JP3482867B2 - 位相変調信号分析方法及び装置 - Google Patents
位相変調信号分析方法及び装置Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電波逆探知装置の
受信した信号が位相変調されているか否か判別する位相
変調信号分析装置に関するものである。
受信した信号が位相変調されているか否か判別する位相
変調信号分析装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図６は、従来の位相変調信号分析装置を
示す構成図である。図６において、４１は入力信号を３
分岐する分岐点、４２は分岐点４１より出力側に分岐さ
れた第１系統、４３は分岐点４１より出力側に分岐され
た第２系統、４４は分岐点４１より出力側に分岐された
第３系統である。４５は第１系統４２に設けられて入力
信号の周波数を測定する周波数測定装置、４６は第２系
統４３に設けられ周波数測定装置４５からの周波数情報
を用いて第２系統４３の入力信号に遅延時間を与える遅
延線、４７は遅延線４６からの入力信号と第３系統４４
の入力信号との和を計算する加算器である。
示す構成図である。図６において、４１は入力信号を３
分岐する分岐点、４２は分岐点４１より出力側に分岐さ
れた第１系統、４３は分岐点４１より出力側に分岐され
た第２系統、４４は分岐点４１より出力側に分岐された
第３系統である。４５は第１系統４２に設けられて入力
信号の周波数を測定する周波数測定装置、４６は第２系
統４３に設けられ周波数測定装置４５からの周波数情報
を用いて第２系統４３の入力信号に遅延時間を与える遅
延線、４７は遅延線４６からの入力信号と第３系統４４
の入力信号との和を計算する加算器である。
【０００３】次に、動作について説明する。電波逆探知
装置からの入力信号は分岐点４１で３分岐される。第１
系統４２の入力信号は周波数測定装置４５に入力され
る。周波数測定装置４５は入力信号の周波数を測定し、
測定した周波数情報を遅延線４６に出力する。遅延線４
６は周波数測定装置４５からの周波数情報により遅延長
さを入力信号の周波数の１／２に設定するとともに、第
２系統４３の入力信号を半波長だけ遅延して加算器４７
に出力する。加算器４７は遅延線４６からの遅延された
入力信号と第３系統４４の入力信号とを加算して出力す
る。
装置からの入力信号は分岐点４１で３分岐される。第１
系統４２の入力信号は周波数測定装置４５に入力され
る。周波数測定装置４５は入力信号の周波数を測定し、
測定した周波数情報を遅延線４６に出力する。遅延線４
６は周波数測定装置４５からの周波数情報により遅延長
さを入力信号の周波数の１／２に設定するとともに、第
２系統４３の入力信号を半波長だけ遅延して加算器４７
に出力する。加算器４７は遅延線４６からの遅延された
入力信号と第３系統４４の入力信号とを加算して出力す
る。
【０００４】ここで、入力信号等の電気信号を構成する
波の一般的な性質について述べる。 性質１：無変調の波（sin波）は、１／２波長遅延させ
た信号と加算すると、干渉によって波が消滅する。 性質２：位相変調（０／π変調）の波は、１／２波長遅
延させた信号と加算すると、干渉によって波が増幅され
る。０／π変調信号とは信号の位相が変調しない又は位
相が１８０度変調するのいずれかを取る信号のことであ
る。 上記波の性質により、従来の位相変調信号分析装置で
は、通常の無変調の波である入力信号を受信した場合の
出力信号はゼロとなり、位相変調された入力信号を受信
した場合の出力は増幅された強い信号となる。この無変
調の入力信号と位相変調信号との違いにより、従来の位
相変調信号分析装置は、入力信号が位相変調信号である
か否かの判別を行うものである。
波の一般的な性質について述べる。 性質１：無変調の波（sin波）は、１／２波長遅延させ
た信号と加算すると、干渉によって波が消滅する。 性質２：位相変調（０／π変調）の波は、１／２波長遅
延させた信号と加算すると、干渉によって波が増幅され
る。０／π変調信号とは信号の位相が変調しない又は位
相が１８０度変調するのいずれかを取る信号のことであ
