WO2007097396A1 - 高融点金属からなる焼結体スパッタリングターゲット - Google Patents

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Ryo Suzuki
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Nippon Mining & Metals Co., Ltd.
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Definitions

  • the present invention relates to a sintered sputtering target including two or more refractory metals, and in particular, improves the target structure to prevent metal particles other than the main components forming a matrix from falling off and to perform arcing during sputtering.
  • the present invention relates to a sintered sputtering target having a high melting point metal force that can improve the quality of film formation by reducing the generation of particles.
  • Ruthenium (Ru), rhodium (Rh) or iridium (Ir), which are refractory metals, are excellent in thermal stability, and are excellent in low resistance and nori characteristics. In particular, it is attracting attention as a gate electrode material and various diffusion barrier materials.
  • Ruthenium (Ru), rhodium (Rh), iridium (Ir), etc. may be used as a single thin film or a target material for forming the thin film, respectively. There is a problem with evil.
  • a well-known sputtering method As a means for forming a thin film, a well-known sputtering method is generally used. As the sputtering method, a high frequency (RF) sputtering apparatus is usually used. In sputtering, it is indispensable to manufacture an alloy target having the above composition. In order to improve the quality of film formation, it is very important to improve the quality of the target.
  • a target is manufactured by adding a refractory metal to ruthenium (Ru), rhodium (Rh), or iridium (Ir), which are the refractory metals, it may be possible to manufacture using a melting one plastic processing method. Since ruthenium, rhodium and iridium are fragile materials with high melting points, the melting equipment becomes very expensive, and plastic processing also requires special techniques, resulting in high manufacturing costs.
  • the content of the alloying element as a secondary component is small in ruthenium (Ru), rhodium (Rh) or iridium (Ir), which are high melting point metals, there is no significant problem.
  • the metal as a secondary component is present in the form of dots (islands) in the microstructure (matrix component) in which the metal is the main component. This is because the particles fall off and cause particles.
  • gas components or other impurities present in the target are likely to gather at the interface of the structure, and the presence of such impurities also causes arcing during spattering.
  • the problem is that the strength is weakened and the quality of the film is lowered.
  • Molybdenum tungsten target consisting mainly of molybdenum and tungsten, sintered with molybdenum and tungsten particles with a diffusion bonding distance of 1.0 ⁇ m or less, and with a bending strength of 750 MPa or more (see Patent Document 1).
  • a structure consisting of a titanium-tungsten alloy phase, tungsten phase, and titanium phase that has been sintered under pressure at 1500-1700 ° C and mixed with a mixture of tungsten powder and titanium powder and has an area ratio of 20% or more in the target cross section.
  • a method for producing a tungsten-titanium target material for preventing particle generation to obtain a sintered body having an average crystal grain size of 50 m or less see Patent Document 2.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Laid-Open No. 11-36067
  • Patent Document 2 JP-A-5-156384
  • Patent Document 3 Japanese Patent Laid-Open No. 2000-355761
  • the present invention relates to a sintered sputtering target containing two or more refractory metals, and in particular, drops of metal particles other than the main components that improve the target structure and form a matrix.
  • a sintered sputtering target containing two or more refractory metals, and in particular, drops of metal particles other than the main components that improve the target structure and form a matrix.
  • impurities reduce impurities such as gas components, improve density, reduce the generation of arcing particles at the time of notching, improve film formation quality, and improve target processability
  • the present invention provides at least one main component selected from Ru, Rh or Ir and one or more powers selected from W, Ta or Hf.
  • at least one main component selected from Ru, Rh or Ir and one or more powers selected from W, Ta or Hf.
  • the secondary component of the above it is possible to prevent the particles from falling off, reduce the amount of impurities such as gas components, and improve the density. It was found that an alloy target for sputtering mainly composed of ruthenium, rhodium and iridium can be obtained.
  • the present invention is based on this finding,
  • the sintered sputtering target having a high melting point metal force of the present invention also has at least one main component force selected from Ru, Rh or Ir. These refractory metals may be single, composite, or misaligned, but they should be 50 at% or more in total as the main component.
  • refractory metals have excellent thermal stability, low resistance, and excellent barrier properties. Therefore, it is useful as a film forming material for semiconductor elements, particularly as a gate electrode material and various diffusion barrier materials. It is desirable that the metal structure of Ru, Rh or Ir force as the matrix has a substantially uniform average particle diameter of about 10 to 30 / ⁇ ⁇ . This is not the main (essential) constituent requirement of the present invention, but is more preferable because it has the effect of further reducing the generation of arcing particles during sputtering and improves the uniformity of the sputtered film structure.
  • W, Ta or Hf which is a minor component, is added at 5 at% or more and less than 50 at%.
  • the amount added can be arbitrarily selected according to the purpose of use.
  • These subcomponents have effects such as improving the plating wettability of a thin film made of a refractory metal which is the main component of Ru, Rh or Ir.
  • the reason why the amount of the sub-component is 5 at% or more is that if it is less than this amount, there is no effect of the additive.
  • the maximum addition amount of subcomponents should be less than 50at% as a subcomponent.
  • the problem is the presence of these subcomponents in the target.
  • the metal phase (including the alloy phase or the compound phase) as these accessory components exists as a granular material in the metal structure as the matrix.
  • a granular material means a single, combined or combined shape of a piece, a sphere, a string, or other shape, and it is understood that the shape is particularly limited to 3 ⁇ 4V. It should be.
  • the granular materials as these subcomponents are composed of a granular subcomponent metal phase having an average particle diameter of 100 m to 500 m, or an alloy phase or a compound phase of the main component and the subcomponent. These are scattered in the form of particles in the metal structure consisting of the main components.
  • the use of the expression “spotted” here means that they are almost independent and exist on average in the matrix.
  • These refractory metals which are subcomponents, receive heat during sintering and form an alloy phase or a compound phase with the refractory metal, which is a main component in the surroundings.
  • these alloy phases or compound phases act to strengthen the bond between the particles as subcomponents and the refractory metal of the surrounding matrix. Therefore, the presence of this alloy phase or compound phase is useful for preventing exfoliation of secondary component particles.
  • a main component and an auxiliary component alloy phase or compound phase having an average width of 5 m to 50 m around the granular subcomponent metal phase More preferably, a particulate subcomponent metal phase is provided with a main component having a mean width of 5 m to 100 m and a subcomponent alloy phase or compound phase, more preferably a granular subcomponent metal phase. It is desirable to have an alloy phase or a compound phase of a main component and a subcomponent with an average width of up to 200 ⁇ m around. On the other hand, the alloy phase or the compound phase is inherently hard, and if it is present in a large amount, the workability may decrease. Therefore, the upper limit of the force due to the joining of refractory metal yarns should be about 200 m or less. It can be said that it is desirable.
  • the present invention provides a sintered sputtering target having the above-mentioned refractory metal strength, wherein the oxygen content, which is an impurity of the gas component, is 300 wtppm or less and the carbon content is 100 wtppm or less.
  • a sintered compact sputtering target having the above-mentioned refractory metal strength is provided in which the total amount of impurities other than gas components is 100 wtppm or less.
  • the reduction of gas components and impurities are not the main (essential) requirements of the present invention, they have the effect of further reducing the generation of arcing particles during sputtering and improve the uniformity of the notch film structure. . Therefore, it is a preferable mode to reduce the gas component and other impurities at the same time.
  • the sintered sputtering target having a high melting point metal force according to the present invention has a relative density force of 3 ⁇ 48% or more and no voids of 100 ⁇ m or more.
  • the presence of voids is directly related to the density.
  • the density is improved to prevent cracking of the target and to further reduce particles. . This is also the main (essential) of the present invention.
  • the variation of the alloy composition per target area lcm 3 is ⁇ 10% or less. Since it is a sintered body made of two or more refractory metals according to the present invention, it is difficult to obtain a target material in a completely solid solution state. It is desirable that the variation of the alloy composition is ⁇ 10% or less. This is also not the main (essential) component requirement of the present invention!
  • the sintered sputtering target having a high melting point metal force of the present invention improves the target structure to prevent the metal particles other than the main components forming the matrix from falling off, and to prevent impurities such as gas components. This has the excellent effect that the quality of the film can be improved by improving the density, reducing the generation of arcing particles during sputtering, and improving the workability of the target.
  • the refractory alloy sputtering target having a ruthenium (Ru) alloy, rhodium (Rh) alloy, and iridium (Ir) alloy power of the present invention includes one or more of ruthenium powder, rhodium powder, or iridium powder, and tungsten (W ), Tantalum (Ta) or hafnium (Hf), which is a mixture of one or more subcomponents with a total amount of metal powder of less than 50 at%, and sintering this mixed powder to obtain a high melting point metal force. It is a body target.
  • Films obtained by sputtering these targets are useful as film forming materials for semiconductor elements, particularly as gate electrode materials and various diffusion barrier materials.
  • the present invention can be applied to materials other than these uses, not limited to these uses, and is included in the present invention.
  • the grain size of the sintered powder is reflected in the sintered structure, it is necessary to adjust the grain size at the raw material powder stage. If excessively fine, it absorbs oxygen and lowers oxygen From this point of view, it can be said that it is desirable to avoid using excessively fine powder.
  • the size of the raw material powder affects the refinement of the secondary component phase in the sintered structure, that is, if a large amount of fine particles are present on the target, it causes a partition.
  • the size of the sintering raw material that affects the structure of the target after sintering must be limited to a certain level.
  • ruthenium powder for example, commercially available 4N grade (99.99% purity) ruthenium powder, rhodium powder or iridium powder (respectively low oxygen products) ) Is introduced into an ultra-high vacuum chamber and the ruthenium powder is heated using high power infrared lamp heating or microwave heating to remove oxygen.
  • the temperature of the powder body is about 1100-1300 ° C. This is because oxygen dissociation does not occur sufficiently if the temperature is not higher than 1100 ° C.
  • This heating is because the ruthenium powder, rhodium powder or iridium powder is bonded and the sintering property is not lowered, and lamp heating or microwave heating is performed so that the powder body can be cooled to room temperature quickly. It is to make it. After confirming that sufficient oxygen has been released with an oxygen monitor connected to the chamber, stop heating and cool rapidly.
  • argon gas is introduced, the ruthenium powder, rhodium powder or iridium powder is sealed in a container, and 4N grade (99.99 wt% purity) tungsten powder, tantalum powder or hafnium powder is mixed.
  • This tungsten powder, tantalum powder or hafnium powder is obtained by pulverizing the EB ingot of each metal by repeated hydrogenation and dehydrogenation.
  • This mixed powder is again deoxidized at 1100 ° C., hot-pressed in vacuum at a temperature of 1300-1800 ° C., and further subjected to hot isostatic pressing to produce a sintered body. This is further processed into a target shape (machining, etc.).
  • the ruthenium alloy, rhodium alloy or iridium alloy sintered sputtering target thus obtained has a target purity excluding gas components of 99.99 wt% or more.
  • Granular secondary component metal with an average particle size of 100 ⁇ m to 500 ⁇ m in the metal structure
  • the interstitial phase or the alloy phase or the compound phase of the main component and subcomponent can be scattered by selecting the particle size of the powder and adjusting and selecting the sintering conditions (temperature, pressure).
  • the gas component can be achieved by adopting a process that can be removed under conditions where oxygen and carbon are not mixed.
  • ruthenium powder low oxygen product
  • 4N grade ruthenium powder (low oxygen product) was introduced into an ultra-high vacuum chamber, and oxygen was removed from the ruthenium powder by heating with a high-power infrared lamp.
  • the raw material Ru powder has an oxygen concentration of 1200 ppm and a particle size of 1.5 ⁇ m.
  • the temperature of the powder body was about 1200 ° C. After confirming that oxygen was released sufficiently with an oxygen monitor connected to the chamber, the heating was stopped, rapidly cooled, and cooled to room temperature.
  • EB electron beam melting ingot repeatedly by hydrogenation and dehydrogenation
  • Tungsten powder, tantalum powder, and hafnium powder were mixed with ruthenium powder with the addition amount changed to 5 at%, 15 at%, and 30 at%, respectively.
  • the oxygen concentration of the tungsten raw material powder is 20 ppm
  • the oxygen concentration of the tantalum raw material powder is 80 ppm
  • the oxygen concentration of the hafnium raw material powder is 130 ppm.
  • FIG. 1 is a view showing the structure of a refractory metal target of Example 12 shown below.
  • the target density was in the range of 98 wt% or more, and the oxygen amount was in the range of 40 to 220 wtppm.
  • Example 1 1 (indicated in the table as “Actual 1 1”, the same shall apply hereinafter), the W metal phase composed of granular subcomponents is 147 m in size, and around the subcomponent metal phase. An alloy phase with an average thickness of 60 ⁇ m (alloy phase of main component and subcomponent) or compound phase is formed! I was ashamed.
  • Example 1-2 the W metal phase, which also has a granular subcomponent force, has a size of 133 m, and an alloy phase (main component) having an average thickness of 52 ⁇ m is around the subcomponent metal phase. And an alloy phase of a secondary component) or a compound phase was formed.
  • the W metal phase which also has a granular subcomponent force, has a size of 139 m, and around the subcomponent metal phase is an alloy phase (main component and subcomponents) with an average thickness of 56 m.
  • An alloy phase) or a compound phase is formed.
  • Example 2-1 the Ta metal phase also having a granular subcomponent force has a size of 124 m, and the subcomponent Ta metal phase is surrounded by an alloy phase (main component 48 m in average thickness). Alloy phase) and subcomponents) or compound phases were formed. As a result, processability is excellent, the occurrence of further particle generation of arcing Nag is 4 X 10- 3 Ke / cm 2, obtained excellent Ru-5at% Ta capacitor one target.
  • Example 2-2 the Ta metal phase, which also has a granular subcomponent force, has a size of 131 ⁇ m, and around the subcomponent Ta metal phase, an alloy phase having an average thickness of 39 m (the main component and the subcomponent force). An alloy phase with the component) or a compound phase was formed. As a result, workability is good, occurrence of further particle generation of arcing Nag is 9 X 10- 3 Ke / cm 2, obtained excellent Ru- 15 at% Ta capacitor one target.
  • the Ta metal phase which also has a granular subcomponent force, has a size of 118 m, and the subcomponent Ta metal phase has an alloy phase (main component and subcomponents) with an average thickness of 30 m. Alloy phase) or a compound phase.
