WO2006006687A1 - 導電性微粒子、導電性微粒子の製造方法、及び、異方性導電材料 - Google Patents

導電性微粒子、導電性微粒子の製造方法、及び、異方性導電材料 Download PDF

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Definitions

  • the present invention relates to conductive fine particles, a method for producing conductive fine particles, and an anisotropic conductive material. More specifically, the present invention relates to conductive fine particles having excellent conductivity with few pores in a gold coating, The present invention relates to a method for producing conductive fine particles and an anisotropic conductive material using the conductive fine particles. Background art
  • metal particles such as gold, silver, and nickel have been used as conductive fine particles.
  • the shape with a large specific gravity is not constant, it may not be uniformly dispersed in the binder resin.
  • Patent Document 1 discloses a conductive electroless plating powder in which a substantially spherical resin powder particle is formed with a metal coating by an electroless plating method.
  • substitutional electroless gold plating is a deposition method that uses the difference in ionization tendency between the underlying nickel and gold, and the plating bath composition is relatively simple and easy to manage. At this point, the reaction stops, so that there is a problem that the deposited film thickness becomes thin, and there are many pores (pinholes) due to dissolution of the base.
  • gold plating has excellent stability of the plating bath, so that a sheet using cyan plating or the like is used.
  • the power of using an unbath Cyan bath is a strong alkali, so there are problems such as strong erosion of core particles and the problem of being harmful to the environment.
  • Non-cyanide electroless plating is desired. It was.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Laid-Open No. 8-311655
  • Patent Document 2 JP-A-5-295558
  • Patent Document 3 Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-3711583
  • the present invention provides conductive fine particles having excellent conductivity with few pores in the gold coating, a method for producing the conductive fine particles which are excellent in stability of the plating bath and are non-cyanide, and An object of the present invention is to provide an anisotropic conductive material using the conductive fine particles.
  • the invention according to claim 1 is a conductive fine particle in which a gold coating is formed by electroless gold plating on the surface of a base nickel coating,
  • a conductive fine particle having a nickel elution amount of 30 to LOO / z gZg when a dissolution test is performed using nitric acid.
  • the invention according to claim 2 has a reducing agent on the surface of the underlying nickel coating that causes an oxidation reaction on the surface of the underlying nickel coating and does not cause an acid-oxidation reaction on the surface of the gold that is the deposited metal.
  • a reducing agent on the surface of the underlying nickel coating that causes an oxidation reaction on the surface of the underlying nickel coating and does not cause an acid-oxidation reaction on the surface of the gold that is the deposited metal.
  • the invention according to claim 3 provides an anisotropic conductive material in which the conductive fine particles according to claim 1 are dispersed in a resin binder.
  • the conductive fine particles of the present invention are conductive fine particles in which a gold coating is formed by electroless gold plating on the surface of the underlying nickel coating.
  • the conductive fine particles of the present invention have a nickel coating, and can be obtained by forming a nickel coating on the surface of the core material particles.
  • the material of the core material particles has an appropriate elastic modulus, elastic deformability, and restoration property.
  • it is an organic material or an inorganic material, it is not particularly limited, but an organic material such as a resin particle is preferred.
  • the organic material is not particularly limited.
  • the (meth) acrylic acid ester polymer may be used in the form of a cross-linked type or a non-cross-linked type, if necessary. Of these, dibulene benzene-based polymers and (meth) acrylic acid ester-based polymers are preferably used.
  • (meth) acrylic acid ester means methacrylic acid ester or acrylic acid ester.
  • the inorganic material include metal, glass, ceramics, metal oxide, metal silicate, metal carbide, metal nitride, metal carbonate, metal sulfate, metal phosphate, metal sulfide, metal Examples thereof include acid salts, metal halides, and carbon.
  • These core particles may be used alone or in combination of two or more.
  • the method for forming the nickel coating on the surface of the core material particles is not particularly limited, and examples thereof include electroless plating, electrical plating, melting plating, and vapor deposition.
  • the core particles are non-conductive such as resin particles, a method of forming by electroless plating is preferably used.
  • the shape of the particles having a nickel coating formed on the surface of the core particles is not particularly limited as long as they can be suspended in water by a normal dispersion method. Alternatively, it may be a particle having a specific shape such as a fiber shape, a hollow shape, or a needle shape, or an irregularly shaped particle. Among these, in order to obtain a good electrical connection, the particles having a nickel coating formed on the surface of the core particles are preferably spherical.
  • the particle diameter of the particle having the nickel coating formed on the surface of the core particle is not particularly limited, but 1 to: LOO / z m is preferable, and 2 to 20 m force is more preferable.
  • the conductive fine particles of the present invention are those in which a gold film is formed by electroless gold plating on the surface of the above nickel coating, and the conductive fine particles are subjected to an elution test using nitric acid.
  • the elution amount of nickel should be 30-: LOO ⁇ gZg.
  • the gold coating formed by electroless gold plating is used.
  • conductive fine particles can be obtained with almost no pores (pinholes) due to dissolution of the undercoat layer coating. Therefore, since the gold film has few pores, it becomes a conductive fine particle having excellent conductivity.
  • the dissolution test using nitric acid is performed by a method in which the conductive nickel finely plated with gold is immersed in a 1% by weight nitric acid solution for 15 minutes and the amount of nickel eluted is measured by neutralization titration.
  • the sample lg can be immersed in a 1% by weight nitric acid solution, and the dissolved nickel is examined by neutralization titration to determine the amount of dissolved nickel.
