CN104637503A - 光盘设备、其控制方法、程序和信息存储介质 - Google Patents

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Abstract

本发明公开光盘设备、其控制方法、程序和信息存储介质。读取光盘介质中记录的信息的该光盘设备包括：物镜，将光聚焦在光盘介质上；球面像差校正机构，根据预定参数的设置值改变物镜的球面像差量；以及评估值测量部分，测量指示从光盘介质读取信息的精确度的评估值。该光盘设备还包括控制部分，该控制部分执行这样的调整处理，在该调整处理中，控制部分与通过球面像差校正机构改变物镜的球面像差量同时地，通过评估值测量部分实施评估值的多次测量，并且基于通过多次测量获得的多个评估值，计算参数的最优设置值。

Description

光盘设备、其控制方法、程序和信息存储介质
技术领域
本公开涉及读取记录在诸如CD、DVD和蓝光盘(注册商标)之类的光盘介质中的信息的光盘设备、其控制方法、程序和信息存储介质。
背景技术
近年来，各种类型光盘介质用作信息记录介质。为了读取记录在这种光盘介质中的信息，使用光盘设备。光盘设备包括将光聚焦在光盘介质上的物镜(objective lens)。光盘设备接收通过光盘介质由物镜聚焦的光的反射获得的反射光，以由此读取记录在光盘介质中的信息。
当光盘设备读取来自光盘介质的信息时，需要实施物镜的球面像差校正。例如，在光拾取器中，提供准直器透镜以校正将光聚焦在光盘介质上的物镜的球面像差。通过适当调整该准直器透镜的位置，可以校正物镜的球面像差，并且可以以高精确度将来自物镜的光聚焦在光盘介质上。
光盘设备内部地将准直器透镜的位置管理为称为SA参数的参数值。该SA参数的最优值依赖于作为读取目标的光盘介质的类型、个体差异等改变。因此，当在光盘设备中重新设置光盘介质时，该设备在开始信息的读取之前执行SA参数的调整处理(例如参考日本专利特开第2003-16660号)。该调整处理是以下控制。具体地，首先，光盘设备在可设置范围中改变SA参数的设置值。另外，光盘设备试图在其中设置不同设置值的三种或者更多种状态中的每个状态下从介质读取信息，并且在那时评估信息读取的精确度。然后，光盘设备计算这种SA参数的设置值，以通过使用与多个设置值的每个对应获得的读取精确度的评估值，允许增强信息读取的精确度，并且将该计算出的值设置为SA参数的值。
发明内容
SA参数的最优值不仅仅由光盘介质的个体差异确定。例如，即使利用相同的光盘介质，SA参数的最优值在光盘介质具有多个数据记录层的情况下，对于每个数据记录层不同。另外，由于物镜的温度依赖特性，SA参数的最优值在使用期间也依赖于光盘设备的温度改变而改变。因此，光盘设备应当在不同类型的定时(诸如当改变作为读取目标的数据记录层时)重新计算SA参数的最优值。然而，采用一定量的时间来执行类似上面描述那样的SA参数的调整处理。因此，迫使用户在每次改变作为读取目标的数据记录层时和在其它场合下等待是否执行调整处理。
已经鉴于以上问题作出本公开。需要本公开提供可以以比较短的时间执行物镜的球面像差校正的光盘设备、其控制方法、程序和信息存储介质。
根据本公开的实施例，提供一种读取光盘介质中记录的信息的光盘设备。该光盘设备包括：物镜，配置为将光聚焦在光盘介质上；球面像差校正机构，配置为根据预定参数的设置值改变物镜的球面像差量；以及评估值测量部分，配置为测量指示从光盘介质读取信息的精确度的评估值。该光盘设备还包括控制部分，配置为执行这样的调整处理，在该调整处理中，控制部分与通过球面像差校正机构改变物镜的球面像差量同时地，通过评估值测量部分实施评估值的多次测量，并且基于通过多次测量获得的多个评估值，计算参数的最优设置值。