  • workability was good, arcing was not generated, and particles were generated at 4 ⁇ 10 3 / cm 2 , and a good Ru-30at% Ta target was obtained.
  • the Hf metal phase which also has a granular subcomponent force, has a size of 185 m, and the subcomponent Hf metal phase is surrounded by an alloy phase (main component 9 m in average thickness). Alloy phase) and subcomponents) or compound phases were formed. As a result, the processability was good, arcing was not generated, and particles were generated at 10 ⁇ 10 3 / cm 2 , and an excellent Ru-5at% Hf target was obtained.
  • the Hf metal phase which is the granular subcomponent force, has a size of 192 m, and the subcomponent Hf metal phase is surrounded by an alloy phase (main component and subcomponent) having an average thickness of 10 m. Alloy phase) or a compound phase.
  • alloy phase main component and subcomponent
  • Alloy phase main component and subcomponent
  • a compound phase main component and subcomponent
  • workability is good
  • occurrence of further particle generation of arcing Nag is 13 X 10- 3 Ke / cm 2, obtained excellent Ru- 15 at% Hf data one target.
  • the Hf metal phase which is a granular subcomponent force, has a size of 210 m, and around the subcomponent Hf metal phase, an alloy phase with an average thickness of 11 m (main component and subcomponent) Alloy phase) or a compound phase.
  • the processability is good and the arcing Generation generation of further particles Nag is 14 X 10- 3 Ke / cm 2, good Ru-30at% Hf data one target was obtained.
  • a mixed powder was produced in the same manner as in Example 1-3. However, tungsten powder, tantalum As the powder and hafnium powder, powder classified to 200 mesh or less was used. This was hot-pressed at 1600 ° C. in a vacuum and further subjected to hot isostatic pressing to produce a sintered body. The results are shown in Table 1.
  • tungsten shown in Comparative Example 1, tantalum shown in Comparative Example 2, and hafnium loadings shown in Comparative Example 3 were changed to 5 at%, 15 at%, and 30 at%, respectively. is there .
  • the density of the sintered body was in the range of 98.3 to 99.6%, and both exceeded 98%.
  • the oxygen concentration was in the range of 350 to 1960 wtppm, and the oxygen content was high. It was.
  • subcomponent metal phase The average particle size of the granular subcomponent metal phase or the main component and subcomponent alloy phase or compound phase (hereinafter referred to as “subcomponent metal phase”), which is particularly important, satisfies all the conditions of the present invention. I'm sorry.
  • the target density was in the range of 98 wt% or more
  • the oxygen content was in the range of 350 to 1960 wtppm
  • the oxygen content was high.
  • Comparative Example 1 1 In Comparative Example 1 1 (indicated as “Ratio 1 1” in the table, the same shall apply hereinafter), the W metal phase composed of granular subcomponents is 90 m in size and does not satisfy the conditions of the present invention. I helped. In addition, an alloy phase (alloy phase of main component and subcomponent) or a compound phase having an average thickness of 35 ⁇ m was slightly formed around the subcomponent W metal phase. As a result, workability is good, there was no occurrence of ⁇ over King, generation of particles is 21 X 10- 3 Ke / cm 2, obtained poor Ru-5at% W target in comparison to the Examples It was.
  • the W metal phase which is the granular secondary component force
  • an alloy phase (alloy phase of main component and subcomponent) or compound phase with an average thickness of 28 ⁇ m is formed around the subcomponent W metal phase! .
  • Workability may Nag arcing occurrence of impotence ivy force more particles is 32 X 10- 3 Ke / cm 2, poor Ru-15at% W target was obtained.
  • the W metal phase which is the granular subcomponent force
  • the force application property in which an alloy phase (alloy phase of main component and subcomponent) or compound phase having an average thickness of 24 m was formed around the subcomponent W metal phase was poor.
  • the Ta metal phase which is a granular subcomponent force, was 53 ⁇ m in size, and did not satisfy the conditions of the present invention.
  • An alloy phase with an average thickness of 15 m (alloy phase of main component and accessory component) or a compound phase was formed around the minor component Ta metal phase, but the workability was not good and arcing There occurs, the generation of further particles are 49 X 10- 3 Ke / cm 2, poor Ru-5at% Ta target was obtained.
  • the Ta metal phase which is a granular secondary component force, was 64 m in size, and did not satisfy the conditions of the present invention.
  • An alloy phase (alloy phase of main component and accessory component) or compound phase with an average thickness of 18 / zm or compound phase was formed around the accessory component Ta metal phase, but workability was poor and arcing occurred. There are further generation of particles is 58 X 10- 3 Ke / cm 2, poor Ru-15at% Ta target was obtained.
  • the Ta metal phase which is a granular subcomponent force, was 33 m in size, and did not satisfy the conditions of the present invention.
  • An alloy layer with an average thickness (alloy phase of main component and subcomponent) or compound phase was formed around the minor component Ta metal phase, but the workability was poor and arcing occurred. Furthermore particle generation significantly more and 89 X 10- 3 Ke / cm 2, poor Ru-30at% Ta target was obtained.
  • the Hf metal phase which is the granular secondary component force, was 26 m in size, and did not satisfy the conditions of the present invention.
  • An alloy phase (alloy phase of main component and accessory component) or compound phase with an average thickness of 1 / zm or compound phase was formed around the accessory component Hf metal phase, but the workability was poor and arcing occurred. is there further particle generation becomes very large as 52 X 10- 3 Ke / cm 2, defective Ru-5at% Hf target were obtained.
  • the Hf metal phase which is the granular secondary component force, is 16 m in size. He did not meet the requirements of the claimed invention. An alloy phase (alloy phase of main component and accessory component) or compound phase with an average thickness of 1 / zm or compound phase was formed around the accessory component Hf metal phase, but the workability was poor and arcing occurred. There are further generation of particles becomes large as 69 X 10- 3 Ke / cm 2, defective Ru-15at% Hf target were obtained.
  • the Hf metal phase which is the granular subcomponent force, was 11 m in size, and did not satisfy the conditions of the present invention.
  • An alloy phase (alloy phase of main component and accessory component) or compound phase with an average thickness of 1 / zm or compound phase was formed around the accessory component Hf metal phase, but the workability was poor and arcing occurred. There are, the generation of further particles abnormally large as 84 X 10- 3 Ke / cm 2, defective Ru-30at% Hf target were obtained.
  • Table 1 shows the results of Comparative Example 1 and Comparative Example 3.
  • Example 4 Example 4, Example 5, Example 6)
  • Rh low oxygen product
  • tungsten powder, tantalum powder, and hafnium powder were mixed with ruthenium powder while changing the amount of added calories to 5 at%, 15 at%, and 30 at%, respectively.
  • the oxygen concentration of tandasten raw material powder is 20 ppm
  • the oxygen concentration of tantalum raw material powder is 80 ppm
  • the oxygen concentration of hafnium raw material powder is 130 ppm.
  • the tungsten shown in Example 4 As shown in Table 2, the tungsten shown in Example 4, the tantalum shown in Example 5, and the hafnium loading amount shown in Example 6 were changed to 5 at%, 15 at%, and 30 at%, respectively. Is. As a result, the density of the sintered body was in the range of 98.0 to 99.8%, and both exceeded 98%.
  • the oxygen concentration was in the range of 40 to 260 wtppm, and low oxygen was achieved.
  • the average crystal grain size of the rhodium matrix structure, which is the main component was in the range of 13 to 34 ⁇ m.
  • the average particle size of the granular subcomponent metal phase or the alloy phase or compound phase of the main component and subcomponent (hereinafter referred to as “subcomponent metal phase”), which is particularly important, satisfied the conditions of the present invention. .
  • the metal phase having the granular subcomponent force was evenly scattered.
  • the target purity is in the range of 98 wt% or more (excluding gas components and other impurities), and the oxygen content is in the range of 40 to 260 wtppm. To the end.
  • Example 4 1 (denoted as “Act 4 1” in the table, the same shall apply hereinafter), the W metal phase composed of granular subcomponents is 138 m in size, and is around the subcomponent metal phase.
  • Example 4-2 the W metal phase, which also has a granular subcomponent force, has a size of 130 m, and around the subcomponent metal phase is an alloy phase (with the main component and 26 m in average thickness). Alloy phase with subcomponents) or compound phase was formed. As a result, processability is excellent, the occurrence of further particles occurrence of arcing Nag is 7 X 10- 3 Ke / cm 2, obtained excellent Rh- 15 at% W target.
  • the W metal phase which also has a granular subcomponent force, is 130 m in size
  • An alloy phase (alloy phase of main component and subcomponent) or a compound phase having an average thickness of 25 ⁇ m was formed around the subcomponent metal phase.
  • the processability was excellent, arcing was not generated, and particles were generated at 12 ⁇ 10 3 / cm 2 , and a good Rh-30at% W target was obtained.
  • Example 5-1 the Ta metal phase that also has a granular subcomponent force has a size of 136 m, and an alloy phase (main component and main component) having an average thickness of 30 m is surrounded by the subcomponent metal phase. Alloy phase with subcomponents) or compound phase was formed. As a result, processability is excellent, the occurrence of further particles occurrence of arcing Nag is 3 X 10- 3 Ke / cm 2, obtained excellent Rh-5at% Ta Target Tsu bets.
  • Example 5-2 the Ta metal phase, which also has a granular subcomponent force, has a size of 118 m, and an alloy phase (main component and subcomponent) having an average thickness of 22 ⁇ m is surrounded around the subcomponent metal phase. Alloy phase) or a compound phase.
  • workability is good, occurrence of further particles occurrence of arcing Nag is 4 X 10- 3 Ke / cm 2, obtained excellent Rh- 15 at% Ta target.
  • the Ta metal phase which also has a granular subcomponent force, is 169 m in size, and around the subcomponent metal phase is an alloy phase with an average thickness of 30 m (main component and subcomponent). Alloy phase) or a compound phase.
  • workability is good, occurrence of further particles occurrence of arcing Nag is 9 X 10- 3 Ke / cm 2, better Rh-30at% Ta target was obtained.
  • Example 6-1 the Hf metal phase, which is a granular subcomponent force, has a size of 209 m, and around the subcomponent metal phase, an alloy phase having an average thickness of 10 m (with the main component and Alloy phase with subcomponents) or compound phase was formed.
  • workability is good, occurrence of further particles occurrence of arcing Nag is 6 X 10- 3 Ke / cm 2, obtained excellent Rh-5at% Hf Target Tsu bets.
  • the Hf metal phase which is a granular subcomponent force, has a size of 162 m, and around the subcomponent metal phase, an alloy phase (main component and subcomponent Alloy phase) or a compound phase.
  • an alloy phase main component and subcomponent Alloy phase
  • a compound phase main component and subcomponent Alloy phase
  • the Hf metal phase which is a granular subcomponent force, has a size of 208 m, and around the subcomponent metal phase, an alloy phase with an average thickness of 9 m (main component and subcomponent) Alloy phase) or a compound phase.
  • workability is good, occurrence of further particles occurrence of arcing Nag is 14 X 10- 3 Ke / cm 2, better Rh-30at% Hf target were obtained.
  • a mixed powder was produced in the same manner as in Examples 4-6. However, tungsten powder, tantalum powder, and hafnium powder were classified to 200 mesh or less. This was hot-pressed at 1600 ° C. in a vacuum and further subjected to hot isostatic pressing to produce a sintered body. The results are shown in Table 2.
  • the oxygen concentration was in the range of 500 to 2220 wtppm, and the oxygen content was high.
  • the average crystal grain size of the rhodium matrix structure, which is the main component, was in the range of 6 to 28 ⁇ m.
  • the particularly important granular subcomponent power metal phase has a size of 21 ⁇ m to 93 ⁇ m, both of which are outside the scope of the present invention. Details will be described below.
  • Comparative Examples 4 to 6 all had a target density in the range of 98 wt% or more, except that the oxygen content was in the range of 500 to 2220 wtppm, and the oxygen content was high.
  • the W metal phase which is a granular subcomponent force, had a size of 64 m, and did not satisfy the conditions of the present invention. There is an average thickness of 12 around the minor component W metal phase. m alloy phase (alloy phase of main component and subcomponent) or compound phase was formed. As a result, Caro workability is good, there is the occurrence of arcing, the occurrence of further particles are 54 X 10- 3 Ke / cm 2, poor Ru-15at% W target was obtained.
  • the W metal phase which is the granular subcomponent force, was 64 m in size, and did not satisfy the conditions of the invention of this application.
  • the Ta metal phase which is the granular secondary component force, was 93 ⁇ m in size, and did not satisfy the conditions of the present invention.
  • the Ta metal phase which is a granular subcomponent force, was 78 m in size, and did not satisfy the conditions of the present invention.
  • there is arcing further generation of particles is 78 XI 0- 3 Ke / cm 2, poor Rh-15at% Ta target was obtained.
  • the Ta metal phase which is a granular subcomponent force, was 85 m in size, and did not satisfy the conditions of the present invention.
  • the Hf metal phase which is a granular subcomponent force, was 44 m in size, and did not satisfy the conditions of the invention of the present application.
  • the Hf metal phase which is a granular subcomponent force, was 21 ⁇ m in size, and did not satisfy the conditions of the invention of this application.
  • the Hf metal phase which is the granular secondary component force, was 30 m in size, and did not satisfy the conditions of the invention of this application.
  • a commercially available 3N grade iridium powder (low oxygen product: Ir) was introduced into an ultra-high vacuum chamber, and oxygen was removed from the Ir powder by heating with a high-power infrared lamp.
  • the oxygen concentration of the raw material Ir powder is 1800 ppm and the particle size is 1.8 ⁇ m.
  • the temperature of the powder body was about 1200 ° C.
  • the oxygen monitor connected to the chamber confirmed that sufficient oxygen had been released, stopped the force heating, cooled rapidly, and cooled to room temperature.
  • tungsten powder, tantalum powder, and hafnium powder were mixed with ruthenium powder while changing the amount of added calories to 5 at%, 15 at%, and 30 at%, respectively.
  • the oxygen concentration of tandasten raw material powder is 20 ppm
  • the oxygen concentration of tantalum raw material powder is 80 ppm
  • the oxygen concentration of hafnium raw material powder is 130 ppm.
