WO2010103931A1 - パワーオンリセット回路 - Google Patents

パワーオンリセット回路 Download PDF

Info

Publication number
WO2010103931A1
WO2010103931A1 PCT/JP2010/052940 JP2010052940W WO2010103931A1 WO 2010103931 A1 WO2010103931 A1 WO 2010103931A1 JP 2010052940 W JP2010052940 W JP 2010052940W WO 2010103931 A1 WO2010103931 A1 WO 2010103931A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
voltage
value
circuit
power supply
voltage value
Prior art date
Application number
PCT/JP2010/052940
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
肇 鈴木
賢 三浦
Original Assignee
ザインエレクトロニクス株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ザインエレクトロニクス株式会社 filed Critical ザインエレクトロニクス株式会社
Priority to EP10750685.9A priority Critical patent/EP2408111B1/en
Priority to CN201080010936.2A priority patent/CN102342022B/zh
Priority to KR1020117019079A priority patent/KR101296926B1/ko
Priority to US13/255,704 priority patent/US8519755B2/en
Publication of WO2010103931A1 publication Critical patent/WO2010103931A1/ja

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/22Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • G06F1/24Resetting means
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/22Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied
    • H03K17/223Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied in field-effect transistor switches

Definitions

  • the present invention relates to a power-on reset circuit.
  • the power-on reset circuit is used in various electronic devices to ensure stable operation after the start of supply of power supply voltage.
  • the value of the power supply voltage supplied to the electronic device gradually increases from the ground potential level at the start of supply and eventually reaches a certain level. If such a gradually increasing power supply voltage value is directly applied to each circuit in the electronic device, the electronic device may not operate normally. Therefore, the power-on reset circuit applies a reset level voltage value to each circuit in the electronic device when the power supply voltage value is lower than the threshold value in the process of increasing the power supply voltage value, and the power supply voltage value cannot exceed the threshold value. For example, the voltage value of the power supply voltage level is given to each circuit in the electronic device to ensure stable operation of the electronic device.
  • Such a power-on reset circuit generally includes a bandgap reference circuit, a voltage dividing circuit, and a voltage comparison circuit as disclosed in Patent Documents 1 and 2.
  • the bandgap reference circuit can output a voltage value (hereinafter referred to as “first voltage value”) having a small value fluctuation even if the supplied power supply voltage value fluctuates or temperature fluctuates.
  • the voltage dividing circuit includes a first resistor and a second resistor connected in series between a power supply voltage terminal to which a power supply voltage is supplied and a ground terminal, and the first resistor and the second resistor are provided.
  • a voltage value obtained by dividing the power supply voltage value according to the ratio of the respective resistance values is output from the connection point between the first resistor and the second resistor. That is, the voltage dividing circuit outputs a voltage value proportional to the power supply voltage value (hereinafter referred to as “second voltage value”).
  • the voltage comparison circuit receives the first voltage value output from the bandgap reference circuit and the second voltage value output from the voltage dividing circuit, and the second voltage value is smaller than the first voltage value.
  • a voltage value at the reset level is output, and a voltage value at the power supply voltage level is output when the second voltage value is equal to or higher than the first voltage value.
  • the second voltage value in the process of increasing the power supply voltage value after starting the supply of the power supply voltage, the second voltage value is initially larger than the first voltage value, and the second voltage value is maintained at the first voltage for a certain period thereafter. After that, the second voltage value becomes equal to or higher than the first voltage value.
  • the power-on reset circuit outputs a voltage value at a reset level in a period in which the second voltage value is smaller than the first voltage value (hereinafter referred to as “reset period”), and resets each circuit in the electronic device. To ensure stable operation of electronic equipment.
  • the length of the reset period is unstable. If a sufficiently long reset period cannot be obtained, stable operation of the electronic device may not be obtained.
  • the present invention has been made to solve the above problems, and an object thereof is to provide a power-on reset circuit capable of stably obtaining a sufficiently long reset period.
  • the power-on reset circuit includes (1) a band gap reference circuit that is supplied with a power supply voltage and outputs a predetermined first voltage value, and (2) a band gap reference circuit when the value of the power supply voltage exceeds a first threshold value.
  • a first startup circuit for starting stable operation of the circuit (3) a switch and a first resistor provided in series between a power supply voltage terminal to which a power supply voltage is supplied and an output terminal; and an output terminal and a ground
  • a voltage dividing circuit having a second resistor provided between the output terminal and outputting a second voltage value from the output terminal; and (4) a power supply voltage value greater than a first threshold value and greater than a second threshold value.
  • the second startup circuit for closing the switch of the voltage divider circuit (5) the first voltage value output from the band gap reference circuit, and the second voltage value output from the voltage divider circuit are input,
  • a voltage comparison circuit that outputs a voltage value at a reset level when the two voltage values are smaller than the first voltage value, and outputs a voltage value at the power supply voltage level when the second voltage value is equal to or higher than the first voltage value. It is characterized by.
  • the first start-up circuit starts the stable operation of the bandgap reference circuit, and a predetermined first voltage value is generated from the bandgap reference circuit. Is output.
  • the switch of the voltage divider circuit is closed by the second startup circuit, and the second voltage value output from the voltage divider circuit is the first resistor
  • the value of the power supply voltage is a value divided according to the ratio of the resistance values of the second resistor and the second resistor.
  • the first voltage value output from the bandgap reference circuit and the second voltage value output from the voltage dividing circuit are input to the voltage comparison circuit.
  • the voltage comparison circuit outputs a reset level voltage value when the second voltage value is smaller than the first voltage value, and outputs a power supply voltage level voltage value when the second voltage value is equal to or higher than the first voltage value.
  • a sufficiently long reset period can be stably obtained.
  • FIG. 1 is a circuit diagram of a power-on reset circuit 1 according to the present embodiment.
  • FIG. 2 is a diagram illustrating a temporal change of each voltage value in the power-on reset circuit 1 according to the present embodiment.
  • Figure 3 is the threshold voltage V thp of the PMOS transistor MP 22 in the power-on reset circuit 1 of this embodiment, the second threshold value V th2 respective process conditions the threshold voltage V thn and the voltage dividing circuit 30 of the NMOS transistor MN 22 is activated It is a graph which shows a dependence typically.
  • FIG. 1 is a circuit diagram of a power-on reset circuit 1 according to the present embodiment.
  • the power-on reset circuit 1 shown in this figure includes a band gap reference circuit 10, a first startup circuit 20, a voltage dividing circuit 30, a second startup circuit 40, and a voltage comparison circuit 50. These circuits are supplied with a common power supply voltage VDD.
  • the band gap reference circuit 10 is supplied with the power supply voltage VDD and outputs a predetermined first voltage value V A , and includes PMOS transistors MP 11 to MP 13 , resistors R 11 to R 17 , diodes D 10 to D 1N. and a amplifier a 1.
  • the source terminals of the PMOS transistors MP 11 to MP 13 are connected to the power supply voltage terminal to which the power supply voltage VDD is supplied.
  • the gate terminals of the PMOS transistors MP 11 to MP 13 are connected to the output terminal of the amplifier A 1 .
  • the drain terminal of the PMOS transistor MP 11 is connected to the inverting input terminal of the amplifier A 1 via a resistor R 11, serially connected resistors via R 11 and the resistor R 12 is connected to the ground terminal also connected to the ground terminal through a diode D 10.
  • the drain terminal of the PMOS transistor MP 12 is connected to the non-inverting input terminal of the amplifier A 1 via a resistor R 13, connected to the ground terminal via the resistor R 13 and resistor R 14 in series connected It is also connected to one end of the resistor R 15. The other end of the resistor R 15 is connected to the ground terminal via N diodes D 11 to D 1N connected in parallel (N is an integer of 2 or more).
  • Resistor R 11 and resistor R 13 the resistance values are equal to each other.
  • Resistors R 12 and resistor R 14 the resistance values are equal to each other.
  • the forward voltage of each of the diodes D 10 to D 1N varies depending on the magnitude of the current.
  • the drain terminal of the PMOS transistor MP 13 is connected to the ground terminal via the resistor R 16 and resistor R 17 in series connected.
  • the band gap reference circuit 10 outputs the voltage value of the drain terminal of the PMOS transistor MP 13 as the first voltage value V A.
  • the first startup circuit 20 starts the stable operation of the bandgap reference circuit 10 when the value of the power supply voltage VDD becomes equal to or higher than the first threshold value Vth1 .
  • PMOS transistors MP 21 and MP 22 NMOS transistors MN 21 and MN 22, and inverters INV 21 and INV 22 are provided.
  • the source terminals of the PMOS transistors MP 21 and MP 22 are connected to the power supply voltage terminal to which the power supply voltage VDD is supplied.
  • the drain terminal of the PMOS transistor MP 21 is connected to the inverting input terminal of the band gap reference circuit 10 amplifier A 1 .
  • the drain terminal of the PMOS transistor MP 22 is connected to the drain terminal of the NMOS transistor MN 22 .
  • the drain terminal of the NMOS transistor MN 21 is connected to the non-inverting input terminal of the band gap reference circuit 10 amplifier A 1.
  • the source terminals of the NMOS transistors MN 21 and MP 22 are connected to the ground terminal.
  • the drain terminal of the PMOS transistor MP 22 is connected to the gate terminal of the MMOS transistor MN 21 via the inverter INV 21, and the gate terminal of the PMOS transistor MP 21 via the inverters INV 21 and INV 22 connected in series. It is connected to the.
  • the gate terminal of the PMOS transistor MP 22 is connected to the output terminal of the amplifier A 1 of the bandgap reference circuit 10.
  • the gate terminal of the NMOS transistor MN 22 is connected to the power supply voltage terminal.
  • the on-resistance value of the NMOS transistor MN 22 is larger than the on-resistance value of the PMOS transistor MP 22 .
  • the NMOS transistor MN 22 has a gate length L that is longer than the gate width W in order to increase the on-resistance value.
  • the gate length L is 100 times the gate width W.
  • Voltage divider circuit 30 is provided between the power supply voltage terminal to which a power supply voltage VDD is supplied PMOS transistor MP 3, and a first resistor R 31 is provided in series between the output terminal, an output terminal and the ground terminal and a second resistor R 32 provided, to output a second voltage value V B from the output terminal.
  • the other end of resistor R 31 is connected to the ground terminal via the resistor R 32.
  • a connection point between the resistor R 31 and the resistor R 32 is an output terminal of the voltage dividing circuit 30.
  • PMOS transistor MP 3 acts as a switch. That is, when the PMOS transistor MP 3 is turned off, the switch is open, the second voltage value V B output from the output terminal becomes the ground level. When the PMOS transistor MP 3 is in the on state, the switch is closed, the second voltage value V B output from the output terminal, a resistor R 31 and resistor R 32 supply voltage according to the ratio of the resistance values The value of VDD is a divided value.
  • the second start-up circuit 40 closes the switch of the voltage dividing circuit 30 when the value of the power supply voltage VDD becomes equal to or higher than the second threshold V th2 which is larger than the first threshold V th1 , and includes a PMOS transistor MP 4 and a resistor R 41. To R 43 and an inverter INV 4 .
  • the source terminal of the PMOS transistor MP 4 the power supply voltage VDD is connected to a power supply voltage terminal supplied.
  • the gate terminal of the PMOS transistor MP 4 is connected to the supply voltage terminal via a resistor R 41, also connected to the ground terminal via the resistor R 42.
  • the drain terminal of the PMOS transistor MP 4 is connected to the ground terminal via the resistor R 43, and is connected to the gate terminal of the PMOS transistor MP 3 of the voltage dividing circuit 30 via the inverter INV 4 .
  • the voltage comparison circuit 50 receives the first voltage value V A output from the bandgap reference circuit 10 and the second voltage value V B output from the voltage dividing circuit 30, and the second voltage value V B is the first voltage value V B. outputs a voltage value of the reset level when one less than the voltage value V a, are those in which the second voltage value V B outputs a voltage value of the power supply voltage level becomes equal to or larger than first voltage value V a, the amplifier a 5 and an inverter INV 5.
  • the first voltage value V A output from the band gap reference circuit 10 is input to the non-inverting input terminal of the amplifier A 5 .