根据本公开的另一实施例，提供光盘设备的控制方法，该光盘设备包括：物镜，将光聚焦在光盘介质上；球面像差校正机构，根据预定参数的设置值改变物镜的球面像差量；评估值测量部分，测量指示从光盘介质读取信息的精确度的评估值。该控制方法包括：与通过球面像差校正机构改变物镜的球面像差量同时地，通过评估值测量部分实施评估值的多次测量；以及执行这样的调整处理，在该调整处理中，基于通过多次测量获得的多个评估值，计算参数的最优设置值。
根据本公开的另一实施例，提供控制光盘设备的程序，该光盘设备包括：物镜，将光聚焦在光盘介质上；球面像差校正机构，根据预定参数的设置值改变物镜的球面像差量；评估值测量部分，测量指示从光盘介质读取信息的精确度的评估值。用于计算机的该程序包括：与通过球面像差校正机构改变物镜的球面像差量同时地，通过评估值测量部分实施评估值的多次测量；以及执行这样的调整处理，在该调整处理中，基于通过多次测量获得的多个评估值，计算参数的最优设置值。
根据本公开的另一实施例，提供用于程序的计算机可读信息存储介质，包括控制光盘设备的程序，该光盘设备包括物镜，将光聚焦在光盘介质上；球面像差校正机构，根据预定参数的设置值改变物镜的球面像差量；评估值测量部分，测量指示从光盘介质读取信息的精确度的评估值。用于计算机的该程序包括：与通过球面像差校正机构改变物镜的球面像差量同时地，通过评估值测量部分实施评估值的多次测量；以及执行这样的调整处理，在该调整处理中，基于通过多次测量获得的多个评估值，计算参数的最优设置值。
附图说明
图1是示出根据本公开实施例的光盘设备的配置示例的框图；
图2是示出根据本公开实施例的光盘设备的光拾取器的内部配置示例的概述图；
图3是示出SA参数的设置值和评估值之间的关系的一个示例的图；
图4示出现有技术的数据记录层改变控制的一个示例的图；
图5是示出根据本实施例的由光盘设备实施的数据记录层改变控制的一个示例的图；
图6是示出准直器透镜位置的时间改变的图；
图7是示出评估值的测量结果的一个示例的图；
图8是示出准直器透镜位置和评估值之间的关系的一个示例的图；以及
图9是示出根据实施例的由光盘设备执行的SA参数调整处理的流程的一个示例的流程图。
具体实施方式
下面将基于附图详细描述本公开的实施例。
根据本公开的一个实施例的光盘设备1是读取光盘介质中记录的信息的设备。如图1所示，其包括介质支撑器11、主轴马达12、光拾取器13、馈送马达15、驱动电路16、信号输出电路17、伺服信号处理器18、记录信号处理器19和控制部分20。
作为由光盘设备1信息读取的目标的光盘介质M通过堆叠其中记录信息的数据记录层和从其两侧保护数据记录层的保护层形成。在下文中，在其上记录数据的数据记录层的表面将被称为单表面。光盘设备1可以这样被配置，以能够不仅读取光盘介质M中记录的信息，而且能够向光盘介质M写入信息。另外，光盘设备1可以这样被配置，以能够读取诸如CD、DVD和蓝光盘之类的多个类型的光盘介质M中记录的信息。
介质支撑器11可旋转地支撑光盘介质M。该介质支撑器11通过从主轴马达12传送的力旋转光盘介质M。
光拾取器13向光盘介质M辐射激光，并且检测通过光盘介质M由被辐射光的反射而获得的反射光。另外，光拾取器13根据检测到的反射光输出输出信号。图2是示出光拾取器13的内部配置的一个示例的图。在该图的示例中，光拾取器13包括光发射元件31、偏振分束器32、球面像差校正机构33、升高镜(rising mirror)35、物镜36、光电检测器37和物镜驱动器38。球面像差校正机构33包括准直器透镜33a和准直器透镜驱动器33b。
光发射元件31是输出具有预定波长的激光的半导体激光器元件。从光发射元件31发射的输出光经过偏振分束器32和准直器透镜33a，然后由升高镜35反射。由升高镜35反射的输出光聚焦在离开物镜36物镜36的焦距F的位置上，并且由光盘介质M反射。
从由光盘介质M反射产生的反射光通过物镜36，然后由升高镜35反射，以通过偏振分束器32朝光电检测器37引导。光电检测器37由多个光接收元件形成。当来自光盘介质M的反射光到达这些光接收元件时，光电检测器37根据由多个光接收元件中的每个接收到的光的强度输出信号作为输出信号。