  • Example 7 As shown in Table 3, tungsten shown in Example 7, tantalum shown in Example 8, and hafnium loadings shown in Example 9 were changed to 5 at%, 15 at%, and 30 at%, respectively. is there .
  • the density of the sintered body was in the range of 98.7 to 99.9%, and all exceeded 98%.
  • the oxygen concentration was in the range of 30 to 220 wtppm, and low oxygen was achieved.
  • the average crystal grain size of the iridium matrix structure as the main component was in the range of ll to 30 / zm.
  • the metal phase which also has an important granular subcomponent force has a size of 122 ⁇ m to 212 ⁇ m, which satisfies the conditions of the present invention.
  • the target purity is 98 wt% or more (excluding gas components and other impurities), and the oxygen content is 30 to 220 wtppm. To the end.
  • Example 7-1 In the table, described as “Actual 7-1”, the same shall apply hereinafter, the W metal phase composed of the granular subcomponent is 128 m in size, and the subcomponent metal phase An alloy phase (alloy phase of main component and subcomponent) or a compound phase having an average thickness of 25 ⁇ m was formed around.
  • Example 7-2 the W metal phase that also has a granular subcomponent force has a size of 122 m, and an alloy phase (main component) having an average thickness of 22 ⁇ m is around the subcomponent metal phase.
  • An alloy phase of bismuth and subcomponents) or a compound phase was formed.
  • processability is excellent, the occurrence of further particles occurrence of arcing Nag is 12 X 10- 3 Ke / cm 2, obtained excellent Ir- 15 at% W target.
  • Example 7-3 the W metal phase, which also has a granular subcomponent force, has a size of 161 ⁇ m, and an alloy phase (the main component and subcomponents) having an average thickness of 32 ⁇ m is formed around the subcomponent metal phase. Alloy phase with ingredients ) Or a compound phase was formed.
  • excellent in workability generation of further particles occurrence of arcing Nag is 9 X 10- 3 Ke / cm 2, better Ir-30at% W Target Tsu bets were obtained.
  • Example 8-1 the Ta metal phase, which is a granular subcomponent force, has a size of 149 m, and an alloy phase (main component) having an average thickness of 15 ⁇ m is around the subcomponent metal phase.
  • An alloy phase of bismuth and subcomponents) or a compound phase was formed.
  • processability is excellent, the occurrence of further particles occurrence of arcing Nag is 7 X 10- 3 Ke / cm 2, obtained excellent Ir-5at% Ta Target Tsu bets.
  • the Ta metal phase which also has a granular subcomponent force, has a size of 170 m, and around the subcomponent metal phase, an alloy phase (main component and subcomponent Alloy phase) or a compound phase.
  • an alloy phase main component and subcomponent Alloy phase
  • a compound phase As a result, workability is good, occurrence of further particles occurrence of arcing Nag is 5 X 10- 3 Ke / cm 2, obtained excellent Ir-15at% Ta target.
  • the Ta metal phase which also has a granular subcomponent force, has a size of 179 m, and around the subcomponent metal phase is an alloy phase (main component and subcomponent Alloy phase) or a compound phase.
  • the subcomponent metal phase is an alloy phase (main component and subcomponent Alloy phase) or a compound phase.
  • Example 9-1 the Hf metal phase that also has a granular subcomponent force has a size of 196 m, and an alloy phase (main component and main component) having an average thickness of 7 m is surrounded around the subcomponent metal phase. Alloy phase with subcomponents) or compound phase was formed. As a result, workability is good, occurrence of further particles occurrence of arcing Nag is 5 X 10- 3 Ke / cm 2, obtained excellent Ir-5at% Hf Target Tsu bets.
  • the Hf metal phase which is a granular subcomponent force, has a size of 182 m.
  • the Hf metal phase which is a granular subcomponent force, has a size of 212 ⁇ m, and an alloy phase (main component and subcomponent) having an average thickness of 11 m is formed around the subcomponent metal phase. Alloy phase) or a compound phase.
  • workability is good, occurrence of further particles occurrence of arcing Nag is 8 X 10- 3 Ke / cm 2, good Ir- 30 at% Hf Target Tsu bets were obtained.
  • a mixed powder was produced in the same manner as in Examples 7-9. However, tungsten powder, tantalum powder, and hafnium powder were classified to 200 mesh or less. This was hot-pressed at 1600 ° C. in a vacuum and further subjected to hot isostatic pressing to produce a sintered body. The results are shown in Table 3.
  • tungsten shown in Comparative Example 7, tantalum shown in Comparative Example 8, and hafnium loadings shown in Comparative Example 9 were changed to 5 at%, 15 at%, and 30 at%, respectively. is there .
  • the density of the sintered body was in the range of 95.8 to 99.9%, and in the case of the Hf additive, there was also a material in which the decrease in density was significantly cut by 98%.
  • the oxygen concentration was in the range of 350-2320 wtppm, and the oxygen content was high.
  • the average crystal grain size of the iridium matrix structure as the main component was in the range of 13 to 28 ⁇ m. Particularly important is the granular subcomponent power, which is 27 ⁇ ! The size was ⁇ 63 m, and none of them was within the scope of the present invention. Details will be described below.
  • the target purity is in the range of 98 wt% or more (excluding gas components and other impurities), but the oxygen amount is 350 to 2320 wtppm. It was in the range, and the oxygen content was strong.
  • the W metal phase composed of the granular subcomponent is 52 m in size, and the subcomponent metal phase An alloy phase (alloy phase of main component and subcomponent) or a compound phase having an average thickness m was formed around.
  • the occurrence of adverse device arcing workability occurrence of impotence ivy force the particles is 39 X 10- 3 Ke / cm 2, poor Ir-5at% W target in comparison to the embodiment was obtained.
  • the W metal phase which is a granular subcomponent force, has a size of 62 ⁇ m, and an alloy phase (mainly 9 ⁇ m thick) around the subcomponent metal phase. Alloy phase of component and accessory component) or A compound phase was formed. As a result, workability is rather good, but the occurrence of arcing was no generation of particles is 28 X 10- 3 Ke / cm 2, poor Ir- 15 at% W Target Tsu bets were obtained.
  • the W metal phase which is a granular subcomponent force, has a size of 63 m, and an alloy phase (main component and subcomponent) having an average thickness of 9 ⁇ m is surrounded by the subcomponent metal phase. Alloy phase) or a compound phase.
  • workability is rather good, but also there is arcing further generation of particles increased with 85 X 10- 3 Ke / cm 2, poor Ir-30at% W target was obtained.
  • the Ta metal phase which is a granular subcomponent force, has a size of 41 ⁇ m, and an alloy phase (main component) having an average thickness of 4 m is formed around the subcomponent metal phase. Alloy phase) and a minor component) or a compound phase was formed. As a result, workability is a little good tool occurrence of arcing free bur generation of particles is 39 X 10- 3 Ke / cm 2, poor Ir-5at% Ta target was obtained.
  • the Ta metal phase which is a granular subcomponent force, has a size of 42 m, and around the subcomponent metal phase, an alloy phase (main component and subcomponent Alloy phase) or a compound phase.
  • an alloy phase main component and subcomponent Alloy phase
  • a compound phase As a result, although there is no occurrence of adverse device arcing workability, generation of particles is 35 X 10- 3 Ke / cm 2, poor Ir-15at% Ta target was obtained.
  • the Ta metal phase which is a granular subcomponent force, has a size of 28 m, and an alloy phase (main component and subcomponent) having an average thickness of 2 ⁇ m is surrounded by the subcomponent metal phase. Alloy phase) or a compound phase.
  • processability is poor, there is arcing, further particle generation 76 X 10- 3 Ke / cm 2 remarkably tag poor Ir-30at% Ta target was obtained.
  • the Hf metal phase which is a granular subcomponent force, has a size of 36 m, and an alloy phase (average component and main component) having an average thickness of 1 ⁇ m is formed around the subcomponent metal phase.
  • An alloy phase with subcomponents) or a compound phase was formed.
  • processability is poor, there is arcing, further particle generation becomes very large as 52 X 10- 3 Ke / cm 2, defective Ir-5at% Hf data one target was obtained.
  • the Hf metal phase which is a granular subcomponent force, has a size of 27 m, and an alloy phase (main component and subcomponent) having an average thickness of 1 ⁇ m is surrounded around the subcomponent metal phase. Alloy phase) or a compound phase.
  • processability is poor, there is arcing further generation of particles becomes large as 77 X 10- 3 Ke / cm 2, defective Ir-15at% Hf target were obtained.
  • the Hf metal phase which is a granular subcomponent force, has a size of 28 m, and an alloy phase having an average thickness of 1 ⁇ m (a main component and subcomponents) around the subcomponent metal phase. Alloy phase) or a compound phase.
  • processability is poor, there is the occurrence of arcing, the occurrence of further particles becomes abnormally large as 103 X 103 Ke / cm 2, defective Ir- 30 at% Hf target were obtained.
  • Table 1 shows the results of Comparative Example 7 and Comparative Example 9.
  • Example 10 when the W amount is 15 at% and the average particle size of the subcomponent phase is 128 to 135 m under the conditions of Example 1, as Example 11, the Ta amount of Example 2 is 15 at%.
  • the average particle size of the subcomponent phase is 131 to 140 / ⁇ ⁇
  • the amount of Hf of Example 3 is 15 at%
  • the average particle size of the subcomponent phase is 191 to 202 / ⁇ ⁇
  • Table 4 shows the results for the processability, final king, and number of particles when the average particle size, relative density, oxygen content, and carbon content of the matrix change.
  • Example 10 Example 11, and Example 12 shown in Table 4, no arcing occurred in any case.
  • Example 10 W addition
  • the workability is very good.
  • the oxygen and carbon contents are slightly increased, the number of particles is slightly increased, and both results are good. became.
  • Example 11 As the amount of oxygen and carbon increased, the workability slightly decreased and the number of particles showed a tendency to increase slightly.
  • Example 12 Hf addition
  • the average particle size of the subcomponent phase became slightly larger, and when the oxygen content and the carbon content increased, the workability slightly decreased.
  • the number of particles showed a tendency to increase slightly.
  • none of them was a problem.
  • the workability can be further improved and the number of particles can be reduced by adjusting the average particle size of the subcomponent phase and reducing the amount of oxygen and carbon.
  • the amount of oxygen and the amount of carbon should be as small as possible. There were no noticeable effects on other factors.
  • Example 13 under the conditions of Example 4, the W amount is 15 at%, the average particle size of the subcomponent phase is 127 to 134 m, the amount of Ta in Example 5 is 15 at%, and the average particle size of the subcomponent phase is 117 to 120 i um.
  • the Hf content of 6 is 15at% and the average particle size of the subcomponent phase is 158 to 162 / ⁇ Table 5 shows the results for all the kings and particles.
  • Example 13 Example 14, and Example 15 shown in Table 5, no arcing occurred.
  • Example 13 (W addition) and Example 14 (Ta addition) the workability is very good, and when the amount of oxygen and the amount of carbon are slightly increased, the number of particles is slightly increased. In both cases, good results were obtained.
  • Example 15 (addition of Hf), the average particle size of the subcomponent phase was slightly increased, and when the oxygen content and the carbon content were large, the workability slightly decreased. However, this level was acceptable and was not particularly problematic.
  • the workability can be further improved and the number of particles can be reduced by adjusting the average particle size of the subcomponent phase and reducing the amount of oxygen and carbon.
  • the amount of oxygen and the amount of carbon should be as small as possible. There were no noticeable effects on other factors.
  • Example 16 when the W amount is 15 at% and the average particle size of the subcomponent phase is 120 to 130 m under the conditions of Example 7, as Example 17, the Ta amount of Example 8 is 15 at%,
  • the average particle size of the component phase is 170 to 175 / ⁇ ⁇
  • Example 18 as the case where the Hf amount of Example 9 is 15 at% and the average particle size of the subcomponent phase is 180 to 190 / ⁇ ⁇
  • Table 6 shows the results for the processability, arcing, and number of parts when the average particle size, relative density, oxygen content, and carbon content of the matrix are changed.
  • Example 16 Example 17, and Example 18 shown in Table 6, no arcing occurred in any case.
  • the average particle size of the subcomponent phase was slightly increased, and when the amount of carbon was increased tl, the workability was slightly reduced, but the others were very good.
  • Example 17 In the case of Example 17 (Ta addition), the average particle size of the subcomponent phase slightly increased, and the workability decreased slightly as the oxygen content and the carbon content increased. However, there were no major fluctuations.
  • Example 18 Hf addition
  • the average particle size of the subcomponent phase was increased, and the cacheability decreased slightly as the oxygen content and carbon content increased. There was no significant change in the number of particles. However, none of them was a problem. Conversely, when this was reduced, the processability was improved and the number of particles tended to decrease.
  • the workability can be further improved by adjusting the average particle size of the subcomponent phase and decreasing the oxygen content and the carbon content.
  • it can be said that it is desirable that the amount of oxygen and carbon be as small as possible. There were no noticeable effects on other factors.
  • the refractory metals ruthenium, rhodium, and iridium which are the main components in the present invention, are all Group 8 elements and are similar elements. In this example, each alone Although examples of combinations of these elements and subcomponents have been shown, it should be understood that similar results can be obtained with a refractory alloy to which these are added in combination. Therefore, the present invention includes alloys in which ruthenium, rhodium and iridium are added in combination.
  • tungsten, tantalum, and hafnium are in different groups as groups 6, 5, and 4 in the periodic table of elements, but as shown in the examples of the present invention, these are the aforementioned ruthenium, rhodium, and so on.
  • iridium When added to iridium, it was confirmed that similar properties and effects were exhibited. Therefore, it should be understood that similar effects and effects are exhibited even when these metals are added in combination. Therefore, it goes without saying that the case where these are added in combination is also included in the present invention.
  • the alloy-sintered sputtering target made of a refractory metal mainly composed of ruthenium, rhodium or iridium according to the present invention is a metal particle other than the main component that forms a matrix by improving the yarn and weave of the target. , Prevents impurities from falling off, reduces gas components and other impurities, improves density, reduces arcing particles during sputtering, improves film formation quality, and improves target processability Therefore, the present invention is extremely useful as a film forming material for semiconductor elements, particularly as a gate electrode material or a film-forming notching target for various diffusers.