  • the method for forming the gold coating on the surface of the nickel coating by electroless gold plating is not particularly limited as long as it is a method in which the amount of elution of the nickel is 30 to: L00 gZg. Therefore, for example, a method based on reduction electroless gold plating of a base catalyst type is preferably used. Further, in addition to the method based on the base catalyst type reduced electroless gold plating, for example, at least one of the method based on the autocatalytic type reduced electroless gold plating and the method based on substitutional electroless gold plating is used in combination. Moh.
  • the above-described method based on the base catalyst type reduced electroless gold plating uses a reducing agent that causes an oxidation reaction on the surface of the base nickel coating and does not cause an oxidation reaction on the gold surface as the deposited metal.
  • This is a method in which a gold film is formed by depositing gold by reducing gold salt existing on the surface.
  • the plating bath is not contaminated by the eluted base nickel ions as in the case of substitutional electroless gold plating.
  • the stability of the plating bath is such that gold does not decompose and precipitate in the plating bath.
  • the gold salt is not particularly limited.
  • gold cyanide such as KAu (CN), NaAuC
  • No salt such as sodium chloride, gold salt such as sodium chloride, chloroauric acid, gold sulfite, etc.
  • Examples include cyan gold salts.
  • non-cyanide electroless gold plating can be performed. It can be used with a strong alkali like a cyan bath, and therefore it is also considered in an environment in which erosion to the core particles does not occur.
  • salt metal salts such as sodium salt sodium salt and salt metal salt are preferred because a good gold plating film can be formed.
  • a reducing agent that causes an acid-oxidation reaction on the surface of the base nickel coating and does not cause an acid-acid reaction on the gold surface that is a deposited metal is used. It is preferable to deposit on the surface of the film by reducing sodium chloride and sodium to precipitate gold.
  • the above-described method for producing conductive fine particles is also one aspect of the present invention.
  • the above-mentioned method using the base catalyst type reduction type electroless gold plating is a method of depositing a gold plating film using nickel of the nickel coating as the base as a catalyst.
  • the gold plating method is performed using the base as a catalyst, the gold fine plating is not applied to the portion once gold-plated, so that conductive particles having a very uniform and constant gold-plated film thickness can be obtained.
  • Examples of the nickel coating as the base include a nickel-phosphorus alloy coating and a nickel boron alloy coating formed only with a pure nickel metal coating.
  • the phosphorus content of the nickel-phosphorus alloy coating is not particularly limited, but is preferably 0.5 to 15% by weight.
  • the boron content of the nickel-boron alloy coating is not particularly limited, but is preferably 0.5 to 3% by weight.
  • Examples of the base catalyst type reduced electroless gold plating bath include thiosulfate as a complexing agent in a plating bath based on gold chloride, sulfite as a reducing agent, and phosphoric acid as a buffering agent.
  • An example is a metal bath to which hydrogen ammonia is added.
  • a plating bath in which hydroxyamine is added to the above-described plating bath is more preferably used because it allows more uniform gold precipitation.
  • ammonium thiosulfate is preferable.
  • ammonium sulfite is preferred.
  • the concentration of gold chloride in the above bath is preferably 0.01 to 0. ImolZL. 03molZL is more preferred!
  • the concentration of thiosulfate as a complexing agent in the above bath is preferably from 0.08 to 0.8 molZL, more preferably from 0.08 to 0.24 mol / L! / ⁇ .
  • the concentration of sulfite as a reducing agent in the above-mentioned bath is preferably 0.3 to 2.4 molZL, more preferably 0.3 to LmolZL.
  • the concentration of hydroxylamine that stabilizes gold precipitation in the plating bath is preferably 0.1 to 0.3 mol ZL, and more preferably 0.1 to 0.15 mol ZL.
  • examples of the pH adjuster for adjusting the pH in the above-mentioned bath include sodium hydroxide and ammonia in the case of adjusting to the alkaline side, and among them, sodium hydroxide.
  • examples of the pH adjuster for adjusting the pH in the above-mentioned bath include sodium hydroxide and ammonia in the case of adjusting to the alkaline side, and among them, sodium hydroxide.
  • sulfuric acid, hydrochloric acid and the like can be mentioned. Of these, sulfuric acid is preferable.
  • the pH of the plating bath is preferably as high as possible in order to increase the reaction driving force.
  • the bath temperature of the above-mentioned bath is preferably high in order to increase the reaction driving force, but if it is too high, bath decomposition may occur, so 50-70 ° C is preferred! /.
  • a surfactant such as polyethylene glycol in combination in order to chemically suppress aggregation as well as to suppress aggregation by a physical method as described above.
  • the anisotropic conductive material of the present invention is obtained by dispersing the above-described conductive fine particles of the present invention in a resin binder.
  • the anisotropic conductive material is not particularly limited as long as the conductive fine particles of the present invention are dispersed in a resin binder.
  • anisotropic conductive paste anisotropic conductive ink
  • An anisotropic conductive adhesive anisotropic conductive film, anisotropic conductive sheet and the like can be mentioned.
  • the method for producing the anisotropic conductive material of the present invention is not particularly limited.
  • the conductive fine particles of the present invention are added to an insulating resin binder and mixed uniformly.
  • an anisotropic conductive paste, an anisotropic conductive ink, an anisotropic conductive adhesive or the like, or the conductive fine particles of the present invention in an insulating resin binder After preparing a conductive composition by mixing uniformly, this conductive composition is uniformly dissolved (dispersed) in an organic solvent as necessary, or heated and melted to release paper or a release film.
  • an anisotropic conductive film, an anisotropic conductive sheet, and the like are applied to the release treatment surface of a release material such as a film so that a predetermined film thickness is obtained, and drying or cooling is performed as necessary.
  • a release material such as a film so that a predetermined film thickness is obtained, and drying or cooling is performed as necessary.