球面像差校正机构33是校正物镜36的球面像差的机构。准直器透镜驱动器33b由致动器等形成，并且沿着激光的光轴方向前后地驱动准直器透镜33a。通过准直器透镜驱动器33b的准直器透镜33a沿着光轴方向的移动改变物镜36的球面像差量。通过适当调整准直器透镜33a的位置，可以校正物镜36的球面像差。
物镜驱动器38由致动器等形成，并且在两个方向(光盘介质M的径向方向(在下文中称为寻迹方向)和与光盘介质M的表面垂直的方向(下文中称为聚焦方向))上驱动物镜36。物镜36通过物镜驱动器38沿着聚焦方向的移动改变从物镜36到光盘介质M的表面的距离。
馈送马达15沿着寻迹方向移动整个光拾取器13。由该馈送马达15的驱动使得光拾取器13能够从光盘介质M的中心周围的位置移动到外部周围的位置。
驱动电路16根据从伺服信号处理器18输入的控制信号输出驱动信号，以驱动主轴马达12、馈送马达15、准直器透镜驱动器33b和物镜驱动器38。主轴马达12的旋转速度根据来自驱动电路16的该驱动信号改变。这控制光盘介质M的旋转速度。另外，通过根据来自驱动电路16的该驱动信号驱动物镜驱动器38和馈送马达15，控制物镜36距离介质旋转轴的距离和物镜36距离介质表面的距离。
例如由处理从光拾取器13输出的模拟信号的模拟电路、转换模拟信号为数字信号的模拟/数字(A/D)转换器、处理由该转换获得的数字信号的数字信号处理器(DSP)、微处理器等，实现信号输出电路17、伺服信号处理器18、记录信号处理器19和控制部分20。
信号输出电路17基于由光电检测器37输出的模拟信号，输出各种类型的信号。具体地，信号输出电路17通过对由给定增益(放大因数)放大来自每个光接收元件的输出信号获得的放大信号执行计算，输出聚焦误差信号(FE信号)、寻迹误差信号(TE信号)、数据再现的RF信号等。聚焦误差信号是表示光盘介质M的信号表面和物镜36的焦点位置之间在聚焦方向上的偏移的信号。寻迹误差信号是表示物镜36的焦点位置和光盘介质M的轨道位置之间在寻迹方向上的偏移的信号。信号输出电路17也输出通过放大多个光接收元件的输出信号并且执行全加法(full addition)获得的拉入(pull-in)信号(PI信号)。
伺服信号处理器18基于由信号输出电路17输出的PI信号、FE信号、TE信号等，生成用于伺服控制的各种类型的信号，并且向控制部分20输出信号。另外，伺服信号处理器18根据从控制部分20输入的指令输出驱动物镜驱动器38、馈送马达15和主轴马达12的控制信号至驱动电路16。
具体地，伺服信号处理器18响应于来自控制部分20的指令实施伺服控制。特别地，当从控制部分20向伺服信号处理器18输入用以开始伺服控制的指令时，伺服信号处理器18通过根据从信号输出电路17输入的FE信号输出控制信号以控制物镜驱动器38，实施在聚焦方向上调整物镜36的位置的聚焦伺服控制。这保持其中物镜36的焦点与光盘介质M的信号表面一致的状态。另外，伺服信号处理器18通过根据从信号输出电路17输入的TE信号输出控制信号以控制物镜驱动器38，实施改变寻迹方向上物镜36的位置的寻迹伺服控制。由于这一点，物镜36以物镜36的焦点跟随数据记录层中的轨道这样的方式，相对于介质表面移动。以该方式，由伺服信号处理器18实施的伺服控制，控制物镜36相对于光盘介质M的表面的位置。因此，保持其中光拾取器13可以从光盘介质M读取信息的状态，并且在保持该状态的同时，实施信息读取。
记录信号处理器19基于由信号输出电路17输出的RF信号，解调指示光盘介质M中记录的信息的数字信号，并且向控制部分20输出解调信号。另外，记录信号处理器19计算与由光拾取器13读取光盘介质M中记录的信息的精确度有关的评估值(RF幅度、抖动值等)，并且将其输出到控制部分20。
