WO2007142301A1 - 発振回路 - Google Patents

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WO2007142301A1
WO2007142301A1 PCT/JP2007/061561 JP2007061561W WO2007142301A1 WO 2007142301 A1 WO2007142301 A1 WO 2007142301A1 JP 2007061561 W JP2007061561 W JP 2007061561W WO 2007142301 A1 WO2007142301 A1 WO 2007142301A1
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current
circuit
voltage
transistor
reference voltage
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PCT/JP2007/061561
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English (en)
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Inventor
Tomohiro Nezuka
Original Assignee
Thine Electronics, Inc.
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K4/00Generating pulses having essentially a finite slope or stepped portions
    • H03K4/06Generating pulses having essentially a finite slope or stepped portions having triangular shape
    • H03K4/08Generating pulses having essentially a finite slope or stepped portions having triangular shape having sawtooth shape
    • H03K4/48Generating pulses having essentially a finite slope or stepped portions having triangular shape having sawtooth shape using as active elements semiconductor devices
    • H03K4/50Generating pulses having essentially a finite slope or stepped portions having triangular shape having sawtooth shape using as active elements semiconductor devices in which a sawtooth voltage is produced across a capacitor
    • H03K4/501Generating pulses having essentially a finite slope or stepped portions having triangular shape having sawtooth shape using as active elements semiconductor devices in which a sawtooth voltage is produced across a capacitor the starting point of the flyback period being determined by the amplitude of the voltage across the capacitor, e.g. by a comparator
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K4/00Generating pulses having essentially a finite slope or stepped portions
    • H03K4/06Generating pulses having essentially a finite slope or stepped portions having triangular shape

Definitions

  • the present invention relates to an oscillation circuit.
  • An oscillation circuit that generates a rectangular wave clock signal is known.
  • the oscillation circuit described in Patent Document 1 generates a triangular wave signal by alternately switching the charge / discharge operation of the capacitor, and generates a clock signal based on a comparison between the voltage of the triangular wave signal and two reference voltages by a comparator. To do.
  • switching of the capacitor charging / discharging operation is performed in accordance with the voltage of the clock signal output from the comparator.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Laid-Open No. 10-233657
  • the clock signal cycle, the triangular wave signal repetition cycle, and the capacitor charge / discharge repetition cycle are matched by feedback loop processing including a capacitor and a comparator.
  • the frequency of the signal is determined.
  • the response delay time of the logical circuit depends on the power supply voltage
  • the response delay time of the comparator described in Patent Document 1 varies depending on the variation of the power supply voltage.
  • the frequency of the clock signal fluctuates due to the feedback creping process including the comparator.
  • an object of the present invention is to provide an oscillation circuit capable of reducing the frequency fluctuation of the clock signal caused by the fluctuation of the power supply voltage.
  • the oscillation circuit of the present invention generates a rectangular wave clock signal.
  • This oscillation circuit includes (a) a capacitor, and switches the charge / discharge state of the capacitor according to the voltage value of the clock signal to generate a triangular wave signal, and (b) is output from the triangular wave generation circuit.
  • the triangular wave signal is received and the first reference voltage and the second reference voltage are received, the voltage value of the triangular wave signal is compared with the value of the first reference voltage, and the voltage value of the triangular wave signal is A comparison circuit that generates a clock signal having a voltage value corresponding to the comparison with the reference voltage value of the first reference voltage, and (C) a reference current source that outputs a reference current and a power supply for the comparison circuit, A current adjustment circuit that generates an adjustment current in which the value of the reference current is changed in accordance with a voltage change amount of the power supply; and And a reference voltage generating circuit for generating a second reference voltage.
  • the current adjustment circuit increases the adjustment current when the voltage of the power supply for the comparison circuit increases, and decreases the adjustment current when the voltage of the power supply decreases.
  • the reference voltage generation circuit increases the potential difference between the first reference voltage and the second reference voltage when the adjustment current increases, and increases the potential difference between the first reference voltage and the second reference voltage when the adjustment current decreases. Reduce the potential difference from the reference voltage of 2.
  • the response delay time of the logic circuit becomes shorter as the power supply voltage becomes higher. Therefore, the response delay time of the comparison circuit becomes shorter as the power supply voltage becomes higher.
  • the value of the adjustment current is increased by the current adjustment circuit, and the reference voltage generation circuit generates a difference between the first reference voltage and the second reference voltage. Since the voltage difference increases, the charging time and discharging time between the first reference voltage and the second reference voltage in the capacitor become longer.
  • the power supply voltage of the comparison circuit is lowered, the value of the adjustment current is reduced by the current adjustment circuit, and the voltage difference between the first reference voltage and the second reference voltage is reduced by the reference voltage generation circuit. Charging time and discharging time between the first reference voltage and the second reference voltage in the capacitor are shortened.
  • the above-described current adjustment circuit includes a first current mirror circuit to which a reference current is input, and a second power lent mirror to which an output current of the first current mirror circuit is input and voltage is supplied from a power source. And the output current of the second current mirror circuit is preferably output as the adjustment current.
  • the first current mirror circuit includes: (a) a first current terminal connected to a reference current source; A first transistor having a second current terminal connected to one potential of the source and a control terminal connected to the first current terminal; and (b) connected to the control terminal of the first transistor.
  • a second current mirror circuit that preferably has a second control terminal, a first current terminal, and a second transistor having a second current terminal connected to one potential of a power supply, (c) A first current terminal connected to the first current terminal of the second transistor; a second current terminal connected to the other potential of the power supply; and a control terminal connected to the first current terminal.
  • D a fourth transistor having a control terminal connected to the control terminal of the third transistor, a first current terminal, and a second current terminal connected to the other potential of the power supply. It is preferable to have a transistor.
  • a first current mirror circuit composed of a first transistor and a second transistor and a second current mirror circuit composed of a third transistor and a fourth transistor are compared to each other.
  • the same power supply is used.
  • the voltage between the two current terminals of the second transistor increases.
  • the current flowing through the first current terminal drain or collector
  • the voltage (Vds or Vce) between the two current terminals increases.
  • the reference voltage generation circuit described above includes a third current mirror circuit to which an adjustment current is input, and a voltage dividing circuit through which an output current of the third current mirror circuit flows. It is preferable to generate a first reference voltage and a second reference voltage including a plurality of resistors connected in series with each other, and having a voltage difference as a voltage drop amount of at least one of the plurality of resistors.
  • the third current mirror circuit includes: (e) a first current terminal connected to the first current terminal of the fourth transistor, and a second current terminal connected to one potential of the power supply. And a fifth transistor having a control terminal connected to the first current terminal, and (f) a fifth transistor It is preferable to have a sixth transistor having a control terminal connected to the control terminal of the transistor, a first current terminal, and a second current terminal connected to one potential of the power supply (g).
  • the voltage circuit is preferably connected between the first current terminal of the sixth transistor and the other potential of the power supply.
  • the fifth transistor and the sixth transistor form a third current mirror circuit, so that when the adjustment current increases, the current flowing through the voltage dividing circuit increases. As the voltage drop across the resistor in the voltage divider circuit increases, the voltage difference between the first and second reference voltages increases. On the other hand, when the adjustment current decreases, the current flowing through the voltage dividing circuit decreases, the voltage drop amount of the resistor in the voltage dividing circuit decreases, and the voltage difference between the first reference voltage and the second reference voltage is reduced. Get smaller.
  • FIG. 1 is a circuit diagram showing an oscillation circuit according to an embodiment.
  • FIG. 2 is a detailed circuit diagram of the oscillation circuit shown in FIG.
  • FIG. 3 is a diagram showing signal waveforms shown in FIG.
  • FIG. 4 is a diagram showing hysteresis characteristics of a clock signal with respect to a triangular wave signal.
  • FIG. 5 is a graph showing response delay time characteristics with respect to the power supply voltage of the comparison circuit.
  • FIG. 6 is a graph showing drain current characteristics with respect to drain-source voltage in a transistor.
  • FIG. 7 is a graph showing a voltage difference characteristic between the first reference voltage and the second reference voltage with respect to the power supply voltage.
  • FIG. 8 is a circuit diagram showing an oscillation circuit according to Modification 1.
  • FIG. 9 is a circuit diagram showing an oscillation circuit according to Modification 2.
  • FIG. 10 is a circuit diagram showing an oscillation circuit according to a comparative example.
  • FIG. 1 is a circuit diagram showing an oscillation circuit according to an embodiment of the present invention.
  • the oscillation circuit 1 shown in FIG. 1 generates rectangular-wave complementary clock signals CLK and XCLK.
  • the oscillation circuit 1 includes a reference current source 10, a triangular wave generation circuit 20, a comparison circuit 30, a current adjustment circuit 40, and a reference A voltage generation circuit 50 is provided.
  • the oscillation circuit 1 is formed in one integrated circuit, and is connected to the reference current source 10, the triangular wave generation circuit 20, the comparison circuit 30, the current adjustment circuit 40, and the reference voltage generation circuit 50. Is supplied with a single power supply voltage Vdd.
  • the reference current source 10 is connected to the high potential (the other potential) 5 of the power supply, and generates a reference current Irefl having a constant current value.
  • the reference current source 10 supplies the reference current Iref 1 to the triangular wave generation circuit 20 and the current adjustment circuit 40.
