WO2004104603A1

WO2004104603A1 - 位相測定装置、方法、プログラムおよび記録媒体

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Publication number: WO2004104603A1
Application number: PCT/JP2004/007125
Authority: WO
Inventors: Juichi Nakada
Original assignee: Advantest Corporation
Priority date: 2003-05-23
Filing date: 2004-05-19
Publication date: 2004-12-02
Also published as: KR20060012313A; KR100706218B1; US7323883B2; DE112004000905T5; JP4656652B2; US20070069766A1; JPWO2004104603A1

Abstract

　二つ以上の周波数成分を有する信号を測定対象回路に与えた場合に、測定対象回路から出力される信号の歪みの位相を測定する。　二つの入力周波数成分ω１０、ω２０を有する入力信号を増幅器（測定対象回路）２０に与えた場合の出力を測定する位相測定装置１であって、増幅器２０の出力を、ω１０およびω２０の平均である平均周波数ω０によって直交変換する直交変換部３０と、直交変換部３０の出力における入力周波数成分の位相θ１、θ２および歪み成分の位相θ３を取得する位相取得部４０と、θ１およびθ２が一致する一致時間Δｔおよびその時のθ１（Δｔ）を測定する一致時間・位相測定部５０と、一致時間Δｔにおける歪み成分の位相θ３（Δｔ）を測定する歪み成分位相測定部６０と、θ１（Δｔ）およびθ３（Δｔ）を表示する表示部７０を備える。

Description

明細書位相測定装置、方法、プログラムおよび記録媒体技術分野

本発明は、二つ以上の周波数成分を有する信号を非線形回路（測定対象回路）に与えた場合に、非線形回路から出力される信号の歪みの位相の測定に関する。背景技術

従来より、増幅器に信号を与えて増幅させることが広く行われている。増幅器は線形回路であることが理想的である。しかし、完全な線形回路であるような増幅器を製造することは困難であるため、増幅器を一種の非線形回路として扱うことになる。すなわち、増幅器に信号を与えると、増幅された信号のみならず、歪み成分もまた出力されてしまラ。このような歪み成分を測定することが、例えば特許文献 1 (特開 2 0 0 1 - 2 8 5 2 1 1号公報（要約））に示すように行われている。しかしながら、増幅器に二つ以上の周波数成分を有する信号を与えた場合に、増幅器から出力される歪み成分の位相を測定することは、従来、行われていない。そこで、本発明は、二つ以上の周波数成分を有する信号を測定対象回路に与えた場合に、測定対象回路から出力される信号の歪みの位相を測定することを課題とする。