控制部分20例如由微计算机形成并且包括执行模块和存储元件。要执行的程序和各种类型的参数存储在该控制部分20的存储元件中，并且执行模块根据该存储元件中存储的程序执行处理。具体地，在本实施例中，当从光盘介质M读取信息时，控制部分20执行SA参数的调整处理。SA参数是与物镜36的球面像差校正有关的参数。当更新SA参数的设置值时，控制部分20控制准直器透镜驱动器33b将准直器透镜33a移动到与该设置值对应的位置。因此，校正物镜36的球面像差。稍后将描述SA参数的调整处理。
控制部分20连接到诸如个人计算机、家庭游戏控制台或者视频解码器之类的主机，并且响应于来自主机的请求，向伺服信号处理器18输出用以驱动馈送马达15或者物镜驱动器38的命令，以将物镜36的焦点(光盘介质M上的信息读取位置)移动到光盘介质M上的期望位置。结合这一点，控制部分20向伺服信号处理器18输出用以改变主轴马达12的旋转速度的命令，以调整光盘介质M的旋转速度。然后，控制部分20向主机侧输出由该状态下记录信号处理器19输出的信号并且依据从光盘介质M读取的信号产生解调。
在从光盘介质M读取信息之前，光盘设备1执行计算SA参数的期望设置值的调整处理。具体地，光盘设备1通过使用球面像差校正机构33的调整处理计算SA参数的值，利用该值，期望光盘介质M中记录的信息可以被精确读出(在下文中，该值将被称为最优值So)。然后，光盘设备1设置由SA参数的该调整处理计算出的最优值So，并且在依据设置的最优值So的操作条件下实施读取操作。这允许光盘设备1在不引起读取误差的情况下，精确地从光盘介质M读取信息。例如当光盘介质M重设置在光盘设备1中时，执行SA参数的调整处理。这是因为SA参数的最优设置值依赖于光盘介质M的类型、个体差异等不同。
下面将描述调整处理的基本概念。当改变SA参数时，物镜36的球面像差校正量改变，并且从光盘介质M的信息读取的精确度也依赖于改变的程度改变。可以由二次曲线近似的关系保持在SA参数的设置值和读取精确度的评估值之间。在下面的描述中，RF信号的幅度值(RF幅度)用作评估值。图3是示出SA参数的设置值和RF幅度之间的关系的一个示例的图形。在该图中，横坐标指示SA参数的设置值，并且纵坐标指示RF幅度。因为RF幅度这里用作评估值，所以该图形示出当RF幅度的值更大时，读取质量更高。在图3中，SA参数的设置值和RF幅度之间的关系由向上凸出抛物线表示，并且最优值So是与抛物线的顶点对应的横坐标上的值。
因此，光盘设备1测量状态(在每个状态中，SA参数设置为相互不同的至少三个设置值中的相应设置值)中的评估值作为样本数据。当测量至少三个样本数据时，光盘设备1通过诸如最小平方法的方法计算近似这些样本的二次曲线，并且计算与曲线的顶点位置对应的SA参数的值作为最优值So。以该方式执行调整处理之后，光盘设备1基于该计算出的最优值So驱动准直器透镜驱动器33b，以调整准直器透镜33a的位置。
根据本实施例的光盘设备1例如不仅当新光盘介质M设置在光盘设备1中时，而且当作为读取目标的数据记录层改变时，执行上面描述的SA参数的调整处理。这是因为，当光盘设备1被不断使用时，物镜36的透镜特性由于设备中的温度升高等而改变，并且在SA参数的当前最优值So和初始由调整处理设置的值之间引起偏差。
在下面，基于光盘介质M包括两个数据记录层的假设，将描述当光盘设备1改变作为读取目标的数据记录层时实施的控制。在下文中，用以通过光盘设备1改变作为读取目标的数据记录层的控制将被称为数据记录层改变控制。另外，在两个数据记录层中，距离光拾取器13更远的数据记录层的数据记录表面将被称为第一信号表面，并且更靠近光拾取器13的数据记录层的数据记录表面将被称为第二数据表面。数据记录层改变控制被控制，直至进行从物镜36聚焦在第一信号表面和第二信号表面之一上的状态到物镜36聚焦在另一个上的状态的转换，并且开始从在其上新聚焦透镜的信号表面的信息读取。