  • the triangular wave generation circuit 20 includes a capacitor, and charges and discharges the capacitor using the reference current Irefl to generate a triangular wave signal Vosc.
  • the triangular wave generation circuit 20 receives the clock signal XCLK output from the comparison circuit 30 and switches the charging / discharging operation of the capacitor according to the voltage value of the clock signal XCLK.
  • the triangular wave generation circuit 20 outputs a triangular wave signal Vosc to the comparison circuit 30.
  • the first reference voltage Vrefh and the second reference voltage Vrefl output from the reference voltage generation circuit 50 are also input to the comparison circuit 30.
  • the comparison circuit 30 compares the voltage value of the triangular wave signal Vosc with the value of the first reference voltage Vrefh, compares the voltage value of the triangular wave signal Vosc with the value of the second reference voltage Vrefl, and compares them. Complementary square wave signal with logic inverted according to the result is generated.
  • the comparison circuit 30 outputs these complementary rectangular wave signals as clock signals CLK and XCLK, respectively.
  • the current adjustment circuit 40 changes the value of the reference current Irefl output from the reference current source 10 according to the value of the power supply voltage Vdd, and generates the adjustment current Iref 3.
  • the current adjustment circuit 40 supplies the adjustment current Iref3 to the reference voltage generation circuit 50.
  • the reference voltage generation circuit 50 generates the first reference voltage Vrefh and the second reference voltage Vrefl according to the adjustment current Iref 3. The voltage difference between the first reference voltage Vrefh and the second reference voltage Vrefl is changed according to the adjustment current Iref3.
  • FIG. 2 is a detailed circuit diagram of the oscillation circuit shown in FIG.
  • the triangular wave generating circuit 20 includes transistors 21, 22, 23, 24, 25, 26 and a canator 27.
  • Transistors 21, 22, 25, and 26 are each an N-type MOSFET, and transistors 23 and 24 are each a P-type MOS FET.
  • the drain of the transistor 21 is connected to the reference current source 10, and the source is connected to the low potential (one potential: for example, ground potential) 6 of the power source.
  • the gate of transistor 21 is connected to its own drain and the gate of transistor 22.
  • the source of transistor 22 is connected to the low potential 6 of the power supply, and the drain is connected to the drain of transistor 23.
  • the transistors 21 and 22 constitute a current mirror circuit, and generate a current Iref 5 proportional to the reference current Iref 1 between the drain and the source of the transistor 22.
  • the source of the transistor 23 is connected to the high potential 5 of the power supply, and the gate is connected to its own drain and the gate of the transistor 24.
  • the source of transistor 24 is connected to the power supply.
  • the transistors 23 and 24 form a current mirror circuit, and generate a current Iref6 proportional to the current Iref5 between the drain and the source of the transistor 24.
  • the source of the transistor 25 is connected to the low potential 6 of the power supply, and the gate is connected to the gate of the transistor 21.
  • the transistors 21 and 25 constitute a current mirror circuit, and generate a current Iref 7 proportional to the current Iref 1 between the drain and source of the transistor 25.
  • the gate lengths and gate widths of the transistors 21 and 22 are the same, the gate lengths and gate widths of the transistors 23 and 24 are the same, and the gate lengths of the transistors 25 and 21 are
  • the gate width of transistor 25 is twice that of transistor 21. Therefore, the values of the currents Iref5 and Iref6 are almost the same as the value of the current Iref1, and the value of the current Iref7 is about twice that of the current Iref1.
  • a transistor 26 is connected between the transistor 24 and the transistor 25.
  • the drain of transistor 26 is connected to the drain of transistor 24, and the source is connected to the drain of transistor 25.
  • a capacitor 27 is connected to the gate of the transistor 26 between the comparison circuit 30 and the high potential 5 of the power source.
  • the capacitor 27 has a current Iref7 and a current Iref6 when the transistor 26 is on. When the transistor 26 is off, it is discharged with the current Iref6. In this way, the capacitor 27 is repeatedly charged and discharged by the transistor 26, whereby the triangular wave signal Vosc is supplied to the comparison circuit 30.
  • the comparison circuit 30 includes comparators 31 and 32 and an SR type latch circuit 33.
  • the first reference voltage Vrefh output from the reference voltage generation circuit 50 is input to the positive input terminal of the comparator 31, and the triangular wave signal Vo sc output from the triangular wave generation circuit 20 is input to the negative input terminal.
  • the triangular wave signal Vosc output from the triangular wave generation circuit 20 is input to the positive input terminal of the comparator 32, and the second reference voltage Vrefl output from the reference voltage generation circuit 50 is input to the negative input terminal.
  • the comparator 31 outputs a high level voltage when the voltage value of the triangular wave signal Vosc is smaller than the value of the first reference voltage Vrefh, and the voltage value of the triangular wave signal Vosc is the first reference voltage Vref h. A low level voltage is output when the value is greater than.
  • the comparator 32 outputs a high level voltage when the voltage value of the triangular wave signal Vosc is larger than the value of the second reference voltage Vrefl, and the voltage value of the triangular wave signal Vosc is the value of the second reference voltage Vrefl. When the value is smaller, a single level voltage is output.
  • the output voltage of the comparator 31 and the output voltage of the comparator 32 are input to the SR type latch circuit 33, respectively.
  • the SR type latch circuit 33 is composed of two NAND circuits.
  • the output voltage of the comparator 31 and the output voltage of the comparator 32 are set as a set signal and a reset signal, respectively, and complementary clock signals CLK, Generate XCLK.
  • the current adjustment circuit 40 includes a first transistor 21, a second transistor 42, a third transistor 43, and a fourth transistor 44.
  • the second transistor 42 is an N-type MOSFET
  • the third transistor 43 and the fourth transistor 44 are P-type MOSFETs.
  • the current adjustment circuit 40 shares the first transistor 21 with the triangular wave generation circuit 20.
  • the gate (control terminal) of the second transistor 42 is connected to the gate (control terminal) of the first transistor 21, and the source (second current terminal) is connected to the low potential 6 of the power source.
  • the second transistor 42 has the first transistor.
  • the transistor 21 and the first current mirror circuit are configured, and a current Iref2 proportional to the reference current Irefl flows between the drain and source of the second transistor 42.
  • the source (second current terminal) of the third transistor 43 is connected to the high potential 5 of the power supply, and the gate (control terminal) is its own drain and the gate (control terminal) of the fourth transistor 44. Child).
  • the source (second current terminal) of the fourth transistor 44 is connected to the high potential 5 of the power supply, and the drain (first current terminal) is connected to the reference voltage generation circuit 50.
  • the third transistor 43 and the fourth transistor 44 constitute a second current mirror circuit, and an adjustment current Iref3 proportional to the current Iref2 is generated between the drain and the source of the fourth transistor 44. To generate.
  • the first transistor 21 and the second transistor 42 have the same gate length and gate width
  • the third transistor 43 and the fourth transistor 44 have the same gate length and gate width. It is.
  • the reference voltage generation circuit 50 includes a fifth transistor 51, a sixth transistor 52, and a voltage dividing circuit 53.
  • the fifth transistor 51 and the sixth transistor 52 are N-type MOS FETs.
  • the drain (first current terminal) of the fifth transistor 51 is connected to the drain of the fourth transistor 44 of the current adjustment circuit 40, and the source (second current terminal) is the low potential of the power supply. Connected to 6.
  • the gate (control terminal) of the fifth transistor 51 is connected to its own drain and the gate (control terminal) of the sixth transistor 52.
  • the source (second current terminal) of the sixth transistor 52 is connected to the low potential 6 of the power supply.
  • a voltage dividing circuit 53 is connected between the drain (first current terminal) of the sixth transistor 52 and the high potential 5 of the power supply.
  • the fifth transistor 51 and the sixth transistor 52 constitute a third current mirror circuit, and a current Iref4 proportional to the adjustment current Iref3 is generated between the drain and the source of the sixth transistor 52. To generate.
  • these transistors 51 and 52 have the same gate length and gate width.
  • the voltage dividing circuit 53 includes three resistors 54, 55, 56 connected in series.
  • a second reference voltage Vrefl is generated between resistors 54 and 55, and a first reference voltage Vrefh is generated between resistors 55 and 56. Therefore, the first reference voltage Vrefh and the second reference voltage Vr The potential difference from efl is determined by the voltage drop across resistor 55.
  • FIG. 10 is a circuit diagram showing an oscillation circuit according to a comparative example.
  • An oscillation circuit 1C shown in FIG. 10 is different from the present embodiment in the configuration in which the oscillation circuit 1 includes the current adjustment circuit 40.
  • the transistor 21 of the triangular wave generation circuit 20 is used instead of the fifth transistor 51.
  • FIG. 10 is a diagram showing signal waveforms shown in FIG.
  • the clock signal XCLK is high
  • the transistor 26 is turned on
  • the capacitor 27 is charged with a current difference of 1 £ 7_1 £ 6, that is, a current equivalent to Iref:!
  • the voltage of the triangular wave signal Vosc gradually increases. descend.
  • the response delay time of the comparison circuit 30 that is, the sum of the response delay time of the comparator 31 or 32 and the response delay time of the SR type latch circuit 33
  • the clock signal XCLK switches to low level.
  • the transistor 26 is turned off, the capacitor 27 is discharged by the current Iref 6, that is, the current corresponding to Iref 1, and the voltage of the triangular wave signal Vosc gradually increases.
