WO2009144911A1

WO2009144911A1 - 光ディスク装置、フォーカスエラー信号調整方法、プログラムおよび集積回路

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Publication number: WO2009144911A1
Application number: PCT/JP2009/002299
Authority: WO
Inventors: 丸山徹; 山元猛晴
Original assignee: パナソニック株式会社
Priority date: 2008-05-27
Filing date: 2009-05-25
Publication date: 2009-12-03
Also published as: JPWO2009144911A1; US20100195455A1; CN101790760A

Abstract

　フォーカスエラー信号の信号対称性の調整を行うには、フォーカスエラー信号の信号補正ゲイン値を変えて設定しながら、設定値ごとに対物レンズをＵＰ／ＤＯＷＮ駆動させてフォーカスエラー信号の信号対称性を測定する必要があるため、調整にかかる時間が長くなる。光ディスク装置（１００）では、フォーカスエラー信号の極大点および極小点におけるフォーカス差動前信号を差動前ＦＥ測定部（５０）により測定し、対称性演算部（５１）によりフォーカスエラー信号のＳ字対称性を演算し、演算結果に基づいてバランス調整を行うことで一度の対物レンズのＵＰ／ＤＯＷＮ動作で高速なフォーカスエラー信号の信号対称性の調整ができる。

Description

光ディスク装置、フォーカスエラー信号調整方法、プログラムおよび集積回路

　本発明は、フォーカスエラー信号（ＦＥ信号）の信号対称性の調整にかかる時間を短縮する光ディスク装置に関する。特に、ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号とを用いることで高速な信号補正値を演算することができる光ディスク装置に関する。

　従来の光ディスク装置の構成および動作について、図１０および図１１を参照して説明する。
　図１０は、従来の光ディスク装置９００の概略構成を示す図である。
　図１１は、従来の光ディスク装置９００におけるバランス回路４０のゲイン値とＦＥ信号（フォーカス・エラー信号）の対称性との関係を示すグラフである。
　まず、図１０を用いて、光ディスク装置９００におけるフォーカスエラー信号（以下、「ＦＥ信号」と称す）の対称性調整を行うための構成について説明する。
　図１０に示すように、光ディスク装置９００は、光ヘッド１０と、バランス回路４０と、差動回路４１と、ＦＥ信号測定部４２と、対称性演算部４３と、近似演算部４４と、コントローラ４５と、を備える。

　「ＦＥ信号」とは、光ディスク１の情報面の位置と光ビームスポットの位置との誤差を示す信号であって、光ディスク１のディスク面（情報面）に対する垂直方向（光ディスク１のディスク面の法線方向）の追従誤差（光ディスク１の情報面の位置と光ビームスポットの位置との垂直方向の誤差）を表す信号である。
　光ヘッド１０は、主に、レーザ光源３０と、ビームスプリッタ３１と、対物レンズ３２と、フォーカスアクチュエータ３３と、受光部３４と、から構成される。
　レーザ光源３０は、光ビームを光ディスク１に向けて所定のパワーで照射する。照射された光ビームは、ビームスプリッタ３１を通過し、対物レンズ３２によって光ディスク１の情報面上に収束される。光ディスク１によって反射した光ビームは、ビームスプリッタ３１で反射して受光部３４に照射される。

　受光部３４は、受光した光ビームの光量を電気信号に変換し、変換した電気信号をＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号としてバランス回路４０および差動回路４１に出力する。
　差動回路４１は、受光部３４から出力されたＦＥプラス信号と、受光部３４から出力されたＦＥマイナス信号にバランス回路４０により所定のゲイン補正された信号と、に基づきＦＥ信号を生成する。そして、差動回路４１は、生成したＦＥ信号をＦＥ信号測定部４２に出力する。
　コントローラ４５は、バランス回路４０に対して数点の異なる所定のゲイン値を設定する。そして、コントローラ４５は、それぞれのゲイン設定ごとに、対物レンズ３２を光ディスク１に対してＵＰ／ＤＯＷＮ駆動するためのフォーカス駆動指令を生成する。そして、コントローラ４５は、生成したフォーカス駆動指令をフォーカスアクチュエータ３３に送る。

　コントローラから出力されたフォーカス駆動指令に基づいて、対物レンズ３２がフォーカスアクチュエータ３３により駆動されることで、対物レンズ３２により収束された光ビームの焦点が光ディスク１の表面および情報面を通過する。光ビームの焦点が光ディスク１の表面または情報面を通過する近傍において、差動回路４１からのＦＥ信号がＳ字のような波形（以下、「ＦＥ信号のＳ字」と称す）となる。
　ＦＥ信号測定部４２は、コントローラ４５によるバランス回路４０のゲイン値設定ごとの対物レンズ３２のＵＰ／ＤＯＷＮ駆動における差動回路４１からの各ＦＥ信号のＳ字のレベル（Ｓ字波形となるＦＥ信号の信号レベル）を測定する。
　対称性演算部４３は、ＦＥ信号測定部４２で測定したＦＥ信号のＳ字のレベルに基づいて、ＦＥ信号のＳ字の対称性（Ｓ字波形となるＦＥ信号の信号レベルの対称性）を演算する。

　さらに、コントローラ４５は、フォーカスアクチュエータ３３を介して、所定点数のバランス回路４０のゲイン値設定に対して、対物レンズ３２をＵＰ／ＤＯＷＮ駆動させる。そして、その後、コントローラ４５は、近似演算部４４に対して、直線近似演算を実施する指令を送る。
　近似演算部４４は、コントローラ４５からの指令を受け、バランス回路４０の各ゲイン値設定における対称性演算部４３からの出力から、直線近似演算によりＦＥ信号のＳ字の対称性を略０にするバランス回路４０のゲイン値を演算し、演算結果のゲイン値をバランス回路４０に設定する。なお、ＦＥ信号の「Ｓ字の対称性」は、例えば、図７に示すＦＥ信号のプラス側の振幅Ａおよびマイナス側の振幅Ｂを用いて、
　　（Ｓ字の対称性）＝（Ａ－Ｂ）／（Ａ＋Ｂ）
により求めることができる。ＦＥ信号の「Ｓ字の対称性」は、上記以外の物理量（例えば、ＡおよびＢの絶対値や、ＡとＢとの比、ＡとＢとの差分等に基づく物理量）により評価されるものであってもよい。

　≪ＦＥ信号の対称性調整の動作≫
　次に、図１１の特性図を用いて、従来の光ディスク装置９００のＦＥ信号の対称性調整の動作について説明する。
　図１１は、横軸をバランス回路４０のゲイン値とし、縦軸をＦＥ信号のＳ字の対称性とした、バランス回路４０のゲイン値に対するＦＥ信号のＳ字の対称性の特性および近似直線を示している。
　コントローラ４５は、バランス回路４０のゲイン値をゲインＧ１に設定し、対物レンズ３２を光ディスク１に対してＵＰ／ＤＯＷＮ駆動させる。そのときに得られたＦＥ信号の対称性ＳＹ１を演算により取得する。
　さらに、コントローラ４５は、これら一連の動作を、ゲインＧ２、ゲインＧ３、ゲインＧ４およびゲインＧ５に対して行い、それぞれ、ＦＥ信号の対称性ＳＹ２、対称性ＳＹ３、対称性ＳＹ４および対称性ＳＹ５を演算により取得する。ゲインＧ１、ゲインＧ２、ゲインＧ３、ゲインＧ４およびゲインＧ５と、対称性ＳＹ１、対称性ＳＹ２、対称性ＳＹ３、対称性ＳＹ４および対称性ＳＹ５との関係は、図１１に示すような関係（特性）となる。

　光ディスク装置９００では、図１１に示す特性に対して直線近似法により近似直線を演算し、近似直線からＦＥ信号のＳ字の対称性が略０となるバランス回路４０のゲイン値Ｇ６を演算により算出され、算出されたゲイン値Ｇ６がバランス回路４０に設定される。

特開平８－２１２５６７号公報

　しかしながら、従来の光ディスク装置９００では、バランス回路４０のゲイン値ごとにＦＥ信号の対称性調整のために対物レンズ３２をＵＰ／ＤＯＷＮ駆動させる必要があるため、ＦＥ信号の対称性調整に時間がかかるという問題点がある。
　本発明は、上記問題点に鑑み、対物レンズのＵＰ／ＤＯＷＮ動作の回数が少なくてもＦＥ信号の対称性（Ｓ字対称性）を精度よく調整することができる光ディスク装置、フォーカスエラー信号調整方法、プログラムおよび集積回路を実現することを目的とする。

　第１の発明は、情報面を有する光ディスクに対して記録および再生の少なくとも一方を行う装置であって、照射部と、収束部と、フォーカス駆動部と、受光部と、測定部と、信号補正部と、フォーカスエラー信号生成部と、信号比演算部と、を備える光ディスク装置である。
　照射部は、光ディスクに光ビームを照射する。収束部は、照射部によって照射された光ビームを収束させる。フォーカス駆動部は、収束部により収束された光ビームスポットを光ディスクのディスク面に対して垂直方向に移動させるように収束部を駆動する。受光部は、複数に分割されたディテクタを有し、光ディスクからの反射光を複数に分割されたディテクタで受光し、受光した光量に対応する電気信号をＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号として取得する。測定部は、受光部により取得されたＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号の信号レベルを測定する。信号補正部は、ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に所定のゲイン値を掛けることで、ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に対して信号レベルの補正を行う。フォーカスエラー信号生成部は、信号補正部からの出力に基づきフォーカスエラー信号を生成し、生成したフォーカスエラー信号を出力する。信号比演算部は、測定部からの出力に基づき、ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に掛ける所定のゲイン値であって、フォーカスエラー信号の極大値の絶対値とフォーカス信号の極小値の絶対値とを等しくする所定のゲイン値を導出する。

　そして、信号補正部は、信号比演算部により導出された所定のゲイン値に基づいて、ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に対して信号レベルの補正を行う。
　なお、ＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号は、例えば、４分割されたディテクタを有する受光部の対角関係になる２つのディテクタの受光量の和に対応する信号である。すなわち、４分割されたディテクタでの受光量をＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄとし、Ａ、Ｄが一方の対角線上にあり、Ｂ、Ｃがもう一方の対角線上にあるものとすると、ＦＥプラス信号は、（Ｂ＋Ｃ）に対応する信号であり、ＦＥマイナス信号は、（Ａ＋Ｄ）に対応する信号である。なお、これは一例であり、これに限定されないことは言うまでもない。
　また、「等しくする」とは、「略等しくする」を含む概念であり、測定誤差、設計誤差等を許容する概念である。

　この光ディスク装置では、測定部により、受光部により取得されたＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号の信号レベルが測定され、信号比演算部により、フォーカスエラー信号の極大値の絶対値とフォーカス信号の極小値の絶対値とを等しくする所定のゲイン値が導出され、そのゲイン値により、信号補正部が、ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に対して信号レベルの補正を行う。これにより、この光ディスク装置では、フォーカス駆動部による光ビームスポットの駆動の回数が少ない場合であっても、ＦＥ信号の対称性（Ｓ字対称性）を精度よく調整することができる。
　つまり、この光ディスク装置では、フォーカスエラー信号の差動前信号を１度測定するだけで信号対称性を高速に調整することができる。
　第２の発明は、第１の発明であって、信号比演算部は、光ビームスポットが光ディスクの任意の情報面近傍にあるときのフォーカスエラー信号の信号レベルが極値をとる点、あるいは光ビームスポットが光ディスクの任意の情報面近傍にあるときのＦＥプラス信号の信号レベルおよびＦＥマイナス信号の信号レベルが極値をとる点、における測定部からの出力に基づき所定のゲイン値を導出する。

　この光ディスク装置では、
（１）光ビームスポットが光ディスクの任意の情報面近傍にあるときのフォーカスエラー信号の信号レベルが極値に基づいて所定のゲイン値を導出（算出）する、あるいは、
（２）光ビームスポットが光ディスクの任意の情報面近傍にあるときのＦＥプラス信号の信号レベルおよびＦＥマイナス信号の信号レベルが極値に基づいて、所定のゲイン値を導出（算出）することができる。
　したがって、この光ディスク装置では、フォーカスエラー信号のＳ字対称性調整を適切に行うことができる。その結果、この光ディスク装置では、光ディスクの任意の情報面に対して安定なフォーカス制御ができる。
　なお、「極値」とは、最大値、最小値、極大値および極小値を含む概念である。

　第３の発明は、第２の発明であって、フォーカス制御部と、フォーカス引込部と、をさらに備える。
　フォーカス制御部は、フォーカスエラー信号生成部からの信号に応じて光ビームスポットが光ディスクの情報面上に位置するように制御する。フォーカス引込部は、フォーカス駆動部により光ビームスポットを光ディスクのディスク面に対して垂直な方向に移動させ、光ビームスポットの位置が光ディスクの任意の情報面上の位置に一致したとき、フォーカス制御部による制御動作を開始させる。そして、信号比演算部は、フォーカス引込部によりフォーカス制御部が動作を開始する前に、少なくとも一度は、測定部からの出力に基づき信号補正部で用いる所定のゲイン値を導出する。
　この光ディスク装置では、信号比演算部により、フォーカス制御部が開始される前に、少なくとも一度、測定部からの出力に基づき信号補正部で用いる所定のゲイン値を導出（算出）されるので、任意の情報面に対して安定なフォーカス引き込みを行うことができる。

　第４の発明は、第２の発明であって、光ディスクの任意の情報面上における光ビームスポットの球面収差を補正する球面収差補正部をさらに備える。信号比演算部は、球面収差補正部による球面収差補正後に、測定部からの出力に基づき、信号補正部で用いられる所定のゲイン値を導出する。
　この光ディスク装置では、球面収差補正後に、測定部からの出力に基づき、信号補正部で用いられる所定のゲイン値が導出（算出）されるので、球面収差によるフォーカスエラー信号の信号対称性ズレの影響を効果的に除去することができる。その結果、この光ディスク装置では、フォーカスエラー信号のＳ字対称性調整をより適切に行うことができ、光ディスクの任意の情報面に対してより安定なフォーカス制御ができる。
　第５の発明は、第４の発明であって、フォーカス制御部と、フォーカス引込部と、をさらに備える。

　フォーカス制御部は、フォーカスエラー信号生成部からの信号に応じて光ビームスポットが光ディスクの情報面上に位置するように制御する。フォーカス引込部は、フォーカス駆動部により光ビームスポットを光ディスクのディスク面に対して垂直な方向に移動させ、光ビームスポットの位置が光ディスクの任意の情報面上の位置に一致したとき、フォーカス制御部による制御動作を開始させる。そして、信号比演算部は、フォーカス引込部により光ビームスポットを光ディスクに対して近づけた際に、測定部からの出力に基づき信号補正部で用いられる所定のゲイン値を導出する。フォーカス引込部は、信号比演算部による所定のゲイン値の導出後に、光ビームスポットが光ディスクの任意の情報面上に位置するようにフォーカス制御部によるフォーカス制御を行う。
　この光ディスク装置では、信号比演算部により、光ビームスポットが光ディスクに対して近づけられた際に、測定部からの出力に基づき信号補正部で用いられる所定のゲイン値を導出（算出）される。したがって、この光ディスク装置では、フォーカスエラー信号の信号対称性調整に要する時間をフォーカス引き込み処理時間に吸収することで起動時間が短縮できる。

　第６の発明は、第４の発明であって、装填された光ディスクの種類を判別するためにフォーカス駆動部により光ビームスポットを光ディスクに対して近づける動作および遠ざける動作を行うディスク判別部をさらに備える。
　信号比演算部は、ディスク判別部による光ビームスポットを光ディスクに対して近づける動作中あるいは遠ざける動作中の少なくとも一方の動作中に測定部からの出力に基づき信号補正部に用いられる所定のゲイン値を導出する。
　これにより、フォーカスエラー信号の信号対称性調整に要する時間をディスク判別処理時間に吸収することで起動時間が短縮できる。
　第７の発明は、第６の発明であって、光ビームスポットを光ディスクに対して近づける動作中に、信号比演算部により導出された所定のゲイン値を第１のゲイン値として取得し、光ビームスポットを光ディスクに対して遠ざける動作中に信号比演算部により導出された所定のゲイン値を第２のゲイン値として取得し、第１のゲイン値および第２のゲイン値から、信号補正部で用いられる所定のゲイン値を導出する信号比最適化部をさらに備える。

　この光ディスク装置では、第１のゲイン値および第２のゲイン値から、信号補正部で用いられる所定のゲイン値を導出（算出）するので、フォーカスエラー信号の信号対称性の調整精度をさらに向上させることができる。
　なお、信号比最適化部により求められる所定のゲイン値は、ＦＥ信号の信号対称性（Ｓ字対称性）を
　　（Ｓ字の対称性）＝（Ａ－Ｂ）／（Ａ＋Ｂ）
により表す場合、－１０％≦（Ｓ字対称性）≦１０％となるように設定することが好ましく。また、－５％≦（Ｓ字対称性）≦５％となるように所定のゲイン値が設定されることがより好ましい。
　第８の発明は、第１の発明であって、光ディスクが複数の情報面を有している場合、信号比演算部は、複数の情報面の全てに対して、光ビームスポットが光ディスク上の情報面近傍にあるときのフォーカスエラー信号の信号レベルが極値をとる点、あるいは光ビームスポットが光ディスク上の情報面近傍にあるときのＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号の信号レベルが極値をとる点、における測定部からの信号に基づき、信号補正部で用いられる所定のゲイン値を導出する。

　この光ディスク装置では、光ディスクが複数の情報面を有している場合であっても、全ての情報面についてのゲイン値が算出され、全情報面に対してＦＥ信号のＳ字対称性の調整を適切に行うことができる。その結果、光ディスクが複数の情報面を有している場合であっても、安定なフォーカス制御ができる。
　第９の発明は、第８の発明であって、フォーカス制御部と、フォーカス引込部と、をさらに備える。
　フォーカス制御部は、フォーカスエラー信号生成部からの信号に応じて光ビームスポットが光ディスクの情報面上に位置するように制御する。フォーカス引込部は、フォーカス駆動部により光ビームスポットを光ディスクのディスク面に対して垂直な方向に移動させ、光ビームスポットの位置が光ディスクの任意の情報面上の位置に一致したとき、フォーカス制御部による制御動作を開始させる。そして、信号比演算部は、フォーカス引込部によりフォーカス制御部が動作を開始する前に、少なくとも一度は、測定部からの出力に基づき信号補正部で用いる所定のゲイン値を導出する。

　これにより、全情報面に対して安定なフォーカス引き込みができ、更に任意の情報面への安定なフォーカスジャンプができる。
　第１０の発明は、第８の発明であって、フォーカス制御部と、フォーカス引込部と、をさらに備える。
　フォーカス制御部は、フォーカスエラー信号生成部からの信号に応じて光ビームスポットが光ディスクの情報面上に位置するように制御する。フォーカス引込部は、フォーカス駆動部により光ビームスポットを光ディスクのディスク面に対して垂直な方向に移動させ、光ビームスポットの位置が光ディスクの任意の情報面上の位置に一致したとき、フォーカス制御部による制御動作を開始させる。
　そして、信号比演算部は、フォーカス引込部により光ビームスポットを光ディスクに対して近づけた際に、測定部からの出力に基づき信号補正部できる用いられる所定のゲイン値を導出する。フォーカス引込部は、信号比演算部による所定のゲイン値の導出後に、光ビームスポットが光ディスクの任意の情報面上に位置するようにフォーカス制御部によるフォーカス制御を行う。

　これにより、全情報面のフォーカスエラー信号の信号対称性調整に要する時間をフォーカス引き込み処理時間に吸収することで起動時間が短縮できる。
　第１１の発明は、第８の発明であって、装填された光ディスクの種類を判別するためにフォーカス駆動部により光ビームスポットを光ディスクに対して近づける動作および遠ざける動作を行うディスク判別部をさらに備える。
　信号比演算部は、ディスク判別部による光ビームスポットを光ディスクに対して近づける動作中あるいは遠ざける動作中の少なくとも一方の動作中に測定部からの出力に基づき信号補正部に用いられる所定のゲイン値を導出する。
　これにより、全情報面のフォーカスエラー信号の信号対称性調整に要する時間をディスク判別処理時間に吸収することで起動時間が短縮できる。

　第１２の発明は、第１１の発明であって、光ビームスポットを光ディスクに対して近づける動作中に、信号比演算部により導出された所定のゲイン値を第１のゲイン値として取得し、光ビームスポットを光ディスクに対して遠ざける動作中に、信号比演算部により導出された所定のゲイン値を第２のゲイン値として取得し、第１のゲイン値および第２のゲイン値から、信号補正部で用いられる所定のゲイン値を導出する信号比最適化部をさらに備える。
　これにより、全情報面のフォーカスエラー信号の信号対称性の調整精度を向上できる。
　第１３の発明は、第８の発明であって、フォーカス駆動部による光ビームスポットの光ディスクに対して近づける動作あるいは遠ざける動作の少なくとも一方の動作中に、光ビームスポットが光ディスクの全情報面をそれぞれ通過する際に、光ビームスポットが通過する任意の情報面上における光ビームスポットの球面収差が略０となるようにフォーカス駆動部の動作に並行して球面収差を補正する球面収差補正部をさらに備える。

　この光ディスク装置では、球面収差補正処理と並行して、ＦＥ信号のＳ字対称性調整を行うことができる。
　これにより、全情報面に対して球面収差によるフォーカスエラー信号の信号対称性ズレの影響を除去した信号対称性調整に要する時間を短縮できる。
　第１４の発明は、第８の発明であって、球面収差補正部と、全層信号比演算部と、をさらに備える。
　球面収差補正部は、光ディスクの任意の情報面上における光ビームスポットの球面収差を補正する。全層信号比演算部は、光ディスクの任意の情報面に対して球面収差補正部を動作させた後に、フォーカス駆動部による光ビームスポットの光ディスクに対して近づける動作あるいは遠ざける動作の少なくとも一方の動作中に、信号比演算部による所定のゲイン値の導出処理を動作させ、一連の動作を光ディスクの全情報面の１つずつの情報面に対して行う。

　この光ディスク装置では、各情報面（情報層）に対して球面収差補正をした後、ＦＥ信号のＳ字対称性調整を行う。
　これにより、全情報面に対して球面収差によるフォーカスエラー信号の信号対称性ズレの影響を精度良く除去できる。
　第１５の発明は、第１の発明であって、複数の情報面を有する光ディスクに対して記録および再生の少なくとも一方を行う装置であって、信号補正部で用いられる所定のゲイン値であって、光ディスクの複数の情報面に対して共通して用いられる所定のゲイン値である複数層共通ゲイン値を導出する複数情報面信号比演算部をさらに備える。
　信号比演算部は、複数の情報面のそれぞれに対して、所定のゲイン値を導出する。複数情報面信号比演算部は、信号比演算部が、複数の情報面のそれぞれに対して導出した複数の所定のゲイン値から、複数層共通ゲイン値を導出する。

　この光ディスク装置では、信号比演算部により、複数の情報面のそれぞれに対して、所定のゲイン値が算出され、複数情報面信号比演算部により、信号比演算部が、複数の情報面のそれぞれに対して導出した複数の所定のゲイン値から、複数層共通ゲイン値が導出（算出）される。したがって、この光ディスク装置では、複数の情報面に渡ってフォーカス制御が安定となり、フォーカスジャンプ前後でのフォーカス制御の安定性が確保できる。
　なお、「複数層共通ゲイン値」としては、例えば、各情報面に対して算出された所定のゲイン値の平均値が挙げられる。
　第１６の発明は、第１５の発明であって、フォーカス制御部と、フォーカス引込部と、をさらに備える。
　フォーカス制御部は、フォーカスエラー信号生成部からの信号に応じて光ビームスポットが光ディスクの情報面上に位置するように制御する。フォーカス引込部は、フォーカス駆動部により光ビームスポットを光ディスクのディスク面に対して垂直な方向に移動させ、光ビームスポットの位置が光ディスクの任意の情報面上の位置に位置したとき、フォーカス制御部による制御動作を開始させる。

　そして、複数情報面信号比演算部は、フォーカス引込部によりフォーカス制御部が動作する前に、少なくとも一度は、測定部からの出力に基づき複数層共通ゲイン値を導出する。
　これにより、複数の情報面に渡ってフォーカス制御が安定となるフォーカスエラー信号を用いて安定なフォーカス引き込みを行うことができる。
　第１７の発明は、情報面を有する光ディスクに対して記録および再生の少なくとも一方を行う光ディスク装置であって、光ディスクに光ビームを照射する照射部と、照射部によって照射された光ビームを収束させる収束部と、収束部により収束された光ビームスポットを光ディスクのディスク面に対して垂直方向に移動させるように収束部を駆動するフォーカス駆動部と、複数に分割されたディテクタを有し、光ディスクからの反射光を複数に分割されたディテクタで受光し、受光した光量に対応する電気信号をＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号として取得する受光部と、を備える光ディスク装置に用いられるフォーカスエラー信号調整方法である。フォーカスエラー信号調整方法は測定ステップと、信号補正ステップと、フォーカスエラー信号生成ステップと、信号比演算ステップと、を備える。

　測定ステップは、受光部により取得されたＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号の信号レベルを測定する。信号補正ステップは、ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に所定のゲイン値を掛けることで、ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に対して信号レベルの補正を行う。フォーカスエラー信号生成ステップは、信号補正部からの出力に基づきフォーカスエラー信号を生成し、生成したフォーカスエラー信号を出力する。信号比演算ステップは、測定ステップからの出力に基づき、ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に掛ける所定のゲイン値であって、フォーカスエラー信号の極大値の絶対値とフォーカス信号の極小値の絶対値とを等しくする所定のゲイン値を導出する。
　そして、信号補正ステップでは、信号比演算ステップにより導出された所定のゲイン値に基づいて、ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に対して信号レベルの補正を行う。

　これにより、第１の発明と同様の効果を奏するフォーカスエラー信号調整方法を実現することができる。
　第１８の発明は、情報面を有する光ディスクに対して記録および再生の少なくとも一方を行う光ディスク装置であって、光ディスクに光ビームを照射する照射部と、照射部によって照射された光ビームを収束させる収束部と、収束部により収束された光ビームスポットを光ディスクのディスク面に対して垂直方向に移動させるように収束部を駆動するフォーカス駆動部と、複数に分割されたディテクタを有し、光ディスクからの反射光を複数に分割されたディテクタで受光し、受光した光量に対応する電気信号をＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号として取得する受光部と、を備える光ディスク装置に用いられるフォーカスエラー信号調整方法をコンピュータに実行させるプログラムである。フォーカスエラー信号調整方法は測定ステップと、信号補正ステップと、フォーカスエラー信号生成ステップと、信号比演算ステップと、を備える。

　これにより、第１の発明と同様の効果を奏するプログラムを実現することができる。
　第１９の発明は、情報面を有する光ディスクに対して記録および再生の少なくとも一方を行う装置であって、光ディスクに光ビームを照射する照射部と、照射部によって照射された光ビームを収束させる収束部と、収束部により収束された光ビームスポットを光ディスクのディスク面に対して垂直方向に移動させるように収束部を駆動するフォーカス駆動部と、複数に分割されたディテクタを有し、光ディスクからの反射光を複数に分割されたディテクタで受光し、受光した光量に対応する電気信号をＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号として取得する受光部と、を備える光ディスク装置に用いられる集積回路である。この集積回路は、測定部と、信号補正部と、フォーカスエラー信号生成部と、信号比演算部と、を備える。

　測定部は、受光部により取得されたＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号の信号レベルを測定する。信号補正部は、ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に所定のゲイン値を掛けることで、ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に対して信号レベルの補正を行う。フォーカスエラー信号生成部は、信号補正部からの出力に基づきフォーカスエラー信号を生成し、生成したフォーカスエラー信号を出力する。信号比演算部は、測定部からの出力に基づき、ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に掛ける所定のゲイン値であって、フォーカスエラー信号の極大値の絶対値とフォーカス信号の極小値の絶対値とを等しくする所定のゲイン値を導出する。
　そして、信号補正部は、信号比演算部により導出された所定のゲイン値に基づいて、ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に対して信号レベルの補正を行う。

　これにより、第１の発明と同様の効果を奏する集積回路を実現することができる。

　本発明によれば、対物レンズのＵＰ／ＤＯＷＮ動作の回数が少なくてもＦＥ信号の対称性（Ｓ字対称性）を精度よく調整することができる光ディスク装置、フォーカスエラー信号調整方法、プログラムおよび集積回路を実現することができる。

第１実施形態におけるブロック構成を示す図（ａ）第２実施形態における横軸を時間に、縦軸を信号レベルとした、フォーカス引込部によるフォーカス制御引込動作中の対物レンズの位置信号を示す図（ｂ）第２実施形態における横軸を時間に、縦軸を信号レベルとした、フォーカス引込部によるフォーカス制御引込動作中のＦＥ信号を示す図（ｃ）第２実施形態における横軸を時間に、縦軸を信号レベルとした、フォーカス引込部によるフォーカス制御引込動作中のＦＥプラス信号を示す図（ｄ）第２実施形態における横軸を時間に、縦軸を信号レベルとした、フォーカス引込部によるフォーカス制御引込動作中のＦＥマイナス信号を示す図第２実施形態におけるブロック構成を示す図（ａ）第２実施形態における横軸を時間に、縦軸を信号レベルとした、ディスク判別制御部によるディスク判別動作中の対物レンズの位置信号を示す図（ｂ）第２実施形態における横軸を時間に、縦軸を信号レベルとした、ディスク判別制御部によるディスク判別動作中の球面収差補正部の補正レベル信号を示す図（ｃ）第２実施形態における横軸を時間に、縦軸を信号レベルとした、ディスク判別制御部によるディスク判別動作中のＦＥ信号を示す図（ｄ）第２実施形態における横軸を時間に、縦軸を信号レベルとした、ディスク判別制御部によるディスク判別動作中のＦＥプラス信号を示す図（ｅ）第２実施形態における横軸を時間に、縦軸を信号レベルとした、ディスク判別制御部によるディスク判別動作中のＦＥマイナス信号を示す図第３実施形態におけるブロック構成を示す図（ａ）第３実施形態における横軸を時間に、縦軸を信号レベルとした、フォーカス引込部によるフォーカス制御引込動作中の対物レンズの位置信号を示す図（ｂ）第３実施形態における横軸を時間に、縦軸を信号レベルとした、フォーカス引込部によるフォーカス制御引込動作中のＦＥ信号を示す図（ｃ）第３実施形態における横軸を時間に、縦軸を信号レベルとした、フォーカス引込部によるフォーカス制御引込動作中のＦＥプラス信号を示す図（ｄ）第３実施形態における横軸を時間に、縦軸を信号レベルとした、フォーカス引込部によるフォーカス制御引込動作中のＦＥマイナス信号を示す図ＦＥ信号のＳ字対称性を説明するための図他の実施形態に係る光ディスク装置の一部の概略構成図他の実施形態に係る光ディスク装置の動作を説明するための信号波形図背景技術におけるブロック構成を示す図背景技術における横軸をバランス回路のゲイン値に、縦軸をＦＥ信号のＳ字の対称性とした、バランス回路のゲイン値に対するＦＥ信号のＳ字の対称性の特性および近似直線を示す図

　以下、本発明の実施形態について説明する。
　［第１実施形態］
　第１実施形態について、図１、図２を用いて説明する。
　＜１．１：光ディスク装置の構成＞
　図１は、本実施形態に係る光ディスク装置１００の概略構成を示すブロック図である。
　図１に示すように、光ディスク装置１００は、光ディスク１に対して情報の記録／再生を行う装置であって、光ヘッド２０と、バランス調整部（バランス回路）４０と、減算部（差動回路）４１と、差動前ＦＥ測定部５０と、対称性演算部５１と、を備える。また、光ディスク装置１００は、コントローラ５６と、球面収差制御部５２と、フォーカス引込部５５と、フォーカスフィルタ部５４と、切替部（フォーカス駆動出力切替器）５３と、を備える。

　光ヘッド２０は、レーザ光源３０と、ビームスプリッタ３１と、対物レンズ３２と、フォーカスアクチュエータ３３と、受光部３４と、球面収差補正部３５と、を備える。
　レーザ光源３０、ビームスプリッタ３１、対物レンズ３２、フォーカスアクチュエータ３３、受光部３４、バランス調整部（バランス回路）４０および減算部（差動回路）４１は、背景技術の光ディスク装置９００のものと同等な機能を有するものであり、詳しい説明を省略する。
　光ディスク装置１００において、背景技術（光ディスク装置９００）と異なるのは、光ヘッド２０、球面収差補正部３５、差動前ＦＥ測定部５０、対称性演算部５１、球面収差制御部５２、切替部（フォーカス駆動出力切替器）５３、フォーカスフィルタ部５４、フォーカス引込部５５およびコントローラ５６、を用いることで、フォーカス引込前に（フォーカス制御をＯＮにする前に）対物レンズ３２のＵＰ駆動を一度行うだけで、ＦＥ信号のＳ字の対称性調整が出来るところである。

　以下、光ディスク装置１００の機能について、説明する。
　照射部は、例えば、レーザ光源３０により構成される。
　収束部は、例えば、対物レンズ３２により構成される。
　フォーカス駆動部は、例えば、フォーカスアクチュエータ３３により構成される。
　受光部は、例えば、受光部３４により構成される。
　測定部は、例えば、差動前ＦＥ測定部５０により構成される。
　信号補正部は、例えば、バランス回路４０により構成される。
　フォーカスエラー信号生成部は、例えば、差動回路４１により構成される。
　信号比演算部は、例えば、対称性演算部５１により構成される。
　フォーカス制御部は、例えば、フォーカスフィルタ部５４により構成される。

　フォーカス引込部は、例えば、フォーカス引込部５５およびフォーカス駆動出力切替器５３により構成される。
　球面収差補正部は、例えば、球面収差制御部５２および球面収差補正部３５により構成される。
　光ディスク装置１００の光ヘッド２０は、従来の光ディスク装置９００の光ヘッド１０に、球面収差補正部３５を加えた構成である。
　球面収差補正部３５は、レーザ光源３０から照射される光ビームに発生する球面収差量を補正する。
　コントローラ５６は、光ビームに発生する球面収差の補正指令を球面収差制御部５２に送る。

　球面収差制御部５２は、コントローラ５６からの補正指令を受け、光ビームに発生する球面収差を補正するための駆動信号を球面収差補正部３５に送る。
　さらに、コントローラ５６は、対物レンズ３２により収束された光ビームのスポットを光ディスク１の情報面上に対して垂直方向（光ディスク１の情報面の法線方向）に追従させるための指令、すなわち、情報面を探索する指令を、フォーカス引込部５５に送る。
　フォーカス引込部５５は、コントローラ５６の出力および減算部（差動回路）４１の出力を入力とする。フォーカス引込部５５は、コントローラ５６からの指令を受け、切替部（フォーカス駆動出力切替器）５３の切替制御を行う。具体的には、フォーカス引込部５５は、コントローラ５６から情報面を探索する指令を受けている場合（これを「情報面探索モード」の場合ということがある）、フォーカス引込部５５から出力される信号が、フォーカスアクチュエータ３３に出力されるように、切替部（フォーカス駆動出力切替器）５３の入力を切り替える（選択する）。一方、フォーカス引込部５５は、コントローラ５６からフォーカス制御を行う指令を受けている場合（これを「フォーカス制御モード」の場合ということがある）、フォーカスフィルタ部５４から出力される信号が、フォーカスアクチュエータ３３に出力されるように、切替部（フォーカス駆動出力切替器）５３の入力を切り替える（選択する）。

　情報面探索モードの場合、切替部（フォーカス駆動出力切替器）５３では、フォーカス引込部５５からの出力（フォーカス駆動信号）が選択され、フォーカスアクチュエータ３３に出力される。すなわち、情報面探索モードの場合、対物レンズ３２により収束された光ビームのスポットを光ディスク１に対してＵＰ／ＤＯＷＮ駆動するためのフォーカス駆動信号（フォーカス引込部５５からの出力）がフォーカスアクチュエータ３３に送られる。
　そして、対物レンズ３２を駆動するフォーカスアクチュエータ３３が、フォーカス駆動信号により駆動される。
　対物レンズ３２がフォーカスアクチュエータ３３により駆動されることで、対物レンズ３２により収束された光ビームの焦点が光ディスク１の表面および情報面を通過する。光ビームの焦点が光ディスク１の表面または情報面を通過する近傍において、差動回路４１から出力されるＦＥ信号の信号波形がＳ字波形となる。

　差動前ＦＥ測定部５０は、フォーカス引込部５５により対物レンズ３２のＵＰ駆動中（対物レンズ３２を光ディスク１に近づける方向（図１に示したＵＰ方向）に駆動中）における減算部（差動回路）４１からのＦＥ信号のＳ字の信号レベルが極大あるいは極小となる点において、受光部３４から出力されたＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号のレベルを測定する。そして、差動前ＦＥ測定部５０は、測定結果を対称性演算部５１に出力する。
　対称性演算部５１は、差動前ＦＥ測定部からの出力を入力とし、差動前ＦＥ測定部５０で測定したＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号のＳ字レベル（ＦＥ信号のＳ字の信号レベルが極大あるいは極小となる点におけるＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号の信号レベル）に基づいて、バランス回路４０のゲイン値を演算し、演算結果のゲイン値をバランス回路４０に設定する。

　さらに、フォーカス引込部５５は、対物レンズ３２のＤＯＷＮ駆動中（対物レンズ３２を光ディスク１に遠ざける方向（図１に示したＤＯＷＮ方向）に駆動中）のＦＥ信号のＳ字が０レベルをクロスする点で、切替部（フォーカス駆動出力切替器）５３の入力をフォーカスフィルタ部５４からの信号となるよう切替部（フォーカス駆動出力切替器）５３を切り替える。これにより、光ディスク装置１００において、光ディスク１の情報面上に対するフォーカス制御が開始される。
　フォーカスフィルタ部５４は、減算部（差動回路）４１から出力されるＦＥ信号を入力とし、ＦＥ信号のレベルが略０になるようにフォーカス駆動信号を生成し、生成したフォーカス駆動信号を切替部（フォーカス駆動出力切替器）５３に出力する。なお、フォーカスフィルタ部５４は、位相補償フィルタ（ＰＩＤ（Ｐｒｏｐｏｒｔｉｏｎａｌ　Ｉｎｔｅｇｒａｌ　Ｄｅｒｉｖａｔｉｖｅ）フィルタ）により実現されることが好ましい。

　そして、対物レンズ３２を駆動するフォーカスアクチュエータ３３が、フォーカスフィルタ部５４から出力されるフォーカス駆動信号により駆動されることで、光ディスク装置１００において、フォーカス制御が実行される。
　＜１．２：光ディスク装置の動作＞
　次に、図２の波形図を用いて、本実施形態の光ディスク装置１００の動作について詳細に説明する。
　図２（ａ）は、横軸を時間とし、縦軸を信号レベルとした、フォーカス引込部５５によるフォーカス制御引込動作中の対物レンズ３２の位置信号を示す。
　図２（ｂ）は、横軸を時間とし、縦軸を信号レベルとした、フォーカス引込部５５によるフォーカス制御引込動作中のＦＥ信号を示す。

　図２（ｃ）は、横軸を時間とし、縦軸を信号レベルとした、フォーカス引込部５５によるフォーカス制御引込動作中のＦＥプラス信号を示す。
　図２（ｄ）は、横軸を時間とし、縦軸を信号レベルとした、フォーカス引込部５５によるフォーカス制御引込動作中のＦＥマイナス信号を示す。
（球面収差補正処理）：
　まず、コントローラ５６は、フォーカス制御をかける目的となる光ディスク１の情報面上における光ビームの球面収差が少なくなるように補正する。具体的には、コントローラ５６から出力された補正指令に基づいて、球面収差制御部５２が、光ビームに発生する球面収差を補正するための駆動信号を球面収差補正部３５に出力する。そして、球面収差補正部３５により、光ディスク１の情報面上における光ビームの球面収差が少なくなるように補正される。
（Ｔ１００）：
　次に、タイミングＴ１００において、コントローラ５６は、フォーカス引込部５５にフォーカス制御引込動作を開始させることで、対物レンズ３２のＵＰ駆動が開始される。ＦＥ信号のレベルが、図２に示すレベルＬ１を上回ったとき、差動前ＦＥ測定部５０は、ＦＥ信号の極大点の検出を開始する。
（Ｔ１０１）：
　タイミングＴ１０１において、差動前ＦＥ測定部５０は、ＦＥ信号の極大点が確定したタイミングで、ＦＥプラス信号のレベルＬ４を測定する。

　その後、差動前ＦＥ測定部５０は、ＦＥ信号のレベルがレベルＬ２を下回ったとき、ＦＥ信号の極小点の検出を開始する。
（Ｔ１０２）：
　タイミングＴ１０２において、差動前ＦＥ測定部５０は、ＦＥ信号の極小点が確定したタイミングで、ＦＥマイナス信号のレベルＬ５を測定する。
　次に、対称性演算部５１は、差動前ＦＥ測定部５０により取得された、ＦＥ信号の極大点におけるＦＥプラス信号のレベルＬ４とＦＥ信号の極小点におけるＦＥマイナス信号のレベルＬ５のレベル比に基づき、ＦＥマイナス信号に掛けるバランス回路４０のゲイン値を演算し、演算したゲイン値Ｇ（例えば、Ｇ＝（Ｌ４／Ｌ５））をバランス回路４０に設定する。この場合、バランス回路４０に設定するゲイン値Ｇは、例えば、
　　Ｇ＝（Ｌ４／Ｌ５）
とすればよい。なお、受光部３４と減算部４１との間にＦＥプラス信号のゲイン調整を行うゲイン調整部を設け、さらに、バランス回路４０と減算部４１との間にＦＥマイナス信号のゲイン調整を行うゲイン調整部を設け、受光部３４から出力されるＦＥプラス信号およびバランス回路４０から出力されるＦＥプラス信号に、所定のゲインＫ１を乗ずるようにしてもよい。この場合、減算部４１に入力されるＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号は、下記のようになる。

　　（減算部４１に入力されるＦＥプラス信号）＝（受光部３４から出力されるＦＥプラス信号）×Ｋ１
　　（減算部４１に入力されるＦＥマイナス信号）＝（受光部３４から出力されるＦＥマイナス信号）×（Ｌ４／Ｌ５）×Ｋ１
　これにより、Ｓ字波形におけるＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の信号レベルが略同一になるので、減算部４１で、ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号とに対して減算処理を行うことで、Ｓ字の対称性の良いＦＥ信号を取得することが可能となる。
　なお、上記は、ＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号のゲイン調整の一例であり、これに限定されないことは言うまでもない。
（Ｔ１０３）：
　さらに、タイミングＴ１０３において、コントローラ５６からの指令に基づいて、フォーカス引込部５５が対物レンズ３２のＤＯＷＮ駆動を開始する。

　ＦＥ信号のレベルがレベルＬ３を下回ったとき、フォーカス引込部５５は、ＦＥ信号の０レベルをクロスするタイミング検出を開始する。
（Ｔ１０４）：
　タイミングＴ１０４において、ＦＥ信号のＳ字波形が０レベルをクロスする点（０クロス点）を検出し、フォーカス制御を開始する。なお、図２に示すタイミングＴＴにおいて、ＦＥ信号のＳ字波形が０レベルをクロスする点が検出されているので、このタイミングＴＴからフォーカス制御を開始するのが理想であるが、実際には、アクチュエータ３３の応答遅延があるので、本実施形態では、図２のタイミングＴ１０４からフォーカス制御が開始される。したがって、応答特性の良いアクチュエータを用いて、タイミングＴＴからフォーカス制御を開始するようにしてもよい。また、０クロス点を確実に検出するために、ＦＥ信号の信号レベルがマイナスからプラスに変化したことを確認して０クロスポイントを検出したと判断し、０クロス点の誤検出を少なくするようにしてもよい。

　以上のように、光ディスク装置１００では、フォーカス引込前にフォーカス制御をかける光ディスク１の情報面における光ビームの球面収差を最適に合わせ、対物レンズ３２のＵＰ駆動中において差動前のＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号に基づいてバランス回路４０のゲイン値を演算および設定する。これにより、光ディスク装置１００では、対物レンズ３２のＵＰ動作を一度行うだけでＦＥ信号の対称性（Ｓ字対称性）を精度よく調整することができる。
　尚、本実施形態では、フォーカス制御引込動作における対物レンズ３２のＵＰ駆動を利用したＦＥ信号の対称性調整の例を示したが、これに限定されることなく、例えば、光ディスク装置１００に装填された光ディスク１の種類を判別するための対物レンズ３２のＵＰ／ＤＯＷＮ駆動など、対物レンズ３２をＵＰ駆動あるいはＤＯＷＮ駆動の少なくとも一方を行う動作を利用してＦＥ信号の対称性（Ｓ字対称性）調整を行うようにしてもよい。

　また、本実施形態では、対物レンズ３２のＵＰ駆動中にのみのＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号に基づいたＦＥ信号の対称性調整の例を示したが、これに限定されることなく、例えば、対物レンズ３２のＤＯＷＮ駆動中のみ、あるいはＵＰ／ＤＯＷＮ両駆動中にＦＥ信号の対称性（Ｓ字対称性）調整を実施してもよい。
　また、光ディスク装置１００において、対物レンズ３２のＵＰ駆動中のＦＥ信号の対称性調整の結果と、ＤＯＷＮ駆動中のＦＥ信号の対称性調整の結果と、を平均化することで取得されるＦＥ信号の対称性に関するデータに基づいて、バランス回路４０に設定する最適なゲイン値を算出し、当該ゲイン値をバランス回路４０のゲイン値として設定するようにしてもよい。
　また、光ディスク装置１００において、対物レンズ３２のＵＰ駆動中のＦＥ信号の対称性調整の結果とＤＯＷＮ駆動中のＦＥ信号の対称性調整の結果とを取得し、そのどちらか一方を選択して、選択されたＦＥ信号の対称性（Ｓ字対称性）調整の結果からバランス回路４０に設定する最適なゲイン値を算出し、当該ゲイン値をバランス回路４０のゲイン値として設定するようにしてもよい。

　また、本実施形態では、ＦＥ信号の極大点および極小点におけるＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号の測定を行う例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、以下の（１）～（３）により、バランス回路４０のゲイン値の設定（ＦＥ信号のＳ字対称性の調整）を行うようにしてもよい。つまり、
（１）差動前ＦＥ測定部５０が、ＦＥ信号の極大値を検出し、そのときのＦＥプラス信号の信号レベルｍａｘＰ１と、ＦＥマイナス信号の信号レベルｍａｘＭ１を測定し、その測定したＦＥプラス信号の信号レベルｍａｘＰ１およびＦＥマイナス信号の信号レベルｍａｘＭ１を保持する。
（２）差動前ＦＥ測定部５０が、ＦＥ信号の極小値を検出し、そのときのＦＥプラス信号の信号レベルｍｉｎＰ２と、ＦＥマイナス信号の信号レベルｍｉｎＭ２を測定し、その測定したＦＥプラス信号の信号レベルｍｉｎＰ２およびＦＥマイナス信号の信号レベルｍｉｎＭ２を保持する。
（３）差動前ＦＥ測定部５０が、（１）（２）で取得した４つの信号レベルｍａｘＰ１、ｍａｘＭ１、ｍｉｎＰ２、ｍｉｎＭ２に基づいて、バランス回路４０に設定する最適なゲイン値を算出し、当該ゲイン値をバランス回路４０のゲイン値として設定する。

　また、本実施形態では、ＦＥ信号のレベルをレベルＬ１で判定した後に、レベルＬ２で判定する例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、レベルＬ２で判定した後に、レベルＬ１で判定することでＦＥ信号の極性が本実施形態と逆極性であるＦＥ信号に対して、本発明を適用するようにしてもよい。
　また、光ディスク装置１００において、ＦＥ信号のレベルＬ１およびレベルＬ２によるレベル判定をせずに、ＦＥ信号の極大点および極小点を検出することで、ＦＥ信号の対称性調整を行うようにしてもよい。
　また、ＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号の信号極性は、本実施形態で示した信号極性と逆極性であってもよい。
　また、ＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号の位相関係は、本実施形態で示した位相関係と逆の関係であってもよい。

　また、本実施形態では、ＦＥ信号の極大点におけるＦＥプラス信号と極小点におけるＦＥマイナス信号のレベルが略等しくなるよう調整する例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、ＦＥ信号の極大点におけるＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号のレベル差と、ＦＥ信号の極小点におけるＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号のレベル差とが略等しくなるように調整することで、ＦＥ信号の対称性（Ｓ字対称性）調整を行うようにしてもよい。
　また、本実施形態では、ＦＥマイナス信号側にバランス回路４０による信号補正を行う例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、バランス回路４０は、ＦＥプラス信号側にあってもよい。
　また、ＦＥプラス信号側およびＦＥマイナス信号側の両方にバランス回路４０があってもよい。この場合、対称性演算部５１が、ＦＥプラス信号側に設置されたバランス回路のゲイン設定およびＦＥマイナス側に設置されたバランス回路のゲイン設定を行うことで、ＦＥ信号の対称性（Ｓ字対称性）調整を行うことができる。

　また、光ディスク１は複数の情報面をもつ光ディスク１であってもよい。
　［第２実施形態］
　第２実施形態について、図３、図４を用いて説明する。
　＜２．１：光ディスク装置の構成＞
　図３は、本実施形態に係る光ディスク装置２００の概略構成を示すブロック図である。
　図３に示すように、光ディスク装置２００は、光ディスク１に対して情報の記録／再生を行う装置であって、光ヘッド２０と、バランス調整部（バランス回路）４０と、減算部（差動回路）４１と、差動前ＦＥ測定部５０と、対称性演算部６０と、一時メモリ６１と、層別平均部６２と、を備える。また、光ディスク装置２００は、コントローラ６４と、球面収差制御部５２と、ディスク判別制御部６３と、を備える。

　なお、上述の実施形態と同様の部分については、同一符号を付し、詳細な説明を省略する。
　背景技術および第１実施形態と異なるのは、第２実施形態に係る光ディスク装置２００では、対称性演算部６０、一時メモリ６１、層別平均部６２、ディスク判別制御部６３、およびコントローラ６４、を用いることで、ディスク判別動作中に対物レンズ３２のＵＰ／ＤＯＷＮ駆動を一度行うだけで、精度よく光ディスク１の全情報面におけるＦＥ信号のＳ字の対称性調整が出来るところである。以下、その機能を説明する。
　照射部は、例えば、レーザ光源３０により構成される。
　収束部は、例えば、対物レンズ３２により構成される。
　フォーカス駆動部は、例えば、フォーカスアクチュエータ３３により構成される。

　受光部は、例えば、受光部３４により構成される。
　測定部は、例えば、差動前ＦＥ測定部５０により構成される。
　信号補正部は、例えば、バランス回路４０により構成される。
　フォーカスエラー信号生成部は、例えば、差動回路４１により構成される。
　信号比演算部は、例えば、対称性演算部６０により構成される。
　ディスク判別部は、例えば、ディスク判別制御部６３により構成される。
　信号比最適化部は、例えば、一時メモリ６１および層別平均部６２により構成される。
　球面収差補正部は、例えば、球面収差制御部５２および球面収差補正部３５により構成される。
　コントローラ６４は、光ディスク装置２００に装填されている光ディスク１の種類を判別するための動作開始指令をディスク判別制御部６３に送る。

　ディスク判別制御部６３は、コントローラ６４からの指令を受け、対物レンズ３２により収束された光ビームのスポットを光ディスク１に対してＵＰ／ＤＯＷＮ駆動させるための駆動信号をフォーカスアクチュエータ３３に送る。対物レンズ３２がフォーカスアクチュエータ３３により駆動されることで、対物レンズ３２により収束された光ビームの焦点が光ディスク１の表面および情報面を通過する。光ビームの焦点が光ディスク１の表面または情報面を通過する近傍において差動回路４１から出力されるＦＥ信号の信号波形がＳ字波形となる。
　差動前ＦＥ測定部５０は、ディスク判別制御部６３による対物レンズ３２のＵＰ／ＤＯＷＮ駆動中における減算部（差動回路）４１からのＦＥ信号のＳ字波形の信号レベルが極大あるいは極小となる点において、受光部３４から出力されたＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号のレベルを測定する。そして、差動前ＦＥ測定部５０は、その測定値を対称性演算部６０に出力する。

　対称性演算部６０は、差動前ＦＥ測定部５０で測定したＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号のＳ字レベル（ＦＥ信号のＳ字の信号レベルが極大あるいは極小となる点におけるＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号の信号レベル）に基づいて、最適なバランス回路４０のゲイン値を演算し、演算結果のゲイン値を一時メモリ６１に出力する。
　一時メモリ６１は、対称性演算部６０から出力されるゲイン値をメモリに保持する。
　光ディスク装置２００において、（１）差動前ＦＥ測定部５０による測定、（２）対称性演算部６０による演算、および（３）一時メモリ６１による演算結果保持、の一連の動作（処理）は、ディスク判別制御部６３による対物レンズ３２のＵＰ／ＤＯＷＮ駆動中に検出される光ディスク１の全情報面に対して、情報面１つずつのＦＥ信号のＳ字（Ｓ字波形）に対して実行される。そして、それぞれの情報面において対称性演算部６０で演算したバランス回路４０のゲイン値を別々のメモリに保持する（一時メモリ６１において、それぞれ独立したデータとして保持する）。その結果、光ディスク１の全情報面の１つずつの情報面に対して、対物レンズ３２のＵＰ駆動時に得られたゲイン値と対物レンズ３２のＤＯＷＮ駆動時に得られたゲイン値の２つずつのゲイン値が一時メモリ６１にメモリ保持される。

　また、コントローラ６４は、光ビームの焦点が光ディスク１の各情報面を通過するときに、それぞれの情報面における光ビームの球面収差が少なくなるように対物レンズ３２のＵＰ／ＤＯＷＮ駆動と並行して一定補正スピードで球面収差補正を行うための補正指令を球面収差制御部５２に送る。
　球面収差制御部５２は、コントローラ６４からの補正指令を受け、光ビームに発生する球面収差を補正するための駆動信号を球面収差補正部３５に送る。
　ディスク判別制御部６３による対物レンズ３２のＵＰ／ＤＯＷＮ駆動が終了すると、コントローラ６４は、平均化指令を層別平均部６２に送る。
　層別平均部６２は、コントローラ６４からの平均化指令を受けると、一時メモリ６１から、一時メモリ６１がメモリ保持している全メモリ（全データ）を受け取り、対物レンズ３２のＵＰ駆動中に得たゲイン値と対物レンズ３２のＤＯＷＮ駆動中に得たゲイン値との平均値を全情報面分のメモリに対して演算する。そして、層別平均部６２は、演算により取得したゲイン値によりバランス回路４０のゲインを設定する。

　＜２．２：光ディスク装置の動作＞
　次に、図４の波形図を用いて、本実施形態の光ディスク装置２００の動作について詳細に説明する。
　図４（ａ）は、横軸を時間とし、縦軸を信号レベルとした、ディスク判別制御部６３によるディスク判別動作中の対物レンズ３２の位置信号を示す。
　図４（ｂ）は、横軸を時間とし、縦軸を信号レベルとした、ディスク判別制御部６３によるディスク判別動作中の球面収差補正部３５の補正レベル信号を示す。
　図４（ｃ）は、横軸を時間とし、縦軸を信号レベルとした、ディスク判別制御部６３によるディスク判別動作中のＦＥ信号を示す。
　図４（ｄ）は、横軸を時間とし、縦軸を信号レベルとした、ディスク判別制御部６３によるディスク判別動作中のＦＥプラス信号を示す。

　図４（ｅ）は、横軸を時間とし、縦軸を信号レベルとした、ディスク判別制御部６３によるディスク判別動作中のＦＥマイナス信号を示す。
（Ｔ２００）：
　タイミングＴ２００において、コントローラ６４は、ディスク判別制御部６３にディスク判別動作を開始させることで、対物レンズ３２のＵＰ駆動が開始される。
　ＦＥ信号のレベルが、図４に示すレベルＬ２０１を上回ったとき、差動前ＦＥ測定部５０は、ＦＥ信号の極大点の検出を開始する。
（Ｔ２０１）：
　タイミングＴ２０１において、差動前ＦＥ測定部５０は、ＦＥ信号の極大点が確定したタイミングで、ＦＥプラス信号のレベルＬ２０３を測定する。

　その後、差動前ＦＥ測定部５０は、ＦＥ信号のレベルがレベルＬ２０２を下回ったとき、ＦＥ信号の極小点の検出を開始する。
（Ｔ２０２）：
　タイミングＴ２０２において、差動前ＦＥ測定部５０は、ＦＥ信号の極小点が確定したタイミングで、ＦＥマイナス信号のレベルＬ２０４を測定する。
　次に、対称性演算部５１は、差動前ＦＥ測定部５０により取得された、ＦＥ信号の極大点におけるＦＥプラス信号のレベルＬ２０３とＦＥ信号の極小点におけるＦＥマイナス信号のレベルＬ２０４とのレベル比に基づき、ＦＥマイナス信号に掛けるバランス回路４０のゲイン値を演算し、演算結果を第１情報面に対するゲイン値として一時メモリ６１に保存する。
（Ｔ２０３、Ｔ２０４）：
　差動前ＦＥ測定部５０は、ＦＥ信号のレベルとレベルＬ２０１との比較判定およびＦＥ信号のレベルとＬ２０２との比較判定によりＦＥ信号の極大点および極小点の検出を開始し、ＦＥ信号の極大点および極小点におけるＦＥプラス信号あるいはＦＥマイナス信号の測定結果を取得する。対称性演算部６０は、差動前ＦＥ測定部５０により取得された測定結果に基づき、バランス回路４０のゲイン値を演算する。光ディスク装置２００では、この一連の動作（処理）が、対物レンズ３２のＵＰ駆動およびＤＯＷＮ駆動が完了するまで繰返し行なわれる。

　従って、光ディスク装置２００では、対物レンズ３２のＵＰ駆動中にさらに、タイミングＴ２０３およびタイミングＴ２０４において、ＦＥプラス信号のレベルＬ２０５およびＦＥマイナス信号のレベルＬ２０６が測定でき、ＦＥプラス信号のレベルＬ２０５とＦＥマイナス信号のレベルＬ２０６とのレベル比から第２情報面に対するゲイン値を演算により取得することができる。
（Ｔ２０５～Ｔ２０７）：
　タイミングＴ２０５において、ディスク判別制御部６３は、コントローラ６４の指令に基づいて、対物レンズ３２のＵＰ駆動を停止し、ＤＯＷＮ駆動を開始する。
　光ディスク装置２００において、対物レンズ３２のＤＯＷＮ駆動中は、タイミングＴ２０６およびタイミングＴ２０７において、ＦＥマイナス信号のレベルＬ２０７およびＦＥプラス信号のレベルＬ２０８が測定でき、ＦＥマイナス信号のレベルＬ２０７とＦＥプラス信号のレベルＬ２０８とのレベル比から第２情報面に対するゲイン値を演算により取得することができる。
（Ｔ２０８、Ｔ２０９）：
　また、タイミングＴ２０８およびタイミングＴ２０９において、光ディスク装置２００では、ＦＥマイナス信号のレベルＬ２０９およびＦＥプラス信号のレベルＬ２１０が測定でき、ＦＥマイナス信号のレベルＬ２０９とＦＥプラス信号のレベルＬ２１０とのレベル比から第１情報面に対するゲイン値を演算により取得することができる。
（球面収差補正処理）：
　また、コントローラ６４は、
（１）球面収差制御部５２および球面収差補正部３５により、光ビームの焦点が第１情報面を通過するときには、第１情報面における光ビームの球面収差が少なくなるように、
（２）さらに、光ビームの焦点が第２情報面を通過するときには、第２情報面における光ビームの球面収差が少なくなるように、
対物レンズ３２のＵＰ／ＤＯＷＮ駆動と並行して球面収差補正を行う。
（Ｔ２１０）：
　タイミングＴ２１０において、対物レンズ３２のＤＯＷＮ駆動が完了する。

　このとき一時メモリ６１には、第１情報面に対するゲイン値が対物レンズ３２のＵＰ駆動中のものとＤＯＷＮ駆動中のものとの２つ保存されており、また、第２情報面に対するゲイン値が対物レンズ３２のＵＰ駆動中のものとＤＯＷＮ駆動中のものとの２つ保存されている。
　層別平均部６２は、コントローラ６４からの指令に従い、一時メモリ６１にメモリ保存されているゲイン値情報に基づき、第１情報面に対するゲイン値を対物レンズ３２のＵＰ駆動中のゲイン値とＤＯＷＮ駆動中のゲイン値との平均値として演算し、また、第２情報面に対するゲイン値を対物レンズ３２のＵＰ駆動中のゲイン値とＤＯＷＮ駆動中のゲイン値との平均値として演算し、バランス回路４０のゲイン値として設定する。
　以上のように、光ディスク装置２００では、光ビームの球面収差を全情報面それぞれに対して少なくなるように合わせながら、同時に（並行して）、ディスク判別動作の際の対物レンズ３２のＵＰ／ＤＯＷＮ駆動中の差動前のＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号に基づいてバランス回路４０のゲイン値を演算する。そして、光ディスク装置２００では、各情報面に対する対物レンズ３２のＵＰ駆動中のゲイン値とＤＯＷＮ駆動中のゲイン値とを平均化することで、対物レンズ３２のＵＰ／ＤＯＷＮ駆動を一度行うだけで光ディスク１の全情報面に対するバランス回路４０のゲイン値を精度良く調整することができる。

　これにより、光ディスク装置２００では、対物レンズ３２のＵＰ／ＤＯＷＮ動作を一度行うだけでＦＥ信号の対称性（Ｓ字対称性）を精度よく調整することができる。
　尚、本実施形態の光ディスク装置２００では、ディスク判別動作における対物レンズ３２のＵＰ／ＤＯＷＮ駆動を利用したＦＥ信号の対称性調整の例を示したが、これに限定されることはなく、その他の対物レンズ３２をＵＰ駆動あるいはＤＯＷＮ駆動の少なくとも一方を行う動作を利用してＦＥ信号の対称性（Ｓ字対称性）の調整を行うようにしてもよい。
　また、本実施形態では、対物レンズ３２のＵＰ駆動中およびＤＯＷＮ駆動中の両方でＦＥ信号の対称性調整を行う例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、ＵＰ駆動中のみあるいはＤＯＷＮ駆動中のみにＦＥ信号の対称性調整を行ってもよい。

　また、本実施形態では、対物レンズ３２のＵＰ駆動中のゲイン値とＤＯＷＮ駆動中のゲイン値との平均値を最適なゲイン値とする例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、ＵＰ駆動中のゲイン値を最適なゲイン値としてもよいし、ＤＯＷＮ駆動中のゲイン値を最適なゲイン値としてもよい。
　また、光ディスク装置２００では、対物レンズ３２のＵＰ駆動中のＦＥ信号の対称性調整の結果とＤＯＷＮ駆動中のＦＥ信号の対称性調整の結果とのいずれか一方を選択し、選択したＦＥ信号の対称性調整の結果に基づいて算出したゲイン値を最適ゲイン値としてバランス回路４０のゲイン値を設定するようにしてもよい。
　また、本実施形態では、ＦＥ信号の極大点および極小点におけるＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号の測定を行う例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、以下の（１）～（３）により、バランス回路４０のゲイン値の設定（ＦＥ信号のＳ字対称性の調整）を行うようにしてもよい。つまり、
（１）差動前ＦＥ測定部５０が、ＦＥ信号の極大値を検出し、そのときのＦＥプラス信号の信号レベルｍａｘＰ１と、ＦＥマイナス信号の信号レベルｍａｘＭ１を測定し、その測定したＦＥプラス信号の信号レベルｍａｘＰ１およびＦＥマイナス信号の信号レベルｍａｘＭ１を保持する。
（２）差動前ＦＥ測定部５０が、ＦＥ信号の極小値を検出し、そのときのＦＥプラス信号の信号レベルｍｉｎＰ２と、ＦＥマイナス信号の信号レベルｍｉｎＭ２を測定し、その測定したＦＥプラス信号の信号レベルｍｉｎＰ２およびＦＥマイナス信号の信号レベルｍｉｎＭ２を保持する。
（３）差動前ＦＥ測定部５０が、（１）（２）で取得した４つの信号レベルｍａｘＰ１、ｍａｘＭ１、ｍｉｎＰ２、ｍｉｎＭ２に基づいて、バランス回路４０に設定する最適なゲイン値を算出し、当該ゲイン値をバランス回路４０のゲイン値として設定する。

　また、ＦＥ信号の極性が本実施形態で示したＦＥ信号の極性と逆極性であってもよい。
　また、光ディスク装置２００において、ＦＥ信号のレベルＬ２０１およびレベルＬ２０２によるレベル判定をせずに、ＦＥ信号の信号レベルの極大点および極小点を検出してもよい。
　また、ＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号の信号極性は、本実施形態で示した信号極性とは逆極性でもよい。
　また、ＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号の位相関係は、本実施形態で示した位相関係と逆の関係でもよい。
　また、本実施形態では、ＦＥ信号の極大点におけるＦＥプラス信号と極小点におけるＦＥマイナス信号のレベルが略等しくなるよう調整する例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、ＦＥ信号の極大点におけるＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号のレベル差と、ＦＥ信号の極小点におけるＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号のレベル差とが略等しくなるように調整することで、ＦＥ信号の対称性（Ｓ字対称性）調整を行うようにしてもよい。

　また、本実施形態では、ＦＥマイナス信号側にバランス回路４０による信号補正を行う例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、バランス回路４０はＦＥプラス信号側にあってもよい。
　また、ＦＥプラス信号側およびＦＥマイナス信号側の両方にバランス回路４０があってもよい。この場合、対称性演算部５１が、ＦＥプラス信号側に設置されたバランス回路のゲイン設定およびＦＥマイナス側に設置されたバランス回路のゲイン設定を行うことで、ＦＥ信号の対称性（Ｓ字対称性）調整を行うことができる。
　また、本実施形態では、球面収差補正と対物レンズ３２のＵＰ／ＤＯＷＮ駆動とを並行して行う例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、球面収差補正を行った後に、対物レンズ３２のＵＰ／ＤＯＷＮ駆動という独立した一連の動作を光ディスク１の全情報面に対して行ってもよい。

　また、本実施形態では、光ディスク１の情報面における光ビームの球面収差補正を行う例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、複数の情報面における球面収差量の中間値で球面収差補正処理を行うようにしてもよく、必ずしも、情報面における球面収差補正処理を実行しなくてもよい。
　また、本実施形態では、対物レンズ３２のＵＰ／ＤＯＷＮ駆動が完了した後に、各情報面におけるゲイン値を平均化する例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、任意の情報面に対するＵＰ駆動時のゲイン値とＤＯＷＮ駆動時のゲイン値とがそろった時点で各情報面におけるゲイン値を平均化してもよい。
　また、本実施形態では、演算結果のゲイン値をメモリ保存する例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、バランス回路４０に設定するゲイン値を演算して算出する前のＦＥプラス信号レベルおよびＦＥマイナス信号レベル（ゲイン値を算出するために用いるＦＥプラス信号レベルおよびＦＥマイナス信号レベル）をメモリに保存し、メモリ情報であるＦＥプラス信号レベルおよびＦＥマイナス信号レベルに基づいてゲイン演算（ゲイン値の算出）およびゲイン値の平均化処理を行うようにしてもよい。

　また、光ディスク１は、情報面を２層以上もつ光ディスク１であってもよい。
　また、本実施形態では、球面収差補正を一定の補正スピードで補正しながら対物レンズ３２をＵＰ／ＤＯＷＮ駆動する例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、光ビームスポットがそれぞれの情報面を通過するときに、それぞれの情報面における球面収差が補正されている状態が実現できれば、補正スピードは、一定でなくてもよい。
　また、本実施形態では、光ディスク１の全情報面の１つずつの情報面に対するゲイン値を求める例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、１つずつの情報面に対するゲイン値から更に複数の情報面に対して共通の１つ以上のゲイン値を演算してもよい。例えば、光ディスク１に２つの情報面Ｌ０およびＬ１があり、情報面Ｌ０についてのゲイン値がＧＬ０であり、情報面Ｌ１についてのゲイン値がＧＬ１である場合、共通のゲイン値を（ＧＬ０＋ＧＬ１）／２としてもよい。