首先，为了比较，将通过使用图4描述现有技术的光盘设备的数据记录层改变控制的特定示例。图4是说明现有技术的数据记录层改变控制的内容的图，并且横坐标指示时间进程。在该示例中，将描述从第一信号表面向第二信号表面改变焦点位置的情况。
在数据记录层改变控制的开始，首先，控制部分20关闭寻迹伺服信号(时间t1)。这使得伺服信号处理器18结束到目前为止实施的寻迹伺服控制。随后，控制部分20将SA参数的设置值从第一参考值S0改变为中间值Sm。第一参考值S0是当从第一信号表面读取信息时设置的SA参数的设置值，并且可以是由初始调整处理预先判定的SA参数的最优值。可替代地，其可以是预先在控制部分20的存储元件中存储的初始值。将当从第二信号表面读取信息时设置的SA参数的参考值描述为第二参考值S1。第二参考值S1可以类似于第一参考值S0地判定。中间值Sm是第一参考值S0和第二参考值S1之间的值，并且是与准直器透镜33a的初始位置对应的值。该中间值Sm可以是预先存储在控制部分20的存储元件中的值。为了执行稍后要描述的聚焦跳跃，该中间值Sm设置为这样的值：利用其FE信号的S形波形可以被检测到物镜36是否聚焦在第一信号表面或者第二信号表面上。
当SA参数的设置值响应于此改变为中间值Sm时，准直器透镜驱动器33b移动该准直器透镜33a的位置到与中间值Sm对应的位置(初始位置)。在准直器透镜33a的移动结束之后，控制部分20控制物镜驱动器38以开始聚焦跳跃(时间t2)。该聚焦跳跃是进行从物镜36聚焦在第一信号表面上的状态到物镜36聚焦在第二信号表面上的状态的转换的处理。当指示透镜聚焦在第二信号表面上的S形波形在执行聚焦跳跃时出现在FE信号中时，控制部分20开启聚焦伺服信号(时间t3)。这使得伺服信号处理器18开始聚焦伺服控制，以保持物镜36聚焦在第二信号表面上的状态。
此后，控制部分20将SA参数的设置值从中间值Sm改变到第二参考值S1。响应于此，准直器透镜驱动器33b移动准直器透镜33a的位置到与第二参考值S1对应的位置。一旦完成准直器透镜33a的移动(时间t4)，控制部分20开启寻迹伺服信号，以开始寻迹伺服控制。因此，将物镜36的焦点位置控制到可以从第二信号表面读取信息的位置。
如果当从第二信号表面读取信息时第二参考值S1是SA参数的最优值，则可以在该状态下立即开始从第二信号表面的读取。然而，存在这样的可能性：由于在使用光盘设备1期间温度升高等的影响，SA参数的最优值已经从第二参考值S1改变。出于这个原因，控制部分20在该示例中重新执行SA参数的调整处理。
具体地，首先，控制部分20实施在设置第二参数值S1的状态下从光盘介质M的信息读取，并且测量与该读取的精确度有关的评估值(在本示例中，RF幅度)(第一轮测量)。接着，控制部分20将SA参数的设置值改变预定量。然后，一旦完成根据该改变的准直器透镜33a的移动，控制部分20实施评估值的第二轮测量。此外，控制部分20将SA参数改变至另一值。一旦完成根据该改变的准直器透镜33a的移动(时间t6)，控制部分20实施评估值的第三轮测量。
当完成三次测量并且获得三个取样数据时，控制部分20通过使用这些取样数据实施类似上面描述的二次曲线近似的二次曲线近似，并且在当前定时计算SA参数的最优值So(时间t7)。然后，控制部分20将SA参数的设置值改变为计算出的最优值So。一旦完成将准直器透镜33a移动到与该最优值So对应的位置(时间t8)，开始从第二信号表面的信息读取。
在上面的描述中，采用一定量的时间(时间t4到时间t8)，来执行SA参数的调整处理。具体地，在执行调整处理时，多次重复准直器透镜33a的移动和停止。花费长时间来实施伴随这种准直器透镜33a的物理移动的控制。为了解决这一点，替代在准直器透镜33a移动到特定位置并且停止之后测量评估值，根据本实施例的光盘设备1在准直器透镜33a的移动之中测量评估值，以由此试图缩短调整处理的时间。
下面将通过使用图5描述本实施例中数据记录层改变控制的特定示例。该控制通过由控制部分20根据存储元件中存储的程序对各个单元的控制实现。可以如此提供该程序为存储在由各种类型的计算机可读取的信息存储介质中。
首先，从时间t11至时间t13的控制与现有技术从时间t1至时间t3的控制相同。具体地，控制部分20关闭寻迹伺服信号(时间t11)并且移动准直器透镜33a的位置到与中间值Sm对应的位置(初始位置)。然后，控制部分20开始聚焦跳跃(时间t12)，并且在当物镜36聚焦在第二信号表面上时的定时(时间t13)开启聚焦伺服信号。
此后，与图4的示例不同地，控制部分20将SA参数的设置值从中间值Sm改变至目标值St。根据新选择为读取目标的数据记录层判定目标值St。在本示例中，作为特定示例，假设通过将给定偏移值添加到与作为读取目标的数据记录层对应的参考值，判定目标值St。也就是，目标值St计算为St＝(S1+α)，其中α是偏移值。为了判定偏移值α，预先检查由于温度改变等SA参数的最优值So要从第二参考值S1变化多少。将偏移值α设置为在考虑变化量的情况下判定的值。也就是，这样判定α的量级：当从第二信号表面执行读取时的最优值So满足关系Sm<So<(S1+α)。由于这一点，当准直器透镜33a移动到与目标值St对应的位置时，准直器透镜33a通过在其校正物镜36的球面像差并且从第二信号表面的信息读取的质量最高的位置。
另外，在本实施例中，在直至当完成准直器透镜33a移动到与目标值St对应的位置时的定时(时间t14)的时段中，与准直器透镜33a的移动同时地重复测量评估值。也就是，在本实施例中，在准直器透镜驱动信号的开状态(on-state)继续的同时执行测量。因此，不在准直器透镜33a停止的状态下而是在准直器透镜33a的移动当中(在改变物镜36的球面像差量当中)测量评估值。具体地，在准直器透镜33a的移动期间，记录信号处理器19在预定时间间隔执行RF幅度的测量(取样)。在图5中，由一个矩形表示被连续执行的多次测量。控制部分20基于在从时间t13至t14的时段由该测量获得的RF幅度的多个值，计算最优值So。在本示例中，与图4的示例不同，当测量评估值时，仍不开启寻迹伺服信号。也就是，物镜36不跟随光盘介质M的轨道。因此，作为评估值，不使用与信息读取的时间处的信号波形的上升定时有关的抖动值，而使用RF值。
在计算最优值So之后，控制部分20将SA参数的设置值改变为计算出的最优值So。响应于此，准直器透镜33a移动至与最优值So对应的位置。一旦完成移动，控制部分20开启寻迹伺服信号并且开始从第二信号表面的信息读取(时间t15)。
下面将描述由控制部分20计算最优值So的处理的特定示例。图6示出在测量评估值的时段期间准直器透镜33a的位置的改变。如该图中所示，准直器透镜33a以基本恒定的速度朝固定的方向从与中间值Sm对应的位置向与目标值St对应的位置(目标位置)移动。控制部分20将其中在移动准直器透镜33a期间执行测量的该时段划分为多个单位时段。作为一个示例，整个测量时段被划分为图6中的九个单位时段Δt1至Δt9。
图7是示出评估值(RF幅度)的测量结果的一个示例的图。在本实施例中，因为在不停止准直器透镜33a的移动的情况下执行测量，所以可以在相对短的时间间隔多次测量评估值，如图7中所示。然而，例如由于在不实施寻迹伺服控制的状态下执行该测量和在移动准直透镜33a的同时执行该测量的因素，在测量结果中导致变化。
因此，对于每个单位时段，控制部分20计算由单位时段中的测量获得的多个评估值的代表值。该代表值例如可以是多个评估值的平均值。可替代地，可以利用以下方式。具体地，每个单位时段中获得的多个评估值被进一步划分为多个组，并且获取每个组中的评估值的最大值。然后，通过使用评估值的这些最大值计算代表值。作为特定示例，假设在一个单位时段执行(N×M)次测量。在该情况下，每次获得N个测量结果，控制部分20在这些N个测量结果中选择最大值。这导致实现每一个单位时段的M个最大值。控制部分20采用M个最大值的平均值作为对应单位时段的测量结果的代表值。通过以该方式基于每个单位时段统计地处理多个评估值并且计算代表值，可以吸收测量中的变化。另外，根据如上描述地获取N个测量结果的最大值的方法，在测量条件有利的状态下获得的评估值可以被提取并且用于代表值的计算。
在计算代表值中，控制部分20可以作为异常值排除与其他测量值有很大不同的测量值。例如，在一个单位时段中获得的多个测量值中，作为异常值排除相对于其他测量值具有非常大的值的测量值，并且通过使用其他测量值计算代表值。
在计算每个单位时段的评估值的代表值之后，控制部分20通过使用这些代表值计算最优值。具体地，关于每个单位时段，控制部分20识别每个单位时段中准直器透镜33a的移动范围的中心位置。图6的图形上的点指示各自单位时段中准直器透镜33a的识别出的中心位置。然后，控制部分20将与识别出的中心位置对应的SA参数的值与关于对应单位时段计算出的评估值的代表值相关联。也就是，控制部分20基于在准直器透镜33a位于中心位置的状态下通过测量获得评估值的代表值的假设，计算最优值So。图8是示出每个单位时段的准直器透镜33a的中心位置和评估值的代表值之间的关系的一个示例的图。在该图中，与九个单位时段对应地绘制评估值的九个代表值。通过执行与这些九个测量数据的正常调整处理中的二次曲线近似类似的二次曲线近似，计算最优值So。
下面将通过使用图9的流程图描述上面描述的SA参数调整处理的流程。
首先，控制部分20开始驱动控制，以将准直器透镜33a移动至与目标值St对应的位置(目标位置)(STP1)。然后，控制部分20确定准直器透镜33a是否已经到达目标位置(STP2)。如果没有到达目标位置，则控制部分20测量RF幅度(STP3)并且将测量结果临时存储在控制部分20的存储元件中。此后，控制部分20返回步骤2，以确定准直器透镜33a是否已经到达目标位置。由于这一点，在该时段重复执行RF幅度的测量，直至准直器透镜33a到达目标位置。
如果在STP2确定准直器透镜33a已经到达目标位置，则控制部分20通过使用在STP3获得的RF幅度的多个测量结果由与上面描述的统计处理类似的统计处理，计算最优值So(STP4)。完成最优值So的计算之后，控制部分20开始驱动控制，以将准直器透镜33a移动到与最优值So对应的位置(最优位置)(STP5)。然后，控制部分20确定准直器透镜33a是否已经到达最优位置(STP6)，并且如果已经到达最优位置，则结束该处理。
根据上面描述的依据本实施例的光盘设备1，虽然通过球面像差校正机构33改变物镜36的球面像差量，但是与该改变同时地测量评估值。由此，与在固定球面相差量的状态下测量评估值的情况相比较，可以快速地执行多次测量。这可以缩短当改变作为读取目标的数据记录层时执行SA参数的调整处理花费的时间。具体地，当实施数据记录层改变控制时，因为在SA参数设置为中间值Sm的状态下执行聚焦跳跃，所以SA参数改变为适于在执行聚焦跳跃之后从其新读取信息的信号表面的值。因此，由于SA参数的该改变，可以通过与准直器透镜33a的移动同时地测量评估值，缩短实施数据记录层改变控制花费的时间。
本公开的实施例不限于上面描述的实施例。例如，关于当改变作为读取目标的数据读取层时实施的SA参数调整控制作出以上描述。然而，此外，在其他情况下，可以以类似的过程实施SA参数调整处理。具体地，同样在当在设备中设置新光盘介质M时实施的初始调整处理中，光盘设备1可以以与上面描述的过程类似的过程执行SA参数的调整处理。此外，在该情况下，在设置中间值Sm的状态下实施聚焦检测之后，SA参数的值改变为适于在其上设置聚焦的信号表面的值。因此，可以通过与伴随SA参数的该改变的准直器透镜33a的移动同时地测量评估值，以短时间执行初始调整处理。
在上面的描述中，在准直器透镜33a移动到与预先设置的目标值St对应的位置的同时执行测量。然而，不能预先判定要移动准直器透镜33a多远。在该情况下，与准直器透镜33a的移动同时地测量评估值，并且每次获得预定数目的评估值时或者每次过去预定时段时，控制部分20对到目前为止获得的多个评估值执行统计处理，以计算其代表值。然后，当计算出的代表值示出诸如从增加到降低的转换之类的改变时，准直器透镜33a被估计为已经通过与最有值So对应的位置。由此，控制部分20停止准直器透镜33a的移动，并且通过使用到目前为止获得的代表值计算最优值So。
虽然在上面的描述中，RF幅度被用作读取精确度的评估值，但是例如，寻迹误差信号或者拉入信号也可以用作评估值。
本公开包含与2013年11月13日向日本专利局提交的日本优先权专利申请JP2013-235488中公开的主题有关的主题，其全部内容以引用的方式并入本文。
本领域的技术人员应当理解，取决于设计要求和其他因素可以出现各种修改、组合、子组合和改变，只要他们在权利要求和其等效物的范围内。

Claims (7)

1.一种读取光盘介质中记录的信息的光盘设备，该光盘设备包括：
物镜，配置为将光聚焦在光盘介质上；
球面像差校正机构，配置为根据预定参数的设置值改变所述物镜的球面像差量；
评估值测量部分，配置为测量指示从光盘介质读取信息的精确度的评估值；以及
控制部分，配置为执行这样的调整处理，在该调整处理中，所述控制部分与通过所述球面像差校正机构改变所述物镜的球面像差量同时地，通过所述评估值测量部分实施评估值的多次测量，并且基于通过多次测量获得的多个评估值，计算参数的最优设置值。
2.如权利要求1所述的光盘设备，其中
所述光盘介质包括多个数据记录层，以及
所述控制部分当改变多个数据记录层中作为读取目标的数据记录层时，执行所述调整处理。
3.如权利要求2所述的光盘设备，其中
所述控制部分在朝依赖于新选择为读取目标的数据记录层判定的目标值改变所述物镜的球面像差量的同时，实施评估值的测量。
4.如权利要求1至3中任一项所述的光盘设备，其中
所述控制部分将其中测量评估值的时段划分为多个单位时段，并且对于多个单位时段中的每个，计算单位时段中通过测量获得的多个评估值的代表值，以及
所述控制部分基于以每个单位时段为基础获得的代表值，计算最优设置值。
5.一种光盘设备的控制方法，该光盘设备包括：
物镜，将光聚焦在光盘介质上；
球面像差校正机构，根据预定参数的设置值改变所述物镜的球面像差量；
评估值测量部分，测量指示从光盘介质读取信息的精确度的评估值，
该控制方法包括：
与通过所述球面像差校正机构改变物镜的球面像差量同时地，通过所述评估值测量部分实施评估值的多次测量；以及
执行这样的调整处理，在该调整处理中，基于通过多次测量获得的多个评估值，计算参数的最优设置值。
6.一种控制光盘设备的程序，该光盘设备包括
物镜，将光聚焦在光盘介质上；
球面像差校正机构，根据预定参数的设置值改变所述物镜的球面像差量；
评估值测量部分，测量指示从光盘介质读取信息的精确度的评估值，
用于计算机的该程序包括：
与通过所述球面像差校正机构改变物镜的球面像差量同时地，通过所述评估值测量部分实施评估值的多次测量；以及
执行这样的调整处理，在该调整处理中，基于由多次测量获得的多个评估值，计算参数的最优设置值。
7.一种用于存储程序的计算机可读信息存储介质，包括
控制光盘设备的程序，该光盘设备包括
物镜，将光聚焦在光盘介质上；
球面像差校正机构，根据预定参数的设置值改变所述物镜的球面像差量；以及
评估值测量部分，测量指示从光盘介质读取信息的精确度的评估值，
用于计算机的该程序包括：
与通过所述球面像差校正机构改变物镜的球面像差量同时地，通过所述评估值测量部分实施评估值的多次测量；以及
执行这样的调整处理，在该调整处理中，基于由多次测量获得的多个评估值，计算参数的最优设置值。
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