  • the clock signal XCLK switches to the high level after the response delay time td of the comparison circuit 30. Then, the transistor 26 is turned on again, and the voltage of the triangular wave signal Vosc gradually decreases.
  • the charge / discharge operation of the capacitor 27 is repeated by the feedback loop processing of the triangular wave generation circuit 20 and the comparison circuit 30, and the triangular wave signal Vosc and the clock signals CLK, XC LK are generated.
  • This clock signal CLK has hysteresis with respect to the triangular wave signal Vosc by the hysteresis function of the comparison circuit 30.
  • Figure 4 shows the hysteresis characteristics of the clock signal with respect to the triangular wave signal.
  • Tlh Discharge time of capacitor 27 from the second reference voltage Vrefl to the first reference voltage Vrefh
  • Td Response delay time of comparison circuit 30
  • the response delay time of the logic circuit becomes shorter as the power supply voltage Vdd becomes higher.
  • FIG. 5 is a diagram showing the response delay time characteristics with respect to the power supply voltage of the comparison circuit including the logic circuit.
  • the response delay time of the comparators 31 and 32 and the response delay time of the SR-type latch circuit 33 become shorter.
  • Response delay time td becomes shorter.
  • the drain-source voltage of the second transistor 42 increases as the power supply voltage Vdd increases.
  • the drain current changes according to the drain-source voltage.
  • FIG. 6 is a graph showing drain current characteristics with respect to the drain-source voltage in the transistor. As shown in Fig. 6, even if the gate voltage Vgs is large and constant enough to operate in the saturation region, the drain current Id increases as the drain-source voltage Vds increases. . Note that the amount of increase in the drain current Id with respect to the drain-source voltage Vds can be adjusted by changing the gate length.
  • FIG. 7 is a diagram showing a voltage difference characteristic between the first reference voltage and the second reference voltage with respect to the power supply voltage. As can be seen from FIG. 7, the voltage difference Vrefh ⁇ Vrefl between the first reference voltage Vrefh and the second reference voltage Vrefl increases as the power supply voltage Vdd increases.
  • the current adjustment circuit 40 adjusts the adjustment current Ir ef3 Since the voltage difference between the first reference voltage Vrefh and the second reference voltage Vrefl is increased by the reference voltage generation circuit 50, the charging time thl and discharging time tlh of the capacitor 27 are increased.
  • the power supply voltage Vdd decreases and the response delay time td of the comparison circuit 30 increases, the value of the adjustment current Iref3 decreases by the current adjustment circuit 40, and the first reference voltage Vrefh is reduced by the reference voltage generation circuit 50.
  • the charging time thl and the discharging time tlh of the capacitor 27 are shortened. Therefore, according to this oscillation circuit 1, even if the response delay time td of the comparison circuit 30 fluctuates due to the fluctuation of the power supply voltage Vdd, the charging of the capacitor 27 is performed so as to cancel the change of the response delay time td. By changing the time thl and the discharge time tlh, the fluctuation of the cycle of the clock signal CLK can be reduced. Therefore, the variation in the frequency of the clock signal CLK caused by the dependency of the comparison circuit 30 on the power supply voltage can be reduced.
  • the oscillation circuit 1 of the present embodiment has a configuration that does not depend on the reference current Irefl. That is, the oscillation circuit 1 can keep the frequencies of the clock signals C LK and XCLK constant even when the reference current Irefl varies.
  • the charging time thl and discharging time tlh of the capacitor 27 are expressed by the following equation (2).
  • Thl (Vrefh -Vrefl) X C / (Iref7-Iref6)
  • the voltage difference (Vrefh ⁇ Vrefl) is a voltage drop amount of the resistor 55, and is determined by the resistance value of the resistor 55 and the value of the current Iref4.
  • the current Iref4, the current (Iref7—Iref6), and the current Iref6 are proportional to the reference current Iref1. Therefore, the fluctuation of the current (1 ⁇ £ 7—6 £ 6) and the current of 6 £ 6 due to the fluctuation of the reference current Irefl can be canceled by the fluctuation of the current Iref4 due to the fluctuation of the reference current Iref 1. .
  • the charging time thl and discharging time tlh of the capacitor 27 can be kept constant, and the frequencies of the clock signals CLK and XCLK can be kept constant.
  • the response delay time td of the comparison circuit 30 depends on the temperature. Can also be reduced. That is, if the temperature of the logic circuit rises, the response delay time td generally increases, but the current in the current adjustment circuit 40 decreases as the temperature rises, so the voltage difference Vrefh-Vrefl decreases and the response delay time td The charge time thl and discharge time tlh of the capacitor 27 are shortened so as to cancel the change.
  • the temperature dependence of the response delay time td of the comparison circuit 30 is obtained in advance through experiments and simulations, and the gate lengths of the transistors 42, 43, and 44 in the current adjustment circuit 40 are adjusted in consideration of this temperature dependence, and the adjustment current is adjusted. Adjust the amount of change in Iref3.
  • the power supply voltage dependency of the triangular wave generation circuit 20 can be reduced.
  • the transistors 21 and 22 and the transistors 21 and 25 constitute a current mirror circuit, respectively, and have power supply voltage dependency. Therefore, the current Iref5 and the current Iref6 change, the current Iref7 changes, the charge time thl and the discharge time tlh of the capacitor 27 change, and the frequencies of the clock signals CLK and XCLK change.
  • the dependence of the charging time thl and the discharging time tlh of the capacitor 27 in the triangular wave generation circuit 20 on the power supply voltage is obtained in advance by experiments and simulations, and the transistors 42, Adjust the gate length of 43 and 44 to adjust the amount of change in the adjustment current Iref3.
  • the oscillation frequency required for the oscillation circuit tends to increase.
  • the repetition period of the triangular wave signal can be adjusted relatively freely by adjusting the analog current amount in the triangular wave generating circuit. It is difficult to shorten the delay time beyond a certain level. Therefore, the higher the oscillation frequency, the larger the ratio of the response delay time of the comparison circuit to the power supply voltage in the power supply voltage dependency of the oscillation frequency.
  • the oscillation circuit 1 of the present embodiment can reduce the dependency of the oscillation frequency on the power supply voltage by a simple method even when the oscillation frequency is increased.
  • FIG. 8 is a circuit diagram showing an oscillation circuit according to the first modification of the present invention.
  • An oscillation circuit 1A shown in FIG. 8 is different from the oscillation circuit 1 in that the oscillation circuit 1 includes a current adjustment circuit 40A instead of the current adjustment circuit 40.
  • the current adjustment circuit 40A includes transistors 22 and 23 as a first transistor and a second transistor, respectively, instead of the second transistor 42 and the third transistor 43 in the current adjustment circuit 40. That is, the current adjustment circuit 40A shares the first transistor 21, the second transistor 22, and the third transistor 23 with the triangular wave generation circuit 20.
  • Such an oscillation circuit 1A of the first modification can also obtain the same advantages as the oscillation circuit 1, and can further reduce the circuit scale and power consumption.
  • FIG. 9 is a circuit diagram showing an oscillation circuit according to Modification 2 of the present invention.
  • the oscillation circuit 1B shown in FIG. 9 is changed in the oscillation circuit 1 from the transistors 21, 22, 25, 42, 51, 52 to the P-type MOSF ET instead of the negative MOSFET power, and the transistors 23, 24, 43, 44 are changed to P Type MOSFET has been changed to N type MOSFET.
  • one potential 6 of the power source is a low potential and the other potential 5 is a high potential.
  • one potential 6 of the power source is a high potential. Yes, the other potential 5 is a low potential.
  • the first reference voltage Vrefh is generated between the resistors 55 and 56
  • the second reference voltage Vrefl is generated in the resistors 54 and 55.
  • the second reference voltage Vrefl is generated between the resistor 55 and the resistor 56, and the resistor 54 And the resistor 55 generates the first reference voltage Vrefh.
  • the time tlh in FIG. 3 is the charge time of the capacitor 27, and the time thl is the discharge time of the capacitor 27.
  • Other operations are the operations of the oscillation circuit 1. The same advantages as the oscillation circuit 1 can be obtained.
  • a power bipolar transistor using a MOSFET as a transistor may be used.
  • the current adjustment circuit 4 is used for the sake of simplicity.
  • the transistors 21, 42, 43, 44 at 0 and the transistor 51 and the transistor 52 in the reference voltage generation circuit 50 may have different forces that make the gate length and gate width the same.
  • the gate length and the gate width of the transistor 21 and the transistor 22 in the triangular wave generation circuit 20 are the same.
  • the gate length and the gate width are the same, the gate lengths of transistors 25 and 21 are the same, and the gate width of transistor 25 is twice that of transistor 21.
  • the current ratio between current Iref6 and current Iref7 is If it is 1: 2, the transistors 21, 22, 23, 24, 25 may be different from the gate length and gate width of this embodiment.
  • the current adjustment circuit 40 is configured by a two-stage current mirror circuit, but depending on the length of the response delay time td of the comparison circuit 30, a 2N-stage It may be composed of a force lent mirror circuit (N is an integer of 1 or more).
  • N is an integer of 1 or more.
  • a single power supply voltage is supplied to all the circuits of the oscillation circuit 1 assuming an integrated circuit, but at least the power supply voltage and current of the comparison circuit 30 are supplied.
