WO2010134343A1 - 形状測定装置、観察装置および画像処理方法 - Google Patents
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Definitions
- such a shape measuring apparatus 500 uses the piezo drive device 530 to move the objective lens 540 continuously in the vertical direction (with a predetermined vertical width), for example, at a rate of 15 times per second. Reciprocating scanning is performed in a direction along the optical axis of the microscope. The image of the sample 550 imaged by the objective lens 540 while being reciprocally scanned in this way is captured by the high-speed camera 510 at a rate of one sheet per 1/900 second, and converted into a digital signal for control purposes.
- the differential operator matches the pixel position of the target pixel in the target pixel of the target image and the target pixel in the first reference image captured before the symmetric image at an image acquisition interval. Pixel values of the surrounding four pixels of the pixel to be detected and the pixel values of the surrounding four pixels of the pixel whose pixel position coincides with the target pixel in the second reference image captured after the symmetric image at an image acquisition interval It is preferable that the four peripheral pixels in the first and second reference images have a weighted coefficient and have different pixel positions.
- the two-beam interference objective lens 21 mainly includes a beam splitter 26, a bright field objective lens 27 for a reference surface, a reference surface 28, and a bright field objective lens 29 for an object.
- a linique type optical interference optical system is illustrated.
- the microscope barrel device 23 is configured to have an imaging lens (not shown) therein, and, as will be described later, in cooperation with the two-beam interference objective lens 21, interference image light including interference fringes. Is imaged on the imaging surface of the high-speed camera 24.
- the control processor 30 includes digital image memories 31, 32, and 33 that store image data acquired from the high-speed camera 24 in units of one screen (one frame), a fine drive stage 13, and piezoelectric drive.
- a drive control device 36 that controls the operation of the device 25, a high-speed image processor 34 that performs image processing, which will be described in detail later, and a control computer 35 that controls these operations in an integrated manner.
- the control computer 35 stores captured images sequentially input from the high-speed camera 24 in the first to third digital image memories 31, 32, and 33 in units of one image, and stores them when the next image is acquired.
- the image is updated (step S102). For example, as shown in FIG. 5A, in the process of sequentially acquiring images P 1 , P 2 , P 3 ,... Pn one by one at a predetermined sampling interval ⁇ P, first, the first (first) image is obtained. When P 1 is acquired, this image P 1 is stored in the first digital image memory 31. When the next (second) image P 2 is acquired, the image P 1 is transferred to and stored in the second digital image memory 32, and this image P 2 is stored in the first digital image memory 31 this time. Is done.
- the high-speed image processor 34 performs the following operation every time an image is acquired.
- a pixel for obtaining a local focus degree described later is set.
- the pixel that acquires the local focus degree is described as a pixel of interest.
- target pixels to be operated by the digital operators (differential operators) OP10, OP20, and OP30 are specified from the pixels of the image data stored in the digital image memories 31, 32, and 33.
- the pixel values operated by the digital operators OP10, OP20, and OP30 are multiplied by a coefficient by the digital operator, and the local focus degree is obtained by a predetermined arithmetic expression.
- the image stored in the image memory 32 corresponds to the target image defined in the claims
- the image stored in the image memory 31 or the image memory 33 corresponds to the reference image defined in the claims.
- the S of the image signal used for measurement is representatively represented when the surface of the sample 5 is a glossy surface (for example, a smooth plane having a surface roughness of 0.1 ⁇ m or less). Even when the / N ratio (lightness of the image used for measurement) is extremely low, the local focus degree in which the surface shape (fine irregularities) of the sample 5 is faithfully reflected by the digital operator OP1 as described above is used. Thus, the measurement accuracy of the surface height can be improved.
- the height image of the sample 5 is generated again based on the surface height of the point corresponding to each sub-pixel region obtained in step S205 (step S207). Accordingly, as described above, for example, in an imaging device having 1000 ⁇ 1000 pixels, a process of dividing a 500 ⁇ 500 pixel region located on the center side into a 7 ⁇ 7 sub-pixel region is performed. Originally, a height image of the sample 5 having a high resolution having 3500 ⁇ 3500 pixels can be obtained from a height image consisting of 500 ⁇ 500 pixels. Further, this height image is obtained by calculating the surface height at which the local focusing degree obtained by using the digital operator OP1 for each pixel is maximum for each pixel as described above. Therefore, the measurement resolution of the surface height of the sample 5 is also improved, and as a result, the sample 5 is obtained from the height image of the sample 5 with high resolution in the height direction and the in-plane direction. It becomes possible to measure the surface shape.