る。 上記波の性質により、従来の位相変調信号分析装置で
は、通常の無変調の波である入力信号を受信した場合の
出力信号はゼロとなり、位相変調された入力信号を受信
した場合の出力は増幅された強い信号となる。この無変
調の入力信号と位相変調信号との違いにより、従来の位
相変調信号分析装置は、入力信号が位相変調信号である
か否かの判別を行うものである。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来の位相変調信号分
析装置は、以上のように構成されているため、次のよう
な問題点があった。 一旦、周波数を測定してから遅延線４６の遅延長さ調
整を行う必要があるため、判定に長時間を要する。特
に、瞬時に現れる信号に対しては、周波数を測定した後
に次に入力される信号を待っても信号が現れない場合が
多く、周波数測定後の入力信号が現れない場合には位相
変調分析が不可能である。 一般に、遅延線４６の遅延長さの調整は任意の値に設
定することができず、或る値の整数倍数である。従来の
位相変調信号分析装置の構成においては、１／２波長の
遅延時間を確実に実現する必要があり、それに誤差があ
ると、判定に誤りが発生する。
析装置は、以上のように構成されているため、次のよう
な問題点があった。 一旦、周波数を測定してから遅延線４６の遅延長さ調
整を行う必要があるため、判定に長時間を要する。特
に、瞬時に現れる信号に対しては、周波数を測定した後
に次に入力される信号を待っても信号が現れない場合が
多く、周波数測定後の入力信号が現れない場合には位相
変調分析が不可能である。 一般に、遅延線４６の遅延長さの調整は任意の値に設
定することができず、或る値の整数倍数である。従来の
位相変調信号分析装置の構成においては、１／２波長の
遅延時間を確実に実現する必要があり、それに誤差があ
ると、判定に誤りが発生する。
【０００６】本発明は上記のような問題点を解決するた
めになされたもので、最初の入力信号により位相変調信
号であることを適切に判定する位相変調信号分析方法及
び装置を提供することを目的とする。
めになされたもので、最初の入力信号により位相変調信
号であることを適切に判定する位相変調信号分析方法及
び装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１の発明に係る位
相変調信号分析方法は、入力信号のスペクトル幅と乗算
器から出力された前記入力信号の累乗信号のスペクトル
幅とを比較し、前記累乗信号スペクトル幅の変化から入
力信号が位相変調信号であることを判定することを特徴
とする。
相変調信号分析方法は、入力信号のスペクトル幅と乗算
器から出力された前記入力信号の累乗信号のスペクトル
幅とを比較し、前記累乗信号スペクトル幅の変化から入
力信号が位相変調信号であることを判定することを特徴
とする。
【０００８】請求項２の発明に係る位相変調信号分析方
法は、入力信号のスペクトル幅と入力信号を二乗した信
号のスペクトル幅とを比較し、両者ともスペクトル幅が
狭いときを入力信号が無変調信号であると判定し、前者
が後者よりも広いときを入力信号が位相変調信号である
と判定することを特徴とする。
法は、入力信号のスペクトル幅と入力信号を二乗した信
号のスペクトル幅とを比較し、両者ともスペクトル幅が
狭いときを入力信号が無変調信号であると判定し、前者
が後者よりも広いときを入力信号が位相変調信号である
と判定することを特徴とする。
【０００９】 請求項３の発明に係る位相変調信号分析
装置は、入力信号のスペクトル幅を測定する第１スペク
トル幅測定装置と、入力信号を累乗する乗算器と、乗算
器からの出力の高周波成分を通過させる高周波濾波器
と、高周波濾波器からの高周波成分のスペクトル幅を測
定する第２スペクトル幅測定装置と、第１スペクトル幅
測定装置からのスペクトル幅と第２スペクトル幅測定装
置からのスペクトル幅とを比較する比較器とを備えたこ
とを特徴とする。
装置は、入力信号のスペクトル幅を測定する第１スペク
トル幅測定装置と、入力信号を累乗する乗算器と、乗算
器からの出力の高周波成分を通過させる高周波濾波器
と、高周波濾波器からの高周波成分のスペクトル幅を測