  • the power supply voltage of the adjustment circuit 40 is the same, the same advantages as the oscillation circuit 1 can be obtained even if different power supply voltages are supplied to the other circuits 10, 20, and 50.
  • the voltage dividing circuit 53 of the reference voltage generating circuit 50 is composed of three resistors 54, 55, 56. resistance
  • the potential difference between the first reference voltage Vrefh and the second reference voltage Vrefl may be determined by the sum of the voltage drop amounts of the plurality of resistors.
  • the reference current source 10 is provided.
  • the oscillation circuits 1 and 1 A are not provided with the reference current source 10 and are formed outside the integrated circuit. May be connected.
  • the capacitor 27 is connected between the drains of the transistors 24 and 26 and the high potential 5 of the power supply. However, the capacitor 27 is connected between the drains of the transistors 24 and 26 and the low potential 6 of the power supply. You can be connected to. Similarly, in this modification, the capacitor 27 is connected between the drains of the transistors 25 and 26 and the low potential 5 of the power supply and connected between the drains of the transistors 25 and 26 and the high potential 6 of the power supply. May be.
  • the transistor 26 is connected between the transistor 25 and the capacitor 27.
  • the transistor 26 may be connected between the transistor 24 and the capacitor 27.
  • the transistor 26 is changed to a P-type MOSFET, and the gate length and gate width of the transistors 21, 22, 23, 24, and 25 are changed so that the current Iref6 is twice the current Iref7.
  • the transistor 26 is connected between the transistor 24 and the capacitor 27, but may be connected between the transistor 25 and the capacitor 27.
  • the transistor 26 is changed to a P-type MOSFET, and the gate length and gate width of the transistors 21, 22, 23, 24, and 25 are changed so that the current Iref6 is twice the current Iref7.
  • the switch that switches the charging / discharging operation of the capacitor 27 by receiving the clock signal XCLK from the comparison circuit 30 is configured by the transistor 26 of the N-type MOSFET, but this switch is connected in series to the P It may be composed of type MOSFET and N type MOSFET. Specifically, this configuration is realized by adding a P-type MOSFET to which the source is connected to the drains of the transistors 26 and 24 and the signal XCLK is input to the present embodiment. By configuring the switch with a P-type MOSFET and an N-type MOSFET connected in series, the amount of current flowing from the high potential 5 to the low potential 6 via this switch can be suppressed, and power consumption can be reduced. Industrial applicability
  • the present invention can be used for an oscillation circuit.

Abstract

 この発振回路は、出力クロック信号に応じて三角波信号を発生する三角波発生回路と、三角波信号と第1の基準電圧および第2の基準電圧との比較に応じてクロック信号を生成する比較回路と、比較回路のための電源電圧に応じて調整電流の値を調整する電流調整回路と、調整電流の値に応じた電圧差を有する第1の基準電圧および第2の基準電圧を生成する基準電圧発生回路とを備える。電流調整回路は、比較回路のための電源電圧が上昇する場合に調整電流を増加し、該電源電圧が低下する場合には調整電流を減少する。基準電圧発生回路は、調整電流が増加する場合に第1の基準電圧と第2の基準電圧との電位差を大きくし、調整電流が減少する場合には該電位差を小さくする。

Description

明 細 書
発振回路
技術分野
[0001] 本発明は、発振回路に関するものである。
背景技術
[0002] 矩形波状のクロック信号を生成する発振回路が知られている。特許文献 1に記載の 発振回路は、キャパシタの充放電動作を交互に切り換えることによって三角波信号を 生成し、比較器によって三角波信号の電圧と 2つの基準電圧との比較に基づいてク ロック信号を生成する。この発振回路では、キャパシタの充放電動作の切り換えは、 比較器から出力されたクロック信号の電圧に応じて行われる。
特許文献 1 :特開平 10— 233657号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0003] 特許文献 1に記載の発振回路では、キャパシタおよび比較器を含む帰還ループ処 理によって、クロック信号の周期、三角波信号の繰り返し周期、およびキャパシタの充 放電繰り返し周期が一致するように、クロック信号の周波数が決定される。一般に、論 理回路の応答遅延時間は電源電圧に依存するので、特許文献 1に記載の比較器の 応答遅延時間は、電源電圧の変動に応じて変動してしまう。その結果、比較器を含 む帰還ノレープ処理によって、クロック信号の周波数が変動してしまう。
[0004] そこで、本発明は、電源電圧の変動に起因するクロック信号の周波数変動を低減 することが可能な発振回路を提供することを目的としている。
課題を解決するための手段
[0005] 本発明の発振回路は、矩形波状のクロック信号を生成する。この発振回路は、(a) キャパシタを含み、クロック信号の電圧値に応じて該キャパシタの充放電状態を切り 換え、三角波信号を発生する三角波発生回路と、(b)三角波発生回路から出力され た三角波信号を受けると共に第 1の基準電圧および第 2の基準電圧を受け、三角波 信号の電圧値と該第 1の基準電圧の値との比較および三角波信号の電圧値と該第 2 の基準電圧の値との比較に応じた電圧値を有するクロック信号を生成する比較回路 と、(C)基準電流を出力する基準電流源に接続されると共に比較回路のための電源 に接続され、該電源の電圧変化量に応じて該基準電流の値を変更した調整電流を 生成する電流調整回路と、 (d)電流調整回路から出力された調整電流の値に応じた 電圧差を有する第 1の基準電圧および第 2の基準電圧を生成する基準電圧発生回 路とを備える。 (e)電流調整回路は、比較回路のための電源の電圧が上昇する場合 に調整電流を増加し、該電源の電圧が低下する場合には調整電流を減少する。 (f) 基準電圧発生回路は、調整電流が増加する場合に第 1の基準電圧と第 2の基準電 圧との電位差を大きくし、調整電流が減少する場合には第 1の基準電圧と第 2の基準 電圧との電位差を小さくする。