発明の開示

本発明の一態様による位相測定装置によれば、二つ以上の入力周波数成分を有する入力信号を測定対象回路に与えた場合の、前記測定対象回路の出力を測定する位相測定装置であって、前記入力周波数成分の平均である平均周波数に基づいて、前記入力周波数成分および歪み成分の位相を取得する位相取得部と、前記位相取得部の取得結果に基づき、前記入力周波数成分の位相が一致する一致時間を測定する一致時間測定手段と、前記位相取得部の取得結果に基づき、前記一致時間における前記歪み成分の位相を測定する歪み成分位相測定手段と、を備えて構成される。上記のように構成された位相測定装置によれば、二つ以上の入力周波数成分を有する入力信号を測定対象回路に与えた場合の、前記測定対象回路の出力を測定する。そして、位相取得部によって、前記入力周波数成分 φ平均である平均周波数に基づいて、前記入力周波数成分および歪み成分の位相が取得され、一致時間測定手段によって、前記位相取得部の取得結果に基づき、前記入力周波数成分の位相が一致する一致時間が測定される。さらに、歪み成分位相測定手段によって、前記位相取得部の取得結果に基づき、前記一致時間における前記歪み成分の位相が測定される。さらに、本発明による位相測定装置によれば、前記位相取得部が、前記測定対象回路の出力を、前記入力周波数成分の平均である平均周波数によって直交変換する直交変換手段と、前記直交変換手段の出力における前記入力周波数成分および歪み成分の位相を取得する位相取得手段と、を備えていることが好ましい。さらに、本発明による位相測定装置によれば、前記一致時間における前記入力周波数成分の位相を測定する一致位相測定手段を備えていることが好ましい。さらに、本発明による位相測定装置によれば、前記測定対象回路は増幅器であることが好ましい。さらに、本発明による位相測定装置によれば、前記位相取得手段は、複素高速フーリェ変換を行う複素高速フーリェ変換手段を有することが好ましい。さらに、本発明による位相測定装置によれば、前記複素高速フーリェ変換手段はデジタルの信号の複素ぺクトルを取得することが好ましい。 .ーさらに、本発明による位相測定装置によれば、前記歪み成分位相測定手段の測定結果を表示する表示手段を備えていることが好ましい。さらに、本発明による位相測定装置によれば、前記一致位相測定手段の測定結果および前記歪み成分位相測定手段の測定結果を表示する表示手段を備えていることが好ましい。本発明の他の態様による位相測定装置によれば、二つ以上の入力周波数成分を有する入力信号を測定対象回路に与えた場合の、前記測定対象回路の出力を測定する位相測定方法であって、前記入力周波数成分の平均である平均周波数に基づいて、前記入力周波数成分および歪み成分の位相を取得する位相取得工程と、前記位相取得工程の取得結果に基づき、前記入力周波数成分の位相が一致する一致時間を測定する一致時間測定工程と、前記位相取得工程の取得結果に基づき、前記一致時間における前記歪み成分の位相を測定する歪み成分位相測定ェ程と、を備えて構成される。さらに、本発明の他の態様による位相測定装置によれば、二つ以上の入力周波数成分を有する入力信号を測定対象回路に与えた場合の、前記測定対象回路の出力を測定する位相測定装置であって、前記入力周波数成分の平均である平均周波数に基づいて、前記入力周波数成分および歪み成分の位相を取得する位相取得手段とを有する位相測定装置における位相測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、前記位相取得手段の取得結果に基づき、前記入力周波数成分の位相力 S—致する一致時間を測定する一致時間測定処理と、前記位相取得手段の取得結果に基づき、前記一致時間における前記歪み成分の位相を測定する歪み成分位相測定処理と、をコンピュータに実行させるように構成される。さらに、本発明の他の態様による位相測定装置によれば、二つ以上の入力周波数成分を有する入力信号を測定対象回路に与えた場合の、前記測定対象回路の出力を測定する位相測定装置であって、前記入力周波数成分の平均である平均周波数に基づいて前記入力周波数成分および歪み成分の位相を取得する位相取得手段とを有する位相測定装置における位相測定処理をコンピュー夕に実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、前記位相取得手段の取得結果に基づき、前記入力周波数成分の位相が一致する一致時間を測定する一致時間測定処理と、前記位相取得手段の取得結果に基づき、前記一致時間における前記歪み成分の位相を測定する歪み成分位相測定処理と、をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録してコンビユー夕によつて読み取り可能②構成される o

図面の簡単な説明

図 1は、本発明の実施形態にかかる増幅器測定システムの構成を示すプロック図である。

図 2は、増幅器 2 0の動作を説明するための図であり、増幅器 2 0 に与えられる入力信号の周波数スぺクトル（図 2 ( a ) )、増幅器 2 0 の出力の周波数スぺクトル（図 2 ( b ) )、 ω 0 ( = ( ω 1 0 + ω 2 0 ) / 2 ) = 0とした場合の増幅器 2 0の出力の周波数スぺクトル（図 2 ( c ) ) を示す図である。

図 3は、位相取得部 4 0の構成を示すブロック図である。

図 4は、複素べクトル s 1および s 2の初期状態（時間 t = 0における状態）を示す図である。

図 5は、複素べクトル s 1の位相 0 1および複素べクトル s 2の位相 0 2の時間 tとの関係を表したグラフである。

図 6は、複素べクトル s 1の位相 0 1、複素べクトル s 2の位相 0 2および複素べクトル s 3の位相 (9 3の時間 tとの関係を表したグラフである。

発明を実施するための最良の形態以下、本発明の実施形態を図面を参照しながら説明する。図 1は、本発明の実施形態にかかる増幅器測定システムの構成を示すプロック図である。増幅器測定システムは、入力信号生成部 1 0、増幅器（測定対象回路） 2 0、直交変換部 3 0、位相取得部 4 0、一致時間 ·位相測定部 5 0、歪み成分位相測定部 6 0、表示部 7 0を備える。なお、直交変換部 3 0、位相取得部 4 0、一致時間，位相測定部 5 0、歪み成分位相測定部 6 0および表示部 7 0は、位相測定装置 1を構成する。入力信号生成部 1 0は、二つの入力周波数成分 ω 1、 ω 2を有する入力信号を生成する。入力信号生成部 1 0は、第一発振器 1 2、第二発振器 1 4、加算器 1 6を有する。第一発振器 1 2は、周波数 ω ΐ 0 の信号を生成する。第二発振器 1 4は、周波数 2 0の信号を生成する。加算器 1 6は、周波数 1 0の信号および周波数 ω 2 0の信号を加算して出力する。加算器 1 6の出力が、入力信号である。入力信号は、増幅器 2 0に与えられる。増幅器（測定対象回路） 2 0は、与えられた入力信号を増幅して出力する。増幅器 2 0の動作を図 2を参照して説明する。増幅器 2 0に与えられる入力信号の周波数スぺクトルは、図 2 ( a )に示すように、周波数 1 0および周波数 ω 2 0の成分を有する。増幅器 2 0は、入力信号を増幅して出力する。増幅器 2 0の出力の周波数スペクトルは、図 2 (b) に示すようなものである。周波数 ω 1 0および周波数 ω 2 0の成分のレベルが上昇していることがわかる。しかし、増幅器 2 0を完全な線形回路とすることは困難なため、増幅器 2 0は非線形回路となってしまう。よって、周波数 1 0および周波数 ω 2 0の成分の他に、周波数 3 0および周波数 ω 4 0の成分（歪み成分という）が出力されてしまう。ここで、周波数 1 0および周波数 ω 2 0を平均した平均周波数 ω 0 (= (ω 1 0 +ω 2 0) /2 ) を 0とした場合、増幅器 2 0の出力の周波数スぺクトルは図 2 ( c ) のようになる。すなわち、 ω ΐ θが ω 1 (=ω 1 0 -ω 0 ) に、 ω 2 0が一 ω ΐ ( = ω 2 0 -ω 0 ) に、 ω 3 0が 3 ω 1 (= ω 3 0 -ω 0 ) に、 ω 4 0がー 3 ω 1 (=ω 4 0 -ω 0 ) になる。位相測定装置 1は、増幅器（測定対象回路） 2 0の出力を測定する。位相測定装置 1は、直交変換部 3 0、位相取得部 40、一致時間 ·位相測定部 5 0、歪み成分位相測定部 6 0および表示部 7 0を備える。直交変換部 3 0は、増幅器 2 0の出力を、入力周波数成分（周波数 ω 1 0および周波数 ω 2 0 ) の平均である平均周波数 ω 0によって直交変換する。これにより、図 2 (b) に示すような増幅器 2 0の出力の周波数スペクトルを、図 2 ( c ) に示すようなものとして取り扱うことができる。直交変換部 3 0は、乗算器 3 2、 34を有する。乗算器 3 2は、増幅器 2 0の出力に cos(w 0 · t)を乗算して出力する。乗算器 34は、増幅器 20の出力に一 sin(w 0 · t)を乗算して出力する。位相取得部 40は、直交変換部 3 0の出力における入力周波数成分 (士 ω ΐ ) および歪み成分（+ 3 1 ) の位相を取得する。図 3は、位相取得部 4 0の構成を示すプロック図である。位相取得部 40は、口一パスフィル夕 42 a、 b、 A/D変換器 44 a、 b、複素 F F T (高速フーリエ変換）部 4 6、位相決定部 48を有する。口一パスフィル夕 42 aは、乗算器 32の出力の低周波成分を通過させ、高周波成分を遮断する。口一パスフィルタ 42 bは、乗算器 3 4の出力の低周波成分を通過させ、高周波成分を遮断する。

A/D変換器 44 aは、口一パスフィル夕 42 aの出力をデジタル信号に変換する。 A/D変換器 44 bは、ローパスフィル夕 42 bの出力をデジタル信号に変換する。ただし、 A/D変換器 44 a、 bのサンプリング周波数は、 ω ΐ θ— ω 2 0 = 2 ω 1を 2 で割ったものの整数倍とする。すなわち、 ω ΐΖττの整数倍とする。複素 F F T (高速フーリエ変換）部 4 6は、 A/D変換器 44 a、 bの出力について複素高速フーリエ変換を行う。これにより、入力周波数成分（士 ω 1 ) および歪み成分（+ 3 ω 1 ) の複素べクトルが得られる。位相決定部 48は、入力周波数成分（士 ω ΐ ) および歪み成分（+ 3 ω 1 ) の複素ベクトルに基づき、各成分の位相を決定する。位相は tair 複素べクトルの虚部ノ複素べクトルの実部）として求めることができる。入力周波数成分 +ω 1の位相を 6> 1、入力周波数成分— ω 1 の位相を (92、歪み成分 + 3 ω 1の位相を S 3とする。 S l、 02および 03は、時間の関数である。以後、時間 tにおける位相を例えば Θ 1 ( t ) などと表記する。図 1に戻り、一致時間 ·位相測定部 5 0は、位相取得部 4 0の取得結果に基づき、入力周波数成分 + ω 1の位相 0 1と、入力周波数成分 — ω 1の位相 6> 2とが最初に一致する一致時間 Δ tおよびその時の位相 0 1 (A t ) (= 0 2 (A t )) を測定する。入力周波数成分 +ω 1の複素べクトル s 1および入力周波数成分一 ω 1の複素べクトル s 2は下記の式のように表される。【数 1】 s1 =A1 Xe^{i( j1 xt+01(o))}

s2 ~ ^A2 x J(一 ^{ω 1 xt+}02(o))

上記の式から明らかなように、複素べクトル s 1および s 2は、大きさこそ異なるものの、同じ大きさの回転速度で逆向きに回転している。複素べクトル s 1および s 2の初期状態（時間 t = 0における状態）を図 4に示す。図 4においては、縦軸に Im (虚部）、横軸に Re (実部）をとつている。複素べクトル s 1の初期位相は 0 1 ( 0 )、複素べクトル s 2の初期位相は 02 ( 0 ) である。複素ぺクトル s 1および s 2は、時間△ tに位相が最初に一致する。そのときの、位相 0 1 (Δ t ) ( = θ 2 (A t )) は、下記の式のように表される。【数 2】一 01(0)+ Θ 2(0)