定する第２スペクトル幅測定装置と、第１スペクトル幅
測定装置からのスペクトル幅と第２スペクトル幅測定装
置からのスペクトル幅とを比較する比較器とを備えたこ
とを特徴とする。
【００１０】請求項４の発明に係る位相変調信号分析装
置は、請求項３に記載の高周波濾波器からの高周波成分
を時間情報と振幅情報との対で記録する波形メモリと、
波形メモリのデータを１つ飛びに取り出して第２スペク
トル幅測定装置に出力する１／２サンプリング器とを付
加したことを特徴とする。
置は、請求項３に記載の高周波濾波器からの高周波成分
を時間情報と振幅情報との対で記録する波形メモリと、
波形メモリのデータを１つ飛びに取り出して第２スペク
トル幅測定装置に出力する１／２サンプリング器とを付
加したことを特徴とする。
【００１１】 請求項５の発明に係る位相変調信号分析
方法は、入力信号をそれぞれ異なる回数累乗して得られ
る複数の信号のスペクトル幅を比較することにより位相
変調信号の角度を判定することを特徴とする。
方法は、入力信号をそれぞれ異なる回数累乗して得られ
る複数の信号のスペクトル幅を比較することにより位相
変調信号の角度を判定することを特徴とする。
【００１２】請求項６の発明に係る位相変調信号分析装
置は、入力信号のスペクトル幅を測定する第１スペクト
ル幅測定装置と、入力信号を二乗する二乗器と、入力信
号を三乗する三乗器と、入力信号を四乗する四乗器と、
これらの乗算器からの出力の高周波成分を通過させる高
周波濾波器と、高周波濾波器からの高周波成分のスペク
トル幅を測定する第２スペクトル幅測定装置と、第１ス
ペクトル幅測定装置からのスペクトル幅と第２スペクト
ル幅測定装置からのスペクトル幅とを比較する比較器と
を備えたことを特徴とする。
置は、入力信号のスペクトル幅を測定する第１スペクト
ル幅測定装置と、入力信号を二乗する二乗器と、入力信
号を三乗する三乗器と、入力信号を四乗する四乗器と、
これらの乗算器からの出力の高周波成分を通過させる高
周波濾波器と、高周波濾波器からの高周波成分のスペク
トル幅を測定する第２スペクトル幅測定装置と、第１ス
ペクトル幅測定装置からのスペクトル幅と第２スペクト
ル幅測定装置からのスペクトル幅とを比較する比較器と
を備えたことを特徴とする。
【００１３】請求項７の発明に係る位相変調信号分析装
置は、請求項６に記載の各乗算器からの信号を時間情報
と振幅情報との対で記録する波形メモリと、波形メモリ
のデータを１つ飛びに取り出して高周波濾波器に出力す
る１／２サンプリング器と、波形メモリのデータを２つ
飛びに取り出して高周波濾波器に出力する１／３サンプ
リング器と、波形メモリのデータを３つ飛びに取り出し
て高周波濾波器に出力する１／４サンプリング器とを備
えたことを特徴とする。
置は、請求項６に記載の各乗算器からの信号を時間情報
と振幅情報との対で記録する波形メモリと、波形メモリ
のデータを１つ飛びに取り出して高周波濾波器に出力す
る１／２サンプリング器と、波形メモリのデータを２つ
飛びに取り出して高周波濾波器に出力する１／３サンプ
リング器と、波形メモリのデータを３つ飛びに取り出し
て高周波濾波器に出力する１／４サンプリング器とを備
えたことを特徴とする。
【００１４】
【発明の実施の形態】実施の形態１．図１は本発明の実
施の形態１の位相変調信号分析装置を示す構成図であ
る。図１において、１は入力信号を３分岐する分岐点、
２は分岐点１より出力側に分岐された第１系統、３は分
岐点１より出力側に分岐された第２系統、４は分岐点１
より出力側に分岐された第３系統、５は第１系統１に設
けられて入力信号のスペクトル幅を測定する第１スペク
トル幅測定装置、６は第２系統３の入力信号と第３系統
４の入力信号とを乗算することにより入力信号の２乗を
出力する乗算器、７は乗算器６から出力された二乗信号
の高周波成分のみを通過させる高周波濾波器、８は高周
波濾波器７を通過した高周波成分のスペクトル幅を測定
する第２スペクトル幅測定装置、９は第１・第２スペク
トル幅測定装置５，８で測定されたスペクトル幅の大小
関係を判定する比較器である。
施の形態１の位相変調信号分析装置を示す構成図であ
る。図１において、１は入力信号を３分岐する分岐点、