[0006] 一般に、論理回路の応答遅延時間は、電源電圧が高くなるに従って短くなるので、 比較回路の応答遅延時間は、電源電圧が高くなるに従って短くなつてしまう。しかし ながら、この発振回路によれば、比較回路の電源電圧が高くなると、電流調整回路に よって調整電流の値が増加し、基準電圧発生回路によって第 1の基準電圧と第 2の 基準電圧との電圧差が大きくなるので、キャパシタにおける第 1の基準電圧 第 2の 基準電圧間の充電時間および放電時間が長くなる。一方、比較回路の電源電圧が 低くなると、電流調整回路によって調整電流の値が減少し、基準電圧発生回路によ つて第 1の基準電圧と第 2の基準電圧との電圧差が小さくなるので、キャパシタにお ける第 1の基準電圧 第 2の基準電圧間の充電時間および放電時間が短くなる。
[0007] したがって、この発振回路によれば、電源電圧の変動によって比較回路の応答遅 延時間が変動しても、この比較回路の応答遅延時間の変化を相殺するようにキャパ シタの充電時間および放電時間を変更する。故に、比較回路の電源電圧依存性に 起因するクロック信号の周波数の変動を低減することができる。
[0008] 上記した電流調整回路は、基準電流が入力される第 1のカレントミラー回路と、第 1 のカレントミラー回路の出力電流が入力され、電源から電圧の供給を受ける第 2の力 レントミラー回路とを有し、第 2のカレントミラー回路の出力電流を調整電流として出力 することが好ましい。
[0009] この第 1のカレントミラー回路は、(a)基準電流源に接続された第 1の電流端子、電 源の一方の電位に接続された第 2の電流端子、および該第 1の電流端子に接続され た制御端子を有する第 1のトランジスタと、 (b)第 1のトランジスタの制御端子に接続さ れた制御端子、第 1の電流端子、および電源の一方の電位に接続された第 2の電流 端子を有する第 2のトランジスタとを有することが好ましぐ第 2のカレントミラー回路は 、(c)第 2のトランジスタの第 1の電流端子に接続された第 1の電流端子、電源の他方 の電位に接続された第 2の電流端子、および該第 1の電流端子に接続された制御端 子を有する第 3のトランジスタと、 (d)第 3のトランジスタの制御端子に接続された制御 端子、第 1の電流端子、および電源の他方の電位に接続された第 2の電流端子を有 する第 4のトランジスタとを有することが好ましい。
[0010] この電流調整回路では、第 1のトランジスタおよび第 2のトランジスタからなる第 1の カレントミラー回路と、第 3のトランジスタおよび第 4のトランジスタからなる第 2のカレン トミラー回路とが、比較回路と同一な電源を用いている。この電源電圧が高くなると、 第 2のトランジスタの 2つの電流端子間の電圧が大きくなる。一般に、トランジスタでは 、制御端子の電圧が一定であっても、 2つの電流端子間の電圧 (Vdsまたは Vce)が 大きくなるに従って、第 1の電流端子(ドレインまたはコレクタ)に流れる電流が大きく なる。
[0011] そのため、電源電圧が大きくなると、基準電流源から供給される基準電流、すなわ ち第 1のトランジスタに流れる電流が一定であっても、第 2のトランジスタに流れる電流 が増加し、それに応じて調整電流が増加する。一方、電源電圧が低くなると、第 2のト ランジスタに流れる電流が減少するので、調整電流が減少する。
[0012] 上記した基準電圧発生回路は、調整電流が入力される第 3のカレントミラー回路と、 第 3のカレントミラー回路の出力電流が流れる分圧回路とを有し、分圧回路は、互い に直列に接続された複数の抵抗を含み、該複数の抵抗のうちの少なくとも 1つの抵抗 の電圧降下量を電圧差とする第 1の基準電圧および第 2の基準電圧を生成すること が好ましい。
[0013] この第 3のカレントミラー回路は、 (e)第 4のトランジスタの第 1の電流端子に接続さ れた第 1の電流端子、電源の一方の電位に接続された第 2の電流端子、および該第 1の電流端子に接続された制御端子を有する第 5のトランジスタと、 (f)第 5のトランジ スタの制御端子に接続された制御端子、第 1の電流端子、および電源の一方の電位 に接続された第 2の電流端子を有する第 6のトランジスタとを有することが好ましぐ(g )分圧回路は、第 6のトランジスタの第 1の電流端子と電源の他方の電位との間に接 続されることが好ましい。
[0014] この基準電圧発生回路では、第 5のトランジスタと第 6のトランジスタとが第 3のカレ ントミラー回路を構成しているので、調整電流が増加すると、分圧回路に流れる電流 が増加し、分圧回路内の抵抗の電圧降下量が増加して、第 1の基準電圧と第 2の基 準電圧との電圧差が大きくなる。一方、調整電流が減少すると、分圧回路に流れる電 流が減少し、分圧回路内の抵抗の電圧降下量が減少して、第 1の基準電圧と第 2の 基準電圧との電圧差が小さくなる。
発明の効果
[0015] 本発明によれば、発振回路において、電源電圧の変動に起因するクロック信号の 周波数変動を低減することができる。
図面の簡単な説明
[0016] [図 1]図 1は実施形態に係る発振回路を示す回路図である。
[図 2]図 2は図 1に示す発振回路の詳細な回路図である。
[図 3]図 3は図 1に示す各信号波形を示す図である。
[図 4]図 4は三角波信号に対するクロック信号のヒステリシス特性を示す図である。
[図 5]図 5は比較回路の電源電圧に対する応答遅延時間特性を示す図である。
[図 6]図 6はトランジスタにおけるドレイン ソース間電圧に対するドレイン電流特性を 示す図である。
[図 7]図 7は電源電圧に対する第 1の基準電圧と第 2の基準電圧との電圧差特性を示 す図である。
[図 8]図 8は変形例 1に係る発振回路を示す回路図である。
[図 9]図 9は変形例 2に係る発振回路を示す回路図である。
[図 10]図 10は比較例に係る発振回路を示す回路図である。
符号の説明
[0017] 1 発振回路 5 電源の高電位 (他方の電位)
6 電源の低電位(一方の電位)
10 基準電流源
20 三角波発生回路
21 第 1のトランジスタ
27 キャパシタ
30 比較回路
40 電流調整回路
42 第 2のトランジスタ
43 第 3のトランジスタ
44 第 4のトランジスタ
50 基準電圧発生回路
51 第 5のトランジスタ
52 第 6のトランジスタ
53 分圧回路
54, 55, 56 抵抗
CLK, XCLK クロック信号
Irefl 基準電流
Iref3 調整電流
Vosc 三角波信号
Vrefh 第 1の基準電圧
Vrefl 第 2の基準電圧
発明を実施するための最良の形態
[0018] 以下、図面を参照して本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、 各図面にぉレ、て同一又は相当の部分に対しては同一の符号を附すこととする。
[0019] 図 1は、本発明の実施形態に係る発振回路を示す回路図である。図 1に示す発振 回路 1は、矩形波状の相補のクロック信号 CLK, XCLKを生成する。発振回路 1は、 基準電流源 10、三角波発生回路 20、比較回路 30、電流調整回路 40、および基準 電圧発生回路 50を備えている。なお、本実施形態では、発振回路 1は 1つの集積回 路内に形成されており、基準電流源 10、三角波発生回路 20、比較回路 30、電流調 整回路 40、および基準電圧発生回路 50には単一の電源電圧 Vddが供給されてい る。
[0020] 基準電流源 10は、電源の高電位(他方の電位) 5に接続されており、一定な電流値 を有する基準電流 Ireflを生成する。基準電流源 10は、基準電流 Iref 1を三角波発 生回路 20および電流調整回路 40へ供給する。
[0021] 三角波発生回路 20は、キャパシタを有しており、基準電流 Ireflを用いてこのキヤ パシタを充放電し、三角波信号 Voscを生成する。三角波発生回路 20は、比較回路 30力、ら出力されるクロック信号 XCLKを受けており、このクロック信号 XCLKの電圧 値に応じて、キャパシタの充放電動作を切り換える。三角波発生回路 20は、三角波 信号 Voscを比較回路 30へ出力する。
[0022] 比較回路 30には、基準電圧発生回路 50から出力される第 1の基準電圧 Vrefhお よび第 2の基準電圧 Vreflも入力されている。比較回路 30は、三角波信号 Voscの電 圧値と第 1の基準電圧 Vrefhの値とを比較すると共に、三角波信号 Voscの電圧値と 第 2の基準電圧 Vreflの値とを比較し、これらの比較結果に応じて論理を反転した相 補の矩形波信号を生成する。比較回路 30は、これらの相補の矩形波信号をそれぞ れクロック信号 CLK, XCLKとして出力する。
[0023] 電流調整回路 40は、基準電流源 10から出力される基準電流 Ireflの値を電源電 圧 Vddの値に応じて変更し、調整電流 Iref 3を生成する。電流調整回路 40は、調整 電流 Iref3を基準電圧発生回路 50へ供給する。
[0024] 基準電圧発生回路 50は、調整電流 Iref 3に応じて第 1の基準電圧 Vrefhおよび第 2の基準電圧 Vreflを生成する。第 1の基準電圧 Vrefhと第 2の基準電圧 Vreflとの電 圧差は、調整電流 Iref 3に応じて変更される。
[0025] 図 2は、図 1に示す発振回路の詳細な回路図である。三角波発生回路 20は、トラン ジスタ 21, 22, 23, 24, 25, 26とキヤノ ンタ 27とを有してレヽる。トランジスタ 21, 22, 25, 26は、それぞれ N型 MOSFETであり、トランジスタ 23, 24は、それぞれ P型 M OSFETである。 [0026] トランジスタ 21のドレインは基準電流源 10に接続されており、ソースは電源の低電 位(一方の電位:例えば、接地電位) 6に接続されている。トランジスタ 21のゲートは、 自身のドレインおよびトランジスタ 22のゲートに接続されている。トランジスタ 22のソ ースは電源の低電位 6に接続されており、ドレインはトランジスタ 23のドレインに接続 されている。このように、トランジスタ 21, 22は、カレントミラー回路を構成しており、基 準電流 Iref 1に比例した電流 Iref 5をトランジスタ 22のドレイン一ソース間に生成する