- the imaging optical system is configured to focus or diverge at a certain convergence angle. May be.
- any image forming device can be used as long as it can form an image. For example, it can be applied to an imaging system that forms an image by focusing energy flux from the surface of an object to be measured using an energy beam other than light, such as an electron microscope. May be.
Abstract
Description
+{-3×(G31+G33+G37+G39)} …(1)
I=Hcos(wt+β) ・・・(2)
ここで振幅Hおよび位相差βは、
H=(A2+2ABcosα+B2)1/2
β=tan-1(Bsinα/(A+Bcosα))
で表すことができ、上記AおよびBは参照光の振幅および反射光の振幅であり、これら参照光および反射光の光波は次式、
IA=Acos(wt)
IB=Bcos(wt+α)
で表すことができる。なお、w=2πC/λ、αは位相差、Cは光速度、λは光の波長、tは時間を示している。このとき、参照光と反射光との位相差α=0のとき、振幅H=A+Bで最大値となる。一方、位相差α=πのとき、振幅H=|A-B|で最小値となる。位相差α=πとなる場合は、試料面の真の表面から波長λの1/4ずれたところである。すなわち、隣接画素の画素値として注目画素と共役な領域から光軸方向に波長λの1/4程度ずらした値を採用することにより、安定して試料5の表面の位置を捉えることができる。
+G33+G14+G16+G37+G18+G39)} …(3)
5 試料(被測定物)
13 微細駆動ステージ(移動機構)
20 撮像部(撮像装置)
21 二光束干渉対物レンズ(光干渉光学系、撮像光学系、結像系)
22 顕微鏡用照明装置(照明部)
23 顕微鏡鏡筒装置(撮像光学系、結像系)
24a 撮像素子
25 ピエゾ駆動装置(相対移動部)
30 制御用プロセッサ(画像処理部)
34 高速画像プロセッサ(第1の演算処理部、画像選択部、変化情報演算部)
35 制御用コンピュータ(第2の演算処理部、高さ情報決定部)
LFS 局所合焦度(特徴量)
OP1 ディジタルオペレータ(微分オペレータ)
Claims (11)
- 照明部によって照明された被測定物の表面からの光を受光して前記被測定物の表面像を撮像する撮像装置と、
前記撮像装置を構成する光学系の光軸に沿って、前記被測定物を前記撮像装置に対して相対移動させる相対移動部と、
前記相対移動部を利用して前記被測定物を前記撮像装置に対して相対移動させながら前記撮像装置により撮像して得られた、前記被測定物の表面の複数の画像に対して画像処理を行う画像処理部とを備え、
前記画像処理部は、前記複数の画像のうちから、1つの対象画像と前記対象画像を除く少なくとも1つの参考画像とを抽出して、前記対象画像と前記参考画像とに微分オペレータを作用させて、抽出された前記対象画像と前記参考画像の組ごとに前記対象画像の画素単位で所定の特徴量を算出する第1の演算処理部と、
画素単位で算出された複数の前記特徴量のうち画素毎に最大となる前記相対移動位置に基づいて、前記被測定物の表面高さを求める第2の演算処理部とを備え、
前記微分オペレータは、前記特徴量を算出する上で、前記対象画像の注目画素の画素値と、前記参考画像において前記注目画素とは異なる画素位置に存する隣接画素の画素値とに対して重み付けがされた係数を持ち、
前記特徴量は、前記微分オペレータによる前記注目画素の画素値と前記隣接画素の画素値との微分値であることを特徴とする形状測定装置。 - 前記照明部からの光を分割して前記被測定物と参照面とにそれぞれ照射し、前記被測定物と前記参照面とからの反射光を干渉させて干渉縞を発生させる光干渉光学系を更に備えたことを特徴とする請求項1に記載の形状測定装置。
- 前記相対移動部により前記被測定物を前記撮像装置に対して相対移動させることにより、前記被測定物の表面と、前記参照面と前記被測定物の表面に光を分割する分割位置の距離を変動させて前記干渉縞に変化を生じさせることを特徴とする請求項2に記載の形状測定装置。
- 前記撮像装置が、前記被測定物の表面像を結像する撮像光学系と、前記撮像光学系により結像された前記被測定物の表面像を撮像する撮像素子とを備え、
前記撮像素子の画素が、前記撮像光学系の光学分解能よりも細かいことを特徴とする請求項1~3のいずれかに記載の形状測定装置。 - 前記撮像装置を構成する光学系の光軸と垂直な方向へ前記被測定物を前記撮像装置に対して相対移動させる移動機構を備え、
前記移動機構は、前記画素の幅よりも小さな移動ピッチで前記相対移動させることを特徴とする請求項4に記載の形状測定装置。 - 前記照明部は100nm以上の波長帯域幅を有する照明光を射出可能であることを特徴とする請求項1~5のいずれかに記載の形状測定装置。
- 前記微分オペレータは、前記対象画像の注目画素の画素値と、画像取得間隔をおいて前記対称画像より先に撮像された第1の参考画像において前記注目画素に画素位置が一致する画素の周辺4画素の画素値と、前記画像取得間隔をおいて前記対称画像より後に撮像された第2の参考画像において前記注目画素に画素位置が一致する画素の周辺4画素の画素値とに対して重み付けがされた係数を持ち、
前記第1および第2の参考画像における前記周辺4画素は互いに画素位置が異なる構成であることを特徴とする請求項1~6のいずれかに記載の形状測定装置。 - 前記画像取得間隔は、前記照明部から射出される照明光の中心波長域よりも小さいことを特徴とする請求項7に記載の形状測定装置。
- 請求項5に記載の形状測定装置を用いて行う画像処理方法であって、
前記移動機構により前記被測定物を前記撮像装置に対して前記移動ピッチずつ相対移動させる毎に、前記複数の画像から前記被測定物の表面における同一箇所に該当する部分を抽出するとともに前記抽出した部分の表面高さを求めて、前記抽出した部分における前記表面高さの度数分布を求める第1のステップと、
前記度数分布に基づいて前記表面高さの確率密度関数を算出し、前記確率密度関数が最大となる前記表面高さを前記抽出した部分における前記表面高さの真値として求める第2のステップと、
前記真値として求めた前記表面高さに基づいて前記被測定物の表面の画像を生成する第3のステップとを有することを特徴とする画像処理方法。 - 照明部によって照明された被測定物のある一点からの光束を結像面で所定の領域に集光することで、前記被測定物の像を前記結像面で結像する結像系と、
前記結像系の光軸上における前記被測定物までの距離が異なる複数の位置で、前記被測定物の像を撮像し、各々の距離ごとに画像データを出力する撮像装置と、
前記撮像装置から出力された画像データのうち、前記被測定物までの距離が異なる第1の画像データと第2の画像データとを選択する画像選択部と、
前記画像選択部により選択された前記第1の画像データを構成する画素の各々と、前記第1の画像データの各々の画素の位置に対応した前記第2の画像データを構成する画素の位置を中心に、前記光束が集束する領域内に位置する前記第2の画像データの画素との出力の変化を求める変化情報演算部と、
前記変化情報演算部からの出力を基に、前記第1の画像データを構成する画素のうち、合焦位置となる画素を特定し、前記第1の画像データを取得したときの前記被測定物までの距離に応じて、前記特定された画素に対応する前記被測定物の表面の高さ情報を決定する高さ情報決定部とを備えて構成されることを特徴とする観察装置。 - 前記変化情報演算部は、前記画像選択部により選択された前記第1の画像データを構成する画素の各々と、前記第2の画像データを構成する画素のうち、前記第1の画像データの各々の画素の位置に対応した画素と隣接した位置にある所定の画素との出力の変化を求めることを特徴とする請求項10に記載の観察装置。
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