  • FIG. 1 is a diagram showing the structure of a refractory metal target of Example 1-2.

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Abstract

【課題】2種以上の高融点金属を含む焼結体スパッタリングターゲットに関し、特にターゲット組織を改良してマトリックスを形成する主成分以外の金属粒子の脱落を防止し、ガス成分等の不純物を低減させ、密度を向上させて、スパッタ時のアーキングやパーティクルの発生を少なくし、成膜の品質を向上させると共に、ターゲットの加工性を向上させることができる高融点金属からなる焼結体スパッタリングターゲットを提供する。  【解決手段】W、Ta又はHfの1種以上から選択した50at%未満の副成分と残部Ru、Rh又はIrから選択した少なくとも1以上の主成分及び不可避的不純物からなる高融点金属焼結体であって、前記主成分の金属組織中に、平均粒径100μm乃至500μmの粒状の副成分金属相又は主成分と副成分の合金相若しくは化合物相を備えていることを特徴とする高融点金属からなる焼結体スパッタリングターゲット。

Description

明 細 書
高融点金属からなる焼結体スパッタリングターゲット
技術分野
[0001] この発明は、 2種以上の高融点金属を含む焼結体スパッタリングターゲットに関し、 特にターゲット組織を改良してマトリックスを形成する主成分以外の金属粒子の脱落 を防止し、スパッタ時のアーキングゃパーティクルの発生を少なくすることにより成膜 の品質を向上させることができる高融点金属力 なる焼結体スパッタリングターゲット に関する。
背景技術
[0002] 高融点金属であるルテニウム(Ru)、ロジウム(Rh)又はイリジウム(Ir)は熱的安定性 にすぐれ、さらに低抵抗性、ノリャ性に優れているので、半導体素子の成膜材料とし て、特にゲート電極材、各種拡散バリヤ材として注目されている。
前記ルテニウム (Ru)、ロジウム (Rh)若しくはイリジウム(Ir)等は、それぞれ単独の薄 膜又はそれを形成するためのターゲット材として使用されることもあるが、めっきを施 す場合に濡れ性が悪 、と 、う問題がある。
したがって、このような欠点を補うために他の金属(特に高融点金属)を添加すること が提案されている。
[0003] 薄膜を形成する手段としては、一般には周知のスパッタリング法が使用される。スパ ッタリング法としては、通常高周波(RF)スパッタリング装置が使用される。スパッタリン グに際しては、前記組成の合金ターゲットの製造が不可欠である。そして、成膜の品 質を向上させるためには、ターゲットの品質を向上させることが非常に重要である。 前記高融点金属であるルテニウム (Ru)、ロジウム (Rh)又はイリジウム (Ir)に高融点 金属を添加してターゲットを製造する場合、溶解一塑性加工法を用いて製造すること も考えられるが、ルテニウム,ロジウム,イリジウムは融点が高くかつ脆弱な材料である ため溶解装置が非常に高価なものになり、塑性加工も特殊な技術を必要とするため 製造コストが高くなるという問題がある。
[0004] 以上から、ターゲットの製造には、焼結法を使用するのが適当である。しかし、 2種 以上の高融点金属の焼結体を製造する場合においても、ターゲットの品質を向上さ せることは必ずしも容易ではな 、。
高融点金属であるルテニウム (Ru)、ロジウム (Rh)又はイリジウム (Ir)の中に、副成分 となる合金元素の含有量が少ない場合は、さほど大きな問題とならない。しかし、副 成分となる合金添加量を増加させると、金属が主成分である組織 (マトリックス成分) 中に、副成分となる金属が点状(島状)に存在するようになり、これがスパッタリング中 に脱落してパーティクル発生の原因となるからである。
[0005] 脱落した後の空孔及びその近傍には不規則なエッジが形成されるためにスパッタリ ング中の異常放電発生させる原因となり、さらにパーティクル発生を増加させるという 問題を生じる。成膜の品質を向上させるためには、このパーティクルを発生させない ことが非常に強く求められている。
また、ターゲット中に存在するガス成分又はその他の不純物は、組織の界面に集合 し易ぐこのような不純物の存在もスパッタ時のアーキングゃパーティクル発生の原因 となり、焼結密度が低下してターゲットの強度を弱め、成膜の品質を低下させるという 問題を発生させる。
[0006] 以下に説明する本願発明のターゲットに直接関係するものではないが、参考として 高融点金属ターゲットの問題として挙げられているパーティクル防止策、ターゲットの 割れ防止策 (抗折力向上)の提案があるので、それを以下に紹介する。
モリブデンとタングステンを主体とし、組織をモリブデン粒子とタングステン粒子を 1.0 μ m以下の拡散接合距離をもって焼結し、抗折カ 750Mpa以上であるモリブデンータ ングステン系ターゲット (特許文献 1参照)。
タングステン粉末とチタン粉末との混合粉末を 1500-1700° Cで加圧焼結し、ターゲ ット断面で 20%以上の面積率をもつチタン-タングステン合金相、タングステン相、チタ ン相からなる組織を有し、平均結晶粒径が 50 m以下の焼結体を得るパーティクル 発生防止用のタングステン-チタンターゲット材の製造方法 (特許文献 2参照)。
49原子%以下の(C、 B、 Ir、 W、 Ge、 Ce02、 Ru02)の 1種または 2種以上の粉末と 51 原子 %以上の Ta粉末とを焼結したパーティクル発生防止用のノ リャ膜用 Ta系ターゲ ット (特許文献 3参照)。 特許文献 1:特開平 11― 36067号公報
特許文献 2:特開平 5 - 156384号公報
特許文献 3:特開 2000— 355761号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0007] 本発明は、上記の点に鑑み、 2種以上の高融点金属を含む焼結体スパッタリングタ 一ゲットに関し、特にターゲット組織を改良してマトリックスを形成する主成分以外の 金属粒子の脱落を防止し、ガス成分等の不純物を低減させ、密度を向上させて、ス ノッタ時のアーキングゃパーティクルの発生を少なくし、成膜の品質を向上させると 共に、ターゲットの加工性を向上させることができる高融点金属力もなる焼結体スパッ タリングターゲットを提供することを課題とする。
課題を解決するための手段
[0008] 本願発明は、上記の問題を解決するために、 Ru、 Rh又は Irから選択した少なくとも 1 以上の主成分と W、 Ta又は Hfの 1種以上力 選択した 50at%未満の高融点金属の副 成分を添加し、そのターゲット組織を改良 'ェ夫して粒子の脱落を防止し、ガス成分 等の不純物量を低減させ、さらに密度を向上させることにより、従来に比べて成膜特 性に優れたルテニウム,ロジウム,イリジウムを主成分としたスパッタリング用合金ター ゲットを得ることができるとの知見を得た。
本願発明は、この知見に基づいて、
W、 Ta又は Hfの 1種以上から選択した 50at%未満の副成分と残部 Ru、 Rh又は Irから 選択した少なくとも 1以上の主成分及び不可避的不純物力 なる高融点金属焼結体 であって、前記主成分の金属組織中に、平均粒径 100 m乃至 500 mの粒状の副 成分金属相又は主成分と副成分の合金相若しくは化合物相を備えて ヽる高融点金 属からなる焼結体スパッタリングターゲット、を提供する。
[0009] 本発明の高融点金属力もなる焼結体スパッタリングターゲットは、 Ru、 Rh又は Irから 選択した少なくとも 1以上の主成分力もなる。これらの高融点金属は、単独でも複合 材でも 、ずれでも良 、が、これらは主成分として合計量で 50at%以上とする。
これらの高融点金属は、熱的安定性にすぐれ、さらに低抵抗性、バリヤ性に優れて いるので、半導体素子の成膜材料として、特にゲート電極材、各種拡散バリヤ材とし て有用である。マトリックスである Ru、 Rh又は Ir力 なる金属組織は、 10〜30 /ζ πι程度 のほぼ均一な平均粒径を備えているのが望ましい。これは、本願発明の主たる(必須 )構成要件ではないが、スパッタ時のアーキングゃパーティクルの発生をさらに低減 する効果があり、スパッタ膜組織の均一性を向上させるので、より好ましい形態である
[0010] 副成分となる W、 Ta又は Hfは、 5 at%以上 50at%未満を添カ卩する。この場合、単独添 加でも、 2種以上の添加のいずれでも良い。使用目的に応じて添加量を任意に選定 することができる。これらの副成分は、 Ru、 Rh又は Irの主成分となる高融点金属からな る薄膜の、めっき濡れ性を改善する等の効果がある。副成分の量を 5 at%以上とする のは、この量未満であると添カ卩の効果がないからである。一方、副成分の最大添加量 は、副成分としての制限力 50at%未満とする。
問題は、これらの副成分の、ターゲット中の存在形態である。これらの副成分である 金属相(合金相又は化合物相を含む)はマトリックスである金属組織中に粒状物とし て存在する。ここで言う粒状物は、片状物、球状物、紐状物その他の形状の単独又 は結合若しくは複合した形状を意味するもので、特にその形状を制限するものでは ¾V、ことは理解されるべきものである。
これらの副成分となる粒状物は、平均粒径 100 m乃至 500 mの粒状の副成分金 属相又は主成分と副成分の合金相若しくは化合物相からなる。これらは、主成分から なる金属組織中に粒子の形で点在する。ここで点在するという表現を用いたのは、こ れらがそれぞれほぼ独立した状態で、マトリックス中に平均的に存在することを意味 するものである。
[0011] この存在形態は非常に重要である。金属組織中に 100 m未満の副成分の粒子が 多数存在するようになると、その微細な粒子がスパッタリング中に剥落すると 、う問題 が生ずる。すなわち、マトリックスの中に存在する副成分となる粒子が小粒であるほど 、マトリックスとの結合が浅く弱いので、周囲の金属組織力 外れる (脱落する)可能 性が高くなるからである。これに対して、粒子サイズが大きい場合には、その可能性 は低くなる力 である。 一方、 500 /z mを超える大きさの粒子が多くなると、主成分に対する副成分の偏祈が 目立つようになるので、均一な成膜を目的とする場合には、 500 m以下とすることが 望ましいと言える。特に、 100 m乃至 300 mの粒状の副成分金属相又は主成分と 副成分の合金相若しくは化合物相を備えて 、ることが好ま 、。
[0012] これらの副成分となる高融点金属は焼結時の熱を受けて、少なからず周囲の主成 分となる高融点金属と合金相又は化合物相を形成する。
この場合、これらの合金相又は化合物相は、副成分となる粒子が周囲のマトリックス の高融点金属との結合を強める作用をする。したがって、この合金相又は化合物相 の存在は、副成分の粒子の剥落防止に役に立つ。
特に、粒状副成分金属相の周囲に、平均幅が 5 m乃至 50 mの主成分と副成分の 合金相又は化合物相を備えていることが望ましい。より好ましくは、粒状の副成分金 属相の周囲に、平均幅が 5 m乃至 100 mの主成分と副成分の合金相又は化合物 相を備えていること、さらに好ましくは、粒状副成分金属相の周囲に、平均幅が 乃至 200 μ mの主成分と副成分の合金相又は化合物相を備えて 、ることが望まし 、。 一方、合金相又は化合物相は、本来硬いので多量に存在すると加工性が低下する ことがあるので、これは高融点金属の糸且合せにもよる力 上限値は、およそ 200 m以 下とするのが望ま 、と言える。
[0013] さらに、本願発明は、ガス成分の不純物である酸素含有量が 300wtppm以下及び炭 素含有量が 100 wtppm以下である上記高融点金属力 なる焼結体スパッタリングター ゲットを提供する。また、上記に加えて、さらにガス成分以外の不純物含有量の総量 を 100 wtppm以下である上記高融点金属力 なる焼結体スパッタリングターゲットを提 供する。
ガス成分の低減及び不純物の低減は、本願発明の主たる(必須)構成要件ではな いが、スパッタ時のアーキングゃパーティクルの発生をさらに低減する効果があり、ス ノッタ膜組織の均一性を向上させる。したがって、ガス成分の低減及び他の不純物 を、同時に低減させることは、好ましい形態である。
[0014] 本願発明の高融点金属力 なる焼結体スパッタリングターゲットは、相対密度力 ¾8% 以上であり、 100 μ m以上の空隙が存在しな 、ことが望まし 、。 空隙の存在は密度と直接関係するものであるが、高融点金属力 なる焼結体スパッ タリングターゲットにおいては、密度を向上させることにより、ターゲットの割れを防止 し、さらにパーティクルを低減させる効果がある。これもまた、本願発明の主たる(必須
)構成要件ではな 、が、好ま Uヽ形態である。
本願発明の高融点金属力 なる焼結体スパッタリングターゲットは、さらにターゲット 面積 lcm3当りの、合金組成のばらつきが ± 10%以下であることが望ましい。本願発明 の 2種以上の高融点金属からなる焼結体であるために、完全固溶状態のターゲット 材料を得ることが難しい、しカゝしながら、できるだけターゲットの均一性を確保するた めには、合金組成のばらつきを ± 10%以下とすることが望ましい。これもまた、本願発 明の主たる(必須)構成要件ではな!、が、好ま 、形態である。
発明の効果
[0015] 以上によって、本願発明の高融点金属力もなる焼結体スパッタリングターゲットは、タ 一ゲット組織を改良してマトリックスを形成する主成分以外の金属粒子の脱落を防止 し、ガス成分等の不純物を低減させ、密度を向上させて、スパッタ時のアーキングゃ パーティクルの発生を少なくすることにより成膜の品質を向上させ、さらにターゲットの 加工性を向上させることができるという優れた効果を有する。
発明を実施するための最良の形態
[0016] 本発明の、ルテニウム(Ru)合金、ロジウム(Rh)合金、イリジウム(Ir)合金力もなる高 融点合金スパッタリングターゲットは、ルテニウム粉末、ロジウム粉末又はイリジウム粉 末の一種以上と、タングステン (W)、タンタル (Ta)又はハフニウム(Hf)の一種以上の 副成分からなる合計量が 50at%未満の金属粉末とを混合し、この混合粉末を焼結して 得られる高融点金属力もなる焼結体ターゲットである。
これらのターゲットをスパッタリングして得られる膜は、半導体素子の成膜材料として 、特にゲート電極材、各種拡散バリヤ材として有用である。但し、本願発明は、これら の用途に制限されるものではなぐこれらの用途以外の材料にも適用できることは当 然理解されるべきであり、本願発明に含まれるものである。
一般に、焼結後の組織は、焼結粉末の粒径が反映されるので、原料粉の段階で粒 度調整することが必要となる。過度に微粉にした場合には、酸素を吸収し低酸素化 が困難となるので、この意味からも、過度の微細粉の使用は避けることが望ましいと 言える。
また、原料粉末のサイズは、焼結後の組織において、副成分の相の微細化に影響 を与える、すなわちターゲットに微細粒子が多量に存在する場合には、それがパーテ イタルの原因となるので、焼結後のターゲットの組織に影響を与える焼結原料のサイ ズは、一定レベルに制限する必要がある。
[0017] 本発明の高融点金属力 なる焼結体ターゲットの具体的な製造方法としては、例え ば巿販 4Nグレード (99.99%純度)のルテニウム粉末、ロジウム粉末又はイリジウム粉 末 (それぞれ低酸素品)を超高真空チャンバ一に導入し、ルテニウム粉末に高出力 赤外線ランプ加熱又はマイクロウエーブ加熱を使用して粉末を加熱し、酸素を除去 する。粉末体の温度は、約 1100〜1300° Cとする。これは 1100° C以上でないと酸素 乖離は十分起こらな 、からである。
また、この加熱は、ルテニウム粉末、ロジウム粉末又はイリジウム粉末が結合し合い 焼結性を低下させな 、ためであり、またランプ加熱あるいはマイクロウエーブ加熱する のは、粉末体を早く室温まで冷却できるようにするためである。チャンバ一に接続され た酸素モニターで十分酸素が放出されたことを確認した後、加熱を停止し急速に冷 却する。
[0018] 次に、アルゴンガスを導入して上記ルテニウム粉末、ロジウム粉末又はイリジウム粉 末を容器に封入し、さらに 4Nグレード (99.99wt%純度の)タングステン粉、タンタル粉 又はハフニウム粉を混合する。
このタングステン粉、タンタル粉又はハフニウム粉は、それぞれの金属の EBインゴッ トを、水素化 ·脱水素化を繰り返して粉砕したものである。
この混合粉を、再度 1100° Cで脱酸処理を行い、 1300〜1800° Cの温度で、真空中 ホットプレスし、さらに熱間静水圧プレス処理して焼結体を作成する。これをさらにタ 一ゲット形状に仕上げ加工 (機械加工等を)する。
[0019] これによつて得られたルテニウム合金、ロジウム合金又はイリジウム合金焼結スパッタ リングターゲットは、ガス成分を除くターゲットの純度が 99.99wt%以上である。
主成分力 なる金属組織中に平均粒径 100 μ m乃至 500 μ mの粒状の副成分金属 相又は主成分と副成分の合金相若しくは化合物相を点在させることは、前記粉末の 粒度の選択、焼結条件 (温度、加圧力)の調製と選択によって行なうことができる。ま た、ガス成分は、酸素や炭素が混入しない条件で、かつ除去できる工程を採用する こと〖こより達成できる。
実施例
[0020] 次に、実施例について説明する。なお、本実施例は発明の一例を示すためのもの であり、本発明はこれらの実施例に制限されるものではない。すなわち、本発明の技 術思想に含まれる他の態様及び変形を含むものである。
[0021] (実施例 実施例 2、実施例 3)
市販 4Nグレードのルテニウム粉末 (低酸素品)を超高真空チャンバ一に導入し、ル テニゥム粉末に高出力赤外線ランプ加熱にて酸素を除去した。原料 Ru粉末の酸素 濃度は 1200ppmであり、粒径は 1. 5 μ mである。粉末体の温度をおよそ 1200° Cとし た。チャンバ一に接続された酸素モニターで十分酸素が放出されたことを確認してか ら加熱を停止し、急速冷却して、室温まで冷却した。
次に、これを容器に入れ、アルゴンガスを導入すると共に、 EB (電子ビーム)溶解ィ ンゴットを水素ィ匕 '脱水素化を繰り返して粉砕し、 35メッシュ〜 200メッシュに分級した 4 Nグレードのタングステン粉末、タンタル粉末、ハフニウム粉末を、添加量をそれぞれ 、 5 at%、 15 at%、 30 at%に変えてルテニウム粉末と混合した。タングステン原料粉 の酸素濃度は 20ppm、タンタル原料粉の酸素濃度は 80ppm、ハフニウム原料粉の酸 素濃度は 130ppmである。
[0022] これら混合粉を再度 1100° Cで脱酸処理を行い、 1600° C、真空中でホットプレスし さらに熱間静水圧プレス処理して焼結体を作製した。この結果を、表 1に示す。
表 1に示す通り、実施例 1に示すタングステン、実施例 2に示すタンタル、実施例 3〖こ 示すハフニウム添カ卩量は、それぞれ 5 at%、 15 at%、 30 at%に変化させたものである 。この結果、焼結体の密度は、 99.1〜99.8%の範囲で、いずれも 99%を超えていた。 また、酸素濃度は 40〜220wtppmの範囲にあり、低酸素化を達成していた。主成分で あるルテニウムマトリックス組織の平均結晶粒径は 8〜22 mの範囲にあった。特に重 要となる粒状の副成分金属相又は主成分と副成分の合金相若しくは化合物相(以下 、「副成分金属相」という。)の平均粒径は、いずれも本発明の条件を満たしていた。 そして、図 1に示すように、その粒状副成分力もなる金属相が均一に点在していた。 この図 1は下記に示す実施例 1 2の高融点金属ターゲットの組織を示す図である。
[0023] 実施例 1〜3は、いずれもターゲットの密度が 98wt%以上の範囲にあり、酸素量は 40 〜220wtppmの範囲にあった。
実施例 1 1 (表中、「実 1 1」と記載する。以下同様。)については、粒状副成分か らなる W金属相は 147 mの大きさであり、該副成分金属相の周囲には、平均厚さ 60 μ mの合金相(主成分と副成分との合金相)又は化合物相が形成されて!ヽた。
この結果、加工性は優れており、アーキングの発生がなぐさらにパーティクルの発 生は 3 X 10— 3ケ /cm2であり、優れた Ru-5at%Wターゲットが得られた。
[0024] なお、合金相又は化合物相の平均幅が 5 μ m以下又は全く形成されな 、場合につ いては、特に例として示さないが、パーティクルの発生は若干増加する傾向があった 。しかし、その増加量はわずかであり、特に問題となるレベルではな力つた。
粒状副成分の周囲に形成される主成分との合金相又は化合物相の存在は、より好 ましい条件ではある力 特に大きく影響を受けるのは、粒状副成分の全体の大きさで あることが確認できた。以下の実施例についても、同様の傾向が認められた。したが つて、以下の説明では、副成分金属相の周囲に形成される合金相又は化合物相の 平均幅が 5 m以下の場合については、説明を省略する。
[0025] 実施例 1—2については、粒状副成分力もなる W金属相は 133 mの大きさであり、 該副成分金属相の周囲には、平均厚さ 52 μ mの合金相(主成分と副成分との合金相 )又は化合物相が形成されて 、た。
この結果、加工性は優れており、アーキングの発生がなぐさらにパーティクルの発 生は 4 X 10— 3ケ /cm2であり、優れた Ru-15at%Wターゲットが得られた。
実施例 1—3については、粒状副成分力もなる W金属相は 139 mの大きさであり、 該副成分金属相の周囲には、平均厚さ 56 mの合金相(主成分と副成分との合金相 )又は化合物相が形成されて 、た。
この結果、加工性は良好であり、アーキングの発生がなぐさらにパーティクルの発 生は 9 X 10— 3ケ /cm2であり、良好な Ru-30at%Wターゲットが得られた。 [0026] 実施例 2—1については、粒状副成分力もなる Ta金属相は 124 mの大きさであり、 該副成分 Ta金属相の周囲には、平均厚さ 48 mの合金相(主成分と副成分との合金 相)又は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は優れており、アーキングの 発生がなぐさらにパーティクルの発生は 4 X 10— 3ケ /cm2であり、優れた Ru-5at%Taタ 一ゲットが得られた。
実施例 2— 2については、粒状副成分力もなる Ta金属相は 131 μ mの大きさであり、 該副成分 Ta金属相の周囲には、平均厚さ 39 mの合金相(主成分と副成分との合金 相)又は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は良好であり、アーキングの 発生がなぐさらにパーティクルの発生は 9 X 10— 3ケ /cm2であり、優れた Ru- 15at%Taタ 一ゲットが得られた。
実施例 2— 3については、粒状副成分力もなる Ta金属相は 118 mの大きさであり、 該副成分 Ta金属相の周囲には、平均厚さ 30 mの合金相(主成分と副成分との合金 相)又は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は良好であり、アーキングの 発生がなぐさらにパーティクルの発生は 4 X 10— 3ケ /cm2であり、良好な Ru-30at%Taタ 一ゲットが得られた。
[0027] 実施例 3—1については、粒状副成分力もなる Hf金属相は 185 mの大きさであり、 該副成分 Hf金属相の周囲には、平均厚さ 9 mの合金相(主成分と副成分との合金 相)又は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は良好であり、アーキングの 発生がなぐさらにパーティクルの発生は 10 X 10— 3ケ /cm2であり、優れた Ru-5at%Hfタ 一ゲットが得られた。
実施例 3— 2については、粒状副成分力 なる Hf金属相は 192 mの大きさであり、 該副成分 Hf金属相の周囲には、平均厚さ 10 mの合金相(主成分と副成分との合金 相)又は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は良好であり、アーキングの 発生がなぐさらにパーティクルの発生は 13 X 10— 3ケ /cm2であり、優れた Ru- 15at%Hfタ 一ゲットが得られた。
実施例 3— 3については、粒状副成分力 なる Hf金属相は 210 mの大きさであり、 該副成分 Hf金属相の周囲には、平均厚さ 11 mの合金相(主成分と副成分との合金 相)又は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は良好であり、アーキングの 発生がなぐさらにパーティクルの発生は 14 X 10— 3ケ /cm2であり、良好な Ru-30at%Hfタ 一ゲットが得られた。
以上の結果を、表 1に示す。なお、表 1における「副成分相の平均粒径」は、「副成分 金属相又は主成分と副成分の合金相若しくは化合物相」の全体を含む粒子の平均 粒径を意味するものとする。以下の表 2、表 3においても同様である。
[0028] [表 1]
Figure imgf000013_0001
[0029] (比較例 1、比較例 2、比較例 3)
上記実施例 1—3と同様にして混合粉を作製した。但し,タングステン粉末,タンタル 粉末,ハフニウム粉末は 200メッシュ以下に分級した粉末を使用した。これを 1600° C 、真空中でホットプレスしさらに熱間静水圧プレス処理して焼結体を作製した。この結 果を、表 1に示す。
表 1に示す通り、比較例 1に示すタングステン、比較例 2に示すタンタル、比較例 3に 示すハフニウム添力卩量はそれぞれ、 5 at%、 15 at%、 30 at%に変化させたものである 。この結果、焼結体の密度は、 98. 3〜99. 6%の範囲で、いずれも 98%を超えていた また、酸素濃度は 350〜1960wtppmの範囲にあり、酸素含有量は高めとなっていた。 主成分であるルテニウムマトリックス組織の平均結晶粒径は 6〜21 μ mの範囲にあつ た。特に重要となる粒状の副成分金属相又は主成分と副成分の合金相若しくは化合 物相(以下、「副成分金属相」という。)の平均粒径は小さぐいずれも本発明の条件 を満たしていなカゝつた。
[0030] 以上に示す通り、比較例 1〜3は、いずれもターゲットの密度が 98wt%以上の範囲に あり、酸素量は 350〜1960wtppmの範囲にあり、酸素含有量は多かった。
比較例 1 1 (表中、「比 1 1」と記載する。以下同様。)については、粒状副成分か らなる W金属相は 90 mの大きさであり、本願発明の条件を満たしていな力つた。ま た、該副成分 W金属相の周囲には、平均厚さ 35 μ mの合金相(主成分と副成分との 合金相)又は化合物相が若干形成されていた。この結果、加工性は良好であり、ァー キングの発生がなかったが、パーティクルの発生は 21 X 10— 3ケ /cm2であり、実施例に 比べ不良な Ru-5at%Wターゲットが得られた。
なお、合金相又は化合物相の平均幅が 5 m以下又は全く形成されない場合につ いては、特に例として示さないが、パーティクルの発生はさらに増加する傾向があつ た。以下の比較例についても、同様の傾向が認められた。したがって、以下の説明で は、副成分金属相の周囲に形成される合金相又は化合物相の平均幅が 5 m以下 の場合については、説明を省略する。
[0031] 比較例 1 2については、粒状副成分力 なる W金属相は 72 mの大きさであり、本 願発明の条件を満たしていな力つた。また、副成分 W金属相の周囲には、平均厚さ 28 μ mの合金相(主成分と副成分との合金相)又は化合物相が形成されて!、たが、 加工性は良くなぐアーキングの発生は無力つた力 さらにパーティクルの発生は 32 X 10— 3ケ /cm2であり、不良な Ru-15at%Wターゲットが得られた。
比較例 1 3については、粒状副成分力 なる W金属相は 61 μ mの大きさであり、本 願発明の条件を満たしていな力つた。また、副成分 W金属相の周囲には、平均厚さ 2 4 mの合金相(主成分と副成分との合金相)又は化合物相が形成されていた力 加 ェ性は不良であった。またアーキングの発生があり、さらにパーティクルの発生は 47 X 10— 3ケ /cm2と増加し、不良な Ru-30at%Wターゲットが得られた。
[0032] 比較例 2— 1については、粒状副成分力 なる Ta金属相は 53 μ mの大きさであり、本 願発明の条件を満たしていな力つた。副成分 Ta金属相の周囲には、平均厚さ 15 m の合金相(主成分と副成分との合金相)又は化合物相が形成されていたが、加工性 は良好とは言えず、アーキングの発生があり、さらにパーティクルの発生は 49 X 10— 3ケ /cm2であり、不良な Ru-5at%Taターゲットが得られた。
比較例 2— 2については、粒状副成分力 なる Ta金属相は 64 mの大きさであり、本 願発明の条件を満たしていな力つた。副成分 Ta金属相の周囲には、平均厚さ 18 /z m の合金相(主成分と副成分との合金相)又は化合物相が形成されていたが、加工性 は不良であり、アーキングの発生があり、さらにパーティクルの発生は 58 X 10— 3ケ /cm2 であり、不良な Ru-15at%Taターゲットが得られた。
比較例 2— 3については、粒状副成分力 なる Ta金属相は 33 mの大きさであり、本 願発明の条件を満たしていな力つた。副成分 Ta金属相の周囲には、平均厚さ の合金相(主成分と副成分との合金相)又は化合物相が形成されていたが、加工性 は不良であり、アーキングの発生があり、さらにパーティクルの発生は 89 X 10— 3ケ /cm2 と著しく多く、不良な Ru-30at%Taターゲットが得られた。
[0033] 比較例 3— 1については、粒状副成分力 なる Hf金属相は 26 mの大きさであり、本 願発明の条件を満たしていな力つた。副成分 Hf金属相の周囲には、平均厚さ 1 /z m の合金相(主成分と副成分との合金相)又は化合物相が形成されていたが、加工性 は不良であり、アーキングの発生が有り、さらにパーティクルの発生は 52 X 10— 3ケ /cm2 と非常に多くなり、不良 Ru-5at%Hfターゲットが得られた。
比較例 3— 2については、粒状副成分力 なる Hf金属相は 16 mの大きさであり、本 願発明の条件を満たしていな力つた。副成分 Hf金属相の周囲には、平均厚さ 1 /z m の合金相(主成分と副成分との合金相)又は化合物相が形成されていたが、加工性 は不良であり、アーキングの発生があり、さらにパーティクルの発生は 69 X 10— 3ケ /cm2 と多くなり、不良 Ru-15at%Hfターゲットが得られた。
比較例 3— 3については、粒状副成分力 なる Hf金属相は 11 mの大きさであり、本 願発明の条件を満たしていな力つた。副成分 Hf金属相の周囲には、平均厚さ 1 /z m の合金相(主成分と副成分との合金相)又は化合物相が形成されていたが、加工性 は不良であり、アーキングの発生があり、さらにパーティクルの発生は 84 X 10— 3ケ /cm2 と異常に多くなり、不良 Ru-30at%Hfターゲットが得られた。
同様に、比較例 1 比較例 3についても、表 1にその結果を示す。
[0034] (実施例 4、実施例 5、実施例 6)
市販 4Nグレードのロジウム粉末 (低酸素品: Rh)を超高真空チャンバ一に導入し、こ の Rh粉末に高出力赤外線ランプ加熱にて酸素を除去した。原料 Rh粉末の酸素濃度 は 900ppmであり、粒径は 2.2 μ mである。粉末体の温度をおよそ 1200° Cとした。チヤ ンバーに接続された酸素モニターで十分酸素が放出されたことを確認してから加熱 を停止し、急速冷却して、室温まで冷却した。
次に、これを容器に入れ、アルゴンガスを導入すると共に、 EB (電子ビーム)溶解タ ンタルインゴットを水素ィ匕'脱水素化を繰り返して粉砕し、更に、 50メッシュ〜 200メッシ ュに分級した 4Nグレードのタングステン粉末、タンタル粉末、ハフニウム粉末を、添カロ 量をそれぞれ 5 at%、 15 at%、 30 at%に変えてルテニウム粉末と混合した。タンダス テン原料粉の酸素濃度は 20ppm、タンタル原料粉の酸素濃度は 80ppm、ハフニウム 原料粉の酸素濃度は 130ppmである。
[0035] これら混合粉を再度 1100° Cで脱酸処理を行い、 1600° C、真空中でホットプレスし さらに熱間静水圧プレス処理して焼結体を作製した。この結果を、表 2に示す。
表 2に示す通り、実施例 4に示すタングステン、実施例 5に示すタンタル、実施例 6〖こ 示すハフニウム添力卩量はそれぞれ、 5 at%、 15 at%、 30 at%に変化させたものである 。この結果、焼結体の密度は、 98. 0〜99. 8%の範囲で、いずれも 98%を超えていた また、酸素濃度は 40〜260wtppmの範囲にあり、低酸素化を達成していた。主成分で あるロジウムマトリックス組織の平均結晶粒径は 13〜34 μ mの範囲にあった。
特に重要となる粒状の副成分金属相又は主成分と副成分の合金相若しくは化合物 相(以下、「副成分金属相」という。)の平均粒径は、いずれも本発明の条件を満たし ていた。そして、主成分となる組織 (マットリックス)中に、その粒状副成分力もなる金 属相が均一に点在していた。
[0036] 以上に示す通り、実施例 4〜6は、いずれもターゲットの純度が 98wt%以上(但し、ガ ス成分及びその他の不純物を除く)の範囲にあり、酸素量は 40〜260wtppmの範囲に めつに。
実施例 4 1 (表中、「実 4 1」と記載する。以下同様。)については、粒状副成分か らなる W金属相は 138 mの大きさであり、該副成分金属相の周囲には、平均厚さ 27 IX mの合金相(主成分と副成分との合金相)又は化合物相が形成されていた。この結 果、加工性は優れており、アーキングの発生がなぐさらにパーティクルの発生は 6 X 10— 3ケ /cm2であり、優れた Rh-5at%Wターゲットが得られた。
[0037] なお、合金相又は化合物相の平均幅が 5 μ m以下又は全く形成されな 、場合につ いては、特に例として示さないが、パーティクルの発生は若干増加する傾向があった 。しかし、その増加量はわずかであり、特に問題となるレベルではな力つた。
粒状副成分の周囲に形成される主成分との合金相又は化合物相の存在は、より好 ましい条件ではある力 特に大きく影響を受けるのは、粒状副成分の全体の大きさで あることが確認できた。以下の実施例についても、同様の傾向が認められた。したが つて、以下の説明では、副成分金属相の周囲に形成される合金相又は化合物相の 平均幅が 5 m以下の場合については、説明を省略する。
[0038] 実施例 4— 2については、粒状副成分力もなる W金属相は 130 mの大きさであり、 該副成分金属相の周囲には、平均厚さ 26 mの合金相(主成分と副成分との合金相 )又は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は優れており、アーキングの発 生がなぐさらにパーティクルの発生は 7 X 10— 3ケ /cm2であり、優れた Rh- 15at%Wター ゲットが得られた。
実施例 4— 3については、粒状副成分力もなる W金属相は 130 mの大きさであり、 該副成分金属相の周囲には、平均厚さ 25 μ mの合金相(主成分と副成分との合金相 )又は化合物相が形成されていた。この結果、加工性に優れており、アーキングの発 生がなぐさらにパーティクルの発生は 12 X 10— 3ケ /cm2であり、良好な Rh-30at%Wター ゲットが得られた。
[0039] 実施例 5—1については、粒状副成分力もなる Ta金属相は 136 mの大きさであり、 該副成分金属相の周囲には、平均厚さ 30 mの合金相(主成分と副成分との合金相 )又は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は優れており、アーキングの発 生がなぐさらにパーティクルの発生は 3 X 10— 3ケ /cm2であり、優れた Rh-5at%Taターゲ ットが得られた。
実施例 5— 2については、粒状副成分力もなる Ta金属相は 118 mの大きさであり、 該副成分金属相の周囲には、平均厚さ 22 μ mの合金相(主成分と副成分との合金相 )又は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は良好であり、アーキングの発 生がなぐさらにパーティクルの発生は 4 X 10— 3ケ /cm2であり、優れた Rh- 15at%Taター ゲットが得られた。
実施例 5— 3については、粒状副成分力もなる Ta金属相は 169 mの大きさであり、 該副成分金属相の周囲には、平均厚さ 30 mの合金相(主成分と副成分との合金相 )又は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は良好であり、アーキングの発 生がなぐさらにパーティクルの発生は 9 X 10— 3ケ /cm2であり、良好な Rh-30at%Taター ゲットが得られた。
[0040] 実施例 6—1については、粒状副成分力 なる Hf金属相は 209 mの大きさであり、 該副成分金属相の周囲には、平均厚さ 10 mの合金相(主成分と副成分との合金相 )又は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は良好であり、アーキングの発 生がなぐさらにパーティクルの発生は 6 X 10— 3ケ /cm2であり、優れた Rh-5at%Hfターゲ ットが得られた。
実施例 6— 2については、粒状副成分力 なる Hf金属相は 162 mの大きさであり、 該副成分金属相の周囲には、平均厚さ 8 mの合金相(主成分と副成分との合金相) 又は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は良好であり、アーキングの発 生がなぐさらにパーティクルの発生は 9 X 10— 3ケ /cm2であり、優れた Rh- 15at%Hfター ゲットが得られた。
実施例 6— 3については、粒状副成分力 なる Hf金属相は 208 mの大きさであり、 該副成分金属相の周囲には、平均厚さ 9 mの合金相(主成分と副成分との合金相) 又は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は良好であり、アーキングの発 生がなぐさらにパーティクルの発生は 14 X 10— 3ケ /cm2であり、良好な Rh-30at%Hfター ゲットが得られた。
以上の結果を、表 2に示す。
[表 2]
Figure imgf000019_0001
[0042] (比較例 4、比較例 5、比較例 6)
上記実施例 4— 6と同様にして混合粉を作製した。但し,タングステン粉末,タンタル 粉末,ハフニウム粉末は 200メッシュ以下に分級した粉末を使用した。これを 1600° C 、真空中でホットプレスしさらに熱間静水圧プレス処理して焼結体を作製した。この結 果を、表 2に示す。
表 2に示す通り、比較例 4に示すタングステン、比較例 5に示すタンタル、比較例 6に 示すハフニウム添力卩量はそれぞれ、 5 at%、 15 at%、 30 at%に変化させたものである 。この結果、焼結体の密度は、 96. 3〜99. 9%の範囲で、 Hfの添加の場合には密度 の低下が著しぐ 98%切っているものも存在した。
また、酸素濃度は 500〜2220wtppmの範囲にあり、酸素含有量は高めとなっていた。 主成分であるロジウムマトリックス組織の平均結晶粒径は 6〜28 μ mの範囲にあった。 特に重要となる粒状副成分力 なる金属相は 21 μ m〜93 μ mの大きさであり、いずれ も本願発明の範囲外であった。下記に詳細を説明する。
[0043] 以上に示す通り、比較例 4〜6は、いずれもターゲットの密度が 98wt%以上の範囲に あり、但し酸素量は 500〜2220wtppmの範囲にあり、酸素含有量は多かった。
比較例 4 1 (表中、「比 4 1」と記載する。以下同様。)については、粒状副成分か らなる W金属相は 53 mの大きさであり、本願発明の条件を満たしていな力つた。ま た、該副成分 W金属相の周囲には、平均厚さ 10 mの合金相(主成分と副成分との 合金相)又は化合物相が若干形成されていた。この結果、加工性はやや良いぐァ 一キングの発生がな力つた力 パーティクルの発生は 26 X 10— 3ケ /cm2であり、実施例 に比べ不良な Rh-5at%Wターゲットが得られた。
なお、合金相又は化合物相の平均幅が 5 m以下又は全く形成されない場合につ いては、特に例として示さないが、パーティクルの発生はさらに増加する傾向があつ た。以下の比較例についても、同様の傾向が認められた。したがって、以下の説明で は、副成分金属相の周囲に形成される合金相又は化合物相の平均幅が 5 m以下 の場合については、説明を省略する。
[0044] 比較例 4 2については、粒状副成分力 なる W金属相は 64 mの大きさであり、本 願発明の条件を満たしていな力つた。該副成分 W金属相の周囲には、平均厚さ 12 mの合金相(主成分と副成分との合金相)又は化合物相が形成されていた。この結果 、カロ工性は良いが、アーキングの発生があり、さらにパーティクルの発生は 54 X 10— 3ケ /cm2であり、不良な Ru-15at%Wターゲットが得られた。
比較例 4一 3については、粒状副成分力 なる W金属相は 64 mの大きさであり、本 願発明の条件を満たしていな力つた。該副成分 W金属相の周囲には、平均厚さ 12 mの合金相(主成分と副成分との合金相)又は化合物相が形成されていたが、加工 性は良くなぐまたアーキングの発生があり、さらにパーティクルの発生は 57 X 10— 3ケ / cm2と増加し、不良な Rh-30at%Wターゲットが得られた。
[0045] 比較例 5— 1については、粒状副成分力 なる Ta金属相は 93 μ mの大きさであり、本 願発明の条件を満たしていな力つた。該副成分 Ta金属相の周囲には、平均厚さ 19 μ mの合金相(主成分と副成分との合金相)又は化合物相が形成されていたが、カロ ェ性は良好とは言えず、アーキングの発生があり、さらにパーティクルの発生は 57 X 10一3ケ /cm2であり、不良な Rh-5at%Taターゲットが得られた。
比較例 5— 2については、粒状副成分力 なる Ta金属相は 78 mの大きさであり、本 願発明の条件を満たしていな力つた。該副成分 Ta金属相の周囲には、平均厚さ 14 μ mの合金相(主成分と副成分との合金相)又は化合物相が形成されていたが、カロ ェ性は良いとはいえず、アーキングの発生があり、さらにパーティクルの発生は 78 X I 0— 3ケ /cm2であり、不良な Rh-15at%Taターゲットが得られた。
比較例 5— 3については、粒状副成分力 なる Ta金属相は 85 mの大きさであり、本 願発明の条件を満たしていな力つた。該副成分 Ta金属相の周囲には、平均厚さ 15 μ mの合金相(主成分と副成分との合金相)又は化合物相が形成されていたが、カロ 工性は不良であり、アーキングの発生があり、さらにパーティクルの発生は 89 X 10— 3ケ /cm2と著しく多く、不良な Rh-30at%Taターゲットが得られた。
[0046] 比較例 6— 1については、粒状副成分力 なる Hf金属相は 44 mの大きさであり、本 願発明の条件を満たしていな力つた。該副成分 Hf金属相の周囲には、平均厚さ 2 mの合金相(主成分と副成分との合金相)又は化合物相が形成されていたが、加工 性は不良であり、アーキングの発生が有り、さらにパーティクルの発生は 65 X 10— 3ケ /c m2と非常に多くなり、不良 Rh-5at%Hfターゲットが得られた。 比較例 6— 2については、粒状副成分力 なる Hf金属相は 21 μ mの大きさであり、本 願発明の条件を満たしていな力つた。該副成分 Hf金属相の周囲には、平均厚さ 1 mの合金相(主成分と副成分との合金相)又は化合物相が形成されていたが、加工 性は不良であり、アーキングの発生があり、さらにパーティクルの発生は 67 X 10— 3ケ /c m2と多くなり、不良 Rh-15at%Hfターゲットが得られた。
比較例 6— 3については、粒状副成分力 なる Hf金属相は 30 mの大きさであり、本 願発明の条件を満たしていな力つた。該副成分 Hf金属相の周囲には、平均厚さ 2 mの合金相(主成分と副成分との合金相)又は化合物相が形成されていたが、加工 性は不良であり、アーキングの発生があり、さらにパーティクルの発生は 91 X 10— 3ケ /c m2と異常に多くなり、不良 Rh-30at%Hfターゲットが得られた。
同様に、比較例 4 比較例 6についても、表 1にその結果を示す。
[0047] (実施例 7、実施例 8、実施例 9)
市販 3Nグレードのイリジウム粉末 (低酸素品: Ir)を超高真空チャンバ一に導入し、こ の Ir粉末に高出力赤外線ランプ加熱にて酸素を除去した。原料 Ir粉末の酸素濃度は 1800ppmであり、粒径は 1.8 μ mである。粉末体の温度をおよそ 1200° Cとした。チャン バーに接続された酸素モニターで十分酸素が放出されたことを確認して力 加熱を 停止し、急速冷却して、室温まで冷却した。
次に、これを容器に入れ、アルゴンガスを導入すると共に、 EB (電子ビーム)溶解タ ンタルインゴットを水素ィ匕'脱水素化を繰り返して粉砕し、更に、 50メッシュ〜 200メッシ ュに分級した 4Nグレードのタングステン粉末、タンタル粉末、ハフニウム粉末を、添カロ 量をそれぞれ 5 at%、 15 at%、 30 at%に変えてルテニウム粉末と混合した。タンダス テン原料粉の酸素濃度は 20ppm、タンタル原料粉の酸素濃度は 80ppm、ハフニウム 原料粉の酸素濃度は 130ppmである。
[0048] これら混合粉を再度 1100° Cで脱酸処理を行い、 1600° C、真空中でホットプレスし さらに熱間静水圧プレス処理して焼結体を作製した。この結果を、表 3に示す。
表 3に示す通り、実施例 7に示すタングステン、実施例 8に示すタンタル、実施例 9に 示すハフニウム添力卩量はそれぞれ、 5 at%、 15 at%、 30 at%に変化させたものである 。この結果、焼結体の密度は、 98. 7〜99. 9%の範囲で、いずれも 98%を超えていた また、酸素濃度は 30〜220wtppmの範囲にあり、低酸素化を達成していた。主成分で あるイリジウムマトリックス組織の平均結晶粒径は ll〜30 /z mの範囲にあった。特に重 要となる粒状副成分力もなる金属相は 122 μ m〜212 μ mの大きさであり、本願発明の 条件を満たしていた。
[0049] 以上に示す通り、実施例 7〜9は、いずれもターゲットの純度が 98wt%以上(但し、ガ ス成分及びその他の不純物を除く)の範囲にあり、酸素量は 30〜220wtppmの範囲に めつに。
実施例 7— 1 (表中、「実 7— 1」と記載する。以下同様。)については、粒状副成分か らなる W金属相は 128 mの大きさであり、該副成分金属相の周囲には、平均厚さ 25 μ mの合金相(主成分と副成分との合金相)又は化合物相が形成されていた。この結 果、この結果、加工性は優れており、アーキングの発生がなぐさらにパーティクルの 発生は 13 X 10— 3ケ /cm2であり、優れた Ir-5at%Wターゲットが得られた。
[0050] なお、合金相又は化合物相の平均幅が 5 μ m以下又は全く形成されな 、場合につ いては、特に例として示さないが、パーティクルの発生は若干増加する傾向があった 。しかし、その増加量はわずかであり、特に問題となるレベルではな力つた。
粒状副成分の周囲に形成される主成分との合金相又は化合物相の存在は、より好 ましい条件ではある力 特に大きく影響を受けるのは、粒状副成分の全体の大きさで あることが確認できた。以下の実施例についても、同様の傾向が認められた。したが つて、以下の説明では、副成分金属相の周囲に形成される合金相又は化合物相の 平均幅が 5 m以下の場合については、説明を省略する。
[0051] 実施例 7— 2については、粒状副成分力もなる W金属相は 122 mの大きさであり、 該副成分金属相の周囲には、平均厚さ 22 μ mの合金相(主成分と副成分との合金相 )又は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は優れており、アーキングの発 生がなぐさらにパーティクルの発生は 12 X 10— 3ケ /cm2であり、優れた Ir- 15at%Wター ゲットが得られた。
実施例 7— 3については、粒状副成分力もなる W金属相は 161 μ mの大きさであり、 該副成分金属相の周囲には、平均厚さ 32 μ mの合金相(主成分と副成分との合金相 )又は化合物相が形成されていた。この結果、加工性に優れており、アーキングの発 生がなぐさらにパーティクルの発生は 9 X 10— 3ケ /cm2であり、良好な Ir-30at%Wターゲ ットが得られた。
[0052] 実施例 8—1については、粒状副成分力 なる Ta金属相は 149 mの大きさであり、 該副成分金属相の周囲には、平均厚さ 15 μ mの合金相(主成分と副成分との合金相 )又は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は優れており、アーキングの発 生がなぐさらにパーティクルの発生は 7 X 10— 3ケ /cm2であり、優れた Ir-5at%Taターゲ ットが得られた。
実施例 8— 2については、粒状副成分力もなる Ta金属相は 170 mの大きさであり、 該副成分金属相の周囲には、平均厚さ 17 mの合金相(主成分と副成分との合金相 )又は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は良好であり、アーキングの発 生がなぐさらにパーティクルの発生は 5 X 10— 3ケ /cm2であり、優れた Ir-15at%Taター ゲットが得られた。
実施例 8— 3については、粒状副成分力もなる Ta金属相は 179 mの大きさであり、 該副成分金属相の周囲には、平均厚さ 18 mの合金相(主成分と副成分との合金相 )又は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は良好であり、アーキングの発 生がなぐさらにパーティクルの発生は 5 X 10— 3ケ /cm2であり、良好な Ir-30at%Taター ゲットが得られた。
[0053] 実施例 9—1については、粒状副成分力もなる Hf金属相は 196 mの大きさであり、 該副成分金属相の周囲には、平均厚さ 7 mの合金相(主成分と副成分との合金相) 又は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は良好であり、アーキングの発 生がなぐさらにパーティクルの発生は 5 X 10— 3ケ /cm2であり、優れた Ir-5at%Hfターゲ ットが得られた。
実施例 9— 2については、粒状副成分力 なる Hf金属相は 182 mの大きさであり、 該副成分金属相の周囲には、平均厚さ 6 mの合金相(主成分と副成分との合金相) 又は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は良好であり、アーキングの発 生がなぐさらにパーティクルの発生は 6 X 10— 3ケ /cm2であり、優れた Ir-15at%Hfターゲ ットが得られた。 実施例 9— 3については、粒状副成分力 なる Hf金属相は 212 μ mの大きさであり、 該副成分金属相の周囲には、平均厚さ 11 mの合金相(主成分と副成分との合金相 )又は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は良好であり、アーキングの発 生がなぐさらにパーティクルの発生は 8 X 10— 3ケ /cm2であり、良好な Ir- 30at%Hfターゲ ットが得られた。
以上の結果を、表 3に示す。
[表 3]
Figure imgf000025_0001
[0055] (比較例 7、比較例 8、比較例 9)
上記実施例 7— 9と同様にして混合粉を作製した。但し,タングステン粉末,タンタル 粉末,ハフニウム粉末は 200メッシュ以下に分級した粉末を使用した。これを 1600° C 、真空中でホットプレスしさらに熱間静水圧プレス処理して焼結体を作製した。この結 果を、表 3に示す。
表 3に示す通り、比較例 7に示すタングステン、比較例 8に示すタンタル、比較例 9に 示すハフニウム添力卩量はそれぞれ、 5 at%、 15 at%、 30 at%に変化させたものである 。この結果、焼結体の密度は、 95. 8〜99. 9%の範囲で、 Hfの添カ卩の場合には密度 の低下が著しぐ 98%切っているものも存在した。
また、酸素濃度は 350〜2320wtppmの範囲にあり、酸素含有量は高めとなっていた。 主成分であるイリジウムマトリックス組織の平均結晶粒径は 13〜28 μ mの範囲にあつ た。特に重要となる粒状副成分力 なる金属相は 27 π!〜 63 mの大きさであり、い ずれも本願発明の範囲に入るものではな力つた。以下、詳細を説明する。
[0056] 以上に示す通り、比較例 7〜9は、いずれもターゲットの純度が 98wt%以上(但し、ガ ス成分及びその他の不純物を除く)の範囲にあり、但し酸素量は 350〜2320wtppmの 範囲にあり、酸素含有量は多力つた。
比較例 7— 1 (表中、「比 7— 1」と記載する。以下同様。)については、粒状副成分か らなる W金属相は 52 mの大きさであり、該副成分金属相の周囲には、平均厚さ mの合金相(主成分と副成分との合金相)又は化合物相が形成されていた。この結果 、加工性が悪ぐアーキングの発生は無力つた力 パーティクルの発生は 39 X 10— 3ケ / cm2であり、実施例に比べ不良な Ir-5at%Wターゲットが得られた。
なお、合金相又は化合物相の平均幅が 5 m以下又は全く形成されない場合につ いては、特に例として示さないが、パーティクルの発生はさらに増加する傾向があつ た。以下の比較例についても、同様の傾向が認められた。したがって、以下の説明で は、副成分金属相の周囲に形成される合金相又は化合物相の平均幅が 5 m以下 の場合については、説明を省略する。
[0057] 比較例 7— 2については、粒状副成分力 なる W金属相は 62 μ mの大きさであり、該 副成分金属相の周囲には、平均厚さ 9 μ mの合金相(主成分と副成分との合金相)又 は化合物相が形成されていた。この結果、加工性はやや良いが、アーキングの発生 が無かったが、パーティクルの発生は 28 X 10— 3ケ /cm2であり、不良な Ir- 15at%Wターゲ ットが得られた。
比較例 7— 3については、粒状副成分力 なる W金属相は 63 mの大きさであり、該 副成分金属相の周囲には、平均厚さ 9 μ mの合金相(主成分と副成分との合金相)又 は化合物相が形成されていた。この結果、加工性はやや良いが、またアーキングの 発生があり、さらにパーティクルの発生は 85 X 10— 3ケ /cm2と増加し、不良な Ir-30at%W ターゲットが得られた。
[0058] 比較例 8— 1については、粒状副成分力 なる Ta金属相は 41 μ mの大きさであり、該 副成分金属相の周囲には、平均厚さ 4 mの合金相(主成分と副成分との合金相)又 は化合物相が形成されていた。この結果、加工性はやや良ぐアーキングの発生も無 いが、パーティクルの発生は 39 X 10— 3ケ /cm2であり、不良な Ir-5at%Taターゲットが得 られた。
比較例 8— 2については、粒状副成分力 なる Ta金属相は 42 mの大きさであり、該 副成分金属相の周囲には、平均厚さ 4 mの合金相(主成分と副成分との合金相)又 は化合物相が形成されていた。この結果、加工性が悪ぐアーキングの発生はないが 、パーティクルの発生は 35 X 10— 3ケ /cm2であり、不良な Ir-15at%Taターゲットが得られ た。
比較例 8— 3については、粒状副成分力 なる Ta金属相は 28 mの大きさであり、該 副成分金属相の周囲には、平均厚さ 2 μ mの合金相(主成分と副成分との合金相)又 は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は不良であり、アーキングの発生が あり、さらにパーティクルの発生は 76 X 10— 3ケ /cm2と著しく多ぐ不良な Ir-30at%Taター ゲットが得られた。
[0059] 比較例 9 1については、粒状副成分力 なる Hf金属相は 36 mの大きさであり、該 副成分金属相の周囲には、平均厚さ 1 μ mの合金相(主成分と副成分との合金相)又 は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は不良であり、アーキングの発生が 有り、さらにパーティクルの発生は 52 X 10— 3ケ /cm2と非常に多くなり、不良 Ir-5at%Hfタ 一ゲットが得られた。 比較例 9 2については、粒状副成分力 なる Hf金属相は 27 mの大きさであり、該 副成分金属相の周囲には、平均厚さ 1 μ mの合金相(主成分と副成分との合金相)又 は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は不良であり、アーキングの発生が あり、さらにパーティクルの発生は 77 X 10— 3ケ /cm2と多くなり、不良 Ir-15at%Hfターゲッ トが得られた。
比較例 9 3については、粒状副成分力 なる Hf金属相は 28 mの大きさであり、該 副成分金属相の周囲には、平均厚さ 1 μ mの合金相(主成分と副成分との合金相)又 は化合物相が形成されていた。この結果、加工性は不良であり、アーキングの発生が あり、さらにパーティクルの発生は 103 X 10— 3ケ /cm2と異常に多くなり、不良 Ir- 30at%Hf ターゲットが得られた。
同様に、比較例 7 比較例 9についても、表 1にその結果を示す。
(実施例 10、実施例 11、実施例 12)
実施例 10として、実施例 1の条件の、 W量が 15at%、副成分相の平均粒径が 128〜1 35 mである場合について、実施例 11として、実施例 2の Ta量が 15at%、副成分相の 平均粒径 131〜140 /ζ πιである場合について、実施例 12として、実施例 3の Hf量が 15 at%、副成分相の平均粒径 191〜202 /ζ πιである場合について、それぞれマトリックスの 平均粒径、相対密度、酸素量、炭素量が変化した場合の、加工性、了一キング、パ 一ティクル個数にっ 、ての結果を表 4示す。
この表 4に示す実施例 10、実施例 11、実施例 12では、いずれの場合もアーキング の発生はなかった。実施例 10 (W添加)の場合、加工性はいずれも非常に良好であ り、酸素量と炭素量が若干増えた場合に、パーティクル個数がやや増えた程度で、い ずれも良好な結果となった。
実施例 11 (Ta添加)の場合、酸素量と炭素量が増えると、加工性が少し低下し、また パーティクル個数がやや増加する傾向を示した力 問題となるものではなかった。 実施例 12 (Hf添加)の場合、副成分相の平均粒径がやや大きくなり、酸素量と炭素 量が増加すると、加工性が少し低下した。また、パーティクル個数もやや増加する傾 向を示した。しかし、いずれも問題となるものではなかった。逆に酸素量と炭素量を低 減させた場合には、加工性が向上し、パーティクル個数も減少する傾向があった。 以上から、副成分相の平均粒径を調整し、酸素量と炭素量を減少させることによつ て、加工性をより向上させ、パーティクル数を減少させることができると言える。特に、 酸素量と炭素量は、できるだけ少ない方が望ましいと言える。他の要素については目 立った影響はなかった。
[表 4]
Figure imgf000030_0001
実施例 13、実施例 14、実施例 15)
実施例 13として、実施例 4の条件の、 W量が 15at%、副成分相の平均粒径 127〜134 mである場合について、実施例 14として、実施例 5の Ta量が 15at%、副成分相の平 均粒径117〜120 iu mでぁる場合にっぃて、実施例 15として、実施例 6の Hf量が 15at% 、副成分相の平均粒径 158〜162 /ζ πιである場合について、それぞれマトリックスの平 均粒径、相対密度、酸素量、炭素量が変化した場合の、加工性、了一キング、パー ティクル個数につ!ヽての結果を表 5示す。
この表 5に示す実施例 13、実施例 14、実施例 15は、いずれの場合もアーキングの 発生はなカゝつた。実施例 13 (W添加)及び実施例 14 (Ta添加)の場合、加工性はい ずれも非常に良好であり、酸素量と炭素量が若干増えた場合に、パーティクル個数 がやや増えた程度で、いずれも良好な結果となった。
実施例 15 (Hf添加)の場合、副成分相の平均粒径がやや大きくなり、酸素量と炭素 量が多いと、加工性がやや低下傾向が見られた。しかし、この程度は許容できる範囲 であり、特に問題となるものではなかった。
また、酸素量と炭素量が増えた場合に、パーティクル個数もやや増加する傾向を示 したが、問題となるものではなかった。逆にこれを低減させた場合には、加工性が向 上し、パーティクル個数も減少する傾向があった。
以上から、副成分相の平均粒径を調整し、酸素量と炭素量を減少させることによつ て、加工性をより向上させ、パーティクル数を減少させることができると言える。特に、 酸素量と炭素量は、できるだけ少ない方が望ましいと言える。他の要素については目 立った影響はなかった。
[表 5]
重 s6400
Figure imgf000032_0001
実施例 16として、実施例 7の条件の、 W量が 15at%、副成分相の平均粒径 120〜130 mである場合について、実施例 17として、実施例 8の Ta量が 15at%、副成分相の平 均粒径 170〜175 /ζ πιである場合について、実施例 18として、実施例 9の Hf量が 15at% 、副成分相の平均粒径 180〜190 /ζ πιである場合について、それぞれマトリックスの平 均粒径、相対密度、酸素量、炭素量が変化した場合の加工性、アーキング、パーテ イタル個数につ!ヽての結果を表 6示す。
この表 6に示す実施例 16、実施例 17、実施例 18では、いずれの場合もアーキング の発生はなかった。実施例 16 (W添加)の場合、副成分相の平均粒径がやや大きく なり、また炭素量が増力 tlした場合、加工性が若干低下するが、他はいずれも非常に 良好であった。
実施例 17 (Ta添加)の場合、副成分相の平均粒径が少し大きくなり、酸素量と炭素 量が増えると加工性が少し低下した。しかし、大きな変動はなかった。
実施例 18 (Hf添加)の場合、副成分相の平均粒径が大きくなり、酸素量と炭素量が 増加するとカ卩ェ性が少し低下した。パーティクル個数については、大きな変動はなか つた。しかし、いずれも問題となるものではな力つた。逆にこれを低減させた場合には 、加工性が向上し、パーティクル個数も減少する傾向があった。
以上から、副成分相の平均粒径を調整し、酸素量と炭素量を減少させることによつ て、加工性をより向上させることができると言える。特に、酸素量と炭素量は、できるだ け少ない方が望ましいと言える。他の要素については目立った影響はなかった。
[表 6]
Figure imgf000034_0001
本願発明における主成分となる高融点金属のルテニウム、ロジウム、イリジウムは、 いずれも 8族元素であり、近似する元素である。本実施例においては、それぞれ単独 の元素と副成分の組合せの例を示したが、これらを複合添加した高融点合金にぉ 、 ても同様の結果が得られることは理解されるべきである。したがって、本願発明にお いては、ルテニウム、ロジウム、イリジウムを複合添加した合金を包含する。
さらに、タングステン、タンタル、ハフニウムは、元素の周期律表では、 6族、 5族、 4 族として、それぞれ異なる族にあるが、本願発明の実施例に示すように、これらを前 記ルテニウム、ロジウム、イリジウムに添加する場合には、類似の性質及び作用'効果 を示すことが確認できた。したがって、これらの金属を複合添加する場合にも、類似 の作用、効果を示すことは、当然に理解されるべきである。したがって、これらを複合 添加する場合も、本願発明に包含されることは言うまでもな ヽ。
産業上の利用可能性
[0067] 本願発明の、ルテニウム、ロジウム、イリジウムを主成分とする高融点金属からなる合 金焼結体スパッタリングターゲットは、ターゲットの糸且織を改良してマトリックスを形成 する主成分以外の金属粒子の脱落を防止し、さらにガス成分等の不純物を低減させ 、密度を向上させ、スパッタ時のアーキングゃパーティクルの発生を少なくして、成膜 の品質を向上させると共に、ターゲットの加工性を向上させることができるという優れ た効果を有するので、半導体素子の成膜材料として、特にゲート電極材又は各種拡 散ノ リャの成膜用スノッタリングターゲットとして極めて有用である。
図面の簡単な説明
[0068] [図 1]実施例 1—2の高融点金属ターゲットの組織を示す図である。

Claims

請求の範囲
[1] W、 Ta又は Hfの 1種以上から選択した 50at%未満の副成分と残部 Ru、 Rh又は Irから 選択した少なくとも 1以上の主成分及び不可避的不純物力 なる高融点金属焼結体 であって、前記主成分の金属組織中に、平均粒径 100 m乃至 500 mの粒状の副 成分金属相又は主成分と副成分の合金相若しくは化合物相を備えて!ヽることを特徴 とする高融点金属からなる焼結体スパッタリングターゲット。
[2] 前記主成分の金属組織中に、 100 μ m乃至 300 μ mの粒状の副成分金属相又は主 成分と副成分の合金相若しくは化合物相を備えていることを特徴とする請求項 1記載 の高融点金属力もなる焼結体スパッタリングターゲット。
[3] 粒状副成分金属相の周囲に、平均幅が 5 μ m乃至 50 μ mの主成分と副成分の合金 相又は化合物相を備えていることを特徴とする請求項 1又は 2記載の高融点金属か らなる焼結体スノッタリングターゲット。
[4] 粒状の副成分金属相の周囲に、平均幅が 5 m乃至 100 mの主成分と副成分の合 金相又は化合物相を備えていることを特徴とする請求項 1又は 2記載の高融点金属 力 なる焼結体スパッタリングターゲット。
[5] 粒状副成分金属相の周囲に、平均幅が 5 μ m乃至 200 μ mの主成分と副成分の合金 相又は化合物相を備えていることを特徴とする請求項 1又は 2記載の高融点金属か らなる焼結体スノッタリングターゲット。
[6] ガス成分の不純物である酸素含有量が 300wtppm以下、炭素含有量が 100 wtppm以 下であることを特徴とする請求項 1〜5のいずれかに記載の高融点金属からなる焼結 体スパッタリングターゲット。
[7] ガス成分以外の不純物含有量の総量力 100 wtppm以下であることを特徴とする請 求項 1〜5のいずれかに記載の高融点金属力 なる焼結体スパッタリングターゲット。
[8] 相対密度が 98%以上であり、 100 m以上の空隙が存在しないことを特徴とする請求 項 1〜7のいずれかに記載の高融点金属力 なる焼結体スパッタリングターゲット。
[9] ターゲット面積 lcm3当りの、合金組成のばらつきが ± 10%以下であることを特徴とする 請求項 1〜8のいずれかに記載の高融点金属力 なる焼結体スパッタリングターゲッ
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2270252A1 (en) * 2008-03-17 2011-01-05 Nippon Mining & Metals Co., Ltd. Sintered target and method for production of sintered material
WO2022004354A1 (ja) * 2020-06-30 2022-01-06 株式会社フルヤ金属 スパッタリングターゲット及びその製造方法

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009167530A (ja) * 2009-02-10 2009-07-30 Nippon Mining & Metals Co Ltd ニッケル合金スパッタリングターゲット及びニッケルシリサイド膜
US7951708B2 (en) * 2009-06-03 2011-05-31 International Business Machines Corporation Copper interconnect structure with amorphous tantalum iridium diffusion barrier
JP5863411B2 (ja) * 2011-11-17 2016-02-16 田中貴金属工業株式会社 マグネトロンスパッタリング用ターゲットおよびその製造方法
JP5877517B2 (ja) * 2013-01-28 2016-03-08 Jx金属株式会社 希土類磁石用スパッタリングターゲット及びその製造方法
EP2907891B1 (en) * 2013-03-22 2017-09-13 JX Nippon Mining & Metals Corp. Tungsten-sintered-body sputtering target and method for producing same
KR102451379B1 (ko) * 2016-11-21 2022-10-06 마테리온 코포레이션 바이오센서용 루테늄 합금
CN112359257A (zh) * 2020-08-18 2021-02-12 长沙南方钽铌有限责任公司 一种钽合金、钽合金无缝管制备方法及钽合金无缝管

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05156384A (ja) 1991-12-06 1993-06-22 Hitachi Metals Ltd チタン−タングステンターゲット材の製造方法
JPH1136067A (ja) 1997-07-18 1999-02-09 Hitachi Metals Ltd モリブデン−タングステン系ターゲット
JP2000345327A (ja) * 1999-06-02 2000-12-12 Toshiba Corp スパッタリングターゲット、電極膜、および電子部品
JP2000355761A (ja) 1999-06-17 2000-12-26 Hitachi Metals Ltd バリア材成膜用Ta系ターゲットおよびその製造方法
JP2001020065A (ja) * 1999-07-07 2001-01-23 Hitachi Metals Ltd スパッタリング用ターゲット及びその製造方法ならびに高融点金属粉末材料
JP2002167668A (ja) * 2000-11-30 2002-06-11 Toshiba Corp スパッタリングターゲット
JP2002275625A (ja) * 2001-03-19 2002-09-25 Hitachi Metals Ltd Ruターゲット材およびその製造方法
JP2005336583A (ja) * 2004-05-28 2005-12-08 Hitachi Metals Ltd 焼結Ruターゲット材

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030052000A1 (en) * 1997-07-11 2003-03-20 Vladimir Segal Fine grain size material, sputtering target, methods of forming, and micro-arc reduction method
JP4058777B2 (ja) * 1997-07-31 2008-03-12 日鉱金属株式会社 薄膜形成用高純度ルテニウム焼結体スパッタリングターゲット及び同ターゲットをスパッタリングすることによって形成される薄膜
JP2000034563A (ja) * 1998-07-14 2000-02-02 Japan Energy Corp 高純度ルテニウムスパッタリングターゲットの製造方法及び高純度ルテニウムスパッタリングターゲット
JP4790118B2 (ja) * 2000-12-26 2011-10-12 Jx日鉱日石金属株式会社 酸化物焼結体及びその製造方法
WO2004001092A1 (ja) * 2002-06-24 2003-12-31 Nikko Materials Company, Limited AlRuスパッタリングターゲット及びその製造方法
JP4544501B2 (ja) * 2002-08-06 2010-09-15 日鉱金属株式会社 導電性酸化物焼結体、同焼結体からなるスパッタリングターゲット及びこれらの製造方法
JP2004319410A (ja) * 2003-04-21 2004-11-11 Mitsubishi Materials Corp マイクロマシンスイッチの接触電極用薄膜およびこの接触電極用薄膜を形成するためのスパッタリングターゲット
CN100457963C (zh) * 2003-08-05 2009-02-04 日矿金属株式会社 溅射靶及其制造方法
JP4522991B2 (ja) * 2004-03-01 2010-08-11 日鉱金属株式会社 高純度Ru粉末の製造方法

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05156384A (ja) 1991-12-06 1993-06-22 Hitachi Metals Ltd チタン−タングステンターゲット材の製造方法
JPH1136067A (ja) 1997-07-18 1999-02-09 Hitachi Metals Ltd モリブデン−タングステン系ターゲット
JP2000345327A (ja) * 1999-06-02 2000-12-12 Toshiba Corp スパッタリングターゲット、電極膜、および電子部品
JP2000355761A (ja) 1999-06-17 2000-12-26 Hitachi Metals Ltd バリア材成膜用Ta系ターゲットおよびその製造方法
JP2001020065A (ja) * 1999-07-07 2001-01-23 Hitachi Metals Ltd スパッタリング用ターゲット及びその製造方法ならびに高融点金属粉末材料
JP2002167668A (ja) * 2000-11-30 2002-06-11 Toshiba Corp スパッタリングターゲット
JP2002275625A (ja) * 2001-03-19 2002-09-25 Hitachi Metals Ltd Ruターゲット材およびその製造方法
JP2005336583A (ja) * 2004-05-28 2005-12-08 Hitachi Metals Ltd 焼結Ruターゲット材

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP2003226A4 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2270252A1 (en) * 2008-03-17 2011-01-05 Nippon Mining & Metals Co., Ltd. Sintered target and method for production of sintered material
EP2270252A4 (en) * 2008-03-17 2011-08-03 Nippon Mining Co SINTERED TARGET AND METHOD FOR PRODUCTION OF SINTERED MATERIAL
WO2022004354A1 (ja) * 2020-06-30 2022-01-06 株式会社フルヤ金属 スパッタリングターゲット及びその製造方法

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Publication number Publication date
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