[0027] トランジスタ 23のソースは電源の高電位 5に接続されており、ゲートは自身のドレイ ンおよびトランジスタ 24のゲートに接続されている。トランジスタ 24のソースは電源の ンに接続されている。このように、トランジスタ 23, 24は、カレントミラー回路を構成し ており、電流 Iref5に比例した電流 Iref6をトランジスタ 24のドレイン一ソース間に生成 する。
[0028] トランジスタ 25のソースは電源の低電位 6に接続されており、ゲートはトランジスタ 2 1のゲートに接続されている。このように、トランジスタ 21, 25は、カレントミラー回路を 構成しており、電流 Iref 1に比例した電流 Iref 7をトランジスタ 25のドレイン ソース間 に生成する。
[0029] 本実施形態では、トランジスタ 21とトランジスタ 22のゲート長及びゲート幅は同一で あり、トランジスタ 23とトランジスタ 24のゲート長及びゲート幅は同一であり、トランジス タ 25とトランジスタ 21のゲート長は同一であって、トランジスタ 25のゲート幅はトランジ スタ 21の 2倍である。したがって、電流 Iref5, Iref6の値は電流 Iref 1の値とほぼ同一 の値であり、電流 Iref 7の値は電流 Iref 1の約 2倍である。
[0030] トランジスタ 24とトランジスタ 25との間には、トランジスタ 26が接続されている。トラン ジスタ 26のドレインはトランジスタ 24のドレインに接続されており、ソースはトランジス タ 25のドレインに接続されている。トランジスタ 26のゲートには、比較回路 30からクロ ンと電源の高電位 5との間にはキャパシタ 27が接続されている。
[0031] キャパシタ 27は、トランジスタ 26がオン状態であるときに、電流 Iref7と電流 Iref6と の差電流で充電され、トランジスタ 26がオフ状態であるときには、電流 Iref6で放電さ れる。このように、トランジスタ 26によってキャパシタ 27が繰り返し充放電動作すること によって、三角波信号 Voscが比較回路 30へ供給される。
[0032] 比較回路 30は、比較器 31 , 32と SR型ラッチ回路 33とを有している。比較器 31の プラス入力端子には基準電圧発生回路 50から出力される第 1の基準電圧 Vrefhが 入力され、マイナス入力端子には三角波発生回路 20から出力される三角波信号 Vo scが入力される。一方、比較器 32のプラス入力端子には三角波発生回路 20から出 力される三角波信号 Voscが入力され、マイナス入力端子には基準電圧発生回路 50 力 出力される第 2の基準電圧 Vreflが入力される。
[0033] 比較器 31は、三角波信号 Voscの電圧値が第 1の基準電圧 Vrefhの値より小さいと きにハイレベルの電圧を出力し、三角波信号 Voscの電圧値が第 1の基準電圧 Vref hの値より大きいときにローレベルの電圧を出力する。同様に、比較器 32は、三角波 信号 Voscの電圧値が第 2の基準電圧 Vreflの値より大きいときにハイレベルの電圧 を出力し、三角波信号 Voscの電圧値が第 2の基準電圧 Vreflの値より小さいときに口 一レベルの電圧を出力する。比較器 31の出力電圧および比較器 32の出力電圧は、 SR型ラッチ回路 33にそれぞれ入力される。
[0034] SR型ラッチ回路 33は、 2つの NAND回路から構成されており、例えば、比較器 31 の出力電圧および比較器 32の出力電圧をそれぞれセット信号、リセット信号として、 相補のクロック信号 CLK, XCLKを生成する。
[0035] 電流調整回路 40は、第 1のトランジスタ 21、第 2のトランジスタ 42、第 3のトランジス タ 43、および第 4のトランジスタ 44を有している。第 2のトランジスタ 42は N型 MOSF ETであり、第 3のトランジスタ 43および第 4のトランジスタ 44は P型 MOSFETである 。なお、電流調整回路 40は、第 1のトランジスタ 21を三角波発生回路 20と共有して いる。
[0036] 第 2のトランジスタ 42のゲート(制御端子)は第 1のトランジスタ 21のゲート(制御端 子)に接続されており、ソース(第 2の電流端子)は電源の低電位 6に接続されている
(第 1の電流端子)に接続されている。このように、第 2のトランジスタ 42は、第 1のトラ ンジスタ 21と第 1のカレントミラー回路を構成しており、第 2のトランジスタ 42のドレイン ソース間には、基準電流 Ireflに比例した電流 Iref2が流れる。
[0037] 第 3のトランジスタ 43のソース(第 2の電流端子)は電源の高電位 5に接続されてお り、ゲート(制御端子)は自身のドレインおよび第 4のトランジスタ 44のゲート(制御端 子)に接続されている。第 4のトランジスタ 44のソース(第 2の電流端子)は電源の高 電位 5に接続されており、ドレイン (第 1の電流端子)は基準電圧発生回路 50に接続 されている。このように、第 3のトランジスタ 43と第 4のトランジスタ 44とは、第 2のカレ ントミラー回路を構成しており、電流 Iref2に比例した調整電流 Iref3を第 4のトランジ スタ 44のドレイン一ソース間に生成する。
[0038] 本実施形態では、第 1のトランジスタ 21と第 2のトランジスタ 42のゲート長及びグー ト幅は同一であり、第 3のトランジスタ 43と第 4のトランジスタ 44のゲート長及びゲート 幅は同一である。
[0039] 基準電圧発生回路 50は、第 5のトランジスタ 51、第 6のトランジスタ 52、および分圧 回路 53を有している。第 5のトランジスタ 51および第 6のトランジスタ 52は N型 MOS FETである。
[0040] 第 5のトランジスタ 51のドレイン (第 1の電流端子)は電流調整回路 40の第 4のトラン ジスタ 44のドレインに接続されており、ソース(第 2の電流端子)は電源の低電位 6に 接続されている。第 5のトランジスタ 51のゲート(制御端子)は、自身のドレインおよび 第 6のトランジスタ 52のゲート(制御端子)に接続されている。第 6のトランジスタ 52の ソース(第 2の電流端子)は電源の低電位 6に接続されている。第 6のトランジスタ 52 のドレイン(第 1の電流端子)と電源の高電位 5との間には、分圧回路 53が接続され ている。このように、第 5のトランジスタ 51と第 6のトランジスタ 52とは、第 3のカレントミ ラー回路を構成しており、調整電流 Iref3に比例した電流 Iref4を第 6のトランジスタ 5 2のドレイン一ソース間に生成する。本実施形態では、これらのトランジスタ 51, 52の ゲート長及びゲート幅は同一である。
[0041] 分圧回路 53は、直列に接続された 3つの抵抗 54, 55, 56から構成されている。抵 抗 54と 55との間には第 2の基準電圧 Vreflが発生し、抵抗 55と 56との間には第 1の 基準電圧 Vrefhが発生する。したがって、第 1の基準電圧 Vrefhと第 2の基準電圧 Vr eflとの電位差は、抵抗 55の電圧降下量によって決定される。
[0042] 次に、発振回路 1の比較例を示す。図 10は、比較例に係る発振回路を示す回路図 である。図 10に示す発振回路 1Cは、発振回路 1において電流調整回路 40を備えて レ、ない構成において本実施形態と異なっている。具体的には、基準電圧発生回路 5 0において、第 5のトランジスタ 51の代わりに三角波発生回路 20のトランジスタ 21が 用いられている。
[0043] 以下では、発振回路 1および 1Cの動作を比較して説明する。図 3は、図 1および図
10に示す各信号波形を示す図である。クロック信号 XCLKがハイレベルであるときに は、トランジスタ 26がオン状態となり、電流差1 £7_1 £6、すなわち Iref:!相当の電 流によってキャパシタ 27が充電され、三角波信号 Voscの電圧が除々に低下する。 その後、三角波信号 Voscの電圧が第 2の基準電圧 Vreflに達すると、比較回路 30 の応答遅延時間、すなわち比較器 31または 32の応答遅延時間と SR型ラッチ回路 3 3の応答遅延時間との総和 td後に、クロック信号 XCLKがローレベルに切り換わる。
[0044] すると、トランジスタ 26がオフ状態となり、電流 Iref 6、すなわち Iref 1相当の電流に よってキャパシタ 27が放電され、三角波信号 Voscの電圧が除々に上昇する。その 後、三角波信号 Voscの電圧が第 1の基準電圧 Vrefhに達すると、比較回路 30の応 答遅延時間 td後に、クロック信号 XCLKがハイレベルに切り換わる。すると、トランジ スタ 26が再びオン状態となり、三角波信号 Voscの電圧が除々に低下する。
[0045] このように、三角波発生回路 20と比較回路 30との帰還ループ処理によって、キャパ シタ 27の充放電動作が繰り返され、三角波信号 Voscおよびクロック信号 CLK, XC LKが生成される。このクロック信号 CLKは、比較回路 30のヒステリシス機能によって 、三角波信号 Voscに対してヒステリシスを有する。図 4に、三角波信号に対するクロッ ク信号のヒステリシス特性を示す。
[0046] 再び、図 3を参照する。三角波発生回路 20と比較回路 30との帰還ループ処理によ つて、三角波信号 Voscの繰り返し周期とクロック信号 CLK, XCLKの周期とがほぼ 一致し、クロック信号 CLK, XCLKの周波数 fが下式(1)のように決定される。
•f= l/ (thl + tlh + 4td) · · · (1)
•thl :第 1の基準電圧 Vrefhから第 2の基準電圧 Vrefほでのキャパシタ 27の充電時 間
•tlh :第 2の基準電圧 Vreflから第 1の基準電圧 Vrefhまでのキャパシタ 27の放電時 間
•td:比較回路 30の応答遅延時間
[0047] 一般に、論理回路の応答遅延時間は、電源電圧 Vddが高くなるに従って短くなる。