  • the inverting input terminal of the amplifier A 5 a second voltage value V B output from the voltage dividing circuit 30 is input.
  • the voltage comparison circuit 50 outputs a signal that has passed through the inverter INV 5 from the output terminal of the amplifier A 5 as the power-on reset signal POR.
  • FIG. 2 is a diagram illustrating a temporal change of each voltage value in the power-on reset circuit 1 according to the present embodiment.
  • the power supply voltage VDD supplied to the power-on reset circuit 1 the first voltage value V A output from the bandgap reference circuit 10, the second voltage value V B output from the voltage dividing circuit 30, and The power-on reset signal POR output from the voltage comparison circuit 50 and how each time changes are shown.
  • the value of the power supply voltage VDD supplied to the power-on reset circuit 1 was the ground potential level at the start of power supply voltage supply, and then gradually increases.
  • the operation is not stable for a certain period immediately after the start of the supply of the power supply voltage, and the output voltage value V A takes an indefinite value between the ground potential level and the power supply voltage level.
  • the NMOS transistor MN 22 When the value of the power supply voltage VDD reaches the first threshold value V th1 , the NMOS transistor MN 22 is turned on in the first start-up circuit 20, and the connection point P 2 between the PMOS transistor MP 22 and the NMOS transistor MN 22 is at the ground potential level. It becomes.
  • the first threshold value V th1 is equal to the threshold voltage V thn of the NMOS transistor MN 22 .
  • the PMOS transistor MP 21 is turned on, and the power supply voltage level is input to the inverting input terminal of the amplifier A 1 of the band gap reference circuit 10.
  • the NMOS transistor MN 21 is turned on, and the ground potential level is input to the non-inverting input terminal of the amplifier A 1 of the bandgap reference circuit 10.
  • amplifier A 1 the power supply voltage level is input to the inverting input terminal and the ground potential level is input to the non-inverting input terminal, a ground potential level is outputted from the output terminal.
  • the ground potential level output from the output terminal of the amplifier A 1 is applied to the gate terminals of the PMOS transistors MP 11 to MP 13 , MP 22 . As a result, each of the PMOS transistors MP 11 to MP 13 , MP 22 is turned on.
  • a current I 11 flows from the power supply voltage terminal through the source terminal and the drain terminal of the PMOS transistor MP 11.
  • the current I 11 is branched into two, one current flowing through the resistor R 11 and the resistor R 12 , and the other current flowing through the diode D 10 .
  • a current I 12 flows from the power supply voltage terminal through the source terminal and the drain terminal of the PMOS transistor MP 12.
  • the current I 12 is bifurcated so that one current flows through the resistor R 13 and the resistor R 14 and the other current flows through the resistor R 15 and the N diodes D 11 to D 1N .
  • a current I 13 flows from the power supply voltage terminal through the source terminal and the drain terminal of the PMOS transistor MP 13.
  • the current I 13 further flows through the resistor R 16 and the resistor R 17 .
  • PMOS transistor MP 22 of the first start-up circuit 20 is turned on. Since the on resistance of the NMOS transistor MN 22 is larger than the on resistance of the PMOS transistor MP 22, the connecting point P 2 becomes the power supply voltage level. As a result, each of the PMOS transistor MP 21 and the NMOS transistor MN 21 is turned off.
  • the band gap reference circuit 10 can start a stable operation by the action of the first start-up circuit 20 as described above.
  • a connection point P 12 and the resistor R 13 and the resistor R 14 is a mutually equal potential
  • the potential applied from the amplifier A 1 to the gate terminals of the PMOS transistors MP 11 to MP 13 is set.
  • the stable first voltage value V A can be output from the output terminal.
  • the temperature dependence of the resistance values of the resistors and the diodes cancel each other, a stable first voltage value V A can be output from the output terminal even if the temperature fluctuates.
  • the first voltage value V A output from the band gap reference circuit 10 takes an indefinite value between the ground potential level and the power supply voltage level until the value of the power supply voltage VDD reaches the first threshold value V th1.
  • the value of the power supply voltage VDD reaches the first threshold value Vth1 , it becomes a stable and constant value.
  • the connection point P 41 of the resistor R 41 and the resistor R 42 close to the ground potential level
  • PMOS transistor MP 4 is an OFF state.
  • the connection point P 42 of the PMOS transistor MP 4 and the resistor R 43 nearly to the ground potential level, the PMOS transistor MP 3 is also turned off. Accordingly, the second voltage value V B output from the connection point P 31 and the resistor R 31 and the resistor R 32 is the ground potential level.
  • the second threshold value V th2 V thp (R 41 + R 42 ) / R 42 ”.
  • the first voltage value V A output from the bandgap reference circuit 10 becomes a stable and constant value when the value of the power supply voltage VDD reaches the first threshold value V th1 .
  • the second voltage value V B output from the voltage dividing circuit 30 is at the ground potential level until the value of the power supply voltage VDD reaches the second threshold value V th2 , and the value of the power supply voltage VDD is the second threshold value V th2. If it is above, the value is proportional to the power supply voltage VDD. However, the second threshold V th2 is larger than the first threshold V th1 .
  • the magnitude relationship between the first voltage value V A and the second voltage value V B is reversed at a certain time t 1 from the start of supply of the power supply voltage VDD until it stabilizes. That is, in the time t 1 before, since the second voltage value V B less than the first voltage value V A, the power-on reset signal POR output from the voltage comparator circuit 50 is the ground potential level. In later time t 1, since the second voltage value V B greater than the first voltage value V A, the power-on reset signal POR output from the voltage comparator circuit 50 becomes the power supply voltage level. Thus, the power-on reset circuit 1 according to the present embodiment can stably obtain a sufficiently long reset period.
  • each resistor, diode, PMOS transistor, and NMOS transistor constituting each circuit is designed and manufactured so as to obtain the desired characteristics as described above.
  • the characteristics of the PMOS transistor and the NMOS transistor change when the manufacturing conditions change, but it is important to have a design margin so that desired characteristics can be obtained even if the manufacturing conditions change.
  • the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications are possible.
  • the circuits constituting the power-on reset circuit 1 can have various configurations.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Control Of Electrical Variables (AREA)

Abstract

 電源電圧VDDの値が第1閾値以上になると、第1スタートアップ回路20によりバンドギャップリファレンス回路10の安定動作が開始され、バンドギャップリファレンス回路10から第1電圧値Vが出力される。電源電圧の値が第1閾値より大きい第2閾値以上になると、第2スタートアップ回路40により電圧分割回路30のPMOSトランジスタMPがオン状態となり、電圧分割回路30から出力される第2電圧値Vは、抵抗器R31,R32の抵抗比に応じて電源電圧の値が分割された値となる。電圧比較回路50から、第2電圧値Vが第1電圧値Vより小さいときにリセットレベルの電圧値が出力され、第2電圧値Vが第1電圧値V以上になると電源電圧レベルの電圧値が出力される。

Description

パワーオンリセット回路
 本発明は、パワーオンリセット回路に関するものである。
 パワーオンリセット回路は、様々な電子機器において電源電圧の供給開始後の安定動作を確保するために用いられる。すなわち、電子機器に供給される電源電圧の値は、供給開始時の接地電位レベルから次第に上昇していき、やがて一定のレベルに達する。このような次第に上昇していく電源電圧値が直接に電子機器内の各回路に与えると、電子機器は正常動作し得ない場合がある。そこで、パワーオンリセット回路は、電源電圧値の上昇の過程において、電源電圧値が閾値未満であるときにはリセットレベルの電圧値を電子機器内の各回路に与え、電源電圧値が該閾値以上になれば該電源電圧レベルの電圧値を電子機器内の各回路に与えることにより、電子機器の安定動作の確保を図る。
 このようなパワーオンリセット回路は、特許文献1,2に開示されているように、一般に、バンドギャップリファレンス回路、電圧分割回路および電圧比較回路を備える。バンドギャップリファレンス回路は、供給される電源電圧の値の変動や温度変動があっても、値の変動が小さい電圧値(以下「第1電圧値」という。)を出力することができる。
 一方、電圧分割回路は、電源電圧が供給される電源電圧端子と接地端子との間に直列的に接続された第1抵抗器および第2抵抗器を備え、第1抵抗器および第2抵抗器それぞれの抵抗値の比に応じて電源電圧値を分圧した電圧値を、第1抵抗器と第2抵抗器との接続点から出力する。すなわち、電圧分割回路は、電源電圧値に比例した電圧値(以下「第2電圧値」という。)を出力する。
 そして、電圧比較回路は、バンドギャップリファレンス回路から出力された第1電圧値と、電圧分割回路から出力された第2電圧値とを入力し、第2電圧値が第1電圧値より小さいときにリセットレベルの電圧値を出力し、第2電圧値が第1電圧値以上になれば電源電圧レベルの電圧値を出力する。
米国特許第5,867,047号明細書 米国特許第6,847,240号明細書
 パワーオンリセット回路は、電源電圧供給開始後の電源電圧値の上昇の過程において、当初は第2電圧値が第1電圧値より大きく、その後の一定期間に亘って第2電圧値が第1電圧値より小さくなり、更にその後に第2電圧値が第1電圧値以上になる。パワーオンリセット回路は、第2電圧値が第1電圧値より小さい期間(以下「リセット期間」という。)において、リセットレベルの電圧値を出力して、電子機器内の各回路をリセットし、その後の電子機器の安定動作の確保を図る。
 しかしながら、特許文献1,2に開示されたものを含め従来のパワーオンリセット回路では、上記のリセット期間の長さが不安定である。充分な長さのリセット期間が得られないと、電子機器の安定動作が得られない場合がある。
 本発明は、上記問題点を解消する為になされたものであり、充分な長さのリセット期間を安定して得ることができるパワーオンリセット回路を提供することを目的とする。
 本発明に係るパワーオンリセット回路は、(1) 電源電圧が供給され所定の第1電圧値を出力するバンドギャップリファレンス回路と、(2) 電源電圧の値が第1閾値以上になるとバンドギャップリファレンス回路の安定動作を開始させる第1スタートアップ回路と、(3) 電源電圧が供給される電源電圧端子と出力端子との間に直列的に設けられたスイッチおよび第1抵抗器と、出力端子と接地端子との間に設けられた第2抵抗器とを有し、出力端子から第2電圧値を出力する電圧分割回路と、(4) 電源電圧の値が第1閾値より大きい第2閾値以上になると電圧分割回路のスイッチを閉じさせる第2スタートアップ回路と、(5) バンドギャップリファレンス回路から出力された第1電圧値と、電圧分割回路から出力された第2電圧値とを入力し、第2電圧値が第1電圧値より小さいときにリセットレベルの電圧値を出力し、第2電圧値が第1電圧値以上になると電源電圧レベルの電圧値を出力する電圧比較回路と、を備えることを特徴とする。
 本発明に係るパワーオンリセット回路では、電源電圧の値が第1閾値以上になると、第1スタートアップ回路によりバンドギャップリファレンス回路の安定動作が開始され、バンドギャップリファレンス回路から所定の第1電圧値が出力される。一方、電源電圧の値が第1閾値より大きい第2閾値以上になると、第2スタートアップ回路により電圧分割回路のスイッチが閉じられ、電圧分割回路から出力される第2電圧値は、第1抵抗器および第2抵抗器それぞれの抵抗値の比に応じて電源電圧の値が分割された値となる。バンドギャップリファレンス回路から出力された第1電圧値と、電圧分割回路から出力された第2電圧値とは、電圧比較回路に入力される。そして、電圧比較回路から、第2電圧値が第1電圧値より小さいときにリセットレベルの電圧値が出力され、第2電圧値が第1電圧値以上になると電源電圧レベルの電圧値が出力される。
 本発明によれば、充分な長さのリセット期間を安定して得ることができる。
図1は本実施形態に係るパワーオンリセット回路1の回路図である。 図2は本実施形態に係るパワーオンリセット回路1における各電圧値の時間的変化の様子を示す図である。 図3は本実施形態に係るパワーオンリセット回路1におけるPMOSトランジスタMP22の閾値電圧Vthp,NMOSトランジスタMN22の閾値電圧Vthnおよび 電圧分割回路30が起動する第2閾値Vth2それぞれのプロセス条件依存性を模式的に示すグラフである。
 以下、添付図面を参照して、本発明を実施するための形態を詳細に説明する。なお、図面の説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
 図1は、本実施形態に係るパワーオンリセット回路1の回路図である。この図に示されるパワーオンリセット回路1は、バンドギャップリファレンス回路10、第1スタートアップ回路20、電圧分割回路30、第2スタートアップ回路40および電圧比較回路50を備える。これらの回路は、共通の電源電圧VDDが供給される。
 バンドギャップリファレンス回路10は、電源電圧VDDが供給され所定の第1電圧値Vを出力するものであり、PMOSトランジスタMP11~MP13、抵抗器R11~R17、ダイオードD10~D1NおよびアンプAを備える。
 PMOSトランジスタMP11~MP13それぞれのソース端子は、電源電圧VDDが供給される電源電圧端子に接続されている。PMOSトランジスタMP11~MP13それぞれのゲート端子は、アンプAの出力端子に接続されている。
 PMOSトランジスタMP11のドレイン端子は、抵抗器R11を介してアンプAの反転入力端子に接続され、直列的に接続された抵抗器R11および抵抗器R12を介して接地端子に接続され、また、ダイオードD10を介して接地端子に接続されている。
 PMOSトランジスタMP12のドレイン端子は、抵抗器R13を介してアンプAの非反転入力端子に接続され、直列的に接続された抵抗器R13および抵抗器R14を介して接地端子に接続され、また、抵抗器R15の一端に接続されている。抵抗器R15の他端は、並列的に接続されたN個(Nは2以上の整数)のダイオードD11~D1Nを介して接地端子に接続されている。
 抵抗器R11および抵抗器R13それぞれの抵抗値は互いに等しい。抵抗器R12および抵抗器R14それぞれの抵抗値は互いに等しい。ダイオードD10~D1Nそれぞれの順方向電圧は電流の大きさによって異なる。
 PMOSトランジスタMP13のドレイン端子は、直列的に接続された抵抗器R16および抵抗器R17を介して接地端子に接続されている。バンドギャップリファレンス回路10は、PMOSトランジスタMP13のドレイン端子の電圧値を第1電圧値Vとして出力する。
 第1スタートアップ回路20は、電源電圧VDDの値が第1閾値Vth1以上になるとバンドギャップリファレンス回路10の安定動作を開始させるものであり。PMOSトランジスタMP21,MP22、NMOSトランジスタMN21,MN22およびインバータINV21,INV22を備える。
 PMOSトランジスタMP21,MP22それぞれのソース端子は、電源電圧VDDが供給される電源電圧端子に接続されている。PMOSトランジスタMP21のドレイン端子は、バンドギャップリファレンス回路10アンプAの反転入力端子に接続されている。PMOSトランジスタMP22のドレイン端子は、NMOSトランジスタMN22のドレイン端子と接続されている。NMOSトランジスタMN21のドレイン端子は、バンドギャップリファレンス回路10アンプAの非反転入力端子に接続されている。NMOSトランジスタMN21,MP22それぞれのソース端子は、接地端子に接続されている。
 PMOSトランジスタMP22のドレイン端子は、インバータINV21を介してMMOSトランジスタMN21のゲート端子に接続され、また、直列的に接続されたインバータINV21,INV22を介してPMOSトランジスタMP21のゲート端子に接続されている。PMOSトランジスタMP22のゲート端子は、バンドギャップリファレンス回路10のアンプAの出力端子に接続されている。NMOSトランジスタMN22のゲート端子は、電源電圧端子に接続されている。
 NMOSトランジスタMN22のオン抵抗値は、PMOSトランジスタMP22のオン抵抗値より大きい。NMOSトランジスタMN22は、オン抵抗値を大きくするために、ゲート幅Wに対してゲート長Lが長くなっていて、例えばゲート長Lがゲート幅Wの100倍である。
 電圧分割回路30は、電源電圧VDDが供給される電源電圧端子と出力端子との間に直列的に設けられたPMOSトランジスタMPおよび第1抵抗器R31と、出力端子と接地端子との間に設けられた第2抵抗器R32とを有し、出力端子から第2電圧値Vを出力する。
 PMOSトランジスタMPのソース端子は、電源電圧VDDが供給される電源電圧端子に接続されている、PMOSトランジスタMPのドレイン端子は、抵抗器R31の一端に接続されている。抵抗器R31の他端は、抵抗器R32を介して接地端子と接続されている。抵抗器R31と抵抗器R32との接続点が電圧分割回路30の出力端子となる。
 PMOSトランジスタMPはスイッチとして作用する。すなわち、PMOSトランジスタMPがオフ状態であるときには、スイッチが開いて、出力端子から出力される第2電圧値Vは接地レベルとなる。PMOSトランジスタMPがオン状態であるときには、スイッチが閉じて、出力端子から出力される第2電圧値Vは、抵抗器R31および抵抗器R32それぞれの抵抗値の比に応じて電源電圧VDDの値が分割された値となる。
 第2スタートアップ回路40は、電源電圧VDDの値が第1閾値Vth1より大きい第2閾値Vth2以上になると電圧分割回路30のスイッチを閉じさせるものであり、PMOSトランジスタMP、抵抗器R41~R43およびインバータINVを備える。
 PMOSトランジスタMPのソース端子は、電源電圧VDDが供給される電源電圧端子に接続されている。PMOSトランジスタMPのゲート端子は、抵抗器R41を介して電源電圧端子に接続され、また、抵抗器R42を介して接地端子に接続されている。PMOSトランジスタMPのドレイン端子は、抵抗器R43を介して接地端子に接続され、また、インバータINVを介して電圧分割回路30のPMOSトランジスタMPのゲート端子に接続されている。
 電圧比較回路50は、バンドギャップリファレンス回路10から出力された第1電圧値Vと、電圧分割回路30から出力された第2電圧値Vとを入力し、第2電圧値Vが第1電圧値Vより小さいときにリセットレベルの電圧値を出力し、第2電圧値Vが第1電圧値V以上になると電源電圧レベルの電圧値を出力するものであり、アンプAおよびインバータINVを備える。
 アンプAの非反転入力端子には、バンドギャップリファレンス回路10から出力された第1電圧値Vが入力される。アンプAの反転入力端子には、電圧分割回路30から出力された第2電圧値Vが入力される。電圧比較回路50は、アンプAの出力端子からインバータINVを経た信号をパワーオンリセット信号PORとして出力する。
 次に、本実施形態に係るパワーオンリセット回路1の動作について説明する。図2は、本実施形態に係るパワーオンリセット回路1における各電圧値の時間的変化の様子を示す図である。この図には、パワーオンリセット回路1に供給される電源電圧VDD、バンドギャップリファレンス回路10から出力される第1電圧値V、電圧分割回路30から出力される第2電圧値V、および、電圧比較回路50から出力されるパワーオンリセット信号POR、それぞれの時間的変化の様子が示されている。
 パワーオンリセット回路1に供給される電源電圧VDDの値は、電源電圧供給開始時には接地電位レベルであったものが、その後、次第に上昇していく。
 バンドギャップリファレンス回路10では、電源電圧供給開始の直後の或る期間、動作が安定せず、出力される電圧値Vは接地電位レベルと電源電圧レベルとの間の不定の値をとる。
 電源電圧VDDの値が第1閾値Vth1に達すると、第1スタートアップ回路20では、NMOSトランジスタMN22がオン状態となり、PMOSトランジスタMP22とNMOSトランジスタMN22との接続点Pは接地電位レベルとなる。第1閾値Vth1は、NMOSトランジスタMN22の閾値電圧Vthnと等しい。接続点Pが接地電位レベルとなると、インバータINV21の出力端子は電源電圧レベルとなり、インバータINV22の出力端子は接地電位レベルとなる。
 これにより、PMOSトランジスタMP21がオン状態となって、バンドギャップリファレンス回路10のアンプAの反転入力端子に電源電圧レベルが入力される。また、NMOSトランジスタMN21がオン状態となって、バンドギャップリファレンス回路10のアンプAの非反転入力端子に接地電位レベルが入力される。
 アンプAでは、反転入力端子に電源電圧レベルが入力され、非反転入力端子に接地電位レベルが入力されると、出力端子から接地電位レベルが出力される。アンプAの出力端子から出力された接地電位レベルは、PMOSトランジスタMP11~MP13,MP22それぞれのゲート端子に印加される。これにより、PMOSトランジスタMP11~MP13,MP22それぞれがオン状態となる。
 PMOSトランジスタMP11がオン状態となると、電源電圧端子からPMOSトランジスタMP11のソース端子およびドレイン端子を経て電流I11が流れる。その電流I11は2分岐されて、一方の電流が抵抗器R11および抵抗器R12を流れ、他方の電流がダイオードD10を流れる。
 PMOSトランジスタMP12がオン状態となると、電源電圧端子からPMOSトランジスタMP12のソース端子およびドレイン端子を経て電流I12が流れる。その電流I12は2分岐されて、一方の電流が抵抗器R13および抵抗器R14を流れ、他方の電流が抵抗器R15およびN個のダイオードD11~D1Nを流れる。
 PMOSトランジスタMP13がオン状態となると、電源電圧端子からPMOSトランジスタMP13のソース端子およびドレイン端子を経て電流I13が流れる。その電流I13は、さらに抵抗器R16および抵抗器R17を流れる。
 また、第1スタートアップ回路20のPMOSトランジスタMP22がオン状態となる。NMOSトランジスタMN22のオン抵抗値がPMOSトランジスタMP22のオン抵抗値より大きいから、接続点Pは電源電圧レベルとなる。その結果、PMOSトランジスタMP21およびNMOSトランジスタMN21それぞれがオフ状態となる。
 以上のような第1スタートアップ回路20の作用により、バンドギャップリファレンス回路10は、安定動作を開始することができる。安定動作時におけるバンドギャップリファレンス回路10では、抵抗器R11と抵抗器R12との接続点P11と、抵抗器R13と抵抗器R14との接続点P12とが、互いに等しい電位となるように、アンプAからPMOSトランジスタMP11~MP13それぞれのゲート端子に印加される電位が設定される。これにより、電源電圧VDDの値が変動しても、安定した第1電圧値Vが出力端子から出力され得る。また、抵抗器およびダイオードそれぞれの抵抗値の温度依存性が互いに相殺する関係を有しているので、温度が変動しても、安定した第1電圧値Vが出力端子から出力され得る。
 したがって、バンドギャップリファレンス回路10から出力される第1電圧値Vは、電源電圧VDDの値が第1閾値Vth1に達するまでは接地電位レベルと電源電圧レベルとの間の不定の値をとるが、電源電圧VDDの値が第1閾値Vth1に達すると安定した一定値となる。
 一方、電圧分割回路30および第2スタートアップ回路40では、電源電圧供給開始の直後の或る期間、抵抗器R41と抵抗器R42との接続点P41は接地電位レベルに近く、PMOSトランジスタMPがオフ状態である。また、PMOSトランジスタMPと抵抗器R43との接続点P42も接地電位レベルに近く、PMOSトランジスタMPもオフ状態である。したがって、抵抗器R31と抵抗器R32との接続点P31から出力される第2電圧値Vは接地電位レベルである。
 電源電圧VDDの値が第2閾値Vth2に達すると、第2スタートアップ回路40では、PMOSトランジスタMPのソース端子とゲート端子との電位差が閾値電圧Vthp以上となって、PMOSトランジスタMPがオン状態となる。第2閾値Vth2は「Vth2=Vthp(R41+R42)/R42」なる式で表される。PMOSトランジスタMPがオン状態となると、PMOSトランジスタMPのソース端子とゲート端子との電位差が閾値以上となって、PMOSトランジスタMPがオン状態となる。
 そして、PMOSトランジスタMPがオン状態となると、電圧分割回路30から出力される第2電圧値Vは、抵抗器R31および抵抗器R32それぞれの抵抗値の比に応じて電源電圧VDDの値が分割された値となり、電源電圧VDDに比例して次第に増加していく。PMOSトランジスタMPのオン抵抗値を無視すると、第2電圧値Vは「V=VDD・R32/(R31+R32)」なる式で表される。
 図2に示されるように、バンドギャップリファレンス回路10から出力される第1電圧値Vは、電源電圧VDDの値が第1閾値Vth1に達すると、安定した一定の値となる。一方、電圧分割回路30から出力される第2電圧値Vは、電源電圧VDDの値が第2閾値Vth2に達する迄は接地電位レベルであり、電源電圧VDDの値が第2閾値Vth2以上であると電源電圧VDDに比例した値となる。ただし、第2閾値Vth2は第1閾値Vth1より大きい。
 したがって、電源電圧VDDの供給開始から安定する迄の間の或る1つの時刻tを境として、第1電圧値Vと第2電圧値Vとの大小関係が逆転する。すなわち、時刻t前では、第2電圧値Vが第1電圧値Vより小さいので、電圧比較回路50から出力されるパワーオンリセット信号PORは接地電位レベルである。時刻t後では、第2電圧値Vが第1電圧値Vより大きいので、電圧比較回路50から出力されるパワーオンリセット信号PORは電源電圧レベルとなる。このように本実施形態に係るパワーオンリセット回路1は、充分な長さのリセット期間を安定して得ることができる。
 なお、各回路を構成する抵抗器、ダイオード、PMOSトランジスタおよびNMOSトランジスタそれぞれは、上記のような所望の特性が得られるよう設計され製造されることが重要である。特にPMOSトランジスタおよびNMOSトランジスタについては、製造条件が変動すると特性が変動するが、製造条件が変動したとしても所望の特性が得られるよう設計マージンを有していることが重要である。
 図3は、本実施形態に係るパワーオンリセット回路1におけるPMOSトランジスタMP22の閾値電圧Vthp,NMOSトランジスタMN22の閾値電圧Vthnおよび 電圧分割回路30が起動する第2閾値Vth2それぞれのプロセス条件依存性を模式的に示すグラフである。製造条件が変動したとしても、バンドギャップリファレンス回路10より後に電圧分割回路30が起動するには、この図に示されるように、プロセス条件変動の全範囲において「Vth2>Vthn」となるよう、PMOSトランジスタおよびNMOSトランジスタが設計されることが重要である。
 本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。例えば、パワーオンリセット回路1を構成する各回路は様々な構成のものが可能である。
 パワーオンリセット回路において充分な長さのリセット期間を安定して得る用途に適用することができる。
 1  パワーオンリセット回路
 10 バンドギャップリファレンス回路
 20 第1スタートアップ回路
 30 電圧分割回路
 40 第2スタートアップ回路
 50 電圧比較回路

