WO2003104899A1 - 表面凹凸形成方法およびその利用 - Google Patents

表面凹凸形成方法およびその利用 Download PDF

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WO2003104899A1
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film
group
energy
layer
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PCT/JP2003/007222
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鶴岡 恭生
岩室 光則
木沢 桂子
野尻 剛
田井 誠司
佐藤 和也
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日立化成工業株式会社
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    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/26Processing photosensitive materials; Apparatus therefor
    • G03F7/38Treatment before imagewise removal, e.g. prebaking
    • GPHYSICS
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    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
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Definitions

  • the present invention relates to a method for forming surface irregularities using an energy-sensitive negative-type resin composition film and its use. Related technology
  • An object of the present invention is to provide a method that can easily and inexpensively form a resin surface unevenness shape according to an arbitrary image.
  • Another aspect of the present invention is a resin composition used in the method for forming surface irregularities, a transfer mold using the method, a transfer mold for forming a transfer mold, a transfer base film, a transfer film, an optical film, a diffusion reflection plate, and the like. It is intended to provide a manufacturing method.
  • a method for forming surface irregularities using an energy-sensitive negative-type resin composition there is provided a method for forming surface irregularities using an energy-sensitive negative-type resin composition
  • a method for forming surface unevenness according to the image is provided.
  • a method for forming surface irregularities using an energy-sensitive negative-type resin composition is provided.
  • (L) a step of irradiating the energy-sensitive negative-type resin composition film with a line of active energy through a mask having a predetermined light-shielding pattern formed thereon or directly so as to form a predetermined light-shielding portion.
  • a composition used for forming irregularities on a surface by irradiating an active energy ray in an image form and then heating without performing an etching operation comprising: a) a binder polymer, at least one kind of (b) a polymerizable compound, and (c) a photopolymerization initiator is provided.
  • an optical film formed using the method for forming surface irregularities is provided.
  • a diffuse reflection plate including the optical film and a reflection film provided on a surface of the optical film.
  • a diffuse reflection plate in which a substrate, a thin film layer having a surface unevenness, and a reflection film are laminated in this order, wherein the thin film layer has one or more types of (a)
  • the present invention provides a diffuse reflector formed by using a composition comprising a compound capable of being combined, (b) a binder polymer, and (c) a photopolymerization initiator.
  • a seventh aspect of the present invention there is provided a first transfer prototype having an uneven surface formed by using the above-described method for forming uneven surface.
  • a second transfer master obtained by using the surface uneven surface of the first transfer master as a mold.
  • a transfer base film including a base film and an undercoat layer formed on the base film (transferred layer composed of an undercoat layer), wherein the undercoat layer is formed of the first film.
  • a transfer base film having a surface unevenness by transferring the surface unevenness of the second transfer prototype.
  • a transfer film having a temporary support and a thin film layer formed on the temporary support, wherein the temporary support is the transfer base film, A thin film layer is laminated on the undercoat layer surface of the film, and a transfer film is provided in which the surface of the thin film layer opposite to the undercoat layer side forms a direct adhesive surface to the transfer substrate.
  • the manufacturing method of the diffuse reflection plate containing these is provided.
  • a transfer film further comprising a reflective film between the temporary support and the thin film layer in the transfer film, and a method for producing a diffuse reflector using the transfer film. Stacking the transfer film on the transfer substrate so that the thin film layer of the transfer film is in close contact with the surface of the transfer substrate; and peeling off the transfer base film of the transfer film. Manufacturing methods are provided.
  • the transfer base film is pressed against the surface of the thin film layer of the substrate with a thin film layer so that the undercoat layer side of the transfer base film faces the thin film.
  • the present invention provides a method for producing a diffuse reflection plate, comprising: a step of transferring the surface unevenness of the undercoat layer to the surface of the layer; a step of peeling off the transfer base film; and a step of forming a reflection film on the surface of the thin film layer.
  • a diffuse reflector obtained by any one of the above-described methods for producing a diffuse reflector.
  • a diffuse reflection plate in which a reflection film is provided on a surface of an undercoat layer of the transfer base film.
  • any one of the above-mentioned diffuse reflectors used for a reflective liquid crystal display, and a reflective liquid crystal display having the diffuse reflector is provided.
  • 1 (a) to 1 (d) are cross-sectional views schematically showing one example of a process for forming surface irregularities.
  • FIG. 2 is a graph showing one example (Examples 1 and 27) of the unevenness of the surface unevenness obtained by laser microscope observation.
  • 3A to 3F are cross-sectional views schematically showing another example of the process of the method for forming surface irregularities.
  • FIGS. 4A to 4F are cross-sectional views schematically showing another example of the steps of the method for forming surface irregularities.
  • FIGS. 5A to 5F are cross-sectional views schematically showing another example of the process of the method for forming surface irregularities.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view schematically showing one example of the transfer film.
  • FIGS. 7A to 7E are cross-sectional views schematically showing an example of a method for manufacturing a diffuse reflection plate.
  • FIG. 8 is a cross-sectional view schematically showing one example of the diffuse reflection plate.
  • FIG. 9 is a cross-sectional view schematically illustrating an example of a reflective liquid crystal display.
  • FIG. 10 is a microscopic photograph of the surface irregularity shape of the surface irregularity sample (S6) obtained in Example 1.
  • FIG. 11 is a graph showing the incident angle dependence of the amount of reflected light of the diffuse reflection plate obtained in Example 3.
  • FIG. 12 is a graph showing a cross-sectional aperture file of a surface concave portion of Example 5 obtained by laser microscope observation.
  • FIG. 13 is a graph showing a cross-sectional aperture file of a surface convex portion of Example 6 obtained by laser microscope observation.
  • FIG. 14 is a photomicrograph of the surface unevenness of the transfer prototype obtained in Example 16.
  • FIG. 15 is a graph showing the incident angle dependence of the amount of reflected light of the diffuse reflection plate obtained in Example 16.
  • 16A to 16E are cross-sectional views schematically showing the steps performed in Example 27.
  • FIG. 17 is a microscope photograph of the surface unevenness of the surface unevenness film obtained in Example 27.
  • FIG. 18 shows the incident angle dependence of the amount of reflected light of the diffuse reflector obtained in Example 27. It is a graph.
  • FIG. 19 is a graph showing unevenness steps (after preheating) of Sankare No. 4 of Example 29.
  • FIG. 20 is a graph showing the unevenness (after post-heating) of Sample No. 4 of Example 29.
  • FIG. 21 is a graph showing unevenness steps (after post-heating) of Sample No. 3 of Example 30.
  • the method for forming surface irregularities according to the present invention uses an energy-sensitive negative-type resin composition (hereinafter, referred to as “resin composition (R)”), and includes an energy-sensitive negative-type resin composition film (hereinafter, referred to as “resin composition”).
  • a step (C) of heating the resin composition (R) film The irradiation of the active energy ray and the heating make the thickness of the resin composition (R) film in the irradiated area larger than that in the non-irradiated area.
  • an actinic ray is an example of an actinic energy ray.
  • the irradiation with active energy rays is performed at least once, and includes a case where the irradiation is performed two or more times.
  • the irradiation of the active energy is performed, for example, through a mask patterned in an image form, and in this case, surface irregularities are formed according to the mask pattern. Alternatively, it is performed by direct drawing of a pattern without using a mask. In this case, surface irregularities are formed according to the directly drawn pattern. These patterns can be regular or irregular.
  • the heating step is performed without performing an etching operation after irradiation with active energy rays.
  • the obtained surface irregularities have various uses, for example, as follows. (1) An optical film having this surface unevenness is produced.
  • the transfer irregularity surface is transferred to the transfer receiving layer composed of the undercoat layer formed on the base film, thereby producing a transfer base film having the surface irregularities transferred thereon.
  • This transfer base film is used as a temporary support, and a thin film layer is formed on the undercoat layer of the temporary support (that is, the surface on which the transfer prototype has been transferred), and the thin film layer is opposite to the temporary support side.
  • a transfer film whose surface constitutes the surface directly adhered to the transfer substrate that is, the contact surface with the transfer substrate) is produced.
  • the resin composition (R) contains at least one polymerizable compound (b).
  • the polymerizable compound is a polymerizable monomer and Z or a polymerizable oligomer.
  • the polymerizable compound is a compound having at least one unsaturated bond in a molecule, for example, a compound having at least one ethylenically unsaturated group in a molecule.
  • the resin composition (R) film contains a binder polymer (a) and a photopolymerization initiator (c) in addition to one or more polymerizable compounds (b).
  • This photopolymerization initiator is a polymerization initiator that generates free radicals upon irradiation with active energy rays.
  • the binder binder and the binder resin have the same meaning.
  • the pinda polymer (a) is not particularly limited as long as it has a film-imparting property.
  • a vinyl copolymer can be preferably used.
  • vinyl monomer used in the copolymer examples include acrylic acid, methyl methacrylate, maleic acid, fumaric acid, itaconic acid, methyl acrylate, methyl methacrylate, ethyl acrylate, ethyl methacrylate, and n acrylate.
  • n-propyl methacrylate iso-propyl acrylate, iso-propyl methacrylate, n-butyl methacrylate, n-butyl methacrylate, iso-butyl acrylate, iso-butyl methacrylate, Sec-butyl acrylate, sec-butyl methyl acrylate, tert-butyl acrylate, tert-butyl methacrylate, pentyl acrylate, pentyl methacrylate, hexyl acrylate, hexyl methacrylate, acrylic acid Heptyl, heptyl methyl acrylate, 2-ethylhexyl acrylate, 2-ethyl methacrylate Hexyl, octyl acrylate, octyl methacrylate, noel acrylate, nonyl methacrylate, decyl acrylate, decyl methacrylate, decy
  • a vinyl copolymer having a hydroxyl group is used as the binder polymer (a).
  • the vinyl monomer (m_l) having the following is preferable from the viewpoint of obtaining good surface irregularities.
  • Examples of such a vinyl monomer (m-1) include acrylic acid 1-butoxy 2-hydroxypropyl, methacrylic acid 1-butoxy 2-hydroxypropyl pill, acrylic acid 3-chloro-2- —Hydroxypropyl, 3-methacrylic acid 2-chloro-2-hydroxypropyl, glycerol acrylate, glycerol methacrylate, 2-hydroxyethyl acrylate, 2-hydroxyethyl methacrylate, 2-hydroxypropyl acrylate, methyl methacrylate 2-hydroxypropyl acrylate, 1-phenoxy-12-hydroxypropyl acrylate, and 1-phenoxy 2-hydroxypropyl methacrylate. These can be used alone or in combination of two or more.
  • the vinyl monomer (m-2) corresponding to the remaining 50 to 80 parts by weight constituting the binder polymer (a) is not particularly limited.
  • the binder polymer (a) has, for example, at least one functional group selected from a lipoxyl group, a carbonyl group, a hydroxyl group, an amino group, an amide group, an isocyanate group, an oxysilane ring, an oxetane ring, and an acid anhydride. Selected from carboxyl, carboxy, hydroxyl, amino, amide, amide, oxolane, oxetane and acid anhydrides, etc.
  • the copolymer (a-2) can also be used. At least one functional group and at least one functional group selected from the above-mentioned propyloxyl group, carboxyl group, hydroxyl group, amino group, amide group, isocyanate group, oxylane ring, oxetane ring, and acid anhydride.
  • Examples of the compound having an ethylenically unsaturated group (m-13) include acrylic acid, methacrylic acid, maleic acid, fumaric acid, itaconic acid, cinnamate, 2-hydroxyethyl acrylate, 2-methacrylic acid Examples thereof include hydroxyxetil, acrylamide, methacrylamide, ethyl isocyanate methacrylate, glycidyl acrylate, glycidyl methacrylate, and maleic anhydride. These are used alone or in combination of two or more.
  • the essential vinyl monomer (m-4) used in the production of the vinyl copolymer (a-1) includes, for example, acrylic acid, methacrylic acid, maleic acid, fumaric acid, itaconic acid, Examples thereof include cinnamic acid, 2-hydroxyethyl acrylate, 2-hydroxyethyl methacrylate, acrylamide, methacrylamide, ethyl isocyanate methacrylate, glycidyl acrylate, glycidyl methyl acrylate, and anhydrous maleic acid. These are used alone or in combination of two or more.
  • any one or more kinds of vinyl monomers not having these functional groups other than the above-mentioned beer monomer (m-4) are copolymerized with the vinyl monomer (m-4). be able to.
  • the concentration of ethylenically unsaturated groups of the radical-polymerizable vinyl copolymer having Echiren unsaturated group in the side chain (a- 2) is a 1. 0X 10- 4 ⁇ 6. 0X 10- 3 moles Zg it may be preferably, 2. 0X 10- 4 ⁇ 5. 0 X 10_ 3 moles Zg P leak 3/07222
  • the weight-average molecular weight (measured by gel permeation chromatography and converted to standard polystyrene) of the binder polymer (a) as described above depends on heat resistance, moisture resistance, coatability, and solubility in solvents. Therefore, it is preferably from 1,000 to 300,000, and more preferably from 5,000 to 150,000. Further, when a pattern is formed by selectively removing the resin composition (R) layer by the above-described development, for example, when forming a contact hole or the like, it can be developed with various known developing solutions.
  • the acid value of binder polymer (a) can be specified.
  • the acid value when developing with an aqueous alkali solution such as sodium carbonate, potassium carbonate, or tetramethylammonium hydroxide, is preferably 50 mgKOH / g or more from the viewpoint of ease of development. It is preferably 26 OmgKOHZg or less from the viewpoint of the liquid properties (the property that the portion which remains without being removed by development and becomes a pattern is not attacked by the developer).
  • the acid value when developing using an aqueous solution containing one or more surfactants or water is preferably 16 to 26 OmgKOHZg for the same reason as described above.
  • binder polymer (a) examples include phenoxy resin, polyvinyl formal resin, polystyrene resin, polyvinyl butyral resin, polyester resin, polyamide resin, polyimide resin, xylene resin, and polyurethane resin. One or more of these may be used in combination with the one or more vinyl copolymers.
  • an ester monomer of acrylic acid or methacrylic acid eg, methyl acrylate, methyl methacrylate, ethyl acrylate, methyl acrylate
  • Ethyl acid eg, methyl acrylate, methyl methacrylate, ethyl acrylate, methyl acrylate
  • iso-methacrylic acid Mouth pill
  • n-butyl acrylate, n-butyl methacrylate iso-acrylic acid
  • Monomers having two unsaturated bonds in the molecule include, for example, ethylene glycol diacrylate, ethylene glycol dimethacrylate, diethylene glycol diacrylate, diethylene glycol dimethacrylate, triethylene glycol diacrylate, and triethylene glycol diacrylate.
  • Monomers having three unsaturated bonds in the molecule include, for example, trimethylolpropane triacrylate, trimethylolpropane trimethacrylate, erythritol pentaerythritol, erythritol trimethacrylate, and ethylene Oxide-modified trimethylolpropane triacrylate, ethylenoxide-modified trimethyl methylpropane trimethacrylate, trimethylolpropane, pantridaricidyl ether triacrylate, trimethylolpropane tridaricidyl ether trimethacrylate .
  • Monomers having four unsaturated bonds in the molecule include, for example, tetramethyl-l-propanetetramethacrylate, tetramethylolpropanetetramethacrylate, Penri-erythri 1 ⁇ -l-tetratetraacrylate, and Penri-erythri 1 ⁇ 1 lutetra methacrylate.
  • Monomers having five unsaturated bonds in the molecule include, for example, dipentaerythritol pentaacrylate, dipentaerythritol pentamethacrylate.
  • Examples of monomers having six unsaturated bonds in the molecule include dipentaerythrylhexaacrylate and dipentylerythritolhexamethacrylate.
  • phenol erythryl acrylate such as ethyl tetraacrylate and erythritol tetramethacrylate, are preferable for forming surface irregularities.
  • Tetramethylol methane triacrylate (Penyu erythritol triacrylate) is exemplified as a very preferable one from the viewpoint of effectively forming an uneven shape and improving the adhesion between the substrate and the resin composition (R). it can. '
  • this component (b) has at least one ethylenically unsaturated group and has a molecular weight of 100 to 100, from the viewpoint of effectively forming a surface uneven shape.
  • Photopolymerizable unsaturated compounds can be used.
  • the molecular weight is preferably from 100 to 100,000, more preferably from 110 to 800, and from 120 to 600. Is particularly preferable, and it is most preferably from 130 to 500.
  • the molecular weight is less than 100, when forming the resin composition (R) layer on the substrate, the component (b) is volatilized by heating during drying, and the uniformity of the composition is reduced.
  • the molecular weight exceeds 100,000, there is a tendency that the surface unevenness cannot be effectively formed.
  • component (b) having a molecular weight of 100 to 100000 include, for example, a compound obtained by reacting an ⁇ ,] 3-unsaturated carboxylic acid with a polyhydric alcohol. , 2,2-bis (4- (di (meth) acryloxypolyethoxy) phenyl) propane, a compound obtained by reacting a glycidyl group-containing compound with / 3-unsaturated carboxylic acid, urethane monomer, Nonylphenyldioxylene (meth) acrylate Rate, r-Chloro-i3-hydroxypropyl-1-J3 '-(Meth) acryloyloxy-shethyl-1-o-phthalate,) 3-Hydroxyethyl / 3/3'-(Meth) acryloyloxy-shethyl-o-phthalate,] 3-Hydroxypropyl-1-) 3 _ (Meth) acryloyloxyshethy
  • Examples of the compound obtained by reacting the above-mentioned polyhydric alcohol with / 3-unsaturated carboxylic acid include, for example, polyethylene glycol di (meth) acrylate having 2 to 14 ethylene groups and propylene group having 2 to 14 ethylene groups.
  • the above (3) -unsaturated carboxylic acid includes, for example, (meth) acrylic acid.
  • the 2,2-bis (4- (di (meth) acryloxypolyethoxy) phenyl) propane is, for example, 2,2-bis (4- (di (meth) acryloxydiethoxy) phenyl) propane, 2-bis (4-((di (meth) acryloxytriethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-1 (di (meth) acryloxypenteneethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4- (di (Meth) a acryloxide force ethoxy) phenyl).
  • glycidyl group-containing compound for example, trimethylolpropane glycidyl ether tri (meth) acrylate, 2,2-bis (4- (meth) acryloxy-12-hydroxypropyloxy) phenyl can be used.
  • the urethane monomer include (meth) acrylic monomers having an OH group at the / 3 position and isophorone diisocyanate, 2,6-toluene diisocyanate, and 2,4-toluene diisocyanate.
  • Reaction product with 1,6-hexamethylene diisocyanate, etc. tris ((meth) acryloxytetraethylene glycol isocyanate) hexamethylene isocyanurate, ethylene oxide modified ethanedi (meth) acrylate, Ethylene oxide and propylene oxide modified pentadi (meth) acrylate.
  • alkyl (meth) acrylate examples include methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, and 2-ethylhexyl (meth) acrylate.
  • the component (b) having a molecular weight of 408 or less is used from the viewpoints of being able to effectively form an uneven shape and improving the adhesion between the substrate and the resin composition (R). Can be.
  • the number of ethylenically unsaturated groups is not particularly limited, but from the viewpoint of being able to effectively form an uneven shape, 44 are preferred, and 3 are more preferred.
  • the component (b) is composed of a hydroxyl group, a carbonyl group, a carboxy group, an amide group and an amino group. It is preferably a compound having at least one functional group selected from the group consisting of
  • component (b) comprises (b-1) at least one hydroxyl group and at least one ethylenically unsaturated moiety in one molecule, in that the uneven shape can be effectively formed.
  • a photopolymerizable unsaturated compound having a group, and (b-2) a small amount in one molecule.
  • Examples of the photopolymerizable unsaturated compound of the above component (b-1) include 1- (methacryloxylethoxyethoxycarbonyl) -2- (3′-chloro-2′-hydroxypropoxyl-proponyl) benzenepentaerythritol di- Acrylate, Penyu erythritol monolithium acrylate, Trimethylolpropane diacrylate, Trimethyli monopropane dimethacrylate, Penyu erythri 1 J retriacrylate, Penyu erythritol trimethacrylate, bis (acryloni Shetyl) hydroxyethyl isocyanurate, 2,2-bis (4- (3-acryloxy-l-hydroxypropoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4- (1- (3-acrylyloxy 2-) Hydroxypropoxy) isopropoxy) phenyl) propane, 2, 2-bis (4- (3- Acryloxy-1-hydroxypropoxy) phenyl) propane, 2,2-
  • tetramethylol methane triacrylate (Penyu erythri) rutriacrylate is preferred from the viewpoints of being able to effectively form an uneven shape and improving the adhesion between the substrate and the resin composition (R). ) Is more preferred.
  • Examples of the photopolymerizable unsaturated compound of the above component (b-2) include acrylic acid or methacrylic acid ester monomers (methyl acrylate, methyl methacrylate, ethyl acrylate, ethyl methacrylate, n-acrylic acid).
  • the component (b) comprises at least one hydroxyl group and at least two ethylene groups in one molecule in that it can form an uneven shape having excellent surface shape characteristics and excellent adhesion to a substrate.
  • the photopolymerizable unsaturated compound of component (X) is not particularly limited as long as it has at least one hydroxyl group and at least two ethylenically unsaturated groups in one molecule.
  • Bichlorophenol-modified bisphenol A di (meth) acrylate, epichlorohydrin and alkylene oxide (the number of alkylene oxide groups having 2 to 8 carbon atoms is 1 to 20)
  • component (X) is epoxy ester 300 A, epoxy ester 80 MFA (manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd.), Denacol DA-811, Denacol DM-81 1 , Denacol DM-851, Denacol DA-314, Denacol DA-321, Denacol DA-911 (trade name, manufactured by Nagase Kasei Kogyo Co., Ltd.), SR-3 9 9 (manufactured by SARTOMER Company, trade name), NK ester 71-A, NK ester 700, NK ester A-TMM-3 (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., trade name), Aronix M-30 5, Aronix M-233 (manufactured by Toa Gosei Chemical Co., Ltd., trade name), KAYA R AD PE T-30, Kayama PM-2 (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., trade name) , Commercially available.
  • the organic silicon compound as the component (y) is not particularly limited as long as it has at least one isocyanate group and at least one hydrolyzable group-containing silyl group in one molecule.
  • isocyanate-to-propyl trimethoxysilane or isocyanatepropyltriethoxysilane is particularly preferred.
  • Such a compound is commercially available as Y-5187, A-1310 (trade name, manufactured by Nichiru Niichi Co., Ltd.).
  • the amount of the binder polymer (a) is preferably at least 10 parts by weight from the viewpoint of applicability, based on 100 parts by weight of the total solid content of the components (a) and (b).
  • It is preferably 80 parts by weight or less, more preferably 20 to 75 parts by weight, and more preferably 25 to 73 parts by weight from the viewpoint of heat resistance, heat resistance, or formability of the uneven shape when forming the uneven shape on the surface. More preferably, it is particularly preferably 30 to 70 parts by weight.
  • the amount of the polymerizable compound (b) used is 20 parts by weight from the viewpoint of photocurability, heat resistance, or surface unevenness-forming ability, based on 100 parts by weight of the total solid content of the components (a) and (b). Parts by weight or more, preferably 90 parts by weight or less from the viewpoint of applicability, more preferably 25 to 80 parts by weight, still more preferably 27 to 75 parts by weight, and 30 to 70 parts by weight. It is particularly preferred to use parts by weight.
  • the resin composition (R) film Of the resin composition (R) film when irradiating with active energy rays may cause problems such as roughening of the surface.
  • the amount of the compound is determined based on the adhesion of the component (a) and the component (b) to the substrate with respect to the total solid content of 100 parts by weight.
  • the amount is preferably 0.1 part by weight or more from the viewpoint of the effect of improving the stability, and is preferably 80 parts by weight or less from the viewpoint of storage stability when the resin composition (R) is used, and 1 to 70 parts by weight.
  • Parts by weight particularly preferably 5 to 65 parts by weight, particularly preferably 10 to 60 parts by weight.
  • photopolymerization initiator (c) examples include aromatic ketones (benzophenone, N, ⁇ '-tetramethyl-4,4'-diaminobenzophenone (Michler's ketone), ⁇ , N'-tetraethyl-4,4'- Diaminobenzophenone, 4-methoxy-4'-dimethylmethylaminobenzophenone, 2_benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -butenonone-1,2,2-dimethoxy-1,2 -Diphenylethane-1-one, 1-hydroxy-cyclohexyl-phenyl-ketone, 2-methyl-1- (4- (methylthio) phenyl) -2-morpholinopropanone-1,2,4-ethylthioki Sandton, 2-ethylanthraquinone, phenanthrenequinone, etc.), benzoin-ter (benzoin methyl ether, benzoin
  • the amount of the photopolymerization initiator (c) is preferably 0.05 to 20 parts by weight, preferably 0.1 to 20 parts by weight, based on 100 parts by weight of the total solid content of the components (a) and (b).
  • the amount is more preferably 15 parts by weight, and particularly preferably 0.15 to 10 parts by weight. If the amount is less than 0.05 parts by weight, photocuring tends to be insufficient.
  • the resin composition (R) may contain a low-melting substance having a molecular weight of 10,000 or less as an additive, if necessary.
  • the additives include known plasticizers (for example, plasticizers described in “Plastics Compounding Agent” (Akinori Endo, Makoto Sudo, edited by Taiseisha, issued on January 30, 1996)) ⁇ Silane compound And the like.
  • the silane compound can give the resin composition (R) film fluidity by heating and adhesion to the glass substrate.
  • the amount of these additives is preferably 1 to 70% by weight based on the total solid content in the resin composition (R).
  • a coupling agent as the component (d) because separation hardly occurs at the interface between the base material and the reflective film and the resin layer.
  • Examples of the coupling agent (d) include a compound that imparts fluidity by heating to a resin composition (R) film and adhesion to a glass substrate, for example, a “plastics compounding agent” (Akinori Endo, Makoto Sudo) Issued by Taiseisha, issued on January 30, 1996) P leak 3/07222
  • silane compounds include vinyl trichlorosilane, vinyl tris (j3-methoxyethoxy) silane, vinyl triethoxy silane, biertrimethoxy silane, ⁇ -methacryloxypropyl trimethoxy silane, ⁇ - (3,4- Epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, a-glycidoxypropyltrimethoxysilane, a-glycidoxypropylmethyljetoxysilane, ⁇ -] 3 (aminoethyl) -aminopropyltrimethoxysilane, ⁇ -i8 ( Aminoethyl) a-aminopropylmethyldimethoxysilane, a-aminopropyltriethoxysilane, N-phenyl-a
  • the compounding amount of the component (d) is preferably 0.1 to 30% by weight of the total solid content of the components (a) and (b) in the resin composition (R), and 2.0 to 1% by weight. More preferably, it is 5% by weight. If the compounding ratio of the component (d) is less than 0.1% by weight, peeling may easily occur at the interface between the base material and the reflective film and the resin layer. P leak 3/07222
  • resin composition (R) resin composition (R) film
  • a completely different material system other than the above may be used.
  • One such material system comprises one or more polymerizable compounds (monomers and / or oligomers) (b-4) having at least one epoxy or oxenyl group as component (b). And a latent cationically polymerizable catalyst (e) which forms a cationically polymerizable catalyst upon irradiation with active energy rays.
  • a polymerizable compound having at least one epoxy group and a polymerizable compound having at least one oxenyl group may be used in combination.
  • component (b-4) having at least one epoxy group examples include phenol ether epoxides (bisphenol A-type epoxide, bisphenol F-type epoxide, halogenated bisphenol A-type epoxide, phenol Lunopolak epoxides, cresol nopolak epoxides, halogenated phenol nopolak epoxides, etc., ether epoxides (condensates of epichlorohydrin with polyols, polyether polyols, etc., diglycidyl ethers, polyethylene glycols) Rudiglycidyl ether, polypropylene glycol diglycidyl ether, butanediol diglycidyl ether, neopentylda alcohol diglycidyl ether, trimethylolpropane toridaricidyl ether, Glyceryl triglycidyl ether, ester epoxide (g)
  • the above component (b-4) having at least one oxenyl group is the above component (b-4) having at least one epoxy group in which the epoxy group is replaced with an oxenyl group. Can be used. These are used alone or in combination of two or more.
  • Examples of the compound having one oxetenyl group (oxetane ring) in the molecule include a compound represented by the following general formula (1).
  • R 1 represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group or a butyl group, a fluoroalkyl group having 1 to 6 carbon atoms, an aryl group, An aryl group, a furyl group, or a phenyl group.
  • R 2 is an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms such as a hydrogen atom, a methyl group, an ethyl group, a propyl group or a butyl group; C2-C6 alkenyl groups such as benzyl, 2-methyl-2-propenyl, 1-butenyl, 2-butenyl or 3-butenyl; phenyl, benzyl, and fluorobenzyl A group having an aromatic ring such as a methoxybenzyl group or a phenoxethyl group; an alkyl group having 2 to 6 carbon atoms such as an ethyl carbonyl group, a propyl group or a butyl group; a ethoxy carbonyl group, a propoxy carbonyl group or a butoxy carbonyl group A C2-6 alkoxycarbonyl group such as a group; or an ethylcarbamoyl group, a propylcarbamoyl
  • Examples of the compound having two oxenyl groups (oxenine ring) in the molecule include a compound represented by the following general formula (2).
  • R 3 is, for example, a linear or branched alkylene group such as an ethylene group, a propylene group or a butylene group; a linear or branched poly (alkylene group) such as a poly (ethyleneoxy) group or a poly (propyleneoxy) group.
  • Linear or branched unsaturated hydrocarbon groups such as probenylene group, methyl probenylene group or butenylene group; including alkylene group including carbonyl group and carboxyl group, and propyloxyl group And an alkylene group or an alkylene group including a rubamoyl group.
  • R 3 may be a polyvalent group selected from groups represented by the following general formulas (3) to (14).
  • R 4 is an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms such as a hydrogen atom, a methyl group, an ethyl group, a propyl group or a butyl group; a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group or a butoxy group, etc.
  • R 5 is an oxygen atom, a sulfur atom, a methylene group, NH, SO, S ⁇ 2 , C (CF 3 ) 2 , or C (CH 3 ) 2.
  • R 6 is an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms such as a hydrogen atom, a methyl group, an ethyl group, a propyl group or a butyl group; a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group or a butoxy group.
  • R 7 is an oxygen atom, a sulfur atom, a methylene group, NH, SO, S ⁇ 2 , C (CF 3 ) 2 , or C (CH 3 ) 2 , C (C 6 H 5 ) (CH 3 ) and C (C 6 H 5 ) 2.
  • R 8 is a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group or a butyl group; a methoxy group, an ethoxy group An alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms such as a propoxy group or a butoxy group; a halogen atom such as a chlorine atom or a bromine atom; (The number of substitution of R 8 is not limited to one, and two to four naphthalene rings may be substituted.)
  • n is an integer of 0 to 10, and may be a mixture of compounds having different numerical values.
  • Preferred examples of the compound having two oxetanyl groups (oxetane rings) other than the above-mentioned compounds include a compound represented by the following general formula (15).
  • R 1 is the same group as in the general formula (1).
  • Examples of the compound having 3 to 4 oxetanyl groups (oxenine ring) include a compound represented by the following general formula (16).
  • R ′ is the same group as in the general formula (1), and m is 3 or 4.
  • R 9 is, for example, a branched alkylene group having 1 to 12 carbon atoms such as a group represented by the following general formulas (17), (18) and (19); a group represented by the following general formula (20) And other branched poly (alkyleneoxy) groups.
  • R 1 () is a lower alkyl group such as a methyl group, an ethyl group or a propyl group.
  • n is an integer of 1 to 10.
  • oxetanyl groups having a relatively high molecular weight of about 000 to 5,000 can also be used.
  • the compound (b-4) having an oxenyl group described above can be used in combination of two or more kinds.
  • the latent cationically polymerizable catalyst which forms a cationically polymerizable catalyst by irradiation of the active energy ray of the component (e), is blended with the above component (b-4), and for a long time as long as it is left at room temperature. It is a compound that is stable but can immediately form a cationically polymerizable catalyst by the action of active energy rays and initiate and accelerate the polymerization reaction of component (b-4).
  • latent cationic polymerizable catalyst (e) examples include various onium salts as shown below.
  • a sulfonium salt represented by the following general formula (24) (25) or (26) and so on.
  • R 1 to R 4 are each independently an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, an alkenyl group having 3 to 12 carbon atoms, an aryl group, an alkaryl group, a carbon atom A cycloalkyl group having 1 to 20 carbon atoms or a cycloalkyl group having 5 to 10 carbon atoms, which may be the same or different, and may or may not have a substituent.
  • R 1 to R 4 may be bonded to each other to form a heterocyclic ring having N, P, ⁇ or S as a hetero atom, and X is BF or PF or As F 6, S bF have S bC I 6, (C 6 F 5) 4 B, S bF 5 (OH), HS0 4, p-CH 3 C 6 H 4 S_ ⁇ 3, HC0 3, H z P 0 4, It represents a counter ion selected from the group consisting of CH 3 COO and a nitrogen atom, that is, a monovalent anion.)
  • R 1 to R 4 and X are respectively the same as R 4 and X in the general formula (22).
  • R 1 to R 3 and X are respectively the same as R 3 and X in the general formula (22), and two of R 1 to R 3 are bonded to each other. To form a heterocyclic ring having N, P, O or S as a hetero atom. )
  • R 1 , R 2 and X are respectively the same as R 1 , R 2 and X in the general formula (22), and R 1 and R 2 are bonded to each other; It may form a heterocyclic ring having N, P, ⁇ or S as a hetero atom.
  • Ar represents an aryl group which may or may not have a substituent.
  • R 1 to R 4 and X are respectively the same as R 1 to R 4 and X in the general formula (22).
  • Ar is the same as the general formula (25) Is the same as Ar in.)
  • the alkyl group having 1 to 20 carbon atoms as R ′, 2 , 3 or R 4 may or may not have a substituent.
  • a straight-chain or branched alkyl group for example, methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, sec-butyl group, tert-butyl group, n-pentyl group, Isopentyl group, neopentyl group, n-hexyl group, isohexyl group, n-heptyl group, n-octyl group, nonyl group, decyl group, undecyl group, dodecyl group, tridecyl group, tetradecyl group, pentadecyl group, Hexadecyl, octadecyl, nonadecyl and eicosyl
  • alkenyl group having 3 to 12 carbon atoms as the RR 2 , R 3 or R 4 , a linear or branched alkenyl which may or may not have a substituent 07222
  • 39 groups, for example, n-propenyl group, n-butenyl group, sec-butenyl group, tert-butenyl group, n-pentenyl group, sec-pentenyl group, hexenyl group, n-heptenyl group, sec-heptenyl, octenyl, nonenyl, decenyl and decenyl groups.
  • the aryl group represented by R 1 , R 2 , R 3 or R 4 includes, for example, a substituted or unsubstituted phenyl group, a naphthyl group or an anthracene group, and a phenyl group is particularly preferred.
  • alkaryl group as R 2 , R 3 or R 4 examples include those constituted of the above-mentioned alkyl group having 1 to 20 carbon atoms and aryl group.
  • R l as the Al force Nord group R 2, R 3 or -C 1-2 0 as R 4, Al having may have a substituent, a good straight-chain or branched need not have These include ethanol, n-propanol, isopropanol, n-butanol, sec-butanol, tert-butanol, n-pentanol, sec- Pennol group, 1-hexanol group, 1-heptanol group, 1-octanol group, 1-nonanol group, 1-decanol group, 1-hydroxyl group, 1-dodecanol group, 1-tridecanol, 1-tetradecanol, 1-pentanol, 1-hexanol, 1-heptadecanol, 1-year-old kut
  • the cycloalkyl group having 5 to 10 carbon atoms as R 2 , R 3 or R 4 may have a branch which may or may not have a substituent.
  • Certain cycloalkyl groups are included, for example, cyclopentyl, 2-methylcyclopentyl, cyclohexyl, and cycloheptyl.
  • examples of the aryl group which may or may not have a substituent as Ar include a substituted or unsubstituted phenyl group or a naphthyl group. .
  • examples of the substituent include Halogen atom such as nitrogen atom; methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, sec-butyl group, tert-butyl group, n-pentyl group, isopentyl group, neopentyl group, n —Alkyl groups having 1 to 8 carbon atoms such as hexyl group, isohexyl group, n-heptyl group and n-octyl group; carbon atoms such as cyclopentyl group, cyclohexyl group and cycloheptyl group 5 to 7 cycloalkyl groups; or methoxy group, ethoxy group, propoxy group, isopropoxy group, butoxy group, isobutoxy group, sec-butoxy group, tert-butoxy group, pentyloxy group, isopenty
  • Examples of the quaternary ammonium salt represented by the above general formula (22) include tetraxammonium tetrafluoroporate and tetrabutylammonium oxafluorophosphate and tetrabutylammonium salt.
  • phosphonium salt represented by the general formula (23) include, for example, ethyltriphenylphosphonium antimony hexafluoride and tetrabutylphosphonium antimony hexafluoride.
  • Examples of the sulfonium salt represented by the general formula (24), (25) or (26) include, for example, triphenylsulfonium boron tetrafluoride, triphenylsulfonium antimony hexafluoride, and triphenyl.
  • Sulfonium arsenic hexafluoride, tri (4 07222
  • latent cationic polymerization catalyst (e) a diazonium salt represented by the following general formula (27) or a sodium salt represented by the following general formula (28) can be used.
  • X is the same as X in the above general formula (22), and R 5 and R 6 may be the same or different from each other, and may have a substituent. This is an aryl group that may not be required.
  • aryl group which may or may not have a substituent as Ar, and the monovalent anion as X are as described above. It is.
  • aryl group which may or may not have a substituent as R 5 and R 6 include, for example, a substituted or unsubstituted phenyl group, a naphthyl group and an anthracene group. A phenyl group is preferred.
  • substituents examples include an octalogen atom such as a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom and an iodine atom; a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an isopropyl group, an n-butyl group and a sec-butyl group Alkyl having 1 to 8 carbon atoms such as tert-butyl, n-pentyl, isopentyl, neopentyl, n-hexyl, isohexyl, n-heptyl and n-octyl A cycloalkyl group having 5 to 7 carbon atoms such as a cyclopentyl group, a cyclohexyl group and a cycloheptyl group; or a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group, an isopropoxy group, a butoxy group, an iso
  • diazonium salt represented by the general formula (27) examples include AMER I CURE (counter ion: BF 4 ) manufactured by American Can Inc. and ULTRASET (counter ion: BF 4 ) manufactured by Asahi Denka Kogyo Co., Ltd. PF 6 ).
  • rhododium salt represented by the general formula (28) include diphenyl Arsenic hexafluoride, di-fluorene arsenic hexafluoride, arsenic hexafluoride, di-bromobenzene arsenic hexafluoride, phenyl (4-methoxyphenyl) arsenic hexafluoride, general ' Electric UVE series, Minnesota Mining and Manufacturing FC series, Toshiba Silicone UV—9310 C (counter ion: SbF 6 ) Photoinitiator 2074 (counter ion: (C 6 F 5 ) 4 B).
  • the amount of the latent cationic polymerizable catalyst (e) is preferably 0.01 part by weight or more from the viewpoint of curability, based on 100 parts by weight of the component (b-4), and from the viewpoint of storage stability before use. It is preferably at most 20 parts by weight, more preferably from 0.1 to 10 parts by weight.
  • the resin composition (R) containing the above components is dissolved or dispersed in a suitable solvent as necessary, and mixed. The mixing is preferably performed sufficiently until a transparent and uniform solution is obtained, and the solution may be filtered by a conventional method to form a coating solution.
  • a solvent having a boiling point in the range of 50 to 250 ° C is preferably used.
  • solvents examples include acetone, methyl ethyl ketone, cyclohexanone, toluene, N, N-dimethylacetamide, propylene glycol monomethyl ether, propylene glycol monomethyl ether acetate, N, N-dimethylformamide, dimethyl sulfoxide Cid and nitrobenzene. These are used alone or as a mixture of two or more.
  • the viscosity of the resin composition (R) the viscosity at 80 ° C is 1 ⁇ 10 2 Pa ⁇ from the viewpoint of uniformity of the coating film thickness when the resin composition (R) layer is formed on the substrate and dried.
  • the viscosity at 80 is preferably 1 ⁇ 10 7 Pa-sec or less. Further, the viscosity at 80 ° C. is more preferably 5 ⁇ 10 2 to 5 ⁇ 10 6 Pa-sec, and is 1 ⁇ 10 3 to 3 ⁇ 10 6 Pa-sec. .- 0307222
  • the above viscosity is a resin composition in the form of a disk having a diameter of 7 mm and a thickness of 2 mm ( to prepare R) sample piece, in 80 ° C, the thickness direction of the sample under pressure of 1.
  • 96 X 10- 2 N to measure the rate of change in thickness, assuming Newtonian fluid from the change speed It is a value converted to viscosity using the following relational expression (1).
  • the resin composition (R) has the following properties. That is, the resin composition (R) film is irradiated with an active energy ray through a mask in which a stripe pattern of substantially 10 m period having a light-shielding width of 5 m and a transmission width of 5 m is formed, followed by etching. When heated at 180 without performing an operation, it is preferable that surface irregularities with a step of 0.3 m or more according to the mask pattern can be formed.
  • the resin composition (R) film is irradiated with active energy rays through a mask in which a substantially circular light-shielding pattern having a diameter of 1 O ⁇ m is formed, and then exposed to 180 ° C without performing an etching operation. It is preferable that the surface irregularities having a height of 0.5 m or more according to the above mask pattern can be formed when the substrate is heated in step (1).
  • the resin composition (R) layer formed on the substrate is preferably pre-baked at 40 to 150 ° C. for 1 to 30 minutes prior to irradiation with active energy rays.
  • the type of the mask pattern, the type of the active energy line, the irradiation dose, and the like are the same as those described later in the step (B).
  • PC monster hire 22 are the same as those described later in the step (B).
  • a layer of the resin composition (R) according to the present invention described above may be laminated on a support to form a photosensitive element.
  • the support is not particularly limited, and a known support can be used. However, it is particularly preferable in that the photosensitive element is bonded to the substrate and peeled off after the bonding. Examples include films made of polypropylene, polyethylene terephthalate, polyester, or the like.
  • the resin composition (R) layer As a method for forming the resin composition (R) layer on the support, a known coating method can be used. For example, in the step (A) described later, the resin composition (R) layer is formed on a substrate. All of the coating methods for performing the coating can be applied.
  • the thickness of the resin composition (R) layer in the photosensitive element is preferably 0.1 to 20 m in consideration of the electrical characteristics of a liquid crystal display device, and 0.3 to 15 m. m, more preferably 0.5 to 10 m.
  • a cover film may be further laminated on the resin composition (R) layer of the photosensitive element.
  • the cover film include a film made of polyethylene, polypropylene, polyethylene terephthalate, polycarbonate or the like and having a thickness of about 5 to 100 m.
  • the photosensitive element thus obtained can be stored in a roll and stored for use. If a photosensitive element is used, remove the cover film, if present, and place the photosensitive element on any substrate so that the resin composition (R) layer of the photosensitive element is in contact with it. Then, a method such as pressing with a pressure roll is preferable.
  • the pressure roll may be provided with a heating means so as to be capable of thermocompression. The heating temperature at the time of thermocompression is set at 10 ° C. from the viewpoint of adhesion between the resin composition (R) layer and the substrate.
  • thermosetting or thermal decomposition of the components contained in the resin composition (R) layer it is preferably 180 ⁇ or less, and 20 to 16 Ot : More preferably, and particularly preferably 30 to 150 ° C.
  • Compression pressure at the time of heat compression is based on the resin composition (R)
  • a linear pressure 5 O NZM more, from the viewpoint of avoiding destruction of the substrate, a linear pressure Sik preferred to a 1 X 1 0 5 NZm below, It is more preferably 2.5 X 10 2 to 5 X 10 4 N / m, and particularly preferably 5 X 10 2 to 4 X 10 4 NZm.
  • a coating solution of the resin composition (R) obtained as described above is applied onto an arbitrary substrate (support) (for example, a glass substrate) 2 to obtain a resin composition ( R) Film (resin composition (R) layer) 1 is formed (FIG. 1 (a)).
  • Coating methods include mouth coating, spin coating, spray coating, dip coating, curtain flow coating, wire bar coating, gravure coating, air knife coating, and inkjet. Examples include a coating method, a doctor blade coating method, a screen coating method, a die coating method, and a cap coating method.
  • the resin composition (R) layer may be formed by applying a coating liquid on an arbitrary base film, temporary support, or the like by the above-described method. The resin composition (R) layer formed on a base film or the like may be transferred to a substrate.
  • the substrate may be provided with an insulating layer, an electrode, a TFT, and the like.
  • the thickness of the dried resin composition (R) layer is preferably from 0.1 to 100 m, more preferably from 0.1 to: L 00 m, and particularly preferably from 1 to 50 m.
  • the applied resin composition (R) layer is pre-baked at 40 to 150 for 1 to 30 minutes before irradiation with active energy rays.
  • the resin composition (R) layer (after prebaking) formed as described above preferably has a visible light transmittance of 95% or more in view of use in a display device or an optical device.
  • the visible light is preferably a light having a wavelength of 500 nm, for example.
  • the visible light transmittance can be measured by, for example, a spectrophotometer.
  • the resin composition (R) layer which has been preliminarily formed as necessary, is applied to the resin composition (R) layer through a mask 4 patterned as shown in FIG. 1 (b), or Irradiate active energy rays by direct writing method (not shown).
  • the mask pattern or the direct drawing pattern has a regular or irregular repetition pattern consisting of an active energy ray blocking part and an active energy ray transmitting part, and has an active energy ray blocking part and an active energy ray blocking part or an active energy ray blocking part.
  • the distance between the energy ray transmitting part and the active energy ray transmitting part is preferably 1 to 50 m, more preferably 5 to 20 m.
  • the shape of the pattern is not particularly limited, and examples thereof include a circle, an ellipse, a ring, a polygon, a curve, a straight line, and a set of each shape.
  • Irradiation devices include power bon arc lamps, ultra-high pressure mercury lamps, high pressure mercury lamps, xenon lamps, metal halide lamps, fluorescent lamps, PC brutality 22
  • the active energy dose may be smaller than the amount of ultraviolet light to be irradiated in the surface unevenness forming method including the conventional etching step, and is preferably 0.005 to; LJ / cm 2 , and 0.01 to LJ / cm. 2 is more preferable, 0.01 to 0.5 J / cm 2 is further preferable, and 0.05 to 0.5 J / cm 2 is particularly preferable.
  • the film thickness of the resin composition (R) layer irradiated with the active energy ray through the patterned mask or by the direct drawing method is smaller than the film thickness of the portion not irradiated with the active energy ray. Eventually increase.
  • step (C) heating is performed without performing an etching operation. By this heating, as shown schematically in FIG. 1 (c), the difference in film thickness between the part irradiated with the active energy ray and the part not irradiated is increased.
  • the heating temperature at this time is preferably 50 to 250 ° C.
  • Heating is performed by any method using a hot air heating furnace, an infrared irradiation heating furnace, a hot plate, or the like. Further, if necessary, all the portions of the resin composition (R) layer which need to maintain the uneven shape can be cured together by the heat-active energy beam to fix the shape.
  • FIG. 1 (d) shows an embodiment in which a reflective film 3 is provided on an uneven surface of the surface (described later).
  • FIG. 2 shows an example of the surface unevenness obtained as described above. This shows a cross-sectional unevenness obtained by measuring the surface unevenness obtained by exposure using a mask on which a line-shaped pattern is formed with a laser microscope.
  • T is the average film thickness of the resin composition (R) layer after drying (before the active energy ray irradiation in step (B)) formed in step (A).
  • the amount can be adjusted by increasing the amount of low-molecular-weight unsaturated compounds that can easily move by diffusion, or by increasing the thickness of a layer provided on the substrate. From the viewpoint of effectively forming and maintaining the uneven shape, the surface unevenness formed is measured when the Vickers hardness of the convex portion of the uneven shape is measured at any temperature in the range of 25 ° C to 100 ° C.
  • the Vickers hardness of the projections is measured at any temperature in the range of 25 ° C to 100 ° C. It is preferably 0-5 HV higher than the recess, more preferably 2-5 HV higher, and particularly preferably 4-5 HV higher.
  • the resin composition (R) according to the present invention used in the method for forming surface irregularities according to the present invention is preferably a composition that can achieve these Vickers hardness characteristics.
  • the above Vickers hardness refers to a Vickers indenter with a diagonal angle of 136 ° with a load of 1 gf applied to a 1 mm-thick plate-shaped sample of a resin composition (R) with 20 periods of irregularities. It is a value calculated from the average of the diagonal lengths of the depressions using the following equation (2).
  • the surface unevenness forming step group of the above steps (A) to (C) is referred to as group (A).
  • group (A) a resin composition (R) film is provided with a mask having a predetermined light-shielding pattern formed thereon.
  • (D) irradiating active energy rays directly or through a predetermined light-shielding portion so as to form a predetermined light-shielding portion; and etching the light-shielded portion of the resin composition (R) film in the step (D).
  • the step (E) of removing can be carried out.
  • a contact hole can be formed in the resin composition (R) film by the etching in the step (E), with the contact hole forming part being a light-shielded part in the step (D).
  • a contact hole when a contact hole is formed, after the surface unevenness forming step group (A), for example, a step of irradiating an active energy ray at least once through a mask on which a contact hole light-shielding pattern is formed, a predetermined etching
  • the contact hole forming step group (or the etching step group) (B) including the step of removing the resin composition (R) layer in the contact hole portion by operation, a good surface unevenness and a good It is preferable because a contact hole can be obtained stably.
  • various methods can be used. An example will be described with reference to the drawings.
  • a substrate (base material) 2 having a lower layer film 22 such as a TFT or TFD formed at an arbitrary position on the surface is prepared (FIG. 3A).
  • a resin composition (R) layer 1 is provided on the base material 2 (FIG. 3 (b)).
  • the obtained resin composition (R) layer 1 is irradiated with active energy rays 5 through a patterned mask 4 as the above step (B) (FIG. 3 (c)).
  • the mask pattern of the mask 4 is composed of an active energy ray blocking part and It consists of an excess and has a regular or irregular repeating pattern. It is preferable that the active energy ray blocking portion includes a portion where a contact hole is formed later. That is, it is preferable that the light-shielded portion in the step (D) be a light-shielding portion also in the step (B).
  • a heating (preheating) step (C) is performed without performing an etching operation (Fig. 3 (d)).
  • the heating temperature (T1) here is preferably 50 to 180 ° C. Due to the heating in this step (C), the resin composition (R) layer 1 in the portion where the active energy rays have passed through the mask becomes convex, and the resin composition (R) layer in the portion shielded from light by the mask. 1 is concave.
  • a step (D) of irradiating an active energy ray to a portion other than the portion where the resin composition (R) layer is removed is performed (FIG. 3 (e)). Specifically, in this step, active energy rays are irradiated using a mask 6 in which a mask pattern in a portion where a contact hole is to be formed is used as an active energy ray blocking portion.
  • step (E) the resin composition (R) layer that has not been irradiated with the active energy ray by the light-shielding portion of the mask is etched (developed) (FIG. 3 ( ⁇ )).
  • etching refers to development.
  • the method further includes a heating (post-heating) step (F) after the step ( ⁇ ).
  • the heating temperature ( ⁇ 2) in this step (F) is preferably higher than the heating temperature (T1) in the above step (C) and not more than 250.
  • a substrate (base material) 2 having a lower film 22 such as a TFT or a TFD formed at an arbitrary position on the surface is prepared (FIG. 4 (a)).
  • the resin composition (R) layer 1 is provided on the substrate 2 (FIG. 4 (b)).
  • the active energy ray 5 is irradiated through the mask 7 formed in the pattern (FIG. 4 (c)).
  • the mask pattern of the mask 7 is such that a portion from which the resin composition (R) layer is removed (for example, a portion where a contact hole is formed later) serves as an active energy ray blocking portion. It has a regular or irregular repetition pattern consisting of an active energy ray blocking part and an active energy one ray transmitting part.
  • a heating (preheating) step (C) is performed without performing an etching operation (Fig. 4 (d)).
  • the heating temperature (T1) in this step (C) is preferably from 50 to 180.
  • the step on the surface after the heating in the step (C) is 0.
  • the resin composition (R) layer which was not irradiated with the active energy ray through the cutoff portion of the mask, is etched (developed) (FIG. 4 (e)).
  • etching (development) a contact hole 20 penetrating through the resin composition (R) layer 1 and reaching the lower film 22 formed on the substrate 2 is formed.
  • heating is preferably performed as the step (H) (FIG. 4 (f)).
  • the heating temperature (T3) in this step (H) is preferably higher than the heating temperature (T1) in the above step (C) and not more than .250 ° C.
  • Still another method of forming surface irregularities includes the following steps (K) to (0) as shown in FIGS. 5A to 5F, for example, in which a contact hole is formed by using this method. It is a method that can be.
  • the resin composition (R) that can be used in this method is the same as described above.
  • a substrate (base material) 2 on which a lower layer film 22 such as a TFT or TFD is formed at an arbitrary position on the surface is prepared (FIG. 5 (a)).
  • a layer 1 of a resin composition (R) containing at least one kind of polymerizable compound (b) is provided (see FIG. 5 (b)).
  • This step (K) can be performed in the same manner as the above step (II).
  • an active energy was applied through a mask (mask for removing resin composition (R) layer) 71 in which a predetermined light-shielding pattern was formed.
  • a line 5 is irradiated (Fig. 5 (c)).
  • the mask 71 is provided with a shielding portion for shielding the active energy ray at a position where the resin composition (R) layer is to be removed and the substrate surface is to be exposed, such as a contact hole.
  • Irradiation of the active energy ray in this step (L) may be performed directly by a direct drawing method so as to form a predetermined light-shielding portion without passing through the mask 71.
  • the type, dose, irradiation method, etc. of the active energy ray in this step (L) and the following step (M) are the same as those described in the above step (B).
  • a step (M) of irradiating the resin composition (R) layer with an active energy ray imagewise is performed (FIG. 5 (d)).
  • This step (M) can be performed, for example, through a mask (patterning mask) 72 formed as a pattern as shown in FIG. 5D or by a direct drawing method (not shown).
  • the mask 72 has a regular or irregular repetition pattern consisting of an active energy ray blocking portion and an active energy ray transmitting portion, and the light shielding portion (for example, a contact hole is to be provided in the above step (L)). It is preferable that an active energy ray blocking portion is arranged at (position).
  • the resin composition (R) layer 1 in the light-shielding portion of the active energy ray for example, which becomes a contact hole, is etched (developed) to form a contact reaching the lower film 22 formed on the substrate surface.
  • a hole 20 is formed (Fig. 5 (e)).
  • the step ( ⁇ ) of heating (post-heating) the resin composition (R) layer 1 is performed (FIG. 5 (f)).
  • the heating in this step (O) is preferably performed at 50 to 250 ° C.
  • the resin composition (R) layer 1 in the portion where the active energy ray has passed through the mask becomes convex, and the resin composition (R) layer 1 in the portion shielded from light by the mask becomes concave.
  • the surface irregularities are formed.
  • the resin composition (R) layer having the surface unevenness formed by the above-described surface unevenness forming method can be used as an optical film. That is, the optical film according to the present invention is a film having a surface unevenness formed by using the surface unevenness forming method.
  • a resin composition (R) layer is formed on a substrate (support) as exemplified above for forming the resin composition (R) layer, and then the substrate is peeled off. By doing so, it can be produced preferably.
  • a reflection film can be provided on the uneven surface of the optical film to form a diffuse reflection plate (see FIG. 1 (d)).
  • the reflection film includes a transflective reflection film.
  • the reflective film or the transflective film may be provided on a part of the surface to be laminated, or may be provided on the entire surface.
  • the material of the reflection film may be appropriately selected according to the wavelength region to be reflected.
  • a reflective LCD display device uses a metal with high reflectivity in the visible light wavelength range of 300 nm to 800 nm, such as aluminum, gold, or silver, and uses a vacuum evaporation method or a sputtering method.
  • a reflective film is formed.
  • a reflection-enhancing film (Introduction to Optics 2, Junpei Tsujiuchi, Asakura Shoten, published in 1976) may be laminated by the above method.
  • a film such as ITO, tantalum pentoxide, or titanium oxide and an oxide film such as silicon or aluminum, a nitride film, or an oxynitride film are formed by a vacuum deposition method or a sputtering method. It can be formed by lamination.
  • the thickness of the reflection film is preferably from 0.01 to 50 m.
  • a pattern may be formed only on a necessary portion of the reflection film by a photolithography method, a mask evaporation method, or the like.
  • the transflective film is a film having a function of translucent visible light, and the material is selected and formed similarly to the reflective film. Further, a reflection increasing film may be laminated on the transflective film.
  • a film such as ITO, tantalum pentoxide, or titanium oxide and an oxide film such as silicon or aluminum, a nitride film, or an oxynitride film are formed by a vacuum deposition method or a sputtering method. It can be formed by lamination.
  • the thickness of the transflective film is preferably 0.003 to 5. Need transflective film Only the portion may be patterned by a photolithography method, a mask evaporation method, or the like.
  • the diffuse reflection plate comprises a substrate, a thin film layer having a surface unevenness, and a reflection film laminated in this order, and the thin film layer is composed of (a) a binder polymer, and one or more kinds of (b) polymerizable polymers. And (c) a composition containing a photopolymerization initiator.
  • the surface unevenness of the thin film layer is preferably formed by the above-mentioned method for forming surface unevenness.
  • the first transfer prototype is one in which the surface irregularities formed by using the above surface irregularity forming method are used as a mold.
  • the second transfer prototype can be manufactured by using the uneven surface of the first transfer prototype as a mold.
  • a third transfer prototype can be created by using the surface uneven surface of the second transfer prototype as a mold. In this case, since the transfer is performed twice, the third transfer master has the same unevenness as the surface unevenness of the first transfer master.
  • These transfer prototypes are generally composed of a film having surface irregularities (that is, a resin composition (R) layer) and its substrate (support), and a protective layer is further formed on the surface irregularities.
  • a film having surface irregularities that is, a resin composition (R) layer
  • the substrate include a metal plate, a metal roll, and a metal stamper, in addition to the substrate exemplified for forming the resin composition (R) layer.
  • the protective layer those exemplified above as the material for the reflective film can be used.
  • the first transfer prototype can be easily manufactured by, for example, laminating a resin composition (R) layer having an uneven surface formed by the above-described method of forming unevenness on an arbitrary substrate. it can.
  • the second transfer master presses the first transfer master onto an arbitrary resin layer for forming a transfer master laminated on an arbitrary substrate to transfer the surface irregularities of the first transfer master.
  • the resin for forming the transfer prototype is preferably a photo-curable resin.
  • the resin composition (R) used in the above-described method for forming the surface irregularities can be used for the transfer prototype.
  • the transfer base film according to the present invention includes a base film and a transfer-receiving layer (undercoat layer) formed on the base film.
  • the undercoat layer has a surface unevenness formed by transferring the surface unevenness of the first or second transfer prototype. That is, the transfer base film includes the base film and an undercoat layer having a surface irregular shape.
  • a thin film layer is formed on the surface of the temporary support on which the transfer prototype has been transferred (ie, the undercoat layer), and adhered to the temporary support (ie, the undercoat layer) in the thin film layer.
  • the untransferred surface can be a transfer film that constitutes the surface to be adhered to the substrate to be transferred.
  • this transfer film 50 is a transfer base film as a temporary support, comprising a base film 51 and an undercoat layer 52.
  • a cover film (protective film) 54 may be optionally laminated on the thin film layer 53.
  • a reflective film may be further included between 53 and 53.
  • a film that is chemically and thermally stable and can be formed into a sheet or a plate can be used.
  • polyolefins such as polyethylene and polypropylene, polyvinyl halides such as polyvinyl chloride and bilidene polychloride, cellulose derivatives such as cellulose acetate, nitrocellulose, cellophane, polyamide, polystyrene, polycarbonate, polyimide, polyester Or metals such as aluminum and copper.
  • polyolefins such as polyethylene and polypropylene
  • polyvinyl halides such as polyvinyl chloride and bilidene polychloride
  • cellulose derivatives such as cellulose acetate, nitrocellulose, cellophane, polyamide, polystyrene, polycarbonate, polyimide, polyester Or metals such as aluminum and copper.
  • biaxially stretched polyethylene terephthalate having excellent dimensional stability.
  • the undercoat layer 52 formed on the base film 51 includes a thin film after forming the irregularities.
  • polyolefins such as polyethylene and polypropylene; ethylene and vinyl acetate, ethylene and acrylate, ethylene copolymers such as ethylene and vinyl alcohol; polyvinyl chloride, copolymer of vinyl chloride and vinyl acetate, and vinyl chloride And vinyl alcohol; chlorine-containing resins such as polyvinylidene chloride; styrene copolymers such as polystyrene, styrene and (meth) acrylate; polyvinyl toluene, biel toluene and (meth) Vinyl toluene copolymer such as acrylic acid ester; poly (meth) acrylic acid ester, copolymer of (meth) acrylic acid ester such as butyl (meth) acrylate and vinyl acetate; synthetic rubber, cellulose derivative At least one kind of organic It can be used mer.
  • a photoinitiator a monomer
  • any resin composition that can be applied on a temporary support and wound into a film can be used. If necessary, dyes, organic pigments, inorganic pigments, powders and composites thereof may be added to the resin composition alone or as a mixture. It is preferable to use a photocurable resin composition for forming a thin film layer. Further, the resin composition (R) for forming surface irregularities described above may be used for forming a thin film layer.
  • the softening temperature of the thin film layer is not particularly limited, but is desirably 200 ° C. or lower. In order to obtain fluidity by heating, a low-melting substance having a molecular weight of 1000 or less can be added.
  • the thin film layer 53 one having good adhesion to a substrate (substrate to be transferred) and good releasability from the transfer base film 40.
  • the organic polymer contained in the photocurable resin composition include acrylic resins, polyolefins such as polyethylene and polypropylene; polyvinyl halides such as polyvinyl chloride and polyvinylidene chloride; cellulose acetate, nitrocellulose, and the like.
  • Cellulose derivatives such as cellophane; polyamide, polystyrene, polycarbonate, 03 07222
  • Polyester or the like can be used.
  • a photosensitive resin that can be developed with an alkali or the like can be used so that a thin film layer in that portion can be removed in order to form a contact hole with the TFT formed on the substrate.
  • a resin composition curable by heat can be used.
  • the adhesion to the substrate can be improved.
  • an adhesion-imparting agent can be applied to the adhesion surface of the substrate or the thin film layer.
  • a low melting point substance having a molecular weight of 1000 or less.
  • a plasticizer described in "Plastics Compounding Agent” (Akinori Endo, Makoto Sudo, edited by Taiseisha, issued on January 30, 1996), and an ethylenic double bond.
  • Examples include monomers having at least one or more in the molecule.
  • the amount of these low-melting substances used is preferably 1 to 70% by weight of the total solid content in the resin composition forming the thin film layer.
  • Monomers having at least one ethylenic double bond in the molecule that can be used in the thin film layer include, for example, trimethylolpropane triacrylate, trimethyl monopropane diacrylate, and triethylene glycol diacrylate.
  • Monofunctional monomers such as acetyl acid phosphate and dimethylaminoethyl methacrylate quaternary compound can also be used.
  • These monomer-monomeric components for the thin film layer can be used alone or in combination of two or more.
  • Examples of the photopolymerization initiator for the resin forming the thin film layer when the resin is a photocurable resin include benzophenone, N, N'-tetraethyl- 4,4'-diaminobenzophenone, 4-methoxy-4'-dimethylaminobenzophenone, Benzyl, 2,2-diethoxyacetophenone, benzoin, benzoin methyl ether, benzoin isobutyl ether, benzyl dimethyl ketal, perhydroxyisobutylphenone, thioxanthone, 2-cyclohexanthone, 1-hydroxycyclohexylphenyl Ketone, 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-1-propane, t-butylanthraquinone, 1-chloroanthraquinone, 2,3-dichloroanthraquinone, 3-chloro1-2 —Methyl ant ra
  • photopolymerization initiators are used alone or in combination of two or more.
  • the amount of the photopolymerization initiator to be used is preferably 0.01 to 25% by weight, more preferably 1 to 20% by weight, based on the total solid content in the resin composition.
  • a protective film (cover film) 54 can be laminated on the surface of the thin film layer (the surface to be transferred to the substrate to be transferred).
  • the cover film is desirably one that is chemically and thermally stable and easily peels off from the thin film layer.
  • a thin sheet having high surface smoothness such as a metal sheet. It is also preferable that the surface of the cover film is subjected to a release treatment in order to impart releasability.
  • the step of manufacturing the transfer base film includes, for example, a step of forming an undercoat layer on the base film; and pressing the first or second transfer prototype onto the obtained undercoat layer to form a surface irregular shape. Transferring the same.
  • the transfer film can be manufactured by forming a thin film layer on the transfer base film (temporary support).
  • the method of forming the undercoat layer or the thin film layer is not particularly limited, but it can be preferably formed by applying a resin composition for forming these layers on a base film or a temporary support.
  • this coating method include roll coating overnight, spinning coating, spray coating, dip coater coating, curtain flow coating coating, wire bar coating overnight, gravure coating overnight, air knife coating, etc. Are listed.
  • the thickness (after drying) of the thin film layer 53 thus formed on the surface of the transfer base film 40 is preferably in the range of 0.1 m to 50 m.
  • the thickness of the thin film layer is thicker than the maximum height difference of the unevenness of the undercoat layer 52, the unevenness of the thin film layer can be easily reproduced. Whether the thickness of the thin film layer is equal to the maximum height difference of this uneven shape If it is too thin, it will break through the thin film layer at the protruding portion of the prototype (the protruding portion of the undercoat layer 52), generating an unnecessary flat portion, making it difficult to obtain a diffuse reflector having good reflection efficiency. Next, a method for manufacturing a diffuse reflection plate using the transfer film will be described. Fig.
  • FIG. 7 schematically shows an example of the process.
  • the cover film 54 is present on the transfer film 50 as shown in Fig. 7 (a)
  • the cover film 54 is peeled off and the glass is removed.
  • a transfer film 50 is laminated on a transfer substrate such as the substrate 56 so that the thin film layer 53 is in close contact with the surface of the transfer substrate 56, and is heat-pressed, as shown in FIG. 7 (b).
  • the thin film layer 53 is transferred to the transfer substrate 56.
  • a method of cleaning the substrate with a necessary chemical solution or the like, applying an adhesion-imparting agent to the substrate, or irradiating the substrate with ultraviolet rays or the like may be used.
  • a heat-pressable rubber roll (thermo-compression rubber roll) 55 and a substrate 56 are sandwiched between the transfer film 50 with the protective film removed, and the roll 55 is rotated. Then, it is preferable to use a single-layer laminating method that sends out the substrate 56 while pressing the thin film layer 53 against the substrate 56.
  • the temporary support 40 is peeled off (FIG. 7 (d)).
  • a reflective film 60 is obtained by laminating the reflective film 57 on the thin film layer 53 (FIG. 7 (e)).
  • the transfer film has a reflective film between the undercoat layer 52 and the thin film layer 53, the reflective film laminating step is not required.
  • the thin film layer 53 is preferably exposed, exposed and cured in order to maintain a shape capable of diffusing light (FIG. 7 (c)).
  • the exposure machine include a carbon arc lamp, an ultra-high pressure mercury lamp, a high pressure mercury lamp, a xenon lamp, a metal octride lamp, a fluorescent lamp, and a tungsten lamp.
  • Exposure is performed before or after the temporary support (40) is peeled off. In some cases, after exposure, heating may be performed in a hot air heating furnace, infrared heating furnace, hot plate, or the like (Fig. 7 (e)). Heating after this exposure is performed at an arbitrary stage after the temporary support is peeled off to form a reflective film. You may go after doing.
  • FIG. 8 shows, as another embodiment, an example of a diffuse reflector having a contact hole 20 provided with a reflective film 3 on a resin composition (R) layer 1.
  • a diffusion reflector can be manufactured by pressing the transfer base film against a substrate and transferring the surface unevenness to the substrate surface.
  • prepare a substrate with a thin film layer provided with an arbitrary thin film layer and press the transfer base film against the surface of the thin film layer so that the undercoat layer side faces the undercoat layer.
  • the diffuse reflection plate is manufactured by transferring the surface unevenness of the layer, peeling off the transfer base film, and then forming a reflection film on the surface of the thin film layer.
  • the thin film layer on the substrate for example, those used for the thin film layer of the transfer film described above can be preferably used. Also in this case, it is preferable to cure the thin film layer after transferring the uneven shape.
  • a reflection film may be provided on the surface of the undercoat layer of the transfer base film, and the diffusion film may be used as it is.
  • the diffuse reflector obtained as described above can be particularly preferably used as a diffuse reflector of a reflective liquid crystal display.
  • FIG. 9 shows an example of a reflection type liquid crystal display having this diffuse reflection plate.
  • a diffuse reflection plate 60 including a glass substrate 56, a thin film layer 53, and a reflection film 57 is provided on the back side (lower side).
  • a transparent substrate (glass substrate) 66 on the display side (upper side) is provided facing the glass substrate 56 via a spacer 14, and a liquid crystal layer is provided between the substrates 56 and 66. 13 are provided, and transparent electrodes 10 and 10 are formed on an insulating substrate 56 on the rear side and a transparent substrate 66 on the display side, respectively.
  • a flat film 11 is further formed on the reflection film 57.
  • External light (ambient light) entering from the display side is reflected on the surface of the reflective film 57, passes through the liquid crystal layer 13 and exits to the display side again to perform display.
  • the unevenness of the surface of the reflective film 57 allows the reflected light to be focused in the front direction.
  • alignment films 12 and 12 are formed on the flattening film 11 and the transparent electrode 10.
  • a retardation film 15 and a polarizing plate 16 are provided on the glass substrate 66 on the display side.
  • the diffuse reflection plate according to the present invention is a liquid crystal backlight reflection plate which needs to diffusely reflect an external light beam or an internal light beam, a projector screen, It can be used for display devices such as an electrophoretic display device, an organic EL display device, an inorganic EL display device, an electrochromic display device, and a photochromic photochromic display device.
  • the optical film according to the present invention includes a non-glare sheet, a backlight diffusion plate for a liquid crystal, a viewing angle control film, a transmission screen for a rear projection, a micro lens for a viewfinder, a micro lens for a projector, and a viewing angle control for a stereoscopic television. It can be used for optical devices such as films and optical biometrics personal identification sensors (such as fingerprint sensors).
  • a substrate for various molecules such as various macromolecules such as biopolymers and various low molecular compounds, a substrate for molecular immobilization, a channel for molecular separation, a cell for molecular detection, a molecule in combination with a base material as necessary. It can be used as a reaction vessel.
  • the method for forming surface irregularities according to the present invention includes a printing plate, an alignment control for MVA of a liquid crystal display, a grooved polymer liquid crystal molecule alignment control, a grooved structure low molecular liquid crystal molecule alignment control, a micro force used for a display element and the like.
  • ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the uneven
  • a photosensitive resin having a surface unevenness on a substrate such as a liquid crystal display substrate by a simple and inexpensive method having excellent surface shape characteristics and adhesion to the substrate. Layers can be formed.
  • a contact hole can be formed in a specific region while maintaining a desired uneven shape of the photosensitive resin surface, which is difficult with the conventional method.
  • a TFT disposed below the photosensitive resin layer and a reflective electrode disposed above the photosensitive resin layer be electrically connected to each other.
  • a concave-convex surface having a contact hole, which is suitable for manufacturing, can be stably obtained.
  • a flask equipped with a stirrer, a reflux condenser, an inert gas inlet, and a thermometer was charged with (1) shown in Table 1, and the temperature was increased to 80 under a nitrogen gas atmosphere.
  • (2) shown in Table 1 was uniformly added dropwise over 4 hours. After the dropwise addition of (2), stirring was continued with 8 O soil 2 for 6 hours, and then (3) shown in Table 1 was added.
  • Each of the 66 samples was heated for 30 minutes at 90, 12 O 140 ° C, 180, 200t and 230 for 30 minutes, each of which was cured at different temperature conditions (S1 to S6 in order) I got An aluminum metal film of 0.1 m was formed on the resin composition (R) layer of each sample by sputtering.
  • the resin composition (R) layer has a convex / concave pitch of 10 in which the cross section of the ultraviolet ray irradiated portion is convex and the cross section of the ultraviolet ray shield portion is concave, and the concave / convex steps are 0.26 m (S 1) and 0.2 mm.
  • Fig. 10 shows a photomicrograph of the surface unevenness of the surface unevenness sample (S6) cured by heating at 230 ° C for 30 minutes, and Fig. 2 shows the unevenness of the cross section.
  • a coating solution of the same resin composition (R) as in Example 1 was spin-coated on a polyethersulfone substrate at 1300 rpm for 10 seconds, and heated on a hot plate at 90 ° C for 4 minutes to form a film having a thickness of 4 m.
  • the resin composition (R) layer was obtained.
  • a mask in which the boundary between the ultraviolet ray irradiating part and the ultraviolet ray shielding part is patterned with an irregular curve is placed on this resin composition (R) layer, and 0.06 J / cm 2 ultraviolet ray is applied from above the mask surface. After the irradiation, the coating was cured by heating at 180 ° C. for 30 minutes, and an aluminum film having a thickness of 0 was formed by sputtering.
  • the resin composition (R) layer has a convex / concave pitch of 8 m and a convex / concave pitch of 8 m, and a convex / concave sample (for example, , A transfer prototype having surface irregularities) was obtained.
  • a coating liquid of the resin composition (R) shown in Table 2 above was applied on the obtained transfer base film so as to have an average film thickness of 8 zm after drying all over Commaco, and dried.
  • a transfer film was obtained by coating with a polyethylene film (see Fig. 6).
  • the transfer film was laminated on the glass substrate such that the resin composition (R) layer was in contact with the glass substrate while peeling off the cover film of the transfer film.
  • the transfer base film was peeled off, and a resin composition (R) layer having the same surface unevenness as the surface unevenness sample of Example 1 was obtained on a glass substrate. Next, it is cured by heating in an oven at 230 for 30 minutes. A reflective layer was formed by laminating the films to a thickness of 0.1 m to obtain a diffuse reflector.
  • Fig. 11 shows the incident angle dependence of the reflection intensity (relative intensity to the standard white plate) of the diffuse reflector obtained in Example 3 in front of the diffuse reflector.
  • a coating solution of the same resin composition (R) as in Example 1 was spin-coated on a glass substrate at 1300 rpm for 10 seconds, and heated on a hot plate at 90 for 4 minutes to form a film.
  • a resin composition (R) layer having a thickness of 4 m was obtained. Place the mask the ultraviolet irradiation unit and the ultraviolet light shielding portion of the boundary line is Pas evening-learning in a regular linear over the resin composition (R) layer, 9 from mask surface vertically above 0 0 range of mm 2 Was irradiated with ultraviolet rays of 0.06 JZ cm 2 , and then cured by heating at 180 at 30 minutes.
  • the resin composition (R) layer had a convex / concave pitch of 8 m, a convex / concave pitch of 8 m, a convex / concave step of 0.7 m, and a thickness of about 3 mm.
  • an alignment film of m was obtained.
  • a solution of cyanobiphenyl-based liquid crystal in propylene glycol monoethyl ether acetate was spin-coated on the alignment film, and heated on a hot plate at 70 for 5 minutes to obtain a liquid crystal alignment film.
  • Two polarizing films are arranged so that their polarization axes are perpendicular to each other, and the liquid crystal orientation film is sandwiched between them. Lines patterned on the orientation film surface are arranged at an angle of 45 ° to each polarization axis However, when the white light was transmitted and observed, transmitted white light caused by the liquid crystal having a phase difference of ⁇ / 2 was observed within a range of 900 mm 2 where the pattern was present. Thereby, the alignment of the liquid crystal on the obtained alignment film was confirmed.
  • a coating solution of the same resin composition (R) as in Example 1 was spin-coated on a polyether sulfone substrate at 100 rpm for 10 seconds, and heated on a hot plate at 90 for 4 minutes.
  • a resin composition (R) layer having a thickness of 6 m was obtained.
  • a mask with a circular pattern having a diameter of 15 with an ultraviolet light-shielding portion was placed thereon, and irradiated with 0.06 JZcm 2 of ultraviolet light from above the mask surface, and then cured by heating at 200 for 30 minutes.
  • FIG. 12 shows a cross-sectional profile of the obtained surface concave portion.
  • a coating solution of the same resin composition (R) as in Example 1 was spin-coated on a glass substrate at 1,000 revolutions per minute for 10 seconds, and heated on a hot plate at 90 for 4 minutes to obtain a resin having a thickness of 6 m.
  • a composition (R) layer was obtained.
  • a mask UV irradiation portion is patterned into a circular shape with a diameter of 15 tm over the (R) layer was irradiated with ultraviolet rays of 0. 06 JZcm 2 Ri by mask plane vertically upward, at 200 ° C Cured by heating for 30 minutes.
  • FIG. 13 shows a cross-sectional profile of the obtained surface convex portion.
  • a coating solution of the resin composition (R) of Example 1 was spin-coated on a glass substrate at 1,000 rpm for 10 seconds, and heated on a hot plate at 90 for 4 minutes to obtain a resin composition (R) having a film thickness of 6 m. R) layer was obtained.
  • R On this resin composition (R) layer, place a mask in which the boundary between the ultraviolet ray transmitting part and the ultraviolet ray shielding part is patterned with an irregular curve, and apply 0.06 JZ cm 2 ultraviolet light from above the mask surface. was irradiated. After that, it was left at room temperature (25 ° C) for 1 hour without heating, and the surface of the resin composition (R) layer No unevenness in the surface was observed.
  • a coating solution of the resin composition (R) of Example 1 was spin-coated on a glass substrate at 1,000 rpm for 10 seconds, and heated on a hot plate at 90 for 4 minutes to obtain a resin composition (R) having a film thickness of 6 m. R) layer was obtained.
  • R On this resin composition (R) layer, place a mask whose boundary line between the ultraviolet ray irradiating part and the ultraviolet ray shielding part is irregularly curved and placed 0.2 J / Irradiated with ultraviolet light of cm 2 . After that, the substrate was left at room temperature (25 ° C) for 1 hour without heating, and no surface unevenness was observed on the surface of the resin composition (R) layer.
  • a coating solution of the resin composition (R) of Example 1 was spin-coated on a glass substrate at 1000 rpm for 10 seconds, and heated on a hot plate at 90 ° C for 4 minutes to obtain a resin composition having a film thickness of 6 zm.
  • the product (R) layer was obtained.
  • an ultraviolet ray of 0.06 J / cm 2 was measured from above the resin composition (R) layer. After irradiating the entire surface, heating was performed at 230 for 30 minutes. As a result, no surface unevenness step was observed on the surface of the resin composition (R) layer.
  • the solids content ratio (weight ratio) of the polymer A and the monomer was 80:20, 70:30, 65:35, 60:40, 55:45, 50:50.
  • a coating solution of the resin composition (R) of Table 4 prepared as 40:60 were applied on a glass substrate in order at 1300 rpm for 15 seconds. Spin-coated for 15 seconds at O rpm, 10 seconds each at 1300, 1100, 950, 800 and 64 O pm, and heated on a hot plate at 90 for 4 minutes. A composition (R) layer was obtained.
  • the obtained resin composition (R) layer place a mask in which the boundary between the ultraviolet ray irradiating section and the ultraviolet ray shielding section is patterned with an irregular curve, and 0.08 J cm from above the mask surface. After irradiating the ultraviolet rays of No. 2 , it was cured by heating at 230 ° C. for 30 minutes. Further, an Al metal film having a thickness of 0.1 m was formed on the cured resin composition (R) layer by sputtering.
  • the resin composition (R) layer had a convex-concave pitch of 10 with a UV-irradiated section cross-section convex and a UV-blocking section cross-section, each having a step of 0.45 m (Example 4). 0.61 ⁇ m (Example 5), 0.89 im (Example 6), 0.94 m (Example 7), 1. (Example 8), 1.17 xm (Example 9) and 1 Seven types of transcription prototypes of 42 m (Example 10) were obtained.
  • Polymer A of Table 1 above was used as the binder polymer, and the mixing ratio of the initiator was 5.0, 2.5, 1.25, and 0 of the total solid content of the pinda polymer and the monomer.
  • a coating solution of the resin composition (R) of Examples 11 to 14 was prepared so as to be 25% by weight.
  • Each coating solution of the obtained resin composition (R) was spin-coated on a glass substrate at 1300 rpm for 10 seconds, and heated on a hot plate at 90 for 4 minutes to obtain a resin having a film thickness of 5 xm.
  • a composition (R) layer was obtained.
  • the resin composition (R) layer had a convex-concave pitch of 10 m with a UV-irradiated portion cross section being convex and a UV-ray shielding portion cross section being concave, and the concave and convex steps were 1. (Example 11) and 0 (Example 11).
  • Four types of transcription prototypes were obtained, 89 m (Example 12), 0.59 m (Example 13) and 0.10 m (Example 14).
  • a coating solution of the resin composition (R) having the composition shown in Table 6 was spin-coated on a glass substrate at 1300 rpm for 10 seconds, and heated on a hot plate at 90 for 4 minutes to obtain a resin composition having a thickness of 5 m.
  • the product (R) layer was obtained.
  • the boundary between the ultraviolet ray transmitting part and the ultraviolet ray shielding part A mask patterned with an irregular curve was placed, irradiated with ultraviolet rays from above the mask surface at 0.06 J / cm 2 , and then cured by heating at 23 for 30 minutes. Further, an Al metal film having a thickness of 0.1 m was formed on the cured resin composition (R) layer by sputtering.
  • a diffuse reflector was manufactured in the same manner as in Example 3 above, and as a result, a favorable diffuse reflector could be obtained.
  • a polymerizable compound having at least one epoxy group of the above component (b-4) 35 g of celoxide manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd.
  • a latent cationic polymerizable catalyst of the above component (e) Sanshin 2 g of San-Aid SI-100L (IV) manufactured by Chemical Industry Co., Ltd. and ethyl methyl ketone were mixed to obtain a coating solution of the resin composition (R).
  • the film was cured by heating at 200 ° C. for 60 minutes to obtain an optical film having a surface unevenness shown in FIG.
  • the step in the uneven shape of the cross section was 0.22 m.
  • An aluminum thin film was laminated on the uneven surface of the obtained optical film by a vacuum evaporation method so as to have a thickness of 0.1 m to form a reflection layer, thereby obtaining a diffuse reflection plate.
  • Figure 15 shows the incident angle dependence of the reflection intensity (relative intensity with respect to the standard white plate) of the obtained diffuse reflection plate directly in front. — In the range of incident angles of 15 ° to 15 °, an excellent diffuse reflector with a reflection intensity of more than 3 was easily obtained. [Example 17]
  • the above polymer A is used as a polymer, phenol erythritol triacrylate having a hydroxyl group is used as a monomer A, and trimethylolpropane triacrylate having no hydroxyl group is used as a monomer B (a hydroxyl group of monomer A is substituted with a methyl group. Having a molecular structure.)
  • Table 10 shows the steps on each surface. The higher the ratio of monomer A, the higher the level of the resin composition (R).
  • the cross section of the active light transmitting portion in the pattern exposure is convex
  • the cross section of the active light shielding portion is concave
  • the concavo-convex pitch is 10 / zm.
  • the unevenness level was 0.
  • a resin composition (R) solution shown in Table 11 was prepared in which monomer B was mixed.
  • Table 11 Composition of resin composition (R) solution
  • a resin composition (R) solution of the above two types (one containing a monomer and one containing a monomer) was spin-coated on a glass substrate at 1300 rpm for 10 seconds, and then placed on a hot plate. The mixture was heated at 90 ° C. for 4 minutes to obtain resin composition (R) layers each having a thickness of 4 m.
  • the boundary between the ultraviolet irradiation part and the ultraviolet light shielding part is Place a patterned mask with a regular period of 10 and irradiate it with 1 X 10 3 JZm 2 and 2 X 10 3 JZm 2 ultraviolet rays from above the mask surface, and then heat at 180 "C for 30 minutes.
  • an Al metal film having a film thickness of 0, 1 Xm was formed by sputtering.
  • the boundary line between the active light transmitting part and the active light shielding part is regular, and the pitch between the transmitting part and the non-transmitting part is 10;
  • a photomask having an actinic ray opaque part with a diameter of 10 ULm using a parallel light exposure machine (EXM1201 manufactured by Oak Manufacturing Co., Ltd.), the exposure amount from above the mask surface is 5.0X10 2 After irradiating ultraviolet rays imagewise with J nom 2 , it was heated at 120 ° C. for 30 minutes with a box type dryer. 07222
  • the resin composition (R) layer was selectively developed by spray-development with 0.5: 50% aqueous tetramethylammonium hydroxide solution containing 0.5% by weight of a surfactant at 25:50 for 50 seconds. To form a hole pattern.
  • the obtained resin composition (R) layer has a shape with an uneven pitch of 10 m, in which the cross section of the active light transmitting portion in pattern exposure is convex, and the cross section of the active light shielding portion is concave in pattern exposure.
  • the step was about 1 / zm.
  • the obtained resin composition (R) layer forming substrate having irregularities was evaluated as a diffusion reflector for a liquid crystal display device.
  • the substrate having the resin composition (R) layer formed thereon maintained a concave-convex surface having excellent diffuse reflection characteristics, and the diffuse reflection characteristics as designed were obtained.
  • the resin composition (R) solution (V-2) prepared in Example 17 or the resin composition (R) solution (monomer A) prepared in Example 19 ) Is uniformly coated on a support using a comma coater, dried with a hot air convection dryer (100) for 3 minutes to remove the solvent, and a resin composition (R) having a thickness of 4 m is used. ) Layer was formed.
  • a polyethylene film having a thickness of 25 m was further laminated on the obtained resin composition (R) layer as a cover film to prepare a photosensitive element.
  • the photosensitive element was laminated on a glass substrate having a thickness of 1 mm so that the resin composition (R) layer was in contact with the resin film while peeling off the polyethylene film of the obtained photosensitive element.
  • the composition (R) layer and the support are laminated.
  • a substrate was prepared. Laminate was made by Hitachi Chemical Co., Ltd., using the product name HLM-1500 as a laminator.
  • the obtained resin composition (R) layer has an uneven shape in which the cross section of the active light transmitting portion in pattern exposure is convex and the cross section of the active light shielding portion is concave in pattern exposure.
  • the resin composition (R) solution (V-2) of Example 7 was used at about 0.7 nm, and the resin composition (R) solution of Example 19 (using monomer A) was used at about 0.7 nm. 6 • im.
  • the obtained resin composition (R) layer forming substrate having irregularities was evaluated as a diffusion reflector for a liquid crystal display device.
  • the substrate having the resin composition (R) layer formed thereon maintained a concave-convex surface having excellent diffuse reflection characteristics, and the diffuse reflection characteristics as designed were obtained.
  • the resin composition (R) layer On the obtained resin composition (R) layer, a mask having a pattern in which UV irradiating portions having a line width of 10 m and UV shielding portions having a line width of 1 m are alternately arranged is placed. After irradiation with 0 J Zm 2 ultraviolet rays, heating was performed at 180 for 30 minutes. As a result, the resin composition (R) layer had a 20 m-period uneven shape in which the cross section of the ultraviolet ray irradiating portion was convex and the cross section of the ultraviolet light shielding portion was concave, and the unevenness step was 1 m.
  • Example 21 In the same manner as in Example 21, a photosensitive element was produced using the resin composition (R) of Example 22. Using the obtained photosensitive element, a surface unevenness was produced in the same manner as in Example 21.
  • the obtained resin composition (R) layer has a shape with a convex-concave pitch of 10 m, in which the cross section of the active light transmitting portion in pattern exposure is convex, and the cross section of the active light shielding portion is concave in pattern exposure. was about 1 jLim.
  • the obtained resin composition (R) solution (V-4) was spin-coated on a lmm-thick glass substrate at 1700 rpm using a spin coater, and 9 O, After drying for 5 minutes to remove the solvent, a resin composition (R) layer having a thickness of 4 m was formed.
  • a reduction projection exposure machine (Canon, FPA-300 Oiw) was used for the obtained resin composition (R) layer, using a photomask in which the active light transmitting part and the active light shielding part were regularly patterned by 10 use was irradiated with ultraviolet rays imagewise the mask surface perpendicular above the exposure amount 1. 5 X 10 3 J / m 2, and removing the photomask 30 min at 12 0, at box-type dryer Heated.
  • the obtained resin composition (R) layer has a convex cross section of the active light transmitting portion and a concave cross section of the active light shielding portion in pattern exposure corresponding to the image formed on the photomask. It has a shape with a pitch of 10 m, and its unevenness is about 2 steps.
  • A1 a resin composition having a concave surface before forming a metal film
  • the (R) layer-formed substrate was placed in a thermostat kept at a temperature of 60 and a humidity of 90% for 24 hours, and then subjected to a cross-cut test (JIS-K5400, 1 mm square grid method).
  • JIS-K5400, 1 mm square grid method As a result, it was found that the resin composition (R) layer having the uneven surface did not peel off at all, and had good substrate adhesion.
  • a curved pattern in which the boundary between the active light transmitting part and the active light shielding part is irregular and the pitch between the transmitting part and the non-transmitting part is 10 iim
  • a hole pattern Using a photomask having an active light opaque part with a diameter of 10 m, and using a parallel light exposure machine (EXM1201 manufactured by Oak Manufacturing Co., Ltd.), an exposure amount of 5.0 ⁇ 10 2 JZm 2 was applied from above the mask surface. After imagewise irradiation with UV light, it was heated in a box drier at 120 for 30 minutes.
  • the resin composition (R) layer was selectively removed by spray development at 25T for 50 seconds. To form a hole pattern.
  • the resin composition (R) layer was irradiated with ultraviolet rays of 3 ⁇ 10 "/ m2, and the entire resin composition (R) layer was photo-cured. Then, an Al metal film having a thickness of 0.1 m was formed on the resin composition (R) layer by sputtering.
  • the obtained resin composition (R) layer has an uneven shape corresponding to the image of the photomask pattern, in which the cross section of the active light transmitting portion in the first exposure is convex and the cross section of the active light shielding portion is concave. It had a shape with a pitch of 10 z ⁇ rn, and its unevenness was about 2 im. Diffusion of the obtained resin composition (R) layer forming substrate having irregularities for liquid crystal display devices 07222
  • Example 24 In addition, in the same manner as in Example 24 (that is, including the charging into the thermostat), a cross-cut test was performed on the resin composition (R) layer-formed substrate having the uneven surface before forming the A1 metal film. Done. As a result, it was found that the resin composition (R) layer having the uneven surface did not peel off at all, and had good substrate adhesion.
  • the resin composition (R) solution (V-4) obtained in Example 24 was evenly coated on the support using Commaco overnight. The solvent was removed by drying in a hot air convection dryer at 100 for 3 minutes to form a resin composition (R) layer having a thickness of 4 / im.
  • a photosensitive film was prepared by laminating a 25 m-thick polyethylene film as a cover film on the obtained resin composition (R) layer.
  • the obtained photosensitive element was laminated on a glass substrate having a thickness of l mm so that the resin composition (R) layer was in contact with the polyethylene film, and the resin composition (R) layer was formed on the glass substrate. And a substrate on which a support was laminated.
  • the laminating was performed using Hitachi Chemical Co., Ltd., product name HLM-150, as a laminate, with a roll temperature of 120, a substrate feed rate of 0.5 mmin, and a pressing pressure (cylinder pressure) of 4.
  • Example 24 a series of operations from ultraviolet irradiation using a photomask to formation of an A1 metal film by sputtering were performed in order.
  • the obtained resin composition (R) layer has an uneven pitch of 10 tm corresponding to the image of the photomask in pattern exposure, in which the cross section of the active light transmitting portion is convex and the cross section of the active light shielding portion is concave.
  • the unevenness was about 2 m.
  • Example 1 As shown in FIG. 16 (a), the same coating liquid as in Table 2 of Example 1 was spin-coated on a glass substrate 2 at 1000 rpm for 10 seconds, and heated on a hot plate at 90 for 4 minutes. A resin composition (R) layer 1 having a thickness of 6 m was obtained.
  • a mask (patterning mask) 72 in which the boundary between the ultraviolet ray transmitting portion and the ultraviolet ray shielding portion is patterned with an irregular curve is placed on the obtained resin composition (R) layer 1.
  • a mask (patterning mask) 72 in which the boundary between the ultraviolet ray transmitting portion and the ultraviolet ray shielding portion is patterned with an irregular curve is placed on the obtained resin composition (R) layer 1.
  • heating was performed at 230 for 30 minutes (see Fig. 16 (c)) to obtain a concave-convex surface.
  • the obtained uneven steps were the same as those shown in FIG.
  • a mask (resin composition (resin composition ( (R) Layer removal mask) 7 Place 1 and position the mask so that the ultraviolet light shielding part overlaps the light shielding part at the time of the previous ultraviolet irradiation, and irradiate 24 JZcm 2 ultraviolet light 5 from above the mask surface vertically ( (See Fig. 16 (d)).
  • a predetermined etching operation was performed to form a contact hole 20 (see FIG. 16 (e)), and then heating was performed at 230 ° C. for 30 minutes to produce an uneven surface film having the contact hole 20.
  • Fig. 17 shows a micrograph of the above surface irregularities.
  • a reflective layer was formed by laminating an aluminum thin film to a thickness of 0.1 l ⁇ m on the resulting uneven surface film by vacuum evaporation to obtain a diffuse reflector.
  • Figure 18 shows the incident angle dependence of the reflection intensity (relative intensity with respect to the standard white plate) of the obtained diffuse reflection plate directly in front. At an incident angle range of 15 ° to 15 °, An excellent diffuse reflection plate having a reflection intensity exceeding 4 was easily obtained. [Example 28]
  • the resin composition (R) layer had a shape with a convex-concave pitch of 10 m, the convex section of the UV-irradiated section and the concave section of the UV-shielding section, and the concave-convex steps were 1.5 m (S7), 1 Four types of transcription prototypes were obtained: 13 ⁇ m (S8), 0.78 m (S9) and 0.65 zm (S10).
  • Example 2 Eight glass substrates were prepared, and the same coating solution of the resin composition (R) shown in Table 2 as in Example 1 was spin-coated on each glass substrate at 1,300 revolutions per minute for 10 seconds. For 4 minutes to obtain eight samples (No. 1 to No. 8) each having a resin composition (R) layer having a thickness of 4 zm.
  • the place where the resin composition (R) layer is removed is the cutoff part, and the boundary between the ultraviolet irradiation part and the ultraviolet cutoff part has a regular 10 jam cycle.
  • Irradiate 0.09 JZcm 2 UV through patterned mask After that, as shown in Table 17, heating was performed at 90 ° C, 120 or 135 for 5 minutes each (preheating).
  • Figure 19 shows the unevenness of sample No. 4 after preheating.
  • the resin composition (R) layer was exposed to an aqueous solution shower containing 30% by weight of potassium hydroxide at 30 seconds for 120, 214, or 265 seconds to perform etching (development). Then, it was heated at 230 ⁇ for 30 minutes.
  • Example 2 Four glass substrates were prepared, and the same coating solution of the resin composition (R) shown in Table 2 as in Example 1 was spin-coated on each glass substrate at 1,300 revolutions per minute for 10 seconds, and placed on a hot plate. Then, the sample was heated for 4 minutes to obtain four samples (No. 1 to No. 4) each having a resin composition (R) layer having a thickness of 4 m.
  • Irradiation with 0.04 JZcm 2 ultraviolet light was applied to a part of the resin composition (R) layer of each sample that was not irradiated in the subsequent ultraviolet light irradiation step, except for the part that was removed by subsequent etching.
  • a mask in which an ultraviolet irradiation part and an ultraviolet light shielding part are patterned at a regular period of 10 / m is placed on the resin composition (R) layer, and 0.06 JZ cm 2 Irradiated with ultraviolet light.
  • the resin composition (R) layer was subjected to an aqueous solution shower at 30 containing 0.3% by weight of potassium hydroxide, as shown in Table 18, to obtain 120, 170, 214 or 265, respectively. Etching (development) was performed for 23 seconds, and post-heating was performed at 23 for 30 minutes.
  • the same coating solution of the resin composition (R) shown in Table 2 as in Example 1 was spin-coated on a glass substrate at 1300 rpm for 10 seconds, and heated on a hot plate at '90 ° C for 4 minutes to obtain a film thickness.
  • a resin composition (R) layer of No. 4 was obtained.
  • a mask is formed, in which the boundary between the ultraviolet irradiation part (5 m width) and the ultraviolet light shielding part (5 ⁇ m width) is formed as a regular stripe pattern with a pitch of 10, After irradiating ultraviolet rays of 0.1 JZcm 2 from above the mask surface, it was heated at 180 for 5 minutes.
  • the resin composition (R) layer has a convex / concave pitch of 10 m, with a UV-irradiated section cross-section being convex and a UV-shielding section cross-section, with a step height of 0.63 m. Was done. *
  • Example 31 A surface unevenness was obtained in the same manner as in Example 31, except that the patterned mask of Example 31 was replaced with a circular light-shielding pattern having a diameter of 10 mm. Its uneven steps was 1.4 m c
  • each coating solution of the resin composition (R) was prepared by blending the monomers shown in Table 19 with each other. Was spin-coated to obtain a resin composition (R) layer having a thickness of 4 m. A surface unevenness was produced in the same manner as in Example 31. Table 19 shows the obtained unevenness of the uneven surface.
  • “molecular weight” represents the molecular weight of each monomer
  • “number of ethylenically unsaturated groups” represents that of each monomer.
  • n 4, As shown in Table 19, when using a mask with a stripe pattern, only No. 1 and 4 can form a step of 0.3 m or more according to the mask pattern. No.2, 3, and 5 had uneven steps of 0.3 m or less. From these results, in connection with other experiments, it is preferable that the polymerizable monomer having at least one ethylenically unsaturated group has a molecular weight of 408 or less, and that the number of ethylenically unsaturated groups is two or more, It can be understood that the number is preferably 4 or less, and it is preferable that the monomer contains a hydroxyl group as in No. 1. The above molecular weight is considered to be due to the fact that the lower the molecular weight of the monomer, the easier it is to move by diffusion. [Example 34]
  • binder binder solutions (A-2) to (A-4) were produced as follows.
  • Each of the obtained resin composition (R) solutions V-5, V-6, and V-7 was spin-coated on a glass substrate at 1300 rpm for 10 seconds to form a film. Heat on a plate at 90 ° C for 4 minutes.
  • Table 26 shows the uneven steps obtained from each resin composition (R) solution, and the number of parts by weight of the vinyl monomer having a hydroxyl group per 100 parts by weight of the binder polymer used for each. As is evident from Table 26, the acquisition step increased as the number of parts by weight of the hydroxyl group-containing vinyl monomer in the binder polymer increased.
  • Example 21 Same as Example 21 except that the resin composition solution (V-5) obtained in Example 34 above was used. Thus, a photosensitive element was produced.
  • Example 21 Using the obtained photosensitive element, it was laminated on a substrate in the same manner as in Example 21 to produce a surface irregular shape.
  • the obtained glass substrate was evaluated as a diffuse reflection plate for a liquid crystal display device. As a result, the substrate maintained an uneven surface having excellent diffuse reflection characteristics, and the diffuse reflection characteristics as designed were obtained.
  • the disclosure of the present application is disclosed in Japanese Patent Application No. 2002-165052 filed on June 6, 2002, Japanese Patent Application No. 2002-190508 filed on June 28, 2002, and filed on June 28, 2002 Japanese Patent Application No. 2002-190509, Japanese Patent Application No. 2002-190510 filed on June 28, 2002, Japanese Patent Application No. 2002-190511, filed June 28, 2002, on June 28, 2002 Japanese Patent Application No. 2002-190512, Japanese Patent Application No. 2002-190513 filed on June 28, 2002, Japanese Patent Application No. 2002-190514, filed June 28, 2002, June 28, 2002 Japanese Patent Application No.

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Abstract

感エネルギー性ネガ型樹脂組成物を用いた表面凹凸形成方法であって、(A)少なくとも1種類の(b)重合可能な化合物を含有する感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜を形成する工程;(B)前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜に画像状に活性エネルギー線を照射する工程;および(C)前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜を、エッチング操作を行うことなく加熱する工程;を含む、前記画像に従った表面凹凸を形成する表面凹凸形成方法を開示する。この方法によれば、簡便にかつ安価に、任意の画像に従った表面凹凸形状を形成することができる。さらに、この方法に使用する感エネルギー性ネガ型樹脂組成物、ならびに、この方法を用いた転写原型、転写原型を形成する転写原型、転写ベースフィルム、転写フィルム、光学フィルム、拡散反射板およびその製造方法を開示する。

Description

明 細 書 表面凹凸形成方法およびその利用 技術分野
本発明は、 感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜を使用する表面凹凸形成方法と その利用に関する。 関連技術
樹脂表面に凹凸形状を形成する場合、 従来は、 パターン形成されたマスクを介 して感光性樹脂層に紫外線を照射し、 樹脂層の露光部分または未露光部分を現像 液で除去する方法が用いられてきた。
しかし、従来の方法では、所望の凹凸形状を得るために、感光性樹脂層の膜厚、 感光性樹脂の受光感度、 マスクの開口比、 露光量、 現像液濃度、 現像液温度ある いは現像時間の調整が必要であるため、 製造プロセス上の変動因子が多く、 同一 の条件で同一の凹凸形状を得ることは困難であり、 比較的高価でもある。 また、 多段階のプロセスを経るために、 基板や反射膜と樹脂層の界面で剥離が生じやす いという問題もあった。
一方で、 パターン形成されたマスクを用いなくてもよいという利点を備え、 光 /熱硬化性樹脂層の内部応力、 伸縮性を制御して凹凸を形成する方法が、 特開 2
0 0 0 - 1 7 1 7 9 2号公報、 特開 2 0 0 1— 1 7 4 8 0 3号公報、 特開 2 0 0
1 - 3 0 5 5 3 0号公報に開示されている。
しかし、 これらの先行技術では、 任意の画像に従った表面凹凸を形成すること ができず、 凹凸形状により得られる光学特性も、 印刷用版、 配向制御、 マイクロ カプセル制御への用途の制御性に欠けるものである。 発明の開示 本発明は、 簡便かつ安価に任意の画像に従った樹脂表面凹凸形状を形成できる 方法を提供することを目的とする。
別の本発明は、 この表面凹凸形成方法に使用される樹脂組成物、 同方法を用い た転写原型、転写原型を形成する転写原型、転写ベースフィルム、転写フィルム、 光学フィルム、 拡散反射板およびその製造方法を提供することを目的とする。 本発明の第 1の側面によれば、 感エネルギー性ネガ型樹脂組成物を用いた表面 凹凸形成方法であって、
(A) 少なくとも 1種類の (b ) 重合可能な化合物を含有する感エネルギー性 ネガ型樹脂組成物膜を形成する工程;
(B ) 前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜に画像状に活性エネルギー線を 照射する工程;および
(C) 前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜を、 エッチング操作を行うこと なく加熱する工程;
を含む、 前記画像に従った表面凹凸を形成する表面凹凸形成方法が提供される。 本発明の第 2の側面によれば、 感エネルギー性ネガ型樹脂組成物を用いた表面 凹凸形成方法であって、
(K) 少なくとも 1種類の (b ) 重合可能な化合物を含有する感エネルギー性 ネガ型樹脂組成物膜を形成する工程;
(L ) 前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜に、 所定の遮光パターンが形成 されたマスクを介して、 または所定の遮光部が形成されるように直接に、 活性ェ ネルギ一線を照射する工程;
(M) 前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜に画像状に活性エネルギー線を 照射する工程;
(N) 前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜の前記工程 (L ) の遮光された 箇所をエッチングする工程;および
(〇) 前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜を加熱する工程;
を含む、 前記画像に従った表面凹凸を形成する表面凹凸形成方法が提供される。 本発明の第 3の側面によれば、 活性エネルギー線を画像状に照射した後、 エツ チング操作を行うことなく加熱することにより表面に凹凸を形成するために用い られる組成物であって、 (a ) バインダポリマー、 1種類以上の (b ) 重合可能な 化合物、 および、 ( c )光重合開始剤、 を含む感エネルギー性ネガ型樹脂組成物が 提供される。
本発明の第 4の側面によれば、 上記表面凹凸形成方法を用いて形成された光学 フィルムが提供される。
本発明の第 5の側面によれば、 上記光学フィルムと、 この光学フィルムの表面 に設けられた反射膜とを含む拡散反射板が提供される。
本発明の第 6の側面によれば、 基板と表面凹凸形状を備えた薄膜層と反射膜と がこの順に積層されてなる拡散反射板であって、 薄膜層が 1種類以上の (a ) 重 合可能な化合物、 (b ) バインダポリマー、 および(c ) 光重合開始剤を含む組成 物を用いて形成されたものである拡散反射板が提供される。
本発明の第 7の側面によれば、 上記表面凹凸形成方法を用いて作製された表面 凹凸面を有する第 1の転写原型が提供される。
本発明の第 8の側面によれば、 上記第 1の転写原型の表面凹凸面を型として得 られた第 2の転写原型が提供される。
本発明の第 9の側面によれば、 ベースフィルムとこのベースフィルム上に形成 された下塗り層 (下塗り層からなる被転写層) とを含む転写ベースフィルムであ つて、 下塗り層が、 上記第 1または第 2の転写原型の表面凹凸形状の転写による 表面凹凸形状を有するものである転写べ一スフイルムが提供される。
本発明の第 1 0の側面によれば、 仮支持体とこの仮支持体上に形成された薄膜 層とを有する転写フィルムであつて、 仮支持体が上記転写ベースフィルムであつ て、 転写ベースフィルムの下塗り層表面に薄膜層が積層されており、 この薄膜層 の下塗り層側とは反対側の表面が被転写基板への直接の接着面を構成する転写フ イルムが提供される。
本発明の第 1 1の側面によれば、 下記の工程:上記転写フィルムを、 被転写基 板上に、 転写フィルムの薄膜層が被転写基板の表面に密着するように積層するェ 程;転写フィルムの転写ベースフィルムを剥がす工程;および転写された薄膜層 の表面に反射膜を形成する工程、 を含む拡散反射板の製造方法が提供される。 本発明の第 1 2の側面によれば、 上記転写フィルムにおいて仮支持体と薄膜層 の間にさらに反射膜を含む転写フィルム、 および、 この転写フィルムを用いた拡 散反射板の製造方法であって、 転写フィルムを、 被転写基板上に、 転写フィルム の薄膜層が被転写基板の表面に密着するように積層する工程;および転写フィル ムの転写ベースフィルムを剥がす工程、 を含む拡散反射板の製造方法が提供され る。
本発明の第 1 3の側面によれば、 下記の工程:上記転写ベースフィルムを、 薄 膜層付き基板の薄膜層の表面に、 転写ベースフィルムの下塗り層側が面するよう に押し当てて、 薄膜層の表面に下塗り層の表面凹凸形状を転写する工程;転写べ 一スフイルムを剥がす工程;および薄膜層の表面に反射膜を形成する工程、 を含 む拡散反射板の製造方法が提供される。
本発明の第 1 4の側面によれば、 上記いずれかの拡散反射板の製造方法により 得られた拡散反射板が提供される。
本発明の第 1 5の側面によれば、 上記転写ベースフィルムの下塗り層の表面に 反射膜を設けた拡散反射板が提供される。
本発明の第 1 6の側面によれば、 反射型液晶ディスプレイに用いられる、 上記 いずれかの拡散反射板、 および、 この拡散反射板を有する反射型液晶ディスプレ ィが提供される。 図面の簡単な説明
図 1 ( a ) 〜 (d ) は、 表面凹凸形成方法の一工程例を模式的に示す断面図で ある。
図 2は、 レーザー顕微鏡観察により得られた、 表面凹凸形状の凹凸段差の一例 (実施例 1および実施例 2 7 ) を示すグラフ図である。 図 3 (a) 〜 (f) は、 表面凹凸形成方法の別の一工程例を模式的に示す断面 図である。
図 4 (a) 〜 (f) は、 表面凹凸形成方法の別の一工程例を模式的に示す断面 図である。
図 5 (a) 〜 (f) は、 表面凹凸形成方法の別の一工程例を模式的に示す断面 図である。
図 6は、 転写フィルムの一例を模式的に示す断面図である。
図 7 (a) 〜 (e) は、 拡散反射板の製造方法の一例を模式的に示す断面図で ある。
図 8は、 拡散反射板の一例を模式的に示す断面図である。
図 9は、 反射型液晶ディスプレイの一例を模式的に示す断面図である。
図 10は、 実施例 1で得られた表面凹凸サンプル (S 6) の表面凹凸形状の顕 微鏡写真である。
図 1 1は、 実施例 3で得られた拡散反射板の反射光量の入射角依存性を示すグ ラフである。
図 12は、 レーザー顕微鏡観察により得られた、 実施例 5の表面凹部の断面プ 口ファイルを示すグラフである。
図 13は、 レーザー顕微鏡観察により得られた、 実施例 6の表面凸部の断面プ 口ファイルを示すグラフである。
図 14は、実施例 16で得られた転写原型の表面凹凸形状の顕微鏡写真である。 図 15は、 実施例 16で得られた拡散反射板の反射光量の入射角依存性を示す グラフである。
図 16 (a) 〜 (e) は、 実施例 27で実施した工程を模式的に示す断面図で ある。
図 17は、 実施例 27で得られた表面凹凸フィルムの表面凹凸形状の顕微鏡写 真である。
図 18は、 実施例 27で得られた拡散反射板の反射光量の入射角依存性を示す グラフである。
図 1 9は、 実施例 2 9のサンカレ No. 4の凹凸段差 (前加熱後) を示すグラフ である。
図 2 0は、 実施例 2 9のサンプル No. 4の凹凸段差 (後加熱後) を示すグラフ である。
図 2 1は、 実施例 3 0のサンプル No. 3の凹凸段差 (後加熱後) を示すグラフ である。 発明の実施の形態
本発明に係る表面凹凸形成方法は、 感エネルギー性ネガ型樹脂組成物 (以下、 「樹脂組成物 (R)」 という。) を用いるものであり、 感エネルギ一性ネガ型樹脂 組成物膜 (以下、 「樹脂組成物 (R) 膜」 という。) を形成する工程 (A) と、 樹 脂組成物(R)膜に対し画像状に(像的に)活性エネルギ一線を照射する工程(B ) と、 樹脂組成物 (R) 膜を加熱する工程 (C) とを含んでいる。 活性エネルギー 線の照射と加熱により、 照射部の樹脂組成物 (R) 膜の膜厚が非照射部の膜厚よ りも厚くなる。 その結果、 照射される活性エネルギー線の画像 (あるいはパター ン) に従った表面凹凸が形成される。 本発明において、 活性光線は活性エネルギ —線の一例である。
上記の表面凹凸形成方法において、 活性エネルギー線の照射は、 少なくとも 1 回行われるものであり、 2回以上の複数回行われる場合も含まれる。 活性エネル ギ一線の照射は、たとえば、画像状にパターン形成されたマスクを介して行われ、 その場合は、 マスクのパ夕一ンに従った表面凹凸が形成される。 あるいは、 マス クを用いずに、 パターンの直接描画により行われ、 この場合は、 直接描画された パターンに従った表面凹凸が形成される。 これらのパターンは、 規則的であって も、 不規則的であってもよい。 上記加熱工程は、 活性エネルギー線照射後のエツ チング操作を行うことなく実施される。
得られた表面凹凸は、 たとえば以下のような多様な用途を有している。 ( 1 ) この表面凹凸を有する光学フィルムを作製する。
( 2 ) この表面凹凸を有する転写原型を作製する。
( 3 ) さらにその転写原型を用いて作製した表面凹凸面を有する転写原型を作製 する。
( 4 ) 上記転写原型の表面凹凸面を、 ベースフィルム上に形成した下塗り層から なる被転写層に押当てることで、 表面凹凸形状が転写された転写べ一スフイルム を作製する。
( 5 ) この転写ベースフィルムを仮支持体として用い、 仮支持体の下塗り層 (す なわち、 転写原型が転写さ た面) に薄膜層を形成し、 薄膜層の仮支持体側と反 対側の面が被転写基板への直接の接着面 (すなわち被転写基板との接触面) を構 成する転写フィルムを作製する。
( 6 ) 拡散反射下地層としてこの表面凹凸を有する拡散反射板を作製する。 その 作製方法としては、 たとえば、 上記光学フィルムを用いる方法、 上記転写フィル ムを用いる方法、 上記転写ベースフィルムを用いる方法、 が挙げられる。 樹脂組成物 (R) (樹脂組成物 (R) 膜) は、 少なくとも 1種類の重合可能な化 合物 (b ) を含んでいる。 ここで、 重合可能な化合物は、 重合可能なモノマーお よび Zまたは重合可能なオリゴマーである。 好ましくは、 この重合可能な化合物 は、 分子内に少なくとも 1個の不飽和結合を有する化合物であり、 たとえば、 分 子内に少なくとも 1個のエチレン性不飽和基を有する化合物である。 さらに好ま しくは、樹脂組成物(R)膜は、 1種類以上の重合可能な化合物(b ) に加えて、 バインダポリマー (a ) と光重合開始剤 (c ) を含んでいる。 この光重合開始剤 は、 活性エネルギー線の照射により遊離ラジカルを生成する重合開始剤である。 なお、 本発明において、 バインダボリマ一とバインダ樹脂は同義である。 上記パインダポリマー (a ) としては、 フィルム付与性を有するものであれば 特に限定はされないが。 ビニル共重合体を好ましく用いることができる。 ビニル 共重合体に用いられるビニルモノマーとしては、 たとえば、 アクリル酸、 メ夕ク リル酸、 マレイン酸、 フマル酸、 ィタコン酸、 アクリル酸メチル、 メタクリル酸 メチル、 アクリル酸ェチル、 メタクリル酸ェチル、 アクリル酸 n-プロピル、 メタ クリル酸 n-プロピル、 アクリル酸 iso-プロピル、 メタクリル酸 i so-プロピル、 アクリル酸 n-プチル、 メ夕クリル酸 n -プチル、 アクリル酸 iso -プチル、 メタァ クリル酸 iso-ブチル、 アクリル酸 sec-ブチル、 メ夕クリル酸 sec-ブチル、 ァク リル酸 ter t-プチル、 メタクリル酸 tert -プチル、 アクリル酸ペンチル、 メタクリ ル酸ペンチル、 アクリル酸へキシル、 メタクリル酸へキシル、 アクリル酸へプチ ル、 メ夕クリル酸へプチル、 アクリル酸 2 -ェチルへキシル、 メ夕クリル酸 2 -ェ チルへキシル、アクリル酸ォクチル、メタクリル酸ォクチル、アクリル酸ノエル、 メタクリル酸ノニル、 アクリル酸デシル、 メタクリル酸デシル、 アクリル酸ドデ シル、 メタクリル酸ドデシル、 アクリル酸テトラデシル、 メタクリル酸テトラデ シル、 アクリル酸へキサデシル、 メタクリル酸へキサデシル、 アクリル酸ォクタ デシル、 メタクリル酸ォク夕デシル、 アクリル酸エイコシル、 メタクリル酸エイ コシル、 アクリル酸ドコシル、 メ夕クリル酸ドコシル、 アクリル酸シクロペンチ ル、 メタクリル酸シクロペンチル、 アクリル酸シクロへキシル、 メ夕クリル酸シ クロへキシル、 アクリル酸シクロへプチル、 メ夕クリル酸シクロへプチル、 ァク リル酸ベンジル、 メタクリル酸ベンジル、 アクリル酸フエニル、 メタクリル酸フ ェニル、 アクリル酸メトキシェチル、 メタクリル酸メトキシェチル、 アクリル酸 メトキシジエチレングリコール、 メタクリル酸メトキシジエチレングリコール、 アクリル酸メトキシジプロピレングリコ一ル、 メタクリル酸メトキシジプロピレ ングリコール、 アクリル酸メトキシトリエチレングリコール、 メタクリル酸メト キシトリエチレングリコール、 アクリル酸 2 -ヒドロキシェチル、 メ夕クリル酸 2 -ヒドロキシェチル、 アクリル酸ジメチルアミノエチル、 メタクリル酸ジメチルァ ミノェチル、 アクリル酸ジェチルアミノエチル、 メタクリル酸ジェチルアミノエ チル、 アクリル酸ジメチルァミノプロピル、 メ夕クリル酸ジメチルァミノプロピ ル、 アクリル酸 2 -クロロェチル、 メ夕クリル酸 2 -クロロェチル、 アクリル酸 2 - フルォロェチル、メ夕クリル酸 2 -フルォロェチル、ァクリル酸 2 -シァノエチル、 メタクリル酸 2 -シァノエチル、スチレン、 ひ-メチルスチレン、 ビニルトルエン、 塩化ビニル、 酢酸ビニル、 N-ビニルピロリドン、 ブタジエン、 イソプレン、 クロ 口プレン、 アクリルアミド、 メタクリルアミド、 アクリロニトリル、 メタクリロ 二トリルが挙げられる。 これらは単独で、 または 2種類以上を組み合わせて使用 される。
バインダポリマー (a ) として、 水酸基を有するビニル共重合体を用いること がさらに好ましい。 この場合、 前記ビニル共重合体 1 0 0重量部のうちの 2 0〜 5 0重量部にあたる、 さらに好ましくは 3 0〜4 0重量部にあたる単量体が、 分 子中に少なくとも 1個の水酸基を有するビニル単量体 (m_ l ) であることが、 良好な表面凹凸形状を得る観点から好ましい。
そのようなビニル単量体 (m— 1 ) としては、 たとえば、 アクリル酸 1—ブト キシー 2—ヒドロキシプロピル、 メ夕クリル酸 1—ブトキシー 2—ヒドロキシプ 口ピル、 アクリル酸 3—クロ口一 2—ヒドロキシプロピル、 メタクリル酸 3—ク ロロ一 2—ヒドロキシプロピル、 アクリル酸グリセロール、 メタクリル酸グリセ ロール、ァクリル酸 2—ヒドロキシェチル、メタクリル酸 2—ヒドロキシェチル、 アクリル酸 2—ヒドロキシプロピル、 メ夕クリル酸 2—ヒドロキシプロピル、 ァ クリル酸 1—フエノキシ一 2—ヒドロキシプロピル、 メタクリル酸 1一フエノキ シー 2—ヒドロキシプロピル力挙げられる。 これらを単独で、 または 2種類以上 を組み合わせて使用することができる。
上記バインダボリマ一 (a ) を構成する残りの 5 0〜8 0重量部にあたるビニ ル単量体 (m- 2 ) としては、 特に限定はされず、 たとえば、 アクリル酸、 メタ クリル酸、 マレイン酸、 フマル酸、 ィタコン酸、 アクリル酸メチル、 メタクリル 酸メチル、 アクリル酸ェチル、 メ夕クリル酸ェチル、 アクリル酸 n -プロピル、 メ 夕クリル酸 n -プロピル、ァクリル酸 iso-プロピル、メタクリル酸 i so-プロピル、 アクリル酸 n _プチル、 メ夕クリル酸 n-プチル、 アクリル酸 i so-プチル、 メタァ クリル酸 i so-ブチル、 ァクリル酸 sec-ブチル、 メタクリル酸 sec -プチル、 ァク リル酸 ter t -プチル、 メタクリル酸 ter t -プチル、 アクリル酸ペンチル、 メタクリ ル酸ペンチル、 アクリル酸へキシル、 メタクリル酸へキシル、 アクリル酸へプチ ル、 メタクリル酸へプチル、 アクリル酸 2 -ェチルへキシル、 メ夕クリル酸 2 -ェ チルへキシル、アクリル酸ォクチル、メタクリル酸ォクチル、アクリル酸ノエル、 メタクリル酸ノエル、 アクリル酸デシル、 メタクリル酸デシル、 アクリル酸ドデ シル、 メタクリル酸ドデシル、 アクリル酸テ卜ラデシル、 メ夕クリル酸テトラデ シル、 アクリル酸へキサデシル、 メタクリル酸へキサデシル、 アクリル酸ォクタ デシル、 メタクリル酸ォクタデシル、 アクリル酸エイコシル、 メタクリル酸エイ コシル、 アクリル酸ドコシル、 メタクリル酸ドコシル、 アクリル酸シクロペンチ ル、 メタクリル酸シクロペンチル、 アクリル酸シクロへキシル、 メタクリル酸シ クロへキシル、 アクリル酸シクロへプチル、 メタクリル酸シクロへプチル、 ァク リル酸ベンジル、 メタクリル酸ベンジル、 アクリル酸フエニル、 メタクリル酸フ ェニル、 アクリル酸メトキシェチル、 メ夕クリル酸メトキシェチル、 アクリル酸 ジメチルアミノエチル、 メタクリル酸ジメチルアミノエチル、 アクリル酸ジェチ ルアミノエチル、 メ夕クリル酸ジェチルアミノエチル、 アクリル酸ジメチルアミ ノプロピル、メタクリル酸ジメチルァミノプロピル、アクリル酸 2 -クロ口ェチル、 メタクリル酸 2 -クロロェチル、アクリル酸 2 -フルォロェチル、 メタクリル酸 2 - フルォロェチル、 アクリル酸 2 -シァノエチル、 メ夕クリル酸 2 -シァノエチル、 スチレン、 -メチルスチレン、 ビニルトルエン、 塩化ビニル、 酢酸ビニル、 N - ビニルピロリドン、 ブタジエン、 イソプレン、 クロ口プレン、 アクリルアミド、 メ夕クリルアミド、 アクリロニトリル、 メタクリロニトリルが挙げられる。 これ らは単独で、 または 2種類以上を組み合わせて使用される。
バインダボリマ一(a ) としては、 たとえば、 力ルポキシル基、 カルボニル基、 水酸基、 アミノ基、 アミド基、 イソシァネート基、 ォキシラン環、 ォキセタン環 および酸無水物等から選ばれた少なくとも 1個の官能基を有するビニル共重合体 ( a— 1 ) に、 カルボキシル基、 カルボ二ル基、 水酸基、 アミノ基、 アミド基、 ト基、 ォキシラン環、 ォキセタン環および酸無水物等から選ばれた 少なくとも 1個の官能基と少なくとも 1個のエチレン性不飽和基とを有する化合 物 (m— 3) を付加または縮合反応させて得られる、 側鎖にエチレン系不飽和基 を有するラジカル重合性ビニル共重合体 (a— 2) を使用することもできる。 上記の力ルポキシル基、 カルポニル基、 水酸基、 アミノ基、 アミド基、 イソシ ァネ一ト基、 ォキシラン環、 ォキセタン環および酸無水物等から選ばれた少なく とも 1個の官能基と少なくとも 1個のエチレン性不飽和基とを有する化合物 (m 一 3) としては、 たとえば、 アクリル酸、 メタクリル酸、 マレイン酸、 フマル酸、 ィタコン酸、 ケィ皮酸、 アクリル酸 2—ヒドロキシェチル、 メタクリル酸 2—ヒ ドロキシェチル、 アクリルアミド、 メタクリルアミド、 イソシアン酸ェチルメタ クリレート、 グリシジルァクリレート、 グリシジルメタクリレ一ト、 無水マレイ ン酸等が挙げられる。 これらは単独で、 または 2種以上を組み合わせて使用され る。
また、 上記のビニル共重合体 (a— 1) の製造に用いられる必須のビニル単量 体 (m— 4) としては、 たとえば、 アクリル酸、 メタクリル酸、 マレイン酸、 フ マル酸、 ィタコン酸、 ケィ皮酸、 アクリル酸 2—ヒドロキシェチル、 メタクリル 酸 2—ヒドロキシェチル、 アクリルアミド、 メタクリルアミド、 イソシアン酸ェ チルメタクリレート、 グリシジルァクリレート、 グリシジルメ夕クリレート、 無 水マレイン酸等が挙げられる。 これらは単独で、 または 2種以上を組み合わせて 使用される。
上記ビエル共重合体( a— 1 )の製造には、必要に応じ、上記ビエル単量体(m -4) 以外の、 これらの官能基を有さない任意の 1種以上のビニル単量体 (たと えば、 上記のビニル単量体 (m— 1, m— 2) として列記された、 これらの官能 基を有さないエステル等) を上記ビニル単量体 (m— 4) に共重合させることが できる。
上記側鎖にェチレン性不飽和基を有するラジカル重合性ビニル共重合体 ( a― 2) のエチレン性不飽和基の濃度は、 1. 0X 10— 4〜6. 0X 10— 3モル Zg であることが好ましく、 2. 0X 10— 4~5. 0 X 10_3モル Zgであることが P 漏 3/07222
12 より好ましく、 3 X 10— 4〜4. 0 X 10—3モル であることが特に好ましい。 このエチレン性不飽和基濃度が 1. 0X 1 0— 4モル _ g未満では、 十分な硬化性 が得られないために液晶表示装置とした場合の耐熱性、 耐湿性等が低下する傾向 があり、 6. 0 X 10— 3モル/ gを超えると、 側鎖にエチレン性不飽和基を有す るラジカル重合性共重合体を製造する際にゲル化を起こす傾向がある。
以上のようなバインダポリマー (a) の重量平均分子量 (ゲルパーミエーショ ンクロマトグラフィーで測定し、 標準ポリスチレン換算した値) は、 耐熱性、 耐 湿性、 塗布性および溶媒への溶解性等の点から、 1, 000〜 300, 000で あることが好ましく、 5, 000〜 150, 000であることがより好ましい。 さらに、 コンタクトホール等を形成する場合など、 上述の現像により樹脂組成 物 (R) 層を選択的に除去してパターンを形成する場合に公知の各種現像液によ り現像可能となるように、 バインダボリマ一 (a) の酸価を規定することができ る。
たとえば、 炭酸ナトリウム、 炭酸カリウム、 水酸化テトラメチルアンモニゥム 等のアルカリ水溶液を用いて現像する場合には、 酸価は、 現像容易性の観点から 50mgKOH/g以上であることが好ましく、 耐現像液性 (現像により除去さ れずに残ってパターンとなる部分が現像液によって侵されない性質) の観点から 26 OmgKOHZg以下であることが好ましい。
1種以上の界面活性剤を含むアル力リ水溶液、 または水を用いて現像する場合 の酸価は、 上記と同様の理由から 16〜26 OmgKOHZgであることが好ま しい。
バインダポリマー (a) として、 この他に、 フエノキシ樹脂、 ポリビニルホル マール樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリビニルプチラール樹脂、ポリエステル樹脂、 ポリアミド樹脂、 ポリイミド樹脂、 キシレン樹脂、 ポリウレタン樹脂等が挙げら れる。 これらの 1種以上を上記 1種以上のビニル共重合体と併用してもよい。 次に、 分子内に少なくとも 1個のエチレン性不飽和基を有する重合可能な化合 JP03/07222
13 物 (モノマーおよび zまたはオリゴマー) としては、 光重合性多官能モノマーと して従来より公知のモノマーおよびそのオリゴマーを全て用いることができる。 これらのラジカル重合性化合物は、 単独で、 または 2種類以上を組み合わせて使 用され、 これらのモノマ一とオリゴマーを混合して使用してもよい。 この他に、 ラジカルにより重合する官能基を有する化合物として、 マレイミド樹脂、 シトラ コンイミド樹脂、 ナジイミド樹脂などがあり、 これらも単独で、 あるいは 2種類 以上を混合して使用することができる。
具体的には、分子内に 1個の不飽和結合を有するモノマ一としては、たとえば、 アクリル酸またはメタクリル酸のエステル系モノマ一 (アクリル酸メチル、 メタ クリル酸メチル、 アクリル酸ェチル、 メ夕クリル酸ェチル、 アクリル酸 n -プロピ ル、 メ夕クリル酸 n -プロピル、 アクリル酸 i so-プロピル、 メタクリル酸 i so-プ 口ピル、ァクリル酸 n-ブチル、メタクリル酸 n-ブチル、ァクリル酸 i so -プチル、 メ夕クリル酸 i so-ブチル、 アクリル酸 sec-ブチル、 メタクリル酸 sec-ブチル、 アクリル酸 ter t -プチル、 メタクリル酸 ter t -ブチル、 アクリル酸ペンチル、 メタ クリル酸ペンチル、 アクリル酸へキシル、 メタクリル酸へキシル、 アクリル酸へ プチル、 メタクリル酸へプチル、 アクリル酸 2 -ェチルへキシル、 メタクリル酸 2 -ェチルへキシル、 アクリル酸ォクチル、 メ夕クリル酸ォクチル、 アクリル酸ノニ ル、 メタクリル酸ノエル、 アクリル酸デシル、 メタクリル酸デシル、 アクリル酸 ドデシル、 メタクリル酸ドデシル、 アクリル酸テトラデシル、 メ夕クリル酸テト ラデシル、 アクリル酸へキサデシル、 メ夕クリル酸へキサデシル、 アクリル酸ォ クタデシル、 メタクリル酸ォクタデシル、 アクリル酸エイコシル、 メ夕クリル酸 エイコシル、 アクリル酸ドコシル、 メタクリル酸ドコシル、 アクリル酸シクロべ ンチル、 メ夕クリル酸シクロペンチル、 アクリル酸シクロへキシル、 メタクリル 酸シクロへキシル、 アクリル酸シクロへプチル、 メ夕クリル酸シクロへプチル、 アクリル酸ベンジル、 メタクリル酸ベンジル、 アクリル酸フエニル、 メタクリル 酸フエニル、 アクリル酸メトキシェチル、 メタクリル酸メトキシェチル、 ァクリ ル酸ジメチルアミノエチル、 メタクリル酸ジメチルアミノエチル、 アクリル酸ジ 7222
14 メチルァミノプロピル、 メ夕クリル酸ジメチルァミノプロピル、 アクリル酸 2 - クロロェチル、 メタクリル酸 2 -クロロェチル、 アクリル酸 2 -フルォロェチル、 メタクリル酸 2 -フルォロェチル、アクリル酸 2 -シァノエチル、 メ夕クリル酸 2 - シァノエチル、 アクリル酸メトキシジエチレングリコール、 メタクリル酸メトキ シジエチレングリコール、 アクリル酸メトキシジプロピレングリコール、 メタク リル酸メトキシジプロピレングリコ一ル、 アクリル酸メトキシトリエチレンダリ コール、 メタクリル酸メトキシトリエチレンダリコール等)、スチレン系モノマー (スチレン、 ひ-メチルスチレン、 p - t -プチルスチレン等)、 ポリオレフイン系 モノマ一 (ブタジエン、 イソプレン、 クロ口プレン等)、 ビニル系モノマー (塩化 ビニル、 酢酸ビニル等)、 二トリル系モノマ一 (アクリロニトリル、 メ夕クリロ二 トリル等)、 1 - (メタクリロイロキシエトキシカルポニル) - 2 - ( 3 ' -クロ口- 2 ' -ヒドロキシプロポキシカルボニル) ベンゼンが挙げられる。
分子内に 2個の不飽和結合を有するモノマ一としては、 たとえば、 エチレング リコールジァクリレート、 エチレングリコールジメタクリレート、 ジエチレング リコールジァクリレート、 ジエチレングリコールジメタクリレート、 トリエチレ ングリコールジァクリレート、 トリエチレングリコ一ルジメ夕クリレート、 テト ラエチレングリコールジァクリレート、 テトラエチレングリコ一ルジメタクリレ ート、 ポリエチレングリコールジァクリレート、 ポリエチレングリコールジメタ クリレート、 へキサプロピレングリコ一ルジァクリレート、 へキサプロピレング リコ一ルジメタクリレート、 ポリプロピレングリコールジァクリレ一ト、 ポリプ ロピレングリコ一ルジメタクリレート、 ブチレングリコールジァクリレート、 ブ チレングリコールジメタクリレート、 ネオペンチルグリコールジァクリレート、 ネオペンチルグリコ一ルジメ夕クリレート、 1 , 3 -ブタンジオールジァクリレー ト、 1 , 3 -ブタンジォ一ルジメタクリレ一ト、 1, 4 -ブタンジオールジァクリ レート、 1 , 4 -ブタンジオールジメタクリレート、 1 , 5 -ペンタンジオールジ ァクリレート、 1, 5 -ペン夕ンジオールジメタクリレート、 1, 6 -へキサンジ オールジァクリレート、 1, 6 -へキサンジオールジメタクリレート、 ペン夕エリ スリトールジァクリレート、 ペン夕エリスリトールジメ夕クリレート、 トリメチ ロールプロパンジァクリレート、 トリメチロールプロパンジメタクリレー卜、 ビ スフエノール Aジァクリレート、 ビスフエノール Aジメタクリレート、 2, 2 - ビス (4 -ァクリロキシエトキシフエニル) プロパン、 2, 2 -ビス (4-メタクリ ロキシエトキシフエニル) プロパン、 2, 2 -ビス (4 -ァクリロキシジエトキシ フエニル) プロパン、 2, 2 -ビス (4 -メタクリロキシジエトキシフエニル) プ 口パン、 2 , 2 -ビス (4 -ァクリロキシポリエトキシフエニル) プロパン、 2 , 2 -ビス (4 -メタクリロキシポリエトキシフエニル) プロパン、 ビスフエノール Aジグリシジルエーテルジァクリレ一ト、 ビスフエノール Aジグリシジルエーテ ルジメタクリレート、 ウレタンジァクリレート化合物が挙げられる。
分子内に 3個の不飽和結合を有するモノマーとしては、 たとえば、 トリメチロ ールプロパントリァクリレート、 トリメチロールプロパントリメタクリレート、 ペン夕エリスリ 1 ^一ルトリアクリレート、 ペン夕エリスリトールトリメタクリレ —ト、 エチレンォキシド変性トリメチロールプロパントリアクリレ一ト、 ェチレ ンォキシド変性トリメチ口一ルプロパントリメ夕クリレート、 トリメチロールプ 口パントリダリシジルエーテルトリァクリレート、 トリメチロールプロパントリ ダリシジルエーテル卜リメタクリレー卜が挙げられる。
分子内に 4個の不飽和結合を有するモノマ一としては、 たとえば、 テトラメチ 口一ルプロパンテトラァクリレート、 テトラメチロールプロパンテトラメタクリ レート、 ペン夕エリスリ 1 ^一ルテトラァクリレート、 ペン夕エリスリ 1 ^一ルテト ラメタクリレートが挙げられる。
分子内に 5個の不飽和結合を有するモノマ一としては、 たとえば、 ジペンタエ リスリトールペン夕ァクリレート、 ジペン夕エリスリトールペンタメタクリレー 卜が挙げられる。
分子内に 6個の不飽和結合を有するモノマーとしては、 たとえば、 ジペンタエ リスリ 1 ルへキサァクリレート、 ジペン夕エリスリ トールへキサメタクリレー トが挙げられる。 これらの中で、 特に、 ペン夕エリスリトールジァクリレート、 ペン夕エリスリ トールジメ夕クリレート、 ペンタエリスリトールトリァクリレート、 ペン夕エリ スリトールトリメタクリレート、 ペンタエリスリ! ^一ルテトラァクリレート、 ぺ ン夕エリスリトールテトラメ夕クリレートなどのペン夕エリスリ 1 ルァクリレ ートを含むものが、 表面凹凸形成用として好ましい。 効果的に凹凸形状を形成で きること、 および基板と樹脂組成物 (R) との密着性向上の観点から、 テトラメ チロールメタントリァクリレート(ペン夕エリスリトールトリァクリレート)が、 きわめて好ましいものとして例示できる。 '
これらの不飽和結合を有するモノマーは、 いずれにしても、 活性エネルギー線 の照射によりラジカル重合するものであればよい。 1個以上の不飽和結合を有す るこれらのモノマーは、 単独でまたは 2種類以上を組み合わせて使用される。 好ましい実施形態において、 この成分 (b ) として、 表面凹凸形状を有効に形 成できる観点から、 少なくとも 1個のエチレン性不飽和基を有し、 分子量が 1 0 0〜1 0 0 0 0である光重合性不飽和化合物を用いることができる。
凹凸形状を有効に形成させる観点から、 分子量が 1 0 0〜1 0 0 0 0であるこ とが好ましく、 1 1 0〜8 0 0 0であることがより好ましく、 1 2 0〜6 0 0 0 であることが特に好ましく、 1 3 0〜5 0 0 0であることが極めて好ましい。 分 子量が 1 0 0未満である場合には、 基板上に樹脂組成物 (R) 層を形成する場合 に、 乾燥時の加熱により成分 (b ) が揮発し、 組成の均一性が低下する傾向にあ り、 分子量が 1 0 0 0 0を超える場合には、 表面凹凸形状を有効に形成できない 傾向にある。
このような分子量が 1 0 0〜1 0 0 0 0である成分 (b ) の具体例としては、 たとえば、 多価アルコールに α, ]3—不飽和カルボン酸を反応させて得られる化 合物、 2, 2—ビス (4— (ジ (メタ) ァクリロキシポリエトキシ) フエニル) プロパン、 グリシジル基含有化合物にひ, /3—不飽和カルボン酸を反応させて得 られる化合物、 ウレタンモノマ一、 ノニルフエニルジォキシレン (メタ) ァクリ レート、 r—クロロー i3—ヒドロキシプロピル一 J3 '— (メタ) ァクリロイルォキ シェチル一 o—フタレート、 )3—ヒドロキシェチルー /3 '— (メタ) ァクリロイル ォキシェチルー o—フタレート、 ]3—ヒドロキシプロピル一 ) 3 _ (メタ) ァクリ ロイルォキシェチルー o—フタレート、 (メタ)アクリル酸アルキルエステルが挙 げられる。
上記多価アルコールにひ, /3—不飽和カルボン酸を反応させて得られる化合物 としては、 たとえば、 エチレン基の数が 2〜 1 4であるポリエチレングリコール ジ (メタ) ァクリレート、 プロピレン基の数が 2〜 1 4であるポリプロピレング リコールジ (メタ) ァクリレ一ト、 トリメチロールプロパンジ (メタ) ァクリレ —ト、 トリメチロールプロパントリ (メタ) ァクリレート、 トリメチロールプロ パンエトキシトリ (メタ) ァクリレート、 トリメチロールプロパンジェトキシ卜 リ (メタ) ァクリレート、 トリメチロールプロパントリエトキシトリ (メタ) ァ クリレー卜、 トリメチロールプロパンテトラエトキシトリ (メタ)ァクリレート、 トリメチロールプロパンペンタエトキシトリ (メタ) ァクリレ一ト、 テトラメチ ロールメタントリ (メタ) ァクリレート (ペン夕エリスリ 1 ルトリ (メタ) ァ クリレート)、 テトラメチロールメタンテトラ (メタ) ァクリレート、 プロピレン 基の数が 2〜 1 4であるポリプロピレングリコ一ルジ (メタ) ァクリレート、 ジ ペン夕エリスリ! ^一ルペン夕 (メタ) ァクリレート、 ジペン夕エリスリ! ルへ キサ (メタ) ァクリレートが挙げられる。
上記ひ, )3—不飽和カルボン酸としては、 たとえば、 (メタ) アクリル酸が挙げ られる。
上記 2, 2—ビス (4— (ジ (メタ) ァクリロキシポリエトキシ) フエニル) プロパンとしては、 たとえば、 2, 2—ビス (4— (ジ (メタ) ァクリロキシジ エトキシ) フエニル) プロパン、 2, 2—ビス (4— (ジ (メタ) ァクリロキシ トリエトキシ) フエニル) プロパン、 2, 2—ビス (4一 (ジ (メタ) ァクリロ キシペン夕エトキシ) フエニル) プロパン、 2 , 2—ビス (4— (ジ (メタ) ァ クリロキシデ力エトキシ) フエニル) が挙げられる。 上記グリシジル基含有化合物としては、 たとえば、 トリメチロールプロパント リグリシジルエーテルトリ (メタ) ァクリレート、 2, 2—ビス (4— (メタ) ァクリロキシ一 2—ヒドロキシープロピルォキシ) フェニルが拳げられる。 上記ウレタンモノマーとしては、 たとえば、 /3位に OH基を有する (メタ) ァ クリルモノマーとイソホロンジイソシァネート、 2 , 6—トルエンジイソシァネ —ト、 2 , 4—トルエンジイソシァネート、 1, 6—へキサメチレンジイソシァ ネート等との付加反応物、 トリス ((メタ) ァクリロキシテトラエチレングリコー ルイソシァネート) へキサメチレンイソシァヌレート、 エチレンォキシド変性ゥ レタンジ (メタ) ァクリレート、 エチレンォキシド, プロピレンォキシド変性ゥ レタンジ (メタ) ァクリレートが挙げられる。
上記 (メタ) アクリル酸アルキルエステルとしては、 たとえば、 (メタ) ァクリ ル酸メチルエステル、 (メタ) アクリル酸ェチルエステル、 (メタ) アクリル酸ブ チルエステル、 (メタ) アクリル酸 2—ェチルへキシルエステル力挙げられる。 好ましい一実施形態において、 効果的に凹凸形状を形成できること、 および基 板と樹脂組成物 (R) との密着性向上の観点からは、 成分 (b ) として分子量 4 0 8以下のものを用いることができる。
分子内に少なくとも 1個のエチレン性不飽和基を有する重合可能な化合物にお いて、 エチレン性不飽和基の数は特に制限されるものではないが、 効果的に凹凸 形状を形成できる観点から 2〜4個が好ましく、 3個がより好ましい。
さらに、 効果的に凹凸形状を形成できること、 および基板と樹脂組成物 (R) との密着性向上の観点からは、 成分 (b ) は、 水酸基、 カルポニル基、 カルポキ シル基、 アミド基およびァミノ基からなる群から選ばれた 1つ以上の官能基を有 する化合物であることが好ましい。 別の好ましい一実施形態において、 効果的に凹凸形状を形成できる点で、 成分 ( b ) は、 (b— 1 ) 1分子中に少なくとも 1個の水酸基と少なくとも 1個のェチ レン性不飽和基を有する光重合性不飽和化合物、 および、 (b— 2 ) 1分子中に少 なくとも 1個のエチレン性不飽和基を有し水酸基を含まない光重合性不飽和化合 物、 を含んでいる。
上記成分 (b— 1 ) の光重合性不飽和化合物としては、 たとえば、 1 - (メタク リロイロキシエトキシカルポニル) - 2 - ( 3 ' -クロ口- 2 ' -ヒドロキシプロポキシ 力ルポニル) ベンゼンペンタエリスリトールジァクリレート、 ペン夕エリスリト 一ルジメ夕クリレート、 卜リメチロールプロパンジァクリレート、 トリメチ口一 ルプロパンジメ夕クリレー卜、 ペン夕エリスリ 1 Jレトリァクリレート、 ペン夕 エリスリトールトリメタクリレート、 ビス (ァクリロキシェチル) ヒドロキシェ チルイソシァヌレート、 2, 2—ビス (4— ( 3—ァクリロキシ一 2—ヒドロキ シプロボキシ) フエニル) プロパン、 2 , 2—ビス (4— ( 1— ( 3—ァクリロ キシー 2—ヒドロキシプロボキシ) イソプロボキシ) フエニル) プロパン、 2 , 2—ビス (4— ( 3—メ夕クリロキシ一 2—ヒドロキシプロボキシ) フエニル) プロパン、 2, 2—ビス (4一 (1— ( 3—メタクリロキシー 2—ヒドロキシプ ロボキシ) イソプロポキシ) フエニル) プロパン、 1一ブトキシー 2—ヒドロキシ プロピルァクリレート、 1—ブトキシ一 2—ヒドロキシプロピルメタクリレート、 3—クロロー 2—ヒドロキシプロピルァクリレ一ト、 3—クロ口一 2—ヒドロキ シプロピルメタクリレート、 2 , 2 '—ビス (3—ァクリロキシー 2—ヒドロキシ プロボキシ) ジェチルエーテル、 2 , 2 '—ビス (3—メタクリロキシ— 2—ヒド ロキシプロボキシ) ジェチルェ一テル、 1, 2—ビス (3—ァクリロキシ— 2— ヒドロキシプロボキシ) ェタン、 1 , 2—ビス (3—メタクリロキシ一 2—ヒド ロキシプロボキシ) ェタン、 グリセロールァクリレート、 グリセロールメタクリ レート、 グリセロールジァクリレート、 グリセ口一ルジメタクリレート、 2—ヒ ドロキシェチルァクリレート、 2—ヒドロキシェチルメタクリレート、 2—ヒド ロキシプロピルァクリレート、 2—ヒドロキシプロピルメタクリレート、 1—フ エノキシー 2—ヒドロキシプロピルァクリレート、 1一フエノキシー2—ヒドロ キシプロピルメタクリレート、 ビス (3—ァクリロキシー 2—ヒドロキシプロピ ル) フタレート、 トリグリセロールジァクリレート、 トリグリセロールジメタク リレートが挙げられる。 これらは単独で、 または 2種以上を組み合わせて使用で 含る。
上記例示の化合物のなかでも、 効果的に凹凸形状を形成できること、 および基 板と樹脂組成物 (R) との密着性向上の観点から、 テトラメチロールメタントリ ァクリレート (ペン夕エリスリ ] ルトリァクリレート) がより好ましい。
上記成分 (b— 2 ) の光重合性不飽和化合物としては、 たとえば、 アクリル酸 またはメタクリル酸のエステル系モノマ (アクリル酸メチル、 メタクリル酸メチ ル、 アクリル酸ェチル、 メタクリル酸ェチル、 アクリル酸 n -プロピル、 メタクリ ル酸 n -プロピル、 アクリル酸 iso-プロピル、 メタクリル酸 i so-プロピル、 ァク リル酸 n _プチル、 メタクリル酸 n _プチル、 アクリル酸 iso -プチル、 メ夕クリル 酸 i so -プチル、 アクリル酸 sec -プチル、 メタクリル酸 sec-プチル、 アクリル酸 ter t -プチル、 メタクリル酸 ter t-ブチル、 アクリル酸ペンチル、 メタクリル酸べ ンチル、 アクリル酸へキシル、 メ夕クリル酸へキシル、 アクリル酸へプチル、 メ タクリル酸へプチル、 アクリル酸 2 -ェチルへキシル、 メ夕クリル酸 2 -ェチルへ キシル、 アクリル酸ォクチル、 メ夕クリル酸ォクチル、 アクリル酸ノニル、 メタ クリル酸ノエル、アクリル酸デシル、メ夕クリル酸デシル、アクリル酸ドデシル、 メタクリル酸ドデシル、 アクリル酸テトラデシル、 メタクリル酸テトラデシル、 ァクリル酸へキサデシル、メタクリル酸へキサデシル、ァクリル酸ォク夕デシル、 メタクリル酸ォクタデシル、 アクリル酸エイコシル、 メタクリル酸エイコシル、 アクリル酸ドコシル、 メタクリル酸ドコシル、 アクリル酸シクロペンチル、 メタ クリル酸シクロペンチル、 アクリル酸シクロへキシル、 メ夕クリル酸シクロへキ シル、 アクリル酸シクロへプチル、 メタクリル酸シクロへプチル、 アクリル酸べ ンジル、 メ夕クリル酸ベンジル、 アクリル酸フエニル、 メタクリル酸フエニル、 アクリル酸メトキシェチル、 メタクリル酸メトキシェチル、 アクリル酸ジメチル アミノエチル、 メタクリル酸ジメチルアミノエチル、 アクリル酸ジメチルァミノ プロピル、 メタクリル酸ジメチルァミノプロピル、 アクリル酸 2 -クロロェチル、 メ夕クリル酸 2 -クロロェチル、 アクリル酸 2 -フルォロェチル、 メタクリル酸 2 - フルォロェチル、 アクリル酸 2-シァノエチル、 メタクリル酸 2-シァノエチル、 アクリル酸メトキシジエチレングリコール、 メタクリル酸メトキシジエチレング リコール、 アクリル酸メトキシジプロピレングリコール、 メ夕クリル酸メトキシ ジプロピレングリコール、 アクリル酸メトキシトリエチレングリコール、 メ夕ク リル酸メトキシトリエチレングリコール等)、 スチレン系モノマ (スチレン、 - メチルスチレン、 P- t-プチルスチレン等)、 ポリオレフイン系モノマ (ブ夕ジェ ン、イソプレン、クロ口プレン等)、ビエル系モノマ(塩化ビニル、酢酸ビニル等)、 二トリル系モノマ (アクリロニトリル、 メタクリロニトリル等)、 エチレングリコ —ルジァクリレート、 エチレングリコールジメタクリレート、 ジエチレングリコ —ルジァクリレート、 ジエチレングリコールジメタクリレ一ト、 トリエチレング リコ一ルジァクリレート、 トリエチレングリコールジメタクリレート、 テトラエ チレングリコールジァクリレート、テトラエチレングリコールジメタクリレート、 ポリエチレングリコールジァクリレート、 ポリエチレンダリコールジメ夕クリレ ート、 へキサプロピレングリコールジァクリレート、 へキサプロピレングリコ一 ルジメタクリレート、 ポリプロピレングリコールジァクリレート、 ポリプロピレ ングリコールジメタクリレート、 ブチレングリコールジァクリレート、 ブチレン グリコ一ルジメタクリレ一ト、 ネオペンチルダリコールジァクリレート、 ネオべ ンチルダリコールジメタクリレート、 1, 3-ブタンジオールジァクリレート、 1, 3 -ブタンジオールジメタクリレ一ト、 1, 4 -ブタンジオールジァクリレート、 1, 4-ブタンジオールジメタクリレート、 1, 5-ペンタンジオールジァクリレ —ト、 1, 5-ペンタンジオールジメ夕クリレート、 1, 6-へキサンジオールジ ァクリレート、 1, 6-へキサンジオールジメタクリレート、 ビスフエノール Aジ ァクリレート、 ビスフエノール Aジメタクリレート、 2, 2-ビス (4-ァクリロ キシエトキシフエニル) プロパン、 2, 2-ビス (4-メ夕クリロキシエトキシフ ェニル) プロパン、 2, 2-ビス (4-ァクリロキシジエトキシフエニル) プロパ ン、 2, 2 -ビス (4-メタクリロキシジエトキシフエニル) プロパン、 2, 2- ビス (4-ァクリロキシポリエトキシフエニル) プロパン、 2, 2-ビス (4 -メタ 03 07222
22 クリロキシポリエトキシフエニル) プロパン、 ビスフエノール Aジグリシジルェ 一テルジァクリレート、 ビスフエノ一ル Aジグリシジルェ一テルジメタクリレー ト、 ウレ夕ンジァクリレート、 エチレンォキシド変性トリメチロールプロパント リアクリレート、 エチレンォキシド変性トリメチロールプロパントリメタクリレ —ト、 トリメチロールプロパントリグリシジルエーテルトリァクリレート、 トリ メチロールプロパントリグリシジルエーテルトリメタクリレート、 テトラメチロ —ルプロパンテトラァクリレート、 テトラメチロールプロパンテトラメタクリレ ート、 ペンタエリスリトールテトラァクリレート、 ペン夕エリスリトールテトラ メタクリレ一トが挙げられる。 これらは単独で、 または 2種以上を組み合わせて 使用できる。 別の好ましい一実施形態において、 表面形状特性および基板との密着性に優れ た凹凸形状を形成できる点で、 前記成分 (b ) は、 1分子中に少なくとも 1個の 水酸基と少なくとも 2個のエチレン性不飽和基を有する光重合性不飽和化合物 ( X ) の水酸基に対して、 1分子中に少なくとも 1個のイソシァネート基と少な くとも 1個の加水分解性基含有シリル基を有する有機ゲイ素化合物 (y ) のイソ シァネート基を反応させて得られるシリル基含有光重合性不飽和化合物(b— 3 ) を含むことができる。
上記成分 (X ) の光重合性不飽和化合物としては、 1分子中に少なくとも 1個 の水酸基および少なくとも 2個のエチレン性不飽和基をそれぞれ有していれば、 特に制限はなく、 たとえば、 ェピクロロヒドリン変性ビスフエノール Aジ(メタ) ァクリレート、 ェピクロロヒドリンおよびアルキレンォキシド (炭素数 2〜8の アルキレンォキシド基の数が 1〜2 0 ) 変性ビスフエノール Aジ (メタ) ァクリ レート、 ェピクロロヒドリン変性ポリアルキレングリコール (炭素数 2〜8のァ ルキレンォキシド基の数が 1〜 2 0 ) ジ (メタ) ァクリレート、 ェピクロロヒド リン変性アルキル (炭素数が 2〜8 ) ジ (メタ) ァクリレート、 ヒドロキシアル キル (炭素数が 2〜 8 ) ジ (メタ) ァクリレート、 ジペン夕エリスリトールモノ ヒドロキシペン夕 (メタ) ァクリレート、 エポキシァクリレート、 グリセロール ジ (メタ) ァクリレート、 ジグリセロールジ (メタ) ァクリレート、 トリグリセ ロールジ (メタ) ァクリレート、 ポリグリセロールジ (メタ) ァクリレート、 ェ ピクロロヒドリン変性グリセロールトリ (メタ) ァクリレート、 ェピクロロヒド リン変性 1, 6-へキサンジオールジ (メタ) ァクリレート、 炭素数 2〜8のアル キレンォキシド基の数が 1〜 2 0であるアルキレンォキシド変性リン酸ジ(メタ) ァクリレート、 ェピクロロヒドリン変性フエノキシジ (メタ) ァクリレート、 ス テアリン酸変性ペンタエリスリトールジ (メタ) ァクリレート、 ェピクロロヒド リン変性フタル酸ジ (メタ) ァクリレート、 ェピクロロヒドリン変性ポリアルキ レンォキシド (炭素数 2〜8のアルキレンォキシド基の数が 1〜2 0 ) 変性フタ ル酸 (メタ) ァクリレート、 ェピクロロヒドリン変性トリメチロールプロパント リ (メタ) ァクリレートが挙げられる。 これらは単独で、 または 2種以上を組み 合わせて使用できる。
さらに具体的には、 成分 (X ) は、 エポキシエステル 3 0 0 2 A、 エポキシェ ステル 8 0 M F A (共栄社化学株式会社製、 商品名)、 デナコール D A- 8 1 1、 デナコール DM- 8 1 1、 デナコール DM- 8 5 1、 デナコ一ル D A- 3 1 4、 デナ コール D A- 3 2 1、 デナコール D A- 9 1 1 (ナガセ化成工業株式会社製、 商品 名)、 S R- 3 9 9 (SARTOMER Company製、 商品名)、 NKエステル 7 0 1 - A、 N Kエステル 7 0 1、 NKエステル A- TMM- 3 (新中村化学工業株式会社製、 商 品名)、 ァロニックス M- 3 0 5、 ァロニックス M- 2 3 3 (東亜合成化学工業株式 会社製、 商品名)、 KAYA R AD P E T- 3 0、 カャマ一 P M- 2 (日本化薬株 式会社製、 商品名) 等として、 商業的に入手可能である。
上記成分 (y ) の有機ケィ素化合物としては、 1分子中にイソシァネート基と 加水分解性基含有シリル基をそれぞれ少なくとも 1個有していれば、 特に制限は なく、 たとえば、 イソシァネートメチルトリメトキシシラン、 イソシァネ一トメ チルジメトキシシラン、 イソシァネートメチルモノメトキシシラン、 イソシァネ —トメチルトリエトキシシラン、 イソシァネ一トメチルジェトキシシラン、 イソ シァネートメチルモノエトキシシラン、 イソシァネ一トメチルトリプロボキシシ ラン、 イソシァネ一トメチルジプロボキシシラン、 イソシァネートメチルモノプ ロボキシシラン、 イソシァネートメチルトリブ卜キシシラン、 イソシァネートメ チルジブトキシシラン、 イソシァネートメチルモノブトキシシラン、 イソシァネ —トェチルトリメトキシシラン、 イソシァネートェチルジメトキシシラン、 イソ シァネートェチルモノメトキシシラン、 ィソシァネ一トェチルトリエトキシシラ ン、 イソシァネートェチルジェトキシシラン、 イソシァネートェチルモノエトキ シシラン、 イソシァネートェチルトリプロボキシシラン、 イソシァネートェチル ジプロボキシシラン、 イソシァネートェチルモノプロボキシシラン、 イソシァネ —トェチルトリブトキシシラン、 イソシァネートェチルジブトキシシラン、 イソ シァネ一トェチルモノブトキシシラン、 ィソシァネ一卜プロピルトリメトキシシ ラン、 イソシァネートプロピルジメトキシシラン、 イソシァネートプロピルモノ メトキシシラン、 イソシァネートプロピルトリエトキシシラン、 イソシァネート プロピルジェトキシシラン、 イソシァネートプロピルモノエトキシシラン、 イソ シァネートプロピルトリプロボキシシラン、 イソシァネートプロピルジプロポキ シシラン、 イソシァネートプロピルモノプロボキシシラン、 イソシァネートプロ ピルトリブトキシシラン、 イソシァネートプロピルジブトキシシラン、 イソシァ ネートプロビルモノブトキシシラン、イソシァネートブチルトリメトキシシラン、 イソシァネートプチルジメトキシシラン、 イソシァネートブチルモノメトキシシ ラン、 イソシァネートブチルトリエトキシシラン、 イソシァネートプチルジェト キシシラン、 イソシァネートブチルモノエトキシシラン、 イソシァネートブチル トリプロボキシシラン、 イソシァネートプチルジプロボキシシラン、 イソシァネ 一トプチルモノプロボキシシラン、 イソシァネートブチルトリブトキシシラン、 ィソシァネ一トブチルジブトキシシラン、 イソシァネートブチルモノブトキシシ ラン、 イソシァネートペンチルトリメトキシシラン、 イソシァネートペンチルジ メトキシシラン、 イソシァネートペンチルモノメトキシシラン、 イソシァネート イソ シァネ一トペンチルモノエトキシシラン、 イソシァネ一トぺンチルトリプロポキ シシラン、 イソシァネートペンチルジプロボキシシラン、 イソシァネートペンチ ルモノプロボキシシラン、 イソシァネートペンチルトリブトキシシラン、 イソシ ァネートべンチルジブトキシシラン、 イソシァネートぺンチルモノブトキシシラ ン、 イソシァネートへキシルトリメトキシシラン、 イソシァネートへキシルジメ トキシシラン、 イソシァネー卜へキシルモノメ卜キシシラン、 イソシァネ一卜へ キシルトリエトキシシラン、 イソシァネートへキシルジェトキシシラン、 イソシ ァネートへキシルモノエトキシシラン、 イソシァネートへキシルトリプロポキシ シラン、 イソシァネ一卜へキシルジプロボキシシラン、 イソシァネートへキシル モノプロボキシシラン、 イソシァネートへキシルトリブトキシシラン、 イソシァ ネートへキシルジブトキシシラン、イソシァネートへキシルモノブトキシシラン、 エチレンォキシド変性イソシァネ一トトリメトキシシラン、 エチレンォキシド変 性イソシァネートジメトキシシラン、 エチレンォキシド変性イソシァネートモノ メ卜キシシラン、 エチレンォキシド変性イソシァネートトリエトキシシラン、 ェ チレンォキシド変性イソシァネートジエトキシシラン、 エチレンォキシド変性ィ ソシァネ一トモノエトキシシラン、 エチレンォキシド変性ィソシァネ一トトリプ ロボキシシラン、 エチレンォキシド変性イソシァネートジプロボキシシラン、 ェ チレンォキシド変性ィソシァネートモノプロボキシシラン、 エチレンォキシド変 性イソシァネートトリブトキシシラン、 エチレンォキシド変性イソシァネートジ ブトキシシラン、 エチレンォキシド変性イソシァネートモノブトキシシラン、 プ ロピレンォキシド変性イソシァネートトリメトキシシラン、 プロピレンォキシド 変性イソシァネートジメトキシシラン、 プロピレンォキシド変性イソシァネート モノメトキシシラン、 プロピレンォキシド変性イソシァネートトリエトキシシラ ン、 プロピレンォキシド変性イソシァネートジェトキシシラン、 プロピレンォキ シド変性イソシァネートモノエトキシシラン、 プロピレンォキシド変性イソシァ ネートトリプロボキシシラン、 プロピレンォキシド変性イソシァネートジプロボ キシシラン、 プロピレンォキシド変性イソシァネートモノプロボキシシラン、 プ ロピレンォキシド変性ィソシァネートトリブトキシシラン、 プロピレンォキシド 変性ィソシァネートジブトキシシラン、 プロピレンォキシド変性ィソシァネ一ト モノブトキシシランが挙げられる。 これらは単独で、 または 2種類以上を組み合 わせて使用することができる。
これら成分 (y) のうち、 基板との密着性を向上できる観点から、 イソシァネ —トプロビルトリメトキシシランまたはィソシァネートプロピルトリエトキシシ ランが特に好ましい。 このような化合物は、 Y- 5187、 A-1310 (日本ュ 二力一株式会社製、 商品名) として商業的に入手可能である。 バインダポリマー (a) の配合量は、 成分 (a) および成分 (b) の固形分総 量 100重量部に対して、 塗布性の観点から 10重量部以上であることが好まし く、 光硬化性、 耐熱性あるいは表面に凹凸形状を形成する際の凹凸形状形成性の 観点から 80重量部以下であることが好ましく、 20〜 75重量部とすることが より好ましく、 25〜73重量部とすることがさらに好ましく、 30〜70重量 部とすることが特に好ましい。
重合可能な化合物 (b) の使用量は、 成分 (a) および成分 (b) の固形分総 量 100重量部に対して、 光硬化性、 耐熱性あるいは表面凹凸形状形成性の観点 から 20重量部以上であることが好ましく、 塗布性の観点から 90重量部以下で あることが好ましく、 25〜80重量部とすることがより好ましく、 27〜75 重量部とすることがさらに好ましく、 30〜70重量部とすることが特に好まし い。
別の好ましい一実施形態においては、 バインダポリマー (a) と重合可能な化 合物 (b) の固形分配合比は、 重量比で (a) : (b) = 80 : 20〜40 : 60 であり、 (a) : (b) =70 : 30〜50 : 50とすることがより好ましい。 所望の凹凸形状として、 凹凸形状の段差を高くしたい場合は、 バインダボリマ 一 (a) と重合可能な化合物 (b) の固形分配合比を、 重量比で (a) : (b) = 65 : 35〜40 : 60とすることが好ましく、 凹凸形状の段差を低くしたい場 合は (a) : (b) =80 : 20〜55 : 45とすることが好ましい。 バインダ ポリマー (a) の固形分配合比が 80を超えると凹凸形状の段差が得にくい恐れ があり、重合可能な化合物(b)の固形分配合比が 60を超えると樹脂組成物(R) 膜のベタつきが増し、 活性エネルギー線を照射する際に樹脂組成物 (R) 膜上に マスクを置くと表面が荒れる、 などの問題を生じる恐れがある。
上記、 シリル基含有光重合性不飽和化合物(b— 3)を使用する場合、 その配合 量は、 成分 (a) および成分 (b) の固形分総量 100重量部に対して、 基板に 対する密着性向上効果の観点から 0. 1重量部以上とすることが好ましく、 樹脂 組成物 (R) とした場合の保存安定性の観点から 80重量部以下とすることが好 ましく、 1〜70重量部とすることがより好ましく、 5〜65重量部とすること が特に好ましく、 10〜60重量部とすることが極めて好ましい。 光重合開始剤(c) としては、 たとえば、芳香族ケトン(ベンゾフエノン、 N, Ν' -テトラメチル- 4, 4' -ジァミノべンゾフエノン (ミヒラーケトン)、 Ν, N' -テトラエチル- 4, 4' -ジァミノべンゾフエノン、 4-メトキシ- 4' -ジメ チルァミノべンゾフエノン、 2_ベンジル -2-ジメチルァミノ -1- (4-モルホリ ノフエニル) -ブ夕ノン- 1、 2, 2-ジメ卜キシ -1, 2-ジフエニルェタン- 1 - オン、 1-ヒドロキシ-シクロへキシル -フエ二ル-ケトン、 2-メチレ- 1- (4- (メ チルチオ) フエニル) -2-モルフォリノプロパノン- 1、 2, 4-ジェチルチオキ サントン、 2-ェチルアントラキノン、 フエナントレンキノン等)、 ベンゾインェ —テル (ベンゾインメチルエーテル、 ベンゾインェチルエーテル、 ベンゾインフ ェニルエーテル等)、 ベンゾイン (メチルペンゾイン、 ェチルベンゾイン等)、 ベ ンジル誘導体 (ベンジルジメチルケタール等)、 2-メルカプトべンズイミダゾ一 ル、 2, 4, 5 -トリァリ一ルイミダゾ一ルニ量体、 (2- (0-クロ口フエニル) - 4, 5-ジフエ二ルイミダゾ一ルニ量体、 2- (0-クロ口フエ二ル) - 4, 5-ジ(m -メトキシフエニル) イミダゾ一ルニ量体、 2- (0-フルオロフェニル) -4, 5 - フエ二ルイミダゾ一ルニ量体、 2- (0-メトキシフエ二ル) -4, 5-ジフエニル イミダゾ一ルニ量体、 2- (P-メトキシフエ二ル) - 4, 5-ジフエ二ルイミダゾ 一ルニ量体、 2, 4-ジ (P-メトキシフエニル) -5-フエ二ルイミダゾ一ルニ量 体、 2- (2, 4-ジメトキシフエ二ル) - 4, 5-ジフエ二ルイミダゾ一ルニ量体 等)、 ァクリジン誘導体 (9-フエ二ルァクリジン、 1, 7 -ビス (9, 9' -ァク リジニル) ヘプタン等) が挙げられる。 これらは単独でまたは 2種類以上を組み 合わせて使用される。
上記例示の光重合開始剤のなかで、 特に、 2— (0—クロ口フエニル) —4, 5 ージフエ二ルイミダゾ一ルニ量体が、 表面凹凸形成性に優れるので好ましい。 光重合開始剤 (c) の配合量は、 成分 (a) および成分 (b) の固形分総量 1 00重量部に対して、 0. 05〜 20重量部とすることが好ましく、 0. 1〜1 5重量部とすることがより好ましく、 0. 15〜10重量部とすることが特に好 ましい。 この配合量が、 0. 05重量部未満では、 光硬化が不十分となる傾向が あり、 20重量部を超えると、樹脂組成物(R)膜表面の活性光吸収が増大して、 内部の光硬化が不十分となる傾向がある。 樹脂組成物 (R) は、 必要に応じて、 添加剤として、 分子量 10000以下の 低融点物質を含んでいてもよい。添加剤としては、 公知の可塑剤 (たとえば、 「プ ラスチックス配合剤」 (遠藤 昭定、 須藤 眞編、 大成社発行、 平成 8年 1 1月 3 0日発行) 記載の可塑剤) ゃシラン化合物等が挙げられる。 シラン化合物は、 樹 脂組成物 (R) 膜に、 加熱による流動性やガラス基板との密着性を与えることが できる。 これらの添加剤の配合量は、 樹脂組成物 (R) 中の固形分総量の 1~7 0重量%とすることが好ましい。
これらの中で、 成分 (d) としてカップリング剤を用いると、 基材ゃ反射膜と 樹脂層の界面で剥離が生じにくいので好ましい。
このカップリング剤 (d) としては、 樹脂組成物 (R) 膜に加熱による流動性 やガラス基材との密着性を与える化合物、 たとえば「プラスチックス配合剤」 (遠 藤 昭定、 須藤 眞編、 大成社発行、 平成 8年 1 1月 30日発行) 記載のネルギ P 漏 3/07222
29
—性ネガ型シラン化合物、 アルミニウム化合物、 ジルコニウム化合物、 チタン化 合物が挙げられる。 これらは単独で、 または 2種類以上を組み合わせて使用され る。
そのようなものの中で、 基材ゃ反射膜に対する密着性を向上させるために、 力 ップリング剤としてシラン化合物を含むことが好ましい。シラン化合物としては、 たとえば、 ビニルトリクロルシラン、 ビニルトリス (j3 -メトキシェトキシ) シラ ン、 ビニルトリエトキシシラン、 ビエルトリメトキシシラン、 ァ-メ夕クリロキシ プロビルトリメトキシシラン、 β - ( 3 , 4 -エポキシシクロへキシル) ェチルト リメトキシシラン、 ァ-グリシドキシプロビルトリメトキシシラン、 ァ-グリシド キシプロピルメチルジェトキシシラン、 Ν- ]3 (アミノエチル) ァ-ァミノプロピ ルトリメトキシシラン、 Ν- i8 (アミノエチル) ァ-ァミノプロピルメチルジメト キシシラン、 ァ-ァミノプロピルトリエトキシシラン、 N-フエ二ル-ァ -アミノブ 口ビルトリメトキシシラン、 ァ-メルカプトプロピルトリメトキシシラン、 τ -ク ロロプロピルトリメトキシシラン、 了- ( 2 -アミノエチル) ァミノプロピルトリ メトキシシラン、 Ύ - ( 2 -アミノエチル) ァミノプロピルメチルジメトキシシラ ン、 ビニルトリァセトキシシラン、 ァ-ァ二リノプロビルトリメトキシシラン、 ォ クタデシルジメチル ( 3 - (卜リメトキシシリル) プロピル) アンモニゥムクロラ イド、 ァ-クロ口プロピルメチルジメトキシシラン、 ァ-メルカプトプロピルメチ ルジメトキシシラン、 ァ-グリシドキシプロピルメチルジメトキシシラン、 ァ-ゥ レイドプロピルトリエトキシシラン、ァ-メタクリロキシプロピルメチルジメトキ シシランが挙げられる。 これらは単独で、 または 2種類以上を組み合わせて使用 できる。 これらの中で、 特にァ-メタクリロキシプロビルトリメトキシシランが、 表面凹凸形成の際の生産性に優れるので好ましい。
成分 (d ) の配合量は、 樹脂組成物 (R) 中の成分 (a ) と (b ) の固形分総 量の 0 . 1〜3 0重量%とすることが好ましく、 2 . 0〜1 5重量%であることが より好ましい。 上記成分 (d ) の配合比が 0 . 1重量%より少ないと、 基材ゃ反 射膜と樹脂層の界面で剥離が生じやすくなる恐れがある。 P 漏 3/07222
30
少なくとも 1種類の重合可能な化合物(b ) を含む樹脂組成物 (R) (樹脂組成 物 (R) 膜) として、 上記以外の全く別の材料系を用いることもできる。
この材料系の 1つは、 成分 (b ) としてエポキシ基またはォキセ夕ニル基を少 なくとも 1個以上有する一種類以上の重合可能な化合物 (モノマーおよび/また はオリゴマー) (b— 4 ) を含み、 かつ、 活性エネルギー線の照射によりカチオン 重合性触媒を形成する潜在性カチオン重合性触媒 (e ) を含む系である。 ェポキ シ基を少なくとも 1個以上有する重合可能な化合物と、 ォキセ夕二ル基を少なく とも 1個以上有する重合可能な化合物とを併用してもよい。
エポキシ基を少なくとも 1個以上有する上記成分 (b— 4 ) としては、 具体的 には、 フエノールェ一テル系エポキシド (ビスフエノール A型エポキシド、 ビス フエノール F型エポキシド、 ハロゲン化ビスフエノール A型エポキシド、 フエノ ールノポラック型エポキシド、 クレゾ一ルノポラック型エポキシド、 ハロゲン化 フエノールノポラック型エポキシド等)、 エーテル系エポキシド (ポリオール、ポ リエーテルポリオール等とェピクロルヒドリンとの縮合物、 ジグリシジルエーテ ル、 ポリエチレングリコ一ルジグリシジルエーテル、 ポリプロピレングリコール ジグリシジルエーテル、 ブタンジオールジグリシジルエーテル、 ネオペンチルダ リコールジグリシジルェ一テル、 トリメチロールプロパントリダリシジルエーテ ル、 グリセリントリグリシジルエーテル等)、 エステルエポキシド (グリシジルァ クリレート、 グリシジルメタクリレ一ト等とエチレン性不飽和単量体 (メタクリ ル酸メチル、 アクリル酸ェチル、 アクリロニトリル等) との共重合体等)、 グリシ ジルァミン系エポキシド (ァニリン、 ジアミノジフエ二ルメタン、 アミノフエノ ール類、 キシリレンジァミン、 ハロゲン化ァニリン、 ビスアミノメチルシクロへ キサン等のアミン類とェピクロルヒドリンとの縮合物等)、脂肪族または脂環式ェ ポキシドなどが挙げられる。 脂環式エポキシドとしては、 たとえば、 ダイセル化 学工業株式会社製のセロキサイドが使用できる。 これらは単独で、 または 2種類 以上を組み合わせて使用される。 P T/JP03/07222
31 ォキセ夕二ル基を少なくとも 1個以上有する上記成分 (b— 4 ) としては、 上 記エポキシ基を少なくとも 1個以上有する成分 (b— 4 ) のエポキシ基をォキセ 夕ニル基に置き換えたものを使用できる。 これらは単独で、 または 2種類以上を 組み合わせて使用される。
分子内に 1個のォキセ夕ニル基 (ォキセタン環) を有する化合物としては、 下 記一般式 (1 ) で示される化合物等が挙げられる。
Figure imgf000033_0001
上記一般式 (1 ) において、 R 1は、 水素原子、 メチル基、 ェチル基、 プロピル 基あるいはブチル基等の炭素数 1〜 6のアルキル基、 炭素数 1〜 6のフルォロア ルキル基、 ァリル基、 ァリール基、 フリル基、 またはチェニル基である。
R2は、 水素原子、 メチル基、 ェチル基、 プロピル基あるいはブチル基等の炭素 数 1〜6のアルキル基; 1 —プロぺニル基、 2—プロぺニル基、 2—メチル— 1 一プロぺニル基、 2—メチルー 2—プロぺニル基、 1ーブテニル基、 2—ブテニ ル基あるいは 3—ブテニル基等の炭素数 2〜 6のアルケニル基;フエニル基、 ベ ンジル基、 フルォ口べンジル基、 メトキシベンジル基あるいはフエノキシェチル 基等の芳香環を有する基;ェチルカルポニル基、 プロピル力ルポニル基あるいは プチルカルポニル基等の炭素数 2〜 6のアルキル力ルポニル基;ェトキシカルボ ニル基、 プロポキシカルボニル基あるいはブトキシカルポニル基等の炭素数 2〜 6のアルコキシカルボ二ル基;または、 ェチルカルバモイル基、 プロピル力ルバ モイル基、 プチルカルバモイル基ぁるいはペンチルカルバモイル基等の炭素数 2 〜 6の N—アルキル力ルバモイル基等である。
分子内に 2個のォキセ夕ニル基 (ォキセ夕ン環) を有する化合物としては、 下 記一般式 (2 ) で示される化合物等が挙げられる。
Figure imgf000034_0001
上記一般式 (2 ) において、 2個の R1は、 それぞれ独立に、 前記一般式 (1 ) におけるものと同様の基である。
R3は、 たとえば、 エチレン基、 プロピレン基あるいはブチレン基等の線状ある いは分枝状アルキレン基;ポリ (エチレンォキシ) 基あるいはポリ (プロピレン ォキシ) 基等の線状あるいは分枝状ポリ (アルキレンォキシ) 基;プロべ二レン 基、 メチルプロべ二レン基あるいはブテニレン基等の線状あるいは分枝状不飽和 炭化水素基;カルポニル基、 カルボ二ル基を含むアルキレン基、 力ルポキシル基 を含むアルキレン基、 または力ルバモイル基を含むアルキレン基等である。
さらに、 上記 R3は、 下記一般式(3 ) 〜 (1 4 ) で示される基から選択される 多価基であってもよい。
Figure imgf000034_0002
(上記一般式 (3 ) において、 R4は、 水素原子、 メチル基、 ェチル基、 プロピル 基あるいはブチル基等の炭素数 1〜4のアルキル基;メトキシ基、 エトキシ基、 プロポキシ基あるいはブトキシ基等の炭素数 1〜4のアルコキシ基;塩素原子あ るいは臭素原子等のハロゲン原子;ニトロ基、 シァノ基、 メルカプト基、 低級ァ ルキルカルボキシル基、 力ルポキシル基、 または力ルバモイル基である。)
Figure imgf000034_0003
(上記一般式 (4 ) において、 R5は、 酸素原子、 硫黄原子、 メチレン基、 NH、 S O、 S〇2 、 C (C F 3 ) 2 、 または C (C H3) 2である。)
Figure imgf000035_0001
(上記一般式 (5) において、 R6は、 水素原子、 メチル基、 ェチル基、 プロピル 基あるいはブチル基等の炭素数 1〜 4個のアルキル基;メトキシ基、エトキシ基、 プロポキシ基あるいはブトキシ基等の炭素数 1〜4個のアルコキシ基;塩素原子 あるいは臭素原子等のハロゲン原子;ニトロ基、 シァノ基、 メルカプト基、 低級 アルキルカルボキシル基、 力ルポキシル基、 または力ルバモイル基である。)
Figure imgf000035_0002
(上記一般式 (6) において、 R7は、 酸素原子、 硫黄原子、 メチレン基、 NH、 SO、 S〇2 、 C (CF3 ) 2、 または C (CH3) 2 、 C (C6H5) (CH3)、 C (C 6H5) 2である。)
Figure imgf000035_0003
(7) (8)
(上記一般式 (7) および一般式 (8) において、 R8は、 水素原子、 メチル基、 ェチル基、 プロピル基あるいはブチル基等の炭素数 1〜4のアルキル基;メトキ シ基、 エトキシ基、 プロポキシ基あるいはブトキシ基等の炭素数 1〜4のアルコ キシ基;塩素原子あるいは臭素原子等のハロゲン原子;ニトロ基、 シァノ基、 メ ルカプト基、 低級アルキル力ルポキシル基、 力ルポキシル基、 または力ルバモイ ル基である。 さらに、 R8の置換数は 1個には限られず、 ナフタレン環に 2〜4個 置換していてもよい。)
Figure imgf000036_0001
(上記一般式(13)、 (14) において、 nは 0〜10の整数であり、それぞれ、 異なる数値の化合物の混合物でもよい。)
2個のォキセタニル基 (ォキセタン環) を有する化合物として、 上記した化合 物以外の好ましい例としては、 下記一般式 (15) で示される化合物が挙げられ る。 なお、 一般式 (15) において、 R1は、 前記一般式 (1) におけるものと同 様の基である。
Figure imgf000036_0002
3〜 4個のォキセタニル基 (ォキセ夕ン環) を有する化合物としては、 下記一 般式 (16) で示される化合物等が挙げられる。
Figure imgf000037_0001
上記一般式 (16) において、 R'は、 前記一般式 (1) におけるものと同様の 基であり、 mは 3または 4である。
R9としては、 たとえば、 下記一般式 (17)、 (18) および (19) で示され る基等の炭素数 1〜12の分枝状アルキレン基、 下記一般式 (20) で示される 基等の分枝状ポリ (アルキレンォキシ) 基が挙げられる。
Figure imgf000037_0002
(上記一般式 (17) において、 R1()はメチル基、 ェチル基またはプロピル基等 の低級アルキル基である。)
CHつ―
-CHつ C- -CH― (18)
CHつ一
Figure imgf000037_0003
(19)
Figure imgf000038_0001
(上記一般式 (20) において、 nは 1〜10の整数である。)
上記の化合物以外にも、 分子量 000〜5, 000程度の比較的高分子量 の 1〜4個のォキセタニル基 (ォキセタン環) を有する化合物を用いることもで きる。
以上のォキセ夕二ル基を有する化合物 (b— 4) は、 2種類以上のものを組み 合わせて使用することができる。 成分 (e) の活性エネルギー線の照射によりカチオン重合性触媒を形成する潜 在性カチオン重合性触媒は、 上記成分 (b— 4) に配合して、 室温に放置する限 りにおいては長期間にわたって安定であるが、 活性エネルギー線の作用で、 直ち にカチオン重合性触媒を形成し、 成分 (b— 4) の重合反応を開始、 促進せしめ ることができる化合物である。
このような潜在性カチオン重合性触媒 (e) として具体的には、 以下に示すよ うな各種ォニゥム塩を挙げることができる。 たとえば、 下記一般式 (22) で示 される第四級アンモニゥム塩、 下記一般式 (23) で示されるホスホニゥム塩お よび下記一般式 (24)、 (25) または (26) で示されるスルホニゥム塩など がある。 ■Θ (22)
X
(上記一般式 (22) 中、 R1 〜R4 は、 それぞれ独立に、 炭素原子数 1〜20 のアルキル基、 炭素原子数 3〜12のアルケニル基、 ァリール基、 アルカリ一ル 基、 炭素原子数 1〜20のアル力ノール基もしくは炭素原子数 5〜10のシクロ アルキル基であり、 互いに同一でも異なっていてもよく、 また置換基を有してい ても有していなくてもよい。また、 R1 〜R4 のうち 2個が互いに結合して、 N、 P、〇または Sをへテロ原子とする複素環を形成していてもよい。さらに、 Xは、 BFい PFい As F6 、 S bFい S bC I6 、 (C6 F5 ) 4 B、 S bF5 (O H)、 HS04 、 p-CH3 C6 H4 S〇3 、 HC03 、 Hz P 04、 CH3 COOお よびノヽロゲン原子からなる群より選ばれる対イオン、 すなわち、 1価の陰イオン を表わす。)
Figure imgf000039_0001
(上記一般式 (23) 中、 R1 〜R4および Xは、 それぞれ、 前記一般式 (22) における 〜R4および Xと同じである。)
Figure imgf000039_0002
(上記一般式 (24) 中、 R1 〜R3および Xは、 それぞれ、 前記一般式 (22) における 〜R3 および Xと同じであり、 R1 〜R3 のうち 2個が互いに結合し て、 N、 P、 Oまたは Sをへテロ原子とする複素環を形成していてもよい。)
Figure imgf000040_0001
(上記一般式 (25) 中、 R1 、 R2および Xは、 それぞれ、 前記一般式 (22) における Rl 、 R2 および Xと同じであり、 R1 および R2 が互いに結合して、 N、 P、〇または Sをへテロ原子とする複素環を形成していてもよい。また、 Arは、 置換基を有しても有さなくてもよいァリール基を表わす。)
(26)
Figure imgf000040_0002
(上記一般式 (26) 中、 R1 〜R4および Xは、 それぞれ、 前記一般式 (22) における R1 〜R4および Xと同じである。 また、 Arは、 前記一般式 (25) における A rと同じである。)
上記一般式 (22) 〜 (26) において、 R'、 23 または R4 としての 炭素原子数 1〜20のアルキル基としては、 置換基を有していても、 有していな くてもよい直鎖または分岐を有するアルキル基が挙げられ、たとえば、メチル基、 ェチル基、 n—プロピル基、イソプロピル基、 n—ブチル基、 s e c—ブチル基、 t e r t—ブチル基、 n—ペンチル基、 イソペンチル基、 ネオペンチル基、 n— へキシル基、 イソへキシル基、 n—ヘプチル基、 n—ォクチル基、 ノニル基、 デ シル基、 ゥンデシル基、 ドデシル基、 トリデシル基、 テトラデシル基、 ペンタデ シル基、 へキサデシル基、 ォクタデシル基、 ノナデシル基およびエイコシル基が 挙げられる。
前記 R R2 、 R3 または R4 として炭素原子数 3〜12のアルケニル基とし ては、 置換基を有しても、 有さなくてもよい直鎖または分岐を有するアルケニル 07222
39 基が含まれ、 たとえば、 n—プロぺニル基、 n—ブテニル基、 s e c—ブテニル 基、 t e r t—ブテニル基、 n—ペンテニル基、 s e c—ペンテニル基、 へキセ ニル基、 n—ヘプテニル基、 s e c—ヘプテニル基、ォクテニル基、 ノネニル基、 デセニル基およびゥンセニル基が挙げられる。
前記 R 1 、 R2 、 R3 または R4 としてのァリール基としては、 たとえば、 置換 または非置換のフエニル基、 ナフチル基またはアントラセン基が含まれ、 特に、 フエニル基が好ましい。
前記 、 R2 、 R3 または R4 としてのアルカリール基としては、 前述の炭素 原子数 1〜 2 0のアルキル基およびァリール基で構成されるものが挙げられる。 前記 Rl 、 R2 、 R3 または R4 としての炭素原子数 1〜2 0のアル力ノール基 としては、 置換基を有しても、 有さなくてもよい直鎖または分岐を有するアル力 ノール基が含まれ、 たとえば、 エタノール基、 n—プロパノール基、 イソプロパ ノール基、 n—ブ夕ノール基、 s e c—ブ夕ノール基、 t e r tーブタノ一ル基、 n—ペンタノ一ル基、 s e c—ペン夕ノール基、 1一へキサノール基、 1一ヘプ 夕ノール基、 1—ォク夕ノール基、 1ーノナノ一ル基、 1ーデカノール基、 1— ゥンデ力ノール基、 1—ドデカノ一ル基、 1—トリデカノール基、 1—テトラデ カノ一ル基、 1一ペン夕デカノール基、 1—へキサデ力ノール基、 1一へプタデ カノ一ル基、 1一才クタデカノール基、 1一ノナデ力ノール基および 1一エイコ サノール基が挙げられる。
さらにまた、 前記 、 R2 、 R3 または R4 としての炭素原子数 5〜1 0のシ クロアルキル基としては、 置換基を有しても、 有さなくてもよい分岐を有するこ とのあるシクロアルキル基が含まれ、 たとえば、 シクロペンチル基、 2—メチル シクロペンチル基、 シクロへキシル基およびシクロへプチル基が挙げられる。 上記一般式 (2 5 ) および (2 6 ) において、 A rとしての置換基を有しても 有さなくてもよいァリール基としては、 置換または非置換のフエニル基またはナ フチル基が挙げられる。
上記一般式 (2 2 ) 〜 (2 6 ) において、 前記置換基としては、 たとえば、 フ ッ素原子などのハロゲン原子;メチル基、 ェチル基、 n—プロピル基、 イソプロ ピル基、 n—ブチル基、 s e c—プチル基、 t e r t —ブチル基、 n—ペンチル 基、 イソペンチル基、 ネオペンチル基、 n—へキシル基、 イソへキシル基、 n— ヘプチル基および n—才クチル基などの炭素原子数 1〜 8のアルキル基;シクロ ペンチル基、 シクロへキシル基およびシクロへプチル基などの炭素原子数 5〜7 のシクロアルキル基;またはメトキシ基、 エトキシ基、 プロポキシ基、 イソプロ ポキシ基、 ブトキシ基、 イソブトキシ基、 s e c 一ブトキシ基、 t e r t —ブト キシ基、ペンチルォキシ基、イソペンチルォキシ基、 s e c—ペンチルォキシ基、 へキシルォキシ基、 イソへキシルォキシ基、 ヘプチルォキシ基およびォクチルォ キシ基などの炭素原子数 1〜 8のアルコキシ基が挙げられる。
上記一般式 (2 2 ) で示される第四級アンモニゥム塩としては、 たとえば、 テ トラプチルアンモニゥムテトラフルォロポレート、 テトラプチルアンモニゥムへ キサフルォロホスフェート、 テ卜ラブチルアンモニゥムハイドロゲンサルフエ一 ト、 テトラエチルアンモニゥムテトラフルォロボレ一ト、 テトラエチルアンモニ ゥム p—トルエンスルホネート、 N, N—ジメチル— N—ベンジルァ二リニゥム 六フッ化アンチモン、 N, N—ジメチルー N—ベンジルァ二リニゥム四フッ化ホ ゥ素、 N, N—ジメチルー N—ベンジルピリジニゥム六フッ化アンチモン、 N, N—ジェチルー N—べンジルトリフルォロメタンスルホン酸、 N, N—ジメチル - N - ( 4ーメトキシベンジル) ピリジニゥム六フッ化アンチモン、 N, N—ジ エヂルー N— (4—メトキシベンジル) トルイジ二ゥム六フッ化アンチモンを挙 げることができる。
上記一般式 (2 3 ) で示されるホスホニゥム塩の具体例としては、 たとえば、 ェチルトリフエニルホスホニゥム六フッ化アンチモン、 テトラブチルホスホニゥ ム六フッ化アンチモンを挙げることができる。
上記一般式 (2 4 )、 (2 5 ) または (2 6 ) で示されるスルホニゥム塩として は、 たとえば、 トリフエニルスルホニゥム四フッ化ホウ素、 トリフエニルスルホ 二ゥム六フッ化アンチモン、 トリフエニルスルホニゥム六フッ化砒素、 トリ (4 07222
41 ーメトキシフエ二ル) スルホ二ゥム六フッ化砒素、 ジフエニル (4—フエニルチ オフェニル) スルホ二ゥム六フッ化砒素、 アデカオプトン SP— 150 (旭電化 工業株式会社製、 対イオン: PF6 )、 アデカオプトン SP— 170 (旭電化工業 株式会社製、 対イオン: SbF6 )、 アデカオプトン CP— 66 (旭電化工業株式 会社製、 対イオン: S bF6 )、 アデカオプトン CP— 77 (旭電化工業株式会社 製、 対イオン: S b F6 )、 サンエイド S I— 60 L (三新化学工業株式会社製、 対イオン: S b F6)、 サンエイド S I - 80 L (三新化学工業株式会社製、 対ィ オン: S b F6 )、 サンエイド S I— 100 L (三新化学工業株式会社製、 対ィォ ン: S bF6 )、 サンエイド S I— 150 (三新化学工業株式会社製、 対イオン: SbF6 )、 CYRACURE UV I— 6974 (ユニオン 'カーバイド社製、 対イオン: SbF6 )、 CYRACURE UV I - 6990 (ユニオン '力一バ ィド社製、対イオン: PF6 )、 UV I— 508 (ゼネラル'エレクトリック社製)、 UV I - 509 (ゼネラル 'エレクトリック社製)、 FC- 508 (ミネソタ 'マ イニング ·アンド ·マニファクチユアリング社製)、 FC— 509 (ミネソタ 'マ イニング'アンド 'マニファクチユアリング社製)、 CD- I 010 (サートマ一 社製)、 CD- 1011 (サ一トマ一社製) および C Iシリーズ(日本曹達株式会 社製、 対イオン: PF6、 SbF6 ) を挙げることができる。
さらに、 上記潜在性カチオン重合触媒 (e) として、 下記一般式 (27) で示 されるジァゾ二ゥム塩や下記一般式 (28) で示されるョ一ドニゥム塩を使用す ることもできる。
Θ Θ /
Ar Ν≡Ν· X ' (27)
(上記一般式 (27) 中、 Arおよび Xは、 それぞれ、 上記一般式 (25) にお ける A rおよび上記一般式 (22) における Xと同じである。) R\© Θ
I · X (28)
R6
(上記一般式 (28) 中、 Xは上記一般式 (22) における Xと同じであり、 R5 および R6 は、 互いに同一でも異なっていてもよく、 また置換基を有しても有さ なくてもよいァリール基である。)
上記一般式 (27) および (28) において、 A rとしての置換基を有しても 有さなくてもよいァリール基、 および、 Xとしての 1価の陰イオンの具体例は、 前述の通りである。 また、 R5 および R6 としての置換基を有しても有さなくて もよぃァリール基としては、 たとえば、 置換または非置換のフエニル基、 ナフチ ル基またはアントラセン基が挙げられ、 特に、 フエニル基が好ましい。 置換基と しては、 たとえば、 フッ素原子、 塩素原子、 臭素原子、 ヨウ素原子などの八ロゲ ン原子;メチル基、ェチル基、 n―プロピル基、ィソプロピル基、 n—プチル基、 s e c—プチル基、 t e r t—プチル基、 n—ペンチル基、 イソペンチル基、 ネ ォペンチル基、 n—へキシル基、 イソへキシル基、 n—へプチル基および n—ォ クチル基などの炭素原子数 1〜8のアルキル基;シクロペンチル基、 シクロへキ シル基およびシクロへプチル基などの炭素原子数 5〜 7のシクロアルキル基;ま たはメトキシ基、 エトキシ基、 プロポキシ基、 イソプロポキシ基、 ブトキシ基、 イソブトキシ基、 s e c一ブトキシ基、 t e r t—ブトキシ基、 ペンチルォキシ 基、 イソペンチルォキシ基、 s e c—ペンチルォキシ基、 へキシルォキシ基、 ィ ソへキシルォキシ基、 ヘプチルォキシ基およびォクチルォキシ基などの炭素原子 数 1〜8のアルコキシ基が挙げられる。
上記一般式(27)で示されるジァゾニゥム塩の具体例としては、アメリカン ' キャン社製の AMER I CURE (対イオン: BF4 ) および旭電化工業株式会 社製の ULTRASET (対イオン: BF4 、 PF6 ) などを挙げることができ る。
上記一般式 (28) で示されるョードニゥム塩の具体例としては、 ジフエニル ョ一ドニゥム六フッ化砒素、ジ— 4一クロ口フエ二ルョードニゥム六フッ化砒素、 ジ一 4—ブロムフエ二ルョードニゥム六フッ化砒素、 フエニル (4ーメトキシフ ェニル) ョ一ドニゥム六フッ化砒素、 ゼネラル'エレクトリック社製の UVEシ リーズ、 ミネソタ ·マイニング ·アンド ·マニファクチユアリング社製の FCシ リーズ、 東芝シリコーン社製の UV— 9310 C (対イオン: SbF6 ) および 口一ヌプ一ラン社製の Photoinitiator 2074 (対イオン: (C6 F5 ) 4 B) な どを挙げることができる。
潜在性カチオン重合性触媒 (e) の配合は、 上記成分 (b— 4) 100重合部 に対して、 硬化性の観点から 0. 01重量部以上が好ましく、 使用前の保存安定 性の観点から 20重量部以下が好ましく、 0. 1〜 10重量部がより好ましい。 以上の成分を含む樹脂組成物 (R) を、 必要に応じて適当な溶剤に溶解ないし 分散させ、 混合する。 混合は、 透明で均一な溶液となるまで十分に行われること が好ましく、 常法により濾過して塗液としてもよい。 溶剤は、 好ましくは 50〜 250°Cの範囲に沸点を有するものが用いられる。 そのような溶剤の例として、 アセトン、 メチルェチルケトン、 シクロへキサノン、 トルエン、 N, N-ジメチルァ セトアミド、 プロピレングリコールモノメチルエーテル、 プロピレングリコール モノメチルェ一テルアセテート、 N,N-ジメチルホルムアミド、 ジメチルスルホキ シド、 ニトロベンゼンが挙げられる。 これらは単独で、 または 2種類以上を混合 して使用される。 樹脂組成物 (R) の粘度に関しては、 基板上に樹脂組成物 (R) 層を形成した 際の乾燥時の塗布膜厚均一性の観点から、 80°Cにおける粘度が 1 X 102Pa- sec 以上であることが好ましく、 加熱により凹凸形状を形成する工程において凹 凸形状を有効に形成させる観点から、 80 における粘度が 1 X 107Pa-sec以 下であることが好ましい。 さらに、 この 80°Cにおける粘度は、 5X 102〜5 X 106Pa-secであることがより好ましく、 1 X 103〜3X 106Pa-secである . - 0307222
44 ことが特に好ましく、 5 X 103〜 1 X 106Pa' secであることが極めて好ましレ^ ここで、 上記粘度は、 直径 7mm、 厚さ 2 mmの円板形状の樹脂組成物 (R) サンプル片を作製し、 80°Cにおいて、 試料の厚さ方向に 1. 96 X 10— 2Nの 圧力を加えて厚さの変化速度を測定し、 この変化速度からニュートン流体を仮定 して、 下記の関係式 (1) を用いて粘度に換算した値である。
= (2 F ZV3 TTR4) / (d Z/d t) · · ·式 (1)
ίΐ :粘度
F :サンプルの厚さ方向に加えた力
Ζ :サンプルの厚さ
R:サンプルの半径
t :サンプルに力を加えた時間 好ましくは、 凹凸形状を再現性よく且つ有効に形成させ維持させる観点から、 樹脂組成物 (R) は、 以下の特性を有している。 すなわち、 遮光 5 ^m幅、 透過 5 m幅とした実質的に 10 m周期のストライプパターンが形成されたマスク を介して、 樹脂組成物 (R) 膜に活性エネルギー線を照射し、 続いてエッチング 操作を行うことなく 180 で加熱した場合に、 上記マスクパターンに従った段 差 0, 3 m以上の表面凹凸を形成しうるものであることが好ましい。あるいは、 直径 1 O^mの実質的に円形の遮光パターンが形成されたマスクを介して、 樹脂 組成物 (R) 膜に活性エネルギー線を照射し、 続いてエッチング操作を行うこと なく 180°Cで加熱した場合に、 上記マスクパターンに従った段差 0. 5 m以 上の表面凹凸を形成しうるものであることが好ましい。 上記において、 たとえば 基板上に形成された樹脂組成物 (R) 層は、 活性エネルギー線の照射に先立ち、 40〜 150°Cで 1〜30分間、 プリべークされることが好ましい。 マスクパ夕 —ンの種類や活性エネルギ一線の種類や照射線量等は、 後述する工程 (B) で述 ベるものと同様である。 PC蒙雇 22
45 以上に述べた本発明に係る樹脂組成物 (R) の層を支持体上に積層して、 感光 性エレメントとすることもできる。 この支持体としては、 特に制限はなく、 公知 のものを使用することができるが、 基板上に感光性ェレメントを貼り合わせる点 および貼り付けた後に、 はく離する点で特に好適であるという理由から、 ポリプ ロピレン、 ポリエチレンテレフ夕レート、 ポリエステル等を材質としたフィルム が挙げられる。
樹脂組成物 (R) 層を上記支持体に形成する方法としては、 公知の塗布方法を 用いることができ、 たとえば、 後述する工程 (A) において、 基板上に樹脂組成 物 (R) 層を形成するための塗布方法の全てを適用できる。
感光性エレメントにおける樹脂組成物 (R) 層の厚さは、 液晶表示装置とした 場合の電気的特性を考慮して、 0 , 1〜2 0 mとすることが好ましく、 0 . 3 〜1 5 mとすることがより好ましく、 0 . 5〜1 0 mとすることが特に好ま しい。
感光性エレメントの樹脂組成物 (R) 層の上に、 さらにカバ一フィルムが積層 されていてもよい。 カバーフィルムとしては、 ポリエチレン、 ポリプロピレン、 ポリエチレンテレフ夕レート、 ポリカーボネート等からなる厚さ 5〜1 0 0 m 程度のフィルムが挙げられる。
このようにして得られる感光性エレメントは、 ロール状に巻いて保管し、 また 使用できる。 感光性エレメントを使用する場合は、 カバーフィルムが存在してい るときはそのカバーフィルムを除去後、 任意の基板上に感光性エレメントを、 感 光性エレメントの樹脂組成物 (R) 層が接するようにして、 圧着ロールで圧着さ せる等の方法が好ましい。 圧着ロールは、 加熱圧着できるように加熱手段を備え たものであってもよく、 加熱圧着する場合の加熱温度は、 樹脂組成物 (R) 層と 基板との密着性の観点から 1 0 °C以上とすることが好ましく、 樹脂組成物 (R) 層中に含まれる配合成分の熱硬化あるいは熱分解を回避する観点から 1 8 0 ^以 下とすることが好ましく、 2 0〜1 6 O t:とすることがより好ましく、 3 0 ~ 1 5 0 °Cとすることが特に好ましい。 加熱圧着時の圧着圧力は、 樹脂組成物 (R) 層と基板との密着性の観点から、 線圧で 5 O NZm以上とすることが好ましく、 基板の破壊を回避する観点から、 線圧で 1 X 1 0 5 NZm以下とすることが好ま しく、 2 . 5 X 1 0 2〜5 X 1 0 4 N/mとすることがより好ましく、 5 X 1 0 2 〜4 X 1 0 4 NZmとすることが特に好ましい。
感光性エレメントを上記のように加熱して圧着すれば、 基板を予熱処理するこ とは必要ではないが、 樹脂組成物 (R) 層と基板との密着性をさらに向上させる 観点から、 基板を予熱処理することも好ましい。 この時の予熱温度は、 3 0〜1 8 0 °Cとすることが好ましい。 次に、 上記のような樹脂組成物 (R) を用いた、 本発明に係る表面凹凸形成方 法の好ましい実施形態について、 その一例を示した図面を参照しつつ説明する。 まず、 工程 (A) として、 上記のようにして得られた樹脂組成物 (R) の塗液 を、任意の基板(支持体)(たとえばガラス基板) 2上に塗布して、樹脂組成物(R) 膜(樹脂組成物(R)層) 1を形成する (図 1 ( a ))。塗液の塗布方法としては、 口一ルコ一ティング法、 スピンコーティング法、 スプレーコ一ティング法、 ディ ップコーティング法、 カーテンフローコーティング法、 ワイヤバ一コーティング 法、 グラビアコーティング法、 エアナイフコ一ティング法、 インクジェットコ一 ティング法、 ドクターブレードコーティング法、 スクリーンコーティング法、 ダ イコーティング法、 キャップコーティング法等が挙げられる。 あるいは、 任意の ベースフィルムや仮支持体等の上に上記の方法で塗液を塗布して樹脂組成物(R) 層を形成してもよいし、 基板に直接塗布するのではなく、 任意のベースフィルム 等の上に形成された樹脂組成物 (R) 層を基板に転写するようにしてもよい。 樹脂組成物 (R) 層の形成に用いられる基板としては、 ガラス板、 クロムや I T Oなどの無機化合物を成膜したガラス板、 シリコン基板、 セラミックス、 ポリ カーボネート系樹脂フィルム、 アクリル系樹脂フィルム、 メタアクリル樹脂シー ト、 ポリエチレンテレフタートフィルム、 ポリエ一テルスルホン樹脂フィルム、 フッ素系樹脂フィルムなどが挙げられ、 複屈折率が少ない (Δ η = 0 . 0 1以下 の) 基板を用いることが好ましい。 基板には、 絶縁層、 電極、 T F T等が設けら れていてもよい。
樹脂組成物(R)層の乾燥後の厚みは、 0 . 1〜1 0 0 0 mが好ましく、 0 . 1〜: L 0 0 mがより好ましく、 1〜5 0 mが特に好ましい。
活性エネルギー線の照射に先立ち、 塗布した樹脂組成物 (R) 層を、 4 0〜1 5 0 で 1〜3 0分間プリべークすることが好ましい。
以上により形成される樹脂組成物 (R) 層 (プリべーク後) は、 表示デバイス や光学デバイスに用いることに鑑み、 可視光線透過率が 9 5 %以上のものである ことが好ましい。 可視光線は、 たとえば波長 5 0 0 n mの光線であることが好ま しい。 可視光線透過率は、 たとえば分光光度計により測定することができる。 次に、 工程 (B ) として、 必要に応じてプリべ一夕した樹脂組成物 (R) 層に 対し、たとえば図 1 ( b )に示したようにパターン形成されたマスク 4を介して、 あるいは、 直接描画法で (図示せず) 活性エネルギー線を照射する。 基板 2が光 線の透過性を妨げるものでなければ、 樹脂組成物 (R) 層 1側からではなく基板 2側から露光を行ってもよい。 マスクパターンまたは直接描画パターンは、 活性 エネルギー線遮断部と活性エネルギー線透過部からなる、 規則的あるいは不規則 的な繰り返しパターンを有し、 活性エネルギー線遮断部と活性エネルギー線遮断 部、 または、 活性エネルギー線透過部と活性エネルギー線透過部との距離が、 1 〜5 0 mであることが好ましく、 5〜2 0 mであることがより好ましい。 パ ターン形状は、特に限定されないが、例として、 円形、楕円形、 円輪形、多角形、 曲線、 直線、 あるいは各形の集合形が挙げられる。
活性エネルギー線としては、 赤外線、 可視光線、 紫外線、 赤外線より長波長の 電磁波、 紫外線より短波長の電磁波、 レーザー光、 電子線等を用いることができ る。なかでも、用いられる樹脂組成物(R)の反応性や装置の普及性の観点から、 紫外線を用いることが好ましい。 照射装置としては、 力一ボンアーク灯、 超高圧 水銀灯、 高圧水銀灯、 キセノンランプ、 メタルハライドランプ、 蛍光ランプ、 夕 PC漏膽 22
48
'。等が挙げられる。 また、 活性エネルギー線量は、 従来のエッチ ング工程を含む表面凹凸形成法において照射する紫外線量に比べて少なくて足り、 0. 005〜; L J /cm2が好ましく、 0. 01〜: L J / c m2がより好ましく、 0. 01〜0. 5 J/cm2がさらに好ましく、 0. 05〜0. l J/cm2が特 に好ましい。
パターン形成されたマスクを介して、 あるいは、 直接描画法で活性エネルギー 線を照射された樹脂組成物 (R) 層の膜厚は、 活性エネルギー線を照射されてい ない部分の膜厚'に比べ、 最終的に増加する。 上記のようにして活性エネルギー線を少なくとも 1回以上照射する工程の後、 工程 (C) として、 エッチング操作を行うことなく加熱が行われる。 この加熱に より、 図 1 (c) に模式的に示されているように、 活性エネルギー線を照射され た部分と照射されない部分との膜厚差が顕著なものとなる。 このときの加熱温度 は、 50〜250°Cであることが好ましい。 加熱は、 熱風加熱炉、 赤外線照射加 熱炉、 ホットプレートなどを用いた任意の方法により行われる。 さらに必要に応 じ、 樹脂組成物 (R) 層の凹凸形状保持が必要な箇所のすべてを一括して熱ゃ活 性エネルギー線により硬化して、 形状を固定することができる。 なお、 図 1 (d) は表面凹凸形状面上に反射膜 3を設ける実施形態を示す (後述)。
以上のようにして得られる表面凹凸形状の一例を、 図 2に示す。 これは、 ライ ン状のパターンが形成されたマスクを用いた露光により得られた表面凹凸形状を レーザー顕微鏡で測定して得られた断面凹凸段差を示している。 形成される表面凹凸形状は、 樹脂組成物 (R) 層の厚さ T=0. l〜20 ^m として、 加熱工程後の表面凹凸の段差が (0. 1〜0. 5) XT^mの範囲であ ることが好ましい。 ここで、 Tは、 上記工程 (A) により形成された、 乾燥後の (工程 (B) による活性エネルギー線照射前の) 樹脂組成物 (R) 層の平均膜厚 である。 したがって、 本発明に係る上記表面凹凸形成方法に用いる本発明に係る樹脂組 成物 (R) は、 凹凸形状を有効に形成させ維持させる観点から、 樹脂組成物 (R) 層の厚さ T=0. 1〜20 mに対し、加熱工程後の表面の段差が(0. 1〜0. 5) XT^mの範囲とすることができるものであることが好ましい。 表面の段差 を大きくする場合は、 拡散により移動しやすい低分子量の不飽和化合物量を増加 させるか、 基板上に設ける層の厚みを増加させることで調整できる。 形成される表面凹凸形状は、 凹凸形状を有効に形成させ維持させる観点から、 凹凸形状の凸部のビッカース硬さが 25°Cから 1 00°Cの範囲のいずれかの温度 で測定したときに 10〜 30HVであることが好ましく、 1 5〜25HVである ことがより好ましく、 17〜23HVであることが特に好ましい。 この凸部のビ ッカース硬さが 10HV未満である場合には、 形成した凹凸形状は長時間の経過 で変形する傾向にあり、 30HVを超える場合には、 加熱することにより凹凸形 状を形成する工程において、 表面凹凸形状を有効に形成できない傾向にある。 表面凹凸形状の機械的強度を維持し、かつ基板の柔軟性に追従させる観点から、 凸部のビッカース硬度は、 25°Cから 100°Cの範囲のいずれかの温度で測定し たときに、 凹部に対して 0〜5HV高いことが好ましく、 2〜5HV高いことが より好ましく、 4〜 5 HV高いことが特に好ましい。
本発明に係る上記表面凹凸形成方法に用いる本発明に係る樹脂組成物(R)は、 これらのビッカース硬度の特性を達成できる組成であることが好ましい。
上記ビッカース硬度とは、 20 周期の凹凸形状を形成した樹脂組成物(R) の 1 mm厚の板状サンプルに対し、 1 g f の荷重をかけた対角角 136° のビッ カース圧子を押し当て、 窪み対角線の長さの平均から、 下記式 (2) を用いて、 算出した値である。
Hv= (2 P s i n a/2) / ύ2 · · '式 (2)
Ην : ピツカ一ス硬さ
Ρ : 荷重 [kg] TJP03/07222
50 d :窪み対角線の長さの平均
:対角角 以上の工程 (A) 〜 (C) の表面凹凸形成工程群を (A) 群とし、 続いて、 樹 脂組成物 (R) 膜に、 所定の遮光パターンが形成されたマスクを介して、 または 所定の遮光部が形成されるように直接に、 活性エネルギー線を照射する工程 (D);および樹脂組成物 (R) 膜の前記工程(D) の遮光された箇所をエツチン グにより除去する工程 (E) を行うことができる。 ここで、 コンタクトホール形 成箇所を工程 (D) における遮光された箇所として、 工程 (E) のエッチングに より樹脂組成物 (R) 膜にコンタクトホールを形成することができる。
すなわち、 コンタクトホールを形成する場合、 上記表面凹凸形成工程群 (A) の後に、 たとえば、 コンタクトホール用遮光パターンが形成されたマスクを介し て活性エネルギー線を 1回以上照射する工程、 所定のエッチング操作によりコン タクトホール部の樹脂組成物 (R) 層を除去する工程を含むコンタクトホール形 成工程群(またはエッチング工程群) (B) を順次施すことによって、 良好な表面 凹凸形状と、 良好なコンタクトホールを安定に得ることができ、 好ましい。 上記のようにコンタクトホールを形成する場合、 様々な方法をとることができ る。 その一例を、 図面を用いて説明する。
図 3 (a) 〜 (f) は、 表面凹凸形成方法の工程を示し、 (a) 〜 (d) は表面 凹凸形成工程群 (A) を、 (e) および (f) はエッチング工程群 (B) を示す。 まず、 表面の任意の箇所に TFT、 TFD等の下層膜 22が形成された基板 (基 材) 2を準備する (図 3 (a))。 次に、 上記工程 (A) として、 基材 2上に樹脂 組成物 (R) 層 1を設ける (図 3 (b))。 得られた樹脂組成物 (R) 層 1上に、 上記工程 (B) として、 パターン形成されたマスク 4を介して活性エネルギー線 5を照射する (図 3 (c))。
マスク 4のマスクパターンは、 活性エネルギー線遮断部と活性エネルギー線透 過部からなり、 規則的あるいは不規則的な繰り返しパターンを有している。 この 活性エネルギー線遮断部には、 後にコンタクトホールを形成される部分が含まれ ていることが好ましい。 すなわち、 上記工程 (D) における遮光された箇所が上 記工程 (B) においても遮光部となっていることが好ましい。
続いて、 エッチング操作を行うことなく加熱 (前加熱) する工程 (C) を行う (図 3 (d))。 ここでの加熱温度 (T1) は、 50〜180°Cであることが好ま しい。 この工程 (C) の加熱により、 活性エネルギー線がマスクを介して透過し た部分の樹脂組成物 (R) 層 1は凸状となり、 マスクにより遮光された部分の樹 脂組成物 (R) 層 1は凹状となる。
次に、 樹脂組成物 (R) 層の除去する箇所以外に、 活性エネルギー線を照射す る工程 (D) を行う (図 3 (e))。 この工程は、 具体的には、 コンタクトホール を形成したい部分のマスクパターンを活性エネルギー線遮断部としたマスク 6を 用い、 活性エネルギー線を照射する。
続いて、 工程 (E) として、 活性エネルギー線がマスクの遮光部により照射さ れなかった樹脂組成物 (R) 層をエッチング (現像)する (図 3 (ί))。 本明細書 において、 エッチングは現像のことである。 このエッチング (現像) により、 樹 脂組成物 (R) 層 1を貫通し基板 2上に形成された下層膜 22に達するコンタク トホール 20が形成される。
この工程 (Ε) の後に、 さらに、 加熱 (後加熱) 工程 (F) を含んでいること が好ましい。 この工程 (F) における加熱温度 (Τ2) は、 上記工程 (C) の加 熱温度 (T1) より高い温度で、 かつ、 250 以下で行うことが好ましい。 次に、 図 4 (a) 〜 (ί) を参照しつつ、 別のコンタクトホール形成工程例を 説明する。
表面の任意の箇所に TFT、 TFD等の下層膜 22が形成された基板 (基材) 2を準備する (図 4 (a))。 この基板 2上に、樹脂組成物(R)層 1を設ける (図 4 (b))。 得られた樹脂組成物 (R) 層 1上に、 上記工程 (B) として、 パター 2
52 ン形成されたマスク 7を介して、 活性エネルギー線 5を照射する (図 4 (c))。 このマスク 7のマスクパターンは、 樹脂組成物 (R) 層を除去する箇所 (たと えば、 後にコンタクトホールを形成する部分) が活性エネルギー線遮断部となつ ており、 さらに、 表面凹凸形成のための活性エネルギー線遮断部と活性エネルギ 一線透過部からなる規則的あるいは不規則的な繰り返しパターンを有している。 続いて、 エッチング操作を行うことなく、 加熱 (前加熱) する工程 (C) を行 う (図 4 (d))。 この工程 (C) における加熱温度 (T1) は、 50〜180 であることが好ましい。 この加熱により、 活性エネルギー線がマスクを介して透 過した部分の樹脂組成物 (R) 層 1は凸状となり、 マスクにより遮断された部分 の樹脂組成物 (R) 層 1は、 凹状となる。 ここで、 凹凸形状を再現性よく且つ有 効に形成させ維持させる観点から、 工程 (C) の加熱後の表面の段差は 0.
m以下であることが好ましい。
次に、 工程 (G) として、 活性エネルギー線がマスクの遮断部により照射しな かった樹脂組成物 (R) 層をエッチング (現像) する (図 4 (e))。 このエッチ ング (現像) により、 樹脂組成物 (R) 層 1を貫通し基板 2上に形成された下層 膜 22に達したコンタクトホール 20が形成される。
続いて、工程(H) として、加熱(後加熱)を行うことが好ましい(図 4 (f ))。 この工程 (H) における加熱温度 (T3) は、 上記工程 (C) における加熱温度 (T 1) より高い温度で、 かつ、 .250°C以下であることが好ましい。 さらに別の表面凹凸形成方法は、図 5 (a)〜(f) にその一例を示すように、 下記の工程 (K) 〜 (0) を含み、 たとえば、 これを用いてコンタクトホールを 形成することのできる方法である。 この方法に使用できる樹脂組成物 (R) は、 上述したものと同じである。
まず、表面の任意の箇所に TFT、 TFD等の下層膜 22が形成された基板(基 材) 2を準備する (図 5 (a))。 この基板 2上に、 工程 (K) として、 少なくと も 1種類の重合可能な化合物 (b) を含む樹脂組成物 (R) の層 1を設ける (図 5 (b))。 この工程 (K) は、 上記工程 (Α) と同様に行うことができる。
得られた樹脂組成物 (R) 層 1上に、 工程 (L) として、 所定の遮光パターン が形成されたマスク (樹脂轵成物 (R) 層除去用マスク) 71を介して、 活性ェ ネルギ一線 5を照射する (図 5 (c))。 このマスク 71には、 たとえばコンタク トホ一ルのように、 樹脂組成物 (R) 層を除去して基板表面を露出させたい位置 に、 活性エネルギー線を遮蔽する遮蔽部が設けられている。 この工程 (L) の活 性エネルギー線の照射は、 マスク 71を介さずに、 所定の遮光部が形成されるよ うに、 直接描画法により直接に行ってもよい。 この工程 (L) および下記の工程 (M) における活性エネルギー線の種類、 線量、 照射方法等は、 上記工程 (B) で述べたと同様である。
続いて、 樹脂組成物 (R) 層に画像状に活性エネルギー線を照射する工程 (M) を行う (図 5 (d))。 この工程 (M) は、 たとえば図 5 (d) に示したようにパ 夕一ン形成されたマスク (パターニングマスク) 72を介して、 あるいは、 直接 描画法で (図示せず) 行うことができる。 このマスク 72は、 活性エネルギー線 遮断部と活性エネルギー線透過部からなる規則的あるいは不規則的な繰り返しパ ターンを有しており、 上記工程 (L) の遮光部 (たとえば、 コンタクトホールを 設けたい位置) に、 活性エネルギー線遮断部が配置されるようになっていること が好ましい。
次に、 工程 (N) として、 たとえばコンタクトホールとなる、 活性エネルギー 線の遮光部の樹脂組成物 (R) 層 1をエッチング (現像) し、 基板表面に形成さ れた下層膜 22に達するコンタクトホール 20を形成する (図 5 (e))。
そして、 樹脂組成物 (R) 層 1を加熱 (後加熱) する工程 (〇) を行う (図 5 (f))。 この工程 (O) の加熱は、 50〜250°Cで行うことが好ましい。 この 後加熱により、 活性エネルギ一線がマスクを介して透過した部分の樹脂組成物 (R) 層 1は凸状となり、 マスクにより遮光された部分の樹脂組成物 (R) 層 1 は凹状となって、 表面凹凸が形成される。 以上に述べた表面凹凸形成方法を用いて表面凹凸形状を形成した樹脂組成物 (R) 層を光学フィルムとすることができる。 すなわち、 本発明に係る光学フィ ルムは、 上記表面凹凸形成方法を用いて形成した表面凹凸形状を備えたフィルム である。
この光学フィルムは、 たとえば、 上記の樹脂組成物 (R) 層形成用として例示 したような基板 (支持体) 上に上記のようにして樹脂組成物 (R) 層を形成し、 その後基板を剥離することにより好ましく製造することができる。
さらに、この光学フィルムの表面凹凸形状面上に反射膜を設けて拡散反射板(図 1 ( d ) 参照) とすることができる。 ここで、 本発明において反射膜は、 半透過 反射膜も含むものである。 また、 反射膜または半透過反射膜は、 積層する表面の 一部に設けられていてもよいし、 全面に設けられていてもよい。
この反射膜の材料は、 反射したい波長領域に応じて適切に選択すればよい。 た とえば、 反射型 L C D表示装置では、 可視光波長領域である 3 0 0 n mから 8 0 0 n mにおいて反射率の高い金属、 たとえばアルミニウムや金、 銀を用い、 真空 蒸着法またはスパッタリング法等によって反射膜を形成する。 反射増加膜 (光学 概論 2、辻内順平、朝倉書店、 1 9 7 6年発行)を上記の方法で積層してもよい。 屈折率差を利用して反射させる場合、 I T Oや五酸化タンタル、 酸化チタン等の 膜とシリコンやアルミニウム等の酸化膜ゃ窒化膜、 酸窒化膜を、 真空蒸着法また はスパッ夕リング法等によって積層形成することができる。反射膜の厚みは、 0 . 0 1〜5 0 mが好ましい。 反射膜の必要な部分だけに、 フォトリソグラフィ一 法、 マスク蒸着法等によりパターンを形成してもよい。
一方、 半透過反射膜は、 可視光線の半透過機能を付与させた膜であり、 反射膜 と同様にその材料が選択され、 形成される。 さらに、 半透過反射膜上に反射増加 膜を積層してもよい。 屈折率差を利用して反射させる場合、 I T Oや五酸化タン タル、 酸化チタン等の膜とシリコンやアルミニウム等の酸化膜ゃ窒化膜、 酸窒ィ匕 膜を、真空蒸着法またはスパッタリング法等によって積層形成することができる。 半透過反射膜の厚みは、 0 . 0 0 3〜5 が好ましい。 半透過反射膜の必要な 部分だけに、 フォトリソグラフィ一法、 マスク蒸着法等によりパターニングして もよい。
好ましい実施形態において、 拡散反射板は、 基板と表面凹凸形状を備えた薄膜 層と反射膜とがこの順に積層されてなり、 薄膜層が (a ) バインダボリマ一、 1 種類以上の (b ) 重合可能な化合物、 および (c ) 光重合開始剤を含む組成物を 用いて形成されたものである。 薄膜層の表面凹凸形状は、 上記の表面凹凸形成方 法により形成されることが好ましい。 次に、 本発明に係る転写原型について説明する。 第 1の転写原型は、 上記の表 面凹凸形成方法を用いて形成された表面凹凸をそのまま型とするものである。 こ の第 1の転写原型の表面凹凸面を型として、 第 2の転写原型を作製することがで きる。 さらに、 第 2の転写原型の表面凹凸面を型として第 3の転写原型を作成す ることもできる。 この場合、 2度転写しているので、 第 3の転写原型は、 第 1の 転写原型の表面凹凸形状と同じ凹凸形状を有するものとなる。
これらの転写原型は、 一般に、 表面凹凸の形成されたフィルム (すなわち樹脂 組成物 (R) 層) とその基板 (支持体) とから構成され、 表面凹凸面の上に保護 層がさらに形成されていてもよい。 基板の例としては、 上記の樹脂組成物 (R) 層形成用として例示した基板のほか、 金属板、 金属ロール、 金属スタンパなどが 挙げられる。 保護層としては、 上記反射膜の材料として例示したものなどが使用 できる。
第 1の転写原型は、 たとえば、 任意の基板上に、 上 の表面凹凸形成方法によ り形成された表面凹凸面を有する樹脂組成物 (R) 層を積層することにより容易 に製造することができる。 第 2の転写原型は、 上記第 1の転写原型を、 任意の基 板上に積層された任意の転写原型形成用の樹脂層に押し当てて、 第 1の転写原型 の表面凹凸形状を転写することにより、 容易に製造することができる。 転写原型 形成用の樹脂は、 光硬化性樹脂であることが好ましく、 たとえば、 上記の表面凹 凸形成方法に用いられる榭脂組成物 (R) を転写原型用に用いることもできる。 本発明に係る転写ベースフィルムは、 ベ一スフィルムとベースフィルム上に形 成された被転写層 (下塗り層) とを含む。 下塗り層は、 上記の第 1または第 2の 転写原型の表面凹凸形状の転写による表面凹凸形状を有している。 すなわち、 転 写べ一スフイルムは、 ベ一スフイルムと、 表面凹凸形状を有する下塗り層とを含 んでいる。
さらに、 上記転写べ一スフイルムを仮支持体として用い、 仮支持体の転写原型 を転写した面 (すなわち下塗り層) 上に薄膜層を形成し、 薄膜層における仮支持 体 (すなわち下塗り層) に接着されていない面が被転写基板への接着面を構成す る転写フィルムとすることができる。
すなわち、 図 6にその一実施形態を示すように、 この転写フィルム 5 0は、 ベ —スフイルム 5 1と下塗り層 5 2を含む、 仮支持体としての転写ベースフィルム
4 0と、その上に積層された薄膜層 5 3とを有している。転写べ一スフイルム(仮 支持体) 4 0の下塗り層 5 2表面の薄膜層 5 3の、 下塗り層側とは反対側の表面 が被転写基板への直接の接着面を構成するものである。 薄膜層 5 3の上には、 任 意にカバーフィルム (保護フィルム) 5 4が積層されていてもよい。
さらに、 図面には示されていないが、 仮支持体 4 0 (下塗り層 5 2 ) と薄膜層
5 3の間に反射膜をさらに含んでいてもよい。
上記転写ベースフィルム 4 0のベースフィルム 5 1としては、 化学的、 熱的に 安定であり、 シートまたは板状に成形できるものを用いることができる。 具体的 には、 ポリエチレン、 ポリプロピレン等のポリオレフイン、 ポリ塩化ビュル、 ポ リ塩化ビエリデン等のポリハロゲン化ビニル類、 セルロースアセテート、 ニトロ セルロース、 セロハン等のセルロース誘導体、 ポリアミド、 ポリスチレン、 ポリ カーボネート、 ポリイミド、 ポリエステル、 あるいはアルミニウム、 銅等の金属 類等である。 これらの中で特に好ましいのは、 寸法安定性に優れた 2軸延伸ポリ エチレンテレフ夕レートである。
ベ一スフイルム 5 1上に形成する下塗り層 5 2としては、.凹凸形成後には薄膜 P T/JP03/07222
57 層 5 3よりも硬くなるものを用いることが好ましい。 たとえば、 ポリエチレン、 ポリプロピレンなどのポリオレフィン;エチレンと酢酸ビエル、 エチレンとァク リル酸エステル、 エチレンとビニルアルコールのようなエチレン共重合体;ポリ 塩化ビニル、 塩化ビエルと酢酸ビニルの共重合体、 塩化ビエルとビニルアルコー ルの共重合体、 ポリ塩化ビニリデンのような含塩素系樹脂;ポリスチレン、 スチ レンと (メタ) アクリル酸エステルのようなスチレン共重合体;ポリビニルトル ェン、 ビエルトルエンと (メタ) アクリル酸エステルのようなビニルトルエン共 重合体;ポリ (メタ) アクリル酸エステル、 (メタ) アクリル酸プチルと酢酸ビニ ルのような (メタ) アクリル酸エステルの共重合体;合成ゴム、 セルロース誘導 体等から選ばれた、少なくとも 1種類以上の有機ポリマーを用いることができる。 凹凸形成後に硬化させるために、 必要に応じて、 光開始剤やエチレン性二重結合 を有するモノマー等を添加することができる。 感光タイプは、 ネガ型、 ポジ型の いずれであってもよい。
転写フィルム 5 0の薄膜層 5 3の形成には、 仮支持体上に塗布しフィルム状に 巻き取ることが可能な任意の樹脂組成物を用いることができる。 この樹脂組成物 に、 必要に応じて、 染料、 有機顔料、 無機顔料、 粉体およびその複合物を、 単独 または混合して配合してもよい。 薄膜層形成用として、 光硬化性樹脂組成物を用 いることが好ましい。 また、 薄膜層形成用として、 上記の表面凹凸形成用の樹脂 組成物 (R) を用いてもよい。 薄膜層の軟化温度は、 特に制限されないが、 2 0 0 °C以下であることが望ましい。 また加熱による流動性を得るために、 分子量 1 0 0 0 0以下の低融点物質を添加することができる。
なかでも、 基板 (被転写基板) に対する密着性が良好で、 転写ベースフィルム 4 0からの剥離性がよいものを、 薄膜層 5 3として用いるのが好ましい。 たとえ ば、 光硬化性樹脂組成物に含まれる有機ポリマーとしては、 アクリル樹脂、 ポリ エチレン、 ポリプロピレン等のポリオレフイン;ポリ塩化ビエル、 ポリ塩化ビニ リデン等のポリハロゲン化ビニル類;セルロースアセテート、ニトロセルロース、 セロハン等のセルロース誘導体;ポリアミド、ポリスチレン、ポリカーボネート、 03 07222
58 ポリエステル等を用いることができる。 T F T液晶表示装置に用いる場合は、 基 板に形成された T F Tとのコンタクトホールを形成するためにその部分の薄膜層 を除けるように、 アルカリ等で現像可能な感光性樹脂を用いることもできる。 ま た、 耐熱性、 耐溶剤性、 形状安定性を向上させるために、 熱によって硬化可能な 樹脂組成物を用いることもできる。 さらに、 カップリング剤、 接着性付与剤を添 加することで、 基板との密着を向上させることもできる。 接着を向上させる目的 で、 基板または薄膜層の接着面に接着性付与剤を塗布することもできる。
薄膜層の加熱による流動性を得るために、 分子量 1 0 0 0 0以下の低融点物質 を添加することが好ましい。 このような物質としては、 たとえば 「プラスチック ス配合剤」 (遠藤 昭定、 須藤 眞編、 大成社発行、 平成 8年 1 1月 3 0日発行) 記載の可塑剤や、 エチレン性二重結合を分子内に少なくとも 1個以上有するモノ マーが挙げられる。 これらの低融点物質の使用量は、 薄膜層を形成する樹脂組成 物中の固形分総量の 1〜 7 0重量%とすることが好ましい。
上記薄膜層に使用可能なエチレン性二重結合を分子内に少なくとも 1個以上有 するモノマ一としては、 たとえば、 トリメチロールプロパントリァクリレート、 トリメチ口一ルプロパンジァクリレート、 トリエチレングリコールジァクリレー ト、 ジエチレングリコールジアタリレート、 テトラエチレングリコールジァクリ レート、 へキサメチレングリコールジァクリレート、 ネオペンチルグリコールジ ァクリレート、 フルフリルァクリレート、 テトラメチロールメタンテトラァクリ レ一ト、 レゾルシノールジァクリレート、 P , P, 一ジヒドロキシジフエニルジ ァクリレ ト、 スピログリコールジァクリレート、 シクロへキサンジメチロール ジァクリレート、 ビスフエノール Aジァクリレート、 ポリプロピレングリコ一ル ジァクリレート、 ペン夕エリスリトールテトラァクリレート、 エチレングリコー ル化ペンタエリスリトールテトラァクリレート、 ジペン夕エリスリトールへキサ ァクリレート、 および上記のァクリレートに対応するメタクリレート化合物、 メ チレンビスァクリルアミド、 ウレタン系ジァクリレート等の多官能モノマーが挙 げられる。 また、 E C H (ェピクロルヒドリン)変性フタル酸ジァクリレート、 トリス (ァ クリロキシェチル) イソシァヌレート、 トリス (メタクリロキシェチル) イソシ ァヌレ一ト、 トリス (2 -ヒドロキシェチル) イソシァヌレート、 ポリエチレング リコールジメ夕クリレート、トリブロモフエニルァクリレート、エチレンォキサイ ド変性トリブロモフエノールァクリレート, エチレンオキサイド変性テトラブロ モビスフエノールジメタクリレートなどの、 2 5 °Cで固体または粘度が 1 O O P a · s ( 1 0万 c s p ) 以上であるモノマーおよびオリゴマーを用いてもよい。 さらに 「感光材料リストブック」 (フォトポリマー懇話会編、 ぶんしん出版発行、 1 9 9 6年 3月 3 1日発行) 記載のものから選ばれるのが好ましい。
さらに、 メチルメタクリレート、 ェチルメタクリレート、 n—ブチルメタクリ レート、 イソブチルメタクリレート、 2—ェチルへキシルメタクリレート、 アル キルメタクリレート、 シクロへキシルメタクリレート、 テトラヒドロフルフリル メタクリレート、 ベンジルメ夕クリレート、 モノ (2—メタクリロイルォキシェ チル) アシッドホスフェート、 ジメチルアミノエチルメタクリレート四級化物等 の単官能モノマーを用いることもできる。
薄膜層用のこれらのモノマ一ノォリゴマー成分は単独で、 または 2種類以上を 混合して用いることもできる。
薄膜層を形成する樹脂が光硬化性樹脂の楊合の光重合開始剤としては、 たとえ ば、 ベンゾフエノン、 N, N ' ーテトラェチルー 4 , 4 ' ージァミノべンゾフエ ノン、 4—メトキシー 4 ' ージメチルァミノべンゾフエノン、 ベンジル、 2 , 2 ージエトキシァセトフエノン、 ベンゾイン、 ベンゾインメチルエーテル、 ベンゾ インイソブチルエーテル、 ベンジルジメチルケタール、 ひーヒドロキシイソプチ ルフエノン、 チォキサントン、 2—クロ口チォキサントン、 1—ヒドロキシシク 口へキシルフェニルケトン、 2—メチル— 1— [ 4— (メチルチオ〉 フエニル] —2—モルホリノ一 1一プロパン、 t一プチルアントラキノン、 1一クロ口アン トラキノン、 2, 3—ジクロ口アントラキノン、 3—クロル一 2—メチルアント ラキノン、 2—ェチルアントラキノン、 1 , 4一ナフトキノン、 9 , 1 0—フエ ナントラキノン、 1 , 2—ベンゾアントラキノン、 1, 4一ジメチルアントラキ ノン、 2—フエ二ルアントラキノン、 2 — ( o—クロ口フエニル) ー4, 5—ジ フエ二ルイミダゾ一ルニ量体が挙げられる。 これらの光重合開始剤は単独で、 ま たは 2種類以上を組み合わせて使用される。 光重合開始剤の使用量は、 樹脂組成 物中の固形分総量の 0 . 0 1〜2 5重量%とすることが好ましく、 1〜2 0重量% であることがより好ましい。
薄膜層の表面 (被転写基板に転写される面) には、 保護フィルム (カバ一フィ ルム) 5 4を積層することができる。 このカバーフィルムとしては、 化学的およ ぴ熱的に安定で、 薄膜層との剥離が容易であるものが望ましい。 具体的には、 ポ リエチレン、 ポリプロピレン、 ポリエチレンテレフ夕レート、 ポリビニルアルコ
—ル等の、 薄いシート状で表面平滑性の高いものが好ましい。 剥離性を付与する ために、 カバーフィルムの表面に離型処理をしたものも好ましい。
上記転写べ一スフイルムの製造工程は、 たとえば、 ベ一スフイルム上に下塗り 層を形成する工程;および得られた下塗り層に、 上記の第 1または第 2の転写原 型を押し当てて表面凹凸形状を転写する工程とを含んでいる。
上記転写フィルムは、 上記転写ベースフィルム (仮支持体) 上に薄膜層を形成 することにより製造することができる。
下塗り層や薄膜層の形成方法は、 特に限定はされないが、 これらの層を形成す るための樹脂組成物をべ一スフイルムまたは仮支持体上に塗布することにより、 好ましく形成することができる。 この塗布方法としては、 ロールコ一夕塗布、 ス ビンコ一夕塗布、 スプレー塗布、 ディップコータ塗布、 カーテンフローコ一夕塗 布、 ワイヤバ一コ一夕塗布、 グラビアコ一夕塗布、 エアナイフコー夕塗布等が挙 げられる。
このようにして転写ベースフィルム 4 0表面に形成した薄膜層 5 3の膜厚 (乾 燥後) は、 0 . 1 m〜5 0 mの範囲が好ましい。 このとき、 下塗り層 5 2の 凹凸形状の最大高低差より薄膜層の膜厚が厚い方が、 薄膜層における凹凸形状の 再現が容易である。 薄膜層の膜厚がこの凹凸形状の最大高低差と等しいか、 ある いは薄いと、 原型凸部 (下塗り層 5 2の凸部) で薄膜層を突き破ってしまい、 不 必要な平面部が発生し、 反射効率の良好な拡散反射板を得にくくなる。 次に、 上記転写フィルムを用いた拡散反射板の製造方法について説明する。 図 7にその一工程例を模式的に示すが、 まず、 図 7 ( a ) に示すように転写フ イルム 5 0にカバ一フィルム 5 4が存在する場合はカバーフィルム 5 4を剥離し、 ガラス基板 5 6等の被転写基板上に、 転写フィルム 5 0を、 その薄膜層 5 3が被 転写基板 5 6の表面に密着するようにしてラミネートし、加熱圧着して、図 7 ( b ) にみるように薄膜層 5 3を被転写基板 5 6に転写する。 さらに密着性を必要とす る場合には、 基板を必要な薬液等で洗浄する、 基板に接着付与剤を塗布する、 基 板に紫外線等を照射する等の方法を用いてもよい。 薄膜層を転写する装置として は、 たとえば、 加熱、 加圧可能なゴムロール (熱圧着ゴムロール) 5 5と基板 5 6の間に保護フィルムを外した転写フィルム 5 0全体を挟み、 ロール 5 5を回転 させて、 薄膜層 5 3を基板 5 6に押し当てながら基板 5 6を送りだす、 口一ルラ ミネ一夕を用いることが好ましい。
薄膜層 5 3を積層したのち、 仮支持体 4 0を剥離する (図 7 ( d ) )。
続いて、 転写フィルムが反射膜を含んでいない場合は、 薄膜層 5 3上に反射膜 5 7を積層して拡散反射板 6 0が得られる (図 7 ( e ) )。 転写フィルムが下塗り 層 5 2と薄膜層 5 3の間に反射膜を有するものである場合は、 この反射膜の積層 工程は必要ない。
上記工程において、 光を拡散し得る形状を保持するために、 薄膜層 5 3を露光 し、 感光 ·硬化させることが好ましい (図 7 ( c ))。 露光機としては、 カーボン アーク灯、超高圧水銀灯、高圧水銀灯、キセノンランプ、メタル八ライドランプ、 蛍光ランプ、 タングステンランプ等が挙げられる。 露光は、 仮支持体 (4 0 ) を 剥がす前か、 または剥がした後に行う。場合によっては、露光後に、温風加熱炉、 または赤外線加熱炉、 ホットプレート等で加熱を行ってもよい (図 7 ( e ) )。 こ の露光後の加熱は、 仮支持体を剥がした後の任意の段階で行われ、 反射膜を形成 した後に行ってもよい。
図 8に、 別の実施形態として、 樹脂組成物 (R) 層 1上に反射膜 3を設けた、 コンタクトホール 2 0を有する拡散反射板の例を示す。
さらに、 上記転写ベースフィルムを基板に押し当てて基板表面に表面凹凸形状 を転写することにより拡散反射板を製造することもできる。 この場合は、 任意の 薄膜層が設けられた薄膜層付き基板を用意し、 その薄膜層の表面に、 転写ベース フィルムを、 その下塗り層側が面するように押し当てて、 薄膜層の表面に下塗り 層の表面凹凸形状を転写し、 転写ベースフィルムを剥がし、 その後、 薄膜層の表 面に反射膜を形成することにより拡散反射板が製造される。 基板上の薄膜層とし ては、 たとえば、 上記の転写フィルムの薄膜層に用いられるものが好ましく使用 できる。 この場合も、 凹凸形状転写後に、 薄膜層を硬化させることが好ましい。 また、 上記転写べ一スフイルムの下塗り層の表面に反射膜を設けて、 そのまま 拡散反射板とすることもできる。
以上のようにして得られる拡散反射板は、 特に、 反射型液晶ディスプレイの拡 散反射板として好ましく使用できる。
この拡散反射板を有する反射型液晶ディスプレイの一例を、 図 9に示す。 図示 された反射型液晶ディスプレイ 7 0では、 ガラス基板 5 6と薄膜層 5 3と反射膜 5 7を含む拡散反射板 6 0が背面側 (下側) に設けられている。 このガラス基板 5 6と対向して、 スぺーサ 1 4を介して、 表示側 (上側) の透明基板 (ガラス基 板) 6 6が設けられ、 両基板 5 6, 6 6の間に液晶層 1 3が設けられ、 背面側の 絶縁基板 5 6と表示側の透明基板 6 6に、 それぞれ、 透明電極 1 0 , 1 0が形成 されている。 反射膜 5 7の上には、 さらに平坦ィ匕膜 1 1が形成されている。 表示 側から入った外部光線 (周囲光) は、 この反射膜 5 7の表面で反射され、 液晶層 1 3を通過して再度表示側に出射することで表示が行われる。 この反射膜 5 7の 表面の凹凸形状により、 反射光を正面方向に集光させることができる。 平坦化膜 1 1および透明電極 1 0の上には、 配向膜 1 2, 1 2が形成される。
表示側のガラス基板 6 6には、 位相差フィルム 1 5および偏光板 1 6が設けら P T/JP賺 7222
63 れ、 他方側には、 赤、 緑、 青の各カラーフィルタ 8、 ブラックマトリックス 9、 平坦化膜 1 1が設けられる。 以上、 図 9に示すような反射型液晶ディスプレイで説明したが、 本発明に係る 拡散反射板は、 外部光線や内部光線を拡散反射させることが必要な液晶用バック ライト反射板、 プロジェクタ用スクリーン、 電気泳動表示装置、 有機 E L表示装 置、 無機 E L表示装置、 エレクト口クロミック表示装置、 フォトエレクト口クロ ミズム表示装置等の表示デバィスに用いることができる。
本発明に係る光学フィルムは、ノングレアシート、液晶用バックライト拡散板、 視野角制御フィルム、 リアプロジェクシヨン用透過スクリーン、 ビューファイン ダ一用マイクロレンズ、 プロジェクタ用マイクロレンズ、 立体テレビ用視野角制 御フィルム、 光学式バイオメ卜リクス個人認証センサー (指紋センサーなど) 等 の光学デバイスに用いることができる。また、必要に応じて基材と組み合わせて、 生体高分子等の各種高分子や各種低分子化合物など、 様々な分子用の分子固定化 用基板、 分子分離用流路、 分子検出用セル、 分子反応用容器として用いることが できる。
さらに、 本発明に係る表面凹凸形成方法は、 印刷用版、 液晶表示装置の MVA 用配向制御、 溝構造高分子液晶分子配向制御、 溝構造低分子液晶分子配向制御、 表示素子等に用いるマイクロ力プセル形成、 表示素子基板間ギヤップ形成用スぺ ーサ形成、 生体高分子等の各種高分子や各種低分子化合物など、 様々な分子用の 分子固定化用基板、 分子分離用流路、 分子検出用セル、 分子反応用容器の形成な どに用いることができる。 本発明によれば、 簡便にかつ安価に、 感光性樹脂層表面に凹凸形状を形成する ことができる。
別の本発明によれば、 液晶表示用基板等の基板上に、 表面形状特性および基板 との密着性に優れ、 簡便にかつ安価な方法で、 表面凹凸形状を有する感光性樹脂 層を形成することができる。
別の本発明によれば、液晶表示用基板において、高温処理時の形状安定性を高め ることができる。 3
さらに別の本発明によれば、 従来の方法では困難である、 感光性樹脂表面の所 望の凹凸形状を維持したまま、 ある特定領域にコンタクトホールを形成すること ができる。 特に、 感光性樹脂層下部に配置される T FTと感光性樹脂層上部に配 置される反射電極とが導通されていることが必要とされる、 T FT反射型デイス プレイの拡散反射板を製造するために好適な、 コンタクトホールを有する表面凹 凸形状を安定に得ることができる。 実施例
以下、 実施例により本発明をさらに具体的に説明する。
[実施例 1 ]
<ポリマー Aの合成 >
撹拌機、 還流冷却機、 不活性ガス導入口および温度計を備えたフラスコに、 表 1に示す(1)を仕込み、窒素ガス雰囲気下で 80 に昇温し、反応温度を 8 O : 土 2 に保ちながら、 表 1に示す (2) を 4時間かけて均一に滴下した。 (2) の 滴下後、 8 O 土 2でで 6時間撹拌を続けた後、 表 1に示す (3) を添加した。
(3) を添加後、 反応系を 100 に昇温し、 0. 5時間かけて表 1に示す(4) を滴下した。 (4) の滴下後、 100°Cで 20時間撹拌を続けた後、 室温に冷却し て、 重量平均分子量が約 70, 000、 酸価約 75、 固形分約 39. 1重量%の ポリマー Aを得た。
[表 1]
配合成分 配合量
(重量部)
プロピレングリコールモノメチルエーテル
(1 ) 1 50
ァセテ一卜
(2) メタクリル酸 1 9. 2 スチレン 33 メタクリル酸 n-ブチル 1 0
メタクリル酸メチル 37. 8
2, 2' -ァゾビス (イソプチロニ卜リル) 1. 0
(3) 八ィドロキノン 0. 05
メ夕クリル酸グリシジル 1 0. 7
塩化べンジル卜リメチルアンモニゥ厶 0. 1
(4)
プロピレングリコールモノメチルエーテル
50
アセテート
<表面凹凸サンプルの作製 >
6枚のガラス基板を用意し、 表 2に示す配合の樹脂組成物 (R) の塗液を、 各 ガラス基板上に、 毎分 1000回転で 10秒間スピンコートし、 ホットプレート 上、 90°Cで 4分間加熱し、 それぞれ膜厚 6 mの樹脂組成物 (R) 層を有する 6個のサンプルを得た。 この樹脂組成物 (R) 層の波長 500 nmの光線の透過 率は 96%であった。
[表 2]
Figure imgf000067_0001
得られた各サンプルの樹脂組成物 (R) 層の上に、 それぞれ、 紫外線透過部と 紫外線遮光部の境界線が不規則的な曲線でパターニングされたマスクを置き、 マ スク面垂直上方より 0. 06 JZcm2の紫外線を照射した。 その後、 6個のサ P 漏 3/07222
66 ンプルのそれぞれを、 90で、 12 O 140°C、 180で、 200tおよび 230でで 30分間加熱して、 それぞれが異なる温度条件で硬化された 6種類の サンプル (順に S 1〜S 6) を得た。 各サンプルの樹脂組成物 (R) 層上に、 ス パッ夕により、 アルミニウム金属膜 0. 1 mを作製した。
以上により、 樹脂組成物 (R) 層の紫外線照射部断面が凸、 紫外線遮光部断面 が凹の凹凸ピッチ 1 0 の形状を有し、 その凹凸段差が 0. 26 m (S 1)、 0. 25 m (S 2)、 0. 28 urn (S 3), 0. 43 m (S 4), 0. 57 f m (S 5) および 0. 68 m (S 6) である 6種類の表面凹凸サンプソレ (たと えば、 表面凹凸を有する転写原型) が得られた。
図 10に 230°Cで 30分間の加熱により硬化した表面凹凸サンプル (S 6) の表面凹凸形状の顕微鏡写真を示し、 図 2にその断面の凹凸段差を示す。
[実施例 2 ]
実施例 1と同じ樹脂組成物 (R) の塗液を、 ポリエーテルスルホン基板上に、 毎分 1300回転で 10秒間スピンコートし、 ホットプレート上 90°Cで 4分間 加熱し、 膜厚 4 mの樹脂組成物 (R) 層を得た。 この樹脂組成物 (R) 層の上 に紫外線照射部と紫外線遮光部の境界線が不規則的な曲線でパターニングされた マスクを置き、マスク面垂直上方より 0. 06 J /cm2の紫外線を照射した後、 180°Cで 30分間の加熱により硬化させ、 スパッ夕により膜厚 0. のァ ルミニゥム金属膜を形成した。
その結果、 樹脂組成物 (R) 層の紫外線照射部断面が凸、 紫外線遮光部断面が 凹の、 凹凸ピッチ 8 mの形状を有し、 その凹凸段差が 0. 7 である表面 凹凸サンプル (たとえば、 表面凹凸を有する転写原型) が得られた。
上記実施例 1および 2で得られた表面凹凸サンプルは、 そのまま拡散反射板と して使用することができるものであった。
[実施例 3 ]
ベースフィルムとして厚さ 1 00 mのポリエチレンテレフタレ一トフイルム を用い、 このベースフィルム上に下塗り層として、 表 3に示す光硬化性樹脂溶液 を、 コンマコーターで 20 mの膜厚 (乾燥後) になるよう塗布した。 次に、 得 られた下塗り層に、 実施例 1に記載の 23 O :の加熱硬化で得られた表面凹凸サ ンプル (S 6) を転写原型として押しあて、 紫外線照射により下塗り層の光硬化 性樹脂を硬化させた。 その後、 下塗り層から転写原型とした表面凹凸サンプルを 分離し、 光硬化性樹脂層 (下塗り層) の表面に凹凸形状が形成された転写ベース フィルムを得た。
Figure imgf000069_0001
次に、 得られた転写ベースフィルム上に、 上記表 2の樹脂組成物 (R) の塗液 を、 コンマコ一夕一で乾燥後の平均膜厚が 8 zmになるよう塗布乾燥し、 カバー フィルムとしてポリエチレンフィルムを被覆して、 転写フィルムを得た (図 6参 照)。次に、 図 7に示したように、 この転写フィルムのカバーフィルムを剥がしな がら、 樹脂組成物 (R) 層がガラス基板に接するようにして、 転写フィルムをガ ラス基板にラミネートした。 ラミネートは、 ラミネ一夕 (口一ルラミネ一夕 HL Ml 500、 日立化成テクノブラント株式会社製商品名) を用いて、 基板温度 9 0 、 ロール温度 80°C、 ロール圧力 0. 686MP a (7 k g/cm2), 速度 0. 5m/分で行った。これにより、ガラス基板上に、下から順に樹脂組成物(R) 層と転写ベースフィルムが積層された基板を得た。
次に、 転写ベースフィルムを剥離し、 ガラス基板上に、 実施例 1の表面凹凸サ ンプルと同じ表面凹凸形状を有する樹脂組成物 (R) 層を得た。 次に、 オーブン で 230で、 30分間の加熱による硬化を行い、 真空蒸着法で、 アルミニウム薄 膜を 0 . 1 mの膜厚になるよう積層した反射層を形成し、 拡散反射板を得た。 図 1 1に、 実施例 3により得られた拡散反射板の真正面への反射強度 (標準白 色板に対する相対強度) の入射角度依存性を示す。
図 1 1から明らかであるように、 一 1 5 ° 〜1 5 ° の入射角度範囲において、 反射強度 4を超える優れた拡散反射板を簡便に得ることができた。
[実施例 4 ]
実施例 1と同じ樹脂組成物 (R) の塗液を、 ガラス基板上に、 毎分 1 3 0 0回 転で 1 0秒間スピンコートし、 ホットプレート上 9 0でで 4分間加熱し、 膜厚 4 mの樹脂組成物 (R) 層を得た。 この樹脂組成物 (R) 層の上に紫外線照射部 と紫外線遮光部の境界線が規則的な直線でパ夕一ニングされたマスクを置き、 マ スク面垂直上方より 9 0 0 mm2の範囲に 0 . 0 6 J Z c m2の紫外線を照射した 後、 1 8 0でで 3 0分間の加熱により硬化させた。
その結果、 樹脂組成物 (R) 層の紫外線照射部断面が凸、 紫外線遮光部断面が 凹の、 凹凸ピッチ 8 mの形状を有し、 その凹凸段差が 0 . 7 mである、 厚み 約 3 mの配向膜が得られた。 この配向膜上に、 シァノビフエニル系液晶のプロ ピレングリコ一ルモノェチルエーテルアセテート溶液をスピンコートし、 ホット プレート上 7 0でで 5分間加熱し、 液晶配向膜を得た。
2枚の偏光フィルムを互いに偏光軸が垂直になるように配置して、 この液晶配 向膜を挾み、 配向膜表面にパターニングされた直線を各偏光軸に対して 4 5 ° の 角度に配置し、 白色光を透過させて観察したところ、 パターンが存在する 9 0 0 mm2の範囲で、 液晶が λ/ 2の位相差を持つことに起因した透過白色光が観察さ れた。 これにより、 得られた配向膜上の液晶の配向を確認した。
[実施例 5 ]
実施例 1と同じ樹脂組成物 (R) の塗液を、 ポリエーテルスルホン基板上に、 毎分 1 0 0 0回転で 1 0秒間スピンコ一トし、 ホットプレート上 9 0でで 4分間 加熱し、 膜厚 6 mの樹脂組成物 (R) 層を得た。 この樹脂組成物 (R) 層の上 に紫外線遮光部が直径 15 の円形にパターニングされたマスクを置き、 マス ク面垂直上方より 0. 06 JZcm2の紫外線を照射した後、 200 で 30分 間の加熱により硬化させた。
その結果、 樹脂組成物 (R) 層の紫外線遮光部断面が凹である直径 15 imの 偏平半球形状 (お椀形状) を有し、 凹部深さが 1. 2 の凹みが得られた。 図 12に、 得られた表面凹部の断面プロファイルを示す。
このお椀形状を有する基板に、インクジエツト法で赤色インキを塗布した結果、 お椀形状内の赤色濃度が強くなることを光学顕微鏡で確認でき、 マイクロカプセ ルとしての機能を有することを確認した。
[実施例 6 ]
実施例 1と同じ樹脂組成物 (R) の塗液を、 ガラス基板上に、 毎分 1000回 転で 10秒間スピンコートし、 ホットプレート上 90でで 4分間加熱し、 膜厚 6 mの樹脂組成物 (R) 層を得た。 この樹脂組成物 (R) 層の上に紫外線照射部 が直径 15 tmの円形にパターニングされたマスクを置き、 マスク面垂直上方よ り 0. 06 JZcm2の紫外線を照射した後、 200°Cで 30分間の加熱により 硬化させた。
その結果、 樹脂組成物 (R) 層の紫外線照射部断面が凸である直径 10 の 偏平半球形状を有し、 凸部高さが 0. 4 のマイクロレンズが得られた。 図 1 3に、 得られた表面凸部の断面プロファイルを示す。
[比較例 1 ]
実施例 1の樹脂組成物 (R) の塗液を、 ガラス基板上に、 毎分 1000回転で 10秒間スピンコートし、 ホットプレート上 90 で 4分間加熱し、 膜厚 6 m の樹脂組成物 (R) 層を得た。 この樹脂組成物 (R) 層の上に、 紫外線透過部と 紫外線遮光部の境界線が不規則的な曲線でパターニングされたマスクを置き、 マ スク面垂直上方より 0. 06 JZ cm2の紫外線を照射した。 その後、 加熱を行 うことなく室温 (25°C) で 1時間放置したところ、 樹脂組成物 (R) 層の表面 に表面凹凸段差が観測されなかった。
[比較例 2]
実施例 1の樹脂組成物 (R) の塗液を、 ガラス基板上に、 毎分 1000回転で 10秒間スピンコートし、 ホットプレート上 90 で 4分間加熱し、 膜厚 6 m の樹脂組成物 (R) 層を得た。 この樹脂組成物 (R) 層の上に、 紫外線照射部と 紫外線遮光部の境界線が不規則的な曲線でパ夕一ニングされたマスクを置き、 マ スク面垂直上方より 0. 2 J/cm2の紫外線を照射した。 その後、 加熱を行う ことなく室温 (25°C) で 1時間放置したところ、 樹脂組成物 (R) 層の表面に 表面凹凸段差が観測されなかった。
[比較例 33
実施例 1の樹脂組成物 (R) の塗液を、 ガラス基板上に、 毎分 1000回転で 10秒間スピンコートし、 ホットプレート上 90°Cで 4分間加熱し、 膜厚 6 zm の樹脂組成物 (R) 層を得た。 この樹脂組成物 (R) 層の上に、 紫外線照射部と 紫外線遮光部のパターニングされたマスクを置かずに、 樹脂組成物 (R) 層の垂 直上方より 0. 06 J/cm2の紫外線を全面照射した後、 230でで 30分間 の加熱をした。 その結果、 樹脂組成物 (R) 層の表面に表面凹凸段差が観測され なかった。
以上より、 実施例では反射特性に極めて優れた表面凹凸が形成されたが, 加熱 工程のない比較例 1, 2および全面に紫外線を照射した比較例 3では、 表面凹凸 段差が生じなかった。
[実施例 4〜10]
バインダボリマ一として上記表 1のポリマ一 Aを用い、 ポリマー Aとモノマー の固形分配合比 (重量比) を 80 : 20、 70 : 30、 65 : 35、 60 : 40、 55 : 45、 50 : 50、および 40: 60として調製した表 4の樹脂組成物(R) の塗液を、 ガラス基板上に、 それぞれ順に、 1300 r pmで 15秒間、 130 O rpmで 15秒間、 1300、 1100、 950、 800および 64 O r pm でそれぞれ 10秒間スピンコートし、ホットプレート上、 90でで 4分間加熱し、 膜厚 5 mの実施例 4〜10の樹脂組成物 (R) 層を得た。
[表 4]
Figure imgf000073_0001
得られた榭脂組成物 (R) 層の上に、 紫外線照射部と紫外線遮光部の境界線が 不規則的な曲線でパターニングされたマスクを置き、 マスク面垂直上方より 0. 08 Jノ cm2の紫外線を照射した後、 230°Cで 30分間の加熱により硬化さ せた。 さらに、 スパッタにより、 硬化樹脂組成物 (R) 層上に膜厚 0. 1 mの A 1金属膜を形成した。
その結果、 樹脂組成物 (R) 層の紫外線照射部断面が凸、 紫外線遮光部断面が 凹の、 凹凸ピッチ 10 の形状を有し、 その凹凸段差がそれぞれ 0. 45 m (実施例 4)、 0. 61^m (実施例 5)、 0. 89 im (実施例 6)、 0. 94 m (実施例 7)、 1. (実施例 8)、 1. 17 xm (実施例 9 ) および 1. 42 m (実施例 10) である 7種類の転写原型が得られた。 0307222
72 実施例 4〜10の転写原型を用いて、 上記実施例 3と同様に拡散反射板を製造 した結果、 良好な拡散反射板を得ることができた。
[実施例 11〜: L 4]
表 5に示すように、 バインダボリマ一として上記表 1のポリマー Aを用い、 開 始剤の配合割合がパインダポリマーとモノマーの固形分総量の 5. 0、 2. 5、 1. 25、 および 0. 25重量%であるように、 実施例 1 1〜 14の樹脂組成物 (R) の塗液を調製した。
[表 5]
Figure imgf000074_0001
得られた樹脂組成物 (R) の各塗液を、 ガラス基板上に、 1300 r pmで 1 0秒間スピンコートし、 ホットプレート上、 90 で 4分間加熱して、 それぞれ 膜厚 5 xmの樹脂組成物 (R) 層を得た。
得られた各樹脂組成物 (R) 層上に、 紫外線照射部と紫外線遮光部の境界線が 不規則的な曲線でパ夕一ニングされたマスクを置き、 マスク面垂直上方より 0. 08 J /cm2の紫外線を照射した後、 230でで 30分間の加熱により硬化さ せた。 さらに、 硬化樹脂組成物 (R) 層上に、 スパッ夕により膜厚 0. l mの A 1金属膜を形成した。
その結果、 樹脂組成物 (R) 層の紫外線照射部断面が凸、 紫外線遮光部断面が 凹の、 凹凸ピッチ 10 mの形状を有し、 その凹凸段差が 1. (実施例 1 1)、 0. 89 m (実施例 12)、 0. 59 m (実施例 13 ) および 0. 10 m (実施例 14) である 4種類の転写原型が得られた。
得られた実施例 1 1〜14の転写原型を用いて上記実施例 3と同様にして拡散 反射板を製造した結果、 良好な拡散反射板を得ることができた。
[実施例 15]
表 6に示す組成の樹脂組成物 (R) の塗液を、 ガラス基板上に、 毎分 1300 回転で 10秒間スピンコートし、 ホットプレート上 90 で 4分間加熱し、 膜厚 5 mの樹脂組成物 (R) 層を得た。 表 6]
Figure imgf000075_0001
得られた樹脂組成物 (R) 層の上に、 紫外線透過部と紫外線遮光部の境界線が 不規則的な曲線でパターニングされたマスクを置き、 マスク面垂直上方より 0. 06 J /cm2で紫外線を照射した後、 23 で 30分間の加熱により硬化さ せた。 さらに、 硬化樹脂組成物 (R) 層上に、 スパッ夕により、 膜厚 0. l ^m の A 1金属膜を形成した。
その結果、 樹脂組成物 (R) 層の紫外線照射部断面が凸、 紫外線遮光部断面が 凹の、 凹凸ピッチ 10 の形状を有し、 その凹凸段差が 0. 89 mである転 写原型が得られた。
得られた転写原型を用いて、上記実施例 3と同様に拡散反射板を製造した結果、 良好な拡散反射板を得ることができた。
[実施例 16 ]
上記成分 (b— 4) のエポキシ基を少なくとも 1個以上有する重合可能な化合 物として、 ダイセル化学工業株式会社製のセロキサイド 35 g、 上記成分 (e) の潜在性カチオン重合性触媒として、三新化学工業株式会社製サンエイド SI— 1 00L (IV) 2 g、 およびェチルメチルケトンを混合し、 樹脂組成物 (R) の塗液 を得た。 これを、 厚さ 20 mのポリイミドフィルム上にロールコート法で塗布 し、 ホットプレート上 80"Cで 1分間加熱し、 膜厚 5 mの樹脂組成物 (R) 層 を得た。
得られた樹脂組成物 (R) 層上に、 紫外線透過部と紫外線遮光部の境界線が不 規則的な曲線でパターニングされたマスクを置き、 マスク面垂直上方より 0. 2 JZcm2の紫外線を照射した後、 200°Cで 60分間の加熱により硬化させ、 図 14に示す表面凹凸形状を有する光学フィルムを得た。 断面凹凸形状の段差は 0. 22 mであった。
得られた光学フィルムの凹凸表面上に、 真空蒸着法で、 アルミニウム薄膜を、 0. 1 mの膜厚になるよう積層して反射層を形成し、 拡散反射板を得た。
図 15に、 得られた拡散反射板の真正面への反射強度 (標準白色板に対する相 対強度) の入射角度依存性を示す。 — 15° 〜15° の入射角度範囲において、 反射強度 3を超える、 優れた拡散反射板を簡便に得ることができた。 [実施例 17 ]
表 7〜9に示すように、 上記成分 (b— 1) の、 分子中に少なくとも 1個の水 酸基と少なくとも 1個のェチレン性不飽和基を有するモノマー Aと、上記成分( b 一 2) の、 分子中に少なくとも 1個のエチレン性不飽和基を有し水酸基を含まな いモノマー Bを異なる組成で配合した樹脂組成物 (R) 溶液 (V— 1、 V— 2お よび V— 3)を調製した。ポリマーとして上記ポリマー Aを、モノマー Aとして、 水酸基を有するペン夕エリスリトールトリァクリレートを、 モノマー Bとして、 水酸基を有しないトリメチロールプロパントリァクリレート (モノマ一 Aの水酸 基がメチル基に置換した分子構造を有する。) を、 それぞれ用いた
[表 7] 樹脂組成物 (R) 溶液 (V— 1) の組成
配合成分
(重量部) ポリマー A (固形分約 39. 1重量%) 330 モノマー A 166. 3 モノマー B 8. 7
2- (0-クロ口フエニル) -4, 5-ジフエ二ルイミダゾ一ルニ量体 10. 0
N, N' -テ卜ラエチノ U"4, 4' -ジァミノべンゾフエノン(開女 ID 1. 5
2-メルカプトべンズイミダゾール (開鲔リ) 1. 0 シリコーン (添加剤) 0. 35
2- (卜リメトキシシリル)一プロピルメタクリレート ( Π剤) 41. 6 プロピレンダリコールモノメチルエーテルァセテ一卜 (溶剤) 1244
[表 8] (R)瞧 (v-2) の誠
配合成分 ポリマー A (固形分約 39. 1重量%) 330 モノマー A 87. 5 モノマー B 87. 5
2- (0-クロ口フエニル) -4, 5-ジフエ二ルイミダゾール二量体 10. 0
N, Ν' -テ卜ラエチ 4, 4' -ジァミノべンゾフエノン(開^ IJ) 1. 5 2-メルカプトべンズイミダゾール(開 ½¾IJ) 1 - 0 シリコーン (添加剤) 0. 35
2— (卜リメ卜キシシリル) 一プロピルメタクリレー卜 (添 剤) 41. 6 プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート (溶剤) 1244
[表 9] m (R) 賺 (v—3) の糸滅
配合成分 配^ *
(重量部) ポリマー A (固形分約 39. 1重量%) 330 モノマー A 8. 7 モノマー B 1 66. 3
2 - (0-クロ口フエ二ル) -4, 5-ジフエ二ルイミダゾ一ルニ量体 10. 0 (開議
N, Ν' -テ卜ラエチ k4, 4' -ジァミノべンゾフエノン(開 ½¾IJ) 1. 5
2-メルカプトベンズイミダゾール(開赚 IJ) 1. 0 シリコーン(添加剤) 0. 35
2— (卜リメ卜キシシリル) 一プロピルメタクリレー卜 ( Π剤) 41. 6 プロピレンダリコールモノメチルエーテルァセテ一卜 (溶剤) 1244 それぞれの樹脂組成物 (R) 溶液を、 ガラス基板上に、 毎分 1300回転で 1 0秒間スピンコートし、 ホットプレート上 90°Cで 4分間加熱し、 それぞれ膜厚 4 mの樹脂組成物 (R) 層を得た。 得られた各樹脂組成物 (R) 層の上に、 紫 外線照射部と紫外線遮光部の境界線が規則的な周期 10 zmでパターエングされ たマスクを置き、 マスク面垂直上方より 1X 103 J Zm2の紫外線を照射した後、 180*Cで 30分間の加熱を行った。
その結果、 榭脂組成物 (R) 溶液 V—l, V— 2, V— 3から得られたいずれ の樹脂組成物 (R) 層にも、 紫外線照射部断面が凸、 紫外線遮光部断面が凹の、 10 m周期の凹凸形状が現れた。
表 10に、 それぞれの表面の段差を示す。 モノマ一 Aの配合比率が高い樹脂組 成物 (R) ほど、 高い段差を示した。
各々の凹凸表面上に、 膜厚 0. 1 zmの A 1金属膜をスパッタにより形成した 結果、 段差の形状が崩れることなく、 良好に形成することができた。 [表 10]
Figure imgf000079_0001
[実施例 183
<表面凹凸形状の形成 >
実施例 17に記載の樹脂組成物 (R) 溶液 (V— 2) を用い、 実施例 17と同 様にして、 ガラス基板上に膜厚 4 j mの樹脂組成物 (R) 層を形成した。
得られた樹脂組成物 (R) 層に、 活性光線透過部と活性光線遮光部の境界線が 不規則的な曲線パターンと直径 10 の活性光線不透過部分とを有するフォト マスクを用い、 平行光線露光機 (オーク製作所株式会社製、 EXM1201) を 使用して、 マスク面垂直上方より露光量 5. 0X 102 JZm2で紫外線を像的に 照射した後、 120 で 30分間、 ボックス型乾燥機で加熱した。
次いで、 0. 5重量%の界面活性剤を含有した 0. 5重量%水酸化テトラメチ ルアンモニゥム水溶液を用いて、 25°Cで 50秒間スプレー現像して、 樹脂組成 物 (R) 層を選択的に除去して、 ホールパターンを形成した。
得られたホールパターンを観察したところ、 光硬化後の樹脂組成物 (R) 層が 基板から剥がれることなく、 直径 10 zmのホ一ルパターンが良好に形成されて いた。
次いで、 東芝電材株式会社製東芝紫外線照射装置を使用して、 3 X 104 J m2の紫外線照射を行い、 樹脂組成物 (R) 層全体を光硬化させた後、 230で で 30分間、 ボックス型乾燥機で加熱した。 さらに、 スパッ夕により、 硬化樹脂 組成物 (R) 層上に膜厚 0. 1 zmの A 1金属膜を形成した。
得られた樹脂組成物 (R) 層は、 パターン露光における活性光線透過部の断面 が凸形状、 活性光線遮光部の断面が凹形状である、 凹凸ピッチ 10 /zmの形状を 有し、 その凹凸段差は 0 . であった。
さらに、 得られた凹凸形状を有する樹脂組成物 (R) 層形成基板を、 液晶表示 装置用拡散反射板として評価した結果、 拡散反射特性に優れた凹凸形状面を維持 しており、 設計どおりの拡散反射特性が得られた。
[実施例 1 9 ]
上記成分 (b— 1 ) の、 分子内に水酸基とエチレン性不飽和基を有するモノマ 一 または、 上記成分 (b— 2 ) の、 分子内にエチレン性不飽和基を有し水酸 基を有しないモノマ一 Bを配合した表 1 1に示す樹脂組成物 (R) 溶液を調製し た。 バインダポリマーとして上記ポリマ一 Aを、 モノマー Aとしてペン夕エリス リトールトリァクリレートを、 モノマー Bとしてトリメチ口一ルプロパントリア クリレート (モノマー Aの水酸基がメチル基に置換した分子構造を有する。) を、 それぞれ用いた。 [表 1 1 ] 樹脂組成物 (R) 溶液の組成
Figure imgf000080_0001
上記 2種類(モノマー Αを含むものとモノマ一 Βを含むもの)の樹脂組成物(R) 溶液を、 ガラス基板上に、 毎分 1 3 0 0回転で 1 0秒間スピンコートし、 ホット プレート上 9 0 °Cで 4分間加熱し、 それぞれ膜厚 4 mの樹脂組成物 (R) 層を 得た。 この樹脂組成物 (R) 層の上に、 紫外線照射部と紫外線遮光部の境界線が 規則的な周期 10 でパターエングされたマスクを置き、 マスク面垂直上方よ り、 それぞれ 1 X 103 JZm2および 2 X 103 JZm2の紫外線を照射した後、 180"Cで 30分間の加熱をした。 さらに、 各硬化樹脂組成物 (R) 層上に、 膜 厚 0 , 1 X mの A 1金属膜をスパッ夕によりそれぞれ形成した。
その結果、 樹脂組成物 (R) 層の紫外線照射部断面が凸、 紫外線遮光部断面が 凹の、 10 m周期の凹凸形状が得られた。 表 12に段差測定結果を示す。 水酸 基を有するモノマー Aを配合した樹脂組成物 (R) から得られた段差は、 水酸基 を有しないモノマー Bを配合した樹脂組成物 (R) から得られた段差の 2倍以上 であった。
[表 12]
Figure imgf000081_0001
上記のように、樹脂組成物(R)層の厚さ T= 4 に対し、表面の段差が( 0. 1〜0. 5) T zm= 0. 4〜2. 0 mであるのは、 分子中に少なくとも 1個 の水酸基と少なくとも 1個のエチレン性不飽和基を有する光重合性不飽和化合物
(b- 1) であるモノマー Aを使用した場合であった。
[実施例 20 ]
上記表 11に示す実施例 19の樹脂組成物 (R) 溶液 (モノマー Aを使用) を 用い、 ガラス基板上に膜厚 4 mの樹脂組成物 (R) 層を形成した。
得られた樹脂組成物 (R) 層に、 活性光線透過部と活性光線遮光部の境界線が 規則的で透過部と不透過部のピッチが 10 である直線パターンと、 ホ一ルパ ターン形成用の直径 10 UL mの活性光線不透過部分とを有するフォトマスクを用 レ 、 平行光線露光機 (オーク製作所株式会社製、 EXM1201) を使用して、 マスク面垂直上方より露光量 5. 0X 102 Jノ m2で紫外線を像的に照射した後、 120°Cで 30分間、 ボックス型乾燥機で加熱した。 07222
80 次いで、 0 . 5重量%の界面活性剤を含む 0 . 5重量%水酸化テトラメチルァ ンモニゥム水溶液を用いて、 2 5 :で 5 0秒間スプレー現像して、樹脂組成物(R) 層を選択的に除去して、 ホールパターンを形成した。
得られたホールパターンを観察した結果、 光硬化した樹脂組成物 (R) 層が基 板から剥がれることなく、 直径 1 0 i mのホールパターンが良好に形成されてい た。
次いで、 東芝電材株式会社製東芝紫外線照射装置を使用して、 3 X 1 0 " , m2の紫外線照射を行い、 樹脂組成物 (R) 層全体を光硬化させた後、 2 3 0 で 3 0分間、 ボックス型乾燥機で加熱した。 さらに、 スパッ夕により、 樹脂組成 物 (R) 層上に 0 . 1 mの A 1金属膜を形成した。
得られた樹脂組成物 (R) 層は、 パターン露光における活性光線透過部の断面 が凸形状、 活性光線遮光部の断面が凹形状である、 凹凸ピッチ 1 0 mの形状を 有し、 その凹凸段差は約 1 /z mであった。
また、 得られた凹凸形状を有する樹脂組成物 (R) 層形成基板を液晶表示装置 用拡散反射板として評価した。 この樹脂組成物 (R) 層形成基板は、 拡散反射特 性に優れた凹凸形状面を維持しており、 設計どおりの拡散反射特性が得られた。
[実施例 2 1 ]
支持体としてポリエチレンテレフ夕レートフィルムを使用し、 実施例 1 7で調 製した樹脂組成物 (R) 溶液 (V— 2 ) または実施例 1 9で調製した樹脂組成物 (R) 溶液 (モノマー Aを使用) を、 支持体上に、 コンマコーターを用いて均一 に塗布し、 1 0 0 の熱風対流式乾燥機で 3分間乾燥して溶剤を除去し、 厚さ 4 mの樹脂組成物 (R) 層を形成した。
得られた樹脂組成物 (R) 層の上に、 さらに、 厚さ 2 5 mのポリエチレンフ イルムをカバーフィルムとして張り合わせて、 感光性エレメントを作製した。 得られた感光性ェレメントのポリエチレンフィルムをはがしながら、 厚さ 1 m mのガラス基板上に、 樹脂組成物 (R) 層が接するようにして、 感光性エレメン 卜をラミネートし、 ガラス基板上に、 樹脂組成物 (R) 層および支持体が積層さ れた基板を作製した。ラミネートは、ラミネ一夕として日立化成工業株式会社製、 商品名 HLM- 1 500型を用い、 ロール温度 1 20°C、基板送り速度 0. 5mZ 分、 圧着圧力 (シリンダ圧力) 4X 105P a (厚さが lmm、 縦 10 cmX横 10 cmの基板を用いたため、 この時の線圧は 9. 8 X 103N/m) の条件で 仃つた。
次いで、 活性光線透過部と活性光線遮光部の境界線が不規則的な曲線でパター ニングされたフォトマスクを用い、 縮小投影露光機 (キャノン株式会社製、 FP A-3000 iw) を使用して、 マスク面垂直上方より露光量 1. 5 1 03 ノ m2で紫外線を像的に照射し、さらに支持体を引き剥がして除去した後、 120 で 30分間、 ボックス型乾燥機で加熱した。
続いて、 東芝電材株式会社製東芝紫外線照射装置を使用して、 3 X 1 04 J Z m2の紫外線照射を行い、 榭脂組成物 (R) 層全体を光硬化した後、 230°Cで 30分間、 ボックス型乾燥機で加熱し、 さらにスパッ夕により、 樹脂組成物 (R) 層上に膜厚 0. 1 mの A 1金属膜を形成した。
得られた樹脂組成物 (R) 層は、 パターン露光における活性光線透過部の断面 が凸形状、 活性光線遮光部の断面が凹形状である凹凸形状を有し、 その凹凸段差 は、実施例 1 7の樹脂組成物(R)溶液(V—2) を用いた場合が約 0. 7 nm, 実施例 1 9の樹脂組成物 (R) 溶液 (モノマー A使用) を用いた場合が約 0. 6 •imであつに。
また、 得られた凹凸形状を有する樹脂組成物 (R) 層形成基板を液晶表示装置 用拡散反射板として評価した。 この樹脂組成物 (R) 層形成基板は、 拡散反射特 性に優れた凹凸形状面を維持しており、 設計どおりの拡散反射特性が得られた。
[実施例 223
表 13に示す樹脂組成物 (R) 塗液を調製して、 ガラス基板上に毎分 500回 転で 10秒間スピンコートし、 ホットプレート上 90 で 4分間加熱し、 膜厚 1 O mの樹脂組成物 (R) 層を得た。 [表 1 3 ] 樹脂組成物 (R) 溶液の組成
Figure imgf000084_0001
得られた樹脂組成物 (R) 層の上に、 1 0 m線幅の紫外線照射部と 1 線幅の紫外線遮光部が交互に配置されたパターンをもつマスクを置き、 マスク面 垂直上方より 6 0 J Zm2の紫外線を照射した後、 1 8 0 で 3 0分間の加熱を 行った。 その結果、 樹脂組成物 (R) 層の紫外線照射部断面が凸で、 紫外線遮光 部断面が凹の、 2 0 m周期の凹凸形状が得られ、 その凹凸段差は 1 mであつ た。
ダイナミック超微小硬度計 (島津製作所製) を用いて、 樹脂組成物 (R) 層の 凹部および凸部のビッカース硬さを測定 (押し込み荷重 0 . 5 g f ) した結果、 それぞれ、 1 0 において 1 8 HV (凹部) および 2 2 HV (凸部) であり、 その差は 4 HVであった。
得られた表面凹凸フィルム上に、 スパッ夕により膜厚 0 . 1 mの A 1金属膜 を形成した結果、 反射型液晶ディスプレイ用拡散反射板として良好な反射特性を 示した。
[実施例 2 3 ]
実施例 2 1と同様にして、 実施例 2 2の樹脂組成物 (R) を用いて感光性エレ メントを作製した。 得られた感光性エレメントを用いて、 実施例 21と同様にして表面凹凸形状を 作製した。 得られた樹脂組成物 (R) 層は、 パターン露光における活性光線透過 部の断面が凸形状、 活性光線遮光部の断面が凹形状である、 凹凸ピッチ 10 m の形状を有し、 その凹凸段差は約 1 jLimであった。
また、 得られた凹凸形状を有する樹脂組成物 (R) 層形成基板を液晶表示装置 用拡散反射板として評価した結果、 拡散反射特性に優れた凹凸形状面を維持して おり、 設計どおりの拡散反射特性が得られた。
実施例 22と同様に凹凸形状の凹部と凸部のピツカ一ス硬さを測定した結果、 25 において 17 HV (凹部) および 22HV (凸部) であり、 その差は 5 H Vであった。
[実施例 24 ]
<シリル基含有光重合性不飽和化合物 (b— 3) の合成 (製造例 1) >
撹拌機、 還流冷却機、 不活性ガス導入口および温度計を備えたフラスコに、 表 14に示す (1) を仕込み、 乾燥窒素ガス雰囲気下で、 反応温度を 60で±2で に保ちながら、 表 14に示す (2) を 2時間かけて均一に滴下した。 (2) の滴下 後、 60 ± 2 で 2時間撹拌を続け、 さらに表 14に示す (3) を滴下して、
60 ±2 で 0. 5時間撹拌し、 シリル基含有光重合性不飽和化合物( b— 3 ) を得た。
[表 14]
Figure imgf000085_0001
ぐパインダボリマ一溶液 (Α— 1) の作製 (製造例 2) > 撹拌機、 還流冷却機、 不活性ガス導入口および温度計を備えたフラスコに、 表
15に示す (1) を仕込み、 窒素ガス雰囲気下で 80 に昇温し、 反応温度を 8 O iZtに保ちながら、 表 15に示す (2) を 4時間かけて均一に滴下した。
(2) の滴下後、 80 土 2 °Cで 6時間撹拌を続けた後、 表 15に示す (3) を 添加した。 (3) を添加後、 反応系を 100 に昇温し、 0. 5時間かけて表 15 に示す (4) を滴下した。 (4) の滴下後、 100 で 20時間撹拌を続けた後、 室温(25 C)に冷却して、 重量平均分子量が約 30, 000のフィルム性付与ポ リマ一溶液 (固形分 36. 0重量%、 エチレン性不飽和基濃度 6. 8 X 10— 4モ ル /g) (A— 1) を得た。
<樹脂組成物 (R) 溶液 (V— 4) の調製 >
表 16に示す成分を、 攪拌機を用いて 15分間混合し、 樹脂組成物 (R) 溶液
(V-4) を調製した。
[表 15]バインダポリマー溶液 (A-1)
Figure imgf000086_0001
[表 16] 樹職脈物 (R)繊 (V-4)
配合成分 配^ *
(重
製激 で得られたシリ S含有光重合性不飽和化^ b— 3) 20 製 iii列 2で得られたバインダポリマー溶液 (Α-Ί) 135. 5
涸形分 55) ペンタエリスリ卜一ノレ卜リアクリレー卜 25 2 - (2-クロ口フエニル) -1- 〔2- (2-クロ口フエニル) - 4,
5 -ジフエ二;》U~1, 3-ジァゾ一リ 2-ィル〕 -4, 5-ジフエニル 1. 5 イミダゾール
N, N' -テトラエチノ!/" 4, 4' -ジァミノべンゾフエノン 0. 2 メチルェチルゲ卜ン 80
<表面凹凸形状の形成 >
得られた樹脂組成物 (R) 溶液 (V— 4) を、 厚さ lmmのガラス基板上に、 スピンコ一タを使用して 1700回転/分で回転塗布して、ホットプレート上で 9 O 、 5分間乾燥して溶剤を除去し、 膜厚 4 mの樹脂組成物 (R) 層を形成し た。
得られた樹脂組成物 (R) 層に、 活性光線透過部と活性光線遮光部が 10 で規則的にパターニングされたフォトマスクを用い、 縮小投影露光機 (キャノン 株式会社製、 FPA-300 Oiw)を使用して、マスク面垂直上方より露光量 1. 5 X 103 J/m2で紫外線を像的に照射した後、 フォトマスクを除去し、 12 0でで 30分間、 ボックス型乾燥機で加熱した。
次に、 東芝電材株式会社製東芝紫外線照射装置を使用して、 3 X 104 J /m2 の紫外線照射を行い、 樹脂組成物 (R) 層全体を光硬化した後、 230°Cで 30 分間、 ボックス型乾燥機で加熱し、 さらにスパッ夕により、 樹脂組成物 (R) 層 上に膜厚 0. 1 の A 1金属膜を形成した。
得られた樹脂組成物 (R) 層は、 フォトマスクに形成された画像に対応して、 パターン露光における活性光線透過部の断面が凸形状、 活性光線遮光部の断面が 凹形状である、 凹凸ピッチ 10 mの形状を有し、 その凹凸段差は約 2 であ つ 7こ。
得られた凹凸形状を有する樹脂組成物 (R) 層形成基板を液晶表示装置用拡散 反射板として評価した結果、 拡散反射特性に優れた凹凸形状面を維持しており、 設計どおりの拡散反射特性が得られた。
また、 上記工程において、 A 1金属膜形成前の凹 ύ形状面を有する樹脂組成物 (R) 層形成基板を、 温度 60で、 湿度 90%に保った恒温槽内に 24時間投入 した後、 クロスカット試験 (JIS- K 5400、 1mm角碁盤目法) を行った。 そ の結果、 凹凸形状面を有する樹脂組成物 (R) 層の剥がれが一切なく、 良好な基 板密着性を有することが判明した。
[実施例 25]
実施例 24と同様に、 樹脂組成物 (R) 溶液 (V— 4) を用い、 ガラス基板上 に、 膜厚 4 mの樹脂組成物 (R) 層を形成した。
得られた樹脂組成物 (R) 層に、 活性光線透過部と活性光線遮光部の境界線が 不規則的で透過部と不透過部のピッチが 10 iimである曲線パターンと、 ホール パターン形成用の直径 10 mの活性光線不透過部分とを有するフォトマスクを 用い、平行光線露光機(オーク製作所株式会社製、 EXM1201)を使用して、 マスク面垂直上方より露光量 5. 0X102 JZm2で紫外線を像的に照射した後、 120でで 30分間、 ボックス型乾燥機で加熱した。
次いで、 0. 5重量%の界面活性剤を含む 0. 5重量%水酸化テトラメチルァ ンモニゥム水溶液を用いて、 25Tで 50秒間スプレ一現像して、樹脂組成物(R) 層を選択的に除去してホールパターンを形成した。
得られたホールパターンを観察した結果、 光硬化した樹脂組成物 (R) 層が基 板から剥がれることなく、 良好な基板密着性を示し、 直径 10 mのホールパ夕 ーンが良好に形成されていた。
次いで、 東芝電材株式会社製東芝紫外線照射装置を使用して、 3X 10"/ m2の紫外線照射を行い、 樹脂組成物 (R) 層全体を光硬化した後、 230 で 30分間、 ボックス型乾燥機で加熱し、 さらにスパッ夕により樹脂組成物 (R) 層上に膜厚 0. 1 mの A 1金属膜を形成した。
得られた樹脂組成物 (R) 層は、 フォトマスクパターンの画像に対応した、 パ 夕一ン露光における活性光線透過部の断面が凸形状、 活性光線遮光部の断 ®が凹 形状である凹凸ピッチ 10 z^rnの形状を有し、その凹凸段差は約 2 imであった。 得られた凹凸形状を有する樹脂組成物 (R) 層形成基板を液晶表示装置用拡散 07222
87 反射板として評価した結果、 拡散反射特性に優れた凹凸形状面を維持しており、 設計どおりの拡散反射特性が得られた。
また、 実施例 2 4と同じ方法で (つまり、 恒温槽への投入も含む)、 A 1金属膜 形成前の、 凹凸形状面を有する樹脂組成物 (R) 層形成基板に対しクロスカット 試験を行なった。 その結果、 凹凸形状面を有する樹脂組成物 (R) 層の剥がれが 一切なく、 良好な基板密着性を有することが判明した。
[実施例 2 6 ]
支持体としてポリエチレンテレフ夕レートフィルムを使用し、 実施例 2 4で得 られた樹脂組成物 (R) 溶液 (V— 4 ) を、 コンマコ一夕一を用いて支持体上に 均一に塗布し、 1 0 0での熱風対流式乾燥機で 3分間乾燥して溶剤を除去し、 厚 さ 4 /i mの樹脂組成物 (R) 層を形成した。
得られた樹脂組成物 (R) 層の上に、 さらに、 2 5 mの厚さのポリエチレン フィルムをカバーフィルムとして張り合わせて、 感光性ェレメントを作製した。 得られた感光性エレメントを、 そのポリエチレンフィルムをはがしながら、 厚 さ l mmのガラス基板上に、 樹脂組成物 (R) 層が接するようにラミネートし、 ガラス基板上に樹脂組成物 (R) 層および支持体が積層された基板を作製した。 ラミネートは、 ラミネ一夕として日立化成工業株式会社製、 商品名 H L M— 1 5 0 0型を用い、 ロール温度 1 2 0で、 基板送り速度 0 . 5 m 分、 圧着圧力 (シ リンダ圧力) 4 X 1 0 5 P a (厚さが 1 mm、 縦 1 0 c m横 1 0 c mの基板を用 いたため、 この時の線圧は 9 . 8 X 1 0 3 N/m) の条件で行った。
実施例 2 4と同様に、 フォトマスクを用いた紫外線照射からスパッ夕による A 1金属膜の形成までの一連の操作を順に行った。
得られた樹脂組成物 (R) 層は、 パターン露光におけるフォトマスクの画像に 対応した、 活性光線透過部の断面が凸形状、 活性光線遮光部の断面が凹形状であ る凹凸ピッチ 1 0 t mの形状を有し、 その凹凸段差は約 2 mであった。
得られた凹凸形状を有する樹脂組成物 (R) 層形成基板を液晶表示装置用拡散 反射板として評価した結果、 拡散反射特性に優れた凹凸形状面を維持しており、 設計どおりの拡散反射特性が得られた。
また、 実施例 24と同じ方法で(つまり、 恒温槽への投入も含む)、 A 1金属膜 形成前の、 凹凸形状面を有する樹脂組成物 (R) 層形成基板に対しクロスカット 試験を行った。 その結果、 凹凸形状面を有する樹脂組成物 (R) 層の剥がれが一 切なく、 良好な基板密着性が示された。
[実施例 27 ]
実施例 1の表 2と同じ塗液を、図 16 (a)に示すように、ガラス基板 2上に、 毎分 1000回転で 10秒間スピンコ一卜し、 ホットプレート上 90 で 4分間 加熱し、 膜厚 6 mの樹脂組成物 (R) 層 1を得た。
得られた樹脂組成物 (R) 層 1の上に、 紫外線透過部と紫外線遮光部の境界線 が不規則的な曲線でパターニングされたマスク (パターニングマスク) 72を置 き、 マスク面垂直上方より 0. 06 JZcm2の紫外線 5を照射 (図 16 (b) 参照) した後、 230でで 30分間の加熱 (図 16 (c) 参照) を行い、 表面凹 凸形状を得た。 得られた凹凸段差は、 図 2に示すものと同じであった。
この表面凹凸形状が形成された樹脂組成物 (R) 層 1の上に、 一辺が 15 in の正方形からなる紫外線遮光部が 80 m ごとに配置されるようにパターニング されたマスク (樹脂組成物 (R) 層除去用マスク) 7 1を置き、 紫外線遮光部が 先の紫外線照射時の遮光部と重なる様にマスクの位置を合わせ、 マスク面垂直上 方より 24 JZcm2の紫外線 5を照射した (図 16 (d) 参照)。
その後、 所定のエッチング操作を行ってコンタクトホール 20を形成 (図 16 (e) 参照) した後、 230°C 30分の後加熱を行って、 コンタクトホール 20 を有する表面凹凸フィルムを作製した。 上記の表面凹凸形状の顕微鏡写真を図 1 7に示す。
得られた表面凹凸フィルムに、 真空蒸着法で、 アルミニウム薄膜を 0. l ^m の膜厚になるよう積層した反射層を形成し、 拡散反射板を得た。
図 18には、 得られた拡散反射板の真正面への反射強度 (標準白色板に対する 相対強度)の入射角度依存性を示す。一 15° 〜15° の入射角度範囲において、 反射強度 4を越える優れた拡散反射板を簡便に得ることができた。 [実施例 28 ]
4枚のガラス基板を用意し、 実施例 1の表 2の塗液と同じ組成の樹脂組成物 (R) の塗液を、 各ガラス基板上に、 毎分 1300回転で 10秒間スピンコート し、 ホットプレート上 90°Cで 4分間加熱し、 それぞれ膜厚 5 zzmの樹脂組成物 (R) 層を有する 4個のサンプル (S 7〜S 10) を得た。 ' 各サンプルの樹脂組成物 (R) 層上に、 紫外線透過部と紫外線遮光部の境界線 が不規則的な曲線でパターニングされたマスクを置き、 マスク面垂直上方より、 0. 01 J/cm2 (S 7)、 0. 04 J/cm2 (S 8)、 0. 06 J/cm2 (S 9)、 0. 15 J/cm2 (S 10) の紫外線をそれぞれに照射した後、 230 で 30分間の加熱により硬化させた。 得られた各硬化樹脂組成物 (R) 層上に、 スパッ夕により膜厚 0. 1 mの A 1金属膜をそれぞれ形成した。
その結果、 樹脂組成物 (R) 層の紫外線照射部断面が凸、 紫外線遮光部断面が 凹の、凹凸ピッチ 10 mの形状を有し、その凹凸段差が 1. 5 m(S 7)、 1. 13 ^m (S 8)、 0. 78 m (S 9) および 0. 65 zm (S 10 ) の 4種類 の転写原型が得られた。
これらの各転写原型を使用して、上記実施例 3と同様に拡散反射板を製造した。 その結果、 良好な拡散反射板を得ることができた。
[実施例 29 ]
8枚のガラス基板を用意し、実施例 1と同じ表 2の樹脂組成物(R)の塗液を、 各ガラス基板上に、 毎分 1300回転で 10秒間スピンコートし、 ホットプレー ト上 90 で 4分間加熱し、 それぞれ膜厚 4 zmの樹脂組成物 (R) 層を有する 8個のサンプル (No. l〜No. 8) を得た。
得られた各サンプルの樹脂組成物 (R) 層に、 樹脂組成物 (R) 層を除去する 箇所が遮断部であって紫外線照射部と紫外線遮断部の境界線が規則的な 10 jam 周期でパターニングされたマスクを介して、 0. 09 JZcm2の紫外線を照射 した後、 表 17に示すように、 90°C、 120 または 135 でそれぞれ 5分 間加熱(前加熱) した。前加熱後のサンプル No.4の凹凸段差を、 図 19に示す。 次に、 樹脂組成物 (R) 層に対し、 水酸化カリウムを 0. 3重量%含む 30で の水溶液シャワーを、 表 17に示すように、 120、 214または 265秒間あ ててエッチング (現像) し、 230^で 30分間の後加熱をした。
この結果、 樹脂組成物 (R) 層の除去部分に基板露出面が形成され、 除去部分 以外に、 紫外線照射部断面が凸、 紫外線遮断部断面が凹の凹凸ピッチ 10 の 形状を有する表 17に示した凹凸段差が得られた。 図 20に、 サンプル No. 4の 後加熱後の凹凸段差を示す。
[表 17]
Figure imgf000092_0001
[実施例 30 ]
4枚のガラス基板を用意し、実施例 1と同じ表 2の樹脂組成物(R)の塗液を、 各ガラス基板上に、 毎分 1300回転で 10秒間スピンコートし、 ホットプレ一 卜上 90でで 4分間加熱し、 それぞれ膜厚 4^ mの樹脂組成物 (R) 層を有する 4個のサンプル (No. l〜No. 4) を得た。
得られた各サンプルの樹脂組成物 (R) 層の、 後の紫外線照射工程で照射しな い箇所の一部であって後のエッチングで除去する箇所以外を 0. 04 JZcm2 の紫外線で照射した後、 さらに樹脂組成物 (R) 層上に、 紫外線照射部と紫外線 遮光部が規則的な周期 10 / mでパターニングされたマスクを置き、 マスク面垂 直上方より 0. 06 JZ cm2の紫外線を照射した。 次に、 樹脂組成物 (R) 層に対し、 水酸化カリ'ゥムを 0. 3重量%含む 30で の水溶液シャワーを、 表 18に示すように、 それぞれ 120、 170、 214ま たは 265秒間あててエッチング (現像) し、 23 で 30分間の後加熱を行 つた。
この結果、 樹脂組成物 (R) 層の除去部分に基板露出面が形成され、 除去部分 以外に、 紫外線照射部断面が凸、 紫外線遮蔽部断面が凹の、 凹凸ピッチ l O 'm の形状を有する表 18に示す凹凸段差が得られた。 サンプル No. 3の後加熱後の 表面凹凸形状の凹凸段差を図 21に示す。
[表 18]
Figure imgf000093_0001
[実施例 31]
実施例 1と同じ表 2の樹脂組成物 (R) の塗液を、 ガラス基板上に毎分 130 0回転で 10秒間スピンコートし、 ホットプレート上 '90°Cで 4分間加熱し、 膜 厚 4 の樹脂組成物 (R) 層を得た。 この樹脂組成物 (R) 層上に、 紫外線照 射部 (5 m幅) と紫外線遮光部 (5 ^m幅) の境界線がピッチ 10 の規則 的なストライプパターンとして形成されたマスクを置き、 マスク面垂直上方より 0. 1 JZcm2の紫外線を照射した後、 180 で 5分間加熱した。
• その結果、 樹脂組成物 (R) 層の紫外線照射部断面が凸、 紫外線遮光部断面が 凹の凹凸ピッチ 10 mの形状を有し、 その凹凸段差が 0. 63 mの表面凹凸 形状が得られた。 *
[実施例 32]
実施例 31のパターニングされたマスクを 10 ΠΙ径の円形の遮光パターンに 代えた以外は、 実施例 31と同様に行って、 表面凹凸形状を得た。 その凹凸段差 は 1. 4 mであった c
[実施例 33 ]
実施例 1の表 2に示したモノマー (ペン夕エリスリトールトリァクリレート; PET— 30) の代わりに表 19に示したモノマーを配合した樹脂組成物 (R) の各塗液をそれぞれ調製し、 それらをスピンコートして、 膜厚 4 mの各樹脂組 成物 (R) 層を得た。 実施例 31と同様な方法で表面凹凸形状を作製し、 得られ た凹凸表面の凹凸段差を表 19に示した。表中、 「分子量」 は各モノマーの分子量 を、 「エチレン性不飽和基数」 は各モノマーのそれを表す。
[表 19]
Figure imgf000094_0002
C OCOCH=C CH20C0CH-CHZ
HOH2C-C-CH20COCH=CHz H3CHzC -C -CH20 CO CH= CH2
CHzOCOCh CHz CH20C0CH=CH2
PET-30 Tjin¾thylolpropawe bia2iykte (A-TMPTI CHz*CH-COOCHi
Figure imgf000094_0001
A-TMMT
EPHA
CH3 CH3
HzC =d— C - 0 i-CHjCHaO -C-C =CHz
4G:n=4, 表 19に示したように、 ストライプパターンを形成したマスクを用いたとき、 マスクパターンに従った凹凸段差 0. 3 m以上を形成するのは、 No. 1, 4 のみであり、 No. 2, 3, 5の凹凸段差は 0. 3 m以下であった。 この結果 から、 他の実験とも絡め、 エチレン性不飽和基を 1個以上有する重合可能なモノ マ一の分子量が 408以下であると良く、また、エチレン性不飽和基が 2個以上、 4個以下であると好ましく、 No. 1のようにモノマーが水酸基を含んでいるこ とが好ましいことが理解できる。 上記分子量に関しては、 低分子量のモノマーほ ど拡散により移動しやすいためと考えられる。 [実施例 34]
<バインダボリマー溶液 (A— 2) 〜 (A—4) の製造 >
それぞれ表 20〜 22に示す成分を用い、 以下のようにして、 バインダボリマ 一溶液 (A— 2) 〜 (A— 4) を製造した。
撹拌機、 還流冷却機、 不活性ガス導入口および温度計を備えたフラスコに、 表 20〜22の (1) を仕込み、 窒素ガス雰囲気下で 80でに昇温し、 反応温度を 80で± 2°Cに保ちながら、 表 20〜22の (2) を 4時間かけて均一に滴下し た。 その後、 80 ±2でで 6時間撹拌を続けた後、 表 20〜22の (3) を添 加した。 (3) を添加後、 反応系を 100でに昇温し、 0. 5時間かけて表 20〜 22の (4) を滴下した。 (4) の滴下後、 100でで 20時間撹拌を続けた後、 室温に冷却して、 重量平均分子量が約 30, 000のパインダポリマー溶液 (固 形分 36. 0重量%、 エチレン性不飽和基濃度 6. 8 X 10— 4モル/ g) (A— 2 )、 重量平均分子量が約 30, 000のバインダポリマー溶液(固形分 33. 3 重量%、 エチレン性不飽和基濃度 6. 5 X 1 0_4モル Zg) (A— 3)、 および、 重量平均分子量が約 30, 000のパインダポリマー溶液 (固形分 33.3重量%、 エチレン性不飽和基濃度 6. 4X 1 0— 4モル Zg) (A— 4) を得た。
[表 20] バイン夕"ポリマー溶液 (A - 2)
配合成分
(重量部)
(1) プロピレンダリコールモノメチルエーテルァセテ一卜 1 50
メタクリル酸 1 9 スチレン 33
(2) メタクリル酸 n-ブチル Ί 0
メタクリル酸メチル 38
2, 2, -ァゾビス (イソプチロニ卜リル) 2. 5
(3) 八ィドロキノン 0. 05 メタクリル酸グリシジル , 1 0. 7
(4) 塩化べンジル卜リメチルアンモニゥ厶 0. 1
プロピレングリコールモノメチルエーテルァセテ一卜 5 0
[表 2 1 ] バインダポリマー溶液 ( A - 3 )
Figure imgf000096_0001
く樹脂組成物 (R) 溶液 (V— 3〜V— 7 ) の調製 >
表 2 3〜2 5に示す成分を、 それぞれ攪拌機を用いて 1 5分間混合し、 順 ( 樹脂組成物 (R) 溶液 V— 5、 V— 6、 および V— 7を調製した。 [表 2 3 ] 樹脂 $脈物 (R) 灘 (V- 5 ) 配合成分 配^ a
(重量部) バインダポリマー藩夜 (A-2) 180. 6
(固形分 65) ペン夕エリスリ卜一ノレ卜リアクリレー卜 35
2 -(2-クロ口フエ二ル) -1-〔2- (2-クロ口フエ二ル)
- 4, 5-ジフエニリ 1, 3-ジァゾーソ 2-ィル〕 -4, 5- 2. 0 ジフエ二ルイミダゾール
N, Ν' -テ卜ラエチゾ U~4, 4' -ジァミノべンゾフエノン 0. 3
「-メタクリロキシプロピル卜リメ卜キシシラン 8. 6 プロピレンダリコールモノメチルエーテルァセテ一卜 70 メチルェチルケトン 70
[表 24] (R)溶液(v— 6)
配合成分
(重量部) バインダポリマー溶液 (A-3) 180. 6
涸形分 65) ペンタエリスリトール卜リァクリレー卜 35
2- (2-クロ口フエ二ノレ) -1- C2- (2-クロ口フエ二ノレ)
-4, 5-ジフエニゾ 3-ジァゾーゾ 2-ィル〕 -4, 5- 2. 0 ジフエ二ルイミダゾ一ル
N, N' -テ卜ラエチゾ 4, 4' -ジァミノべンゾフエノン 0. 3
「-メタクリロキシプロピル卜リメ卜キシシラン 8. 6 プロピレングリコールモノメチルエーテルァセテ一卜 70 メチルェチルゲ卜ン 70
[表 25] 樹職誠物 (R)溶液 (V-7)
配合成分
(重量部) バインダポリマー溶液 (A-4) 180. 6
(固形分 65) ペン夕エリスリ卜一ノレ卜リアクリレー卜 35
2- (2-クロ口フエ二レ) -1- C2- (2—クロ口フエ: ZJレ)
-4, 5-ジフエ二 3-ジァゾ一リ k 2-ィル〕 -4, 5- 2. 0 ジフエ二ルイミダゾール
N, N' -テトラエチ 4, 4' -ジァミノべンゾフエノン 0. 3
「-メタクリロキシプロピリレ卜リメ卜キシシラン 8. 6 プロピレングリコールモノメチルエーテルァセテ一卜 70 メチルェチルゲ卜ン 0
<表面凹凸形状の形成 >
得られた樹脂組成物 (R) 溶液 V— 5、 V— 6、 V— 7のそれぞれを、 ガラス 基板上に毎分 1300回転で 10秒間の条件でスピンコートにより塗布して成膜 し、 ホットプレート上 90°Cで 4分間加熱し、 それぞれ膜厚 4^ mの樹脂組成物
(R) 層を得た。 この樹脂組成物 (R) 層の上に、 紫外線照射部と紫外線遮光部 の境界線が規則的な周期 10 /xmでパ夕一ニングされたマスクを置き、 マスク面 垂直上方より 1 X 103 J/m2の紫外線を照射し、 続いて、 140でで 30分間 の後加熱を行った。 それにより、 樹脂組成物 (R) 層の紫外線照射部が凸、 紫外 線遮光部が凹である、 10 iim周期のライン状の凹凸が得られた。 得られた各樹 脂組成物 (R) 層上に、 スパッ夕により、 厚み 1 mの A 1金属膜を形成し た。
表 26に各樹脂組成物 (R) 溶液から得られた凹凸段差と、 それぞれに使用し たバインダボリマ一 100重.量部あたりの、 水酸基を有するビニル単量体の重量 部数を示す。 表 26から明らかなように、 バインダポリマー中の水酸基を有する ビニル単量体の重量部数の増加に伴い、 取得段差が増加した。
いずれの場合も、 表面凹凸フィルムの厚さ (T) に対し、 TX (0. 1〜0.
5) mである表面段差が得られた。
[表 26]
Figure imgf000098_0001
[実施例 35 ]
<感光性エレメントの製造 >
上記実施例 34で得られた樹脂組成物溶液 (V— 5) を用い、 実施例 21と同 様にして感光性エレメントを作製した。
<表面凹凸形状の形成 >
得られた感光性エレメントを用い、 実施例 21と同様にして、 これを基板にラ ミネートし、 表面凹凸形状を作製した。
その結果、 活性光線透過部の断面が凸形状、 活性光線遮光部の断面が凹形状で ある凹凸ピッチ 10 の形状を有し、 その凹凸段差が約 0. 5 mの表面凹凸 形状を有する樹脂組成物 (R) 層が得られた。
得られたガラス基板を、液晶表示装置用拡散反射板として評価した。その結果、 この基板は、 拡散反射特性に優れた凹凸形状面を維持しており、 設計どおりの拡 散反射特性が得られた。 本願の開示は、 2002年 6月 6日に出願された特願 2002- 165052 号、 2002年 6月 28日に出願された特願 2002— 190508号、 200 2年 6月 28日に出願された特願 2002— 190509号、 2002年 6月 2 8日に出願された特願 2002— 190510号、 2002年 6月 28日に出願 された特願 2002— 19051 1号、 2002年 6月 28日に出願された特願 2002— 190512号、 2002年 6月 28日に出願された特願 2002 - 190513号、 2002年 6月 28日に出願された特願 2002— 19051 4号、 2002年 6月 28日に出願された特願 2002— 190515号、 20 02年 6月 28日に出願された特願 2002— 190516号、 2002年 6月 28日に出願された特願 2002— 190517号、 2002年 7月 31日に出 願された特願 2002— 223407号、 2002年 1 1月 29日に出願された 特願 2002— 348024号、 2002年 12月 20日に出願された特願 20 02— 370617号、 2002年 12月 20日に出願された特願 2002— 3 70618号、 2002年 12月 20日に出願された特願 2002— 37061 9号、 2002年 12月 20日に出願された特願 2002— 370620号、 2 002年 12月 20日に出願された特願 2002— 370626号、 2002年 12月 20日に出願された特願 2002— 370627号、 2002年 12月 2 7222
98
0日に出願された特願 2002— 370628号、 2002年 12月 20日に出 願された特願 2002— 370629号、 2002年 12月 20日に出願された 特願 2002— 370621号、 2002年 12月 20日に出願された特願 20 02— 370625号、 2002年 12月 20日に出願された特願 2002— 3 70616号、 2002年 12月 24日に出願された特願 2002— 37189 1号、 2002年 12月 24日に出願された特願 2002— 37 1890号、 2 003年 5月 23日に出願された特願 2003- 146196号に記載の主題と 関連しており、 それらの開示内容は引用により援用される。
本明細書に記載されたすベての文献の各開示内容は、 引用によりここに援用さ れる。
既に述べられたもの以外に、本発明の新規かつ有利な特徴から外れることなく、 上記の実施形態に様々な修正や変更を加えてもよいことに注意すべきである。 従 つて、 そのような全ての修正や変更は、 添付の請求の範囲に含まれることが意図 されている。

Claims

請 求 の 範 囲
1. 感エネルギー性ネガ型樹脂組成物を用いた表面凹凸形成方法であって、
(A) 少なくとも 1種類の (b) 重合可能な化合物を含有する感エネルギー性 ネガ型樹脂組成物膜を形成する工程;
(B) 前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜に画像状に活性エネルギー線を 照射する工程;および
(C) 前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜を、 エッチング操作を行うこと なく加熱する工程;
を含む、 前記画像に従った表面凹凸を形成する表面凹凸形成方法。
2. 前記工程(B)が、画像状にパターン形成されたマスクを介して行われ、 前記マスクのパターンに従った表面凹凸を形成する請求項 1記載の表面凹凸形成 方法。
3. 前記工程 (B) が、 パターンの直接描画により行われ、 前記直接描画さ れたパターンに従った表面凹凸を形成する請求項 1記載の表面凹凸形成方法。
4. 前記画像が活性エネルギー線遮断部と活性エネルギー線透過部からなる 繰り返しパターンを有し、 前記活性エネルギー線遮断部と活性エネルギー線遮断 部または活性エネルギー線透過部と活性エネルギー線透過部との距離が 1〜 50 mである請求項 1記載の表面凹凸形成方法。
5. 前記工程 (C) が 50〜250 で行われる請求項 1記載の表面凹凸形 成方法。
6. 前記活性エネルギー線が紫外線である請求項 1記載の表面凹凸形成方法。
7. 前記活性エネルギー線の照射量が 0. 005〜1. O JZcm2である 請求項 1記載の表面凹凸形成方法。
8. 前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜が、 (a)バインダボリマ一、 1 種類以上の (b)重合可能な化合物、 および、 (c)光重合開始剤、 を含むもので ある請求項 1記載の表面凹凸形成方法。
9. 前記成分 (a) と成分 (b) の固形分配合比が重量比で (a): (b) = 80 : 20〜40 : 60である請求項 8記載の表面凹凸形成方法。 ;
10. 前記成分 (a) が水酸基を有するビニル共重合体を含む請求項 8記載 の表面凹凸形成方法。
1 1. 前記成分 (b) が、 分子量 408以下の化合物を含む請求項 1記載の 表面凹凸形成方法。
12. 前記成分 (b) が、 分子内に少なくとも 1個のエチレン性不飽和基を 有する化合物を含む請求項 1記載の表面凹凸形成方法。
13. 前記成分 (b) が、 分子内に 2〜4個のエチレン性不飽和基を有する 化合物を含む請求項 12記載の表面凹凸形成方法。
14. 前記成分 (b) が、 水酸基、 カルポニル基、 力ルポキシル基、 アミド 基、 およびァミノ基からなる群から選ばれた 1以上の官能基を有する化合物を含 む請求項 1記載の表面凹凸形成方法。
15. 前記成分 (b) が、 ペンタエリスリトールァクリレートを含む請求項 14記載の表面凹凸形成方法。
16. 前記成分 (b) が、 (b— 1) 分子中に少なくとも 1個の水酸基と少な くとも 1個のエチレン性不飽和基を有する光重合性不飽和化合物、および、 (b— 2) 分子中に少なくとも 1個のエチレン性不飽和基を有し水酸基を含まない光重 合性不飽和化合物、 を含む請求項 1記載の表面凹凸形成方法。
17. 前記成分 (b) が、 分子中に少なくとも 1個の水酸基と少なくとも 2 個のエチレン性不飽和基を有する光重合性不飽和化合物の水酸基に対して、 分子 中に少なくとも 1個のイソシァネート基と少なくとも 1個の加水分解性基含有シ リル基を有する有機ケィ素化合物のイソシァネート基を反応させて得られる (b 一 3) シリル基含有光重合性不飽和化合物、 を含む請求項 1記載の表面凹凸形成 方法。
18. 前記成分 (c) の配合量が、 前記成分 (a) と成分 (b) の固形分合 計量 100重量部に対して 0. 1〜10重量部である請求項 8記載の表面凹凸形 成方法。
19. 前記成分 (c) が、 2— (0—クロ口フエニル) —4, 5—ジフエニル ィミダゾールニ量体を含む請求項 8記載の表面凹凸形成方法。
20. 前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜の可視光線透過率が 95 %以 上である請求項 1記載の表面凹凸形成方法。
21. 前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物層が、 1種類以上の ( b— 4 ) エポキシ基およびォキセタニル基のうちの少なくとも一方の官能基を 1個以上有 する重合可能な化合物、 および、 (e)活性エネルギー線の照射によりカチオン重 合性触媒を形成する潜在性カチオン重合性触媒、 を含む請求項 1記載の表面凹凸 形成方法。
22. 形成される感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜の厚さが T (ただし、 T=0. 1〜20 m) であるときの形成される表面凹凸の段差が ΤΧ (0. 1 〜0. 5) mである請求項 1記載の表面凹凸形成方法。
23. 形成される表面凹凸形状の凸部のビッカース硬さが、 25〜100^ の範囲のいずれかの温度において 10〜30HVである請求項 1記載の表面凹凸 形成方法。
24. 形成される表面凹凸形状の凹部と凸部のビッカース硬さの差が、 25 〜100 の範囲のいずれかの温度において 0〜 5 HVである請求項 1記載の表 面凹凸形成方法。
25. 前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜が、 80^における粘度が 1
X 102〜1 X 107Pa-sec の組成物を用いて形成される請求項 1記載の表面凹 凸形成方法。
26. 前記工程 (C) の後に、 さらに、
(D) 前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜に、 所定の遮光パターンが形成 されたマスクを介して、 または所定の遮光部が形成されるように直接に、 活性ェ ネルギ一線を照射する工程;および
(E) 感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜の前記工程 (D) の遮光された箇所 をエッチングにより除去する工程;
を含む請求項 1記載の表面凹凸形成方法。
27. 前記工程 (D) における遮光された鲔所が前記工程 (B) においても 遮光部となっている請求項 26記載の表面凹凸形成方法。
28. 前記工程 (D) における遮光された箇所がコンタクトホール形成箇所 であり、 前記エッチングにより前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜にコンタ クトホールが形成される請求項 26記載の表面凹凸形成方法。
29. 前記工程 (E) の後に、 さらに、
(F) 前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜を加熱する工程;
を含む請求項 26記載の表面凹凸形成方法。
30. 前記工程 (C) の加熱温度 (T 1) が 50〜180 であり、 前記ェ 程 (F) の加熱温度 (T2) が T1<T2≤250 である請求項 29記載の表 面凹凸形成方法。
31. 前記工程 (Β) において、 コンタクトホール形成のための遮光部がさ らに設けられており、 前記工程 (C) の後に、 さらに、
(G) 前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜の前記遮光部をエッチングする 工程;および
(Η) 前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜を加熱する工程;
を含み、 前記工程 (C) 後の表面凹凸段差が 0. 5 zzm以下である請求項 1記載 の表面凹凸形成方法。
32. 前記工程 (C) の加熱温度 (T1) が 50〜180でであり、 前記ェ 程 (H) の加熱温度 (T3) が T 1<T3≤25 O である請求項 31記載の表 面凹凸形成方法。
33. 感エネルギー性ネガ型樹脂組成物を用いた表面凹凸形成方法であって、
(K) 少なくとも 1種類の (b) 重合可能な化合物を含有する感エネルギー性 ネガ型樹脂組成物膜を形成する工程;
(L) 前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜に、 所定の遮光パターンが形成 されたマスクを介して、 または所定の遮光部が形成されるように直接に、 活性ェ ネルギ一線を照射する工程;
(M) 前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜に画像状に活性エネルギー線を 照射する工程; (N) 前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜の前記工程 (L) の遮光された 箇所をエッチングする工程;および
(O) 前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜を加熱する工程;
を含む、 前記画像に従った表面凹凸を形成する表面凹凸形成方法。
34. 活性エネルギー線を画像状に照射した後、 エッチング操作を行うこと なく加熱することにより表面に凹凸を形成するために用いられる組成物であって、 (a) バインダポリマー、 1種類以上の (b) 重合可能な化合物、 および、 (c) 光重合開始剤、 を含む感エネルギー性ネガ型樹脂組成物。
35. 前記成分 (a) と成分 (b) の固形分配合比が重量比で (a): (b) =80 : 20〜40 : 60である請求項 34記載の感エネルギー性ネガ型樹脂組 成物。
36. 前記成分 (a) が水酸基を有するビエル共重合体を含む請求項 34記 載の感エネルギー性ネガ型樹脂組成物。
37. 前記成分 (b) が、 分子量 408以下の化合物を含む請求項 34記載 の感エネルギー性ネガ型樹脂組成物。
38. 前記成分 (b) が、 分子内に少なくとも 1個のエチレン性不飽和基を 有する化合物を含む請求項 34記載の感エネルギー性ネガ型樹脂組成物。
39. 前記成分 (b) が、 分子内に 2〜 4個のエチレン性不飽和基を有する 化合物を含む請求項 34記載の感エネルギー性ネガ型樹脂組成物。
40. 前記成分 (b) が、 水酸基、 カルポニル基、 力ルポキシル基、 アミド 基、 およぴァミノ基からなる群から選ばれた 1以上の官能基を有する化合物を含 む請求項 34記載の感エネルギー性ネガ型樹脂組成物。
41. 前記成分 (b) が、 ペン夕エリスリト一ルァクリレートを含む請求項 34記載の感エネルギー性ネガ型樹脂組成物。
42. 前記成分(b) が、 (b— 1)分子中に少なくとも 1個の水酸基と少な くとも 1個のエチレン性不飽和基を有する光重合性不飽和化合物、および、 (b— 2) 分子中に少なくとも 1個のエチレン性不飽和基を有し水酸基を含まない光重 合性不飽和化合物、を含む請求項 34項記載の感エネルギー性ネガ型樹脂組成物。
43. 前記成分 (b) が、 分子中に少なくとも 1個の水酸基と少なくとも 2 個のエチレン性不飽和基を有する光重合性不飽和化合物の水酸基に対して、 分子 中に 1個のイソシァネート基と少なくとも 1個の加水分解性基含有シリル基を有 'する有機ケィ素化合物のイソシァネート基を反応させて得られる (b— 3) シリ ル基含有光重合性不飽和化合物、 を含む請求項 34記載の感ェネルギ一性ネガ型 樹脂組成物。
44. 前記成分 (c) の配合量が、 前記成分 (a) と成分 (b) の固形分合 計量 100重量部に対して 0. 1〜10重量部である請求項 34記載の感ェネル ギ一性ネガ型榭脂組成物。
45. 前記成分 (c) が、 2— (0—クロ口フエニル) 一 4, 5—ジフエニル ィミダゾールニ量体を含む請求項 3 記載の感エネルギー性ネガ型樹脂組成物。
46. 8 O :における粘度が 1 X 102~1 X 107Pa-secである請求項 34 記載の感エネルギー性ネガ型樹脂組成物。
47. 感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜を形成する工程;遮光 5 /im幅、 透過 5 m幅とした実質的に 1 O^m周期のストライプパターンが形成されたマ スクを介して、 前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜に活性エネルギー線を照 射する工程;および前記感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜を、 エッチング操作 を行うことなく 18 で加熱する工程、 を順次施すことにより、 前記マスクパ ターンに従った段差 0. 3 以上の表面凹凸を形成しうる請求項 34記載の感 エネルギー性ネガ型樹脂組成物。
48. 感エネルギー性ネガ型樹脂組成物膜を形成する工程;直径 10 の 実質的に円形の遮光パターンが形成されたマスクを介して、 前記感エネルギー性 ネガ型樹脂組成物膜に活性エネルギー線を照射する工程;および前記感ェネルギ 一性ネガ型樹脂組成物膜を、 エッチング操作を行うことなく 180でで加熱する 工程、 を順次施すことにより、 前記マスクパターンに従った段差 0. 5 m以上 の表面凹凸を形成しうる請求項 34記載の感エネルギー性ネガ型樹脂組成物。
49. 請求項 1記載の表面凹凸形成方法を用いて形成された光学フィルム。
50. 請求項 49記載の光学フィルムと、 前記光学フィルムの表面に設けら れた反射膜とを含む拡散反射板。
5 1 . 基板と表面凹凸形状を備えた薄膜層と反射膜とがこの順に積層されて なる拡散反射板であって、 前記薄膜層が (a ) バインダポリマー、 1種類以上の ( b ) 重合可能な化合物、 および (c ) 光重合開始剤を含む組成物を用いて形成 されたものである拡散反射板。
5 2 . 請求項 1または 3 3記載の表面凹凸形成方法を用いて作製された表面 凹凸面を有する第 1の転写原型。
5 3 . 請求項 5 2記載の第 1の転写原型の表面凹凸面を型として得られた第 2の転写原型。
5 4. ベ一スフイルムと前記べ一スフイルム上に形成された下塗り層とを含 む転写ベースフィルムであって、 前記下塗り層が、 請求項 5 2または 5 3記載の 第 1または第 2の転写原型の表面凹凸形状の転写による表面凹凸形状を有するも のである転写ベースフィルム。
5 5 . 仮支持体と前記仮支持体上に形成された薄膜層とを有する転写フィル ムであって、 前記仮支持体が請求項 5 4記載の転写ベースフィルムであって前記 転写ベースフィルムの下塗り層表面に前記薄膜層が積層されており、 前記薄膜層 の前記下塗り層側とは反対側の表面が被転写基板への直接の接着面を構成する転 写フィルム。
5 6 . 前記仮支持体と前記薄膜層の間に反射膜をさらに含む請求項 5 5記載 の転写フィルム。
5 7 . 下記の工程を含む拡散反射板の製造方法:
請求項 5 5記載の転写フィルムを、 被転写基板上に、 前記転写フィルムの薄膜 層が前記被転写基板の表面に密着するように積層する工程;
前記転写フィルムの転写ベースフィルムを剥がす工程;および
転写された前記薄膜層の表面に反射膜を形成する工程。
5 8 . 下記の工程を含む拡散反射板の製造方法:
請求項 5 6記載の転写フィルムを、 被転写基板上に、 前記転写フィルムの薄膜 層が前記被転写基板の表面に密着するように積層する工程;および 前記転写フィルムの転写べ一スフィルムを剥がす工程。
5 9 . 下記の工程を含む拡散反射板の製造方法:
請求項 5 4記載の転写ベースフィルムを、 薄膜層付き基板の前記薄膜層の表面 に、 前記転写ベースフィルムの下塗り層側が面するように押し当てて、 前記薄膜 層の表面に前記下塗り層の表面凹凸形状を転写する工程;
前記転写ベースフィルムを剥がす工程;および
前記薄膜層の表面に反射膜を形成する工程。
6 0 . 請求項 5 7〜 5 9のいずれか 1項記載の拡散反射板の製造方法により 得られた拡散反射板。
6 1 . 請求項 5 4記載の転写ベースフィルムの下塗り層の表面に反射膜を設 けた拡散反射板。
6 2 . 反射型液晶ディスプレイに用いられる請求項 5 0、 5 1、 6 0および 6 1のいずれか 1項記載の拡散反射板。
6 3 . 請求項 6 2記載の拡散反射板を有する反射型液晶
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JP2002370617A JP2004198986A (ja) 2002-12-20 2002-12-20 表面凹凸形成方法、それにより得られる光学フィルム、拡散反射板及び表面凹凸フィルム
JP2002370626A JP2004198992A (ja) 2002-12-20 2002-12-20 液晶表示装置用基板の表面凹凸形状を有する有機物層に用いられる感エネルギー性ネガ型樹脂組成物及び感光性エレメント
JP2002370619A JP2004198988A (ja) 2002-12-20 2002-12-20 表面凹凸形成方法、それにより得られる光学フィルム及び拡散反射板
JP2002370628A JP2004198994A (ja) 2002-12-20 2002-12-20 液晶表示装置用基板の表面凹凸形状を有する有機物層に用いられる感エネルギー性ネガ型樹脂組成物及び感光性エレメント
JP2002/370629 2002-12-20
JP2002370629A JP2004198995A (ja) 2002-12-20 2002-12-20 液晶表示装置用基板の表面凹凸形状を有する有機物層に用いられる感光性樹脂組成物及び感光性エレメント
JP2002/370628 2002-12-20
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JP2002370625A JP2004198991A (ja) 2002-12-20 2002-12-20 感エネルギー性ネガ型樹脂組成物
JP2002/370619 2002-12-20
JP2002/370625 2002-12-20
JP2002370620A JP2004198989A (ja) 2002-12-20 2002-12-20 表面凹凸形成方法、それにより得られる光学フィルム、拡散反射板及び表面凹凸フィルム
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008506986A (ja) * 2004-07-13 2008-03-06 スティッチング ダッチ ポリマー インスティテュート 接触印刷を用いたメソゲンのマイクロ構造化
CN102569236A (zh) * 2010-12-24 2012-07-11 三星电机株式会社 用于封装的基板及其制造方法
CN105824064A (zh) * 2015-01-08 2016-08-03 深圳市绎立锐光科技开发有限公司 扩散板及其制作方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5416203A (en) * 1977-07-07 1979-02-06 Nippon Paint Co Ltd Dry making method of photosensitive resin plate
JPH03182758A (ja) * 1989-12-13 1991-08-08 Canon Inc 凹凸パターンの形成方法
JPH11248909A (ja) * 1998-03-04 1999-09-17 Toppan Printing Co Ltd 拡散反射板及びその製造方法、並びにそれを用いた反射型液晶ディスプレイ
JP2002055214A (ja) * 2000-05-29 2002-02-20 Hitachi Chem Co Ltd 反射下地感光性エレメント、これを用いた感光層積層基板の製造法、拡散反射下地層積層基板の製造法及び拡散反射板の製造法
JP2002122716A (ja) * 2000-10-17 2002-04-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 反射板、反射型液晶表示装置およびその製造方法
JP2002131899A (ja) * 2000-10-24 2002-05-09 Fuji Photo Film Co Ltd ネガ型感光性熱硬化性樹脂組成物、ネガ型感光性熱硬化性転写材料、層間絶縁膜の形成方法、ハイアパーチャー型液晶表示装置及びその製造方法
JP2002182017A (ja) * 2000-12-14 2002-06-26 Nippon Steel Chem Co Ltd 表面に凹凸形状を有する基板及びその製造方法
JP2002267805A (ja) * 2001-03-08 2002-09-18 Nippon Steel Chem Co Ltd レンズフィルム

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5416203A (en) * 1977-07-07 1979-02-06 Nippon Paint Co Ltd Dry making method of photosensitive resin plate
JPH03182758A (ja) * 1989-12-13 1991-08-08 Canon Inc 凹凸パターンの形成方法
JPH11248909A (ja) * 1998-03-04 1999-09-17 Toppan Printing Co Ltd 拡散反射板及びその製造方法、並びにそれを用いた反射型液晶ディスプレイ
JP2002055214A (ja) * 2000-05-29 2002-02-20 Hitachi Chem Co Ltd 反射下地感光性エレメント、これを用いた感光層積層基板の製造法、拡散反射下地層積層基板の製造法及び拡散反射板の製造法
JP2002122716A (ja) * 2000-10-17 2002-04-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 反射板、反射型液晶表示装置およびその製造方法
JP2002131899A (ja) * 2000-10-24 2002-05-09 Fuji Photo Film Co Ltd ネガ型感光性熱硬化性樹脂組成物、ネガ型感光性熱硬化性転写材料、層間絶縁膜の形成方法、ハイアパーチャー型液晶表示装置及びその製造方法
JP2002182017A (ja) * 2000-12-14 2002-06-26 Nippon Steel Chem Co Ltd 表面に凹凸形状を有する基板及びその製造方法
JP2002267805A (ja) * 2001-03-08 2002-09-18 Nippon Steel Chem Co Ltd レンズフィルム

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008506986A (ja) * 2004-07-13 2008-03-06 スティッチング ダッチ ポリマー インスティテュート 接触印刷を用いたメソゲンのマイクロ構造化
CN102569236A (zh) * 2010-12-24 2012-07-11 三星电机株式会社 用于封装的基板及其制造方法
CN105824064A (zh) * 2015-01-08 2016-08-03 深圳市绎立锐光科技开发有限公司 扩散板及其制作方法

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