図 5は、論理回路を含む比較回路の電源電圧に対する応答遅延時間特性を示す図 である。図 5に示すように、電源電圧 Vddが高くなるに従って、比較器 31 , 32の応答 遅延時間および SR型ラッチ回路 33の応答遅延時間がそれぞれ短くなるので、これ らの総和で定まる比較回路 30の応答遅延時間 tdは短くなる。その結果、図 3および 上記(1)式から明らかなように、比較例に係る発振回路 1Cでは、三角波信号 Voscの 繰り返し周期およびクロック信号 CLK, XCLKの周期が短くなり、クロック信号 CLK, XCLKの周波数 fが高くなつてしまう。
[0048] し力しながら、本実施形態の電流調整回路 40では、電源電圧 Vddが高くなるに従 つて、第 2のトランジスタ 42のドレイン一ソース間電圧が大きくなる。一般に、トランジス タでは、ドレイン一ソース間電圧に応じてドレイン電流が変化する。図 6は、トランジス タにおけるドレイン ソース間電圧に対するドレイン電流特性を示す図である。図 6に 示すように、飽和領域で動作可能であるくらいゲート電圧 Vgsが大きぐ且つ一定で あっても、ドレイン ソース間電圧 Vdsが大きくなるに従ってドレイン電流 Idが増加す ること力 Sわ力る。なお、ドレイン ソース間電圧 Vdsに対するドレイン電流 Idの増加量 は、ゲート長を変更することによって調整可能である。
[0049] したがって、基準電流源からの電流 Ireflが一定であっても、電源電圧 Vddが高く なると、第 2のトランジスタ 42のドレイン一ソース間に流れる電流 Iref 2が増加し、それ に応じて調整電流 Iref3および基準電圧発生回路 50の分圧回路 53に流れる電流 Ir ef4が増加する。その結果、抵抗 55の電圧降下量が増加し、第 1の基準電圧 Vrefh と第 2の基準電圧 Vreflとの電圧差 Vrefh—Vreflが大きくなる。一方、電源電圧 Vdd が低くなると、第 2のトランジスタ 42に流れる電流 Iref2が減少することによって、調整 電流 Iref3および分圧回路 53に流れる電流 Iref4が減少するので、抵抗 55の電圧降 下量が減少し、第 1の基準電圧 Vrefhと第 2の基準電圧 Vreflとの電圧差 Vrefh_Vr eflが小さくなる。
[0050] 図 7は、電源電圧に対する第 1の基準電圧と第 2の基準電圧との電圧差特性を示 す図である。図 7によれば、電源電圧 Vddが高くなるに従って、第 1の基準電圧 Vref hと第 2の基準電圧 Vreflとの電圧差 Vrefh— Vreflが大きくなることがわかる。
[0051] 電圧差 Vrefh—Vreflが大きくなると、図 3から明らかなように、キャパシタ 27の充電 時間 thlおよび放電時間 tlhが長くなる。一方、電圧差 Vrefh—Vreflが小さくなると、 キャパシタ 27の充電時間 thlおよび放電時間 tlhが短くなる。
[0052] このように、本実施形態の発振回路 1によれば、電源電圧 Vddが高くなり、比較回 路 30の応答遅延時間 tdが短くなる場合には、電流調整回路 40によって調整電流 Ir ef3の値が増加し、基準電圧発生回路 50によって第 1の基準電圧 Vrefhと第 2の基 準電圧 Vreflとの電圧差が大きくなるので、キャパシタ 27の充電時間 thlおよび放電 時間 tlhが長くなる。一方、電源電圧 Vddが低くなり、比較回路 30の応答遅延時間 td が長くなる場合には、電流調整回路 40によって調整電流 Iref3の値が減少し、基準 電圧発生回路 50によって第 1の基準電圧 Vrefhと第 2の基準電圧 Vreflとの電圧差 力 S小さくなるので、キャパシタ 27の充電時間 thlおよび放電時間 tlhが短くなる。した がって、この発振回路 1によれば、電源電圧 Vddの変動によって比較回路 30の応答 遅延時間 tdが変動しても、この応答遅延時間 tdの変化を相殺するように、キャパシタ 27の充電時間 thlおよび放電時間 tlhを変化させることによって、クロック信号 CLKの 周期の変動を低減することができる。故に、比較回路 30の電源電圧依存性に起因す るクロック信号 CLKの周波数の変動を低減することができる。
[0053] また、本実施形態の発振回路 1は、基準電流 Ireflに対して依存性を有さない構成 となっている。すなわち、発振回路 1は、基準電流 Ireflが変動しても、クロック信号 C LK, XCLKの周波数を一定に保持することができる。キャパシタ 27の充電時間 thl および放電時間 tlhは、下式(2)によって表される。
•thl= (Vrefh -Vrefl) X C/ (Iref7-Iref6)
•tlh= (Vrefh -Vrefl) X C/lref 6
[0054] ここで、電圧差 (Vrefh—Vrefl)は、抵抗 55の電圧降下量であり、抵抗 55の抵抗 値と電流 Iref4の値とで定まる。 [0055] 電流 Iref4、電流(Iref 7— Iref6)および電流 Iref6は、基準電流 Iref 1に比例する。 したがって、基準電流 Ireflの変動に起因する電流(1^£7— 6£6)ぉょび電流 6£6 の変動を、基準電流 Iref 1の変動に起因する電流 Iref4の変動によって打ち消すこと ができる。その結果、基準電流 Ireflが変動しても、キャパシタ 27の充電時間 thlおよ び放電時間 tlhを一定に保持することができ、クロック信号 CLK, XCLKの周波数を 一定に保持することができる。
[0056] 以上、比較回路 30の応答遅延時間 tdの電源電圧依存性の低減効果について説 明したが、本実施形態の発振回路 1によれば、比較回路 30の応答遅延時間 tdの温 度依存性をも低減することが可能である。すなわち、論理回路の温度が上昇すれば 一般に応答遅延時間 tdが長くなるが、電流調整回路 40のトランジスタは温度上昇に より電流が減るため、電圧差 Vrefh—Vreflが小さくなり、応答遅延時間 tdの変化を 相殺するようにキャパシタ 27の充電時間 thlおよび放電時間 tlhが短くなる。例えば、 予め実験やシミュレーションによって比較回路 30の応答遅延時間 tdの温度依存性を 求め、この温度依存性を考慮して電流調整回路 40におけるトランジスタ 42, 43, 44 のゲート長を調整し、調整電流 Iref3の変化量を調整する。
[0057] また、本実施形態の発振回路 1によれば、三角波発生回路 20の電源電圧依存性 を低減することが可能である。三角波発生回路 20でも、トランジスタ 21 , 22およびトラ ンジスタ 21, 25がそれぞれカレントミラー回路を構成しており、電源電圧依存性を有 する。そのため、電流 Iref5および電流 Iref6が変動すると共に電流 Iref7が変動し、 キャパシタ 27の充電時間 thlおよび放電時間 tlhが変動して、クロック信号 CLK, XC LKの周波数が変動してしまう。そこで、例えば、予め実験やシミュレーションによって 三角波発生回路 20におけるキャパシタ 27の充電時間 thlおよび放電時間 tlhの電源 電圧依存性を求め、この電源電圧依存性を考慮して電流調整回路 40におけるトラン ジスタ 42, 43, 44のゲート長を調整し、調整電流 Iref3の変化量を調整する。
[0058] 近年の集積回路の微細化とともに回路の動作周波数は上昇する傾向にある。その ため、発振回路に求められる発振周波数も高くなる傾向にある。本実施形態のような 簡易で安価な発振回路では、三角波信号の繰り返し周期は三角波発生回路内のァ ナログ電流量等の調整により比較的自由な調整が可能であるが、比較回路の応答 遅延時間は一定以上短くすることが困難である。したがって、発振周波数が高くなる ほど、発振周波数の電源電圧依存性における比較回路の応答遅延時間の電源電圧 依存性の割合が大きくなる。本実施形態の発振回路 1は、発振周波数を高くしても、 発振周波数の電源電圧依存性を簡易な方法で低減することができる。
[0059] なお、本発明は上記した本実施形態に限定されることなく種々の変形が可能である
[0060] 本実施形態では、電流調整回路 40は、第 1のトランジスタ 21を三角波発生回路 20 と共用したが、更に、第 2のトランジスタおよび第 3のトランジスタをも三角波発生回路 20と共用してもよい。図 8は、本発明の変形例 1に係る発振回路を示す回路図である 。図 8に示す発振回路 1Aは、発振回路 1において電流調整回路 40に代えて電流調 整回路 40Aを備えている構成で発振回路 1と異なっている。電流調整回路 40Aは、 電流調整回路 40において、第 2のトランジスタ 42および第 3のトランジスタ 43に代え て、それぞれトランジスタ 22、 23を第 1のトランジスタ、第 2のトランジスタとして備えて いる。すなわち、電流調整回路 40Aは、第 1のトランジスタ 21、第 2のトランジスタ 22 および第 3のトランジスタ 23を三角波発生回路 20と共用している。このような変形例 1 の発振回路 1Aでも、発振回路 1と同様の利点を得ることができ、さらに回路規模の削 減と消費電力の削減を実現することができる。
[0061] 本実施形態および変形例 1では、 N型 MOSFETの代わりに P型 MOSFETが用い られ、 P型 MOSFEの代わりに N型 MOSFETが用いられてもよレ、。図 9は、本発明の 変形例 2に係る発振回路を示す回路図である。図 9に示す発振回路 1Bは、発振回 路 1においてトランジスタ 21, 22, 25, 42, 51, 52力 Ν型 MOSFET力ら P型 MOSF ETに変更され、トランジスタ 23, 24, 43, 44が P型 MOSFETから N型 MOSFETに 変更されている。
[0062] また、発振回路 1では、電源の一方の電位 6が低電位であり、他方の電位 5が高電 位であつたが、発振回路 1Bでは、電源の一方の電位 6が高電位であり、他方の電位 5が低電位である。また、発振回路 1では、抵抗 55と抵抗 56との間に第 1の基準電圧 Vrefhが発生し、抵抗 54と抵抗 55とに第 2の基準電圧 Vreflが発生していた力 発 振回路 1Bでは、抵抗 55と抵抗 56との間に第 2の基準電圧 Vreflが発生し、抵抗 54 と抵抗 55とに第 1の基準電圧 Vrefhが発生する。
[0063] 発振回路 1Bでは、発振回路 1と異なり、図 3における時間 tlhがキャパシタ 27の充 電時間となり、時間 thlがキャパシタ 27の放電時間となるが、その他の動作は発振回 路 1の動作と同様であり、発振回路 1と同様の利点を得ることができる。
[0064] また、本実施形態および本変形例では、トランジスタとして MOSFETが用いられた 力 バイポーラトランジスタであってもよい。
[0065] また、本実施形態および本変形例では、説明の簡単化のために、電流調整回路 4
0におけるトランジスタ 21 , 42, 43, 44および基準電圧発生回路 50におけるトランジ スタ 51とトランジスタ 52のゲート長及びゲート幅を同一であるとした力 それぞれ異な つていてもよい。
[0066] 同様に、本実施形態および本変形例では、説明の簡単化のために、三角波発生 回路 20におけるトランジスタ 21とトランジスタ 22のゲート長及びゲート幅は同一であり 、トランジスタ 23とトランジスタ 24のゲート長及びゲート幅は同一であり、トランジスタ 2 5とトランジスタ 21のゲート長は同一であって、トランジスタ 25のゲート幅はトランジス タ 21の 2倍とした力 電流 Iref6と電流 Iref7との電流比が 1 : 2であれば、トランジスタ 21 , 22, 23, 24, 25は本実施形態のゲート長及びゲート幅と異なっていてもよい。
[0067] また、本実施形態および本変形例では、電流調整回路 40は、 2段のカレントミラー 回路から構成されたが、比較回路 30の応答遅延時間 tdの長さに応じて、 2N段の力 レントミラー回路 (Nは 1以上の整数)から構成されてもよい。 2N段のカレントミラー回 路で構成することにより、電源電圧の変化に対する Iref4の変化の大きさを N倍に拡 大すること力 Sできる。段数は、比較回路の電源電圧の変化に対する遅延時間の変化 を相殺するように決められる。
[0068] また、本実施形態および本変形例では、集積回路を想定して発振回路 1の全ての 回路に単一の電源電圧が供給されたが、最低限、比較回路 30の電源電圧と電流調 整回路 40の電源電圧とが同一であればよぐ他の回路 10, 20, 50には異なる電源 電圧が供給されても、発振回路 1と同様の利点を得ることができる。
[0069] また、本実施形態および本変形例では、基準電圧発生回路 50の分圧回路 53が 3 つの抵抗 54, 55, 56で構成された力 分圧回路 53は直列に接続された複数の抵抗 から構成され、第 1の基準電圧 Vrefhと第 2の基準電圧 Vreflとの間の電位差が複数 の抵抗の電圧降下量の総和によって決定されてもよい。
[0070] また、本実施形態および本変形例では、基準電流源 10を備えたが、発振回路 1, 1 Aは、基準電流源 10を備えず、集積回路の外部に形成された基準電流源に接続さ れてもよい。
[0071] また、本実施形態では、キャパシタ 27がトランジスタ 24, 26のドレインと電源の高電 位 5との間に接続されたが、トランジスタ 24, 26のドレインと電源の低電位 6との間に 接続されてもよレ、。同様に、本変形例では、キャパシタ 27がトランジスタ 25, 26のドレ インと電源の低電位 5との間に接続された力 トランジスタ 25, 26のドレインと電源の 高電位 6との間に接続されてもよい。
[0072] また、本実施形態では、トランジスタ 26がトランジスタ 25とキャパシタ 27との間に接 続されたが、トランジスタ 24とキャパシタ 27との間に接続されてもよレ、。この場合、トラ ンジスタ 26を P型 MOSFETに変更し、電流 Iref6が電流 Iref7の 2倍となるように、ト ランジスタ 21, 22, 23, 24, 25のゲート長及びゲート幅をそれぞれ変更すればょレ、 。同様に、本変形例では、トランジスタ 26がトランジスタ 24とキャパシタ 27との間に接 続されたが、トランジスタ 25とキャパシタ 27との間に接続されてもよい。この場合、トラ ンジスタ 26を P型 MOSFETに変更し、電流 Iref6が電流 Iref7の 2倍となるように、ト ランジスタ 21, 22, 23, 24, 25のゲート長及びゲート幅をそれぞれ変更すればょレ、
[0073] また、本実施形態では、比較回路 30からクロック信号 XCLKを受け、キャパシタ 27 の充放電動作を切り換えるスィッチを N型 MOSFETのトランジスタ 26により構成した が、このスィッチを直列に接続された P型 MOSFETと N型 MOSFETとにより構成し てもよレ、。具体的には、トランジスタ 26とトランジスタ 24のドレインにソースが接続され 号 XCLKが入力される P型 MOSFETを本実施形態に付加することによりこの構成を 実現する。スィッチを直列に接続された P型 MOSFETと N型 MOSFETにより構成 することにより、このスィッチを介して高電位 5から低電位 6へ流れる電流量を抑制で き、消費電力を削減することができる。 産業上の利用可能性
本発明は、本発明は、発振回路に利用することができる。

Claims

請求の範囲
[1] 矩形波状のクロック信号を生成する発振回路であって、
キャパシタを含み、前記クロック信号の電圧値に応じて該キャパシタの充放電状態 を切り換え、三角波信号を発生する三角波発生回路と、
前記三角波発生回路から出力された前記三角波信号を受けると共に第 1の基準電 圧および第 2の基準電圧を受け、前記三角波信号の電圧値と該第 1の基準電圧の値 との比較および前記三角波信号の電圧値と該第 2の基準電圧の値との比較に応じた 電圧値を有する前記クロック信号を生成する比較回路と、
基準電流を出力する基準電流源に接続されると共に前記比較回路のための電源 に接続され、該電源の電圧変化量に応じて該基準電流の値を変更した調整電流を 生成する電流調整回路と、
前記電流調整回路から出力された前記調整電流の値に応じた電圧差を有する前 記第 1の基準電圧および前記第 2の基準電圧を生成する基準電圧発生回路と、 を備え、
前記電流調整回路は、前記比較回路のための電源の電圧が上昇する場合に前記 調整電流を増加し、該電源の電圧が低下する場合には前記調整電流を減少し、 前記基準電圧発生回路は、前記調整電流が増加する場合に前記第 1の基準電圧 と前記第 2の基準電圧との電位差を大きくし、前記調整電流が減少する場合には前 記第 1の基準電圧と前記第 2の基準電圧との電位差を小さくする、
発振回路。
[2] 前記電流調整回路は、
前記基準電流が入力される第 1のカレントミラー回路と、
前記第 1のカレントミラー回路の出力電流が入力され、前記電源から電圧の供給を 受ける第 2のカレントミラー回路と、を有し、前記第 2のカレントミラー回路の出力電流 を前記調整電流として出力することを特徴とする、
請求項 1に記載の発振回路。
[3] 前記基準電圧発生回路は、
前記調整電流が入力される第 3のカレントミラー回路と、 前記第 3のカレントミラー回路の出力電流が流れる分圧回路と、
を有し、
前記分圧回路は、互いに直列に接続された複数の抵抗を含み、該複数の抵抗のう ちの少なくとも 1つの抵抗の電圧降下量を電圧差とする前記第 1の基準電圧および 前記第 2の基準電圧を生成する、
ことを特徴とする請求項 1に記載の発振回路。
[4] 前記基準電圧発生回路は、
前記調整電流が入力される第 3のカレントミラー回路と、
前記第 3のカレントミラー回路の出力電流が流れる分圧回路と、
を有し、
前記分圧回路は、互いに直列に接続された複数の抵抗を含み、該複数の抵抗のう ちの少なくとも 1つの抵抗の電圧降下量を電圧差とする前記第 1の基準電圧および 前記第 2の基準電圧を生成する、
ことを特徴とする請求項 2に記載の発振回路。
[5] 前記電流調整回路の前記第 1のカレントミラー回路は、
前記基準電流源に接続された第 1の電流端子、前記電源の一方の電位に接続さ れた第 2の電流端子、および該第 1の電流端子に接続された制御端子を有する第 1 のトランジスタと、
前記第 1のトランジスタの制御端子に接続された制御端子、第 1の電流端子、およ び前記電源の一方の電位に接続された第 2の電流端子を有する第 2のトランジスタと を有し、
前記電流調整回路の前記第 2のカレントミラー回路は、
前記第 2のトランジスタの第 1の電流端子に接続された第 1の電流端子、前記電源 の他方の電位に接続された第 2の電流端子、および該第 1の電流端子に接続された 制御端子を有する第 3のトランジスタと、
前記第 3のトランジスタの制御端子に接続された制御端子、第 1の電流端子、およ び前記電源の他方の電位に接続された第 2の電流端子を有する第 4のトランジスタと を有する、
ことを特徴とする請求項 2に記載の発振回路。
[6] 前記基準電圧発生回路の前記第 3のカレントミラー回路は、
前記電流調整回路に接続された第 1の電流端子、前記電源の一方の電位に接続 された第 2の電流端子、および該第 1の電流端子に接続された制御端子を有する第 5のトランジスタと、
前記第 5のトランジスタの制御端子に接続された制御端子、第 1の電流端子、およ び前記電源の一方の電位に接続された第 2の電流端子を有する第 6のトランジスタと 、を有し、
前記基準電圧発生回路の前記分圧回路は、前記第 6のトランジスタの第 1の電流 端子と前記電源の他方の電位との間に接続される、
ことを特徴とする請求項 3に記載の発振回路。
[7] 前記基準電圧発生回路の前記第 3のカレントミラー回路は、
前記電流調整回路に接続された第 1の電流端子、前記電源の一方の電位に接続 された第 2の電流端子、および該第 1の電流端子に接続された制御端子を有する第 5のトランジスタと、
前記第 5のトランジスタの制御端子に接続された制御端子、第 1の電流端子、およ び前記電源の一方の電位に接続された第 2の電流端子を有する第 6のトランジスタと 、を有し、
前記基準電圧発生回路の前記分圧回路は、前記第 6のトランジスタの第 1の電流 端子と前記電源の他方の電位との間に接続される、
ことを特徴とする請求項 4に記載の発振回路。
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