+ Θ1(0)= Θ 1(Δ

2

時間 A tに位相が S I (Δ t ) となった複素ベクトル s 1および s 2は、同じ大きさの回転速度で逆向きに回転しているため、複素ぺクトル s 1および s 2が 1/2回転し、 0 1 (A t ) + 7Γで位相が一致する。そのときの時間は、 Δ ΐ +ττ/ω ΐである。その後、さらに Θ 1 (Δ t ) で位相が一致する。そのときの時間は、 Δ ΐ + Ζ ττΖω Ι である。このようにして、時間 Δ t + η · T /ω 1で位相が一致し（ η =0,1，2 '）、その時の複素べクトル s 1および s 2の位相は 0 1 (Δ t ) (n = 0,2,4···)あるいは 0 1 (A t ) + 7T (η = 1，3,5···)である。複素べクトル s 1の位相 θ 1および複素べクトル s 2の位相 Θ 2の時間 tとの関係をグラフに表したものが図 5である。ただし、図示の便宜上、 0 1 ( 0 ) = 0としてある。図 5からも明らかなように、時間 Δ t + η · rc/ω 1で複素べクトル s 1および s 2の位相が一致し (n = 0,l，2，〜）、その時の複素べクトル s 1および s 2の位相は 6> 1 (Δ t ) (η=0，2，4···) あるいは 0 1 (A t ) +π (η = 1_;3,5···) でめる。歪み成分位相測定部 6 0は、位相取得部 4 0の取得結果に基づき、一致時間 Δ tにおける歪み成分 + 3 ω 1の位相 S 3 (A t ) を測定する。一致時間 A tは、一致時間 ·位相測定部 5 0から取得する。歪み成分 + 3 ω 1の複素べクトル s 3は下記の式のように表される【数 3】 s3=A3Xe^i(3w1xt+03(o》