  • the insulating resin binder and the conductive fine particles of the present invention may be used separately without being mixed to form an anisotropic conductive material.
  • the resin of the above insulating resin binder is not particularly limited, and examples thereof include acetate resin resin, salt resin resin, acrylic resin, styrene resin. Vinyl resin such as oil; thermoplastic resin such as polyolefin resin, ethylene acetate copolymer, polyamide resin; epoxy resin, urethane resin, polyimide resin, unsaturated Polyester-based resins and curable resins that have these hardeners; styrene butadiene styrene block copolymers, styrene isoprene styrene block copolymers, thermoplastic block copolymers such as hydrogenated products thereof; styrene butadiene copolymers Examples include elastomers such as polymer rubber, chloroprene rubber, acrylonitrile-styrene block copolymer rubber, and the like.
  • the curable resin may be in a miscured cured form such as a room temperature curing type, a thermosetting type, a photocuring type, and a moisture curing type.
  • the anisotropic conductive material of the present invention in addition to the insulating resin binder and the conductive fine particles of the present invention, the anisotropic conductive material of the present invention, if necessary, within a range that does not hinder the achievement of the present invention, for example, Various additives such as extenders, softeners (plasticizers), tackifiers, antioxidants (anti-aging agents), heat stabilizers, light stabilizers, UV absorbers, colorants, flame retardants, organic solvents, etc. One or more agents may be used in combination.
  • the conductive fine particles of the present invention have the above-mentioned configuration, the gold coating film has few pores and is excellent. It has become possible to obtain a conductive material.
  • the method for producing conductive fine particles of the present invention makes it possible to obtain conductive fine particles having excellent conductivity with few pores in the gold coating, excellent in stability of the plating bath, and a non-cyanide type.
  • the anisotropic conductive material using the conductive fine particles of the present invention has excellent conductivity.
  • Dibulene-based polymer resin particles with a particle size of 4 ⁇ m are treated with a 10 wt% solution of an ion adsorbent for 5 minutes, and then with a 0.01 wt% palladium sulfate aqueous solution.
  • the mixture was treated for 5 minutes, further reduced with dimethylamine borane, filtered, washed, and immersed in a nickel plating solution for reaction to obtain fine particles with nickel plating.
  • an aqueous suspension was prepared by preparing a solution containing 10 g of sodium chloride sodium chloride and lOOOmL of ion-exchanged water and mixing the obtained fine particles lOg with nickel plating.
  • the pH is adjusted to 10 using ammonia, the bath temperature is set to 60 ° C., and the reaction is performed for 15 to 20 minutes. Fine particles were obtained.
  • a solution containing 16 g of chlorophosphoric acid and lOOOmL of ion-exchanged water was prepared to the fine particles with nickel plating obtained in Example 1, and 10 g of the fine particles with nickel plating obtained were mixed.
  • An aqueous suspension was prepared.
  • a solution containing 7 g of cyanogen-plated potassium and lOOOmL of ion-exchanged water was prepared, and an aqueous suspension was prepared by mixing 10 g of the obtained fine particles with nickel plating.
  • the obtained solution is mixed with ammonia at a pH of 5.5 ° C, the bath temperature is 70 ° C, and the reaction is carried out for about 20 to 30 minutes. As a result, conductive fine particles with a gold coating formed by substitution gold plating are obtained. Obtained
  • the obtained conductive fine particles were subjected to an elution test using nitric acid in the same manner as in Example 1.
  • the elution amount of nickel was 213 gZg.
  • Example 1 As the resin of the resin binder, obtained in Example 1 was obtained by using 100 parts by weight of epoxy resin (manufactured by Yuka Shell Epoxy Co., Ltd., “Epicoat 82 8”), 2 parts by weight of trisdimethylaminoethylphenol, and 100 parts by weight of toluene.
  • the resulting conductive fine particles were added and mixed thoroughly using a planetary stirrer, and then applied onto the release film so that the thickness after drying was 7 / zm, and the toluene was evaporated to remove the conductive fine particles.
  • An adhesive film containing was obtained. The blending amount of the conductive fine particles was 50,000 / cm 2 in the film.
  • an adhesive film containing conductive fine particles was bonded to an adhesive film obtained without containing conductive fine particles at room temperature to obtain a two-layer anisotropic conductive film having a thickness of 17 m.
  • the obtained anisotropic conductive film was cut into a size of 5 ⁇ 5 mm.
  • two glass substrates with a lead wire for resistance measurement on which an aluminum electrode with a width of 200 ⁇ m, a length of lmm, a height of 0.2 m, and an L / S of 20 ⁇ m is formed are provided. I prepared a sheet. After attaching the anisotropic conductive film to the center of one glass substrate, align the other glass substrate so that it overlaps the electrode pattern of the glass substrate to which the anisotropic conductive film is attached. Let
  • Example 3 Two glass substrates were thermocompression bonded under the conditions of a pressure of 10N and a temperature of 180 ° C, and the resistance value between the electrodes was measured.
  • the anisotropic conductive films obtained in Example 3 and Comparative Example 2 were measured.
  • a resistance value between the electrodes was measured after performing a PCT test (held at 80 ° C. in a high-temperature and high-humidity environment of 95% RH for 100 hours) on the prepared test piece.
  • Table 1 shows the evaluation results.
  • the anisotropic conductive film of Example 3 using the conductive fine particles obtained in Example 1 is the anisotropic of Comparative Example 2 using the conductive fine particles obtained in Comparative Example 1.
  • Connection resistance is lower than that of conductive film.
  • the degree of increase in the resistance value after the PCT test is lower in Example 3 than in Comparative Example 2.
  • the reason for the low resistance value is thought to be the small number of pores in the gold plating film.
  • the conductive fine particles having a small number of pores in the gold coating and excellent conductivity are provided. It is possible to provide a method for producing the conductive fine particles which are excellent in stability of the bath and are non-cyanide, and an anisotropic conductive material using the conductive fine particles.

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Abstract

本発明は、金被膜の細孔が少なく優れた導電性を有する導電性微粒子、メッキ浴の安定性に優れノーシアン系である該導電性微粒子の製造方法、及び、該導電性微粒子を用いた異方性導電材料を提供することを目的とする。 本発明は、下地ニッケル被膜の表面に無電解金メッキにより金被膜が形成された導電性微粒子であって、該導電性微粒子を、硝酸を用いて溶出試験を行ったときの、ニッケルの溶出量が30~100μg/gである導電性微粒子、下地ニッケル被膜の表面で酸化反応を起こし析出金属である金の表面では酸化反応を起こさない還元剤を下地ニッケル被膜の表面に存在させ、塩化金ナトリウムを還元させて金を析出させる該導電性微粒子の製造方法、該導電性微粒子が樹脂バインダーに分散されてなる異方性導電材料である。

Description

明 細 書
導電性微粒子、導電性微粒子の製造方法、及び、異方性導電材料 技術分野
[0001] 本発明は、導電性微粒子、導電性微粒子の製造方法、及び、異方性導電材料に関 し、詳しくは、金被膜の細孔が少なく優れた導電性を有する導電性微粒子、該導電 性微粒子の製造方法、及び、該導電性微粒子を用いた異方性導電材料に関する。 背景技術
[0002] 従来、導電性微粒子として金、銀、ニッケル等の金属粒子が用いられてきたが、比重 が大きぐ形状が一定でないため、バインダー榭脂中に均一に分散しないことがあり
、異方性導電材料の導電性にムラを生じさせる原因となって ヽた。
これに対して、芯材粒子として榭脂粒子、ガラスビーズ等の非導電性粒子の表面に 無電解メツキによりニッケル又はニッケル 金等の金属被膜を施した導電性微粒子 が報告されている (例えば、特許文献 1参照)。
特許文献 1には、実質的に球状な榭脂粉末粒子を無電解メツキ法により金属被覆を 形成した導電性無電解メツキ粉体が開示されて!ヽる。
[0003] 一方、ニッケル被膜を有する導電性微粒子に金メッキを施す場合、従来、置換型無 電解金メッキが行われて 、た。
しかしながら、置換型無電解金メッキは、下地ニッケルと金とのイオン化傾向の差を利 用した析出方法であり、メツキ浴組成は比較的単純であり管理が容易であるが、反面 、下地ニッケルが被覆された時点で反応が停止するため、析出膜厚は薄くなり、かつ 、下地の溶解に起因する細孔 (ピンホール)が多数存在するという問題があった。
[0004] このため、置換型無電解金メッキでありながら厚付けが可能な高速置換型無電解金 メツキ液 (例えば、特許文献 2参照)や、置換及び還元が同時に起こる無電解金メッキ 液 (例えば、特許文献 3参照)が報告されている。
しかしながら、これらのメツキ液を用いた方法は、ニッケル等の汚染物質に非常に敏 感でありメツキ浴の安定性にかけるという問題があった。
[0005] また、通常、金メッキにはメツキ浴の安定性が優れることからシアンィ匕金等を用いたシ アン浴が用いられている力 シアン浴は強アルカリで用いられるため芯材粒子等への 浸食が強いという問題や、環境に有害であるという問題があり、ノーシアン系の無電 解金メッキが望まれて 、た。
特許文献 1:特開平 8— 311655号公報
特許文献 2:特開平 5 - 295558号公報
特許文献 3 :特開平 4— 371583号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0006] 本発明は、上記現状に鑑み、金被膜の細孔が少なく優れた導電性を有する導電性 微粒子、メツキ浴の安定性に優れノーシアン系である該導電性微粒子の製造方法、 及び、該導電性微粒子を用いた異方性導電材料を提供することを目的とする。 課題を解決するための手段
[0007] 上記目的を達成するために請求項 1記載の発明は、下地ニッケル被膜の表面に無 電解金メッキにより金被膜が形成された導電性微粒子であって、該導電性微粒子を
、硝酸を用いて溶出試験を行ったときの、ニッケルの溶出量が 30〜: LOO /z gZgであ る導電性微粒子を提供する。
[0008] また、請求項 2記載の発明は、下地ニッケル被膜の表面で酸化反応を起こし析出金 属である金の表面では酸ィ匕反応を起こさない還元剤を下地ニッケル被膜の表面に存 在させ、金塩を還元させて金を析出させる請求項 1記載の導電性微粒子の製造方法 を提供する。
[0009] また、請求項 3記載の発明は、請求項 1記載の導電性微粒子が榭脂バインダーに分 散されてなる異方性導電材料を提供する。
[0010] 以下、本発明の詳細を説明する。
本発明の導電性微粒子は、下地ニッケル被膜の表面に無電解金メッキにより金被膜 が形成された導電性微粒子である。
[0011] 本発明の導電性微粒子は、ニッケル被膜を有しているものであり、芯材粒子の表面 にニッケル被膜を形成することにより得ることができる。
上記芯材粒子の材質は、適度な弾性率、弾性変形性及び復元性を有するものであ れば、有機系材料であっても無機系材料であってもよく特に限定されないが、榭脂粒 子等の有機系材料であることが好まし 、。
上記有機系材料としては、特に限定されず、例えば、フエノール榭脂、アミノ榭脂、ポ リエステル榭脂、尿素樹脂、メラミン榭脂、エポキシ榭脂、ジビニルベンゼン重合体; ジビュルベンゼン スチレン共重合体、ジビュルベンゼン (メタ)アクリル酸エステ ル共重合体等のジビニルベンゼン系重合体;(メタ)アクリル酸エステル重合体等が 挙げられる。上記 (メタ)アクリル酸エステル重合体は、必要に応じて架橋型、非架橋 型いずれを用いてもよぐこれらを混合して用いてもよい。なかでも、ジビュルべンゼ ン系重合体、(メタ)アクリル酸エステル系重合体が好ましく用いられる。ここで、(メタ) アクリル酸エステルとはメタクリル酸エステル又はアクリル酸エステルを意味する。 上記無機系材料としては、例えば、金属、ガラス、セラミックス、金属酸化物、金属ケ ィ酸塩、金属炭化物、金属窒化物、金属炭酸塩、金属硫酸塩、金属リン酸塩、金属 硫化物、金属酸塩、金属ハロゲン化物、炭素等が挙げられる。
これらの芯材粒子は、単独で用いられてもよぐ 2種類以上が併用されてもよい。
[0012] 芯材粒子の表面にニッケル被膜を形成する方法としては、特に限定されず、例えば 、無電解メツキ、電気メツキ、溶融メツキ、蒸着等の方法が挙げられる。芯材粒子が榭 脂粒子等の非導電性である場合は、無電解メツキにより形成する方法が好適に用い られる。
[0013] 芯材粒子の表面にニッケル被膜が形成された粒子としては、通常の分散手法により 水中に懸濁させることができるものであればその形状は特に限定されるものではなく 、例えば、球状、繊維状、中空状、針状等の特定の形状を持った粒子でもよぐ不定 形状の粒子であってもよい。なかでも、良好な電気的接続を得るために芯材粒子の 表面にニッケル被膜が形成された粒子は球状が好ましい。
[0014] 芯材粒子の表面にニッケル被膜が形成された粒子の粒径は、特に限定されるもので はないが、 1〜: LOO /z mが好ましぐ 2〜20 m力より好ましい。
[0015] 本発明の導電性微粒子は、上記ニッケル被膜を下地として、その表面に無電解金メ ツキにより金被膜が形成されたものであり、導電性微粒子を、硝酸を用いて溶出試験 を行ったときの、ニッケルの溶出量が 30〜: LOO μ gZgであることが必要である。 [0016] 本発明の導電性微粒子を、硝酸を用いて溶出試験を行ったときの、ニッケルの溶出 量が 30〜: LOO /z g/gであれば、無電解金メッキにより形成された金被覆に、下地- ッケル被覆の溶解に起因する細孔 (ピンホール)が殆ど無!ヽ導電性微粒子を得ること ができる。従って、金被膜の細孔が少ないため、優れた導電性を有する導電性微粒 子となる。
[0017] 本発明において、硝酸を用いた溶出試験は、金メッキが施された導電性微粒子を、 1 重量%の硝酸溶液に 15分間浸漬し溶出したニッケル量を中和滴定により測定する 方法により行うことができる。具体的には、例えば試料 lgを 1重量%の硝酸溶液に浸 漬し、溶解したニッケルを中和滴定によりニッケル溶解量を調べることにより行うことが できる。
[0018] ニッケル被膜の表面に無電解金メッキにより金被膜を形成する方法としては、 -ッケ ルの溶出量が 30〜: L00 gZgとなる方法であれば特に限定されないが、金被膜の 細孔を少なくすることができるため、例えば、下地触媒型の還元型無電解金メッキに よる方法が好適に用いられる。また、下地触媒型の還元型無電解金メッキによる方法 に加えて、例えば、自己触媒型の還元型無電解金メッキによる方法、及び置換型無 電解金メッキによる方法の少なくとも ヽずれかの方法を併用してもょ ヽ。
[0019] 上記の、下地触媒型の還元型無電解金メッキによる方法は、下地ニッケル被膜の表 面で酸化反応を起こし析出金属である金の表面では酸化反応を起こさない還元剤を 下地ニッケル被膜の表面に存在させ、金塩を還元させて金を析出させることにより金 被膜を形成する方法である。
[0020] 上記の、下地触媒型の還元型無電解金メッキによれば、置換型無電解金メッキのよう に、溶出した下地ニッケルイオンによりメツキ浴が汚染されることがなぐまた、自己触 媒型の還元型無電解金メッキのように、メツキ浴中に金が分解析出することがなぐメ ツキ浴の安定性は良好となる。
[0021] 上記金塩としては、特に限定されず、例えば、 KAu (CN)等のシアン化金、 NaAuC
2
1 · 2Η Ο等の塩ィ匕金ナトリウム、塩化金酸等のハロゲン化金塩、亜硫酸金等のノー
4 2
シアン系金塩等が挙げられる。
上記ノーシアン系金塩を用いることにより、ノーシアン系の無電解金メッキを行うことが でき、シアン浴のように強アルカリで用いられることがな 、ため芯材粒子等への浸食 がなぐ環境にも配慮したものとなる。上記ノーシアン系金塩のなかでも、良好な金メ ツキ被膜が形成できることから塩ィ匕金ナトリウム、塩ィ匕金酸等の塩ィ匕金塩が好ま 、。
[0022] 従って、本発明の導電性微粒子の製造方法は、下地ニッケル被膜の表面で酸ィ匕反 応を起こし析出金属である金の表面では酸ィ匕反応を起こさない還元剤を下地ニッケ ル被膜の表面に存在させ、塩ィ匕金ナトリウムを還元させて金を析出させることが好ま しい。
上記の、導電性微粒子の製造方法もまた、本発明の一つである。
[0023] 次に、下地触媒型の還元型無電解金メッキの具体的な方法について説明する。
上記の、下地触媒型の還元型無電解金メッキによる方法は、下地であるニッケル被 膜のニッケルを触媒として金メッキ被膜を析出させる方法である。
下地を触媒として ヽる金メッキ方法のため、一度金メッキが施された部位には金メッキ が施されないということから非常に均一で一定の金メッキ膜厚を有する導電性微粒子 を得ることができる。
[0024] 下地であるニッケル被膜としては、例えば、純ニッケル金属被膜だけでなぐニッケル リン合金被膜、ニッケル ホウ素合金被膜等が挙げられる。
上記ニッケル—リン合金被膜のリン含有量としては、特に限定されないが、 0. 5〜15 重量%が好ましい。
また、上記ニッケル—ホウ素合金被膜のホウ素含有量としては、特に限定されないが 、 0. 5〜3重量%が好ましい。
[0025] 下地触媒型の還元型無電解金メッキ浴としては、例えば、塩化金塩を基本とするメッ キ浴に錯化剤としてチォ硫酸塩、還元剤として亜硫酸塩、及び、緩衝剤としてリン酸 水素アンモ-ゥムが添加されたメツキ浴等が挙げられる。更に、上記メツキ浴にヒドロ キシルァミンが添加されたメツキ浴はより均一な金析出が可能なことからより好適に用 いられる。
上記チォ硫酸塩のなかでも、チォ硫酸アンモ-ゥムが好ましい。また、上記亜硫酸塩 のなかでも、亜硫酸アンモ-ゥムが好ましい。
[0026] 上記メツキ浴中の塩化金塩の濃度は、 0. 01〜0. ImolZLが好ましぐ 0. 01-0. 03molZLがより好まし!/ヽ。
上記メツキ浴中の錯化剤としてチォ硫酸塩の濃度は、 0. 08〜0. 8molZLが好まし く、 0. 08〜0. 24mol/L力より好まし!/ヽ。
上記メツキ浴中の還元剤として亜硫酸塩の濃度は、 0. 3〜2. 4molZLが好ましぐ 0 . 3〜: LmolZLがより好ましい。
上記メツキ浴中の、金析出を安定させるヒドロキシルァミンの濃度は、 0. 1〜0. 3mol ZLが好ましぐ 0. 1〜0. 15molZLがより好ましい。
[0027] また、上記メツキ浴中の、 pHを調整するための pH調整剤としては、例えば、アルカリ 性側に調整する場合は水酸化ナトリウム、アンモニア等が挙げられ、なかでも、水酸 化ナトリウムが好ましぐ酸性側に調整する場合は硫酸、塩酸等が挙げられ、なかでも 、硫酸が好ましい。
上記メツキ浴の pHは、反応駆動力を高めるため高い方がよぐ 8〜: L0が好ましい。
[0028] 更に、上記メツキ浴の浴温は、反応駆動力を高めるため高い方がよいが、高過ぎると 浴分解が起こることがあるため、 50〜70°Cが好まし!/、。
[0029] また、上記メツキ浴は、水溶液中に粒子が均一に分散していないと反応による凝集が 生じ易くなるため、粒子を均一に分散させ、凝集を生じさせないように超音波及び攪 拌機の少なくとも 、ずれかを用いて分散させることが好ま 、。
[0030] 更に、上記のように物理的な方法で凝集を抑制するだけでなぐ化学的に凝集を抑 制するために、ポリエチレングリコール等の界面活性剤を併用することがより好ましい
[0031] 本発明の異方性導電材料は、上述した本発明の導電性微粒子が榭脂バインダーに 分散されてなるものである。
[0032] 上記異方性導電材料としては、本発明の導電性微粒子が榭脂バインダーに分散さ れていれば特に限定されるものではなぐ例えば、異方性導電ペースト、異方性導電 インク、異方性導電粘接着剤、異方性導電フィルム、異方性導電シート等が挙げられ る。
[0033] 本発明の異方性導電材料の作製方法としては、特に限定されるものではないが、例 えば、絶縁性の榭脂バインダー中に本発明の導電性微粒子を添加し、均一に混合し て分散させ、例えば、異方性導電ペースト、異方性導電インク、異方性導電粘接着 剤等とする方法や、絶縁性の榭脂バインダー中に本発明の導電性微粒子を添加し、 均一に混合して導電性組成物を作製した後、この導電性組成物を必要に応じて有 機溶媒中に均一に溶解 (分散)させるか、又は加熱溶融させて、離型紙や離型フィル ム等の離型材の離型処理面に所定のフィルム厚さとなるように塗工し、必要に応じて 乾燥や冷却等を行って、例えば、異方性導電フィルム、異方性導電シート等とする方 法等が挙げられ、作製しょうとする異方性導電
材料の種類に対応して、適宜の作製方法をとればよい。また、絶縁性の榭脂バイン ダ一と、本発明の導電性微粒子とを、混合することなぐ別々に用いて異方性導電材 料としてもよい。
[0034] 上記絶縁性の榭脂バインダーの榭脂としては、特に限定されるものではないが、例え ば、酢酸ビュル系榭脂、塩ィ匕ビュル系榭脂、アクリル系榭脂、スチレン系榭脂等のビ 二ル系榭脂;ポリオレフイン系榭脂、エチレン 酢酸ビュル共重合体、ポリアミド系榭 脂等の熱可塑性榭脂;エポキシ系榭脂、ウレタン系榭脂、ポリイミド系榭脂、不飽和ポ リエステル系榭脂及びこれらの硬化剤力 なる硬化性榭脂;スチレン ブタジエン スチレンブロック共重合体、スチレン イソプレン スチレンブロック共重合体、これら の水素添加物等の熱可塑性ブロック共重合体;スチレン ブタジエン共重合ゴム、ク ロロプレンゴム、アクリロニトリル一スチレンブロック共重合ゴム等のエラストマ一類(ゴ ム類)等が挙げられる。これらの榭脂は、単独で用いられてもよいし、 2種以上が併用 されてもよい。また、上記硬化性榭脂は、常温硬化型、熱硬化型、光硬化型、湿気硬 化型等の 、ずれの硬化形態であってもよ 、。
[0035] 本発明の異方性導電材料には、絶縁性の榭脂バインダー、及び、本発明の導電性 微粒子に加えるに、本発明の課題達成を阻害しない範囲で必要に応じて、例えば、 増量剤、軟化剤 (可塑剤)、粘接着性向上剤、酸化防止剤 (老化防止剤)、熱安定剤 、光安定剤、紫外線吸収剤、着色剤、難燃剤、有機溶媒等の各種添加剤の 1種又は 2種以上が併用されてもょ ヽ。
発明の効果
[0036] 本発明の導電性微粒子は、上述の構成よりなるので、金被膜の細孔が少なく優れた 導電性を有するものを得ることが可能となった。また、本発明の導電性微粒子の製造 方法は、金被膜の細孔が少なく優れた導電性を有する導電性微粒子を、メツキ浴の 安定性に優れノーシアン系で得ることが可能となった。更に、本発明の導電性微粒 子を用いた異方性導電材料は、優れた導電性を有するものとなった。
発明を実施するための最良の形態
[0037] 以下、実施例を挙げて本発明をより詳しく説明する。なお、本発明は以下の実施例 に限定されるものではない。
[0038] (実施例 1)
粒径 4 μ mのジビュルベンゼン系重合体榭脂粒子 (積水化学工業社製)を、イオン吸 着剤の 10重量%溶液で 5分間処理し、その後、硫酸パラジウム 0. 01重量%水溶液 で 5分間処理し、更にジメチルァミンボランをカ卩えて還元処理を施し、濾過、洗浄し、 ニッケルメツキ液に浸して反応させることにより、ニッケルメツキが施された微粒子を得 た。
[0039] 次に、塩ィ匕金ナトリウム 10gとイオン交換水 lOOOmLとを含む溶液を調整し、得られ たニッケルメツキが施された微粒子 lOgを混合して水性懸濁液を調整した。
得られた水性懸濁液に、チォ硫酸アンモ-ゥム 30g、亜硫酸アンモ-ゥム 80g、及び 、リン酸水素アンモ-ゥム 40gを投入しメツキ液を調製した。
得られたメツキ液にヒドロキシルァミン 1 Ogを投入後、アンモニアを用い pHを 10に合 わせ、浴温を 60°Cにし、 15〜20分程度反応させることにより金被覆が形成された導 電性微粒子を得た。
[0040] 得られた導電性微粒子を 1重量%の硝酸溶液に 15分間浸漬し、溶出したニッケル量 を中和滴定により測定して、硝酸を用いた溶出試験を行った結果、ニッケルの溶出 量は 52 /z gZgであった。
[0041] (実施例 2)
実施例 1で得られたニッケルメツキが施された微粒子に、塩ィ匕金酸 16gとイオン交換 水 lOOOmLとを含む溶液を調製し、得られたニッケルメツキが施された微粒子 10gを 混合して水性懸濁液を調製した。
得られた水性懸濁液に、チォ硫酸アンモ-ゥム 30g、亜硫酸アンモ-ゥム 80g、及び 、リン酸水素アンモ-ゥム 40gを投入しメツキ液を調製した。得られたメツキ液にァミノ ピリジン 5gを投入後、アンモニアを用い pH7に合わせ、浴温を 60°Cにし、 15〜20分 程度反応させることにより金被覆が形成された導電性微粒子を得た。
[0042] 得られた導電性微粒子を 1重量%の硝酸溶液に 15分間浸漬し、溶出したニッケル量 を中和滴定により測定して、硝酸を用いた溶出試験を行った結果、ニッケルの溶出 量は 52 /z gZgであった。
[0043] (比較例 1)
実施例 1と同様にして、ニッケルメツキが施された微粒子を得た。
次に、シアンィ匕金カリウム 7gとイオン交換水 lOOOmLとを含む溶液を調製し、得られ たニッケルメツキが施された微粒子 10gを混合して水性懸濁液を調製した。
得られた水性懸濁液に、 EDTA'4Na30g、及び、クェン酸一水和物 20gを投入しメ ツキ液を調製した。
得られたメツキ液を、アンモニアで pHを 5. 5〖こ合わせ、浴温を 70°C〖こし、 20〜30分 程度反応させることにより、置換金メッキで金被覆が形成された導電性微粒子を得た
[0044] 得られた導電性微粒子を、実施例 1と同様にして、硝酸を用いた溶出試験を行った 結果、ニッケルの溶出量は 213 gZgであった。
[0045] (実施例 3)
榭脂バインダーの榭脂としてエポキシ榭脂(油化シェルエポキシ社製、「ェピコート 82 8」) 100重量部、トリスジメチルアミノエチルフエノール 2重量部、及び、トルエン 100 重量部に、実施例 1で得られた導電性微粒子を添加し、遊星式攪拌機を用いて充分 に混合した後、離型フィルム上に乾燥後の厚さが 7 /z mとなるように塗布し、トルエン を蒸発させて導電性微粒子を含有する接着フィルムを得た。なお、導電性微粒子の 配合量は、フィルム中の含有量が 5万個/ cm2とした。
その後、導電性微粒子を含有する接着フィルムを、導電性微粒子を含有させずに得 た接着フィルムと常温で貼り合わせ厚さ 17 mで 2層構造の異方性導電フィルムを 得た。
[0046] (比較例 2) 比較例 1で得られた導電性微粒子を添加したこと以外は実施例 3と同様にして異方 性導電フィルムを得た。
[0047] (異方性導電材料の導電性評価)
得られた異方性導電フィルムを 5 X 5mmの大きさに切断した。また、一方に抵抗測 定用の引き回し線を持つ、幅 200 μ m、長さ lmm、高さ 0. 2 m、 L/S20 μ mのァ ルミ-ゥム電極が形成されたガラス基板を 2枚用意した。異方性導電フィルムを一方 のガラス基板のほぼ中央に貼り付けた後、他方のガラス基板を異方性導電フィルム が貼り付けられたガラス基板の電極パターンと重なるように位置あわせをして貼り合わ せた。
2枚のガラス基板を、圧力 10N、温度 180°Cの条件で熱圧着した後、電極間の抵抗 値を測定した。実施例 3、比較例 2で得られた異方性導電フィルムについてそれぞれ 測定した。
また、作製した試験片に対して PCT試験(80°C、 95%RHの高温高湿環境下で 100 0時間保持)を行った後、電極間の抵抗値を測定した。
評価結果を表 1に示す。
[0048] [表 1]
Figure imgf000011_0001
[0049] 表 1より、実施例 1で得られた導電性微粒子を用いた実施例 3の異方性導電フィルム は、比較例 1で得られた導電性微粒子を用いた比較例 2の異方性導電フィルムに比 ベ、接続抵抗値が低い。また、 PCT試験後の、抵抗値の上昇の度合いは、実施例 3 のほうが比較例 2に比べて低い。低い抵抗値の要因は、金メッキ被膜の細孔が少な いためと考えられる。
産業上の利用可能性
[0050] 本発明によれば、金被膜の細孔が少なく優れた導電性を有する導電性微粒子、メッ キ浴の安定性に優れノーシアン系である該導電性微粒子の製造方法、及び、該導 電性微粒子を用いた異方性導電材料を提供することができる。