２は分岐点１より出力側に分岐された第１系統、３は分
岐点１より出力側に分岐された第２系統、４は分岐点１
より出力側に分岐された第３系統、５は第１系統１に設
けられて入力信号のスペクトル幅を測定する第１スペク
トル幅測定装置、６は第２系統３の入力信号と第３系統
４の入力信号とを乗算することにより入力信号の２乗を
出力する乗算器、７は乗算器６から出力された二乗信号
の高周波成分のみを通過させる高周波濾波器、８は高周
波濾波器７を通過した高周波成分のスペクトル幅を測定
する第２スペクトル幅測定装置、９は第１・第２スペク
トル幅測定装置５，８で測定されたスペクトル幅の大小
関係を判定する比較器である。
【００１５】次に、動作について説明する。電波逆探知
装置からの入力信号は分岐点１で３分岐される。第１系
統２の入力信号は第１スペクトル幅測定装置５に直接入
力されてスペクトル幅を測定される。第２・第３系統
３，４の入力信号は乗算器６及び高周波濾波器７を順に
経由して第２スペクトル幅測定装置８に入力されてスペ
クトル幅を測定される。
装置からの入力信号は分岐点１で３分岐される。第１系
統２の入力信号は第１スペクトル幅測定装置５に直接入
力されてスペクトル幅を測定される。第２・第３系統
３，４の入力信号は乗算器６及び高周波濾波器７を順に
経由して第２スペクトル幅測定装置８に入力されてスペ
クトル幅を測定される。
【００１６】ここで、信号のスペクトル幅について説明
する。一般的に、無変調の信号は次のように表現でき
る。 無変調信号＝sin(２πＦｔ) π：円周率 Ｆ：周波数 ｔ：時刻 一般的に、このような無変調信号のスペクトル形状は鋭
い山形となり、スペクトル幅は狭い。一方、位相変調信
号は次のように表現できる。 位相変調信号＝Ｉ(t)・sin(２πＦｔ) π ：円周率 Ｆ ：周波数 ｔ ：時刻 Ｉ(t)：０または−１の値を取る関数 一般的に、Ｉ(t)のような変調信号があると、信号のス
ペクトル形状はなだらかな山形となり、スペクトル幅は
広い。しかし、位相変調信号を２乗すると、 位相変調信号2＝Ｉ(t)2・sin2(２πＦｔ) ＝sin2(２πＦｔ) ＝１／２−cos(４πＦｔ)／２……………（１） となり、式１の第２項cos(４πＦｔ)／２のスペクトル
は無変調信号と同形の形状となり、スペクトル幅は狭
い。
する。一般的に、無変調の信号は次のように表現でき
る。 無変調信号＝sin(２πＦｔ) π：円周率 Ｆ：周波数 ｔ：時刻 一般的に、このような無変調信号のスペクトル形状は鋭
い山形となり、スペクトル幅は狭い。一方、位相変調信
号は次のように表現できる。 位相変調信号＝Ｉ(t)・sin(２πＦｔ) π ：円周率 Ｆ ：周波数 ｔ ：時刻 Ｉ(t)：０または−１の値を取る関数 一般的に、Ｉ(t)のような変調信号があると、信号のス
ペクトル形状はなだらかな山形となり、スペクトル幅は
広い。しかし、位相変調信号を２乗すると、 位相変調信号2＝Ｉ(t)2・sin2(２πＦｔ) ＝sin2(２πＦｔ) ＝１／２−cos(４πＦｔ)／２……………（１） となり、式１の第２項cos(４πＦｔ)／２のスペクトル
は無変調信号と同形の形状となり、スペクトル幅は狭
い。
【００１７】以上のことから、次のことが判る。
入力信号が無変調な場合 ：入力信号のスペクトル幅は
狭く、二乗信号のスペクトル幅は狭い。 入力信号が位相変調な場合：入力信号のスペクトル幅は
広く、二乗信号のスペクトル幅は狭い。 よって、実施の形態１によれば、高周波濾波器７で式１
の第１項の部分を取り除いた後、第２スペクトル幅測定
装置８でスペクトル幅を測定し、比較器９で第１スペク
トル幅測定装置５からの第１系統２の入力信号のスペク
トル幅と第２スペクトル幅測定装置８からの二乗信号の
スペクトル幅とを比較して上記変化（スペクトル幅の大
小関係）を検出することにより電波逆探知装置からの本
来の入力信号が位相変調信号であるか否かを判定するこ
とができる。
狭く、二乗信号のスペクトル幅は狭い。 入力信号が位相変調な場合：入力信号のスペクトル幅は
広く、二乗信号のスペクトル幅は狭い。 よって、実施の形態１によれば、高周波濾波器７で式１
の第１項の部分を取り除いた後、第２スペクトル幅測定
装置８でスペクトル幅を測定し、比較器９で第１スペク
トル幅測定装置５からの第１系統２の入力信号のスペク
トル幅と第２スペクトル幅測定装置８からの二乗信号の
スペクトル幅とを比較して上記変化（スペクトル幅の大
小関係）を検出することにより電波逆探知装置からの本
来の入力信号が位相変調信号であるか否かを判定するこ
とができる。
【００１８】実施の形態２．前記実施の形態１ではスペ
クトル幅の大小関係で本来の入力信号が位相変調信号で
ある否かを判別したが、図2の実施の形態2に示すよう
に、高周波濾波器７と第２スペクトル幅測定装置8との
間に波形メモリ１０と１／２サンプリング器１１とを直
列に挿入して二乗信号を本来の入力信号と同じ周波数帯
域に落とし込むことにより、第１・第２スペクトル幅測
定装置５，８として同じ周波数帯域のものを用いること
ができるようにしても良い。
クトル幅の大小関係で本来の入力信号が位相変調信号で
ある否かを判別したが、図2の実施の形態2に示すよう
に、高周波濾波器７と第２スペクトル幅測定装置8との
間に波形メモリ１０と１／２サンプリング器１１とを直
列に挿入して二乗信号を本来の入力信号と同じ周波数帯
域に落とし込むことにより、第１・第２スペクトル幅測
定装置５，８として同じ周波数帯域のものを用いること
ができるようにしても良い。
【００１９】つまり、前記実施の形態１では次のような
問題点がある。式１において、波の形状がcos(４πＦ
ｔ)となっており、本来の入力信号の周波数に比べて２
倍の周波数になっている。従って、スペクトル幅を測定
する際に、第1系統２と第2・第3系統３，４とにおいて
異なる周波数帯域について処理する必要がある。これ
は、異なる周波数帯域のスペクトル幅測定装置を用いる
ことを意味しており、第１・第２スペクトル幅測定装置
５，８のハードウエア的な構成が複雑化するとうい問題
を含んでいる。
問題点がある。式１において、波の形状がcos(４πＦ
ｔ)となっており、本来の入力信号の周波数に比べて２
倍の周波数になっている。従って、スペクトル幅を測定
する際に、第1系統２と第2・第3系統３，４とにおいて
異なる周波数帯域について処理する必要がある。これ
は、異なる周波数帯域のスペクトル幅測定装置を用いる
ことを意味しており、第１・第２スペクトル幅測定装置
５，８のハードウエア的な構成が複雑化するとうい問題
を含んでいる。
【００２０】これに対し、実施の形態２では二乗信号の
高周波成分である信号を波形メモリ１０に一旦蓄積す
る。波形メモリ１０は信号をディジタル化して「時間情
報＋振幅情報」の対で記録する装置である。そして、１
／２サンプリング器１１が波形メモリ１０に記録したデ
ータの中からデータを１つ飛びに取り出してやる。つま
り、本来の入力信号の２倍の周波数を持ち波形メモリ１
０に記録された二乗信号の高周波成分である信号に相当
するデータを１つ飛びに取り出すことによって、第2・
第3系統３，４の二乗信号を第1系統１の本来の入力信号
と同じ周波数帯域に落とし込むことができる。よって、
二乗信号も、本来の入力信号と同じ周波数に変換される
ことになり、第１・第２スペクトル幅測定装置５，８の
ハードウエア的な構成が同じな簡素なものにできる。
高周波成分である信号を波形メモリ１０に一旦蓄積す
る。波形メモリ１０は信号をディジタル化して「時間情
報＋振幅情報」の対で記録する装置である。そして、１
／２サンプリング器１１が波形メモリ１０に記録したデ
ータの中からデータを１つ飛びに取り出してやる。つま
り、本来の入力信号の２倍の周波数を持ち波形メモリ１
０に記録された二乗信号の高周波成分である信号に相当
するデータを１つ飛びに取り出すことによって、第2・
第3系統３，４の二乗信号を第1系統１の本来の入力信号
と同じ周波数帯域に落とし込むことができる。よって、
二乗信号も、本来の入力信号と同じ周波数に変換される
ことになり、第１・第２スペクトル幅測定装置５，８の
ハードウエア的な構成が同じな簡素なものにできる。
【００２１】実施の形態３．実施の形態１〜２では分析
可能な位相変調信号は、０／π変調信号のみであるが、
図３の実施の形態３に示すように、前記分岐点１に相当
する分岐点１２を４分岐点とし、分岐点１２から分岐さ
れた第１系統１３に第１スペクトル幅測定装置５を設
け、第２系統１４に二乗器１８と高周波濾波器１８及び
第２スペクトル幅測定装置１９を直列に設け、第３系統
１５に三乗器２０と高周波濾波器２１及び第２スペクト
ル幅測定装置２２を直列に設け、第４系統１６に四乗器
２３と高周波濾波器２４及び第２スペクトル幅測定装置
２５を直列に設けて、第１〜第４の各系列から出力され
る信号のスペクトル幅を比較器９で比較することによっ
て、位相変調信号の判定を行うようにしても良い。
可能な位相変調信号は、０／π変調信号のみであるが、
図３の実施の形態３に示すように、前記分岐点１に相当
する分岐点１２を４分岐点とし、分岐点１２から分岐さ
れた第１系統１３に第１スペクトル幅測定装置５を設
け、第２系統１４に二乗器１８と高周波濾波器１８及び
第２スペクトル幅測定装置１９を直列に設け、第３系統
１５に三乗器２０と高周波濾波器２１及び第２スペクト
ル幅測定装置２２を直列に設け、第４系統１６に四乗器
２３と高周波濾波器２４及び第２スペクトル幅測定装置
２５を直列に設けて、第１〜第４の各系列から出力され
る信号のスペクトル幅を比較器９で比較することによっ
て、位相変調信号の判定を行うようにしても良い。
【００２２】つまり、０／π変調信号は信号の位相が変
調しない又は位相が１８０度変調するのいずれかを取る
信号あるが、実際には、位相を１２０度毎に変調する信
号や９０度毎に変調する信号が存在する。そして、位相
を１２０度毎に変調する信号や９０度毎に変調する信号
に対しては、上記実施の形態１〜２の構成では役に立た
ない。これに対し、実施の形態３は二乗器１７、三乗器
２０，四乗器２３等の乗算器を用いて位相変調信号の判
定を行うことにより、上記問題を解決するようにしたも
のである。具体的には、図４に示した図表のようにす
る。
調しない又は位相が１８０度変調するのいずれかを取る
信号あるが、実際には、位相を１２０度毎に変調する信
号や９０度毎に変調する信号が存在する。そして、位相
を１２０度毎に変調する信号や９０度毎に変調する信号
に対しては、上記実施の形態１〜２の構成では役に立た
ない。これに対し、実施の形態３は二乗器１７、三乗器
２０，四乗器２３等の乗算器を用いて位相変調信号の判
定を行うことにより、上記問題を解決するようにしたも
のである。具体的には、図４に示した図表のようにす
る。
【００２３】実施の形態４．実施の形態３の改良が図５
に示す実施の形態４である。この実施の形態４では、第
２系統１４の二乗器１７と高周波濾波器１８との間に波
形メモリ２６と１／２サンプリング器２７とを直列に挿
入し、第３系統１５の三乗器２０と高周波濾波器２１と
の間に波形メモリ２８と１／３サンプリング器２９とを
直列に挿入し、第４系統１６の四乗器１３と高周波濾波
器２４との間に波形メモリ３０と１／４サンプリング器
３１とを直列に挿入して、二乗器１７や三乗器２０及び
四乗器２３等による乗算器の後の信号の周波数帯域を、
入力信号と同一にする。これによって、第１・第２スペ
クトル幅測定装置５，１９，２２，２５として同一のも
のを用いることができ、装置のハードウエア構成が容易
になる。
に示す実施の形態４である。この実施の形態４では、第
２系統１４の二乗器１７と高周波濾波器１８との間に波
形メモリ２６と１／２サンプリング器２７とを直列に挿
入し、第３系統１５の三乗器２０と高周波濾波器２１と
の間に波形メモリ２８と１／３サンプリング器２９とを
直列に挿入し、第４系統１６の四乗器１３と高周波濾波
器２４との間に波形メモリ３０と１／４サンプリング器
３１とを直列に挿入して、二乗器１７や三乗器２０及び
四乗器２３等による乗算器の後の信号の周波数帯域を、
入力信号と同一にする。これによって、第１・第２スペ
クトル幅測定装置５，１９，２２，２５として同一のも
のを用いることができ、装置のハードウエア構成が容易
になる。
【００２４】
【発明の効果】以上のように、請求項１〜３の発明によ
れば、本来の入力信号のスペクトル幅と累乗後のスペク
トル幅との広狭の関係から入力信号が位相変調信号であ
ることを判定するので、瞬時に位相変調信号の有無を判
定でき、長時間の信号受信を行う必要が無い、という効
果がある。
れば、本来の入力信号のスペクトル幅と累乗後のスペク
トル幅との広狭の関係から入力信号が位相変調信号であ
ることを判定するので、瞬時に位相変調信号の有無を判
定でき、長時間の信号受信を行う必要が無い、という効
果がある。
【００２５】請求項４の発明によれば、第２スペクトル
幅測定装置が高周波成分を時間情報と振幅情報との対で
記録した形態のデータの中から１つ飛びに取り出したサ
ンプリング信号のスペクトル幅を測定するので、乗算信
号と本来の入力信号とを同じ周波数帯域に落とし込むこ
とがき、第１・第２スペクトル幅測定装置として同じ周
波数帯域のものを用いることができ、第１・第２スペク
トル幅測定装置のハードウエア構成を簡素化できる、と
いう効果がある。
幅測定装置が高周波成分を時間情報と振幅情報との対で
記録した形態のデータの中から１つ飛びに取り出したサ
ンプリング信号のスペクトル幅を測定するので、乗算信
号と本来の入力信号とを同じ周波数帯域に落とし込むこ
とがき、第１・第２スペクトル幅測定装置として同じ周
波数帯域のものを用いることができ、第１・第２スペク
トル幅測定装置のハードウエア構成を簡素化できる、と
いう効果がある。
【００２６】 請求項５〜６の発明によれば、入力信号
をそれぞれ異なる回数累乗して得られる複数の信号のス
ペクトル幅を比較することにより位相変調信号の角度を
判定するので、０／π変調信号中の位相を１２０度毎に
変調する信号や９０度毎に変調する信号にも適切に対応
できる。
をそれぞれ異なる回数累乗して得られる複数の信号のス
ペクトル幅を比較することにより位相変調信号の角度を
判定するので、０／π変調信号中の位相を１２０度毎に
変調する信号や９０度毎に変調する信号にも適切に対応
できる。
【００２７】請求項７の発明によれば、第２スペクトル
幅測定装置が各乗算器からの信号を時間情報と振幅情報
との対で記録した形態のデータの中から１つ飛び、２つ
飛び、３つ飛びに取り出したサンプリング信号のスペク
トル幅を測定するので、乗算信号と本来の入力信号とを
同じ周波数帯域に落とし込むことがき、第１・第２スペ
クトル幅測定装置として同じ周波数帯域のものを用いる
ことができ、第１・第２スペクトル幅測定装置のハード
ウエア構成を簡素化できる、という効果がある。
幅測定装置が各乗算器からの信号を時間情報と振幅情報
との対で記録した形態のデータの中から１つ飛び、２つ
飛び、３つ飛びに取り出したサンプリング信号のスペク
トル幅を測定するので、乗算信号と本来の入力信号とを
同じ周波数帯域に落とし込むことがき、第１・第２スペ
クトル幅測定装置として同じ周波数帯域のものを用いる
ことができ、第１・第２スペクトル幅測定装置のハード
ウエア構成を簡素化できる、という効果がある。
【図１】 本発明の実施の形態１を示す構成図である。
【図２】 本発明の実施の形態２を示す構成図である。
【図３】 本発明の実施の形態３を示す構成図である。
【図４】 本発明の実施の形態３の判定を示す図表であ
る。
る。
【図５】 本発明の実施の形態４を示す構成図であ
る。。
る。。
【図６】 従来の位相変調信号分析装置を示す構成図で
ある。
ある。
５ 第１スペクトル幅測定装置
６ 乗算器
７，１８，２１，２４ 高周波濾波器
９ 比較器
８，１９，２２，２５， 第２スペクトル幅測定装置
１０，２６，２８，３０ 波形メモリ
１１，２７ １／２サンプリング器
１７ 二乗器
２０ 三乗器
２３ 四乗器
２９ １／３サンプリング器
３１ １／４サンプリング器
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01R 23/16
H04B 17/00
H04L 27/18
Claims (7)
- 【請求項１】 入力信号のスペクトル幅と乗算器から出
力された前記入力信号の累乗信号のスペクトル幅とを比
較し、前記累乗信号スペクトル幅の変化から入力信号が
位相変調信号であることを判定することを特徴とする位
相変調信号分析方法。 - 【請求項２】 入力信号のスペクトル幅と入力信号を二
乗した信号のスペクトル幅とを比較し、両者ともスペク
トル幅が狭いときを入力信号が無変調信号であると判定
し、前者が後者よりも広いときを入力信号が位相変調信
号であると判定することを特徴とする位相変調信号分析
方法。 - 【請求項３】 入力信号のスペクトル幅を測定する第１
スペクトル幅測定装置と、入力信号を累乗する乗算器
と、乗算器からの出力の高周波成分を通過させる高周波
濾波器と、高周波濾波器からの高周波成分のスペクトル
幅を測定する第２スペクトル幅測定装置と、第１スペク
トル幅測定装置からのスペクトル幅と第２スペクトル幅
測定装置からのスペクトル幅とを比較する比較器とを備
えたことを特徴とする位相変調信号分析装置。 - 【請求項４】 高周波濾波器からの高周波成分を時間情
報と振幅情報との対で記録する波形メモリと、波形メモ
リのデータを１つ飛びに取り出して第２スペクトル幅測
定装置に出力する１／２サンプリング器とを備えたこと
を特徴とする請求項３記載の位相変調信号分析装置。 - 【請求項５】 入力信号をそれぞれ異なる回数累乗して
得られる複数の信号のスペクトル幅を比較することによ
り位相変調信号の角度を判定することを特徴とする位相
変調信号分析方法。 - 【請求項６】 入力信号のスペクトル幅を測定する第１
スペクトル幅測定装置と、入力信号を二乗する二乗器
と、入力信号を三乗する三乗器と、入力信号を四乗する
四乗器と、これらの乗算器からの出力の高周波成分を通
過させる高周波濾波器と、高周波濾波器からの高周波成
分のスペクトル幅を測定する第２スペクトル幅測定装置
と、第１スペクトル幅測定装置からのスペクトル幅と第
２スペクトル幅測定装置からのスペクトル幅とを比較す
る比較器とを備えたことを特徴とする位相変調信号分析
装置。 - 【請求項７】 各乗算器からの信号を時間情報と振幅情
報との対で記録する波形メモリと、波形メモリのデータ
を１つ飛びに取り出して高周波濾波器に出力する１／２
サンプリング器と、波形メモリのデータを２つ飛びに取
り出して高周波濾波器に出力する１／３サンプリング器
と、波形メモリのデータを３つ飛びに取り出して高周波
濾波器に出力する１／４サンプリング器とを備えたこと
を特徴とする請求項６記載の位相変調信号分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09896698A JP3482867B2 (ja) | 1998-04-10 | 1998-04-10 | 位相変調信号分析方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09896698A JP3482867B2 (ja) | 1998-04-10 | 1998-04-10 | 位相変調信号分析方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11295359A JPH11295359A (ja) | 1999-10-29 |
| JP3482867B2 true JP3482867B2 (ja) | 2004-01-06 |
Family
ID=14233816
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP09896698A Expired - Fee Related JP3482867B2 (ja) | 1998-04-10 | 1998-04-10 | 位相変調信号分析方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3482867B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5979942B2 (ja) * | 2012-04-03 | 2016-08-31 | 三菱電機株式会社 | パルス内変調分析装置およびパルス内変調分析方法 |
-
1998
- 1998-04-10 JP JP09896698A patent/JP3482867B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH11295359A (ja) | 1999-10-29 |
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |