WO2005090902A1 - ステージ装置 - Google Patents

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WO2005090902A1
WO2005090902A1 PCT/JP2005/004757 JP2005004757W WO2005090902A1 WO 2005090902 A1 WO2005090902 A1 WO 2005090902A1 JP 2005004757 W JP2005004757 W JP 2005004757W WO 2005090902 A1 WO2005090902 A1 WO 2005090902A1
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WO
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stage
dimensional
angle
base
scale
Prior art date
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PCT/JP2005/004757
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English (en)
French (fr)
Inventor
Wei Gao
Satoshi Kiyono
Yoshiyuki Tomita
Makoto Tano
Original Assignee
Sumitomo Heavy Industries, Ltd.
Tohoku Technoarch Co., Ltd.
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Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Heavy Industries, Ltd., Tohoku Technoarch Co., Ltd. filed Critical Sumitomo Heavy Industries, Ltd.
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Priority to US11/522,400 priority Critical patent/US7257902B2/en

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70775Position control, e.g. interferometers or encoders for determining the stage position
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70716Stages

Definitions

  • the present invention relates to a stage device, and more particularly, to a stage device that can be moved with high accuracy in the X-Y direction and the rotation direction by a planar motor.
  • stage device which is a key component of a semiconductor exposure apparatus, must have an accuracy around lOnm and a movement range of several hundred mm.
  • stage device in order to improve the productivity of semiconductor devices, it is necessary to move a stage on which a workpiece is mounted at a high speed to a processing position. Therefore, it is desired to realize a stage device that satisfies all of the above requirements.
  • various semiconductor manufacturing apparatuses used in the semiconductor manufacturing process are provided with a stage device on which a wafer to be moved is mounted and moved.
  • This stage device has a driving device for driving a stage on which a wafer is mounted with respect to a base, and a position measuring device for measuring the position of the stage with respect to the base.
  • the SAWYER motor is one of the planar motors, and can move the stage freely in the XY direction and the rotation direction.
  • the plane motor here is a part of the motor provided on the stage, and cooperates with the protrusion provided on the base to raise the stage without using the XY axis. This means that the stage can be directly moved to a desired position (for example, see Patent Document 1).
  • FIG. 1 is a schematic diagram of a stage device to which a SAWYER motor is applied
  • FIG. 2 is a plan view of a component corresponding to a region A shown in FIG.
  • the stage device 200 generally includes a base 211, a pair of X-direction drive units 213, a pair of Y-direction drive units 214, a tilt drive unit 216, a movable stage unit 217, and a fixed stage unit 2. 19, a chuck 221, a mirror 222, and a laser willow box 223.
  • the planar motor includes a pair of X-direction drive units 213 and a pair of Y-direction drive units 214.
  • the X-direction drive unit 213 includes a plurality of coil units 215 and an air bearing 224. By applying a current to the coil section 215, a driving force is generated, and the movable stage section 217 is moved.
  • the X-direction drive unit 213 and the Y-direction drive unit 214 are composed of a plurality of coil units 215 and a pair of air bearings 224. By applying a current to the coil unit 215, a driving force is generated. The movable stage 217 is moved.
  • the tilt drive unit 216 is a mechanism for adjusting the horizontality of the movable stage unit 217.
  • the fixed stage section 219 is provided integrally with the movable stage section 217.
  • a chuck 221 for mounting a workpiece (moved object) is provided in a body.
  • a mirror 222 is provided on the movable stage section 217.
  • the mirror 222 reflects the emitted laser light.
  • the laser light reflected by the mirror 222 is reflected by the laser interference displacement meter 223, and the position of the movable stage 217 is measured.
  • the shape accuracy is assured over two displacement meters and a movement range perpendicular to the displacement detection direction.
  • a configuration is used in which position detection is performed using a combination of a high-precision straight ruler and the like.
  • a measuring device such as a rotary encoder or a linear encoder is provided for each degree of freedom.
  • X is used.
  • the position of the rotating stage can be determined by using a configuration in which a position measuring device is provided for each of the stacked stages that move independently in the direction or Y direction, or a measuring device that combines a circular scale and a single-axis stage. Measure and position each radius position independently Some were configured to do so.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-328702
  • measuring devices such as rotary encoders and linear encoders used in conventional position measuring devices can only perform one-dimensional positioning, and at least two of the above measuring devices must be combined for two-dimensional positioning. There are significant restrictions on equipment design.
  • the present invention has been made in view of the above points, and has as its object to provide a stage device capable of reducing the size of the device and measuring the position of the stage with respect to the base with high accuracy. .
  • a base a stage on which a moving object is mounted, and which moves on the base, a plane motor that drives the stage, An air bearing that floats the stage with respect to the base, an angular grid force that is disposed on the base, and whose angle-related property changes in a two-dimensional direction with a known function; And at least one two-dimensional angle sensor that irradiates light to the angle grid of the graduation part and detects a two-dimensional angle of the reflected light reflected by the graduation part.
  • a stage device is provided. The invention's effect
  • the present invention can provide a stage device that can reduce the size of the device and can measure the position of the stage with respect to the base with high accuracy.
  • the scale portion is formed from a two-dimensional angle grid representing an angular shape
  • two-dimensional position detection of the stage, as well as pitching angle It is also possible to detect the rolling angle and the jowing angle.
  • an angle grid it is possible to detect a position related to two-dimensional coordinates such as rectangular coordinates, cylindrical coordinates, polar coordinates, or coordinates along a free-form surface.
  • the two-dimensional angle sensor has a very small dead path as compared with a conventionally used laser interferometer or the like, and thus is less likely to be affected by measurement errors due to thermal expansion or air fluctuations. And posture measurement can be performed.
  • FIG. 1 is a schematic view of a stage device to which a SAYER motor is applied.
  • FIG. 2 is a plan view of a configuration corresponding to a region A shown in FIG. 1.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view of the stage device according to the first embodiment.
  • FIG. 4 is a plan view of a stage device corresponding to a region A shown in FIG. 3.
  • FIG. 5A is a plan view showing a relationship between a driving direction of a movable stage and propulsion forces of an X-direction and a Y-direction actuator.
  • FIG. 5B is a plan view showing a relationship between the driving direction of the movable stage and the propulsion force of the X-direction and Y-direction actuators.
  • FIG. 5C is a plan view showing a relationship between the driving direction of the movable stage and the propulsive force of the X-direction and ⁇ -direction actuators.
  • FIG. 5D is a plan view showing a relationship between the driving direction of the movable stage and the propulsion force of the X-direction and ⁇ -direction actuators.
  • FIG. 6 is an enlarged view of a portion corresponding to a region C shown in FIG. 3.
  • FIG. 7 is a perspective view of a scale section and a two-dimensional angle sensor.
  • FIG. 8 is a diagram illustrating an optical system of a two-dimensional angle sensor provided in the stage device of the present embodiment.
  • FIG. 9 is a view for explaining a scale section and a two-dimensional angle sensor provided in the stage device according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 10 is an exploded perspective view of a stage device according to a second embodiment of the present invention.
  • FIG. 11 is a perspective view of an assembled state in which a stage device is partially cut away.
  • FIG. 12 is a diagram for explaining the driving principle of the stage.
  • FIG. 13 is a schematic configuration diagram of a stage device according to the present embodiment.
  • FIG. 14 is a schematic configuration diagram of a stage device as a first modification of the stage device of the present embodiment.
  • FIG. 15 is a schematic configuration diagram of a stage device as a second modification of the stage device of the present embodiment.
  • FIG. 3 is a sectional view of the stage device according to the first embodiment
  • FIG. 4 is a plan view of the stage device corresponding to the region A shown in FIG.
  • the stage device 230 is a device having a SAWYER motor drive unit.
  • the stage device 230 includes a base 231, a stage 236, and a surface encoder 249.
  • a plurality of protrusions 232 are formed on the surface of the base 231 at a predetermined pitch. This predetermined pitch force is the minimum unit when the movable stage 237 is moved.
  • the base 231 is made of a metal such as iron.
  • the stage 236 includes a movable stage section 237, a fixed stage section 239, a chuck 241, X-direction actuators 242A and 242B, Y-direction actuators 243A and 243B, and a tilt drive section 245.
  • the movable stage section 237 is a base section driven by the X-direction actuators 242A and 242B and the Y-direction actuators 243A and 243B. As shown in Fig. 4, the movable stay The X-direction actuators 242A and 242B and the Y-direction actuators 243A and 243B are provided below the joint 237, and a space is formed in the center. Each of the X-direction actuators 242A and 242B and the Y-direction actuators 243A and 243B includes a plurality of coil portions 244 and an air bearing 238. When a current is applied to the coil section 244, a magnetic force is generated in the coil section 244, and a propulsive force is generated to drive the movable stage section 237.
  • the air bearing 238 is for floating the X-direction actuators 242A and 242B and the X-direction actuators 243A and 243B with respect to the base 231 by the force of air.
  • the tilt drive unit 245 is provided between the movable stage unit 237 and the X-direction actuators 242A and 242B and the Y-direction actuators 243A and 243B, respectively.
  • the tilt drive unit 245 is for performing horizontal positioning of the movable stage unit 237.
  • the fixed stage 239 is integrally provided on the movable stage 237.
  • the fixed stage unit 239 is moved to a desired position by driving the movable stage unit 237 using the X-direction actuators 242A and 242B and the Y-direction actuators 243A and 243B.
  • a chuck 241 for mounting a work 248 (moved body) is provided on the fixed stage section 239.
  • FIGS. 5A to 5D are plan views schematically showing the relationship between the driving direction of the movable stage and the thrust of the X-direction and Y-direction actuators.
  • FIG. 5A the propulsive force of the X-direction actuators 242A and 242B with respect to the X and X directions in which the movable stage 237 is to be moved is shown.
  • the current is applied to the coil unit 244 provided in the X-direction actuators 242A and 242B so as to generate the electric current.
  • the Y direction actuators 243A and 243B were moved with respect to the Y direction.
  • the coil units 244A and 243B provided in the Y-direction actuators 243A and 243B generate Apply a current to.
  • the fixed stage unit 239 moves to a desired position on the base 231, the application of current to the coil unit 244 is stopped, and the position of the fixed stage unit 239 is fixed. Note that the movable stage 237 is moved with the pitch of the convex portion 232 provided on the surface of the base 231 as a minimum unit, as described above.
  • the surface encoder 249 is for measuring the position of the movable stage 237.
  • the surface encoder 249 includes a scale unit 233 and two-dimensional angle sensors 14A to 14C.
  • FIG. 6 is an enlarged view of a portion corresponding to the region C shown in FIG.
  • the scale unit 233 is provided on a convex portion 232 provided on the base 231.
  • the scale unit 233 includes the scale portion 13, an upper resin 252, and a lower resin 253.
  • the graduation 13 changes the angle-related property in a two-dimensional direction known in the X and Y directions (in this embodiment, a set of peaks and valleys of a sine wave).
  • a plurality of angle gratings 40 are provided.
  • An upper resin 252 is provided on the upper surface of the scale 13, and a lower resin 253 is provided on the lower surface of the scale 13.
  • the upper and lower resins 252, 253 are for preventing the scale portion 13 from being damaged by an external force. Note that the upper resin 252 has good light transmittance.
  • the two-dimensional angle sensors 14A to 14C are provided on the bottom surface of a movable stage 237 surrounded by the X-direction actuators 242A and 242B and the Y-direction actuators 243A and 243B. It is configured to be installed. In this embodiment, three two-dimensional angle sensors 14 are provided.
  • the air flow can be compared with the conventional laser interferometer.
  • the position of the fixed stage 239 can be accurately obtained due to the influence of disturbance such as fluctuation.
  • the two-dimensional angle sensors 14A-14C with a scale consisting of a two-dimensional angle grid 40, the two-dimensional coordinate position, pitching angle, The rolling angle and the jowing angle can be detected, and the distance between the scale and the angle sensor can be detected by giving a known predetermined angle change to the angle sensor.
  • three two-dimensional angle sensors 14A to 14C are provided.
  • one two-dimensional angle sensor 14 is provided for ease of description. It is assumed that the following configuration is assumed.
  • the height shape of the angle grating 40 formed on the scale 13 is given by the following equation.
  • a and A are the amplitudes in the X and Y directions, respectively, and ⁇ and ⁇ are the wavelengths.
  • angle shapes of the angle grid 40 in the X and Y directions are obtained by partially differentiating the shape of the angle grid 40, respectively. And is given by:
  • FIG. 7 is a diagram for explaining a scale unit and a two-dimensional angle sensor provided in the stage device according to the first embodiment of the present invention.
  • the graduation portion 13 is formed on or in the surface of the base portion 41, and has a function whose angle is known in the two-dimensional directions of the X and Y directions (this embodiment In this example, the angle grid 40 is constituted by a set of peaks and valleys of a sine wave.
  • the two-dimensional angle sensor 14 that can detect the angle change in the two directions of X and Y, even if the height of the angle grid is Since the angular output in the angular direction differs depending on the position of the slope, the two-dimensional position can be determined from this difference.
  • the scale section 13 to the base 231 and attaching the two-dimensional angle sensor 14 to the drive stage 237, it is possible to detect the moving body in the relative movement, that is, the two-dimensional coordinates of the drive stage 237. .
  • the angle grating 40 in the present embodiment is formed by processing aluminum having a cylindrical shape.
  • the height of each sine wave is 0.3 ⁇ and its period is 300 m.
  • the angle amplitude of the angle grating 40 in this embodiment is ⁇ 21.6 minutes.
  • FIG. 9 is a view for explaining a scale section and a two-dimensional angle sensor provided in the stage device according to the first embodiment of the present invention.
  • the optical system that constitutes the two-dimensional angle sensor 14 includes a light source 50, reflecting prisms 52, 53, 57, 58, a beam splitter 54, a quarter-wave plate 55, a collimator lens 56, a photodiode 59, and the like. Have been. Then, the laser light 65 emitted from the light source 50, passing through the grid film 51, and reflected by the reflecting prisms 52 and 53, changes its direction, and its p-polarized light component has a beam splitter 54 and a quarter-wave plate.
  • the light passes through 5, is reflected upward by the reflecting prism 58, and hits the scale 13 (angle grating 40) attached to the base 231.
  • the laser beam 65 reflected by the scale 13 (angle grating 40) passes through the quarter-wave plate 55 again, becomes s-polarized light, is reflected by the beam splitter 54, passes through the collimator lens 56, and focuses on the collimator lens 56.
  • the light is condensed on the photodiode 59, which is divided into four parts and is located at a distance.
  • the two-dimensional angle sensor 14 detects a two-dimensional angle change according to the principle of laser autocollimation as described above.
  • the shape of the angle grating 40 serves as a reference for position detection. Therefore, if the shape includes an error, the position detection accuracy is affected.
  • a single laser beam is used as a probe of the two-dimensional angle sensor 14, its output is greatly affected by changes in the grating pitch of the angle grating 40 and shape errors. The influence of this error can be eliminated by irradiating the same phase of the angle grating 40 with a plurality of laser beams and always observing a plurality of peaks.
  • three two-dimensional angle sensors 14A to 14C are provided on the drive stage 237, thereby irradiating a plurality of laser beams in the same phase of the angle grating 40.
  • the measurement accuracy is improved by averaging the effects of the high-frequency component of the variation (grating pitch) and the shape error of the angle grating 40.
  • the angle grating 40 with three two-dimensional angle sensors 14A-14C, the two-dimensional coordinate position of the moving object in the relative movement of the scale 13 and the two-dimensional angle sensors 14A-14C, The pitching angle, rolling angle, and jowing angle can be detected, and the distance between the scale 13 and the two-dimensional angle sensors 14A-14C can be reduced by giving a known predetermined angle change to the two-dimensional angle sensors 14A-14C. Can be detected
  • the two-dimensional angle sensors 14A to 14C have a very small dead path as compared with a conventionally used laser interferometer or the like, and thus are less susceptible to measurement errors due to thermal expansion and air fluctuations. High position and orientation measurement can be performed.
  • the angle grid Even if the height is the same, the angular output in the angular direction differs depending on the position of the mountain slope, so that the two-dimensional position can be determined from this difference.
  • This allows the base 231 By attaching the scale 13 on the top and attaching the two-dimensional angle sensors 14A-14C to the movable stage 237, it is possible to detect the two-dimensional coordinates of the movable stage 237 (fixed stage 239).
  • the size of the device can be reduced, and the drive stage 237 can be moved in the X and X directions with respect to the base 231.
  • the position of the fixed stage 239 (movable stage 237) with respect to the base 231 can be measured with high accuracy in a state in which it can be driven in any of the ⁇ , Y, and 0 directions.
  • the position of the stage is detected by the laser beam from the laser measuring device 223.
  • the stage device 230 of this embodiment can detect the position of the stage 236 itself in units of the stage 236, a plurality of stages 236 are provided on one base 231. Thus, the positions of the plurality of stages 236 can be accurately detected.
  • one two-dimensional angle sensor may be provided even if one two-dimensional angle sensor is provided as described in the case where three two-dimensional angle sensors are provided.
  • FIG. 10 is an exploded perspective view of a stage device 10 according to a second embodiment of the present invention
  • FIG. 11 is a perspective view of the stage device 10 in a partially cut-out assembled state.
  • the stage apparatus 10 is an apparatus used for moving a wafer to be moved to a predetermined position in, for example, a semiconductor manufacturing stepper.
  • the stage device 10 includes a base 11, a stage 12, a surface encoder 24, a driving device, and the like.
  • the base 11 serves as a base of the stage device 10, and includes linear motor structures 20A and 25A, which will be described later, a Z-direction electromagnet 30, and two-dimensional angle sensors 14A to 14C.
  • linear motor structures 20A and 25A which will be described later
  • Z-direction electromagnet 30 and two-dimensional angle sensors 14A to 14C.
  • the case where the two-dimensional angle sensors 14A to 14C used in the first embodiment are used will be described as an example.
  • the stage 12 has a wafer 60 to be moved and a chuck 61 mounted thereon (FIG. 13). At the same time, a magnet 19 for the Z direction is disposed at the lower part via magnets 15, 16, a yoke 17, and a spacer 18.
  • the stage 12 is configured to be able to move in the X and Y directions in the figure with respect to the base 11, move in the Y direction, and rotate around the Z axis. Further, the same surface encoder 24 as that of the first embodiment is used.
  • three two-dimensional angle sensors 14A-14C are provided.
  • one two-dimensional angle sensor 14 is provided for ease of explanation. It is assumed that the following configuration is assumed.
  • the scale 13 is fixed at a substantially central position on the back surface of the stage 12 (the surface facing the base 11).
  • the two-dimensional angle sensor 14 is configured to be disposed on the base 11.
  • the drive device moves the stage 12 relative to the base 11 in the X direction, the Y direction, and the rotational movement about the Z axis.
  • the drive unit includes an X-direction linear motor structure 20A, 20B provided on the base 11, a Y-direction linear motor structure 25A, 25B, a Z-direction electromagnet 30, and an X-direction magnet 15 provided on the stage 12. , Y direction magnet 16, Z direction magnet 19 and the like.
  • the X-direction linear motor structure portion 20A is provided on the base 11, and includes a pair of X-direction coils 21A-1 and 21A-2 (referred to collectively as both X-direction coils 21A). And a directional core 22A.
  • the pair of X-direction coils 21A-1 and 21A-2 are arranged side by side in the direction of the arrow X in the figure, and are configured to be able to independently supply current.
  • the X-direction linear motor structure 20B has the same configuration as the X-direction linear motor structure 20A, and includes an X-direction coil 21B (not denoted by a reference numeral, but is constituted by a pair of X-direction coils). And X-direction core 22B.
  • the X-direction linear motor structure 20A and the X-direction linear motor structure 20B are separated from each other in the direction of the arrow Y in FIG. It is said that.
  • the Y-direction linear motor structure 25A and the Y-direction linear motor It has the same configuration as the X-direction linear motor structure 20A described above. That is, the Y-direction linear motor structure portion 25A is constituted by a Y-direction coil 26A (a symbol is not attached, but is constituted by a pair of Y-direction coils) and a Y-direction core 27A.
  • the Y-direction linear motor structure 25B is composed of a Y-direction coil 26B (not shown, but composed of a pair of Y-direction coils) and a Y-direction core 27B.
  • the Y-direction linear motor structure portion 25A and the Y-direction linear motor structure portion 25B have a configuration in which the two-dimensional angle sensors 14A to 14C are interposed between the two-dimensional angle sensors 14A to 14C and are separated in the arrow X direction in the drawing. Being! / Puru.
  • the Z-direction electromagnet 30 raises the stage 12 with respect to the base 11, thereby forming a gap between the X-direction magnet 15A and each of the magnets 15, 16 provided on the stage 12 described later. It has the function of forming
  • the Z-direction electromagnet 30 includes a Z-direction coil 31 and a Z-direction core 32.
  • the rectangular base 11 is provided at each of the four corner positions.
  • the means for floating the stage 12 with respect to the base 11 may be a method using compressed air or a method using a plurality of balls to support the base 11 in addition to the magnetic means employed in this embodiment. Means for doing so can be considered.
  • the stage 12 is provided with the X-direction magnet 15 and the Y-direction magnet 16. Although not shown in the figure, a total of four magnets 15, 16 are provided in pairs. Therefore, when the stage 12 is viewed from the bottom, the magnets 15 and 16 are arranged so as to cooperate to form a substantially square.
  • the X-direction magnet 15 is composed of a plurality of magnet rows (a collection of small magnets) in which a plurality of equivalent permanent magnets are linearly arranged so that their polarities appear alternately.
  • the Y-direction magnet 16 is also constituted by a plurality of magnet rows in which a plurality of equivalent permanent magnets are linearly arranged so that the polarity appears alternately.
  • a yoke 17 is provided above each of the magnets 15 and 16, and the yoke 17 has a function of magnetically coupling a plurality of magnets constituting each of the magnets 15 and 16.
  • one of the pair of X-direction magnets 15 is located on the X-direction linear motor structure 20A, and the other X-direction magnet 15 Is located on the X-direction linear motor structure 20B. It is.
  • one of the pair of Y-direction magnets 16 is located on the Y-direction linear motor structure 25A, and the other Y-direction magnet 16 is It is configured to be located on the structure 25B.
  • the X-direction linear motor structures 20A and 20B and the X-direction magnet 15 cooperate to function as a linear motor that drives the stage 12 in the arrow X direction in the figure. I do.
  • the Y-direction linear motor structures 25A and 25B and the Y-direction magnet 16 cooperate to function as a linear motor that drives the stage 12 in the direction of the arrow Y in the figure.
  • the present embodiment has a configuration in which two sets of linear motors are arranged in each of the X and Y directions. With this configuration, a relatively large space can be secured in the central portion of the device, and the surface encoder 24 can be installed at this position.
  • the scale 12 is provided on the stage 12, and the two-dimensional angle sensors 14A to 14C are provided on the base 11. This is because there is no need to connect a wiring to the scale portion 13.
  • the stage 12 when only the X-direction linear motor structure 20A and the X-direction linear motor structure 20B are simultaneously driven in the same direction, the stage 12 translates in the direction indicated by the arrow X in the figure. .
  • the stage 12 when only the Y-direction linear motor structure 25A and the Y-direction linear motor structure 25B are simultaneously driven in the same direction, the stage 12 translates in the direction of the arrow Y in the drawing.
  • the stage 12 is rotated about ⁇ Z around the arrow Z-axis in the figure. Perform a rotary motion.
  • FIG. 12 is a diagram for explaining the driving principle of the stage.
  • the stage 12 is driven like a stepping motor near a position where the force generated on the stage 12 is balanced. Therefore, the open loop drive of the stage 12 can be performed by calculating the voltage applied to each of the coils 21A-1 and 21A-2.
  • one linear motor (the X-direction magnet 15 and the X-direction linear motor structure 20A) that moves the stage 12 in the X direction
  • the driving principle of a linear motor composed of the other magnets 15, 16 and the X-direction linear motor structure 20B and the Y-direction linear motor structures 25A, 25B is the same.
  • the driving device having the above-described configuration, it is possible to control the movement of the stage 12 in the X direction and the Y direction and the rotation around the Z axis in a single-stage structure.
  • the stage 12 which is the final stage, which does not need to have a guide structure in each direction, is directly driven, the weight and rigidity of the stage device 10 can be reduced, and the manufacturing cost can be reduced. it can .
  • the stage device 10 is lightweight and has improved rigidity, it is possible to secure servo performance even in a high frequency range in terms of control.
  • FIG. 14 is a schematic configuration diagram showing a stage device 10A that is a first modification of the above-described stage device 10. As shown in FIG. In FIGS. 14 and 15, the same components as those of the stage device 10 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.
  • the stage device 10A has a configuration in which the chuck 61A holding the wafer 60 is detachable from the stage 12A, and the scale 13 is disposed on the chuck 61A. .
  • a mounting portion 62 is formed on the stage 12A, and the chuck 61A is configured to be insertable into and removable from the mounting portion 62.
  • the chuck 61A is configured to be detachable from the stage 12A.
  • the bottom surface of the chuck 61A is configured to expose the bottom surface force of the stage 12A when mounted on the stage 12A.
  • the scale 13 is provided on the bottom surface of the chuck 61A. Therefore, when the chuck 61A is mounted on the stage 12A, the scale portion 13 also exposes the bottom surface force of the stage 12A and faces the two-dimensional angle sensor 14 provided on the base 11.
  • the two-dimensional angle sensor 14 can emit the laser beam 65 toward the scale 13 and simultaneously enter the reflected light, the position of the stage 12A can be measured.
  • the scale portion 13 is provided on the chuck 61A which is handled integrally with the wafer 60, even if an error occurs between the chuck 61A and the stage 12A, this is a result of the measurement by the surface encoder 24. Will not affect the Accurate position measurement can be performed.
  • FIG. 15 is a schematic configuration diagram showing a stage device 10 B which is a second modification of the stage device 10 described above.
  • the present modification is characterized in that the scale portion 13 is directly disposed on the back side of the wafer 60 to be moved.
  • the laser beam emitted from the two-dimensional angle sensor 14 is provided in the area of the stage 12B facing the scale part 13 so that the scale part 13 provided on the back side of the wafer 60 can be confirmed by the two-dimensional angle sensor 14.
  • a transparent portion 63 is provided so that the light 65 is irradiated on the scale portion 13.
  • the scale section 13 may be fixed by attaching it to the wafer 60 or the like, or may be formed integrally by directly caloring the wafer 60. As a result, the scale section 13 has a configuration integrally formed with the wafer 60.
  • the transparent portion 63 is made of, for example, glass or transparent resin fitted to the stage 12B.
  • the scale portion 13 is provided on the wafer 60 itself, which is a moving object, so that the chuck 61A and the scale portion 13 may be generated in the configuration according to the above-described second modification. In this way, it is possible to prevent the occurrence of an error during the period, and to perform the position measurement with higher accuracy. Even if the scale portion 13 is provided on the wafer 60, the laser beam 65 is applied to the scale portion 13 in a region facing the two-dimensional angle sensor 14 of the stage 12B (set to face the moving range). Since the transparent portion 63 for irradiating the stage 12 is provided, the position of the stage 12 (wafer 60) can be reliably measured.
  • the present invention described above can be widely applied not only to semiconductor manufacturing equipment but also to fields requiring fine processing in the future, such as micromachines and optical communication parts for IT. That is, most of current micromachine manufacturing technologies utilize semiconductor manufacturing technology, and by using the present invention, it is possible to manufacture finer and more diverse micromachines. In the field of laser processing, a stage that moves at an ultra-high speed with submicron accuracy is required!
  • the stage device of the present invention can be used as a laser processing stage because it can achieve high accuracy, high speed, and multiple degrees of freedom. Further, the present invention relates to an ultra-precision instrument, It can also be applied to the assembly of electronic components such as measuring devices and mounters, inspection devices, or the field of office automation.
  • the present invention is not limited to the specific embodiments in which the present invention is applied.
  • the present invention is not limited to the specific embodiments described in the scope of the claims.
  • Various modifications are possible.
  • the case where three two-dimensional angle sensors are provided has been described as an example.However, the number of one two-dimensional angle sensor is equal to the number of the above-described embodiment, which can be one. Not limited.
  • the present invention can be applied to a stage device that can reduce the size of the device and measure the position of the stage with respect to the base with high accuracy.

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Abstract

 本発明は、平面モータによりX−Y方向及び回転方向に対して高精度に可動されるステージ装置に関し、装置の小型化を図ると共に、ベースに対するステージの位置測定を高精度に行ないうることを課題とする。本ステージ装置は、ベース231上の全面に目盛部を備えた目盛ユニット233を設け、駆動ステージ部237の底面部に3つの2次元角度センサー14A~14Cを設け、目盛ユニット233と2次元角度センサー14A~14Cとによりサーフェスエンコーダ249を構成し、サーフェスエンコーダ249により駆動ステージ237の位置測定を行う。

Description

明 細 書
ステージ装置
技術分野
[0001] 本発明は、ステージ装置に係り、特に平面モータにより X— Y方向及び回転方向に 対して高精度に可動されるステージ装置に関する。
背景技術
[0002] 情報技術の根幹である半導体デバイスや超精密加工装置等では、これらの装置に 使用されるステージ装置の高精度化,高速ィ匕等の要求が高まっている。例えば、半 導体露光装置のキーコンポーネントであるステージ装置では、 lOnm前後の精度と 数百 mmの移動範囲を持ったものが必要となる。また、半導体デバイスの生産性の向 上を図るには、被加工物を搭載したステージを高速で加工位置まで移動させる必要 がある。そこで、上記の各要求を全て満たすステージ装置の実現が望まれている。
[0003] 例えば、半導体製造工程で使用する各種半導体製造装置には、被移動体となるゥ ェハを載置し、これを移動させるステージ装置が設けられている。このステージ装置 は、ベースに対してウェハを搭載したステージを駆動させる駆動装置と、ベースに対 するステージの位置を計測する位置計測装置を有している。
[0004] 従来の駆動装置としては、 X方向にのみ移動するステージと、 Y方向にのみ移動す るステージを積み上げた方式を適用したスタック型ステージがある力 大きな剛性を 確保する必要があるため、装置自体の重量が重くなり、重量の影響で鉛直方向の位 置の誤差が大きくなるという問題があった。
[0005] このような問題を解決するために考案された駆動装置として、 SAWYERモータが ある。 SAWYERモータは、平面モータのうちの 1つであり、 X— Y方向及び回転方向 にステージを自在に移動することのできるものである。なお、ここでの平面モータとは 、ステージにモータの一部の機構が設けられており、ベースに設けられた凸部と協働 して、 XY方向の軸を使用することなぐステージを浮上させ、ステージを所望の位置 に直接移動させることのできるもののことである(例えば、特許文献 1参照。 ) o
[0006] 次に、図 1乃至図 2を参照して、 SAWYERモータを適用したステージ装置につい て説明する。図 1は、 SAWYERモータを適用したステージ装置の概略図であり、図 2 は、図 1に示した領域 Aに対応した構成部分の平面図である。
[0007] ステージ装置 200は、大略するとベース 211と、 1対の X方向駆動部 213と、 1対の Y方向駆動部 214と、チルト駆動部 216と、可動ステージ部 217と、固定ステージ部 2 19と、チャック 221と、ミラー 222と、レーザ柳』定器 223とにより構成されて 、る。また、 平面モータは、 1対の X方向駆動部 213と、 1対の Y方向駆動部 214とにより構成され ている。
[0008] ベース 211の上面には、所定の間隔で複数の凸部 212が形成されている。 X方向 駆動部 213は、複数のコイル部 215と、エアーベアリング 224とにより構成されている 。このコイル部 215に電流を印加することで、駆動力が生じ、可動ステージ部 217は 移動される。 X方向駆動部 213と Y方向駆動部 214とには、複数のコイル部 215と一 対のエアーベアリング 224とにより構成されており、コイル部 215に電流を印加するこ とで、駆動力が生じ、可動ステージ部 217は移動される。
[0009] チルト駆動部 216は、可動ステージ部 217の水平度を調整するための機構である。
固定ステージ部 219は、可動ステージ部 217と一体的に配設されている。固定ステ ージ部 219上には、ワーク (被移動体)を装着するためのチャック 221がー体的に配 設されている。
[0010] 可動ステージ部 217上には、ミラー 222が設けられている。このミラー 222は、照射 されたレーザ光を反射するためのものである。ミラー 222により反射されたレーザ光は 、レーザ干渉変位計 223に反射されて、可動ステージ部 217の位置が計測される。こ のような、レーザ干渉変位計 223を用いて X, Y方向の位置を決める位置計測装置で は、 2つの変位計と、変位検出方向に直角な移動範囲に亘つて形状精度の保証され た高精度の直定規等を組合せ、これにより位置検出を行なう構成とされていた。