上記の式から明らかなように、複素べクトル s 1が 1回転すると、複素べクトル s 3が 3回転する。複素べクトル s 1が 1/2回転すると、複素べクトル s 3が 3/2回転する。よって、複素べクトル s 1が位相 6· 1 (A t ) から 1回転すると、複素べクトル s 3が 3回転するので、複素べクトル s 3の位相は元に戻る。よって、複素ぺクトル s 1が位相 0 1 (Δ t ) から n回転すると（η = 1,2,···)、複素ベクトル s 3の位相は、一致時間 A tにおける歪み成分 + 3 ω 1の位相 03 (A t ) に戻る。また、複素べクトル s 1が位相 0 1 (△ t )から 1 / 2回転すると、複素べクトル s 3が 3/2回転するので、複素べクトル s 3の位相は進む。よって、複素ぺクトル s 1が位相 S 1 (Δ ΐ ) +ττになると、複素ベクトル s 3の位相は、 < 3 (A t ) + 7Γになる。複素べクトル s 1の位相 0 1、複素べクトル s 2の位相 0 2および複素べクトル s 3の位相 S 3の時間 tとの関係をグラフに表したものが図 6である。なお、図 6においては、（ 1および 0 2は一点鎖線、 3は実線で図示している。図 6からも明らかなように、時間 A t + η · π/ω 1 (η =0,2，4···)で複素べクトル s 3の位相が 03 (Δ t ) となり、時間△ t + η · π/ω 1 (n = l,3,5-) で複素べクトル s 3 の位相が 03 (A t ) +7Γとなる。このように、複素べクトル s 1および s 2がー致する位相は 0 1 (Δ t ) あるいは 6> 1 (A t ) + 7Γといった一定の値をとる。しかも、複素べクトル s 1および s 2がー致したときの複素べクトル s 3の位相もまた (A t ) あるいは 03 (Δ t ) + 7Γといった一定の値をとる。よって、入力周波数成分 ±ω 1の位相を表す値として 0 1 (A t ) を、歪み成分 + 3 ω 1の位相を表す値として 03 (A t ) を測定することは有意義である。なお、複素ベクトル s 1および s 2がー致する位相に対する、複素べクトル s 1および s 2がー致したときの複素べクトル s 3の相対位相は、一定の値 03 (Δ t ) - θ 1 (A t ) をとる。表示部 7 0は、一致時間 ·位相測定部 5 0の測定結果 0 1 (A t ) および歪み成分位相測定部 6 0の測定結果 S 3 (A t ) を表示する。次に、本発明の実施形態の動作を説明する。まず、第一発振器 1 2から出力された周波数 ω 1 0の信号と、第二発振器 1 4から出力された周波数 ω 2 0の信号とが、加算器 1 6により加算され、入力信号として増幅器 2 0に与えられる。入力信号の周波数スペクトルは図 2 (a) に示すようなものである。入力信号は増幅器 2 0により増幅される。ただし、増幅器 2 0は非線形回路の一種であり、周波数 1 0および周波数 ω 2 0の成分のみならず、歪み成分（周波数 ω 3 0および周波数 ω 4 0の成分）も出力されてしまう（図 2 (b) 参照）。増幅器 2 0の出力は位相測定装置 1に与えられる。位相測定装置 1 は、増幅器 2 0の出力を測定するためのものである。まず、増幅器 2 0の出力は、直交変換部 3 0により、入力周波数成分（周波数の 1 0および周波数 ω 2 0) の平均である平均周波数 ω 0 によって直交変換される。これにより、増幅器 2 0の出力を、入力周波数成分土 ω 1、歪み周波数成分士 3 ω 1として取り扱うことができる（図 2 ( c)参照）。直交変換部 3 0の出力には二種類あり、乗算器 3 2の出力と乗算器 34の出力とがある。乗算器 3 2の出力は、口一パスフィル夕 4 2 aにより高周波成分が遮断され、 A/D変換器 44 aによりデジタル信号に変換されてから、複素 F F T部 4 6に与えられる。乗算器 34の出力は、ローパスフィル夕 4 2 bにより高周波成分が遮断され、 AZD変換器 44 bによりデジタル信号に変換されてから、複素 F F T部 4 6に与えられる。複素 F F T部 4 6は複素高速フーリエ変換を行い、入力周波数成分（土 ω 1 ) および歪み成分（+ 3 1 ) の複素べクトルを得る。位相決定部 4 8は、複素ベクトルを受け、各成分の位相を決定する。位相決定部 4 8の出力の内、入力周波数成分 + ω 1の位相 0 1および入力周波数成分一 ω 1の位相 < 2を受けて、一致時間 ·位相測定部 5 0が、 1と 02とが最初に一致する一致時間△ tおよびその時の位相 0 1 (A t ) ( = θ 2 (Δ t )) を測定する（図 5参照）。位相決定部 4 8の出力の内、歪み成分 + 3 ω 1の位相 03を受け、さらに、一致時間 ·位相測定部 5 0から一致時間 A tを受け、歪み成分位相測定部 6 0が、一致時間△ tにおける歪み成分 + 3 ω 1の位相 Θ 3 (Δ t ) を測定する（図 6参照）。表示部 7 0は、一致時間 ·位相測定部 5 0の測定結果 θ 1 (Δ t ) および歪み成分位相測定部 6 0の測定結果 03 (Δ t ) を表示する。本発明の実施形態によれば、入力周波数成分士 ω 1の位相を表す値として有意義な 0 1 (A t ) を一致時間，位相測定部 5 0により測定する。さらに、歪み成分 + 3 ω 1の位相を表す値として有意義な Θ 3 (Δ t )を歪み成分位相測定部 6 0により測定する。さらに、 0 1 (厶 t ) および 0 3 (Δ t ) を表示部 7 0により表示する。よって、増幅器 2 0から出力される信号の歪みおよび入力周波数成分の位相を表す値として有意義な値を測定し、かつ表示することができる。なお、 AZD変換器 44 a、 bは、口一パスフィルタ 4 2 a、と複素 F F T部 4 6との間に配置するかわりに、増幅器 2 0と位相測定装置 1との間に配置してもよい。また、上記の実施形態は、以下のようにして実現できる。 CPU、ハードディスク、メディア（フロッピ一（登録商標）ディスク、 CD 一 ROMなど）読み取り装置を備えたコンピュータのメディァ読み取り装置に、上記の各部分（例えば一致時間 ·位相測定部 50および歪み成分位相測定部 60) を実現するプログラムを記録したメディアを読み取らせて、ハードディスクにインスト一ルする。このような方法でも、上記の実施形態を実現できる。

Claims

請求の範囲

1 . 二つ以上の入力周波数成分を有する入力信号を測定対象回路に与えた場合の、前記測定対象回路の出力を測定する位相測定装置であつて、

前記入力周波数成分の平均である平均周波数に基づいて、前記入力周波数成分および歪み成分の位相を取得する位相取得部と、

前記位相取得部の取得結果に基づき、前記入力周波数成分の位相が一致する一致時間を測定する一致時間測定手段と、

前記位相取得部の取得結果に基づき、前記一致時間における前記歪み成分の位相を測定する歪み成分位相測定手段と、

を備えた位相測定装置。

2 . 請求項 1に記載の位相測定装置であって、

前記位相取得部が、

前記測定対象回路の出力を、前記入力周波数成分の平均である平均周波数によって直交変換する直交変換手段と、

前記直交変換手段の出力における前記入力周波数成分および歪み成分の位相を取得する位相取得手段と、

を備えている位相測定装置。

3 . 請求項 1または 2に記載の位相測定装置であって、

前記一致時間における前記入力周波数成分の位相を測定する一致位相測定手段を備えた位相測定装置。

4 . 請求項 1乃至 3のいずれか一項に記載の位相測定装置であって、前記測定対象回路は増幅器である、

位相測定装置。

5 . 請求項 2乃至 4のいずれか一項に記載の位相測定装置であって、前記位相取得手段は、複素高速フーリエ変換を行う複素高速フーリェ変換手段を有する、

位相測定装置。

6 . 請求項 5に記載の位相測定装置であって、

前記複素高速フーリエ変換手段はデジタルの信号の複素べクトルを取得する、

位相測定装置。

7 . 請求項 1または 2に記載の位相測定装置であって、

前記歪み成分位相測定手段の測定結果を表示する表示手段を備えた位相測定装置。

8 . 請求項 3に記載の位相測定装置であって、

前記一致位相測定手段の測定結果および前記歪み成分位相測定手段の測定結果を表示する表示手段を備えた位相測定装置。

9 . 二つ以上の入力周波数成分を有する入力信号を測定対象回路に与えた場合の、前記測定対象回路の出力を測定する位相測定方法であつて、

前記入力周波数成分の平均である平均周波数に基づいて、前記入力周波数成分および歪み成分の位相を取得する位相取得工程と、前記位相取得工程の取得結果に墓づき、前記入力周波数成分の位相がー致する一致時間を測定する一致時間測定工程と、

前記位相取得工程の取得結果に基づき、前記一致時間における前記歪み成分の位相を測定する歪み成分位相測定工程と、

を備えた位相測定方法。

1 0 . 二つ以上の入力周波数成分を有する入力信号を測定対象回路に与えた場合の、前記測定対象回路の出力を測定する位相測定装置であつて、前記入力周波数成分の平均である平均周波数に基づいて、前記入力周波数成分および歪み成分の位相を取得する位相取得手段とを有する位相測定装置における位相測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、

前記位相取得手段の取得結果に基づき、前記入力周波数成分の位相がー致する一致時間を測定する一致時間測定処理と、

前記位相取得手段の取得結果に基づき、前記一致時間における前記歪み成分の位相を測定する歪み成分位相測定処理と、

をコンピュータに実行させるためのプログラム。

1 1 . 二つ以上の入力周波数成分を有する入力信号を測定対象回路に与えた場合の、前記測定対象回路の出力を測定する位相測定装置であつて、前記入力周波数成分の平均である平均周波数に基づいて前記入力周波数成分および歪み成分の位相を取得する位相取得手段とを有する位相測定装置における位相測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、

をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンビュ —夕によって読み取り可能な記録媒体。