と、
     前記拡散領域(4)の受光面側に設けられた受光面電極(8)と、を含み、
     前記拡散領域(4)は、第1拡散領域(5)と第2拡散領域(6)を有し、
     前記第2拡散領域(6)の表面は、前記第1拡散領域(5)の表面よりも、前記第2導電型不純物の濃度が高く、
     前記受光面電極(8)は、メイングリッド電極(11)と、サブグリッド電極(10)とからなり、
     前記第2拡散領域(6)は、前記サブグリッド電極(10)と接する領域を有し、
     前記第2拡散領域(6)は、前記サブグリッド電極(10)の長手方向に直交する方向に突出した凸部(6c)を有する、太陽電池(1)。
  8.  前記サブグリッド電極(10)は、前記メイングリッド電極(11)と交差している、請求項7に記載の太陽電池(1)。
  9.  前記第2導電型がn型である、請求項1~8のいずれかに記載の太陽電池(1)。
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