WO2011023339A4 - Endoskop und verfahren zu dessen verwendung - Google Patents

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Abstract

Die Erfindung betrifft ein Endoskop (1) mit zwei Eintrittsoptiken (9, 9a), die beabstandet zueinander angeordnet sind und deren Sichtfelder sich überschneiden, und mit Leiteinrichtungen, bei dem die Eintrittsoptiken (9, 9a) so weit voneinander beabstandet sind, dass deren äussere Ränder über die Querschnittsfläche der Leiteinrichtungen vorstehen und zwischen einer Eintrittsoptik und den Leiteinrichtungen eine den Achsstrahl versetzende Optik (8, 8a) eingefügt ist, sowie ein Verfahren zu dessen Verwendung.

Claims

GEÄNDERTE ANSPRÜCHE beim Internationalen Büro eingegangen am 17. Februar 201 1 (17.02.201 1)
1. Endoskop (1) mit zwei Eintrittsoptiken (9, 9a), die beabstandet zueinander angeordnet sind und deren Sichtfelder sich überschneiden, und mit Leiteinrichtungen, wobei die Eintrittsoptiken so weit voneinander beabstandet sind, dass deren äussere Ränder über die Querschnittsfläche der Leiteinrichtungen vorstehen und zwischen einer Eintrittsoptik und den Leiteinrichtungen eine den Achsstrahl versetzende Optik eingefügt ist, dadurch gekennzeichnet, dass für optische Messungen die Eintrittsoptiken (9, 9a) mittels in den Leiteinrichtungen integrierten spielfreien und präzisen mechanischen Einrichtungen zueinander variabel beabstandet definiert anordenbar sind, so dass der Abstand ( 10) zwischen den optischen Achsen der Eintrittsoptiken (9, 9a) für die Messung mittels den Einrichtungen definiert einstellbar ist.
2. Endoskop nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass die Eintrittsoptiken durch Drehen und/oder Verschieben der Bildleiter (6, 6a) positionierbar sind.
3. Endoskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch eine Beleuchtungseinrichtung, die strukturiertes Licht abgibt.
4. Endoskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen einer Eintrittsoptik und den Leiteinrichtungen eine den Achsstrahl parallel versetzende Optik eingefügt ist.
5. Endoskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass zumindest ein Teil der Eintrittsoptiken mit einer die Oberflächenspannung verringernden Beschichtung ausgerüstet ist.
6. Endoskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass bedarfsweise die Eintrittsoptiken und die den Achsstrahl parallel versetzenden Optiken eine Fläche einnehmen, deren äussere Ränder nicht über die Querschnittsfläche der Leiteinrichtungen vorstehen.
7. Endoskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die optischen Achsen der Eintrittsoptiken voneinander beabstandet sind auf mindes-
GEÄNDERTES BLATT (ARTIKEL 19) tens den zweieinhalbfachen Durchmesser des Querschnitts an der schmälsten Stelle der Leiteinrichtungen.
8. Endoskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass sie eine Beleuchtungseinrichtung aufweist, die strukturiertes Licht abgibt und das strukturierte Licht mittels Laserlicht und einem diffraktiven optischen Element (DOE) erzeugt wird.
9. Endoskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass sie eine Beleuchtungseinrichtung aufweist, die strukturiertes Licht abgibt und das strukturierte Licht mittels Lichtstrahlen, die im mit einer Ein- und Austrittsoptik ausgestatteten Bildleiter definiert geführt werden, erzeugt wird.
10. Endoskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die den Achsstrahl versetzenden Optiken an einem gemeinsamen bildgebenden Sensor angeordnet sind.
1 1. Verfahren zur Verwendung eines Endoskops gemäss mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Eintrittsoptiken und die den Achsstrahl parallel versetzende Optiken, deren äussere Ränder nicht über die Quer- schnittsfläche der Leiteinrichtungen vorstehen, durch ein Durchführrohr an einen Messort platziert werden, dass danach die Eintrittsoptiken mittels in den Leiteinrichtungen integrierten mechanischen Einrichtungen so weit voneinander definiert beabstandet werden, dass deren äussere Ränder über die Querschnittsfläche der Leiteinrichtungen vorstehen, dass ein Muster und/oder eine natürliche Struktur beleuchtet wird und/oder auf die Objektoberfläche strukturiertes Licht projiziert wird, dass das von der Objektoberfläche reflektierte Licht photogrammetrisch analysiert und als dreidimensionale Punktwolke bezüglich den Mustern und/oder natürlichen Strukturen bereitgestellt wird.
12. Verfahren gemäss Anspruch 1 1 , dadurch gekennzeichnet, dass mindestens ein Muster an der Objektoberfläche angebracht wird.
13. Verfahren gemäss Anspruch 11 oder 12, dadurch gekennzeichnet, dass bei der Messung der Objektoberflächentopologie das Endoskop manuell geführt wird.
GEÄNDERTES BLATT (ARTIKEL 19) Verfahren nach einem der Ansprüche 1 1 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass ein Lichtstrahl (103) mit einem Abstand ( 106) zur optischen Achse (100) eines Bildleiters ( 102) durch die Optik (101) um einen Winkel (105) ausgelenkt wird und mit einer Änderung des Abstandes (106) und der dadurch hervorgerufenen kontinuierlichen Bewegung des Lichtstrahls (103) mit der Optik (101) Lichtmuster erzeugt werden, die sich kontinuierlich im Raum bewegen, wodurch auf eine auszumessende Objektoberfläche (107) systematisch bewegte Lichtstrahlen projiziert werden ohne das Endoskop zu bewegen.
GEÄNDERTES BLATT (ARTIKEL 19)
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