Claims (1)

  1.  電源電圧が供給され所定の第1電圧値を出力するバンドギャップリファレンス回路と、
     前記電源電圧の値が第1閾値以上になると前記バンドギャップリファレンス回路の安定動作を開始させる第1スタートアップ回路と、
     前記電源電圧が供給される電源電圧端子と出力端子との間に直列的に設けられたスイッチおよび第1抵抗器と、前記出力端子と接地端子との間に設けられた第2抵抗器とを有し、前記出力端子から第2電圧値を出力する電圧分割回路と、
     前記電源電圧の値が前記第1閾値より大きい第2閾値以上になると前記電圧分割回路の前記スイッチを閉じさせる第2スタートアップ回路と、
     前記バンドギャップリファレンス回路から出力された第1電圧値と、前記電圧分割回路から出力された第2電圧値とを入力し、前記第2電圧値が前記第1電圧値より小さいときにリセットレベルの電圧値を出力し、前記第2電圧値が前記第1電圧値以上になると電源電圧レベルの電圧値を出力する電圧比較回路と、
     を備えることを特徴とするパワーオンリセット回路。
PCT/JP2010/052940 2009-03-11 2010-02-25 パワーオンリセット回路 WO2010103931A1 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP10750685.9A EP2408111B1 (en) 2009-03-11 2010-02-25 Power-on reset circuit
CN201080010936.2A CN102342022B (zh) 2009-03-11 2010-02-25 上电复位电路
KR1020117019079A KR101296926B1 (ko) 2009-03-11 2010-02-25 파워-온 리셋 회로
US13/255,704 US8519755B2 (en) 2009-03-11 2010-02-25 Power-on reset circuit

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009057651A JP4866929B2 (ja) 2009-03-11 2009-03-11 パワーオンリセット回路
JP2009-057651 2009-03-11

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2010103931A1 true WO2010103931A1 (ja) 2010-09-16

Family

ID=42728221

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2010/052940 WO2010103931A1 (ja) 2009-03-11 2010-02-25 パワーオンリセット回路

Country Status (6)

Country Link
US (1) US8519755B2 (ja)
EP (1) EP2408111B1 (ja)
JP (1) JP4866929B2 (ja)
KR (1) KR101296926B1 (ja)
CN (1) CN102342022B (ja)
WO (1) WO2010103931A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103532531A (zh) * 2013-10-12 2014-01-22 中山大学 一种上电复位电路及方法
CN107707232A (zh) * 2017-10-31 2018-02-16 上海贝岭股份有限公司 复位阈值电平可变的上电复位电路

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102761322B (zh) 2011-04-28 2016-08-03 飞兆半导体公司 上电复位电路及其复位方法
CN102594312B (zh) * 2012-03-04 2014-12-10 北京工业大学 一种新型的上电复位电路
CN103378830B (zh) * 2012-04-17 2016-08-24 国民技术股份有限公司 上电复位电路
US8680901B2 (en) * 2012-08-06 2014-03-25 Texas Instruments Incorporated Power on reset generation circuits in integrated circuits
US9110486B2 (en) * 2012-09-06 2015-08-18 Freescale Semiconductor, Inc. Bandgap reference circuit with startup circuit and method of operation
TW201417496A (zh) * 2012-10-24 2014-05-01 Keystone Semiconductor Corp 電源開啟重置電路
CN103095265B (zh) * 2012-11-13 2015-01-21 长沙景嘉微电子股份有限公司 一种上电和掉电自动复位检测电路
JP6118599B2 (ja) 2013-03-19 2017-04-19 富士通株式会社 パワーオンリセット回路、電源回路および電源システム
US10656810B2 (en) * 2014-07-28 2020-05-19 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Image background removal using multi-touch surface input
JP2016086253A (ja) 2014-10-24 2016-05-19 ソニー株式会社 パワーオンリセット回路及び高周波通信装置
US9535266B2 (en) * 2014-11-05 2017-01-03 Johnson & Johnson Vision Care, Inc. Wake circuit for powered ophthalmic lens
TWI632773B (zh) * 2017-09-25 2018-08-11 立錡科技股份有限公司 低耗電電源啟動重設電路與參考訊號電路
FR3096466B1 (fr) * 2019-05-20 2021-10-22 St Microelectronics Rousset Dispositif comprenant un circuit de démarrage
CN115053200A (zh) 2019-12-06 2022-09-13 美国莱迪思半导体公司 自适应上电复位发生器系统和用于可编程逻辑设备的方法
US20230100998A1 (en) * 2021-09-29 2023-03-30 Skyworks Solutions, Inc. Reference startup circuit for audio amplifiers

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5867047A (en) 1996-08-23 1999-02-02 Ramtron International Corporation Bandgap reference based power-on detect circuit including a suppression circuit
US6509768B2 (en) * 2000-01-28 2003-01-21 Stmicroelectronics S.R.L. Low-consumption power-on reset circuit for semiconductor memories
US6803751B2 (en) * 2001-10-24 2004-10-12 Atmel Nantes S.A. Power supply controller for electronic circuits, components and corresponding devices
US6847240B1 (en) 2003-04-08 2005-01-25 Xilinx, Inc. Power-on-reset circuit with temperature compensation
US7466172B2 (en) * 2006-09-01 2008-12-16 Via Technologies, Inc. Supply voltage level detector

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3586073B2 (ja) * 1997-07-29 2004-11-10 株式会社東芝 基準電圧発生回路
US7276948B2 (en) * 2003-12-18 2007-10-02 Stmicroelectronics, Inc. Reset circuit
JP4504108B2 (ja) * 2004-06-15 2010-07-14 富士通セミコンダクター株式会社 リセット回路
US7148742B2 (en) * 2004-07-07 2006-12-12 Micron Technology, Inc. Power supply voltage detection circuitry and methods for use of the same
JP4686222B2 (ja) * 2005-03-17 2011-05-25 株式会社東芝 半導体装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5867047A (en) 1996-08-23 1999-02-02 Ramtron International Corporation Bandgap reference based power-on detect circuit including a suppression circuit
US6509768B2 (en) * 2000-01-28 2003-01-21 Stmicroelectronics S.R.L. Low-consumption power-on reset circuit for semiconductor memories
US6803751B2 (en) * 2001-10-24 2004-10-12 Atmel Nantes S.A. Power supply controller for electronic circuits, components and corresponding devices
US6847240B1 (en) 2003-04-08 2005-01-25 Xilinx, Inc. Power-on-reset circuit with temperature compensation
US7466172B2 (en) * 2006-09-01 2008-12-16 Via Technologies, Inc. Supply voltage level detector

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103532531A (zh) * 2013-10-12 2014-01-22 中山大学 一种上电复位电路及方法
CN107707232A (zh) * 2017-10-31 2018-02-16 上海贝岭股份有限公司 复位阈值电平可变的上电复位电路
CN107707232B (zh) * 2017-10-31 2023-04-25 上海贝岭股份有限公司 复位阈值电平可变的上电复位电路

Also Published As

Publication number Publication date
US20120032717A1 (en) 2012-02-09
EP2408111A4 (en) 2017-11-29
US8519755B2 (en) 2013-08-27
JP2010213046A (ja) 2010-09-24
KR101296926B1 (ko) 2013-08-14
KR20110118672A (ko) 2011-10-31
EP2408111B1 (en) 2020-10-07
EP2408111A1 (en) 2012-01-18
CN102342022A (zh) 2012-02-01
CN102342022B (zh) 2014-04-02
JP4866929B2 (ja) 2012-02-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2010103931A1 (ja) パワーオンリセット回路
US10061335B2 (en) Voltage regulator
JP5470128B2 (ja) 定電圧回路、コンパレータおよびそれらを用いた電圧監視回路
JP5971720B2 (ja) 電圧レギュレータ
KR101369154B1 (ko) 과전압 보호 기능을 갖는 션트 레귤레이터 및 이를 구비한반도체 장치
JP6354720B2 (ja) 保護回路付きのレギュレータ回路
TW201818182A (zh) 電壓調整器
TWI672572B (zh) 電壓調節器
JP2009277122A (ja) 電源電圧監視回路
JP6205163B2 (ja) 半導体装置
US20170117888A1 (en) Voltage comparison circuit
JP6524829B2 (ja) レベルシフト回路
TWI816912B (zh) 參考電壓電路以及電源啟動重置電路
JP6823468B2 (ja) パワーオンリセット回路
JP6624979B2 (ja) ボルテージレギュレータ
JP2010003115A (ja) 定電流回路
KR100930500B1 (ko) 비교기를 이용한 밴드갭 기준회로
JP5699515B2 (ja) 基準電圧発生回路
JP2011188361A (ja) パワーオンリセット回路
JP2006134126A (ja) 基準電圧発生回路及びこれを用いた電源電圧監視回路
KR102658159B1 (ko) 과열 보호 회로 및 이것을 구비한 반도체 장치
JP2008148024A (ja) リセット回路
JP2022083085A (ja) 半導体集積回路
JP2009239436A (ja) ヒステリシスコンパレータ
JP2018160305A (ja) 半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 201080010936.2

Country of ref document: CN

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 10750685

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20117019079

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2010750685

Country of ref document: EP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 13255704

Country of ref document: US