Claims

請求の範囲
[1] 下地ニッケル被膜の表面に無電解金メッキにより金被膜が形成された導電性微粒子 であって、
該導電性微粒子を、硝酸を用いて溶出試験を行ったときの、ニッケルの溶出量が 30
〜: LOO /z gZgである
ことを特徴とする導電性微粒子。
[2] 下地ニッケル被膜の表面で酸ィ匕反応を起こし析出金属である金の表面では酸ィ匕反 応を起こさな 、還元剤を下地ニッケル被膜の表面に存在させ、金塩を還元させて金 を析出させることを特徴とする請求項 1記載の導電性微粒子の製造方法。
[3] 請求項 1記載の導電性微粒子が榭脂バインダーに分散されてなることを特徴とする 異方性導電材料。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011243456A (ja) * 2010-05-19 2011-12-01 Sekisui Chem Co Ltd 導電性粒子、異方性導電材料及び接続構造体
JP2011243455A (ja) * 2010-05-19 2011-12-01 Sekisui Chem Co Ltd 導電性粒子、異方性導電材料及び接続構造体
JP2016006764A (ja) * 2014-05-27 2016-01-14 積水化学工業株式会社 導電性粒子、導電材料及び接続構造体

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008218714A (ja) * 2007-03-05 2008-09-18 Bridgestone Corp 光透過性電磁波シールド材及びその製造方法、並びに貴金属の極薄膜を有する微粒子及びその製造方法
KR100892301B1 (ko) * 2007-04-23 2009-04-08 한화석유화학 주식회사 환원 및 치환금도금 방법을 이용한 도전볼 제조
CN104937674B (zh) * 2013-01-21 2018-01-30 东丽株式会社 导电性微粒
TW201511296A (zh) * 2013-06-20 2015-03-16 Plant PV 用於矽太陽能電池之核-殼型鎳粒子金屬化層
WO2017035103A1 (en) 2015-08-25 2017-03-02 Plant Pv, Inc Core-shell, oxidation-resistant particles for low temperature conductive applications
WO2017035102A1 (en) 2015-08-26 2017-03-02 Plant Pv, Inc Silver-bismuth non-contact metallization pastes for silicon solar cells
US9741878B2 (en) 2015-11-24 2017-08-22 PLANT PV, Inc. Solar cells and modules with fired multilayer stacks

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08311655A (ja) * 1995-05-16 1996-11-26 Nippon Chem Ind Co Ltd 導電性無電解めっき粉体
JP2004111163A (ja) * 2002-09-17 2004-04-08 Sekisui Chem Co Ltd 導電性微粒子及び異方性導電材料

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2976181A (en) * 1957-12-17 1961-03-21 Hughes Aircraft Co Method of gold plating by chemical reduction
US3300328A (en) * 1963-11-12 1967-01-24 Clevite Corp Electroless plating of gold
US3635824A (en) * 1969-07-03 1972-01-18 Bell Telephone Labor Inc Resistance heater and method for preparation thereof
US4167240A (en) * 1977-06-27 1979-09-11 Western Electric Company, Inc. Method of treating an electroplating solution comprising ions of gold and cyanide prior to electroplating and thermocompression bonding
JPS5554561A (en) * 1978-10-18 1980-04-21 Nippon Mining Co Ltd Metal plating method for powdered body by substitution method
US4450188A (en) * 1980-04-18 1984-05-22 Shinroku Kawasumi Process for the preparation of precious metal-coated particles
US4711814A (en) * 1986-06-19 1987-12-08 Teichmann Robert J Nickel particle plating system
US5882802A (en) * 1988-08-29 1999-03-16 Ostolski; Marian J. Noble metal coated, seeded bimetallic non-noble metal powders
DE4020795C1 (ja) * 1990-06-28 1991-10-17 Schering Ag Berlin-Bergkamen, 1000 Berlin, De
US5232492A (en) * 1992-01-23 1993-08-03 Applied Electroless Concepts Inc. Electroless gold plating composition
WO1994012686A1 (en) * 1992-11-25 1994-06-09 Kanto Kagaku Kabushiki Kaisha Electroless gold plating bath
EP0618307B1 (en) * 1993-03-26 1997-11-12 C. Uyemura & Co, Ltd Electroless gold plating bath
US5803957A (en) * 1993-03-26 1998-09-08 C. Uyemura & Co.,Ltd. Electroless gold plating bath
US5318621A (en) * 1993-08-11 1994-06-07 Applied Electroless Concepts, Inc. Plating rate improvement for electroless silver and gold plating
DE19745602C1 (de) * 1997-10-08 1999-07-15 Atotech Deutschland Gmbh Verfahren und Lösung zur Herstellung von Goldschichten
JP4116718B2 (ja) * 1998-11-05 2008-07-09 日本リーロナール有限会社 無電解金めっき方法及びそれに使用する無電解金めっき液
US6383269B1 (en) * 1999-01-27 2002-05-07 Shipley Company, L.L.C. Electroless gold plating solution and process
EP1327700A1 (en) * 2000-08-21 2003-07-16 Shipley Company LLC Electroless displacement gold plating solution and additive for preparing said plating solution
EP1338675B1 (en) * 2000-09-18 2016-11-09 Hitachi Chemical Co., Ltd. Electroless gold plating solution and method for electroless gold plating
KR100438408B1 (ko) * 2001-08-16 2004-07-02 한국과학기술원 금속간의 치환 반응을 이용한 코어-쉘 구조 및 혼합된합금 구조의 금속 나노 입자의 제조 방법과 그 응용
JP4375702B2 (ja) * 2001-10-25 2009-12-02 ローム・アンド・ハース・エレクトロニック・マテリアルズ,エル.エル.シー. めっき組成物
US6838022B2 (en) * 2002-07-25 2005-01-04 Nexaura Systems, Llc Anisotropic conductive compound
JP2004190075A (ja) * 2002-12-10 2004-07-08 Kanto Chem Co Inc 無電解金めっき液

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08311655A (ja) * 1995-05-16 1996-11-26 Nippon Chem Ind Co Ltd 導電性無電解めっき粉体
JP2004111163A (ja) * 2002-09-17 2004-04-08 Sekisui Chem Co Ltd 導電性微粒子及び異方性導電材料

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011243456A (ja) * 2010-05-19 2011-12-01 Sekisui Chem Co Ltd 導電性粒子、異方性導電材料及び接続構造体
JP2011243455A (ja) * 2010-05-19 2011-12-01 Sekisui Chem Co Ltd 導電性粒子、異方性導電材料及び接続構造体
JP2016006764A (ja) * 2014-05-27 2016-01-14 積水化学工業株式会社 導電性粒子、導電材料及び接続構造体

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