　［第３実施形態］
　第３実施形態について、図５、図６を用いて説明する。
　＜３．１：光ディスク装置の構成＞
　図５は、本実施形態に係る光ディスク装置３００の概略構成を示すブロック図である。
　図５に示すように、光ディスク装置３００は、光ディスク１に対して情報の記録／再生を行う装置であって、光ヘッド１０と、バランス調整部（バランス回路）４０と、減算部（差動回路）４１と、差動前ＦＥ測定部５０と、対称性演算部６０と、一時メモリ６１と、複数層平均部７１と、を備える。また、光ディスク装置３００は、コントローラ７０と、フォーカス引込部５５と、フォーカスフィルタ部５４と、切替部（フォーカス駆動出力切替器）５３と、を備える。

　光ヘッド１０は、レーザ光源３０と、ビームスプリッタ３１と、対物レンズ３２と、フォーカスアクチュエータ３３と、受光部３４と、を備える。
　なお、上述の実施形態と同様の部分については、同一符号を付し、詳細な説明を省略する。
　背景技術および前述の実施形態と異なるのは、第３実施形態に係る光ディスク装置３００では、コントローラ７０、複数層平均部７１、を用いることで、フォーカス引込前に対物レンズ３２のＵＰ駆動を一度行うだけで、光ディスク１の複数情報面に対して最適な１つのゲイン値を演算により算出し、算出したゲイン値によりＦＥ信号のＳ字の対称性調整を行うことが出来るところである。以下、その機能を説明する。
　照射部は、例えば、レーザ光源３０により構成される。

　収束部は、例えば、対物レンズ３２により構成される。
　フォーカス駆動部は、例えば、フォーカスアクチュエータ３３により構成される。
　受光部は、例えば、受光部３４により構成される。
　測定部は、例えば、差動前ＦＥ測定部５０により構成される。
　信号補正部は、例えば、バランス回路４０により構成される。
　フォーカスエラー信号生成部は、例えば、差動回路４１により構成される。
　信号比演算部は、例えば、対称性演算部６０により構成される。
　フォーカス制御部は、例えば、フォーカスフィルタ部５４により構成される。
　フォーカス引込部は、例えば、フォーカス引込部５５およびフォーカス駆動出力切替器５３により構成される。

　複数情報面信号比演算部は、一時メモリ６１および層別平均部６２により構成される。
　コントローラ７０は、対物レンズ３２により収束された光ビームのスポットを光ディスク１の情報面上に対して垂直方向に追従させるための指令（情報面を探索する指令）をフォーカス引込部５５に送る。
　フォーカス引込部５５は、コントローラ７０の出力および減算部（差動回路）４１の出力を入力とする。フォーカス引込部５５は、コントローラ７０からの指令を受け、切替部（フォーカス駆動出力切替器）５３の切替制御を行う。具体的には、フォーカス引込部５５は、コントローラ７０から情報面を探索する指令を受けている場合（情報面探索モードの場合）、フォーカス引込部５５から出力される信号が、フォーカスアクチュエータ３３に出力されるように、切替部（フォーカス駆動出力切替器）５３の入力を切り替える（選択する）。一方、フォーカス引込部５５は、コントローラ７０からフォーカス制御を行う指令を受けている場合（フォーカス制御モードの場合）、フォーカスフィルタ部５４から出力される信号が、フォーカスアクチュエータ３３に出力されるように、切替部（フォーカス駆動出力切替器）５３の入力を切り替える（選択する）。

　情報面探索モードの場合、切替部（フォーカス駆動出力切替器）５３では、フォーカス引込部５５からの出力（フォーカス駆動信号）が選択され、フォーカスアクチュエータ３３に出力される。すなわち、情報面探索モードの場合、対物レンズ３２により収束された光ビームのスポットを光ディスク１に対してＵＰ／ＤＯＷＮ駆動するためのフォーカス駆動信号（フォーカス引込部５５からの出力）がフォーカスアクチュエータ３３に送られる。
　そして、対物レンズ３２を駆動するフォーカスアクチュエータ３３が、フォーカス駆動信号により駆動される。
　差動前ＦＥ測定部５０は、フォーカス引込部５５による対物レンズ３２のＵＰ駆動中における減算部（差動回路）４１からのＦＥ信号のＳ字の信号レベルが極大あるいは極小となる点において、受光部３４から出力されたＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号のレベルを測定する。そして、差動前ＦＥ測定部５０は、その測定値を対称性演算部６０に送る。

　対称性演算部６０は、差動前ＦＥ測定部からの出力を入力とし、差動前ＦＥ測定部５０で測定したＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号のＳ字レベルに基づいて、最適なバランス回路４０のゲイン値を演算し、演算結果のゲイン値を一時メモリ６１に送る。
　一時メモリ６１は、対称性演算部６０からのゲイン値をメモリに保持する。
　光ディスク装置３００において、（１）差動前ＦＥ測定部５０による測定、（２）対称性演算部６０による演算、および（３）一時メモリ６１による演算結果保持、の一連の動作（処理）は、フォーカス引込部５５による対物レンズ３２のＵＰ駆動中に検出される光ディスク１の全情報面のＦＥ信号のＳ字（Ｓ字波形）に対して実行される。
　フォーカス引込部５５による対物レンズ３２のＵＰ駆動が終了すると、コントローラ７０は、平均化指令を複数層平均部７１に送る。

　複数層平均部７１は、コントローラ７０からの平均化指令を受けると、一時メモリ６１から、一時メモリ６１がメモリ保持している全メモリ（メモリ保持されている全データ）を受け取り、対物レンズ３２のＵＰ駆動中に得た全情報面についてのゲイン値の平均値を演算により算出し、算出したゲイン値をバランス回路４０に設定する。
　＜３．２：光ディスク装置の動作＞
　次に、図６の波形図を用いて、本実施形態の光ディスク装置３００の動作について詳細に説明する。
　図６（ａ）は、横軸を時間とし、縦軸を信号レベルとした、フォーカス引込部５５によるフォーカス制御引込動作中の対物レンズ３２の位置信号を示す。
　図６（ｂ）は、横軸を時間とし、縦軸を信号レベルとした、フォーカス引込部５５によるフォーカス制御引込動作中のＦＥ信号を示す。

　図６（ｃ）は、横軸を時間とし、縦軸を信号レベルとした、フォーカス引込部５５によるフォーカス制御引込動作中のＦＥプラス信号を示す。
　図６（ｄ）は、横軸を時間とし、縦軸を信号レベルとした、フォーカス引込部５５によるフォーカス制御引込動作中のＦＥマイナス信号を示す。
（Ｔ３００）：
　タイミングＴ３００において、コントローラ７０は、フォーカス引込部５５にフォーカス制御引込動作を開始させることで、対物レンズ３２のＵＰ駆動が開始される。
　ＦＥ信号のレベルが、図６に示すレベルＬ３０１を上回ったとき、差動前ＦＥ測定部５０は、ＦＥ信号の極大点の検出を開始する。
（Ｔ３０１）：
　タイミングＴ３０１において、差動前ＦＥ測定部５０は、ＦＥ信号の極大点が確定したタイミングで、ＦＥプラス信号のレベルＬ３０４を測定する。

　その後、差動前ＦＥ測定部５０は、ＦＥ信号のレベルがレベルＬ３０２を下回ったとき、ＦＥ信号の極小点の検出を開始する。
（Ｔ３０２）：
　タイミングＴ３０２において、差動前ＦＥ測定部５０は、ＦＥ信号の極小点が確定したタイミングで、ＦＥマイナス信号のレベルＬ３０５を測定する。
　次に、対称性演算部５１は、差動前ＦＥ測定部５０により取得された、ＦＥ信号の極大点におけるＦＥプラス信号のレベルＬ３０４とＦＥ信号の極小点におけるＦＥマイナス信号のレベルＬ３０５とのレベル比に基づき、ＦＥマイナス信号に掛けるバランス回路４０のゲイン値を演算する。そして、対称性演算部５１により演算された演算結果は、一時メモリ６１に保存される。
（Ｔ３０３、Ｔ３０４）：
　差動前ＦＥ測定部５０は、ＦＥ信号のレベルとレベルＬ３０１との比較判定およびＦＥ信号のレベルとＬ３０２との比較判定によりＦＥ信号の極大点および極小点の検出を開始し、ＦＥ信号の極大点および極小点におけるＦＥプラス信号あるいはＦＥマイナス信号の測定結果を取得する。対称性演算部６０は、差動前ＦＥ測定部５０により取得された測定結果に基づき、バランス回路４０のゲイン値を演算する。光ディスク装置３００では、この一連の動作（処理）が、対物レンズ３２のＵＰ駆動が完了するまで繰返し行なわれる。

　従って、光ディスク装置３００では、対物レンズ３２のＵＰ駆動中にさらに、タイミングＴ３０３およびタイミングＴ３０４において、ＦＥプラス信号のレベルＬ３０６およびＦＥマイナス信号のレベルＬ３０７が測定でき、ＦＥプラス信号のレベルＬ３０６とＦＥマイナス信号のレベルＬ３０７とのレベル比からゲイン値を演算により取得することができる。
（Ｔ３０５）：
　タイミングＴ３０５において、対物レンズ３２のＵＰ駆動が完了する。
　このとき、一時メモリ６１には、対物レンズ３２のＵＰ駆動中に得られた複数のゲイン値が保存されている。
　複数層平均部７１は、コントローラ７０からの指令に従い、一時メモリ６１にメモリ保存されている複数のゲイン値を平均化した１つのゲイン値を演算により算出し、算出したゲイン値をバランス回路４０のゲイン値として設定する。

　さらに、タイミングＴ３０５において、フォーカス引込部５５が対物レンズ３２のＤＯＷＮ駆動を開始する。
　ＦＥ信号のレベルがレベルＬ３０３を下回ったとき、フォーカス引込部５５は、ＦＥ信号の０レベルをクロスするタイミング検出を開始する。
（Ｔ３０６）：
　タイミングＴ３０６において、ＦＥ信号のＳ字が０レベルをクロスする点を検出し、フォーカス制御を開始する。
　以上のように、光ディスク装置３００では、フォーカス引込前に対物レンズ３２のＵＰ駆動中における差動前のＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号に基づいてバランス回路４０のゲイン値を演算し、複数情報面から得られる複数のゲイン値を平均化することで、バランス回路４０に設定するゲイン値を取得し、当該ゲイン値をバランス回路４０に設定する。

　これにより、光ディスク装置３００では、対物レンズ３２のＵＰ駆動を一度行うだけでＦＥ信号の対称性（Ｓ字対称性）を複数層に渡って共通のゲイン値を用いて、適切に調整することができる。
　尚、本実施形態では、フォーカス制御引込動作における対物レンズ３２のＵＰ駆動を利用したＦＥ信号の対称性調整の例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、光ディスク装置３００に装填された光ディスク１の種類を判別するための対物レンズ３２のＵＰ／ＤＯＷＮ駆動など、対物レンズ３２をＵＰ駆動あるいはＤＯＷＮ駆動の少なくとも一方を行う動作を利用してＦＥ信号の対称性調整処理を行うようにしてもよい。
　また、本実施形態では、対物レンズ３２のＵＰ駆動中にのみのＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号に基づいたＦＥ信号の対称性調整の例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、対物レンズ３２のＤＯＷＮ駆動中のみあるいはＵＰ／ＤＯＷＮ両駆動中にＦＥ信号の対称性調整を実施してもよい。

　また、対物レンズ３２のＵＰ駆動中のＦＥ信号の対称性調整の結果とＤＯＷＮ駆動中のＦＥ信号の対称性調整の結果から平均化したものを最適なバランス回路４０のゲイン値としてもよい。
　また、対物レンズ３２のＵＰ駆動中のＦＥ信号の対称性調整の結果とＤＯＷＮ駆動中のＦＥ信号の対称性調整の結果とのいずれか一方を選択し、選択したＦＥ信号の対称性調整の結果に基づいて算出したゲイン値を最適ゲイン値としてバランス回路４０のゲイン値を設定するようにしてもよい。
　また、本実施形態では、ＦＥ信号の極大点および極小点におけるＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号の測定を行う例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、以下の（１）～（３）により、バランス回路４０のゲイン値の設定（ＦＥ信号のＳ字対称性の調整）を行うようにしてもよい。つまり、
（１）差動前ＦＥ測定部５０が、ＦＥ信号の極大値を検出し、そのときのＦＥプラス信号の信号レベルｍａｘＰ１と、ＦＥマイナス信号の信号レベルｍａｘＭ１を測定し、その測定したＦＥプラス信号の信号レベルｍａｘＰ１およびＦＥマイナス信号の信号レベルｍａｘＭ１を保持する。
（２）差動前ＦＥ測定部５０が、ＦＥ信号の極小値を検出し、そのときのＦＥプラス信号の信号レベルｍｉｎＰ２と、ＦＥマイナス信号の信号レベルｍｉｎＭ２を測定し、その測定したＦＥプラス信号の信号レベルｍｉｎＰ２およびＦＥマイナス信号の信号レベルｍｉｎＭ２を保持する。
（３）差動前ＦＥ測定部５０が、（１）（２）で取得した４つの信号レベルｍａｘＰ１、ｍａｘＭ１、ｍｉｎＰ２、ｍｉｎＭ２に基づいて、バランス回路４０に設定する最適なゲイン値を算出し、当該ゲイン値をバランス回路４０のゲイン値として設定する。

　また、本実施形態では、ＦＥ信号のレベルをレベルＬ３０１で判定した後にレベルＬ３０２で判定する例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、レベルＬ３０２で判定した後にレベルＬ３０１で判定することでＦＥ信号の極性が本実施形態と逆極性であるＦＥ信号に対して、本発明を適用するようにしてもよい。
　また、ＦＥ信号のレベルＬ３０１およびレベルＬ３０２によるレベル判定をせずに極大点および極小点を検出してもよい。
　また、ＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号の信号極性は、本実施形態で示した信号極性とは逆極性でもよい。
　また、ＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号の位相関係は、本実施形態で示した位相関係と逆の関係でもよい。

　また、本実施形態では、ＦＥ信号の極大点におけるＦＥプラス信号と極小点におけるＦＥマイナス信号のレベルが略等しくなるよう調整する例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、ＦＥ信号の極大点におけるＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号のレベル差と、ＦＥ信号の極小点におけるＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号のレベル差とが略等しくなるように調整してもよい。
　また、本実施形態では、ＦＥマイナス信号側にバランス回路４０による信号補正を行う例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、バランス回路４０はＦＥプラス信号側にあってもよい。
　また、ＦＥプラス信号側およびＦＥマイナス信号側の両方にバランス回路４０があってもよい。この場合、複数層平均部７１が、ＦＥプラス信号側に設置されたバランス回路のゲイン設定およびＦＥマイナス側に設置されたバランス回路のゲイン設定を行うことで、ＦＥ信号の対称性（Ｓ字対称性）調整を行うことができる。

　また、本実施形態では、演算結果のゲイン値をメモリ保存する例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、バランス回路４０に設定するゲイン値を演算して算出する前のＦＥプラス信号レベルおよびＦＥマイナス信号レベル（ゲイン値を算出するために用いるＦＥプラス信号レベルおよびＦＥマイナス信号レベル）をメモリに保存し、メモリ情報であるＦＥプラス信号レベルおよびＦＥマイナス信号レベルに基づいてゲイン演算（ゲイン値の算出）およびゲイン値の平均化処理を行うようにしてもよい。
　また、光ディスク１は情報面を２層以上もつ光ディスク１であってもよい。
　また、本実施形態では、光ディスク１の全情報面に対するゲイン値を平均化する例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、任意の２つ以上の情報面に対するゲイン値を平均化してもよく、ゲイン値の平均化結果は２つ以上あってもよい。

　また、本実施形態ではゲイン値を平均化する例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、任意の情報面に対するゲイン値から任意のゲイン値を任意の２つ以上の情報面に対する共通のゲイン値として選択してもよい。
　また、本実施形態では、対物レンズ３２のＵＰ駆動からＤＯＷＮ駆動に切替わるタイミングにおいてゲイン値を平均化する例を示したが、これに限定されることはなく、例えば、任意の２つ以上の情報面に対するゲイン値を演算したタイミングでゲイン値の平均化を行ってもよい。
　［他の実施形態］
　なお、上記実施形態の光ディスク装置では、いわゆる非点収差法によるＦＥ信号による処理を行う場合について説明したが、これに限定されることはなく、例えば、差動非点収差法、スポットサイズディテクション法によるＦＥ信号を用いるようにしてもよい。

　第１実施形態の光ディスク装置１００に差動非点収差法によるＦＥ信号を用いる場合の一例について、図８を用いて説明する。
　図８は、第１実施形態の光ディスク装置１００に差動非点収差法によるＦＥ信号を用いる場合の、受光部、差動前測定部、対称性演算部、バランス調整部（バランス回路）、および減算部（差動回路）、の部分を抽出した概略構成図である。
　図８に示すように、受光部３４Ａは、ｍａｉｎＦＥプラス信号およびｍａｉｎＦＥマイナス信号を取得するためのメイン受光部３４０と、ｓｕｂＦＥプラス信号およびｓｕｂＦＥマイナス信号を取得するためのサブ受光部３４１および３４２を有する。メイン受光部３４０およびサブ受光部３４１および３４２は、差動非点収差法によりＦＥ信号を取得するための受光部である。メイン受光部３４Ａは、主として、光ディスク１のトラック上の光スポットに対応する反射光を受光する受光部であり、サブ受光部３４１および３４２は、メイン受光部３４が主として受光する光スポットをトラック横断方向に挟むような位置にある光スポットに対応する反射光を受光する受光部である。なお、「トラック横断方向に挟むような位置」とは、トラックを挟む位置であれば良く、例えば、トラックを斜めに挟むような位置をも含む概念であり、トラックに対して法線方向に挟む位置のみを意味するのではないことは言うまでもない。

　なお、図８に示すように、メイン受光部３４０およびサブ受光部３４１および３４２は、４分割された受光領域（４つの受光ディテクタ）からなるものとし、メイン受光部３４０のＡ領域で取得される受光量をＡ、Ｂ領域で取得される受光量をＢ、Ｃ領域で取得される受光量をＣ、Ｄ領域で取得される受光量をＤ、とする。
　また、サブ受光部３４１のａ１領域で取得される受光量をａ１、ｂ１領域で取得される受光量をｂ１、ｃ１領域で取得される受光量をｃ１、ｄ１領域で取得される受光量をｄ１、とする。
　また、サブ受光部３４２のａ２領域で取得される受光量をａ２、ｂ２領域で取得される受光量をｂ２、ｃ２領域で取得される受光量をｃ２、ｄ２領域で取得される受光量をｄ２、とする。

　差動前ＦＥ測定部５０Ａは、基本的な動作は、差動前ＦＥ測定部５０と同様である。ただし、測定対象とする信号が、図８に示すように、ｍａｉｎＦＥプラス信号（＝Ｂ＋Ｃ）、ｍａｉｎＦＥマイナス信号（＝Ａ＋Ｄ）、ｓｕｂＦＥプラス信号（＝ｂ１＋ｃ１＋ｂ２＋ｃ２）、およびｓｕｂＦＥマイナス信号（＝ａ１＋ｄ１＋ａ２＋ｄ２）である点が異なる。
　対称性演算部５１Ａは、基本的な動作は、対称性演算部５１と同様である。ただし、処理対象が、ｍａｉｎＦＥプラス信号、ｍａｉｎＦＥマイナス信号、ｓｕｂＦＥプラス信号、およびｓｕｂＦＥマイナス信号である点が異なる。
　対称性演算部５１Ａは、上記実施形態同様に、ｍａｉｎＦＥプラス信号およびｍａｉｎＦＥマイナス信号についてのバランス調整処理を行い、バランス調整部（バランス回路）４０Ａのゲイン値を設定する。また、対称性演算部５１Ａは、上記実施形態同様に、ｓｕｂＦＥプラス信号およびｓｕｂＦＥマイナス信号についてのバランス調整処理を行い、バランス調整部（バランス回路）４０Ｂのゲイン値を設定する。

　減算部４１Ａは、バランス調整部４０Ａから出力されるｍａｉｎＦＥプラス信号およびｍａｉｎＦＥマイナス信号に対して、下式に相当する減算処理を行い、ｍａｉｎＦＥ信号を取得する。
　　（ｍａｉｎＦＥ信号）＝（ｍａｉｎＦＥプラス信号）－（ｍａｉｎＦＥマイナス信号）
　そして、減算部４１Ａは、取得したｍａｉｎＦＥ信号を減算部４１Ｃに出力する。
　減算部４１Ｂは、バランス調整部４０Ｂから出力されるｓｕｂＦＥプラス信号およびｓｕｂＦＥマイナス信号に対して、下式に相当する減算処理を行い、ｓｕｂＦＥ信号を取得する。
　　（ｓｕｂＦＥ信号）＝（ｓｕｂＦＥプラス信号）－（ｓｕｂＦＥマイナス信号）
　そして、減算部４１Ｂは、取得したｓｕｂＦＥ信号を減算部４１Ｃに出力する。

　減算部４１Ｃは、下式に相当する減算処理を行い、ＦＥ信号を取得する。
　　（ＦＥ信号）＝（ｍａｉｎＦＥ信号）－（ｓｕｂＦＥ信号）
　このように、光ディスク装置１００に対して、図８に示した構成を採用することで、差動非点収差法により取得されるＦＥ信号を用いて、ＦＥ信号のＳ字対称性の調整を適切に行うことができる。
　なお、図９に、光ディスク装置１００において、図８に示した構成を採用し、差動非点収差法により取得されるＦＥ信号を用いて、ＦＥ信号のＳ字対称性の調整を行う場合の信号波形図を示す。図９の波形図は、第１実施形態で説明した図２に相当するものであり、ＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号の代わりに、ｍａｉｎＦＥプラス信号（図９（ｃ））、ｍａｉｎＦＥマイナス信号（図９（ｄ））、ｓｕｂＦＥプラス信号（図９（ｅ））、ｓｕｂＦＥマイナス信号（図９（ｆ））の信号波形を示している。

　なお、図９の波形図において、タイミングＴ１０１のｍａｉｎＦＥプラス信号の信号レベルは、Ｌ４Ａであり、タイミングＴ１０２のｍａｉｎＦＥマイナス信号の信号レベルは、Ｌ５Ａであり、タイミングＴ１０１のｓｕｂＦＥプラス信号の信号レベルは、Ｌ６であり、タイミングＴ１０２のｓｕｂＦＥマイナス信号の信号レベルは、Ｌ７である。
　具体的なＦＥ信号のＳ字対称性の調整方法については、図２を用いて説明した方法と同様であるので、詳細な説明は、省略する。
　以上のように、本発明に差動非点収差法によるＦＥ信号を用いることができる。
　なお、第１実施形態以外の実施形態についても同様に適用することで、本発明に差動非点収差法によるＦＥ信号を用いることができる。また、上記各実施形態のなお書きで記載した内容を、差動非点収差法によるＦＥ信号を用いた本発明（上記で説明した内容）に適用できることは言うまでもない。

　また、上記実施形態で説明した光ディスク装置において、各ブロックは、ＬＳＩなどの半導体装置により個別に１チップ化されても良いし、一部又は全部を含むように１チップ化されても良い。
　なお、ここでは、ＬＳＩとしたが、集積度の違いにより、ＩＣ、システムＬＳＩ、スーパーＬＳＩ、ウルトラＬＳＩと呼称されることもある。
　また、集積回路化の手法はＬＳＩに限るものではなく、専用回路又は汎用プロセサで実現してもよい。ＬＳＩ製造後に、プログラムすることが可能なＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ　Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ　Ｇａｔｅ　Ａｒｒａｙ）や、ＬＳＩ内部の回路セルの接続や設定を再構成可能なリコンフィギュラブル・プロセッサーを利用しても良い。
　さらには、半導体技術の進歩又は派生する別技術によりＬＳＩに置き換わる集積回路化の技術が登場すれば、当然、その技術を用いて機能ブロックの集積化を行ってもよい。バイオ技術の適用等が可能性としてあり得る。

　また、上記実施形態の各処理をハードウェアにより実現してもよいし、ソフトウェアにより実現してもよい。さらに、ソフトウェアおよびハードウェアの混在処理により実現しても良い。なお、上記実施形態に係る光ディスク装置をハードウェアにより実現する場合、各処理を行うためのタイミング調整を行う必要があるのは言うまでもない。上記実施形態においては、説明便宜のため、実際のハードウェア設計で生じる各種信号のタイミング調整の詳細については省略している。
　また、上記実施形態において、「略０」、「略等しい」等の表現があるが、これらは、目標値（あるいは設計値）として「０」に、あるいは「等し」くなるように制御等を行ったときに生じる誤差や設計誤差、あるいは、分解能によって決まる誤差等を含むものであり、当業者が「０」である、あるいは、「等しい」と判断（認識）する範囲を含む概念である。

　なお、本発明の具体的な構成は、前述の実施形態に限られるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更および修正が可能である。

　本発明は、情報面を有する光ディスクに対して記録および再生の少なくとも一方を行う装置において、フォーカスエラー信号の信号対称性調整を行う光ディスク装置に利用可能である。したがって、本発明は、光ディスク機器関連産業分野において、有用であり、本発明を当該分野において実施することができる。

　１００、２００、３００、９００　光ディスク装置
　１　　光ディスク
　１０　　光ヘッド
　２０　　光ヘッド
　３０　　レーザ光源
　３１　　ビームスプリッタ
　３２　　対物レンズ
　３３　　フォーカスアクチュエータ
　３４、３４０、３４１、３４２　　受光部
　３５　　球面収差補正部
　４０、４０Ａ、４０Ｂ　　バランス回路
　４１、４１Ａ、４１Ｂ　　差動回路
　４２　　ＦＥ信号測定部
　４３　　対称性演算部
　４４　　近似演算部
　４５　　コントローラ
　５０、５０Ａ　　差動前ＦＥ測定部
　５１、５１Ａ　　対称性演算部
　５２　　球面収差制御部
　５３　　フォーカス駆動出力切替器
　５４　　フォーカスフィルタ
　５５　　フォーカス引込部
　５６　　コントローラ
　６０　　対称性演算部
　６１　　一時メモリ
　６２　　層別平均部
　６３　　ディスク判別制御部
　６４　　コントローラ
　７０　　コントローラ
　７１　　複数層平均部

Claims

　情報面を有する光ディスクに対して記録および再生の少なくとも一方を行う装置であって、
　前記光ディスクに光ビームを照射する照射部と、
　前記照射部によって照射された光ビームを収束させる収束部と、
　前記収束部により収束された光ビームスポットを前記光ディスクのディスク面に対して垂直方向に移動させるように前記収束部を駆動するフォーカス駆動部と、
　複数に分割されたディテクタを有し、前記光ディスクからの反射光を前記複数に分割されたディテクタで受光し、受光した光量に対応する電気信号をＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号として取得する受光部と、
　前記受光部により取得されたＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号の信号レベルを測定する測定部と、
　ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に所定のゲイン値を掛けることで、前記ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に対して信号レベルの補正を行う信号補正部と、
　前記信号補正部からの出力に基づきフォーカスエラー信号を生成し、生成した前記フォーカスエラー信号を出力するフォーカスエラー信号生成部と、
　前記測定部からの出力に基づき、前記ＦＥプラス信号と前記ＦＥマイナス信号の少なくとも一方に掛ける前記所定のゲイン値であって、前記フォーカスエラー信号の極大値の絶対値と前記フォーカス信号の極小値の絶対値とを等しくする前記所定のゲイン値を導出する信号比演算部と、
を備え、
　前記信号補正部は、前記信号比演算部により導出された前記所定のゲイン値に基づいて、前記ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に対して信号レベルの補正を行う、
　光ディスク装置。
　信号比演算部は、前記光ビームスポットが光ディスクの任意の情報面近傍にあるときのフォーカスエラー信号の信号レベルが極値をとる点、あるいは前記光ビームスポットが光ディスクの任意の情報面近傍にあるときのＦＥプラス信号の信号レベルおよびＦＥマイナス信号の信号レベルが極値をとる点、における前記測定部からの出力に基づき前記所定のゲイン値を導出する、
　請求項１に記載の光ディスク装置。
　前記フォーカスエラー信号生成部からの信号に応じて前記光ビームスポットが光ディスクの情報面上に位置するように制御するフォーカス制御部と、
　前記フォーカス駆動部により前記光ビームスポットを光ディスクのディスク面に対して垂直な方向に移動させ、前記光ビームスポットの位置が光ディスクの任意の情報面上の位置に一致したとき、前記フォーカス制御部による制御動作を開始させるフォーカス引込部と、
をさらに備え、
　信号比演算部は、前記フォーカス引込部により前記フォーカス制御部が動作を開始する前に、少なくとも一度は、前記測定部からの出力に基づき信号補正部で用いる前記所定のゲイン値を導出する、
　請求項２に記載の光ディスク装置。
　光ディスクの任意の情報面上における前記光ビームスポットの球面収差を補正する球面収差補正部をさらに備え、
　前記信号比演算部は、前記球面収差補正部による球面収差補正後に、前記測定部からの出力に基づき、前記信号補正部で用いられる前記所定のゲイン値を導出する、
　請求項２に記載の光ディスク装置。
　前記フォーカスエラー信号生成部からの信号に応じて前記光ビームスポットが光ディスクの情報面上に位置するように制御するフォーカス制御部と、
　前記フォーカス駆動部により前記光ビームスポットを光ディスクのディスク面に対して垂直な方向に移動させ、前記光ビームスポットの位置が光ディスクの任意の情報面上の位置に一致したとき、前記フォーカス制御部による制御動作を開始させるフォーカス引込部と、
をさらに備え、
　信号比演算部は、前記フォーカス引込部により前記光ビームスポットを光ディスクに対して近づけた際に、前記測定部からの出力に基づき前記信号補正部で用いられる前記所定のゲイン値を導出し、
　前記フォーカス引込部は、前記信号比演算部による前記所定のゲイン値の導出後に、前記光ビームスポットが光ディスクの任意の情報面上に位置するように前記フォーカス制御部によるフォーカス制御を行う、
　請求項４に記載の光ディスク装置。
　装填された光ディスクの種類を判別するために前記フォーカス駆動部により前記光ビームスポットを光ディスクに対して近づける動作および遠ざける動作を行うディスク判別部をさらに備え、
　信号比演算部は、前記ディスク判別部による前記光ビームスポットを光ディスクに対して近づける動作中あるいは遠ざける動作中の少なくとも一方の動作中に前記測定部からの出力に基づき信号補正部に用いられる前記所定のゲイン値を導出する、
　請求項４に記載の光ディスク装置。
　前記光ビームスポットを光ディスクに対して近づける動作中に、前記信号比演算部により導出された前記所定のゲイン値を第１のゲイン値として取得し、前記光ビームスポットを光ディスクに対して遠ざける動作中に前記信号比演算部により導出された前記所定のゲイン値を第２のゲイン値として取得し、前記第１のゲイン値および前記第２のゲイン値から、前記信号補正部で用いられる前記所定のゲイン値を導出する信号比最適化部をさらに備える、
　請求項６に記載の光ディスク装置。
　光ディスクが複数の情報面を有している場合、
　前記信号比演算部は、前記複数の情報面の全てに対して、前記光ビームスポットが光ディスク上の情報面近傍にあるときのフォーカスエラー信号の信号レベルが極値をとる点、あるいは前記光ビームスポットが光ディスク上の情報面近傍にあるときのＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号の信号レベルが極値をとる点、における前記測定部からの信号に基づき、前記信号補正部で用いられる前記所定のゲイン値を導出する、
　請求項１に記載の光ディスク装置。
　前記フォーカスエラー信号生成部からの信号に応じて前記光ビームスポットが光ディスクの情報面上に位置するように制御するフォーカス制御部と、
　前記フォーカス駆動部により前記光ビームスポットを光ディスクのディスク面に対して垂直な方向に移動させ、前記光ビームスポットの位置が光ディスクの任意の情報面上の位置に一致したとき、前記フォーカス制御部による制御動作を開始させるフォーカス引込部と、
をさらに備え、
　信号比演算部は、前記フォーカス引込部により前記フォーカス制御部が動作を開始する前に、少なくとも一度は、前記測定部からの出力に基づき信号補正部で用いる前記所定のゲイン値を導出する、
　請求項８に記載の光ディスク装置。
　前記フォーカスエラー信号生成部からの信号に応じて前記光ビームスポットが光ディスクの情報面上に位置するように制御するフォーカス制御部と、
　前記フォーカス駆動部により前記光ビームスポットを光ディスクのディスク面に対して垂直な方向に移動させ、前記光ビームスポットの位置が光ディスクの任意の情報面上の位置に一致したとき、前記フォーカス制御部による制御動作を開始させるフォーカス引込部と、
をさらに備え、
　信号比演算部は、前記フォーカス引込部により前記光ビームスポットを光ディスクに対して近づけた際に、前記測定部からの出力に基づき前記信号補正部できる用いられる前記所定のゲイン値を導出し、
　前記フォーカス引込部は、前記信号比演算部による前記所定のゲイン値の導出後に、前記光ビームスポットが光ディスクの任意の情報面上に位置するように前記フォーカス制御部によるフォーカス制御を行う、
　請求項８に記載の光ディスク装置。
　装填された光ディスクの種類を判別するために前記フォーカス駆動部により前記光ビームスポットを光ディスクに対して近づける動作および遠ざける動作を行うディスク判別部をさらに備え、
　信号比演算部は、前記ディスク判別部による前記光ビームスポットを光ディスクに対して近づける動作中あるいは遠ざける動作中の少なくとも一方の動作中に前記測定部からの出力に基づき信号補正部に用いられる前記所定のゲイン値を導出する、
　請求項８に記載の光ディスク装置。
　前記光ビームスポットを光ディスクに対して近づける動作中に、前記信号比演算部により導出された前記所定のゲイン値を第１のゲイン値として取得し、前記光ビームスポットを光ディスクに対して遠ざける動作中に、前記信号比演算部により導出された前記所定のゲイン値を第２のゲイン値として取得し、前記第１のゲイン値および前記第２のゲイン値から、前記信号補正部で用いられる前記所定のゲイン値を導出する信号比最適化部をさらに備える、
　請求項１１に記載の光ディスク装置。
　前記フォーカス駆動部による前記光ビームスポットの光ディスクに対して近づける動作あるいは遠ざける動作の少なくとも一方の動作中に、前記光ビームスポットが光ディスクの全情報面をそれぞれ通過する際に、前記光ビームスポットが通過する任意の情報面上における前記光ビームスポットの球面収差が略０となるように前記フォーカス駆動部の動作に並行して球面収差を補正する球面収差補正部をさらに備える、
　請求項８に記載の光ディスク装置。
　光ディスクの任意の情報面上における光ビームスポットの球面収差を補正する球面収差補正部と、
　光ディスクの任意の情報面に対して前記球面収差補正部を動作させた後に、前記フォーカス駆動部による光ビームスポットの光ディスクに対して近づける動作あるいは遠ざける動作の少なくとも一方の動作中に、前記信号比演算部による前記所定のゲイン値の導出処理を動作させ、前記一連の動作を光ディスクの全情報面の１つずつの情報面に対して行う全層信号比演算部と、
をさらに備える、
　請求項８に記載の光ディスク装置。
　複数の情報面を有する光ディスクに対して記録および再生の少なくとも一方を行う装置であって、
　前記信号補正部で用いられる前記所定のゲイン値であって、光ディスクの前記複数の情報面に対して共通して用いられる前記所定のゲイン値である複数層共通ゲイン値を導出する複数情報面信号比演算部をさらに備え、
　前記信号比演算部は、前記複数の情報面のそれぞれに対して、前記所定のゲイン値を導出し、
　前記複数情報面信号比演算部は、前記信号比演算部が、前記複数の情報面のそれぞれに対して導出した複数の前記所定のゲイン値から、前記複数層共通ゲイン値を導出する、
　請求項１に記載の光ディスク装置。
　前記フォーカスエラー信号生成部からの信号に応じて前記光ビームスポットが光ディスクの情報面上に位置するように制御するフォーカス制御部と、
　前記フォーカス駆動部により前記光ビームスポットを光ディスクのディスク面に対して垂直な方向に移動させ、前記光ビームスポットの位置が光ディスクの任意の情報面上の位置に位置したとき、前記フォーカス制御部による制御動作を開始させるフォーカス引込部と、
をさらに備え、
　前記複数情報面信号比演算部は、前記フォーカス引込部により前記フォーカス制御部が動作する前に、少なくとも一度は、前記測定部からの出力に基づき前記複数層共通ゲイン値を導出する、
　請求項１５に記載の光ディスク装置。
　情報面を有する光ディスクに対して記録および再生の少なくとも一方を行う光ディスク装置であって、
　前記光ディスクに光ビームを照射する照射部と、
　前記照射部によって照射された光ビームを収束させる収束部と、
　前記収束部により収束された光ビームスポットを前記光ディスクのディスク面に対して垂直方向に移動させるように前記収束部を駆動するフォーカス駆動部と、
　複数に分割されたディテクタを有し、前記光ディスクからの反射光を前記複数に分割されたディテクタで受光し、受光した光量に対応する電気信号をＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号として取得する受光部と、
を備える光ディスク装置に用いられるフォーカスエラー信号調整方法であって、
　前記受光部により取得されたＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号の信号レベルを測定する測定ステップと、
　ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に所定のゲイン値を掛けることで、前記ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に対して信号レベルの補正を行う信号補正ステップと、
　前記信号補正部からの出力に基づきフォーカスエラー信号を生成し、生成した前記フォーカスエラー信号を出力するフォーカスエラー信号生成ステップと、
　前記測定ステップからの出力に基づき、前記ＦＥプラス信号と前記ＦＥマイナス信号の少なくとも一方に掛ける前記所定のゲイン値であって、前記フォーカスエラー信号の極大値の絶対値と前記フォーカス信号の極小値の絶対値とを等しくする前記所定のゲイン値を導出する信号比演算ステップと、
を備え、
　前記信号補正ステップでは、前記信号比演算ステップにより導出された前記所定のゲイン値に基づいて、前記ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に対して信号レベルの補正を行う、
　フォーカスエラー信号調整方法。
　情報面を有する光ディスクに対して記録および再生の少なくとも一方を行う光ディスク装置であって、
　前記光ディスクに光ビームを照射する照射部と、
　前記照射部によって照射された光ビームを収束させる収束部と、
　前記収束部により収束された光ビームスポットを前記光ディスクのディスク面に対して垂直方向に移動させるように前記収束部を駆動するフォーカス駆動部と、
　複数に分割されたディテクタを有し、前記光ディスクからの反射光を前記複数に分割されたディテクタで受光し、受光した光量に対応する電気信号をＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号として取得する受光部と、
を備える光ディスク装置に用いられるフォーカスエラー信号調整方法をコンピュータに実行させるプログラムであって、
　前記受光部により取得されたＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号の信号レベルを測定する測定ステップと、
　ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に所定のゲイン値を掛けることで、前記ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に対して信号レベルの補正を行う信号補正ステップと、
　前記信号補正部からの出力に基づきフォーカスエラー信号を生成し、生成した前記フォーカスエラー信号を出力するフォーカスエラー信号生成ステップと、
　前記測定ステップからの出力に基づき、前記ＦＥプラス信号と前記ＦＥマイナス信号の少なくとも一方に掛ける前記所定のゲイン値であって、前記フォーカスエラー信号の極大値の絶対値と前記フォーカス信号の極小値の絶対値とを等しくする前記所定のゲイン値を導出する信号比演算ステップと、
を備え、
　前記信号補正ステップでは、前記信号比演算ステップにより導出された前記所定のゲイン値に基づいて、前記ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に対して信号レベルの補正を行う、
　フォーカスエラー信号調整方法をコンピュータに実行させるプログラム。
　情報面を有する光ディスクに対して記録および再生の少なくとも一方を行う装置であって、
　前記光ディスクに光ビームを照射する照射部と、
　前記照射部によって照射された光ビームを収束させる収束部と、
　前記収束部により収束された光ビームスポットを前記光ディスクのディスク面に対して垂直方向に移動させるように前記収束部を駆動するフォーカス駆動部と、
　複数に分割されたディテクタを有し、前記光ディスクからの反射光を前記複数に分割されたディテクタで受光し、受光した光量に対応する電気信号をＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号として取得する受光部と、
を備える光ディスク装置に用いられる集積回路であって、
　前記受光部により取得されたＦＥプラス信号およびＦＥマイナス信号の信号レベルを測定する測定部と、
　ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に所定のゲイン値を掛けることで、前記ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に対して信号レベルの補正を行う信号補正部と、
　前記信号補正部からの出力に基づきフォーカスエラー信号を生成し、生成した前記フォーカスエラー信号を出力するフォーカスエラー信号生成部と、
　前記測定部からの出力に基づき、前記ＦＥプラス信号と前記ＦＥマイナス信号の少なくとも一方に掛ける前記所定のゲイン値であって、前記フォーカスエラー信号の極大値の絶対値と前記フォーカス信号の極小値の絶対値とを等しくする前記所定のゲイン値を導出する信号比演算部と、
を備え、
　前記信号補正部は、前記信号比演算部により導出された前記所定のゲイン値に基づいて、前記ＦＥプラス信号とＦＥマイナス信号の少なくとも一方に対して信号レベルの補正を行う、
　集積回路。