[0011] 他の従来の位置計測装置としては、 1自由度ごとにロータリエンコーダやリニアェン コーダ等の測定装置を設けた構成とされたものがあり、例えば、 2次元の位置決めを 行なう場合は、 X方向または Y方向に独立して移動する積み上げた各ステージのそ れぞれに位置計測装置を設けた構成のものや、円周目盛と 1軸ステージを組み合わ せた測定装置で、回転の位置と半径の位置をそれぞれ独立に測定して位置決めす るよう構成されたものがあった。
[0012] また、従来技術において、移動物体のピッチング及びョーイングに相当する姿勢を 検出する場合には、オートコリメータが利用される力 このオートコリメータは 1軸の直 線方向の移動に対して、そのピッチング及びョーイングを同時に測定できる反面、 X , Y方向の移動物体に対しては高精度の直定規を必要としていた。
[0013] 更に、移動物体のローリングを測定する手段として水準器が知られている力 この 水準器は応答速度や測定精度に問題があり、高精度の測定機器には不適格である 。そこで、平行な 2本の直定規を設置して、その直定規までの距離の差からローリン グ角を算出する方法や 1本の直定規を基準の鏡面としてオートコリメータでローリング 角を検出していた。
特許文献 1:特開平 5— 328702号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0014] し力しながら、上記のような位置計測装置を用いたステージ装置では次のような問 題点が生じる。即ち、従来の位置計測装置に用いられるロータリエンコーダやリニア エンコーダ等の測定装置は、 1次元の位置決めしかできず、 2次元の位置決めには 上記の測定装置を少なくとも 2組み合わせる必要があり、移動物体検出装置の設計 に大きな制約がある。
[0015] また、レーザ干渉変位計 223を用いて位置決めする場合も本質的に 1軸で 1次元 の位置決めしかできず、 2次元の位置決めを行なう場合には、高い精度の直定規が 必要になる。その結果、この種の位置計測装置をステージ装置に設ける場合、構造 上に制約がありかつコスト高になるという問題点がある。
[0016] 本発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、装置の小型化を図れると共に、ベ ースに対するステージの位置測定を高精度に行ないうるステージ装置を提供すること を目的とする。
課題を解決するための手段
[0017] 上記課題を解決するため、本発明の一特徴によると、ベースと、被移動体を搭載し 、前記ベース上を移動するステージと、前記ステージを駆動させる平面モータと、前 記ステージを前記ベースに対して浮上させるエアーベアリングと、前記ベース上に配 設され、角度に関する性質が 2次元方向に既知の関数で変化する角度格子力 構 成された目盛部と、前記ステージに配設されており、前記目盛部の角度格子に光を 照射すると共に、該目盛部で反射される反射光の 2次元角度を検出する少なくとも 1 つの 2次元角度センサーとを有することを特徴とするステージ装置が提供される。 発明の効果
[0018] 本発明は、装置の小型化を図れると共に、ベースに対するステージの位置測定を 高精度に行ないうるステージ装置を提供することができる。
[0019] また、ベースに目盛部を設けて、ステージに 2次元角度センサーを設けることにより 、ベース上に複数のステージを載せて、位置検出可能な状態で、複数のステージを 個別に移動させることができる。また、軸のガイド構造を有せず、かつ X及び Y方向の 移動及び Z軸回りの回転を制御することが可能な平面モータを用いるため、装置の 軽量ィ匕及び製造コストの低減を図ることができる。
[0020] また、目盛部が角度形状を表わす 2次元の角度格子から形成されるため、単一の 目盛に角度センサーを組み合わせるだけでステージの 2次元の位置検出は勿論のこ と、ピッチング角、ローリング角及びョーイング角をも検出することが可能になる。また 、角度格子とすることにより、直交座標、円筒座標、極座標もしくは自由曲面に沿う座 標のような 2次元の座標に関する位置検出も可能になる。
[0021] 更に、 2次元角度センサーは、従来用いられていたレーザ干渉計等と比べてデッド パスが非常に小さいため、熱膨張による計測誤差や空気の揺らぎなどの影響を受け 難ぐよって高い位置及び姿勢計測を行なうことが可能となる。
図面の簡単な説明
[0022] [図 1]SAYERモータを適用したステージ装置の概略図である。
[図 2]図 1に示した領域 Aに対応した構成の平面図である。
[図 3]第 1実施例によるステージ装置の断面図である。
[図 4]図 3に示した領域 Aに対応したステージ装置の平面図である。
[図 5A]可動ステージの駆動方向と X方向及び Y方向ァクチユエータの推進力との一 関係を示した平面図である。 [図 5B]可動ステージの駆動方向と X方向及び Y方向ァクチユエータの推進力との一 関係を示した平面図である。
[図 5C]可動ステージの駆動方向と X方向及び Υ方向ァクチユエータの推進力との一 関係を示した平面図である。
[図 5D]可動ステージの駆動方向と X方向及び Υ方向ァクチユエータの推進力との一 関係を示した平面図である。
[図 6]図 3に示した領域 Cに対応した部分の拡大図である。
[図 7]目盛部及び 2次元角度センサーの斜視図である。
圆 8]本実施例のステージ装置に設けられる 2次元角度センサーの光学系を説明す るための図である。
圆 9]本発明の第 1実施例であるステージ装置に設けられる目盛部及び 2次元角度セ ンサーを説明するための図である。
圆 10]本発明の第 2実施例であるステージ装置の分解斜視図である。
[図 11]ステージ装置の部分的に切り欠いた組み立てられた状態の斜視図である。
[図 12]ステージの駆動原理を説明するための図である。
[図 13]本実施例であるステージ装置の概略構成図である。
圆 14]本実施例であるステージ装置の第 1変形例であるステージ装置の概略構成図 である。
圆 15]本実施例であるステージ装置の第 2変形例であるステージ装置の概略構成図 である。
符号の説明
10, 10A, 10B, 200, 230 ステージ装置
11, 211, 231 ベース
12, 12A, 12B, 236 ステージ
13 目盛部
14, 14A— 14C 2次元角度センサー
15 X方向用マグネット
16 Υ方向用マグネット ヨーク
スぺーサ
Z方向用マグネット
A, 20B X方向リニアモータ構造部A, 21A-1, 21A-2, 21B X方向用コイルA, 22B X方向用コア
, 249 サーフェスエンコーダ
A, 25B Y方向リニアモータ構造部A, 26B Y方向用コイル
A, 27B Y方向用コア
Z方向電磁石
Z方向用コイル
Z方向用コア
角度格子
基部
光源
ビームスプリツター
1Z4波長板
コリメータレンズ
ウェハ
, 61A, 221, 241 チャック
装着部
透明部
2 凸部
3 X方向駆動部
Y方向駆動部
5, 244 コイル部
6, 245 チルト駆動部 217, 237 可動ステージ部
219, 239 固定ステージ部
222 ミラー
223 レーザ測定器
224, 238 エアーベアリング
233 目盛ユニット
242A, 242B X方向ァクチユエータ
243A, 243B Y方向ァクチユエータ
248 ワーク
252 上部榭脂
253 下部榭脂
A, B, C 領域
発明を実施するための最良の形態
[0024] 次に、図面に基づいて本発明の実施例を説明する。
[第 1実施例]
始めに、図 3乃至図 4を参照して、本発明の第 1実施例によるステージ装置 230に ついて説明する。図 3は、第 1実施例によるステージ装置の断面図であり、図 4は、図 3に示した領域 Aに対応したステージ装置の平面図である。
[0025] ステージ装置 230は、 SAWYERモータ駆動部を有した装置である。図 3を参照す るに、ステージ装置 230は、ベース 231と、ステージ 236と、サーフェスエンコーダ 24 9とにより構成されている。ベース 231の表面には、所定のピッチで複数の凸部 232 が形成されている。この所定のピッチ力 可動ステージ部 237が移動される際の最小 単位となる。また、ベース 231は、鉄などの金属により製造されている。ステージ 236 は、可動ステージ部 237と、固定ステージ部 239と、チャック 241と、 X方向ァクチユエ ータ 242A, 242Bと、 Y方向ァクチユエータ 243A, 243Bと、チルト駆動部 245とに より構成されている。
[0026] 可動ステージ部 237は、 X方向ァクチユエータ 242A, 242Bと Y方向ァクチユエ一 タ 243A, 243Bとにより駆動されるベース部分である。図 4に示すように、可動ステー ジ部 237の下方には、 X方向ァクチユエータ 242A, 242Bと、 Y方向ァクチユエータ 2 43A, 243Bとが配設されており、中央部には空間が形成されている。 X方向ァクチュ エータ 242A, 242B及び Y方向ァクチユエータ 243A, 243Bは、それぞれ複数のコ ィル部 244と、エアーベアリング 238とにより構成されている。このコイル部 244に電 流を印加することで、コイル部 244に磁力が発生し、推進力が生じて可動ステージ部 237は駆動される。
[0027] エアーベアリング 238は、エアーの力により X方向ァクチユエータ 242A, 242B及 ひ Ύ方向ァクチユエータ 243A, 243Bをベース 231に対して浮かすためのものであ る。このエアーベアリング 238を設けることで、可動ステージ部 237が X方向、又は Y 方向、或いは Θ方向に駆動された際、いずれの方向に対しても自在に移動すること ができる。
[0028] チルト駆動部 245は、 X方向ァクチユエータ 242A, 242B及び Y方向ァクチユエ一 タ 243A, 243Bと可動ステージ部 237との間にそれぞれ設けられている。チルト駆動 部 245は、可動ステージ部 237の水平位置出しを行うためのものである。固定ステー ジ部 239は、可動ステージ部 237上に一体的に配設されている。固定ステージ部 23 9は、 X方向ァクチユエータ 242A, 242B及び Y方向ァクチユエータ 243A, 243Bを 用いて可動ステージ部 237を駆動させることで、所望の位置に移動される。固定ステ ージ部 239上には、ワーク 248 (被移動体)を装着するためのチャック 241が配設さ れている。
[0029] ここで、図 5A— 5Dを参照して、可動ステージ部 237の駆動方法について説明する 。図 5A— 5Dは、可動ステージの駆動方向と X方向及び Y方向ァクチユエ一タの推 進力との関係を模式的に示した平面図である。可動ステージ部 237を X, X方向に移 動させる場合には、図 5Aに示すように、可動ステージ部 237を移動させたい X, X方 向に対して X方向ァクチユエータ 242A, 242Bの推進力が生じるように、 X方向ァク チユエータ 242A, 242Bに設けられたコイル部 244に電流を印加する。
[0030] 可動ステージ部 237を Y方向に移動させる場合には、図 5Bに示すように、可動ステ ージ部 237を移動させた!/ヽ Y方向に対して Y方向ァクチユエータ 243A, 243Bの推 進力が生じるように、 Y方向ァクチユエータ 243A, 243Bに設けられたコイル部 244 に電流を印加する。また、可動ステージ部 237を 0方向に移動させる場合には、図 5 C又は Dに示すような X方向ァクチユエータ 242A, 242B及び Y方向ァクチユエータ 243 A, 243Bの推進力が生じるよう、 X方向ァクチユエータ 242A, 242B及び Y方 向ァクチユエータ 243A, 243Bに設けられたコイル部 244に電流を印加する。
[0031] そして、固定ステージ部 239がベース 231上の所望の位置に移動した際、コイル部 244に対しての電流の印加をストップさせて、固定ステージ部 239の位置を固定する 。なお、可動ステージ 237は、先に述べたように、ベース 231の表面に設けられた凸 部 232のピッチを最小単位として移動される。
[0032] 次に、図 3及び図 4を参照して、サーフェスエンコーダ 249について説明する。サー フェスエンコーダ 249は、可動ステージ 237の位置測定を行うためのものである。サ 一フェスエンコーダ 249は、目盛ユニット 233と、 2次元角度センサー 14A— 14Cとに より構成されている。
[0033] 次に、図 6を参照して、目盛ユニット 233について説明する。図 6は、図 3に示した領 域 Cに対応した部分の拡大図である。 目盛ユニット 233は、ベース 231に設けられた 凸部 232上に配設されている。 目盛ユニット 233は、目盛部 13と、上部榭脂 252と、 下部榭脂 253とにより構成されている。
[0034] 図 7に示されるように、目盛部 13には、角度に関する性質が X及び Y方向の 2次元 方向に既知の関数 (本実施例では正弦波の山と谷の集合)で変化する複数の角度 格子 40が設けられている。目盛部 13の上面には、上部榭脂 252が設けられており、 目盛部 13の下面には、下部榭脂 253が設けられている。上部及び下部榭脂 252, 2 53は、目盛部 13が外力を受けて破損することを防止するためのものである。なお、 上部榭脂 252には、光の透過性の良いものを用いる。
[0035] 図 3乃至図 4に示すように、 2次元角度センサー 14A— 14Cは、 X方向ァクチユエ ータ 242A, 242B及び Y方向ァクチユエータ 243A, 243Bに囲まれた可動ステージ 部 237の底面部に配設された構成とされている。本実施例では、 3個の 2次元角度セ ンサー 14を設けた構成とされて 、る。
[0036] このように、目盛部 13に近接した位置である可動ステージ部 237の底面部に 2次元 角度センサー 14A— 14Cを設けることにより、従来のレーザ干渉計と比較して空気の 揺らぎ等の外乱の影響を受けに《することができ、正確な固定ステージ 239の位置 を得ることができる。また、 2次元の角度格子 40からなる目盛に少なくとも 3個の 2次 元角度センサー 14A— 14Cを組み合わせることにより、目盛及び角度センサーの相 対的移動における移動物体の 2次元座標位置、ピッチング角、ローリング角及びョー イング角を検出することができ、更に角度センサーに既知の所定の角度変化を与え ることで、目盛と角度センサー間の距離も検出することができる。
[0037] なお、本実施例では 3個の 2次元角度センサー 14A— 14Cが配設されているが、 以下の説明では、説明を容易にするために 1個の 2次元角度センサー 14が配設され ている構成を想定し説明するものとする。
[0038] 目盛部 13に形成された角度格子 40の高さ形状は、次式で与えられる。但し、次式 において、 A , Aはそれぞれ X, Y方向の振幅であり、 λ , λ はその波長である。
[0039] [数 1]
f(x, y) = Ax sm(---x) + Ay sm -—y) ... (1)
また、この角度格子 40の X方向, Y方向の角度形状(2次元角度センサー 14で測 定したときの出力) 0 (X) , φ (y)は、それぞれ角度格子 40の形状を偏微分したもの で表され、次式で与えられる。
[0040] [数 2]
Figure imgf000012_0001
[0041] [数 3]
Figure imgf000013_0001
図 7は、本発明の第 1実施例であるステージ装置に設けられる目盛部及び 2次元角 度センサーを説明するための図である。
[0042] 図 7乃至図 8に示すように、目盛部 13は、基部 41の表面上または面内に形成され 、角度に関する性質が X及び Y方向の 2次元方向に既知の関数 (本実施例では正弦 波の山と谷の集合)で変化する角度格子 40から構成されている。
[0043] 図 7に示されるように、角度格子 40を X, Yの 2方向の角度変化が検出できる 2次元 角度センサー 14で測定すると、角度格子形状の山に対する高さが同一でも、山の斜 面の位置によって角方向の角度出力が異なるため、この違いから 2次元位置を決定 することができる。これにより、ベース 231に目盛部 13を取り付け、駆動ステージ 237 に 2次元角度センサー 14を取り付けることで、それらの相対移動における移動体、即 ち、駆動ステージ 237の 2次元座標を検出することができる。
[0044] 本実施例における角度格子 40は、円筒形状をしたアルミニウムを加工したものであ る。また、その高さ形状は、各振幅 0. 3 μ ηι,周期 300 mの正弦波の重ね合わせ で表せられる。
[0045] なお、本実施例における角度格子 40の角度振幅は ± 21. 6分である。
[0046] 図 9は、本発明の第 1実施例であるステージ装置に設けられる目盛部及び 2次元角 度センサーを説明するための図である。この 2次元角度センサー 14を構成する光学 系は、光源 50、反射用プリズム 52, 53, 57, 58、ビームスプリツター 54, 1/4波長板 55,コリメータレンズ 56,及びフォトダイオード 59等により構成されている。そして、光 源 50から発射され、グリッドフィルム 51を通過し、反射用プリズム 52, 53で反射し方 向を代えたレーザ光 65は、その p偏光成分がビームスプリツター 54及び 1/4波長板 5 5を通過し、反射用プリズム 58によって上向きに反射され、ベース 231に取り付けら れた目盛部 13 (角度格子 40)に当たる。 [0047] 目盛部 13 (角度格子 40)で反射したレーザ光 65は、再び 1/4波長板 55を通過して s偏光となりビームスプリツター 54で反射し、コリメータレンズ 56を通過し、その焦点距 離の位置に置かれた 4分割とされたフォトダイオード 59に集光する。 2次元角度セン サー 14は、この様にレーザオートコリメーシヨンの原理によって、 2次元の角度変化を 検出する。
[0048] 上記構成とされたサーフェスエンコーダ 249では、角度格子 40の形状が位置検出 の基準となるので、形状に誤差が含まれると位置検出精度にも影響を与える。 2次元 角度センサー 14のプローブであるレーザビームが 1本であったとき、その出力は角度 格子 40の格子ピッチの変化や形状誤差の影響を大きく受けてしまう。この誤差の影 響は、複数のレーザビームを角度格子 40の同位相に照射し、常に複数の山を観察 できる構成とすることにより排除することができる。
[0049] そこで本実施例では、 3個の 2次元角度センサー 14A— 14Cを駆動ステージ 237 に設け、これにより複数のレーザビームを角度格子 40の同位相に照射する構成とし 、角度格子 40の形状のばらつき (格子ピッチ)の高周波成分、また、角度格子 40の 形状誤差の影響を平均して測定精度の向上を図っている。
[0050] また、角度格子 40に 3個の 2次元角度センサー 14A— 14Cを組み合わせることに より、目盛部 13及び 2次元角度センサー 14A— 14Cの相対的移動における移動物 体の 2次元座標位置、ピッチング角、ローリング角及びョーイング角を検出することが でき、更に 2次元角度センサー 14A— 14Cに既知の所定の角度変化を与えることで 、目盛部 13と 2次元角度センサー 14A— 14C間の距離も検出することが可能となる
[0051] 更に、 2次元角度センサー 14A— 14Cは、従来用いられていたレーザ干渉計等と 比べてデッドパスが非常に小さいため、熱膨張による計測誤差や空気の揺らぎなど の影響を受け難ぐよって高い位置及び姿勢計測を行なうことが可能となる。
[0052] このような X, Yの 2方向の角度変化が検出できる 2次元角度センサー 14A— 14C を用いて、角度格子 40から反射したレーザ 71の角度変化を測定すると、角度格子 形状の山に対する高さが同一でも、山の斜面の位置によって角方向の角度出力が 異なるため、この違いから 2次元位置を決定することができる。これにより、ベース 231 上に目盛部 13を取り付け、可動ステージ部 237に 2次元角度センサー 14A— 14C を取り付けることで、可動ステージ部 237 (固定ステージ 239)の 2次元座標を検出す ることがでさる。
[0053] 以上説明したように、 SAWYERモータ駆動部を有したステージ装置 230にサーフ エスエンコーダ 249を設けることにより、装置の小型化を図れると共に、ベース 231に 対して駆動ステージ 237を X, X方向、 Υ, Y方向及び 0方向のいずれの方向にも駆 動可能とした状態で、ベース 231に対する固定ステージ 239 (可動ステージ 237)の 位置測定を高精度に行なうことができる。また、従来のステージ装置 200では、ステ ージの位置検出をレーザ測定器 223からのレーザ光で行っているため、複数のステ ージが 1つのベース 211上に存在した場合、ステージがレーザ光を遮断してしまうこ とがあるが、本実施例のステージ装置 230は、ステージ 236単位でステージ 236自身 の位置検出を行うことができるので、 1つのベース 231上に複数のステージ 236を設 けて、複数のステージ 236の位置検出を精度良く行うことができる。
[0054] なお、上記実施例では、 3つの 2次元角度センサーを設けた場合について説明した 力 1つの 2次元角度センサーを設けても良ぐ本実施例と同様な効果を得ることがで きる。
[第 2実施例]
図 10乃至図 11を参照して、本発明の第 2実施例であるステージ装置 10について 説明する。図 10は、本発明の第 2実施例であるステージ装置 10の分解斜視図であり 、図 11は、ステージ装置 10の部分的に切り欠いた組み立てられた状態の斜視図で ある。このステージ装置 10は、例えば半導体製造用のステツパ等において被移動体 となるウェハを所定位置に移動させるのに用いられる装置である。
[0055] このステージ装置 10は、ベース 11、ステージ 12、サーフェスエンコーダ 24、及び駆 動装置等により構成されている。ベース 11はステージ装置 10の基台となるものであり 、後述するリニアモータ構造部 20A, 25A、 Z方向電磁石 30、及び 2次元角度センサ 一 14A— 14C等が配設される。なお、本実施例では、第 1実施例に用いた 2次元角 度センサー 14A— 14Cを用いた場合を例に挙げて説明する。
[0056] ステージ 12は被移動体となるウェハ 60及びチャック 61が上部に搭載される(図 13 参照)と共に、下部にはマグネット 15, 16、ヨーク 17、及びスぺーサ 18を介して Z方 向用マグネット 19が配設される。このステージ 12は、ベース 11に対して図中矢印 X 方向移動、 Y方向移動、及び Z軸を中心とした回転移動が可能な構成とされている。 また、サーフェスエンコーダ 24は、第 1実施例と同じものを用いている。
[0057] なお、本実施例では 3個の 2次元角度センサー 14A— 14Cが配設されているが、 以下の説明では、説明を容易にするために 1個の 2次元角度センサー 14が配設され ている構成を想定し説明するものとする。
[0058] 図 10に示すように、本実施例では、目盛部 13はステージ 12の背面 (ベース 11と対 向する面)の略中央位置に固定されている。一方, 2次元角度センサー 14は、ベー ス 11に配設された構成とされて 、る。
[0059] 続いて、図 10乃至図 11を参照して、駆動装置について説明する。駆動装置は、ベ ース 11に対してステージ 12を X方向移動, Y方向移動,及び Z軸を中心とした回転 移動を行なわれるものである。この駆動装置は、ベース 11に配設された X方向リニア モータ構造部 20A, 20B、 Y方向リニアモータ構造部 25A, 25B、 Z方向電磁石 30と 、ステージ 12に配設された X方向用マグネット 15, Y方向用マグネット 16, Z方向用 マグネット 19等により構成されている。
[0060] X方向リニアモータ構造部 20Aはベース 11上に配設されており、一対の X方向用 コイル 21A— 1, 21A— 2 (双方をまとめていうときには X方向用コイル 21Aという)と、 X 方向用コア 22Aとにより構成されている。一対の X方向用コイル 21A— 1, 21A— 2は 図中矢印 X方向に並設されており、それぞれ独立して電流を供給できる構成とされて いる。
[0061] また、 X方向リニアモータ構造部 20Bは X方向リニアモータ構造部 20Aと同一構成 とされており、 X方向用コイル 21B (符号は付さないが、一対の X方向用コイルにより 構成されて ヽる)及び X方向用コア 22Bとにより構成されて 、る。この X方向リニアモ ータ構造部 20Aと X方向リニアモータ構造部 20Bは、前記した 2次元角度センサー 1 4A— 14Cの配設位置を挟んで、図中矢印 Y方向に離間して配置された構成とされ ている。
[0062] 一方、 Y方向リニアモータ構造部 25A及び Y方向リニアモータ構造部 25Bも、前記 した X方向リニアモータ構造部 20Aと同様の構成とされている。即ち、 Y方向リニアモ ータ構造部 25 Aは Y方向用コイル 26 A (符号は付さな ヽが、一対の Y方向用コイル により構成されて ヽる)と Y方向用コア 27Aとにより構成され、 Y方向リニアモータ構造 部 25Bは Y方向用コイル 26B (符号は付さないが、一対の Y方向用コイルにより構成 されて 、る)と Y方向用コア 27Bとにより構成されて 、る。この Y方向リニアモータ構造 部 25Aと Y方向リニアモータ構造部 25Bは、前記した 2次元角度センサー 14A— 14 Cの配設位置を挟んで、図中矢印 X方向に離間して配置された構成とされて!/ヽる。
[0063] Z方向電磁石 30は、ベース 11に対してステージ 12を浮上させることにより、前記し た X方向用マグネット 15 Aと後述するステージ 12に設けられた各マグネット 15 , 16と の間にギャップを形成する機能を奏するものである。この Z方向電磁石 30は、 Z方向 用コイル 31と Z方向用コア 32とにより構成されている。また、浮上を安定化するため、 矩形状とされたベース 11の四隅位置にそれぞれ配設されて ヽる。
[0064] なお、ベース 11に対してステージ 12を浮上させる手段は、本実施例で採用してい る磁気的な手段の他にも、圧縮空気を用いる方法や、複数のボールでベース 11を 支持する手段等が考えられる。
[0065] 一方、前記したようにステージ 12には X方向用マグネット 15及び Y方向用マグネッ ト 16が配設されている。図に現れないが,各マグネット 15, 16はそれぞれ一対ずつ合 計 4個が配設されている。従って、ステージ 12を底面視した状態において、各マグネ ット 15, 16は協働して略四角形をなすよう配置されている。
[0066] X方向用マグネット 15は、複数の同等の永久磁石を極性が交互に現れるように直 線状に配列した複数の磁石列(小磁石の集合体)により構成されている。同様に、 Y 方向用マグネット 16も、複数の同等の永久磁石を極性が交互に現れるように直線状 に配列した複数の磁石列により構成されている。各マグネット 15, 16の上部にはョー ク 17が配設されており、このヨーク 17は各マグネット 15, 16を構成する複数の各磁 石を磁気的に結合する機能を奏する。
[0067] 上記構成において、ベース 11に対しステージ 12を装着した状態において、一対の X方向用マグネット 15の一方が X方向リニアモータ構造部 20A上に位置し、かつ他 方の X方向用マグネット 15が X方向リニアモータ構造部 20B上に位置するよう構成さ れている。また、ベース 11に対しステージ 12を装着した状態において、一対の Y方 向用マグネット 16の一方が Y方向リニアモータ構造部 25A上に位置し、かつ他方の Y方向用マグネット 16が Y方向リニアモータ構造部 25B上に位置するよう構成されて いる。
[0068] また、ベース 11がステージ 12に装着された状態で、かつ Z方向電磁石 30によりス テージ 12がベース 11に対し浮上した状態において、各マグネット 15, 16が発生する 磁界が対向するリニアモータ構造部 20A, 20B, 25A, 25Bに係合するよう構成され ている。更に、上記装着状態において、各マグネット 15, 16は、各リニアモータ構造 20A, 20B, 25A, 25Bに設けられている各コィノレ 21A, 21B, 26A, 26Bの卷回 方向に対し直交するよう配置されて 、る。
[0069] 駆動装置を上記構成とすることにより、 X方向リニアモータ構造部 20A, 20Bと X方 向用マグネット 15は協働して、ステージ 12を図中矢印 X方向に駆動するリニアモータ として機能する。同様に、 Y方向リニアモータ構造部 25A, 25Bと Y方向用マグネット 16は協働して、ステージ 12を図中矢印 Y方向に駆動するリニアモータとして機能す る。
[0070] 即ち、本実施例では X, Y両方向にそれぞれ 2組ずつのリニアモータが配置された 構成となる。この構成とすることにより、装置中央部分に比較的大きな空間を確保で きるため、この位置にサーフェスエンコーダ 24を設置することができる。なお、本実施 例ではステージ 12に目盛部 13を配設し、ベース 11に 2次元角度センサー 14A— 14 Cを配設した構成とした。これは、目盛部 13には配線を接続する必要がないためで ある。しかしながら、目盛部 13をベース 11に配設し、 2次元角度センサー 14A— 14 Cをステージ 12に設ける構成とすることも可能である。
[0071] また上記構成とされた駆動装置において、 X方向リニアモータ構造部 20Aと X方向 リニアモータ構造部 20Bのみを同時に同方向に駆動させると、ステージ 12は図中矢 印 X方向に並進運動する。同様に、 Y方向リニアモータ構造部 25Aと Y方向リニアモ ータ構造部 25Bのみを同時に同方向に駆動させると、ステージ 12は図中矢印 Y方 向に並進運動する。また、対になった各リニアモータ構造部 20Aと 20B、 25Aと 25B をそれぞれ逆方向に駆動させることにより、ステージ 12は図中矢印 Z軸まわり θ Zの 回転運動を行なう。
[0072] 続いて、図 12を参照して、駆動装置によりステージ 12が移動する原理について説 明する。なお、説明を簡単化するため、ステージ 12を X方向に移動させる 1つのリニ ァモータ (X方向用マグネット 15と X方向リニアモータ構造部 20A)を例に挙げて説明 するものとする。図 12は、ステージの駆動原理を説明するための図である。
[0073] まず、図 12 (A)に示すように、 X方向用コイル 21 A— 2に図に書かれた方向に電流 を流すと、電流とそれに対向した X方向用マグネット 15との間に X軸に沿った力が生 じ、生じたそれぞれの力が釣り合ったところで X方向用マグネット 15は停止する。この 状態で図 12 (B)に示すように、 X方向用コイル 21A— 1に電流を流すと、 X方向用コィ ル 21A— 1に対向している X方向用マグネット 15にそれぞれ図に右向きの力が生じる 。この力により、 X方向用マグネット 15 (即ち、ステージ 12)が動き出し、図 12 (C)に 示すように、 X方向用コイル 21A— 1と X方向用コイル 21A— 2によって磁石に生じる力 が釣り合った位置まで磁石は移動する。その後、図 12 (D)に示すように、 X方向用コ ィル 21A— 2の電流を切ると、 X方向用コイル 21A— 1の電流で力が釣り合う位置で移 動する。上記した図 12 (A)—(D)の動作により、 X方向用マグネット 15 (ステージ 12) が磁石半個分の距離 Δ dだけ移動する。
[0074] 上記のように X方向用コイル 21A— 1, 21 A— 2に印加する電流を ON, OFFのみで 駆動すると、磁石 1Z4個分ずつの移動しかできないが、図 12 (C)に示す状態で X方 向用コイル 21A— 1, 21A— 2に流す電流の大きさの比を変化させると、それに応じて それぞれの電流の大きさに釣り合った位置まで X方向用マグネット 15が移動するの で、半範囲内で任意の位置に磁石を移動させることができる。また、対向する X方向 用マグネット 15の極性に応じてコイルに印加する電流の方向を変化させることで、 X 方向用マグネット 15の配列の存在する範囲内で自由に駆動することができる。
[0075] また本実施例では、通常の直流モータと異なり、常にステージ 12に生じる力が釣り 合う位置の付近でステッピングモータ状に駆動する。このため、各コイル 21 A— 1, 21 A— 2に印加する電圧を計算することによって、ステージ 12のオープンループ駆動を 行なうことができる。なお、上記した駆動装置の説明では、ステージ 12を X方向に移 動させる 1つのリニアモータ (X方向用マグネット 15と X方向リニアモータ構造部 20A) を例に挙げて説明した力 他のマグネット 15, 16と、 X方向リニアモータ構造部 20B 及び Y方向リニアモータ構造部 25A, 25Bとより構成されるリニアモータの駆動原理 も同様である。
[0076] 上記構成とされた駆動装置では、一段構造でステージ 12を X方向及び Y方向の移 動及び Z軸回りの回転を制御することが可能である。また、各方向に対してガイド構 造を持つ必要がなぐ最終ステージであるステージ 12が直接駆動される構成のため 、ステージ装置 10の軽量化,剛性の向上,及び製造コストの低減を図ることができる 。またステージ装置 10が軽量ィ匕し、剛性の向上も図れることにより、制御面において も高周波領域までサーボ性能の確保することが可能となる。
[0077] 次に、上記したステージ装置 10の変形例について説明する。図 14は、上記したス テージ装置 10の第 1変形例であるステージ装置 10Aを示す概略構成図である。また 、図 14及び図 15において、ステージ装置 10の構成と同一構成については同一符号 を付してその説明を省略するものとする。
[0078] 本変形例に係るステージ装置 10Aは、ウェハ 60を保持するチャック 61 Aをステージ 12Aに対して着脱可能な構成とすると共に、目盛部 13をチャック 61 Aに配設した構 成としている。具体的には、ステージ 12Aには装着部 62が形成されており、チャック 6 1Aはこの装着部 62に挿入脱可能な構成とされている。これにより、チャック 61Aはス テージ 12Aに対して着脱可能な構成とされている。また、チャック 61 Aの底面は、ス テージ 12Aに装着された状態において、ステージ 12Aの底面力も露出するよう構成 されている。
[0079] 目盛部 13は、チャック 61Aの底面に配設されている。よって、チャック 61Aをステー ジ 12Aに装着した状態において、目盛部 13はステージ 12Aの底面力も露出し、ベ ース 11に設けられた 2次元角度センサー 14と対向した状態となる。
[0080] これにより、 2次元角度センサー 14は、目盛部 13に向けレーザ光 65を発射すると 共にその反射光を入射することが可能となるため、ステージ 12Aの位置測定を行なう ことが可能となる。また本変形例では、ウェハ 60と一体的に取り扱われるチャック 61 A に目盛部 13を設けているため、チャック 61 Aとステージ 12Aとの間に誤差が生じても 、これがサーフェスエンコーダ 24の測定結果に影響を与えることがなくなり、よって高 精度の位置計測を行なうことができる。
[0081] 図 15は、上記したステージ装置 10の第 2変形例であるステージ装置 10Bを示す概 略構成図である。本変形例では、目盛部 13を被移動体となるウェハ 60の背面側に 直接配設したことを特徴としている。また、ウェハ 60の背面側に配設された目盛部 13 を 2次元角度センサー 14で確認できるよう、ステージ 12Bの目盛部 13と対向する領 域には、 2次元角度センサー 14から照射されたレーザ光 65が目盛部 13に照射され るように透明部 63が設けられて 、る。
[0082] 目盛部 13はウェハ 60に貼り付ける等により固定してもよぐまたウェハ 60を直接カロ ェすることにより一体的に形成する構成としてもよい。これにより、目盛部 13はウェハ 60と一体ィ匕した構成となる。また、透明部 63は、例えばステージ 12Bに嵌めこまれた ガラス或いは透明榭脂により構成されている。
[0083] 本変形例では、被移動体となるウェハ 60自体に目盛部 13が配設されるため、上記 した第 2変形例に係る構成で発生するおそれがある、チャック 61Aと目盛部 13との間 における誤差の発生を防止でき、より高精度の位置計測を行なうことができる。また、 ウェハ 60に目盛部 13が配設されても、ステージ 12Bの 2次元角度センサー 14と対向 する領域 (移動範囲わたり対向するよう設定されている)には、レーザ光 65を目盛部 1 3に照射するための透明部 63が設けられているため、ステージ 12 (ウェハ 60)の位置 計測を確実に行なうことができる。
[0084] なお、上記した本発明は、半導体製造装置のみならず、マイクロマシン, IT用光通 信部品等、今後微細加工を必要とする分野に広く適用することが可能である。即ち、 現在のマイクロマシン製造技術の多くは半導体製造技術を利用しており、本発明を 用いることにより、より微細で多様なマイクロマシンを製造することが可能となる。また、 レーザ加工の分野では、サブミクロンの精度で超高速に動くステージが要求されて!ヽ る。
[0085] また、複雑な形状を加工するために、自由度の高いステージが必要となる。従来の ステージ装置では、これらの要求を満たすものは無力つたが,本発明のステージ装置 は、高精度,高速,多自由度を実現できるため、レーザ加工用ステージとしても用い ることができる。更に、本発明は、上記した分野だけではなぐ超精密機器,超精密計 測装置,マウンタ一等の、電子部品の組み立て、検査装置,或いはオフィスオートメ ーシヨン分野においても適用することが可能である。
[0086] 以上、本発明の好ましい実施例について詳述した力 本発明は力かる特定の実施 形態に限定されるものではなぐ特許請求の範囲内に記載された本発明の要旨の範 囲内において、種々の変形 '変更が可能である。なお、第 1及び第 2実施例では、 3 つの 2次元角度センサーを設けた場合を例に挙げて説明したが、 2次元角度センサ 一の個数は、 1つでも良ぐ上記実施例の個数に限定されない。
産業上の利用可能性
[0087] 本発明は、装置の小型化を図れると共に、ベースに対するステージの位置測定を 高精度に行な 、うるステージ装置に適用できる。

Claims

請求の範囲
[1] ベースと、
被移動体を搭載し、前記ベース上を移動するステージと、
前記ステージを駆動させる平面モータと、
前記ステージを前記ベースに対して浮上させるエアーベアリングと、
前記ベース上に配設され、角度に関する性質が 2次元方向に既知の関数で変化 する角度格子から構成された目盛部と、
前記ステージに配設されており、前記目盛部の角度格子に光を照射すると共に、 該目盛部で反射される反射光の 2次元角度を検出する少なくとも 1つの 2次元角度セ ンサ一とを有することを特徴とするステージ装置。
[2] 前記目盛部は、透過性を有した保護部材により覆われて!/ヽることを特徴とする請求 項 1に記載のステージ装置。
[3] 前記少なくとも 1つの 2次元角度センサーは、 3個以上であることを特徴とする請求 項 1に記載のステージ装置。
[4] 前記少なくとも 1つの 2次元角度センサーは、前記ステージの 2次元座標位置、ピッ チング角、ローリング角およびョーイング角の少なくとも 1つを検出することができるよ ぅ配設されることを特徴とする請求項 3記載のステージ装置。
[5] 前記 2次元座標位置は、直交座標、円筒座標、極座標及び自由曲面に沿う座標の 何れかであることを特徴とする請求項 4記載のステージ装置。
[6] 前記少なくとも 1つの 2次元角度センサーは、該 2次元角度センサーに既知の所定 の角度変化を与えることにより、前記目盛部と該 2次元角度センサーとの間の距離を 検出することができることを特徴とする請求項 4記載のステージ装置。
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122 Ep: pct application non-entry in european phase