JP6820516B2 - 表面形状測定方法 - Google Patents
表面形状測定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6820516B2 JP6820516B2 JP2017044137A JP2017044137A JP6820516B2 JP 6820516 B2 JP6820516 B2 JP 6820516B2 JP 2017044137 A JP2017044137 A JP 2017044137A JP 2017044137 A JP2017044137 A JP 2017044137A JP 6820516 B2 JP6820516 B2 JP 6820516B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- measurement
- measured
- interference
- surface shape
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 title claims 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 134
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 76
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 44
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 34
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 claims 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 22
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 12
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 9
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000008034 disappearance Effects 0.000 description 6
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000010187 selection method Methods 0.000 description 1
- 238000004441 surface measurement Methods 0.000 description 1
Images
Description
Claims (4)
- 測定対象物を支持する支持部と、
白色光を出射する光源部と、前記光源部からの白色光を測定光と参照光とに分割して前記測定光を前記測定対象物の被測定面に照射するとともに、前記参照光を参照面に照射し、前記被測定面から戻る測定光と前記参照面から戻る前記参照光とを干渉させた干渉光を生成する干渉部と、前記被測定面の各点に対応する複数の画素を有し、前記被測定面の各点に照射された前記測定光と前記参照光との干渉光の輝度情報から干渉縞を取得し前記測定対象物の表面形状データを取得する表面形状取得部と、を有する光学部と、を備える形状測定装置を用いた形状測定方法であって、
前記被測定面の各点に照射される前記測定光の光路長を変化させながら、前記白色光の中心波長より長い画像取得間隔で、前記干渉縞を取得する干渉縞取得工程と、
前記干渉縞取得工程で測定された前記被測定面の各点に対応する前記表面形状取得部の複数の画素から選択された基準画素と、前記基準画素の周辺画素の少なくとも1つの画素と、の輝度情報から、干渉縞の生成する範囲を推定し、前記測定光の軸方向の走査範囲を決定する走査範囲決定工程と、
前記被測定面の各点に照射される前記測定光の光路長を前記走査範囲決定工程で決定した走査範囲内で変化させながら、前記干渉縞取得工程より短い画像取得間隔で干渉縞を取得し、前記干渉縞に基づいて前記被測定面の各点の前記測定光の光軸方向の干渉縞位置を検出することで前記測定対象物の表面形状を測定する表面形状測定工程と、を有する表面形状測定方法。 - 前記周辺画素は、前記基準画素からの距離が異なる画素をランダムに選択する請求項1に記載の表面形状測定方法。
- 前記干渉縞取得工程、前記走査範囲決定工程、および、前記表面形状測定工程を行った後、前記支持部と前記光学部との位置を相対的に移動させる移動工程と、
前記移動工程後の前記被測定面に対して、前記干渉縞取得工程、前記走査範囲決定工程、および、前記表面形状測定工程を行うことで、複数の表面形状データを取得する繰り返し工程と、
前記複数の表面形状データを接続し、前記測定対象物の広範囲表面形状データを取得する接続工程と、を有する請求項1又は2に記載の表面形状測定方法。 - 前記走査範囲決定工程は、前記基準画素および前記周辺画素の輝度値の変化の絶対値の和が、所定の値以上の領域を含む範囲を前記走査範囲として決定する請求項1から3のいずれか1項に記載の表面形状測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017044137A JP6820516B2 (ja) | 2017-03-08 | 2017-03-08 | 表面形状測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017044137A JP6820516B2 (ja) | 2017-03-08 | 2017-03-08 | 表面形状測定方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020215112A Division JP7001947B2 (ja) | 2020-12-24 | 2020-12-24 | 表面形状測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018146496A JP2018146496A (ja) | 2018-09-20 |
JP6820516B2 true JP6820516B2 (ja) | 2021-01-27 |
Family
ID=63591170
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017044137A Active JP6820516B2 (ja) | 2017-03-08 | 2017-03-08 | 表面形状測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6820516B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7430597B2 (ja) * | 2020-08-07 | 2024-02-13 | 株式会社キーエンス | 白色干渉顕微鏡 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7605925B1 (en) * | 2006-06-23 | 2009-10-20 | Veeco Instruments, Inc. | High-definition vertical-scan interferometry |
JP4937832B2 (ja) * | 2007-05-23 | 2012-05-23 | オリンパス株式会社 | 3次元形状観察装置 |
JP6095486B2 (ja) * | 2013-05-27 | 2017-03-15 | 株式会社ミツトヨ | 画像測定装置 |
EP2977720B1 (en) * | 2014-07-25 | 2019-06-05 | Mitutoyo Corporation | A method for measuring a high accuracy height map of a test surface |
-
2017
- 2017-03-08 JP JP2017044137A patent/JP6820516B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018146496A (ja) | 2018-09-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7093915B2 (ja) | 表面形状測定方法 | |
JP5943547B2 (ja) | 非接触測定を行う装置および方法 | |
US20070291281A1 (en) | Three-dimensional shape measuring system | |
JP2006514739A5 (ja) | ||
JP2009145774A (ja) | レーザ走査型顕微鏡及びその表面形状の測定方法 | |
JP6937482B2 (ja) | 表面形状測定装置及びそのスティッチング測定方法 | |
JP6417645B2 (ja) | 表面形状測定装置のアライメント方法 | |
CN107121084B (zh) | 测量方法和测量程序 | |
JP6037254B2 (ja) | 表面形状測定装置及び表面形状測定方法 | |
JP6355023B2 (ja) | 表面形状測定装置における測定対象物アライメント方法及び表面形状測定装置 | |
JP2023176026A (ja) | 走査範囲決定方法 | |
JP6392044B2 (ja) | 位置計測装置 | |
JP7085725B2 (ja) | 表面形状測定装置及び表面形状測定方法 | |
JP6820516B2 (ja) | 表面形状測定方法 | |
JP6882651B2 (ja) | 表面形状測定装置の測定準備アライメント方法及び表面形状測定装置 | |
JP6880396B2 (ja) | 形状測定装置および形状測定方法 | |
JP6820515B2 (ja) | 表面形状測定装置及び表面形状測定方法 | |
JP2018173338A (ja) | 走査型白色干渉顕微鏡を用いた三次元形状計測方法 | |
JP2021124429A (ja) | 走査測定方法及び走査測定装置 | |
JP6047764B2 (ja) | 白色干渉計、画像処理方法及び画像処理プログラム | |
JP7304513B2 (ja) | 表面形状測定装置及び表面形状測定方法 | |
JP4788968B2 (ja) | 焦点面傾斜型共焦点表面形状計測装置 | |
JP2015210396A (ja) | アライメント装置、顕微鏡システム、アライメント方法、及びアライメントプログラム | |
JP2017151062A (ja) | 表面形状測定装置及び表面形状測定方法 | |
JP2024007646A (ja) | 多視点型ラインセンシング法による3次元計測装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200108 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20201130 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20201204 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20201217 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6820516 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |