WO2007119292A1 - 反射屈折投影光学系、反射屈折光学装置、走査露光装置、マイクロデバイスの製造方法 - Google Patents

反射屈折投影光学系、反射屈折光学装置、走査露光装置、マイクロデバイスの製造方法 Download PDF

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WO2007119292A1
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projection optical
projection
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catadioptric
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Masaki Kato
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Definitions

  • Catadioptric projection optical system catadioptric projection optical system, catadioptric optical apparatus, scanning exposure apparatus, and micro device manufacturing method
  • the present invention relates to a catadioptric projection optical system and a catadioptric optical device that project an image of a first object (mask, reticle, etc.) onto a second object (substrate, etc.), an image of the first object
  • the present invention relates to a scanning exposure apparatus for projecting exposure onto a second object, and a microdevice manufacturing method using the scanning exposure apparatus.
  • a mask (reticle, photomask, etc.) pattern is applied to a resist-coated plate (glass plate, semiconductor wafer, etc.) via a projection optical system.
  • a projection exposure apparatus for projecting onto a screen is used.
  • a projection exposure apparatus (stepper) that uses a step-and-repeat method to batch-expose a reticle pattern to each shot area on a plate has been widely used.
  • a plurality of small partial projection optical systems having the same magnification are arranged in a plurality of rows at predetermined intervals along the scanning direction, while scanning the mask and the plate.
  • a step-and-scan projection exposure system has been proposed in which each partial projection optical system exposes the mask pattern onto the plate! RU
  • the optical axis on the mask and the optical axis on the plate of the plurality of projection optical systems are arranged at substantially the same position. Therefore, there has been a problem that the patterns scanned and exposed on the plates by the projection optical systems in different rows cannot be connected to each other!
  • the first field has a first field of view on the first surface
  • a first projection optical system for projecting a magnified image of a part of the first object onto a first projection area on a second surface based on light from the first field; and a second field of view on the first surface.
  • a second projection optical system that projects a magnified image of a part of the first object onto a second projection area on a second surface based on light from the second field of view, and the first projection
  • the optical system transfers light from the first field of view along a first direction intersecting an axial direction connecting the first surface and the second surface, and sees the light from the axial direction.
  • a first light flux transport unit that guides the first field of view to the first projection region located on the first direction side, and the second projection optical system directs light from the second field of view in a direction opposite to the first direction.
  • a second light flux transport unit that transports along the second direction of the second visual field and guides it to the second projection region located on the second direction side of the second visual field when viewed from the axial direction.
  • a first interval that is an interval along the scanning direction on the first surface with respect to the second field of view is Dm
  • the first projection region and the second projection region on the second surface are on the second surface
  • a scanning exposure apparatus characterized by satisfying the above is provided.
  • the positional relationship between the image of the first object and the second object is projected with respect to the scanning direction while projecting the image of the first object onto the second object.
  • the scanning exposure apparatus for transferring and exposing the pattern of the first object onto the second object while changing a plurality of fields each having a field of view on the first row along the non-scanning direction that is a direction crossing the scanning direction
  • a plurality of projection optical systems each having a field of view on a second column different from the first column in the non-scanning direction.
  • a second row projection optical system wherein the first row projection optical system has a plurality of projection regions conjugate with the plurality of fields of view of the first row projection optical system on the third row on the second surface.
  • the second row projection optical system includes a plurality of projections conjugate with the plurality of fields of view of the second row projection optical system.
  • a region is formed on the fourth row on the second surface, and a first interval that is an interval along the scanning direction on the first surface between the first row and the second row is Dm, A second interval which is an interval along the scanning direction on the second surface between the third column and the fourth column is Dp, and a magnification of the first and second projection optical systems is j8.
  • a scanning exposure apparatus characterized by satisfying the above is provided.
  • the catadioptric that forms an image of the first object arranged on the first surface with an enlarged projection magnification on the second object arranged on the second surface
  • the concave reflecting mirror disposed in the optical path between the first surface and the second surface, and the optical path between the first surface and the concave reflecting mirror are disposed.
  • a first lens group, a second lens group disposed in an optical path between the first lens group and the concave reflecting mirror, and an optical path between the second lens group and the second surface.
  • a second deflecting member disposed in an optical path between the first deflecting member and the second object, and a first deflecting member that deflects light across the optical axis of the first lens group.
  • Catadioptric projection optical system wherein is provided.
  • the catadioptric that forms the image of the first object arranged on the first surface with an enlarged projection magnification on the second object arranged on the second surface In the projection optical system, the concave reflecting mirror disposed in the optical path between the first surface and the second surface, and the optical path between the first surface and the second surface are disposed.
  • a catadioptric projection optical system comprising: a plurality of lenses; and an optical characteristic adjusting mechanism disposed between a pupil position of the catadioptric projection optical system and the second surface.
  • the first imaging optical system for forming the intermediate image of the first surface, and the second optically conjugate the intermediate image and the second surface.
  • a catadioptric optical device comprising an imaging optical system, wherein at least one of the first imaging optical system and the second imaging optical system is configured by the catadioptric projection optical system of the present invention.
  • a reflection-bending optical device is provided.
  • the positional relationship between the projection device that projects the image of the first surface onto the second surface and the first object and the second object is changed with respect to the scanning direction.
  • the projection apparatus includes a first projection optical apparatus positioned at a first position with respect to the scanning direction, and A second projection optical device positioned at a second position different from the first position with respect to the scanning direction, wherein the first and second projection optical devices are the catadioptric projection optical system or catadioptric of the present invention.
  • a scanning exposure apparatus including an optical device is provided.
  • a method for manufacturing a microdevice is provided.
  • FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a scanning exposure apparatus that works on the first embodiment.
  • FIG. 2 is a diagram showing a configuration of an illumination optical system and a projection optical system that are useful for the first embodiment.
  • FIG. 3 is a view showing a mask used in a scanning exposure apparatus that works on the embodiment.
  • FIG. 4 is a diagram showing a field of view and an image field of the projection optical system related to the first embodiment.
  • FIG. 5 is a diagram showing a configuration of an illumination optical system and a projection optical system that are useful for the second embodiment.
  • FIG. 6 is a diagram showing a field of view and an image field of a projection optical system that are useful for the second embodiment.
  • FIG. 7 is a diagram showing a configuration of an illumination optical system and a projection optical system that are useful for the third embodiment.
  • FIG. 8 is a diagram showing a configuration of a projection optical system that is powerful in the fourth embodiment.
  • FIG. 9 is a diagram showing a field of view and an image field of a projection optical system when an illumination field stop having an arc-shaped opening is arranged in the illumination optical system.
  • FIG. 10 is a flowchart for explaining a microdevice manufacturing method according to the embodiment.
  • FIG. 11 is a diagram showing a configuration of a projection optical system according to the first example.
  • FIG. 12 is an aberration diagram of the projection optical system according to the first example.
  • FIG. 13 is an aberration diagram of the projection optical system according to the first example.
  • FIG. 14 is a diagram showing a configuration of a projection optical system according to a second example.
  • FIG. 15 is an aberration diagram of the projection optical system according to the second example.
  • FIG. 16 is an aberration diagram of the projection optical system according to the second example.
  • a part of the pattern of the mask (first object) Ml is larger than the outer diameter force OOmm as the photosensitive substrate, and a plurality of reflections are partially projected onto the plate (second object) P1.
  • the image of the pattern formed on the mask Ml is scanned onto the plate P1 by moving the mask Ml and the plate P1 in the scanning direction synchronously with the projection optical device PL consisting of the refraction-type projection optical systems PL1 to PL7.
  • Step of exposure An “and” scanning type scanning projection exposure apparatus will be described as an example.
  • the outer shape is larger than 500mm, one side or diagonal is more than 500mm! Uh.
  • XYZ Cartesian coordinate system is X
  • the axis and the Y axis are set so as to be parallel to the plate PI, and the Z axis is set in a direction perpendicular to the plate P1.
  • the XY plane is actually set parallel to the horizontal plane and the Z axis is set to the vertical direction.
  • the direction (scanning direction) for moving the plate P1 is set to the X direction.
  • FIG. 1 is a perspective view showing a schematic configuration of the entire scanning projection exposure apparatus according to this embodiment.
  • the scanning projection exposure apparatus according to this embodiment includes a light source such as an ultra-high pressure mercury lamp light source.
  • the light beam emitted from the light source is reflected by the elliptical mirror 2 and the dichroic mirror 3 and enters the collimating lens 4. That is, light in the wavelength range including g-line (wavelength 436 nm), h-line (wavelength 405 nm), and i-line (wavelength 365 nm) light is extracted by the reflective film of the elliptical mirror 2 and the reflective film of the dichroic mirror 3.
  • the divergent light beam from the light source image formed at the second focal position of the elliptical mirror 2 becomes parallel light by the collimating lens 4 and passes through the wavelength selection filter 5 that transmits only the light beam in a predetermined exposure wavelength region.
  • the light guide fiber 8 is a random light guide fiber configured by, for example, randomly bundling a large number of fiber strands, and includes an entrance 8a and 7 exits (hereinafter referred to as exits 8b, 8c, 8d, 8e, 8f, 8g and 8h).
  • exits 8b, 8c, 8d, 8e, 8f, 8g and 8h The light beam incident on the entrance 8a of the light guide fiber 8 propagates through the inside of the light guide fiber 8, and then is divided and emitted from the 7 exits 8b to 8h, and partially illuminates the mask Ml.
  • each of the partial illumination optical systems (hereinafter referred to as partial illumination optical systems IL1, IL2, IL3, IL4, IL5, IL6, and IL7).
  • the light that has passed through each of the partial illumination optical systems I L1 to IL7 illuminates the mask Ml almost uniformly.
  • the mask Ml is fixed by a mask holder (not shown) and is placed on a mask stage (not shown).
  • a laser interferometer (not shown) is arranged on the mask stage, and the mask stage laser interferometer measures and controls the position of the mask stage.
  • the plate P1 is fixed by a plate holder (not shown), and is placed on a plate stage (not shown).
  • a movable mirror 50 is provided on the plate stage.
  • a laser beam emitted from a plate stage laser interferometer (not shown) enters and reflects on the movable mirror 50. The position of the plate stage is measured and controlled based on the interference of the reflected and reflected laser light.
  • the partial illumination optical systems IL1, IL3, IL5, and IL7 described above are arranged on the rear side (first direction side) in the scanning direction as a first column with a predetermined interval in a direction orthogonal to the scanning direction.
  • the projection optical systems PL1, PL3, PL5, and PL7 provided corresponding to the illumination optical systems IL1, IL3, IL5, and IL7 are scanned in the first row with a predetermined interval in the direction orthogonal to the scanning direction. It is arranged on the rear side (first direction side).
  • the partial illumination optical systems IL2, IL4, and IL6 are arranged as a second row at a predetermined interval in the direction orthogonal to the scanning direction on the front side (second direction side) in the scanning direction, and the partial illumination optical systems IL2, Similarly, the projection optical systems PL2, PL4, and PL6 provided corresponding to IL4 and IL6 are arranged in the second row with a predetermined interval in the direction orthogonal to the scanning direction, on the front side (second direction side) in the scanning direction. Has been placed.
  • the first row projection optical systems PL1, PL3, PL5, and PL7 each have a field of view along the first row on the first surface on which the mask Ml is arranged, and the first row projection optical systems PL1, PL3, PL5, and PL7 Images are formed in the image field (projection region) having a predetermined interval in the scanning orthogonal direction on the third row on the two surfaces.
  • the second row projection optical systems PL2, PL4, and PL6 each have a field of view along the second row on the first surface on which the mask Ml is arranged, and the fourth row on the second surface on which the plate P1 is arranged.
  • An image is formed on each column in an image field (projection area) having a predetermined interval in the scanning orthogonal direction.
  • the OFAXIS alignment system 52 the mask Ml and the force of the plate P1 are used.
  • An autofocus system 54 is arranged to match the!
  • FIG. 2 is a diagram showing the configuration of the partial illumination optical systems IL1 and IL2 and the projection optical systems PL1 and PL2. is there.
  • the partial illumination optical systems IL3, IL5, and IL7 have the same configuration as the partial illumination optical system IL1, and the partial illumination optical systems IL4 and IL6 have the same configuration as the partial illumination optical system IL2.
  • the projection optical systems PL3, PL5, and PL7 have the same configuration as the projection optical system PL1, and the projection optical systems PL4 and PL6 have the same configuration as the projection optical system PL2.
  • the light beam emitted from the exit port 8b of the light guide fiber 8 enters the partial illumination optical system IL1, and the light beam collected by the collimator lens 9b disposed in the vicinity of the exit port 8b is obtained by an optical integrator. It enters a certain fly-eye lens 10b. A large number of secondary light source power beams formed on the rear focal plane of the fly-eye lens 10b illuminate the mask Ml almost uniformly by the condenser lens l ib. In addition, the light beam collected by the collimator lens 9c disposed in the vicinity of the exit port 8c is incident on the fly-eye lens 10c that is an optical integrator. Light beams from a number of secondary light sources formed on the rear focal plane of the fly-eye lens 10c illuminate the mask Ml almost uniformly by the condenser lens 11c.
  • Projection optical system PL1 is a catadioptric projection optical system that forms a primary image, which is an enlarged image in the field of view on mask Ml, in the image field on plate P1, and in its scanning direction (X-axis direction).
  • the magnification is greater than +1 and the magnification in the direction perpendicular to the scan is less than 1.
  • Projection optical system PL1 includes a concave reflecting mirror CCMb disposed in the optical path between mask Ml and plate P1, and a first lens disposed in the optical path between mask Ml and concave reflecting mirror CCMb.
  • the second lens group G2b disposed in the optical path between the group Gib, the first lens group Gib, and the concave reflecting mirror CCMb, and the optical path between the second lens group G2b and the plate P1.
  • the first deflection member FMlb and the second deflection member FM2b are, for example, the second lens group G2b It is possible to configure a first light flux transport unit that travels along the Z-axis direction after the light traveling in the Z-axis direction is transported in the X-axis direction (first direction).
  • the projection optical system PL1 includes the concave reflecting mirror CCMb, the first lens group Gib, and the second so that the distance between the mask Ml and the plate PI is larger than the distance between the mask Ml and the concave reflecting mirror CCMb.
  • a lens group G2b, a third lens group G3b, a first deflection member FMlb, and a second deflection member FM2b are arranged.
  • the optical members having refractive power constituting the first lens group Glb, the second lens group G2b, and the third lens group G3b are arranged so that their optical axes are parallel to the direction of gravity.
  • the first lens group Glb, the concave reflecting mirror CCMb, and the third lens group G3b are arranged so that the distance on the plate P1 side is larger than the distance on the mask Ml side.
  • the numerical aperture on the plate P1 side of the projection optical system PL1 is determined in the optical path between the concave reflecting mirror CCMb and the second lens group G2b, that is, in the vicinity of the reflecting surface of the concave reflecting mirror CCMb.
  • An aperture stop ASb is provided, and the aperture stop ASb is positioned so that the mask Ml side and the plate P1 side are substantially telecentric.
  • the position of the aperture stop ASb can be regarded as the pupil plane of the projection optical system PL1.
  • the projection optical system PL1 has a focal length of the first lens group Gib of the projection optical system PL1 as fl, a focal length of the third lens group G3b as f3, and a magnification of the projection optical system PL1.
  • Projection optical system PL2 has a configuration arranged symmetrically with respect to projection optical system PL1 in the scanning direction, and plays a primary image that is an enlarged image in the field of view on mask Ml, similarly to projection optical system PL1.
  • G is a catadioptric projection optical system formed in the image field on P1, and its magnification in the scanning direction (X-axis direction) exceeds +1 times, and the magnification in the scanning orthogonal direction is less than 1.
  • the projection optical system PL2 is a concave reflecting mirror CCMc, a first lens group Glc, a second lens group G2c, a third lens group G3c, a first deflection member FMlc, and a second deflection member Comes with FM 2b and aperture stop ASb.
  • the first deflection member FMlc and the second deflection member FM2b of the second projection optical system PL2 for example, transmit light traveling in the Z-axis direction from the second lens group G2c in the + X-axis direction (second direction). ),
  • the second light flux transfer unit that travels along the Z-axis direction can be configured.
  • the position of the aperture stop ASc can be regarded as the pupil plane of the projection optical system PL2.
  • the projection optical system PL1 and the projection optical system PL2 are set such that the distance in the scanning direction (X-axis direction) between the centers of the fields of the projection optical system PL1 and the projection optical system PL2 is Dm, and the projection optical system PL1 and the second projection The distance in the scanning direction (X-axis direction) between the centers of the image fields by the optical system PL2 is Dp, and the projection magnification of each of the projection optical system PL1 and the projection optical system PL2 is
  • the line segment connecting the field of view of the first projection optical system PL1 and the image field (projection region) is defined as the first line segment (corresponding to the optical axis of the first light flux transfer unit in this example).
  • the line segment connecting the field of view of the second projection optical system PL2 and the image field (projection area) overlaps with the second line segment (corresponding to the optical axis of the second light flux transfer unit in this example) as seen from the ⁇ direction. ⁇ ⁇ .
  • FIG. 3 is a diagram showing the configuration of the mask Ml used in the scanning exposure apparatus according to this embodiment.
  • the mask Ml includes column pattern portions M10 to M16 arranged along the non-scanning direction (Y-axis direction).
  • the field of view of the projection optical system PL1 is positioned in the column pattern portion M10
  • the field of view of the projection optical system PL2 is positioned in the column pattern portion Mil.
  • the field patterns of the projection optical systems PL3 to PL7 are respectively set on the column pattern portions M12 to M16.
  • FIG. 4 is a diagram for explaining the state of the field of view and the image field of the projection optical systems PL1 and PL3 arranged as the first row and the projection optical system PL2 arranged as the second row.
  • the projection optical system PL1 has a field of view VI and an image field II
  • the projection optical system PL2 has a field of view V2 and an image field 12
  • the projection optical system PL3 has a field of view V3 and an image field 13, respectively. That is, the projection optical system PL1 forms an enlarged image in the field of view V1 on the mask M1 in the image field 11 on the plate P1.
  • the projection optical system PL2 forms an enlarged image in the field of view V2 on the mask Ml in the image field 12 on the plate P1
  • the projection optical system PL3 forms an enlarged image of the field of view V3 on the mask Ml.
  • a large image is formed in the image field 13 on the plate PI.
  • a joint is formed between the image field II of the projection optical system PL1, the image field 12 of the projection optical system PL2, and the image field 12 of the projection optical system PL2 and the image field 13 of the projection optical system PL3.
  • the pattern can be continuously formed on the plate P1 by, for example, forming the end of the pattern on the mask that forms the joint on the plate P1 in a zigzag manner.
  • the distance between the visual fields of the first and second projection optical systems PL1 and PL2 (the distance between the first column and the second column)
  • the mask M1 which has the size of the row pattern parts M11 to M16 aligned in the scanning direction and minimized in the scanning direction as shown in Fig. 3, is used, the pattern continues on the plate P1. Can be formed.
  • the optical axis of the first lens group, the second lens group, and the third lens group provided with an optical member having refractive power with respect to gravity. Because they are arranged in parallel, the lenses that make up the projection optical system, i.e., the lenses that make up the first, second, and third lens groups, are enlarged in order to increase the exposure area. Even in this case, it is possible to provide a highly accurate catadioptric projection optical system in which an asymmetric deformation of the optical axis does not occur in the lens. Further, according to the catadioptric projection optics according to the embodiment, since an intermediate image is not formed, the optical configuration can be simplified.
  • the lens is provided with a highly accurate catadioptric projection optical system that does not cause asymmetric deformation of the optical axis, it is possible to perform good exposure. Further, since the catadioptric projection optical system has a magnification, it is possible to avoid an increase in the size of the mask and to reduce the manufacturing cost of the mask.
  • the illumination optical system and the projection optical system according to the second embodiment are those in which an illumination field stop is arranged in the illumination optical system of the illumination optical system and the projection optical system according to the first embodiment. It is. In other respects, it has the same configuration as the illumination optical system and the projection optical system that are the same as those of the first embodiment. But Therefore, in the description of the second embodiment, a detailed description of the same configuration as the illumination optical system and the projection optical system according to the first embodiment is omitted.
  • the same configuration as that of the illumination optical system and the projection optical system for the first embodiment is used.
  • the description will be made with the same reference numerals as those used in the embodiment.
  • FIG. 5 is a diagram showing the configuration of an illumination optical system and a projection optical system that are useful for the second embodiment.
  • the force illumination optical systems IL13 to IL7 and the projection optical systems PL3 to PL7 showing only the illumination optical systems IL1 and IL2 and the projection optical systems PL1 and PL2 have the same configuration.
  • An illumination field stop 12b having a trapezoidal or hexagonal opening is arranged at a position optically conjugate with the mask Ml on the exit side of the condenser lens ib of the illumination optical system IL1 according to this embodiment.
  • the imaging optical system 13b is disposed in the optical path between the illumination field stop 12b and the mask M1.
  • an illumination field stop 12c is arranged at a position optically conjugate with the mask Ml on the exit side of the condenser lens 11c of the illumination optical system IL2, and the optical path between the illumination field stop 12c and the mask Ml is arranged.
  • An imaging optical system 13c is arranged inside.
  • FIG. 6 is a diagram for explaining the state of the field of view and the image field of the projection optical systems PL1, PL3 and the projection optical system PL2 when an illumination field stop having a hexagonal opening is arranged in the illumination optical system.
  • FIG. Projection optical system PL1 has hexagonal field VI and image field II
  • projection optical system PL2 has hexagonal field V2 and image field 12
  • projection optical system PL3 has hexagonal field V3 and image field 13. . That is, the projection optical system PL1 forms an enlarged image in the field VI on the mask M1 whose shape is defined by the illumination field stop in the image field 11 on the plate P1.
  • the projection optical system PL2 forms an enlarged image in the field V2 on the mask M1 whose shape is defined by the illumination field stop in the image field 12 on the plate P1, and the projection optical system PL3 Then, an enlarged image in the field of view V3 on the mask Ml is formed in the image field 13 on the plate P1.
  • the pattern is synthesized in the non-scanning direction on the plate without performing screen synthesis using the mask pattern as in the scanning exposure apparatus according to the first embodiment. Can be performed satisfactorily.
  • an illumination optical system and a projection optical system used in the scanning exposure apparatus according to the third embodiment of the present invention will be described.
  • the illumination optical system and projection optical system according to the third embodiment are obtained by changing the configuration of the projection optical system among the illumination optical system and projection optical system according to the first embodiment. .
  • Other points are the same as those of the illumination optical system and the projection optical system according to the first embodiment.
  • the description of the third embodiment a detailed description of the same configurations as those of the illumination optical system and the projection optical system that are useful for the first embodiment will be omitted.
  • the same structure as that of the illumination optical system and the projection optical system according to the first embodiment is used. The description will be made with the same reference numerals as those used in the embodiment.
  • FIG. 7 is a diagram showing the configuration of an illumination optical system and a projection optical system that are useful for the third embodiment.
  • the force illumination optical systems IL13 to IL7 and the projection optical systems PL3 to PL7 showing only the illumination optical systems IL1 and IL2 and the projection optical systems PL1 and PL2 have the same configuration.
  • the projection optical systems PL1 and PL2 are the first imaging optical systems 14b and 14c that form an intermediate image of the mask Ml, and the first optical system that optically conjugates the intermediate image and the plate PI. It is composed of a projection optical device having two imaging optical systems 16b and 16c.
  • the magnifications of these projection optical systems PL1 and PL2 are set so that the magnification in the scanning direction exceeds +1 and the magnification in the scanning orthogonal direction exceeds +1. That is, these projection optical systems PL 1 and PL 2 form an erect image of the first surface on the second surface with an enlargement magnification.
  • field stops 15b and 15c are arranged at positions where intermediate images are formed in the optical path between the first imaging optical systems 14b and 14c and the second imaging optical systems 16b and 16c.
  • the second imaging optical systems 16b and 16c have the same configuration as the projection optical systems PL1 and PL2 according to the first embodiment.
  • the field stop can be easily arranged, and the field stop can be projected onto the plate with the accuracy of the projection optical system. High-precision projection can be performed.
  • the projection optical system according to the fourth embodiment is obtained by providing an optical characteristic adjusting mechanism in the projection optical system according to the first embodiment.
  • the projection optical system has the same configuration as that of the first embodiment. Therefore, in the description of the fourth embodiment, a detailed description of the same configuration as that of the projection optical system that works in the first embodiment is omitted. Further, in the description of the projection optical system that works in the fourth embodiment, the same configuration as the projection optical system that works in the first embodiment is the same as that used in the first embodiment. The description will be made with the same reference numerals.
  • FIG. 8 is a diagram showing a configuration of a projection optical system that works according to the fourth embodiment.
  • the projection optical systems PL1 and PL2 include first optical characteristic adjustment mechanisms AD1b and ADlc each made of a wedge-shaped pair glass in the optical path between the mask Ml and the first lens group Gib and Glc.
  • the focus and image plane inclination can be adjusted by moving the glass pane along the wedge angle to change the glass thickness.
  • the first optical characteristic adjustment mechanisms ADlb and ADlc are arranged in the optical path on the reduction side of the catadioptric optical system (the object side relative to the aperture stop position of the catadioptric optical system).
  • the amount of change in optical characteristics with respect to the amount of movement of the adjustment mechanism can be increased. That is, the sensitivity of the effect of the adjusting mechanism can be improved.
  • the adjustment range of the optical characteristics can be expanded without increasing the movement range (stroke) of the adjustment mechanism.
  • the projection optical systems PL1 and PL2 include second optical characteristic adjustment mechanisms AD2b and AD2c configured by a rotation mechanism of the second optical path deflection surfaces FM2b and FM2c.
  • the second optical characteristic adjusting mechanisms AD2b and AD2c can adjust the rotation of the image by rotating the prism mirror including the second optical path deflection surfaces FM2b and FM2c.
  • a third optical characteristic adjusting mechanism AD3b, AD3c configured by three lens groups having the same curvature is provided.
  • This third optical characteristic adjustment mechanism AD3b, AD3c is designed to move the lens in the center of the lens group consisting of three identical curvatures in the vertical direction (vertical direction) between mask Ml and plate P1. Adjustments can be made.
  • a fourth optical characteristic adjusting mechanism AD4b, AD4c configured with a parallel plate is provided. This fourth optical characteristic adjustment mechanism AD4b, AD4c The image position can be adjusted by inclining the parallel plate with respect to the optical axis.
  • the optical characteristic adjusting mechanism AD2b, AD2c in the optical path between the concave reflecting mirrors CCMb, CCMc and the second surface, in other words, in the optical path between the pupil surface and the second surface, Place AD3b and AD3c. Since this optical path is the optical path on the magnification side in the projection optical system, there is an advantage that it is easy to secure a space for arranging these optical characteristic adjusting mechanisms.
  • FIG. 9 is a diagram for explaining the state of the field of view and the image field of the projection optical systems PL1, PL3 and the projection optical system PL2 when an illumination field stop having an arc-shaped opening is arranged in the illumination optical system.
  • the projection optical system PL1 has an arc-shaped field VI and an image field II
  • the projection optical system PL2 has an arc-shaped field V2 and an image field 12
  • the projection optical system PL3 has an arc-shaped field V3 and an image field 13.
  • the projection optical system PL1 forms an enlarged image in the arc-shaped field VI on the mask Ml whose shape is defined by the illumination field stop in the arc-shaped image field II on the plate P1.
  • the projection optical system PL2 forms an enlarged image in the arc-shaped field V2 on the mask Ml whose shape is defined by the illumination field stop in the arc-shaped image field 12 on the plate P1.
  • the projection optical system PL3 forms an enlarged image in the arc-shaped field of view V3 on the mask Ml in the arc-shaped image field 13 on the plate P1.
  • the second imaging optical systems 16b and 16c have the same configuration as the projection optical systems PL1 and PL2 according to the first embodiment.
  • the first imaging optical systems 14b and 14c, or the first imaging optical systems 14b and 14c and the second imaging optical systems 16b and 16c are the same as the projection optical systems PL1 and PL2 according to the first embodiment. You may make it have a structure.
  • the shape of the image field formed by the projection optical system may be a trapezoid, for example.
  • the image field has a trapezoidal shape, it is preferable that the lower side of the trapezoid (the longer of the two sides parallel to each other in the trapezoid) is oriented toward the optical axis.
  • the discharge lamp is provided as the light source, and the required g-line (436 nm) light, h-line (405 nm), and i-line (365 nm) light are selected.
  • light from ultraviolet LEDs, KrF excimer laser (248 nm), ArF excimer The present invention can be applied even when laser light from a malasa (193 nm), harmonics of a solid-state laser, or laser light having an ultraviolet semiconductor laser power as a solid-state light source is used.
  • a liquid crystal display element as a micro device is obtained by forming a predetermined pattern (circuit pattern, electrode pattern, etc.) on a plate (glass substrate). You can also.
  • a so-called optical lithography process is performed in which a mask pattern is transferred and exposed to a photosensitive substrate using a scanning exposure apparatus that is effective in this embodiment.
  • a predetermined pattern including a large number of electrodes and the like is formed on the photosensitive substrate.
  • the exposed substrate is subjected to steps such as a development step, an etching step, and a resist stripping step, whereby a predetermined pattern is formed on the substrate, and the process proceeds to the next color filter forming step 402. .
  • a large number of sets of three dots corresponding to R (Red), G (Green), and B (Blue) are arranged in a matrix or R, G, B
  • a color filter is formed by arranging a set of three stripe filters in the horizontal scanning line direction.
  • a cell assembling step 403 is executed.
  • a liquid crystal panel liquid crystal cell
  • liquid crystal liquid crystal cell
  • liquid crystal is injected between the substrate having the predetermined pattern obtained in the pattern formation step 401 and the color filter obtained in the color filter formation step 402, and a liquid crystal panel (liquid crystal Cell).
  • a module assembly step 404 components such as an electric circuit and a backlight for performing a display operation of the assembled liquid crystal panel (liquid crystal cell) are attached to complete a liquid crystal display element.
  • the liquid crystal display element can be manufactured at a low cost because the scanning exposure apparatus according to this embodiment is used.
  • the first lens group, the second lens group, and the third lens group that include an optical member having a refractive power are prevented from being affected by gravity.
  • the lenses constituting the projection optical system that is, the first lens group, the second lens group, and the third lens group are arranged to increase the exposure area. Even when the constituting lens is increased in size, it is possible to provide a highly accurate catadioptric projection optical system and catadioptric optical device that does not cause an asymmetric deformation of the optical axis of the lens, and as a result, good pattern transfer can be achieved. It can be carried out.
  • the light beams from the plurality of fields of view by the plurality of projection optical systems are transferred in the reverse direction along the first direction by the light beam phase shift member, and the plurality of projection regions At this time, the visual field interval and the projection region interval along the first direction can be set appropriately. Therefore, the pattern can be satisfactorily transferred onto the plate even when different projection optical systems are used.
  • the lens is provided with a high-precision catadioptric projection optical system and catadioptric optical apparatus that do not cause asymmetric deformation of the optical axis of the lens, good exposure can be achieved. It can be carried out.
  • the catadioptric projection optical system and the catadioptric optical device have a magnification, it is possible to avoid an increase in the size of the mask and to reduce the manufacturing cost of the mask.
  • the microdevice manufacturing method of the present invention since the microdevice can be manufactured using a large substrate while avoiding an increase in the size of the mask, the microportion device can be manufactured at low cost. Manufacturing can be performed.
  • Tables 1 and 2 show optical member specifications of the catadioptric optical systems PL10 and PL20 according to Example Example 2.
  • the surface number of the first column is the order of the surface along the direction of ray travel of the object side force
  • the second column is the radius of curvature (mm) of each surface
  • the third The column spacing is the spacing on the optical axis (mm)
  • the fourth column is the refractive index of the optical member glass material against g-line
  • the fifth column is the refractive index of the optical member glass material against h-line
  • the sixth column is The refractive index for the i-line of the glass material of the optical member is shown.
  • the catadioptric optical system PL10 includes a concave reflecting mirror CCM, a first lens group G1, a second lens group G2, a third lens group G3, a first deflection member FM1, and a second deflection member FM2. ing.
  • the first lens group G1 includes a positive meniscus lens L10 having a concave surface facing the mask M, a negative meniscus lens Lll having a concave surface facing the mask M, and a negative meniscus lens having a concave surface facing the mask M. It is composed of L12.
  • the second lens group G2 is composed of a biconvex lens L13, a negative large lens L14 having a concave surface directed to the mask M, a biconcave lens L15, and a positive large lens L16 having a concave surface directed to the mask M. It is composed of a third lens group G3, a negative meniscus lens L17 with a concave surface facing plate P, a positive meniscus lens L18 with a concave surface facing plate P, and a biconvex lens L19.
  • FIGS. 12 and 13 show aberration diagrams of the catadioptric optical system PL10.
  • FIG. 12 (a) shows spherical aberration, (b) shows curvature of field, (c) shows distortion, (d) shows chromatic aberration of magnification, and FIG. 13 shows light beam convergence.
  • the aberration is corrected satisfactorily.
  • the catadioptric optical system PL20 includes a concave reflecting mirror CCM, a first lens group G1, a second lens group G2, a third lens group G3, a first deflection member FM1, and a second deflection member FM2. ing.
  • the first lens group G1 includes a positive mascus lens L20 having a concave surface facing the mask M, and a mask. It consists of a negative negative lens L21 with a concave surface facing M and a negative meniscus lens L22 with a concave surface facing mask M.
  • the second lens group G2 includes a biconvex lens L23, a negative large lens L24 with a concave surface facing the mask M, a biconcave lens L25, and a positive large lens L26 with a concave surface facing the mask M.
  • the third lens group G3 includes a negative large lens L27 having a concave surface directed to the plate P, a negative large lens L28 having a concave surface directed to the plate P, and a biconvex lens L29.
  • FIG. 15 and FIG. 16 show aberration diagrams of the catadioptric optical system PL20.
  • FIG. 15 (a) shows spherical aberration, (b) shows field curvature, (c) shows distortion, (d) shows lateral chromatic aberration, and FIG. 16 shows light aberration.
  • the gain is corrected satisfactorily.
  • the present invention relates to a catadioptric projection optical system and a catadioptric optical apparatus that project an image of a mask, a reticle, etc. onto a substrate, a scanning exposure apparatus that projects and exposes an image of a first object onto a second object, It can be suitably used in a microdevice manufacturing method using the scanning exposure apparatus.

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Description

反射屈折投影光学系、反射屈折光学装置、走査露光装置、マイクロデバ イスの製造方法
技術分野
[0001] 本発明は、第 1の物体 (マスク、レチクル等)の像を第 2の物体 (基板等)上に投影す る反射屈折投影光学系及び反射屈折光学装置、第 1の物体の像を第 2の物体上に 投影露光する走査露光装置、該走査露光装置を用いたマイクロデバイスの製造方法 に関するものである。
背景技術
[0002] 例えば半導体素子又は液晶表示素子等を製造する際に、マスク(レチクル、フォト マスク等)のパターンを投影光学系を介してレジストが塗布されたプレート (ガラスプレ ート又は半導体ウェハ等)上に投影する投影露光装置が使用されている。従来はス テツプ ·アンド'リピート方式でプレート上の各ショット領域にそれぞれレチクルのパタ ーンを一括露光する投影露光装置 (ステツパ)が多用されていた。近年、 1つの大き な投影光学系を使用する代わりに、等倍の倍率を有する小さな複数の部分投影光学 系を走査方向に沿って所定間隔で複数列に配置し、マスク及びプレートを走査させ つつ各部分投影光学系でそれぞれマスクのパターンをプレート上に露光するステツ プ ·アンド'スキャン方式の投影露光装置が提案されて!、る。
[0003] 近年、プレートが益々大型化し、 2m角を越えるプレートが使用されるようになってき ている。ここで、上述のステップ ·アンド'スキャン方式の露光装置を用いて大型のプ レート上に露光を行う場合、部分投影光学系が等倍の倍率を有するため、マスクも大 型化する。マスクのコストは、マスク基板の平面性を維持する必要もあり、大型化すれ ばするほど高くなる。また、通常の TFT部を形成するためには、 4〜5層分のマスクが 必要とされており多大なコストを要していた。従って、投影光学系の倍率を拡大倍率 とすることで、マスクの大きさを小さくした投影露光装置が提案されている(日本国特 許出願公開平成 11 - 265848号公報)。
発明の開示 [0004] 上述の投影露光装置においては、複数の投影光学系のマスク上の光軸とプレート 上の光軸とは実質的に同一位置に配置されていた。従って、異なる列の投影光学系 によってプレート上に走査露光されるパターン同士が互いに繋ぎ合わさらな 、と!/、う 問題があった。
[0005] また、上述の投影露光装置の投影光学系にお 、て、露光領域を大きくするために は、投影光学系を構成するレンズを大型化する必要があるが、レンズが大型化した 場合には、レンズを保持することにより光軸非対称な変形が発生し、または重力によ つてレンズ自体に光軸非対称な変形が生じる虞が大きくなる。
[0006] 本発明の目的は、複数の投影光学系を用いて走査露光方式でマスクのパターンの 拡大像をプレート等の物体上に形成する場合に良好なパターン転写を行うことである 。また、本発明の別の目的は、レンズに光軸非対称な変形が生じさせずに良好なパ ターン転写を行うことである。
[0007] この発明の第 1の態様に従えば、第 1面に配置される第 1物体の像を第 2面に配置 される第 2物体上に投影しつつ前記第 1物体の像と前記第 2物体との位置関係を走 查方向に関して変化させつつ前記第 1物体のパターンを前記第 2物体上に転写露 光する走査露光装置において、前記第 1面上で第 1視野を有し、該第 1視野からの 光に基づいて第 2面上の第 1投影領域に前記第 1物体の一部の拡大像を投影する 第 1投影光学系と、前記第 1面上で第 2視野を有し、該第 2視野からの光に基づいて 第 2面上の第 2投影領域に前記第 1物体の一部の拡大像を投影する第 2投影光学系 と、を備え、前記第 1投影光学系は、前記第 1視野からの光を、前記第 1面と前記第 2 面とを結ぶ軸線方向と交差する第 1方向に沿って移送して、前記軸線方向から見て 前記第 1視野の前記第 1方向側に位置する前記第 1投影領域へ導く第 1光束移送部 を備え、前記第 2投影光学系は、前記第 2視野からの光を前記第 1方向とは逆向きの 第 2方向に沿って移送して、前記軸線方向から見て前記第 2視野の前記第 2方向側 に位置する前記第 2投影領域へ導く第 2光束移送部を備え、前記第 1視野と前記第 2視野との前記第 1面上での前記走査方向に沿った間隔である第 1間隔を Dmとし、 前記第 1投影領域と前記第 2投影領域との前記第 2面上での前記走査方向に沿った 間隔である第 2間隔を Dpとし、前記第 1および第 2投影光学系の倍率を j8とするとき Dp= β X Dm
を満足することを特徴とする走査露光装置が提供される。
[0008] また、この発明の第 2の態様に従えば、第 1物体の像を第 2物体上に投影しつつ前 記第 1物体の像と前記第 2物体との位置関係を走査方向に関して変化させつつ前記 第 1物体のパターンを前記第 2物体上に転写露光する走査露光装置において、前記 走査方向を横切る方向である非走査方向に沿った第 1列上に視野をそれぞれ有す る複数の投影光学系を備えた第 1列投影光学系と、前記非走査方向に沿った列であ つて前記第 1列とは異なる第 2列上に視野をそれぞれ有する複数の投影光学系を備 えた第 2列投影光学系と、を備え、前記第 1列投影光学系は、前記第 1列投影光学 系の前記複数の視野と共役な複数の投影領域を前記第 2面上の第 3列上に形成し、 前記第 2列投影光学系は、前記第 2列投影光学系の前記複数の視野と共役な複数 の投影領域を前記第 2面上の第 4列上に形成し、前記第 1列と前記第 2列との前記 第 1面上での前記走査方向に沿った間隔である第 1間隔を Dmとし、前記第 3列と前 記第 4列との前記第 2面上での前記走査方向に沿った間隔である第 2間隔を Dpとし 、前記第 1および第 2投影光学系の倍率を j8とするとき、
Dp= β X Dm
を満足することを特徴とする走査露光装置が提供される。
[0009] この発明の第 3の態様に従えば、第 1面上に配置される第 1物体の像を第 2面上に 配置される第 2物体上に拡大の投影倍率で形成する反射屈折投影光学系にお 、て 、前記第 1面と前記第 2面との間の光路中に配置される凹面反射鏡と、前記第 1面と 前記凹面反射鏡との間の光路中に配置される第 1レンズ群と、前記第 1レンズ群と前 記凹面反射鏡との間の光路中に配置される第 2レンズ群と、前記第 2レンズ群と前記 第 2面との間の光路中に配置されて、前記第 1レンズ群の光軸を横切るように光を偏 向する第 1偏向部材と、前記第 1偏向部材と前記第 2物体との間の光路中に配置さ れる第 2偏向部材と、前記第 2偏向部材と前記第 2面との間の光路中に配置されて、 前記第 1レンズ群の光軸と略平行な光軸を有する第 3レンズ群とを備えることを特徴と する反射屈折投影光学系が提供される。 [0010] この発明の第 4の態様に従えば、第 1面上に配置される第 1物体の像を第 2面上に 配置される第 2物体上に拡大の投影倍率で形成する反射屈折投影光学系にお 、て 、前記第 1面と前記第 2面との間の光路中に配置される凹面反射鏡と、前記第 1面と 前記第 2面との間の光路中に配置される複数のレンズと、前記反射屈折投影光学系 の瞳位置と前記第 2面との間に配置される光学特性調整機構と、を備えることを特徴 とする反射屈折投影光学系が提供される。
[0011] この発明の第 5の態様に従えば、前記第 1面の中間像を形成する第 1結像光学系と 、前記中間像と前記第 2面とを光学的に共役にする第 2結像光学系とを備える反射 屈折光学装置であって、前記第 1結像光学系と前記第 2結像光学系との少なくとも一 方は、この発明の反射屈折投影光学系により構成されていることを特徴とする反射屈 折光学装置が提供される。
[0012] この発明の第 6の態様に従えば、第 1面の像を第 2面上に投影する投影装置と前記 第 1物体及び前記第 2物体との位置関係を走査方向に関して変化させつつ前記第 1 物体のパターンを前記第 2物体上に転写露光する走査露光装置にお 、て、前記投 影装置は、前記走査方向に関して第 1の位置に位置決めされた第 1投影光学装置と 、前記走査方向に関して前記第 1の位置とは異なる第 2の位置に位置決めされた第 2投影光学装置とを備え、前記第 1及び第 2投影光学装置は、この発明の反射屈折 投影光学系又は反射屈折光学装置を備えることを特徴とする走査露光装置が提供 される。
[0013] この発明の第 7の態様に従えば、この発明の走査露光装置を用いてマスクのバタ ーンを感光基板上に露光する露光工程と、前記露光工程により露光された前記感光 基板を現像する現像工程とを含むことを特徴とするマイクロデバイスの製造方法が提 供される。
図面の簡単な説明
[0014] [図 1]第 1の実施の形態に力かる走査露光装置の構成を示す図である。
[図 2]第 1の実施の形態に力かる照明光学系及び投影光学系の構成を示す図である
[図 3]実施の形態に力かる走査露光装置で用いられるマスクを示す図である [図 4]第 1の実施の形態にカゝかる投影光学系の視野及び像野を示す図である。
[図 5]第 2の実施の形態に力かる照明光学系及び投影光学系の構成を示す図である
[図 6]第 2の実施の形態に力かる投影光学系の視野及び像野を示す図である。
[図 7]第 3の実施の形態に力かる照明光学系及び投影光学系の構成を示す図である
[図 8]第 4の実施の形態に力かる投影光学系の構成を示す図である。
[図 9]照明光学系内に円弧形状の開口を有する照明視野絞りを配置した場合の投影 光学系の視野及び像野を示す図である。
[図 10]実施の形態に係るマイクロデバイスの製造方法を説明するためのフローチヤ一 トである。
[図 11]第 1の実施例に係る投影光学系の構成を示す図である。
[図 12]第 1の実施例に係る投影光学系の収差図である。
[図 13]第 1の実施例に係る投影光学系の収差図である。
[図 14]第 2の実施例に係る投影光学系の構成を示す図である。
[図 15]第 2の実施例に係る投影光学系の収差図である。
[図 16]第 2の実施例に係る投影光学系の収差図である。
発明を実施するための最良の形態
[0015] 以下、図面を参照して、この発明の第 1の実施の形態について説明する。この実施 の形態においては、マスク(第 1物体) Mlのパターンの一部を感光基板としての外径 力 OOmmよりも大き 、プレート (第 2物体) P1に対して部分的に投影する複数の反 射屈折型の投影光学系 PL1〜PL7からなる投影光学装置 PLに対してマスク Mlと プレート P1とを走査方向に同期移動させてマスク Mlに形成されたパターンの像をプ レート P 1上に走査露光するステップ 'アンド'スキャン方式の走査投影露光装置を例 に挙げて説明する。ここで外形が、 500mmよりも大きいとは、一辺若しくは対角線が 500mmよりも さ!、ことを!、う。
[0016] また、以下の説明においては、図 1中に示した直交座標系を設定し、この XYZ直交 座標系を参照しつつ各部材の位置関係について説明する。 XYZ直交座標系は、 X 軸及び Y軸がプレート PIに対して平行となるように設定され、 Z軸がプレート P1に対 して直交する方向に設定されている。図中の XYZ座標系は、実際には XY平面が水 平面に平行に設定され、 Z軸が鉛直方向に設定される。また、この実施形態では、プ レート P1を移動させる方向(走査方向)を X方向に設定して 、る。
[0017] 図 1は、この実施の形態にかかる走査投影露光装置の全体の概略構成を示す斜視 図である。この実施の形態にかかる走査投影露光装置は、例えば超高圧水銀ランプ 光源カゝらなる光源を備えている。光源より射出した光束は楕円鏡 2及びダイクロイツク ミラー 3により反射され、コリメートレンズ 4に入射する。即ち、楕円鏡 2の反射膜及び ダイクロイツクミラー 3の反射膜により g線 (波長 436nm)、 h線 (波長 405nm)及び i線 (波長 365nm)の光を含む波長域の光が取り出され、 g、 h、 i線の光を含む波長域の 光がコリメートレンズ 4に入射する。また、 g、 h、 i線の光を含む波長域の光は、光源が 楕円鏡 2の第 1焦点位置に配置されているため、楕円鏡 2の第 2焦点位置に光源像 を形成する。楕円鏡 2の第 2焦点位置に形成された光源像からの発散光束は、コリメ 一トレンズ 4により平行光となり、所定の露光波長域の光束のみを透過させる波長選 択フィルタ 5を透過する。
[0018] 波長選択フィルタ 5を通過した光束は、減光フィルタ 6を通過し、集光レンズ 7により ライトガイドファイノく 8の入射口 8aの入射端に集光される。ここで、ライトガイドファイバ 8は、例えば多数のファイバ素線をランダムに束ねて構成されたランダムライトガイド ファイバであって、入射口 8aと 7つの射出口(以下、射出口 8b, 8c, 8d, 8e, 8f, 8g , 8hという。)を備えている。ライトガイドファイバ 8の入射口 8aに入射した光束は、ライ トガイドファイバ 8の内部を伝播した後、 7つの射出口 8b〜8hより分割されて射出し、 マスク Mlを部分的に照明する 7つの部分照明光学系(以下、部分照明光学系 IL1, IL2, IL3, IL4, IL5, IL6, IL7という。)にそれぞれ入射する。各部分照明光学系 I L1〜IL7を通過した光は、それぞれマスク Mlをほぼ均一に照明する。
[0019] マスク Mlの照明領域、即ち部分照明光学系 IL1〜IL7に対応する照明領域から の光は、各照明領域に対応するように配列されマスク Mlのパターンの一部の像をプ レート P1上にそれぞれ投影する 7つの投影光学系(以下、投影光学系 PL1, PL2, PL3, PL4, PL5, PL6, PL7という。)のそれぞれに入射する。投景光学系 PL1〜P L7を透過した光は、プレート P 1上にマスク M 1のパターン像をそれぞれ結像する。
[0020] ここで、マスク Mlはマスクホルダ(図示せず)にて固定されており、マスクステージ( 図示せず)に載置されている。また、マスクステージにはレーザ干渉計(図示せず)が 配置されており、マスクステージレーザ干渉計はマスクステージの位置を計測及び制 御する。また、プレート P1はプレートホルダ(図示せず)にて固定されており、プレート ステージ(図示せず)に載置されている。また、プレートステージには移動鏡 50が設 けられている。移動鏡 50には、図示していないプレートステージレーザ干渉計力 射 出されるレーザ光が入反射する。その入反射されたレーザ光の干渉に基づ 、てプレ ートステージの位置は計測及び制御されている。
[0021] 上述の部分照明光学系 IL1、 IL3、 IL5、 IL7は、走査方向と直交する方向に所定 間隔をもって第 1列として走査方向の後方側 (第 1方向側)に配置されており、部分照 明光学系 IL1、 IL3、 IL5、 IL7に対応して設けられている投影光学系 PL1、 PL3、 P L5、PL7も同様に走査方向と直交する方向に所定間隔をもって第 1列として走査方 向の後方側 (第 1方向側)に配置されている。また、部分照明光学系 IL2、 IL4、 IL6 は、走査方向と直交する方向に所定間隔をもって第 2列として走査方向の前方側 (第 2方向側)に配置されており、部分照明光学系 IL2、 IL4、 IL6に対応して設けられて いる投影光学系 PL2、 PL4、 PL6も同様に走査方向と直交する方向に所定間隔をも つて第 2列として走査方向の前方側 (第 2方向側)に配置されている。
[0022] ここで、第 1列投影光学系 PL1、 PL3、 PL5、 PL7は、それぞれマスク Mlが配置さ れる第 1面上の第 1列に沿った視野を持ち、プレート P1が配置される第 2面上の第 3 列上に走査直交方向に所定間隔を持った像野 (投影領域)に像をそれぞれ形成する 。また、第 2列投影光学系 PL2、 PL4、 PL6は、それぞれマスク Mlが配置される第 1 面上の第 2列に沿った視野を持ち、プレート P1が配置される第 2面上の第 4列上に 走査直交方向に所定間隔を持った像野 (投影領域)に像をそれぞれ形成する。
[0023] 第 1列の投影光学系と第 2列の投影光学系との間には、プレート P1の位置合わせ を行うために、オファクシスのァライメント系 52や、マスク Mlやプレート P1のフォー力 スを合わせるために、オートフォーカス系 54が配置されて!、る。
[0024] 図 2は、部分照明光学系 IL1、 IL2及び投影光学系 PL1、 PL2の構成を示す図で ある。なお、部分照明光学系 IL3, IL5, IL7は、部分照明光学系 IL1と同一の構成 を有し、部分照明光学系 IL4, IL6は、部分照明光学系 IL2と同一の構成を有する。 また、投影光学系 PL3, PL5, PL7は、投影光学系 PL1と同一の構成を有し、投影 光学系 PL4, PL6は、投影光学系 PL2と同一の構成を有する。
[0025] ライトガイドファイバ 8の射出口 8bから射出した光束は、部分照明光学系 IL1に入射 し、射出口 8bの近傍に配置されているコリメートレンズ 9bにより集光された光束は、 オプティカルインテグレータであるフライアイレンズ 10bに入射する。フライアイレンズ 10bの後側焦点面に形成された多数の二次光源力ゝらの光束は、コンデンサーレンズ l ibによりマスク Mlをほぼ均一に照明する。また、射出口 8cの近傍に配置されてい るコリメートレンズ 9cにより集光された光束は、オプティカルインテグレータであるフラ ィアイレンズ 10cに入射する。フライアイレンズ 10cの後側焦点面に形成された多数 の二次光源からの光束は、コンデンサーレンズ 11cによりマスク Mlをほぼ均一に照 明する。
[0026] 投影光学系 PL1は、マスク Ml上における視野内の拡大像である一次像をプレート P1上の像野内に形成する反射屈折投影光学系であり、その走査方向(X軸方向)に おける拡大倍率が + 1倍を超え、且つ走査直交方向における拡大倍率は 1を下回 る。
[0027] 投影光学系 PL1は、マスク Mlとプレート P1との間の光路中に配置される凹面反射 鏡 CCMbと、マスク Mlと凹面反射鏡 CCMbとの間の光路中に配置される第 1レンズ 群 Gibと、第 1レンズ群 Gibと凹面反射鏡 CCMbとの間の光路中に配置される第 2レ ンズ群 G2bと、第 2レンズ群 G2bとプレート P1との間の光路中に配置されて、第 2レン ズ群 G2bから Z軸方向に進行する光を X軸方向(第 1方向)に第 1レンズ群 Gib の光軸を横切るように偏向する第 1偏向部材 FMlbと、第 1偏向部材 FMlbとプレー ト P1との間の光路中に配置され、第 1偏向部材 FMlbから X軸方向に進行する光 を— Z軸方向に偏向する第 2偏向部材 FM2bと、第 2偏向部材 FM2bとプレート P1と の間の光路中に配置されて、第 1レンズ群 Gibの光軸と略平行な光軸を有する第 3 レンズ群 G3bとを備えて!/、る。
[0028] ここで、第 1偏向部材 FMlbと第 2偏向部材 FM2bとは例えば第 2レンズ群 G2bか らー Z軸方向に進行する光を X軸方向(第 1方向)に移送した後に Z軸方向に沿 つて進行させる第 1光束移送部を構成することができる。
[0029] ここで、投影光学系 PL1は、マスク Mlと凹面反射鏡 CCMbの距離よりもマスク Ml とプレート PIの距離のほうが大きくなるように、凹面反射鏡 CCMb、第 1レンズ群 Gib 、第 2レンズ群 G2b、第 3レンズ群 G3b、第 1偏向部材 FMlb及び第 2偏向部材 FM2 bのそれぞれが配置されている。また、第 1レンズ群 Glb、第 2レンズ群 G2b及び第 3 レンズ群 G3bを構成する屈折力を有する光学部材は、その光軸が重力方向に対し て平行になるように配置されている。また、投影光学系 PL1は、マスク Ml側の距離よ りもプレート P1側の距離が大きくなるように、第 1レンズ群 Glb、凹面反射鏡 CCMb 及び第 3レンズ群 G3bが配置されて 、る。
[0030] なお、凹面反射鏡 CCMbと第 2レンズ群 G2bとの間の光路中、即ち、凹面反射鏡 C CMbの反射面の近傍には、投影光学系 PL1のプレート P1側の開口数を決定するた めの開口絞り ASbが備えられており、開口絞り ASbは、マスク Ml側及びプレート P1 側が略テレセントリックとなるように位置決めされている。この開口絞り ASbの位置は 投影光学系 PL1の瞳面とみなすことができる。
[0031] また、投影光学系 PL1は、投影光学系 PL1の第 1レンズ群 Gibの焦点距離を fl、 第 3レンズ群 G3bの焦点距離を f 3とし、投影光学系 PL1の倍率を とするとき、 0. 8 X I j8 I ≤f3/fl≤l. 25 X I j8 I
I β I ≥i. 8
を満足している。
[0032] 投影光学系 PL2は、投影光学系 PL1と走査方向に対称に配置された構成を有し、 投影光学系 PL1と同様にマスク Ml上における視野内の拡大像である一次像をプレ ート P1上の像野内に形成する反射屈折投影光学系であり、その走査方向 (X軸方向 )における拡大倍率が + 1倍を超え、且つ走査直交方向における拡大倍率は 1を 下回る。
[0033] 投影光学系 PL2は、投影光学系 PL1と同様に、凹面反射鏡 CCMc、第 1レンズ群 Glc、第 2レンズ群 G2c、第 3レンズ群 G3c、第 1偏向部材 FMlc、第 2偏向部材 FM 2b及び開口絞り ASbを備えて ヽる。 [0034] ここで、第 2投影光学系 PL2の第 1偏向部材 FMlc及び第 2偏向部材 FM2bは、例 えば第 2レンズ群 G2cから Z軸方向に進行する光を +X軸方向(第 2方向)に移送 した後に—Z軸方向に沿って進行させる第 2光束移送部を構成することができる。ま た、開口絞り AScの位置は投影光学系 PL2の瞳面とみなすことができる。
[0035] 投影光学系 PL1及び投影光学系 PL2は、投影光学系 PL1及び投影光学系 PL2 の視野の中心同士の走査方向(X軸方向)における間隔を Dmとし、投影光学系 PL1 及び第 2投影光学系 PL2による像野の中心同士の走査方向(X軸方向)における間 隔を Dpとし、投影光学系 PL1及び投影光学系 PL2のそれぞれの投影倍率を |8とす るとさ、
Dp = Dm X I β I (但し、 I β I > 1. 8)
を満足するように配置されて 、る。
[0036] そして、本例では、第 1投影光学系 PL1の視野と像野 (投影領域)とを結ぶ線分を 第 1線分 (本例では第 1光束移送部の光軸に相当)と、第 2投影光学系 PL2の視野と 像野 (投影領域)とを結ぶ線分を第 2線分 (本例では第 2光束移送部の光軸に相当) とは Υ方向からみて互いに重畳して ヽな 、。
[0037] 図 3は、この実施の形態に係る走査露光装置で用いられるマスク Mlの構成を示す 図である。図 3に示すようにマスク Mlは、非走査方向(Y軸方向)に沿って配置され た列パターン部 M10〜M16を備えている。ここで列パターン部 M10には、投影光 学系 PL1の視野が位置決めされ、列パターン部 Mi lには、投影光学系 PL2の視野 が位置決めされる。同様に、列パターン部 M12〜M16には、投影光学系 PL3〜PL 7の視野がそれぞ; tl^立置決めされる。
[0038] 図 4は、第 1列として配置されている投影光学系 PL1、 PL3及び第 2列として配置さ れている投影光学系 PL2の視野及び像野の状態を説明するための図である。投影 光学系 PL1は、視野 VI及び像野 II、投影光学系 PL2は、視野 V2及び像野 12、投 影光学系 PL3は、視野 V3及び像野 13をそれぞれ有する。即ち、投影光学系 PL1は 、マスク M 1上における視野 V 1内の拡大像をプレート P 1上の像野 11内に形成する。 同様に、投影光学系 PL2は、マスク Ml上における視野 V2内の拡大像をプレート P1 上の像野 12内に形成し、投影光学系 PL3は、マスク Ml上における視野 V3内の拡 大像をプレート PI上の像野 13内に形成する。
[0039] 投影光学系 PL1の像野 IIと投影光学系 PL2の像野 12、投影光学系 PL2の像野 12 と投影光学系 PL3の像野 13との間には、それぞれ継部が形成される力 プレート P1 上で継部を形成するマスク上のパターンの端部をジグザグに形成する等することによ り、プレート P1上でパターンを連続的に形成することができる。
[0040] この実施の形態では、第 1及び第 2投影光学系 PL1、 PL2の視野の間隔 (第 1列と 第 2列との間隔) Dpと像野 (投影領域)の間隔 (第 3列と第 4列との間隔) Dmとが、第 1及び第 2投影光学系 PL1、 PL2の走査方向に沿った倍率を |8とするときに、 Dp = β X Dmを満足しているため、図 3に示すような走査方向において各列パターン部 M 11〜M 16の端部を揃えて走査方向における大きさを最小化したマスク M 1を用 ヽた としても、プレート P1上でパターンを連続的に形成することができる。
[0041] この実施の形態に係る反射屈折投影光学によれば、屈折力を有する光学部材を備 える、第 1レンズ群、第 2レンズ群及び第 3レンズ群を重力に対してその光軸が平行と なるように配置しているため、露光領域を大きくするために、投影光学系を構成する レンズ、即ち、第 1レンズ群、第 2レンズ群及び第 3レンズ群を構成するレンズを大型 化した場合においても、レンズに光軸に非対称な変形が生じることのない高精度な 反射屈折投影光学系を提供することができる。また、実施の形態に係る反射屈折投 影光学によれば、中間像を形成することがないため、光学的な構成を簡素化すること ができる。
[0042] また、この発明の走査露光装置によれば、レンズに光軸に非対称な変形が生じるこ とのない高精度な反射屈折投影光学系を備えるため、良好な露光を行うことができる 。また、反射屈折投影光学系が拡大倍率を有するため、マスクの大型化を避けること ができ、マスクの製造コストの低減を図ることができる。
[0043] 次に、この発明の第 2の実施の形態にかかる走査露光装置に用いられる照明光学 系及び投影光学系について説明する。なお、この第 2の実施の形態にかかる照明光 学系及び投影光学系は、第 1の実施の形態にかかる照明光学系及び投影光学系の 照明光学系内に、照明視野絞りを配置したものである。その他の点については、第 1 の実施の形態に力かる照明光学系及び投影光学系と同一の構成を有する。したが つて、第 2の実施の形態の説明においては、第 1の実施の形態にかかる照明光学系 及び投影光学系と同一の構成の詳細な説明は省略する。また、この第 2の実施の形 態に力かる照明光学系及び投影光学系の説明においては、第 1の実施の形態にか 力る照明光学系及び投影光学系と同一の構成には第 1の実施の形態で用いたもの と同一の符号を付して説明を行なう。
[0044] 図 5は、第 2の実施の形態に力かる照明光学系及び投影光学系の構成を示す図で ある。なお、図 5においては、照明光学系 IL1, IL2及び投影光学系 PL1, PL2のみ を示している力 照明光学系 IL13〜IL7及び投影光学系 PL3〜PL7も同一の構成 を有する。この実施の形態に係る照明光学系 IL1のコンデンサレンズ l ibの射出側 のマスク Mlと光学的に共役な位置には、台形状又は六角形状の開口部を有する照 明視野絞り 12bが配置されており、照明視野絞り 12bとマスク M 1との間の光路中に は、結像光学系 13bが配置されている。同様に、照明光学系 IL2のコンデンサレンズ 11cの射出側のマスク Mlと光学的に共役な位置には、照明視野絞り 12cが配置さ れており、照明視野絞り 12cとマスク Mlとの間の光路中には、結像光学系 13cが配 置されている。
[0045] 図 6は、照明光学系に六角形状の開口部を有する照明視野絞りが配置された場合 の投影光学系 PL1、PL3及び投影光学系 PL2の視野及び像野の状態を説明する ための図である。投影光学系 PL1は、六角形状の視野 VI及び像野 II、投影光学系 PL2は、六角形状の視野 V2及び像野 12、投影光学系 PL3は、六角形状の視野 V3 及び像野 13をそれぞれ有する。即ち、投影光学系 PL1は、照明視野絞りにより形状 が規定されたマスク M 1上における視野 VI内の拡大像をプレート P 1上の像野 11内 に形成する。同様に、投影光学系 PL2は、照明視野絞りにより形状が規定されたマ スク M 1上における視野 V2内の拡大像をプレート P 1上の像野 12内に形成し、投影光 学系 PL3は、マスク Ml上における視野 V3内の拡大像をプレート P1上の像野 13内 に形成する。
[0046] この実施の形態に係る照明光学系によれば、第 1の実施の形態に係る走査露光装 置のようにマスクパターンによる画面合成を行うことなぐプレート上においてパターン の非走査方向における合成を良好に行うことができる。 [0047] 次に、この発明の第 3の実施の形態にかかる走査露光装置に用いられる照明光学 系及び投影光学系について説明する。なお、この第 3の実施の形態にかかる照明光 学系及び投影光学系は、第 1の実施の形態にかかる照明光学系及び投影光学系の 内、投影光学系の構成を変更したものである。その他の点については、第 1の実施の 形態にかかる照明光学系及び投影光学系と同一の構成を有する。したがって、第 3 の実施の形態の説明においては、第 1の実施の形態に力かる照明光学系及び投影 光学系と同一の構成の詳細な説明は省略する。また、この第 3の実施の形態にかか る照明光学系及び投影光学系の説明においては、第 1の実施の形態に力かる照明 光学系及び投影光学系と同一の構成には第 1の実施の形態で用いたものと同一の 符号を付して説明を行なう。
[0048] 図 7は、第 3の実施の形態に力かる照明光学系及び投影光学系の構成を示す図で ある。なお、図 7においては、照明光学系 IL1, IL2及び投影光学系 PL1, PL2のみ を示している力 照明光学系 IL13〜IL7及び投影光学系 PL3〜PL7も同一の構成 を有する。
[0049] この実施の形態に係る投影光学系 PL1、 PL2は、マスク Mlの中間像を形成する 第 1結像光学系 14b、 14cと、中間像とプレート PIとを光学的に共役にする第 2結像 光学系 16b、 16cとを備える投影光学装置により構成される。ここで、これらの投影光 学系 PL1、 PL2の拡大倍率は、走査方向における拡大倍率が + 1を超え、且つ走査 直交方向における拡大倍率が + 1を超えるように設定されている。つまり、これらの投 影光学系 PL 1、 PL2は第 2面上に第 1面の正立正像を拡大倍率のもとで形成する。
[0050] また、第 1結像光学系 14b、 14cと第 2結像光学系 16b、 16cとの間の光路中の中 間像が形成される位置には、視野絞り 15b、 15cが配置されている。ここで第 2結像 光学系 16b、 16cは、第 1の実施の形態に係る投影光学系 PL1、 PL2と同一の構成 を有する。
[0051] この実施の形態に係る投影光学系によれば、視野絞りの配置を容易に行うことがで き、また、投影光学系の精度で視野絞りをプレート上に投影することができるため、高 精度な投影を行うことができる。
[0052] 次に、この発明の第 4の実施の形態にかかる走査露光装置に用いられる投影光学 系について説明する。なお、この第 4の実施の形態に力かる投影光学系は、第 1の実 施の形態にかかる投影光学系に光学特性調整機構を設けたものである。その他の 点については、第 1の実施の形態に力かる投影光学系と同一の構成を有する。した がって、第 4の実施の形態の説明においては、第 1の実施の形態に力かる投影光学 系と同一の構成の詳細な説明は省略する。また、この第 4の実施の形態に力かる投 影光学系の説明においては、第 1の実施の形態に力かる投影光学系と同一の構成 には第 1の実施の形態で用いたものと同一の符号を付して説明を行なう。
[0053] 図 8は、第 4の実施の形態に力かる投影光学系の構成を示す図である。なお、図 8 においては、投影光学系 PL1, PL2のみを示しているが投影光学系 PL3〜PL7も同 一の構成を有する。投影光学系 PL1, PL2は、マスク Mlと第 1レンズ群 Gib, Glcと の間の光路中にクサビ状のペアガラスにより構成される第 1光学特性調整機構 AD1 b、 ADlcを備えている。この第 1光学特性調整機構 ADlb、 ADlcにおいては、ぺ ァガラスをクサビ角に沿って移動させてガラス厚を変化させることにより、フォーカスや 像面傾斜を調整することができる。このように、本実施形態では反射屈折光学系の縮 小側 (反射屈折光学系の開口絞り位置よりも物体側)の光路に第 1光学特性調整機 構 ADlb、 ADlcを配置しているため、調整機構の移動量に対する光学特性の変化 量を大きくすることができる。すなわち調整機構の効きの感度を良くできる。ひいては 調整機構の移動量範囲 (ストローク)を増やさずに、光学特性の調整範囲を広げるこ とがでさる。
[0054] また、投影光学系 PL1, PL2は、第 2光路偏向面 FM2b、 FM2cの回転機構により 構成される第 2光学特性調整機構 AD2b、 AD2cを備えている。この第 2光学特性調 整機構 AD2b、 AD2cは、第 2光路偏向面 FM2b、 FM2cを備えるプリズムミラーを 回転させることにより像の回転を調整することができる。また、同曲率を有する 3枚の レンズ群により構成される第 3光学特性調整機構 AD3b、 AD3cを備えている。この 第 3光学特性調整機構 AD3b、 AD3cは、 3枚の同曲率で構成されたレンズ群の中 央部のレンズをマスク Mlとプレート P1間の垂直方向(上下方向)に移動させることに より倍率の調整を行うことができる。また、平行平板を備えて構成される第 4光学特性 調整機構 AD4b、 AD4cを備えている。この第 4光学特性調整機構 AD4b、 AD4cは 、平行平板を光軸に対して傾斜させることにより像位置の調整を行うことができる。
[0055] この実施の形態では、凹面反射鏡 CCMb、 CCMcと第 2面との間の光路中、言い 換えると瞳面と第 2面との間の光路中に光学特性調整機構 AD2b、 AD2c、 AD3b、 AD3cを配置して 、る。この光路は投影光学系での拡大倍率側の光路であるため、 これらの光学特性調整機構を配置する空間を確保しやすい利点がある。
[0056] なお、上述の第 2の実施の形態においては、 6角形状の開口部を有する照明視野 絞りを照明光学系内に配置したが、これに代えて円弧形状を有する照明視野絞りを 照明光学系内に配置するようにしても良い。図 9は、照明光学系に円弧形状の開口 部を有する照明視野絞りが配置された場合の投影光学系 PL1、PL3及び投影光学 系 PL2の視野及び像野の状態を説明するための図である。投影光学系 PL1は、円 弧形状の視野 VI及び像野 II、投影光学系 PL2は、円弧形状の視野 V2及び像野 12 、投影光学系 PL3は、円弧形状の視野 V3及び像野 13をそれぞれ有する。即ち、投 影光学系 PL1は、照明視野絞りにより形状が規定されたマスク Ml上における円弧 形状の視野 VI内の拡大像をプレート P1上の円弧形状の像野 II内に形成する。同 様に、投影光学系 PL2は、照明視野絞りにより形状が規定されたマスク Ml上におけ る円弧形状の視野 V2内の拡大像をプレート P 1上の円弧形状の像野 12内に形成し、 投影光学系 PL3は、マスク Ml上における円弧形状の視野 V3内の拡大像をプレート P 1上の円弧形状の像野 13内に形成する。
[0057] また、上述の第 3の実施の形態においては、第 2結像光学系 16b、 16cが第 1の実 施の形態に係る投影光学系 PL1、 PL2と同一の構成を有しているが、第 1結像光学 系 14b、 14c、または第 1結像光学系 14b、 14c及び第 2結像光学系 16b、 16cが第 1 の実施の形態に係る投影光学系 PL1、PL2と同一の構成を有するようにしても良い。
[0058] また、上述の実施形態において、投影光学系が形成する像野の形状を、たとえば 台形状としても良い。像野を台形状とする場合には、台形の下辺(台形において互い に平行な 2辺のうち長い方の辺)を光軸側に向ける配置とすることが好ましい。
[0059] また、上述の実施形態では、光源として放電ランプを備え、必要となる g線 (436nm )の光、 h線 (405nm)、及び i線(365nm)の光を選択するようにしていた。しかしなが ら、これに限らず、紫外 LEDからの光、 KrFエキシマレーザ(248nm)や ArFエキシ マレーザ(193nm)からのレーザ光、固体レーザの高調波、固体光源としての紫外半 導体レーザ力 のレーザ光を用いる場合であっても本発明を適用することが可能で ある。
[0060] また、この実施の形態にかかる走査露光装置では、プレート (ガラス基板)上に所定 のパターン(回路パターン、電極パターン等)を形成することによって、マイクロデバイ スとしての液晶表示素子を得ることもできる。以下、図 10のフローチャートを参照して 、このときの手法の一例につき説明する。図 10において、パターン形成工程 401で は、この実施の形態に力かる走査露光装置を用いてマスクのパターンを感光基板に 転写露光する、所謂光リソグラフイエ程が実行される。この光リソグラフイエ程によって 、感光基板上には多数の電極等を含む所定パターンが形成される。その後、露光さ れた基板は、現像工程、エッチング工程、レジスト剥離工程等の各工程を経ること〖こ よって、基板上に所定のパターンが形成され、次のカラーフィルタ形成工程 402へ移 行する。
[0061] 次に、カラーフィルタ形成工程 402では、 R (Red)、 G (Green)、 B (Blue)に対応した 3つのドットの組がマトリックス状に多数配列されたり、または R、 G、 Bの 3本のストライ プのフィルタの組を複数水平走査線方向に配列されたりしたカラーフィルタを形成す る。そして、カラーフィルタ形成工程 402の後に、セル組み立て工程 403が実行され る。セル組み立て工程 403では、パターン形成工程 401にて得られた所定パターン を有する基板、およびカラーフィルタ形成工程 402にて得られたカラーフィルタ等を 用いて液晶パネル (液晶セル)を組み立てる。セル組み立て工程 403では、例えば、 ノ ターン形成工程 401にて得られた所定パターンを有する基板とカラーフィルタ形成 工程 402にて得られたカラーフィルタとの間に液晶を注入して、液晶パネル (液晶セ ル)を製造する。
[0062] その後、モジュール組み立て工程 404にて、組み立てられた液晶パネル(液晶セル )の表示動作を行わせる電気回路、バックライト等の各部品を取り付けて液晶表示素 子として完成させる。上述の液晶表示素子の製造方法によれば、この実施の形態に 力かる走査露光装置を用いるため、低コストで液晶表示素子の製造を行うことができ る。 [0063] この発明の反射屈折投影光学系及び反射屈折光学装置によれば、屈折力を有す る光学部材を備える、第 1レンズ群、第 2レンズ群及び第 3レンズ群を重力に対してそ の光軸が平行となるように配置しているため、露光領域を大きくする等のために投影 光学系を構成するレンズ、即ち、第 1レンズ群、第 2レンズ群及び第 3レンズ群を構成 するレンズを大型化した場合においても、レンズに光軸に非対称な変形が生じること のない高精度な反射屈折投影光学系及び反射屈折光学装置を提供することができ 、ひいては良好なるパターン転写を行うことができる。
[0064] また、この発明の走査露光装置によれば、複数の投影光学系による複数の視野か らの光束を光束移相部材によって第 1方向に沿って逆方向に移送して複数の投影 領域へ導くことができ、このときの第 1方向に沿った視野間隔と投影領域間隔とを適 切に設定できる。従って、異なる列の投影光学系を用いてもプレート上に良好にバタ ーンを転写することができる。
[0065] また、この発明の走査露光装置によれば、レンズに光軸に非対称な変形が生じるこ とのない高精度な反射屈折投影光学系及び反射屈折光学装置を備えるため、良好 な露光を行うことができる。また、反射屈折投影光学系及び反射屈折光学装置が拡 大倍率を有するため、マスクの大型化を避けることができ、マスクの製造コストの低減 を図ることができる。
[0066] また、この発明のマイクロデバイスの製造方法によれば、マスクの大型化を避けつ つ大型の基板を用いてマイクロデバイスの製造を行うことができるため、低コストでマ イク口デバイスの製造を行うことができる。 実施例
[0067] 以下に実施例 1及び実施例 2について説明する。表 1、表 2に、実施例 実施例 2 にかかる反射屈折光学系 PL10、 PL20の光学部材諸元を示す。表 1、表 2の光学部 材諸元においては、第 1カラムの面番号は物体側力 の光線進行方向に沿った面の 順序、第 2カラムは各面の曲率半径 (mm)、第 3カラムの面間隔は光軸上の面間隔( mm)、第 4カラムは、光学部材の硝材の g線に対する屈折率、第 5カラムは光学部材 の硝材の h線に対する屈折率、第 6カラムは光学部材の硝材の i線に対する屈折率を それぞれ示している。 [0068] (実施例 1)
図 11に示すように、反射屈折光学系 PL10は、凹面反射鏡 CCM、第 1レンズ群 G1 、第 2レンズ群 G2、第 3レンズ群 G3、第 1偏向部材 FM1及び第 2偏向部材 FM2を 備えている。
[0069] ここで第 1レンズ群 G1は、マスク Mに凹面を向けた正メ-スカスレンズ L10、マスク Mに凹面を向けた負メ-スカスレンズ Ll l、マスク Mに凹面を向けた負メニスカスレン ズ L12により構成されている。第 2レンズ群 G2は、両凸レンズ L13、マスク Mに凹面 を向けた負メ-スカスレンズ L14、両凹レンズ L15、マスク Mに凹面を向けた正メ-ス カスレンズ L16により構成されている。第 3レンズ群 G3、プレート Pに凹面を向けた負 メニスカスレンズ L17、プレート Pに凹面を向けた正メニスカスレンズ L18、両凸レンズ L19により構成されている。
[0070] 実施例 1にかかる反射屈折光学系 PL10の諸元の値を示す。
[0071] (諸元)
投影倍率: 2. 4倍
像側 NA: 0. 05625
物体側 NA: 0. 135
像野: 228mm
視野: φ 95mm
条件式の対応値: f3Zfl = 1430Z600 = 2. 38
(表 1)
(光学部材諸元)
[表 1] men
8677 1279 8677 8677 7456 7456 8677 8677 7456 7456 8677 1279 1279 8677
Figure imgf000021_0001
[0072] 図 12及び図 13に反射屈折光学系 PL10の収差図を示す。ここで図 12 (a)は球面 収差、(b)は像面湾曲、(c)は、歪曲収差、(d)は倍率色収差を示し、図 13は光線収 差を示している。これら図に示すように、反射屈折光学系 PL20においては、良好に 収差が補正されている。
[0073] (実施例 2)
図 14に示すように、反射屈折光学系 PL20は、凹面反射鏡 CCM、第 1レンズ群 G1 、第 2レンズ群 G2、第 3レンズ群 G3、第 1偏向部材 FM1及び第 2偏向部材 FM2を 備えている。
[0074] ここで第 1レンズ群 G1は、マスク Mに凹面を向けた正メ-スカスレンズ L20、マスク Mに凹面を向けた負メ-スカスレンズ L21、マスク Mに凹面を向けた負メニスカスレン ズ L22により構成されている。第 2レンズ群 G2は、両凸レンズ L23、マスク Mに凹面 を向けた負メ-スカスレンズ L24、両凹レンズ L25、マスク Mに凹面を向けた正メ-ス カスレンズ L26により構成されている。第 3レンズ群 G3は、プレート Pに凹面を向けた 負メ-スカスレンズ L27、プレート Pに凹面を向けた負メ-スカスレンズ L28、両凸レン ズ L29により構成されている。
[0075] 実施例 2にかかる反射屈折光学系 PL20の諸元の値を示す。
[0076] (諸元)
投影倍率: 2. 0倍
像側 NA: 0. 069
物体側 NA: 0. 138
像野: φ 240mm
視野: φ 120mm
条件式の対応値: f3Zfl = 132lZ642 = 2. 06
(表 2)
(光学部材諸元)
[表 2]
men l(g) n(h) n(i)
0) 33.20 1
1 ) -4051.57 21.75 1.48032 1.48273 1.48677 2) -175.17 2.28 1 I
3) -174.54 29.84 1.59415 1.60086 1.61279 4) -240.70 4.50 1
5) -191.97 55.18 1 .48032 1.48273 1.48677
1.48273 1.48677
1.46964 1.47456
1.46964 1.47456
1.48273 1.48677
-1.48273 -1.48677
-1.46964 -1.47456
-1.46964 -1.47456
Figure imgf000023_0001
22) -551.98 -35.13 .48032 -1.48273 -1.48677 23) 417.42 -270.00 -1
24) 290.00 1 I
25) -204.04 -1
26) -854.96 -30.05 .59415 -1.60086 -1.61279 27) -535.59 -82.36 _1
I
28) -332.43 -70.04 .59415 -1.60086 -1.61279 29) -321.50 -18.77 I
30) -440.56 -36.04 .48032 -1.48273 -1.48677 31 ) 8692.01 -85.64
[0077] 図 15及び図 16に反射屈折光学系 PL20収差図を示す。ここで図 15 (a)は球面収 差、(b)は像面湾曲、(c)は、歪曲収差、(d)は倍率色収差を示し、図 16は光線収差 を示している。これら図に示すように、反射屈折光学系 PL20においては、良好に収 差が補正されている。
[0078] なお、以上説明した実施の形態は、本発明の理解を容易にするために記載された ものであって、本発明を限定するために記載されたものではない。従って、実施の形 態に開示された各要素は、本発明の技術的範囲に属する全ての設計変更や、均等 物も含む趣旨である。
[0079] また、本開示は、 2006年 3月 20日に提出された日本国特許出願 2006— 76011 号、及び 2007年 1月 16日に提出された日本国特許出願 2007— 6655号に含まれ た主題に関連し、その開示の全てはここに参照事項として明白に組み込まれる。 産業上の利用可能性
本発明は、マスク、レチクル等の像を基板等上に投影する反射屈折投影光学系及 び反射屈折光学装置、第 1の物体の像を第 2の物体上に投影露光する走査露光装 置、該走査露光装置を用いたマイクロデバイスの製造方法に好適に用いることが出 来る。

Claims

請求の範囲
[1] 第 1面に配置される第 1物体の像を第 2面に配置される第 2物体上に投影しつつ前 記第 1物体の像と前記第 2物体との位置関係を走査方向に関して変化させつつ前記 第 1物体のパターンを前記第 2物体上に転写露光する走査露光装置において、 前記第 1面上で第 1視野を有し、該第 1視野からの光に基づいて第 2面上の第 1投 影領域に前記第 1物体の一部の拡大像を投影する第 1投影光学系と、
前記第 1面上で第 2視野を有し、該第 2視野からの光に基づいて第 2面上の第 2投 影領域に前記第 1物体の一部の拡大像を投影する第 2投影光学系と、
を備え、
前記第 1投影光学系は、前記第 1視野からの光を、前記第 1面と前記第 2面とを結 ぶ軸線方向と交差する第 1方向に沿って移送して、前記軸線方向から見て前記第 1 視野の前記第 1方向側に位置する前記第 1投影領域へ導く第 1光束移送部を備え、 前記第 2投影光学系は、前記第 2視野からの光を前記第 1方向とは逆向きの第 2方 向に沿って移送して、前記軸線方向から見て前記第 2視野の前記第 2方向側に位置 する前記第 2投影領域へ導く第 2光束移送部を備え、
前記第 1視野と前記第 2視野との前記第 1面上での前記走査方向に沿った間隔で ある第 1間隔を Dmとし、前記第 1投影領域と前記第 2投影領域との前記第 2面上で の前記走査方向に沿った間隔である第 2間隔を Dpとし、前記第 1および第 2投影光 学系の倍率を j8とするとき、
Dp= β X Dm
を満足することを特徴とする走査露光装置。
[2] 前記第 1投影光学系の前記第 1方向における拡大倍率及び前記第 2投影光学系 の前記第 2方向における拡大倍率は + 1を超えることを特徴とする請求項 1に記載の 走査露光装置。
[3] 前記第 1方向と直交する第 3方向における前記第 1投影光学系の拡大倍率及び前 記第 2方向と直交する第 4方向における前記第 2投影光学系の拡大倍率は 1を下 回ることを特徴とする請求項 1に記載の走査露光装置。
[4] 前記第 1方向に沿って前記第 1視野領域と前記第 1投影領域とを結ぶ第 1線分と、 前記第 2方向に沿って前記第 2視野領域と前記第 2投影領域とを結ぶ第 2線分とは、 前記走査方向と直交する方向からみて互!ヽに重畳して!/ヽな!ヽことを特徴とする請求 項 1乃至請求項 3の何れか一項記載の走査露光装置。
[5] 前記第 1光束移送部と前記第 2光束移送部とは、それぞれの光束移送部に入射す る光の進行方向と、それぞれの光束移送部力 射出する光の進行方向とを互いに平 行にすることを特徴とする請求項 1乃至請求項 4の何れか一項記載の走査露光装置
[6] 前記第 1光束移送部と前記第 2光束移送部とは、それぞれ複数の反射面を備えて いることを特徴とする請求項 1乃至請求項 5の何れか一項記載の走査露光装置。
[7] 第 1物体の像を第 2物体上に投影しつつ前記第 1物体の像と前記第 2物体との位 置関係を走査方向に関して変化させつつ前記第 1物体のパターンを前記第 2物体上 に転写露光する走査露光装置にぉ 、て、
前記走査方向を横切る方向である非走査方向に沿った第 1列上に視野をそれぞれ 有する複数の投影光学系を備えた第 1列投影光学系と、
前記非走査方向に沿った列であって前記第 1列とは異なる第 2列上に視野をそれ ぞれ有する複数の投影光学系を備えた第 2列投影光学系と、
を備え、
前記第 1列投影光学系は、前記第 1列投影光学系の前記複数の視野と共役な複 数の投影領域を前記第 2面上の第 3列上に形成し、
前記第 2列投影光学系は、前記第 2列投影光学系の前記複数の視野と共役な複 数の投影領域を前記第 2面上の第 4列上に形成し、
前記第 1列と前記第 2列との前記第 1面上での前記走査方向に沿った間隔である 第 1間隔を Dmとし、前記第 3列と前記第 4列との前記第 2面上での前記走査方向に 沿った間隔である第 2間隔を Dpとし、前記第 1および第 2投影光学系の倍率を j8とす るとさ、
Dp= β X Dm
を満足することを特徴とする走査露光装置。
[8] 前記第 1方向は前記走査方向とほぼ平行であることを特徴とする請求項 1乃至請求 項 7の何れか一項に記載の走査露光装置。
[9] 第 1面上に配置される第 1物体の像を第 2面上に配置される第 2物体上に拡大の投 影倍率で形成する反射屈折投影光学系にお 、て、
前記第 1面と前記第 2面との間の光路中に配置される凹面反射鏡と、
前記第 1面と前記凹面反射鏡との間の光路中に配置される第 1レンズ群と、 前記第 1レンズ群と前記凹面反射鏡との間の光路中に配置される第 2レンズ群と、 前記第 2レンズ群と前記第 2面との間の光路中に配置されて、前記第 1レンズ群の 光軸を横切るように光を偏向する第 1偏向部材と、
前記第 1偏向部材と前記第 2面との間の光路中に配置される第 2偏向部材と、 前記第 2偏向部材と前記第 2面との間の光路中に配置されて、前記第 1レンズ群の 光軸と略平行な光軸を有する第 3レンズ群と、
を備えることを特徴とする反射屈折投影光学系。
[10] 前記第 1面と前記凹面反射鏡の距離よりも前記第 1面と前記第 2面の距離のほうが 大きいことを特徴とする請求項 9記載の反射屈折投影光学系。
[11] 前記第 1レンズ群、前記第 2レンズ群及び前記第 3レンズ群を構成する屈折力を有 する光学部材は、その光軸が重力方向に対して平行になるように配置されて 、ること を特徴とする請求項 9または請求項 10記載の反射屈折投影光学系。
[12] 前記凹面反射鏡と前記第 2レンズ群との間の光路中に配置されて、前記反射屈折 投影光学系の前記第 2面側開口数を決定するための開口絞りをさらに備え、 該開口絞りは、前記第 1面側及び前記第 2面側が略テレセントリックとなるように位 置決めされていることを特徴とする請求項 9乃至請求項 1 1の何れか一項に記載の反 射屈折投影光学系。
[13] 前記第 1レンズ群の焦点距離を fl、前記第 3レンズ群の焦点距離を f3とし、前記投 影光学系の倍率を ISとするとき、
0. 8 X I j8 I ≤f3/fl≤l . 25 X I j8 I
I β I ≥i . 8
を満足することを特徴とする請求項 9乃至請求項 12の何れか一項に記載の反射屈 折投影光学系。
[14] 前記反射屈折投影光学系は、光学特性調整機構を含むことを特徴とする請求項 9 乃至請求項 13の何れか一項に記載の反射屈折投影光学系。
[15] 前記光学特性調整機構は、前記凹面反射鏡と前記第 2面との間の光路中に配置さ れることを特徴とする請求項 14記載の反射屈折投影光学系。
[16] 前記反射屈折投影光学系は、前記第 2面上に前記第 1物体の一次像を形成するこ とを特徴とする請求項 9乃至請求項 15の何れか一項に記載の反射屈折投影光学系
[17] 第 1面上に配置される第 1物体の像を第 2面上に配置される第 2物体上に拡大の投 影倍率で形成する反射屈折投影光学系にお 、て、
前記第 1面と前記第 2面との間の光路中に配置される凹面反射鏡と、
前記第 1面と前記第 2面との間の光路中に配置される複数のレンズと、 前記反射屈折投影光学系の瞳位置と前記第 2面との間に配置される光学特性調 整機構と、
を備えることを特徴とする反射屈折投影光学系。
[18] 前記第 1面の中間像を形成する第 1結像光学系と、前記中間像と前記第 2面とを光 学的に共役にする第 2結像光学系とを備える反射屈折光学装置であって、
前記第 1結像光学系と前記第 2結像光学系との少なくとも一方は、請求項 9乃至請 求項 17の何れか一項に記載の反射屈折投影光学系により構成されていることを特 徴とする反射屈折光学装置。
[19] 第 1面に配置される第 1物体の像を第 2面に配置される第 2物体上に投影する投影 装置と前記第 1物体及び前記第 2物体との位置関係を走査方向に関して変化させつ つ前記第 1物体のパターンを前記第 2物体上に転写露光する走査露光装置におい て、
前記投影装置は、前記走査方向に関して第 1の位置に位置決めされた第 1投影光 学装置と、前記走査方向に関して前記第 1の位置とは異なる第 2の位置に位置決め された第 2投影光学装置とを備え、
前記第 1及び第 2投影光学装置は、請求項 9乃至請求項 17の何れか一項に記載 の反射屈折投影光学系又は請求項 18に記載の反射屈折光学装置を備えることを特 徴とする走査露光装置。
[20] 前記第 1及び第 2投影光学装置は、前記第 1及び第 2投影光学装置の前記第 1物 体側の間隔よりも前記第 2物体側の間隔が大きくなるように配置されていることを特徴 とする請求項 19記載の走査露光装置。
[21] 前記第 2物体は、外径が 500mmよりも大きい感光基板であることを特徴とする請求 項 1乃至請求項 8、請求項 19及び請求項 20の何れか一項記載の走査露光装置。
[22] 請求項 1乃至請求項 8、請求項 19及び請求項 20の何れか一項に記載の走査露光 装置を用いてマスクのパターンを感光基板上に露光する露光工程と、
前記露光工程により露光された前記感光基板を現像する現像工程と、 を含むことを特徴とするマイクロデバイスの製造方法。
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